JP2952876B2 - AD converter - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はAD変換器に関し、特に半導体集積回路技術を
用いて大規模な制御回路(例えば4ビットや8ビットの
マイクロコンピュータ等)と同一基板に集積化したAD変
換器に関する。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an AD converter, and more particularly, to a large-scale control circuit (for example, a 4-bit or 8-bit microcomputer) using a semiconductor integrated circuit technology on the same substrate. The present invention relates to an AD converter integrated in a semiconductor device.
従来このような大規模な制御回路とAD変換器を同一基
板に集積化した例として、例えば8入力マルチプレクサ
を持ち逐次比較方式を採用したAD変換器が実現されてい
る。Conventionally, as an example in which such a large-scale control circuit and an AD converter are integrated on the same substrate, for example, an AD converter having an 8-input multiplexer and employing a successive approximation method has been realized.
上述した従来のAD変換器と大規模な制御回路を同一基
板上に集積回路として実現するのに際し、プロセス技術
の進歩に伴ない、動作クロックの高速化が促進されるの
で、制御回路から発生する雑音が多くなるため変換精度
が低下しやすい。When realizing the above-mentioned conventional AD converter and a large-scale control circuit as an integrated circuit on the same substrate, with the progress of process technology, the speeding up of the operation clock is promoted. Conversion accuracy is likely to be reduced due to increased noise.
どのような雑音が発生するかの一例としててY.Tsivid
isらによる“DESIGN OF MOS VLSI CIRCUITS FOR TELECO
MMUNICATIONS"Prentice−Hall Inc.1985pp321−324にて
説明がなされている。その要旨をまとめると、8ビット
の出力バッファが同時に動作した場合、約25mAの電流が
流れ、リードインダクタンスが50nHとすると電源線に25
0mVの雑音が発生することが開示されている。Y.Tsivid is an example of what kind of noise occurs
“DESIGN OF MOS VLSI CIRCUITS FOR TELECO
MMUNICATIONS "Prentice-Hall Inc. 1985 pp321-324. The summary is summarized as follows. When the 8-bit output buffer operates at the same time, about 25mA current flows and the lead inductance is 50nH. On 25
It is disclosed that 0 mV noise is generated.
このように、同一基板上に発生する雑音は、プロセス
のファイン化によるMOSトランジスタやバイポーラトラ
ンジスタの駆動能力を向上させるためより増大する。ま
た内部ゲートの高速化を計ることは、その駆動能力を向
上することになり、負荷容量の充放電に伴う雑音が増大
することになる。As described above, the noise generated on the same substrate is further increased in order to improve the driving capability of the MOS transistor and the bipolar transistor by making the process finer. To increase the speed of the internal gate, the driving capability is improved, and the noise accompanying the charging and discharging of the load capacitance is increased.
従来この電源雑音に対する対策として、 1) 電源配線を制御回路(マイクロコンピュータ)と
AD変換器と別々に行ない相互干渉を防ぐ方法。Conventionally, as a countermeasure against this power supply noise, 1) Connect the power supply wiring with a control circuit (microcomputer).
A method to prevent mutual interference by performing it separately from the AD converter.
2) 基板電位・ウェル電位を低インピーダンスで終端
し、雑音の誘導を防ぐ方法。2) Terminating the substrate potential and well potential with low impedance to prevent noise induction.
3) 使用する回路構成に全差動型を用い、電源雑音に
対し抑圧度の高い回路構成とする方法。3) A method in which a fully differential circuit is used as the circuit configuration to be used and the circuit configuration is highly suppressed with respect to power supply noise.
などが考えられていた。And so on.
しかしながら、集積度の増大と動作速度の高速化を目
的としたクロック速度の高速化やトランジスタの駆動能
力の増大は雑音の発生をより増大させる傾向にある。さ
らにAD変換器の高精度化要求は従来にも増して電源雑音
による精度劣化を生じさせるケースが多く発生すること
になる。However, an increase in the clock speed and an increase in the driving capability of the transistor for the purpose of increasing the degree of integration and the operation speed tend to further increase the generation of noise. Further, the demand for higher accuracy of the AD converter is more likely to cause deterioration in accuracy due to power supply noise than ever before.
本発明のAD変換器は、同一半導体基板上に制御回路を
有し、制御回路を動作させるためのクロック端子と、制
御回路をリセットするためのリセット端子と、制御回路
の中にあってAD変換器を動作させるためのクロックにお
いて遅延量を可変できるクロック供給回路と、リセット
端子からのリセット信号により設定されるリセット期間
においてAD変換器の入力をある一定の電位に固定し、AD
変換器の帯域内雑音電力を観測しながらAD変換器の動作
クロック遅延量を変化させてAD変換器の誤差が最小とな
るクロック遅延量を記憶する回路と、リセット期間終了
後には記憶されたクロック遅延量でAD変換器を動作させ
るクロック供給回路と、アナログ信号を入力するアナロ
グ入力端子と、ディジタル信号の入力および出力に用い
られるディジタル入出力端子、ディジタル入力端子およ
びディジタル出力端子を有する。The AD converter of the present invention has a control circuit on the same semiconductor substrate, a clock terminal for operating the control circuit, a reset terminal for resetting the control circuit, and an AD converter in the control circuit. A clock supply circuit that can vary the amount of delay in the clock for operating the converter, and the input of the AD converter is fixed at a certain potential during the reset period set by the reset signal from the reset terminal,
A circuit that stores the clock delay amount that minimizes the AD converter error by changing the operation clock delay amount of the AD converter while observing the in-band noise power of the converter, and the stored clock after the reset period ends. A clock supply circuit for operating the AD converter with the delay amount, an analog input terminal for inputting an analog signal, a digital input / output terminal used for inputting and outputting a digital signal, a digital input terminal, and a digital output terminal.
すなわち、本発明では従来の対策に加えて、システム
のリセット期間(外部リセット信号から動作開始まで、
又は電源投入から動作開始まで)においてAD変換器の帯
域内雑音電力を最小とするクロック遅延を検出し、その
クロック遅延量を用いたクロックをAD変換器に供給する
追加機能を付加している。本発明のAD変換器は、クロッ
ク信号を受けこの信号を設定可能な遅延量遅延して出力
するクロック供給回路と、前記クロック供給回路から出
力されるクロックにもとづきAD変換を実行するAD変換回
路と、前記AD変換回路の出力から前記AD変換回路のサン
プリング周波数とクロック雑音により折り返される雑音
電力の帯域内雑音電力を検出する手段と、テストモード
の時は既知のアナログ信号を前記AD変換回路に入力し前
記クロック供給回路の遅延量を可変設定し前記検出する
手段の検出結果から前記帯域内雑音電力が最小となる遅
延量を検出し記憶手段に記憶させ、通常モードでは前記
記憶手段に記憶された遅延量を前記クロック供給回路に
設定する制御回路とを備えたことを特徴とする。That is, in the present invention, in addition to the conventional measures, the system reset period (from the external reset signal to the start of operation)
An additional function of detecting a clock delay that minimizes the in-band noise power of the AD converter during power-on to operation start) and supplying a clock using the clock delay amount to the AD converter is added. An AD converter according to the present invention includes a clock supply circuit that receives a clock signal and outputs the signal with a delay amount that can be set, and an AD conversion circuit that performs AD conversion based on a clock output from the clock supply circuit. Means for detecting in-band noise power of noise power folded by the sampling frequency and clock noise of the AD conversion circuit from the output of the AD conversion circuit, and inputting a known analog signal to the AD conversion circuit in a test mode. The delay amount of the clock supply circuit is variably set and the delay amount at which the in-band noise power is minimized is detected from the detection result of the detecting unit and stored in the storage unit. In the normal mode, the delay amount is stored in the storage unit. A control circuit for setting a delay amount in the clock supply circuit.
次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の第1の実施例のブロック回路説明図
である。複数のアナログ信号はアナログ入力端子1から
入力され制御回路8に内蔵されたマルチプレクサ(図示
せず)で選択されAD変換器9に導かれる。AD変換器9は
クロック供給回路7からのクロックによりAD変換動作を
開始し、所定の期間を経て変換を完了しその結果である
ディジタル信号を制御回路8へ送出する。FIG. 1 is an explanatory diagram of a block circuit according to a first embodiment of the present invention. A plurality of analog signals are input from an analog input terminal 1, selected by a multiplexer (not shown) built in a control circuit 8, and guided to an AD converter 9. The AD converter 9 starts the AD conversion operation by the clock from the clock supply circuit 7, completes the conversion after a predetermined period, and sends out a digital signal as a result to the control circuit 8.
