JP2973982B2 - Image inspection method of molded terminal of electronic component and chip type electronic component - Google Patents
Image inspection method of molded terminal of electronic component and chip type electronic componentInfo
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品の成形端
子の画像検査方法及びチップ型電子部品に関し、特にモ
ールド樹脂外装からリードフレームにより電極端子を取
り出し、電子部品のモールドに沿って成形加工したチッ
プ型電子部品の端子の形状を画像処理装置により検査す
るのに有効利用できる技術に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting an image of a molded terminal of an electronic component and a chip-type electronic component, and more particularly to a method of extracting an electrode terminal from a molded resin sheath with a lead frame and molding the same along the mold of the electronic component. The present invention relates to a technology that can be effectively used to inspect the shape of a terminal of a chip-type electronic component by an image processing device.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来の電子部品の成形端子の画像検査方
法について図9及び図10を用いて説明する。両電極端
子51a、51bをモールド樹脂外装(以下モールドと
称する)52の側面中央よりモールド52の側面に沿わ
せ、さらに各端子51a、51bの切断端53a、53
bをモールド52の底面中央へ屈曲させた形状のチップ
型電子部品T1において、カメラ54をチップ型電子部
品の底面を撮影できるように配設し、図示しない画像処
理装置により各端子51a、51bの屈曲部55a、5
5bから切断端53a、53bまでの長さAを端子長さ
として測定し、次に、各端子51a、51bの屈曲部5
5a,55bの間隔Bを製品全長として測定し、規定値
と比較することにより、各端子51a、51bが所望の
形状長さに成形されたことを検査していた。2. Description of the Related Art A conventional image inspection method for a molded terminal of an electronic component will be described with reference to FIGS. The two electrode terminals 51a, 51b are arranged along the side surface of the mold 52 from the center of the side surface of the mold resin outer casing (hereinafter, referred to as a mold) 52, and further, the cut ends 53a, 53 of the terminals 51a, 51b.
b is bent to the center of the bottom surface of the mold 52, a camera 54 is arranged so that the bottom surface of the chip type electronic component can be photographed, and the terminals 51a and 51b of the terminals 51a and 51b are not shown. Bent parts 55a, 5
The length A from 5b to the cut ends 53a, 53b is measured as the terminal length, and then the bent portion 5 of each terminal 51a, 51b is measured.
The distance B between 5a and 55b was measured as the total length of the product, and was compared with a specified value to check that the terminals 51a and 51b were formed into a desired shape length.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】こうした従来技術の問
顔点は、面像処理装置において端子51a、51bの屈
曲部55a、55bが精度良く検出できないことであっ
た。その理由は、端子51a、51bの屈曲部55a、
55bは、光の反射の状態が徐々に変化するため、画像
処理装置において屈曲部分55a、55bの境界を正確
に抽出することが困難であるからである。The problem with the prior art is that the surface image processing apparatus cannot accurately detect the bent portions 55a and 55b of the terminals 51a and 51b. The reason is that the bent portions 55a of the terminals 51a, 51b,
55b is because it is difficult for the image processing apparatus to accurately extract the boundary between the bent portions 55a and 55b because the state of light reflection gradually changes.
【0004】よって、本発明は、測定精度の悪い端子の
屈曲部を潮定点とせず、端子の境界が明瞭なエッジ(縁
部分)を測定点とする検査方法及びそのための電子部品
を提供することにより検査の信頼性を向上させることを
目的とする。Accordingly, the present invention provides an inspection method and an electronic component for using an edge (edge portion) where a terminal boundary is clear as a measurement point without using a bent portion of the terminal having poor measurement accuracy as a tide fixed point. To improve the reliability of inspection.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明による検査方法では、モールド樹脂外装を行
い、そのモールド樹脂外装の相対する側面よりリードフ
レームにより電極端子を取り出し、モールド樹脂外装の
側面から底面に沿わせて成形した電子部品において、予
めリードフレームの状態において電極端子となる箇所の
一部に特徴形状を形成しておき、リードフレームを切断
し、成形した後、画像処理装置を用いて特徴形状と切断
端までの長さと両切断端の間の長さを測定し、規定値と
の比較判定を行うことにより所望の成形形状であるかを
検査する方法とした。その場合の特徴形状としては、切
り欠きや孔などを採用することができるが、好ましく
は、電極端子の切断端と平行な縁部分を含む切り欠き又
は孔とするのが好適である。また、対象電子部品として
は、特にチップ型電子部品が好適である。一方、本発明
の電子部品では、モールド樹脂外装を行い、そのモール
ド樹脂外装の相対する側面よりリードフレームにより電
極端子を取り出し、そのリードフレームを電極端子とし
て必要な長さに切断してモールド樹脂外装の側面から底
面に沿わせて成形したチップ型電子部品において、モー
ルド樹脂外装の底面に沿う電極端子部分に、その電極端
子の切断端と平行な縁部分を含む切り欠きや穴を有する
特徴形状を形成してある構成とした。In order to solve the above-mentioned problems, in the inspection method according to the present invention, a mold resin sheathing is performed, and an electrode terminal is taken out from an opposite side surface of the mold resin sheath by a lead frame. In an electronic component molded along the side surface to the bottom surface, a characteristic shape is formed in advance in a part of an electrode terminal in a state of a lead frame, and the lead frame is cut and molded. In this method, the characteristic shape, the length to the cut end, and the length between both cut ends were measured, and a comparison with a specified value was performed to determine whether the molded shape was a desired shape. As the characteristic shape in this case, a notch or a hole can be adopted, but preferably a notch or a hole including an edge portion parallel to the cut end of the electrode terminal is preferable. As the target electronic component, a chip-type electronic component is particularly suitable. On the other hand, in the electronic component of the present invention, the molding resin exterior is performed, the electrode terminal is taken out from the opposite side surface of the molding resin exterior by a lead frame, and the lead frame is cut into a required length as an electrode terminal to form the molding resin exterior. In a chip-type electronic component molded along the bottom surface from the side surface, the electrode terminal portion along the bottom surface of the mold resin exterior has a characteristic shape with cutouts and holes including an edge portion parallel to the cut end of the electrode terminal. The configuration was formed.
【0006】本発明によれば、端子に形成した特徴形状
と切断端までの長さを測定し、規定値内であるかを判定
することにより、切断端と端子の付け根までの端子総長
さを保証する。次に、両端子の切断端間の長さを測定
し、規定値内であるかを判定することにより 前記切断
端と端子の付け根までの端子総長さが保証されていれ
ば、モールドの底面より測定できる各端子長さとチップ
型電子部品の全長が保正できる。According to the present invention, the total length of the terminal from the cut end to the base of the terminal is determined by measuring the characteristic shape formed on the terminal and the length to the cut end and determining whether the length is within a specified value. Guarantee. Next, the length between the cut ends of both terminals is measured, and if the total length of the cut end and the base of the terminal is guaranteed by determining whether the length is within a specified value, the bottom of the mold is used. The length of each terminal that can be measured and the overall length of the chip-type electronic component can be maintained.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
について添付の図1〜図8を参照して説明する。 (実施の形態1)図1は実施の形態1に係る電子部品成
形端子の画像検査方法を示す正面図であり、図2はその
電子部品の底面図、図3は端子成形前のリードフレーム
の切断位置及び特徴形状を示す位置関係図、図4〜図6
は端子成形の不具合状態を示す正面図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A preferred embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. (Embodiment 1) FIG. 1 is a front view showing an image inspection method for an electronic component molded terminal according to Embodiment 1, FIG. 2 is a bottom view of the electronic component, and FIG. Positional relationship diagram showing cutting position and characteristic shape, FIGS. 4 to 6
FIG. 4 is a front view showing a defective state of terminal molding.
【0008】本実施の形態においては、端子成形前のリ
ードフレームの状態を示す図3で明示するように、モー
ルド2の相対する側面より電極を取り出したリードフレ
ーム10において端子1a、1bとなる箇所の一部に特
徴形状として、後述する切断端3a、3bと平行な縁部
分6aa、6bbを含む切り欠き6a、6bを有してい
る。この切り欠き6a、6bの位置は、モールド2の側
面より保征されており、切断工程において、符号Xの位
置で中央より分断される。これを、条件1とする。In the present embodiment, as shown in FIG. 3 showing the state of the lead frame before the terminals are formed, portions of the lead frame 10 from which the electrodes are taken out from the opposite side surfaces of the mold 2 become the terminals 1a and 1b. Have cutouts 6a and 6b including edge portions 6aa and 6bb parallel to cut ends 3a and 3b described later. The positions of the notches 6a and 6b are confined from the side surface of the mold 2, and are cut from the center at the position of the symbol X in the cutting process. This is referred to as condition 1.
【0009】図1は、端子1a、1bの切断、成形が完
了し検査をする状態を表している。リードフレーム10
を切断した電極端子1a、1bをモールド2の側面に沿
わせ、さらに屈曲部5a、5bを経て、モールド2の底
面中央に向かって成形したチップ型電子部品Tにおい
て、底面が撮影できるように画像処理装置のカメラ4を
配設する。リードフレーム10が切断されてL字状とな
った切り欠き6a、6bは、カメラ4により認識可能で
ある。FIG. 1 shows a state where the cutting and molding of the terminals 1a and 1b are completed and the inspection is performed. Lead frame 10
Are cut along the side surfaces of the mold 2 and further through the bent portions 5a and 5b, the chip-type electronic component T formed toward the center of the bottom surface of the mold 2 is imaged so that the bottom surface can be photographed. The camera 4 of the processing device is provided. The cutouts 6 a and 6 b formed by cutting the lead frame 10 into an L shape can be recognized by the camera 4.
【0010】次に、画像処理装置により測定する手順を
説明する。まず、切り欠き6a、6bと切断端3a、3
bまでの長さCを測定し、規定値内であるかを判定する
ことにより、切断端3a、3bと端子の付け根7a、7
bまでの長さLを保証する。「切断端と端子の付け根ま
での長さL=切断端から切り欠きまでの長さC+端子の
付け根から切り欠きまでの長さM」であり、Mは条件1
により不変であるからC寸法が規定値内であればL寸法
を保証できる。これを条件2とする。Next, a procedure for measuring by the image processing apparatus will be described. First, the notches 6a, 6b and the cut ends 3a, 3a
By measuring the length C up to b and determining whether the length is within a specified value, the cut ends 3a, 3b and the roots 7a, 7 of the terminals are determined.
The length L up to b is guaranteed. “Length from cut end to terminal base L = length from cut end to cutout C + length from terminal base to cutout M”, where M is condition 1
Therefore, if the dimension C is within the specified value, the dimension L can be guaranteed. This is condition 2.
【0011】次に、前述の切断端3a、3bと端子の付
け根7a、7bまでの長さLが保証されている場合(条
件2〉、両端子の切断端間の長さDを測定し、規定値内
であるかを判定することにより、各端子長さAとチップ
型電子部品Tの全長Bを保証できる。Next, when the length L between the cut ends 3a, 3b and the roots 7a, 7b of the terminals is guaranteed (condition 2), the length D between the cut ends of both terminals is measured. By determining whether the values are within the specified values, the length A of each terminal and the total length B of the chip-type electronic component T can be guaranteed.
【0012】 .図3
を用いてその理由を説明する。L寸法が保証されている
場合(条件2)、発生する成形の不具合いの形状は3種
類ある。図4は端子1a、1bの付け根7a、7bの曲
げ角度が不足した場合、図5は端子の屈曲部5a 5b
の曲げ角度が不足した場合、図6は、屈曲部5a、5b
の位置がずれた場合であり、いずれもD寸法が長くな
る。すなわち、D寸法が規定値内であると、成形形状
は、唯一、所望形状に決まり、端子長さAを保証でき
る。同時に、「チップ型電子部品の全長B=左端子長さ
A+両端子の切断端間の長さD+右端子長さA]が成り
立つので、A、D寸法が保証されていれば、チップ型電
子部品Tの全長Bを保証できる。[0012]. FIG.
The reason will be described with reference to FIG. When the L dimension is guaranteed (condition 2), there are three types of molding defects that occur. FIG. 4 shows the case where the bending angles of the roots 7a and 7b of the terminals 1a and 1b are insufficient, and FIG. 5 shows the bent portions 5a and 5b of the terminals.
FIG. 6 shows the bent portions 5a and 5b
Are shifted, and the D dimension becomes longer in each case. That is, if the D dimension is within the specified value, the molding shape is uniquely determined to be the desired shape, and the terminal length A can be guaranteed. At the same time, “the total length B of the chip-type electronic component = the length A of the left terminal + the length D between the cut ends of both terminals + the length A of the right terminal” is satisfied. The total length B of the part T can be guaranteed.
【0013】(実施の形態2)次に、本発明の実施の形
態2について、実施の形態1との相違点に中心をおき、
先の図1及び図2に対応する図7及び図8を参照して説
明する。(Embodiment 2) Next, Embodiment 2 of the present invention will be described focusing on differences from Embodiment 1.
This will be described with reference to FIGS. 7 and 8 corresponding to FIGS. 1 and 2 described above.
【0014】まず、横成の相違点については、端子1
a、1bの一定の位置に形成した特徴形状を丸孔11
a、11bとしたことである。特徴形状は、画像処理装
置で位置の認識が可能であれば、他に角孔などでも良
い。First, with regard to the difference between the horizontal and horizontal components, the terminal 1
The characteristic shape formed at a fixed position of a, 1b is
a and 11b. The characteristic shape may be a square hole or the like as long as the position can be recognized by the image processing device.
【0015】次に、画像処理装置による測定の方法の相
違点については、丸孔11a、11bの中心を演算し、
これと切断端3a、3bまでの長さを寸法Cとしたこと
である。その他の測定方法は、実施の形態1と同じであ
る。Next, regarding the difference in the method of measurement by the image processing apparatus, the center of the round holes 11a and 11b is calculated,
That is, the length up to the cut ends 3a and 3b is set to the dimension C. Other measurement methods are the same as in the first embodiment.
【0016】なお、特徴形状を角孔とする場合、例え
ば、三角形、四角形及びそれ以上の多角形などを採用す
ることもできる。ただ、その場合には、切断端3a、3
bと平行な縁部分(例えば図2において6aa、6bb
で示す縁部分)を有する孔の形状とするのが望ましい。When the characteristic shape is a square hole, for example, a triangle, a quadrangle, and a polygon having more than that can be adopted. However, in that case, the cut ends 3a, 3a
b (eg, 6aa, 6bb in FIG. 2)
It is desirable to have a shape of a hole having an edge portion shown by ().
【0017】その理由は、孔の中心を演算する必要がな
いからである。即ち、孔の縁部分は明確なエッジとなる
ので、切断端からその縁部分までの長さを測定し、これ
を寸法Cとすることができるからである。The reason is that it is not necessary to calculate the center of the hole. That is, since the edge portion of the hole becomes a clear edge, the length from the cut end to the edge portion can be measured, and this can be set as the dimension C.
【0018】また、上記各実施の形態においては、チッ
プ型電子部品Tの構成及びその検査方法について説明し
たが、チップ型電子部品以外の他の端子付き電子部品に
対しても本発明を適用することができる。In each of the above embodiments, the configuration of the chip-type electronic component T and the inspection method thereof have been described. However, the present invention is also applied to electronic components with terminals other than the chip-type electronic component. be able to.
【0019】[0019]
【発明の効果】本発明の効果は、電子部品の端子の成形
形状が画像処理装置によって精度良く検査できることで
ある。その理由は、端子の一部に特徴形状を形成したこ
とにより、端子の形状を判定する全てのポイントを端子
の境界が明瞭ななエッジ(縁部分)とすることが可能と
なったからである。また、本発明に係るチップ型電子部
品は、端子の境界が明瞭な縁部分を含む切欠や孔を有す
るので、縁部分を測定点とする画像処理装置を用いた検
査方法の採用において、その検査の信頼性向上に寄与す
ることができる。しかも、この特徴形状は、例えばリー
ドフレームの切断工程において同時にかつ容易に形成す
ることができる。An advantage of the present invention is that the molded shape of the terminal of an electronic component can be inspected with high precision by an image processing apparatus. The reason is that the formation of the characteristic shape on a part of the terminal makes it possible to make all the points for determining the shape of the terminal into edges (edge portions) where the boundaries of the terminals are clear. In addition, since the chip-type electronic component according to the present invention has the notch or the hole including the edge portion where the boundary of the terminal is clear, when the inspection method using the image processing apparatus having the edge portion as the measurement point, the inspection is performed. Can be improved. In addition, this characteristic shape can be formed simultaneously and easily, for example, in the step of cutting the lead frame.
【図1】本発明の実施の形態1に係る電子部品成形端子
の画像検査方法を示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing an image inspection method for an electronic component molded terminal according to Embodiment 1 of the present invention.
【図2】本発明の実施の形態1に係る電子部品成形端子
の画像検査方法を示す底面図である。FIG. 2 is a bottom view showing an image inspection method for an electronic component molded terminal according to Embodiment 1 of the present invention.
【図3】本発明の実施の形態1に係る端子成形前のリー
ドフレームの切断位置及び特徴形状を示す位置関係図で
ある。FIG. 3 is a positional relationship diagram showing a cutting position and a characteristic shape of a lead frame before forming a terminal according to the first embodiment of the present invention.
【図4】端子成形の不具合状態の第1の例を示す正面図
である。FIG. 4 is a front view showing a first example of a defective state of terminal molding.
【図5】端子成形の不具合状態の第2の例を示す正面図
である。FIG. 5 is a front view showing a second example of a defective state of the terminal molding.
【図6】端子成形の不具合状態の第3の例を示す正面図
である。FIG. 6 is a front view showing a third example of a defective state of the terminal molding.
【図7】本発明の実施の形態2に係る電子部品成形端子
の画像検査方法を示す正面図である。FIG. 7 is a front view showing an image inspection method for an electronic component molded terminal according to Embodiment 2 of the present invention.
【図8】本発明の実施の形態2に係る電子部品成形端子
の画像検査方法を示す底面図である。FIG. 8 is a bottom view showing an image inspection method of an electronic component molded terminal according to Embodiment 2 of the present invention.
【図9】従来の電子部品成形端子の画像検査方法を示す
正面図である。FIG. 9 is a front view illustrating a conventional image inspection method for an electronic component molded terminal.
【図10】従来の電子部品成形端子の画像検査方法を示
す底面図である。FIG. 10 is a bottom view showing a conventional image inspection method for an electronic component molded terminal.
1a、1b、51a、51b 端子(電極端子) 2、52 モールド(モールド樹脂外装) 3a、3b、53a、53b 切断端 4、54 カメラ 5a、5b、55a、55b 屈曲部 6a、6b 切り欠き(特徴形状) 6aa、6bb 縁部分 7a、7b 端子付け根 10 リードフレーム 11a、11b 丸孔(特徴形状) T、T1 電子部品 1a, 1b, 51a, 51b Terminal (electrode terminal) 2, 52 Mold (mold resin exterior) 3a, 3b, 53a, 53b Cut end 4, 54 Camera 5a, 5b, 55a, 55b Bend 6a, 6b Notch (features) Shape) 6aa, 6bb Edge 7a, 7b Terminal base 10 Lead frame 11a, 11b Round hole (characteristic shape) T, T1 Electronic component
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01B 11/00 - 11/30 102 G01N 21/84 - 21/91 H05K 3/30 H05K 13/00 - 13/04 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G01B 11/00-11/30 102 G01N 21/84-21/91 H05K 3/30 H05K 13/00-13 / 04
Claims (6)
樹脂外装の相対する側面よりリードフレームにより電極
端子を取り出し、モールド樹脂外装の側面から底面に沿
わせて成形した電子部品において、予めリードフレーム
の状態において電極端子となる箇所の一部に特徴形状を
形成しておき、リードフレームを切断し、成形した後、
画像処理装置を用いて特徴形状と切断端までの長さと両
切断端の間の長さを測定し、規定値との比較判定を行う
ことにより所望の成形形状であるかを検査することを特
徴とする、電子部品の成形端子の画像検査方法。1. An electronic component formed by molding a resin package, extracting electrode terminals from a side surface of the molding resin package facing the opposite side by a lead frame, and molding the electronic terminal along a side surface to a bottom surface of the molding resin package. After forming a characteristic shape in a part of the portion to be an electrode terminal in, cutting and molding the lead frame,
Using an image processing device, the characteristic shape, the length to the cut end and the length between both cut ends are measured, and a comparison with a specified value is performed to check whether or not the molded shape is a desired shape. An image inspection method for a molded terminal of an electronic component.
徴とする、請求項1に記載の電子部品の成形端子の画像
検査方法。2. The method for inspecting an image of a molded terminal of an electronic component according to claim 1, wherein the characteristic shape is a notch.
る、請求項1に記載の電子部品の成形端子の画像検査方
法。3. The method for inspecting an image of a molded terminal of an electronic component according to claim 1, wherein the characteristic shape is a hole.
と平行な縁部分を含む切り欠き又は孔であることを特徴
とする、請求項1〜3の何れかに記載の電子部品の成形
端子の画像検査方法。4. The molding of an electronic component according to claim 1, wherein the characteristic shape is a notch or a hole including an edge portion parallel to a cut end of the electrode terminal. Image inspection method for terminals.
ことを特徴とする、請求項1〜4の何れかに記載の電子
部品の成形端子の画像検査方法。5. The method for inspecting an image of a molded terminal of an electronic component according to claim 1, wherein said electronic component is a chip-type electronic component.
樹脂外装の相対する側面よりリードフレームにより電極
端子を取り出し、そのリードフレームを電極端子として
必要な長さに切断してモールド樹脂外装の側面から底面
に沿わせて成形したチップ型電子部品において、前記モ
ールド樹脂外装の底面に沿う電極端子部分に、端子の切
断端と平行な縁部分を含む切り欠きや孔を有する特徴形
状を形成してあることを特徴とする、チップ型電子部
品。6. A mold resin sheathing is performed, an electrode terminal is taken out from an opposite side surface of the mold resin sheath by a lead frame, the lead frame is cut into a required length as an electrode terminal, and the mold resin sheath is cut from a side surface to a bottom surface. In the chip-type electronic component molded along the shape, the electrode terminal portion along the bottom surface of the mold resin exterior has a characteristic shape having cutouts and holes including an edge portion parallel to the cut end of the terminal. A chip-type electronic component.
Priority Applications (1)
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| JP9193679A JP2973982B2 (en) | 1997-07-18 | 1997-07-18 | Image inspection method of molded terminal of electronic component and chip type electronic component |
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