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JP2836235B2 - Clock generation control circuit - Google Patents
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JP2836235B2 - Clock generation control circuit - Google Patents

Clock generation control circuit

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JP2836235B2
JP2836235B2 JP2280708A JP28070890A JP2836235B2 JP 2836235 B2 JP2836235 B2 JP 2836235B2 JP 2280708 A JP2280708 A JP 2280708A JP 28070890 A JP28070890 A JP 28070890A JP 2836235 B2 JP2836235 B2 JP 2836235B2
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circuit
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は高速で動作するダイナミック回路へクロック
信号を供給するクロック発生制御回路に関し、特にCMOS
構成のダイナミック回路へ供給するクロック信号を発生
または制御するクロック発生制御回路に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clock generation control circuit that supplies a clock signal to a dynamic circuit that operates at high speed, and particularly relates to a CMOS.
The present invention relates to a clock generation control circuit that generates or controls a clock signal supplied to a dynamic circuit having a configuration.

[従来の技術] 第7図は外部クロック信号を受けて動作する高速ダイ
ナミック回路の一例を示しており、この従来例は入力端
子群1、出力端子群2、内部回路3、外部クロック入力
端子4、2相化クロックドライバー5で構成されてい
る。外部クロック入力端子4は、2相化クロックドライ
バー5の入力に接続されており、2相化クロックドライ
バー5は第10図のタイムチャートに示すように外部クロ
ックを入力とし2相のクロックC1,C2を出力し、高速ダ
イナミック回路6は2相クロックC1,C2に制御されて動
作する。
FIG. 7 shows an example of a high-speed dynamic circuit which operates in response to an external clock signal. In this conventional example, an input terminal group 1, an output terminal group 2, an internal circuit 3, and an external clock input terminal 4 are shown. And a two-phase clock driver 5. The external clock input terminal 4 is connected to the input of a two-phase clock driver 5. The two-phase clock driver 5 receives an external clock as shown in the time chart of FIG. And the high-speed dynamic circuit 6 operates under the control of the two-phase clocks C1 and C2.

第7図では、高速ダイナミック回路の内部回路の一例
として、ダイナミックシフトレジスタ回路3が示されて
おり、このダイナミックシフトレジスタ回路3は、第1
のNチャンネルMOSトランジスタ7のソース電極を入力
(aノード)とし、ゲート電極がクロックC1に接続さ
れ、ドレイン電極が第1のインバータ8の入力に接続さ
れ(bノード)、第2のNチャンネルMOSトランジスタ
9のソース電極が、第1のインバータ8の出力に接続さ
れ(cノード)、ゲート電極がクロックC2に接続され、
ドレイン電極が第2のインバータ10の入力に接続され
(dノード)、第2のインバータ10の出力が出力となっ
ている(eノード)。
FIG. 7 shows a dynamic shift register circuit 3 as an example of an internal circuit of the high-speed dynamic circuit.
The source electrode of the N-channel MOS transistor 7 is used as an input (node a), the gate electrode is connected to the clock C1, the drain electrode is connected to the input of the first inverter 8 (node b), and the second N-channel MOS The source electrode of the transistor 9 is connected to the output of the first inverter 8 (node c), the gate electrode is connected to the clock C2,
The drain electrode is connected to the input of the second inverter 10 (d node), and the output of the second inverter 10 is the output (e node).

このダイナミックシフトレジスタ回路3の動作を第10
図のタイムチャートを用いて説明する。図中のA,B,C,D,
Zは論理値“1"または論理と“0"のデータである。
The operation of the dynamic shift register circuit 3 is referred to as a tenth
This will be described with reference to the time chart in FIG. A, B, C, D,
Z is data of logical value “1” or logical and “0”.

