JP2897291B2 - Image pattern recognition method - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、産業用自動機械において作業対象物の位置
検出等に適用できる画像パターン認識方法に関するもの
である。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image pattern recognition method applicable to position detection of a work object in an industrial automatic machine.
従来の技術 最近、産業用自動機械ではより精密を作業を実現する
ために作業対象物の位置を実時間で計測補正する機能が
必要とされており、その一方法として自動機械に装備し
たテレビカメラ等の撮像装置より作業対象物の撮像し、
得られた画像より予め作業対象物上に設定した認識対象
の画像パターンを抽出し、その位置情報を基に作業対象
物の位置ずれを計測する画像パターン認識技術が利用さ
れる傾向にある。2. Description of the Related Art In recent years, industrial automatic machines have been required to have a function of measuring and correcting the position of a work object in real time in order to achieve more precise work. Imaging of the work target from an imaging device such as
There is a tendency to use an image pattern recognition technique of extracting an image pattern of a recognition target set in advance on a work target from an obtained image and measuring a displacement of the work target based on the position information.
従来、この種の画像パターン認識技術としては入力画
像として2値画像を用いる方法および濃淡画像を用いる
方法が一般に提案されている。Conventionally, as this type of image pattern recognition technology, a method using a binary image as an input image and a method using a grayscale image have been generally proposed.
2値画像を用いる方法では、一般に第6図に示す処理
手順によって認識対称を認識する。1は画像入力工程で
あって認識対象を含む適当な領域の画像を撮像装置より
入力する工程である。2は入力画像2値化工程であって
入力画像の各画素の輝度を指定した閾値を基準に高輝度
と低輝度の2値の輝度に変換し2値画像を得る工程であ
る。3は画像パターン抽出工程であって入力画像2値工
程で得た2値画像より高輝度画素群と低輝度画素群の境
界すなわちパターン輪郭線を探索し画像パターンを抽出
する工程である。4はパターン特徴量抽出工程であって
画像パターン抽出工程で抽出したパターンの輪郭線を基
にパターン面積,断面二次モーメント等のパターン特徴
量を計算する工程で、5は認識パターン同定工程であっ
て前記画像パターン抽出工程およびパターン特徴量抽出
工程で得たパターン輪郭線およびパターン特徴量と予め
与えられた認識対象の輪郭線および特徴量との相関を取
り認識対象に相当する画像パターンを同定する工程であ
る。6は認識結果出力工程で認識パターン同定工程で選
出した画像パターンの中心位置をもって認識対象の実測
位置として出力する工程である。In the method using a binary image, recognition symmetry is generally recognized by the processing procedure shown in FIG. An image input step 1 is a step of inputting an image of an appropriate area including a recognition target from an imaging device. Reference numeral 2 denotes an input image binarization step in which the luminance of each pixel of the input image is converted into high luminance and low luminance based on a specified threshold value to obtain a binary image. Reference numeral 3 denotes an image pattern extracting step in which a boundary between a high-luminance pixel group and a low-luminance pixel group, that is, a pattern contour is searched from the binary image obtained in the input image binary process to extract an image pattern. 4 is a pattern feature amount extraction step for calculating pattern feature amounts such as a pattern area and a second moment of area based on the contour of the pattern extracted in the image pattern extraction step, and 5 is a recognition pattern identification step. The correlation between the pattern contours and the pattern features obtained in the image pattern extraction step and the pattern feature quantity extraction step and the contour and the feature quantity of the recognition target given in advance is identified to identify an image pattern corresponding to the recognition target. It is a process. Reference numeral 6 denotes a recognition result output step in which the center position of the image pattern selected in the recognition pattern identification step is output as the actual measurement position of the recognition target.
濃淡画像を用いる方法では、一般に第7図に示す処理
手順によって認識対象を認識する。7は画像入力工程で
ある。8はフィルタリング工程であって第8図に示すよ
うに入力画像9の全ての画素10に対しラプラシアンフ
ィルタ等の3×3画素の2次元フィルタリング・オペレ
ーター11を作用させ画像上の輝度の変化点のみを検出し
エッジを抽出する工程である。12はセグメント化工程で
あって前記フィルタリング工程で得られた複数のエッジ
をHaugh変換などを利用して連結・線分化すなちセグメ
ント化し画像パターンの輪郭線を抽出する工程である。
以降の工程は2値画像を用いた方法と同様にパターン特
徴量抽出工程13,認識パターン同定工程14,認識結果出力
工程15となる。In the method using the grayscale image, the recognition target is generally recognized by the processing procedure shown in FIG. 7 is an image input step. Reference numeral 8 denotes a filtering step. As shown in FIG. 8, a 2 × 3 pixel two-dimensional filtering operator 11 such as a Laplacian filter is applied to all the pixels 10 of the input image 9 to change only the luminance change points on the image. This is a step of detecting an edge and extracting an edge. Reference numeral 12 denotes a segmentation step in which a plurality of edges obtained in the filtering step are connected / line-divided using Haugh transform or the like, and then segmented to extract an outline of an image pattern.
Subsequent steps are a pattern feature amount extraction step 13, a recognition pattern identification step 14, and a recognition result output step 15, similarly to the method using the binary image.
発明が解決しようとする課題 上記した従来の画像パターン認識技術の場合、2値画
像を用いた方法では処理速度の高速性は期待できるが、
入力画像上に現れる認識対象の画像パターンと背景画像
とのコントラストが低い場合、入力画像2値化工程にお
いて画像パターンと背景画像を常時良好に分離する閾値
を定めることが困難となり認識対象に相当する画像パタ
ーンを明確に抽出することが難しい。一方濃淡画像を用
いた方法では入力画像のコントラストが低い場合にも良
好な画像パターン認識が可能であるが、上記した処理手
順の詳細から分かるように入力画像の全ての画素に対す
るフィルタリング処理等を含むため高速な画像パターン
認識を実現することは難しいという問題点がある。Problems to be Solved by the Invention In the case of the above-mentioned conventional image pattern recognition technology, a method using a binary image can be expected to have high processing speed,
When the contrast between the image pattern of the recognition target appearing on the input image and the background image is low, it is difficult to set a threshold value for always separating the image pattern and the background image in the input image binarization process, and it corresponds to the recognition target. It is difficult to extract image patterns clearly. On the other hand, the method using the grayscale image can perform good image pattern recognition even when the contrast of the input image is low, but includes a filtering process for all the pixels of the input image as can be understood from the details of the processing procedure described above. Therefore, it is difficult to realize high-speed image pattern recognition.
本発明は入力画像のコントラストが低い場合にも正確
な認識が行われ、かつその処理が高速な画像パターン認
識方法の実現を目的とするものである。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to realize an image pattern recognition method in which accurate recognition is performed even when the contrast of an input image is low and the processing is fast.
課題を解決するための手段 本発明は入力画像上に指定した走査直線上の輝度情報
を抽出し、抽出された輝度情報にノイズ除去、画像強調
等の画質改善処理を施し、改善された輝度情報の変化点
よりパターンの開始点,終了点を抽出し、これら開始
点,終了点の全ての組合せを生成し認識対象に相当する
画像パターンの候補パターン群とし、さらにこれら候補
パターンのパターン幅、中心位置と予め与えられた認識
対象の幅、位置との類似度を判断基準として認識対象に
相当する画像パターンを同定し、その画像パターンの位
置を計測することによって認識対象の位置を実測するこ
とを特徴とするものである。Means for Solving the Problems The present invention extracts luminance information on a specified scanning line on an input image, and performs image quality improvement processing such as noise removal and image enhancement on the extracted luminance information. The start and end points of the pattern are extracted from the change point of, and all combinations of the start point and the end point are generated as a candidate pattern group of an image pattern corresponding to a recognition target. Identify the image pattern corresponding to the recognition target based on the similarity between the position and the given width of the recognition target and the position, and measure the position of the recognition target by measuring the position of the image pattern. It is a feature.
作用 本発明は上記した構成により高速な濃淡画像処理を可
能とし、パターン=背景画像間のコントラストが低い入
力画像に対しても正確でかつ高速な画像パターン認識方
法を実現する。Operation The present invention enables high-speed grayscale image processing by the above-described configuration, and realizes an accurate and high-speed image pattern recognition method even for an input image having low contrast between a pattern and a background image.
実 施 例 以下、本発明の一実施例として自動回路形成機におい
て作業対象物である回路基板の位置を補正する目的で回
路基板上に描かれたマーク位置を認識する例を第1図か
ら第5図を用いて説明する。実施例の目的はマークの2
次元位置を求めることであるが、以下の説明では1軸方
向の位置を求める部分のみを説明する。したがって2次
元位置を求めるには以下の処理をX座標軸およびY座標
軸に対し1度づつ行うことによって得られる。Embodiment Hereinafter, as an embodiment of the present invention, an example of recognizing a mark position drawn on a circuit board in order to correct a position of a circuit board which is a work object in an automatic circuit forming machine will be described with reference to FIGS. This will be described with reference to FIG. The purpose of the embodiment is to mark 2
In order to obtain a dimensional position, in the following description, only a part for obtaining a position in one axis direction will be described. Therefore, the two-dimensional position can be obtained by performing the following processing once for the X coordinate axis and the Y coordinate axis.
第1図において16は画像入力工程であって第5図に示
すように撮像装置であるテレビカメラ17より回路基板18
上の認識対象であるマーク19を包含する適当な領域の画
像20を入力する。ここで第2図は画像20の内容を示した
もので図中の斜線部は入力画像の高輝度領域を、21はノ
イズパターンを表す。In FIG. 1, reference numeral 16 denotes an image input step, and as shown in FIG.
An image 20 of an appropriate area including the mark 19 to be recognized is input. Here, FIG. 2 shows the contents of the image 20, wherein the hatched portion in the figure represents a high luminance area of the input image, and 21 represents a noise pattern.
22は輝度抽出工程であって画像入力工程16で得た入力
画像20上に座標軸に平行な走査直線23を指定し、その走
査直線23上の各画素の輝度24を抽出する工程である。
尚、指定する走査直線は1本である必要はなく、平行な
複数本の走査直線を指定し輝度24としてはそれぞれの走
査直線上の対応する点の輝度の平均値を与えてもよい。Reference numeral 22 denotes a luminance extraction step in which a scanning line 23 parallel to the coordinate axes is designated on the input image 20 obtained in the image input step 16, and the luminance 24 of each pixel on the scanning line 23 is extracted.
The number of designated scanning lines need not be one, but a plurality of parallel scanning lines may be designated, and the luminance 24 may be an average value of the luminance of the corresponding points on each scanning line.
25は画質改善工程であってまず前記輝度抽出工程で抽
出した輝度情報に平滑化処理を施しノイズ成分の除去を
行う。次に輝度ヒストグラム26を取りその分布状況より
強調すべき輝度帯27を定め輝度変換テーブル28を作成
し、輝度の強調を行う。一般に入力画像の輝度は背景画
像領域を表す低輝度部とパターン領域を表す高輝度部に
分布が偏る傾向があるため、強調すべき輝度帯としては
パターン=背景画像の境界領域を強調できるように輝度
分布域の中央部を採用する。Reference numeral 25 denotes an image quality improving step which first performs a smoothing process on the luminance information extracted in the luminance extracting step to remove a noise component. Next, a luminance histogram 26 is taken, a luminance band 27 to be emphasized is determined based on the distribution state, a luminance conversion table 28 is created, and luminance is emphasized. Generally, the luminance of an input image tends to be unevenly distributed between a low luminance portion representing a background image region and a high luminance portion representing a pattern region. The central part of the luminance distribution area is adopted.
29はパターン開始点,終了点抽出工程であって輝度24
の変化を一方向に走査し低輝度から高輝度への変化点を
パターン開始点、逆に高輝度から低輝度への変化点をパ
ターン終了点として抽出する。第2図bは輝度24の変化
を左から右へ走査した例で、パターン開始点としてA,C,
E,Gの4点が、またパターン終了点としてB,D,Fの3点が
抽出される。29 is a pattern start point and end point extraction process,
Is scanned in one direction, and a change point from low luminance to high luminance is extracted as a pattern start point, and a change point from high luminance to low luminance is extracted as a pattern end point. FIG. 2b is an example of scanning the change of the luminance 24 from left to right, and A, C,
Four points E and G are extracted, and three points B, D and F are extracted as pattern end points.
30は候補パターン群生成工程であって前記パターン開
始点,終了点抽出工程29の得られたパターン開始点,終
了点の全ての組合せを生成し、それらをマーク19に相当
する画像パターンの候補パターン群31とする工程であ
る。第2図の場合パターンa(A−B),パターンb
(A−D),パターンc(A−F),パターンd(C−
D),パターンe(C−F),パターンf(E−F)の
6個の候補パターンが生成される。尚、パターン開始点
Gは対応するパターン終了点を持たないので無視され
る。Reference numeral 30 denotes a candidate pattern group generation step which generates all combinations of the pattern start point and the end point obtained in the pattern start point and end point extraction step 29, and converts these combinations into image pattern candidate patterns corresponding to the mark 19. This is the step of forming the group 31. In the case of FIG. 2, pattern a (AB), pattern b
(AD), pattern c (AF), pattern d (C-
Six candidate patterns of D), pattern e (CF), and pattern f (EF) are generated. Note that the pattern start point G has no corresponding pattern end point and is ignored.
32はパターン特徴量計算工程であって前記候補パター
ン群生成工程30で得られた各々の候補パターンに対しパ
ターン幅Diおよび中心位置Piを求める工程である。Reference numeral 32 denotes a pattern feature amount calculation step in which a pattern width Di and a center position Pi are obtained for each candidate pattern obtained in the candidate pattern group generation step 30.
33は認識パターン同定工程であって候補パターンのパ
ターン幅Di,中心位置Piおよび認識対象のマーク19の幅
D,位置P、さらに評価重み係数G1,G2(共に正値)を用
い G1×|Di−D|+G2×|Pi−P| なる評価式を考え、この評価式の値を最小にする最良候
補パターンを候補パターン群31から1つ選出する。上記
した評価式はパターン幅Diがマーク19の幅Dに等しくな
るほど、またパターン中心位置Piがマーク19の位置Pに
等しくなるほどその計算値が小さくなる特性を持つ。し
たがってこの評価式の値を最小とする最良候補パターン
が認識対象のマーク19に相当する画像パターンであると
判断できる。第4図の場合最良候補パターンには候補パ
ターンeが選ばれる。33 is a recognition pattern identification process, which is a pattern width Di of the candidate pattern, a center position Pi, and a width of the mark 19 to be recognized.
D, position P, and an evaluation formula G1 × | Di−D | + G2 × | Pi−P | using the evaluation weighting factors G1 and G2 (both are positive values), and the best candidate that minimizes the value of this evaluation formula One pattern is selected from the candidate pattern group 31. The above-mentioned evaluation formula has a characteristic that the calculated value becomes smaller as the pattern width Di becomes equal to the width D of the mark 19 and the pattern center position Pi becomes equal to the position P of the mark 19. Therefore, it can be determined that the best candidate pattern that minimizes the value of this evaluation expression is an image pattern corresponding to the mark 19 to be recognized. In the case of FIG. 4, the candidate pattern e is selected as the best candidate pattern.
34は認識結果出力工程であって前記認識パターンの同
定工程33で選出した最良候補パターンの中心位置Piを認
識対象のマーク19の実測位置として出力する工程であ
る。第4図では候補パターンeの中心位置Peがマーク19
の位置として出力される。34 is a recognition result output step in which the center position Pi of the best candidate pattern selected in the recognition pattern identification step 33 is output as the actually measured position of the mark 19 to be recognized. In FIG. 4, the center position Pe of the candidate pattern e is the mark 19
Is output as the position of.
発明の効果 本発明によれば、効率のよい濃淡画像処理方法が得ら
れ、認識パターン=背景画像間のコントラストが低い入
力画像に対しても正確で高速な画像パターン認識方法が
実現される。According to the present invention, an efficient grayscale image processing method is obtained, and an accurate and high-speed image pattern recognition method is realized even for an input image having a low contrast between a recognition pattern = background image.
第1図は本発明の一実施例のフローチャート図、第2図
は本実施例を適用した画像パターン認識方法での画像の
説明図、第3図は画質改善工程でのヒストグラムの説明
図、第4図は画像パターンの候補パターンの説明図、第
5図は画像入力工程を説明したテレビカメラの斜視図、
第6図は従来の2値画像を用いた画像パターン認識方法
のフローチャート図、第7図は従来の濃淡画像を用いた
画像パターン認識方法のフローチャート図、第8図は従
来の濃淡画像パターン認識方法で用いられる2次元フィ
ルターの説明図である。 19……マーク、20……入力画像、23……走査直線、24…
…輝度変化、26……輝度ヒストグラム、28……輝度変換
テーブル、31……候補パターン。FIG. 1 is a flowchart of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of an image in an image pattern recognition method to which the present embodiment is applied, FIG. 3 is an explanatory diagram of a histogram in an image quality improvement step, FIG. 4 is an explanatory view of an image pattern candidate pattern, FIG. 5 is a perspective view of a television camera illustrating an image input process,
6 is a flowchart of a conventional image pattern recognition method using a binary image, FIG. 7 is a flowchart of a conventional image pattern recognition method using a gray image, and FIG. 8 is a conventional gray image pattern recognition method. FIG. 3 is an explanatory diagram of a two-dimensional filter used in FIG. 19 ... mark, 20 ... input image, 23 ... scanning straight line, 24 ...
... luminance change, 26 ... luminance histogram, 28 ... luminance conversion table, 31 ... candidate pattern.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森本 正通 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭58−56429(JP,A) 特開 昭58−21107(JP,A) 特開 昭57−2539(JP,A) 特開 昭52−91331(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01B 11/00 - 11/30 102 G06T 7/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Masamichi Morimoto 1006 Kazuma Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (56) References JP-A-58-56429 (JP, A) JP-A-58- 21107 (JP, A) JP-A-57-2539 (JP, A) JP-A-52-91331 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) G01B 11/00-11 / 30 102 G06T 7/00
Claims (1)
と、前記第1工程において撮像した画像上に走査直線を
指定しその上の画素の輝度情報を抽出する第2工程と、
抽出された輝度情報に対しノイズ除去および画像強調を
行い画質を改善する第3工程と、画質改善後の輝度情報
の変化点に着目し前期第2工程で指定した走査直線が横
断する全ての画像パターンの開始点と終了点を抽出する
第4工程と、抽出されたパターン開始点,終了点の全て
の組合せを生成し認識対象に対する候補パターン群とす
る第5工程と、前記第5工程で得た候補パターン毎にそ
のパターン幅を求める第6工程と、前記第5工程で得た
候補パターン毎にその中心位置を求める第7工程と、前
記第6工程および第7工程で得られた候補パターン群の
パターン幅と中心位置に基づき予め与えられた認識対象
の幅と中心位置に最も合致した候補パターンを選出する
第8工程と、前記第8工程で選出したパターン候補の中
心位置を認識対象の実測位置として出力する第9工程と
を備えたことを特徴とする画像パターン認識方法。A first step of picking up an image of a recognition target by an image pickup means; a second step of specifying a scanning line on the image picked up in the first step and extracting luminance information of a pixel on the scanning line;
A third step of improving the image quality by removing noise and enhancing the image of the extracted luminance information, and all the images traversed by the scanning line specified in the second step in the previous step focusing on the change point of the luminance information after the image quality improvement A fourth step of extracting a start point and an end point of the pattern, a fifth step of generating all combinations of the extracted pattern start point and end point and setting them as a candidate pattern group for a recognition target, and a fifth step. A sixth step of obtaining the pattern width of each candidate pattern obtained, a seventh step of obtaining the center position of each candidate pattern obtained in the fifth step, and a candidate pattern obtained in the sixth step and the seventh step Eighth step of selecting a candidate pattern that most closely matches the width and center position of the recognition target given in advance based on the pattern width and the center position of the group, and recognizing the center position of the pattern candidate selected in the eighth step Image pattern recognition method which is characterized in that a ninth step of outputting a measured position.
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