JP2771838B2 - Resin sealing method for electronic components, molding die for resin sealing, and electronic component sealing molded product - Google Patents
Resin sealing method for electronic components, molding die for resin sealing, and electronic component sealing molded productInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子部品の樹脂封止成形品、及びそれを製
造するための封止成形用金型、並びに樹脂封止方法に係
わり、該封止成形品の製造工程における不良の低減に極
めて有用な技術に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a resin-encapsulated molded product of an electronic component, a mold for encapsulation for producing the same, and a resin-encapsulating method. The present invention relates to a technique that is extremely useful for reducing defects in a manufacturing process of a sealed molded product.
一般に電子部品の樹脂封止成形品の製造工程は、成形
金型の上型と下型の間に封止される電子部品、リードフ
レーム等をキャビティー内に収まるように挟み込み、キ
ャビティーの一側壁に開口しているゲートから封止材料
としての樹脂を注入し、樹脂を固化させてパッケ−ジを
成形するように構成されている。Generally, in the manufacturing process of a resin-encapsulated molded product of an electronic component, an electronic component, a lead frame, and the like, which are sealed between an upper mold and a lower mold of a molding die, are sandwiched so as to fit in the cavity, and one part of the cavity is formed. The package is formed by injecting a resin as a sealing material from a gate opened on a side wall and solidifying the resin to form a package.
ここでは封止材料たる樹脂としては、熱硬化性樹脂で
あるエポキシ樹脂が多く用いられており、製法としては
所謂トランスファー成形法等が採用されているが、成形
性の優位性から熱可塑樹脂が用いられる場合も多い。熱
可塑性樹脂による場合は一般に射出成形法が採用されて
いる。Here, epoxy resin which is a thermosetting resin is often used as a resin as a sealing material, and a so-called transfer molding method or the like is employed as a manufacturing method. Often used. In the case of using a thermoplastic resin, an injection molding method is generally employed.
しかしながら斯かる従来技術には夫々に問題点があ
る。以下、熱可塑性樹脂封止工程を例にとってその問題
点を説明する。However, each of such prior arts has a problem. Hereinafter, the problem will be described using a thermoplastic resin sealing step as an example.
前記封止成形工程において、溶融された熱可塑性樹脂
は、金型に注入されると同時に冷却され始めて粘度が増
加し、ついには固化に到るものであり、また流路の中心
部に近づくに従って最も遅くまで固化せずに流動可能な
状態になっている。In the encapsulation molding step, the molten thermoplastic resin starts to be cooled at the same time as being injected into the mold, the viscosity increases, and finally reaches solidification, and as it approaches the center of the flow path, It is in a flowable state without solidification until the latest.
他方、充填過程においては、樹脂を充填させるための
圧力として通常200kgf/cm2程度の射出圧力を成形機に設
定するが、金型キャビティーへの樹脂の充填が完了する
以前には流動に伴う圧力損失があり、実質的に流動する
樹脂の先端付近の圧力は射出成形機の設定圧力よりかな
り低い。On the other hand, in the filling process, an injection pressure of usually about 200 kgf / cm 2 is set in the molding machine as a pressure for filling the resin, but it is accompanied by the flow before the filling of the resin into the mold cavity is completed. There is a pressure drop, and the pressure near the tip of the substantially flowing resin is much lower than the set pressure of the injection molding machine.
充填が完了すると、続いて樹脂の圧縮過程に入る。こ
れは金型内の樹脂流路でゲートに近い側から、樹脂が成
形機の設定圧力に圧縮されていく過程で、圧縮された体
積分だけ樹脂が補填される。即ち前述の充填完了以前の
樹脂圧力よりずっと高い圧力で樹脂が流動する。さらに
続く保圧過程においては、樹脂の固化に伴う体積収縮分
も補填される。この保圧過程では、ヒケ,ボイドの発生
防止の為、ある程度高い圧力が必要である。これらの補
填は高圧で行われる故、ある程度冷却され増粘した樹脂
も流動せしめられ、また最も冷却の遅れる樹脂流路即ち
キャビティーの中心部を経て行われる。When the filling is completed, the process starts to compress the resin. In this process, the resin is supplemented by the compressed volume in the process of the resin being compressed to the set pressure of the molding machine from the side near the gate in the resin flow path in the mold. That is, the resin flows at a pressure much higher than the resin pressure before the completion of the filling. In the subsequent pressure-holding process, the volume contraction due to the solidification of the resin is also compensated. In this dwelling process, a relatively high pressure is required to prevent sink marks and voids. Since these fillings are performed at a high pressure, the resin which has been cooled to a certain extent and which has increased the viscosity is caused to flow, and is performed through the resin passage, ie, the center of the cavity, where cooling is most delayed.
