JP2939029B2 - 設定値検出機能付き測定装置 - Google Patents
設定値検出機能付き測定装置Info
- Publication number
- JP2939029B2 JP2939029B2 JP30977391A JP30977391A JP2939029B2 JP 2939029 B2 JP2939029 B2 JP 2939029B2 JP 30977391 A JP30977391 A JP 30977391A JP 30977391 A JP30977391 A JP 30977391A JP 2939029 B2 JP2939029 B2 JP 2939029B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- comparator
- multiplexer
- setting
- values
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、測定系に対して所望
の値を設定し、測定の際に設定した値を検出すると、そ
の旨を報せるように構成した設定値検出機能付き測定装
置に関する。特に、測定の中断等によって現測定値と設
定値の関係が不明になった際に、その現測定値と設定値
の関係を簡便に求めることができる設定値検出機能付き
測定装置に関する。
の値を設定し、測定の際に設定した値を検出すると、そ
の旨を報せるように構成した設定値検出機能付き測定装
置に関する。特に、測定の中断等によって現測定値と設
定値の関係が不明になった際に、その現測定値と設定値
の関係を簡便に求めることができる設定値検出機能付き
測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の設定値検出機能付き測定装置１ａ
は、図３に示すように、測定手段２ａからの測定値と、
所望値設定手段３ａに保持されている設定値Ｖ1ａ，Ｖ2
ａ，Ｖ 3ａ，…Ｖｎａをそれぞれ、ｎ個のコンパレ−タ
４1ａ，４2ａ，４3ａ…４ｎａで比較し、それらの比較
の結果が小から大に又は大から小に変わる区間を、排他
的論理和回路の素子１１0ａ，１１1ａ，１１2ａ…１１
ｎａによって求める構成になっている。設定値検出機能
付き測定装置１ａはこの構成により、現測定値と設定値
の大小関係が不明になった際に、現測定値が連続する二
つの設定値で作られる唯一の区間にあることを知り、測
定を続行するものである。尚、ＶLは、設定値が測定値
より小さい場合に排他的論理和回路の素子１１0ａに入
力されるものであり、ＶHは設定値が測定値より大きい
場合に排他的論理和回路の素子１１ｎａに入力されるも
のである。
は、図３に示すように、測定手段２ａからの測定値と、
所望値設定手段３ａに保持されている設定値Ｖ1ａ，Ｖ2
ａ，Ｖ 3ａ，…Ｖｎａをそれぞれ、ｎ個のコンパレ−タ
４1ａ，４2ａ，４3ａ…４ｎａで比較し、それらの比較
の結果が小から大に又は大から小に変わる区間を、排他
的論理和回路の素子１１0ａ，１１1ａ，１１2ａ…１１
ｎａによって求める構成になっている。設定値検出機能
付き測定装置１ａはこの構成により、現測定値と設定値
の大小関係が不明になった際に、現測定値が連続する二
つの設定値で作られる唯一の区間にあることを知り、測
定を続行するものである。尚、ＶLは、設定値が測定値
より小さい場合に排他的論理和回路の素子１１0ａに入
力されるものであり、ＶHは設定値が測定値より大きい
場合に排他的論理和回路の素子１１ｎａに入力されるも
のである。
【０００３】他の従来の設定値検出機能付き測定装置１
ｂは、図４に示すように、所望値設定手段３ｂと、コン
パレ−タ４ｂと、制御手段８ｂを備え、制御手段８ｂ
が、所望値設定手段３ｂから設定値を呼出し、コンパレ
−タ４ｂにそれぞれ一つ送って測定手段２ｂの測定値と
比較させ、その比較結果が正から負、又は負から正に変
わる設定値を見つけるように構成される設定値検出機能
付き測定装置１ｂが考えられる。
ｂは、図４に示すように、所望値設定手段３ｂと、コン
