JP3014866B2 - 磁束計測装置 - Google Patents
磁束計測装置Info
- Publication number
- JP3014866B2 JP3014866B2 JP4209999A JP20999992A JP3014866B2 JP 3014866 B2 JP3014866 B2 JP 3014866B2 JP 4209999 A JP4209999 A JP 4209999A JP 20999992 A JP20999992 A JP 20999992A JP 3014866 B2 JP3014866 B2 JP 3014866B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic flux
- josephson junction
- circuit
- detection circuit
- measuring device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、極めて微弱な磁界の計
測を行うための磁束計測装置に係り、特に人体、とりわ
け人間の心臓または脳から生じる微弱な磁界、あるい
は、地表よりかなり上方の電離層または地下深い油田等
から生じる微弱な磁界等の計測を行う磁束計測装置に関
する。
測を行うための磁束計測装置に係り、特に人体、とりわ
け人間の心臓または脳から生じる微弱な磁界、あるい
は、地表よりかなり上方の電離層または地下深い油田等
から生じる微弱な磁界等の計測を行う磁束計測装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】極めて微弱な磁界の行うための高感度な
磁束計測には、これまで、ジョセフソン接合を利用した
直流超伝導量子干渉装置(dc−SQUID)または高
周波超伝導量子干渉装置(rf−SQUID)が用いら
れてきた。
磁束計測には、これまで、ジョセフソン接合を利用した
直流超伝導量子干渉装置(dc−SQUID)または高
周波超伝導量子干渉装置(rf−SQUID)が用いら
れてきた。
【0003】このような装置の出力信号には、「直流オ
フセット」と呼ばれる非零定数が含まれている。このた
め、磁束の変化量ではなく磁束の値を測定する場合は、
SQUID装置の出力から直流オフセット値を引く零磁
束較正を行う必要がある。しかしながら、このような零
磁束較正は、極めて実施が難しい。
フセット」と呼ばれる非零定数が含まれている。このた
め、磁束の変化量ではなく磁束の値を測定する場合は、
SQUID装置の出力から直流オフセット値を引く零磁
束較正を行う必要がある。しかしながら、このような零
磁束較正は、極めて実施が難しい。
【0004】そこで、本願発明者等は、従来から偶数高
調波を利用することにより、零磁束較正を行うことなく
磁束の絶対値を求めることのできる磁束計測装置の開発
を行っている(特開昭63−153484号参照)。
調波を利用することにより、零磁束較正を行うことなく
磁束の絶対値を求めることのできる磁束計測装置の開発
を行っている(特開昭63−153484号参照)。
【0005】上記磁束計測装置では、入力(低周波)磁
束Φin=(Φ0 /2π)φin)が、周波数f=ω/2π
の変調磁束ΦM =(Φ0 /2π)φM =(Φ0 z/2
π)cos(ωt)と共に、ジョセフソン接合に印加さ
れる。なお、Φ0 =h/2eは素量子磁束、zは変調指
数と呼ばれるパラメータである。この合成磁束Φは、Φ
=ΦM +Φinによって表される。
束Φin=(Φ0 /2π)φin)が、周波数f=ω/2π
の変調磁束ΦM =(Φ0 /2π)φM =(Φ0 z/2
π)cos(ωt)と共に、ジョセフソン接合に印加さ
れる。なお、Φ0 =h/2eは素量子磁束、zは変調指
数と呼ばれるパラメータである。この合成磁束Φは、Φ
=ΦM +Φinによって表される。
【0006】ここで、Cm =cos(mωt)、Sm =
sin(mωt)とし、磁束角度をφ=φin+φM 、臨
界ジョセフソン接合電流をIJ で表すと、ジョセフソン
接合を流れる電流は、次のようになる。
sin(mωt)とし、磁束角度をφ=φin+φM 、臨
界ジョセフソン接合電流をIJ で表すと、ジョセフソン
接合を流れる電流は、次のようになる。