外部クロック信号が低レベルの時(区間t0)、2相化
クロックドライバーにより、その出力C1は高レベルに、
出力C2は低レベルになるので、第1のNチャンネルMOS
トランジスタ7はオンし、第1のインバータ8の入力
(bノード)は入力(aノード)と同じレベル(A)に
なり、第1インバータ8の出力(cノード)はその入力
の反転値()を出力する。また、第2のNチャンネル
MOSトランジスタ9はオフし、第2のインバータ10の入
力(dノード)は第2のNチャンネルMOSトランジスタ
9がオフする直前のレベル()を保持し、出力(eノ
ード)はその反転レベル(Z)を出力している。
When the external clock signal is at low level (section t0), the output C1 becomes high level by the two-phase clock driver,
Since the output C2 goes low, the first N-channel MOS
The transistor 7 is turned on, the input (node b) of the first inverter 8 is at the same level (A) as the input (node a), and the output (node c) of the first inverter 8 is the inverted value () of the input. Is output. Also, the second N channel
The MOS transistor 9 is turned off, the input (d node) of the second inverter 10 holds the level () immediately before the second N-channel MOS transistor 9 is turned off, and the output (e node) is the inverted level (Z node). ) Is output.

次に、外部クロック信号が低レベルから高レベルに変
化すると(T1点)、C1は低レベルに、C2高レベルに変化
するので、第1のNチャンネルMOSトランジスタ7はオ
フし、第1のインバータ8の入力(bノード)は第1の
NチャンネルMOSトランジスタ7がオフする直前のレベ
ル(A)を保持し、第1のインバータ8の出力(cノー
ド)はその入力の反転値(A)を出力している。また、
第2のNチャンネルMOSトランジスタ9はオンし、第2
のインバータ10の入力(dノード)は第1のインバータ
8の出力(cノード)と同じレベル()になり、第2
のインバータ10の出力(eノード)はその反転値(A)
を出力する。
Next, when the external clock signal changes from the low level to the high level (point T1), C1 changes to the low level and C2 changes to the high level, so that the first N-channel MOS transistor 7 is turned off, and the first inverter is turned off. The input 8 (node b) holds the level (A) immediately before the first N-channel MOS transistor 7 turns off, and the output (node c) of the first inverter 8 outputs the inverted value (A) of the input. Output. Also,
The second N-channel MOS transistor 9 turns on, and the second
The input (d node) of the inverter 10 becomes the same level () as the output (c node) of the first inverter 8,
The output (e node) of the inverter 10 is the inverted value (A)
Is output.

次に再び外部クロック信号が低レベルから高レベルに
変化すると(T2点)、C1は高レベルに、C2は低レベルに
変化するので、第1のNチャンネルMOSトランジスタ7
はオンし、第1のインバータ8の入力(bノード)は入
力(aノード)と同じレベル(B)になり、第1のイン
バータ8の出力(cノード)はその入力の反転値()
を出力する。また、第2のNチャンネルMOSトランジス
タ9はオフし、第2のインバータ10の入力(aノード)
は第2のNチャンネルMOSトランジスタ9がオフする前
のレベル()を保持し、出力(eノード)はその反転
レベル(A)を出力している。
Next, when the external clock signal changes from low level to high level again (point T2), C1 changes to high level and C2 changes to low level.
Turns on, the input (node b) of the first inverter 8 is at the same level (B) as the input (node a), and the output (node c) of the first inverter 8 is the inverted value () of the input.
Is output. Further, the second N-channel MOS transistor 9 is turned off, and the input of the second inverter 10 (node a)
Holds the level () before the second N-channel MOS transistor 9 is turned off, and the output (e node) outputs the inverted level (A).

以上説明したようにダイナミックシフトレジスタ回路
3は、外部クロック信号により、入力データを順次シフ
トする。
As described above, the dynamic shift register circuit 3 sequentially shifts input data by an external clock signal.

