JP2990982B2 - Method of Aligning Collet of Transfer Head and Pin of Die Ejector in Die Bonder - Google Patents
Method of Aligning Collet of Transfer Head and Pin of Die Ejector in Die BonderInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はウェハシート上のチップ
を基板に移送搭載するダイボンダにおける移載ヘッドの
コレットとダイエジェクタのピンの位置合せ方法に関す
るものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of aligning a collet of a transfer head and a pin of a die ejector in a die bonder for transferring and mounting chips on a wafer sheet to a substrate.
【0002】[0002]
【従来の技術】ダイボンダは、ウェハシート上のチップ
をウェハシートの下方に配置されたダイエジェクタのピ
ンにより突き上げ、突き上げられたチップを移載ヘッド
のコレットに真空吸着してピックアップし、リードフレ
ームやプリント基板などの基板の所定位置に搭載するよ
うになっている。2. Description of the Related Art A die bonder pushes up a chip on a wafer sheet by a pin of a die ejector disposed below the wafer sheet, vacuum-adsorbs the pushed-up chip to a collet of a transfer head, and picks up the chip. It is designed to be mounted at a predetermined position on a substrate such as a printed circuit board.
【0003】ダイボンダにおいては、ピンのセンター
と、ダイエジェクタの上方に到来したコレットのセンタ
ーを合致させておく必要があり、これが合致していない
とチップのピックアップミスが発生したり、コレットが
下降動作をしてチップを真空吸着する際に、コレットの
内面がチップのエッジに衝突してエッジを破損する。し
たがってダイボンダによりウェハシート上のチップを基
板に搭載するのに先立ち、コレットのセンターとピンの
センターの位置合せが行われる。In the die bonder, it is necessary to match the center of the pin with the center of the collet arriving above the die ejector. If they do not match, a chip pick-up error occurs or the collet moves downward. When the chip is vacuum-sucked, the inner surface of the collet collides with the edge of the chip to damage the edge. Therefore, before the chips on the wafer sheet are mounted on the substrate by the die bonder, the center of the collet and the center of the pins are aligned.
【0004】従来、この位置合せは次のようにして行わ
れていた。まず、ダイエジェクタの上方に位置するウェ
ハシートを退去させたうえで、上方のカメラによりダイ
エジェクタのピンを観察し、カメラのオリジンポイント
(光学的基準点であって、例えばカメラの光軸)に対す
るピンのセンター座標を検出する。次にウェハシートを
ダイエジェクタの上方に配置し、ウェハシートをX方向
やY方向に移動させてウェハシート上の何れかのチップ
のセンターをオリジンポイントに合わせる。次に、移載
ヘッドのコレットをこのチップの上方へ移動させ、次に
コレットを下降させるとともに、前記チップをダイエジ
ェクタのピンにより突き上げてコレットとチップの位置
合せを行う。Conventionally, this alignment has been performed as follows. First, after retreating the wafer sheet located above the die ejector, observe the pins of the die ejector with the camera above, and observe the origin point of the camera (optical reference point, for example, the optical axis of the camera). Detect the center coordinates of the pin. Next, the wafer sheet is arranged above the die ejector, and the wafer sheet is moved in the X direction or the Y direction so that the center of any chip on the wafer sheet is aligned with the origin point. Next, the collet of the transfer head is moved above the chip, and then the collet is lowered, and the chip is pushed up by the pin of the die ejector to align the collet with the chip.
【0005】図5はこの位置合せを行っている様子を示
している。ウェハシート1上にはチップ2が多数個貼着
されており、チップ2をダイエジェクタ3のピン4によ
り下方から突き上げている。このダイエジェクタ3は、
立筒5の内部にピン4を配置し、立筒5の上部にキャッ
プ6を被蓋して構成されており、モータ、リンク、カム
などの図示しない駆動手段を駆動することによりピン4
が立設されたブロック8を上動させて、キャップ6のセ
ンターに開孔された孔部7からピン4を突出させ、ウェ
ハシート1上のチップ2を突き上げる。移載ヘッド9
は、Yテーブル10に保持されており、Xテーブル(図
外)とYテーブル10を駆動することにより移載ヘッド
9を水平方向に移動させて、移載ヘッド9の下部に備え
られたコレット11をチップ2の上方へ位置させる。そ
して図5に示すように、ピックアップ状態を顕微鏡12
によりオペレータが視認しながら、XテーブルとYテー
ブル10を駆動してコレット11をX方向やY方向に移
動させ、コレット11とピン4の位置合せをする。この
ようにしてコレット11とピン4の位置合せが終了した
ならば、ウェハシート1上のチップ2を基板(図外)に
搭載する作業が開始される。FIG. 5 shows how this alignment is performed. A large number of chips 2 are adhered on the wafer sheet 1, and the chips 2 are pushed up from below by the pins 4 of the die ejector 3. This ejector 3
The pin 4 is arranged inside the vertical cylinder 5, and a cap 6 is covered on the upper part of the vertical cylinder 5. By driving driving means (not shown) such as a motor, a link and a cam, the pin 4 is driven.
Is moved upward, the pins 4 are projected from the holes 7 formed in the center of the cap 6, and the chips 2 on the wafer sheet 1 are pushed up. Transfer head 9
Is held by a Y table 10, and by driving an X table (not shown) and the Y table 10, the transfer head 9 is moved in a horizontal direction, and a collet 11 provided below the transfer head 9 is provided. Is positioned above the chip 2. Then, as shown in FIG.
The operator moves the X table and the Y table 10 while moving the collet 11 in the X direction and the Y direction while visually recognizing the operator, thereby aligning the collet 11 with the pins 4. When the alignment between the collet 11 and the pins 4 is completed in this way, the operation for mounting the chips 2 on the wafer sheet 1 on a substrate (not shown) is started.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
方法は、図5に示すようにオペレータが顕微鏡12によ
りコレット11やチップ2を視認しながら位置合せを行
うため、多大な労力と時間を要し、かつこのような手段
ではピンとコレットの位置合せの自動化は実際上きわめ
て困難であるという問題点があった。因みに、この位置
合せに要求される精度は、一般に10μm程度である。However, in the above-mentioned conventional method, as shown in FIG. 5, the operator performs alignment while visually checking the collet 11 and the chip 2 with the microscope 12, so that much labor and time are required. Further, there has been a problem that it is extremely difficult to automate the alignment of the pin and the collet with such means. Incidentally, the accuracy required for this alignment is generally about 10 μm.
【0007】したがって本発明は、コレットとピンの位
置合せを自動的にしかも迅速に行うことができるダイボ
ンダにおける移載ヘッドのコレットとダイエジェクタの
ピンの位置合せ方法を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a method of aligning a collet of a transfer head and a pin of a die ejector in a die bonder which can automatically and quickly align a collet with a pin.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】このために本発明は、チ
ップをコレットに真空吸着してダイエジェクタのキャッ
プ上に搭載し、真空吸着状態を解除してコレットをダイ
エジェクタ上から退避させるステップと、前記ステップ
でキャップ上に搭載されたチップを上方のカメラにより
観察してチップのセンター座標を求めるステップと、コ
レットをキャップ上のチップの上方へ移動させ、チップ
を真空吸着してピックアップしてダイエジェクタ上から
除去するステップと、ダイエジェクタのピンをカメラに
より観察してそのセンター座標を求めるステップと、前
記のようにして求められたチップのセンター座標とピン
のセンター座標のX方向とY方向の相対的な位置ずれ量
を計算し、コンピュータに登録するステップと、からダ
イボンダにおける移載ヘッドのコレットとダイエジェク
タのピンの位置合せ方法を構成したものである。For this purpose, the present invention comprises a step of vacuum-adhering a chip to a collet, mounting the chip on a cap of a die ejector, releasing the vacuum-adsorbed state, and retracting the collet from above the die ejector. Observing the chip mounted on the cap in the above step with an upper camera to obtain the center coordinates of the chip; moving the collet to above the chip on the cap, picking up the chip by vacuum suction and picking up the die. Removing the ejector from the ejector, observing the pins of the ejector with a camera to determine the center coordinates thereof, and determining the center coordinates of the chip and the center coordinates of the pins determined in the X and Y directions. Calculating the relative displacement and registering it in a computer; Alignment method of the pin of the collet of the mounting head and the die ejector is obtained by constituting the.
【0009】[0009]
【作用】上記構成によれば、コレットのセンター座標と
ピンのセンター座標のX方向とY方向の相対的な位置ず
れ量を簡単かつ正確に求めることができるので、ウェハ
上のチップを基板に搭載する際に、移載ヘッドのX方向
やY方向の移動量に位置ずれ量に基く補正を加えること
により、コレットのセンター座標をピンのセンター座標
に合致させて、ウェハシート上のチップを確実にピック
アップすることができる。According to the above construction, the relative displacement between the center coordinates of the collet and the center coordinates of the pins in the X and Y directions can be easily and accurately determined, so that the chips on the wafer are mounted on the substrate. In this case, the center coordinates of the collet are made to match the center coordinates of the pins by correcting the movement amount of the transfer head in the X direction and the Y direction based on the amount of displacement, so that the chips on the wafer sheet can be reliably located. Can be picked up.
【0010】[0010]
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
【0011】図1はダイボンダの全体斜視図である。図
5に示す従来例の構成部品と同一部品には同一符号を付
すことによりその説明は省略する。移載ヘッド9はYテ
ーブル10の先端部に保持されている。Yテーブル10
上にはXテーブル13が直交して配置されており、X方
向モータMX1とY方向モータMY1を駆動すると、移
載ヘッド9はX方向やY方向に水平移動する。このXテ
ーブル13とYテーブル10は、基台17上に設置され
た支持ポスト17aに設けられている。FIG. 1 is an overall perspective view of a die bonder. The same components as those of the conventional example shown in FIG. The transfer head 9 is held at the tip of a Y table 10. Y table 10
An X table 13 is disposed orthogonally above, and when the X direction motor MX1 and the Y direction motor MY1 are driven, the transfer head 9 moves horizontally in the X direction and the Y direction. The X table 13 and the Y table 10 are provided on support posts 17 a installed on a base 17.
【0012】移載ヘッド9の移動路の下方の基台17上
にはコンベア14が設けられており、コンベヤ14上に
基板15が載置されている。コンベヤ14の側方にはウ
ェハシート1が配置されており、ウェハシート1の下方
にはダイエジェクタ3が設置されている。A conveyor 14 is provided on a base 17 below a moving path of the transfer head 9, and a substrate 15 is mounted on the conveyor 14. The wafer sheet 1 is arranged on the side of the conveyor 14, and the die ejector 3 is installed below the wafer sheet 1.
【0013】ウェハシート1はテーブル16に装着され
ている。テーブル16はXテーブル20上に配置されて
おり、Xテーブル20はYテーブル21上にこれと直交
して配設されている。X方向モータMX2とY方向モー
タMY2を駆動することにより、ウェハシート1をダイ
エジェクタ3の真上に位置させたり、ダイエジェクタの
真上から側方へ退去させることができる。ダイエジェク
タ3は基台17上に設置されている。またダイエジェク
タ3の上方にはカメラ18が設けられている。19はカ
メラ18の固定用ブラケットであり、基台17上に固定
されている。The wafer sheet 1 is mounted on a table 16. The table 16 is arranged on the X table 20, and the X table 20 is arranged on the Y table 21 at right angles thereto. By driving the X-direction motor MX2 and the Y-direction motor MY2, the wafer sheet 1 can be positioned directly above the die ejector 3, or can be moved laterally from directly above the die ejector 3. The die ejector 3 is installed on a base 17. A camera 18 is provided above the die ejector 3. Reference numeral 19 denotes a fixing bracket for the camera 18, which is fixed on the base 17.
【0014】図3において、移載ヘッド9の内部にはコ
レット11を上下動させるモータMZや、コレット11
のシャフト9aをベルト9bやギヤ9c,9dを介して
回転させてコレット11に真空吸着されたチップ2の回
転角度設定を行うモータMθが収納されている。図2は
電気回路のブロック図である。カメラ19は画像処理部
30を介して制御部31に接続されている。この画像処
理部30はチップ2やピン4のセンター座標を算出す
る。32は制御部31に接続されたメモリであって、プ
ログラムなどの必要なデータを記憶する。制御部31は
チップ2とピン4の位置ずれ量を計算し、またモータ駆
動回路33〜38を介して各モータMX1,MY1,M
X2,MY2,Mθ,MZを制御する。このダイボンダ
は上記のように構成されており、次に図3を参照しなが
ら、コレット11とピン4の位置合せ方法を説明する。In FIG. 3, a motor MZ for moving the collet 11 up and down, a collet 11
A motor Mθ for rotating the shaft 9a via the belt 9b and the gears 9c and 9d to set the rotation angle of the chip 2 vacuum-adsorbed to the collet 11 is housed. FIG. 2 is a block diagram of the electric circuit. The camera 19 is connected to the control unit 31 via the image processing unit 30. The image processing unit 30 calculates the center coordinates of the chip 2 and the pin 4. A memory 32 is connected to the control unit 31 and stores necessary data such as programs. The control unit 31 calculates the amount of displacement between the chip 2 and the pin 4, and controls the motors MX 1, MY 1, M 1 via the motor driving circuits 33 to 38.
X2, MY2, Mθ, and MZ are controlled. This die bonder is configured as described above. Next, a method for aligning the collet 11 and the pin 4 will be described with reference to FIG.
【0015】まず図3(a)に示すように、コレット1
1にチップ2を真空吸着させ、Yテーブル10とXテー
ブル13を駆動して移載ヘッド9をダイエジェクタ3の
上方へ移動させ、そこでコレット11を下降させてチッ
プ2をキャップ6上に着地させる(図3鎖線参照)。こ
のとき、ウェハシート1はダイエジェクタ3の側方に退
去させてある。First, as shown in FIG.
1, the chip 2 is vacuum-sucked, the Y table 10 and the X table 13 are driven to move the transfer head 9 above the die ejector 3, where the collet 11 is lowered to land the chip 2 on the cap 6. (See FIG. 3 chain line). At this time, the wafer sheet 1 has been withdrawn to the side of the die ejector 3.
【0016】次に図3(b)に示すようにコレット11
の真空吸着状態を解除したうえでコレット11を側方へ
退避させ、チップ2をキャップ6上に搭載する。次にカ
メラ18によりチップ2を観察し、そのセンター座標
(X1、Y1)を求める。このセンター座標(X1、Y
1)は周知画像処理方法により簡単に求めることがで
き、その値はメモリ32に登録される。Next, as shown in FIG.
Is released, the collet 11 is retracted to the side, and the chip 2 is mounted on the cap 6. Next, the chip 2 is observed by the camera 18 and its center coordinates (X1, Y1) are obtained. The center coordinates (X1, Y
1) can be easily obtained by a well-known image processing method, and its value is registered in the memory 32.
【0017】次に図3(c)に示すように再びコレット
11をダイエジェクタ3の上方へ移動させて、キャップ
6上のチップ2をピックアップし、チップ2をキャップ
6上から除去したうえで、カメラ18によりピン4を観
察し、そのセンター座標(X2、Y2)を求める。この
場合、図示するようにピン4をキャップ6から突出させ
てカメラ18で観察してもよく、あるいはキャップ6の
内部に下降させている状態でピン孔7を通して観察して
もよい。このセンター座標(X2、Y2)もメモリ32
に登録される。Next, as shown in FIG. 3 (c), the collet 11 is moved again above the die ejector 3, the chip 2 on the cap 6 is picked up, and the chip 2 is removed from the cap 6. The pin 4 is observed by the camera 18 and its center coordinates (X2, Y2) are obtained. In this case, the pin 4 may be projected from the cap 6 and observed with the camera 18 as shown in the drawing, or may be observed through the pin hole 7 while being lowered into the cap 6. The center coordinates (X2, Y2) are also stored in the memory 32.
Registered in.
【0018】図4は上記のようにして求められたコレッ
ト11のセンター座標(X1、Y1)とピン4のセンタ
ー座標(X2、Y2)の相対的な位置関係を示してい
る。X方向の位置ずれ量 ΔX=X1−X2、Y方向の
位置ずれ量 ΔY=Y1−Y2は画像処理部30により
計算され、メモリ32に登録される。FIG. 4 shows the relative positional relationship between the center coordinates (X1, Y1) of the collet 11 and the center coordinates (X2, Y2) of the pin 4 obtained as described above. The displacement amount ΔX = X1−X2 in the X direction and the displacement amount ΔY = Y1−Y2 in the Y direction are calculated by the image processing unit 30 and registered in the memory 32.
【0019】以上のようにしてピン4のセンター座標
(X1、Y1)とコレット11のセンター座標(X2、
Y2)の相対的な位置ずれ量ΔX、ΔYが求められたな
らば、ウェハシート1上のチップ2を基板15に搭載す
る作業が開始される。すなわち図1に示すようにウェハ
シート1をダイエジェクタ3の上方に位置させ、Xテー
ブル13とYテーブル10を駆動して、移載ヘッド9の
コレット11をダイエジェクタ3のピン4の真上に位置
させ、そこでコレット11に上下動作を行わせることに
よりチップ2をピックアップし、次に移載ヘッド9を基
板15の上方へ移動させ、そこで再度コレット11に上
下動作を行わせることにより、チップ2を基板15に搭
載する。このような動作を繰り返すことにより、ウェハ
シート1上のチップ2は基板15に次々に搭載される。
この場合、上記のようにして予め求められたX方向とY
方向の位置ずれ量ΔX、ΔYに基いてXテーブル13と
Yテーブル10の駆動による移載ヘッド9の移動量を補
正すれば、コレット11のセンターとピン4のセンター
を正確に合致させて、チップ2を確実にピックアップす
ることができる。As described above, the center coordinates (X1, Y1) of the pin 4 and the center coordinates (X2,
When the relative displacement amounts ΔX and ΔY of Y2) are obtained, the operation of mounting the chips 2 on the wafer sheet 1 on the substrate 15 is started. That is, as shown in FIG. 1, the wafer sheet 1 is positioned above the die ejector 3, the X table 13 and the Y table 10 are driven, and the collet 11 of the transfer head 9 is placed directly above the pins 4 of the die ejector 3. Then, the chip 2 is picked up by causing the collet 11 to move up and down, and then the transfer head 9 is moved above the substrate 15, and the collet 11 is again moved up and down there. Is mounted on the substrate 15. By repeating such operations, the chips 2 on the wafer sheet 1 are mounted on the substrate 15 one after another.
In this case, the X direction and Y obtained in advance as described above are used.
If the moving amount of the transfer head 9 by driving the X table 13 and the Y table 10 is corrected based on the positional deviation amounts ΔX and ΔY in the directions, the center of the collet 11 and the center of the pin 4 are accurately matched, and the chip 2 can be reliably picked up.
【0020】本発明は上記実施例に限定されないのであ
って、例えば図3においてコレット11に真空吸着され
たチップ2はダミーチップでもよい。また図1におい
て、ダイエジェクタ3は基台17上に固定的に設置され
ているが、ダイエジェクタ3をXテーブルやYテーブル
に支持させて、ダイエジェクタ3をX方向やY方向に移
動させるものでもよい。更には、図3(a)(b)
(c)に示す順序を逆にしてもよい。すなわち、図3
(c)に示すように、まずカメラ18でピン4のセンタ
ー座標(X2、Y2)を求めた後で、図3(a)(b)
に示すようにキャップ6上にチップ2を搭載してそのセ
ンター座標(X1、Y1)を求めてもよいものであり、
要はコレット11のセンターとピン4のセンターのX方
向とY方向の相対的な位置ずれ量を検出すればよい。The present invention is not limited to the above embodiment. For example, in FIG. 3, the chip 2 vacuum-adsorbed to the collet 11 may be a dummy chip. In FIG. 1, the die ejector 3 is fixedly installed on the base 17, but the die ejector 3 is supported on an X table or a Y table to move the die ejector 3 in the X direction or the Y direction. May be. Further, FIGS. 3A and 3B
The order shown in (c) may be reversed. That is, FIG.
As shown in FIG. 3C, first, the center coordinates (X2, Y2) of the pin 4 are obtained by the camera 18, and then, as shown in FIGS.
The center coordinates (X1, Y1) may be obtained by mounting the chip 2 on the cap 6 as shown in FIG.
The point is that the relative displacement between the center of the collet 11 and the center of the pin 4 in the X and Y directions may be detected.
【0021】[0021]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、コ
レットのセンター座標とピンのセンター座標のX方向と
Y方向の相対的な位置ずれ量を簡単かつ正確に求めるこ
とができ、したがってウェハシート上のチップを基板に
搭載する際に、移載ヘッドのX方向やY方向の移動量に
位置ずれ量に基く補正を加えることにより、コレットの
センターをピンのセンターに合致させて、ウェハシート
上のチップを確実にピックアップすることができる。As described above, according to the present invention, the relative displacement between the center coordinates of the collet and the center coordinates of the pin in the X and Y directions can be obtained easily and accurately. When the chips on the sheet are mounted on the substrate, the amount of displacement of the transfer head in the X and Y directions is corrected based on the amount of displacement, so that the center of the collet matches the center of the pin, and the wafer sheet is adjusted. The upper chip can be reliably picked up.
【図1】本発明の一実施例のダイボンダの全体システム
図FIG. 1 is an overall system diagram of a die bonder according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の一実施例の電気回路のブロック図FIG. 2 is a block diagram of an electric circuit according to one embodiment of the present invention.
【図3】(a)本発明の一実施例のコレットとピンの位
置合せ中の要部側面図 (b)本発明の一実施例のコレットとピンの位置合せ中
の要部斜視図 (c)本発明の一実施例のコレットとピンの位置合せ中
の要部斜視図FIG. 3A is a side view of a main part during alignment between a collet and a pin according to an embodiment of the present invention. FIG. 3B is a perspective view of a main part during alignment between a collet and a pin according to one embodiment of the present invention. ) Perspective view of a main part during alignment of a collet and a pin according to an embodiment of the present invention.
【図4】本発明の一実施例のコレットとピンのセンター
座標図FIG. 4 is a center coordinate diagram of a collet and a pin according to an embodiment of the present invention.
【図5】従来のコレットとピンの位置合せ作業中の説明
図FIG. 5 is an explanatory view during a conventional collet and pin alignment operation.
1 ウェハシート 2 チップ 3 ダイエジェクタ 4 ピン 6 キャップ 9 移載ヘッド 10 Yテーブル 11 コレット 13 Xテーブル 18 カメラ Reference Signs List 1 wafer sheet 2 chip 3 die ejector 4 pin 6 cap 9 transfer head 10 Y table 11 collet 13 X table 18 camera
Claims (1)
下方に配置されたダイエジェクタのピンにより突き上
げ、前記チップを移載ヘッドのコレットに真空吸着して
ピックアップし、基板に移送搭載するダイボンダにおい
て、 チップをコレットに真空吸着してダイエジェクタのキャ
ップ上に搭載し、真空吸着状態を解除してコレットをダ
イエジェクタ上から退避させるステップと、 前記ステップでキャップ上に搭載されたチップを上方の
カメラにより観察してチップのセンター座標を求めるス
テップと、 コレットをキャップ上のチップの上方へ移動させ、チッ
プを真空吸着してピックアップしてダイエジェクタ上か
ら除去するステップと、 ダイエジェクタのピンをカメラにより観察してそのセン
ター座標を求めるステップと、 前記のようにして求められたチップのセンター座標とピ
ンのセンター座標のX方向とY方向の相対的な位置ずれ
量を計算し、コンピュータに登録するステップと、を含
むことを特徴とするダイボンダにおける移載ヘッドのコ
レットとダイエジェクタのピンの位置合せ方法。In a die bonder, a chip on a wafer sheet is pushed up by a pin of a die ejector arranged below the wafer sheet, the chip is vacuum-adsorbed to a collet of a transfer head, picked up, and transferred and mounted on a substrate. Vacuum adsorbing the chip onto the collet and mounting it on the cap of the die ejector, releasing the vacuum suction state and retracting the collet from above the die ejector; and Observing the center coordinates of the chip by observing the chip, moving the collet above the chip on the cap, vacuum-adsorbing the chip, picking it up, and removing it from the die ejector, observing the die ejector pin with a camera Determining the center coordinates by using Calculating a relative displacement amount of the center coordinates of the chip and the center coordinates of the pin in the X direction and the Y direction obtained in the above, and registering the amount in a computer. How to align the collet and pin of the ejector.
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|---|---|---|---|
| JP31819692A JP2990982B2 (en) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | Method of Aligning Collet of Transfer Head and Pin of Die Ejector in Die Bonder |
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Publications (2)
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