パレ−タ４ｂと、制御手段８ｂを備え、制御手段８ｂ
が、所望値設定手段３ｂから設定値を呼出し、コンパレ
−タ４ｂにそれぞれ一つ送って測定手段２ｂの測定値と
比較させ、その比較結果が正から負、又は負から正に変
わる設定値を見つけるように構成される設定値検出機能
付き測定装置１ｂが考えられる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】設定値検出機能付き測
定装置定１ａでは、ｎ個のコンパレ−タ４1ａ，４2ａ，
４3ａ…４ｎａと（ｎ＋１）個の排他的論理和回路の素
子１１0ａ，１１1ａ，１１2ａ…１１ｎａを必要とし、
部品点数が多く、又その分組立が煩雑となり、製造コス
トが高いという問題があった。殊に、実際の問題とし
て、設定値検出機能付き測定装置１ａに汎用性を持たせ
る構成では設定値の数ｎが定まらず、いくつの比較系を
備えるのがよいのかわからない。そこで、設定値の数ｎ
を多めに考えてそれに見合った数だけコンパレ−タと排
他的論理和回路の素子を備えてなるものを作ると、それ
だけ製造コストが多く嵩み、装置全体も大掛かりとな
り、又、不必要な比較系は使われないということであ
り、問題はより深刻であった。
定装置定１ａでは、ｎ個のコンパレ−タ４1ａ，４2ａ，
４3ａ…４ｎａと（ｎ＋１）個の排他的論理和回路の素
子１１0ａ，１１1ａ，１１2ａ…１１ｎａを必要とし、
部品点数が多く、又その分組立が煩雑となり、製造コス
トが高いという問題があった。殊に、実際の問題とし
て、設定値検出機能付き測定装置１ａに汎用性を持たせ
る構成では設定値の数ｎが定まらず、いくつの比較系を
備えるのがよいのかわからない。そこで、設定値の数ｎ
を多めに考えてそれに見合った数だけコンパレ−タと排
他的論理和回路の素子を備えてなるものを作ると、それ
だけ製造コストが多く嵩み、装置全体も大掛かりとな
り、又、不必要な比較系は使われないということであ
り、問題はより深刻であった。
【０００５】他方、設定値検出機能付き測定装置１ｂ
は、製造コストを低く抑えることができるが、測定値を
設定値と一つずつ比較するために、多くの処理時間を要
するという問題があり、又、設定値を順次一つずつ呼出
して測定値と比較するように制御には制御手段８ｂが複
雑な構成になるという問題もあった。この発明は、上記
の事情に鑑みてなされたものであり、測定の際に設定し
た値を検出するとその旨を報せ且つ現測定値と設定値の
関係が不明になった際にその関係を見付け出すことがで
き、部品点数を少なく抑えることよりコストダウン化が
得られ、且つ設定値と測定値の比較に多くの時間を必要
とせず処理時間が短く、又用いる制御手段の構成が簡便
な設定値検出機能付き測定装置を提供するものである。
は、製造コストを低く抑えることができるが、測定値を
設定値と一つずつ比較するために、多くの処理時間を要
するという問題があり、又、設定値を順次一つずつ呼出
して測定値と比較するように制御には制御手段８ｂが複
雑な構成になるという問題もあった。この発明は、上記
の事情に鑑みてなされたものであり、測定の際に設定し
た値を検出するとその旨を報せ且つ現測定値と設定値の
関係が不明になった際にその関係を見付け出すことがで
き、部品点数を少なく抑えることよりコストダウン化が
得られ、且つ設定値と測定値の比較に多くの時間を必要
とせず処理時間が短く、又用いる制御手段の構成が簡便
な設定値検出機能付き測定装置を提供するものである。
【０００６】 この発明は、測定値と連続する二つの設
定値を比較する二つの比較系を備え、且つ比較に関わる
二つの設定値を選択呼出し可能な構成にしたものであ
り、具体的には、所望値設定手段と、第１のコンパレー
タ及び第２のコンパレータの間にそれぞれ第１のマルチ
プレクサ及び第２のマルチプレクサを介在されて、制御
手段がそれら第１のマルチプレクサ及び第２のマルチプ
レクサからそれぞれ第１のコンパレータ及び第２のコン
パレータに連続する二つの設定値を選択的に送るように
構成した設定値検出機能付き測定装置である。そのより
詳細な構成は、測定手段と、その測定手段に対する所望
