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JP2880422B2 - Sample hold circuit - Google Patents
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JP2880422B2 - Sample hold circuit - Google Patents

Sample hold circuit

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JP2880422B2
JP2880422B2 JP7077756A JP7775695A JP2880422B2 JP 2880422 B2 JP2880422 B2 JP 2880422B2 JP 7077756 A JP7077756 A JP 7077756A JP 7775695 A JP7775695 A JP 7775695A JP 2880422 B2 JP2880422 B2 JP 2880422B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、アナログ信号処理に用
いられるサンプルホールド回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sample and hold circuit used for analog signal processing.

【0002】[0002]

【従来の技術】アナログ信号の高速サンプリングに適し
た従来のサンプルホールド回路の要部構成を図8に示
す。このサンプルホールド回路は、アナログスイッチ1
01と、ホールドキャパシタ102と、演算増幅器10
3とを備えている。アナログスイッチ101は、制御線
110を介してゲート電極にサンプリングクロックCL
Kが供給されるnチャネルMOS(metal oxide semico
nductor )トランジスタと、他の制御線111を介して
相補サンプリングクロックXCLKが供給されるpチャ
ネルMOSトランジスタとで構成される。このアナログ
スイッチ101は2個の端子を有し、一方の端子が信号
入力線に接続され、該信号入力線に入力電圧Vinが供給
される。入力電圧Vinは、電源電圧VDDと接地電圧VSS
との間の範囲内で急速に変化する。演算増幅器103
は、非反転入力線と反転入力線とを有し、2個の入力M
OSトランジスタで構成された差動増幅段を有する周知
の内部構造を備えている。この演算増幅器103は、高
入力インピーダンスかつ低出力インピーダンスのボルテ
ージフォロアを構成するように、該演算増幅器103の
出力電圧Vout が反転入力線にフィードバックされてい
る。アナログスイッチ101の他方の端子は、演算増幅
器103の非反転入力線に接続されている。ホールドキ
ャパシタ102は、演算増幅器103の非反転入力線
と、接地電圧VSSを有する定電位線との間に挿入されて
いる。
2. Description of the Related Art FIG. 8 shows a main configuration of a conventional sample-hold circuit suitable for high-speed sampling of an analog signal. This sample and hold circuit is an analog switch 1
01, the hold capacitor 102, and the operational amplifier 10
3 is provided. The analog switch 101 supplies the sampling clock CL to the gate electrode via the control line 110.
N-channel MOS (metal oxide semico) supplied with K
nductor) transistor and a p-channel MOS transistor to which a complementary sampling clock XCLK is supplied via another control line 111. The analog switch 101 has two terminals, one terminal connected to the signal input line, the input voltage V in is supplied to the signal input line. Input voltage V in, the power supply voltage V DD and the ground voltage V SS
It changes rapidly within the range between Operational amplifier 103
Has a non-inverting input line and an inverting input line, and has two inputs M
It has a well-known internal structure having a differential amplifier stage composed of OS transistors. In the operational amplifier 103, the output voltage Vout of the operational amplifier 103 is fed back to the inverting input line so as to form a voltage follower having a high input impedance and a low output impedance. The other terminal of the analog switch 101 is connected to a non-inverting input line of the operational amplifier 103. Hold capacitor 102, a non-inverting input line of the operational amplifier 103 is inserted between the constant potential line having a ground voltage V SS.

【0003】図8の構成によれば、サンプリング期間中
は、アナログスイッチ101がオンし、入力電圧Vin
応じてホールドキャパシタ102に充放電がなされる。
ホールド期間中は、アナログスイッチ101がオフし、
ボルテージフォロア形式の演算増幅器103がホールド
キャパシタ102に蓄えられた電荷に応じた出力電圧V
out を保持する。
[0003] According to the configuration of FIG. 8, during the sampling period, the analog switch 101 is turned on, charging and discharging are made to hold capacitor 102 in response to the input voltage V in.
During the hold period, the analog switch 101 is turned off,
An operational amplifier 103 of a voltage follower type outputs an output voltage V corresponding to the charge stored in the hold capacitor 102.
Hold out .

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記従来のサンプルホ
ールド回路では、演算増幅器103の非反転入力線と反
転入力線との間に存在する寄生容量120を主原因とし
て出力電圧Vout にリンギングが発生し、その結果所望
の出力精度が得られないという問題があった。演算増幅
器103の差動増幅段を構成する2個の入力MOSトラ
ンジスタの各々のゲート・基板間容量がこの寄生容量1
20の原因になっている。サンプルホールド回路の周波
数特性の向上及び雑音対策のためには両入力MOSトラ
ンジスタのゲート幅を大きくする必要があり、両入力M
OSトランジスタのゲート・基板間容量がどうしても大
きくなるという事情がある。
In the above-mentioned conventional sample and hold circuit, ringing occurs in the output voltage Vout mainly due to the parasitic capacitance 120 existing between the non-inverting input line and the inverting input line of the operational amplifier 103. However, as a result, there is a problem that desired output accuracy cannot be obtained. The gate-to-substrate capacitance of each of the two input MOS transistors constituting the differential amplification stage of the operational amplifier 103 is the parasitic capacitance 1
20 causes. In order to improve the frequency characteristics of the sample and hold circuit and reduce noise, it is necessary to increase the gate width of both input MOS transistors.
There is a situation that the gate-substrate capacitance of the OS transistor is inevitably increased.

【0005】図8のサンプルホールド回路の伝達関数G
(s)=Vout /Vinは、 G(s)=ωt /{Ron(Cs +Cp )s2 +(Rons ωt +1)s+ωt } (1) のようになる。ここに、 Ron:アナログスイッチ101のオン抵抗 Cs :ホールドキャパシタ102の容量値 Cp :寄生容量120の容量値 ωt =2πft :演算増幅器103のGB積ft に対応
した角周波数 である。
The transfer function G of the sample and hold circuit shown in FIG.
(S) = V out / V in is as G (s) = ω t / {R on (C s + C p) s 2 + (R on C s ω t +1) s + ω t} (1) . Here, R on: on-resistance C s of the analog switch 101: capacitance value of the hold capacitor 102 C p: capacitance value of the parasitic capacitance 120 ω t = 2πf t: at the angular frequency corresponding to the GB product f t of the operational amplifier 103 is there.

【0006】例えば、デジタル通信用モデム回路のベー
スバンド処理部のためのサンプルホールド回路の場合に
は、 アナログ信号周波数=100kHz サンプリング周波数=2〜4MHz Ron=10kΩ Cs =Cp =1pF(=C0 ) ft =10〜20MHz のように設定される。ここで簡単のため、 ft =1/(2πRon0 )=15.9MHz とする。
For example, in the case of a sample and hold circuit for a baseband processing unit of a digital communication modem circuit, analog signal frequency = 100 kHz sampling frequency = 2 to 4 MHz R on = 10 kΩ C s = C p = 1 pF (= C 0 ) It is set as f t = 10 to 20 MHz. Here, for simplicity, it is assumed that f t = 1 / (2πR on C 0 ) = 15.9 MHz.

【0007】式(1)で表わされた伝達関数G(s)の
近似式を求めると、 G(s)=ωt /[2Ron0 {s2 +(1/Ron0 )s +(1/Ron0 2 /2}] =ωt /{2Ron0 (s+α/Ron0 )(s+β/Ron0 )} (2) のようになる。ここに、 α=(1+j)/2 β=(1−j)/2 j:虚数単位 である。
When an approximate expression of the transfer function G (s) expressed by the equation (1) is obtained, G (s) = ω t / [2R on C 0 {s 2 + (1 / R on C 0 ) s + (1 / R on C 0) 2/2}] = ω t / {2R on C 0 (s + α / R on C 0) (s + β / R on C 0)} to become like (2). Here, α = (1 + j) / 2 β = (1-j) / 2 j: imaginary unit.

【0008】式(2)の伝達関数G(s)は、実数部が
負である互いに共役な複素数の極(ポール)を持ってい
る。これは、図8のサンプルホールド回路の出力電圧V
outに減衰振動すなわちリンギングが生じることを意味
している。このリンギングのために出力電圧Vout がサ
ンプリング期間内に安定せず、出力電圧の精度が低くな
る。サンプリング周波数が高く、したがってサンプリン
グ期間が短い場合には、出力電圧の精度劣化が顕著に現
れることとなる。
[0008] The transfer function G (s) in equation (2) has complex conjugate poles whose real part is negative. This is the output voltage V of the sample and hold circuit of FIG.
This means that damped oscillation, that is, ringing occurs in out . Due to this ringing, the output voltage Vout is not stabilized during the sampling period, and the accuracy of the output voltage is reduced. When the sampling frequency is high and thus the sampling period is short, the accuracy of the output voltage is significantly deteriorated.

【0009】もし演算増幅器103のGB積ft が無限
大であれば、上記リンギングの問題は解消される。とこ
ろが、実際の演算増幅器103のGB積ft は有限であ
り、またGB積ft を大きくすると、演算増幅器103
の消費電力が大きくなってしまう。
[0009] If the if GB product f t is infinite operational amplifier 103, the ringing problem is solved. However, GB product f t of the actual operational amplifier 103 is finite, also an increase in the GB product f t, the operational amplifier 103
Power consumption increases.

【0010】本発明の主な目的は、高速、高精度、かつ
低消費電力のサンプルホールド回路を提供することにあ
る。
A main object of the present invention is to provide a high-speed, high-accuracy, low-power consumption sample-and-hold circuit.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明に係るサンプルホールド回路は、ボルテージ
フォロア形式の演算増幅器の非反転入力線と定電位線と
の間に、ホールドキャパシタと並列に、アナログスイッ
チのオン期間(サンプリング期間)における演算増幅器
の出力電圧のリンギングが抑制されるように抵抗とキャ
パシタとを直列接続してなるリンギングキャンセル回路
を挿入した構成を採用したものである。
In order to solve the above problems, a sample and hold circuit according to the present invention is provided between a non-inverting input line and a constant potential line of a voltage follower type operational amplifier in parallel with a hold capacitor. , Analog switch
Operational amplifier during switch on period (sampling period)
In order to suppress the ringing of the output voltage, a ringing cancel circuit formed by connecting a resistor and a capacitor in series is inserted.

【0012】[0012]

【作用】上記リンギングキャンセル回路を備えたサンプ
ルホールド回路の伝達関数は、互いに共役な複素数の極
ではなくて負の実数の極を持つことができる。これは、
演算増幅器の非反転入力線と反転入力線との間に寄生容
量が存在しても、また該演算増幅器のGB積をあまり大
きくしなくとも、サンプルホールド回路の出力電圧が指
数的に減衰することを意味している。つまり、該出力電
圧が短いサンプリング期間内に安定する。
The transfer function of the sample-and-hold circuit having the ringing cancel circuit can have negative real poles instead of complex conjugate poles. this is,
The output voltage of the sample-and-hold circuit attenuates exponentially even if a parasitic capacitance exists between the non-inverting input line and the inverting input line of the operational amplifier and the GB product of the operational amplifier is not made too large. Means That is, the output voltage is stabilized within a short sampling period.

【0013】[0013]

【実施例】以下、図面を参照しながら本発明の実施例に
係るサンプルホールド回路について詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a sample and hold circuit according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0014】(第1の実施例)本発明の第1の実施例に
係るサンプルホールド回路の要部構成を図1に示す。こ
のサンプルホールド回路は、図8の構成に、抵抗105
とキャパシタ106とを直列接続してなるリンギングキ
ャンセル回路107を付加したものである。抵抗105
の一端は演算増幅器103の非反転入力線に接続され、
該抵抗105の他端はキャパシタ106を介して接地電
圧VSSを有する定電位線に接続されている。抵抗105
は、通常の受動素子でもよいし、MOSトランジスタな
どの能動素子で構成してもよい。ホールドキャパシタ1
02とリンギングキャンセル回路のキャパシタ106と
は、例えば、2つの配線層の間に介在した層間絶縁膜を
用いてそれぞれ作られる。
(First Embodiment) FIG. 1 shows a main configuration of a sample and hold circuit according to a first embodiment of the present invention. This sample-and-hold circuit has the configuration of FIG.
And a ringing cancel circuit 107 formed by connecting a capacitor 106 and a capacitor 106 in series. Resistance 105
Is connected to the non-inverting input line of the operational amplifier 103,
The other end of the resistor 105 is connected via a capacitor 106 to a constant potential line having a ground voltage V SS . Resistance 105
May be an ordinary passive element or an active element such as a MOS transistor. Hold capacitor 1
02 and the capacitor 106 of the ringing cancel circuit are formed using, for example, an interlayer insulating film interposed between two wiring layers.

【0015】図1のサンプルホールド回路の伝達関数G
(s)=Vout /Vinは、 G(s)={ωt (Rc c s+1)}/F(s) (3) F(s)=Ronc (Cs +Cp )Cc 3 +{Ron(Cs +Cp +Cc )+Rc c +ωt onc c s }s2 +{ωt (Rons +Ronc +Rc c )+1}s+ωt (4) のようになる。ここに、 Ron:アナログスイッチ101のオン抵抗 Rc :抵抗105の抵抗値 Cs :ホールドキャパシタ102の容量値 Cp :寄生容量120の容量値 Cc :キャパシタ106の容量値 ωt =2πft :演算増幅器103のGB積ft に対応
した角周波数 である。
The transfer function G of the sample and hold circuit shown in FIG.
(S) = V out / V in is, G (s) = {ω t (R c C c s + 1)} / F (s) (3) F (s) = R on R c (C s + C p) C c s 3 + {R on (C s + C p + C c) + R c C c + ω t R on R c C c C s} s 2 + {ω t (R on C s + R on C c + R c C c ) +1} s + ω t (4) Here, R on : on-resistance of the analog switch 101 R c : resistance value of the resistor 105 C s : capacitance value of the hold capacitor 102 C p : capacitance value of the parasitic capacitance 120 C c : capacitance value of the capacitor 106 ω t = 2πf t: is the angular frequency corresponding to the GB product f t of the operational amplifier 103.

【0016】例えば、デジタル通信用モデム回路のベー
スバンド処理部のためのサンプルホールド回路の場合に
は、 アナログ信号周波数=100kHz サンプリング周波数=2〜4MHz Ron=Rc =10kΩ(=R0 ) Cs =Cp =Cc =1pF(=C0 ) ft =10〜20MHz のように設定される。ここで簡単のため、 ft =1/(2πR0 0 )=15.9MHz とする。
For example, in the case of a sample and hold circuit for a baseband processing section of a digital communication modem circuit, analog signal frequency = 100 kHz sampling frequency = 2-4 MHz R on = R c = 10 kΩ (= R 0 ) C s = C p = C c = 1 pF (= C 0 ) f t = 10 to 20 MHz Here, for simplicity, it is assumed that f t = 1 / (2πR 0 C 0 ) = 15.9 MHz.

【0017】式(4)で表わされた伝達関数の分母F
(s)の近似式を求めると、 F(s)=2(R0 0 2 3 +5(R0 0 )s2 +4s+1/R0 0 (5) のようになる。
The denominator F of the transfer function represented by equation (4)
When an approximate expression of the (s), so that the F (s) = 2 (R 0 C 0) 2 s 3 +5 (R 0 C 0) s 2 + 4s + 1 / R 0 C 0 (5).

【0018】更に、式(3)及び式(5)より伝達関数
G(s)の近似式を求めると、 G(s)=R0 0 ωt (R0 0 s+1)/{2(R0 0 3 3 +5(R0 0 2 2 +4(R0 0 )s+1} =R0 0 ωt (R0 0 s+1) /[{2(R0 0 )s+1}(R0 0 s+1)2 ] =ωt (s+1/R0 0 ) /[2R0 0 {s+1/2(R0 0 )}(s+1/R0 0 2 ] =ωt /[2R0 0 {s+1/2(R0 0 )}(s+1/R0 0 )] (6) のようになる。
Furthermore, when obtaining an approximate expression of the equation (3) and (5) from the transfer function G (s), G (s ) = R 0 C 0 ω t (R 0 C 0 s + 1) / {2 ( R 0 C 0) 3 s 3 +5 (R 0 C 0) 2 s 2 +4 (R 0 C 0) s + 1} = R 0 C 0 ω t (R 0 C 0 s + 1) / [{2 (R 0 C 0 ) S + 1} (R 0 C 0 s + 1) 2 ] = ω t (s + 1 / R 0 C 0 ) / [2R 0 C 0 {s + / (R 0 C 0 )} (s + 1 / R 0 C 0 ) 2 ] = Ω t / [2R 0 C 0 {s + 1/2 (R 0 C 0 )} (s + 1 / R 0 C 0 )] (6)

【0019】式(6)の伝達関数G(s)は、負の実数
の2極を持っている。これは、図1のサンプルホールド
回路の出力電圧Vout が指数関数的に減衰しながら一定
の電圧に収束することを意味している。つまり、演算増
幅器103の非反転入力線と反転入力線との間に寄生容
量120が存在しても、また該演算増幅器103のGB
積ft をあまり大きくしなくとも、出力電圧Vout が短
いサンプリング期間内に安定し、その結果出力精度が向
上する。
The transfer function G (s) in the equation (6) has negative real two poles. This means that the output voltage Vout of the sample and hold circuit in FIG. 1 converges to a constant voltage while attenuating exponentially. That is, even if the parasitic capacitance 120 exists between the non-inverting input line and the inverting input line of the operational
Even if the product ft is not made too large, the output voltage Vout is stabilized within a short sampling period, and as a result, output accuracy is improved.

【0020】図1のサンプルホールド回路のステップ応
答を図2(a)〜(c)に示す。入力電圧Vinは、図2
(a)に示すように低電圧VILから高電圧VIHへ急速に
変化する。サンプリングクロックCLKは、図2(c)
に示すようにサンプリング期間ts に高電圧VDDとな
る。このとき、図1のサンプルホールド回路の出力電圧
out は、図2(b)中に実線で示すように、低電圧V
OLから高電圧VOHへリンギングなしに時間tn で到達す
る。ここに、tn <ts である。一方、図8のサンプル
ホールド回路の出力電圧Vout には、同じ条件下で、図
2(b)中に一点鎖線で示すようにリンギングが生じ、
低電圧VOLから高電圧VOHへの到達に時間tc を要して
いる。ここに、tc >ts である。
FIGS. 2A to 2C show the step response of the sample and hold circuit shown in FIG. The input voltage Vin is shown in FIG.
As shown in (a), the voltage rapidly changes from the low voltage V IL to the high voltage V IH . The sampling clock CLK is shown in FIG.
As shown in the figure , the voltage becomes the high voltage V DD during the sampling period ts. At this time, the output voltage V out of the sample and hold circuit of FIG. 1 becomes the low voltage V out as shown by the solid line in FIG.
It reaches from the OL to the high voltage V OH at time t n without ringing. Here, t n <t s . On the other hand, under the same conditions, ringing occurs in the output voltage V out of the sample and hold circuit in FIG. 8 as shown by a dashed line in FIG.
It takes time t c to reach from the low voltage V OL to the high voltage V OH. Here, t c > t s .

【0021】以上のとおり、第1の実施例によれば、図
8の構成に抵抗105とキャパシタ106とを直列接続
してなるリンギングキャンセル回路107を付加した構
成を採用したので、高速、高精度、かつ低消費電力のサ
ンプルホールド回路を実現できる。
As described above, according to the first embodiment, the configuration in which the ringing cancel circuit 107 in which the resistor 105 and the capacitor 106 are connected in series is added to the configuration of FIG. In addition, a sample and hold circuit with low power consumption can be realized.

【0022】(第2の実施例)本発明の第2の実施例に
係るサンプルホールド回路の要部構成を図3に示す。こ
のサンプルホールド回路は、ホールドキャパシタ301
とリンギングキャンセル回路のキャパシタ302とを、
互いに逆並列に接続された2個のMIS(metal insula
tor semiconductor )キャパシタでそれぞれ構成したも
のである。しかも、ホールドキャパシタ301の一端
と、リンギングキャンセル回路のキャパシタ302の一
端とは、電源電圧VDDの2分の1の電圧を有する定電位
線にそれぞれ接続されている。他の構成は図1と同様で
ある。
(Second Embodiment) FIG. 3 shows a main configuration of a sample and hold circuit according to a second embodiment of the present invention. This sample and hold circuit includes a hold capacitor 301
And the capacitor 302 of the ringing cancel circuit.
Two MIS (metal insula) connected in anti-parallel to each other
tor semiconductor) These are composed of capacitors. In addition, one end of the hold capacitor 301 and one end of the capacitor 302 of the ringing cancel circuit are connected to a constant potential line having a voltage half of the power supply voltage VDD . Other configurations are the same as those in FIG.

【0023】ホールドキャパシタ301の断面構造を図
4に示す。このホールドキャパシタ301は、第1及び
第2のMISキャパシタ401,402で構成される。
第1のMISキャパシタ401は、p型半導体基板40
5の表面に形成されたnウェル411と、該nウェル4
11の表面に形成されたp型半導体層412と、該p型
半導体層412の上に形成された薄い絶縁層413と、
該絶縁層413の上に形成されたゲート電極414と、
p型半導体層412の露出部分の上に形成された引き出
し電極415,416とを備えている。第2のMISキ
ャパシタ402は、p型半導体基板405の表面に形成
されたnウェル421と、該nウェル421の表面に形
成されたp型半導体層422と、該p型半導体層422
の上に形成された薄い絶縁層423と、該絶縁層423
の上に形成されたゲート電極424と、p型半導体層4
22の露出部分の上に形成された引き出し電極425,
426とを備えている。第1のMISキャパシタのゲー
ト電極414と第2のMISキャパシタの引き出し電極
425,426とはホールドキャパシタ301の第1の
引き出し配線403に、第1のMISキャパシタの引き
出し電極415,416と第2のMISキャパシタのゲ
ート電極424とはホールドキャパシタ301の第2の
引き出し配線404にそれぞれ接続されている。第1及
び第2のMISキャパシタのp型半導体層412,42
2のうちの絶縁層413,423の直下の部分は、それ
ぞれチャネル領域として機能する。リンギングキャンセ
ル回路のキャパシタ302の断面構造も図4と同様であ
る。
FIG. 4 shows a sectional structure of the hold capacitor 301. The hold capacitor 301 includes first and second MIS capacitors 401 and 402.
The first MIS capacitor 401 is a p-type semiconductor substrate 40
5, an n-well 411 formed on the surface of
A thin p-type semiconductor layer 412 formed on the surface of the p-type semiconductor layer 412;
A gate electrode 414 formed on the insulating layer 413;
Lead electrodes 415 and 416 formed on exposed portions of the p-type semiconductor layer 412 are provided. The second MIS capacitor 402 includes an n-well 421 formed on the surface of the p-type semiconductor substrate 405, a p-type semiconductor layer 422 formed on the surface of the n-well 421, and the p-type semiconductor layer 422.
A thin insulating layer 423 formed thereon, and the insulating layer 423
A gate electrode 424 formed on the p-type semiconductor layer 4
The extraction electrodes 425 and 425 formed on the exposed portions
426. The gate electrode 414 of the first MIS capacitor and the extraction electrodes 425 and 426 of the second MIS capacitor are connected to the first extraction wiring 403 of the hold capacitor 301 and the extraction electrodes 415 and 416 of the first MIS capacitor and the second The gate electrode 424 of the MIS capacitor is connected to the second lead wire 404 of the hold capacitor 301. P-type semiconductor layers 412 and 42 of the first and second MIS capacitors
Of the two, portions immediately below the insulating layers 413 and 423 each function as a channel region. The cross-sectional structure of the capacitor 302 of the ringing cancel circuit is the same as that of FIG.

【0024】第1及び第2のMISキャパシタ401,
402は、薄い絶縁層413,423を誘電体として用
いているため、それぞれ小さな面積で大きな容量値が得
られる。ただし、第1のMISキャパシタ401の容量
値の電圧依存性は、ゲート電極414とp型半導体層4
12との間の印加電圧が正の場合と負の場合とで異な
る。第2のMISキャパシタ402の容量値の電圧依存
性は、ゲート電極424とp型半導体層422との間の
印加電圧が正の場合と負の場合とで異なる。そこで、両
MISキャパシタ401,402は、図4に示すように
互いに逆並列に接続される。この結果、ホールドキャパ
シタ301の容量値の電圧依存性は、印加電圧が0の場
合を中心として対称形となる。しかも、印加電圧が0の
近辺では容量値の電圧依存性が小さい。一方、図3のサ
ンプルホールド回路の入力電圧Vinは、電源電圧VDD
接地電圧VSSとの間の範囲内で変化する。ホールドキャ
パシタ301の一端は、電源電圧VDDの2分の1の電圧
を有する定電位線に接続されている。したがって、ホー
ルドキャパシタ301の印加電圧はたかだかVDD/2で
あり、電圧依存性の小さい電圧範囲で該ホールドキャパ
シタ301が使用される。リンギングキャンセル回路の
キャパシタ302についても同様である。
The first and second MIS capacitors 401,
In the case of 402, since the thin insulating layers 413 and 423 are used as a dielectric, a large capacitance value can be obtained with a small area. However, the voltage dependency of the capacitance value of the first MIS capacitor 401 depends on the gate electrode 414 and the p-type semiconductor layer 4.
12 is different depending on whether the applied voltage is positive or negative. The voltage dependency of the capacitance value of the second MIS capacitor 402 differs between a case where the applied voltage between the gate electrode 424 and the p-type semiconductor layer 422 is positive and a case where the applied voltage is negative. Therefore, the two MIS capacitors 401 and 402 are connected in anti-parallel with each other as shown in FIG. As a result, the voltage dependence of the capacitance value of the hold capacitor 301 becomes symmetric with respect to the case where the applied voltage is zero. Moreover, the voltage dependency of the capacitance value is small near the applied voltage of 0. On the other hand, the input voltage V in of the sample and hold circuit of FIG. 3, varies within a range between the supply voltage V DD and the ground voltage V SS. One end of the hold capacitor 301 is connected to a constant potential line having a voltage half of the power supply voltage V DD . Therefore, the applied voltage of the hold capacitor 301 is at most V DD / 2, and the hold capacitor 301 is used in a voltage range having a small voltage dependency. The same applies to the capacitor 302 of the ringing cancel circuit.

【0025】以上のとおり、第2の実施例によれば、互
いに逆並列に接続された2個のMISキャパシタでホー
ルドキャパシタ301とリンギングキャンセル回路のキ
ャパシタ302とをそれぞれ構成し、かつ両キャパシタ
301,302の各々の一端の電圧をVDD/2に設定し
たので、両キャパシタ301,302の小面積化を実現
できるだけでなく、両キャパシタ301,302を電圧
依存性の小さい電圧範囲で使うことができる。なお、両
キャパシタ301,302の端子電圧は、ほぼVDD/2
であればよい。その他の効果は第1の実施例と同様であ
る。
As described above, according to the second embodiment, the hold capacitor 301 and the capacitor 302 of the ringing cancel circuit are respectively constituted by the two MIS capacitors connected in antiparallel to each other. Since the voltage at one end of each of the capacitors 302 is set to V DD / 2, not only the area of the capacitors 301 and 302 can be reduced, but also the capacitors 301 and 302 can be used in a voltage range with small voltage dependency. . Note that the terminal voltage of both capacitors 301 and 302 is approximately V DD / 2
Should be fine. Other effects are similar to those of the first embodiment.

【0026】(第3の実施例)本発明の第3の実施例に
係るサンプルホールド回路の要部構成を図5に示す。こ
のサンプルホールド回路は、図8の構成に、抵抗501
とキャパシタ502とを直列接続してなる第1のリンギ
ングキャンセル回路503と、アナログスイッチ504
とキャパシタ505とを直列接続してなる第2のリンギ
ングキャンセル回路506とを付加したものである。第
1のリンギングキャンセル回路の抵抗501の一端は演
算増幅器103の非反転入力線に接続され、該抵抗50
1の他端はキャパシタ502を介して接地電圧VSSを有
する定電位線に接続されている。第2のリンギングキャ
ンセル回路のアナログスイッチ504は、サンプリング
用のアナログスイッチ101と同様に、制御線110を
介してゲート電極にサンプリングクロックCLKが供給
されるnチャネルMOSトランジスタと、他の制御線1
11を介して相補サンプリングクロックXCLKが供給
されるpチャネルMOSトランジスタとで構成される。
この第2のリンギングキャンセル回路のアナログスイッ
チ504は2個の端子を有し、一方の端子が信号入力線
に接続され、該信号入力線に入力電圧Vinが供給され
る。該アナログスイッチ504の他方の端子は、キャパ
シタ505を介して演算増幅器103の非反転入力線に
接続されている。
(Third Embodiment) FIG. 5 shows a main configuration of a sample and hold circuit according to a third embodiment of the present invention. This sample-and-hold circuit has the configuration of FIG.
Ringing cancel circuit 503 formed by connecting a capacitor and capacitor 502 in series, and analog switch 504
And a second ringing cancel circuit 506 formed by connecting a capacitor and a capacitor 505 in series. One end of the resistor 501 of the first ringing cancel circuit is connected to the non-inverting input line of the operational amplifier 103,
The other end of 1 is connected via a capacitor 502 to a constant potential line having a ground voltage V SS . The analog switch 504 of the second ringing cancel circuit includes an n-channel MOS transistor whose gate electrode is supplied with a sampling clock CLK via a control line 110 and another control line 1 like the analog switch 101 for sampling.
And a p-channel MOS transistor to which a complementary sampling clock XCLK is supplied via an output terminal 11.
Analog switch 504 of the second ringing cancel circuit has two terminals, one terminal connected to the signal input line, the input voltage V in is supplied to the signal input line. The other terminal of the analog switch 504 is connected to a non-inverting input line of the operational amplifier 103 via a capacitor 505.

【0027】図5の構成によれば、サンプリング期間中
は、2個のアナログスイッチ101,504がオンし、
入力電圧Vinに応じてホールドキャパシタ102に充放
電がなされる。ホールド期間中は、両アナログスイッチ
101,504がオフし、ボルテージフォロア形式の演
算増幅器103がホールドキャパシタ102に蓄えられ
た電荷に応じた出力電圧Vout を保持する。
According to the configuration of FIG. 5, during the sampling period, the two analog switches 101 and 504 are turned on,
Charging and discharging are made to hold capacitor 102 in response to the input voltage V in. During the hold period, both the analog switches 101 and 504 are turned off, and the operational amplifier 103 of the voltage follower type holds the output voltage Vout according to the charge stored in the hold capacitor 102.

【0028】図5のサンプルホールド回路の伝達関数G
(s)=Vout /Vinは、 G(s)=[ωt (Rc c s+1){(Ron+Rd )Cd s+1}] /P(s) (7) P(s)=Ron[Rc c (Cs +Cp )s3 +(Cs +Cp +Cc +ωt c c s )s2 +ωt (Cs +Cc )s](Rd d s+1) +{(Ron+Rd )Cd s+1}(Rc c s+1)(s+ωt ) (8) のようになる。ここに、 Ron:アナログスイッチ101のオン抵抗 Rc :抵抗501の抵抗値 Rd :アナログスイッチ504のオン抵抗 Cs :ホールドキャパシタ102の容量値 Cp :寄生容量120の容量値 Cc :キャパシタ502の容量値 Cd :キャパシタ505の容量値 ωt =2πft :演算増幅器103のGB積ft に対応
した角周波数 である。
The transfer function G of the sample and hold circuit shown in FIG.
(S) = V out / V in is, G (s) = [ω t (R c C c s + 1) {(R on + R d) C d s + 1}] / P (s) (7) P (s) = R on [R c C c (C s + C p ) s 3 + (C s + C p + C c + ω t R c C c C s ) s 2 + ω t (C s + C c ) s] (R d C d s + 1) + {(R on + R d) C d s + 1} (R c C c s + 1) (s + ω t) becomes as (8). Here, R on : on resistance of the analog switch 101 R c : resistance value of the resistor 501 R d : on resistance of the analog switch 504 C s : capacitance value of the hold capacitor 102 C p : capacitance value of the parasitic capacitance 120 C c : The capacitance value C d of the capacitor 502: the capacitance value of the capacitor 505 ω t = 2πf t : an angular frequency corresponding to the GB product f t of the operational amplifier 103.

【0029】例えば、デジタル通信用モデム回路のベー
スバンド処理部のためのサンプルホールド回路の場合に
は、 アナログ信号周波数=100kHz サンプリング周波数=2〜4MHz Ron=Rc =Rd =10kΩ(=R0 ) Cs =Cp =Cc =Cd =1pF(=C0 ) ft =10〜20MHz のように設定される。ここで簡単のため、 ft =1/(2πR0 0 )=15.9MHz とする。
For example, in the case of a sample-and-hold circuit for a baseband processing section of a digital communication modem circuit, analog signal frequency = 100 kHz sampling frequency = 2 to 4 MHz R on = R c = R d = 10 kΩ (= R 0) C s = C p = C c = C d = 1pF (= C 0) is set as f t = 10 to 20 MHz. Here, for simplicity, it is assumed that f t = 1 / (2πR 0 C 0 ) = 15.9 MHz.

【0030】式(8)で表わされた伝達関数の分母P
(s)の近似式を求めると、 P(s)={2(R0 0 2 3 +6(R0 0 )s2 +5s +1/R0 0 }(R0 0 s+1) (9) のようになる。
The denominator P of the transfer function represented by equation (8)
When an approximate expression of the (s), P (s) = {2 (R 0 C 0) 2 s 3 +6 (R 0 C 0) s 2 + 5s + 1 / R 0 C 0} (R 0 C 0 s + 1) (9)

【0031】更に、式(7)及び式(9)より伝達関数
G(s)の近似式を求めると、 G(s)=R0 0 ωt (2R0 0 s+1)(R0 0 s+1) /[{2(R0 0 3 3 +6(R0 0 2 2 +5(R0 0 )s+1}(R0 0 s+1)] =R0 0 ωt (2R0 0 s+1)(R0 0 s+1) /[{2(R0 0 2 2 +4(R0 0 )s+1} ×(R0 0 s+1)2 ] =ωt (s+1/2R0 0 )(s+1/R0 0 ) /{R0 0 (s+γ/R0 0 )(s+δ/R0 0 ) ×(s+1/R0 0 2 } =ωt (s+1/2R0 0 ) /{R0 0 (s+γ/R0 0 )(s+δ/R0 0 ) ×(s+1/R0 0 )} (10) のようになる。ここに、 γ=1−2-0.5 δ=1+2-0.5 である。
Furthermore, when obtaining an approximate expression of the equation (7) and (9) from the transfer function G (s), G (s ) = R 0 C 0 ω t (2R 0 C 0 s + 1) (R 0 C 0 s + 1) / [{ 2 (R 0 C 0) 3 s 3 +6 (R 0 C 0) 2 s 2 +5 (R 0 C 0) s + 1} (R 0 C 0 s + 1)] = R 0 C 0 ω t (2R 0 C 0 s + 1 ) (R 0 C 0 s + 1) / [{2 (R 0 C 0) 2 s 2 +4 (R 0 C 0) s + 1} × (R 0 C 0 s + 1) 2] = ω t ( s + 1 / 2R 0 C 0 ) (s + 1 / R 0 C 0 ) / {R 0 C 0 (s + γ / R 0 C 0 ) (s + δ / R 0 C 0 ) × (s + 1 / R 0 C 0 ) 2 } = ω t (s + 1 / 2R 0 C 0) / {R 0 C 0 (s + γ / R 0 C 0) (s + δ / R 0 C 0) × (s + 1 / R 0 C 0)} is as (10). Here, γ = 1−2 −0.5 δ = 1 + 2 −0.5 .

【0032】式(10)の伝達関数G(s)は、負の実
数の3極を持っている。これは、図5のサンプルホール
ド回路の出力電圧Vout が指数関数的に減衰しながら一
定の電圧に収束することを意味している。つまり、演算
増幅器103の非反転入力線と反転入力線との間に寄生
容量120が存在しても、また該演算増幅器103のG
B積ft をあまり大きくしなくとも、出力電圧Vout
短いサンプリング期間内に安定し、その結果出力精度が
向上する。
The transfer function G (s) in equation (10) has negative real three poles. This means that the output voltage V out of the sample and hold circuit of FIG. 5 converges to a constant voltage while attenuating exponentially. That is, even if the parasitic capacitance 120 exists between the non-inverting input line and the inverting input line of the operational amplifier 103, the G
Even if the B product ft is not increased too much, the output voltage Vout is stabilized within a short sampling period, and as a result, the output accuracy is improved.

【0033】図1、図3、図5及び図8のサンプルホー
ルド回路の応用例を図6に示す。図6の例は、デジタル
通信用モデム回路のベースバンド処理部であって、アナ
ログ信号源601と、サンプルホールド回路602と、
ローパスフィルタ603と、出力負荷604とを備えて
いる。アナログ信号源601は、デジタル回路とDA
(digital-to-analog )変換器との等価回路であって、
周波数fb (=125kHz)、振幅Va の正弦波電圧
信号を発生する交流信号源と、電圧VDD/2の直流電圧
源との直列回路である。サンプルホールド回路602
は、図1、図3、図5及び図8の構成を有するものであ
る。サンプリング周波数は2MHzである。ローパスフ
ィルタ603は、3本の抵抗611,612,613
と、3個のキャパシタ614,615,616と、1個
の演算増幅器617とで構成されたバターワース(Butt
erworth )型のフィルタであって、カットオフ周波数は
250kHzである。サンプルホールド回路602の入
力電圧Vinはアナログ信号源601から供給され、該サ
ンプルホールド回路602の出力電圧Vout はローパス
フィルタ603へ供給される。ローパスフィルタ603
の中の2個のキャパシタ614,615の各々の一端
は、電圧VDD/2を有する定電位線に接続されている。
出力負荷604は、ローパスフィルタ603の出力電圧
L で周波数200MHzのキャリア信号を変調するた
めの回路の等価回路であって、インピーダンスZL で表
わされている。
FIG. 6 shows an application example of the sample and hold circuit shown in FIGS. 1, 3, 5 and 8. The example in FIG. 6 is a baseband processing unit of a digital communication modem circuit, and includes an analog signal source 601, a sample and hold circuit 602,
A low-pass filter 603 and an output load 604 are provided. The analog signal source 601 includes a digital circuit and a DA
(Digital-to-analog) an equivalent circuit to the converter,
This is a series circuit of an AC signal source that generates a sine wave voltage signal having a frequency f b (= 125 kHz) and an amplitude Va, and a DC voltage source having a voltage V DD / 2. Sample hold circuit 602
Has the configuration of FIG. 1, FIG. 3, FIG. 5, and FIG. The sampling frequency is 2 MHz. The low-pass filter 603 includes three resistors 611, 612, and 613.
Butterworth (Buttworth) comprising three capacitors 614, 615, 616 and one operational amplifier 617.
erworth) type filter with a cutoff frequency of 250 kHz. Input voltage V in of the sample-and-hold circuit 602 is supplied from the analog signal source 601, the output voltage V out of the sample and hold circuit 602 is supplied to a low pass filter 603. Low-pass filter 603
One end of each of the two capacitors 614 and 615 is connected to a constant potential line having a voltage V DD / 2.
The output load 604 is an equivalent circuit of a circuit for modulating a carrier signal of frequency 200MHz in the output voltage V L of the low-pass filter 603 is represented by impedance Z L.

【0034】ローパスフィルタ603の出力電圧VL
うち、周波数fb の成分以外の高調波成分は変調歪とな
る。出力電圧VL の歪解析結果を図7に示す。図1、図
3及び図5に示すサンプルホールド回路を用いた場合に
は、図8のサンプルホールド回路よりも低歪の出力電圧
を得ることができる。また、図1及び図3のサンプルホ
ールド回路と図5のサンプルホールド回路とを比較する
と、図5のサンプルホールド回路を用いた方が、歪の主
要成分である2次、3次高調波を低減でき、したがって
全高調波歪率THD(total harmonic distortion )を
低減できることが分かる。
[0034] Among the output voltage V L of the low-pass filter 603, the harmonic components other than the component of the frequency f b is the distortion. FIG. 7 shows the result of the distortion analysis of the output voltage VL . When the sample and hold circuits shown in FIGS. 1, 3 and 5 are used, an output voltage with lower distortion than the sample and hold circuit of FIG. 8 can be obtained. Also, comparing the sample and hold circuit of FIGS. 1 and 3 with the sample and hold circuit of FIG. 5, the use of the sample and hold circuit of FIG. 5 reduces the second and third harmonics, which are main components of distortion. It can be seen that the total harmonic distortion (THD) can be reduced.

【0035】なお、図5のサンプルホールド回路におい
て、互いに逆並列に接続された2個のMISキャパシタ
でホールドキャパシタ102とリンギングキャンセル回
路のキャパシタ502とをそれぞれ構成し、かつ両キャ
パシタ102,502の各々の一端の電圧をVDD/2に
設定してもよい。
In the sample and hold circuit of FIG. 5, the hold capacitor 102 and the capacitor 502 of the ringing cancel circuit are respectively constituted by two MIS capacitors connected in antiparallel to each other, and each of the capacitors 102 and 502 May be set to V DD / 2.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明してきたとおり、本発明によれ
ば、ボルテージフォロア形式の演算増幅器の非反転入力
線と定電位線との間に、ホールドキャパシタと並列に、
アナログスイッチのオン期間(サンプリング期間)にお
ける演算増幅器の出力電圧のリンギングが抑制されるよ
うに抵抗とキャパシタとを直列接続してなるリンギング
キャンセル回路を挿入した構成を採用したので、演算増
幅器の非反転入力線と反転入力線との間に寄生容量が存
在しても、また該演算増幅器のGB積をあまり大きくし
なくとも、サンプルホールド回路の出力電圧が短いサン
プリング期間内に安定する。したがって、高速、高精
度、かつ低消費電力のサンプルホールド回路を実現でき
る効果がある。このサンプルホールド回路は、アナログ
信号処理のための半導体集積回路に用いられるサンプル
ホールド回路として極めて有用である。
As described above, according to the present invention, a voltage follower type operational amplifier is connected in parallel with a hold capacitor between a non-inverting input line and a constant potential line.
During the analog switch ON period (sampling period)
Ringing of the output voltage of the operational amplifier
In this configuration, a ringing cancellation circuit formed by connecting a resistor and a capacitor in series is inserted, so that even if a parasitic capacitance exists between the non-inverting input line and the inverting input line of the operational amplifier, The output voltage of the sample-and-hold circuit is stabilized within a short sampling period even if the GB product is not so large. Therefore, there is an effect that a high-speed, high-accuracy, low-power-consumption sample-and-hold circuit can be realized. This sample and hold circuit is extremely useful as a sample and hold circuit used in a semiconductor integrated circuit for analog signal processing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例に係るサンプルホールド
回路の回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram of a sample and hold circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】(a)はステップ応答を調べるための図1の回
路の入力電圧の波形図、(b)は該入力電圧に対応した
図1の回路の出力電圧波形を図8の回路の出力電圧波形
とともに示す図、(c)は図1の回路のサンプリングク
ロックの波形図である。
2 (a) is a waveform diagram of an input voltage of the circuit of FIG. 1 for examining a step response, and FIG. 2 (b) is an output voltage waveform of the circuit of FIG. 1 corresponding to the input voltage. FIG. 3C is a diagram showing the waveform of a sampling clock of the circuit of FIG. 1 together with a voltage waveform.

【図3】本発明の第2の実施例に係るサンプルホールド
回路の回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram of a sample and hold circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図4】図3中のホールドキャパシタの構造を示す断面
図である。
FIG. 4 is a sectional view showing a structure of a hold capacitor in FIG. 3;

【図5】本発明の第3の実施例に係るサンプルホールド
回路の回路図である。
FIG. 5 is a circuit diagram of a sample and hold circuit according to a third embodiment of the present invention.

【図6】図1、図3、図5及び図8の回路の応用例を示
す回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram showing an application example of the circuits shown in FIGS. 1, 3, 5, and 8;

【図7】図6の応用例におけるローパスフィルタの出力
電圧の歪解析結果を示す図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a result of distortion analysis of an output voltage of a low-pass filter in the application example of FIG. 6;

【図8】従来のサンプルホールド回路の回路図である。FIG. 8 is a circuit diagram of a conventional sample and hold circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 アナログスイッチ 102 ホールドキャパシタ 103 演算増幅器 105 リンギングキャンセル回路の抵抗 106 リンギングキャンセル回路のキャパシタ 107 リンギングキャンセル回路 301 ホールドキャパシタ 302 リンギングキャンセル回路のキャパシタ 401 第1のMISキャパシタ 402 第2のMISキャパシタ 501 第1のリンギングキャンセル回路の抵抗 502 第1のリンギングキャンセル回路のキャパシタ 503 第1のリンギングキャンセル回路 504 第2のリンギングキャンセル回路のアナログス
イッチ 505 第2のリンギングキャンセル回路のキャパシタ 506 第2のリンギングキャンセル回路 601 アナログ信号源 602 サンプルホールド回路 603 ローパスフィルタ 604 出力負荷
Reference Signs List 101 analog switch 102 hold capacitor 103 operational amplifier 105 resistance of ringing cancel circuit 106 capacitor of ringing cancel circuit 107 ringing cancel circuit 301 hold capacitor 302 capacitor of ringing cancel circuit 401 first MIS capacitor 402 second MIS capacitor 501 first Resistance of ringing cancel circuit 502 Capacitor of first ringing cancel circuit 503 First ringing cancel circuit 504 Analog switch of second ringing cancel circuit 505 Capacitor of second ringing cancel circuit 506 Second ringing cancel circuit 601 Analog signal Source 602 Sample hold circuit 603 Low pass filter 604 Output load

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 2個の端子を有しかつ一方の端子が信号
入力線に接続されたアナログスイッチと、 前記アナログスイッチの他方の端子に接続された非反転
入力線を有するボルテージフォロア形式の演算増幅器
と、 前記演算増幅器の非反転入力線と定電位線との間に挿入
されたホールドキャパシタと、 前記演算増幅器の非反転入力線と前記定電位線との間に
挿入されたリンギングキャンセル回路とを備えたサンプ
ルホールド回路であって、 前記リンギングキャンセル回路は、前記アナログスイッ
チのオン期間における前記演算増幅器の出力電圧のリン
ギングが抑制されるように、抵抗とキャパシタとを直列
接続してなることを特徴とするサンプルホールド回路。
1. A voltage follower type operation having an analog switch having two terminals and one terminal connected to a signal input line, and a non-inverting input line connected to the other terminal of the analog switch. An amplifier, a hold capacitor inserted between the non-inverting input line and the constant potential line of the operational amplifier, and a ringing cancel circuit inserted between the non-inverting input line and the constant potential line of the operational amplifier. Sump with
A ring hold circuit , wherein the ringing cancel circuit includes the analog switch.
The output voltage of the operational amplifier during the ON period of the switch.
A sample-and-hold circuit comprising a resistor and a capacitor connected in series so as to suppress ging .
【請求項2】 請求項1記載のサンプルホールド回路に
おいて、 前記アナログスイッチと前記演算増幅器とは各々複数の
MOSトランジスタで構成されたことを特徴とするサン
プルホールド回路。
2. The sample and hold circuit according to claim 1, wherein said analog switch and said operational amplifier are each composed of a plurality of MOS transistors.
【請求項3】 請求項1記載のサンプルホールド回路に
おいて、 前記定電位線は接地電圧を有することを特徴とするサン
プルホールド回路。
3. The sample and hold circuit according to claim 1, wherein said constant potential line has a ground voltage.
【請求項4】 請求項1記載のサンプルホールド回路に
おいて、 前記信号入力線は電源電圧と接地電圧との間の信号電圧
範囲を有し、 前記定電位線は前記電源電圧の2分の1の電圧を有する
ことを特徴とするサンプルホールド回路。
4. The sample and hold circuit according to claim 1, wherein the signal input line has a signal voltage range between a power supply voltage and a ground voltage, and the constant potential line is a half of the power supply voltage. A sample-and-hold circuit having a voltage.
【請求項5】 請求項4記載のサンプルホールド回路に
おいて、 前記ホールドキャパシタは互いに逆並列に接続された2
個のMISキャパシタで構成されたことを特徴とするサ
ンプルホールド回路。
5. The sample and hold circuit according to claim 4, wherein said hold capacitors are connected in antiparallel to each other.
A sample and hold circuit comprising: a plurality of MIS capacitors.
【請求項6】 請求項4記載のサンプルホールド回路に
おいて、 前記リンギングキャンセル回路のキャパシタは互いに逆
並列に接続された2個のMISキャパシタで構成された
ことを特徴とするサンプルホールド回路。
6. The sample and hold circuit according to claim 4, wherein a capacitor of said ringing cancel circuit is composed of two MIS capacitors connected in antiparallel to each other.
【請求項7】 請求項1記載のサンプルホールド回路に
おいて、 前記信号入力線と前記演算増幅器の非反転入力線との間
に挿入された他のリンギングキャンセル回路を更に備
え、 前記他のリンギングキャンセル回路はアナログスイッチ
とキャパシタとを直列接続してなることを特徴とするサ
ンプルホールド回路。
7. The sample and hold circuit according to claim 1, further comprising another ringing cancel circuit inserted between the signal input line and a non-inverting input line of the operational amplifier, wherein the other ringing cancel circuit is provided. Is a sample and hold circuit comprising an analog switch and a capacitor connected in series.
【請求項8】 請求項7記載のサンプルホールド回路に
おいて、 前記他のリンギングキャンセル回路のアナログスイッチ
は複数のMOSトランジスタで構成されたことを特徴と
するサンプルホールド回路。
8. The sample and hold circuit according to claim 7, wherein an analog switch of said another ringing cancel circuit is constituted by a plurality of MOS transistors.
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