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JP2883935B2 - Tandem mass spectrometer - Google Patents
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JP2883935B2 - Tandem mass spectrometer - Google Patents

Tandem mass spectrometer

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JP2883935B2
JP2883935B2 JP1291594A JP29159489A JP2883935B2 JP 2883935 B2 JP2883935 B2 JP 2883935B2 JP 1291594 A JP1291594 A JP 1291594A JP 29159489 A JP29159489 A JP 29159489A JP 2883935 B2 JP2883935 B2 JP 2883935B2
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ion
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magnetic field
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、タンデム型質量分析計に係り、特に、第1
段の質量分析計と第2段の質量分析計との質量数決定精
度を調整するのに好適な加速電圧印加手段に関するもの
である。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a tandem mass spectrometer, and in particular, to a first tandem mass spectrometer.
The present invention relates to an acceleration voltage applying means suitable for adjusting the mass number determination accuracy of a mass spectrometer of a second stage and a mass spectrometer of a second stage.

[従来の技術] タンデム型質量分析計は、高分子の化学構造解析等に
有力な情報を提供する。その特徴は、第1段の質量分析
計で特定の親イオンのみを選択するので、試料の単離が
不要になることと、第2質量分析計で分析する解離娘イ
オンに別の親イオンからの解離イオンが混在しないこと
である。
[Related Art] A tandem mass spectrometer provides powerful information for analyzing a chemical structure of a polymer. The feature is that only the specific parent ion is selected in the first stage mass spectrometer, so that sample isolation is not required, and the dissociated daughter ion analyzed in the second mass spectrometer is separated from another parent ion. Is not mixed.

従来のタンデム型質量分析計では、2台の質量分析計
を連結している。高分解能かつ高質量範囲の分析には、
2台の質量分析計はイオンビームの方向収束とエネルギ
ー収束とを備えた二重収束質量分析計を用いる場合が多
い。
In a conventional tandem mass spectrometer, two mass spectrometers are connected. For high resolution and high mass range analysis,
As the two mass spectrometers, a double focusing mass spectrometer provided with ion beam direction focusing and energy focusing is often used.

その一例を第5図に示す。第1質量分析計は、第1イ
オン源1と、このイオン源から発射された親イオン2を
収束させる第1電場3および第1磁場4と、連結部5内
の第1質量分析計検知器5Aとからなる。検知された親イ
オン2は、連結部5内の衝突室5Bでフリウムガスなどの
衝突により解離され、娘イオン17となる。この娘イオン
17を分析する第2質量分析計は、娘イオン17を収束させ
る第2電場6および第2磁場7と、第2質量分析計検知
器8とからなる。連結部5は、第2質量分析計のみの分
解能,感度,質量数決定等の性能調整に用いる第2イオ
ン源5Cを含んでいる。
One example is shown in FIG. The first mass spectrometer includes a first ion source 1, a first electric field 3 and a first magnetic field 4 for converging a parent ion 2 emitted from the ion source, and a first mass spectrometer detector in the connection unit 5. 5A. The detected parent ion 2 is dissociated in the collision chamber 5B in the connecting portion 5 by collision with a gas such as fluium, and becomes a daughter ion 17. This daughter ion
The second mass spectrometer for analyzing 17 comprises a second electric field 6 and a second magnetic field 7 for converging daughter ions 17, and a second mass spectrometer detector 8. The connection section 5 includes a second ion source 5C used for performance adjustment of only the second mass spectrometer such as resolution, sensitivity, and mass number determination.

各部分の電源として、第1質量分析計は、第1イオン
源用加速電源9と、第1電場電源10と、第1磁場電源11
とを備え、第2質量分析計は、第2イオン源用加速電源
13と、第2電場電源14と、第2磁場電源15とを備えてい
る。また、それらの電源を制御したり、上記それぞれの
検知器からの信号を受信しデータを収集したりするため
の第1質量分析計制御部12と、第2質量分析計制御部16
とを備えている。
As a power source for each part, the first mass spectrometer includes a first ion source accelerating power source 9, a first electric field power source 10, and a first magnetic field power source 11
Wherein the second mass spectrometer comprises an acceleration power supply for the second ion source.
13, a second electric field power supply 14, and a second magnetic field power supply 15. Also, a first mass spectrometer control unit 12 and a second mass spectrometer control unit 16 for controlling these power supplies and receiving signals from the respective detectors and collecting data.
And

この種のタンデム型質量分析計においては、同じ標準
サンプルを用いて第1質量分析計と第2質量分析計とを
校正することから、親イオンと娘イオンとの質量数決定
精度を合せるには、まず、第1加速電圧と第2加速電圧
とを完全に一致させるように調整する必要があるが、高
電圧であるので、現実には一致させることが困難であ
る。
In this type of tandem mass spectrometer, since the first mass spectrometer and the second mass spectrometer are calibrated using the same standard sample, it is necessary to match the mass number determination accuracy of the parent ion and the daughter ion. First, it is necessary to adjust the first acceleration voltage and the second acceleration voltage so that they completely match each other. However, since the voltage is high, it is actually difficult to make them match.

[発明が解決しようとする課題] タンデム型質量分析計として使用する場合は、第1質
量分析計で特定の親イオン2を連結部5内の検知器5Aで
検出したあと、電場3と磁場4とを固定して、親イオン
2を連結部5内のガス衝突室5Bに導く。ここで、ガス衝
突を起こして解離した娘イオン17は、解離によってエネ
ルギーと質量とが異なるため、質量分析法で通常B/Eリ
ンクドスキャン測定法といわれる方法で質量分析され
る。この方法では、第2電場6のEと第2磁場7のBと
の比B/Eを一定に保ちつつリンクド走査することによ
り、特定の親イオンから解離した娘イオンのみの質量決
定が可能となる。したがって、それぞれの電場と磁場と
は、独立の電源と制御部とを持つ必要があると考えられ
ていた。
[Problem to be Solved by the Invention] When used as a tandem mass spectrometer, after the specific parent ion 2 is detected by the detector 5A in the connecting portion 5 by the first mass spectrometer, the electric field 3 and the magnetic field 4 Is fixed, and the parent ion 2 is guided to the gas collision chamber 5B in the connection portion 5. Here, the daughter ions 17 dissociated due to the gas collision have different energies and masses due to the dissociation. Therefore, the daughter ions 17 are subjected to mass analysis by a method generally called a B / E linked scan measurement method in the mass spectrometry. In this method, it is possible to determine the mass of only daughter ions dissociated from a specific parent ion by performing linked scanning while keeping the ratio B / E of E of the second electric field 6 and B of the second magnetic field 7 constant. Become. Therefore, it was thought that each electric field and magnetic field needed to have an independent power supply and control unit.

ところが、連結部5にある第2イオン源と第2イオン
源用加速電源13とは、第2質量分析計の調整時にのみ使
用され、通常のタンデム質量分析計として親イオンの解
離に伴う娘イオンの質量を分析する時には用いられな
い。したがって、これを省略できれば、全体としての製
造コストが下げられる可能性がある。
However, the second ion source and the second ion source accelerating power supply 13 in the connecting portion 5 are used only when the second mass spectrometer is adjusted, and are used as a normal tandem mass spectrometer as a daughter ion accompanying the dissociation of the parent ion. Is not used when analyzing the mass of Therefore, if this can be omitted, the overall manufacturing cost may be reduced.

ただし、第2磁場を一定に保ちつつ娘イオン加速電圧
と第2電場とを走査し、スペクトル形状を見ながら調整
するような場合は、制御系は同じでなければならない。
However, in the case where the daughter ion acceleration voltage and the second electric field are scanned while keeping the second magnetic field constant, and the adjustment is performed while observing the spectrum shape, the control system must be the same.

本発明の第1の目的は、第2イオン源用加速電源13と
その制御部とを設けないで合理化したタンデム型質量分
析計を提供することである。
A first object of the present invention is to provide a tandem mass spectrometer that is streamlined without providing the second ion source acceleration power supply 13 and its control unit.

本発明の第2の目的は、第2磁場を一定に保ち、娘イ
オン加速電圧と第2電場とを走査し、スペクトル形状を
見ながら性能を調整する場合に、第1制御部をこれらの
調整に兼用可能なタンデム型質量分析計を提供すること
である。
A second object of the present invention is to maintain the second magnetic field constant, scan the daughter ion accelerating voltage and the second electric field, and adjust the performance while watching the spectrum shape. It is an object of the present invention to provide a tandem mass spectrometer which can also be used for a mass spectrometer.

[課題を解決するための手段] 本発明は、上記第1目的を達成するために、試料をイ
オン化し加速電源により加速する第1イオン源と、前記
イオンから特定の親イオンを分離する第1質量分析計
と、親イオンを解離させるガス衝突室と、解離した娘イ
オンを質量分析する第2質量分析計とからなり、ガス衝
突室に第2質量分析計の性能調整用第2イオン源を備え
たタンデム型質量分析計において、第2質量分析計の性
能調整時に、第1イオン源用加速電源の出力を第2イオ
ン源に印加する切換手段を設けたタンデム型質量分析計
を提案するものである。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the first object, the present invention provides a first ion source for ionizing a sample and accelerating it by an accelerating power supply, and a first ion source for separating a specific parent ion from the ions. A mass spectrometer, a gas collision chamber for dissociating parent ions, and a second mass spectrometer for mass analyzing the dissociated daughter ions, wherein the gas collision chamber is provided with a second ion source for adjusting the performance of the second mass spectrometer. A tandem mass spectrometer provided with a switching means for applying an output of an acceleration power supply for a first ion source to a second ion source when the performance of the second mass spectrometer is adjusted. It is.

前記切換手段は、具体的には、内周に所定の絶縁縁面
距離を有する絶縁筒と、この絶縁筒内に配置され外周お
よびコリゲート凹部に所定の絶縁縁面距離を有する絶縁
回動体と、その内周および外周にそれぞれ形成された接
点とからなる回動スイッチであり、例えば、回動ノブを
180度回すと、第1イオン源と第2イオン源とのいずれ
かにイオン加速電圧を印加する。
The switching means, specifically, an insulating cylinder having a predetermined insulating edge surface distance on the inner periphery, an insulating rotating body disposed in the insulating tube and having a predetermined insulating edge surface distance on the outer periphery and the corrugated recess, It is a rotary switch consisting of contacts formed on the inner and outer circumferences, for example, a rotary knob
When turned 180 degrees, an ion acceleration voltage is applied to either the first ion source or the second ion source.

本発明は、また、上記第2目的を達成するために、試
料をイオン化し加速電源により加速する第1イオン源
と、第1電場および第1磁場により前記イオンから特定
の親イオンを分離する第1質量分析計と、親イオンを解
離させるガス衝突室と、解離した娘イオンを第2電場お
よび第2磁場により質量分析する第2質量分析計とから
なり、ガス衝突室に第2質量分析計の性能調整用第2イ
オン源を備え、第2磁場を一定に保ちつつ前記娘イオン
加速電圧と第2磁場とを走査し、スペクトル形状により
性能を調整するタンデム型質量分析計において、第2質
量分析計の性能調整時に、第1イオン源用加速電源の出
力を第2イオン源に印加する切換手段と、第2電場電源
および第2磁場電源の制御端子並びに第2質量分析計の
出力を第2質量分析計制御部から前記性能調整機能を有
する第1質量分析計制御部に切換接続する手段とを設け
たタンデム型質量分析計を提案するものである。
In order to achieve the second object, the present invention also provides a first ion source for ionizing a sample and accelerating the sample by an accelerating power source, and a first ion source for separating a specific parent ion from the ions by a first electric field and a first magnetic field. 1) a mass spectrometer, a gas collision chamber for dissociating parent ions, and a second mass spectrometer for mass analyzing the dissociated daughter ions by a second electric field and a second magnetic field. A tandem-type mass spectrometer that includes a second ion source for adjusting the performance of the above, scans the daughter ion acceleration voltage and the second magnetic field while keeping the second magnetic field constant, and adjusts the performance according to the spectrum shape. Switching means for applying the output of the first ion source accelerating power supply to the second ion source when adjusting the performance of the analyzer; and controlling the control terminals of the second electric field power supply and the second magnetic field power supply and the output of the second mass spectrometer. 2 mass spectrometer It proposes a tandem mass spectrometer provided with a means for switching the connection from the control unit to the first mass analyzer controller having the capability adjustment function.

[作用] 本発明においては、第2質量分析計の性能調整時に、
第1イオン源用加速電源の出力を第2イオン源に印加す
る回動スイッチを設けたので、第2イオン源用加速電源
が不要となり、スペースの点でもコスト的にも有利であ
る。
[Operation] In the present invention, when the performance of the second mass spectrometer is adjusted,
Since the rotary switch for applying the output of the acceleration power source for the first ion source to the second ion source is provided, the acceleration power source for the second ion source becomes unnecessary, which is advantageous in terms of space and cost.

また、内周に所定の絶縁縁面距離を有する絶縁筒と、
この絶縁筒内に配置され外周およびコリゲート凹部に所
定の絶縁縁面距離を有する絶縁回動体とは、高電圧切換
機構として絶縁耐圧が充分であり、回動機構にも信頼性
がある。コストは、イオン源用加速電源の1/10程度で済
む。
Further, an insulating cylinder having a predetermined insulating edge surface distance on the inner periphery,
The insulating rotating body which is disposed in the insulating cylinder and has a predetermined insulating edge surface distance between the outer periphery and the corrugated recess has a sufficient withstand voltage as a high-voltage switching mechanism, and the rotating mechanism has reliability. The cost is about 1/10 of the acceleration power supply for the ion source.

さらに、同一の加速電源と制御系で第2質量分析計の
質量数決定精度を校正でき、タンデム型質量分析計とし
ての精度が上がる。
Further, the accuracy of determining the mass number of the second mass spectrometer can be calibrated with the same acceleration power supply and control system, and the accuracy as a tandem mass spectrometer is improved.

[実施例] 第1図は本発明によるイオン電源用加速電源の切換手
段を設けたタンデム型質量分析計の一実施例の系統構成
を示す図である。第5図の従来例と同じ機能を果たす部
分には、同一の符号を付けて説明を省略する。
Embodiment FIG. 1 is a diagram showing a system configuration of an embodiment of a tandem mass spectrometer provided with a switching means of an acceleration power supply for an ion power supply according to the present invention. Portions performing the same functions as those of the conventional example in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

本実施例が、第5図の従来例と異なる点は、第1イオ
ン源用加速電源9の出力側に切換手段18を追加し、従来
あった第2イオン源用加速電源13を廃止したことであ
る。
This embodiment differs from the conventional example in FIG. 5 in that a switching means 18 is added to the output side of the first ion source acceleration power supply 9 and the conventional second ion source acceleration power supply 13 is eliminated. It is.

タンデム質量分析計として使用する場合は、この切換
手段18をAの方に設定し、第2質量分析計のみを性能調
整するには、Bの方に設定する。
When used as a tandem mass spectrometer, the switching means 18 is set to A, and to adjust the performance of only the second mass spectrometer, it is set to B.

この図では、切換手段を模式的に簡略化して示した
が、実際のイオン源用加速電源の出力は、フィラメント
電源端子2本,チェンバ端子,リペラ端子2本,レンズ
端子2本等、7本以上必要である。しかも、加速電圧
は、20kV以上の電圧が印加されることもあるので、通常
市販されている切換スイッチは、放電することもあり、
使用に耐えない。
In this figure, the switching means is schematically simplified, but the actual output of the ion source accelerating power supply is seven filament power terminals, two chamber terminals, two repeller terminals, two lens terminals, etc. It is necessary. Moreover, since the acceleration voltage may be applied to a voltage of 20 kV or more, a changeover switch that is normally commercially available may discharge.
Does not stand use.

これら多数の端子を同時に切換可能で、しかもコリゲ
ート絶縁回動体を用いた高耐電圧の回動スイッチ一例の
具体的構造を示す第2図および第3図に示す。第2図は
側断面図、第3図(A)はそのIII−III線に沿った断面
図、第3図(B)は回動ノブの一例を示す図である。絶
縁筒31と絶縁回動体32とは、セラミックスか有機フッ素
樹脂で作られ、上部と下部に加速電源の出力コード数に
対応した出力端子C33,切換端子A34,切換端子B35,アース
端子36がそれぞれ180度の角度おきに取付けられてい
る。第2図に示したように、出力端子A34は、第1イオ
ン源に第1イオン源コード38で接続され、出力端子B35
は第2イオン源コード39で第2イオン源に接続されてい
る。
FIGS. 2 and 3 show the specific structure of an example of a high withstand voltage rotary switch that can switch these many terminals simultaneously and that uses a corrugated insulating rotary member. FIG. 2 is a side sectional view, FIG. 3 (A) is a sectional view along the line III-III, and FIG. 3 (B) is a view showing an example of a rotary knob. The insulating cylinder 31 and the insulating rotating body 32 are made of ceramics or an organic fluororesin, and an output terminal C33, a switching terminal A34, a switching terminal B35, and a ground terminal 36 corresponding to the number of output codes of the accelerating power source are provided at upper and lower portions, respectively. Installed every 180 degrees. As shown in FIG. 2, the output terminal A34 is connected to the first ion source with the first ion source cord 38, and the output terminal B35
Is connected to the second ion source by a second ion source code 39.

この切換機構は、上部と下部で、最大のイオン源加速
電圧が印加されるので、絶縁筒31の内径円周と絶縁回動
体の外周縁面距離とを充分にとる必要がある。例えば、
最大加速電圧が20kVの場合は、20cmの縁面距離が必要な
ので、絶縁筒の内径Rは、πR=20cmから、R=6.4cm
になる。また、絶縁回動体32の外周は、20cmの沿面距離
を得るために、第3図(A)に示すように、中心に向か
ってくぼんだのコリゲートが必要である。
In this switching mechanism, since the maximum ion source acceleration voltage is applied to the upper and lower parts, it is necessary to keep a sufficient distance between the inner circumference of the insulating cylinder 31 and the outer peripheral surface of the insulating rotating body. For example,
When the maximum accelerating voltage is 20 kV, an edge distance of 20 cm is required. Therefore, the inner diameter R of the insulating cylinder is from πR = 20 cm to R = 6.4 cm.
become. In order to obtain a creepage distance of 20 cm, the outer periphery of the insulating rotating body 32 needs a corrugated concave toward the center as shown in FIG. 3 (A).

本切換機構の操作を第3図(B)の回動ノブ42の表示
で説明する。図の状態では、第1イオン源IS1に加速電
圧が印加される。通常のタンデム質量分析計による測定
は、このモードで行われる。第2質量分析計のみを調整
したい場合は、回動ノブ42を時計方向に180度回して、
加速ONを示す位置にIS2をセットすれば、IS1がアースと
なり、IS2に加速電圧が印加される。
The operation of the switching mechanism will be described with reference to the display of the rotation knob 42 in FIG. 3 (B). In the state shown in the figure, an acceleration voltage is applied to the first ion source IS1. Measurements with a conventional tandem mass spectrometer are performed in this mode. If you want to adjust only the second mass spectrometer, turn the rotary knob 42 clockwise 180 degrees
If IS2 is set to a position indicating acceleration ON, IS1 is grounded and acceleration voltage is applied to IS2.

なお、第2図から明らかなように、出力電圧コード3
7,第1イオン源用コード38,第2イオン源用コード39等
の多数のコードが絶縁回動体32に内蔵されているので、
ノブ42は回転ではなく往復回動するようにすべきであ
る。
As apparent from FIG. 2, the output voltage code 3
7, Since a large number of codes such as the first ion source code 38 and the second ion source code 39 are built in the insulating rotating body 32,
Knob 42 should reciprocate rather than rotate.

第1図実施例では、第2質量分析計の性能調整をする
場合、第2イオン源に第1イオン源の加速電源9の出力
を切換接続し、第1制御部12で制御する場合について述
べた。具体的な調整では、第2磁場電源15を第2制御部
16からの信号で走査し、質量スペクトルの分解能,強
度,質量数表示精度等を調整できる。
In the embodiment of FIG. 1, the case where the performance of the second mass spectrometer is adjusted and the output of the acceleration power source 9 of the first ion source is switched and connected to the second ion source and controlled by the first control unit 12 will be described. Was. In a specific adjustment, the second magnetic field power supply 15 is connected to the second control unit.
Scanning with signals from 16 can adjust the resolution, intensity, mass number display accuracy, etc. of the mass spectrum.

一方、性能調整は、磁場を一定に保ち、イオン加速電
圧と電場とを走査して、スペクトル形状を見ながら、行
う場合がある。この場合は、第1図の方式では、イオン
加速電圧と第2電場とは別々の制御系に接続されている
ので、性能調整を実行できない。
On the other hand, the performance adjustment may be performed while keeping the magnetic field constant, scanning the ion acceleration voltage and the electric field, and observing the spectrum shape. In this case, in the method of FIG. 1, since the ion acceleration voltage and the second electric field are connected to different control systems, performance adjustment cannot be performed.

このような加速走査の場合は、第4図に示すように、
第1制御部12の電場制御信号と磁場制御信号とを第2電
場電源14と第2磁場電源15に切換る機構と、第2検知器
8の出力信号の入力先を第2制御部16から第1制御部12
に切換る機構とが必要である。
In the case of such accelerated scanning, as shown in FIG.
A mechanism for switching the electric field control signal and the magnetic field control signal of the first control unit 12 to the second electric field power supply 14 and the second magnetic field power supply 15, and the input destination of the output signal of the second detector 8 from the second control unit 16 First control unit 12
And a switching mechanism.

これらの切換機構は図示すると、一見複雑に見える
が、加速電圧の出力切換とは異なり、数10Vの低電圧を
切換るので、ノイズ対策さえ施せば、市販の3段ロータ
リースイッチで連動させて、図のAからBへの切換が一
度にできる。
Although these switching mechanisms seem complicated at first glance, unlike the output switching of the acceleration voltage, they switch low voltages of several tens of volts, so if noise countermeasures are taken, they are linked with a commercially available three-stage rotary switch, Switching from A to B in the figure can be performed at once.

[発明の効果] 本発明の切換機構を備えたタンデム型質量分析計に
は、以下のような利点がある。
[Effects of the Invention] The tandem mass spectrometer provided with the switching mechanism of the present invention has the following advantages.

a.イオン源加速電源が1台で済む。この点でコストを約
10%削減できる。
a. Only one ion source acceleration power supply is required. In this regard the cost is about
10% reduction.

b.高電圧切換手段は、絶縁耐圧が充分あり、回転機構に
も信頼性があるので、コストは多く見積もっても加速電
源の10%程度しか必要としない。
b. Since the high voltage switching means has a sufficient withstand voltage and a reliable rotating mechanism, the cost requires only about 10% of the accelerating power supply even if the cost is estimated to be large.

c.第1質量分析計と同一の加速電源と制御系で第2質量
分析計の質量数決定精度を校正できるから、タンデム型
質量分析計としての精度が向上する。
c. The accuracy of determining the mass number of the second mass spectrometer can be calibrated with the same acceleration power supply and control system as the first mass spectrometer, thereby improving the accuracy as a tandem mass spectrometer.

d.第2イオン源加速電源ラックがコンパクトな切換機構
に置き換えられる。したがって、装置の占有面積と荷重
とを10%程度削減できる。
d. The second ion source acceleration power supply rack is replaced with a compact switching mechanism. Therefore, the area occupied by the device and the load can be reduced by about 10%.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明によるイオン電源用加速電源の切換手段
を設けたタンデム型質量分析計の一実施例の系統構成を
示す図、第2図および第3図はコリゲート絶縁回動体を
用いた切換手段の一例の具体的構造を示す図、第4図は
第1質量分析計制御部を第2質量分析計の性能調整に兼
用する実施例の系統構成を示す図、第5図は従来のタン
デム型質量分析計の系統構成を示す図である。 1…第1イオン源、2…親イオン、3…第1電場、4…
第1磁場、5…連結部、5A…第1質量分析計検知器、5B
…ガス衝突室、5C…第2イオン源、6…第2電場、7…
第2磁場、8…第2質量分析計検知器、9…第1イオン
源用加速電源、10…第1電場電源、11…第1磁場電源、
12…第1質量分析計制御部、13…第2イオン源用加速電
源、14…第2電場電源、15…第2磁場電源、16…第2質
量分析計制御部、17…娘イオン、18…イオン電源用加速
電源の切換手段、19…電場電源切換手段、20…磁場電源
切換手段、21…第2質量分析計検知器の出力先切換手
段、31…絶縁筒、32…絶縁回動体、33…出力端子C、34
…切換端子A、35…切換端子B、36…アース端子、37…
出力電圧コード、38…第1イオン源用コード、39…第2
イオン源用コード、40…アース板、41…シャーシ板、42
…回動ノブ。
FIG. 1 is a diagram showing a system configuration of an embodiment of a tandem mass spectrometer provided with a switching means for an acceleration power source for an ion power source according to the present invention, and FIGS. 2 and 3 show switching using a corrigate insulating rotating body. FIG. 4 is a diagram showing a specific structure of an example of the means, FIG. 4 is a diagram showing a system configuration of an embodiment in which the first mass spectrometer control unit is also used for adjusting the performance of the second mass spectrometer, and FIG. 5 is a conventional tandem FIG. 1 is a diagram showing a system configuration of a mass spectrometer. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... 1st ion source, 2 ... Parent ion, 3 ... 1st electric field, 4 ...
1st magnetic field, 5 ... connection part, 5A ... 1st mass spectrometer detector, 5B
... gas collision chamber, 5C ... second ion source, 6 ... second electric field, 7 ...
Second magnetic field, 8: second mass spectrometer detector, 9: acceleration power supply for first ion source, 10: first electric field power supply, 11: first magnetic field power supply,
12: first mass spectrometer control unit, 13: acceleration power supply for second ion source, 14: second electric field power supply, 15: second magnetic field power supply, 16: second mass spectrometer control unit, 17: daughter ion, 18 ... Switching means for accelerating power supply for ion power supply, 19 ... Electric field power supply switching means, 20 ... Magnetic field power supply switching means, 21 ... Output destination switching means for second mass spectrometer detector, 31 ... Insulated cylinder, 32 ... Insulated rotating body, 33 ... output terminal C, 34
... Switching terminals A, 35 ... Switching terminals B, 36 ... Grounding terminals, 37 ...
Output voltage code, 38: code for the first ion source, 39: second
Cord for ion source, 40… Ground plate, 41… Chassis plate, 42
... Rotating knob.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01J 49/00 - 49/48 H01J 27/00 - 27/26 H01H 19/00 - 21/88 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) H01J 49/00-49/48 H01J 27/00-27/26 H01H 19/00-21/88

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】試料をイオン化し加速電源により加速する
第1イオン源と、前記イオンから特定の親イオンを分離
する第1質量分析計と、親イオンを解離させるガス衝突
室と、解離した娘イオンを質量分析する第2質量分析計
とからなり、前記ガス衝突室に前記第2質量分析計の性
能調整用第2イオン源を備えたタンデム型質量分析計に
おいて、 前記第2質量分析計の性能調整時に前記第1イオン源用
加速電源の出力を前記第2イオン源に印加する切換手段
を設けたことを特徴とするタンデム型質量分析計。
1. A first ion source for ionizing a sample and accelerating by an accelerating power supply, a first mass spectrometer for separating a specific parent ion from the ion, a gas collision chamber for dissociating the parent ion, and a dissociated daughter A tandem mass spectrometer comprising a second mass spectrometer for mass spectrometric analysis of ions, wherein the gas collision chamber includes a second ion source for adjusting the performance of the second mass spectrometer; A tandem mass spectrometer characterized by comprising switching means for applying an output of the first ion source acceleration power source to the second ion source during performance adjustment.
【請求項2】請求項1に記載のタンデム型質量分析計に
おいて、 前記切換手段が、内周に所定の絶縁縁面距離を有する絶
縁筒と、当該絶縁筒内に配置され外周およびコリゲート
凹部に所定の絶縁縁面距離を有する絶縁回動体と、前記
内周および外周にそれぞれ形成された接点とからなる回
動スイッチであることを特徴とするタンデム型質量分析
計。
2. The tandem mass spectrometer according to claim 1, wherein said switching means includes an insulating cylinder having a predetermined insulating edge distance on an inner periphery, and an outer cylinder and a corrugated recess disposed in said insulating cylinder. A tandem mass spectrometer comprising a rotary switch including an insulating rotary body having a predetermined insulating edge surface distance and contacts formed on the inner and outer circumferences.
【請求項3】試料をイオン化し加速電源により加速する
第1イオン源と、第1電場および第1磁場により前記イ
オンから特定の親イオンを分離する第1質量分析計と、
親イオンを解離させるガス衝突室と、解離した娘イオン
を第2電場および第2磁場により質量分析する第2質量
分析計とからなり、ガス衝突室に第2質量分析計の性能
調整用第2イオン源を備え、第2磁場を一定に保ちつつ
前記娘イオン加速電圧と第2電場とを走査し、スペクト
ル形状により性能を調整するタンデム型質量分析計にお
いて、第2質量分析計の性能調整時に、第1イオン源用
加速電源の出力を第2イオン源に印加する切換手段と、
第2電場電源および第2磁場電源の制御端子並びに第2
質量分析計の出力を第2質量分析計制御部から前記性能
調整機能を有する第1質量分析計制御部に切換接続する
手段とを設けたことを特徴とするタンデム型質量分析
計。
3. A first ion source for ionizing a sample and accelerating by an accelerating power supply, a first mass spectrometer for separating a specific parent ion from said ions by a first electric field and a first magnetic field,
A gas collision chamber for dissociating parent ions, and a second mass spectrometer for mass-analyzing the dissociated daughter ions by a second electric field and a second magnetic field, wherein the gas collision chamber has a second mass spectrometer for adjusting the performance of the second mass spectrometer. A tandem mass spectrometer comprising an ion source, scanning the daughter ion accelerating voltage and the second electric field while keeping the second magnetic field constant, and adjusting the performance according to the spectrum shape; Switching means for applying the output of the first ion source acceleration power source to the second ion source;
Control terminals for the second electric field power supply and the second magnetic field power supply;
Means for switching and connecting the output of the mass spectrometer from the second mass spectrometer controller to the first mass spectrometer controller having the performance adjusting function.
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