の値を設定する所望値設定手段と、測定手段の得る測定
値と所望値設定手段の設定値を比較する第１及び第２の
コンパレータと、測定手段の現測定値が所望値設定手段
の設定値と等しくなることを検出し、加えて、前記所望
値設定手段側から連続する二つの設定値を前記二つのコ
ンパレータに一つずつ呼出して、測定手段の測定値とそ
れぞれ比較させ、測定値が二つの設定値の間に外にある
場合には、連続する二つの設定値で測定値を挟むよう
に、所望値設定手段から二つのコンパレータにそれぞれ
連続する設定値を一つずつ呼出して、測定値を挟む連続
する二つの設定値を決定するように制御する制御手段を
備えて構成され、所望値設定手段と、第１のコンパレー
タ及び第２のコンパレータの間に、それぞれ第１のマル
チプレクサ及び第２のマルチプレクサが介在され、且つ
それら第１のマルチプレクサが第１のコンパレータに連
続する二つの設定値の一方を、第２のマルチプレクサが
第２のコンパレータに連続する二つの設定値の他方をそ
れぞれ選択的に送るための信号を、制御手段が第１のマ
ルチプレクサ及び第２のマルチプレクサに出力するよう
に構成されたことを特徴とする設定値検出機能付き測定
装置である。
定値を比較する二つの比較系を備え、且つ比較に関わる
二つの設定値を選択呼出し可能な構成にしたものであ
り、具体的には、所望値設定手段と、第１のコンパレー
タ及び第２のコンパレータの間にそれぞれ第１のマルチ
プレクサ及び第２のマルチプレクサを介在されて、制御
手段がそれら第１のマルチプレクサ及び第２のマルチプ
レクサからそれぞれ第１のコンパレータ及び第２のコン
パレータに連続する二つの設定値を選択的に送るように
構成した設定値検出機能付き測定装置である。そのより
詳細な構成は、測定手段と、その測定手段に対する所望
の値を設定する所望値設定手段と、測定手段の得る測定
値と所望値設定手段の設定値を比較する第１及び第２の
コンパレータと、測定手段の現測定値が所望値設定手段
の設定値と等しくなることを検出し、加えて、前記所望
値設定手段側から連続する二つの設定値を前記二つのコ
ンパレータに一つずつ呼出して、測定手段の測定値とそ
れぞれ比較させ、測定値が二つの設定値の間に外にある
場合には、連続する二つの設定値で測定値を挟むよう
に、所望値設定手段から二つのコンパレータにそれぞれ
連続する設定値を一つずつ呼出して、測定値を挟む連続
する二つの設定値を決定するように制御する制御手段を
備えて構成され、所望値設定手段と、第１のコンパレー
タ及び第２のコンパレータの間に、それぞれ第１のマル
チプレクサ及び第２のマルチプレクサが介在され、且つ
それら第１のマルチプレクサが第１のコンパレータに連
続する二つの設定値の一方を、第２のマルチプレクサが
第２のコンパレータに連続する二つの設定値の他方をそ
れぞれ選択的に送るための信号を、制御手段が第１のマ
ルチプレクサ及び第２のマルチプレクサに出力するよう
に構成されたことを特徴とする設定値検出機能付き測定
装置である。
【０００７】
【作用】所望値設定手段からの連続した二つの設定値
は、制御手段と二つのマルチプレクサによって選択的に
二つのコンパレ−タに送られ、そこで測定置と比較され
る。
は、制御手段と二つのマルチプレクサによって選択的に
二つのコンパレ−タに送られ、そこで測定置と比較され
る。
【０００８】
【実施例】この発明を、図１〜図２に示す実施例に基づ
き詳述する。しかし、この実施例によってこの発明が限
定されるものではない。設定値検出機能付き測定装置１
は図１に示すように、測定手段２と、所望値設定手段３
と、コンパレ−タ４，５と、マルチプレクサ６，７と、
制御手段８と、加工手段９が備えられている。測定手段
２は、メインスケ−ル（図示省略）とインデックススケ
−ル（図示省略）を備え、加工手段９と被加工物１０が
互いに相対移動した際に、その相対移動の距離（長さ）
を測定するものである。
き詳述する。しかし、この実施例によってこの発明が限
定されるものではない。設定値検出機能付き測定装置１
は図１に示すように、測定手段２と、所望値設定手段３
