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JP2919883B2 - Fault diagnosis method for production line - Google Patents
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JP2919883B2 - Fault diagnosis method for production line - Google Patents

Fault diagnosis method for production line

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JP2919883B2
JP2919883B2 JP32106389A JP32106389A JP2919883B2 JP 2919883 B2 JP2919883 B2 JP 2919883B2 JP 32106389 A JP32106389 A JP 32106389A JP 32106389 A JP32106389 A JP 32106389A JP 2919883 B2 JP2919883 B2 JP 2919883B2
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、生産ラインにおける設備がその動作につい
てのシーケンス制御が行われるものとされたもとで、当
該設備に故障が生じた際に、その故障の原因となった作
動要素を特定する生産ラインの故障診断方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention relates to a method for controlling a sequence of operations of a facility in a production line. The present invention relates to a method for diagnosing a failure in a production line for identifying an operating element that has caused a failure.

(従来の技術) 自動車の組立ラインの如くの生産ラインにおいて、設
置された種々の設備に対してコンピュータを内蔵したシ
ーケンス制御部を設け、斯かるシーケンス制御部によっ
て、各設備が順次行うべき動作についてのシーケンス制
御を行うようにすることが知られている。斯かるシーケ
ンス制御が行われる際には、シーケンス制御部に内蔵さ
れたコンピュータにシーケンス制御プログラムがロード
され、シーケンス制御部が、生産ラインに設置された種
々の設備夫々に対する動作制御の各段階を、シーケンス
制御プログラムに従って逐次進めていくものとされる。
2. Description of the Related Art In a production line such as an automobile assembly line, a sequence control unit having a built-in computer is provided for various installed facilities, and the sequence control unit performs operations to be sequentially performed by each facility. It is known to perform the following sequence control. When such sequence control is performed, a sequence control program is loaded into a computer built in the sequence control unit, and the sequence control unit performs each step of operation control for each of various types of equipment installed on the production line. It is assumed that the processing proceeds sequentially according to the sequence control program.

このような生産ラインに設置された種々な設備の動作
についてのシーケンス制御が行われるにあたっては、そ
の制御状態を監視して各設備における故障を検知する故
障診断が、シーケンス制御に並行して行われるようにさ
れることが多い。そして、シーケンス制御に関連した故
障診断は種々の形式がとられるものとされ、例れば、特
開昭60−238906号公報には、設備が正常に作動せしめら
れることになる状態のもとにおけるシーケンス制御回路
部の構成要素の動作態様を基準動作態様として予め設定
しておき、設備の実際の作動時におけるシーケンス制御
回路部の構成要素の動作態様を基準動作態様と順次比較
していき、その差に基づいて故障検出を行うようなすこ
とが、シーケンス制御に関連した故障診断の一つとして
提案されている。
When performing sequence control on the operation of various facilities installed in such a production line, a failure diagnosis for monitoring the control state and detecting a failure in each facility is performed in parallel with the sequence control. Often it is. The fault diagnosis related to the sequence control may take various forms. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-238906 discloses a method under the condition that the equipment can be operated normally. The operation mode of the components of the sequence control circuit unit is set in advance as the reference operation mode, and the operation modes of the components of the sequence control circuit unit during the actual operation of the equipment are sequentially compared with the reference operation mode. Performing failure detection based on the difference has been proposed as one of failure diagnosis related to sequence control.

(発明が解決しようとする課題) 上述の如くに、シーケンス制御回路部の構成要素につ
いての基準動作態様を予め設定しておき、設備の実際の
作動時におけるシーケンス制御回路部の構成要素の動作
態様と基準動作態様との比較を行って、その比較結果に
基づいて設備の異常検出を行うようにされる場合には、
シーケンス制御回路部の構成要素の動作態様は多数の要
件の組合せにより定められるものとなり、従って、設備
の実際の作動時に際しては、シーケンス制御回路部の構
成要素についての多様な動作態様がとられ得ることにな
るが、基準動作態様とされる動作態様はその数が限られ
たものとされるので、多様な動作態様のうちの選択され
たものが基準動作態様とされることになる。斯かるもと
では、実際には設備が正常に作動しているにもかかわら
ず、実際のシーケンス制御回路部の構成要素の動作態様
が予め設定された基準動作態様と合致しない事態が生
じ、その結果、設備が異常をきたしているとされる誤検
出がなされてしまう虞があるとともに、設備の故障の検
出がなされたされた際において、その故障の原因となっ
た設備における作動要素を特定するにあたっては、基準
動作態様に合致しないものとされたシーケンス制御回路
部の構成要素の動作態様と、斯かる動作態様に関連する
ものとなる設備における多数の作動要素とを順次対応さ
せて点検していくことが必要とされて、故障原因作動要
素を短時間のうちに特定することが困難とされることが
多い。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, the reference operation modes of the components of the sequence control circuit unit are set in advance, and the operation modes of the components of the sequence control circuit unit during the actual operation of the equipment. When performing a comparison between the reference operation mode and the base operation mode, and performing the abnormality detection of the equipment based on the comparison result,
The operation mode of the components of the sequence control circuit unit is determined by a combination of a number of requirements. Therefore, when the facility is actually operated, various operation modes of the components of the sequence control circuit unit can be taken. In other words, since the number of the operation modes set as the reference operation modes is limited, a selected one of the various operation modes is set as the reference operation mode. Under such circumstances, even though the equipment is actually operating normally, a situation occurs in which the actual operation mode of the components of the sequence control circuit unit does not match the preset reference operation mode. As a result, there is a possibility that erroneous detection that the equipment is abnormal may be performed, and when a failure of the equipment is detected, the operating element in the equipment that caused the failure is identified. In doing so, the operation mode of the components of the sequence control circuit unit that is determined not to match the reference operation mode and a number of operation elements in the equipment related to such an operation mode are sequentially checked and checked. In many cases, it is difficult to specify the failure-causing operating element in a short time.

斯かる点に鑑み、本発明は、行うべき諸動作が、正常
状態のもとで開始から終了まで独立して行われることに
なる一連の動作の最大単位を動作ブロックとして複数の
動作ブロックに区分されるとともに、複数の動作ブロッ
クの夫々が複数の動作ステップに区分されたもとで、複
数の動作ブロックの夫々における複数の動作ステップを
シーケンス制御ラダープログラムに従って実行するもの
とされた生産ラインにおける設備に着目し、斯かる設備
における作動時に故障が生じた際に、その故障原因とな
った作動要素を迅速かつ適正に特性することができるよ
うにされた、生産ラインの故障診断方法を提供すること
を目的とする。
In view of such a point, the present invention classifies various operations to be performed into a plurality of operation blocks as a maximum unit of a series of operations that are independently performed from start to end under a normal state as an operation block. Attention is paid to facilities on a production line that execute a plurality of operation steps in each of a plurality of operation blocks in accordance with a sequence control ladder program, with each of the plurality of operation blocks being divided into a plurality of operation steps. It is another object of the present invention to provide a method for diagnosing a failure in a production line, in which when a failure occurs during operation of such equipment, the operating element that caused the failure can be quickly and appropriately characterized. And

(課題を解決するための手段及び作用) 上述の目的を達成すべく、本発明に係る生産ラインの
故障診断方法は、生産ラインにおける設備が行うべき諸
動作が、正常状態のもとで開始から終了まで独立して行
われることになる一連の動作の最大単位を動作ブロック
として複数の動作ブロックに区分されるとともに、それ
ら複数の動作ブロックの夫々が複数の動作ステップに区
分されたもとで、複数の動作ブロックの夫々における複
数の動作ステップをシーケンス制御ラダープログラムに
従って順次実行すべく制御されるとき、複数の動作ブロ
ックの夫々における複数の動作ステップの開始時点から
終了時点までの実行時間を測定し、測定された実行時間
が基準時間より長くなる特定の動作ブロックがあったと
き、その特定の動作ブロックを実行した設備に故障が生
じていると判断し、シーケンス制御ラダープログラムに
おける各出力ディバイス及びそれに接続されて出力ディ
バイスと共に一組のラダー要素を形成する接点ディバイ
スをラダー要素ディバイス群としたもとで、上述の特定
の動作ブロックにおける故障によりオフ状態とされる特
定の出力要素の動作含む動作ステップに対応するシーケ
ンス制御ラダープログラムの部分について、上述の特定
の出力要素に対応する出力ディバイスを含むラダー要素
ディバイス群における、オン状態をとる接点ディバイス
が並列接続されることなく、オフ状態をとるものとされ
た接点ディバイスを検出し、そのオフ状態をとる接点デ
ィバイスが、前段のラダー要素ディバイス群における出
力ディバイスに対応するものであるときには、さらにそ
の前段のラダー要素ディバイス群における、オン状態を
とる接点ディバイスが並列接続されることなく、オフ状
態をとるものとされた接点ディバイスを検出することと
して、検出されたオフ状態をとる接点ディバイスが、前
段のラダー要素ディバイス群における出力ディバイスに
対応するものでないとき、当該接点ディバイスを故障原
因作動要素と判定するものとされる。
(Means and Actions for Solving the Problems) In order to achieve the above-described object, the method for diagnosing a failure in a production line according to the present invention is configured such that various operations to be performed by the facilities in the production line start from a normal state. A maximum unit of a series of operations to be performed independently until the end is divided into a plurality of operation blocks as an operation block, and each of the plurality of operation blocks is divided into a plurality of operation steps. When a plurality of operation steps in each of the operation blocks are controlled to be sequentially executed in accordance with the sequence control ladder program, an execution time from a start time to an end time of the plurality of operation steps in each of the plurality of operation blocks is measured and measured. If there is a specific operation block whose execution time is longer than the reference time, execute that specific operation block It is determined that a failure has occurred in the installed equipment, and each output device in the sequence control ladder program and the contact device connected thereto and forming a set of ladder elements together with the output device are defined as a ladder element device group, and A ladder element device group including an output device corresponding to the above-described specific output element for a portion of the sequence control ladder program corresponding to an operation step including an operation of a specific output element that is turned off due to a failure in the specific operation block , The contact device that takes the off state is detected without being connected in parallel with the contact device that takes the on state, and the contact device that takes the off state corresponds to the output device in the preceding ladder element device group If you do In the ladder element device group of the preceding stage, the contact device that takes the off state is detected as a contact device that takes the off state without being connected in parallel with the contact device that takes the on state. When the contact device does not correspond to the output device in the preceding ladder element device group, the contact device is determined to be the failure-causing operation element.

このようにシーケンス制御がなされる設備の作動時に
故障が生じて、特定の出力要素がオフ状態とされた際、
その故障の原因となった作動要素を特定するための究明
が、シーケンス制御ラダープログラムにおける故障によ
りオフ状態とされる特定の出力要素の動作を含む動作ス
テップに対応する特定の部分について行われる。しか
も、斯かるシーケンス制御ラダープログラムにおける特
定の部分についての故障の原因となった作動要素の究明
は、その特定の部分に段配列された複数のラダー要素デ
ィバイス群のうちの、設備に故障が生じたときオフ状態
とされる特定の出力要素に対応する出力ディバイスを含
むラダー要素ディバイス群から、それより前段側に位置
するラダー要素ディバイス群へと、故障の原因となった
作動要素が検出されるまで、遡って行われる。従って、
故障の原因となった作動要素を迅速かつ適正に特定する
ことができることになる。
When a failure occurs during the operation of the equipment subjected to the sequence control as described above and a specific output element is turned off,
An investigation to identify the operating element that caused the failure is performed for a specific portion corresponding to an operation step including an operation of a specific output element that is turned off due to the failure in the sequence control ladder program. In addition, the investigation of the operating element that caused a failure in a specific part of the sequence control ladder program is based on the fact that a failure occurs in the equipment among a plurality of ladder element devices arranged in stages in the specific part. From the ladder element device group including the output device corresponding to the specific output element that is turned off when the ladder element device group is located earlier than the ladder element device group, the operation element causing the failure is detected. Until it is done retroactively. Therefore,
The operating element that caused the failure can be quickly and properly identified.

(実施例) 本発明に係る生産ラインの故障診断方法についての説
明に先立ち、本発明に係る生産ラインの故障診断方法が
適用される車両組立ラインの一例について、第2図及び
第3図を参照して述べる。
(Embodiment) Prior to description of a production line failure diagnosis method according to the present invention, an example of a vehicle assembly line to which the production line failure diagnosis method according to the present invention is applied will be described with reference to FIGS. 2 and 3. I will describe.

第2図及び第3図に示される車両組立ラインにおいて
は、車両のボディ11の受台12上に受け、受台12の位置を
制御して受台12上におけるボディ11の位置決めを行う位
置決めステーションST1と、パレット13上における所定
の位置に載置されたエンジン14、フロントサスペンショ
ン組立(図示省略)及びリアサスペンション組立15とボ
ディ11とを組み合わせるドッキングステーションST2
と、ボティ11に対してそれに組み合わされたエンジン1
4,フロントサスペンション組立及びリアサスペンション
組立15を、螺子を用いて締結して固定する締結ステーシ
ョンST3とが設けられている。また、位置決めステーシ
ョンST1とドッキングステーションST2との間には、ボテ
ィ11を保持して搬送するオーバーヘッド式の移載装置16
が設けられており、また、ドッキングステーションST2
と締結ステーションST3との間には、パレット13を搬送
するパレット搬送装置17が設けられている。
In the vehicle assembly line shown in FIG. 2 and FIG. 3, a positioning station for receiving a vehicle body 11 on a cradle 12 and controlling the position of the cradle 12 to position the body 11 on the cradle 12 is provided. A docking station ST2 for combining the ST1, the engine 14 placed at a predetermined position on the pallet 13, the front suspension assembly (not shown), the rear suspension assembly 15 and the body 11
And the engine 1 combined with it against the body 11
4, a fastening station ST3 for fastening and fixing the front suspension assembly and the rear suspension assembly 15 using screws. Further, between the positioning station ST1 and the docking station ST2, an overhead type transfer device 16 for holding and transporting the body 11 is provided.
Is provided, and the docking station ST2
A pallet transport device 17 for transporting the pallet 13 is provided between the pallet 13 and the fastening station ST3.

位置決めステーションST1における受台12は、レール1
8に沿って往復走行移動するものとされており、また、
位置決めステーションST1には、図示が省略されている
が、受台12に関連して配されて受台12をレール18に直交
する方向(車幅方向)及びレール18に沿う方向(前後方
向)に移動させ、受台12上に載置されたボティ11につい
ての、その前部の車幅方向における位置決めを行う位置
決め手段(BF),その後部の車幅方向の位置決めを行う
位置決め手段(BR)、及び、その前後方向における位置
決めを行う位置決め手段(TL)が設けられ、さらに、ボ
ティ11における前方左右部及び後方左右部に係合して、
ボティ11の受台12に対する位置決めを行う昇降基準ピン
(FL,FR,RL,RR)が設けられている。そして、これらの
位置決め手段及び昇降基準ピンによって、位置決めステ
ーションST1における位置決め装置19が構成されてい
る。
The pedestal 12 at the positioning station ST1
It is supposed to travel back and forth along 8,
Although not shown in the drawing, the positioning station ST1 is disposed in relation to the pedestal 12 and moves the pedestal 12 in a direction perpendicular to the rail 18 (vehicle width direction) and in a direction along the rail 18 (front-back direction). The positioning means (BF) for moving the body 11 placed on the cradle 12 to position the front part in the vehicle width direction, the positioning means (BR) for positioning the rear part in the vehicle width direction, And positioning means (TL) for performing positioning in the front-rear direction is provided.
Elevating reference pins (FL, FR, RL, RR) for positioning the body 11 with respect to the receiving table 12 are provided. The positioning device 19 in the positioning station ST1 is configured by these positioning means and the lifting reference pins.

移載装置16は、位置決めステーションST1とドッキン
グステーションST2との上方において両者間に掛け渡さ
れて配されたガイドレール20と、ガイドレール20に沿っ
て移動するものとされたキャリア21とから成り、キャリ
ア21には、昇降ハンガーフレーム22が取り付けられてい
て、ボティ11は昇降ハンガーフレーム22より支持され
る。また、パレット搬送装置17は、夫々パレット13と下
面を受ける多数の支持ローラ23が設けられた一対のガイ
ド部24L及び24R,ガイド部24L及び24Rに夫々平行に延設
された一対の搬送レール25L及び25R,各々がパレット13
を係止するパレット係止部26を有し、夫々搬送レール25
L及び24Rに沿って移動するものとされたパレット搬送台
27L及び27R、及び、パレット搬送台27L及び27を駆動す
るリニアモータ機構(図示は省略されている)を備えて
構成されている。
The transfer device 16 is composed of a guide rail 20 that is arranged over the positioning station ST1 and the docking station ST2 and that is bridged therebetween, and a carrier 21 that moves along the guide rail 20. A lifting hanger frame 22 is attached to the carrier 21, and the body 11 is supported by the lifting hanger frame 22. Further, the pallet transport device 17 includes a pair of guide portions 24L and 24R provided with a plurality of support rollers 23 receiving the pallet 13 and the lower surface, respectively, and a pair of transport rails 25L extending parallel to the guide portions 24L and 24R, respectively. And 25R, each with 13 pallets
Pallet locking portions 26 for locking the transport rails 25
Pallet carrier that moves along L and 24R
27L and 27R, and a linear motor mechanism (not shown) for driving the pallet transfer tables 27L and 27.

ドッキングステーションST2には、フロントサスペン
ション組立及びリアサスペンション組立15の組み付け時
において、フロントサスペンション組立におけるストラ
ット及びアサスペンション組立15におけるストラット15
Aを夫々支持して組付姿勢をとらせる一対の左右前方ク
ランプアーム30L及び30R、及び、一対の左右後方クラン
プアーム31L及び31Rが設けられている。左右前方クラン
プアーム30L及び30Rは、夫々、取付板部32L及び32Rに、
搬送レール25L及び25Rに直交する方向に進退動可能にさ
れて取り付けられるとともに、左右後方クランプアーム
31L及び31Rが、夫々、取付板部33L及び33Rに、搬送レー
ル25L及び25Rに直交する方向に進退動可能にされて取り
付けられており、左右前方クランプアーム30L及び30Rの
相互対向先端部、及び、左右後方クランプアーム31L及
び31Rの相互対向先端部の夫々は、フロントサスペンシ
ョン組立におけるストラットもしくはリアサスペンショ
ン組立15におけるストラット15Aに係合する係合部を有
するものとされている。そして、取付板部32Lがアーム
サライド34Lにより固定基台35Lに対して、搬送レール25
L及び25Rに沿う方向に移動可能とされ、取付板部32Rが
アームスライド34Rにより固定基台35Rに対して、搬送レ
ール25L及び25Rに沿う方向に移動可能とされ、取付板部
33Lがアームサライド36Lにより固定基台37Lに対して、
搬送レール25L及び25Rに沿う方向に移動可能とされ、さ
らに、取付板部33Rがアームスライド36Rにより固定基台
37Rに対して、搬送レール25L及び25Rに沿う方向に移動
可能とされている。従って、左右前方クランプアーム30
L及び30Rは、それらの先端部がフロントサスペンション
組立におけるストラットに係合した状態のもとで、前後
左右に移動可能とされることになるとともに、左右後方
クランプアーム31L及び31Rは、それらの先端部がリアサ
スペンション組立15におけるストラット15Aに係合した
状態のもとで、前後左右に移動可能とされることにな
り、左右前方クランプアーム30L及び30R,アームスライ
ド34L及び34R,左右後方クランプアーム31L及び31R、及
び、アームスライド36L及び36Rは、ドッキング装置40を
構成している。
When the front suspension assembly and the rear suspension assembly 15 are assembled, the docking station ST2 includes struts in the front suspension assembly and struts 15 in the as-suspension assembly 15.
A pair of left and right front clamp arms 30L and 30R, each supporting A, and taking an assembled posture, and a pair of left and right rear clamp arms 31L and 31R are provided. Left and right front clamp arms 30L and 30R are attached to mounting plate portions 32L and 32R, respectively.
It is mounted to be able to move forward and backward in the direction perpendicular to the transfer rails 25L and 25R, and has a left and right rear clamp arm.
31L and 31R are attached to the mounting plate portions 33L and 33R, respectively, so as to be able to advance and retreat in a direction orthogonal to the transport rails 25L and 25R, the left and right front clamp arms 30L and 30R oppose each other, and Each of the left and right rear clamp arms 31L and 31R has an engaging portion that engages with a strut in the front suspension assembly or a strut 15A in the rear suspension assembly 15. Then, the mounting plate portion 32L is fixed to the fixed base 35L by the arm slide 34L, and
L and 25R, and the mounting plate 32R is movable by the arm slide 34R with respect to the fixed base 35R in the direction along the transfer rails 25L and 25R.
33L is fixed to the fixed base 37L by arm slide 36L,
It can be moved in the direction along the transfer rails 25L and 25R, and the mounting plate 33R is fixed to the base by the arm slide 36R.
With respect to 37R, it is movable in a direction along the transfer rails 25L and 25R. Therefore, the left and right front clamp arms 30
L and 30R can be moved back and forth and left and right under the condition that their tips are engaged with struts in the front suspension assembly, and the left and right rear clamp arms 31L and 31R are Under the condition that the part is engaged with the strut 15A in the rear suspension assembly 15, it is possible to move forward and backward and left and right, the left and right front clamp arms 30L and 30R, the arm slides 34L and 34R, the left and right rear clamp arms 31L. And 31R, and the arm slides 36L and 36R constitute a docking device 40.

さらに、ドッキングステーションST2には、搬送レー
ル25L及び25Rに夫々平行に伸びるものとされて設置され
た一対のスライドレール41L及び41R,スライドレール41L
及び41Rに沿ってスライドするものとされた可動部材42,
可動部材42を駆動するモータ43等から成るスライド装置
45が設けられており、このスライド装置45における可動
部材42には、パレット13上に設けられた可動エンジン支
持部材(図示は省略されている)に係合する係合手段46
が設けられている。また、パレット13を所定の位置に位
置決めするものとされた、2個の昇降パレット基準ピン
47も設けられている。スライド装置45は、移載装置16に
おける昇降ハンガーフレーム22により支持されたボティ
11に、パレット13上に配されたエンジン14,フロントサ
スペンション組立及びリアサスペンション組立15が組み
合わされる際、その係合手段46が昇降パレット基準ピン
47により位置決めされたパレット13上の可動エンジン支
持部材に係合した状態で前後動せしめられ、それによ
り、ボティ11に対してエンジン14を前後動させて、ボテ
ィ11とエンジン14との干渉を回避するようにされる。
Further, in the docking station ST2, a pair of slide rails 41L and 41R, which are installed so as to extend in parallel with the transport rails 25L and 25R, respectively, and the slide rail 41L.
And movable member 42, which is supposed to slide along 41R,
A slide device including a motor 43 for driving a movable member 42 and the like
A movable member 42 of the slide device 45 is provided with an engagement means 46 which engages with a movable engine support member (not shown) provided on the pallet 13.
Is provided. Further, two lifting pallet reference pins for positioning the pallet 13 at a predetermined position.
47 are also provided. The slide device 45 is a body supported by the lifting hanger frame 22 of the transfer device 16.
When the engine 14, the front suspension assembly, and the rear suspension assembly 15 arranged on the pallet 13 are combined with the
It is moved back and forth while engaging with the movable engine support member on the pallet 13 positioned by 47, thereby moving the engine 14 back and forth with respect to the body 11 to avoid interference between the body 11 and the engine 14. To be.

締結ステーションST3には、ボティ11にそれに組み合
わされたエンジン14及びフロントサスペンション組立を
締結するための螺子締め作業を行うものとされたロボッ
ト48A、及び、ボティ11にそれに組み合わされたリアサ
スペンション組立15を締結するための螺子締め作業を行
うものとされたロボット48Bが設置されており、さら
に、締結ステーションST3においても、パレット13を所
定の位置に位置決めするものとされた、2個の昇降パレ
ット基準ピン47が設けられている。
In the fastening station ST3, a robot 48A that is to perform screw tightening work for fastening the engine 14 and the front suspension assembly combined with the body 41 to the body, and a rear suspension assembly 15 combined with the body 14 to the body 48 A robot 48B, which is to perform a screw tightening operation for fastening, is installed. Further, also at the fastening station ST3, two lifting / lowering pallet reference pins, which are to position the pallet 13 at a predetermined position. 47 are provided.

上述の如くの車両組立ラインにおいて、位置決めステ
ーションST1における位置決め装置19,移載装置16,ドッ
キングステーションST2におけるドッキング装置40及び
スライド装置45,パレット搬送装置17、及び、締結ステ
ーションST3におけるロボット48A及び48Bが、それれに
接続されたシーケンス制御部により、シーケンス制御プ
ログラムに基づき、それらの動作についてのシーケンス
制御が行われる設備(シーケンス制御対象設備)とされ
ている。
In the vehicle assembly line as described above, the positioning device 19 in the positioning station ST1, the transfer device 16, the docking device 40 and the slide device 45 in the docking station ST2, the pallet transport device 17, and the robots 48A and 48B in the fastening station ST3. The sequence control unit connected thereto is a facility (sequence control target facility) that performs sequence control of those operations based on a sequence control program.

これらのシーケンス制御対象設備の夫々が行う動作
は、その開始から終了まで独立して行わせることができ
る一連の動作の最大単位として定義される動作ブロック
に区分されると、以下の如くにB0〜B11の12個の動作ブ
ロックが得られる。
The operation performed by each of these sequence control target facilities is divided into operation blocks defined as a maximum unit of a series of operations that can be independently performed from the start to the end, and B0 to B0 are as follows. 12 operation blocks of B11 are obtained.

B0:位置決め装置19による、受台12上におけるボディ11
の位置決めを行う動作ブロック(受台位置決め動作ブロ
ック)。
B0: Body 11 on cradle 12 by positioning device 19
Operation block that performs positioning of cradle (pedestal positioning operation block).

B1:移載装置16による、ボティ11の移載のための準備を
行う動作ブロック(移載装置準備動作ブロック)。
B1: Operation block for preparing the transfer of the body 11 by the transfer device 16 (transfer device preparation operation block).

B2:ドッキング装置40による、左右前方クランプアーム3
0L及び30Rによりフロントサスペンション組立のストラ
ットをクランプし、また、左右後方クランプアーム31L
及び31Rによりリアサスペンション組立15のストラット1
5Aをクランプする準備を行なう動作ブロック(ストラッ
トクランプ準備動作ブロック)。
B2: Left and right front clamp arm 3 by docking device 40
Clamps the struts of the front suspension assembly with 0L and 30R, and the left and right rear clamp arms 31L
Strut 1 of rear suspension assembly 15 by 31R and 31R
Operation block for preparing to clamp 5A (Strut clamp preparation operation block).

B3:位置決め装置19による位置決めがなされた受台12上
でのボティ11が、移載装置16における昇降ハンガーフレ
ーム22へと移載され、搬送される状態とされる動作ブロ
ック(移載装置受取り動作ブロック)。
B3: An operation block in which the body 11 on the receiving table 12 positioned by the positioning device 19 is transferred to the elevating hanger frame 22 in the transfer device 16 and is conveyed (transfer device receiving operation). block).

B4:スライド装置45による、その可動部材42に設けられ
た係合手段46をパレット13上の可動エンジン支持部材に
係合させるための準備を行う動作ブロック(スライド装
置準備動作ブロック)。
B4: Operation block (slide device preparation operation block) for preparing the engagement of the engagement means 46 provided on the movable member 42 with the movable engine support member on the pallet 13 by the slide device 45.

B5:位置決め装置19による、受台12を原位置に戻す動作
ブロック(受台原位置戻し動作ブロック)。
B5: An operation block for returning the cradle 12 to the original position by the positioning device 19 (a cradle original position return operation block).

B6:移載装置16における昇降ハンガーフレーム22により
支持されたボティ11に、パレット13上に配されたエンジ
ン14と、パレット13上に配されるとともに、左右前方ク
ランプアーム30L及び30Rによりクランプされたフロント
サスペンション組立のストラット、及び、左右後方クラ
ンプアーム31L及び31Rによりクランプされたリアサスペ
ンション組立15のストラット15Aを組み合わせる動作ブ
ロック(エンジン/サスペンション・ドッキング動作ブ
ロック)。
B6: The engine 14 arranged on the pallet 13 and the body 14 supported by the lifting hanger frame 22 in the transfer device 16 and arranged on the pallet 13 and clamped by the left and right front clamp arms 30L and 30R. An operation block (engine / suspension docking operation block) combining the struts of the front suspension assembly and the struts 15A of the rear suspension assembly 15 clamped by the left and right rear clamp arms 31L and 31R.

B7:移載装置16による、原位置に戻る動作ブロック(移
載装置原位置戻り動作ブロック)。
B7: An operation block for returning to the original position by the transfer device 16 (transfer device original position return operation block).

B8:ドッキング装置40による、左右前方クランプアーム3
0L及び30Rと左右後方クランプアーム31L及び31Rの夫々
を原位置に戻す動作ブロック(クランプアーム原位置戻
し動作ブロック)。
B8: Left and right front clamp arm 3 by docking device 40
Operation block for returning the 0L and 30R and the left and right rear clamp arms 31L and 31R to their original positions (clamp arm original position return operation block).

B9:パレット搬送装置17による、リニアモータ機構を作
動させて、エンジン14,フロントサスペンション組立及
びリアサスペンション組立15が組み合わされたボティ11
が載置されたパレット13を、締結ステーションST3へ搬
送する動作ブロック(リニアモータ推進ブロック)。
B9: Bottom 11 in which engine 14, front suspension assembly and rear suspension assembly 15 are combined by operating linear motor mechanism by pallet transport device 17
An operation block (linear motor propulsion block) for transporting the pallet 13 on which is mounted to the fastening station ST3.

B10:ロボット48Aによる、ボティ11にそれに組み合わさ
れたエンジン14及びフロントサスペンション組立を締結
するための螺子締め作業を行う動作ブロック(螺子締め
動作ブロック)。
B10: An operation block (screw operation block) for performing a screw tightening operation by the robot 48A to fasten the engine 14 and the front suspension assembled with the body 11 to the body 41.

B11:ロボット48Bによる、ボティ11にそれに組み合わさ
れたリアサスペンション組立15を締結するための螺子締
め作業を行う動作ブロック(螺子締め動作ブロッ
ク)。
B11: An operation block (screw tightening operation block) for performing a screw tightening operation by the robot 48B to fasten the rear suspension assembly 15 combined with the body to the body 41.

これらの動作ブロックB0〜B11は、第4図に示される
動作ブロックフローチャートによって、相互関係が時系
列的にあらわされるものとされる。
These operation blocks B0 to B11 are represented in a time-series relationship with each other by the operation block flowchart shown in FIG.

また、上述の動作ブロックB0〜B11の夫々は、夫々が
出力動作を伴う複数の動作ステップに区分され、例え
ば、受台位置決め動作ブロックB0については、以下の如
くにB0S0〜B0S9の10個の動作ステップに区分される。
Each of the above-described operation blocks B0 to B11 is divided into a plurality of operation steps, each of which includes an output operation.For example, for the cradle positioning operation block B0, the ten operations of B0S0 to B0S9 are performed as follows. It is divided into steps.

B0S0:各種の条件を確認する動作ステップ(条件確認動
作ステップ)。
B0S0: Operation step for confirming various conditions (condition confirmation operation step).

B0S1:位置決め手段BFにより、受台12が移動せしめられ
て、ボティ11の前部についての車両方向における位置決
めが行われる動作ステップ(BF位置決め動作ステッ
プ)。
B0S1: An operation step (BF positioning operation step) in which the cradle 12 is moved by the positioning means BF and the front part of the body 11 is positioned in the vehicle direction.

B0S2:位置決め手段BRにより、受台12が移動せしめられ
て、ボティ11の後部についての車両方向における位置決
めが行われる動作ステップ(BR位置決め動作ステッ
プ)。
B0S2: An operation step (BR positioning operation step) in which the cradle 12 is moved by the positioning means BR and the rear part of the body 11 is positioned in the vehicle direction.

B0S3:位置決め手段TLにより、受台12に移動せしめられ
て、ボティ11のレール18に沿う方向(前後方向)におけ
る位置決めが行われる動作ステップ(TL位置決め動作ス
テップ)。
B0S3: Operation step (TL positioning operation step) in which the positioning means TL is moved to the receiving table 12 to perform positioning in the direction (front-back direction) along the rail 18 of the body 11.

B0S4:昇降基準ピンFLがボティ11の前方左側部に係合す
る動作ステップ(FL係合動作ステップ)。
B0S4: Operation step in which the lifting reference pin FL engages the front left side of the body 11 (FL engagement operation step).

B0S5:昇降基準ピンFRがボティ11の前方右側部に係合す
る動作ステップ(FR係合動作ステップ)。
B0S5: Operation step in which the lifting reference pin FR engages the front right side of the body 11 (FR engagement operation step).

B0S6:昇降基準ピンFLがボティ11の後方左側部に係合す
る動作ステップ(FL係合動作ステップ)。
B0S6: Operation step in which the lifting reference pin FL engages the rear left side of the body 11 (FL engagement operation step).

B0S7:昇降基準ピンRRがボティ11の後方右側部に係合す
る動作ステップ(RR係合動作ステップ)。
B0S7: Operation step in which the elevation reference pin RR engages the rear right side of the body 11 (RR engagement operation step).

B0S8:位置決め手段BFがボティ11の前部についての車両
方向における位置決めをした状態から原位置に戻る動作
ステップ(BF原位置戻り動作ステップ)。
B0S8: An operation step of returning to the original position from a state where the positioning means BF positions the front part of the body 11 in the vehicle direction (BF original position return operation step).

B0S9:位置決め手段BRがボティ11の前部についての車両
方向における位置決めをした状態から原位置に戻る動作
ステップ(BR原位置戻り動作ステップ)。
B0S9: An operation step of returning to the original position from a state where the positioning means BR has positioned the front portion of the body 11 in the vehicle direction (BR original position return operation step).

続いて、上述の如くのシーケンス制御対象設備が設置
された車両組立ラインに適用される、本発明に係る生産
ラインの故障診断方法の一例について述べる。
Next, an example of a method for diagnosing a failure in a production line according to the present invention, which is applied to a vehicle assembly line in which the equipment to be sequence-controlled as described above is installed, will be described.

第5図は、本発明に係る生産ラインの故障診断方法の
一例が実施される故障診断システムを、シーケンス制御
対象設備及びそれらに接続されたシーケンス制御部と共
に示す。シーケンス制御対象設備50は、前述の如く、位
置決め装置19,移載装置16,ドッキング装置40,スライド
装置45,パレット搬送装置17,及び、ロボット48A及び48B
から成り、シーケンス制御部51によるシーケンス制御を
受けるものとされている。
FIG. 5 shows a failure diagnosis system in which an example of a failure diagnosis method for a production line according to the present invention is implemented, together with equipment to be sequence-controlled and a sequence control unit connected thereto. The sequence control target equipment 50 includes, as described above, the positioning device 19, the transfer device 16, the docking device 40, the slide device 45, the pallet transport device 17, and the robots 48A and 48B.
, And is subjected to sequence control by the sequence control unit 51.

シーケンス制御部51によるシーケンス制御対象設備50
の動作についてのシーケンス制御は、シーケンス制御部
51にロードされるシーケンス制御用のプログラムに基づ
いて行われるが、このようなシーケンス制御用のプログ
ラムは、例えば、或る動作ブロックにおける1動作ステ
ップについて第6図に示される如くのラダープログラム
が対応するものとされて構成される、シーケンス制御ラ
ダープログラムとされる。なお、第6図に示されるラダ
ープログラムにおいて、(M1),(M2)及び(Y0)は出
力ディバイス,M1及びM2は出力ディバイス(M1)及び(M
2)に対応する接点ディバイス,X0〜X16及びXA〜XCは出
力ディバイスに対応しない接点ディバイスである。
Equipment 50 subject to sequence control by sequence controller 51
The sequence control for the operation of
The sequence control program is performed based on a sequence control program loaded into the CPU 51. For example, a ladder program as shown in FIG. 6 corresponds to one operation step in a certain operation block. And a sequence control ladder program. In the ladder program shown in FIG. 6, (M1), (M2) and (Y0) are output devices, and M1 and M2 are output devices (M1) and (M1).
Contact devices corresponding to 2), X0 to X16 and XA to XC, are contact devices not corresponding to output devices.

故障診断システムは、故障診断制御装置52を含んで成
るものとされており、故障診断制御装置52は、バスライ
ン61を通じて接続された中央処理ユニット(CPU)62,メ
モリ63,入出力インターフェース(I/Oインターフェー
ス)64及び送受信インターフェース65を有しており、さ
らに、I/Oインターフェース64に接続された補助メモリ
としてのハードディスク装置66,ディスプレイ用の陰極
線堅(CRT)67及びデータ及び制御コード入力用のキー
ボード68が備えられている。そして、送受信インターフ
ェース65とシーケンス制御部51に設けられた送受信イン
ターフェース51Aとが相互接続されている。
The failure diagnosis system includes a failure diagnosis controller 52. The failure diagnosis controller 52 includes a central processing unit (CPU) 62, a memory 63, and an input / output interface (I / O interface) connected through a bus line 61. / O interface) 64, a transmission / reception interface 65, and a hard disk device 66 as an auxiliary memory connected to the I / O interface 64, a cathode ray tube (CRT) 67 for display, and for inputting data and control codes. Keyboard 68 is provided. The transmission / reception interface 65 and the transmission / reception interface 51A provided in the sequence control unit 51 are interconnected.

故障診断制御装置52は、キーボード68の操作に応じ
て、シーケンス制御部51から、送受信インターフェース
51A及び65を通じて、シーケンス制御部対象設備50に対
するシーケンス制御の進捗状態をあらわすプログラム処
理データを受け取り、CPU62において、メモリ63におけ
るデータの書込み及び読出しがなされるもとで、シーケ
ンス制御部51からのプログラム処理データに基づいての
シーケンス制御対象設備50における故障の発生の検出を
行い、故障の発生が検出された場合には、ディスプレイ
用のCRT67において故障に関する表示を行う。なお、ハ
ードディスク装置66には、シーケンス制御部51にロード
されたシーケンス制御ラダープログラムにおける各ステ
ップラダー要素をあらわすデータが、個別に読み出され
る状態で格納されており、ハードディスク装置66は、シ
ーケンス制御ラダープログラムに関するデータベースを
構築するものとされている。
The failure diagnosis controller 52 receives a transmission / reception interface from the sequence controller 51 in accordance with the operation of the keyboard 68.
Through 51A and 65, program processing data indicating the progress status of sequence control for the sequence control unit target equipment 50 is received, and the CPU 62 writes and reads data in the memory 63, and executes a program from the sequence control unit 51. The occurrence of a failure in the equipment 50 subject to sequence control is detected based on the processing data. When the occurrence of a failure is detected, an indication regarding the failure is displayed on the CRT 67 for display. The hard disk device 66 stores data representing each step ladder element in the sequence control ladder program loaded into the sequence control unit 51 in a state that is individually read out. The hard disk device 66 stores the sequence control ladder program. It is supposed to build a database for

このような故障診断制御装置52において、CPU62が、
シーケンス制御部51から、送受信インターフェース21A
及び65を通じて、シーケンス制御対象設備50に対するシ
ーケンス制御の進捗状態をあらわすプログラム処理デー
タを順次受け取り、CPU62にロードされた故障診断プロ
グラムに従って、シーケンス制御部51からのプログラム
処理データに基づいてのシーケンス制御対象設備50にお
ける故障の発生の検出、及び、故障の原因となったシー
ケンス制御対象設備50における作動要素、即ち、故障原
因作動要素の究明を行うとともに、ディスプレイ用のCR
T67において故障に関する表示が行われるようになす表
示制御を行うことによって、本発明に係る生産ラインの
故障診断方法の一例が実施されるが、以下にその過程に
ついて述べる。
In such a failure diagnosis control device 52, the CPU 62
From the sequence controller 51, the transmission / reception interface 21A
And 65, sequentially receives the program processing data indicating the progress of the sequence control for the sequence control target equipment 50, and according to the failure diagnosis program loaded into the CPU 62, the sequence control target based on the program processing data from the sequence control unit 51. In addition to detecting the occurrence of a failure in the equipment 50 and determining the operating element in the sequence-controlled equipment 50 that caused the failure, that is, the operating element that caused the failure, the CR for the display was also determined.
An example of the production line failure diagnosis method according to the present invention is performed by performing display control so that a display relating to the failure is performed at T67. The process will be described below.

故障診断制御装置52におけるCPU62によるシーケンス
制御対象設備50における故障の発生の検出、及び、故障
の発生が検出された際における故障原因作動要素の究明
は、第4図に示される動作ブロックフローチャートに従
って順次実行される動作ブロックB0〜B11の夫々を通じ
ての故障診断が個別に行われるようにされて実施され
る。例えば、先ず、動作ブロックB0〜B11の夫々を通じ
ての故障の発生の検出が、その動作ブロックを構成する
複数の動作ステップの開始時点から終了時点までの実行
時間が測定され、測定された実際の実行時間と予め設定
された基準時間とが比較されて、測定された実際の実行
時間が基準時間より長いとき、当該動作ブロックを実行
したシーケンス制御対象設備50における位置決め装置1
9,移載装置16,ドッキング装置40,スライド装置45,パレ
ット搬送装置17,及び、ロボット48A及び48Bのいずれか
に故障が発生していると判断することによりなされる。
そして、動作ブロックB0〜B11の夫々を通じての故障の
発生の検出された場合には、当該動作ブロックにおけ
る、故障によりオフ状態とされた出力要素の動作を含む
ことになる動作ステップが、故障原因作動要素の動作を
含む動作ステップとして特定され、さらに、特定された
動作ステップを実行した設備において、出力要素がオフ
状態をとることになった原因をなす作動要素が特定され
ることにより、故障原因作動要素の究明がなされる。
The detection of the occurrence of a failure in the sequence control target equipment 50 by the CPU 62 in the failure diagnosis control device 52, and the investigation of the failure cause operation element when the occurrence of the failure is detected are sequentially performed according to the operation block flowchart shown in FIG. The failure diagnosis is performed individually through each of the executed operation blocks B0 to B11. For example, first, the detection of the occurrence of a failure through each of the operation blocks B0 to B11 is performed by measuring the execution time from the start time to the end time of a plurality of operation steps constituting the operation block, and measuring the actual execution time. The time is compared with a preset reference time, and when the actual execution time measured is longer than the reference time, the positioning device 1 in the sequence control target equipment 50 that executed the operation block concerned
9, This is performed by determining that any of the transfer device 16, the docking device 40, the slide device 45, the pallet transport device 17, and the robots 48A and 48B has a failure.
When the occurrence of a failure through each of the operation blocks B0 to B11 is detected, an operation step that includes the operation of the output element turned off due to the failure in the operation block is a failure-causing operation. An operation step including an operation of an element is specified, and further, in the equipment that has performed the specified operation step, an operation element that causes an output element to be turned off is specified, thereby causing a failure-caused operation. The elements are determined.

斯かる際に、CPU62が行う、故障原因作動要素の動作
を含むものとして特定された動作ステップを実行した設
備についての故障原因作動要素を特定する動作につい
て、第1図に示されるフローチャートに沿って述べる。
At this time, the operation performed by the CPU 62 to specify the failure cause operation element for the equipment that has performed the operation step specified as including the operation of the failure cause operation element will be described with reference to the flowchart shown in FIG. State.

先ず、シーケンス制御対象設備50の動作についてのシ
ーケンス制御に用いられるシーケンス制御用のプログラ
ムにおいて、第6図において段配列されたGx-2,Gx-1,Gx
として示される如くの、各出力ディバイス及びそれに接
続されて出力ディバイスと共に一組のラダー要素を形成
する接点ディバイスをラダー要素ディバイス群と称する
こととしたもとで、シーケンス制御ラダープログラムに
おける、故障原因作動要素の動作を含むものとして特定
された動作ステップに対応する部分が選択され、選択さ
れたシーケンス制御ラダープログラムの部分内の、オフ
状態をとるものとされた出力要素に対応する出力ディバ
イス(Yn)を含むラダー要素ディバイス群(Gn)につい
てのデータを取り込む(ステップR1)。次に、ラダー要
素ディバイス群Gnにおいて、オン状態をとる接点ディバ
イス並列接続されることなく、オフ状態をとるものとさ
れた接点ディバイス(OFFディバイス)を検出し(ステ
ップR2),そのOFFディバイスが、前段のラダー要素デ
ィバイス群(Gn-1)における出力ディバイス(Mn-1)に
対応するものでないもの(X接点ディバイス)か否かを
判断する(ステップR3)。その結果、OFFディバイスが
X接点ディバイスである場合には、該当OFFディバイス
を故障原因ディバイスと判定し、それに対応する作動要
素を故障原因作動要素として特定する(ステップR8)。
First, in the sequence control program used for the sequence control of the operation of the sequence control target equipment 50, G x−2 , G x−1 , G x
Each output device and the contact devices connected to it and forming a set of ladder elements with the output device are referred to as a ladder element device group, and a failure cause operation in a sequence control ladder program is performed. The part corresponding to the operation step specified as including the operation of the element is selected, and the output device (Y n) corresponding to the output element assumed to be in the off state in the part of the selected sequence control ladder program is selected. ) ladder element devices group comprising (G n) fetches data for (step R1). Next, in the ladder element device group Gn , a contact device (OFF device) which is assumed to be in an OFF state without being connected in parallel to an ON device is detected (step R2), and the OFF device is detected. It is determined whether the output device (M n-1 ) in the preceding ladder element device group (G n-1 ) does not correspond to the output device (M n-1 ) (step R3). As a result, if the OFF device is an X-contact device, the corresponding OFF device is determined to be the failure cause device, and the corresponding operation element is specified as the failure cause operation element (step R8).

一方、ラダー要素ディバイス群GnにおけるOFFディバ
イスがX接点ディバイスでない場合には、そのOFFディ
バイスに対応する出力ディバイス(Mn-1)を含む前段の
ラダー要素ディバイス群Gn-1についてのデータを取り込
む(ステップR4)。そして、ラダー要素ディバイス群G
n-1において、オン状態をとる接点ディバイスが並列接
続されることなく、オフ状態をとるものとされた接点デ
ィバイスであるOFFディバイスを検出し(ステップR
5)、そのラダー要素ディバイス群Gn-1におけるOFFディ
バイスが、さらに前段のラダー要素ディバイス群
(Gn-2)における出力ディバイス(Mn-2)に対応するも
のでないもの(X接点ディバイス)か否かを判断する
(ステップR6)。その結果、OFFディバイスがX接点デ
ィバイスである場合には、該当OFFディバイスを故障原
因ディバイスと判定し、それに対応する作動要素を故障
原因作動要素として特定する(ステップR8)。
On the other hand, if the OFF device in the ladder element device group Gn is not an X-contact device, the data of the preceding ladder element device group Gn-1 including the output device ( Mn-1 ) corresponding to the OFF device is transmitted. Capture (step R4). And the ladder element device group G
At n-1 , an OFF device, which is an off-state contact device, is detected without connecting the on-state contact device in parallel (step R
5), the OFF device in the ladder element device group G n-1 does not correspond to the output device (M n-2 ) in the preceding ladder element device group (G n-2 ) (X contact device) It is determined whether or not (step R6). As a result, if the OFF device is an X-contact device, the corresponding OFF device is determined to be the failure cause device, and the corresponding operation element is specified as the failure cause operation element (step R8).

それに対して、ラダー要素ディバイス群Gn-1における
OFFディバイスが接点ディバイスでない場合には、変数
nを1だけ減じて(ステップR7)、ステップR4に戻り、
ステップR6において、ラダー要素ディバイス群Gn-1にお
けるOFFディバイスがX接点ディバイスであると判断さ
れるまで、ステップR4以降の動作をくり返し、ステップ
R6において、ラダー要素ディバイス群Gn-1におけるOFF
ディバイスがX接点ディバイスであると判断されとき、
ステップR8に進む。
On the other hand, in the ladder element device group G n-1
If the OFF device is not a contact device, decrement the variable n by 1 (step R7) and return to step R4.
In step R6, the operations from step R4 are repeated until the OFF device in the ladder element device group G n-1 is determined to be the X contact device.
In R6, OFF in ladder element device group G n-1
When it is determined that the device is an X contact device,
Proceed to step R8.

このようにして、故障原因作動要素の動作を含むもの
として特定された動作ステップを実行した設備について
の故障原因作動要素が特定されるのであるが、さらに、
斯かる際において、第1図に示されるフローチャートの
ステップR2において実行される、ラダー要素ディバイス
群GnにおけるOFFディバイスの検出、及び、第1図に示
されるフローチャートのステップR5において実行され
る、ラダー要素ディバイス群Gn-1におけるOFFディバイ
ス検出との詳細について、第7図に示されるフローチャ
ート及び第8図を参照し、さらに、ラダー要素ディバイ
ス群Gnが第6図に示されるラダー要素ディバイス群Gx
如く構成され、また、ラダー要素ディバイス群Gn-1が第
6図に示されるラダー要素ディバイス群Gx-1及びGx-2
如くに構成されたものである場合を例に挙げて、以下に
述べる。
In this manner, the failure cause operation element for the equipment that has performed the operation step specified as including the operation of the failure cause operation element is specified.
In such a case, the detection of the OFF device in the ladder element device group Gn , which is executed in step R2 of the flowchart shown in FIG. 1, and the ladder executed in step R5 of the flowchart shown in FIG. For details of the OFF device detection in the element device group G n-1 , refer to the flow chart shown in FIG. 7 and FIG. 8, and further, the ladder element device group G n is changed to the ladder element device group shown in FIG. G x, and a case where the ladder element device group G n-1 is configured like the ladder element device groups G x-1 and G x-2 shown in FIG. This will be described below.

なお、ラダー要素ディバイス群Gnとされるラダー要素
ディバイス群Gx及びラダー要素ディバイス群Gn-1とされ
るラダー要素ディバイス群Gx-1及びGx-2については、夫
々、第9図に示される如くに、ハッチングが付されたデ
ィバイスがオン状態をとり、ハッチングが付されていな
いディバイスがオフ状態をとるものとされ、ラダー要素
ディバイス群Gx-2における接点ディバイスX2が故障原因
ディバイスであってオフ状態にあることにより、ラダー
要素ディバイス群Gxにおける出力ディバイスY0がオフ状
態とされているものとする。
Note that the ladder elements devices group G x-1 and G x-2, which is a ladder element devices group G x and ladder element devices group G n-1 is a ladder element devices group G n, respectively, Figure 9 As shown in the figure, the device with hatching is assumed to be in the on state, the device without hatching is assumed to be in the off state, and the contact device X2 in the ladder element device group G x-2 is the fault-causing device. by in the off state there is, it is assumed that the output devices Y0 in the ladder element devices group G x is turned off.

先ず、ラダー要素ディバイス群GnにおけるOFFディバ
イスの検出にあたっては、ラダー要素ディバイス群Gn
おける各ディバイスのデータを、メモリにおける夫々に
アドレス番号が付された複数の記憶エリアに、ラダーパ
ターンが維持される状態としたもとで割り付けて記憶す
る(ステップS1)。斯かる際、各ディバイスのデータ
は、オン状態が“1"とされ、また、オフ状態が“0"とさ
れて記憶され、また、ディバイス間接続は“1"として記
憶され、さらに、最終アドレス番号より7だけ少ないア
ドレス番号が付された記憶エリアには、データ“Z"が記
憶される。従って、ラダー要素ディバイス群Gnとされた
ラダー要素ディバイス群Gxについては、第8図Aに示さ
れる如くに、メモリにおけるアドレス番号A0が付された
記憶エリア(アドレス部A0と呼び、他の記憶エリアにつ
いても同様に呼ぶ)からアドレス部A15までが使用され
て各ディバイスのデータが記憶され、また、アドレス部
A8にデータ“Z"が記憶される。
First, when the detection of the OFF devices in ladder element devices group G n, the data of each devices in the ladder element devices group G n, a plurality of storage areas each of the address numbered in the memory, the ladder pattern is maintained Are allocated and stored under the state (step S1). At this time, the data of each device is stored with the ON state set to “1” and the OFF state set to “0”, the connection between the devices is stored as “1”, and the final address Data “Z” is stored in a storage area to which an address number smaller by 7 than the number is assigned. Therefore, the ladder element devices group G x, which is a ladder element devices group G n, in as shown in FIG. 8 A, the storage area address number A0 in the memory is attached (called the address portion A0, other The same applies to the storage area) to the address section A15 to store the data of each device.
Data “Z” is stored in A8.

次に、アドレス部A8にデータ“Z"が記憶されているか
否かを判断し(ステップS2)、アドレス部A8に“Z"が記
憶されている場合には、変数iを1に設定して(ステッ
プS3)、アドレス部Aiのデータとアドレス部A(i+
8)のデータとの論理和データ(“0"もしくは“1")を
求め、それをOR出力として8ビットレジスタにおけるビ
ット番号biのビットに入れる(ステップS4)。
Next, it is determined whether data "Z" is stored in the address section A8 (step S2). If "Z" is stored in the address section A8, the variable i is set to 1 and (Step S3), the data of the address part Ai and the address part A (i +
OR data ("0" or "1") with the data of 8) is obtained, and the obtained OR data is put into the bit of the bit number bi in the 8-bit register as an OR output (step S4).

続いて、変数をiを1だけ増加させた後(ステップS
5)、変数iが7になったか否かを判断する(ステップS
6)。その結果、変数iが7になっていない場合には、
ステップS4に戻り、アドレス部Aiのデータとアドレス部
A(i+8)のデータとの論理和データを求めて、それ
をOR出力として8ビットレジスタにおけるビット番号bi
のビットに入れる動作を行い、斯かる動作を変数iが7
になるまで繰り返す。その結果、変数iが7になった時
には、第8図Aに示される如くに、8ビットレジスタに
おけるビット番号b1〜b7のビットのうちのビット番号b0
〜b7までのビットの夫々に、メモリにおけるアドレス部
Aiのデータとアドレス部A(i+8)のデータとの論理
和データが入れられていることになり、ラダー要素ディ
バイス群Gxについては、ビット番号b5のビットにのみ
“0"が入れられ、他のビットには“1"が入れられる。
Then, after increasing the variable i by 1 (step S
5) It is determined whether the variable i has become 7 (step S)
6). As a result, when the variable i is not 7,
Returning to step S4, the logical sum data of the data of the address part Ai and the data of the address part A (i + 8) is obtained, and this is used as an OR output to obtain the bit number bi in the 8-bit register.
Is performed, and such an operation is performed by setting the variable i to 7
Repeat until. As a result, when the variable i becomes 7, as shown in FIG. 8A, the bit number b0 of the bit numbers b1 to b7 in the 8-bit register
The address part in the memory for each of the bits up to b7
Will be the logical sum data is placed in the Ai data and data of the address section A (i + 8), for the ladder element devices group G x, only the bits of the bit number b5 "0" is put, other Is set to "1".

次に、8ビットレジスタにおける、論理和データ“0"
が入れられたビットのビット番号bZ、即ち、ラダー要素
ディバイス群Gxの場合にはビット番号b5が検出され(ス
テップS7)、メモリにおけるアドレス部A(Z+m8)
(但し、mは0,1,2・・)にデータが記憶された接点デ
ィバイスをOFFディバイスとして検出する(ステップR
8)。従って、ラダー要素ディバイス群Gxについては、
接点ディバイスM2がOFFディバイスとして検出される。
Next, the logical sum data “0” in the 8-bit register
Bit number bZ of encased bits, i.e., bit number b5 is detected in the case of a ladder element devices group G x (step S7), and the address unit A in the memory (Z + m8)
(Where m is 0, 1, 2,...) Detects a contact device in which data is stored as an OFF device (step R
8). Therefore, for the ladder element device group G x ,
The contact device M2 is detected as an OFF device.

一方、ステップS2における判断の結果、アドレス部A8
にデータ“Z"が記憶されていない場合には、変数kを1
に設定して(ステップs9)、アドレス番号{i+8(1
+k)}を記憶する(ステップs10)。次に、メモリに
おけるアドレス部A8(1+k)にデータ“Z"が記憶され
ているか否かを判断し(ステップS11)、アドレス部A8
(1+k)にデータZ"が記憶されていなければ、変数k
を1だけ増加させた後(ステップS12)、ステップS10に
戻って、アドレス番号A{i+8(1+k)}を記憶
し、斯かる動作をアドレス部A8(1+k)にデータZ"が
記憶されていると判断されるまで繰り返す。
On the other hand, as a result of the determination in step S2, the address part A8
If the data “Z” is not stored in the
(Step s9), and the address number $ i + 8 (1
+ K) is stored (step s10). Next, it is determined whether data "Z" is stored in the address portion A8 (1 + k) in the memory (step S11), and the address portion A8 is determined.
If the data Z "is not stored in (1 + k), the variable k
Is incremented by 1 (step S12), and the process returns to step S10 to store the address number A {i + 8 (1 + k)}, and the data Z ″ is stored in the address section A8 (1 + k). Repeat until determined.

その後、変数iを1に設して(ステップS13)、メモ
リにおけるアドレス部Aiのデータと、アドレス部A(i
+8)のデータと、ステップS10において記憶されたア
ドレス番号A{i+8(1+k)}の夫々を有する記憶
エリアのデータとの論理和データ(“0"もしくは“1")
を求め、それをOR出力として8ビットレジスタにおける
ビット番号biのビットに入れる(ステップS14)。
Thereafter, the variable i is set to 1 (step S13), and the data of the address part Ai in the memory and the address part A (i
+8) and the logical sum data (“0” or “1”) of the data in the storage area having each of the address numbers A {i + 8 (1 + k)} stored in step S10
Is obtained and put into the bit of bit number bi in the 8-bit register as an OR output (step S14).

続いて、変数iを1だけ増加させた後(ステップS1
5)、変数iが7になったか否かを判断する(ステップ1
6)。その結果、変数がiが7になっていない場合に
は、ステップS14に戻り、メモリにおけるアドレス部Ai
のデータと、アドレス部A(i+8)のデータと、ステ
ップS10において記憶されたアドレス番号A{i+8
(1+k)}の夫々を有する記憶エリアのデータとの論
理和データを求め、それをOR出力として8ビットレジス
タにおけるビット番号biのビットに入れる動作を行い、
斯かる動作を変数iが7になるまで繰り返す。そして、
変数iが7になったときには、上述のステップS7に進
む。
Then, after increasing the variable i by 1 (step S1
5) It is determined whether or not the variable i has become 7 (step 1)
6). As a result, if the variable i is not 7, the process returns to step S14, and the address portion Ai in the memory is returned.
, The data of the address section A (i + 8), and the address number A @ i + 8 stored in step S10.
(1 + k)} is obtained, and OR operation is performed with the data of the storage area having each of (1 + k) 入 れ る, and the result is put into the bit of the bit number bi in the 8-bit register as an OR output.
This operation is repeated until the variable i becomes 7. And
When the variable i becomes 7, the process proceeds to step S7.

なお、ラダー要素ディバイス群Gxがラダー要素ディバ
イス群Gnとされる場合にあっては、ステップS9からS16
までが実行とされることはない。
Incidentally, in the case of the ladder element devices group G x is a ladder element devices group G n, from step S9 S16
Until it is not executed.

また、ラダー要素ディバイス群Gn-1におけるOFFディ
バイスの検出も、第7図に示されるフローチャートと同
様のフローチャートに従って行われるものとされ、ラダ
ー要素ディバイス群Gx-1及びGx-2がラダー要素ディバイ
ス群Gn-1とされる場合、先ず、ラダー要素ディバイス群
Gx-1について、第7図に示されるフローチャートのステ
ップS1に対応するステップにおいて、第8図Bに示され
る如くに、メモリにおけるアドレス部A0〜A10に、各デ
ィバイスのデータを割り付けて記憶する。この場合に
も、アドレス部A8にデータ“Z"が記憶されるので、第7
図に示されるフローチャートのステップS4に対応するス
テップにおいて、メモリにおけるアドレス部Aiのデータ
とアドレス部A(i+8)のデータとの論理和データを
OR出力として8ビットレジスタにおけるビット番号biの
ビットに入れる動作を、変数iが7になるまで繰り返す
ことにより、変数iが7になったとき、第8図Bに示さ
れる如くに、8ビットレジスタにおけるビット番号b0〜
b7までのビットのうちのビット番号b1〜b7のビットの夫
々に、メモリにおけるアドレス部Aiのデータとアドレス
部A(i+8)のデータとの論理和データが入れられた
状態を得ることになる。そして、ラダー要素ディバイス
群Gx-1についても、8ビットレジスタにおける論理和デ
ータ“0"が入れられたビットのビット番号bZはb5となっ
て、8ビットレジスタにおいては、ビット番号b5のビッ
トにのみ“0"が入れられ、他のビットには“1"が入れら
れる。
The detection of the OFF device in the ladder element device group G n-1 is also performed according to a flowchart similar to the flowchart shown in FIG. 7, and the ladder element device groups G x-1 and G x-2 are ladder elements. When the element device group G n−1 is set, first, the ladder element device group
Regarding G x−1 , in a step corresponding to step S1 of the flowchart shown in FIG. 7, as shown in FIG. 8B, the data of each device is allocated and stored in address portions A0 to A10 in the memory. . Also in this case, since the data “Z” is stored in the address section A8, the seventh
In a step corresponding to step S4 of the flowchart shown in the figure, the logical sum data of the data of the address section Ai and the data of the address section A (i + 8) in the memory is calculated.
By repeating the operation of putting the bit of the bit number bi in the 8-bit register as the OR output until the variable i becomes 7, when the variable i becomes 7, as shown in FIG. Bit numbers b0 to
A state is obtained in which the logical sum data of the data of the address portion Ai and the data of the address portion A (i + 8) in the memory is inserted in each of the bits of the bit numbers b1 to b7 among the bits up to b7. Then, also for the ladder element device group G x-1 , the bit number bZ of the bit in which the logical sum data “0” is inserted in the 8-bit register becomes b5, and in the 8-bit register, the bit of the bit number b5 becomes Only "0" is entered and "1" is entered in other bits.

その結果、第7図に示されるフローチャートのステッ
プS8に対応するステップにいおいて、メモリにおけるア
ドレス部A(Z+m8)(但し、mは0,1,2・・・)にデ
ータが記憶された接点ディバイス、即ち、メモリにおけ
るアドレス部A5にデータが記憶された接点ディバイスM1
がOFFディバイスとして検出される。
As a result, in a step corresponding to step S8 of the flowchart shown in FIG. 7, data was stored in the address portion A (Z + m8) (where m is 0, 1, 2,...) In the memory. A contact device, that is, a contact device M1 in which data is stored in an address portion A5 in the memory.
Is detected as an OFF device.

次に、ラダー要素ディバイス群Gx-2については、第7
図に示されるフローチャートのステップS1に対応するス
テップにおいて、第8図Cに示される如くに、メモリに
おけるアドレス部A0〜A23に、各ディバイスのデータを
割り付けて記憶する。この場合には、アドレス部A8でな
く、アドレス部A16にデータ“Z"が記憶されるので、第
7図に示されるフローチャートのステップS14に対応す
るステップにおいて、メモリにおけるアドレス部Aiのデ
ータと、アドレス部A(i+8)のデータの、アドレス
番号A(i+16)のデータとの論理和データをOR出力と
して8ビットレジスタにおけるビット番号biのビットに
入れる動作を、変数iが7になるまで繰り返すことによ
り、変数iが7になったとき、第8図Cに示される如く
に、8ビットレジスタにおけるビット番号b0〜b7までの
ビットのうちのビット番号b1〜b7のビットの夫々に、メ
モリにおけるアドレス部Aiのデータと、アドレス部(i
+8)のデータと、アドレス番号A(i+16)のデータ
との論理和データが入れられた状態を得ることになる。
そして、ラダー要素ディバイス群Gx-2についても、8ビ
ットレジスタにおける論理和データ“0"が入れられたビ
ットのビット番号bZはb5となって、8ビットレジスタに
おいては、ビット番号b5のビットにのみ“0"が入れら
れ、他のビットには“1"が入れられる。
Next, regarding the ladder element device group G x-2 , the seventh
In a step corresponding to step S1 of the flowchart shown in the figure, as shown in FIG. 8C, data of each device is allocated to and stored in address portions A0 to A23 in the memory. In this case, since the data “Z” is stored in the address section A16 instead of the address section A8, the data of the address section Ai in the memory is stored in the step corresponding to step S14 in the flowchart shown in FIG. The operation of putting the logical sum data of the data of the address portion A (i + 8) with the data of the address number A (i + 16) as an OR output into the bit of the bit number bi in the 8-bit register is repeated until the variable i becomes 7. Thus, when the variable i becomes 7, as shown in FIG. 8C, each of the bits of the bit numbers b1 to b7 of the bits of the bit numbers b0 to b7 in the 8-bit register is assigned to the address in the memory. The data of the section Ai and the address section (i
Thus, a state is obtained in which the logical sum data of the data of (+8) and the data of the address number A (i + 16) is entered.
Then, also for the ladder element device group G x-2 , the bit number bZ of the bit in the 8-bit register in which the logical sum data “0” is inserted becomes b5, and in the 8-bit register, the bit of the bit number b5 becomes Only "0" is entered and "1" is entered in other bits.

その結果、第7図に示されるフローチャートのステッ
プS8に対応するステップにおいて、メモリにおけるアド
レス部(Z+m8)(但し、mは0,1,2・・・)にデータ
が記憶された接点ディバイス、即ち、メモリにおけるア
ドレス部A5にデータが記憶された接点ディバイスX2がOF
Fディバイスとして検出される。
As a result, in a step corresponding to step S8 in the flowchart shown in FIG. 7, a contact device in which data is stored in the address portion (Z + m8) (where m is 0, 1, 2,...) The contact device X2 in which data is stored in the address portion A5 of the memory is turned off.
Detected as an F device.

(発明の効果) 以上の説明から明らかな如く、本発明に係る生産ライ
ンの故障診断方法によれば、行うべき諸動作が、正常状
態のもとで開始から終了まで独立して行われることにな
る一連の動作の最大単位の動作ブロックとして複数の動
作ブロックに区分されるとともに、それら複数の動作ブ
ロックの夫々が複数動作ステックに区分されたもとで、
複数の動作ブロックの夫々における複数の動作ステップ
をシーケンス制御ラダープログラムに従って順次実行す
べく制御される設備に故障が生じ、特定の出力要素がオ
フ状態とされる際、その故障の原因となった故障原因作
動要素を特定するための究明が、シーケンス制御ラダー
プログラムにおける故障によりオフ状態とされる特定の
出力要素の動作を含む動作ステップに対応する特定の部
分について行われ、しかも、斯かるシーケンス制御ラダ
ープログラムにおける特定の部分についての故障原因作
動要素の究明が、その特定の部分に段配列された複数の
ラダー要素ディバイス群に対し、設備に故障が生じたと
きオフ状態とされた特定の出力要素に対応する出力ディ
バイスを含むラダー要素ディバイス群から、それより前
段階に位置するラダー要素ディバイス群へと、ラダー要
素ディバイス群毎に、オン状態をとる接点ディバイスが
並列接続されることなく、オフ状態をとるものとされた
接点ディバイスが検出され、検出されたオフ状態をとる
接点ディバイスが前段のラダー要素ディバイス群におけ
る出力ディバイスに対応するものでないと判定されるま
で、遡って行われる。その結果、シーケンス制御がなさ
れる設備の作動時に故障が生じた際に、その故障の原因
となった作動要素を迅速かつ適正に究明することができ
ることになる。
(Effects of the Invention) As is clear from the above description, according to the failure diagnosis method for a production line according to the present invention, various operations to be performed are performed independently from the start to the end under a normal state. While being divided into a plurality of operation blocks as a maximum unit operation block of a series of operations, each of the plurality of operation blocks is divided into a plurality of operation sticks,
A failure occurs in a facility controlled to sequentially execute a plurality of operation steps in each of a plurality of operation blocks according to a sequence control ladder program, and a failure that causes the failure when a specific output element is turned off. An investigation to identify the causal operating element is performed for a specific part corresponding to an operation step including an operation of a specific output element that is turned off due to a fault in the sequence control ladder program, and Investigation of the fault-causing operating element for a specific part of the program is performed for a plurality of ladder element devices arranged in a row in the specific part, for a specific output element that was turned off when the equipment failed. From the ladder element device group containing the corresponding output device, -For each ladder element device group, a contact device that is assumed to be in an off state is detected without being connected in parallel to each of the ladder element devices, and a contact that is assumed to be in an off state is detected. The process is performed retrospectively until it is determined that the device does not correspond to the output device in the preceding ladder element device group. As a result, when a failure occurs during the operation of the equipment for which sequence control is performed, it is possible to quickly and properly determine the operating element that caused the failure.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明に係る生産ラインの故障診断方法の一例
に従って行われる故障原因作動要素の究明の説明に供さ
れるフローチャート、第2図及び第3図は本発明に係る
生産ラインの故障診断方法が適用される車両組立ライン
の一例を示す概略側面図及び概略平面図、第4図はシー
ケンス制御対象設備に対するシーケンス制御の説明に供
される動作ブロックフローチャート、第5図は本発明に
係る生産ラインの故障診断方法の一例が実施される故障
診断制御システムを、シーケンス制御対象設備及びシー
ケンス制御部と共に示す構造図、第6図はシーケンス制
御によるシーケンス制御対象設備に対するシーケンス制
御に使用されるシーケンス制御プログラムの一例の部分
を示すラダー図、第7図,第8図及び第9図は本発明に
係る生産ラインの故障診断方法の一例が実施される際に
おける特定の工程の説明に供されるフローチャート,メ
モリ概念図、及び、ラダー図である。 図中、16は移載装置、17はパレット搬送装置、19は位置
決め装置、40はドッキング装置、45はスライド装置、48
A及び48Bはロボット、50はシーケンス制御対象設備、51
はシーケンス制御部、52は故障診断制御装置、61はバス
ライン、62は中央処理ユニット(CPU)、63はメモリ、6
4は入出力インターフェース(I/Oインターフェース)、
66はハードディスク装置、67はディスプレイ用の陰極線
管(CRC)、68はキーボードである。
FIG. 1 is a flowchart for explaining the investigation of a failure-causing operating element performed according to an example of a production line failure diagnosis method according to the present invention. FIGS. 2 and 3 are production line failure diagnosis according to the present invention. FIG. 4 is a schematic side view and a schematic plan view showing an example of a vehicle assembly line to which the method is applied, FIG. 4 is an operation block flowchart for explaining sequence control for equipment to be sequence controlled, and FIG. 5 is production according to the present invention. FIG. 6 is a structural diagram showing a failure diagnosis control system in which an example of a line failure diagnosis method is implemented, together with a sequence control target facility and a sequence control unit. FIG. 6 is a sequence control used for sequence control of the sequence control target facility by the sequence control. Ladder diagrams showing part of an example of the program, FIG. 7, FIG. 8, and FIG. 9 are diagrams of a production line according to the present invention. Flowchart an example of a disabled diagnostic method is subjected to a description of a particular process at the time to be performed, the memory conceptual diagram, and a ladder diagram. In the figure, 16 is a transfer device, 17 is a pallet transport device, 19 is a positioning device, 40 is a docking device, 45 is a slide device, 48
A and 48B are robots, 50 is equipment subject to sequence control, 51
Is a sequence control unit, 52 is a failure diagnosis control device, 61 is a bus line, 62 is a central processing unit (CPU), 63 is a memory, 6
4 is an input / output interface (I / O interface),
66 is a hard disk drive, 67 is a cathode ray tube (CRC) for display, and 68 is a keyboard.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−235207(JP,A) 特開 昭58−172713(JP,A) 特開 平1−251109(JP,A) 特開 平1−248206(JP,A) 特開 平2−178706(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G05B 19/02 - 19/05 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-60-235207 (JP, A) JP-A-58-172713 (JP, A) JP-A-1-251109 (JP, A) JP-A-1- 248206 (JP, A) JP-A-2-178706 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) G05B 19/02-19/05

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】生産ラインにおける設備が行うべき諸動作
が、正常状態のもとで開始から終了まで独立して行われ
ることになる一連の動作の最大単位を動作ブロックとし
て複数の動作ブロックに区分されるとともに、該複数の
動作ブロックの夫々が複数の動作ステップに区分された
もとで、上記複数の動作ブロックの夫々における複数の
動作ステップをシーケンス制御ラダープログラムに従っ
て順次実行すべく制御されるとき、上記複数の動作ブロ
ックの夫々における複数の動作ステップの開始時点から
終了時点までの実行時間を測定し、測定された実行時間
が基準時間より長くなる特定の動作ブロックがあったと
き、該特定の動作ブロックを実行した設備に故障が生じ
ていると判断し、上記シーケンス制御ラダープログラム
における各出力ディバイス及びそれに接続されて該出力
ディバイスと共に一組のラダー要素を形成する接点ディ
バイスをラダー要素ディバイス群としたもとで、上記特
定の動作ブロックにおける上記故障によりオフ状態とさ
れる特定出力要素の動作を含む動作ステップに対応する
上記シーケンス制御ラダープログラムの部分について、
上記特定の出力要素に対応する出力ディバイスを含むラ
ダー要素ディバイス群における、オン状態をとる接点デ
ィバイスが並列接続されることなく、オフ状態をとる接
点ディバイスを検出し、該オフ状態をとる接点ディバイ
スが、前段のラダー要素ディバイス群における出力ディ
バイスに対応するものであれときには、さらに前段のラ
ダー要素ディバイス群における、オン状態をとる接点デ
ィバイスが並列接続されることなく、オン状態をとる接
点ディバイスを検出することとして、検出されたオフ状
態をとる接点ディバイスが、前段のラダー要素ディバイ
ス群における出力ディバイスに対応するものでないと
き、当該接点ディバイスを故障原因作動要素と判断する
ことを特徴とする生産ラインの故障診断方法。
1. A maximum unit of a series of operations, which are to be performed independently from start to finish under normal conditions, are divided into a plurality of operation blocks as operation blocks. When each of the plurality of operation blocks is divided into a plurality of operation steps, and the plurality of operation blocks are controlled to sequentially execute a plurality of operation steps in each of the plurality of operation blocks according to a sequence control ladder program, The execution time from the start time to the end time of the plurality of operation steps in each of the plurality of operation blocks is measured, and when there is a specific operation block in which the measured execution time is longer than the reference time, the specific operation block Is determined to have failed in the equipment that executed The operation of a specific output element that is turned off due to the failure in the specific operation block, based on a device and a contact device connected thereto and forming a set of ladder elements together with the output device as a ladder element device group. For the part of the sequence control ladder program corresponding to the operation steps including
In the ladder element device group including the output device corresponding to the specific output element, the contact device in the on state is not connected in parallel, the contact device in the off state is detected, and the contact device in the off state is detected. If the output device corresponds to the output device in the preceding ladder element device group, the contact device in the ON state is detected in the further preceding ladder element device group without being connected in parallel. In other words, when the detected contact device in the off state does not correspond to the output device in the ladder element device group in the preceding stage, the contact device is determined to be a failure-causing operation element, and the failure of the production line is characterized by Diagnostic method.
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