JP2880819B2 - Laser trimming method for chip resistor - Google Patents
Laser trimming method for chip resistorInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、チップ抵抗器の抵抗
体にレーザを照射して、抵抗体の一部を削除し抵抗値を
補正するチップ抵抗器のレーザトリミング方法に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser trimming method for a chip resistor, which irradiates a laser to a resistor of a chip resistor to correct a resistance value by removing a part of the resistor.
【0002】[0002]
【従来の技術】通常、チップ抵抗器は、図6で示すよう
に、大きなセラミック基板4にブレーク用の切離し線3
が格子状に縦横方向へ形成され、このプレーク用の切離
し線3に囲まれた基板面内に、それぞれ二つの電極5、
5と、両電極5に跨がる抵抗体7とが印刷形成され、ブ
レーク用切離し線3を介して隣合う多数個のチップ抵抗
素子1が形成される。2. Description of the Related Art Generally, as shown in FIG.
Are formed in a grid shape in the vertical and horizontal directions, and two electrodes 5 and 2 are provided in the substrate surface surrounded by the separating line 3 for break.
5 and a resistor 7 straddling both electrodes 5 are formed by printing, and a plurality of chip resistor elements 1 adjacent to each other via a break separation line 3 are formed.
【0003】この多数個のチップ抵抗素子は、印刷パタ
ーン形成の関係上、印刷幅、印刷膜厚の相違からそれぞ
れ抵抗値が僅かづつ異なる。そこで、レーザトリミング
装置を用いて、各チップ抵抗素子の抵抗値を一定に補正
する。この抵抗値の補正処理は、1個のチップ抵抗素子
の両電極に測定用プローブピンを取付け、抵抗値を測り
ながら抵抗体に対しレーザを照射して抵抗体の一部を削
除し、抵抗値が一定になった時点でレーザ照射を停止す
る。[0003] The resistance values of these multiple chip resistor elements are slightly different from each other due to the difference in printing width and printing film thickness due to the formation of a printing pattern. Therefore, the resistance value of each chip resistance element is corrected to be constant using a laser trimming device. In this resistance value correction process, a measurement probe pin is attached to both electrodes of one chip resistance element, a laser is irradiated to the resistance body while measuring the resistance value, a part of the resistance body is deleted, and the resistance value is removed. The laser irradiation is stopped when becomes constant.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】従来のレーザトリミン
グ方式では、ブレーク用切離し線を介して多数個が並ぶ
チップ抵抗素子を、それぞれ1個づつレーザトリミング
を実行する方式である。つまり、例えば、セラミック基
板の最も左端側に位置するチップ抵抗素子からレーザト
リミング処理を始め、左端のチップ抵抗素子の抵抗値補
正が終了すると、右隣りのチップ抵抗素子のレーザトリ
ミング処理に移る方式である。そして、この方式ではト
リミング方向へのレーザ光送りピッチが一定に設定され
ている。このため、図6で示すように、例えば素子長
さ、幅が印刷ズレしているチップ抵抗素子A、Bにあっ
ては、レーザ光送りピッチと素子長さのズレが生じる結
果、所謂中切れ(抵抗体7に電流の経路が2つ以上出来
る、図中「A」)、或いは両切れ(抵抗体7が電極面以
外の両側面からトリミングされる、図中「B」)と称す
るチップ特性(ノイズ特性、温度特性、耐電圧特性)を
悪化させる現象が発生する不利があった。In the conventional laser trimming system, a large number of chip resistor elements are arranged one by one via a break separating line, and each of them is laser trimmed. In other words, for example, a laser trimming process is started from the chip resistor element located on the leftmost side of the ceramic substrate, and when the correction of the resistance value of the chip resistor element on the left end is completed, the process proceeds to a laser trimming process on the chip resistor element on the right. is there. In this method, the laser beam feed pitch in the trimming direction is set to be constant. For this reason, as shown in FIG. 6, for example, in the chip resistor elements A and B in which the element length and the width are misaligned, a deviation between the laser beam feeding pitch and the element length occurs, so-called a so-called middle cut. A chip characteristic referred to as (two or more current paths are formed in the resistor 7, "A" in the figure) or both ends (the resistor 7 is trimmed from both sides other than the electrode surface, "B" in the figure) (Noise characteristics, temperature characteristics, withstand voltage characteristics).
【0005】この発明では、以上のような課題を解消さ
せ、2つのチップ抵抗素子を一対として、中央に介在す
るブレーク用切離し線をそれぞれのチップ抵抗素子のレ
ーザトリミング処理の開始点とすることで、レーザトリ
ミング装置でのレーザ照射位置合わせが簡単になり、印
刷ズレによる中切れ、両切れの発生を完全に解消し得る
チップ抵抗器のレーザトリミング方法を提供することを
目的とする。According to the present invention, the above-mentioned problems are solved, and two chip resistor elements are paired, and a break separating line located at the center is set as a starting point of laser trimming processing of each chip resistor element. It is another object of the present invention to provide a laser trimming method for a chip resistor, which makes it easy to align a laser irradiation position in a laser trimming device and completely eliminates the occurrence of a middle cut or a double cut due to a printing shift.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段及び作用】この発明のチッ
プ抵抗器のレーザトリミング方法は、セラミック基板上
に格子状に縦横方向にブレーク用の切離し線を形成し、
このブレーク用の切離し線に囲まれた基板面内に、それ
ぞれ2つの電極と両電極に跨がる抵抗体とを形成した多
数個のチップ抵抗素子の抵抗体に、レーザトリミング装
置によりレーザを照射して抵抗値補正を行うものであっ
て、前記チップ抵抗素子の両電極の延伸方向に沿う方向
のブレーク用の切離し線を挟んで隣合う2つのチップ抵
抗素子を1組とし、この1組の2つのチップ抵抗素子に
おける抵抗体のレーザトリミング処理を、それぞれ前記
両電極の延伸方向に沿う方向のブレーク用の切離し線を
始点にレーザ照射をスタートさせることにより行うこと
を特徴としている。According to the laser trimming method for a chip resistor of the present invention, a break-off separating line is formed in a grid pattern on a ceramic substrate in the vertical and horizontal directions.
A laser trimming device is used to irradiate a laser with a laser trimming device to a plurality of chip resistor elements each having two electrodes and a resistor straddling both electrodes in a substrate surface surrounded by the break separation line. The two chip resistance elements adjacent to each other with a break separation line in the direction along the extending direction of the two electrodes of the chip resistance element as one set, and this one set The laser trimming of the resistors in the two chip resistor elements is performed by starting laser irradiation starting from the break separation line in the direction along the extending direction of the two electrodes.
【0007】このようなチップ抵抗器のレーザトリミン
グ方法では、ブレーク用切離し線を介して隣合う2つの
チップ抵抗素子を一対として、それぞれのチップ抵抗素
子は中央線であるブレーク用切離し線を開始点としてレ
ーザトリミング処理を実行する。つまり、2個一対のチ
ップ抵抗素子の左側のチップ抵抗素子のレーザトリミン
グは、ブレーク用切離し線からレーザの照射を始め、開
始点であるブレーク用切離し線から離れる方向へ照射を
移動し、一定距離まで照射を進めた後、照射方向を変え
(下方向の直角方向へ変え)、抵抗値の補正が終了する
まで移動し、補正終了と共に、レーザの照射を停止す
る。そして、再びブレーク用切離し線まで戻って、この
ブレーク用切離し線を開始点(照射重複点)として、右
側のチップ抵抗素子のレーザトリミングを実行する。ブ
レーク用切離し線からレーザ照射を始め、ブレーク用切
離し線から離れる方向へ照射を移動し、一定距離まで照
射を進めた後、照射方向を変え(下方向の直角方向へ変
え)、抵抗値の補正が終了するまで移動し、補正終了と
共に、レーザの照射を停止する。この後、隣りの2個一
対のチップ抵抗素子間に介在するブレーク用切離し線に
移動し、同様のレーザトリミングを実行する。In such a laser trimming method for a chip resistor, two chip resistor elements adjacent to each other via a break separating line are paired, and each chip resistor element starts at a break separating line serving as a center line. To perform the laser trimming process. In other words, laser trimming of the chip resistor on the left side of the pair of two chip resistors starts laser irradiation from the break separation line, moves the irradiation in a direction away from the break separation line that is the starting point, and moves the laser for a certain distance. After the irradiation is advanced, the irradiation direction is changed (changed in the direction perpendicular to the downward direction), the movement is performed until the correction of the resistance value is completed, and the laser irradiation is stopped upon completion of the correction. Then, returning to the break separating line, the laser trimming of the chip resistor element on the right side is executed with the break separating line as a start point (irradiation overlapping point). Start laser irradiation from the break separation line, move the irradiation in the direction away from the break separation line, advance the irradiation to a certain distance, change the irradiation direction (change to the perpendicular direction downward), and correct the resistance value Until the correction is completed, and the laser irradiation is stopped when the correction is completed. Thereafter, the laser beam is moved to a break separation line interposed between a pair of adjacent two chip resistance elements, and the same laser trimming is performed.
【0008】かくして、2素子を1組としてレーザトリ
ミングを繰り返すから、トリミング処理が簡単迅速に実
行できる。また、ブレーク用切離し線を開始点とするか
ら、レーザ照射位置合わせが簡単で正確であり、抵抗印
刷のズレによる中切れ、両切れを解消できる。Thus, since the laser trimming is repeated with two elements as one set, the trimming process can be executed easily and quickly. In addition, since the break separation line is used as the starting point, the alignment of the laser irradiation position is simple and accurate, and it is possible to eliminate the middle cut and both cuts due to the displacement of the resistance printing.
【0009】[0009]
【実施例】図1乃至図5は、この発明に係るチップ抵抗
器のレーザトリミング処理工程を示す具体的な工程図で
ある。このチップ抵抗器のレーザトリミング処理は、セ
ラミック基板4上に、ブレーク用の切離し線3を介して
印刷形成された多数個のチップ抵抗素子1、1aを、レ
ーザトリミング装置により抵抗値補正を行うものであっ
て、ブレーク用の切離し線3を介して隣合う2つのチッ
プ抵抗素子1、1aを1組とし、各チップ抵抗素子1、
1aの1対の電極5、5に、それぞれプローブピン6、
6を取付け、この1組の2つのチップ抵抗素子1、1a
のレーザトリミング処理を、それぞれブレーク用切離し
線3を始点にレーザ照射をスタートさせることを特徴と
している。なお、図2〜図4ではプローブピン6、6の
図示を省略しているが、もちろん図1と同様に、プロー
ブピン6、6が接続される。1 to 5 are specific process diagrams showing a laser trimming process of a chip resistor according to the present invention. The laser trimming process of the chip resistor performs a resistance correction of a large number of chip resistor elements 1 and 1a printed and formed on the ceramic substrate 4 through the break separating line 3 by a laser trimming device. The two chip resistor elements 1 and 1a adjacent to each other via the break separation line 3 are set as one set, and each chip resistor element 1
A probe pin 6 is connected to a pair of electrodes 5
6 and a set of two chip resistor elements 1, 1a
Is characterized in that laser irradiation is started from the break separation line 3 as a starting point. 2 to 4, the probe pins 6, 6 are not shown, but the probe pins 6, 6 are connected as in FIG.
【0010】まず、図2で示すように、2個一対のチッ
プ抵抗素子1、1aを1組とし、左側のチップ抵抗素子
1のレーザトリミングを実行する。レーザトリミング装
置を使用し、抵抗値測定用プローブピン6、6を両電極
5、5に取付ける。そして、ブレーク用切離し線3から
レーザの照射を始め、開始点であるブレーク用切離し線
3から離れる方向へ照射を移動し、一定距離まで照射を
進めて抵抗体7の一部を削除する((削除された部分
a)。この後、図3で示すように、レーザの照射方向を
変え(下方向の直角方向へ変え)、抵抗値の補正が終了
するまで移動し、補正終了と共に、レーザの照射を停止
する(レーザにより抵抗体7の削除された部分b)。そ
して、再びブレーク用切離し線3まで戻る。更に、この
ブレーク用切離し線3を開始点(照射重複点)として、
右側のチップ抵抗素子1aのレーザトリミングを実行す
る。図4で示すように、ブレーク用切離し線3から再び
レーザ照射を始め、ブレーク用切離し線3から離れる方
向(素子1と反対方向)へ照射を移動し、一定距離まで
照射を進めて抵抗体7の一部を削除する(削除された部
分c)。この後、図1で示すように、照射方向を変え
(下方向の直角方向へ変え)、抵抗値の補正が終了する
まで移動し、補正終了と共に、レーザの照射を停止する
(レーザにより抵抗体7の削除された部分d)。この
後、図5で示すように、隣りの2個一対のチップ抵抗素
子2、2a間に介在するブレーク用切離し線3に移動
し、同様のレーザトリミング処理を実行する。First, as shown in FIG. 2, a pair of two chip resistor elements 1 and 1a is set as one set, and laser trimming of the left chip resistor element 1 is executed. Using a laser trimming device, probe pins 6 for resistance value measurement are attached to both electrodes 5. Then, laser irradiation is started from the break separating line 3, the irradiation is moved in a direction away from the break separating line 3, which is the starting point, the irradiation is advanced to a certain distance, and a part of the resistor 7 is deleted (( Then, as shown in Fig. 3, the irradiation direction of the laser is changed (changed in the downward perpendicular direction), and the laser beam is moved until the correction of the resistance value is completed. The irradiation is stopped (the part b where the resistor 7 has been deleted by the laser), and the process returns to the break separating line 3. Further, the break separating line 3 is set as a start point (irradiation overlapping point).
The laser trimming of the right chip resistance element 1a is performed. As shown in FIG. 4, the laser irradiation is started again from the break separating line 3, the irradiation is moved in a direction away from the break separating line 3 (in the direction opposite to the element 1), and the irradiation is advanced to a certain distance to make the resistor 7. Is deleted (deleted part c). After that, as shown in FIG. 1, the irradiation direction is changed (changed in the downward perpendicular direction), the movement is performed until the correction of the resistance value is completed, and the laser irradiation is stopped when the correction is completed. 7 deleted part d). Thereafter, as shown in FIG. 5, the laser beam is moved to a break separating line 3 interposed between a pair of adjacent chip resistor elements 2 and 2a, and the same laser trimming processing is executed.
【0011】かくして、2素子を1組としてレーザトリ
ミングを繰り返すから、トリミング処理が簡単迅速に実
行できる。また、ブレーク用切離し線を開始点とするか
ら、レーザ照射位置合わせが簡単で正確であり、抵抗印
刷のズレによる中切れ、両切れを解消できる。Thus, since the laser trimming is repeated with two elements as one set, the trimming process can be executed easily and quickly. In addition, since the break separation line is used as the starting point, the alignment of the laser irradiation position is simple and accurate, and it is possible to eliminate the middle cut and both cuts due to the displacement of the resistance printing.
【0012】[0012]
【発明の効果】この発明では、以上のように、ブレーク
用の切離し線を挟んで隣合う2つのチップ抵抗素子を1
組とし、この1組の2つのチップ抵抗素子における抵抗
体のレーザトリミング処理を、それぞれ前記ブレーク用
の切離し線を始点にレーザ照射をスタートさせることに
より行うこととしたから、次の効果が得られる。 (1)ブレーク用の切離し線を開始点とすることで、レ
ーザ照射位置合せが簡単で正確であり、抵抗印刷のズレ
による中切れ、両切れを解消できる。 (2)2素子を1組としてレーザトリミングを繰り返す
ことで、トリミング処理が簡単迅速に実行できる。According to the present invention, as described above, two chip resistor elements adjacent to each other with a break separating line interposed therebetween are connected by one.
As a set, the laser trimming processing of the resistors in the pair of two chip resistor elements is performed by starting the laser irradiation from the break separation line as a starting point, respectively. Therefore, the following effects are obtained. . (1) By setting the break separation line as the start point, the laser irradiation position can be easily and accurately adjusted, and the middle cut and both cuts due to the deviation of the resistance printing can be eliminated. (2) By repeating laser trimming with two elements as one set, the trimming process can be performed easily and quickly.
【図1】実施例チップ抵抗器のレーザトリミング処理の
第4工程を示す工程図である。FIG. 1 is a process chart showing a fourth step of laser trimming processing of an example chip resistor.
【図2】実施例チップ抵抗器のレーザトリミング処理の
第1工程を示す工程図である。FIG. 2 is a process chart showing a first step of a laser trimming process of the chip resistor of the embodiment.
【図3】実施例チップ抵抗器のレーザトリミング処理の
第2工程を示す工程図である。FIG. 3 is a process diagram showing a second process of the laser trimming process of the chip resistor according to the embodiment.
【図4】実施例チップ抵抗器のレーザトリミング処理の
第3工程を示す工程図である。FIG. 4 is a process diagram showing a third process of the laser trimming process of the chip resistor in the example.
【図5】実施例チップ抵抗器のレーザトリミング処理の
具体例を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a specific example of a laser trimming process of the chip resistor according to the embodiment.
【図6】従来のチップ抵抗器のレーザトリミング処理を
示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram showing laser trimming processing of a conventional chip resistor.
1 チップ抵抗素子 1a チップ抵抗素子 3 ブレーク用切離し線 4 セラミック基板 5 電極 7 抵抗体 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Chip resistance element 1a Chip resistance element 3 Break-off line 4 Ceramic substrate 5 Electrode 7 Resistor
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01C 17/242 H01C 7/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) H01C 17/242 H01C 7/00
Claims (1)
レーク用の切離し線を形成し、このブレーク用の切離し
線に囲まれた基板面内に、それぞれ2つの電極と両電極
に跨がる抵抗体とを形成した多数個のチップ抵抗素子の
抵抗体に、レーザトリミング装置によりレーザを照射し
て抵抗値補正を行うチップ抵抗器のレーザトリミング方
法において、前記チップ抵抗素子の両電極の延伸方向に沿う方向のブ
レーク用の切離し線を挟んで 隣合う2つのチップ抵抗素
子を1組とし、この1組の2つのチップ抵抗素子におけ
る抵抗体のレーザトリミング処理を、それぞれ前記両電
極の延伸方向に沿う方向のブレーク用の切離し線を始点
にレーザ照射をスタートさせることにより行うことを特
徴とするチップ抵抗器のレーザトリミング方法。1. A ceramic substrate having grids arranged vertically and horizontally in a grid pattern.
A break line is formed for the rake and the break line
Two electrodes and two electrodes respectively on the substrate surface surrounded by the lines
A large number to form a straddling resistor chips resistive element
Laser is irradiated to the resistor by laser trimming device.
In the laser trimming method of the chip resistor to perform a resistance value correction Te, the direction of the probe along the direction of extension of the electrodes of the chip resistor element
Two chip resistors elements adjacent across the separation line for Lake and one set, put in the set of two chips resistive element
That the laser trimming of the resistor, each of the two conductive
A laser trimming method for a chip resistor, which is performed by starting laser irradiation from a break separation line in a direction along a pole extending direction as a starting point.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3090664A JP2880819B2 (en) | 1991-04-22 | 1991-04-22 | Laser trimming method for chip resistor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3090664A JP2880819B2 (en) | 1991-04-22 | 1991-04-22 | Laser trimming method for chip resistor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04322404A JPH04322404A (en) | 1992-11-12 |
| JP2880819B2 true JP2880819B2 (en) | 1999-04-12 |
Family
ID=14004808
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3090664A Expired - Fee Related JP2880819B2 (en) | 1991-04-22 | 1991-04-22 | Laser trimming method for chip resistor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2880819B2 (en) |
-
1991
- 1991-04-22 JP JP3090664A patent/JP2880819B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04322404A (en) | 1992-11-12 |
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