【0007】 I/IJ =sinφ =sin(Φin+ΦM ) =sinΦincosΦM +cosΦinsinΦM =sinΦin(J0 +Σ(−1)m 2J2mC2m) +cosΦin(Σ(−1)m 2J2m+1S2m+1) (1) ここで、Jm =Jm (z)は、ベッセル関数である。入
力磁界の磁束角度φinが小さいと仮定すると、sinφ
inは、ほぼ零に等しくなる。従って、偶数高調波成分I
2mは、次のようになる。
力磁界の磁束角度φinが小さいと仮定すると、sinφ
inは、ほぼ零に等しくなる。従って、偶数高調波成分I
2mは、次のようになる。
【0008】
【数1】 この式(2)から明らかなように、偶数高調波成分I2m
は、φinに比例する。従って、ジョセフソン接合に流れ
る電流から偶数高調波成分I2mを選択的に検出すること
により、磁界の磁束の絶対値が求められる。
は、φinに比例する。従って、ジョセフソン接合に流れ
る電流から偶数高調波成分I2mを選択的に検出すること
により、磁界の磁束の絶対値が求められる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の磁束計測装置では、次のような問題があった。
すなわち、まず、ジョセフソン接合からなる並列共振回
路の場合、2ω周波数におけるジョンソン・ノイズが大
きく、例えばQ値(クオリティファクタ)を50と仮定
すると2ωにおけるジョンソン・ノイズは直流成分の約
2500倍となってしまう。
た従来の磁束計測装置では、次のような問題があった。
すなわち、まず、ジョセフソン接合からなる並列共振回
路の場合、2ω周波数におけるジョンソン・ノイズが大
きく、例えばQ値(クオリティファクタ)を50と仮定
すると2ωにおけるジョンソン・ノイズは直流成分の約
2500倍となってしまう。
【0010】また、適正な動作のため、検出回路におけ
るジョセフソン接合は、超伝導状態に維持する必要があ
るが、電流がジョセフソン接合の臨界電流より大きくな
り、超伝導状態が損なわれる可能性があり、安定な測定
を行うことができない。
るジョセフソン接合は、超伝導状態に維持する必要があ
るが、電流がジョセフソン接合の臨界電流より大きくな
り、超伝導状態が損なわれる可能性があり、安定な測定
を行うことができない。
【0011】本発明は、かかる従来の事情に対処してな
されたもので、零磁束較正を行うことなく微弱な磁界の
磁束の絶対値を求めることが可能な、ノイズの少ない、
安定性の高い磁束計測装置を提供しようとするものであ
る。
されたもので、零磁束較正を行うことなく微弱な磁界の
磁束の絶対値を求めることが可能な、ノイズの少ない、
安定性の高い磁束計測装置を提供しようとするものであ
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の磁束計測装置は、角周波数ω、変調指数z
の変調磁束(Φ0 z/2π)cosωtを発生させる変
調磁束発生手段と、固有インダクタンスLJ を有する少
なくとも1個のジョセフソン接合を具備するとともに、
タンク回路を含み、測定しようとする入力磁束と、前記
変調磁束とを重畳して前記ジョセフソン接合に印加し、
該ジョセフソン接合に流れる電流の特定の偶数高調波成
分を分離検出する検出回路とを備え、前記変調指数zが
略2乃至5、前記検出回路のインダクタンスLが前記固
有インダクタンスLJ の略1乃至1/5、前記検出回路
のキャパシタンスCが前記角周波数ωの2倍の2ωに同
調する値に設定されていることを特徴とする。
め、本発明の磁束計測装置は、角周波数ω、変調指数z
の変調磁束(Φ0 z/2π)cosωtを発生させる変
調磁束発生手段と、固有インダクタンスLJ を有する少
なくとも1個のジョセフソン接合を具備するとともに、
タンク回路を含み、測定しようとする入力磁束と、前記
変調磁束とを重畳して前記ジョセフソン接合に印加し、
該ジョセフソン接合に流れる電流の特定の偶数高調波成
分を分離検出する検出回路とを備え、前記変調指数zが
略2乃至5、前記検出回路のインダクタンスLが前記固
有インダクタンスLJ の略1乃至1/5、前記検出回路
のキャパシタンスCが前記角周波数ωの2倍の2ωに同
調する値に設定されていることを特徴とする。
【0013】
【作用】上記構成の本発明の磁束計測装置では、測定し
ようとする入力磁束と変調磁束とを重畳してジョセフソ
ン接合に印加し、ジョセフソン接合に流れる電流の特定
の偶数高調波成分を分離検出することにより、零磁束較
正を行うことなく微弱な磁界の磁束の絶対値を求めるこ
とができる。また、変調指数z、インダクタンスL、お
よび、キャパシタンスCを調整することにより、2ω成
分のジョンソン・ノイズを低減することができ、S/N
比の向上と安定性の向上を図ることができる。
ようとする入力磁束と変調磁束とを重畳してジョセフソ
ン接合に印加し、ジョセフソン接合に流れる電流の特定
の偶数高調波成分を分離検出することにより、零磁束較
正を行うことなく微弱な磁界の磁束の絶対値を求めるこ
とができる。また、変調指数z、インダクタンスL、お
よび、キャパシタンスCを調整することにより、2ω成
分のジョンソン・ノイズを低減することができ、S/N
比の向上と安定性の向上を図ることができる。
【0014】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。
明する。
【0015】図1は、本発明の一実施例の磁束計測装置
の構成を示すもので、図において、10はタンク回路を
含み測定磁束と偏重磁束を重畳するとともに偶数高調波
を分離する重畳・分離回路、20は重畳・分離回路10
によって分離された偶数高調波を増幅する低温前置増幅
器および検出器を含む半導体回路、30は所定の変調磁
束を発生するための信号発生回路である。
の構成を示すもので、図において、10はタンク回路を
含み測定磁束と偏重磁束を重畳するとともに偶数高調波
を分離する重畳・分離回路、20は重畳・分離回路10
によって分離された偶数高調波を増幅する低温前置増幅
器および検出器を含む半導体回路、30は所定の変調磁
束を発生するための信号発生回路である。
【0016】上記検出回路10は、2つのジョセフソン
接合11、12と、コイル13と、コンデンサ14およ
び抵抗15から構成されており、2つのジョセフソン接
合11、12を用いることにより、プッシュプルモード
で奇数高調波電流から偶数高調波電流を分離するように
なっている。また、抵抗15は、動作時にジョセフソン
接合11、12が超伝導状態にあることを保証するため
のRJ /2の分路抵抗器である。また、図中に示すLは
入力インダクタンスであり、Cはジョセフソン接合キャ
パシタンス、寄生キャパシタンス、外部コンデンサ(同
調可能)を含む総キャパシタンスである。
接合11、12と、コイル13と、コンデンサ14およ
び抵抗15から構成されており、2つのジョセフソン接
合11、12を用いることにより、プッシュプルモード
で奇数高調波電流から偶数高調波電流を分離するように
なっている。また、抵抗15は、動作時にジョセフソン
接合11、12が超伝導状態にあることを保証するため
のRJ /2の分路抵抗器である。また、図中に示すLは
入力インダクタンスであり、Cはジョセフソン接合キャ
パシタンス、寄生キャパシタンス、外部コンデンサ(同
調可能)を含む総キャパシタンスである。
【0017】なお、本実施例の場合、出力信号は、図示
しないフィードバック回路により入力側にフィードバッ
クされて、入力磁束に重畳されるようになっている。こ
れにより、有効利得の安定化と入力磁束の測定範囲の拡
大とを図ることができる。
しないフィードバック回路により入力側にフィードバッ
クされて、入力磁束に重畳されるようになっている。こ
れにより、有効利得の安定化と入力磁束の測定範囲の拡
大とを図ることができる。
【0018】半導体回路20は、ランプ成分タンク回
路、液体ヘリウム冷却GaAs FET(ガリウムヒ素
電界効果トランジスタ)前置増幅器を備えている。これ
は、ギガヘルツ(GHz)オーダーの高い周波数の信号
を高効率、低ノイズの条件で処理しなければならないた
めである。また、重畳・分離回路10とのインピーダン
ス整合は、室温で簡単に制御できる低温GaAsバラク
タダイオードを利用して行われる。
路、液体ヘリウム冷却GaAs FET(ガリウムヒ素
電界効果トランジスタ)前置増幅器を備えている。これ
は、ギガヘルツ(GHz)オーダーの高い周波数の信号
を高効率、低ノイズの条件で処理しなければならないた
めである。また、重畳・分離回路10とのインピーダン
ス整合は、室温で簡単に制御できる低温GaAsバラク
タダイオードを利用して行われる。
【0019】このような磁束計測装置において、各パラ
メータは、以下に説明するようにして選択される。
メータは、以下に説明するようにして選択される。
【0020】まず、φin=2πΦin/Φ0 が、次のよう
にフーリエ級数に展開されるものと仮定する。
にフーリエ級数に展開されるものと仮定する。
【0021】 φin=α0 +Σ(α2nC2n+β2nS2n) (3) 図1に示す各部の電流IL 、I1 、I2 、IC 、IR を
加え、Φ0 /2πIJ=LJ を利用すると、
加え、Φ0 /2πIJ=LJ を利用すると、
【数2】 が得られる。なお、LJ は、ジョセフソン接合11、1
2が有する固有インダクタンスである。
2が有する固有インダクタンスである。
【0022】|φin|が小さいと仮定すると、sinφ
inがほぼφin0 に等しくなる。また、フーリエ・ベッセ
ル関数式(1)およびフーリエ展開 Iin=I0 +I´ 2C2 +…… を利用して、2n>2について式(3)を切り捨てる
と、
inがほぼφin0 に等しくなる。また、フーリエ・ベッセ
ル関数式(1)およびフーリエ展開 Iin=I0 +I´ 2C2 +…… を利用して、2n>2について式(3)を切り捨てる
と、
【数3】 が得られる。ここで、各パラメータは、a=LJ /2L
+J0 、b=a−4ω2CLJ 、b+ =b+J4 、b-
=b−J4 、q=1/Q=2ωLJ /RJ =2ωΦ0 /
2πVJ0である。(5)式の解は、
+J0 、b=a−4ω2CLJ 、b+ =b+J4 、b-
=b−J4 、q=1/Q=2ωLJ /RJ =2ωΦ0 /
2πVJ0である。(5)式の解は、
【数4】 となり、M11=b+ b- +q2 、M33=ab+ −2J2
2 の時、
2 の時、
【数5】 ここで、(6)式を利用し、関連値をサフィックス
「s」および「n」で表すと、次のようなs/nの2乗
比が得られる。
「s」および「n」で表すと、次のようなs/nの2乗
比が得られる。
【0023】
【数6】 上記式(8β)は、下記条件を課すことによって最適
(最大)値
(最大)値
【数7】 をとることになる。
【0024】 M33=0、または、M33=O(q) (9) a2 >0、q2 >0、b- 2 <∞と仮定すると、((s
/n)α)2 は、最適値未満ということになる。従っ
て、この場合、S2 成分β2 を選択的に用いることによ
って、s/n比が改善される。C2 成分α2s 2 =(2J
2 b- I0s)2 は、下記条件を課すことによって、排除
することができる。
/n)α)2 は、最適値未満ということになる。従っ
て、この場合、S2 成分β2 を選択的に用いることによ
って、s/n比が改善される。C2 成分α2s 2 =(2J
2 b- I0s)2 は、下記条件を課すことによって、排除
することができる。
【0025】 b- =0、または、b- =O(q)2 (10) 条件(10)において、直流入力電流Is に関する場
合、直流エネルギーE0sは、次のように表される。
合、直流エネルギーE0sは、次のように表される。
【0026】
【数8】 最小直流入力信号が、(8.o)および
【数9】 によって定義されるものと仮定する。添字「m」の付い
た関連値をナイキスト式
た関連値をナイキスト式
【数10】 を利用して表し、次のように置く、
【数11】 ここで、ρ=a/2J2 であり、
【数12】 上記F(ρ)は、aに関する下記条件を課すことによっ
て、最小限に押さえることができる。
て、最小限に押さえることができる。
【0027】 ρ=a/2J2 =1 (13) 上記式(9)、(10)、(13)を満たすため、図2
のグラフに示す値zおよびJを利用し、回路パラメータ
を次のように置く。なお、図2のグラフにおいてzo =
3.611が最適値であり、この時、J2,o =J2 (z
o )=2J4,o=2J4 (zo )=0.4431、J
0,o =J0 (zo )=−0.3928である。
のグラフに示す値zおよびJを利用し、回路パラメータ
を次のように置く。なお、図2のグラフにおいてzo =
3.611が最適値であり、この時、J2,o =J2 (z
o )=2J4,o=2J4 (zo )=0.4431、J
0,o =J0 (zo )=−0.3928である。
【0028】
【数13】 以上説明したように、条件(9)、(10)、(13)
が満たされるように、図1の磁束計測装置における各パ
ラメータおよび動作周波数が決定される。典型的な値
は、IJ =25μA、RJ =40Ω、LJ =13pH、
C=150pF、L=5pH、ω=1.5GHzであ
る。また、Qの値は50になるように選択されている。
が満たされるように、図1の磁束計測装置における各パ
ラメータおよび動作周波数が決定される。典型的な値
は、IJ =25μA、RJ =40Ω、LJ =13pH、
C=150pF、L=5pH、ω=1.5GHzであ
る。また、Qの値は50になるように選択されている。
【0029】なお、前述したように、変調指数zの最適
値は約3.6であり、少なくともこの値から±50%程
度の範囲、即ち略2〜5の範囲に変調指数zの値を設定
することが好ましい。また、インダクタンスLの最適値
は、L=LJ /2.6であり、Lの値は、少なくともこ
の値から±50%程度の範囲、即ちLJ の略1乃至1/
5倍に設定することが好ましい。一方、キャパシタンス
Cは、角周波数ωの2倍の2ωに同調させる必要性か
ら、少なくともQ値(本実施例の場合50)に対して、
1/Q即ち本実施例の場合2%程度の精度で設定する必
要がある。本実施例では、半導体回路20に設けられた
低温GaAsバラクタダイオードにより、これを実現す
ることができる。
値は約3.6であり、少なくともこの値から±50%程
度の範囲、即ち略2〜5の範囲に変調指数zの値を設定
することが好ましい。また、インダクタンスLの最適値
は、L=LJ /2.6であり、Lの値は、少なくともこ
の値から±50%程度の範囲、即ちLJ の略1乃至1/
5倍に設定することが好ましい。一方、キャパシタンス
Cは、角周波数ωの2倍の2ωに同調させる必要性か
ら、少なくともQ値(本実施例の場合50)に対して、
1/Q即ち本実施例の場合2%程度の精度で設定する必
要がある。本実施例では、半導体回路20に設けられた
低温GaAsバラクタダイオードにより、これを実現す
ることができる。
【0030】こうして、回路を同調させ、条件(9)、
(10)、(13)を実際に満たすことができる。これ
は、後述するように、測定システムの安定性を維持する
のにも役立つ。
(10)、(13)を実際に満たすことができる。これ
は、後述するように、測定システムの安定性を維持する
のにも役立つ。
【0031】1次方程式(7)に示す分母Dは、パラメ
ータa、b、zのある値についてD=0となる場合があ
る。非線形回路理論およびシミュレーションによって、
D≦0の場合、磁力計がFF(フリップフロップ)にな
り、零直流入力IJ =0の場合でさえ、2次高調波の出
力が得られることが判明した。この場合、零直流オフセ
ットには、D>0が必要になる。
ータa、b、zのある値についてD=0となる場合があ
る。非線形回路理論およびシミュレーションによって、
D≦0の場合、磁力計がFF(フリップフロップ)にな
り、零直流入力IJ =0の場合でさえ、2次高調波の出
力が得られることが判明した。この場合、零直流オフセ
ットには、D>0が必要になる。
【0032】Dが正で、小さい値と仮定すると、D=1
/G>0、G>>1、したがって、磁力計は、利得がO
(G)の再生増幅器としての働きをするが、これについ
ては、2つのメカニズム、すなわち、負インダクタンス
直流増幅と、変調における4次高調波の項J4 Gに関す
るポンピングによる2次高調波の縮重寄生増幅とによっ
て説明することができる。利得がGが大きければ、パラ
メータのわずかな変動によって、望ましくないD≦0と
なる。
/G>0、G>>1、したがって、磁力計は、利得がO
(G)の再生増幅器としての働きをするが、これについ
ては、2つのメカニズム、すなわち、負インダクタンス
直流増幅と、変調における4次高調波の項J4 Gに関す
るポンピングによる2次高調波の縮重寄生増幅とによっ
て説明することができる。利得がGが大きければ、パラ
メータのわずかな変動によって、望ましくないD≦0と
なる。
【0033】次に、本質を強調するため、桁を簡略化し
た引き数を用いて、パラメータに関する安定性および許
容範囲について説明する。
た引き数を用いて、パラメータに関する安定性および許
容範囲について説明する。
【0034】ここで、典型的な値q=O(q)=0.0
2はかなり小さいので、a0 、b0、J20、J40を量O
(1)とみなすことにする。
2はかなり小さいので、a0 、b0、J20、J40を量O
(1)とみなすことにする。
【0035】まず、式(9)において、M33=σと考え
る。一般に、M33=O(1)があてはまり、式(8.
β)が、 ((s/n)β)2 =O(q2 ) (17.β) になる。M33=0、または、M33=O(q)の場合、式
(8.β)によって、((s/n)β)2 =O(1)が
得られる。従って、M33=O(q)によって、((s/
n)β)が、1/O(q2 )=O(Q2 )〜2500倍
と大幅に改善される。
る。一般に、M33=O(1)があてはまり、式(8.
β)が、 ((s/n)β)2 =O(q2 ) (17.β) になる。M33=0、または、M33=O(q)の場合、式
(8.β)によって、((s/n)β)2 =O(1)が
得られる。従って、M33=O(q)によって、((s/
n)β)が、1/O(q2 )=O(Q2 )〜2500倍
と大幅に改善される。
【0036】次に、b- =0とすると、M11=b- b+
+q2 、b+ =O(1)のため、M11=O(q2 )を保
つには、b- =O(q2 )が必要になる。
+q2 、b+ =O(1)のため、M11=O(q2 )を保
つには、b- =O(q2 )が必要になる。
【0037】分散δpに関して、式(13)を考える
と、F(p)=1+(δp)2 /2−(δp)3 /2+
……となるp=1+(δp)は、10%(+0.4d
B)未満の増大の場合、F(p)<1.1、−0.36
<δp<+0.56を必要とするが、これは、式
(9)、(10)の要件O(q)およびO(q2 )に比
べるとあまり厳しくない。
と、F(p)=1+(δp)2 /2−(δp)3 /2+
……となるp=1+(δp)は、10%(+0.4d
B)未満の増大の場合、F(p)<1.1、−0.36
<δp<+0.56を必要とするが、これは、式
(9)、(10)の要件O(q)およびO(q2 )に比
べるとあまり厳しくない。
【0038】次に分母について説明する。式(7)に、
b- =O(q2 )、M33=O(q)を代入すると、D=
a0 q2 +O(q3 )が得られるが、これは上述したD
=aq2 が、パラメータの変動に関して極めて安定して
いることを表している。M33=O(q)によって、Dの
安定性が大幅に改善されその上、((s/n)β)2が
最大となる。これは、所定の値に較べて、s/n比が向
上する結果と考えられる。
b- =O(q2 )、M33=O(q)を代入すると、D=
a0 q2 +O(q3 )が得られるが、これは上述したD
=aq2 が、パラメータの変動に関して極めて安定して
いることを表している。M33=O(q)によって、Dの
安定性が大幅に改善されその上、((s/n)β)2が
最大となる。これは、所定の値に較べて、s/n比が向
上する結果と考えられる。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
零磁束較正を行うことなく微弱な磁界の磁束の絶対値を
求めることが可能な、ノイズの少ない、安定性の高い磁
束計測装置を提供することができる。
零磁束較正を行うことなく微弱な磁界の磁束の絶対値を
求めることが可能な、ノイズの少ない、安定性の高い磁
束計測装置を提供することができる。
【図1】本発明の一実施例の磁束計測装置の構成を示す
図である。
図である。
【図2】ベッセル関数のグラフである。
10 重畳・分離回路 11,12 ジョセフソン接合 13 コイル 14 コンデンサ 15 抵抗 20 半導体回路 30 信号発生回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (73)特許権者 000004237 日本電気株式会社 東京都港区芝五丁目7番1号 (72)発明者 後藤 英一 神奈川県藤沢市辻堂東海岸3−9−305 (72)発明者 耿 ▲ちゅう▼全 埼玉県新座市北野3−14−6−101 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 33/035 ZAA H01L 39/22 ZAA
Claims (4)
- 【請求項1】 角周波数ω、変調指数zの変調磁束(Φ
0z/2π)cosωtを発生させる変調磁束発生手段
と、 固有インダクタンスLJを有する少なくとも1個のジョ
セフソン接合を具備するとともに、タンク回路を含み、
測定しようとする入力磁束と、前記変調磁束とを重畳し
て前記ジョセフソン接合に印加し、該ジョセフソン接合
に流れる電流の特定の偶数高調波成分を分離検出する検
出回路とを備え、 前記変調指数zが略2乃至5、前記検出回路のインダク
タンスLが前記固有インダクタンスLJの略1乃至1/
5、前記検出回路のキャパシタンスCが前記角周波数ω
の2倍の2ωに同調する値に設定されていることを特徴
とする磁束計測装置。 - 【請求項2】 前記検出回路は、プッシュプルモードで
動作するよう配列された偶数個のジョセフソン接合を備
えたことを特徴とする請求項1記載の磁束計測装置。 - 【請求項3】 前記キャパシタンスCを調節するための
バラクタダイオードを有する半導体回路を備えたことを
特徴とする請求項1記載の磁束計測装置。 - 【請求項4】 ガリウムヒ素電界効果トランジスタを用
いた増幅手段を有する半導体回路を備えたことを特徴と
する請求項1記載の磁束計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4209999A JP3014866B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | 磁束計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4209999A JP3014866B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | 磁束計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0659006A JPH0659006A (ja) | 1994-03-04 |
| JP3014866B2 true JP3014866B2 (ja) | 2000-02-28 |
Family
ID=16582180
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4209999A Expired - Fee Related JP3014866B2 (ja) | 1992-08-06 | 1992-08-06 | 磁束計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3014866B2 (ja) |
-
1992
- 1992-08-06 JP JP4209999A patent/JP3014866B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0659006A (ja) | 1994-03-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3723755A (en) | Parametric amplifier | |
| Claassen | Coupling considerations for SQUID devices | |
| US4851776A (en) | Weak field measuring magnetometer with flux modulated current conducting Josephson junction | |
| Drung | DC SQUID systems overview | |
| JP2662903B2 (ja) | 高感度磁場検出装置 | |
| O’Dwyer et al. | A feed-forward measurement scheme for periodic noise suppression in atomic magnetometry | |
| JP2002148322A (ja) | 超伝導量子干渉素子を用いた信号検出器およびその測定方法 | |
| JP3014866B2 (ja) | 磁束計測装置 | |
| US3252081A (en) | Optical magnetometer and gradiometer | |
| JPS6113644B2 (ja) | ||
| Heer et al. | Floating electrometer for scanning tunneling microscope applications in the femtoampere range | |
| JPH0943328A (ja) | 超電導磁気検出装置 | |
| Edwards | A simple superconducting chopper amplifier for use in magnetic fields | |
| Martinis et al. | Current noise measured in the dc SQUID | |
| US3378791A (en) | Oscillator with low distortion feedback gain control | |
| Wang et al. | A High-Frequency DC SQUID Magnetic Sensor Design | |
| JP2552250B2 (ja) | Squid磁束計 | |
| US5072140A (en) | Automatic gain control for interferometers and phase sensitive detectors | |
| JP2955356B2 (ja) | 多入力磁界検出装置 | |
| JP2613559B2 (ja) | Squid磁束計 | |
| Goovaerts et al. | Some design concepts for electrical impedance measurement | |
| JPH07294615A (ja) | Squid磁束計 | |
| Erne et al. | High-Precision DC-Current Source | |
| JPH07311250A (ja) | Squid磁束計 | |
| KR100198555B1 (ko) | 자장측정장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19991207 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |