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JP2917402B2 - Tape polishing equipment - Google Patents
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JP2917402B2 - Tape polishing equipment - Google Patents

Tape polishing equipment

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JP2917402B2
JP2917402B2 JP11361590A JP11361590A JP2917402B2 JP 2917402 B2 JP2917402 B2 JP 2917402B2 JP 11361590 A JP11361590 A JP 11361590A JP 11361590 A JP11361590 A JP 11361590A JP 2917402 B2 JP2917402 B2 JP 2917402B2
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contact roller
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workpiece
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眞二 中川
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Nippon Electric Co Ltd
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、テープ研磨装置、特に、板厚を高精度に制
御できるテープ研磨装置に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a tape polishing apparatus, and more particularly to a tape polishing apparatus capable of controlling a thickness of a tape with high accuracy.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のテープ研磨装置は、回転テーブルと、コンタク
トローラと、圧力調整ネジブロックとを含んで構成され
る。
A conventional tape polishing apparatus includes a rotary table, a contact roller, and a pressure adjusting screw block.

次に、従来例について図面を参照して説明する。 Next, a conventional example will be described with reference to the drawings.

第7図は従来の一例を示す一部破断側面図である。 FIG. 7 is a partially cutaway side view showing an example of the prior art.

第7図に示すテープ研磨装置は、一般的に被加工物1
を固定し一定の速度で回転させる回転テーブル2と、ラ
ッピングテープ3の砥粒保持面を被加工物に押圧するコ
ンタクトローラ4と、このコンタクトローラ4のセンタ
軸40の内周軸端41および外周軸端42を支持する支持枠23
と、この支持枠23を加圧してテープを加圧するための圧
力調整ネジブロック20とで構成されている。
The tape polishing apparatus shown in FIG.
A rotary table 2 for fixing and rotating at a constant speed, a contact roller 4 for pressing the abrasive grain holding surface of the wrapping tape 3 against a workpiece, an inner peripheral shaft end 41 of a center shaft 40 of the contact roller 4 and an outer periphery Support frame 23 supporting shaft end 42
And a pressure adjusting screw block 20 for pressing the support frame 23 to press the tape.

この圧力調整ネジブロック20は圧力調整ネジ21とシリ
ンダ30と、シリンダ30に収容され圧力調整ネジ20を回転
したとき圧力が加えられるコイルバネとで構成され、圧
力調整ネジ21を締めることによってコイルバネ22を圧縮
し、その反発力で支持枠23を介してコンタクトローラ4
のセンタ軸40の内周軸端41および外周軸端42を同時に加
圧する構造になっている。
The pressure adjusting screw block 20 includes a pressure adjusting screw 21, a cylinder 30, and a coil spring housed in the cylinder 30 and to which pressure is applied when the pressure adjusting screw 20 is rotated. The contact roller 4 is compressed and repelled by the support frame 23 through the support frame 23.
The inner shaft end 41 and the outer shaft end 42 of the center shaft 40 are simultaneously pressed.

第8図は第7図に示す従来例における研磨領域を説明
するための上面図であり、回転テーブル2の上に載置さ
れた、被加工物1の研磨領域には、コンタクトローラ4
の内周域Aと外周域Bとの間で、回転テーブルの回転に
つれて形成される領域である。
FIG. 8 is a top view for explaining a polishing region in the conventional example shown in FIG. 7, and a contact roller 4 is provided on a polishing region of the workpiece 1 placed on the turntable 2.
Is formed between the inner peripheral area A and the outer peripheral area B as the rotary table rotates.

また、コンタクトローラ4は、第9図に詳しく示す断
面図のように、内周軸端41た外周軸端42とを有するセン
タ軸40と、このセンタ軸40を中心として形成された硬質
のゴムからなるローラゴム24とで構成される。
The contact roller 4 has a center shaft 40 having an inner shaft end 41 and an outer shaft end 42, as shown in the sectional view shown in detail in FIG. 9, and a hard rubber formed around the center shaft 40. And a roller rubber 24 composed of

次に、従来のテープ研磨装置を用いた研磨の一例を説
明する。
Next, an example of polishing using a conventional tape polishing apparatus will be described.

被加工物1は回転テーブル2に回転され300rpmで回転
させ、第8図に示す研磨領域Fの内周域Aから外周域B
までを覆う幅75mmのラッピングテープ3およびコンタク
トローラ4で、コンタクトローラ4の円周面をなすロー
ラゴム24でラッピングテープ3を押圧しながらラッピン
グテープ3を90mm/minで連続的に送る。ラッピングテー
プ3はWA#800(砥粒粒度20μm)でローラゴム24はゴ
ム硬度90゜の硬質ゴムを用いている。ラッピングテープ
3を加圧するための圧力調整ネジブロック20は圧力調整
ネジ21を10mm締めこむことによってコンタクトローラ4
のセンタ軸40の内周軸端41および外周軸端42に各3.2Kgf
の圧力がかかっている。
The workpiece 1 is rotated by the rotary table 2 and rotated at 300 rpm, and is moved from the inner peripheral area A to the outer peripheral area B of the polishing area F shown in FIG.
The wrapping tape 3 is continuously fed at a speed of 90 mm / min while the wrapping tape 3 is pressed by a roller rubber 24 forming the circumferential surface of the contact roller 4 with the wrapping tape 3 having a width of 75 mm and the contact roller 4. The wrapping tape 3 is made of WA # 800 (abrasive grain size 20 μm), and the roller rubber 24 is made of hard rubber having a rubber hardness of 90 °. The pressure adjusting screw block 20 for pressurizing the wrapping tape 3 tightens the pressure adjusting screw 21 by 10 mm to form the contact roller 4.
3.2 Kgf on each of the inner shaft end 41 and the outer shaft end 42 of the center shaft 40
Is under pressure.

この状態で30分研磨したときの内周域Aから外周域B
までの研磨量は第10図に示すように内周域Aから外周域
Bの向かうにしたがって少なくなり被加工物1の研磨領
域Fにおいて板厚が均一にならなかった。
The inner peripheral area A to the outer peripheral area B when polished for 30 minutes in this state
As shown in FIG. 10, the polishing amount decreased from the inner peripheral area A to the outer peripheral area B, and the plate thickness was not uniform in the polishing area F of the workpiece 1.

また粗度は内周域Aが最大粗さ(Rmax)1.0μm,外周
域BがRmax0.5μmとなり外周域Bから内周域Aに向か
うにしたがって粗くなった。
Further, the roughness became 1.0 μm in the maximum roughness (Rmax) in the inner peripheral area A and 0.5 μm in the outer peripheral area B, and became coarser from the outer peripheral area B toward the inner peripheral area A.

また、加工力の調整はコイルバネ22を縮めた長さで調
整する機構になっていたため研磨しながら圧力を連続ま
たは断続的に変化させることが出来ず、加圧力の微調整
もできないので被加工物の仕上げ粗度Rmax0.1μmに仕
上げるためには砥粒々度の小さいラッピングテープ(WA
#2000,WA#4000)に交換して3段階で研磨をする必要
があった。
In addition, the mechanism for adjusting the processing force was a mechanism that adjusted the coil spring 22 with the contracted length, so that the pressure could not be changed continuously or intermittently while polishing, and the fine adjustment of the pressing force was not possible. Lapping tape (WA
# 2000, WA # 4000) and it was necessary to grind in three stages.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、このような上述した従来のテープ研磨
装置は、被加工物の研磨領域の全面にわたって板厚およ
び粗度を均一にすることができず、コンタクトローラの
加圧力を連続に変化させることや微調整もできないため
砥粒々度の小さいラッピングテープに何度も交換しなが
ら各段階の操作をしなければ必要な粗度を得ることがで
きないので、工程が複雑になり、時間や工数がかかると
いう欠点があった。
However, such a conventional tape polishing apparatus as described above cannot make the thickness and roughness uniform over the entire polishing region of the workpiece, and can continuously change the pressing force of the contact roller, Because it cannot be adjusted, it is not possible to obtain the required roughness without changing the lapping tape with a small degree of abrasiveness many times and performing the operations at each stage, so the process becomes complicated and it takes time and man-hours was there.

さらに、テーブル回転速度が一定のため単位時間当り
の研磨量を多くすることができなかったため、研磨しろ
の多くある被加工物の研磨はできないという欠点もあっ
た。
Further, since the table rotation speed is constant, the amount of polishing per unit time cannot be increased, so that there is a disadvantage that a workpiece with a large amount of polishing cannot be polished.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明のテープ研磨装置は、まず回転している被加工
物にラッピングテープの砥粒保持面を押圧するコンタク
トローラの軸の両端を加圧する加圧機構と、加圧力を独
立にかつ連続的に制御可能であるテープ加圧制御機構と
を備えて構成される。
The tape polishing apparatus of the present invention is a press mechanism that presses both ends of a shaft of a contact roller that presses an abrasive grain holding surface of a lapping tape on a rotating workpiece, and independently and continuously applies a pressing force. And a controllable tape pressure control mechanism.

さらに、テーブル回転速度と前記加圧機構とを連動さ
せて制御することが可能な制御機構とを備えて構成され
る。
Further, a control mechanism capable of controlling the table rotation speed in conjunction with the pressurizing mechanism is provided.

さらに、また、本発明のテープ研磨装置は、回転して
いる被加工物にラッピングテープの砥粒保持面を押圧す
るコンタクトローラがセンタ軸とローラゴムと圧力調整
弁とで構成され、センタ軸とローラゴムの間に空間を有
し、空間の圧力を可変することによって被加工物の研磨
量の分布を制御できるように構成される。
Further, in the tape polishing apparatus of the present invention, the contact roller for pressing the abrasive holding surface of the lapping tape against the rotating workpiece is constituted by a center shaft, a roller rubber, and a pressure adjusting valve, and the center shaft and the roller rubber Are arranged so that the distribution of the polishing amount of the workpiece can be controlled by varying the pressure in the space.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について、図面を参照して説明
する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1の実施例を示す一部破断側断面
図である。
FIG. 1 is a partially cutaway side sectional view showing a first embodiment of the present invention.

第1図に示すテープ研磨装置はテープ加圧制御機構に
特徴があり、加圧制御機構は回転テーブル2に固定され
回転している被加工物1にラッピングテープ3の砥粒保
持面を押圧するコンタクトローラ4とこのコンタクトロ
ーラ4のセンタ軸40の内周軸端41および外周軸端42に各
々接続している2組の加圧シリンダ51,52と、加圧シリ
ンダ51,52に圧縮空気を送るコンプレッサ61,62と、挿入
された空気の圧力を測定する圧力センサ71,72と、圧力
センサ71,72からの内周圧力信号c,外周圧力信号dをモ
ニタし、予め設定された圧力になるようコンプレッサ6
1,62を作動させる内周圧力制御信号e,外周圧力制御信号
fを出力する圧力コントローラ8とで構成されている。
The tape polishing apparatus shown in FIG. 1 is characterized by a tape pressure control mechanism. The pressure control mechanism presses the abrasive holding surface of the lapping tape 3 against the rotating workpiece 1 fixed to the rotary table 2. Two sets of pressurized cylinders 51 and 52 connected to the contact roller 4 and the inner peripheral shaft end 41 and the outer peripheral shaft end 42 of the center shaft 40 of the contact roller 4, and compressed air is supplied to the pressurized cylinders 51 and 52. The compressors 61 and 62 for sending, the pressure sensors 71 and 72 for measuring the pressure of the inserted air, and the inner peripheral pressure signal c and the outer peripheral pressure signal d from the pressure sensors 71 and 72 are monitored to a preset pressure. Become compressor 6
The pressure controller 8 outputs an inner peripheral pressure control signal e for operating the first and second control valves 62 and an outer peripheral pressure control signal f.

次に、第1図に示すテープ研磨装置を用いた研磨の一
例を説明する。
Next, an example of polishing using the tape polishing apparatus shown in FIG. 1 will be described.

被加工物1は回転テーブル2に固定され300rpmで回転
させ、第3図に示す研磨領域Fの内周域Aから外周域B
まで覆う幅75mmのラッピングテープ3をコンタクトロー
ラ4で押圧しながら研磨した。ラッピングテープ3はWA
#800(砥粒粒度20μm)で送り速度90mm/minとした。
コンタクトローラ4のローラゴムはゴム硬度90゜の硬質
ゴム製である。コンタクトローラ4のセンタ軸40の両端
の加圧力は研磨初期が内周軸端41で4.8Kgf,外周軸端42
で7.2Kgfに設定し、研磨最終段階が内周軸端41で0.32Kg
f,外周軸端42で0.48Kgfに設定し、研磨時間30分で研磨
初期から研磨最終段階まで直線的に加圧力が変化するよ
うに圧力コントローラ8を設定した。そのときの内周域
Aから外周域Bまでの研磨量は第2図に示すように均一
になり、板厚分布は内周域Aから外周域Bまでの研磨領
域Fで+1μm以内にすることができた。また、粗度は
内周域A,外周域BともにRmax0.1μmにすることができ
た。粗度は砥粒々度と加圧力とで制御できるので、本発
明のテープ研磨装置において1段階の研磨で面粗度を広
範囲に制御して仕上げることが可能である。
The workpiece 1 is fixed to the turntable 2 and rotated at 300 rpm, and the inner peripheral area A to the outer peripheral area B of the polishing area F shown in FIG.
The lapping tape 3 having a width of 75 mm was polished while being pressed by the contact roller 4. Wrapping tape 3 is WA
The feed rate was 90 mm / min with # 800 (abrasive grain size 20 μm).
The roller rubber of the contact roller 4 is made of hard rubber having a rubber hardness of 90 °. The pressing force at both ends of the center shaft 40 of the contact roller 4 is 4.8 kgf at the inner peripheral shaft end 41 and the outer peripheral shaft end 42 at the initial stage of polishing.
Is set to 7.2 kgf, the final stage of polishing is 0.32 kg at the inner peripheral shaft end 41
f, the pressure was set to 0.48 kgf at the outer peripheral shaft end 42, and the pressure controller 8 was set so that the pressing force changed linearly from the initial stage of polishing to the final stage of polishing in a polishing time of 30 minutes. At this time, the polishing amount from the inner peripheral region A to the outer peripheral region B is uniform as shown in FIG. 2, and the thickness distribution is to be within +1 μm in the polishing region F from the inner peripheral region A to the outer peripheral region B. Was completed. Further, the roughness was able to be set to Rmax0.1 μm for both the inner peripheral area A and the outer peripheral area B. Since the roughness can be controlled by the abrasiveness and the pressing force, the tape polishing apparatus of the present invention can control and finish the surface roughness over a wide range by one-step polishing.

尚、本実施例においては加圧を空気圧で行っている
が、油圧等の他の加圧手段による加圧機構を用いること
も可能である。
In this embodiment, the pressurization is performed by air pressure, but a pressurizing mechanism using other pressurizing means such as a hydraulic pressure can be used.

第3図は本発明の第2の実施例を示す一部破断側断面
図である。
FIG. 3 is a partially cutaway side sectional view showing a second embodiment of the present invention.

第3図に示すテープ研磨装置は第1図に示すテープ研
磨装置に回転テーブル2の回転数を可変にするための回
転機構9を含み、かつ回転機構9と加圧機構とを連動さ
せて制御できるコントローラ10とを含んで構成されてい
る。コントローラ10は圧力センサ71,72からの内周圧力
信号c,外周圧力信号dをモニタし、予め設定された回転
数と圧力とになるよう回転数を制御する回転数制御信号
g,コンプレッサ6を作動させる内周圧力制御信号e,外周
圧力制御信号fを出力する働きを有する。
The tape polishing apparatus shown in FIG. 3 includes a rotation mechanism 9 for making the number of rotations of the turntable 2 variable in the tape polishing apparatus shown in FIG. 1, and controls the rotation mechanism 9 and the pressure mechanism in conjunction with each other. And a controller 10 that can be used. The controller 10 monitors the inner peripheral pressure signal c and the outer peripheral pressure signal d from the pressure sensors 71 and 72, and controls the number of revolutions to control the number of revolutions to a preset number of revolutions and pressure.
g, an inner pressure control signal e for operating the compressor 6 and an outer pressure control signal f.

単位時間当りの研磨量を多くするため研磨初期の回転
テーブル2の回転数を大きくして、研磨最終段階では粗
度を均一にするため回転テーブルの回転数を小さくす
る。そのとき、回転テーブル2を高速で回転させると線
速が大きいためラッピングテープ3の砥粒が浮き上がり
研磨できないのでコンタクトローラ4のセンタ軸40の両
端の加圧力を大きくする必要があり、回転テーブル2の
回転数が異なると内周域Aから外周域Bまでの研磨量を
均一にするためにはコンタクトローラ4のセンタ軸40の
両端の加圧力の比を変える必要がある。
In order to increase the amount of polishing per unit time, the number of rotations of the turntable 2 in the initial stage of polishing is increased, and in the final stage of polishing, the number of rotations of the turntable is reduced in order to make the roughness uniform. At that time, if the rotary table 2 is rotated at a high speed, the linear velocity is high, so that the abrasive grains of the wrapping tape 3 float and cannot be polished. Therefore, it is necessary to increase the pressing force at both ends of the center shaft 40 of the contact roller 4. If the number of rotations of the contact roller 4 is different, it is necessary to change the ratio of the pressing force at both ends of the center shaft 40 of the contact roller 4 in order to make the polishing amount from the inner peripheral area A to the outer peripheral area B uniform.

次に、第3図に示すテープ研磨装置を用いた研磨の一
例を説明する。
Next, an example of polishing using the tape polishing apparatus shown in FIG. 3 will be described.

研磨初期の回転テーブル2の回転数を1000rpmにし
て、研磨最終段階では300rpmにする。コンタクトローラ
4のセンタ軸40の両端の加圧力および回転テーブル2の
回転数を第4図に示す条件で研磨すると第1図に示す実
施例と同様の研磨量(第2図)および粗度を短時間で得
ることができる。
The rotation speed of the turntable 2 is set to 1000 rpm in the initial stage of polishing, and to 300 rpm in the final stage of polishing. When the pressing force at both ends of the center shaft 40 of the contact roller 4 and the rotation speed of the rotary table 2 are polished under the conditions shown in FIG. 4, the polishing amount (FIG. 2) and the roughness are the same as those of the embodiment shown in FIG. Can be obtained in a short time.

なお、上述した実施例においては研磨長を均一にして
いるが、コンタクトローラ4の軸の両端の加圧力および
回転テーブルの回転数の設定条件加圧を変えることによ
って、被加工物の板厚,粗度を自在に制御することが可
能である。
In the above-described embodiment, the polishing length is made uniform. However, by changing the pressing force at both ends of the shaft of the contact roller 4 and the setting condition of the number of revolutions of the rotary table, the thickness of the workpiece and the thickness of the workpiece are changed. The roughness can be controlled freely.

上述した第1図,第3図に示す実施例では第9図に示
すコンタクトローラを用いた例について説明したが、コ
ンタクトおよびラッピングテープが被加工物の半径の増
大に伴なって大きくなると、中だるみ現象を起す。
In the embodiment shown in FIGS. 1 and 3 described above, the example using the contact roller shown in FIG. 9 has been described. However, if the contact and the wrapping tape become larger with an increase in the radius of the workpiece, slackening occurs. Cause a phenomenon.

例えば、被加工物を回転テーブルに固定し300rpmで回
転させ、研磨領域の内周域から外周域までを覆う幅150m
mのラッピングテープおよびコンタクトローラで、コン
タクトローラの円筒面でラッピングテープを押圧しなが
らラッピングテープを90mm/minで連続的に送り、ラッピ
ングテープはWA#800(砥粒粒度20μm)でコンタクト
ローラに用いているゴムローラはゴム硬度90゜の硬質ゴ
ムを用い、コンタクトローラのセンタ軸の内周軸端に3.
2Kgf,外周軸端に7.2Kgfの圧力をかける。この状態で30
分研磨したときの内周域から外周域までの研磨量は内周
域,外周域より中央部が少なくなり被加工物の研磨領域
において板厚が均一にならない。
For example, the workpiece is fixed on a rotary table and rotated at 300 rpm, and a width of 150 m covering an inner peripheral area to an outer peripheral area of the polishing area.
With the wrapping tape and contact roller of m, the wrapping tape is continuously fed at 90 mm / min while pressing the wrapping tape on the cylindrical surface of the contact roller, and the wrapping tape is used for the contact roller with WA # 800 (abrasive grain size 20μm). The rubber roller used is hard rubber with a rubber hardness of 90 mm.
A pressure of 2 kgf is applied to the end of the outer peripheral shaft at 7.2 kgf. 30 in this state
The amount of polishing from the inner peripheral region to the outer peripheral region at the time of partial polishing is smaller in the central portion than in the inner peripheral region and the outer peripheral region, and the plate thickness is not uniform in the polishing region of the workpiece.

このため、このような中だるみ現象をなくす必要があ
る。
Therefore, it is necessary to eliminate such a sagging phenomenon.

第5図に示すコンタクトローラは上述した中だるみ現
象をなくすための1つの例で、コンタクトローラはセン
タ軸40とローラゴム25と圧力調整弁27とで構成され、セ
ンタ軸40とローラゴム25の間に空間28を有し、空間28の
圧力を圧力調整弁27で可変にすることよってコンタクト
ローラの押圧面の形状を変えることができる構造になっ
ている。
The contact roller shown in FIG. 5 is one example for eliminating the sagging phenomenon described above. The contact roller is constituted by a center shaft 40, a roller rubber 25 and a pressure regulating valve 27, and a space is provided between the center shaft 40 and the roller rubber 25. The pressure control valve 27 is used to change the pressure in the space 28 so that the shape of the pressing surface of the contact roller can be changed.

このような第5図に示すコンタクトローラをテープ研
磨装置を用いた研磨の一例を次に説明する。
An example of polishing the contact roller shown in FIG. 5 using a tape polishing device will be described below.

被加工物は回転テーブルに固定され300rpmで回転さ
せ、研磨領域の内周端から外周端まで覆う幅150mmのラ
ッピングテープをコンタクトローラで押圧しながら研磨
した。ラッピングテープはWA#800(砥粒粒度20μm)
で送り速度90mm/minとした。コンタクトローラのローラ
ゴム35はゴム厚10mmゴム硬度90゜の硬質ゴムである。コ
ンタクトローラのセンタ軸の両端の加圧力は内周軸端41
で3.2Kgf,外周軸端42で7.2Kgfに設定し、30分間研磨を
行なう。前述の条件で空間28の空気圧を0.8Kgf/cm2,1.0
Kgf/cm2,1.2Kgf/cm2のときの内周域から外周域までの研
磨量は、空間28の空気圧を1.0Kgf/cm2にすると板厚分布
は内周域から外周域までの研磨領域で±1μm以内にす
ることができた。
The workpiece was fixed on a rotary table, rotated at 300 rpm, and polished while pressing a 150 mm wide wrapping tape covering the inner peripheral end to the outer peripheral end of the polishing area with a contact roller. Wrapping tape WA # 800 (Abrasive grain size 20μm)
At a feed rate of 90 mm / min. The roller rubber 35 of the contact roller is a hard rubber having a rubber thickness of 10 mm and a rubber hardness of 90 °. The pressure at both ends of the center axis of the contact roller is
Is set to 3.2 kgf and the outer peripheral end 42 is set to 7.2 kgf, and polishing is performed for 30 minutes. Under the above conditions, the air pressure in the space 28 is 0.8 kgf / cm 2 , 1.0
Kgf / cm 2, the polishing amount from the inner peripheral zone to the outer zone at a 1.2 kgf / cm 2, the polishing of the inner peripheral zone pressure plate thickness distribution when a 1.0 Kgf / cm 2 the space 28 to the outer circumferential region In the region, it could be within ± 1 μm.

また、0.8Kgf/cm2のとき研磨量は両端部より中央部が
少なくなり、1.2Kgf/cm2のとき研磨量は両端部より中央
部が多くなる。
Further, at 0.8 kgf / cm 2, the polishing amount is smaller at the center than at both ends, and at 1.2 kgf / cm 2 , the polishing amount is larger at the center than at both ends.

すなわち、空間の圧力を可変にすることによって被加
工物の研磨量を両端部と中央部の比率を変えることが可
能である。
In other words, by varying the pressure in the space, it is possible to change the polishing amount of the workpiece from the ratio between the both ends and the center.

なお、空間への加圧を空気圧で行った例を示したが、
油圧等他の圧力による加圧でも可能である。
Although the example of pressurizing the space by air pressure was shown,
Pressurization by other pressures such as oil pressure is also possible.

また、このような中だるみ現象をなくすためのもう一
つのコンタクトローラの例を次に示す。
Another example of a contact roller for eliminating such a slack phenomenon will be described below.

第6図に示すコンタクトローラはローラゴム26の内部
に網状のスチール層29を含んで構成されている。この網
状のスチール層29はローラゴム26の内部圧力によるロー
ラゴム26の直径の変化を抑制し、ローラゴム26の全体の
直径の均一性を保つため研磨量の微妙な制御ができる。
The contact roller shown in FIG. 6 includes a rubber layer 26 and a net-like steel layer 29. The net-like steel layer 29 suppresses a change in the diameter of the roller rubber 26 due to the internal pressure of the roller rubber 26, and allows fine control of the polishing amount in order to maintain uniformity in the entire diameter of the roller rubber 26.

次に、第6図に示すコンタクトローラを用いた研磨に
ついて説明する。
Next, polishing using the contact roller shown in FIG. 6 will be described.

第6図に示すコンタクトローラのセンタ軸40の両端の
加圧力を内周軸端41で3.2Kgf,外周軸端42で7.2Kgfに設
定し、30分間研磨を行い、空間28の空気圧を1.5Kgf/cm2
にすると板厚分布は内周域から外周域までの研磨領域で
±1μm以内にすることができる。
The pressing force at both ends of the center shaft 40 of the contact roller shown in FIG. 6 is set to 3.2 kgf at the inner peripheral shaft end 41 and 7.2 kgf at the outer peripheral shaft end 42, and polished for 30 minutes, and the air pressure in the space 28 is reduced to 1.5 kgf. / cm 2
By doing so, the thickness distribution can be kept within ± 1 μm in the polishing region from the inner peripheral region to the outer peripheral region.

さらに、空間28の空気圧を0.2Kgf/cm2増減させること
によって両端部と中央部の研磨量の差を1μmにでき、
空間28の空気圧を0.4Kgf/cm2増減させることによって両
端部と中央部の研磨量の差を2μmにすることができ
る。
Further, by increasing or decreasing the air pressure of the space 28 by 0.2 kgf / cm 2 , the difference in the amount of polishing between both ends and the central part can be made 1 μm,
By increasing or decreasing the air pressure of the space 28 by 0.4 kgf / cm 2 , the difference in the amount of polishing between both ends and the center can be made 2 μm.

すなわち、空間の圧力を可変にすることによって被加
工物の両端部と中央部の研磨量を1μm以下の単位で制
御することが可能である。
That is, by making the pressure in the space variable, it is possible to control the amount of polishing at both ends and the center of the workpiece in units of 1 μm or less.

なお、第6図に示すコンタクトローラにおいては網状
のスチール層を用いたが、コンタクトローラの軸方向に
平行に行えばスチール板,アクリル板などの板材の硬質
材をローラゴムに埋め込んだコンタクトローラでも同様
の結果を得ることができる。
In the contact roller shown in FIG. 6, a net-like steel layer was used. However, if the contact roller is parallel to the axial direction of the contact roller, the same applies to a contact roller in which a hard material such as a steel plate or an acrylic plate is embedded in roller rubber. Can be obtained.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明のテープ研磨装置は、まず、研磨テープを押圧
するコンタクトローラの軸の両端を各々独立に加圧制御
する機構を有することにより、均一な研磨加工が可能と
なるという効果がある。
The tape polishing apparatus of the present invention has an effect that uniform polishing can be performed by first having a mechanism for independently controlling the both ends of the shaft of the contact roller that presses the polishing tape.

さらに、テーブル回転速度と加圧機構を連動させて制
御することにより、短時間で板厚及び粗度を均一にする
研磨加工が可能となるという効果がある。
Further, by controlling the table rotation speed and the pressurizing mechanism in conjunction with each other, there is an effect that it is possible to perform a polishing process for making the plate thickness and the roughness uniform in a short time.

さらにまた、コンタクトローラのローラゴムの変形を
防止する手段を追加することにより中だるみ現象をなく
して、均一な板厚とすることができるという効果もあ
る。
Furthermore, by adding a means for preventing the deformation of the roller rubber of the contact roller, there is also an effect that the sagging phenomenon can be eliminated and the plate thickness can be made uniform.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の第1の実施例を示す一部破断側断面
図、第2図は第1図に示す実施例を用いた場合のテープ
研磨量を説明するためのグラフ、第3図は本発明の第2
の実施例を示す一部破断側断面図、第4図は第3図に示
す実施例における設定条件を説明するためのグラフ、第
5図は第1図および第2図に示すコンタクトローラの第
2の例を示す断面図、第6図は第1図および第2図に示
すコンタクトローラの第3の例を示す断面図、第7図は
従来の一例を示す一部破断側断面図、第8図は第7図に
示す従来例における研磨領域を説明するための上面図、
第9図は第7図に示すコンタクトローラの詳細を示す断
面図、第10図は第7図に示す実施例を用いた場合のテー
プ研磨を示すグラフである。 1……被加工物、2……回転テーブル、3……ラッピン
グテープ、4……コンタクトローラ、51,52……加圧シ
リンダ、61,62……コンプレッサ、71,72……圧力セン
サ、8……圧力コントローラ、9……回転機構、10……
コントローラ、40……センタ軸、41……内周軸端、42…
…外周軸端、20……圧力調整ネジブロック、30……シリ
ンダ、21……圧力調整ネジ、22……コイルバネ、23……
支持枠、24,25,26……ローラゴム、27……圧力調整弁、
28……空間、29……スチール層。 F……研磨領域、A……内周域、B……外周域。 c……内周圧力信号、d……外周圧力信号、e……内周
圧力制御信号、f……外周圧力制御信号、g……回転数
制御信号、r……半径、m……研磨量、p……回転数、
t……研磨時間、s……加圧力。
FIG. 1 is a partially cutaway side sectional view showing a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a graph for explaining the amount of tape polishing when the embodiment shown in FIG. 1 is used. Is the second of the present invention.
FIG. 4 is a graph for explaining setting conditions in the embodiment shown in FIG. 3, and FIG. 5 is a sectional view of the contact roller shown in FIG. 1 and FIG. 2, FIG. 6 is a sectional view showing a third example of the contact roller shown in FIG. 1 and FIG. 2, FIG. FIG. 8 is a top view for explaining a polishing region in the conventional example shown in FIG. 7,
FIG. 9 is a sectional view showing details of the contact roller shown in FIG. 7, and FIG. 10 is a graph showing tape polishing when the embodiment shown in FIG. 7 is used. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Workpiece, 2 ... Rotary table, 3 ... Wrapping tape, 4 ... Contact roller, 51, 52 ... Press cylinder, 61, 62 ... Compressor, 71, 72 ... Pressure sensor, 8 …… Pressure controller, 9… Rotation mechanism, 10 ……
Controller, 40 ... Center axis, 41 ... Inner shaft end, 42 ...
… Outer shaft end, 20… Pressure adjustment screw block, 30 …… Cylinder, 21 …… Pressure adjustment screw, 22 …… Coil spring, 23 ……
Support frame, 24, 25, 26… roller rubber, 27… pressure regulating valve,
28 …… space, 29 …… steel layer. F: polishing region, A: inner peripheral region, B: outer peripheral region. c ... inner pressure signal, d ... outer pressure signal, e ... inner pressure control signal, f ... outer pressure control signal, g ... rotation speed control signal, r ... radius, m ... polishing amount , P ... rotational speed,
t: polishing time, s: pressure.

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】被加工物を固定する回転テーブルと、前記
被加工物にラッピングテープの砥粒保持面を押圧するコ
ンタクトローラと、前記コンタクトローラの軸の一端と
他端をそれぞれ独立の大きさの圧力で加圧する加圧機構
とを含むことを特徴とするテープ研磨装置。
1. A rotary table for fixing a workpiece, a contact roller for pressing an abrasive holding surface of a lapping tape against the workpiece, and one end and the other end of a shaft of the contact roller having independent sizes. And a pressurizing mechanism for pressurizing with a pressure of:
【請求項2】前記加圧機構を制御するための制御機構を
さらに備えることを特徴とする請求項1記載のテープ研
磨装置。
2. The tape polishing apparatus according to claim 1, further comprising a control mechanism for controlling said pressure mechanism.
【請求項3】前記加圧機構の加圧力を前記コンタクトロ
ーラの軸の一端と他端においてそれぞれ独立にかつ連続
的に制御するための制御機構をさらに備えることを特徴
とする請求項1記載のテープ研磨装置。
3. A control mechanism according to claim 1, further comprising a control mechanism for independently and continuously controlling the pressing force of said pressing mechanism at one end and the other end of the shaft of said contact roller. Tape polishing equipment.
【請求項4】前記回転テーブルの回転速度と前記加圧機
構とを連動させて制御するための制御機構をさらに備え
ることを特徴とする請求項1記載のテープ研磨装置。
4. The tape polishing apparatus according to claim 1, further comprising a control mechanism for controlling the rotation speed of said rotary table and said pressurizing mechanism in conjunction with each other.
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