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JP2936768B2 - Semiconductor processing equipment - Google Patents
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JP2936768B2 - Semiconductor processing equipment - Google Patents

Semiconductor processing equipment

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JP2936768B2
JP2936768B2 JP6346091A JP6346091A JP2936768B2 JP 2936768 B2 JP2936768 B2 JP 2936768B2 JP 6346091 A JP6346091 A JP 6346091A JP 6346091 A JP6346091 A JP 6346091A JP 2936768 B2 JP2936768 B2 JP 2936768B2
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    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/38Cutting-off equipment for sprues or ingates
    • B29C45/382Cutting-off equipment for sprues or ingates disposed outside the mould

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体組立設備におい
て、樹脂モールド加工によって、複数のパッケージ、特
に、QFP(quad flat package)を
作製する際、リードフレームに残存、付着したランナー
形状の樹脂片を剥離する半導体処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a runner-shaped resin piece which remains and adheres to a lead frame when a plurality of packages, particularly a QFP (quad flat package) are manufactured by resin molding in a semiconductor assembly facility. The present invention relates to a semiconductor processing apparatus for peeling off.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、半導体組立設備において、樹脂
モールド加工によって、リードフレーム上に複数のパッ
ケージを作製した場合、その後の処理にて、リードフレ
ームに残存、付着したランナー形状の樹脂片を剥離する
必要がある。これは、通常ディゲートあるいはカルブレ
ークと呼ばれている。従って、以下、上記処理を単にデ
ィゲートと記す。
2. Description of the Related Art Generally, in a semiconductor assembly facility, when a plurality of packages are manufactured on a lead frame by resin molding, a runner-shaped resin piece remaining on and adhered to the lead frame is peeled off in a subsequent process. There is a need. This is usually called degate or cull break. Therefore, hereinafter, the above processing is simply referred to as degate.

【0003】このディゲートは、代表的に、プレート突
き方法とピン突き方法とがある。前者のプレート突き方
法は、図4Aに示すように、樹脂モールド加工により、
パッケージPKと共に形成されたランナー形状の樹脂片
21からリードフレームRFのディゲート用孔(図5参
照)22を通して上方に突出した樹脂23をプッシャー
24で上方から押圧することにより上記樹脂片21を剥
離、除去するものである。
[0003] This degate typically has a plate butting method and a pin butting method. As shown in FIG. 4A, the former plate pushing method is performed by resin molding.
The resin 23 protruding upward from the runner-shaped resin piece 21 formed together with the package PK through the degate hole 22 of the lead frame RF (see FIG. 5) 22 is pressed from above by a pusher 24 to peel off the resin piece 21. It is to be removed.

【0004】一方、後者のピン突き方法は、図4Bに示
すように、上記ディゲート用孔22から上方に露出する
樹脂片21の一部をプッシャー24の下面に設けられた
複数のピン25で下方に突くことにより、上記樹脂片2
1を剥離、除去するものである。両者とも、リードフレ
ームRFとパッケージPKをパレット26により保持し
て上記ディゲートを行うようにしている。
[0004] On the other hand, in the latter method of pushing a pin, as shown in FIG. 4B, a part of a resin piece 21 exposed upward from the degate hole 22 is lowered by a plurality of pins 25 provided on the lower surface of a pusher 24. , The resin piece 2
1 is removed and removed. In both cases, the degate is performed by holding the lead frame RF and the package PK on the pallet 26.

【0005】特に、プレート突き方法によるディゲート
は、図7に示すように、パレット26の上部のうち、例
えばランナー側に配されたパッケージPKと対応する箇
所にパッケージPKとほぼ同じ大きさの凹部27を設け
ることによって、プッシャー24による押圧時、リード
フレームRF上のパッケージPKがほぼ水平方向に保持
されるようにして上記ディゲートを行うようにしてい
る。
[0005] In particular, as shown in FIG. 7, the degate by the plate thrust method is, as shown in FIG. The degate is performed so that the package PK on the lead frame RF is held substantially horizontally when pressed by the pusher 24.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記ディゲ
ートは、形成されるパッケージのタイプによっては、以
下のような不都合をもたらす。
The above-mentioned degate has the following disadvantages depending on the type of package to be formed.

【0007】即ち、パッケージの対向する2辺にアウタ
ーリードが導出されるフラットDIP(flat du
al in−line package)の場合は、問
題ないのであるが、パッケージの4辺すべてにアウター
リードが導出されるQFP(quad flat pa
ckage)の場合、図6に示すように、ランナーの湯
口に相当する部分の樹脂(以下、単にゲートと記す)2
1aが残存するという問題がある。
That is, a flat DIP (flat dup) in which outer leads are led out to two opposing sides of the package.
In the case of al in-line package, there is no problem, but a QFP (quad flat page) in which outer leads are led out to all four sides of the package.
Cage), as shown in FIG. 6, a resin (hereinafter simply referred to as a gate) 2 corresponding to a gate of a runner.
There is a problem that 1a remains.

【0008】これは、上記プレート突き方法において、
プッシャー24を下降させて樹脂片21を押圧した際、
図7Bに示すように、パッケージPKがパレット26上
においてほぼ水平方向に保持された状態となるため、樹
脂片21、特に上記ゲート21aの部分の剥離状態は、
図8に示すように、ランナーの湯道に相当する部分の樹
脂(以下、単にフレーム・カルと記す)21bから剥離
が始まり、最後にゲート21aが剥離されることにな
り、その結果、樹脂片21が充分に硬化していない状態
で、上記ディゲートを行うと、ゲート21aがどうして
もリードフレームRFに残ってしまうことになる。ゲー
ト21aは非常に薄いため、その硬化は速いが、ゲート
21aとフレーム・カル21b間において未硬化部分が
存在すると、その部分において切断され、結果的にゲー
ト21aがリードフレームRFに残ることになる。
[0008] In the above plate pushing method,
When the pusher 24 is lowered and the resin piece 21 is pressed,
As shown in FIG. 7B, the package PK is held in a substantially horizontal direction on the pallet 26.
As shown in FIG. 8, the peeling starts from the resin (hereinafter simply referred to as frame cull) 21b at the portion corresponding to the runner of the runner, and finally the gate 21a is peeled off. If the degate is performed in a state where 21 is not sufficiently cured, the gate 21a will remain in the lead frame RF. Since the gate 21a is very thin, its curing is fast. However, if there is an uncured portion between the gate 21a and the frame cull 21b, the gate 21a is cut at that portion, and as a result, the gate 21a remains on the lead frame RF. .

【0009】上記ゲート残りは、次工程の例えばリード
形状加工工程にて、アウターリード表面への樹脂の付着
や、その形状加工に使用されるパンチ・ダイの破損を引
き起こすという不都合をもたらす。従って、上記ゲート
残りを低減することがQFPにおける品質の向上並びに
製造上の事故の防止につながる。
[0009] The above-mentioned gate residue causes inconvenience of causing resin to adhere to the outer lead surface and damaging the punch and die used for the shape processing in the subsequent step, for example, the lead shape processing step. Therefore, reducing the above gate residue leads to improvement in QFP quality and prevention of manufacturing accidents.

【0010】そこで、従来では、上記ディゲート後、例
えば目視にて上記ゲート残りを見つけ出し、見つけ出し
たゲート21aを例えば機械的に手作業によって削り取
るようにしている。また、ゲート残りの発生確率を少な
くするために、ディゲート処理中において、エアブロー
を行うことにより、樹脂片21の硬化を促進させるよう
にしている。
Therefore, conventionally, after the above-mentioned degate, the remaining gate is found, for example, visually, and the found gate 21a is mechanically cut off, for example, manually. Further, in order to reduce the probability of remaining gates, during the degate process, air blow is performed to accelerate the curing of the resin pieces 21.

【0011】しかしながら、ゲート残りを目視にて見つ
け出すことは非常に面倒であり、しかも、手作業にてゲ
ート21aを削り取ることは、製造工程の煩雑化をもた
らし、製造コストの高価格化を将来させるという不都合
がある。また、エアブローについても同様であり、エア
ブローを行うための設備や工程管理等が必要になり、製
造コストの高価格化をもたらす。
However, it is very troublesome to visually find out the remaining gate, and manually shaving off the gate 21a causes a complicated manufacturing process, resulting in an increase in manufacturing cost in the future. There is an inconvenience. The same applies to the air blow, which requires equipment and process management for performing the air blow, which leads to an increase in manufacturing cost.

【0012】本発明は、このような課題に鑑み成された
もので、その目的とするところは、QFPに対するディ
ゲート処理時、リードフレームにゲート残りを発生させ
ることなく、ランナー形状の樹脂片を剥離することがで
き、半導体装置の品質の向上を図ることができると共
に、製造工程の簡略化並びに製造コストの低廉化を図る
ことができる半導体処理装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to remove a runner-shaped resin piece without generating a gate residue on a lead frame at the time of degate processing on a QFP. It is an object of the present invention to provide a semiconductor processing apparatus capable of improving the quality of a semiconductor device, simplifying a manufacturing process, and reducing a manufacturing cost.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明は、樹脂モールド
加工によって、複数のパッケージPKが配列、成形され
たリードフレームRFをプッシャー3とパレット5間に
投入し、上記プッシャー3の押圧によって、リードフレ
ームRFに残存、付着したランナー形状の樹脂片1を剥
離するようにした半導体処理装置Aにおいて、上記パレ
ット5の上面に、プッシャー3による押圧時、各パッケ
ージPKが傾斜するように、各パッケージPKに対応し
て段差(凹部7及び段差部8)を設けて構成する。
According to the present invention, a lead frame RF in which a plurality of packages PK are arranged and formed by resin molding is put between a pusher 3 and a pallet 5, and a lead is pressed by the pusher 3 to thereby form a lead. In the semiconductor processing apparatus A in which the runner-shaped resin pieces 1 remaining and adhered to the frame RF are peeled off, each package PK is inclined on the upper surface of the pallet 5 when pressed by the pusher 3. (A concave portion 7 and a stepped portion 8) are provided in correspondence with the above.

【0014】[0014]

【作用】上述の本発明の構成によれば、プッシャー3に
よる押圧時に各パッケージPKが傾くように、パレット
5の上面に、各パッケージPKに対応して段差(凹部7
及び段差部8)を設けるようにしたので、樹脂モールド
加工においてパッケージPKと共に形成されたランナー
形状の樹脂片1、特にゲート2aの部分の剥離状態は、
ゲート2aの部分から剥離が始まり、最後にフレーム・
カル2の部分が剥離されることになる。
According to the configuration of the present invention described above, steps (recesses 7) corresponding to each package PK are provided on the upper surface of the pallet 5 so that each package PK is inclined when pressed by the pusher 3.
And the stepped portion 8), the peeling state of the runner-shaped resin piece 1 formed together with the package PK in the resin molding process, particularly the portion of the gate 2a,
Peeling starts from the gate 2a, and finally the frame
The portion of the cull 2 will be peeled off.

【0015】従って、樹脂片1が充分に硬化していなく
とも、硬化の速いゲート2aから剥離されるため、剥離
の途中段階において、樹脂片1がゲート2aの近傍にお
いて切断するということがなく、ディゲート時、リード
フレームRFへのゲート残りは発生しない。その結果、
従来、ゲート残りによって生じていたリード形状加工工
程でのアウターリード表面への樹脂の付着や、その形状
加工に使用されるパンチ・ダイの破損等を防止すること
ができ、半導体装置の品質の向上を図ることができると
共に、製造工程の簡略化並びに製造コストの低廉化を図
ることができる。
Therefore, even if the resin piece 1 is not sufficiently cured, the resin piece 1 is peeled off from the gate 2a, which cures quickly, so that the resin piece 1 is not cut in the vicinity of the gate 2a in the middle of peeling. At the time of degate, no gate remains on the lead frame RF. as a result,
Conventionally, it is possible to prevent the resin from adhering to the outer lead surface in the lead shape processing process, which is caused by the remaining gate, and to prevent the punch and die used for the shape processing from being damaged, thereby improving the quality of the semiconductor device. , And the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced.

【0016】[0016]

【実施例】以下、図1〜図3を参照しながら本発明の実
施例を説明する。図1は、本実施例に係る半導体処理装
置、特に、樹脂モールド加工にてリードフレームRFに
パッケージ(特にQFP)PKを成形した際に、リード
フレームRFに付着したランナー形状の樹脂片1を取り
除くための樹脂片剥離装置、即ちディゲート装置Aを示
す構成図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 shows a semiconductor processing apparatus according to the present embodiment, in particular, when a package (especially QFP) PK is formed on a lead frame RF by resin molding, a runner-shaped resin piece 1 attached to the lead frame RF is removed. FIG. 1 is a configuration diagram showing a resin stripping device for the purpose, that is, a degate device A.

【0017】このディゲート装置Aは、プレート突き方
法によるディゲートを行うもので、例えば、多数のパッ
ケージPKが2連に配されたリードフレームRFが2
枚、上記樹脂モールド加工によって同時に形成されたラ
ンナー形状の樹脂片1中、ランナーの湯道に相当する部
分、即ちフレーム・カル2によって横方向に連結接続さ
れた形のワークWが収容される空間を有し、該収容空間
の上方において、2つのプッシャー3が夫々リードフレ
ームRFに対応して配され、これらプッシャー3間に1
つのカルプッシャー4が配されて構成されると共に、上
記収容空間の下方において、2つのパレット5が夫々リ
ードフレームRFに対応して配され、これらパレット5
間に1つのカル押え6が配されて構成されている。
The degate device A performs degate by a plate butting method. For example, a lead frame RF in which a large number of packages PK are arranged in two rows is used.
In a runner-shaped resin piece 1 simultaneously formed by the above-mentioned resin molding, a space corresponding to a portion corresponding to a runner of a runner, that is, a space for accommodating a work W in a form of being laterally connected and connected by a frame cull 2. Above the accommodation space, two pushers 3 are respectively arranged corresponding to the lead frame RF, and one pusher 3 is provided between the pushers 3.
The two pallets 5 are arranged below the accommodation space in correspondence with the lead frames RF, respectively.
One cull presser 6 is disposed therebetween.

【0018】しかして、本例においては、パレット5の
上面に夫々凹部7と段差部8を設けて構成される。凹部
7は、リードフレームRFに形成されたパッケージPK
中、フレーム・カル2側、即ち内側に配されたパッケー
ジPKと対応する箇所に設けられ、その大きさは、縦
(図面上、紙面に対して垂直な方向の長さ)がパッケー
ジPKにおける縦の長さとほぼ同じか又は幾分長めであ
り、横aがパッケージPKにおける横の長さbの約1/
3〜2/3の長さである(本例では1/2の長さ)。
In this embodiment, the pallet 5 is provided with a recess 7 and a step 8 on the upper surface thereof. The concave portion 7 is formed by a package PK formed on the lead frame RF.
The medium PK is provided at a position corresponding to the package PK disposed on the frame cull 2 side, that is, the inside thereof, and has a vertical (length in a direction perpendicular to the paper surface in the drawing) vertical direction in the package PK. Is approximately the same as or slightly longer than the length a, and the width a is about 1 /
The length is 3 to 2/3 (1/2 length in this example).

【0019】また、段差部8は、外側に配されたパッケ
ージPKと対応する箇所に設けられ、その大きさは、上
記凹部7と同様に、縦(図面上、紙面に対して垂直な方
向の長さ)がパッケージPKにおける縦の長さとほぼ同
じか又は幾分長めであり、横cがパッケージPKにおけ
る横の長さbの約1/3〜2/3の長さである(本例で
は1/2の長さ)。
The step portion 8 is provided at a position corresponding to the package PK disposed outside, and has a size similar to that of the concave portion 7 in the vertical direction (in the drawing, the direction perpendicular to the paper surface). Length) is substantially the same as or slightly longer than the vertical length of the package PK, and the horizontal width c is approximately 1/3 to 2/3 of the horizontal length b of the package PK (in this example, 1/2 length).

【0020】上記凹部7と段差部8の配置関係を更に詳
しく説明すると、凹部7は、その内側端dが、対応する
パッケージPKの内側端eよりも中央寄りに位置し、段
差部8は、その外側端fが、対応するパッケージPKの
外側端gよりも外方に位置している。
The arrangement relationship between the recess 7 and the step 8 will be described in more detail. The inner end d of the recess 7 is located closer to the center than the inner end e of the corresponding package PK. The outer end f is located outside the outer end g of the corresponding package PK.

【0021】具体的に、本例に係るディゲート装置Aの
動作を説明する。まず、樹脂モールド加工を終えたワー
クWをパレット5とプッシャー3間に投入し、各リード
フレームRFに形成されたパッケージPKをパレット5
上に載せる。その後、カルプッシャー4を下降させ、フ
レーム・カル2を上記カルプッシャー4にて押える。
The operation of the degate device A according to this embodiment will be specifically described. First, the work W that has been subjected to the resin molding is put between the pallet 5 and the pusher 3, and the package PK formed on each lead frame RF is transferred to the pallet 5
Put on top. After that, the cull pusher 4 is lowered, and the frame cull 2 is pressed by the cull pusher 4.

【0022】次に、カル押え6を上昇させて、上記フレ
ーム・カル2を上記カルプッシャー4と該カル押え6に
て挟持、固定する。次に、プッシャー3を下降させて樹
脂片1を下方に押圧する。この押圧は連続2回行われ
る。このプッシャー3による押圧時、各パッケージPK
は、図2に示すように、パレット5上面に形成された凹
部7及び段差部8によって斜めに傾いた状態となる。即
ち、各パッケージPKは、夫々凹部7の外側端h又は段
差部8の内側端iを支点とし、かつ上面を夫々中央に向
けた形の傾斜状態となる。従って、樹脂片1は、図3に
示すように、まずゲート2aから剥離し始め、次いでフ
レーム・カル2が剥離して、最終的にリードフレームR
Fから剥離される。次に、カルプッシャー4を更に下降
させて剥離した樹脂片1をリードフレームRFから突き
離す。このとき、同時にカル押え6も下降する。
Next, the cull presser 6 is raised, and the frame cull 2 is clamped and fixed between the cull pusher 4 and the cull presser 6. Next, the pusher 3 is lowered to press the resin piece 1 downward. This pressing is performed twice consecutively. When pressed by the pusher 3, each package PK
As shown in FIG. 2, the state is obliquely inclined by the concave portion 7 and the step portion 8 formed on the upper surface of the pallet 5. That is, each package PK is in an inclined state with the outer end h of the concave portion 7 or the inner end i of the stepped portion 8 as a fulcrum and the upper surface directed toward the center. Therefore, as shown in FIG. 3, the resin piece 1 begins to peel off from the gate 2a first, then the frame cull 2 peels off, and finally the lead frame R
Peeled from F. Next, the carpusher 4 is further lowered to push the separated resin piece 1 away from the lead frame RF. At this time, the cull presser 6 also lowers at the same time.

【0023】上記動作順序を踏むことにより、樹脂モー
ルド加工にてパッケージPKと共に形成されたランナー
形状の樹脂片1をリードフレームRFから剥離、除去す
る。この後は、次のリード形状加工工程にリードフレー
ムRFを投入して所望のアウターリードの形状にプレス
加工される。
By following the above operation sequence, the runner-shaped resin piece 1 formed together with the package PK by resin molding is peeled off and removed from the lead frame RF. Thereafter, the lead frame RF is supplied to the next lead shape processing step, and the lead frame RF is pressed into a desired outer lead shape.

【0024】上述のように、本例によれば、プッシャー
3による押圧時に各パッケージPKが傾くように、パレ
ット3の上面に、各パッケージPKに対応してパッケー
ジPKの横幅bよりも小さい凹部7及び段差部8を設け
るようにしたので、ランナー形状の樹脂片1の剥離状態
は、ゲート2aの部分から剥離が始まり、次いでフレー
ム・カル2が剥離されることになる。
As described above, according to this embodiment, the recesses 7 having a width smaller than the width b of the package PK corresponding to each package PK are formed on the upper surface of the pallet 3 so that each package PK is inclined when pressed by the pusher 3. Since the stepped portion 8 is provided, the peeling state of the runner-shaped resin piece 1 starts from the gate 2a, and then the frame cull 2 is peeled.

【0025】従って、樹脂片1が充分に硬化していなく
とも、硬化の速いゲート2aから剥離されるため、剥離
の途中段階において、樹脂片1がゲート2aの近傍にて
切断するということがなく、ディゲート時、リードフレ
ームRFへのゲート残りは発生しなくなる。その結果、
従来、ゲート残りによって生じていたリード形状加工工
程でのアウターリード表面への樹脂の付着や、その形状
加工に使用されるパンチ・ダイの破損等を防止すること
ができ、半導体装置の品質の向上を図ることができる。
しかも、ゲート残りをなくすために、従来から行われて
いたエアブロー処理や機械的な削り取り作業を行う必要
がなくなるため、製造工程の簡略化並びに製造コストの
低廉化を図ることができる。
Therefore, even if the resin piece 1 is not sufficiently cured, the resin piece 1 is peeled off from the gate 2a, which cures quickly, so that the resin piece 1 does not break near the gate 2a during the peeling process. At the time of degate, no gate remains on the lead frame RF. as a result,
Conventionally, it is possible to prevent the resin from adhering to the outer lead surface in the lead shape processing process, which is caused by the remaining gate, and to prevent the punch and die used for the shape processing from being damaged, thereby improving the quality of the semiconductor device. Can be achieved.
In addition, since there is no need to perform a conventional air blow process or a mechanical shaving operation to eliminate the gate residue, the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明に係る半導体処理装置によれば、
QFPに対するディゲート処理時、リードフレームにゲ
ート残りを発生させることなく、ランナー形状の樹脂片
を剥離することができ、半導体装置の品質の向上を図る
ことができると共に、製造工程の簡略化並びに製造コス
トの低廉化を図ることができる。
According to the semiconductor processing apparatus of the present invention,
At the time of degate processing for the QFP, the runner-shaped resin piece can be peeled off without generating a gate residue on the lead frame, so that the quality of the semiconductor device can be improved, and the manufacturing process is simplified and the manufacturing cost is reduced. Can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施例に係る半導体処理装置、特にディゲー
ト装置を示す構成図。
FIG. 1 is a configuration diagram illustrating a semiconductor processing apparatus according to an embodiment, particularly, a degate apparatus.

【図2】本実施例に係るディゲート装置によるディゲー
トを示す作用図。
FIG. 2 is an operation diagram showing a degate by the degate device according to the embodiment.

【図3】本実施例に係る樹脂片の剥離状態を示す説明
図。
FIG. 3 is an explanatory view showing a peeled state of a resin piece according to the embodiment.

【図4】Aは従来例に係るプレート突き方法によるディ
ゲート装置を示す構成図。Bは従来例に係るピン突き方
法によるディゲート装置を示す構成図。
FIG. 4A is a configuration diagram showing a degate device using a plate butting method according to a conventional example. FIG. 1B is a configuration diagram showing a degate device using a pin butting method according to a conventional example.

【図5】リードフレームを示す要部の平面図。FIG. 5 is a plan view of a main part showing a lead frame.

【図6】ゲート残りを示す要部の平面図。FIG. 6 is a plan view of a main part showing a gate remaining;

【図7】従来のプレート突き方法によるディゲートを示
す作用図。
FIG. 7 is an operation diagram showing a degate by a conventional plate butting method.

【図8】従来例に係る樹脂片の剥離状態を示す説明図。FIG. 8 is an explanatory view showing a peeled state of a resin piece according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A ディゲート装置 1 ランナー形状の樹脂片 2 フレーム・カル 3 プッシャー 4 カルプッシャー 5 パレット 6 カル押え 7 凹部 8 段差部 W ワーク RF リードフレーム PK パッケージ Reference Signs List A Degate device 1 Runner-shaped resin piece 2 Frame / cull 3 Pusher 4 Kulpusher 5 Pallet 6 Cull retainer 7 Recess 8 Stepped portion W Work RF Lead frame PK package

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−124426(JP,A) 特開 平2−194539(JP,A) 実開 昭62−203014(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/56 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-63-124426 (JP, A) JP-A-2-194439 (JP, A) Jpn. Field (Int.Cl. 6 , DB name) H01L 21/56

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 樹脂モールド加工によって、複数のパッ
ケージが配列、成形されたリードフレームをプッシャー
とパレット間に投入し、上記プッシャーの押圧によっ
て、上記リードフレームに残存、付着したランナー形状
の樹脂片を剥離するようにした半導体処理装置におい
て、上記パレットの上面に、上記プッシャーによる押圧
時、上記各パッケージが傾斜すべく、上記各パッケージ
に対応して段差を設けたことを特徴とする半導体処理装
置。
A lead frame in which a plurality of packages are arranged and formed by resin molding is put between a pusher and a pallet, and a runner-shaped resin piece remaining on and adhered to the lead frame is pressed by the pusher. A semiconductor processing apparatus, wherein a step is provided on an upper surface of the pallet so as to incline the respective packages when pressed by the pusher, the steps corresponding to the respective packages.
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