Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP2997766B2 - Dicing equipment - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP2997766B2 - Dicing equipment - Google Patents

Dicing equipment

Info

Publication number
JP2997766B2
JP2997766B2 JP6534098A JP6534098A JP2997766B2 JP 2997766 B2 JP2997766 B2 JP 2997766B2 JP 6534098 A JP6534098 A JP 6534098A JP 6534098 A JP6534098 A JP 6534098A JP 2997766 B2 JP2997766 B2 JP 2997766B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cassette
work
wafer
cutting
section
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP6534098A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH11260762A (en
Inventor
俊彦 石川
正照 長田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority to JP6534098A priority Critical patent/JP2997766B2/en
Publication of JPH11260762A publication Critical patent/JPH11260762A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2997766B2 publication Critical patent/JP2997766B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Dicing (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はダイシング装置に係
り、特に半導体ウェーハ(ワーク)をダイス状に切断す
るダイシング装置に関する。
The present invention relates to a dicing apparatus, and more particularly to a dicing apparatus for cutting a semiconductor wafer (work) into dice.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のダイシング装置は、装置本体にワ
ーク切断部、カセット収納部、及び搬送手段を有してい
る。前記カセット収納部には、多数枚のウェーハが収納
されたカセットが収納されており、このカセットに収納
されたウェーハは、前記搬送手段によって1枚ずつ引き
出されて前記ワーク切断部まで搬送される。このワーク
切断部においてウェーハは、所定の切断位置に位置合わ
せされた後、ワーク切断部の切断刃(ブレード)によっ
てダイス状に切断される。そして、切断終了したウェー
ハは、搬送手段によって前記カセット収納部に搬送され
て元のカセットの所定の棚に収納される。以上が、従来
のダイシング装置による1枚のウェーハの処理工程の流
れである。
2. Description of the Related Art A conventional dicing apparatus has a work cutting section, a cassette accommodating section, and a conveying means in a main body of the apparatus. A cassette containing a large number of wafers is stored in the cassette storage section. The wafers stored in the cassette are pulled out one by one by the transfer means and transferred to the work cutting section. After the wafer is positioned at a predetermined cutting position in the work cutting section, the wafer is cut into a dice by a cutting blade (blade) of the work cutting section. Then, the cut wafer is transferred to the cassette storage section by the transfer means and stored in a predetermined shelf of the original cassette. The above is the flow of the process of processing one wafer by the conventional dicing apparatus.

【0003】ところで、従来のダイシング装置に適用さ
れるカセットは、多数枚のウェーハを収納することがで
きる大型のカセットである。このカセットは通常、同一
型番のウェーハが収納されて取り扱われるため、同一型
番のウェーハを多数枚連続処理する場合に有利である。
Incidentally, the cassette applied to the conventional dicing apparatus is a large-sized cassette capable of storing a large number of wafers. Since this cassette usually handles wafers of the same model number, it is advantageous when a large number of wafers of the same model number are continuously processed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のダイシング装置は、型番の異なるウェーハを1枚若
しくは少数枚割り込み処理したい場合にも、前記大型の
カセットで取り扱わなければならず、非常に手間がかか
るという欠点がある。また、ダイシング装置は、危険防
止等の理由によって、連続運転中におけるカセットの交
換や設置を装置側で制限している。このため、従来のダ
イシング装置は、型番の異なるウェーハを連続して枚葉
処理する場合、そのウェーハをセットする毎にダイシン
グ装置を停止しなければならないので、効率が悪いとい
う欠点がある。また、運転中において、加工品質等の抽
出検査のために切断されたワークをカセットから取り出
したい場合にも、ダイシング装置を一時停止しなければ
ならないので、稼働効率が悪くなるという欠点がある。
However, in the conventional dicing apparatus, even when interrupt processing of one or a small number of wafers of different model numbers is required, it must be handled by the large-sized cassette, which is very troublesome. There is a disadvantage that this is the case. Further, in the dicing apparatus, replacement or installation of the cassette during continuous operation is restricted on the device side for the reason of danger prevention or the like. For this reason, the conventional dicing apparatus has a drawback that, when successively processing wafers of different model numbers in a single wafer, the dicing apparatus must be stopped every time the wafer is set, resulting in poor efficiency. In addition, even when it is desired to take out a cut work from the cassette for extraction inspection of processing quality or the like during operation, the dicing apparatus must be temporarily stopped, so that there is a disadvantage that operating efficiency is deteriorated.

【0005】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、ワークの割り込み処理を容易に行うことができ
ると共に、ダイシング装置を停止せずにワークの連続枚
葉処理やワークの抽出検査を行うことができるダイシン
グ装置を提供する。
[0005] The present invention has been made in view of the above circumstances, it is possible to easily perform the interrupt processing of the work, and to perform the continuous single-wafer processing of the work and the extraction inspection of the work without stopping the dicing apparatus. Provided is a dicing apparatus that can perform the dicing.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するために、ワークを切断する切断刃を備えたワーク
切断部と、多数枚のワークが収納されたカセットを収納
するカセット収納部と、該カセット収納部と前記ワーク
切断部との間でワークを搬送する搬送手段とを有するダ
イシング装置において、前記ダイシング装置本体に、少
なくとも1枚のワークを収納する、前記カセットよりも
コンパクトな大きさのカセットを収納する収納部を複数
設け、該複数の収納部と前記ワーク切断部との間でワー
クを搬送可能とすると共に、前記カセット収納部から取
り出されて前記ワーク切断部で切断されたワークを前記
コンパクトな大きさのカセットを収納する収納部に搬送
可能としたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides a work cutting section having a cutting blade for cutting a work, and a cassette storage section for storing a cassette containing a large number of works. And a conveying means for conveying a work between the cassette storage section and the work cutting section, wherein the dicing apparatus main body stores at least one work, and has a smaller size than the cassette. A plurality of storage sections for storing the cassettes are provided, the work can be transported between the plurality of storage sections and the work cutting section, and the work is taken out of the cassette storage section and cut by the work cutting section. It is characterized in that the work can be transported to a storage section for storing the compact cassette.

【0007】本発明によれば、通常のカセットが収納さ
れるカセット収納部の他に、特殊カセットが収納される
特殊カセット収納部を複数設けている。この特殊カセッ
トは、1枚若しくは少数枚のワークを収納するコンパク
トな大きさのカセットなので取り扱いが簡便になり、ワ
ークの割り込み処理が容易になる。また、本発明によれ
ば、特殊カセット収納部を複数設けているので、枚葉ワ
ークの切断中に、次の枚葉ワークを特殊カセット収納部
にセットすることができる。これにより、本発明は、ワ
ークの連続枚葉処理を効率良く行うことができる。
According to the present invention, a plurality of special cassette storage sections for storing special cassettes are provided in addition to the cassette storage section for storing normal cassettes. This special cassette is a cassette of a compact size that accommodates one or a small number of works, so that handling is simple and work interruption processing is easy. Further, according to the present invention, since a plurality of special cassette storage sections are provided, the next single work can be set in the special cassette storage section while cutting a single work. Thus, the present invention can efficiently perform the continuous single-wafer processing of the work.

