JP2919085B2 - 発光体の光量補正方法 - Google Patents
発光体の光量補正方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、時分割駆動方式の発光
体の光量補正方法に係り、特にＬＥＤヘッドアレイのよ
うにライン状に配列した多数の発光素子をブロック単位
に分割し、該ブロック単位で光量補正を行う発光体の光
量補正方法に関する。
体の光量補正方法に係り、特にＬＥＤヘッドアレイのよ
うにライン状に配列した多数の発光素子をブロック単位
に分割し、該ブロック単位で光量補正を行う発光体の光
量補正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、多数のＬＥＤ素子を主走査方
向に沿って列状に配したＬＥＤヘッドを画像情報に対応
して点灯制御しながら潜像書込みを行う露光系を用いた
プリンタその他の各種画像形成装置は公知であり、この
種のＬＥＤヘッドには１走査ライン分のＬＥＤ素子群を
画像情報に対応して同時に点灯制御する一ライン型のヘ
ッドと、前記一走査ライン分のＬＥＤ素子群をnビット
ずつ複数ブロック（m）に分割し、該分割したブロック
単位で前記ＬＥＤを順次点灯制御するようにした、時分
割方式のＬＥＤヘッドが存在するが、省駆動電流やその
電源回路の小型化更には光量の安定化を図る為に後者の
時分割方式のものが多く採用されている。
向に沿って列状に配したＬＥＤヘッドを画像情報に対応
して点灯制御しながら潜像書込みを行う露光系を用いた
プリンタその他の各種画像形成装置は公知であり、この
種のＬＥＤヘッドには１走査ライン分のＬＥＤ素子群を
画像情報に対応して同時に点灯制御する一ライン型のヘ
ッドと、前記一走査ライン分のＬＥＤ素子群をnビット
ずつ複数ブロック（m）に分割し、該分割したブロック
単位で前記ＬＥＤを順次点灯制御するようにした、時分
割方式のＬＥＤヘッドが存在するが、省駆動電流やその
電源回路の小型化更には光量の安定化を図る為に後者の
時分割方式のものが多く採用されている。
【０００３】そしてこのような時分割方式のＬＥＤヘッ
ドは一般に前記ブロック毎にＬＥＤチップ化し、該チッ
プ夫々に、ｎビットデータをシリアル入力させるシフト
レジスタ、ラッチ回路及び前記シフトレジスタよりのパ
ラレルデータに基づいて前記チップ内の発光素子の駆動
制御を行う駆動ドライバ等が組込まれた駆動ＩＣを接続
して構成されるが、前記ＬＥＤチップはウエーハ生成時
の製造条件の相違等に起因してチップ間で輝度（光出
力）特性のバラツキを有する。この為、チップ相互間で
安定した光出力を得る為に、各チップ毎に前記輝度特性
に対応させて通電時間若しくは駆動電圧（電流）を補正
する方法が種々提案されている。（実公平１−２１８０
５、特開平１−２９７２７１、実開平５９−１３２２７
６他）
ドは一般に前記ブロック毎にＬＥＤチップ化し、該チッ
プ夫々に、ｎビットデータをシリアル入力させるシフト
レジスタ、ラッチ回路及び前記シフトレジスタよりのパ
ラレルデータに基づいて前記チップ内の発光素子の駆動
制御を行う駆動ドライバ等が組込まれた駆動ＩＣを接続
して構成されるが、前記ＬＥＤチップはウエーハ生成時
の製造条件の相違等に起因してチップ間で輝度（光出
力）特性のバラツキを有する。この為、チップ相互間で
安定した光出力を得る為に、各チップ毎に前記輝度特性
に対応させて通電時間若しくは駆動電圧（電流）を補正
する方法が種々提案されている。（実公平１−２１８０
５、特開平１−２９７２７１、実開平５９−１３２２７
６他）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記従来
技術はいずれもＬＥＤチップのみの輝度特性を考慮した
補正手段であり、前記駆動ＩＣを組込んだＬＥＤヘッド
全体としての光量補正手段ではない。即ち、前記ＬＥＤ
チップには夫々の発光素子を駆動制御する為の駆動ドラ
イバや前記各ＬＥＤチップを順次切換えながらその通電
時間を設定するコモンドライバ等が接続されているが、
これらのドライバの立上がり若しくは立下がり特性等は
各チップ毎に夫々異なり、又経時的な劣化に起因して前
記ドライバの特性に変動が生じる為に、前記各チップ毎
の実際の発光時間が前記ドライバ特性のバラツキに起因
して変動し、この為ＬＥＤチップのみの輝度特性を考慮
した補正では、ヘッド全体としての光量補正を精度よく
行う事が困難になるのみならず、特に前記ドライバの立
ち下がり特性が低下すると、例えば現位のチップの通電
終了時間と次位のチップの通電開始時間の間でオーバラ
ップが生じ、画像の乱れが生じてしまう場合がある。
技術はいずれもＬＥＤチップのみの輝度特性を考慮した
補正手段であり、前記駆動ＩＣを組込んだＬＥＤヘッド
全体としての光量補正手段ではない。即ち、前記ＬＥＤ
チップには夫々の発光素子を駆動制御する為の駆動ドラ
イバや前記各ＬＥＤチップを順次切換えながらその通電
時間を設定するコモンドライバ等が接続されているが、
これらのドライバの立上がり若しくは立下がり特性等は
各チップ毎に夫々異なり、又経時的な劣化に起因して前
記ドライバの特性に変動が生じる為に、前記各チップ毎
の実際の発光時間が前記ドライバ特性のバラツキに起因
して変動し、この為ＬＥＤチップのみの輝度特性を考慮
した補正では、ヘッド全体としての光量補正を精度よく
行う事が困難になるのみならず、特に前記ドライバの立
ち下がり特性が低下すると、例えば現位のチップの通電
終了時間と次位のチップの通電開始時間の間でオーバラ
ップが生じ、画像の乱れが生じてしまう場合がある。
【０００５】かかる欠点を解消する為に、従来技術にお
いては前記オーバラップを予め考慮してその分チップの
通電時間を短くする事で対処しているが、この様な構成
を取ると、所定の光出力を得るためにその分駆動電流を
多くする事で対処していたが、近年の様に前記ＬＥＤヘ
ッドの小型化を図るにつれ、若しくはドット密度の高密
度化を図るために前記チップの時分割数の増大を図るに
つれ、前記駆動電流の増大には制限を受け、所定の光出
力が得られない場合があった。
いては前記オーバラップを予め考慮してその分チップの
通電時間を短くする事で対処しているが、この様な構成
を取ると、所定の光出力を得るためにその分駆動電流を
多くする事で対処していたが、近年の様に前記ＬＥＤヘ
ッドの小型化を図るにつれ、若しくはドット密度の高密
度化を図るために前記チップの時分割数の増大を図るに
つれ、前記駆動電流の増大には制限を受け、所定の光出
力が得られない場合があった。
【０００６】本発明は前記ＬＥＤチップのみならず、該
チップに接続された駆動ドライバやコモンドライバの特
性のバラツキ若しくは経時的劣化を加味して精度よく列
方向に均等な光出力を得る事の出来るＬＥＤアレイその
他の発光体の光量補正方法を提供する事を目的とする。
チップに接続された駆動ドライバやコモンドライバの特
性のバラツキ若しくは経時的劣化を加味して精度よく列
方向に均等な光出力を得る事の出来るＬＥＤアレイその
他の発光体の光量補正方法を提供する事を目的とする。
【０００７】本発明の他の目的は実質的にオーバラップ
に起因する前記欠点が生じる事なく各チップ毎の通電パ
ルス巾を限度一杯取る事が出来、これにより駆動電流を
無用に増大させる事なく、容易にチップ時分割数の増大
を図る事が出来これによりヘッドの小型化やドット密度
の高密度化を達成し得る発光体の光量補正方法を提供す
る事にある。
に起因する前記欠点が生じる事なく各チップ毎の通電パ
ルス巾を限度一杯取る事が出来、これにより駆動電流を
無用に増大させる事なく、容易にチップ時分割数の増大
を図る事が出来これによりヘッドの小型化やドット密度
の高密度化を達成し得る発光体の光量補正方法を提供す
る事にある。
【０００８】
【課題を解決する為の手段】本発明は、ライン状に配列
した多数の発光素子をブロック単位にｍ分割し、該ブロ
ックを時分割にて順次切換えながら前記発光素子の駆動
制御を行う発光体の光量補正方法において、 前記発光素
子の発光特性データを予め用意し、 電圧付加手段を調節
することによって発光素子駆動電流を調節設定可能な電
流補正手段と、 前記発光素子駆動電流に対応する電圧
が、前記電圧付加手段の所定電圧以上であるときに出力
するオーバーラップ検知パルスによりオーバーラップ時
間（Ｐｂ）を計測する計測手段を備え、 前もって設定さ
れたパルス巾により順次生成されるブロック切換信号に
基づいて前記各ブロックを順次切換えながら時分割駆動
を行いながら、隣接する各ブロック間の前記オーバラッ
プ時間（Ｐｂ）を前記計測手段によりブロック切換え時
に生じる駆動電流の変動時間に基づいて計測し、 前記発
光素子の主走査時間から前記ｍ分割された発光素子のブ
ロックの有効発光パルス幅（Ｐｏ）を算出するととも
に、該有効発光パルス幅と前記オーバーラップ時間との
差（Ｐｏ−Ｐｂ）をとり、該差（Ｐｏ−Ｐｂ）と前記発
光特性データから前記電圧付加手段の調節設定値を得
て、 前記発光素子ブロックの駆動電流を補正する事を特
徴とする。
した多数の発光素子をブロック単位にｍ分割し、該ブロ
ックを時分割にて順次切換えながら前記発光素子の駆動
制御を行う発光体の光量補正方法において、 前記発光素
子の発光特性データを予め用意し、 電圧付加手段を調節
することによって発光素子駆動電流を調節設定可能な電
流補正手段と、 前記発光素子駆動電流に対応する電圧
が、前記電圧付加手段の所定電圧以上であるときに出力
するオーバーラップ検知パルスによりオーバーラップ時
間（Ｐｂ）を計測する計測手段を備え、 前もって設定さ
れたパルス巾により順次生成されるブロック切換信号に
基づいて前記各ブロックを順次切換えながら時分割駆動
を行いながら、隣接する各ブロック間の前記オーバラッ
プ時間（Ｐｂ）を前記計測手段によりブロック切換え時
に生じる駆動電流の変動時間に基づいて計測し、 前記発
光素子の主走査時間から前記ｍ分割された発光素子のブ
ロックの有効発光パルス幅（Ｐｏ）を算出するととも
に、該有効発光パルス幅と前記オーバーラップ時間との
差（Ｐｏ−Ｐｂ）をとり、該差（Ｐｏ−Ｐｂ）と前記発
光特性データから前記電圧付加手段の調節設定値を得
て、 前記発光素子ブロックの駆動電流を補正する事を特
徴とする。
【０００９】この場合、前記補正は一の検知走査のみで
終了させる事なく、該一の検知走査で得られた前記駆動
電流をフィードバックして第二、第三の検知走査とその
確認を行う事により、一層精度よい光量補正が可能とな
る。
終了させる事なく、該一の検知走査で得られた前記駆動
電流をフィードバックして第二、第三の検知走査とその
確認を行う事により、一層精度よい光量補正が可能とな
る。
【００１０】尚、前記オーバラップ時間の計測は一般的
には、前記ブロック切換時に生じる駆動電流の変動時間
に基づいて行われるが、この様な計測手段を採用した場
合においては各チップが正常に駆動し、複数のチップが
同時に点灯する等の異常電流が生成していない事が前提
となる。従ってこの様な場合には前記オーバラップ時間
の計測が、対応する各ブロックの駆動電流が所定基準レ
ベル以内にある事を検知した後に行う必要がある。これ
を請求項２記載の発明で特定している。
には、前記ブロック切換時に生じる駆動電流の変動時間
に基づいて行われるが、この様な計測手段を採用した場
合においては各チップが正常に駆動し、複数のチップが
同時に点灯する等の異常電流が生成していない事が前提
となる。従ってこの様な場合には前記オーバラップ時間
の計測が、対応する各ブロックの駆動電流が所定基準レ
ベル以内にある事を検知した後に行う必要がある。これ
を請求項２記載の発明で特定している。
【００１１】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を例示
的に詳しく説明する。但しこの実施例に記載されている
構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは特に
特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれのみ
に限定する趣旨ではなく単なる説明例に過ぎない。
的に詳しく説明する。但しこの実施例に記載されている
構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは特に
特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれのみ
に限定する趣旨ではなく単なる説明例に過ぎない。
【００１２】図１は本発明の実施例に係るＬＥＤアレイ
の制御回路で、１は後記する各種制御を行う制御部、２
は異常検知兼用のオーバラップ検知回路３を介してＬＥ
Ｄヘッド５に出力電圧を供給するＬＥＤアノードソース
電源で、前記オーバラップ検知回路３よりの異常検知信
号に基づいて緊急遮断可能に構成されている。
の制御回路で、１は後記する各種制御を行う制御部、２
は異常検知兼用のオーバラップ検知回路３を介してＬＥ
Ｄヘッド５に出力電圧を供給するＬＥＤアノードソース
電源で、前記オーバラップ検知回路３よりの異常検知信
号に基づいて緊急遮断可能に構成されている。
【００１３】ＬＥＤヘッド５は、例えば１２８個のＬＥ
Ｄ素子５ｅ１Ａ…が組込まれたＬＥＤチップ５ｅＡ…を
１列状に２０個配列したＬＥＤアレイ５ｅと、前記各チ
ップ５ｅＡ…毎に、ＬＥＤ素子数に対応する数のメモリ
容量を有するソースシフトレジスタ５ａ、ラッチ回路５
ｂ、ＬＥＤ素子数（１２８個）に対応する数のソースド
ライバ５ｃと定電流回路５ｄが夫々設けられている。
Ｄ素子５ｅ１Ａ…が組込まれたＬＥＤチップ５ｅＡ…を
１列状に２０個配列したＬＥＤアレイ５ｅと、前記各チ
ップ５ｅＡ…毎に、ＬＥＤ素子数に対応する数のメモリ
容量を有するソースシフトレジスタ５ａ、ラッチ回路５
ｂ、ＬＥＤ素子数（１２８個）に対応する数のソースド
ライバ５ｃと定電流回路５ｄが夫々設けられている。
【００１４】６は切換制御回路で、各ＬＥＤチップ５ｅ
Ａ…のカソード側と接続させた２０個のコモンドライバ
６ｂと該コモンドライバ６ｂを介して対応する各ＬＥＤ
チップ５ｅＡ…との接続を順次選択的に切換えるブロッ
クシフトレジスタ６ａよりなる。
Ａ…のカソード側と接続させた２０個のコモンドライバ
６ｂと該コモンドライバ６ｂを介して対応する各ＬＥＤ
チップ５ｅＡ…との接続を順次選択的に切換えるブロッ
クシフトレジスタ６ａよりなる。
【００１５】図２は前記オーバラップ検知回路３の内部
構成図で、ＬＥＤアレイ５ｅ側への駆動電流を電圧変換
する検知抵抗３１、該検知抵抗３１の入出力端子間２ａ
１／２ａ２の検知電圧Ｖｃを増幅する差動アンプ３２、
後記するチップ５ｅＡ…毎の基準電流Ｃｓ若しくはチッ
プ基準平均電流Ｃｘに対応する基準電圧Ｖｓを生成する
基準電圧回路３３、前記両電圧を比較する比較器３４、
該比較器３４より比較出力と後記オーバラップ用の検知
パルス信号とANDを取るANDゲート３５よりなり、図３に
示すように前記チップ駆動電流に対応する検知電圧Ｖｃ
が基準電圧Ｖｓ以上になった際に比較器３４より比較出
力をANDゲート３５に出力し、該比較出力とオーバラッ
プ用の検知パルス信号とをANDを取って前記ANDゲート３
５より出力される検知出力ＰＤに基づいて隣接する各チ
ップ５ｅＡ…間の駆動電流のオーバラップ時間が制御部
１側で計測される。
構成図で、ＬＥＤアレイ５ｅ側への駆動電流を電圧変換
する検知抵抗３１、該検知抵抗３１の入出力端子間２ａ
１／２ａ２の検知電圧Ｖｃを増幅する差動アンプ３２、
後記するチップ５ｅＡ…毎の基準電流Ｃｓ若しくはチッ
プ基準平均電流Ｃｘに対応する基準電圧Ｖｓを生成する
基準電圧回路３３、前記両電圧を比較する比較器３４、
該比較器３４より比較出力と後記オーバラップ用の検知
パルス信号とANDを取るANDゲート３５よりなり、図３に
示すように前記チップ駆動電流に対応する検知電圧Ｖｃ
が基準電圧Ｖｓ以上になった際に比較器３４より比較出
力をANDゲート３５に出力し、該比較出力とオーバラッ
プ用の検知パルス信号とをANDを取って前記ANDゲート３
５より出力される検知出力ＰＤに基づいて隣接する各チ
ップ５ｅＡ…間の駆動電流のオーバラップ時間が制御部
１側で計測される。
【００１６】一方前記制御部１側より異常検知パルスが
出力されている間は前記検知回路３を異常検知回路とし
て機能させるために、前記基準電圧回路３３にチップ／
ドライバの耐電流強度に対応する基準電圧が生成され、
対応する各チップ５ｅＡ…の駆動電流に対応する電圧と
前記基準電圧を比較器３４により比較し、前記検知電圧
が基準電圧以上になった際に比較器３４より比較出力を
ANDゲート３５に出力し、該比較出力と異常検知パルス
とのANDを取って前記ANDゲート３５より出力されるエラ
ー検知信号に基づいてＬＥＤアノードソース電源２が緊
急遮断される様に構成している。７は電流補正手段でＤ
／Ａコンバータで構成され、前記定電流回路５ｄを作動
させるための基準電源として働き、制御部側１よりその
基準電圧を変更する事により所望の定電流を設定する事
が出来る。
出力されている間は前記検知回路３を異常検知回路とし
て機能させるために、前記基準電圧回路３３にチップ／
ドライバの耐電流強度に対応する基準電圧が生成され、
対応する各チップ５ｅＡ…の駆動電流に対応する電圧と
前記基準電圧を比較器３４により比較し、前記検知電圧
が基準電圧以上になった際に比較器３４より比較出力を
ANDゲート３５に出力し、該比較出力と異常検知パルス
とのANDを取って前記ANDゲート３５より出力されるエラ
ー検知信号に基づいてＬＥＤアノードソース電源２が緊
急遮断される様に構成している。７は電流補正手段でＤ
／Ａコンバータで構成され、前記定電流回路５ｄを作動
させるための基準電源として働き、制御部側１よりその
基準電圧を変更する事により所望の定電流を設定する事
が出来る。
【００１７】次に光量補正手段を中心に本実施例の制御
動作を説明する。 Ａ）前段取工程 先ず、前記ＬＥＤアレイ５ｅに配列した各チップ５ｅＡ
…毎の発光特性を電流値換算で実測し（Ｃ）、該実測デ
ータに基準パルス（Ｐ）を乗じて基準パルス巾電流積
（ＣＰ）を算出し、該電流積をイニシャル値として記憶
しておく。
動作を説明する。 Ａ）前段取工程 先ず、前記ＬＥＤアレイ５ｅに配列した各チップ５ｅＡ
…毎の発光特性を電流値換算で実測し（Ｃ）、該実測デ
ータに基準パルス（Ｐ）を乗じて基準パルス巾電流積
（ＣＰ）を算出し、該電流積をイニシャル値として記憶
しておく。
【００１８】 Ｂ）実機段取工程 次に主走査時間Ｔをチップ数ｍで除して有効発光（最
大）パルス巾（Ｐｏ：Ｔ／ｍ）を算出した後、該パルス
巾Ｐｏで前記イニシャル値ＣＰを除す（ＣＰ／Ｐｏ）事
により各チップ５ｅＡ…毎の基準電流（Ｃｓ：ＣＰ／Ｐ
ｏ）とその全基準電流の平均値（Ｃｘ：ΣＣｓ／ｍ）を
算出する。
大）パルス巾（Ｐｏ：Ｔ／ｍ）を算出した後、該パルス
巾Ｐｏで前記イニシャル値ＣＰを除す（ＣＰ／Ｐｏ）事
により各チップ５ｅＡ…毎の基準電流（Ｃｓ：ＣＰ／Ｐ
ｏ）とその全基準電流の平均値（Ｃｘ：ΣＣｓ／ｍ）を
算出する。
【００１９】 Ｃ）実機補正工程 先ず最初の走査ライン（検知用走査ライン）について予
め定めた前記パルス巾Ｐｏに基づいてブロック切換信号
に基づいて時分割駆動を行いつつ各チップ５ｅＡ…毎に
基準電流Ｃｓ若しくは一律に前記基準平均電流Ｃｘを出
力して通電制御を行いながら、そのオーバラップ状況を
把握し、そのオーバラップ状態に対応した検知出力ＰＤ
を得る。尚前記検知走査中については実際の画像データ
ではなく精度向上を図るために、各チップ５ｅＡ…全て
のＬＥＤ素子が発光するような検知用データ１ｃをソー
スシフトレジスタ５ａに入力させるのがよい。
め定めた前記パルス巾Ｐｏに基づいてブロック切換信号
に基づいて時分割駆動を行いつつ各チップ５ｅＡ…毎に
基準電流Ｃｓ若しくは一律に前記基準平均電流Ｃｘを出
力して通電制御を行いながら、そのオーバラップ状況を
把握し、そのオーバラップ状態に対応した検知出力ＰＤ
を得る。尚前記検知走査中については実際の画像データ
ではなく精度向上を図るために、各チップ５ｅＡ…全て
のＬＥＤ素子が発光するような検知用データ１ｃをソー
スシフトレジスタ５ａに入力させるのがよい。
【００２０】即ちより詳細に説明すると、制御部１より
アウトプットイネーブル１ａが出力された後、ソースシ
フトクロック１ｄに基づいて前記検知データ１ｃがソー
スシフトレジスタ５ａにシリアル入力され、そのｎビッ
ト分のデータ１ｃが該レジスタ５ａに格納された後、ブ
ロック切換信号１ｅがブロックシフトレジスタ６ａに又
同時にラッチ信号１ｂがラッチ回路５ｂに夫々出力さ
れ、一方電流補正手段７よりの設定電圧に基づいて定電
流回路５ｄの電流が基準平均電流Ｃｘに設定され、前記
ラッチ回路５ｂにラッチされたｎビットデータにより対
応するチップ５ｅＡ…全てのＬＥＤ素子が前記基準平均
電流Ｃｘに基づいて次のブロック切換信号１ｅが出力さ
れるまでの（パルス巾Ｐｏ）時間、通電（発光）され
る。
アウトプットイネーブル１ａが出力された後、ソースシ
フトクロック１ｄに基づいて前記検知データ１ｃがソー
スシフトレジスタ５ａにシリアル入力され、そのｎビッ
ト分のデータ１ｃが該レジスタ５ａに格納された後、ブ
ロック切換信号１ｅがブロックシフトレジスタ６ａに又
同時にラッチ信号１ｂがラッチ回路５ｂに夫々出力さ
れ、一方電流補正手段７よりの設定電圧に基づいて定電
流回路５ｄの電流が基準平均電流Ｃｘに設定され、前記
ラッチ回路５ｂにラッチされたｎビットデータにより対
応するチップ５ｅＡ…全てのＬＥＤ素子が前記基準平均
電流Ｃｘに基づいて次のブロック切換信号１ｅが出力さ
れるまでの（パルス巾Ｐｏ）時間、通電（発光）され
る。
【００２１】一方前記通電パルス時間内に制御部１側よ
り異常検知パルス１ｈを出力するとともに、前記基準電
圧回路３３の基準電圧を耐電流強度に対応する基準電圧
に切換えた後、対応するチップ５ｅＡ…の駆動電流の異
常検知を前記オーバラップ検知回路３にて行い、該検知
回路３よりエラー検知信号が出力されない場合にオーバ
ラップ検知パルス１ｉを出力する。尚、前記オーバラッ
プ検知パルス１ｉは次の切換信号が出力される前に立上
げ、その時間巾を実際のオーバラップが生じている間Ｏ
Ｎされるようにそのパルス時間幅を設定しておく。
り異常検知パルス１ｈを出力するとともに、前記基準電
圧回路３３の基準電圧を耐電流強度に対応する基準電圧
に切換えた後、対応するチップ５ｅＡ…の駆動電流の異
常検知を前記オーバラップ検知回路３にて行い、該検知
回路３よりエラー検知信号が出力されない場合にオーバ
ラップ検知パルス１ｉを出力する。尚、前記オーバラッ
プ検知パルス１ｉは次の切換信号が出力される前に立上
げ、その時間巾を実際のオーバラップが生じている間Ｏ
Ｎされるようにそのパルス時間幅を設定しておく。
【００２２】次に前記オーバラップ検知パルス１ｉが出
力されると前記基準電圧回路３３の基準電圧がチップ基
準平均電流Ｃｘに対応する基準電圧Ｖｓに切換わり、前
記オーバラップ検知回路３にて前記したオーバラップ検
知動作を行う。そして前記異常検知パルス１ｈとオーバ
ラップ検知パルス１ｉを交互に出力しながら異常検知動
作とオーバラップ動作をブロック切換信号に基づいて各
チップ５ｅＡ…毎に行い、該隣接する各チップ５ｅＡ…
間毎のオーバラップ時間Ｐｂの測定を１走査ラインが終
了するまで行う。
力されると前記基準電圧回路３３の基準電圧がチップ基
準平均電流Ｃｘに対応する基準電圧Ｖｓに切換わり、前
記オーバラップ検知回路３にて前記したオーバラップ検
知動作を行う。そして前記異常検知パルス１ｈとオーバ
ラップ検知パルス１ｉを交互に出力しながら異常検知動
作とオーバラップ動作をブロック切換信号に基づいて各
チップ５ｅＡ…毎に行い、該隣接する各チップ５ｅＡ…
間毎のオーバラップ時間Ｐｂの測定を１走査ラインが終
了するまで行う。
【００２３】そして前記一走査ライン終了後、有効発光
パルス巾Ｐｏからオーバラップ時間Ｐｂを引いて一次検
知パルス巾（ＰＷ’：Ｐｏ−Ｐｂ）と前記イニシャル値
ＣＰを該一次検知パルス巾ＰＷ’で除した一次検知基準
電流（ＣＷ’：ＣＰ／ＰＷ）を制御部１側で演算する。
そして前記演算した一次検知パルス巾ＰＷ’と一次検知
基準電流ＣＷ’に基づいて再度前記検知動作を行い、二
次検知パルス巾ＰＷと二次検知基準電流ＣＷを得る。
パルス巾Ｐｏからオーバラップ時間Ｐｂを引いて一次検
知パルス巾（ＰＷ’：Ｐｏ−Ｐｂ）と前記イニシャル値
ＣＰを該一次検知パルス巾ＰＷ’で除した一次検知基準
電流（ＣＷ’：ＣＰ／ＰＷ）を制御部１側で演算する。
そして前記演算した一次検知パルス巾ＰＷ’と一次検知
基準電流ＣＷ’に基づいて再度前記検知動作を行い、二
次検知パルス巾ＰＷと二次検知基準電流ＣＷを得る。
【００２４】その後より精度を上げるために必要に応じ
て三次及び四次の検知動作若しくは確認動作を行った
後、該検知パルス巾ＰＷにより生成されるブロック切換
信号と基準電流ＰＷに基づいて前記チップアレイ５ｅの
実際の時分割駆動を行う事により、精度のよい光量補正
が可能となる。尚、前記検知パルス巾ＰＷに微小クロッ
クの１ステップパルスを加え、実質的に画像に影響しな
い程度に僅かに前記駆動電流がオーバラップするように
設定する事も可能であり、これにより一層駆動電流の低
減が可能となる。
て三次及び四次の検知動作若しくは確認動作を行った
後、該検知パルス巾ＰＷにより生成されるブロック切換
信号と基準電流ＰＷに基づいて前記チップアレイ５ｅの
実際の時分割駆動を行う事により、精度のよい光量補正
が可能となる。尚、前記検知パルス巾ＰＷに微小クロッ
クの１ステップパルスを加え、実質的に画像に影響しな
い程度に僅かに前記駆動電流がオーバラップするように
設定する事も可能であり、これにより一層駆動電流の低
減が可能となる。
【００２５】
【発明の効果】以上記載した如く本発明によれば、時分
割駆動方式を採用するＬＥＤヘッド等の発光体の光量補
正において、前記ＬＥＤチップのみならず、該チップに
接続された駆動ドライバやコモンドライバの特性のバラ
ツキ若しくは経時的劣化を加味して精度よく列方向に均
等な光出力を得る事が出来る。又本発明によれば、実質
的にオーバラップに起因する画像の乱れ等が生じる事な
く各チップ毎の通電パルス巾を限度一杯取る事が出来、
これにより駆動電流を無用に増大させる事なく、容易に
チップ時分割数の増大を図る事が出来これによりヘッド
の小型化やドット密度の高密度化を達成し得る。
割駆動方式を採用するＬＥＤヘッド等の発光体の光量補
正において、前記ＬＥＤチップのみならず、該チップに
接続された駆動ドライバやコモンドライバの特性のバラ
ツキ若しくは経時的劣化を加味して精度よく列方向に均
等な光出力を得る事が出来る。又本発明によれば、実質
的にオーバラップに起因する画像の乱れ等が生じる事な
く各チップ毎の通電パルス巾を限度一杯取る事が出来、
これにより駆動電流を無用に増大させる事なく、容易に
チップ時分割数の増大を図る事が出来これによりヘッド
の小型化やドット密度の高密度化を達成し得る。
【図１】本発明の実施例に係るＬＥＤアレイの制御回路
【図２】オーバラップ回路の内部構成図
【図３】図２の制御動作を示すタイムチャート図
１ 制御部 ２ ソース電源 ３ オーバラップ回
路 ５ ＬＥＤヘッド６ 切換制御回路
路 ５ ＬＥＤヘッド６ 切換制御回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) B41J 2/44 B41J 2/45 B41J 2/455
Claims (2)
- 【請求項１】 ライン状に配列した多数の発光素子をブ
ロック単位にｍ分割し、該ブロックを時分割にて順次切
換えながら前記発光素子の駆動制御を行う発光体の光量
補正方法において、前記発光素子の発光特性データを予め用意し、 電圧付加手段を調節することによって発光素子駆動電流
を調節設定可能な電流補正手段と、 前記発光素子駆動電流に対応する電圧が、前記電圧付加
手段の所定電圧以上であるときに出力するオーバーラッ
プ検知パルスによりオーバーラップ時間（Ｐｂ）を計測
する計測手段を備え、 前もって設定されたパルス巾により順次生成されるブロ
ック切換信号に基づいて前記各ブロックを順次切換えな
がら時分割駆動を行いながら、隣接する各ブロック間の
前記オーバラップ時間（Ｐｂ）を前記計測手段によりブ
ロック切換え時に生じる駆動電流の変動時間に基づいて
計測し、 前記発光素子の主走査時間から前記ｍ分割された発光素
子のブロックの有効発光パルス幅（Ｐｏ）を算出すると
ともに、該有効発光パルス幅と前記オーバーラップ時間
との差（Ｐｏ−Ｐｂ）をとり、該差（Ｐｏ−Ｐｂ）と前
記発光特性データから前記電圧付加手段の調節設定値を
得て、 前記発光素子ブロックの駆動電流を補正する事を特徴と
する発光体の光量補正方法。 - 【請求項２】 前記オーバラップ時間の計測を前記ブロ
ック切換時に生じる駆動電流の変動時間に基づいて行う
請求項１記載の光量補正方法において、 前記オーバラップ時間の計測が、対応する各ブロックの
駆動電流が所定基準レベル以内にある事を検知した後に
行う事を特徴とする光量補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP41715090A JP2919085B2 (ja) | 1990-12-31 | 1990-12-31 | 発光体の光量補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP41715090A JP2919085B2 (ja) | 1990-12-31 | 1990-12-31 | 発光体の光量補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04288250A JPH04288250A (ja) | 1992-10-13 |
| JP2919085B2 true JP2919085B2 (ja) | 1999-07-12 |
Family
ID=18525281
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP41715090A Expired - Lifetime JP2919085B2 (ja) | 1990-12-31 | 1990-12-31 | 発光体の光量補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2919085B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11138890A (ja) | 1997-11-10 | 1999-05-25 | Casio Electron Mfg Co Ltd | 印字ヘッドの駆動制御装置 |
-
1990
- 1990-12-31 JP JP41715090A patent/JP2919085B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04288250A (ja) | 1992-10-13 |
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