JP2876606B2 - Information processing device - Google Patents
Information processing deviceInfo
- Publication number
- JP2876606B2 JP2876606B2 JP63323090A JP32309088A JP2876606B2 JP 2876606 B2 JP2876606 B2 JP 2876606B2 JP 63323090 A JP63323090 A JP 63323090A JP 32309088 A JP32309088 A JP 32309088A JP 2876606 B2 JP2876606 B2 JP 2876606B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- collation
- matching
- circuit
- diagnostic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000010365 information processing Effects 0.000 title claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 13
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は情報処理装置に関し、特に通常照合と照合回
路の故障の有無を検査する診断照合とを行うデータ照合
処理装置の診断方式に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an information processing apparatus, and more particularly, to a diagnosis method of a data collation processing apparatus that performs normal collation and diagnostic collation for examining whether a collation circuit has a failure.
従来技術 従来のこの様な照合処理装置における照合回路の診断
方法としては次のようなものがある。照合回路にハード
ウェアチェック回路を設ける方法、照合回路を二重化す
る方法、ソフトウェアにより定期的に診断ルーチンを実
行させるいわゆるパトロール方法等がある。2. Description of the Related Art As a conventional method of diagnosing a matching circuit in such a matching processing device, there is the following method. There are a method of providing a hardware check circuit in the verification circuit, a method of duplicating the verification circuit, and a so-called patrol method in which a diagnosis routine is periodically executed by software.
ハードウェアチェック回路を設ける方法や照合回路を
二重化する方法はハードウェア量が増大することにな
り、特に後者の方法では、照合回路が複数個有るアレイ
構造の場合には特に不適となるという欠点がある。パト
ロール方法はハードウェアの増加はないが、照合回路が
時々故障して復旧するような間欠故障の発見は困難とな
るという欠点を有する。The method of providing a hardware check circuit and the method of duplicating the matching circuit increase the amount of hardware, and the latter method has a drawback that it is particularly unsuitable for an array structure having a plurality of matching circuits. is there. The patrol method does not increase the hardware, but has a disadvantage that it is difficult to find an intermittent failure in which the verification circuit sometimes fails and recovers.
発明の目的 そこで、本発明はこの様な従来のものの欠点を解決す
べくなされたものであって、その目的とするところは、
照合回路の診断に当り、ハードウェア量の増大を抑える
と共に間欠故障をも早めに検出可能な情報処理装置を提
供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, the present invention has been made to solve such disadvantages of the related art, and the purpose thereof is to
It is an object of the present invention to provide an information processing apparatus capable of suppressing an increase in the amount of hardware and detecting an intermittent failure earlier in diagnosing a matching circuit.
発明の構成 本発明によれば、夫々が第1及び第2の入力を有し、
これ等両入力に与えられたデータが等しいか否かを照合
する複数の照合回路を含み、前記照合回路の夫々の第1
の入力に共通の検索データを与えておき、前記第2の入
力に多数の照合データを順次与えることにより前記検索
データとの類似度の高い照合データを探し出すようにし
たデータ照合方式を採用した情報処理装置であって、前
記照合回路のうち前記照合データが与えられていない空
き状態の照合回路の前記第2の入力に、既に他の照合回
路に最後に与えられた照合データを診断データとして与
える診断データ印加手段と、前記診断データ印加手段に
より診断データが印加されて診断対象となった照合回路
の照合結果に応じてこれ等照合回路の診断をなす診断手
段とを含むことを特徴とする情報処理装置が得られる。According to the invention, each has a first and a second input,
A plurality of matching circuits for checking whether or not data given to both inputs are equal;
Information using a data collation method in which common search data is given to the input of the search data, and a large number of collation data are sequentially given to the second input to search for collation data having a high degree of similarity with the search data. A processing device, wherein the second input of an empty matching circuit to which the matching data is not given among the matching circuits is provided with the matching data that has been last given to another matching circuit as diagnostic data. Information comprising: diagnostic data applying means; and diagnostic means for diagnosing the matching circuits according to the matching result of the matching circuits to which the diagnostic data has been applied by the diagnostic data applying means and which has been diagnosed. A processing device is obtained.
