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JP2927273B2 - Clock skew correction circuit - Google Patents
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JP2927273B2 - Clock skew correction circuit - Google Patents

Clock skew correction circuit

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JP2927273B2
JP2927273B2 JP9126301A JP12630197A JP2927273B2 JP 2927273 B2 JP2927273 B2 JP 2927273B2 JP 9126301 A JP9126301 A JP 9126301A JP 12630197 A JP12630197 A JP 12630197A JP 2927273 B2 JP2927273 B2 JP 2927273B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路に関
し、特に、クロック信号の位相ずれを補正するためのク
ロックスキュー補正回路及びこれを備えた半導体集積回
路に関する。
The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and more particularly, to a clock skew correction circuit for correcting a phase shift of a clock signal and a semiconductor integrated circuit having the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体集積回路の集積度が高くな
り、且つ、大型化(大規模化)するに伴って、半導体集
積回路内での配線長、特にクロック信号を各機能ブロッ
クに供給するための配線が長くなり、クロック信号の遅
延が無視できなくなっている。すなわち、複数の機能ブ
ロックに共通に供給されるクロック信号の位相が、各機
能ブロック間でずれてしまい、半導体集積回路全体とし
ての高速動作に支障をきたすことになる。
2. Description of the Related Art In recent years, as the degree of integration of semiconductor integrated circuits has increased and their size has increased (increased in scale), wiring lengths in the semiconductor integrated circuits, particularly clock signals, have been supplied to each functional block. Therefore, the delay of the clock signal cannot be ignored. That is, the phase of the clock signal commonly supplied to a plurality of functional blocks is shifted between the functional blocks, which hinders the high-speed operation of the entire semiconductor integrated circuit.

【0003】クロック信号の位相差を補正するための従
来技術として、例えば特開平6−273478号公報な
どに記載されているように、クロック信号を供給するた
めのパスに対応して帰還パスを設け、この帰還パスのク
ロック信号波形と基準クロック信号波形との位相比較を
行い、この位相ずれ検出結果に基づいて、クロック供給
パスに設けた可変遅延回路を調節して、クロック分配系
におけるクロックスキューを補正する、という技術が知
られている。
As a conventional technique for correcting a phase difference between clock signals, a feedback path is provided corresponding to a path for supplying a clock signal as described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-273478. A phase comparison between the clock signal waveform of the feedback path and the reference clock signal waveform is performed, and a variable delay circuit provided in the clock supply path is adjusted based on a result of the phase shift detection to reduce the clock skew in the clock distribution system. There is known a technique of correcting.

【0004】図2は、従来のクロックスキュー補正回路
の一例を示すブロック図である。図2において、101
は基準クロックの外部入力端子、102はクロック信号
外部入力端子、111、112は入力バッファ、121
は位相比較器、122は制御回路、123は可変遅延回
路、124はクロック分配系、125はフリップフロッ
プ、131は帰還パスを表す。
FIG. 2 is a block diagram showing an example of a conventional clock skew correction circuit. In FIG.
Is an external input terminal of a reference clock, 102 is an external input terminal of a clock signal, 111 and 112 are input buffers, 121
Denotes a phase comparator, 122 denotes a control circuit, 123 denotes a variable delay circuit, 124 denotes a clock distribution system, 125 denotes a flip-flop, and 131 denotes a feedback path.

【0005】この従来のクロックスキュー補正回路の動
作について説明する。図2に示すように、外部端子10
2に入力されたクロック信号は、入力バッファ112、
可変遅延回路123、クロック分配系124を通って、
フリップフロップ125へと供給される。
The operation of this conventional clock skew correction circuit will be described. As shown in FIG.
2 is input to the input buffer 112,
Through the variable delay circuit 123 and the clock distribution system 124,
The signal is supplied to the flip-flop 125.

【0006】クロック分配系124から出力されたクロ
ック信号は、帰還パス131によって位相比較器121
の一の入力端子へ入力される。位相比較器121の他の
入力端子には、外部入力端子101から入力バッファ1
11を通って入力された基準クロック信号が入力され
る。位相比較器121では、基準クロック信号とクロッ
ク分配系124から帰還パス131を通ってきたクロッ
ク信号との位相比較動作が行われ、その比較結果を信号
として制御回路122へ出力する。
The clock signal output from the clock distribution system 124 is supplied to a phase comparator 121 by a feedback path 131.
Is input to one of the input terminals. The other input terminals of the phase comparator 121 are connected to the input buffer 1 from the external input terminal 101.
The reference clock signal input through 11 is input. The phase comparator 121 performs a phase comparison operation between the reference clock signal and the clock signal that has passed through the feedback path 131 from the clock distribution system 124, and outputs the comparison result to the control circuit 122 as a signal.

【0007】位相比較結果の信号を受け取った制御回路
122は、その位相比較結果に対応してクロック信号の
位相を進めたり、遅らせたりするための制御信号を可変
遅延回路123へ出力する。
The control circuit 122 that has received the phase comparison result signal outputs a control signal for advancing or delaying the phase of the clock signal to the variable delay circuit 123 in accordance with the phase comparison result.

【0008】可変遅延回路123では、受け取った位相
を調節するための制御信号に応じて遅延を増加、または
減少させ、クロック信号の位相を調節する。
The variable delay circuit 123 adjusts the phase of the clock signal by increasing or decreasing the delay according to the received control signal for adjusting the phase.

【0009】このように、基準クロック信号とクロック
分配系出力のクロック信号との位相を合わせることによ
って、クロックスキューの低減を行う。
As described above, the clock skew is reduced by matching the phases of the reference clock signal and the clock signal output from the clock distribution system.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来のクロックスキュー補正回路は、下記記載の問題
点を有している。
However, the above-described conventional clock skew correction circuit has the following problems.

【0011】(1)第1の問題点は、半導体集積回路が
微細化されてくると、例えばデバイス特性のバラツキや
温度、電源電圧などの変化によって、入力バッファ11
1の特性のバラツキが大きくなり、クロック信号の位相
を合わせる元になる基準クロック信号自体がばらついて
しまうことがある、ということである。
(1) The first problem is that when the semiconductor integrated circuit is miniaturized, the input buffer 11 may be changed due to variations in device characteristics, changes in temperature, power supply voltage, and the like.
This means that the variation of the characteristic 1 becomes large, and the reference clock signal itself, which is the basis for adjusting the phase of the clock signal, may vary.

【0012】(2)第2の問題点は、同じ半導体集積回
路内に複数のクロックスキュー補正回路を使う場合、ま
たは、別の半導体集積回路に同様なクロックスキュー補
正回路を使用する場合などに、基準クロック信号の入力
バッファ111の出力負荷条件が異なる場合があり得
る。こうした場合、基準クロック信号の入力バッファ1
11の特性の差がクロックスキュー補正の精度に影響し
てくる、ということである。
(2) The second problem is that a plurality of clock skew correction circuits are used in the same semiconductor integrated circuit, or a similar clock skew correction circuit is used in another semiconductor integrated circuit. The output load condition of the input buffer 111 of the reference clock signal may be different. In such a case, the input buffer 1 of the reference clock signal
11 means that the accuracy of the clock skew correction is affected.

【0013】したがって、本発明は、上記した従来技術
の問題点を解消すべく創案されたものであって、その目
的は、クロックスキューの発生を低減し、しかも、基準
クロック信号が入力される入力バッファの特性バラツキ
をも吸収して、クロックスキュー補正回路の性能を向上
させ、結果的にシステム全体の高速化を達成するクロッ
クスキュー補正回路を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and an object of the present invention is to reduce the occurrence of clock skew and to input a reference clock signal. An object of the present invention is to provide a clock skew correction circuit that absorbs variations in the characteristics of a buffer, improves the performance of the clock skew correction circuit, and consequently speeds up the entire system.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明のクロックスキュー補正回路は、クロック信
号を分配するためのクロック分配系に対応して形成され
たクロック帰還パスと、このクロック帰還パスの途中に
設けられ、基準クロック信号を半導体集積回路内に入力
するための入力バッファの遅延分だけクロック信号を補
正する手段と、前記クロック信号を補正する手段を通っ
たクロック信号と、前記基準クロック信号との位相差を
検出するための位相差検出手段と、この位相差検出結果
に基づいて、クロック信号の遅延時間を調節するための
制御信号を発生する手段と、前記制御信号に対応してク
ロック信号の遅延時間を可変とする手段と、を含むこと
を特徴とする。
In order to achieve the above object, a clock skew correction circuit according to the present invention comprises: a clock feedback path formed corresponding to a clock distribution system for distributing a clock signal; Means for correcting the clock signal by a delay of an input buffer for inputting the reference clock signal into the semiconductor integrated circuit, provided in the middle of the path, a clock signal passing through the means for correcting the clock signal, A phase difference detection unit for detecting a phase difference from the clock signal; a unit for generating a control signal for adjusting a delay time of the clock signal based on a result of the phase difference detection; Means for making the delay time of the clock signal variable.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】本発明の好ましい実施の形態につ
いて以下に説明する。本発明のクロックスキュー補正回
路は、その好ましい実施の形態において、基準クロック
信号が入力される入力バッファ(図1の111)と、位
相比較結果の信号を入力としそれに応じた制御信号を出
力する制御回路(図1の122)と、制御信号と通常ク
ロック信号とを入力とし制御信号に対応して通常クロッ
ク信号の伝搬遅延時間を増加/減少させ、入力された通
常クロック信号の位相を進めたり、あるいは遅らせたり
したクロック信号を出力する可変遅延回路(図1の12
3)と、可変遅延回路からの出力クロック信号を入力と
して半導体集積回路内のフリップフロップなどの機能ブ
ロックにクロック信号を分配するクロック分配系(図1
の124)と、第1の入力端に前記クロック分配系から
のクロック信号を帰還パス(図1の131)を通して入
力し、第2の入力端に前記基準クロック信号の入力バッ
ファ直前の信号を入力し、第3の入力端に前記基準クロ
ック信号の入力バッファ直後の信号を入力し、第2の入
力信号と第3の入力信号との位相差情報を基に第1の入
力信号であるクロック信号の遅延を補正して出力する遅
延補正回路(図1の126)と、第1の入力端に前記基
準クロック信号の入力バッファの出力信号を入力し、第
2の入力端に前記遅延補正回路の出力信号を入力し、2
つの入力信号の位相を比較してその位相比較結果の信号
を前記制御回路に出力する位相比較器(図1の121)
と、を有する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below. In a preferred embodiment, the clock skew correction circuit of the present invention has an input buffer (111 in FIG. 1) to which a reference clock signal is input, and a control for receiving a signal of a phase comparison result as an input and outputting a control signal corresponding to the input buffer. A circuit (122 in FIG. 1), a control signal and a normal clock signal are input, and the propagation delay time of the normal clock signal is increased / decreased in accordance with the control signal to advance the phase of the input normal clock signal. Alternatively, a variable delay circuit (12 in FIG. 1) that outputs a delayed clock signal
3) and a clock distribution system (FIG. 1) that distributes a clock signal to a functional block such as a flip-flop in a semiconductor integrated circuit by using an output clock signal from a variable delay circuit as an input.
124), a clock signal from the clock distribution system is input to a first input terminal through a feedback path (131 in FIG. 1), and a signal immediately before an input buffer of the reference clock signal is input to a second input terminal. Then, a signal immediately after the input buffer of the reference clock signal is input to a third input terminal, and a clock signal which is a first input signal based on phase difference information between the second input signal and the third input signal. A delay correction circuit (126 in FIG. 1) for correcting and outputting the delay of the reference clock signal, and an output signal of the input buffer of the reference clock signal is input to a first input terminal, and the delay input circuit of the delay correction circuit is input to a second input terminal. Input the output signal and
Phase comparator for comparing the phases of two input signals and outputting a signal of the phase comparison result to the control circuit (121 in FIG. 1)
And

【0016】本発明の実施の形態において、遅延補正回
路は、基準クロック信号が入力される入力バッファ(図
1の111)の入力信号とその出力信号の位相差を基に
クロック帰還パス(図1の131)からのクロック信号
の遅延を補正するように作用する。このため、クロック
分配系でのクロックスキュー低減作用に加え、基準クロ
ック信号の入力バッファ特性バラツキまでも補正するこ
とを可能とし、更なるクロックスキュー低減の向上を達
成する。
In the embodiment of the present invention, the delay correction circuit uses a clock feedback path (FIG. 1) based on the phase difference between the input signal of the input buffer (111 in FIG. 1) to which the reference clock signal is input and the output signal thereof. Of the clock signal 131). For this reason, in addition to the clock skew reduction effect in the clock distribution system, it is possible to correct even the input buffer characteristic variation of the reference clock signal, thereby further improving the clock skew reduction.

【0017】[0017]

【実施例】上記した本発明の実施の形態について更に詳
細に説明すべく、本発明の実施例について図面を参照し
て以下に詳細に説明する。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention;

【0018】図1は、本発明の一実施例の構成を示すブ
ロック図である。図1において、101は半導体集積回
路に基準クロック信号を供給する外部入力端子、102
は半導体集積回路に通常クロック信号を供給する外部入
力端子、111、112は入力バッファ、121は位相
比較器、122は制御回路、123は可変遅延回路、1
24はクロック分配系、125はフリップフロップなど
の同期回路、126は遅延補正回路、131はクロック
帰還パスをそれぞれ示している。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of one embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 101 denotes an external input terminal for supplying a reference clock signal to a semiconductor integrated circuit;
Is an external input terminal that normally supplies a clock signal to the semiconductor integrated circuit, 111 and 112 are input buffers, 121 is a phase comparator, 122 is a control circuit, 123 is a variable delay circuit,
24 is a clock distribution system, 125 is a synchronization circuit such as a flip-flop, 126 is a delay correction circuit, and 131 is a clock feedback path.

【0019】次に本実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be described.

【0020】図1に示すように、半導体集積回路の外部
入力端子101から入力バッファ111を通して基準ク
ロック信号を位相比較回路121の第1の入力端子に入
力する。位相比較器121の第2の入力端子には本発明
の特徴である遅延補正回路126の出力信号が入力さ
れ、基準クロック信号と遅延補正回路126からの出力
信号との位相比較動作が行われる。
As shown in FIG. 1, a reference clock signal is input from an external input terminal 101 of a semiconductor integrated circuit through an input buffer 111 to a first input terminal of a phase comparison circuit 121. The output signal of the delay correction circuit 126, which is a feature of the present invention, is input to the second input terminal of the phase comparator 121, and the phase comparison operation between the reference clock signal and the output signal from the delay correction circuit 126 is performed.

【0021】その結果、位相比較に基づいて通常クロッ
ク信号の位相を進めるか遅らせるかの信号が出力され、
制御回路122へ入力される。制御回路122では、位
相比較回路121からの入力信号に対応して、通常クロ
ック信号の位相をどの程度調節するかの制御信号を可変
遅延回路123へ出力する。
As a result, a signal indicating whether the phase of the normal clock signal is advanced or delayed is output based on the phase comparison,
Input to the control circuit 122. The control circuit 122 outputs to the variable delay circuit 123 a control signal indicating how much the phase of the normal clock signal is adjusted in accordance with the input signal from the phase comparison circuit 121.

【0022】可変遅延回路123では、制御信号から入
力された制御信号に基づき遅延回路を調節して、別の入
力端子から入力されたクロック信号の位相を変えクロッ
ク分配系124へ出力する。
The variable delay circuit 123 adjusts the delay circuit based on the control signal input from the control signal, changes the phase of the clock signal input from another input terminal, and outputs the clock signal to the clock distribution system 124.

【0023】クロック分配系124は、その位相を調節
され可変遅延回路123から出力されたクロック信号を
フリップフロップ等の同期回路125へと分配する。
The clock distribution system 124 distributes the clock signal whose phase is adjusted and output from the variable delay circuit 123 to a synchronization circuit 125 such as a flip-flop.

【0024】クロック分配系124から出力されたクロ
ック信号は、帰還パス131を通って遅延補正回路12
6の第3の入力端子へ入力される。
The clock signal output from the clock distribution system 124 passes through the feedback path 131 and
6 is input to the third input terminal.

【0025】遅延補正回路126の第1の入力端子に
は、外部入力端子101から入力され入力バッファ11
1の入力端子直前の基準クロックが入力され、第2の入
力端子には、入力バッファ111から出力され位相比較
器121の入力端子直前の基準クロック信号が入力され
る。
A first input terminal of the delay correction circuit 126 is input from the external input terminal 101 to the input buffer 11
The reference clock immediately before the first input terminal is input, and the reference clock signal output from the input buffer 111 and immediately before the input terminal of the phase comparator 121 is input to the second input terminal.

【0026】遅延補正回路126では、第1、第2の入
力端子から入力された、基準クロック信号の入力バッフ
ァ111前後の基準クロック信号間の遅延を検出する。
そして、ここで検出された遅延量情報を基に、帰還パス
131によってクロック分配系124の出力から戻され
第3の入力端子から入力されたクロック信号の位相を調
節して、位相比較回路121へ出力する。
The delay correction circuit 126 detects a delay between the reference clock signals input from the first and second input terminals before and after the input buffer 111 of the reference clock signal.
Then, based on the delay amount information detected here, the phase of the clock signal returned from the output of the clock distribution system 124 by the feedback path 131 and input from the third input terminal is adjusted. Output.

【0027】クロックスキューが発生する原因は、クロ
ック分配系などの遅延差、デバイス特性のバラツキなど
であり、このクロックスキューを限りなく小さく抑える
ことにより、クロック信号に同期して動作する同期回路
は高速に動作させることが可能となり、このようなクロ
ックスキュー補正回路などを内蔵した半導体集積回路を
用いることによって、コンピュータなどのシステム全体
を高速で動作させることが可能となる。
The cause of the clock skew is a delay difference of a clock distribution system or the like, and a variation in device characteristics. By suppressing the clock skew as much as possible, a synchronous circuit operating in synchronization with a clock signal operates at high speed. By using a semiconductor integrated circuit having such a built-in clock skew correction circuit or the like, the entire system such as a computer can be operated at high speed.

【0028】図2に示した従来例では、クロック分配系
の出力を帰還パスを通して位相比較器に戻し、基準クロ
ック信号と位相を比較、合わせることでクロックスキュ
ーの低減を行う。
In the conventional example shown in FIG. 2, the clock skew is reduced by returning the output of the clock distribution system to the phase comparator through the feedback path and comparing and matching the phase with the reference clock signal.

【0029】本実施例のクロックスキュー補正回路にお
いては、従来例のクロックスキュー調整に加え、基準ク
ロック信号の半導体集積回路の外部入力端子から位相比
較器入力までの部分の遅延、デバイス特性のバラツキま
でも補正を行うことにより、更なるクロックスキューを
低減することが可能となる。
In the clock skew correction circuit of this embodiment, in addition to the clock skew adjustment of the conventional example, the delay of the portion of the reference clock signal from the external input terminal of the semiconductor integrated circuit to the input of the phase comparator, and the variation in device characteristics. By performing the correction, it is possible to further reduce the clock skew.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
クロック分配系でのクロックスキューを低減することが
でき、加えてクロック信号の位相を合わせる基準になる
基準クロック信号の入力部の遅延、デバイス特性のバラ
ツキまでも補正することができ、更なるクロックスキュ
ーを低減することができる。
As described above, according to the present invention,
The clock skew in the clock distribution system can be reduced, and in addition, the delay of the input section of the reference clock signal, which serves as a reference for adjusting the phase of the clock signal, and the variation in device characteristics can be corrected. Can be reduced.

【0031】その理由は、本発明においては、遅延補正
回路は、基準クロック信号が入力される入力バッファの
入力信号とその出力信号の位相差を基にクロック帰還パ
スからのクロック信号の遅延を補正するように、構成し
たことによる。
The reason is that, in the present invention, the delay correction circuit corrects the delay of the clock signal from the clock feedback path based on the phase difference between the input signal of the input buffer to which the reference clock signal is input and the output signal. Depending on the configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例のクロックスキュー補正回路
の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a clock skew correction circuit according to one embodiment of the present invention.

【図2】従来例のクロックスキュー補正回路の構成を示
すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of a conventional clock skew correction circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 外部入力端子 102 外部入力端子 111 入力バッファ 112 入力バッファ 121 位相比較器 122 制御回路 123 可変遅延回路 124 クロック分配系 125 フリップフロップ 126 遅延補正回路 131 クロック帰還パス Reference Signs List 101 external input terminal 102 external input terminal 111 input buffer 112 input buffer 121 phase comparator 122 control circuit 123 variable delay circuit 124 clock distribution system 125 flip-flop 126 delay correction circuit 131 clock feedback path

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H03K 5/00 S (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G06F 1/10 H03K 5/13 G01R 31/28 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 identification code FI H03K 5/00 S (58) Fields investigated (Int.Cl. 6 , DB name) G06F 1/10 H03K 5/13 G01R 31 / 28

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】クロック信号を分配するためのクロック分
配系に対応して形成されたクロック帰還パスと、 前記クロック帰還パスの途中に設けられ、基準クロック
信号を半導体集積回路内に入力するための入力バッファ
の遅延分だけクロック信号を補正する手段と、 前記クロック信号を補正する手段を通ったクロック信号
と前記基準クロック信号との位相差を検出するための位
相差検出手段と、 前記位相差検出結果に基づいてクロック信号の遅延時間
を調節するための制御信号を発生する手段と、 前記制御信号に対応してクロック信号の遅延時間を可変
とする手段と、 を含むことを特徴とするクロックスキュー補正回路。
A clock feedback path formed corresponding to a clock distribution system for distributing a clock signal; and a clock feedback path provided in the middle of the clock feedback path for inputting a reference clock signal into the semiconductor integrated circuit. Means for correcting the clock signal by an amount corresponding to the delay of the input buffer; phase difference detecting means for detecting a phase difference between the clock signal passing through the means for correcting the clock signal and the reference clock signal; A clock skew comprising: means for generating a control signal for adjusting a delay time of the clock signal based on the result; and means for varying the delay time of the clock signal in response to the control signal. Correction circuit.
【請求項2】クロック入力端子から第1の入力バッファ
を介して入力されたクロック信号を分配するクロック分
配系から同期回路に出力されるクロック信号を帰還させ
るパスに挿入され、基準クロック信号を入力する第2の
入力バッファの入力端直前と出力端、すなわち位相差検
出回路の入力端直前の位相差に基づき、前記帰還パスか
ら入力されたクロック信号の遅延時間を補正して出力す
る遅延補正回路と、 前記遅延補正回路から出力されるクロック信号と、前記
第2の入力バッファの出力端の基準クロックと、の位相
差を検出するための位相差検出回路と、 前記位相差検出回路の出力結果に基づき、前記クロック
入力端子から前記第1の入力バッファを介して入力され
たクロック信号の遅延時間を調節するための制御信号を
発生する制御回路と、 前記制御信号に対応して前記クロック入力端子から前記
第1の入力バッファを介して入力させたクロック信号の
遅延時間を可変させて前記クロック分配系に出力する可
変遅延回路と、 を含むことを特徴とする半導体集積回路装置。
2. A clock signal input from a clock input terminal via a first input buffer and inserted into a path for feeding back a clock signal output from a clock distribution system to a synchronous circuit from a clock distribution system for inputting a reference clock signal. A delay correction circuit that corrects and outputs a delay time of a clock signal input from the feedback path based on a phase difference immediately before an input terminal and an output terminal of a second input buffer, that is, a phase difference immediately before an input terminal of a phase difference detection circuit. A phase difference detection circuit for detecting a phase difference between a clock signal output from the delay correction circuit and a reference clock at an output terminal of the second input buffer; and an output result of the phase difference detection circuit A control signal for adjusting a delay time of a clock signal input from the clock input terminal via the first input buffer based on A variable delay circuit that varies a delay time of a clock signal input from the clock input terminal via the first input buffer in response to the control signal, and outputs the clock signal to the clock distribution system. A semiconductor integrated circuit device characterized by the above-mentioned.
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