JP3016328B2 - Measurement area correction device in measurement equipment - Google Patents
Measurement area correction device in measurement equipmentInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、計測装置における計測
領域補正装置に関し、特に計測領域を自動的にロット内
のワークのずれに追従させるようにしたものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measuring area correcting device in a measuring apparatus, and more particularly to a measuring area correcting apparatus which automatically follows a deviation of a work in a lot.
【0002】[0002]
【従来の技術】最近、レーザ光などを利用した非接触式
計測装置が普及し、いろいろな分野で使われている。図
4はたとえば自動車のパネル部品の形状を測定するパネ
ル計測装置の一例を示したものである。このパネル計測
装置1は、計測センサ2が取り付けられた計測装置本体
3と、計測センサ2を含めて計測装置本体3を制御する
計測コントローラ4と、計測センサ2の計測結果を統計
処理する計測データ統計処理装置5とから構成されてい
る。計測センサ2は、たとえば図5に示すように、レー
ザ光源6と検出器(受光素子など)7とを有し、ロボッ
トの手首部8に取り付けられている。この場合、計測セ
ンサ2のレーザ光源6から照射されたレーザ光は、パネ
ル部品9の表面で反射されて計測センサ2の検出器7に
受光されるようになっている。2. Description of the Related Art Recently, non-contact type measuring devices utilizing laser light or the like have become widespread, and are used in various fields. FIG. 4 shows an example of a panel measuring device for measuring the shape of a panel component of an automobile, for example. The panel measurement device 1 includes a measurement device main body 3 on which a measurement sensor 2 is attached, a measurement controller 4 for controlling the measurement device main body 3 including the measurement sensor 2, and measurement data for statistically processing a measurement result of the measurement sensor 2. And a statistical processing device 5. The measurement sensor 2 has, for example, a laser light source 6 and a detector (such as a light receiving element) 7 as shown in FIG. 5, and is attached to a wrist 8 of the robot. In this case, the laser light emitted from the laser light source 6 of the measurement sensor 2 is reflected on the surface of the panel component 9 and received by the detector 7 of the measurement sensor 2.
【0003】ところで、このパネル計測装置1の計測領
域Mはロボットに取り付けられた計測センサ2の可動範
囲、換言すればレーザ光の照射範囲によって決定される
が(図6(A)参照)、こうしたパネル計測等において
は、ロット内のワークのずれ量が大きくなり計測領域M
からある程度外れてしまうと計測できなくなってしま
う。たとえば、図6(A)に示すようにワークたるパネ
ル部品9が計測領域M内のP位置に存在すればその時の
計測点列データは図6(B)の上図のように取れるの
で、演算領域Eを設定して特徴点Tを算出することがで
きる。しかし、ワークが図6(A)中に点線で示すQ位
置またはR位置にずれたりするとそれらの計測点列デー
タは図6(B)の下図のように取れるので、計測領域M
内に演算領域Eが入らず、よって特徴点Tを算出するこ
とができなくなる。The measurement area M of the panel measurement device 1 is determined by the movable range of the measurement sensor 2 attached to the robot, in other words, by the irradiation range of the laser beam (see FIG. 6A). In panel measurement, etc., the displacement of the work in the lot becomes large and the measurement area M
If it deviates to some extent, it will not be possible to measure. For example, as shown in FIG. 6A, if the panel component 9 serving as a work exists at the position P in the measurement area M, the measurement point sequence data at that time can be obtained as shown in the upper diagram of FIG. The feature point T can be calculated by setting the area E. However, when the work shifts to the Q position or the R position indicated by a dotted line in FIG. 6A, the measurement point sequence data can be obtained as shown in the lower diagram of FIG.
Does not fall within the calculation region E, and therefore the feature point T cannot be calculated.