ここで封止される電子部品は一般にキャビティー中心
部に置かれるため、上述の補填過程における樹脂圧力及
び増粘した樹脂の流動によって該電子部品の変形・破
壊、位置ずれ、及びボンディングワイヤーの倒線、断線
等の不良が生じることが多かった。Since the electronic component to be sealed is generally placed at the center of the cavity, the electronic component is deformed / destructed, displaced, and the bonding wire falls due to the resin pressure and the flow of the thickened resin in the above-described refilling process. In many cases, defects such as wire breakage and disconnection occurred.
斯かる従来技術の有する課題に鑑み本発明者らは鋭意
検討を重ねた結果、封止成形品を得るための金型におい
て、従来は均一であったキャビティー深さを部分的に変
えることを目的としてキャビティーの一部に段差又はコ
アを設けて前記樹脂補填の際の樹脂流動、樹脂圧力の生
じる場所、方向を制御することにより、位置ずれ及びボ
ンディングワイヤーの倒線等の不良の少ない製品が得ら
れることを見出し本発明を完成するに至った。In view of the problems of the prior art, the present inventors have made intensive studies and as a result, have found that in a mold for obtaining a sealed molded product, the formerly uniform cavity depth is partially changed. By providing a step or a core in a part of the cavity for the purpose, by controlling the location and direction of resin flow and resin pressure at the time of resin supplement, products with few defects such as misalignment and broken bonding wire Was obtained, and the present invention was completed.
即ち本発明は、電子部品を樹脂封止するに際し、成形
金型キャビティー内に設置される電子部品のゲート側端
面へのキャビティー内の樹脂流入経路の一部に段差又は
コアを設けることによって該封止樹脂の固化速度、樹脂
圧力の分布及び流入経路を制御することを特徴とする電
子部品の樹脂封止方法、及び該方法に直接使用する樹脂
封止用成形金型、並びにこれにより得られる電子部品封
止成形品に関する。That is, the present invention provides a step or a core at a part of a resin inflow path in a cavity to a gate side end surface of an electronic component installed in a molding die cavity when resin sealing an electronic component. A resin sealing method for electronic components, characterized by controlling the solidification rate of the sealing resin, the distribution of resin pressure, and the inflow path, a resin sealing molding die used directly in the method, and Electronic component encapsulation molded product to be obtained.
以下添付図面を参照して本発明を説明する。 The present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
第12図はキャビティーへの樹脂の流入過程を示したも
のである。FIG. 12 shows a process of flowing resin into the cavity.
第12図中の1点鎖線11が溶融樹脂の流れの先端を表わ
し、ゲート3側から反ゲート側へ向かって進行する。A one-dot chain line 11 in FIG. 12 represents the leading end of the flow of the molten resin, and the molten resin advances from the gate 3 side to the opposite gate side.
充填過程に於いて、封止される電子部品(ICチップ
6)は樹脂の流入方向9aへ向かう力を受けるが、この力
とは電子部品のゲート側端面6aが受ける樹脂圧力であ
る。ここで充填過程では溶融状態において充分な程度に
低粘度化する材料を選定することを前提として、前述の
ように樹脂圧力は小さく、電子部品の位置ずれ等は生じ
ない。In the filling process, the electronic component (IC chip 6) to be sealed receives a force in the resin inflow direction 9a, and this force is the resin pressure applied to the gate-side end surface 6a of the electronic component. Here, in the filling process, assuming that a material having a sufficiently low viscosity in a molten state is selected, the resin pressure is small as described above, and no displacement of the electronic component occurs.
充填が完了した後、該電子部品は周囲のあらゆる方向
から、前述の如く射出成形機に設定された高い射出圧力
及び保圧力を樹脂圧力として受けるが、第12図に示す様
に対向する端面について考えると6c,6dの様に対称的に
充填される箇所に加わる樹脂圧力は互いに相殺されて位
置ずれ等の不良は生じさせない。他方、電子部品のゲー
ト側端面6aと反ゲート側端面6bのような場合、ゲートか
らそれらに到る樹脂流入経路が異なり、また冷却の程度
も異なるため、圧縮過程から保圧過程にかけて対向する
ゲート側端面6aと反ゲート側端面6bにかかる樹脂圧力に
差が生じ、位置ずれ等の不良原因となる。After the filling is completed, the electronic component receives the high injection pressure and the holding pressure set in the injection molding machine as described above as the resin pressure from all directions around the electronic component, but as shown in FIG. Considering this, the resin pressures applied to the symmetrically filled portions like 6c and 6d cancel each other out, so that defects such as displacement do not occur. On the other hand, in the case of the gate-side end surface 6a and the counter-gate-side end surface 6b of the electronic component, the resin inflow paths from the gate to them are different, and the degree of cooling is also different. There is a difference between the resin pressure applied to the side end surface 6a and the resin pressure applied to the non-gate side end surface 6b, which causes a defect such as displacement.
前記の通り、本発明の如くキャビティーの一部、特に
高い樹脂圧力の加わる電子部品のゲート側端面6aへの樹
脂流入経路の一部に段差又はコアを設けることによっ
て、その部分の流路を狭めて圧力損失を大きくし、また
冷却を促進させ、対向する端面の樹脂圧力の大きさと加
わる時期をバランスさせることができ、位置ずれ等を防
ぐことが出来る。As described above, a step or a core is provided in a part of the cavity, particularly in a part of the resin inflow path to the gate side end surface 6a of the electronic component to which a high resin pressure is applied, whereby the flow path in that part is provided. By narrowing the pressure, the pressure loss is increased, the cooling is promoted, the magnitude of the resin pressure on the opposite end face and the time of application can be balanced, and the displacement and the like can be prevented.
また段差又はコアを設けて流路を狭めることによっ
て、樹脂流入経路そのものを変えることもでき、封止さ
れる電子部品を樹脂の圧縮過程から保圧過程にかけての
増粘した樹脂の流動可能な場所に置かないように配慮す
ることもできる。さらにボンディングワイヤーの倒線不
良の様に、受ける力の方向によって抵抗力の違うものに
対して効果を発揮させることもできる。ボンディングワ
イヤー7は単純なモデルとして見れば、両端固定、又は
ヒンジされたアーチ状曲がり梁であって、第13図におけ
る9bの様な横倒しされる方向の力には弱く、アーチを押
し潰す方向の力9c,9d、及び持ち上げる方向の力9eに対
してはより強い抵抗を示すので、段差又はコアを設けて
樹脂流入経路を変え9c,9dの様な方向から充填させるこ
とによって、倒線不良を軽減することが出来る。Also, by providing a step or a core to narrow the flow path, the resin inflow path itself can be changed, and the sealed electronic component can be placed in a place where the thickened resin can flow from the resin compression process to the pressure holding process. It can also be considered not to put in. Further, it is possible to exert an effect on a material having a different resistance depending on the direction of the force, such as a broken wire of a bonding wire. When viewed as a simple model, the bonding wire 7 is an arch-shaped bent beam with both ends fixed or hinged, and is weak against a force in a direction of being laid down like 9b in FIG. Since it shows stronger resistance to the forces 9c, 9d and the lifting force 9e, by changing the resin inflow path by providing a step or a core and filling the resin from the direction like 9c, 9d, it is possible to reduce the collapse fault. Can be reduced.
本発明に基づき金型キャビティーに設けられるコア及
び段差の形状、位置は特に限定されるものではなく、例
えば後記する実施例1の如く一条の凸部を長手方向に形
成しても、逆にキャビティーに対して凹部を形成しても
よく、更に円形のコアであったり、また一つのキャビテ
ィーに対し複数のコア等を形成してもよい。The shape and position of the core and the step provided in the mold cavity according to the present invention are not particularly limited. For example, even if a single protrusion is formed in the longitudinal direction as in Example 1 described later, A concave portion may be formed in the cavity, a circular core may be formed, or a plurality of cores may be formed in one cavity.
又、本発明に用いられる封止樹脂は特に限定はなく、
異方性溶融相を形成しうる溶融加工性ポリエステル(液
晶性ポリエステル)特に芳香族ヒドロキシカルボン酸
基、芳香族ヒドロキシアミン基を樹脂構成成分の少なく
とも一成分とする芳香族ポリエステル或いは芳香族ポリ
エステルアミド、ポリフェニレンサルファイドに代表さ
れるポリアリーレンサルファイド、ポリアミド、ポリエ
ーテルサルホン、ポリサルホン、ポリエーテルイミド、
ポリエーテルエーテルケトン等の熱可塑性樹脂が挙げら
れる。これらの熱可塑性樹脂は一種又は二種以上を併用
することが出来る。Further, the sealing resin used in the present invention is not particularly limited,
A melt-processable polyester (liquid crystalline polyester) capable of forming an anisotropic molten phase, especially an aromatic polyester or an aromatic polyester amide containing an aromatic hydroxycarboxylic acid group or an aromatic hydroxyamine group as at least one component of the resin component; Polyarylene sulfide represented by polyphenylene sulfide, polyamide, polyether sulfone, polysulfone, polyether imide,
Thermoplastic resins such as polyetheretherketone are exemplified. These thermoplastic resins can be used alone or in combination of two or more.
又これ等の熱可塑性樹脂は他の熱可塑性樹脂を補助的
に添加したものであってもよい。These thermoplastic resins may be supplemented with other thermoplastic resins.
この場合に使用する熱可塑性樹脂は特に限定されない
が、例を示すと、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポ
リオレフィン、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチ
レンテレフタレート等の芳香族ジカルボン酸とジオール
或いはオキシカルボン酸等からなる芳香族ポリエステ
ル、ポリアセタール(ホモ又はコポリマー)、ポリスチ
レン、ポリ塩化ビニル、ポリアミド、ポリカーボネー
ト、ABS、ポリフェニレンオキシド、フッ素樹脂等を挙
げることができる。またこれらの熱可塑性樹脂は2種以
上混合して使用することができる。The thermoplastic resin used in this case is not particularly limited, but examples thereof include polyethylene, polyolefin such as polypropylene, polyethylene terephthalate, aromatic dicarboxylic acid such as polybutylene terephthalate and aromatic polyester comprising diol or oxycarboxylic acid and the like. , Polyacetal (homo or copolymer), polystyrene, polyvinyl chloride, polyamide, polycarbonate, ABS, polyphenylene oxide, fluororesin and the like. These thermoplastic resins can be used as a mixture of two or more kinds.
本発明に適した成形材料は、機械的強度を有しかつ低
圧での成形が可能であり、又前述の如く線膨張係数をで
きるだけ金属のそれに近似させるため多量の無機充填剤
を充填できるという意味においてもできるだけ溶融粘度
の低いものが好ましい。これらの点から、異方性溶融相
を形成しうる溶融加工性ポリエステル(液晶性ポリエス
テル)特に芳香族ヒドロキシカルボン酸基、芳香族ヒド
ロキシアミン基を樹脂構成成分の少なくとも一成分とす
る芳香族ポリエステル或いは芳香族ポリエステルアミド
及びポリフェニレンサルファイドに代表されるポリアリ
ーレンサルファイドが最も好ましく用いられる。The molding material suitable for the present invention has a mechanical strength and can be molded at a low pressure, and as described above, can be filled with a large amount of an inorganic filler in order to make the linear expansion coefficient as close as possible to that of a metal. It is preferable that the melt viscosity is as low as possible. From these points, a melt-processable polyester (liquid crystalline polyester) capable of forming an anisotropic molten phase, particularly an aromatic polyester having an aromatic hydroxycarboxylic acid group or an aromatic hydroxyamine group as at least one component of the resin component or Polyarylene sulfide represented by aromatic polyester amide and polyphenylene sulfide is most preferably used.
本発明に使用する電子部品封止用熱可塑性樹脂には、
本発明の目的を損なわない範囲で、強度向上等をはかる
べく各種の無機・有機充填剤を含有せしめることができ
る。例えば一般の熱可塑性樹脂に添加される物質、即
ち、繊維状、粉粒状、板状の充填剤が用いられる。The thermoplastic resin for electronic component sealing used in the present invention,
Various inorganic and organic fillers can be contained in order to improve the strength and the like within a range not to impair the object of the present invention. For example, a substance to be added to a general thermoplastic resin, that is, a fibrous, powdery, or plate-like filler is used.
繊維状充填剤としては、ガラス繊維、アスベスト繊
維、シリカ繊維、シリカ・アルミナ繊維、ジルコニア繊
維、窒化硼素繊維、窒化硅素繊維、硼素繊維、チタン酸
カリ繊維、さらにチタンの繊維状物などの無機質繊維状
物質があげられる。なお、完全芳香族ポリアミド系繊
維、芳香族系液晶性ポリエステル繊維、フェノール系繊
維などの高融点有機質繊維状物質も無機繊維状充填剤と
同様に使用することができる。Examples of the fibrous filler include inorganic fibers such as glass fiber, asbestos fiber, silica fiber, silica / alumina fiber, zirconia fiber, boron nitride fiber, silicon nitride fiber, boron fiber, potassium titanate fiber, and titanium fibrous material. Substances. In addition, high-melting-point organic fibrous substances such as wholly aromatic polyamide fibers, aromatic liquid crystalline polyester fibers, and phenolic fibers can be used in the same manner as the inorganic fibrous filler.
一方、粉粒状充填剤としては、カーボンブラック、シ
リカ、石英粉末、ガラスビーズ、ガラス粉、硅酸カルシ
ウム、硅酸アルミニウム、カオリン、タルク、クレー、
硅藻土、ウォラストナイトの如き硅酸塩、酸化鉄、酸化
チタン、酸化亜鉛、アルミナの如き金属の酸化物、炭酸
カルシウム、炭酸マグネシウムの如き金属の炭酸塩、硫
酸カルシウム、硫酸バリウムの如き金属の硫酸塩、その
他炭化硅素、窒化硅素、窒化硼素等があげられる。On the other hand, the powdery fillers include carbon black, silica, quartz powder, glass beads, glass powder, calcium silicate, aluminum silicate, kaolin, talc, clay,
Silicates such as diatomaceous earth, wollastonite, oxides of metals such as iron oxide, titanium oxide, zinc oxide and alumina, carbonates of metals such as calcium carbonate and magnesium carbonate, metals such as calcium sulfate and barium sulfate Sulfate, silicon carbide, silicon nitride, boron nitride and the like.
また、板状充填剤としては、マイカ、ガラスフレーク
等があげられる。Examples of the plate-like filler include mica and glass flake.
これらの無機充填剤は一種又は二種以上併用すること
ができる。These inorganic fillers can be used alone or in combination of two or more.
これらの充填剤の使用にあたっては必要ならば収束剤
又は表面処理剤を使用することが望ましい。この例を示
せば、エポキシ系化合物、イソシアネート系化合物、シ
ラン系化合物、チタネート系化合物等の官能性化合物で
ある。これらの化合物は予め表面処理又は収束処理を施
して用いるか、又は材料調製の際同時に添加してもよ
い。無機・有機充填剤の使用量は、樹脂に対し95重量%
以下、好ましくは20〜75重量%である。When using these fillers, it is desirable to use a sizing agent or a surface treatment agent if necessary. This example is a functional compound such as an epoxy compound, an isocyanate compound, a silane compound and a titanate compound. These compounds may be used after being subjected to a surface treatment or a convergence treatment, or may be added at the same time as the preparation of the material. 95% by weight of resin used for inorganic and organic fillers
Hereinafter, it is preferably 20 to 75% by weight.
又、機械的・電気的・化学的性質や難燃性等の諸性質
を改善するため、必要に応じて種々の添加剤、強化剤を
添加することが可能である。Further, in order to improve various properties such as mechanical, electrical and chemical properties and flame retardancy, various additives and reinforcing agents can be added as needed.
以上述べた通り本発明によれば封止される電子部品の
位置ずれ、変形及びボンディングワイヤーの倒線等の不
良の少ない製品を得ることが出来る。As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a product having few defects such as displacement, deformation, and broken bonding wire of the electronic component to be sealed.
以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本
発明はこれらに限定されるものではない。Hereinafter, the present invention will be described specifically with reference to Examples, but the present invention is not limited thereto.
実施例1、比較例1 以下に、本発明の一実施例を、第1〜5図を用いて説
明する。Example 1 and Comparative Example 1 Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to FIGS.
従来の封止成形金型を用い、封止される電子回路の形
成されたプリント基盤2が下型1aにインサートされた状
態の斜視図を第1図に示した。第2図は第1図のA−A
線断面図であり、第3図は第1図のB−B線断面図であ
る。この金型のキャビティー長手方向の寸法は20mm、幅
方向7mm、下型及び上型キャビティー4a,4bの深さは共に
3mmであり、ゲート3は下型に開設されている。FIG. 1 is a perspective view showing a state where a printed board 2 on which an electronic circuit to be sealed is formed is inserted into a lower mold 1a using a conventional sealing mold. FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA of FIG.
FIG. 3 is a sectional view taken along line BB of FIG. 1. The dimensions of this mold in the longitudinal direction of the cavity are 20 mm, the width direction is 7 mm, and the depths of the lower and upper mold cavities 4a and 4b are both
3 mm, and the gate 3 is opened in the lower mold.
封止材料として後述の液晶性ポリエステルAにガラス
繊維30重量%を配合した樹脂組成物を用い、上記金型に
て実際に封止成形を行ったところ、下型キャビティーの
充填の方が若干先行して、第2図中10aで示した位置が
最後に充填し、また樹脂の圧縮過程及び補填は9fの矢印
に沿って行われた為、プリント基盤2は上型に向かって
押し上げられる方向の力を受け、位置ずれを生じた。When a resin composition in which 30% by weight of glass fiber was blended with a liquid crystalline polyester A described later as a sealing material was used to perform actual sealing molding with the above-mentioned mold, the lower cavity was slightly filled. In advance, the position indicated by 10a in FIG. 2 is filled last, and the process of compressing and filling the resin is performed along the arrow 9f, so that the printed board 2 is pushed up toward the upper mold. The force caused by this force caused a displacement.
この金型に対して本発明に基づき次の対策を施した。
即ち、第4図及び第5図は各々第2図及び第3図に対応
し、それらに示したように下型4aに長さ20mm、幅4mm、
高さ1mmの段差(凸部)8を形成し、製品には溝ができ
るような設計とした。その結果、第5図中10b部の樹脂
の充填が先行し、そこから9gの矢印のようにプリント基
盤下面に両方面から樹脂が流れ込むような充填様式にな
り、補填も同様に行われるようになった。即ち、プリン
ト基盤下面の樹脂の圧縮が遅れてプリント基盤上面の樹
脂の圧縮とバランスされるようになった為、位置ずれが
生じなくなった。The following countermeasures were taken for this mold based on the present invention.
That is, FIGS. 4 and 5 correspond to FIGS. 2 and 3, respectively, and as shown therein, the lower mold 4a has a length of 20 mm, a width of 4 mm,
A step (convex portion) 8 having a height of 1 mm was formed, and the product was designed to have a groove. As a result, the filling of the resin at the portion 10b in FIG. 5 precedes and the filling method is such that the resin flows into the lower surface of the printed board from both surfaces as indicated by the arrow 9g, and the filling is performed similarly. became. That is, since the compression of the resin on the lower surface of the print substrate is delayed and balanced with the compression of the resin on the upper surface of the print substrate, the displacement does not occur.
実施例2、比較例2 実施例1及び比較例1における液晶性ポリエステルの
代わりにポリフェニレンサルファイド樹脂(呉羽化学
製、フォートロンKPS)にガラス繊維40重量%を配合し
た樹脂組成物を使用した以外は全く同様の試験を行い、
全く同様の結果を得た。Example 2 and Comparative Example 2 Except for using a resin composition in which 40% by weight of glass fiber was blended with polyphenylene sulfide resin (manufactured by Kureha Chemical, Fortron KPS) instead of the liquid crystalline polyester in Example 1 and Comparative Example 1. Do exactly the same test,
Exactly the same results were obtained.
実施例3 次に、本発明に係わる別の実施例を第6〜11図を用い
て説明する。Embodiment 3 Next, another embodiment according to the present invention will be described with reference to FIGS.
第6図は従来の封止成形金型であって、封止されるIC
を登載したリードフレームがインサートされた状態の下
型上面図である。第6図のC−C線断面図、D−D線断
面図は各々第7図、第8図に示した。この金型のキャビ
ティー長手方向の寸法は20mm、幅方向7mm、下型キャビ
ティー4aの深さ2mm、上型キャビティー4bの深さ3mmであ
り、ゲート3は上型に開設されている。FIG. 6 shows a conventional encapsulation mold, in which an IC is encapsulated.