と、コンパレ−タ４，５と、マルチプレクサ６，７と、
制御手段８と、加工手段９が備えられている。測定手段
２は、メインスケ−ル（図示省略）とインデックススケ
−ル（図示省略）を備え、加工手段９と被加工物１０が
互いに相対移動した際に、その相対移動の距離（長さ）
を測定するものである。
【０００９】所望値設定手段３は、測定手段２の測定範
囲内において、所望の値を設定するためのものである。
つまり、加工手段９と被加工物１０が特定の相対位置を
とると、加工手段９が作動して被加工物１０に加工を施
すという場合に、その相対位置を設定し、且つ加工手段
９と被加工物１０と相対移動している際に設定した相対
位置が得られるとその旨を検出するためのものである。
コンパレ−タ４は測定手段２の測定値とマルチプレクサ
６からの値を、コンパレ−タ５は測定手段２の測定値と
マルチプレクサ６からの値を、それぞれ大小比較し、そ
の結果を制御手段８に送るものである。マルチプレクサ
６及びマルチプレクサ７は、共に所望値設定手段３から
ｎ個の設定値を示す信号Ｓ1，Ｓ2，Ｓ3，…Ｓｎを受
け、それらの信号を選択的にそれぞれコンパレ−タ４及
び５に送るものである。
囲内において、所望の値を設定するためのものである。
つまり、加工手段９と被加工物１０が特定の相対位置を
とると、加工手段９が作動して被加工物１０に加工を施
すという場合に、その相対位置を設定し、且つ加工手段
９と被加工物１０と相対移動している際に設定した相対
位置が得られるとその旨を検出するためのものである。
コンパレ−タ４は測定手段２の測定値とマルチプレクサ
６からの値を、コンパレ−タ５は測定手段２の測定値と
マルチプレクサ６からの値を、それぞれ大小比較し、そ
の結果を制御手段８に送るものである。マルチプレクサ
６及びマルチプレクサ７は、共に所望値設定手段３から
ｎ個の設定値を示す信号Ｓ1，Ｓ2，Ｓ3，…Ｓｎを受
け、それらの信号を選択的にそれぞれコンパレ−タ４及
び５に送るものである。
【００１０】制御手段８は、測定手段２が得る現測定値
と所望値設定手段３に設定された値が等しくなった際、
そのことを検出するものである。又、加工手段９の制御
を行うものである。制御手段８は更に、加工手段９と被
加工物１０の相対移動の際に、中断等によって現相対位
置と設定値の関係が不明になった場合に、その不明な位
置関係を簡便に求めるものである。つまり、現相対位置
（測定手段２の現測定値）と設定値の関係が不明になる
と、制御手段８は、連続する設定値Ｖiに対応する信号
Ｓiをマルチプレクサ６からコンパレータ４に、設定値
Ｖi+1に対応する信号Ｓi+1をマルチプレクサ７からコン
パレータ５にそれぞれ選択して出力するように、マルチ
プレクサ６及び７に制御の信号を送るものである。ここ
で、コンパレータ４及び５の比較結果において、測定手
段２の測定値が二つの設定値Ｖi、及びＶi+1の間に外に
ある場合では、連続する二つの設定値で測定値を挟むよ
うに、コンパレータ４が設定値Ｖi+2で且つコンパレー
タ５が設定値Ｖi+1、コンパレータ４が設定値Ｖi+2で且
つコンパレータ５が設定値Ｖi+3・・・というように、
制御手段８は更に、連続する二つの設定値に対応する信
号を選択してコンパレータ４及び５に一つずつ出力させ
るための制御信号を、マルチプレクサ６及び７にそれぞ
れ送る。加えて、制御手段８は、設定値と測定値の大小
関係を把握し、測定の際に設定した値に至ると、その旨
を信号で加工手段９に伝える。
と所望値設定手段３に設定された値が等しくなった際、
そのことを検出するものである。又、加工手段９の制御
を行うものである。制御手段８は更に、加工手段９と被
加工物１０の相対移動の際に、中断等によって現相対位
置と設定値の関係が不明になった場合に、その不明な位
置関係を簡便に求めるものである。つまり、現相対位置
（測定手段２の現測定値）と設定値の関係が不明になる
と、制御手段８は、連続する設定値Ｖiに対応する信号
Ｓiをマルチプレクサ６からコンパレータ４に、設定値
Ｖi+1に対応する信号Ｓi+1をマルチプレクサ７からコン
パレータ５にそれぞれ選択して出力するように、マルチ