【0004】そこで、従来は、計測センサ2の位置と計
測領域Mを一定に維持したまま計測し、計測エラーにな
ると、ティーチングの時点で、計測センサ2の計測領域
Mを計測対象のずれ量中心付近に持っていったり、ある
いは、計測エラーが発生しないように計測領域を十分に
大きくとったりしていた。Therefore, conventionally, measurement is performed while maintaining the position of the measurement sensor 2 and the measurement area M constant, and when a measurement error occurs, the measurement area M of the measurement sensor 2 is shifted to the center of the deviation amount of the measurement target at the time of teaching. They were held nearby or the measurement area was made large enough so that measurement errors did not occur.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかし、前者の方法で
は、ずれ量を予測してティーチングを行うため、ばらつ
きが大きく予測以上のずれがあるワークについては、2
度、3度とティーチングをやり直さなければならなくな
ることがあり、ティーチングに手間がかかる。また、後
者の方法では、計測領域を大きくとるため、計測処理に
時間がかかり、また、大きなメモリ容量が必要となる。However, in the former method, teaching is performed by estimating the amount of displacement.
In some cases, teaching must be performed again and again, and it takes time to teach. In the latter method, a large measurement area is required, so that the measurement process takes a long time and a large memory capacity is required.
【0006】本発明は、このような従来技術の問題点に
鑑みてなされたものであり、計測領域を自動的にロット
内のワークのずれに追従させうる計測装置における計測
領域補正装置を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and provides a measuring area correcting apparatus in a measuring apparatus capable of automatically causing a measuring area to follow a shift of a work in a lot. The purpose is to:
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの本発明は、ロット内のワークを計測しその特徴点を
抽出する計測手段と、当該計測手段の抽出結果を記憶す
る記憶手段と、当該記憶手段の記憶データを統計処理し
てワークのずれ量の傾向を分析する統計処理手段と、当
該統計処理手段の分析結果に基づいて次のワークのずれ
量の予測値を算出する予測演算手段と、当該予測演算手
段の演算結果に基づいて計測領域を補正するデータを算
出する補正データ算出手段と、当該補正データ算出手段
の演算結果と教示データとに基づいて計測領域をワーク
のずれ量に追従させる補正教示データを算出する補正教
示データ算出手段とを有することを特徴とする。SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a measuring means for measuring a work in a lot and extracting characteristic points thereof, and a storage means for storing an extraction result of the measuring means. A statistical processing means for statistically processing data stored in the storage means to analyze a tendency of a deviation amount of a work, and a prediction operation for calculating a predicted value of a deviation amount of the next work based on an analysis result of the statistical processing means Means, correction data calculation means for calculating data for correcting the measurement area based on the calculation result of the prediction calculation means, and displacement of the work area based on the calculation result of the correction data calculation means and the teaching data. And a correction teaching data calculating means for calculating correction teaching data to be followed.
【0008】[0008]
【作用】本発明は、ロット内のワークのずれ量は一定の
傾向を持って変化するという特性に着目したものであ
る。上記のように構成した本発明にあっては、計測手段
はロット内のワークを計測しその特徴点を抽出する。こ
の抽出結果は記憶手段に記憶蓄積される。統計処理手段
は記憶手段の記憶データを統計処理して特徴点のずれ
量、つまりワークのずれ量の傾向を分析する。予測演算
手段はその分析結果に基づいて次のワークのずれ量の予
測値を算出し、補正データ算出手段は予測演算手段の演
算結果に基づいて計測領域を補正するデータを算出す
る。補正教示データ算出手段は補正データ算出手段の演
算結果と教示データとに基づいて計測領域をワークのず
れ量に追従させる補正教示データを算出する。そして、
この補正教示データに従って計測手段を制御する。これ
により、計測領域は自動的にロット内のワークのずれに
追従するようになり、ばらつきの大きいワークについて
も常に計測できるようになる。According to the present invention, attention is paid to the characteristic that the shift amount of a work in a lot changes with a certain tendency. In the present invention configured as described above, the measuring means measures the work in the lot and extracts the feature points. This extraction result is stored in the storage means. The statistical processing means statistically processes the data stored in the storage means to analyze the shift amount of the feature point, that is, the tendency of the work shift amount. The prediction calculation means calculates a predicted value of the deviation amount of the next work based on the analysis result, and the correction data calculation means calculates data for correcting the measurement area based on the calculation result of the prediction calculation means. The correction teaching data calculating means calculates correction teaching data for causing the measurement area to follow the shift amount of the workpiece based on the calculation result of the correction data calculating means and the teaching data. And
The measuring means is controlled according to the correction teaching data. As a result, the measurement area automatically follows the deviation of the work in the lot, and it is possible to always measure a work having a large variation.
【0009】[0009]
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図1は本発明の一実施例を示すブロック図、図
2はその動作フローチャート、図3はワークのずれ傾向
の一例を示す図である。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention, FIG. 2 is an operation flowchart thereof, and FIG. 3 is a diagram showing an example of a tendency of a workpiece shift.
【0010】図1に示す本装置は、たとえば自動車のパ
ネル部品の形状をレーザ光を利用して計測するものであ
って、パネル部品であるワークにレーザ光を照射して計
測を行う計測手段としての計測センサ10と、この計測
センサ10を保持するロボット11とを有し、計測セン
サ10は計測コントローラ12、ロボット11はロボッ
トコントローラ13によってそれぞれ制御されるように
なっている。計測センサ10は、従来のものと同様、レ
ーザ光源と検出器(受光素子など)を有しており、ロボ
ット11の手首部に機械的に取り付けられている(図5
参照)。計測領域はロボット11に保持されている計測
センサ10の可動範囲、換言すればレーザ光の照射範囲
によって決定される。計測センサ10の可動範囲はロボ
ット11に対する教示データによって任意に与えること
ができる。また、計測センサ10は、得られた計測点列
データから特徴点Tを抽出する機能を備えている(図6
(B)の上図参照)。計測センサ10、計測コントロー
ラ12、およびロボットコントローラ13はそれぞれ入
出力インタフェース14に接続されている。The apparatus shown in FIG. 1 is for measuring the shape of, for example, a panel component of an automobile by using a laser beam. , And a robot 11 holding the measurement sensor 10. The measurement sensor 10 is controlled by a measurement controller 12, and the robot 11 is controlled by a robot controller 13. The measurement sensor 10 has a laser light source and a detector (such as a light receiving element) as in the conventional sensor, and is mechanically attached to the wrist of the robot 11 (FIG. 5).
reference). The measurement area is determined by the movable range of the measurement sensor 10 held by the robot 11, in other words, by the irradiation range of the laser beam. The movable range of the measurement sensor 10 can be arbitrarily given by teaching data for the robot 11. The measurement sensor 10 has a function of extracting a feature point T from the obtained measurement point sequence data (FIG. 6).
(See (B) above). The measurement sensor 10, the measurement controller 12, and the robot controller 13 are connected to an input / output interface 14, respectively.
【0011】この入出力インタフェース14には、計測
センサ10の抽出結果を記憶蓄積する記憶手段としての
特徴点履歴データメモリ15が接続されている。この特
徴点履歴データメモリ15には、これと直列に、順に統
計処理手段としての統計処理部16、予測演算手段とし
ての予測演算部17、補正データ算出手段としての補正
データ算出部18、記憶媒体としての補正データメモリ
19、および補正教示データ算出手段としての補正教示
データ算出部20がそれぞれ接続されている。補正教示
データ算出部20は記憶媒体としての補正教示データメ
モリ21と教示データメモリ22に接続されており、補
正教示データメモリ21と教示データメモリ22はどち
らも入出力インタフェース14に接続されている。さら
に、この入出力インタフェース14には、この装置を操
作するための操作パネル23と、計測センサ10やロボ
ット11に対する教示データを設定するための教示パネ
ル24とが接続されている。The input / output interface 14 is connected to a feature point history data memory 15 as storage means for storing and extracting the results of the measurement sensor 10. The feature point history data memory 15 includes a statistical processing unit 16 as a statistical processing unit, a prediction operation unit 17 as a prediction operation unit, a correction data calculation unit 18 as a correction data calculation unit, and a storage medium. And a correction teaching data calculating unit 20 as correction teaching data calculating means. The correction teaching data calculation unit 20 is connected to a correction teaching data memory 21 and a teaching data memory 22 as storage media, and both the correction teaching data memory 21 and the teaching data memory 22 are connected to the input / output interface 14. Further, an operation panel 23 for operating the device and a teaching panel 24 for setting teaching data for the measurement sensor 10 and the robot 11 are connected to the input / output interface 14.
【0012】本発明は、ロット内のワークのずれ量がロ
ットごとに一定の傾向を持って変化するという特性に着
目したものであって、統計処理部16は、特徴点履歴デ
ータメモリ15に蓄積されている特徴点履歴データを統
計処理して、特徴点のずれ量(つまりワークのずれ量)
の傾向を分析する。たとえば図3に示すように、ロット
内のワーク列に対する特徴点のずれ量の変化をグラフ化
して、ワークのずれ量(またはばらつき)傾向を認識す
る。The present invention focuses on the characteristic that the shift amount of a work in a lot changes with a constant tendency for each lot. The statistical processing unit 16 stores the deviation amount in a feature point history data memory 15. Statistical processing of the feature point history data that has been performed, and the shift amount of the feature point (that is, the shift amount of the work)
Analyze trends. For example, as shown in FIG. 3, a change in the shift amount of the feature point with respect to the work row in the lot is graphed to recognize the shift amount (or variation) tendency of the work.
【0013】予測演算部17は、統計処理部16の分析
結果に基づいて次のワークの特徴点のずれ量の予測値を
算出する。具体的には、たとえば、図3に示すように演
算サンプル範囲Sを設定し、その範囲S内での微分した
変化率によって次の特徴点のずれ量の予測値Tp を求め
る。The prediction operation unit 17 calculates a predicted value of the shift amount of the feature point of the next work based on the analysis result of the statistical processing unit 16. Specifically, for example, as shown in FIG. 3, a calculation sample range S is set, and a predicted value Tp of the shift amount of the next feature point is obtained from a differentiated change rate within the range S.
【0014】補正データ算出部18は、その予測値Tp
に基づいて、ワークが計測領域内または計測領域内の所
定位置(たとえば中心付近)にくるように、あらかじめ
設定された教示データに基づく計測領域を補正するデー
タを算出する。この補正データは補正データメモリ19
に保存される。The correction data calculator 18 calculates the predicted value Tp
The data for correcting the measurement area based on the preset teaching data is calculated based on the teaching data so that the workpiece is located in the measurement area or at a predetermined position (for example, near the center) in the measurement area. This correction data is stored in the correction data memory 19.
Is stored in
【0015】補正教示データ算出部20は、前記補正デ
ータと前記教示データとに基づいて補正教示データを算
出する。この補正教示データは、ワークが計測領域内ま
たは計測領域内の所定位置(たとえば中心付近)にくる
ように計測領域をワークのずれ量に追従させる内容のも
のになっている。また、この補正教示データは補正教示
データメモリ21に保存される。The correction teaching data calculating section 20 calculates correction teaching data based on the correction data and the teaching data. The correction teaching data has a content that causes the measurement area to follow the shift amount of the work so that the work is located within the measurement area or at a predetermined position (for example, near the center) in the measurement area. The correction teaching data is stored in the correction teaching data memory 21.
【0016】次に、このように構成された本装置の動作
を、図2のフローチャートに従って説明する。本発明で
は、前述のようにロット内のワークのずれ量がロットご
とに一定の傾向を持って変化するという特性に着目し、
その特性を統計的に分析して計測領域を追従させるよう
にしている。Next, the operation of the above-configured apparatus will be described with reference to the flowchart of FIG. In the present invention, focusing on the characteristic that the deviation amount of the work in the lot changes with a constant tendency for each lot as described above,
The characteristic is statistically analyzed to follow the measurement area.
【0017】まず、オペレータはあらかじめ教示パネル
24によってロットごとに計測センサ10とロボット1
1に対する教示データを設定し、入出力インタフェース
14を介して教示データメモリ22に格納しておく。そ
の後、操作パネル23を通じてオペレータによって装置
が起動され、または、先のロットに対する計測作業がす
べて終了して次のロットに切り替わると、図示しない制
御部は、ロット内のワーク番号nを1にリセットするな
どの初期設定を実行する(S1)。First, the operator preliminarily operates the measuring panel 10 and the robot 1 for each lot using the teaching panel 24.
The teaching data for 1 is set and stored in the teaching data memory 22 via the input / output interface 14. Thereafter, when the apparatus is started by the operator through the operation panel 23, or when the measurement operation for the previous lot is completed and the next lot is switched to, the control unit (not shown) resets the work number n in the lot to 1. Initial settings such as are performed (S1).
【0018】それから、前記制御部は、今度計測すべき
ワークの番号nが1より大きいかどうかを判断し(S
2)、この判断の結果としてn=1であれば、つまりロ
ットの最初のワークの場合には、計測エラーが発生しな
いように計測領域を十分に大きくとって計測作業を行う
べく、計測コントローラ12とロボットコントローラ1
3を制御する(S3)。この時のデータはあらかじめ教
示データの一部として設定され、教示データメモリに記
憶されている。Then, the control section determines whether or not the number n of the workpiece to be measured next is greater than 1 (S
2) If n = 1 as a result of this determination, that is, in the case of the first work of the lot, the measurement controller 12 performs a measurement operation with a sufficiently large measurement area so that a measurement error does not occur. And robot controller 1
3 (S3). The data at this time is set in advance as a part of the teaching data and stored in the teaching data memory.
【0019】これに対し、ステップ2の判断の結果とし
てn>1であれば、前記制御部は、補正教示データメモ
リ21に格納されている補正教示データを実行教示デー
タとして計測コントローラ12とロボットコントローラ
13を制御し、その補正教示データによる計測領域で計
測作業を行わせる(S4)。On the other hand, if the result of the determination in step 2 is n> 1, the control unit uses the correction teaching data stored in the correction teaching data memory 21 as the execution teaching data and the measurement controller 12 and the robot controller. 13 to perform a measurement operation in a measurement area based on the correction teaching data (S4).
【0020】それから、ステップ3の場合であれステッ
プ4の場合であれ計測作業が終了すると、計測センサ1
0は、得られた計測点列データから特徴点Tを抽出し
(図6(B)の上図参照)、この抽出結果を入出力イン
タフェース14を介して特徴点履歴データメモリ15に
格納する(S5)。Then, when the measurement operation is completed in either step 3 or step 4, the measurement sensor 1
0 extracts the feature point T from the obtained measurement point sequence data (see the upper diagram in FIG. 6B), and stores the extraction result in the feature point history data memory 15 via the input / output interface 14 ( S5).
【0021】それから、統計処理部16は、特徴点履歴
データメモリ15に蓄積されている特徴点履歴データを
統計処理して、特徴点のずれ量(つまりワークのずれ
量)の傾向を分析し(図3参照)(S6)、予測演算部
17は、その統計処理部16の分析結果に基づいて次の
ワークの特徴点のずれ量の予測値Tp を算出する(S
7)。たとえば、前述したように、演算サンプル範囲S
を設定し、その範囲S内での微分した変化率によって次
の特徴点のずれ量の予測値Tp を求める(図3参照)。
それから、補正データ算出部18は、ステップ17で求
めた予測値Tp に基づいて、ワークが計測領域内または
計測領域内の所定位置にくるように、あらかじめ設定さ
れた教示データに基づく計測領域を補正するデータを算
出し、この補正データを補正データメモリ19に格納す
る(S8)。それから、補正教示データ算出部20は、
補正データメモリ19に記憶されている補正データと教
示データメモリ22に記憶されている教示データとに基
づいて、ワークが計測領域内または計測領域内の所定位
置にくるように計測領域をワークのずれ量に追従させる
内容の補正教示データを算出し、この補正教示データを
補正教示データメモリ21に格納する(S9)。上記の
ように(S4参照)この補正教示データを実行教示デー
タとして次のワークを計測する際の計測領域が決定され
るので、計測領域はワークのずれ量に追従したものとな
り、ワークは常に計測領域内または計測領域内の所定位
置(たとえば中心付近)で計測されるようになる。よっ
て、計測エラーの発生はない。Then, the statistical processing section 16 statistically processes the characteristic point history data stored in the characteristic point history data memory 15 to analyze the tendency of the deviation amount of the characteristic point (that is, the deviation amount of the work) ( (See FIG. 3) (S6), the prediction calculation unit 17 calculates a predicted value Tp of the shift amount of the feature point of the next work based on the analysis result of the statistical processing unit 16 (S6).