[発明が解決しようとする課題] この種のダイナミック回路は、記憶部に帰還ループが
ないので、クロック周波数が低くなると、MOSトランジ
スタのソース電極とドレイン電極との間のリークにより
保持電荷が逃げ、インバータの入力が中間電位になる。
インバータを第8図に示すように電源13と接地16間に直
列接続されたPチャンネルトランジスタ14とNチャンネ
ルトランジスタ15で構成されたCMOS回路で構成すると、
CMOSのインバータの入力電圧(VIN)と電源13からグラ
ンド16に流れる電流Iは、第9図に示すように、入力17
が電源レベルもしくはグランドレベル付近では、ほとん
ど電流が流れないが、入力17が中間電位付近では大きな
電流が流れる。従って、クロック周波数が下限周波数
(通常CMOSでは100KHz〜1MHz程度)よりも低くなった
り、クロックが停止したりするとリークにより保持電荷
が失われ、ダイナミック回路に大電流が流れてしまうと
いう問題がある。
[Problems to be Solved by the Invention] In this type of dynamic circuit, since the storage unit does not have a feedback loop, when the clock frequency decreases, the retained charge escapes due to leakage between the source electrode and the drain electrode of the MOS transistor, The input of the inverter becomes the intermediate potential.
When the inverter is constituted by a CMOS circuit composed of a P-channel transistor 14 and an N-channel transistor 15 connected in series between a power supply 13 and a ground 16, as shown in FIG.
The input voltage (VIN) of the CMOS inverter and the current I flowing from the power supply 13 to the ground 16 are, as shown in FIG.
However, almost no current flows near the power supply level or the ground level, but a large current flows near the intermediate potential of the input 17. Therefore, when the clock frequency becomes lower than the lower limit frequency (usually about 100 KHz to 1 MHz in CMOS) or when the clock stops, there is a problem that the retained charge is lost due to leakage and a large current flows through the dynamic circuit.

[課題を解決するための手段] 本発明の要旨は、動作クロック信号に応答して所定の
機能を実現するダイナミック回路に動作クロック信号を
供給するクロック発生制御回路にして、第1クロック信
号の周波数が所定数以上か未満かを検出し検出結果を表
す検出信号を出力するクロック検出回路と、上記所定数
以上の第2クロック信号を発生するクロック発生回路
と、上記検出信号が所定数以上の第1クロック信号を表
しているときは第1クロック信号を動作クロック信号と
し検出信号が所定数未満の第1クロック信号を表してい
るときは第2クロック信号を動作クロック信号とする選
択回路とを有することである。
Means for Solving the Problems The gist of the present invention is to provide a clock generation control circuit that supplies an operation clock signal to a dynamic circuit that realizes a predetermined function in response to the operation clock signal, A clock detection circuit that detects whether or not the number is equal to or greater than a predetermined number and outputs a detection signal indicating a detection result; a clock generation circuit that generates the second clock signal having the predetermined number or more; A selection circuit that uses the first clock signal as the operation clock signal when the signal represents one clock signal, and uses the second clock signal as the operation clock signal when the detection signal represents less than a predetermined number of the first clock signals. That is.

[発明の作用] 第1クロック信号が所定数以上の周波数なら選択回路
は第1クロックを動作クロックとしてダイナミック回路
に供給する。
[Operation of the Invention] If the first clock signal has a frequency equal to or higher than a predetermined number, the selection circuit supplies the first clock to the dynamic circuit as an operation clock.

第1クロック信号が所定数未満の周波数なら選択回路
はクロック発生回路から出力された第2クロック信号を
ダイナミック回路に供給する。
If the first clock signal has a frequency less than a predetermined number, the selection circuit supplies the second clock signal output from the clock generation circuit to the dynamic circuit.

[実施例] 次に本発明の実施例について図面を参考にして説明す
る。
[Example] Next, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明のクロック発生制御回路である。本ク
ロック発生制御回路は、入力端子群1、出力端子群2、
内部回路3、外部クロック入力端子4、2相化クロック
ドライバー5で構成されるダイナミック回路6に付随し
ており、外部クロック端子4が制御入力が高レベルであ
れば第1の入力を低レベルであれば第2の入力を選択し
出力するセレクタ回路101の第1の入力(A)と、一定
の周波数をしきい値として外部クロック信号の周波数の
高低を検出し高ければ高レベルを低ければ低レベルを出
力するクロック検出回路102の入力(CK1)とに接続さ
れ、クロック検出回路102の出力(0)がセレクタ回路1
01の制御入力(G)と、制御入力が低レベルであればク
ロックを発生出力し高レベルであればクロックを低レベ
ルに固定するクロック発生回路103の制御入力(F)に
接続され、クロック発生回路103の出力(CK2)がセレク
タ回路101の第2の入力(B)に接続されている。本実
施例では、外部クロック信号が第1クロックをクロック
発生回路103の出力が第2クロックとして機能してい
る。
FIG. 1 shows a clock generation control circuit according to the present invention. This clock generation control circuit includes an input terminal group 1, an output terminal group 2,
It is attached to a dynamic circuit 6 composed of an internal circuit 3, an external clock input terminal 4, and a two-phase clock driver 5. When the external clock terminal 4 has a high control input, the first input is at a low level. If there is, the first input (A) of the selector circuit 101 for selecting and outputting the second input, and the level of the frequency of the external clock signal is detected using a fixed frequency as a threshold value. The output (0) of the clock detection circuit 102 is connected to the input (CK1) of the clock detection circuit 102 that outputs the level.
01 is connected to the control input (G) of the clock generation circuit 103 for generating and outputting a clock if the control input is low and fixing the clock to a low level if the control input is high. The output (CK2) of the circuit 103 is connected to the second input (B) of the selector circuit 101. In this embodiment, the external clock signal functions as the first clock, and the output of the clock generation circuit 103 functions as the second clock.

セレクタ回路101は第2図に示す構成を有しており、
制御入力108(G)が高レベルであれば第1の入力106
(A入力)を、低レベルであれば第2の入力107(B入
力)を選択し、出力端子109(Y)から出力する。
The selector circuit 101 has the configuration shown in FIG.
If the control input 108 (G) is high, the first input 106
If (A input) is at a low level, the second input 107 (B input) is selected and output from the output terminal 109 (Y).

クロック発生回路103は、第3図に示すようにリング
発振器構成で、制御入力110(F)が低レベルであれば
クロックを発生し出力端子111から出力し、高レベルで
あれば出力を低レベルに固定する。
The clock generation circuit 103 has a ring oscillator configuration as shown in FIG. 3, and generates a clock when the control input 110 (F) is at a low level and outputs the clock from an output terminal 111. Fixed to.

クロック発生回路102は、第4図に示す構成であり、
入力端子113(CK1)からクロック信号を入力し、一定の
周波数をしきい値としてクロック信号の周波数の高低を
検出し、高ければ高レベルを、低ければ低レベルを出力
端子119(0)から出力する。
The clock generation circuit 102 has the configuration shown in FIG.
A clock signal is input from the input terminal 113 (CK1), and the frequency of the clock signal is detected by using a fixed frequency as a threshold. The high level is output from the output terminal 119 (0) and the low level is output from the output terminal 119 (0). I do.

クロック発生回路102の動作を第4図の回路図及び第
5図のタイムチャートで説明する。クロック入力端子11
3より入力したクロック信号は、立ち上がり微分回路112
により固定値である低レベル幅TLに微分されhノードに
出力される。ノードhの高レベル幅THはクロックの入力
周波数に依存し、周波数が低いほど長くなる。Pチャン
ネルMOSトランジスタ115は、hノードの低レベルパルス
をゲート電極にうけてオンし、電源端子114より容量116
に電荷を充電し、ノードiの電位は上昇する。ノードh
が高レベルの時にはPチャンネルMOSトランジスタ115は
オフし、NチャンネルMOSトランジスタ117がオンするの
で容量116に充電された電荷はグランドに放電されノー
ドiの電位は下降する。ノードiには、しきい値がVTの
ゲート118の入力を接続し、その出力をクロック検出回
路の出力として取り出すようにしてある。Pチャンネル
MOSトランジスタ115のオン抵抗をRPとし、Nチャンネ
ルMOSトランジスタのオン抵抗をRNとすると、TL/RPがT
H/RNよりも大きいとノードiの電位は上昇し、逆になる
と下降し、VTを境にしてゲート118の出力が変化する。
The operation of the clock generation circuit 102 will be described with reference to the circuit diagram of FIG. 4 and the time chart of FIG. Clock input terminal 11
The clock signal input from 3 is the rising differentiation circuit 112
, And is differentiated into a low level width TL which is a fixed value, and output to the h node. The high level width TH of the node h depends on the clock input frequency, and becomes longer as the frequency becomes lower. The P-channel MOS transistor 115 is turned on by receiving a low level pulse of the h node at the gate electrode, and the
And the potential of the node i rises. Node h
Is at a high level, the P-channel MOS transistor 115 is turned off and the N-channel MOS transistor 117 is turned on, so that the electric charge charged in the capacitor 116 is discharged to the ground and the potential of the node i falls. The input of the gate 118 whose threshold value is VT is connected to the node i, and the output is taken out as the output of the clock detection circuit. P channel
Assuming that the ON resistance of the MOS transistor 115 is RP and the ON resistance of the N-channel MOS transistor is RN, TL / RP becomes T
When it is larger than H / RN, the potential of the node i rises, and when it is reversed, it falls and the output of the gate 118 changes at VT.

よって、検出するクロックの周期のしきい値TTHは、 TTH=(1+RN/RP)・TL となる。 Therefore, the threshold value TTH of the clock cycle to be detected is TTH = (1 + RN / RP) .TL.

従って、外部クロックの周波数が、1/TTHよりも高け
れば、クロック検出回路102の出力119は、高レベルにな
り、セレクタ回路101は外部クロック信号を出力し、ダ
イナミック回路6には外部クロックを供給し、外部クロ
ックの異常等により外部クロック周波数が、1/TTHより
も低ければ、クロック検出回路102の出力は、低レベル
になり、クロック発生回路103はクロック信号を発生
し、セレクタ101はクロック発生回路103のクロック信号
を選択し、ダイナミック回路6にクロックを供給する。
Therefore, if the frequency of the external clock is higher than 1 / TTH, the output 119 of the clock detection circuit 102 goes high, the selector circuit 101 outputs an external clock signal, and the dynamic circuit 6 supplies the external clock. If the external clock frequency is lower than 1 / TTH due to an external clock abnormality or the like, the output of the clock detection circuit 102 goes low, the clock generation circuit 103 generates a clock signal, and the selector 101 generates the clock signal. The clock signal of the circuit 103 is selected, and a clock is supplied to the dynamic circuit 6.

次に、本発明の第2実施例を説明する。 Next, a second embodiment of the present invention will be described.

第6図は本発明の第2実施例を示しており、第1実施
例の構成に加えダイナミック回路の各出力をそれぞれAN
D回路120の第1の入力に接続し、クロック発生回路102
の出力をAND回路120の第2の入力に接続してある。
FIG. 6 shows a second embodiment of the present invention. In addition to the configuration of the first embodiment, each output of the dynamic circuit is connected to an AN.
The clock generation circuit 102 is connected to a first input of the D circuit
Is connected to the second input of the AND circuit 120.

本実施例では、クロック検出回路102の出力信号を利
用して、外部クロック信号の周波数が低くなったり、停
止するような異常状態の時に、ダイナミック回路6から
出力される誤データを遮断し、強制的に固定値に落し、
後段の回路に悪影響を与えないような構成になってお
り、外部に対して異常状態の情報をアラーム出力端子12
1より出力する。
In the present embodiment, the output signal of the clock detection circuit 102 is used to cut off erroneous data output from the dynamic circuit 6 in an abnormal state where the frequency of the external clock signal decreases or stops, and To a fixed value,
It has a configuration that does not adversely affect the subsequent circuits, and provides information on abnormal conditions to the alarm output terminal 12 to the outside.
Output from 1.

[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、第1クロックが
所定周波数未満なら第2クロック信号をダイナミック回
路に供給するので、低周波数を原因とする大電流が防止
できるという効果を得られる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, if the first clock is less than the predetermined frequency, the second clock signal is supplied to the dynamic circuit, so that a large current due to a low frequency can be prevented. can get.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は第1実施例の回路図、第2図はセレクタ回路の
回路図、第3図はクロック発生回路の回路図、第4図は
クロック検出回路の回路図、第5図は第1実施例の中の
クロック検出回路の動作を説明するためのタイムチャー
ト、第6図は本発明の第2実施例を示す回路図、第7図
は従来例の回路図、第8図は従来例のインバータを示す
回路図、第9図はCMOSインバータの入力電圧と電源グラ
ンド間を流れる電流の関係を表すグラフ、第10図はダイ
ナミックシフトレジスタの動作を説明するためのタイム
チャートである。 1……入力端子群、 2……出力端子群、 3……ダイナミックシフトレジスタ、 4……外部クロック端子、 5……2相化クロックドライバー、 6……ダイナミック回路、 7,9,15,117……NチャンネルMOSトランジスタ、 8,10,11,12,105……インバータ、 13……電源端子、 14,115……Pチャンネルトランジスタ、 16……グランド、 17,106,107,108,110,113……入力端子、 18,109,111,119……出力端子、 101……セレクタ回路、 102……クロック検出回路、 103……クロック発生回路、 104……ナンドゲート、 112……微分回路、 114……電源端子、 116……容量、 118……ゲート回路。
1 is a circuit diagram of a first embodiment, FIG. 2 is a circuit diagram of a selector circuit, FIG. 3 is a circuit diagram of a clock generation circuit, FIG. 4 is a circuit diagram of a clock detection circuit, and FIG. 6 is a time chart for explaining the operation of the clock detection circuit in the embodiment, FIG. 6 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention, FIG. 7 is a circuit diagram of a conventional example, and FIG. FIG. 9 is a graph showing the relationship between the input voltage of the CMOS inverter and the current flowing between the power supply ground, and FIG. 10 is a time chart for explaining the operation of the dynamic shift register. 1 ... input terminal group, 2 ... output terminal group, 3 ... dynamic shift register, 4 ... external clock terminal, 5 ... two-phase clock driver, 6 ... dynamic circuit, 7, 9, 15, 117 ... N-channel MOS transistor, 8,10,11,12,105 ... Inverter, 13 ... Power supply terminal, 14,115 ... P-channel transistor, 16 ... Ground, 17,106,107,108,110,113 ... Input terminal, 18,109,111,119 ... Output terminal, 101 ... Selector Circuit 102: Clock detection circuit 103: Clock generation circuit 104: NAND gate 112: Differentiation circuit 114: Power supply terminal 116: Capacitance 118: Gate circuit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】動作クロック信号に応答して所定の機能を
実現するダイナミック回路に動作クロック信号を供給す
るクロック発生制御回路にして、 第1クロック信号の周波数が所定数以上か未満かを検出
し検出結果を表す検出信号を出力するクロック検出回路
と、 上記所定数以上の第2クロック信号を発生するクロック
発生回路と、 上記検出信号が所定数以上の第1クロック信号を表して
いるときは第1クロック信号を動作クロック信号とし検
出信号が所定数未満の第1クロック信号を表していると
きは第2クロック信号を動作クロック信号とする選択回
路とを有するクロック発生制御回路。
A clock generation control circuit for supplying an operation clock signal to a dynamic circuit for realizing a predetermined function in response to the operation clock signal, wherein the clock generation control circuit detects whether the frequency of the first clock signal is equal to or more than a predetermined number. A clock detection circuit that outputs a detection signal indicating a detection result; a clock generation circuit that generates the predetermined number or more of the second clock signals; and a clock generation circuit when the detection signal indicates the predetermined number or more of the first clock signals. A selection circuit that uses one clock signal as an operation clock signal and uses the second clock signal as the operation clock signal when the detection signal represents less than a predetermined number of first clock signals.
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