JP2861275B2 - Data processing device - Google Patents
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- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 49
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 18
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 description 4
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はデータ処理装置の内部機能検査を容易にする
回路構成と回路に関する。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit configuration and a circuit for facilitating an internal function test of a data processing device.
従来フィールドでデータ処理装置が故障した場合や工
場内で組み立て後の動作検査では機能検査プログラムを
使用するケースが多かった。しかし故障が基本的な機能
に係わっている場合は、機能検査プログラムさえも動作
しないことがある。このような時には装置を一度分解し
てCPUのエミュレータ等を使用して故障解析が行われて
いた。Conventionally, when a data processing device breaks down in a field or in an operation inspection after assembly in a factory, a function inspection program is often used. However, if the failure involves a basic function, even the function test program may not work. In such a case, the device was once disassembled and a failure analysis was performed using a CPU emulator or the like.
しかしこれでは装置を分解しなければならないし、高
価なエミュレータが必要である。特にフィールドでの対
応としては容易なことではない。本発明の目的は、機器
の一部に検査用基板をオプションボードとして挿入し、
外部からCPUを含めた複雑なシステムを点検して作業の
効率アップを計る。However, this requires disassembly of the device and requires an expensive emulator. It is not easy especially in the field. The object of the present invention is to insert an inspection board as an option board into a part of the equipment,
Inspection of complex systems including the CPU from outside to improve work efficiency.
本発明のデータ処理装置は、CPUは前記入出力手段の
コントローラーと、低速メモリーと、割り込みコントロ
ーラー等の内部コントローラー手段と、I/Oバスを介し
て接続され、CPUと前記メインメモリーとはより高速な
メモリーバスと接続されていながら、メインメモリーは
I/Oバスからもメモリーバスを介してアクセスが可能で
あり、前記拡張スロットは前記I/Oバスの全部または1
部を含み、機能検査用信号を前記拡張スロットに有し、
前記拡張スロットに機能検査用のボードを挿入してEMU
信号をアサート(有効に)する事によりCPUを停止させ
バスコントローラに直接働きかけ前記I/Oバスのアクセ
ス権を獲得し、I/Oバスに接続されている前記入出力手
段のコントローラーと低速メモリーと割り込みコントロ
ーラー等の内部コントロール手段と、メモリーバスに接
続されているメインメモリーの機能検査を行うことを特
徴とする。In the data processing device of the present invention, the CPU is connected to the controller of the input / output means, the low-speed memory, the internal controller means such as the interrupt controller, and the like via the I / O bus. Main memory is connected to
The I / O bus can also be accessed via the memory bus, and the expansion slot is provided for all or one of the I / O buses.
Part, having a function test signal in the expansion slot,
Insert a function test board into the expansion slot
By asserting (validating) the signal, the CPU is stopped and the bus controller is directly actuated to acquire the right to access the I / O bus, and the controller of the input / output means connected to the I / O bus and the low-speed memory are used. It is characterized by performing a function test of internal control means such as an interrupt controller and a main memory connected to a memory bus.
本発明の上記の構成によれば、前記拡張スロットに挿
入された機能検査用基板はEMU信号をアサートする事に
より本体のCPUを停止し、バスコントローラに直接働き
かけI/Oバスのアクセス権を獲得する。機能検査用基板
上のCPUまたは基板検査コントローラ回路は、I/Oバスを
介してI/Oバスに接続されているI/Oコントローラーや低
速メモリー等の回路と、I/Oバスとメモリーバスを介し
てデータ処理装置本体の内部回路の検査を行う。According to the above configuration of the present invention, the function test board inserted into the expansion slot stops the CPU of the main body by asserting the EMU signal, and directly acts on the bus controller to obtain the access right of the I / O bus. I do. The CPU or board inspection controller circuit on the function inspection board connects the I / O bus and the memory bus with circuits such as the I / O controller and low-speed memory connected to the I / O bus via the I / O bus. Inspection of the internal circuit of the data processing apparatus main body is performed via the data processing apparatus.
第1図は本発明の実施例における一構成例のブロック
図である。この例のデータ処理装置の構成は最も一般的
なパーソナルコンピュータに沿っている。アドレスバス
とデータバスとこれらに付随するコントロール信号を総
じてバスというが、本構成ではバスは4種類有る。CPU1
のバスであるCPUバス15と高速のメモリーバス19と拡張
メモリーバス18とより低速なI/Oバス17である。この様
にバスが分かれている理由はデータ処理装置の性能に直
接影響するメモリーバス19または拡張メモリーバス18を
高速で動作させる為、あまり高速性の要求されないI/O
バスと分離しているからである。第1図ではI/Oバスに
は表示コントローラー8とフロッピーコントローラー9
と低速メモリー10とその他ののI/O11が接続され、これ
らに合ったより低速でのアクセスが可能である。しかし
近来表示コントローラーに関してはより高速性が要求さ
れてきており、例えば表示コントローラーはより高速な
別のバスに接続する構成も十分考えられる。さて、これ
らの3つのバス18、19、17は各々のバッファー2、3、
6により分離されている。バスコントローラー7は、こ
れらのバス全てをコントロールするが主に最も動作の複
雑なI/Oバスのコントロールを行う。拡張スロット12、1
3は機能拡張のための基板を実装するためのスロットで
あり、I/Oバスが直接接続されている。各拡張スロット
にはEMU信号16の端子が配置されている。内部拡張メモ
リー4及びメインメモリー5は通常I/OバスからのDMAに
対応するためI/Oバスからのリードライトが可能であ
る。不可能な場合には機能検査基板により内部拡張メモ
リー4とメインメモリーの機能検査ができないだけであ
る。機能検査基板14は拡張スロットNO1(12)または拡
張スロットNO2(13)の何れかに装着可能である。FIG. 1 is a block diagram of one configuration example in an embodiment of the present invention. The configuration of the data processing device of this example is in line with the most common personal computer. The address bus, the data bus, and the control signals associated therewith are collectively referred to as a bus. In this configuration, there are four types of buses. CPU1
CPU bus 15, high-speed memory bus 19, extended memory bus 18, and lower-speed I / O bus 17. The reason why the bus is divided in this way is that the memory bus 19 or the extended memory bus 18 that directly affects the performance of the data processing device operates at high speed, so I / O that does not require much high speed
This is because it is separated from the bus. In FIG. 1, the I / O bus has a display controller 8 and a floppy controller 9
A low-speed memory 10 and other I / Os 11 are connected, and access at a lower speed suitable for these is possible. However, in recent years, higher speed has been required for the display controller. For example, a configuration in which the display controller is connected to another higher speed bus can be considered. Now, these three buses 18, 19, and 17 are respectively connected to buffers 2, 3,
6 separated. The bus controller 7 controls all of these buses, but mainly controls the most complicated I / O bus. Expansion slots 12, 1
Reference numeral 3 denotes a slot for mounting a board for function expansion, to which an I / O bus is directly connected. The terminals of the EMU signal 16 are arranged in each expansion slot. The internal expansion memory 4 and the main memory 5 can read / write data from / to the I / O bus because they support DMA from the normal I / O bus. If this is not possible, only the function test of the internal expansion memory 4 and the main memory cannot be performed by the function test board. The function test board 14 can be mounted on either the expansion slot NO1 (12) or the expansion slot NO2 (13).