7). For example, as described above, the calculation sample range S
Is set, and the predicted value Tp of the deviation amount of the next feature point is obtained from the differentiated change rate within the range S (see FIG. 3).
Then, the correction data calculation unit 18 corrects the measurement area based on the preset teaching data based on the predicted value Tp obtained in step 17 so that the work is located in the measurement area or a predetermined position in the measurement area. The correction data is calculated, and the correction data is stored in the correction data memory 19 (S8). Then, the correction teaching data calculation unit 20
Based on the correction data stored in the correction data memory 19 and the teaching data stored in the teaching data memory 22, the measurement area is shifted so that the workpiece is located in the measurement area or a predetermined position in the measurement area. The correction teaching data having the content to follow the amount is calculated, and the correction teaching data is stored in the correction teaching data memory 21 (S9). As described above (refer to S4), the measurement area for measuring the next work is determined using the corrected teaching data as the execution teaching data, so that the measurement area follows the deviation amount of the work, and the work is always measured. The measurement is performed at a predetermined position (for example, near the center) in the area or the measurement area. Therefore, no measurement error occurs.
【0022】それから、前記制御部は、番号nを1だけ
インクリメントした後に(S10)、更新後の番号nが
N(ここで、Nはロット内のワークの総数)より大きい
かどうかを判断する(S11)。この判断の結果として
n>Nであれば、当該ロットに対する計測作業がすべて
終了したものと判断して、当該ルーチンを終了するが、
n≦Nであれば、ステップ2に戻って、次のワークに対
する計測作業を実行する。Then, after incrementing the number n by 1 (S10), the control unit judges whether the updated number n is larger than N (where N is the total number of works in the lot) (S10). S11). If n> N as a result of this determination, it is determined that all the measurement work for the lot has been completed, and the routine ends.
If n ≦ N, the process returns to step 2 to execute the measurement work for the next work.
【0023】したがって、本実施例によれば、パネル部
品の計測等において、ロット内のワークのずれ量がロッ
トごとに一定の傾向を持って変化していることに着目
し、計測センサ10による特徴点抽出結果の傾向分析か
ら次の特徴点のずれ量(つまり次のワークのずれ量)を
予測し、そのデータを教示データへフィードバックして
補正教示データを算出し、この補正教示データによって
計測コントローラ12とロボットコントローラ13を制
御し、もって計測領域を自動的にワークのずれに追従さ
せるようにしたので、ばらつきの大きいワークについて
も、常にワークが計測領域内(たとえばその中心付近)
にくるようになり、計測エラーの発生がなくなる。した
がって、計測領域をあらかじめ最適位置に決めておく必
要がなくなり、ティーチングが簡単になる。また、計測
領域をワークのずれに追従させるため、あらかじめ計測
領域を大きくとっておく必要がなくなり、したがって、
計測処理が高速化され、また、小さなメモリ容量で対応
できるようになる。Therefore, according to the present embodiment, in the measurement of panel parts, etc., attention is paid to the fact that the deviation amount of the work in the lot changes with a certain tendency for each lot, and the characteristic of the measurement sensor 10 is used. The deviation amount of the next feature point (that is, the deviation amount of the next work) is predicted from the trend analysis of the point extraction result, and the data is fed back to the teaching data to calculate the correction teaching data. 12 and the robot controller 13 are controlled so that the measurement area automatically follows the deviation of the work. Therefore, even for a work having a large variation, the work is always within the measurement area (for example, near the center).
And measurement errors are eliminated. Therefore, it is not necessary to determine the measurement area at an optimum position in advance, and teaching becomes easy. In addition, since the measurement area follows the deviation of the workpiece, it is not necessary to increase the measurement area in advance.