実施例 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。Embodiment Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例の構成図である。メモリ1
には検索データおよび照合データが記憶されている。こ
のメモリ1からの読出データ5は共通制御部2に入力さ
れている。この共通制御部2は同一機能を有するn個の
照合回路3a〜3nがアレイ構成された照合回路3を共通制
御するもので、制御信号線8を介して各照合回路3a〜3n
に対して照合回路を指示するフリップフロップ(FF)
と、データ転送を指示する循環レジスタと、残り照合デ
ータ数を示すカウンタと、空き状態の全照合回路に診断
照合を指示する信号発生回路とから構成されている。そ
して各照合回路3a〜3nと共通制御部2とは共通バス7に
よってそれぞれ接続されている。FIG. 1 is a configuration diagram of one embodiment of the present invention. Memory 1
Stores search data and collation data. The read data 5 from the memory 1 is input to the common control unit 2. The common control unit 2 controls the collation circuit 3 in which n collation circuits 3a to 3n having the same function are arranged in an array, and controls the collation circuits 3a to 3n via a control signal line 8.
Flip-flop (FF) for instructing the matching circuit to
And a circulating register for instructing data transfer, a counter for indicating the number of remaining collation data, and a signal generating circuit for instructing all empty collation circuits to perform diagnostic collation. Each of the matching circuits 3a to 3n and the common control unit 2 are connected by a common bus 7.
一方、各照合回路3a〜3nは検索データを格納するレジ
スタ、照合データを格納するレジスタ、これらのレジス
タの内容が有効かつ照合動作可能であることを示すFFか
らなるブロック3a1〜3n1と、通常照合または診断照合を
指示するFFからなるブロック3a2〜3n2と、照合部および
照合結果を処理するブロック3a3〜3n3とから構成されて
いる。On the other hand, each of the matching circuits 3a to 3n includes a register for storing search data, a register for storing matching data, and blocks 3a1 to 3n1 each including FF indicating that the contents of these registers are valid and a matching operation is possible. Alternatively, it is composed of blocks 3a2 to 3n2 composed of FFs for instructing diagnostic collation, and blocks 3a3 to 3n3 for processing collation units and collation results.
また、各照合回路3a〜3nの照合結果は信号線10を介し
て診断照合結果を判別する判別回路4に接続され、この
判別回路4からは判別信号11が出力されている。Further, the collation results of the collation circuits 3a to 3n are connected via a signal line 10 to a discrimination circuit 4 for discriminating the diagnosis collation result, and the discrimination circuit 4 outputs a discrimination signal 11.
このような構成で、予め共通バス7を介して各照合回
路3a〜3nに共通の検索データ(以下「Sデータ」とい
う)が与えられている。次にメモリ1内の1ブロックづ
つの照合データ(以下Fデータ」という)が順次各照合
回路3a〜3nに転送され、各照合回路3a〜3nのすべてにF
データが転送されると通常照合が行われる。In such a configuration, common search data (hereinafter, referred to as “S data”) is given to each of the matching circuits 3a to 3n via the common bus 7 in advance. Next, the collation data (hereinafter, referred to as F data) for each block in the memory 1 is sequentially transferred to each of the collation circuits 3a to 3n, and all of the collation circuits 3a to 3n perform F
When data is transferred, a normal match is performed.
このFデータ転送時に、Fデータの数が零となり照合
回路3a〜3nのいずれかが空状態となると、メモリ1内の
転送済のFデータが空き状態の照合回路に転送される。
このFデータが転送された照合回路でも通常の照合動作
が行われる。この動作を診断照合と定義する。各照合回
路3a〜3nで通常照合または診断照合のいずれが行われて
いるかを示す情報およびその照合結果の情報が、信号線
10により判別回路4に出力される。この判別回路4で
は、2以上の診断照合結果が同一であるか否かを判別
し、判別信号11を出力する。照合の結果はバス9を介し
て後段装置で利用される。At the time of this F data transfer, if the number of F data becomes zero and any of the matching circuits 3a to 3n becomes empty, the transferred F data in the memory 1 is transferred to the empty matching circuit.
The normal matching operation is also performed in the matching circuit to which the F data has been transferred. This operation is defined as diagnostic collation. Information indicating whether normal collation or diagnostic collation is performed in each of the collation circuits 3a to 3n and information of the collation result are signal lines.
It is output to the discrimination circuit 4 by 10. The discrimination circuit 4 discriminates whether two or more diagnostic collation results are the same, and outputs a discrimination signal 11. The result of the collation is used by the subsequent device via the bus 9.
このことをさらに詳しく説明する。説明を容易にする
ためにアレイ構成された照合回路が4個である場合を例
にとり説明する。第2図は第1図に示した共通制御部2
の転送指示部の構成例を示す図である。カウンタ18は1
個のSデータとの照合対象となるFデータの総数を最初
にセットし、各照合回路3a〜3dに1個のFデータを転送
する毎に1づつ引かれるカウンタであり、常に残りFデ
ータ数を表示する。このカウンタ18の内容19は信号線20
により比較回路21に接続され論理「1」と比較される。
この比較回路21により「1」と比較され、Fデータの残
り数が「1」となると信号線22は論理「1」を出力す
る。This will be described in more detail. In order to facilitate the description, a case where the number of matching circuits arranged in an array is four will be described as an example. FIG. 2 shows the common control unit 2 shown in FIG.
FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration example of a transfer instruction unit of FIG. Counter 18 is 1
Is a counter which is initially set to the total number of F data to be collated with the S data and is decremented by one each time one F data is transferred to each of the collating circuits 3a to 3d. Is displayed. The content 19 of this counter 18 is a signal line 20
Is connected to the comparison circuit 21 and is compared with the logic "1".
The comparison circuit 21 compares the data with “1”, and when the remaining number of F data becomes “1”, the signal line 22 outputs logic “1”.
25はレジスタであり、照合回路3a〜3dの数と等しい4
個のFF26〜29で構成され、その内容がFF26,27,28,29を
循環するよう構成されている。このレジスタ25は各照合
回路3a〜3dへのデータ転送を指示するレジスタであり、
最初のFデータ転送時には、FF26に「1」がセットさ
れ、照合回路3aへのFデータ転送を指示し、以後Fデー
タ転送毎に「1」がFFを循環し、信号線30,31,32,33を
介して転送先を指示する。25 is a register, 4 equal to the number of matching circuits 3a to 3d.
FFs 26 to 29, and the contents thereof are configured to circulate through the FFs 26, 27, 28, and 29. This register 25 is a register for instructing data transfer to each of the matching circuits 3a to 3d,
At the time of the first F data transfer, "1" is set to FF26 to instruct F data transfer to the matching circuit 3a. Thereafter, "1" circulates through the FF every F data transfer, and the signal lines 30, 31, 32 , 33 to indicate the transfer destination.
データが対応する照合回路で受取られると、ビジー信
号35,36,37,38がそれぞれ「1」となる。すべての照合
回路3a〜3dがビジー状態となり、ビジー信号35,36,37,3
8がすべて「1」となると、ゲート40により信号線41が
「1」、信号線42が「0」となり、FF43に「1」がセッ
トされ、照合開始信号線44が「1」となり、照合動作が
始まる。この照合結果はバス9に出力される。When the data is received by the corresponding matching circuit, the busy signals 35, 36, 37 and 38 each become "1". All the matching circuits 3a to 3d are in the busy state, and the busy signals 35, 36, 37, 3
When all 8 become "1", the signal line 41 becomes "1" and the signal line 42 becomes "0" by the gate 40, "1" is set in the FF 43, the collation start signal line 44 becomes "1", and the collation starts. Operation starts. This collation result is output to the bus 9.
この動作が繰返され、Fデータの残り数が「1」とな
り、上記信号線22に「1」が出力されているとき、少な
くとも1つ以上の照合回路に空き状態が生じると、信号
線42が「1」となり、ゲート45より出力される信号線46
が「1」となる。この信号線46は各照合回路3a〜3dへの
診断用データ転送を指示し、この信号により空き状態の
照合回路に対して最後のFデータが共通に転送される。This operation is repeated, and the remaining number of F data becomes "1". When "1" is output to the signal line 22, if at least one of the matching circuits becomes empty, the signal line 42 is turned off. "1", the signal line 46 output from the gate 45
Becomes “1”. This signal line 46 instructs the transfer of diagnostic data to each of the matching circuits 3a to 3d, and this signal causes the last F data to be commonly transferred to an empty matching circuit.
ここで、Fデータの数が「0」となり、比較回路23か
らの信号線24が「1」となると、レジスタ25はホールド
されて内容は保持される。これにより次にFデータ転送
が再開されるときには診断照合を行った照合回路からと
いうことになり、信頼度の向上および各照合回路に対す
る診断動作の平均化が計られている。Here, when the number of F data becomes "0" and the signal line 24 from the comparison circuit 23 becomes "1", the register 25 is held and the contents are held. As a result, when the F data transfer is restarted next time, the collation circuit that has performed the diagnostic collation is used, so that the reliability is improved and the diagnostic operation for each collation circuit is averaged.
第3図は第1図に示したメモリ1からのFデータ読出
部および照合回路および共通制御部2内の照合終了認識
部の構成例を示す図である。信号線46が「0」のとき
は、Fデータ読出アドレスレジスタ59により指示された
メモリ1の内容がバス5を介して共通制御部に転送さ
れ、バス7を介して照合回路に転送される。信号線46が
「1」のときは、レジスタ59はホールドされ、内容は保
持される。レジスタ65および66は共通バス7に接続され
SデータおよびFデータを格納するレジスタである。FF
67はビジー状態表示用のFFであり、FF68は診断状態表示
用のFFである。FIG. 3 is a diagram showing a configuration example of an F data reading unit from the memory 1 shown in FIG. 1, a matching circuit, and a matching end recognition unit in the common control unit 2. When the signal line 46 is “0”, the contents of the memory 1 specified by the F data read address register 59 are transferred to the common control unit via the bus 5 and transferred to the matching circuit via the bus 7. When the signal line 46 is "1", the register 59 is held and the contents are held. The registers 65 and 66 are connected to the common bus 7 and store S data and F data. FF
67 is an FF for displaying a busy state, and FF68 is an FF for displaying a diagnostic state.
通常照合のときは信号線30が「1」になり、FF67
「0」のときレジスタ66にFデータがセットされ、FF67
は「1]となり、信号線35は「1」となる。At the time of normal collation, the signal line 30 becomes “1” and the FF67
When it is "0", F data is set in the register 66 and FF67
Becomes "1", and the signal line 35 becomes "1".
前述の通り全ての照合回路3a〜3dがビジー状態となる
と、照合開始信号線44が「1」となり、通常照合が行わ
れる。診断照合のときは信号線46が「1」になり,FF67
が「0」のとき、レジスタ66に最後のFデータがセット
され、FF67および68は「1」となり、照合回路の照合が
診断照合であることおが表示される。照合動作が終了す
ると照合終了信号線53が「1」となり、全ての照合回路
の照合動作が終了すると信号線54,55,56も「1」とな
り、信号線73は「1」となる。これにより、FF67および
68はリセットされ「0」となる。FF68の出力信号Daおよ
び照合部3a3の出力信号Caは判別回路4に送出される。As described above, when all the matching circuits 3a to 3d are in a busy state, the matching start signal line 44 becomes "1", and normal matching is performed. At the time of diagnosis collation, the signal line 46 becomes “1” and FF67
Is "0", the last F data is set in the register 66, and the FFs 67 and 68 become "1", indicating that the collation of the collation circuit is diagnostic collation. When the collation operation is completed, the collation end signal line 53 becomes "1", and when the collation operations of all the collation circuits are completed, the signal lines 54, 55 and 56 also become "1", and the signal line 73 becomes "1". Thereby, FF67 and
68 is reset to "0". The output signal Da of the FF68 and the output signal Ca of the matching unit 3a3 are sent to the discrimination circuit 4.
第4図は第1図に示した判別回路4の構成例を示す図
である。図中、74a〜74dは空き状態の照合回路が1個の
場合に、空き状態の照合回路および最後のFデータの転
送指示を受けた照合回路で行われた各診断照合結果Cnが
同一であるか否かを判別する判別回路である。FIG. 4 is a diagram showing a configuration example of the discrimination circuit 4 shown in FIG. In the drawing, reference numerals 74a to 74d denote the same diagnostic collation results Cn performed by the empty collation circuit and the collation circuit that received the last F data transfer instruction when one empty collation circuit is provided. It is a discrimination circuit for discriminating whether or not this is the case.
75a〜75dは空き状態の照合回路が2個の場合にこの空
き状態の照合回路および最後のFデータの転送指示を受
けた照合回路で行われた各診断結果Cnが同一であるか否
かを判別する判別回路である。この各判別回路74a〜74d
および75a〜75dの出力信号Tnは同一結果であれば
「1」、不一致であれば「0」となる。75a to 75d indicate whether each diagnosis result Cn performed by the empty matching circuit and the matching circuit which has received the last F data transfer instruction is the same when there are two empty matching circuits. This is a determination circuit for determining. These discriminating circuits 74a to 74d
And the output signals Tn of 75a to 75d are "1" if they are the same result, and "0" if they are not the same.
各判別回路からの出力信号Tnは選択回路76においてD
a,Db,Dc,Ddの値により演算され判別信号11を出力する。
ここでDa,Db,Dc,Ddは、各照合回路3a〜3dで診断照合が
行われたとき「1」が出力されるFF68の出力信号であ
る。The output signal Tn from each discriminating circuit is
The calculation is performed based on the values of a, Db, Dc, and Dd, and a determination signal 11 is output.
Here, Da, Db, Dc, and Dd are output signals of the FF68 to which “1” is output when the diagnostic matching is performed in each of the matching circuits 3a to 3d.
選択回路76の動作を第5図に示した真理値表を用いて
説明する。表中、 Da,Db,Dc,Dd=0000 Da,Db,Dc,Dd=0001 Da,Db,Dc,Dd=0010 Da,Db,Dc,Dd=0100 Da,Db,Dc,Dd=1000 のときは、診断照合は1個の照合回路のみで行われた場
合であるので常に判別信号を「1」としている。The operation of the selection circuit 76 will be described with reference to the truth table shown in FIG. In the table, when Da, Db, Dc, Dd = 0000 Da, Db, Dc, Dd = 0001 Da, Db, Dc, Dd = 0010 Da, Db, Dc, Dd = 0100 Da, Db, Dc, Dd = 1000 Is a case in which the diagnosis collation is performed by only one collation circuit, so that the discrimination signal is always set to "1".
Da,Db,Dc,Dd=0101 Da,Db,Dc,Dd=1010 のときは、照合回路が1個おきに診断照合を行ったこと
を示しており、起り得ない状態なので常に判別信号を
「0」としている。When Da, Db, Dc, Dd = 0101 Da, Db, Dc, Dd = 1010, it indicates that the verification circuit has performed the diagnostic verification every other unit. 0 ".
判別信号11が「1」であれば正常状態、「0」であれ
ば不正状態であることがチェックされる。If the discrimination signal 11 is "1", it is checked that it is normal, and if it is "0", it is checked that it is improper.
Da,Db,Dc,Dd=1111 のときは全ての照合回路で診断照合が行なわれた場合
で、このときも各照合結果は一致しなければならない。When Da, Db, Dc, Dd = 1111, diagnostic collation is performed by all the collation circuits, and the collation results must also match at this time.
発明の効果 本発明によれば、照合回路の空き状態時に診断を行う
ものであるから、各照合回路内に診断用のチェック回路
を付加せず、かつ照合回路の二重化も行う必要はなく、
診断用のデータを記憶するメモリを用意する必要もない
という効果がある。また、可変の照合データ量と不変の
照合回路数との関係で照合動作時空き状態となる複数の
照合回路に、すでに他の照合回路に与えられた最後の照
合データを診断データとして同時に与えて通常照合と同
時に診断照合を行わせ、照合結果が診断照合を行ったす
べての照合回路で同一であるか否かチェックすることに
したので、通常の照合動作と診断動作を同時に実行させ
ることができるという効果がある。Effect of the Invention According to the present invention, since the diagnosis is performed when the matching circuit is empty, it is not necessary to add a check circuit for diagnosis in each matching circuit, and it is not necessary to duplicate the matching circuit.
There is an effect that there is no need to prepare a memory for storing diagnostic data. In addition, the last collation data already given to the other collation circuits is simultaneously given as diagnostic data to a plurality of collation circuits which are idle during the collation operation due to the relationship between the variable amount of collation data and the number of invariant collation circuits. The diagnostic collation is performed simultaneously with the normal collation, and it is determined whether or not the collation result is the same in all the collation circuits that have performed the diagnostic collation. Therefore, the normal collation operation and the diagnostic operation can be performed simultaneously. This has the effect.
更には、特に、空き状態となる照合回路が1個の場合
にも診断照合を行なうことができ、また、照合データの
照合回路への転送を連続的に循環させて行うので、診断
動作の平均化を計ることができる等の効果を有する。Furthermore, particularly, the diagnostic collation can be performed even when there is one collation circuit that is in an empty state, and the transfer of collation data to the collation circuit is continuously circulated. It has the effect that the conversion can be measured.
第1図は本発明のの実施例を示すブロック図、第2図は
共通制御部の例を示すブロック図、第3図はメモリの読
出回路、照合回路及び共通制御部の一部の各例を示すブ
ロック図、第4図は判別回路の例を示す図、第5図は判
別回路における選択回路76の動作を示す真理値表であ
る。 主要部分の符号の説明 1……メモリ 2……共通制御部 3……照合回路 4……判別回路FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing an example of a common control unit, and FIG. 3 is an example of a memory readout circuit, a verification circuit and a part of a common control unit. FIG. 4 is a diagram showing an example of a discriminating circuit, and FIG. 5 is a truth table showing the operation of the selecting circuit 76 in the discriminating circuit. Description of Signs of Main Parts 1... Memory 2... Common Control Unit 3... Matching Circuit 4.
Claims (1)
両入力に与えられたデータが等しいか否かを照合する複
数の照合回路を含み、前記照合回路の夫々の第1の入力
に共通の検索データを与えておき、前記第2の入力に多
数の照合データを順次与えることにより前記検索データ
との類似度の高い照合データを探し出すようにしたデー
タ照合方式を採用した情報処理装置であって、前記照合
回路のうち前記照合データが与えられていない空き状態
の照合回路の前記第2の入力に、既に他の照合回路に最
後に与えられた照合データを診断データとして与える診
断データ印加手段と、前記診断データ印加手段により診
断データが印加されて診断対象となった照合回路の照合
結果に応じてこれ等照合回路の診断をなす診断手段とを
含むことを特徴とする情報処理装置。1. Each of the first and second inputs includes a plurality of matching circuits for checking whether data supplied to the two inputs are equal or not, wherein each of the first and second inputs includes a first input and a second input. Information using a data collation method in which common search data is given to the input of the search data, and a large number of collation data are sequentially given to the second input to search for collation data having a high degree of similarity with the search data. A processing device, wherein the second input of an empty matching circuit to which the matching data is not given among the matching circuits is provided with the matching data that has been last given to another matching circuit as diagnostic data. Diagnostic data applying means, and diagnosing means for diagnosing the matching circuits in accordance with the result of the matching of the matching circuits to which the diagnostic data is applied by the diagnostic data applying means. That the information processing apparatus.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63323090A JP2876606B2 (en) | 1988-12-21 | 1988-12-21 | Information processing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63323090A JP2876606B2 (en) | 1988-12-21 | 1988-12-21 | Information processing device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02166527A JPH02166527A (en) | 1990-06-27 |
| JP2876606B2 true JP2876606B2 (en) | 1999-03-31 |
Family
ID=18150964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63323090A Expired - Fee Related JP2876606B2 (en) | 1988-12-21 | 1988-12-21 | Information processing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2876606B2 (en) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55146556A (en) * | 1979-05-04 | 1980-11-14 | Nec Corp | Data collating system |
-
1988
- 1988-12-21 JP JP63323090A patent/JP2876606B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02166527A (en) | 1990-06-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4025906A (en) | Apparatus for identifying the type of devices coupled to a data processing system controller | |
| JPH0690682B2 (en) | Fault processing method of multiprocessor system | |
| US4187538A (en) | Read request selection system for redundant storage | |
| US5619513A (en) | Fast, cost-effective method for memory testing | |
| US5142673A (en) | Bus monitor with dual port memory for storing selectable trigger patterns | |
| JP2876606B2 (en) | Information processing device | |
| JP2890426B2 (en) | Information processing device | |
| JPH02166528A (en) | Information processor | |
| JPS6049952B2 (en) | Busy control method of memory control device | |
| JPH0330040A (en) | Memory circuit with self-diagnostic function | |
| JP3036449B2 (en) | Memory diagnostic device | |
| JP3190694B2 (en) | Diagnostic method for local memory | |
| JPH0662114A (en) | Interprocessor diagnostic processing method | |
| JPH07110790A (en) | Memory diagnostic device | |
| JP2825589B2 (en) | Bus control method | |
| JPS6013502B2 (en) | Configuration control specification method | |
| JPS63310033A (en) | Multiprocessor diagnostic system | |
| JPS62143151A (en) | Diagnosis system for common memory | |
| JPS63174141A (en) | Diagnosing system for test of information processor | |
| JPH04338847A (en) | Address conversion buffer diagnostic device | |
| JPH02216565A (en) | Memory testing device | |
| JPH01297746A (en) | Memory diagnosing system | |
| JPS63136238A (en) | Microprogram control device | |
| JPS59178545A (en) | Error detecting system | |
| JPH01197860A (en) | Memory fault detecting circuit |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |