JP2833287B2 - Inspection jig for multipolar electronic devices - Google Patents
Inspection jig for multipolar electronic devicesInfo
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- JP2833287B2 JP2833287B2 JP3242078A JP24207891A JP2833287B2 JP 2833287 B2 JP2833287 B2 JP 2833287B2 JP 3242078 A JP3242078 A JP 3242078A JP 24207891 A JP24207891 A JP 24207891A JP 2833287 B2 JP2833287 B2 JP 2833287B2
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は例えば端子板やコネクタ
の如く多くのピンや端子を具えた多極電子デバイスの検
査治具に係り、特にワンタッチで電子デバイスとしての
極数の確認とピンや端子の規定値を越える曲がりの有無
を検査することで生産性の向上を図った多極電子デバイ
スの検査治具に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a jig for inspecting a multi-polar electronic device having many pins and terminals such as a terminal plate and a connector. The present invention relates to an inspection jig for a multipolar electronic device in which productivity is improved by inspecting the presence or absence of a bend exceeding a specified value of a terminal.
【0002】近年の電子機器分野では半導体装置の高集
積度化や装置小型化,低価格化等に対応するため、例え
ば数千ピンを持つ信号線接続用端子板や数百端子を持つ
コネクタ等の多極電子デバイスが実用化されるようにな
ってきている。2. Description of the Related Art In recent years, in the field of electronic equipment, in order to cope with higher integration of semiconductor devices, miniaturization of devices, and cost reduction, for example, signal line connection terminal plates having several thousand pins, connectors having several hundred terminals, etc. Of multipolar electronic devices are being put to practical use.
【0003】[0003]
【従来の技術】図3は多ピン端子板を例とした従来の検
査方法を示す図であり、図4は多極コネクタを例とした
従来の検査方法を示す図である。2. Description of the Related Art FIG. 3 is a diagram showing a conventional inspection method using a multi-pin terminal board as an example, and FIG. 4 is a diagram showing a conventional inspection method using a multi-pole connector as an example.
【0004】電子デバイスが端子板である場合を例とす
る図3で、端子板1は基板1aと該基板1aに穿孔された複
数の貫通孔1a′に圧入等の手段で固定し得る該基板1aの
厚さより長いピン1bとで構成されているものであり、該
基板1aの貫通孔1a′は角形に周回する“ロ”の字形の孔
群が更に等ピッチのグリッド状に位置するように穿孔さ
れている。Referring to FIG. 3 in which the electronic device is a terminal plate as an example, the terminal plate 1 is fixed to a substrate 1a and a plurality of through holes 1a 'formed in the substrate 1a by press-fitting or the like. And a pin 1b which is longer than the thickness of the substrate 1a. The through-hole 1a 'of the substrate 1a is formed so that a group of "b" -shaped holes orbiting in a square are further arranged in a grid pattern at an equal pitch. Perforated.
【0005】そこで、例えば図示されない圧入機等で上
記ピン1bをその両端が該基板1aの両面から突出するよう
に上記各貫通孔1a′に圧入して固定すると図で示す端子
板1を得ることができる。Therefore, when the pins 1b are press-fitted into the through holes 1a 'so that both ends thereof protrude from both sides of the substrate 1a by a press-fitting machine (not shown) or the like, the terminal plate 1 shown in the figure is obtained. Can be.
【0006】かかる端子板1ではピン1bを圧入して固定
する際に該ピン1bが曲がることがあり、また上記圧入機
等が該ピン1b自体をそのストッカで把持しなかったとき
には所定位置への該ピン1bの圧入固定がなされないこと
になる。In such a terminal board 1, the pin 1b may be bent when the pin 1b is press-fitted and fixed, and when the press-fitting machine or the like does not grip the pin 1b itself with its stocker, the pin 1b is moved to a predetermined position. The pin 1b is not press-fitted and fixed.
【0007】そこで、該端子板1が完成した時点での目
視検査で各ピン1bの総数に対する欠落有無や曲がりをチ
ェックするようにしている。またプラグコネクタの場合
を例として示す図4で、プラグコネクタ(以下コネクタ
とする)2は複数のプラグ端子(以下端子とする)2aが
等ピッチの千鳥格子状になるように絶縁体2bに植え込ま
れて形成されているものであり、該端子2aの一端に位置
するコンタクトピン2a′と他端に位置する外部接続部2
a″とがそれぞれ該絶縁体2bの厚さ方向両面に突出する
ようになっている。In view of this, a visual inspection at the time when the terminal plate 1 is completed is checked for missing or bent portions with respect to the total number of the pins 1b. In FIG. 4 showing an example of a plug connector, a plug connector (hereinafter, referred to as a connector) 2 is provided on an insulator 2b such that a plurality of plug terminals (hereinafter, referred to as terminals) 2a are arranged in a staggered grid pattern at an equal pitch. The contact pin 2a 'is located at one end of the terminal 2a and the external connection portion 2 is located at the other end.
a "project from both sides in the thickness direction of the insulator 2b.
【0008】なお該端子2aは、絶縁体2bの上記複数箇所
に穿孔されている貫通孔2b′に例えば圧入等の手段で固
定されるようになっている。かかるコネクタ2では、端
子2aを圧入して固定する際にコンタクトピン2a′または
外部接続部2a″が曲がることがあり、また図3の場合と
同様に総ての上記貫通孔2b′に該端子2aが挿入固定され
ないことがある。The terminal 2a is fixed to a through-hole 2b 'formed at a plurality of locations of the insulator 2b by, for example, press fitting. In such a connector 2, the contact pin 2a 'or the external connection portion 2a "may be bent when the terminal 2a is press-fitted and fixed, and the terminal 2a is inserted into all the through holes 2b' as in the case of FIG. 2a may not be inserted and fixed.
【0009】そこで該コネクタ2が完成した時点で、図
3のように目視検査によって端子2aの欠落有無や曲がり
をチェックしている現状にある。Therefore, at the time when the connector 2 is completed, as shown in FIG. 3, the presence or absence and bending of the terminal 2a are checked by visual inspection.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】しかし図3,図4のい
ずれの場合でもピンや端子の欠落状態や曲がり状態を目
視検査に頼っているため、工数がかかると共に検査結果
の信頼度を充分に得ることができないという問題があっ
た。However, in either case of FIGS. 3 and 4, since the missing or bent state of the pin or the terminal relies on visual inspection, it takes a lot of man-hours and the reliability of the inspection result is sufficiently high. There was a problem that it could not be obtained.
【0011】なお最近では、上述したような検査必要領
域をTVカメラ等で写し画像処理で上記各ピンや端子の
欠落や曲がりを確認する技術が実用化されているが、価
格的に高価であることと操作に特別な技術を要すること
から汎用的な使用が困難である。In recent years, a technique has been put into practical use in which the above-described inspection required area is photographed by a TV camera or the like and the above-mentioned pins and terminals are checked for missing or bent by image processing. It is difficult to use for general purpose because of its special operation and special technique.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】上記課題は、基板または
絶縁体とそれぞれの少なくとも片面から突出する直状の
ピンまたは端子とで構成され、該ピンまたは端子が上記
基板または絶縁体に形成した貫通孔で固定されてなる多
極電子デバイスの検査治具であって、上記電子デバイス
から突出するピンまたは端子と対応する位置に該ピンま
たは端子の曲がり規定値における先端バラツキがカバー
し得る径の貫通孔が形成されている不透明樹脂からなる
電子デバイス装着板と、該電子デバイス装着板に多芯の
光ファイバケーブルを介して接続されている光検知部、
該光検知部内に位置する受光素子に繋がって信号を遣り
取りする表示部、上記電子デバイス装着板の電子デバイ
ス装着面上方に該装着面に向けて配設した光源部、およ
び上記表示部と該光源部を制御する制御部とを具えて構
成され、上記光ファイバケーブルの一端を形成する個々
に分離した光ファイバの端部が上記電子デバイス装着板
の各貫通孔内所定位置で固定されていると共に、該光フ
ァイバケーブル他端の切断面が遮光された光検知部内に
位置する上記受光素子と対面するように配設されて構成
されている多極電子デバイスの検査治具によって達成さ
れる。An object of the present invention is to provide a substrate or insulator and a straight pin or terminal protruding from at least one surface of each of the substrate or insulator, and the pin or terminal is formed on the substrate or insulator. An inspection jig for a multipolar electronic device fixed by a hole, wherein the pin or terminal protrudes from the electronic device at a position corresponding to a pin or a terminal having a diameter that can be covered by a variation in the tip at a prescribed bending value of the bend. An electronic device mounting plate made of an opaque resin having holes formed therein, and a light detection unit connected to the electronic device mounting plate via a multi-core optical fiber cable;
A display unit connected to a light receiving element located in the light detection unit for exchanging signals, a light source unit disposed above the electronic device mounting surface of the electronic device mounting plate toward the mounting surface, and the display unit and the light source And an end of individually separated optical fiber forming one end of the optical fiber cable is fixed at a predetermined position in each through hole of the electronic device mounting plate. This is achieved by the inspection jig for the multipolar electronic device, which is arranged so that the cut surface at the other end of the optical fiber cable faces the light receiving element located in the light detecting portion which is shielded from light.
【0013】[0013]
【作用】図3に示す端子板や図4で示すコネクタの如く
ピンまたは端子が基板や絶縁体の貫通孔に挿入されて構
成されている電子デバイスでは、ピンや端子が欠落して
いる箇所では該ピンや端子を固定するための貫通孔が存
在する。In an electronic device in which pins or terminals are inserted into through holes of a substrate or an insulator, such as the terminal plate shown in FIG. There are through holes for fixing the pins and terminals.
【0014】そこで本発明になる検査治具では、基板や
絶縁体の表面から突出するピンまたは端子をガイドとし
て該治具に装着したときに基板や絶縁体の上記貫通孔を
通過する光の有無で電子デバイスとしてのピンや端子の
欠落が検知し得るように該検査治具を構成している。Therefore, in the inspection jig according to the present invention, the presence or absence of light passing through the through hole of the substrate or the insulator when the inspection jig is mounted on the jig using a pin or a terminal protruding from the surface of the substrate or the insulator as a guide. The inspection jig is configured so that a missing pin or terminal as an electronic device can be detected.
【0015】このことは、かかる電子デバイスの検査治
具に対するセッティングが容易であると共に上記ピンま
たは端子が規定値以上に曲がっていると該電子デバイス
を密着した状態で検査治具に装着できないことからピン
または端子の規定値以上の曲がりが検知できることを意
味する。This is because the setting of the electronic device to the inspection jig is easy, and if the pin or the terminal is bent beyond a specified value, the electronic device cannot be attached to the inspection jig in a closely contacted state. This means that a bend exceeding a specified value of a pin or a terminal can be detected.
【0016】従って特別な工数をかけることなく容易且
つ確実に電子デバイスとしてのピンまたは端子の欠落有
無と規定値以上の曲がりを検査することができて生産性
の向上を実現することができる。Therefore, it is possible to easily and reliably inspect the presence or absence of a pin or a terminal as an electronic device and to inspect a bend exceeding a specified value without any special man-hour, thereby realizing an improvement in productivity.
【0017】[0017]
【実施例】図1は本発明になる検査治具の構成例を説明
する図であり、図2は検査時の状態を説明する図であ
る。FIG. 1 is a view for explaining a configuration example of an inspection jig according to the present invention, and FIG. 2 is a view for explaining a state at the time of inspection.
【0018】なお図はいずれも図3で説明した端子板1
の場合を例として説明するが、図4で示したコネクタ2
の場合は後述する図1の端子板装着板を該コネクタ2の
端子2aに合致させた装着板に代えることで該コネクタ2
に対応する所要の検査治具が構成できるので説明を省略
する。In each of the figures, the terminal plate 1 described with reference to FIG.
The case of the connector 2 shown in FIG.
In the case of (2), the terminal board mounting plate of FIG.
Since the required inspection jig corresponding to the above can be configured, the description is omitted.
【0019】図1で検査治具5は不透明樹脂等からなる
端子板装着板51と、光検知部52に繋がる表示部53、上記
端子板装着板51と該光検知部52との間を接続する多芯の
光ファイバケーブル54、上記端子板装着板51の端子板装
着面上方に該装着面に向けて配設した光源部55、および
上記表示部53と該光源部55に繋がる制御部56とで構成さ
れている。In FIG. 1, the inspection jig 5 includes a terminal plate mounting plate 51 made of an opaque resin or the like, a display unit 53 connected to the light detecting unit 52, and a connection between the terminal plate mounting plate 51 and the light detecting unit 52. A multi-core optical fiber cable 54, a light source unit 55 disposed above the terminal plate mounting surface of the terminal plate mounting plate 51 toward the mounting surface, and a control unit 56 connected to the display unit 53 and the light source unit 55. It is composed of
【0020】そしてこの内の端子板装着板51には、図3
で説明した端子板1の複数のピン1bと対応する位置に該
ピン1bの径より太く該ピン1bの曲がり規定値における先
端位置のバラツキがカバーし得る径より細い径の貫通孔
51a が形成されている。FIG. 3 shows a terminal board mounting plate 51 of FIG.
In the position corresponding to the plurality of pins 1b of the terminal plate 1 described in the above, a through-hole having a diameter larger than the diameter of the pin 1b and smaller than the diameter that can be covered by the variation in the tip position at the prescribed bending value of the pin 1b.
51a is formed.
【0021】また光検知部52は遮光し得るように構成さ
れたされた筐体52a の内部に、一端が上記端子板装着板
51に繋がる上述した光ファイバケーブル54の切断された
他端側の切断面54a と該面54a と対面する近傍に配置し
たフォトダイオードの如き受光素子52b とを配設して構
成されているものである。The light detecting section 52 has one end inside the housing 52a constructed so as to be able to shield light,
The optical fiber cable 54 is connected to a cut surface 54a on the other end of the optical fiber cable 54, and a light receiving element 52b such as a photodiode disposed near the surface 54a. is there.
【0022】なお該光ファイバケーブル54の端子板装着
板51側の端部は、個々の光ファイバ54b にほぐされた後
各光ファイバ54b の端部 54b′は該端子板装着板51の上
述した貫通孔51a に一定した深さdを残す位置まで挿入
された状態で該装着板51に接着固定されている。The end of the optical fiber cable 54 on the terminal plate mounting plate 51 side is loosened by individual optical fibers 54b, and then the end 54b 'of each optical fiber 54b is connected to the terminal plate mounting plate 51 as described above. It is adhesively fixed to the mounting plate 51 in a state where it is inserted to a position where a constant depth d is left in the through hole 51a.
【0023】なおこの場合の上記深さdは、少なくとも
該貫通孔51a に挿入される被検ピン(図の場合では図3
で説明した端子板1のピン1b)の突出長さを越える長さ
になっている。In this case, the depth d is set to at least the test pin inserted into the through-hole 51a (in the case of FIG.
The length exceeds the protruding length of the pin 1b) of the terminal plate 1 described in (1).
【0024】更に、上記光検知部52ひいてはその内部に
位置する受光素子52b に繋がる表示部53にはその表面に
2個の表示灯53a,53b が配設されており、例えば該受光
素子52b が受光したときには片側の表示灯53a が点灯し
て NG 信号を表示し受光素子52b が受光しないときは他
方の表示灯53b が点灯して OK 信号を表示するようにな
っているが、該表示部53の表示制御は該表示部53に繋が
る制御部56からの信号で制御されるようになっている。Further, the display section 53 connected to the light detecting section 52 and the light receiving element 52b located inside the light detecting section 52 is provided with two display lamps 53a and 53b on the surface thereof. When a light is received, one indicator light 53a lights up to display an NG signal, and when the light receiving element 52b does not receive light, the other indicator light 53b lights up to display an OK signal. Is controlled by a signal from a control unit 56 connected to the display unit 53.
【0025】なお光源部55は表示部53と同様に制御部56
からの信号で点灯, 消灯が制御されるが、該信号は表示
部53と同期するようになっている。従って上述した端子
板装着板51上に図3で説明した端子板が装着されていな
い図の状態では、制御部56からの信号で受光素子52b に
電源を供給すると同時に光源部55を点灯すると、該光源
部55からの光Lが該端子板装着板51の各貫通孔51aから
光ファイバ54b を経由して受光素子52b に進入するので
表示部53の表示灯53a が点灯することになる。The light source unit 55 includes a control unit 56 similar to the display unit 53.
Lighting and turning off are controlled by a signal from the display unit 53, and the signal is synchronized with the display unit 53. Therefore, in the state of FIG. 3 in which the terminal plate described in FIG. Since the light L from the light source unit 55 enters the light receiving element 52b from each through hole 51a of the terminal plate mounting plate 51 via the optical fiber 54b, the indicator lamp 53a of the display unit 53 is turned on.
【0026】図2で、(2-1) は図3で説明した端子板1
が良品である場合を示しまた(2-2)は該端子板1が不良
である場合を示している。図で検査治具5は図 1で示し
た如く、端子板装着板51と光検知部52,表示部53,光フ
ァイバケーブル54,光源部55および制御部56とで構成さ
れている。In FIG. 2, (2-1) is the terminal plate 1 described in FIG.
Indicates the case where the terminal plate 1 is defective, and (2-2) indicates the case where the terminal plate 1 is defective. As shown in FIG. 1, the inspection jig 5 includes a terminal plate mounting plate 51, a light detection unit 52, a display unit 53, an optical fiber cable 54, a light source unit 55, and a control unit 56.
【0027】そこで上記端子板1の各ピン1bを端子板装
着板51の各貫通孔51a に対応させて該端子板装着板51に
装着すると、該端子板1がほぼ密着した状態で該端子板
装着板51に搭載される。Then, when the pins 1b of the terminal plate 1 are mounted on the terminal plate mounting plate 51 so as to correspond to the respective through holes 51a of the terminal plate mounting plate 51, the terminal plate 1 is almost adhered to the terminal plate. Mounted on the mounting plate 51.
【0028】この時点で制御部56を作動させて光検知部
52の受光素子52b に電源を投入すると同時に光源部55を
点灯すると、該端子板装着板51が良品であるときには(2
-1)で示すように光源部55からの光Lが該端子板1で完
全に遮断されるので受光素子52b に到達する光がなく従
って表示部53の表示灯53b が点灯して OK 信号を表示す
る。At this point, the control unit 56 is operated to
When the light source unit 55 is turned on at the same time when the power is supplied to the light receiving element 52b of the 52, if the terminal plate mounting plate 51 is a non-defective product (2
As shown in -1), since the light L from the light source unit 55 is completely blocked by the terminal plate 1, no light reaches the light receiving element 52b, so that the indicator lamp 53b of the display unit 53 is turned on and the OK signal is output. indicate.
【0029】しかし該端子板装着板51に(2-2) で示す
, , のようにピン1bが欠落している箇所がある
と、光源部55からの光Lの一部が該欠落部の貫通孔51a
から光ファイバ54b にL1,L2,L3のように進入するので該
各光が受光素子52b に到達して結果的に表示部53の表示
灯53a が点灯して NG 信号を表示する。However, the terminal board mounting plate 51 is indicated by (2-2).
When there is a portion where the pin 1b is missing, such as,,, a part of the light L from the light source section 55 is transmitted through the through hole 51a of the missing portion.
L 1, L 2, indicator 53a as a result, the display unit 53 respective light reaches the light receiving element 52b so enters as L 3 displays an NG signal lights to the optical fiber 54b from.
【0030】従って表示部53の表示灯53a,53b を監視す
ることで、端子板装着板51に搭載された端子板1の良否
を容易に検出することができる。なお端子板51のピン1b
の一部が上記貫通孔51a に挿入し得ない程曲がっている
場合換言すれば該ピン1bが規定値以上に曲がっていると
きには、該端子板51が端子板装着板51に密着することが
なく該端子板51と端子板装着板51との間にピン1bの突出
長さにほぼ相当する隙間が生ずるので、光源部55からの
光Lの一部が該隙間から光ファイバ54b に進入して表示
部53の表示灯53a が点灯して(2-2) 同様のNG 表示を得
ることができる。Therefore, the quality of the terminal plate 1 mounted on the terminal plate mounting plate 51 can be easily detected by monitoring the display lamps 53a and 53b of the display unit 53. Pin 1b of terminal board 51
Is bent so that it cannot be inserted into the through hole 51a.In other words, when the pin 1b is bent beyond a specified value, the terminal plate 51 does not adhere to the terminal plate mounting plate 51. Since a gap is formed between the terminal plate 51 and the terminal plate mounting plate 51, which substantially corresponds to the protruding length of the pin 1b, a part of the light L from the light source unit 55 enters the optical fiber 54b from the gap. The indicator light 53a of the display unit 53 is turned on, and (2-2) the same NG display can be obtained.
【0031】[0031]
【発明の効果】上述の如く本発明により、ワンタッチで
電子デバイスとしてのピン総数の確認と該ピンの規定値
を越える曲がりの有無を検査して生産性の向上を図った
多極電子デバイスの検査治具を提供することができる。As described above, according to the present invention, the inspection of a multi-pole electronic device which improves the productivity by checking the total number of pins as an electronic device and inspecting the presence or absence of a bend exceeding a prescribed value of the pins with one touch. A jig can be provided.
【0032】なお上記実施例の説明では被検部材が端子
板である場合を例としているが、この場合における端子
板装着板を電子デバイスに合わせた装着板とすることで
如何なる電子デバイスでも同等の効果を持って検査する
ことができる。In the description of the above embodiment, the case where the member to be inspected is a terminal plate is taken as an example. However, in this case, the terminal plate mounting plate may be a mounting plate adapted to the electronic device, and any electronic device may have the same configuration. Inspection can be done with an effect.
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図1】 本発明になる検査治具の構成例を説明する
図。FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of an inspection jig according to the present invention.
【図2】 検査時の状態を説明する図。FIG. 2 is a diagram illustrating a state at the time of inspection.
【図3】 多ピン端子板を例とした従来の検査方法を示
す図。FIG. 3 is a diagram showing a conventional inspection method using a multi-pin terminal board as an example.
【図4】 多極コネクタを例とした従来の検査方法を示
す図。FIG. 4 is a diagram showing a conventional inspection method using a multipolar connector as an example.
1 端子板 1b ピン 5 検査治具 51 電子デバイス(端子板)装着板 51a 貫通
孔 51b 貫通孔 52 光検知部 52a 筐体 52b 受光素子 53 表示部 53a,53b 表
示灯 54 光ファイバケーブル 54a 切断
面 54b 光ファイバ 54b′ 端面 55 光源部 56 制御部1 terminal plate 1b pin 5 inspection jig 51 electronic device (terminal plate) mounting plate 51a through hole 51b through hole 52 light detection section 52a housing 52b light receiving element 53 display section 53a, 53b indicator light 54 optical fiber cable 54a cut surface 54b Optical fiber 54b 'End face 55 Light source 56 Control
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭64−83163(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01R 43/00 G01R 31/02 - 31/04 G02B 6/00────────────────────────────────────────────────── (5) References JP-A-64-83163 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) H01R 43/00 G01R 31/02-31 / 04 G02B 6/00
Claims (1)
も片面から突出する直状のピンまたは端子とで構成さ
れ、該ピンまたは端子が上記基板または絶縁体に形成し
た貫通孔で固定されてなる多極電子デバイスの検査治具
であって、 上記電子デバイスから突出するピン(1b)または端子と対
応する位置に該ピン(1b)または端子の曲がり規定値にお
ける先端バラツキがカバーし得る径の貫通孔(51a) が形
成されている不透明樹脂からなる電子デバイス装着板(5
1)と、該電子デバイス装着板(51)に多芯の光ファイバケ
ーブル(54)を介して接続されている光検知部(52)、該光
検知部(52)内に位置する受光素子(52b) に繋がって信号
を遣り取りする表示部(53)、上記電子デバイス装着板(5
1)の電子デバイス装着面上方に該装着面に向けて配設し
た光源部(55)、および上記表示部(53)と該光源部(55)を
制御する制御部(56)とを具えて構成され、 上記光ファイバケーブル(54)の一端を形成する個々に分
離した光ファイバ(54b) の端部が上記電子デバイス装着
板(51)の各貫通孔内所定位置で固定されていると共に、
該光ファイバケーブル他端の切断面(54a) が遮光された
光検知部内に位置する上記受光素子(52b) と対面するよ
うに配設されて構成されていることを特徴とした多極電
子デバイスの検査治具。1. A multi-electrode comprising a substrate or an insulator and straight pins or terminals projecting from at least one surface of each of the substrates or the insulator, and the pins or the terminals are fixed by through holes formed in the substrate or the insulator. An inspection jig for an electronic device, wherein the pin (1b) or a terminal protruding from the electronic device corresponds to a position corresponding to the pin (1b) or the terminal. 51a) An electronic device mounting plate (5
1), a light detection unit (52) connected to the electronic device mounting plate (51) via a multi-core optical fiber cable (54), a light receiving element (52) located in the light detection unit (52). 52b), a display unit (53) for exchanging signals with the electronic device mounting plate (5
A light source unit (55) disposed above the electronic device mounting surface of (1) toward the mounting surface, and a control unit (56) for controlling the display unit (53) and the light source unit (55). The ends of individually separated optical fibers (54b) forming one end of the optical fiber cable (54) are fixed at predetermined positions in respective through holes of the electronic device mounting plate (51),
A multipolar electronic device, wherein a cut surface (54a) at the other end of the optical fiber cable is disposed so as to face the light receiving element (52b) located in a light-shielded light detecting portion. Inspection jig.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3242078A JP2833287B2 (en) | 1991-09-20 | 1991-09-20 | Inspection jig for multipolar electronic devices |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP3242078A JP2833287B2 (en) | 1991-09-20 | 1991-09-20 | Inspection jig for multipolar electronic devices |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPH0582227A JPH0582227A (en) | 1993-04-02 |
| JP2833287B2 true JP2833287B2 (en) | 1998-12-09 |
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-
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- 1991-09-20 JP JP3242078A patent/JP2833287B2/en not_active Expired - Fee Related
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| JPH0582227A (en) | 1993-04-02 |
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