The measurement processing is speeded up, and can be performed with a small memory capacity.
【0024】[0024]
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、ロッ
ト内のワークを計測する際に計測領域をワークのずれに
追従させるようにしたので、ばらつきの大きいワークに
ついても計測領域を拡大することなく確実に計測できる
ようになり、ティーチングの簡単化、計測処理の高速
化、メモリ容量の縮小化が図られる。As described above, according to the present invention, when measuring a work in a lot, the measurement area is made to follow the deviation of the work, so that the measurement area is expanded even for a work having a large variation. Measurement can be performed without any trouble, teaching can be simplified, measurement processing can be speeded up, and memory capacity can be reduced.
【図1】本発明の一実施例を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
【図2】同実施例の動作フローチャートFIG. 2 is an operation flowchart of the embodiment.
【図3】ロット内のワークのずれ傾向の一例を示す図FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a tendency of a workpiece in a lot to shift;
【図4】非接触式パネル計測装置の概略構成図FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a non-contact type panel measurement device.
【図5】計測センサの部分を示す概略図FIG. 5 is a schematic diagram showing a part of a measurement sensor.
【図6】従来技術の説明に供する図FIG. 6 is a diagram for explanation of a conventional technique;
10…計測センサ 11…ロボット 12…計測コントローラ 13…ロボットコントローラ 15…特徴点履歴データメモリ(記憶手段) 16…統計処理部(統計処理手段) 17…予測演算部(予測演算手段) 18…補正データ算出部(補正データ算出手段) 20…補正教示データ算出部(補正教示データ算出手
段) 22…教示データメモリDESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Measurement sensor 11 ... Robot 12 ... Measurement controller 13 ... Robot controller 15 ... Feature point history data memory (storage means) 16 ... Statistical processing part (statistical processing means) 17 ... Prediction calculation part (prediction calculation means) 18 ... Correction data Calculation unit (correction data calculation unit) 20: correction teaching data calculation unit (correction teaching data calculation unit) 22: teaching data memory
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−297011(JP,A) 特開 昭63−288695(JP,A) 特開 昭63−261102(JP,A) 特開 昭63−44104(JP,A) 特開 昭62−54115(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/00 - 11/30 102 G01B 21/00 - 21/32 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-2-297011 (JP, A) JP-A-62-288695 (JP, A) JP-A-63-261102 (JP, A) JP-A-63-261102 44104 (JP, A) JP-A-62-54115 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01B 11/00-11/30 102 G01B 21/00-21/32
Claims (1)
抽出する計測手段と、 当該計測手段の抽出結果を記憶する記憶手段と、 当該記憶手段の記憶データを統計処理してワークのずれ
量の傾向を分析する統計処理手段と、 当該統計処理手段の分析結果に基づいて次のワークのず
れ量の予測値を算出する予測演算手段と、 当該予測演算手段の演算結果に基づいて計測領域を補正
するデータを算出する補正データ算出手段と、 当該補正データ算出手段の演算結果と教示データとに基
づいて計測領域をワークのずれ量に追従させる補正教示
データを算出する補正教示データ算出手段と、 を有することを特徴とする計測装置における計測領域補
正装置。1. A measuring means for measuring a work in a lot and extracting a characteristic point thereof, a storage means for storing an extraction result of the measuring means, and a shift amount of the work by statistically processing data stored in the storage means. Statistical processing means for analyzing the tendency of the following; predictive calculating means for calculating a predicted value of the deviation amount of the next workpiece based on the analysis result of the statistical processing means; and a measurement area based on the calculation result of the predictive calculating means. Correction data calculation means for calculating data to be corrected; correction teaching data calculation means for calculating correction teaching data for causing the measurement area to follow the deviation amount of the work based on the calculation result of the correction data calculation means and the teaching data; A measurement region correction device in a measurement device, comprising:
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Applications Claiming Priority (1)
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| JP5293678A JP3016328B2 (en) | 1993-11-24 | 1993-11-24 | Measurement area correction device in measurement equipment |
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