なおこの例においてはディジタル信号の取扱いは全て
並列(例えば8ビットのAD変換器であれば8本のバズ構
成とする)で説明してあるが、これは処理の高速化を考
えてのことであり、余り速度の必要としない応用ではシ
リアル信号形式としてディジタル信号線を削減してもよ
い。In this example, the handling of digital signals is all described in parallel (for example, an 8-bit AD converter has eight buzzers), but this is for the purpose of speeding up the processing. Yes, in applications that do not require much speed, the digital signal lines may be reduced as a serial signal format.
制御回路8にはディジタル入出力端子2、ディジタル
出力端子3やディジタル入力端子4が設けられており、
データの転送、外部メモリとの結合に用いられる。The control circuit 8 is provided with a digital input / output terminal 2, a digital output terminal 3 and a digital input terminal 4.
Used for data transfer and connection with external memory.
クロック端子6は動作クロックの入力である。またク
ロック発生回路を制御回路8に内蔵されている場合は、
外付部品である水晶発振子,セラミック発振子や抵抗・
容量の取付端子として機能し通常は2個の端子が必要と
なる。The clock terminal 6 is an input of an operation clock. If the clock generation circuit is built in the control circuit 8,
External parts such as crystal oscillator, ceramic oscillator and resistor
It functions as a terminal for attaching a capacitor, and usually requires two terminals.
リセット端子5はリセット信号の入力端子である。リ
セット信号が入力されると、リセット期間と呼ばれるシ
ーケンスを通って通常動作を開始する。The reset terminal 5 is an input terminal for a reset signal. When a reset signal is input, normal operation starts through a sequence called a reset period.
第1のリセット期間は各レジスタや論理回路のイニシ
ャライズ期間であり比較的短期間で終了する。この期間
は各々のレジスタや論理回路の初期化を確実に実行する
ためのものである。The first reset period is an initialization period of each register or logic circuit, and ends in a relatively short period. This period is for surely executing initialization of each register and logic circuit.
第2のリセット期間はAD変換器10の入力をある一定の
電位(例えば接地電位等)へ接続する。この方法として
はアナログ信号の入力マルチプレクサに余分なチャネル
を用意しておき、第2のリセット時間の時に余分なチャ
ネルを選択し、余分なチャネルの片側を例えば接地電位
に接続すれば容易に実現できる。In the second reset period, the input of the AD converter 10 is connected to a certain potential (for example, a ground potential). This method can be easily realized by preparing an extra channel in an input multiplexer for analog signals, selecting an extra channel at the time of the second reset time, and connecting one side of the extra channel to, for example, a ground potential. .
第3のリセット期間は制御回路8からクロック供給回
路9を制御してAD変換器10にAD変換動作を実行させるこ
とである。このとき供給するクロックは遅延量を制御す
る。例えば第2図の如き回路が考えられる。クロックは
入力21に印加され、インバータ2段で構成された遅延回
路23を4個設け、入力21と各遅延回路23の出力にそれぞ
れトランスファゲート24を介して接続して出力22から取
り出すクロック遅延回路が考えられる。例えばインバー
タ1段の遅延量が2nsであれば0ns,4ns,8ns,12ns,16nsの
遅延量が選択可能である。In the third reset period, the control circuit 8 controls the clock supply circuit 9 to cause the AD converter 10 to execute the AD conversion operation. The clock supplied at this time controls the amount of delay. For example, a circuit as shown in FIG. 2 can be considered. A clock is applied to an input 21 and four delay circuits 23 each composed of two inverters are provided. The clock delay circuit is connected to the input 21 and the output of each delay circuit 23 via a transfer gate 24 and taken out from the output 22. Can be considered. For example, if the delay amount of one stage of the inverter is 2 ns, delay amounts of 0 ns, 4 ns, 8 ns, 12 ns, and 16 ns can be selected.
このようなクロック遅延回路を用い制御回路8からト
ランスファゲート24を制御することにより、AD変換器10
は5通りの遅延量でAD変換することができる。このとき
のAD変換結果を制御回路内にそれぞれの遅延量毎に記憶
する。By controlling the transfer gate 24 from the control circuit 8 using such a clock delay circuit, the AD converter 10
Can be AD-converted with five delay amounts. The AD conversion result at this time is stored in the control circuit for each delay amount.
第4のリセット期間は第3のリセット期間の判定を行
う。第3のリセット期間で記憶したAD変換出力を制御回
路8において例えばFFT処理を行ない帯域内雑音電力が
最小となったクロック遅延量を決定する。このクロック
遅延量を決定し記憶することにより、AD変換器10はディ
ジタル雑音とAD変換器のサンプリング周波数で折り返さ
れた雑音の所望の帯域内における雑音が最も少ないクロ
ックタイミングで動作することになる。The fourth reset period determines the third reset period. The AD conversion output stored in the third reset period is subjected to, for example, FFT processing in the control circuit 8 to determine the clock delay amount at which the in-band noise power is minimized. By determining and storing the clock delay amount, the AD converter 10 operates at the clock timing that minimizes the noise in the desired band of the digital noise and the noise folded at the sampling frequency of the AD converter.
このようにAD変換器のサンプリング周波数とクロック
雑音により折り返される雑音電力の帯域内雑音電力が最
小となるようにクロック遅延回路の遅延量を決めること
が可能となり、AD変換器の実効的な信号対雑音比(S/N
比)の向上が計れることになる。この第3のリセット期
間における制御回路8の動作はテストモードとして制御
回路8が通常モードの動作で良く用いられるモードを用
いて、実際動作のエミュレーションをかねることも可能
であり、制御回路8を工夫することによりAD変換器の実
効的信号対雑音比を向上することも可能である。In this way, the delay amount of the clock delay circuit can be determined so that the in-band noise power of the noise power folded by the sampling frequency and clock noise of the AD converter is minimized. Noise ratio (S / N
Ratio) can be improved. The operation of the control circuit 8 during the third reset period can use the mode often used in the normal mode operation as the test mode, and can also emulate the actual operation. By doing so, it is also possible to improve the effective signal-to-noise ratio of the AD converter.
第5のリセット期間は通常の動作と重複する。すなわ
ち、アナログ入力のマルチプレクサは制御回路8から制
御し、クロック供給回路の遅延量は制御回路8に記憶さ
れた値に設定されることになる。The fifth reset period overlaps with the normal operation. That is, the analog input multiplexer is controlled by the control circuit 8, and the amount of delay of the clock supply circuit is set to the value stored in the control circuit 8.
このようなリセット期間中に帯域内雑音電力を最小と
するクロック遅延量を求めて記憶することにより、シス
テムクロック雑音に対して最適なクロック遅延でAD変換
器を動作させることができる。By obtaining and storing the amount of clock delay that minimizes in-band noise power during such a reset period, the AD converter can be operated with an optimal clock delay for system clock noise.
リセット信号としては外部からの強制リセット信号と
共に電源検出回路を用いることも応用上重要である。電
源検出回路の一例を第3図に示す。電源検出回路は抵抗
33と容量34からなる時定数回路を電源端子31と接地端子
32の間に設けインバータ35の出力36を取出すものであ
る。この構成とすることにより電源投入時にインバータ
35の出力36は一定期間(抵抗と容量の時定数とインバー
タのしきい値で決まる時間)Hレベルを出力した後Lレ
ベルとなる。この電源検出回路と外部リセット信号を論
理和をとりリセット端子に入力することで、外部リセッ
ト信号と電源投入時の両方共リセット期間を介して通常
動作を開始させることが可能である。It is important for application to use a power detection circuit together with an external forced reset signal as the reset signal. FIG. 3 shows an example of the power supply detection circuit. The power detection circuit is a resistor
The time constant circuit consisting of 33 and capacitance 34 is connected to the power supply terminal 31 and the ground terminal
The output 36 of the inverter 35 is provided between 32. With this configuration, when power is turned on, the inverter
The output 36 of the output 35 goes to the L level after outputting the H level for a certain period (time determined by the time constant of the resistance and the capacitance and the threshold value of the inverter). By taking the logical sum of the power detection circuit and the external reset signal and inputting the logical sum to the reset terminal, both the external reset signal and the power-on can start the normal operation through the reset period.
なお、説明でAD変換器10は8ビット、クロック遅延回
路は4段で行なった後、分解能は何ビットでも良く、遅
延量は何段でも可能でありシステムクロック周波数とイ
ンバータ2段当りの遅延量から段数を決定すればよい。In the description, the AD converter 10 performs 8 bits and the clock delay circuit performs 4 stages, then the resolution may be any number of bits, the delay amount may be any number of stages, and the system clock frequency and the delay amount per two stages of the inverter. The number of stages may be determined from.
第4図は本発明の第2の実施例のブロック回路説明図
である。第4図において第1図と同一個所には同じ番号
を用いて説明を省略してある。FIG. 4 is an explanatory diagram of a block circuit according to a second embodiment of the present invention. In FIG. 4, the same parts as those in FIG.
第4図は制御回路41により外部信号とのインターフェ
ースを持つAD・DA変換器43を破線で示している。クロッ
ク供給回路42からは第1の実施例と同様なリセット期間
のシーケンスを通って、帯域内雑音電力を最小とする遅
延量を最適化したクロックが供給される。FIG. 4 shows, by broken lines, an AD / DA converter 43 having an interface with an external signal by the control circuit 41. Through the reset period sequence similar to that of the first embodiment, the clock supply circuit 42 supplies a clock with an optimized delay amount that minimizes in-band noise power.
AD変換器43は中速度で中精度に適した逐次比較方式を
用いた一例である。逐次比較方式はDA変換器46と比較器
44およびレジスタ45から構成される。この逐次比較する
DA変換器46をAD変換動作しない時にDA変換器として利用
したものである。AD変換とDA変換をマルチプレックスす
るためにマルチプレクサ47によりAD変換器のレジスタか
らDA変換器46を動作させるか、制御回路41からのディジ
タル信号によりDA変換器46を動作させるのか切替える。The AD converter 43 is an example using a successive approximation method suitable for medium accuracy at medium speed. Successive comparison method uses DA converter 46 and comparator
44 and a register 45. Compare this successively
The DA converter 46 is used as a DA converter when AD conversion is not performed. In order to multiplex AD conversion and DA conversion, the multiplexer 47 switches between operating the DA converter 46 from the register of the AD converter and operating the DA converter 46 based on a digital signal from the control circuit 41.
DA変換器の出力も同様にマルチプレクサ48により、AD
変換時は比較器44に接続し、DA変換時には制御回路42に
接続する。Similarly, the output of the D / A converter
Connected to the comparator 44 at the time of conversion, and connected to the control circuit 42 at the time of DA conversion.
クロック供給回路からはAD変換,DA変換の制御も含ん
だ信号を供給する必要があり、通常AD変換とDA変換の優
先順位は動作が1回で完了するDA変換を優先にすること
が多い。このようにAD変換動作中にDA変換が開始される
時はAD変換の途中結果はレジスタ45に保持されており、
DA変換終了後に再度AD変換を途中から開始するのが動作
速度を保つ上で好的な構成である。It is necessary to supply a signal including control of AD conversion and DA conversion from the clock supply circuit. Usually, the priority of AD conversion and DA conversion is often given priority to DA conversion that is completed in one operation. Thus, when DA conversion is started during the AD conversion operation, the intermediate result of the AD conversion is held in the register 45,
Starting the A / D conversion again halfway after the completion of the D / A conversion is a preferable configuration for maintaining the operation speed.
このように逐次比較方式ではAD変換用のDA変換器46を
用いてDA変換動作が実現できるので集積度の向上が期待
できる。As described above, in the successive approximation method, since the DA conversion operation can be realized using the DA converter 46 for AD conversion, an improvement in the degree of integration can be expected.
以上説明したように、本発明は、リセット信号または
電源投入時に、AD変換器の帯域内雑音電力が最小となる
クロック遅延量を検出・記憶するリセット期間を経由し
て通常動作を開始するため、大規模な制御回路から生じ
る電源雑音の影響を最小とし、サンプリング周期とクロ
ック周期のビート性雑音に対しても影響を最小とし、イ
ンパルス性雑音に対する感度を抑えた精度の優れたAD変
換器が実現できる。As described above, the present invention starts a normal operation via a reset period for detecting and storing a clock delay amount at which the in-band noise power of the AD converter is minimized when a reset signal or power is turned on. Minimizes the effect of power supply noise generated by large-scale control circuits, minimizes the effect of beat noise in the sampling cycle and clock cycle, and realizes an AD converter with excellent accuracy that suppresses sensitivity to impulse noise. it can.
第1図は本発明の第1の実施例のブロック回路図、第2
図はクロック遅延回路図、第3図は電源検出回路図、第
4図は本発明の第2の実施例のブロック回路図である。 1……アナログ入力端子、2……ディジタル入出力端
子、3……ディジタル出力端子、4……ディジタル入力
端子、5……リセット端子、6……クロック端子、8,41
……制御回路、7,42……クロック供給回路、9,43……AD
変換器、21……入力、22,36……出力、23……遅延回
路、24……トランスファゲート、31……電源端子、32…
…接地端子、33……抵抗、34……容量、35……インバー
タ、44……比較器、45……レジスタ、46……DA変換器、
47,48……マルチプレクサ、49……アナログ出力端子。FIG. 1 is a block circuit diagram of a first embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 3 is a clock delay circuit diagram, FIG. 3 is a power supply detection circuit diagram, and FIG. 4 is a block circuit diagram of a second embodiment of the present invention. 1 analog input terminal, 2 digital input / output terminal, 3 digital output terminal, 4 digital input terminal, 5 reset terminal, 6 clock terminal, 8, 41
…… Control circuit, 7,42 …… Clock supply circuit, 9,43 …… AD
Converter, 21 ... input, 22, 36 ... output, 23 ... delay circuit, 24 ... transfer gate, 31 ... power supply terminal, 32 ...
… Ground terminal, 33… resistor, 34… capacitance, 35 …… inverter, 44… comparator, 45 …… register, 46 …… DA converter,
47, 48: Multiplexer, 49: Analog output terminal.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H03M 1/00 - 1/88 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) H03M 1/00-1/88
Claims (1)
遅延量遅延して出力するクロック供給回路と、前記クロ
ック供給回路から出力されるクロックにもとづきAD変換
を実行するAD変換回路と、前記AD変換回路の出力から前
記AD変換回路のサンプリング周波数とクロック雑音によ
り折り返される雑音電力の帯域内雑音電力を検出する手
段と、テストモードの時は既知のアナログ信号を前記AD
変換回路に入力し前記クロック供給回路の遅延量を可変
設定し前記検出する手段の検出結果から前記帯域内雑音
電力が最小となる遅延量を検出し記憶手段に記憶させ、
通常モードでは前記記憶手段に記憶された遅延量を前記
クロック供給回路に設定する制御回路とを備えたことを
特徴とするAD変換器。A clock supply circuit that receives a clock signal and outputs the signal after delaying the signal by a settable delay amount; an AD conversion circuit that performs AD conversion based on a clock output from the clock supply circuit; Means for detecting the in-band noise power of the noise power folded back by the sampling frequency and clock noise of the AD conversion circuit from the output of the AD conversion circuit;
Input to a conversion circuit, variably set the delay amount of the clock supply circuit, detect the delay amount at which the in-band noise power is minimum from the detection result of the detection unit, and store the delay amount in the storage unit;
An A / D converter comprising a control circuit for setting the amount of delay stored in the storage means in the clock supply circuit in the normal mode.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63239212A JP2952876B2 (en) | 1988-09-22 | 1988-09-22 | AD converter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63239212A JP2952876B2 (en) | 1988-09-22 | 1988-09-22 | AD converter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0286329A JPH0286329A (en) | 1990-03-27 |
| JP2952876B2 true JP2952876B2 (en) | 1999-09-27 |
Family
ID=17041412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63239212A Expired - Lifetime JP2952876B2 (en) | 1988-09-22 | 1988-09-22 | AD converter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2952876B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111431533B (en) * | 2020-04-26 | 2023-06-16 | 杭州电子科技大学富阳电子信息研究院有限公司 | Method for synchronizing ADC data and clock of high-speed LVDS interface |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60113532A (en) * | 1983-11-24 | 1985-06-20 | Sharp Corp | Ad converter |
-
1988
- 1988-09-22 JP JP63239212A patent/JP2952876B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0286329A (en) | 1990-03-27 |
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