【0008】更に、本発明では、カセット収納部から取
り出されてワーク切断部で切断されたワークを、特殊カ
セット収納部に向けて搬送し、特殊カセットに収納して
取り出すようにした。従来のように、切断後のワークを
元のカセット収納部に収納すると、そのワークを抽出検
査するためにはダイシング装置を一時停止しなければな
らないが、本発明では、特殊カセットに収納したので、
ダイシング装置を停止せずにワークの抽出検査を行うこ
とができる。
Further, in the present invention, the work taken out of the cassette storage section and cut by the work cutting section is conveyed toward the special cassette storage section, stored in the special cassette, and taken out. As in the prior art, when the cut work is stored in the original cassette storage unit, the dicing device must be temporarily stopped in order to extract and inspect the work, but in the present invention, since the work is stored in the special cassette,
Extraction inspection of a workpiece can be performed without stopping the dicing apparatus.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るダイシング装置について詳説する。図1は、本発明が
適用された半導体ウェーハのダイシング装置1の斜視図
であり、図2はその平面図である。図1に示すように、
前記ダイシング装置1は、主として切断部10、洗浄部
20、カセット収納部30、エレベータ部(搬送手段)
40、及び搬送装置(搬送手段)50等から構成されて
いる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A dicing apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a perspective view of a semiconductor wafer dicing apparatus 1 to which the present invention is applied, and FIG. 2 is a plan view thereof. As shown in FIG.
The dicing apparatus 1 mainly includes a cutting section 10, a cleaning section 20, a cassette storage section 30, an elevator section (transporting means).
40, and a transport device (transport unit) 50 and the like.

【0010】このダイシング装置1によるウェーハWの
切断工程を説明すると、まず、カセット収納部30に複
数枚収納されている加工前のウェーハWは、エレベータ
部40によって順次引き出され、そして、引き出された
ウェーハWは図2に示す位置P4にセットされる。次
に、このウェーハWは、搬送装置50によって位置P1
のプリロードステージを介して切断部10のカッティン
グテーブル(位置P2)上に載置される。ここで、ウェ
ーハWはカッティングテーブルに吸着保持される。吸着
保持されたウェーハWは、アライメント部18、19に
よってウェーハW上のパターンが画像認識され、これに
基づいてアライメントされる。そして、アライメントさ
れたウェーハWは、切断部10の矢印A、Bで示すY軸
方向移動と、カッティングテーブルの矢印C、Dで示す
X軸方向移動とによって、2本のストリートが同時に切
断される。最初の2本のストリートが切断されると、切
断部10のスピンドルをストリートのピッチ分だけY軸
方向に移動させ、そして、カッティングテーブルを再び
X軸方向に移動させる。これによって、次の2本のスト
リートが切断される。この切断動作を繰り返して行い、
一方向(X方向)の全てのストリートの切断が終了する
と、カッティングテーブルを90°回動させて、前記切
断したストリートに直交する他方向(図2上でY方向)
のストリートを順次切断する。これにより、ウェーハW
は最終的にダイス状に切断される。なお、本実施の形態
では、アライメント部18、19を切断部10の上流側
に設けたが、これに限られるものではなく、切断部10
の各キャリッジ72、74に設けても良い。
The process of cutting the wafer W by the dicing apparatus 1 will be described. First, a plurality of unprocessed wafers W stored in the cassette storage unit 30 are sequentially pulled out by the elevator unit 40 and then drawn out. The wafer W is set at the position P4 shown in FIG. Next, the wafer W is transferred to the position P1 by the transfer device 50.
Is placed on the cutting table (position P2) of the cutting unit 10 via the preload stage of (1). Here, the wafer W is held by suction on the cutting table. The wafer W held by suction is subjected to image recognition of the pattern on the wafer W by the alignment units 18 and 19, and is aligned based on the image. Then, in the aligned wafer W, two streets are cut at the same time by the movement in the Y-axis direction indicated by arrows A and B of the cutting unit 10 and the movement in the X-axis direction indicated by arrows C and D on the cutting table. . When the first two streets are cut, the spindle of the cutting section 10 is moved in the Y-axis direction by the pitch of the streets, and the cutting table is moved again in the X-axis direction. As a result, the next two streets are cut. Repeat this cutting operation,
When the cutting of all the streets in one direction (X direction) is completed, the cutting table is rotated by 90 °, and the other direction orthogonal to the cut street (Y direction in FIG. 2).
Cut the streets in sequence. Thereby, the wafer W
Is finally cut into dies. In the present embodiment, the alignment units 18 and 19 are provided on the upstream side of the cutting unit 10, but the present invention is not limited to this.
May be provided on each of the carriages 72 and 74.

【0011】切断終了したウェーハWは、カッティング
テーブルによって位置P2に戻された後、搬送装置50
によって位置P3の洗浄部20のスピナテーブルに搬送
される。ここでウェーハWは、洗浄水により洗浄された
後、エアブローによって乾燥される。乾燥したウェーハ
Wは、搬送装置50によって位置P4に搬送され、エレ
ベータ部40によってカセット部30に向けて搬送され
所定のカセットに収納される。以上が前記ダイシング装
置1による1枚のウェーハWの切断工程の流れである。
After the cut wafer W is returned to the position P2 by the cutting table, the transfer device 50
Is transported to the spinner table of the cleaning unit 20 at the position P3. Here, the wafer W is dried by the air blow after being washed with the washing water. The dried wafer W is transferred to the position P4 by the transfer device 50, transferred to the cassette unit 30 by the elevator unit 40, and stored in a predetermined cassette. The above is the flow of the process of cutting one wafer W by the dicing apparatus 1.

【0012】ダイシング装置1の切断部10は図2に示
すように、一対の切断装置14、16を有し、この切断
装置14、16は、モータ60、62、スピンドル6
4、66、及びスピンドル64、66の先端部に装着さ
れたブレード68、70を備えている。前記切断装置1
4、16は、スピンドル移動機構によってY軸方向に各
々独立して移動される。本実施の形態では、前記スピン
ドル移動機構としてリニアモータが適用されている。リ
ニアモータの原理、及び詳細な構造は周知であるのでこ
こでは省略する。
As shown in FIG. 2, the cutting section 10 of the dicing apparatus 1 has a pair of cutting apparatuses 14 and 16, and the cutting apparatuses 14 and 16 include motors 60 and 62 and a spindle 6
4, 66, and blades 68, 70 mounted on the tips of the spindles 64, 66. The cutting device 1
4 and 16 are independently moved in the Y-axis direction by a spindle moving mechanism. In the present embodiment, a linear motor is applied as the spindle moving mechanism. The principle and the detailed structure of the linear motor are well known and will not be described here.

【0013】一方、図1に示すようにダイシング装置1
のカセット収納部30は、4段構造に構成されており、
上から順にインスペクションカセット収納部(特殊カセ
ット収納部)32、第1カセット収納部34、第2カセ
ット収納部36、及びユーティリティカセット収納部
(特殊カセット収納部)38から構成されている。前記
第1、第2カセット収納部34、36は、通常のカセッ
トが収納される収納部である。これらのカセット収納部
34、36に収納されたカセットは、各々の扉35、3
7に設けられた把手35A、37Aで扉35、37を開
くことにより、ダイシング装置本体から取り出すことが
できる。前記通常のカセットとは、同一型番のウェーハ
が多数枚収納される大型のカセットである。
On the other hand, as shown in FIG.
Has a four-stage structure.
The inspection cassette storage section (special cassette storage section) 32, the first cassette storage section 34, the second cassette storage section 36, and the utility cassette storage section (special cassette storage section) 38 are arranged in this order from the top. The first and second cassette storage sections 34 and 36 are storage sections for storing normal cassettes. The cassettes stored in these cassette storage sections 34, 36 are provided with respective doors 35, 3
By opening the doors 35, 37 with the handles 35A, 37A provided on the 7, the user can take it out of the dicing apparatus body. The normal cassette is a large cassette in which a large number of wafers of the same model number are stored.

【0014】前記ユーティリティカセット収納部38に
収納される本実施の形態のユーティリティカセット(特
殊カセット)80を図3に示す。このユーティリティカ
セット80は、2枚の側板82、82、天板84、及び
背板86から構成され、多数枚のウェーハを収納する通
常のカセットと比較してコンパクトな大きさに構成され
ている。前記2枚の側板82、82は、天板84で上部
が連結され、下部が開放されている。また、2枚の側板
82、82は後部が前記背板86によって連結されてい
る。更に、2枚の側板82、82の対向する内壁面に
は、少数枚のウェーハWを収納するための棚88、88
…が水平方向に等間隔で形成されている。これらの棚8
8は、割り込み処理をしたい少数ロットのウェーハWを
収納する段数だけ有すれば良いので、本実施の形態では
5段に形成されている。なお、棚数は5段に限定される
ものではない。
FIG. 3 shows a utility cassette (special cassette) 80 of the present embodiment stored in the utility cassette storage section 38. The utility cassette 80 includes two side plates 82, 82, a top plate 84, and a back plate 86, and has a compact size compared to a normal cassette that stores a large number of wafers. The upper portions of the two side plates 82 are connected by a top plate 84, and the lower portions are open. The rear portions of the two side plates 82 are connected by the back plate 86. Further, shelves 88, 88 for accommodating a small number of wafers W are provided on inner wall surfaces of the two side plates 82, 82 facing each other.
Are formed at equal intervals in the horizontal direction. These shelves 8
8 is formed in five stages in the present embodiment since it is sufficient to have the number of stages that accommodates a small number of wafers W to be subjected to interrupt processing. The number of shelves is not limited to five.

【0015】前記天板84の上面には、ウェーハWが載
置される載置面85が形成されている。この載置面85
は、載置されたウェーハWが天板84上で大きくズレな
いように棚88と同じ寸法で形成されている。したがっ
て、前記載置面85にセットされるウェーハWは、ユー
ティリティカセット80の上方からセットされた後、ユ
ーティリティカセット収納部38に収納されて切断部1
0に搬送される。なお、ウェーハWは、フレーム90に
接着テープ92に貼り付けられた状態で1枚のワークを
なしている。
On the upper surface of the top plate 84, a mounting surface 85 on which the wafer W is mounted is formed. This mounting surface 85
Is formed in the same size as the shelf 88 so that the placed wafer W does not largely shift on the top plate 84. Therefore, the wafer W set on the mounting surface 85 described above is set from above the utility cassette 80 and then stored in the utility cassette storage section 38 to be cut into the cutting section 1.
Transported to 0. Note that the wafer W forms one work in a state where the wafer W is attached to the adhesive tape 92 on the frame 90.

【0016】前記の如く構成されたユーティリティカセ
ット80は、図1に示すユーティリティカセット収納部
38の棚39を把手39Aで開いて収納される。したが
って、図3の載置面85にセットされるウェーハWは、
棚39を開くだけでユーティリティカセット80にセッ
トされる。以上説明したように、本実施の形態のダイシ
ング装置1は、通常のカセットが収納されるカセット収
納部34、36の他に、図3のユーティリティカセット
80が収納されるユーティリティカセット収納部38を
設け、更に、ユーティリティカセット80の天板84に
ウェーハWの載置面85を形成した。したがって、本実
施の形態のダイシング装置1は、ユーティリティカセッ
ト収納部38からユーティリティカセット80を引き出
して、その天板84の載置面85に、割り込み処理した
いウェーハWを載置するだけでウェーハWをセットする
ことができる。したがって、前記ダイシング装置1によ
れば、ウェーハWの割り込み処理を容易に行うことがで
きる。
The utility cassette 80 constructed as described above is stored by opening the shelf 39 of the utility cassette storage section 38 shown in FIG. 1 with the handle 39A. Therefore, the wafer W set on the mounting surface 85 in FIG.
Simply by opening the shelf 39, it is set on the utility cassette 80. As described above, the dicing apparatus 1 of the present embodiment is provided with the utility cassette storage 38 for storing the utility cassette 80 shown in FIG. 3 in addition to the cassette storages 34 and 36 for storing normal cassettes. Further, a mounting surface 85 for the wafer W is formed on the top plate 84 of the utility cassette 80. Therefore, the dicing apparatus 1 of the present embodiment pulls out the utility cassette 80 from the utility cassette storage section 38 and mounts the wafer W to be interrupted on the mounting surface 85 of the top plate 84 by simply loading the wafer W. Can be set. Therefore, according to the dicing apparatus 1, interrupt processing of the wafer W can be easily performed.

【0017】また、前記ユーティリティカセット80に
少数枚のウェーハWを収納できる棚88、88を形成し
たので、ユーティリティカセット80を少数ロットの取
り扱い用カセットとして兼用することができる。更に、
本実施の形態では、第1、第2カセット収納部34、3
6から取り出されてワーク切断部10で切断されたウェ
ーハWを、ユーティリティカセット収納部32に向けて
搬送し、ユーティリティカセット80に収納するよう
に、エレベータ部40を制御している。従来装置では、
切断後のウェーハWを元のカセット収納部に収納するよ
うにエレベータ部を制御しているので、そのウェーハW
を抽出検査するためにはダイシング装置を一時停止しな
ければならない。これに対して、本実施の形態では、切
断後のウェーハWをユーティリティカセット80に収納
したので、ダイシング装置1を停止せずにウェーハWの
抽出検査を行うことができる。
Also, since the shelves 88, 88 capable of storing a small number of wafers W are formed in the utility cassette 80, the utility cassette 80 can be used also as a cassette for handling a small number of lots. Furthermore,
In the present embodiment, the first and second cassette storage units 34, 3
The elevator unit 40 is controlled so that the wafer W taken out of the work 6 and cut by the work cutting unit 10 is transported toward the utility cassette storage unit 32 and stored in the utility cassette 80. In conventional equipment,
Since the elevator unit is controlled to store the cut wafer W in the original cassette storage unit, the wafer W
The dicing apparatus must be temporarily stopped in order to extract and inspect the sample. On the other hand, in the present embodiment, since the cut wafer W is stored in the utility cassette 80, the extraction inspection of the wafer W can be performed without stopping the dicing apparatus 1.

【0018】なお、ユーティリティカセット80の載置
面85にセットされるものは、切断処理用のウェーハW
に限定されず、ブレード68、70のドレッシング用ワ
ークでもよく、また、ブレード68、70の切断状況を
検査するための検査用ワークでも良い。これによって、
ドレッシング用ワーク、及び検査用ワークのセッティン
グ及び取り扱いが非常に簡単になる。
The one set on the mounting surface 85 of the utility cassette 80 is a wafer W for cutting.
However, the present invention is not limited to this, and may be a dressing work for the blades 68 and 70 or an inspection work for inspecting the cutting state of the blades 68 and 70. by this,
The setting and handling of the dressing work and the inspection work are greatly simplified.

【0019】一方、図1に示したインスペクションカセ
ット収納部32には、図4に示す枚葉処理用のウェーハ
Wを収納するインスペクションカセット100が収納さ
れている。このインスペクションカセット100は、1
枚のウェーハWを収納するもので、図3に示したユーテ
ィリティカセット80よりも更にコンパクトに構成され
ている。
On the other hand, the inspection cassette storing section 32 shown in FIG. 1 stores an inspection cassette 100 for storing wafers W for single-wafer processing shown in FIG. This inspection cassette 100 includes 1
It stores one wafer W, and is configured to be more compact than the utility cassette 80 shown in FIG.

【0020】図4に示すように、前記インスペクション
カセット100はトレイ状に構成され、その上面にはウ
ェーハWの載置面102が形成されている。したがっ
て、枚葉処理用のウェーハWは、インスペクションカセ
ット収納部32の棚33を把手33Aで開くだけで前記
インスペクションカセット100に収納される。なお、
本実施の形態では、1枚のウェーハWを収納するインス
ペクションカセット100について説明したが、これに
限られるものではなく、例えば、図3に示したユーティ
リティカセット80と同様に少数の棚88を設けて少数
枚のウェーハWを収納できるように構成しても良い。こ
のインスペクションカセット収納部32とユーティリテ
ィカセット収納部38とを併用することによって、枚葉
ウェーハWの切断中に、次の枚葉ウェーハWをインスペ
クションカセット収納部32若しくはユーティリティカ
セット収納部38にセットすることができる。これによ
り、本実施の形態は、ウェーハWの連続枚葉処理を効率
良く行うことができる。
As shown in FIG. 4, the inspection cassette 100 is formed in a tray shape, and a mounting surface 102 for a wafer W is formed on an upper surface thereof. Therefore, the wafer W for single wafer processing is stored in the inspection cassette 100 simply by opening the shelf 33 of the inspection cassette storage section 32 with the handle 33A. In addition,
In the present embodiment, the inspection cassette 100 for storing one wafer W has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, a small number of shelves 88 are provided similarly to the utility cassette 80 shown in FIG. The configuration may be such that a small number of wafers W can be stored. By using both the inspection cassette storage section 32 and the utility cassette storage section 38, the next single wafer W can be set in the inspection cassette storage section 32 or the utility cassette storage section 38 during cutting of the single wafer W. Can be. Thus, in the present embodiment, the continuous single wafer processing of the wafer W can be efficiently performed.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したように本発明に係るダイシ
ング装置によれば、少なくとも1枚のワークを収納す
る、多数枚のワークが収納されたカセットを収納するカ
セット収納部よりもコンパクトな大きさのカセットを収
納する収納部を複数設けたので、ワークの割り込み処理
が容易になり、また、ワークの連続枚葉処理を効率良く
行うことができる。
As described above, according to the dicing apparatus according to the present invention, the size of the dicing apparatus is smaller than that of the cassette accommodating portion accommodating at least one work and accommodating the cassette accommodating a large number of works. Since a plurality of storage sections for storing the cassettes are provided, the interruption processing of the work becomes easy, and the continuous single-wafer processing of the work can be efficiently performed.

【0022】更に、本発明によれば、コンパクトな大き
さのカセットを収納する複数の収納部とワーク切断部と
の間でワークを搬送可能とすると共に、多数枚のワーク
が収納されたカセットを収納するカセット収納部から取
り出されて、前記ワーク切断部で切断されたワークを、
前記コンパクトな大きさのカセットを収納する収納部に
搬送可能としたので、ダイシング装置を停止せずにワー
クの抽出検査を行うことができる。
Further, according to the present invention, the work can be transported between a plurality of storage sections for storing a cassette having a compact size and the work cutting section, and the cassette in which a large number of works are stored is provided. The work taken out from the cassette housing section to be housed and cut by the work cutting section,
Since it is possible to carry the cassette to the storage section for storing the cassette having the compact size, it is possible to perform the extraction inspection of the work without stopping the dicing apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明が適用されたダイシング装置の斜視図FIG. 1 is a perspective view of a dicing apparatus to which the present invention is applied.

【図2】図1に示したダイシング装置の平面図FIG. 2 is a plan view of the dicing apparatus shown in FIG.

【図3】ダイシング装置に収納されるインスペクション
カセットの斜視図
FIG. 3 is a perspective view of an inspection cassette accommodated in a dicing device.

【図4】ダイシング装置に収納されるユーティリティカ
セットの斜視図
FIG. 4 is a perspective view of a utility cassette stored in the dicing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ダイシング装置 10…切断部 32…インスペクションカセット収納部 34…第1カセット収納部 36…第2カセット収納部 38…ユーティリティカセット収納部 80…ユーティリティカセット 100…インスペクションカセット DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Dicing apparatus 10 ... Cutting part 32 ... Inspection cassette storage part 34 ... First cassette storage part 36 ... Second cassette storage part 38 ... Utility cassette storage part 80 ... Utility cassette 100 ... Inspection cassette

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/301 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/301

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ワークを切断する切断刃を備えたワーク
切断部と、多数枚のワークが収納されたカセットを収納
するカセット収納部と、該カセット収納部と前記ワーク
切断部との間でワークを搬送する搬送手段とを有するダ
イシング装置において、 前記ダイシング装置本体に、少なくとも1枚のワークを
収納する、前記カセットよりもコンパクトな大きさのカ
セットを収納する収納部を複数設け、該複数の収納部と
前記ワーク切断部との間でワークを搬送可能とすると共
に、前記カセット収納部から取り出されて前記ワーク切
断部で切断されたワークを前記コンパクトな大きさのカ
セットを収納する収納部に搬送可能としたことを特徴と
するダイシング装置。
1. A work cutting section having a cutting blade for cutting a work, a cassette storage section for storing a cassette containing a large number of works, and a work between the cassette storage section and the work cutting section. in the dicing device having a conveying means for conveying, on the dicing apparatus main body, for accommodating at least one workpiece, mosquito compact size than the cassette
A plurality of storage sections for storing sets are provided, and the work can be transported between the plurality of storage sections and the work cutting section, and the work taken out of the cassette storage section and cut by the work cutting section is removed. The compact size
A dicing apparatus capable of being transported to a storage section for storing sets .
JP6534098A 1998-03-16 1998-03-16 Dicing equipment Expired - Fee Related JP2997766B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6534098A JP2997766B2 (en) 1998-03-16 1998-03-16 Dicing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6534098A JP2997766B2 (en) 1998-03-16 1998-03-16 Dicing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11260762A JPH11260762A (en) 1999-09-24
JP2997766B2 true JP2997766B2 (en) 2000-01-11

Family

ID=13284129

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6534098A Expired - Fee Related JP2997766B2 (en) 1998-03-16 1998-03-16 Dicing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2997766B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011060898A (en) * 2009-09-08 2011-03-24 Disco Abrasive Syst Ltd Work housing cassette

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006179528A (en) * 2004-12-20 2006-07-06 Tokyo Electron Ltd Inspection method and inspection program for substrate processing apparatus
JP5286142B2 (en) * 2009-04-10 2013-09-11 株式会社ディスコ Processing equipment
JP5308218B2 (en) * 2009-04-10 2013-10-09 株式会社ディスコ Processing equipment

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011060898A (en) * 2009-09-08 2011-03-24 Disco Abrasive Syst Ltd Work housing cassette

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11260762A (en) 1999-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6726526B2 (en) Cutting machine
TW465044B (en) Cutting machine
JP5134575B2 (en) Method for manufacturing semiconductor devices in a multi-chamber system
JP4581031B2 (en) Substrate processing apparatus, substrate processing method, and semiconductor device manufacturing method
US6637446B2 (en) Integrated substrate processing system
US4701096A (en) Wafer handling station
KR20190122147A (en) Transfer mechanism
US6354781B1 (en) Semiconductor manufacturing system
JP2997766B2 (en) Dicing equipment
TW202335172A (en) Modular mainframe layout for supporting multiple semiconductor process modules or chambers
JP4855142B2 (en) Processing system, transfer arm cleaning method and recording medium
JP3127073B2 (en) Cleaning device and cleaning method
JP2873761B2 (en) Semiconductor manufacturing equipment
JPH11204462A (en) Dicing apparatus
JPH11162888A (en) Dicing equipment
KR20240122914A (en) FOUP or cassette storage for hybrid substrate bonding systems
JP2688623B2 (en) Dicing equipment
JP2001244220A (en) Dicing device
JP2001358093A (en) Cutting machine
JP3413567B2 (en) Substrate transfer processing apparatus and substrate transfer processing method
JP2002359225A (en) Substrate cleaning device and substrate cleaning system
JP3145376B2 (en) Substrate transfer method for vacuum processing equipment
JP3469230B2 (en) Vacuum processing equipment
GB2284303A (en) Automatic wafer handler for a dicing machine
JPH07221050A (en) Dicing device

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091105

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees