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JP2921841B2 - Coating device with cleaning mechanism - Google Patents
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JP2921841B2 - Coating device with cleaning mechanism - Google Patents

Coating device with cleaning mechanism

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JP2921841B2 JP1016919A JP1691989A JP2921841B2 JP 2921841 B2 JP2921841 B2 JP 2921841B2 JP 1016919 A JP1016919 A JP 1016919A JP 1691989 A JP1691989 A JP 1691989A JP 2921841 B2 JP2921841 B2 JP 2921841B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は洗浄機構付き塗布装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial application field) The present invention relates to a coating apparatus with a cleaning mechanism.

(従来の技術) 塗布装置、たとえば半導体製造におけるレジスト塗布
工程において用いられるレジスト塗布装置としては、次
のようなものが知られている。
(Prior Art) The following is known as a coating device, for example, a resist coating device used in a resist coating step in semiconductor manufacturing.

すなわち、鉛直方向に回転軸を有するモータの回転軸
に、半導体ウエハを載置する円板状のウエハチャックが
水平に連結され、ウエハチャックの上方には、レジスト
を滴下するためのレジスト滴下ノズルが配置され、この
レジスト滴下ノズルは供給パイプを介してレジスト供給
ビンに連通されて構成されたものである。
That is, a disk-shaped wafer chuck on which a semiconductor wafer is placed is horizontally connected to the rotation axis of a motor having a rotation axis in the vertical direction, and a resist dropping nozzle for dropping resist is provided above the wafer chuck. The resist dropping nozzle is disposed and connected to a resist supply bin via a supply pipe.

このような塗布装置は、レジスト貯蔵ビン内のレジス
トがポンプにより適当量汲み上げられ、供給パイプを介
してレジスト滴下ノズルから半導体ウエハ上に滴下し、
その後モータによってウエハチャックを高速回転して遠
心力の作用により、滴下されたレジストを半導体ウエハ
表面上に均一に塗布するスビンコーティング装置であ
る。
In such a coating apparatus, an appropriate amount of resist in a resist storage bin is pumped by a pump, and the resist is dropped on a semiconductor wafer from a resist dropping nozzle through a supply pipe.
Then, the spin chuck is rotated at a high speed by a motor, and the spin coating apparatus uniformly applies the dropped resist on the surface of the semiconductor wafer by the action of centrifugal force.

上記のレジストたとえばSOG(スピンオングラス)等
は、固化し易く一旦固化するとガラス状となり洗浄が困
難になるという性質を有するので、レジスト塗布装置を
長時間使用しない場合などの取り扱いには注意を要す
る。たとえば、従来はレジスト供給ビンを供給パイプか
ら一旦取り外し、供給パイプに所定の溶剤供給装置を接
続し、供給パイプおよびレジスト滴下ノズルに溶剤を流
してレジスト液供給路を洗浄していた。
The above-mentioned resist, for example, SOG (spin-on-glass) is easily solidified, and once solidified, becomes glassy and difficult to clean. Therefore, care must be taken when the resist coating apparatus is not used for a long time. For example, conventionally, a resist supply bin was once removed from a supply pipe, a predetermined solvent supply device was connected to the supply pipe, and a solvent was supplied to the supply pipe and the resist dropping nozzle to wash the resist liquid supply path.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記のような洗浄方法では、洗浄する
たびにレジスト供給ビンを供給パイプに対して着脱する
という手間がかかり、また、空になったレジスト供給ビ
ンについてはレジストの残留分がビン内で固化してしま
う等の理由から使い捨てにせざるをえず、不経済である
という問題があった。
(Problems to be Solved by the Invention) However, in the above-described cleaning method, it takes time and effort to attach and detach the resist supply bin to and from the supply pipe every time the cleaning is performed. There is a problem that it is uneconomical to dispose of the resist because the resist remains solidified in the bottle.

本発明は上記ような問題を解決すべくなされたもの
で、その目的とするところは、供給パイプおよびレジス
ト滴下ノズル等を容易に洗浄可能で、さらにレジスト供
給ビンを繰り返し使用可能な洗浄機構付き塗布装置を提
供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a coating mechanism with a cleaning mechanism that can easily clean a supply pipe and a resist dropping nozzle, and can repeatedly use a resist supply bin. It is to provide a device.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) 前記目的を達成するために請求項1の発明は、塗布物
質を収容する容器から供給路を介して被処理体に塗布物
質を供給して塗布処理する塗布装置において、 前記供給路途上に連結され、当該供給路を介して前記
容器内に所定量の前記塗布物質の溶剤を供給する溶剤供
給手段と、 前記溶剤供給手段から前記容器内に供給された前記溶
剤を前記供給路を介して外部に排出する排出手段と を設けたことを特徴とする。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is to supply a coating substance to a target object from a container containing the coating substance via a supply path. In a coating apparatus for performing a coating process, a solvent supply unit that is connected along the supply path and supplies a predetermined amount of the solvent of the coating substance into the container via the supply path, and from the solvent supply unit to the inside of the container. Discharging means for discharging the supplied solvent to the outside via the supply path.

また、請求項2の発明は、塗布物質を収容する容器か
ら供給路を介して被処理体に塗布物質を供給して塗布処
理する塗布装置において、 前記供給路途上に連結され、当該供給路を介して前記
容器内に所定量の前記塗布物質の溶剤を供給する溶剤供
給手段と、 前記溶剤供給手段から前記容器内に供給された前記溶
剤を前記供給路を介して外部に排出する排出手段と 前記容器内から前記供給路方向に不活性ガスを流通さ
せる不活性ガス供給手段と を設けたことを特徴とする。
The invention according to claim 2 is a coating apparatus that supplies a coating substance from a container containing the coating substance to a target object through a supply path and performs a coating process. Solvent supply means for supplying a predetermined amount of the solvent of the coating substance into the container via a discharge means, and discharge means for discharging the solvent supplied from the solvent supply means into the container through the supply path to the outside And an inert gas supply means for flowing an inert gas from the inside of the container in the direction of the supply path.

(作 用) 本発明では、溶剤供給手段によって、供給路途上か
ら、塗布物質を収容する容器に塗布物質の溶剤が供給さ
れることにより、当該供給路が洗浄される。さらに、前
記容器内に所定量の溶剤が供給されると、排出手段によ
って当該容器内の溶剤は前記供給路を介して外部に排出
されることにより、前記容器および前記供給路も洗浄さ
れる。
(Operation) In the present invention, the solvent of the application substance is supplied to the container containing the application substance from the middle of the supply path by the solvent supply means, so that the supply path is cleaned. Further, when a predetermined amount of the solvent is supplied into the container, the solvent in the container is discharged to the outside through the supply path by the discharging means, so that the container and the supply path are also cleaned.

さらにまた、不活性ガス供給手段により、容器内から
供給路方向に不活性ガスを流通させることにより、容器
及び供給路内を乾燥させることができる。
Furthermore, the container and the inside of the supply path can be dried by flowing the inert gas from the inside of the container toward the supply path by the inert gas supply means.

(実施例) 以下図面に基づいて本発明装置を、半導体ウエハにレ
ジストを塗布する、洗浄機能付きレジスト塗布装置に適
用した一実施例を詳細に説明する。
(Embodiment) An embodiment in which the apparatus of the present invention is applied to a resist coating apparatus with a cleaning function for coating a semiconductor wafer with a resist will be described below in detail with reference to the drawings.

第2図に示されるようにこの塗布装置は、半導体ウエ
ハ上にレジストを供給するレジスト供給機構101と、半
導体ウエハを真空チャックし、半導体ウエハ上にレジス
ト液が供給されると、半導体ウエハを回転させてレジス
トを回転塗布する回転塗布機構103と、この装置全体の
動作を制御する制御部105からなる。
As shown in FIG. 2, the coating apparatus includes a resist supply mechanism 101 for supplying a resist onto a semiconductor wafer, a vacuum chuck for the semiconductor wafer, and rotation of the semiconductor wafer when a resist solution is supplied onto the semiconductor wafer. The apparatus includes a spin coating mechanism 103 for spin coating a resist and a control unit 105 for controlling the operation of the entire apparatus.

すなわち、レジストを収容する容量4のレジスト供
給ビン1にはレジスト供給パイプ3および窒素供給パイ
プ5が設けられる。このレジスト供給ビン1近傍には、
このビン内に洗浄液が満杯に溜められたことを検出する
満杯センサ6たとえば静電センサが配置される。上記レ
ジスト供給パイプ3はマニュアル三方弁7を介して、電
磁弁9aを有するレジスト供給パイプ9に連結される。こ
のレジスト供給パイプ9にはレジスト滴下ノズル11が連
結される。電磁弁9aは通常のレジスト滴下処理が行われ
る場合は後述するユニットコントローラにより開閉さ
れ、したがってレジスト滴下ノズル11へのレジスト供給
が制御され、また、洗浄処理が行われる場合は、常時開
かれている。上記レジスト滴下ノズル11は、回転塗布機
構103内に配置される。上記窒素供給パイプ3は窒素供
給装置12に連結される。
That is, a resist supply pipe 3 and a nitrogen supply pipe 5 are provided in a resist supply bin 1 having a capacity 4 for accommodating a resist. In the vicinity of the resist supply bin 1,
A full sensor 6, for example, an electrostatic sensor, for detecting that the cleaning liquid is fully stored in the bottle is provided. The resist supply pipe 3 is connected via a manual three-way valve 7 to a resist supply pipe 9 having an electromagnetic valve 9a. A resist dropping nozzle 11 is connected to the resist supply pipe 9. The solenoid valve 9a is opened and closed by a unit controller described later when a normal resist dropping process is performed, and therefore, the supply of the resist to the resist dropping nozzle 11 is controlled.Also, when a cleaning process is performed, the solenoid valve 9a is always open. . The resist dropping nozzle 11 is disposed in the spin coating mechanism 103. The nitrogen supply pipe 3 is connected to a nitrogen supply device 12.

一方、容量20の洗浄液(溶剤)供給タンク13には、
電磁弁15aを有する洗浄液供給パイプ15が設けられる。
電磁弁15aは通常のレジスト滴下処理が行われる場合は
常時閉じられ、また、洗浄処理が行われる場合は後述す
るユニットコントローラにより開閉され、したがって洗
浄液供給タンク13からの洗浄液供給が制御される。洗浄
液供給タンク13および洗浄液供給パイプ15とから溶剤供
給手段が構成される。この洗浄液供給パイプ15は上記マ
ニュアル三方弁7に連結される。なおマニュアル三方弁
7は、洗浄液供給パイプ15とレジスト供給パイプ3との
接続(「洗浄」側にセットする)およびレジスト供給パ
イプ3およびレジスト供給パイプ9との接続(「ノズ
ル」側にセットする)の切り換えが可能である。
On the other hand, the cleaning liquid (solvent) supply tank 13 having a capacity of 20
A cleaning liquid supply pipe 15 having an electromagnetic valve 15a is provided.
The electromagnetic valve 15a is always closed when a normal resist dropping process is performed, and is opened and closed by a unit controller described later when a cleaning process is performed. Therefore, the supply of the cleaning liquid from the cleaning liquid supply tank 13 is controlled. The cleaning liquid supply tank 13 and the cleaning liquid supply pipe 15 constitute a solvent supply unit. The cleaning liquid supply pipe 15 is connected to the manual three-way valve 7. The manual three-way valve 7 is connected between the cleaning liquid supply pipe 15 and the resist supply pipe 3 (set on the “cleaning” side) and connected with the resist supply pipe 3 and the resist supply pipe 9 (set on the “nozzle” side). Can be switched.

また、上記レジスト供給ビン1には、ビン内のレジス
トあるいは洗浄液を加圧しレジスト供給パイプ3へ送出
する排出手段たとえばカプラ(図示せず)が設けられ
る。上記洗浄液供給タンク13には、このタンク13内の洗
浄液を洗浄液供給パイプ15へ送出するカプラ(図示せ
ず)が設けられる。
The resist supply bin 1 is provided with a discharge means, for example, a coupler (not shown) for pressurizing the resist or the cleaning liquid in the bin and sending it to the resist supply pipe 3. The cleaning liquid supply tank 13 is provided with a coupler (not shown) for sending the cleaning liquid in the tank 13 to the cleaning liquid supply pipe 15.

上記のレジスト供給機構101の各構成要素の動作は、
制御部105に接続されたユニットコントローラ17によっ
て制御される。このユニットコントローラ17には、洗浄
スイッチ19、洗浄開始/停止スイッチ21および洗浄処理
中に点灯する表示ランプ23を有するスイッチパネル25が
接続される。上記洗浄開始/停止スイッチ21は「洗浄開
始」・「洗浄停止」・「ニュートラル」の3段階に切り
換え可能である。
The operation of each component of the above-described resist supply mechanism 101 is as follows.
It is controlled by the unit controller 17 connected to the control unit 105. The unit controller 17 is connected to a switch panel 25 having a cleaning switch 19, a cleaning start / stop switch 21, and a display lamp 23 that lights up during the cleaning process. The washing start / stop switch 21 can be switched to three stages of "washing start", "washing stop", and "neutral".

上記ユニットコントローラ17は上記スイッチパネル25
の各スイッチとの接続部において、第3図に示されるよ
うに、リレー27とそのスイッチ27a、リレー29とそのス
イッチ29a、29bを有する。スイッチ27aはリレー27に電
圧が印加されるとオフ状態になる。スイッチ29a、29bは
リレー29に電圧が印加されるとオン状態になる。
The unit controller 17 is connected to the switch panel 25
As shown in FIG. 3, a connection portion with each switch has a relay 27 and its switch 27a, and a relay 29 and its switches 29a and 29b. The switch 27a is turned off when a voltage is applied to the relay 27. The switches 29a and 29b are turned on when a voltage is applied to the relay 29.

次に上記レジスト供給機構101の動作について説明す
る。
Next, the operation of the resist supply mechanism 101 will be described.

まず、通常のレジスト供給について述べる。マニュア
ル三方弁7が「ノズル」側にセットされた状態で、レジ
スト供給ビン1内のレジストがカプラ(図示せず)によ
って加圧されることにより、レジスト供給パイプ3、9
およびレジスト滴下ノズル11を通って、レジストが半導
体ウエハ(図示せず)上に滴下される。
First, normal resist supply will be described. When the manual three-way valve 7 is set on the “nozzle” side, the resist in the resist supply bin 1 is pressurized by a coupler (not shown), so that the resist supply pipes 3 and 9 are pressed.
The resist is dropped on a semiconductor wafer (not shown) through the resist drop nozzle 11.

次にレジスト供給ビン1内が空になった場合の洗浄動
作について述べる。
Next, a cleaning operation when the inside of the resist supply bin 1 becomes empty will be described.

マニュアル三方弁7を「洗浄」側にセットし、洗浄ス
イッチ19をオンにし、さらに洗浄開始/停止スイッチ21
を「洗浄開始」側へオンにすると(なお、当初は満杯セ
ンサ6はオフの状態であるので、リレー27はオフでスイ
ッチ27aはオンである)、リレー29がオンになり、した
がってスイッチ29a、29bがオンになる。スイッチ29aが
オンになることにより、電磁弁15a内のソレノイド(図
示せず)に電圧が印加され(表示ランプ23も点灯する)
電磁弁15aが開くので、洗浄液がレジスト供給パイプ3
を通ってレジスト供給ビン1内に流入する。また、スイ
ッチ29aがオンになることにより、洗浄開始/停止スイ
ッチ21が「ニュートラル」に戻されても、スイッチ29a
の自己保持により洗浄液の供給は続行される。
The manual three-way valve 7 is set to the “washing” side, the washing switch 19 is turned on, and the washing start / stop switch 21
Is turned on to the "washing start" side (note that the full sensor 6 is initially off, so that the relay 27 is off and the switch 27a is on), the relay 29 is turned on, and thus the switches 29a, 29b turns on. When the switch 29a is turned on, a voltage is applied to a solenoid (not shown) in the solenoid valve 15a (the indicator lamp 23 is also turned on).
Since the electromagnetic valve 15a is opened, the cleaning liquid is supplied to the resist supply pipe 3
And flows into the resist supply bin 1. When the switch 29a is turned on, even if the cleaning start / stop switch 21 is returned to "neutral", the switch 29a
The supply of the cleaning liquid is continued by the self-holding of.

やがてレジスト供給ビン1が洗浄液で満杯(たとえば
4流入した状態)になると、満杯センサ6がオンにな
るので、リレー27がオンになり、スイッチ27aがオフに
なり、したがってリレー29がオフになり、スイッチ29
a、29bがオフになる。スイッチ29aがオフになることに
より、上記電磁弁15aが閉じるので(表示ランプ23も消
灯する)、洗浄液の供給が停止される。(スイッチ27a
がオフになりスイッチ29aによる自己保持も解除され
る。) ここでマニュアル三方弁7を「ノズル」側にセット
し、カプラにてレジスト供給ビン1内の洗浄液を加圧す
ると、洗浄液がレジスト供給パイプ3、9およびレジス
ト滴下ノズル11を通って外部へ排出される。したがっ
て、レジスト供給ビン1、レジスト供給パイプ3、9お
よびレジスト滴下ノズル11が洗浄される。そしてカプラ
を抜いて加圧を終了する。
Eventually, when the resist supply bin 1 is full of the cleaning liquid (for example, in a state of four inflows), the full sensor 6 is turned on, so that the relay 27 is turned on, the switch 27a is turned off, and therefore the relay 29 is turned off. Switch 29
a and 29b are turned off. When the switch 29a is turned off, the electromagnetic valve 15a is closed (the indicator lamp 23 is also turned off), and the supply of the cleaning liquid is stopped. (Switch 27a
Is turned off, and the self-holding by the switch 29a is also released. Here, the manual three-way valve 7 is set on the “nozzle” side, and the cleaning liquid in the resist supply bin 1 is pressurized by the coupler. Is done. Therefore, the resist supply bin 1, the resist supply pipes 3, 9 and the resist dropping nozzle 11 are cleaned. Then, the coupler is removed, and the pressurization is completed.

以上の洗浄を繰り返す(たとえば3回洗浄する)場合
は、再び洗浄開始/停止スイッチ21を「洗浄開始」側に
オンにすれば同様の動作が行なわれる。
When the above washing is repeated (for example, washing three times), the same operation is performed by turning on the washing start / stop switch 21 again to the “washing start” side.

洗浄を終了する場合は、洗浄スイッチ19をオフにし、
窒素ガス供給装置12を駆動させることにより、窒素供給
パイプ5を介してレジスト供給ビン1内に窒素ガスが吹
き込まれる。吹き込まれた窒素ガスは、レジスト供給パ
イプ3、9およびレジスト滴下ノズル11を通って外部へ
排出される。したがって、レジスト供給ビン1、レジス
ト供給パイプ3、9およびレジスト滴下ノズル11はすみ
やかに乾燥される。
To end the cleaning, turn off the cleaning switch 19,
By driving the nitrogen gas supply device 12, nitrogen gas is blown into the resist supply bin 1 via the nitrogen supply pipe 5. The blown nitrogen gas is discharged outside through the resist supply pipes 3 and 9 and the resist dropping nozzle 11. Therefore, the resist supply bin 1, the resist supply pipes 3, 9 and the resist dropping nozzle 11 are quickly dried.

なお、満杯センサ6がオンになる前に洗浄処理を中止
する場合は、洗浄開始/停止スイッチ21を「洗浄停止」
側へオンにする。
When the cleaning process is to be stopped before the full sensor 6 is turned on, the cleaning start / stop switch 21 is set to “cleaning stop”.
Turn to the side.

上記のようにして洗浄されたレジスト供給ビン1に新
たなレジスト液を補給すれば、繰り返しレジスト供給ビ
ン1を使用できて経済的である。
If a new resist solution is supplied to the resist supply bin 1 that has been washed as described above, the resist supply bin 1 can be used repeatedly, which is economical.

かくして本実施例によれば、レジスト供給パイプ、レ
ジスト滴下ノズルおよびレジスト供給ビン等を容易に洗
浄可能で、さらにレジスト供給ビンを繰り返し使用可能
な洗浄機構付きレジスト塗布装置を提供することができ
る。
Thus, according to the present embodiment, it is possible to provide a resist coating apparatus with a cleaning mechanism that can easily clean the resist supply pipe, the resist dropping nozzle, the resist supply bin, and the like, and that can repeatedly use the resist supply bin.

なお、上記実施例では本発明を、半導体ウエハにレジ
ストを塗布するレジスト塗布装置に適用した例について
説明したが、塗布物質を収容する容器から所定の供給供
給路を介して被処理体に塗布物質を供給して塗布処理す
る装置であれば何れにも適用可能である。
In the above embodiment, an example in which the present invention is applied to a resist coating apparatus for coating a semiconductor wafer with a resist has been described. However, a coating material is applied from a container containing a coating material to an object to be processed through a predetermined supply path. Can be applied to any device that supplies and supplies a coating solution.

[発明の効果] 以上詳細に説明したように本発明によれば、塗布物質
の供給路および収容容器を容易に洗浄可能で、さらに収
容容器を繰り返し使用可能な洗浄機構付き塗布装置を提
供することができる。
[Effects of the Invention] As described in detail above, according to the present invention, it is possible to provide a coating apparatus with a cleaning mechanism that can easily wash a supply path of a coating substance and a storage container, and that can repeatedly use the storage container. Can be.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本実施例に係る洗浄機構付きレジスト塗布装置
のレジスト供給機構の要部の構成を示す図、第2図は本
実施例に係る洗浄機構付きレジスト塗布装置の構成を示
すブロック図、第3図は第1図に示すユニットコントロ
ーラの一部を示す回路図である。 1……レジスト供給ビン、3、9……レジスト供給パイ
プ、6……満杯センサ、7……マニュアル三方弁、13…
…洗浄液供給タンク、11……ユニットコントローラ
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a main part of a resist supply mechanism of a resist coating apparatus with a cleaning mechanism according to the present embodiment. FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a resist coating apparatus with a cleaning mechanism according to the present embodiment. FIG. 3 is a circuit diagram showing a part of the unit controller shown in FIG. 1 ... Register supply bin, 3, 9 ... Register supply pipe, 6 ... Full sensor, 7 ... Manual three-way valve, 13 ...
... cleaning liquid supply tank, 11 ... unit controller

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) B05C 11/08 - 11/10 B05C 21/00 H01L 21/30 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) B05C 11/08-11/10 B05C 21/00 H01L 21/30

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】塗布物質を収容する容器から供給路を介し
て被処理体に塗布物質を供給して塗布処理する塗布装置
において、 前記供給路途上に連結され、当該供給路を介して前記容
器内に所定量の前記塗布物質の溶剤を供給する溶剤供給
手段と、 前記溶剤供給手段から前記容器内に供給された前記溶剤
を前記供給路を介して外部に排出する排出手段と を設けたことを特徴とする洗浄機構付き塗布装置。
1. A coating apparatus for supplying a coating substance from a container accommodating a coating substance to a target object through a supply path and performing a coating process, wherein the coating apparatus is connected on the supply path and the container is connected via the supply path. Solvent supply means for supplying a predetermined amount of the solvent of the coating substance therein; and discharge means for discharging the solvent supplied from the solvent supply means into the container to the outside via the supply path. A coating device with a washing mechanism.
【請求項2】塗布物質を収容する容器から供給路を介し
て被処理体に塗布物質を供給して塗布処理する塗布装置
において、 前記供給路途上に連結され、当該供給路を介して前記容
器内に所定量の前記塗布物質の溶剤を供給する溶剤供給
手段と、 前記溶剤供給手段から前記容器内に供給された前記溶剤
を前記供給路を介して外部に排出する排出手段と 前記容器内から前記供給路方向に不活性ガスを流通させ
る不活性ガス供給手段と を設けたことを特徴とする洗浄機構付き塗布装置。
2. A coating apparatus for supplying a coating substance from a container containing a coating substance to a target object via a supply path and performing coating processing, wherein the coating apparatus is connected on the supply path, and the container is connected via the supply path. Solvent supply means for supplying a predetermined amount of the solvent of the coating substance into the inside; discharge means for discharging the solvent supplied from the solvent supply means into the container to the outside via the supply path; And an inert gas supply means for flowing an inert gas in the direction of the supply path.
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