プレクサ６及び７に制御の信号を送るものである。ここ
で、コンパレータ４及び５の比較結果において、測定手
段２の測定値が二つの設定値Ｖi、及びＶi+1の間に外に
ある場合では、連続する二つの設定値で測定値を挟むよ
うに、コンパレータ４が設定値Ｖi+2で且つコンパレー
タ５が設定値Ｖi+1、コンパレータ４が設定値Ｖi+2で且
つコンパレータ５が設定値Ｖi+3・・・というように、
制御手段８は更に、連続する二つの設定値に対応する信
号を選択してコンパレータ４及び５に一つずつ出力させ
るための制御信号を、マルチプレクサ６及び７にそれぞ
れ送る。加えて、制御手段８は、設定値と測定値の大小
関係を把握し、測定の際に設定した値に至ると、その旨
を信号で加工手段９に伝える。
【００１１】加工手段９は、被測定物１０に加工を施す
ための手段であって、被加工物１０と相対移動をおこな
うものであり、その相対移動は測定手段２によって測定
される。設定値検出機能付き測定装置１は、上述したよ
うに構成されている。設定値検出機能付き測定装置１を
作動させると、制御手段８は所望値設定手段３に設定さ
れた値と測定手段２からの現測定値を呼込んで比較し、
現測定値がある設定値になると制御手段８は所定加工を
行わせるための信号を加工手段９に送る。加工手段９は
その信号を受けて、被加工物１０に所定の加工を施す。
ための手段であって、被加工物１０と相対移動をおこな
うものであり、その相対移動は測定手段２によって測定
される。設定値検出機能付き測定装置１は、上述したよ
うに構成されている。設定値検出機能付き測定装置１を
作動させると、制御手段８は所望値設定手段３に設定さ
れた値と測定手段２からの現測定値を呼込んで比較し、
現測定値がある設定値になると制御手段８は所定加工を
行わせるための信号を加工手段９に送る。加工手段９は
その信号を受けて、被加工物１０に所定の加工を施す。
【００１２】ここで、設定値に対応する相対位置におい
て加工手段９によって被加工物１０を加工させながら加
工手段９と被加工物１０を相対移動させている際に、加
工手段９と被加工物１０の相対位置、つまり測定手段２
の現測定値に対して設定値の位置が相対移動の中断等に
よって不明になると、制御手段８はマルチプレクサ６及
びマルチプレクサ７に信号を送って連続する二つの設定
値をコンパレ−タ４及びコンパレ−タ５に呼出させ、結
果的に現測定値が呼出した二つの連続した設定値で挟ま
れる状態に至ることにより、現測定値と設定値の関係を
得ることができる（以上、図２を参照）。
て加工手段９によって被加工物１０を加工させながら加
工手段９と被加工物１０を相対移動させている際に、加
工手段９と被加工物１０の相対位置、つまり測定手段２
の現測定値に対して設定値の位置が相対移動の中断等に
よって不明になると、制御手段８はマルチプレクサ６及
びマルチプレクサ７に信号を送って連続する二つの設定
値をコンパレ−タ４及びコンパレ−タ５に呼出させ、結
果的に現測定値が呼出した二つの連続した設定値で挟ま
れる状態に至ることにより、現測定値と設定値の関係を
得ることができる（以上、図２を参照）。
【００１３】この加工手段９と被加工物１０の相対位置
に関わる測定値に対する設定値の見付出しは、制御手段
８が所望値設定手段３からの連続した二つの設定値をマ
ルチプレクサ６，７によって選択的にコンパレ−タ４，
５に送らせて、そこで測定値と比較させることで行って
いる。従って、設定値検出機能付き測定装置１は、設定
値の数に対応するほどのコンパレ−タ及び排他的論理和
回路の素子を必要とせず、部品点数を少なく抑えること
ができ、よってコストダウン化が得られている。又、測
定値を二つの設定値の間に追込むという比較を行なうこ
とにより、測定値と１個の設定値を比較することに比べ
て現測定値に対する設定値の関係を得るのに多くの時間
を必要とせず処理時間が短く済むものになっている。更
に、従来のように、所望値設定手段３ｂから設定値を一
個ずつ選択してコンパレ−タ４ｂに呼出す場合に比べ
て、制御手段８はマルチプレクサ６及び７と共働して設
定値呼出しを行なう構成であることより、制御手段８の
構成が簡便になっている。又、設定値が増加しても、マ
ルチプレクサ６，７を予め入力側に余裕のあるものにし
ておくことによって設定値の増加に対処でき、設定値の
増加に伴ってコンパレ−タ及び排他的論理和回路の素子
を増加させるといったことを必要としない。
に関わる測定値に対する設定値の見付出しは、制御手段
８が所望値設定手段３からの連続した二つの設定値をマ
ルチプレクサ６，７によって選択的にコンパレ−タ４，
５に送らせて、そこで測定値と比較させることで行って
いる。従って、設定値検出機能付き測定装置１は、設定
値の数に対応するほどのコンパレ−タ及び排他的論理和
回路の素子を必要とせず、部品点数を少なく抑えること
ができ、よってコストダウン化が得られている。又、測
定値を二つの設定値の間に追込むという比較を行なうこ
とにより、測定値と１個の設定値を比較することに比べ
て現測定値に対する設定値の関係を得るのに多くの時間
を必要とせず処理時間が短く済むものになっている。更
に、従来のように、所望値設定手段３ｂから設定値を一
個ずつ選択してコンパレ−タ４ｂに呼出す場合に比べ
て、制御手段８はマルチプレクサ６及び７と共働して設
定値呼出しを行なう構成であることより、制御手段８の
構成が簡便になっている。又、設定値が増加しても、マ
ルチプレクサ６，７を予め入力側に余裕のあるものにし
ておくことによって設定値の増加に対処でき、設定値の
増加に伴ってコンパレ−タ及び排他的論理和回路の素子
を増加させるといったことを必要としない。
【００１４】尚、現測定値と連続する二つの設定値の比
較において、測定手段２の現測定値がコンパレ−タ４側
の設定値Ｖi及びコンパレ−タ５側の設定値Ｖi+1の間に
外にある場合には、コンパレ−タ４が設定値Ｖi+2で且
つコンパレ−タ５が設定値Ｖi+1、次にコンパレ−タ４
が設定値Ｖi+2で且つコンパレ−タ５が設定値Ｖi+3、更
にコンパレ−タ４が設定値Ｖi+4で且つコンパレ−タ５
が設定値Ｖi+3、…というようにコンパレ−タ４とコン
パレ−タ５のいずれか一方の値を変えるように、制御手
段８はマルチプレクサ６及びマルチプレクサ７に選択的
に信号を送る構成であることより、マルチプレクサ６及
びマルチプレクサ７にそれぞれ信号を送る場合に比べて
送るべき信号の数が少ないものとなっている。
較において、測定手段２の現測定値がコンパレ−タ４側
の設定値Ｖi及びコンパレ−タ５側の設定値Ｖi+1の間に
外にある場合には、コンパレ−タ４が設定値Ｖi+2で且
つコンパレ−タ５が設定値Ｖi+1、次にコンパレ−タ４
が設定値Ｖi+2で且つコンパレ−タ５が設定値Ｖi+3、更
にコンパレ−タ４が設定値Ｖi+4で且つコンパレ−タ５
が設定値Ｖi+3、…というようにコンパレ−タ４とコン
パレ−タ５のいずれか一方の値を変えるように、制御手
段８はマルチプレクサ６及びマルチプレクサ７に選択的
に信号を送る構成であることより、マルチプレクサ６及
びマルチプレクサ７にそれぞれ信号を送る場合に比べて
送るべき信号の数が少ないものとなっている。
【００１５】ここで、設定値検出機能付き測定装置１は
現測定値に最も近い設定値に基づき、加工手段９と被加
工物１０の相対位置を得て、その時の相対位置に見合っ
た加工を被加工物１０に施すように、制御手段が所定の
加工を行なわせるための信号を加工手段９に発する。加
工手段９は、所望値設定手段３で設定された位置におい
て被加工物１０への加工を再開する。
現測定値に最も近い設定値に基づき、加工手段９と被加
工物１０の相対位置を得て、その時の相対位置に見合っ
た加工を被加工物１０に施すように、制御手段が所定の
加工を行なわせるための信号を加工手段９に発する。加
工手段９は、所望値設定手段３で設定された位置におい
て被加工物１０への加工を再開する。
【００１６】尚、設定値検出機能付き測定装置１では測
定手段２は加工手段９と被加工物１０の相対移動の移動
距離を測定するものであるが、この他に相対移動が回転
移動であれば角度の測定、三次元的移動であればいわゆ
るＸ方向、Ｙ方向及びＺ方向の三方向に関する測定等が
挙げられる。又、加工手段９の加工とは具体的に、切
削、通穴開設、研削等が挙げられ、加工手段９はマシニ
ングセンタのような単一の装置からなるものであっても
よく、複数個の装置からなるものであってもよい。
定手段２は加工手段９と被加工物１０の相対移動の移動
距離を測定するものであるが、この他に相対移動が回転
移動であれば角度の測定、三次元的移動であればいわゆ
るＸ方向、Ｙ方向及びＺ方向の三方向に関する測定等が
挙げられる。又、加工手段９の加工とは具体的に、切
削、通穴開設、研削等が挙げられ、加工手段９はマシニ
ングセンタのような単一の装置からなるものであっても
よく、複数個の装置からなるものであってもよい。
【００１７】
【発明の効果】この発明は、設定した所望の値を測定中
に検出すると、その旨を報せるように構成したものであ
って、現測定値と連続する二つの設定値を比較する二つ
の比較系を備え、且つ比較に関わる二つの設定値を選択
呼出しが可能な構成としたことにより、現測定値と設定
値の関係が不明になった際にその関係を見付け出すこと
ができるものであって、部品点数を少なく抑えることよ
りコストダウン化が得られ、且つ設定値と測定値の比較
に多くの時間を必要とせず処理時間が短く、又用いる制
御手段の構成が簡便な設定値検出機能付き測定装置であ
る。
に検出すると、その旨を報せるように構成したものであ
って、現測定値と連続する二つの設定値を比較する二つ
の比較系を備え、且つ比較に関わる二つの設定値を選択
呼出しが可能な構成としたことにより、現測定値と設定
値の関係が不明になった際にその関係を見付け出すこと
ができるものであって、部品点数を少なく抑えることよ
りコストダウン化が得られ、且つ設定値と測定値の比較
に多くの時間を必要とせず処理時間が短く、又用いる制
御手段の構成が簡便な設定値検出機能付き測定装置であ
る。
【図１】この発明の一実施例の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図２】図１に示す実施例の要の部作動を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図３】従来の技術を示す図１相当図である。
【図４】他の従来の技術を示す図１相当図である。
１ 設定値検出機能付き測定装置 ２ 測定手段 ３ 所望値設定手段 ４、５ マルチプレクサ ６、７ コンパレータ ８ 制御手段
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01B 7/00 - 7/34 G01B 21/00 - 21/30
Claims (1)
- 【請求項１】測定手段と、その測定手段に対する所望の
値を設定する所望値設定手段と、測定手段の得る測定値
と所望値設定手段の設定値を比較する第１及び第２のコ
ンパレ−タと、測定手段の現測定値が所望値設定手段の
設定値と等しくなることを検出し、加えて、前記所望値
設定手段側から連続する二つの設定値を前記二つのコン
パレ−タに一つずつ呼出して、測定手段の測定値とそれ
ぞれ比較させ、測定値が二つの設定値の間に外にある場
合には、連続する二つの設定値で測定値を挟むように、
所望値設定手段から二つのコンパレ−タにそれぞれ連続
する設定値を一つずつ呼出して、測定値を挟む連続する
二つの設定値を決定するように制御する制御手段を備え
て構成され、 所望値設定手段と、第１のコンパレ−タ及び第２のコン
パレ−タの間に、それぞれ第１のマルチプレクサ及び第
２のマルチプレクサが介在され、且つそれら第１のマル
チプレクサが第１のコンパレ−タに連続する二つの設定
値の一方を、第２のマルチプレクサが第２のコンパレ−
タに連続する二つの設定値の他方をそれぞれ選択的に送
るための信号を、制御手段が第１のマルチプレクサ及び
第２のマルチプレクサに出力するように構成されたこと
を特徴とする設定値検出機能付き測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30977391A JP2939029B2 (ja) | 1991-10-28 | 1991-10-28 | 設定値検出機能付き測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30977391A JP2939029B2 (ja) | 1991-10-28 | 1991-10-28 | 設定値検出機能付き測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05118835A JPH05118835A (ja) | 1993-05-14 |
| JP2939029B2 true JP2939029B2 (ja) | 1999-08-25 |
Family
ID=17997087
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30977391A Expired - Fee Related JP2939029B2 (ja) | 1991-10-28 | 1991-10-28 | 設定値検出機能付き測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2939029B2 (ja) |
-
1991
- 1991-10-28 JP JP30977391A patent/JP2939029B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05118835A (ja) | 1993-05-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2939029B2 (ja) | 設定値検出機能付き測定装置 | |
| JPH05118943A (ja) | 荷重検出器 | |
| JPH11110045A5 (ja) | ||
| JPH07103707A (ja) | アクチュエータの位置検出装置 | |
| US3944814A (en) | Light detecting apparatus of improved resolution | |
| JPH0736252Y2 (ja) | 測長装置 | |
| JPH04326410A (ja) | クロック監視装置 | |
| JPH0117087B2 (ja) | ||
| JP2520283B2 (ja) | 蒸気タ―ビンの車室−軸膨張差計測装置 | |
| JPH0353111A (ja) | 測定装置 | |
| JPS6136648B2 (ja) | ||
| JPH0820474B2 (ja) | 抵抗値測定装置 | |
| JP2902005B2 (ja) | 倣い軌跡のディジタイジング方法 | |
| JP3170084B2 (ja) | 温度計測装置 | |
| JP2513130B2 (ja) | 折り返し回路 | |
| CN119714506A (zh) | 电容式换能器接收系统全链路定量在线自检电路 | |
| JPH01112577A (ja) | 磁気ディスク装置のアクチュエータ異常動作検出回路 | |
| JPS60225903A (ja) | 制御装置の制御パラメ−タ最適化装置 | |
| JP2001147233A (ja) | 速度検出機構 | |
| JP2992649B2 (ja) | 変位測定装置 | |
| JPH0650729Y2 (ja) | 距離測定装置 | |
| JP2003076402A (ja) | ３重系センサの真値出力方法 | |
| JPH03233366A (ja) | 電圧監視装置 | |
| GB2334226A (en) | Overload detection | |
| JPS61260302A (ja) | 信号入出力回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110611 Year of fee payment: 12 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |