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JP2803296B2 - Particle size distribution analyzer - Google Patents
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JP2803296B2 - Particle size distribution analyzer - Google Patents

Particle size distribution analyzer

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Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は媒体中で分散飛翔状態の粒子群に光を照射し
たときに生ずる回折/散乱現象を利用した粒度分布測定
装置に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a particle size distribution measuring apparatus utilizing a diffraction / scattering phenomenon that occurs when a particle group dispersed and flying in a medium is irradiated with light.

<従来の技術> レーザ回折/散乱法を用いたサブミクロン粒子の粒度
分布測定において、特に微小粒子域にはミーの散乱理論
が用いられる。このミーの散乱理論においては、媒体と
粒子との相対屈折率が既知であることが必要となる。そ
こでこの種の装置では、従来、人間(測定者)が粒子お
よび媒体(媒液)の屈折率を選定し、キー入力等によっ
て装置に指示する必要がある。
<Prior Art> In measurement of the particle size distribution of submicron particles using a laser diffraction / scattering method, Mie's scattering theory is used particularly in a small particle region. This Mie scattering theory requires that the relative refractive index between the medium and the particles be known. Therefore, in this type of apparatus, conventionally, it is necessary for a human (measurer) to select the refractive index of particles and a medium (medium liquid) and to instruct the apparatus by key input or the like.

すなわち、散乱光等の強度分布を粒度分布に換算する
には、一般に変換行列を用いた演算が必要であるが、粒
子径がレーザ光の波長と同程度かそれよりも小さいサブ
ミクロンの領域ではミー散乱理論を用いる。そして、ミ
ーの散乱理論を用いる場合には、変換行列の要素を計算
するために測定対象となる粒子と媒体の屈折率が必要と
なるわけである。
In other words, in order to convert the intensity distribution of scattered light or the like into a particle size distribution, it is generally necessary to perform an operation using a conversion matrix, but in a submicron region where the particle diameter is approximately equal to or smaller than the wavelength of the laser light Mie scattering theory is used. When Mie's scattering theory is used, the refractive index of the particle to be measured and the refractive index of the medium are required to calculate the elements of the transformation matrix.

<発明が解決しようとする課題> ところで、粒子のなかには屈折率が判らないものがあ
り、また、例えその材料の屈折率が判っていても、粒子
の状態では異なる値を採る場合もある。そして、粒子の
屈折率を直接測定するための確実な方法も存在しない。
<Problems to be Solved by the Invention> By the way, among particles, the refractive index is not known, and even if the refractive index of the material is known, a different value may be adopted in the state of the particles. And there is no reliable method for directly measuring the refractive index of particles.

このような場合、従来の装置では、何度も屈折率を変
えて測定を行い、得られた多数の結果に基づいて人間
が、適当と思われる屈折率のものを選定する必要があっ
た。そして、この選定の定量的な基準はなく、粒度分布
測定結果に人為的誤差が介在する可能性が大きいという
問題もある。
In such a case, in the conventional apparatus, it is necessary to perform the measurement while changing the refractive index many times, and based on a large number of obtained results, it is necessary for a human to select an appropriate refractive index. There is no quantitative standard for this selection, and there is also a problem that there is a high possibility that an artificial error is present in the particle size distribution measurement result.

本発明はこのような問題を解決すべくなされたもの
で、屈折率の不明な粒子でも人為的要素が介入すること
なく、迅速に正確な粒度分布を得ることのできる装置の
提供を目的としている。
The present invention has been made in order to solve such a problem, and it is an object of the present invention to provide an apparatus that can quickly and accurately obtain a particle size distribution without intervention of an artificial element even for particles having an unknown refractive index. .

<課題を解決するための手段> 上記の目的を達成するため、本発明では、同一のサン
プルに対して屈折率を複数に変更して、回折/散乱光の
強度分布測定結果をそれぞれ粒度分布に換算する第1の
演算手段と、得られた粒度分布曲線の内から、最も滑ら
かな曲線を定量的判断のもとに選択する第2の演算手段
を有し、その選択された曲線に係る粒度分布をその粒子
群の粒度分布として出力するよう構成している。
<Means for Solving the Problems> In order to achieve the above object, in the present invention, the refractive index of the same sample is changed to a plurality of values, and the diffraction / scattered light intensity distribution measurement results are each converted to a particle size distribution. A first calculating means for converting, and a second calculating means for selecting a smoothest curve from the obtained particle size distribution curves based on a quantitative judgment, and a particle size related to the selected curve. It is configured to output the distribution as the particle size distribution of the particle group.

<作用> 例えば第2図(a)に示すような粒度分布を持つ粒子
群についての回折/散乱光強度分布を、屈折率の条件を
誤って粒度分布に換算すると、同図(b)に示すように
粒度分布曲線の滑らかさが損なわれる。
<Function> For example, when the diffraction / scattered light intensity distribution of a particle group having a particle size distribution as shown in FIG. Thus, the smoothness of the particle size distribution curve is impaired.

本発明はこの点を利用し、一つのサンプルについての
回折/散乱光強度分布を、屈折率に関する条件を複数に
変更して複数の粒度分布に換算し、これら複数の粒度分
布曲線の滑らかさを定量的に判定して、その最も滑らか
なものを最終的な粒度分布測定結果として採用する。
The present invention takes advantage of this point and converts the diffraction / scattered light intensity distribution of one sample into a plurality of particle size distributions by changing the condition relating to the refractive index to a plurality of conditions. It is determined quantitatively, and the smoothest one is adopted as the final particle size distribution measurement result.

<実施例> 第1図は本発明実施例の構成図である。<Embodiment> FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention.

レーザ光源1から出たレーザ光はフローセル2に照射
される。フローセル2内には、被測定粒子群を媒液中に
分散させた懸濁液3が紙面に直行する方向に流されてお
り、照射されたレーザ光は粒子によって散乱ないしは回
折され、空間的に回折/散乱光の強度分布パターンが生
ずる。
The laser light emitted from the laser light source 1 is applied to the flow cell 2. In the flow cell 2, a suspension 3 in which particles to be measured are dispersed in a medium is flowing in a direction perpendicular to the sheet of the drawing, and the irradiated laser light is scattered or diffracted by the particles and spatially. A diffraction / scattered light intensity distribution pattern results.

照射レーザ光の進行方向、フローセル2の前方にはレ
ンズ4が配設されているとともに、更にその前方にはそ
の焦点位置にリングデテクタ5が配設されている。リン
グデテクタ5は、レンズ4の光軸を中心として互いに半
径の異なるリング状ないしは半リング状の受光面を持つ
光センサを複数個同心状に配列したもので、粒子群によ
る回折/散乱光のうち前方への光はレンズ4で集光され
てこのリングデテクタ5上に回折/散乱像を結ぶ。
A lens 4 is disposed in the traveling direction of the irradiation laser light, in front of the flow cell 2, and a ring detector 5 is disposed further in front of the lens 4 at a focal position thereof. The ring detector 5 is formed by concentrically arranging a plurality of optical sensors having ring-shaped or semi-ring shaped light-receiving surfaces having different radii from each other about the optical axis of the lens 4. The forward light is condensed by the lens 4 and forms a diffraction / scattered image on the ring detector 5.

また、フローセル2の側方には光センサ6が配設され
ており、側方への散乱光はこの光センサ6によって検出
される。
An optical sensor 6 is provided on the side of the flow cell 2, and scattered light to the side is detected by the optical sensor 6.

リングデテクタ5の各素子、および光センサ6の出力
信号は、それぞれアンプ12を経た後にマルチプレクサ7
を介してA−D変換器8に導かれて順次デジタル変換さ
れ、入出力インターフェース9aを経由してコンピュータ
9に採り込まれる。
Each element of the ring detector 5 and the output signal of the optical sensor 6 pass through an amplifier 12 and then a multiplexer 7
The digital signal is guided to the A / D converter 8 via the input / output interface 9a and sequentially converted into digital data.

コンピュータ9では、一つのサンプルについて、A−
D変換器8を介して採り込んだ光強度分布データから、
後述する演算によって屈折率に関する条件を複数に変更
して複数の粒度分布を算出し、その中から最も滑らかな
曲線となるものを定量的に選択して、その粒度分布を最
終的な粒度分布として、接続されたプリンタ10およびCR
T11に出力する。
In the computer 9, for one sample, A-
From the light intensity distribution data taken in through the D converter 8,
A plurality of particle size distributions are calculated by changing the condition relating to the refractive index to a plurality by an operation described later, and the one having the smoothest curve is quantitatively selected from among them, and the particle size distribution is used as the final particle size distribution. , Connected printer 10 and CR
Output to T11.

次に、コンピュータ9による演算の手法について述べ
る。
Next, a calculation method by the computer 9 will be described.

粒子群による回折/散乱光の強度分布パターンは、粒
子の大きさによって変化するが、実際のサンプルには大
きさの異なる粒子が混在しているため、粒子群から生ず
る光強度分布パターンは、それぞれの粒子からの回折/
散乱光の重ね合わせとなる。
Although the intensity distribution pattern of the diffraction / scattered light by the particle group changes depending on the size of the particle, since the actual sample contains particles having different sizes, the light intensity distribution pattern generated from the particle group is Diffraction from particles of
The scattered light is superimposed.

これをマトリクスで表現すると、 となる。ただし、 はそれぞれ、以下に示す通りである。Expressing this as a matrix, Becomes However, Are as shown below.

ここに は光強度分布ベクトルである。その要素ri(i=1,2,‥
‥m)はリングデテクタ5の各素子および側方散乱光用
の光センサ6によって検出される入射光量である。
here Is a light intensity distribution vector. The element r i (i = 1,2, ‥
‥ m) is the incident light amount detected by each element of the ring detector 5 and the optical sensor 6 for side scattered light.

は粒度分布(頻度分布%)ベクトルである。粒度分布範
囲を有限とし、この範囲内をn分割して、最大値をd1,
最小値をdn+1とする。それぞれの分割区間[dj,dj+1
を一つの粒子径Dj(j=1,2,‥‥n)で代表させる。f
の要素f(j=1,2,‥‥n)は、粒子径Djに対応する粒
子量である。
Is a particle size distribution (frequency distribution%) vector. The particle size distribution range is finite, and the range is divided into n, and the maximum value is d 1 ,
Let the minimum value be dn + 1 . Each divided section [d j , d j + 1 ]
Is represented by one particle diameter D j (j = 1, 2, Δn). f
Element f (j = 1,2, ‥‥ n ) is the amount of particles corresponding to the particle diameter D j.

ただし、 Σfj=100(%) である。Here, Σf j = 100 (%).

光強度分布(ベクトル) に変換する係数行列である。 Light intensity distribution (vector) Is a coefficient matrix to be converted to.

の要素ai,j(i=1,2,‥‥m,j=1,2,‥‥n)の物理的
意味は、粒子径Djの単位粒子量の粒子群によって回折/
散乱した光のi番目の素子に対する入射光量である。
Element a i, j of the (i = 1,2, ‥‥ m, j = 1,2, ‥‥ n) physical meaning of the diffracted by the particles of unit particles of particle size D j /
This is the amount of incident light on the i-th element of the scattered light.

i,jの数値は理論的に計算することができる。これ
には、粒子径が光源となるレーザ光の波長に比べて充分
に大きい場合には、フラウンホーファ回折理論を用い
る。しかし、粒子径がレーザ光の波長と同程度か、ある
いはそれより小さいサブミクロン領域の場合には、ミー
散乱理論を用いる必要がある。フラウンホーファ回折理
論は、前方微小角散乱において、粒子径が波長に比べて
充分大きな場合に有効なミー散乱理論の優れた近似であ
ると考えるとこができる。
The value of a i, j can be calculated theoretically. For this purpose, if the particle diameter is sufficiently larger than the wavelength of the laser beam serving as a light source, the Fraunhofer diffraction theory is used. However, when the particle diameter is in the submicron range that is about the same as or smaller than the wavelength of the laser beam, it is necessary to use the Mie scattering theory. The Fraunhofer diffraction theory can be considered to be an excellent approximation of the Mie scattering theory that is effective when the particle diameter is sufficiently large compared to the wavelength in forward small angle scattering.

ミー散乱理論を用いて係数行列の の要素を計算するためには、前記したような粒子および
それを分散させる媒液の屈折率を設定する必要がある。
Using Mie scattering theory, In order to calculate the element (1), it is necessary to set the refractive index of the above-described particles and the medium in which the particles are dispersed.

さて、(1)式に基づいて粒度分布 の最小自乗解を求める式を導出すると、 が得られる。ただし、 の転置行列であり、()-1は逆行列を現す。Now, based on the equation (1), the particle size distribution Deriving the equation for the least squares solution of Is obtained. However, And () -1 represents an inverse matrix.

(4)式の右辺において、光強度分布 の各要素はリングデテクタ5および側方散乱光用の光セ
ンサ6で検出される数値で、また、係数行列 は、フラウンホーファ回折理論あるいはミー散乱理論を
用いてあらかじめ計算しておくことができるから、それ
らの既知のデータを用いて(4)の計算を実行すれば粒
度分布 が求まることは明らかである。
On the right side of the equation (4), the light intensity distribution Are elements detected by the ring detector 5 and the optical sensor 6 for side scattered light, and a coefficient matrix Can be calculated in advance using the Fraunhofer diffraction theory or the Mie scattering theory, and if the calculation of (4) is performed using the known data, the particle size distribution can be calculated. Obviously,

以上がレーザ回折/散乱法の基本的な測定原理である
が、ここで示したのは粒度分布の計算方法の一例であ
り、この他にも様々なバリエーションが存在する。ま
た、センサ、デテクタの種類および配置等にも様々なバ
リエーションがある。計算方法や各種測定要素の種類等
に拘らず、サブミクロン粒子の粒度分布を測定するため
には、測定対象となる粒子および媒液の屈折率を設定す
る必要がある。
The above is the basic measurement principle of the laser diffraction / scattering method. However, what is shown here is an example of the calculation method of the particle size distribution, and there are various other variations. Further, there are various variations in types and arrangements of sensors and detectors. Regardless of the calculation method, the type of various measurement elements, and the like, in order to measure the particle size distribution of submicron particles, it is necessary to set the refractive index of the particles to be measured and the medium liquid.

ここで、(3)式に示した係数行列の計算には非常に
多くの時間を要する。そこで、実際の測定においては、
複数の屈折率に対応して、あらかじめ複数の係数行列を
計算しておき、測定装置のメモリまたは補助記憶装置等
に登録しておくことが行われる。そして、その中から最
も適している係数行列を選択して粒度分布の計算に用い
るわけで、これは従来から行われている。このとき、係
数行列の選択の基準が問題となるわけである。係数行列
の選択を誤れば、正確な粒度分布を求めることはできな
い。粒子の屈折率が明らかでない場合にはこの点が問題
となることは前記した通りである。
Here, it takes a very long time to calculate the coefficient matrix shown in the equation (3). Therefore, in actual measurement,
A plurality of coefficient matrices are calculated in advance corresponding to a plurality of refractive indexes, and registered in a memory or an auxiliary storage device of the measuring device. Then, the most suitable coefficient matrix is selected from the selected matrix and used for the calculation of the particle size distribution, which has been conventionally performed. At this time, the criterion for selecting the coefficient matrix becomes a problem. If the coefficient matrix is selected incorrectly, an accurate particle size distribution cannot be obtained. As described above, this point becomes a problem when the refractive index of the particles is not clear.

本発明実施例では、以下に示す特徴によって、粒子お
よび媒液の相対屈折率を定量的判断のもとに自動的に最
適なものを選択する。
In the embodiment of the present invention, the optimum one is automatically selected based on the following characteristics based on the quantitative determination of the relative refractive index of the particles and the medium.

まず、屈折率の条件が異なる複数の係数行列を用い
て、一つのサンプルで得た光強度分布から複数の粒度分
布を求める。
First, using a plurality of coefficient matrices having different refractive index conditions, a plurality of particle size distributions are obtained from the light intensity distribution obtained from one sample.

適当な屈折率の係数行列を用いて算出した粒度分布を
フルイ下(体積基準)の積算分布%で図示すると、例え
ば第2図(a)に示すように滑らかな曲線となる。しか
し、誤った屈折率の係数行列を用いると、同じ光強度分
布データを用いても、同図(b)のような不連続な曲線
になってしまう。
If the particle size distribution calculated using the coefficient matrix of an appropriate refractive index is shown as an integrated distribution% under a screen (volume basis), a smooth curve is obtained as shown in FIG. 2 (a), for example. However, if an erroneous coefficient matrix of the refractive index is used, a discontinuous curve as shown in FIG.

この粒度分布曲線の滑らかさの度合いを定量的に表現
できれば、係数行列選択(屈折率選択)の実用的な基準
となり得る。
If the degree of smoothness of the particle size distribution curve can be quantitatively expressed, it can be a practical reference for selecting a coefficient matrix (selecting a refractive index).

さて、(4)式で計算される頻度分布% と、積算分布% の間には次の関係が成立する。Now, the frequency distribution% calculated by equation (4) And the cumulative distribution% The following relationship holds between.

ただし、 ここで、積算分布%に滑らかな曲線を当てはめ、その
結果を とする。例えば3次の多項式を用いるならば、 の各要素gj′(j=1,2,‥‥n,n+1)は、 gj′=c3・(log dj+c2・(log dj+c1(log dj)+c0 ‥‥(8) となる。ただし、c0,c1,c2,c3は、最小自乗法等によっ
て決定される係数である。
However, Here, a smooth curve is applied to the cumulative distribution%, and the result is And For example, if a third-order polynomial is used, G j ′ (j = 1,2,2n, n + 1) is given by g j ′ = c 3 · (log d j ) 3 + c 2 · (log d j ) 2 + c 1 (log d j ) + C 0 ‥‥ (8). Here, c 0 , c 1 , c 2 , and c 3 are coefficients determined by the least square method or the like.

最初に得られた積算分布% と、曲線の当てはめによって得られた積算分布% の各要素の誤差の自乗和eは、 によって計算することができる。そして、このeを積算
分布% の滑らかさを判断するための基準とする。
First obtained cumulative distribution% And the cumulative distribution% obtained by fitting the curve The sum of squares e of the error of each element of Can be calculated by Then, this e is integrated distribution% Is used as a criterion for judging the smoothness of.

具体的手順としては、まず、同一の光強度分布のデー
タに対して、妥当であると思われる範囲で複数の係数行
を用いて、それぞれの場合における粒度分布(積算分布
%)を求める。
As a specific procedure, first, for the same light intensity distribution data, a plurality of coefficient matrices are considered within a range considered to be appropriate. Is used to determine the particle size distribution (integrated distribution%) in each case.

次に、それぞれの場合について、滑らかな曲線を当て
はめ、(9)式に示したeを計算する。
Next, in each case, a smooth curve is applied, and e shown in Expression (9) is calculated.

そして、eが最小となる場合の係数行列 を選択し、それによって計算された粒度分布(頻度分布
%および積算分布%、またはそのうち一つ)を測定結果
としてプリンタ10および、またはCRT11に出力する。
And a coefficient matrix when e is minimized Is selected, and the calculated particle size distribution (frequency distribution% and integrated distribution%, or one of them) is output to the printer 10 and / or the CRT 11 as a measurement result.

以上により、最も真の屈折率(相対屈折率)に近いと
考えられる屈折率で光強度分布に換算されることにな
る。
As described above, the refractive index that is considered to be closest to the true refractive index (relative refractive index) is converted into the light intensity distribution.

なお、粒度分布の具体的な計算の方法や、各センサ等
の配設等に関しては前記したように種々のバリエーショ
ンがあって、本発明は上記した実施例に限定されること
なく、回折/散乱法を用いた粒度分布測定装置に広く適
用することできる。
Note that there are various variations as described above regarding the specific calculation method of the particle size distribution and the arrangement of each sensor and the like, and the present invention is not limited to the above-described embodiment. It can be widely applied to a particle size distribution measuring device using the method.

<発明の効果> 以上説明したように、本発明によれば、同一のサンプ
ルによる回折/散乱光強度分布データを、屈折率に関す
る条件を複数に変更して複数に変更して複数の粒度分布
に換算し、その中から粒度分布曲線が最も滑らかなもの
を定量的判断によって選出して、それを粒度分布測定結
果として出力するので、従来のように屈折率の選定に人
間が介入する要素がなくなり、未知のサンプルでも迅
速、かつ、正確な粒度分布測定を行うことができる。
<Effects of the Invention> As described above, according to the present invention, the diffraction / scattered light intensity distribution data of the same sample is changed to a plurality of conditions for the refractive index and changed to a plurality of particle size distributions. Converted, the one with the smoothest particle size distribution curve is selected by quantitative judgment, and it is output as the particle size distribution measurement result. Quick and accurate particle size distribution measurement of unknown samples can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明実施例の構成図、 第2図は選択する屈折率の相違に起因する粒度分布換算
結果の違いの説明図である。 1……レーザ光源 2……フローセル 3……懸濁液 4……レンズ 5……リングデテクタ 6……光センサ 8……A−D変換器 9……コンピュータ
FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an explanatory diagram of a difference in a particle size distribution conversion result due to a difference in a selected refractive index. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Laser light source 2 ... Flow cell 3 ... Suspension 4 ... Lens 5 ... Ring detector 6 ... Optical sensor 8 ... A / D converter 9 ... Computer

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】媒体中で分散飛翔状態の粒子群に平行光束
を照射することによって得られる回折/散乱光の強度分
布を測定して、その測定結果を粒子の屈折率を用いた演
算によってその粒子群の粒度分布に換算する装置におい
て、同一のサンプルに対して屈折率を複数に変更して上
記強度分布をそれぞれ粒度分布に換算する第1の演算手
段と、得られた粒度分曲線の内から、最も滑らかな曲線
を定量的判断のもとに選択する第2の演算手段を有し、
その選択された曲線に係る粒度分布をその粒度群の粒度
分布として出力するよう構成された粒度分布測定装置。
An intensity distribution of diffracted / scattered light obtained by irradiating a parallel light beam to a group of particles in a dispersed and flying state in a medium is measured, and the measurement result is calculated by calculation using the refractive index of the particles. An apparatus for converting a particle group into a particle size distribution, a first calculating means for changing the refractive index to a plurality for the same sample and converting each of the intensity distributions into a particle size distribution, A second calculating means for selecting the smoothest curve from the
A particle size distribution measuring device configured to output a particle size distribution related to the selected curve as a particle size distribution of the particle size group.
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