FIG. 3 is a top view of a lower mold in a state where a lead frame on which the information is loaded is inserted. The cross-sectional view taken along the line CC and the line DD in FIG. 6 are shown in FIG. 7 and FIG. 8, respectively. The dimensions of this mold in the longitudinal direction of the cavity are 20 mm, the width direction is 7 mm, the depth of the lower mold cavity 4a is 2 mm, and the depth of the upper mold cavity 4b is 3 mm, and the gate 3 is opened in the upper mold.
実施例1と同様に後述の液晶性ポリエステルBにシリ
カ50重量%を配合した樹脂組成物を用いて封止成形を行
った結果、この金型では上型の充填の方が先行して第7
図中10c部が最後に充填し、9hの矢印に沿って樹脂の圧
縮、補填が行われた。ここで第7図に示されるように封
止されるICチップ6及びボンディングワイヤー7は、樹
脂の圧縮、補填の経路9h上にある為、ボンディングワイ
ヤーの倒線、ひどいときには断線、さらにはICチップが
反ゲート側へ向かって押し流されるといった不良が生じ
た。第9図はボンディングワイヤーのこの金型における
倒線の状況を示したものであり、この場合図の左方より
樹脂が流入している。この様な倒線は、近接するワイヤ
ー同士の短絡不良につながる。As in Example 1, the encapsulation molding was performed using a resin composition in which 50% by weight of silica was mixed with the liquid crystalline polyester B described later.
In the figure, the portion 10c was filled last, and the resin was compressed and supplemented along the arrow 9h. Here, the IC chip 6 and the bonding wire 7 which are sealed as shown in FIG. 7 are located on the path 9h for compressing and refilling the resin, so that the bonding wire is broken, or severely broken, and furthermore, the IC chip is broken. Was swept away from the gate side. FIG. 9 shows a situation in which the bonding wire is bent in this mold. In this case, resin flows in from the left side of the figure. Such an inversion leads to a short circuit between adjacent wires.
この金型に対して本発明に基づく対策を施したものを
示すのが第10図及び第11図であり、各々第7図及び第8
図に対応し、この場合は上型キャビティーの一部に長さ
5mm、幅10mm、高さ2mmのコア(凸部)8を設けた。FIGS. 10 and 11 show the result of taking measures against this mold according to the present invention, and FIGS.
Corresponding to the figure, in this case a part of the upper mold cavity
A core (convex portion) 8 having a size of 5 mm, a width of 10 mm, and a height of 2 mm was provided.
これにより、下型キャビティーの充填が優先され、第
10図に示した10d部が最後に充填し、9iの矢印に沿って
樹脂の圧縮、補填が行われるようになった為、封止され
るICチップ6及びボンディングワイヤー7がそれらの経
路9iからはずれ、ICチップの位置ずれが無くなり、ボン
ディングワイヤーの倒線が軽減された。This gives priority to filling the lower mold cavity,
The 10d portion shown in FIG. 10 is filled at the end, and the resin is compressed and supplemented along the arrow 9i, so that the IC chip 6 and the bonding wire 7 to be sealed are moved from their path 9i. Disconnection and displacement of the IC chip have been eliminated, and the collapse of the bonding wire has been reduced.
尚、実施例、比較例で使用した液晶性ポリエステルは
下記の構成単位を有するものである。The liquid crystalline polyester used in Examples and Comparative Examples has the following structural units.
第1図は、電子部品封止成形品の製造にあたり用いられ
ている従来の成形金型を示すものであって、封止される
電気回路の形成されたプリント基盤がインサートされた
状態の斜視図である。 第2図は第1図のA−A線断面図であり、第3図は第1
図のB−B線断面図である。 第4図及び第5図は、第1図の封止成形用金型に対し本
発明に基づく対策を施したものを示し、第4図は第2図
に、第5図は第3図に各々対応する。 第6図は、第1図と同様に従来技術の封止成形用金型
で、封止されるICを登載したリードフレームがインサー
トされた状態の下型上面図である。 第7図は第6図のC−C線断面図であり、第8図は第6
図のD−D線断面図である。 第9図は、第6図と同じ上面図であるが、封止成形の際
に流動する樹脂によりボンディングワイヤーが倒線した
状態を示している。 第10図及び第11図は、第6図の封止成形金型に対し本発
明に基づく対策を施したものを示し、第10図は第7図
に、第11図は第8図に各々対応する。 第12図は、封止される電子部品がインサートされた金型
キャビティーに樹脂が充填する様子を簡略に示す斜視図
であり、第13図はボンディングワイヤー周辺を表わした
斜視図である。 1a……下型 2b……上型 2……封止されるプリント基盤 3……ゲート 4a……下型キャビティー 4b……上型キャビティー 5……リード 6……ICチップ 6a〜6d……ICチップ側面 7……ボンディングワイヤー 8……コア又は段差(凸部) 9a〜9i……樹脂の充填、圧縮、補填の経路を示す矢印 10a〜10d……キャビティーの一部分 11……流入する樹脂の先端を表わす一点鎖線FIG. 1 is a perspective view showing a conventional molding die used in the production of an electronic component encapsulation molded product, in which a printed circuit board on which an electric circuit to be encapsulated is formed is inserted. It is. FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG. 1, and FIG.
It is BB sectional drawing of a figure. 4 and 5 show the sealing mold of FIG. 1 which has been subjected to measures according to the present invention. FIG. 4 is FIG. 2 and FIG. 5 is FIG. Each corresponds. FIG. 6 is a top view of a lower mold in a state where a lead frame on which an IC to be sealed is mounted is inserted in a conventional molding die for molding, similarly to FIG. FIG. 7 is a sectional view taken along line CC of FIG. 6, and FIG.
It is DD sectional drawing of the figure. FIG. 9 is the same top view as FIG. 6, but shows a state in which the bonding wire is bent by the resin flowing during the encapsulation molding. FIGS. 10 and 11 show the sealing mold of FIG. 6 subjected to the measures according to the present invention. FIG. 10 is shown in FIG. 7, and FIG. Corresponding. FIG. 12 is a perspective view schematically showing a state in which a resin is filled into a mold cavity in which an electronic component to be sealed is inserted, and FIG. 13 is a perspective view showing a periphery of a bonding wire. 1a Lower mold 2b Upper mold 2 Printed substrate to be sealed 3 Gate 4a Lower mold cavity 4b Upper mold cavity 5 Lead 6 IC chip 6a to 6d … IC chip side surface 7… Bonding wire 8… Core or step (convex portion) 9 a to 9 i… Arrows showing resin filling, compression and filling paths 10 a to 10 d… Part of cavity 11… Inflow One-dot chain line indicating the tip of the resin
Claims (4)
キャビティー内に設置される電子部品のゲート側端面へ
のキャビティー内の樹脂流入経路の一部に段差又はコア
を設けることによって該封止樹脂の固化速度、樹脂圧力
の分布及び流入経路を制御することを特徴とする電子部
品の樹脂封止方法。When a resin is sealed in an electronic component, a step or a core is provided in a part of a resin inflow path in the cavity to a gate-side end surface of the electronic component installed in a molding die cavity. A resin sealing method for an electronic component, comprising: controlling a solidifying speed, a distribution of a resin pressure, and an inflow path of the sealing resin.
リーレンサルファイドである請求項1記載の電子部品の
樹脂封止方法。2. The method according to claim 1, wherein the sealing resin is a liquid crystalline polyester or a polyarylene sulfide.
れた電子部品封止成形品。3. An electronic component molded article manufactured by the method according to claim 1.
る固化速度、樹脂圧力の分布及び流入経路を制御するた
めの段差又はコアが、成形金型キャビティー内に設置さ
れる電子部品のゲート側端面へのキャビティー内の樹脂
流入経路の一部に設けられた電子部品の樹脂封止用成形
金型。4. A step or a core for controlling a solidifying speed, a resin pressure distribution and an inflow path of a sealing resin in a molding die cavity, a gate of an electronic component installed in the molding die cavity. A molding die for resin sealing of an electronic component provided on a part of a resin inflow path in a cavity to a side end surface.
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| JPH02260547A JPH02260547A (en) | 1990-10-23 |
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1989
- 1989-03-31 JP JP1080277A patent/JP2771838B2/en not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JPH02260547A (en) | 1990-10-23 |
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