さて、拡張スロットを通して装置内部の診断を行うに
は検査ボード上のCPUがI/Oバスとメインメモリーのアク
セス権を持たなければならない。しかしバスコントロー
ラーがバス調停機能を有しており複数のCPUによるI/Oバ
スの共用が可能なデータ処理装置であっても、メインの
CPUが正常に動作しバスコントローラによりI/Oバスのア
クセス権が検査ボードのCPUに渡ったときにのみ初めて
検査ボードによりI/Oバス及びメインメモリーの検査が
可能である。つまりメインCPUが何らかの原因で正常に
動作せずバスのアクセス権が他に与えられない時はI/O
バスとメインメモリーの検査が不可能である。これでは
正常にシステムが動作しないときにはCPU回りの不良も
多いのでシステムのハードウエアの検査機能としては不
十分である。そこでEMU信号をアサートする事により強
制的にCPUを停止し、なおかつバスコントローラのCPUが
停止しI/Oバス及びメインメモリーへのアクセスを行わ
ないことを示す信号入力(例えばホールドアクノリッジ
信号)等を強制的にアサートする。これによりメインCP
U以外のバスマスター(DMAコントローラー、リフレッシ
ュコントローラー、外部CPU等)が自由にI/Oバスとメイ
ンメモリーをアクセスすることができる。通常バスのア
クセス権調停はメインCPUの優先度が高いので他のバス
マスターが自由にアクセスできる為にはCPUは必ず停止
して置く必要がある。Now, in order to diagnose the inside of the device through the expansion slot, the CPU on the test board must have access to the I / O bus and main memory. However, even if the bus controller has a bus arbitration function and the data processing device can share the I / O bus with multiple CPUs,
Only when the CPU operates normally and the bus controller gives the I / O bus access right to the CPU of the inspection board, the inspection board can inspect the I / O bus and the main memory for the first time. In other words, when the main CPU does not operate normally for some reason and the bus access right cannot be given to others, I / O
Inspection of bus and main memory is not possible. When the system does not operate normally, there are many failures around the CPU, which is not sufficient as a system hardware inspection function. Therefore, the CPU is forcibly stopped by asserting the EMU signal, and a signal input (for example, a hold acknowledge signal) indicating that the CPU of the bus controller stops and does not access the I / O bus and the main memory is performed. Force assertion. This is the main CP
Bus masters other than U (DMA controller, refresh controller, external CPU, etc.) can freely access the I / O bus and main memory. In the arbitration of the access right of the normal bus, the priority of the main CPU is high, so that the CPU must be stopped in order to allow other bus masters to freely access.
さて機能検査基板14は拡張スロットNO1(12)または
拡張スロットNO2(13)の何れかに装着した場合を考え
よう。これによりEMU信号をアサートし、EMU信号がバス
コントローラー7とCPU1に直接働きかけることによりバ
スのアクセス権を獲得する。Now, let us consider a case where the function test board 14 is installed in either the expansion slot NO1 (12) or the expansion slot NO2 (13). As a result, the EMU signal is asserted, and the EMU signal directly acts on the bus controller 7 and the CPU 1 to acquire the bus access right.
第2図はこのEMU信号がバスコントローラーとCPUに働
きかける様子の例をより詳細に示している。第2図のバ
スコントローラー41はリフレッシュコントローラー42と
CPU40とからのバス要求信号とDMAコントローラーの要求
信号29(DRQ)と外部CPUまたは外部マスターからの要求
信号27(ERQ)等のバス要求信号を調停し優先権などに
よりI/Oバスをアクセスできる要求信号元を決定し、そ
れに対する応答信号であるEAK28,DAK29等を返す。つま
り第2図は外部マスターからのI/Oバスへのアクセスが
可能なデータ処理装置の場合である。この場合に機能検
査基板はERQ信号27,EAK信号を使用することにより,I/O
バスのアクセス権の獲得と確認を行い正常な動作が可能
となる。外部マスターからのI/Oバスのアクセスが不可
能な場合は、外部に予備のバスコントローラーを備えて
機能検査基板がI/Oバスのアクセス権を獲得する事がで
きるようにしなければならない。FIG. 2 shows an example of how the EMU signal acts on the bus controller and the CPU in more detail. The bus controller 41 in FIG.
Bus request signals such as the bus request signal from the CPU 40, the DMA controller request signal 29 (DRQ) and the external CPU or external master request signal 27 (ERQ) can be arbitrated and the I / O bus can be accessed by priority etc. The request signal source is determined and response signals EAK28, DAK29, etc. are returned. In other words, FIG. 2 shows the case of a data processing device capable of accessing an I / O bus from an external master. In this case, the function test board uses the ERQ signal 27 and EAK signal to
The bus access right is acquired and confirmed, and normal operation is enabled. If it is not possible to access the I / O bus from an external master, a spare bus controller must be provided externally so that the function test board can acquire the I / O bus access right.
EMU信号31は2つのOR44、45に接続されEMU信号31をア
サートすることによりCPUのHOLD24(ホールド信号)とR
S25(リセット信号)を強制的にアサートしてCPU40を停
止させる。同時に、EMU信号31とCPUのHLDA(ホールド応
答)信号22をOR43によりORし、バスコントローラーのHL
DA入力信号23を強制的にアサートすることにより、バス
コントローラーにCPUが停止したことを知らせる。これ
はCPUを強制的に停止させバスコントローラーへCPUから
のアクセスを禁止し他の他のマスターが自由にI/Oバス
を使用できるようにするための1手段である。The EMU signal 31 is connected to the two ORs 44 and 45, and by asserting the EMU signal 31, the CPU's HOLD24 (hold signal) and R
Forcibly assert S25 (reset signal) to stop CPU40. At the same time, the EMU signal 31 and the HLDA (hold response) signal 22 of the CPU are ORed by OR43, and the HL of the bus controller is
By forcibly asserting the DA input signal 23, the bus controller is notified that the CPU has stopped. This is one means for forcibly stopping the CPU, prohibiting the CPU from accessing the bus controller, and allowing other masters to freely use the I / O bus.
第3図はEMU信号31によりCPUとバスコントローラーの
HLDA入力信号23を強制的にアサートされる様子と、ERQ2
7により機能検査基板がアクセス権を獲得した後に、DRQ
信号29とRFRQ信号21が発生してI/Oバスのアクセス権が
変わる様子を示したタイミングチャートである。DAK30
はDMAコントローラーへのI/Oバスのアクセス権獲得応答
信号である。これを見てもわかるように機能検査基板が
I/Oバスのアクセス権を獲得した後でも、DMAやリフレッ
シュ等の機能はそのまま動作が可能である。つまり正常
な時と同様にCPU以外の回路を動作させて機能検査する
事ができるのである。さらにメインメモリーと拡張メモ
リーがI/Oスロットからアクセス可能な場合はメインメ
モリーと拡張メモリーの検査もできる。従ってこのシス
テムのCPUを除くほぼ全ての機能検査が可能である。FIG. 3 shows the connection between the CPU and the bus controller by the EMU signal 31.
HLDA input signal 23 is forcibly asserted and ERQ2
After the function test board gains access right by 7, the DRQ
6 is a timing chart showing how an access right of an I / O bus changes when a signal 29 and an RFRQ signal 21 are generated. DAK30
Is an I / O bus access right acquisition response signal to the DMA controller. As you can see from this, the function test board is
Even after acquiring the I / O bus access right, functions such as DMA and refresh can be operated as they are. In other words, the function test can be performed by operating circuits other than the CPU as in the normal case. If the main memory and the extended memory are accessible from the I / O slot, the main memory and the extended memory can be checked. Therefore, almost all functional tests except the CPU of this system are possible.
次に機能検査基板の実施例第4図と第5図に付いて述
べる。第4図の例では機能検査基板のCPU50は本体のメ
インCPUと同様のものを使用する。機能検査基板上には
システムの最も基本的な部分の機能検査プログラム(例
えばメモリーチェック)を本体のプログラムが走る領域
を避けた位置に配置したROM57に置く。さらにこの基本
機能検査プログラムの結果を知らせる簡単な出力手段
(例えばブザーなど)も基板上に配備する。他のより複
雑な機能の検査は本体システムのメインプログラムを走
らせることにより行うことができるし、検査プログラム
を外部記憶素子からメインメモリーにロードして走らせ
ることもできる。ここで、コネクタ51は拡張スロットに
挿入される機能検査基板側のコネクタで、54はバスのバ
ッファで、55はバスコントローラーで、56はCPU50のバ
スのバッファで、58はリードライトメモリー(RAM)で
ある。Next, an embodiment of a function inspection board will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG. In the example of FIG. 4, the CPU 50 of the function test board is the same as the main CPU of the main body. On the function test board, a function test program (for example, a memory check) of the most basic part of the system is placed in the ROM 57 arranged at a position avoiding an area where the program of the main body runs. Further, simple output means (for example, a buzzer) for notifying the result of the basic function inspection program is provided on the substrate. Inspection of other more complicated functions can be performed by running the main program of the main system, or the inspection program can be loaded from an external storage device to the main memory and run. Here, the connector 51 is a connector on the function test board inserted in the expansion slot, 54 is a bus buffer, 55 is a bus controller, 56 is a bus buffer of the CPU 50, and 58 is a read / write memory (RAM). It is.
第5図の例では機能検査基板のCPU60は本体のメインC
PUと異種のものでもかまわない。機能検査基板には本体
システムを検査するための検査プログラムを内臓したRO
M67と、検査プログラムの操作と検査結果の表示を行う
ために表示コントローラー71とキーボードコントローラ
ー72などのコントローラーがある。さらにフロッピーデ
ィスクからプログラムをロードしてシステムの検査をお
こなうために、フロッピーディスクコントローラー70と
プログラムをロードするためのRAM68等が搭載されてい
る。この方法によれば、装置は大がかりになり携帯性に
は優れないが、検査プログラムの操作や検査結果の表示
に本体のコントローラーを使用しないのでそれらが正常
に動作しない場合も容易に検査が可能である。In the example of FIG. 5, the CPU 60 of the function test board is the main C of the main body.
It may be different from PU. RO with built-in inspection program for inspecting main body system on function inspection board
An M67 and a controller such as a display controller 71 and a keyboard controller 72 for operating the inspection program and displaying the inspection result are provided. Further, a floppy disk controller 70 and a RAM 68 for loading the program are mounted in order to load a program from a floppy disk and perform a system check. According to this method, the device becomes large and is not very portable, but since the controller of the main body is not used for operating the inspection program and displaying the inspection result, the inspection can be easily performed even when they do not operate normally. is there.
ここで、61は拡張スロットに挿入される機能検査基板
側のコネクタで、64はバスのバッファで、65はバスコン
トローラーで、66はCPU60のバスのバッファで、73はCPU
60のバスと機能検査基板のI/Oバスを分離するためのバ
ッファである。Here, 61 is a connector on the function test board inserted into the expansion slot, 64 is a bus buffer, 65 is a bus controller, 66 is a bus buffer of the CPU 60, and 73 is a CPU buffer.
This buffer is used to separate the 60 buses from the I / O bus of the function test board.
以上述べたように本発明によれば、データ処理装置
を、低速なメモリー及び各種入出力ユニットのコントロ
ーラ等がI/Oバスに接続されI/Oバスから直接アクセスで
き、メインメモリーもI/Oバスからメモリーバスを介し
てアクセス可能な構成にし、I/Oバスの全部または一部
を含む拡張スロットに、故障検出用信号EMUを有する事
により、前記拡張スロットに挿入された機能検査用のボ
ード上のEMU信号をアサートする事によりCPUを停止させ
I/Oバスのアクセス権を獲得し、I/Oバスに接続されてい
るI/Oコントローラー等の回路ユニットとメインメモリ
ーの機能チェックを行うことが可能となる。As described above, according to the present invention, the data processing device can be directly accessed from the I / O bus by connecting a low-speed memory and controllers of various input / output units to the I / O bus. By having a configuration that can be accessed from the memory bus through the I / O bus, and having a failure detection signal EMU in the expansion slot including all or a part of the I / O bus, a function test board inserted in the expansion slot CPU is stopped by asserting the EMU signal of
By gaining access to the I / O bus, it is possible to check the functions of the main memory and circuit units such as an I / O controller connected to the I / O bus.
この様にすれば故障が基本的な機能に係わって機能検
査プログラムさえも動作しない場合でも、装置を一度分
解してCPUのエミュレータ等を使用せず、機能検査用基
板を拡張スロットに挿入し機能検査用プログラム等を走
らせることにより容易にデータ処理装置の故障箇所の発
見が可能となる。この様にすればフィールドでの対応は
より迅速に行うことができ、工場内の不良解析に対して
はより安価な機能検査システムを構成することができ
る。さらに言えば、拡張スロットを標準化し異なる機種
で同一の拡張スロットを共有することにより、異なるCP
Uを有する異機種にたいして同一の機能検査基板が使用
されることが可能となる。つまり新機種が開発される度
に機能検査用のツールを開発する必要がなくなりコスト
と工数の節約になるのである。In this way, even if the failure is related to the basic function and even the function test program does not work, disassemble the device once and insert the function test board into the expansion slot without using the CPU emulator etc. By running an inspection program or the like, it is possible to easily find a failure point of the data processing device. In this way, the response in the field can be performed more quickly, and a less expensive function inspection system can be configured for failure analysis in a factory. Furthermore, by standardizing expansion slots and sharing the same expansion slot between different models, different CPs can be used.
The same function test board can be used for different models having U. In other words, it is not necessary to develop a tool for functional inspection every time a new model is developed, which saves costs and man-hours.
第1図は本発明の機能検査の容易なデータ処理装置の実
施例のブロック図である。 第2図は本発明による第1図のEMU信号がCPUとバスコン
トローラーに働きかける部分の詳細なブロック図であ
る。 第3図は本発明による第2図の各信号の実施例のタイム
チャート図である。 第4図は本発明による機能検査基板のブロック図であ
る。 第5図は本発明による機能検査基板のブロック図であ
る。 1……中央処理装置(CPU) 2……バスバッファ 3……バスバッファ 4……内部拡張メモリー 5……メインメモリー 6……バスバッファ 7……バスコントローラー 8……表示コントローラー 9……フロッピーコントローラー 10……低速メモリー 11……その他のI/Oコントローラー 12……拡張スロットNO1 13……拡張スロットNO2 14……機能検査基板 15……CPUバス 16……機能検査用信号(EMU信号) 17……拡張メモリーバス 19……メモリーバスFIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a data processing apparatus according to the present invention, which can easily perform a function test. FIG. 2 is a detailed block diagram of a portion where the EMU signal of FIG. 1 acts on a CPU and a bus controller according to the present invention. FIG. 3 is a time chart of an embodiment of each signal shown in FIG. 2 according to the present invention. FIG. 4 is a block diagram of a function test board according to the present invention. FIG. 5 is a block diagram of a function test board according to the present invention. 1 Central processing unit (CPU) 2 Bus buffer 3 Bus buffer 4 Internal expansion memory 5 Main memory 6 Bus buffer 7 Bus controller 8 Display controller 9 Floppy controller 10 Low-speed memory 11 Other I / O controller 12 Expansion slot NO1 13 Expansion slot NO2 14 Function test board 15 CPU bus 16 Function test signal (EMU signal) 17 … Extended memory bus 19 …… Memory bus
Claims (1)
と、メインメモリーと、入出力手段と、前記入出力手段
のコントローラーと、機能拡張の為の拡張基板を実装す
るための拡張スロットからなるデータ処理装置であっ
て、前記CPUは前記入出力手段のコントローラーと、低
速メモリーと、割り込みコントローラー等の内部コント
ローラー手段と、I/Oバスを介して接続され、前記CPUと
前記メインメモリーとはより高速なメモリーバスと接続
されていながら、前記メインメモリーはI/Oバスからも
前記メモリーバスを介してアクセスが可能であり、前記
拡張スロットは前記I/Oバスの少なくとも1部を含み、
機能検査用信号(以下これをEMU信号という)を前記拡
張スロットに有し、前記拡張スロットに機能検査用のボ
ードを挿入して前記EMU信号をアサート(有効に)する
ことにより前記CPUを停止させバスコントローラに直接
働きかけ前記I/Oバスのアクセス権を獲得し、前記I/Oバ
スに接続されている前記入出力手段のコントローラーと
前記低速メモリーと割り込みコントローラー等の内部コ
ントロール手段と、前記メモリーバスに接続されている
前記メインメモリーの機能検査を行うことを特徴とする
データ処理装置。1. A central processing unit (hereinafter referred to as a CPU)
And a main memory, input / output means, a controller for the input / output means, and an expansion slot for mounting an expansion board for function expansion. A controller, a low-speed memory, an internal controller means such as an interrupt controller, connected via an I / O bus, wherein the CPU and the main memory are connected to a faster memory bus, while the main memory is connected to an I / O bus. / O bus is also accessible via the memory bus, the expansion slot includes at least a part of the I / O bus,
The CPU is stopped by having a function test signal (hereinafter referred to as an EMU signal) in the expansion slot, inserting a function test board into the expansion slot and asserting (enabling) the EMU signal. A bus controller that directly accesses the I / O bus to obtain an access right to the I / O bus, and a controller for the input / output unit connected to the I / O bus, internal control means such as the low-speed memory and an interrupt controller, and the memory bus A data processing apparatus for performing a function test of the main memory connected to the data processing apparatus.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2146769A JP2861275B2 (en) | 1990-06-05 | 1990-06-05 | Data processing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2146769A JP2861275B2 (en) | 1990-06-05 | 1990-06-05 | Data processing device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0439743A JPH0439743A (en) | 1992-02-10 |
| JP2861275B2 true JP2861275B2 (en) | 1999-02-24 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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| JP2702042B2 (en) * | 1992-08-26 | 1998-01-21 | 本田技研工業株式会社 | Simulation system for parts inspection program |
-
1990
- 1990-06-05 JP JP2146769A patent/JP2861275B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0439743A (en) | 1992-02-10 |
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