JP3019753B2 - Analog / digital converter - Google Patents
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、PCMオーディ
オ等の分野において使用されるデルタシグマ変調型のア
ナログ/デジタル変換器に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a delta-sigma modulation type analog / digital converter used in the field of PCM audio and the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】デルタシグマ変調型のA/D変換器の一
般的な構成を図14〜図16に例示する。まず、図14
に示すA/D変換器は、1次のデルタシグマ変調を行う
ことによりA/D変換を行うものであり、減算部1と、
積分部2と、量子化部3と、逆量子化部4とを有してい
る。この構成において、一定のサンプリング周期毎に、
積分部2の積分値を量子化部3によって量子化し1ビッ
トのデジタル信号を出力する処理と、この出力デジタル
信号と等価な帰還アナログ信号を逆量子化部4によって
発生し、入力アナログ信号からこの帰還アナログ信号を
減算した信号を積分部2によって積分する処理が逐次実
行される。かかる処理が繰り返される結果、入力アナロ
グ信号によってパルス密度変調された1ビットのデジタ
ル信号が得られる。図15および図16は3次のデルタ
シグマ変調を行うタイプのA/D変換器の例を示すもの
であり、図14に示すものと同様、減算部1、積分部
2、量子化部3および逆量子化部4を用いて構成されて
いる。なお、5は加算器である。2. Description of the Related Art A general structure of a delta-sigma modulation type A / D converter is illustrated in FIGS. First, FIG.
The A / D converter shown in (1) performs A / D conversion by performing first-order delta-sigma modulation.
It has an integration unit 2, a quantization unit 3, and an inverse quantization unit 4. In this configuration, every fixed sampling period,
A process of quantizing the integrated value of the integrator 2 by the quantizer 3 to output a 1-bit digital signal, a feedback analog signal equivalent to the output digital signal being generated by the inverse quantizer 4, and The process of integrating the signal obtained by subtracting the feedback analog signal by the integrator 2 is sequentially executed. As a result of repeating such processing, a 1-bit digital signal pulse-modulated by the input analog signal is obtained. FIGS. 15 and 16 show an example of an A / D converter of the type that performs third-order delta-sigma modulation. As in the case of FIG. 14, a subtraction unit 1, an integration unit 2, a quantization unit 3, It is configured using an inverse quantization unit 4. In addition, 5 is an adder.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところで、オーディオ
装置等において複数チャネルのアナログ信号のA/D変
換が必要とされる場合がある。かかる場合、上述したよ
うなA/D変換器をチャネル数分だけ並設し、各A/D
変換器により各チャネルに対応したA/D変換を行って
いた。このため、オディオ装置の信号処理系の回路が大
規模なものになってしまい、装置が高価になってしまう
という問題があった。また、このような複数チャネルの
A/D変換を行う回路をLSI(大規模集積回路)によ
って構成する場合には、チップ面積が大きくなってしま
うため、LSI自体が高価になってしまうという問題が
あった。In some cases, A / D conversion of analog signals of a plurality of channels is required in an audio device or the like. In such a case, the above-mentioned A / D converters are arranged in parallel by the number of channels, and each A / D converter is provided.
A / D conversion corresponding to each channel was performed by the converter. For this reason, there is a problem that the circuit of the signal processing system of the audio device becomes large-scale and the device becomes expensive. Further, in the case where such a circuit for performing A / D conversion of a plurality of channels is constituted by an LSI (large-scale integrated circuit), the chip area becomes large, so that the LSI itself becomes expensive. there were.
【0004】この発明は上述した事情に鑑みてなされた
ものであり、回路規模を大きくすることなく複数チャネ
ルのアナログ信号を処理可能なアナログ/デジタル変換
器を提供することを目的としている。The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide an analog / digital converter capable of processing a plurality of channels of analog signals without increasing the circuit scale.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
複数チャネルの入力アナログ信号を時分割制御によりデ
ジタル信号に順次変換するアナログ/デジタル変換器を
提供するものである。このアナログ/デジタル変換器
は、図1に示す構成を有するものであり、入力されるア
ナログ信号をキャパシタに蓄積することにより、各チャ
ネルに対応した積分処理を順次実行する積分手段11
と、前記各チャネルに対応した積分処理の結果を示す積
分値信号を各チャネル毎に記憶する複数の積分値記憶手
段12,12,…と、前記各チャネルに対応した積分処
理の結果を量子化することにより各チャネルに対応した
デジタル信号を順次出力する量子化手段13と、前記デ
ジタル信号を帰還アナログ信号に変換する逆量子化手段
14と、前記各チャネルの入力アナログ信号のデジタル
信号への変換を行うサンプリング周期毎に、前記各チャ
ネルについて、a.当該チャネルに対応した積分処理に
先立って前記積分手段のキャパシタに蓄積された積分処
理結果を初期化するスイッチ処理と、b.当該チャネル
に対応した前記積分値記憶手段に記憶された前サンプリ
ング周期における当該チャネルの積分値信号と、現サン
プリング周期における当該チャネルの入力アナログ信号
と、前記逆量子化手段から得られる当該チャネルの帰還
アナログ信号とを前記積分手段に供給するスイッチ処理
と、c.前記積分手段から得られる現サンプリング周期
における積分値信号を当該チャネルに対応した前記積分
値記憶手段に供給するスイッチ処理とを実行するスイッ
チ手段15とを具備するものである。The invention according to claim 1 is
An object of the present invention is to provide an analog / digital converter for sequentially converting input analog signals of a plurality of channels into digital signals by time division control. The analog / digital converter, which has the configuration shown in FIG. 1, A input
Integrating means 11 for sequentially executing an integration process corresponding to each channel by accumulating the analog signal in a capacitor
A plurality of integrated value storage means for storing, for each channel, an integrated value signal indicating the result of the integration process corresponding to each channel; and quantizing the result of the integration process corresponding to each channel. Quantization means 13 for sequentially outputting digital signals corresponding to the respective channels, inverse quantization means 14 for converting the digital signals into feedback analog signals, and digitalization of the input analog signals of the respective channels.
Each channel is converted into a signal at each sampling period.
Flannel, a. For integration processing corresponding to the channel
The integration processing previously stored in the capacitor of the integration means
Switch processing for initializing the processing result; b. The channel
The previous sampler stored in the integral value storage means corresponding to
Signal of the channel in the sampling cycle and the current sample
Input analog signal of the channel in the pulling cycle
And feedback of the channel obtained from the inverse quantization means.
Switch processing for supplying an analog signal to the integration means
And c. Current sampling period obtained from the integration means
The integral signal corresponding to the channel
And a switch unit 15 for executing a switch process to be supplied to the value storage unit .
【0006】このアナログ/デジタル変換器によれば、
時分割制御の下、積分手段11により各チャネルに対応
した積分処理が逐次実行される。ここで、複数チャネル
に対応した積分処理を順次実行する場合には、一のチャ
ネルに対応した積分処理が他のチャネルに対応した積分
処理によって中断されることとなる。しかしながら、本
発明においては、あるチャネルに対応した積分処理が中
断される際にその積分処理の結果を示す積分値信号が積
分値記憶手段12によって記憶され、当該チャネルに対
応した積分処理が再開される際にはその積分値信号が積
分手段11に供給されるため、当該チャネルに対応した
積分処理は中断が生じるにも拘わらず正常に実行される
のである。According to this analog / digital converter,
Under the time-sharing control, the integration means 11 sequentially executes the integration processing corresponding to each channel. Here, when the integration processes corresponding to a plurality of channels are sequentially executed, the integration process corresponding to one channel is interrupted by the integration process corresponding to another channel. However, in the present invention, when the integration process corresponding to a certain channel is interrupted, the integration value signal indicating the result of the integration process is stored by the integration value storage means 12, and the integration process corresponding to the channel is restarted. In this case, the integrated value signal is supplied to the integrating means 11, so that the integration process corresponding to the channel is normally executed despite the interruption.
【0007】請求項2に係る発明は、請求項1に係る発
明において、図2に示すように、各積分値記憶手段1
2,12,…に、積分値信号を記憶するためのキャパシ
タ12Cを少なくとも2個備えたものである。この構成
において、スイッチ手段15は、各チャネル毎に、当該
チャネルに対応した積分値信号を当該チャネルに対応し
た積分値記憶手段の一のキャパシタ12Cから前記積分
手段に供給する処理と、前記積分手段から得られる当該
チャネルに対応した積分値信号を当該チャネルに対応し
た積分値記憶手段の他の一のキャパシタ12Cに供給す
る処理とを同時に実行する。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, as shown in FIG.
Are provided with at least two capacitors 12C for storing the integrated signal. In this configuration, for each channel, the switch means 15 supplies the integration value signal corresponding to the channel to the integration means from one capacitor 12C of the integration value storage means corresponding to the channel; And supplying the integrated value signal corresponding to the channel to the other capacitor 12C corresponding to the channel.
【0008】本発明によれば、少ないタイムスロット数
で複数チャネルに対応したA/D変換をすることができ
るという利点がある。According to the present invention, there is an advantage that A / D conversion corresponding to a plurality of channels can be performed with a small number of time slots.
【0009】請求項3に係る発明は、請求項1に係る発
明において、図3に示すように、各チャネル毎に入力ア
ナログ信号をサンプリングする入力スイッチドキャパシ
タ手段16,16,…を有し、各入力スイッチドキャパ
シタ手段によって同一タイミングでサンプリングされた
入力アナログ信号を各チャネル毎に前記積分手段に順次
供給するようにしたものである。According to a third aspect of the present invention, in the first aspect, as shown in FIG. 3, there are provided input switched capacitor means 16, 16,... For sampling an input analog signal for each channel, An input analog signal sampled at the same timing by each input switched capacitor means is sequentially supplied to the integrating means for each channel.
【0010】本発明によれば、複数チャネルの入力アナ
ログ信号を同一タイミングでサンプリングしA/D変換
をすることができるという利点がある。According to the present invention, there is an advantage that input analog signals of a plurality of channels can be sampled at the same timing and A / D converted.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】以下、本発明を更に理解しやすく
するため、実施の形態について説明する。かかる実施の
形態は、本発明の一態様を示すものであり、この発明を
限定するものではなく、本発明の範囲で任意に変更可能
である。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments will be described to make the present invention easier to understand. Such an embodiment shows one aspect of the present invention, and does not limit the present invention, and can be arbitrarily changed within the scope of the present invention.
【0012】A.実施形態の構成 図4はこの発明の一実施形態であるデルタシグマ型A/
D変換器の構成を示すブロック図である。このA/D変
換器は、2チャネルの入力アナログ信号Ain1および
Ain2のA/D変換を並列実行するものである。これ
らの入力アナログ信号は平衡信号であり、第1チャネル
の入力アナログ信号Ain1は正相信号Ain1Pおよ
び逆相信号Ain1Nによって構成されており、第2チ
ャネルの入力アナログ信号Ain2は正相信号Ain2
Pおよび逆相信号Ain2Nによって構成されている。A. Configuration of Embodiment FIG. 4 shows a delta-sigma type A / according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of a D converter. This A / D converter performs A / D conversion of input analog signals Ain1 and Ain2 of two channels in parallel. These input analog signals are balanced signals, the input analog signal Ain1 of the first channel is composed of the positive phase signal Ain1P and the negative phase signal Ain1N, and the input analog signal Ain2 of the second channel is the positive phase signal Ain2.
P and the negative-phase signal Ain2N.
【0013】クロック回路80は、このA/D変換器内
の各部の動作タイミングを制御する手段であり、かかる
タイミング制御に必要なクロックa,b,d,ac,b
d,b1,d1,b2およびd2を出力する。これらの
クロックの波形を図5のタイミングチャートに示す。The clock circuit 80 is a means for controlling the operation timing of each unit in the A / D converter, and includes clocks a, b, d, ac, b necessary for such timing control.
d, b1, d1, b2 and d2 are output. The waveforms of these clocks are shown in the timing chart of FIG.
【0014】入力スイッチドキャパシタ部11〜14
は、各々入力アナログ信号のレベルに応じた電流を出力
する手段である。上述した各入力アナログ信号のうち第
1チャネルの正相信号Ain1Pは入力スイッチドキャ
パシタ部11へ、第2チャネルの正相信号Ain2Pは
入力スイッチドキャパシタ部12へ、第1チャネルの逆
相信号Ain1Nは入力スイッチドキャパシタ部13
へ、第2チャネルの逆相信号Ain2Nは入力スイッチ
ドキャパシタ部14へ各々供給される。また、入力スイ
ッチドキャパシタ部11および12から出力される各電
流は共通の信号線LP(以下、正相入力線LPとい
う。)に順次供給され、一方、入力スイッチドキャパシ
タ部13および14から出力される各電流も共通の信号
線LN(以下、逆相入力線LNという。)に順次供給さ
れる。Input switched capacitor units 11 to 14
Are means for outputting a current corresponding to the level of the input analog signal. Of the input analog signals described above, the positive-phase signal Ain1P of the first channel is supplied to the input switched capacitor unit 11, the positive-phase signal Ain2P of the second channel is supplied to the input switched capacitor unit 12, and the negative-phase signal Ain1N of the first channel. Is the input switched capacitor unit 13
The negative-phase signal Ain2N of the second channel is supplied to the input switched capacitor unit 14. The currents output from the input switched capacitor units 11 and 12 are sequentially supplied to a common signal line LP (hereinafter, referred to as a positive-phase input line LP), and output from the input switched capacitor units 13 and 14. The supplied currents are also sequentially supplied to a common signal line LN (hereinafter, referred to as a negative-phase input line LN).
【0015】各入力スイッチドキャパシタ部の構成につ
いて説明すると、まず、入力スイッチドキャパシタ部1
1は、キャパシタC1と4個のアナログスイッチS11
1〜S114を有している。The structure of each input switched capacitor unit will be described.
1 is a capacitor C1 and four analog switches S11
1 to S114.
【0016】ここで、アナログスイッチS111および
S113は、クロックaにより導通状態とされる。これ
らのアナログスイッチが導通状態となることにより、ア
ナログスイッチS111→キャパシタC1→アナログス
イッチS113→基準電源Vrefという信号経路が形
成され、この信号経路を介すことにより信号Ain1P
のレベルに応じた電荷がキャパシタC1に保持される。Here, the analog switches S111 and S113 are turned on by the clock a. When these analog switches are turned on, a signal path of analog switch S111 → capacitor C1 → analog switch S113 → reference power supply Vref is formed, and the signal Ain1P is passed through this signal path.
Is stored in the capacitor C1.
【0017】また、アナログスイッチS112およびS
114は、クロックbが出力されることにより導通状態
とされる。これらのアナログスイッチが導通状態とされ
ることにより、基準電源Vref→アナログスイッチS
112→キャパシタC1→アナログスイッチS114→
正相入力線LPという信号経路が形成され、この信号経
路を介すことにより、キャパシタC1に保持された電荷
が正相入力線LPに供給される。The analog switches S112 and S112
114 is rendered conductive by the output of the clock b. When these analog switches are turned on, the reference power supply Vref → analog switch S
112 → capacitor C1 → analog switch S114 →
A signal path called the positive-phase input line LP is formed, and the electric charge held in the capacitor C1 is supplied to the positive-phase input line LP through this signal path.
【0018】クロックaおよびbは、図5に示すよう
に、各々一定時間間隔で交互に出力される。このため、
アナログ信号Ain1Pのレベルに応じた電荷がキャパ
シタC1に保持される動作とこの電荷が正相入力線LP
に供給される動作が一定時間間隔で繰り返され、これに
よりアナログ信号Ain1Pのレベルに応じた電流が正
相入力線LPに出力されることとなる。The clocks a and b are alternately output at fixed time intervals, as shown in FIG. For this reason,
An operation in which a charge corresponding to the level of the analog signal Ain1P is held in the capacitor C1, and the charge is transferred to the positive-phase input line LP
Is repeated at regular time intervals, whereby a current corresponding to the level of the analog signal Ain1P is output to the positive-phase input line LP.
【0019】他の入力サンプルホールド回路12〜14
も、入力サンプルホールド回路11と同様な構成であ
り、入力アナログ信号のレベルに応じた電荷を保持する
キャパシタC11、C5およびC15を各々有してい
る。また、各入力サンプルホールド回路12〜14は、
入力アナログ信号をキャパシタに印加させる信号経路お
よびキャパシタに保持された電荷を正相入力線または逆
相入力線に出力させる信号経路を形成するための4個の
アナログスイッチを各々有している。ただし、入力サン
プルホールド回路12および14における後者の信号経
路を形成するための2個のアナログスイッチは、クロッ
クbではなくクロックdによって導通状態とされるよう
になっている。Other input sample hold circuits 12 to 14
Has the same configuration as that of the input sample and hold circuit 11, and has capacitors C11, C5, and C15 for holding electric charges corresponding to the level of the input analog signal. Also, each of the input sample hold circuits 12 to 14 is
It has four analog switches for forming a signal path for applying an input analog signal to a capacitor and a signal path for outputting a charge held in the capacitor to a positive-phase input line or a negative-phase input line. However, the two analog switches for forming the latter signal path in the input sample hold circuits 12 and 14 are made conductive by the clock d instead of the clock b.
【0020】積分部40は、差動増幅器41と、積分用
キャパシタC4およびC8と、初期化用アナログスイッ
チS401およびS402とにより構成されている。こ
こで、差動増幅器41の正転入力端IPは正相入力線L
Pに接続されており、反転入力端INは逆相入力線LN
に接続されている。積分用キャパシタC4およびC8
は、差動増幅器41の正転入力端IPと反転出力端ON
との間および反転入力端INと正転出力端OPとの間に
各々介挿されている。また、差動増幅器41の反転出力
端ONおよび正転出力端OPは各々信号線MPおよびM
N(以下、正相出力線MPおよび逆相出力線MNとい
う。)に接続されている。The integrator 40 comprises a differential amplifier 41, integrating capacitors C4 and C8, and analog switches S401 and S402 for initialization. Here, the non-inverting input terminal IP of the differential amplifier 41 is connected to the in-phase input line L
P, and the inverted input terminal IN is connected to the inverted phase input line LN.
It is connected to the. Integration capacitors C4 and C8
Indicates that the non-inverting input terminal IP and the inverting output terminal of the differential amplifier 41 are ON.
And between the inverting input terminal IN and the non-inverting output terminal OP. The inverted output terminal ON and the non-inverted output terminal OP of the differential amplifier 41 are connected to signal lines MP and M, respectively.
N (hereinafter, referred to as positive-phase output line MP and negative-phase output line MN).
【0021】以上の構成により、差動増幅器41の正転
入力端IPおよび反転入力端INの電位を基準電源Vr
efのレベルに維持した状態で両入力端から入力される
信号の積分が行われ、正相入力線LPを介して供給され
る全電荷が積分用キャパシタC4に蓄積され、逆相入力
線LNを介して供給される全電荷が積分用キャパシタC
8に蓄積される。この結果、積分値に相当する電圧が差
動増幅器41の反転出力端ONおよび正転出力端OP間
に出力される。この積分値に相当する出力電圧は、正相
出力線MPおよび逆相出力線MNにより、正相成分に相
当するものと逆相成分に相当するものに分離されて各部
に供給される。With the above configuration, the potentials at the non-inverting input terminal IP and the inverting input terminal IN of the differential amplifier 41 are set to the reference power source Vr
The signal input from both input terminals is integrated while maintaining the level at ef, and all charges supplied via the positive-phase input line LP are accumulated in the integrating capacitor C4, and the negative-phase input line LN is The total charge supplied through the capacitor C
8 is stored. As a result, a voltage corresponding to the integrated value is output between the inverted output terminal ON and the non-inverted output terminal OP of the differential amplifier 41. The output voltage corresponding to the integrated value is separated into a signal corresponding to the positive-phase component and a signal corresponding to the negative-phase component by the positive-phase output line MP and the negative-phase output line MN and supplied to each unit.
【0022】また、初期化用アナログスイッチS401
およびS402は積分用キャパシタC4およびC8に対
し各々並列接続されている。これらの初期化用アナログ
スイッチS401およびS402は、クロックacによ
って導通状態とされるものであり、積分用キャパシタC
4およびC8の両端を短絡し、積分値を0とする手段と
して使用される。The initialization analog switch S401
And S402 are connected in parallel to integrating capacitors C4 and C8, respectively. These initialization analog switches S401 and S402 are made conductive by the clock ac, and the integrating capacitor C
It is used as a means for short-circuiting both ends of C4 and C8 to make the integral value zero.
【0023】この積分部40は、時分割制御の下、第1
チャネルの入力アナログ信号Ain1(=Ain1P,
Ain1N)を対象とした積分処理と第2チャネルの入
力アナログ信号Ain2(=Ain2P,Ain2N)
を対象とした積分処理とを順次交互に実行するものであ
る。このような積分処理の時分割制御を可能にするた
め、本実施形態においては、以下の手段を講じている。The integrator 40 performs the first division under time-division control.
Channel input analog signal Ain1 (= Ain1P,
Ain1N) and the second channel input analog signal Ain2 (= Ain2P, Ain2N)
And the integration process for the target is sequentially and alternately executed. In order to enable such time-sharing control of the integration processing, the following measures are taken in the present embodiment.
【0024】a.第1チャネル(第2チャネル)に対応
した積分処理を中断する場合には、積分部40の積分値
を0に初期化し、第2チャネル(第1チャネル)に対応
した積分処理に積分部40を引き渡す。上述した初期化
アナログスイッチS401およびS402は、この役割
を果す手段である。A. When the integration process corresponding to the first channel (second channel) is interrupted, the integration value of the integration unit 40 is initialized to 0, and the integration unit 40 performs the integration process corresponding to the second channel (first channel). hand over. The above-described initialization analog switches S401 and S402 are means for fulfilling this role.
【0025】b.上記第1チャネル(第2チャネル)に
対応した積分処理の中断の際、その中断時点までに得ら
れた積分値を記憶しておく。そして、第1チャネル(第
2チャネル)に対応した積分処理を再開する際には、そ
の積分値を積分部40に与え、中断時点の状態から積分
処理を再開する。これを可能にするための手段が、図4
における第1積分値記憶部21〜24および第2積分値
記憶部31〜34である。B. When the integration processing corresponding to the first channel (second channel) is interrupted, the integrated value obtained up to the time of the interruption is stored. Then, when restarting the integration process corresponding to the first channel (second channel), the integration value is given to the integration unit 40, and the integration process is restarted from the state at the time of interruption. The means to make this possible is shown in FIG.
Are the first integrated value storage units 21 to 24 and the second integrated value storage units 31 to 34.
【0026】これらの積分値記憶部は、積分部40が行
う各チャネルに対応した積分処理毎に積分値を表す信号
を記憶する手段であり、第1積分値記憶部21および第
2積分値記憶部31は第1チャネルの積分値に対応した
正相の信号を、第1積分値記憶部22および第2積分値
記憶部32は第2チャネルの積分値に対応した正相の信
号を、第1積分値記憶部23および第2積分値記憶部3
3は第1チャネルの積分値に対応した逆相の信号を、第
1積分値記憶部24および第2積分値記憶部34は第2
チャネルの積分値に対応した逆相の信号を各々記憶す
る。These integrated value storage units are means for storing a signal representing an integrated value for each integration process corresponding to each channel performed by the integrating unit 40, and include a first integrated value storage unit 21 and a second integrated value storage unit. The unit 31 outputs a positive-phase signal corresponding to the integral value of the first channel, the first integral value storage unit 22 and the second integral value storage unit 32 outputs a positive-phase signal corresponding to the integral value of the second channel, First integral value storage unit 23 and second integral value storage unit 3
3 is a signal of the opposite phase corresponding to the integrated value of the first channel, and the first integrated value storage unit 24 and the second integrated value storage unit 34
Signals of opposite phases corresponding to the integral values of the channels are stored.
【0027】各積分値記憶部の構成について説明する
と、まず、第1積分値記憶部21は、上述した入力スイ
ッチドキャパシタ部と同様、キャパシタC2と4個のア
ナログスイッチS211〜S214によって構成されて
いる。ここで、アナログスイッチS211およびS21
3は、クロックb2が与えられることにより導通状態と
される。これらのアナログスイッチが導通状態となるこ
とにより、正相出力線MP→アナログスイッチS211
→キャパシタC2→アナログスイッチS213→基準電
源Vrefという信号経路が形成される。そして、この
信号経路を介すことにより、積分値を表す信号の正相成
分に相当する電荷がキャパシタC2に保持されることと
なる。また、アナログスイッチS212およびS214
は、クロックb1により導通状態とされる。これらのア
ナログスイッチが導通状態とされることにより、基準電
源Vref→アナログスイッチS212→キャパシタC
2→アナログスイッチS214→正相入力線LPという
信号経路が形成される。この信号経路を介すことによ
り、キャパシタC2に保持された電荷が極性の反転され
た状態で正相入力線LPに供給される。このように、ク
ロックb2が出力されることによって積分値のサンプリ
ングが行われ、クロックb1が出力されることにより当
該積分値と等価な電荷が極性の反転した状態で正相入力
線LPに供給されるのである。The structure of each integrated value storage unit will be described. First, the first integrated value storage unit 21 is composed of a capacitor C2 and four analog switches S211 to S214, like the above-described input switched capacitor unit. I have. Here, the analog switches S211 and S21
3 is made conductive by the application of the clock b2. When these analog switches are turned on, the positive-phase output line MP → analog switch S211
A signal path of → capacitor C2 → analog switch S213 → reference power supply Vref is formed. Then, through this signal path, a charge corresponding to the positive-phase component of the signal representing the integral value is held in the capacitor C2. Further, the analog switches S212 and S214
Are made conductive by the clock b1. By turning on these analog switches, the reference power supply Vref → analog switch S212 → capacitor C
A signal path of 2 → analog switch S214 → positive-phase input line LP is formed. Through this signal path, the charge held in the capacitor C2 is supplied to the positive-phase input line LP in a state where the polarity is inverted. As described above, the sampling of the integrated value is performed by the output of the clock b2, and the charge equivalent to the integrated value is supplied to the positive-phase input line LP in a state where the polarity is inverted by the output of the clock b1. Because
【0028】第2積分値記憶部31も、上記第1積分値
記憶部21と全く同様な構成であり、キャパシタC3と
4個のアナログスイッチS311〜S314を有してい
る。ただし、第2積分値記憶部31において積分値の正
相成分に相当する電圧をキャパシタC3に印加するため
の信号経路は、クロックb1によってアナログスイッチ
S311およびS313が導通状態とされることによっ
て形成される。また、キャパシタC3に保持された電荷
を正相入力線LPに供給するための信号経路は、クロッ
クb2によってアナログスイッチS312およびS31
4が導通状態とされることによって形成される。The second integral value storage section 31 has exactly the same configuration as the first integral value storage section 21 and has a capacitor C3 and four analog switches S311 to S314. However, a signal path for applying a voltage corresponding to the positive phase component of the integration value to the capacitor C3 in the second integration value storage unit 31 is formed by turning on the analog switches S311 and S313 by the clock b1. You. A signal path for supplying the electric charge held in the capacitor C3 to the positive-phase input line LP is provided by the analog switches S312 and S31 by the clock b2.
4 is formed by making it conductive.
【0029】このように第1積分値記憶部21と第2積
分値記憶部31とではクロックb1およびb2の果す役
割が入替わっている。このため、クロックb2が出力さ
れることにより、正相出力線MP上の電圧が第1積分値
記憶部21のキャパシタC2に印加されると同時に第2
積分値31のキャパシタC3に保持された電荷が正相入
力線LPへ供給される。また、クロックb1が出力され
ることにより、正相出力線MP上の電圧が第2積分値記
憶部31のキャパシタC3に印加されると同時に第1積
分値21のキャパシタC2に保持された電荷が正相入力
線LPへ供給されることとなる。As described above, the roles of the clocks b1 and b2 are exchanged between the first integrated value storage unit 21 and the second integrated value storage unit 31. Therefore, when the clock b2 is output, the voltage on the positive-phase output line MP is applied to the capacitor C2 of the first integrated value storage unit 21 and the second time.
The charge of the integral value 31 held in the capacitor C3 is supplied to the positive-phase input line LP. When the clock b1 is output, the voltage on the positive-phase output line MP is applied to the capacitor C3 of the second integrated value storage unit 31, and at the same time, the electric charge held in the capacitor C2 of the first integrated value 21 is changed. The signal is supplied to the positive-phase input line LP.
【0030】他の積分値記憶部も、これらの第1積分値
記憶部21および第2積分値記憶部31と全く同様であ
り、1個のキャパシタと4個のアナログスイッチとによ
り構成されている。各キャパシタの名称および各アナロ
グスイッチの導通制御を行うクロックの名称は図示の通
りである。The other integral value storage sections are exactly the same as the first integral value storage section 21 and the second integral value storage section 31, and are constituted by one capacitor and four analog switches. . The name of each capacitor and the name of the clock for controlling the conduction of each analog switch are as shown in the figure.
【0031】1ビットADC部50は、積分部40から
得られる積分値を量子化するための手段であり、2個の
キャパシタC18およびC19と、6個のアナログスイ
ッチS501〜S506と、比較器51により構成され
ている。The 1-bit ADC section 50 is means for quantizing the integrated value obtained from the integrating section 40, and includes two capacitors C18 and C19, six analog switches S501 to S506, a comparator 51 It consists of.
【0032】ここで、アナログスイッチS501、S5
03、S504およびS506は、クロックbdにより
導通状態とされる。これらのアナログスイッチが導通状
態となることにより、正相出力線MP→アナログスイッ
チS501→キャパシタC18→アナログスイッチS5
03→基準電源Vrefという信号経路と、逆相出力線
MN→アナログスイッチS504→キャパシタC19→
アナログスイッチS506→基準電源Vrefという信
号経路が形成される。そして、前者の信号経路を介すこ
とにより積分値の正相成分に相当する電圧がキャパシタ
C18に印加され、後者の信号経路を介すことにより積
分値の逆相成分に相当する電圧がキャパシタC19に印
加されることとなる。そして、クロックbdが立ち下が
り、アナログスイッチS501、S503、S504お
よびS506が開放状態となると、キャパシタC18お
よびC19は、その時点における印加電圧を保持する。Here, the analog switches S501, S5
03, S504 and S506 are made conductive by the clock bd. When these analog switches are turned on, the positive-phase output line MP → the analog switch S501 → the capacitor C18 → the analog switch S5
03 → the signal path of the reference power supply Vref and the negative-phase output line MN → the analog switch S504 → the capacitor C19 →
A signal path from the analog switch S506 to the reference power supply Vref is formed. The voltage corresponding to the positive phase component of the integral value is applied to the capacitor C18 through the former signal path, and the voltage corresponding to the negative phase component of the integral value is applied to the capacitor C19 through the latter signal path. To be applied. Then, when the clock bd falls and the analog switches S501, S503, S504, and S506 are opened, the capacitors C18 and C19 hold the applied voltage at that time.
【0033】また、アナログスイッチS502およびS
505は、クロックacがハイレベルとなることにより
導通状態とされる。これらのアナログスイッチが導通状
態とされる結果、基準電源Vref→アナログスイッチ
S502→キャパシタC18→比較器51の反転入力端
という信号経路と、基準電源Vref→アナログスイッ
チS504→キャパシタC19→比較器51の正転入力
端という信号経路とが形成される。そして、これらの信
号経路を介すことにより、キャパシタC18およびC1
9によって保持された各電圧が、各々極性が反転され、
比較器51の反転入力端および正転入力端に各々供給さ
れる。The analog switches S502 and S502
505 is turned on when the clock ac goes high. As a result of these analog switches being turned on, a signal path of reference power supply Vref → analog switch S502 → capacitor C18 → inverting input terminal of comparator 51 and reference power supply Vref → analog switch S504 → capacitor C19 → comparator 51 A signal path called a normal rotation input terminal is formed. Then, through these signal paths, the capacitors C18 and C1
9, the respective polarities are inverted,
It is supplied to the inverting input terminal and the non-inverting input terminal of the comparator 51, respectively.
【0034】比較器51は、通常の比較器とラッチとを
組合せて構成されたものであり、クロックacが与えら
れる毎に、その時点における反転入力端および正転入力
端の各入力電圧を比較し、その結果を1ビットのデジタ
ル信号OUTとして出力する。このデジタル信号OUT
は、帰還クロック生成部60および後続のデジタルフィ
ルタ(図示略)等に供給される。The comparator 51 is configured by combining a normal comparator and a latch. Each time the clock ac is applied, the comparator 51 compares each input voltage at the inverting input terminal and the non-inverting input terminal at that time. Then, the result is output as a 1-bit digital signal OUT. This digital signal OUT
Is supplied to the feedback clock generator 60 and a subsequent digital filter (not shown).
【0035】帰還クロック生成部60は、クロックac
に同期して比較器50の出力デジタル信号を取り込み、
このデジタル信号が“0”である場合にはクロックbd
と同期したタイミングでクロックHbdを出力し、
“1”である場合にはクロックbdと同期したタイミン
グでクロックLbdを出力する。The feedback clock generator 60 generates a clock ac
Captures the output digital signal of the comparator 50 in synchronization with
If this digital signal is "0", the clock bd
Outputs the clock Hbd at the timing synchronized with
If it is “1”, the clock Lbd is output at a timing synchronized with the clock bd.
【0036】1ビットDAC部70は、上記デジタル信
号OUTに対応した帰還アナログ信号を生成するための
手段であり、キャパシタC9およびC10と、アナログ
スイッチS701〜S710によって構成されている。
ここで、アナログスイッチS702、S703、S70
4およびS706は、クロックacにより導通状態とさ
れる。これらのアナログスイッチが導通状態とされる結
果、キャパシタC9の両端が基準電源Vrefに接続さ
れ、キャパシタC10は基準電源Vrefと接地線との
間に接続される。従って、クロックacが1回発生され
ることにより、キャパシタC9には0Vが、キャパシタ
C10には電圧Vrefが各々保持されることとなる。
また、アナログスイッチS701およびS705は、ク
ロックbdにより導通状態とされる。この結果、キャパ
シタC9の一端が接地され、同キャパシタC9の他端か
ら0Vが出力される。また、キャパシタC10の一端が
基準電源Vrefに接続されるため、同キャパシタC9
の他端から電圧2Vrefが出力される。The 1-bit DAC section 70 is a means for generating a feedback analog signal corresponding to the digital signal OUT, and includes capacitors C9 and C10 and analog switches S701 to S710.
Here, the analog switches S702, S703, S70
4 and S706 are made conductive by the clock ac. As a result of these analog switches being turned on, both ends of capacitor C9 are connected to reference power supply Vref, and capacitor C10 is connected between reference power supply Vref and the ground line. Therefore, once the clock ac is generated, the capacitor C9 holds 0 V and the capacitor C10 holds the voltage Vref.
The analog switches S701 and S705 are turned on by the clock bd. As a result, one end of the capacitor C9 is grounded, and 0 V is output from the other end of the capacitor C9. Further, since one end of the capacitor C10 is connected to the reference power supply Vref, the capacitor C9
Outputs a voltage of 2 Vref.
【0037】アナログスイッチS707〜S710は、
このようにして出力されたキャパシタC9およびC10
の各電圧をアナログ帰還信号として正相入力線LPおよ
び逆相入力線LNに供給する手段であり、各々帰還クロ
ック生成部60が発生するクロックHbdまたはLbd
によって導通状態とされる。まず、アナログスイッチS
707およびS710は、クロックHbdによって導通
状態とされる。これらのアナログスイッチが導通状態と
された場合、キャパシタC9の出力電圧(=0V)が正
相入力線LPへ、キャパシタC10の出力電圧(=2V
ref)が逆相入力線LNへ各々供給される。また、ア
ナログスイッチS708およびS709は、クロックL
bdによって導通状態とされる。これらのアナログスイ
ッチが導通状態とされた場合、キャパシタC9の出力電
圧(=0V)が逆相入力線LNへ、キャパシタC10の
出力電圧(=2Vref)が正相入力線LPへ各々供給
される。The analog switches S707 to S710 are
The capacitors C9 and C10 thus output
Are supplied to the positive-phase input line LP and the negative-phase input line LN as analog feedback signals, and the clock Hbd or Lbd generated by the feedback clock generation unit 60 is provided.
Is brought into a conductive state. First, the analog switch S
707 and S710 are turned on by the clock Hbd. When these analog switches are turned on, the output voltage of the capacitor C9 (= 0V) is applied to the positive-phase input line LP to output the voltage of the capacitor C10 (= 2V).
ref) are supplied to the negative-phase input lines LN, respectively. The analog switches S708 and S709 are connected to the clock L
The conductive state is established by bd. When these analog switches are turned on, the output voltage (= 0V) of capacitor C9 is supplied to negative-phase input line LN, and the output voltage (= 2Vref) of capacitor C10 is supplied to positive-phase input line LP.
【0038】B.実施形態の動作 次に図5のタイミングチャートに従って本実施形態の動
作を説明する。本実施形態においては、一定のサンプリ
ング周期TS毎に2チャネル分のアナログ信号をサンプ
リングし、各々デジタル信号に変換する。このA/D変
換のための一連の処理は、各サンプリング周期を4分割
した各タイムスロット単位で逐次進められる。各タイム
スロットにおいて行われる処理の内容に着目した場合、
連続した8個のタイムスロット、すなわち、サンプリン
グ周期に換算して2周期分の時間2TSを一単位として
同一の処理が繰り返される。そこで、以下では、連続し
た2個のサンプリング周期TSiおよびTSi+1からなる
期間を想定し、この期間を8分割した各タイムスロット
SL1〜SL8において行われる本実施形態の動作を順
次説明する。B. Operation of Embodiment Next, the operation of this embodiment will be described with reference to the timing chart of FIG. In the present embodiment, two channels of analog signals are sampled at every fixed sampling period TS, and each is converted into a digital signal. A series of processing for the A / D conversion is sequentially performed in units of time slots obtained by dividing each sampling period into four. Focusing on the content of processing performed in each time slot,
The same processing is repeated with eight consecutive time slots, that is, two periods of time 2TS converted into a sampling period as one unit. Therefore, in the following, a period consisting of two consecutive sampling periods TS i and TS i + 1 is assumed, and the operation of the present embodiment performed in each of the time slots SL1 to SL8 obtained by dividing this period into eight will be sequentially described. .
【0039】(1)タイムスロットSL1 サンプリング周期TSiのタイムスロットSL1におい
ては、クロックaおよびacのみが出力され、他のクロ
ックは出力されない。このため、クロックの出力によっ
て各アナログスイッチの状態は図6に示すものとなり、
各部では次の動作が行われる。[0039] (1) in the time slot SL1 of the time slots SL1 sampling period TS i, only the clock a and ac are outputted, the other clock is not output. For this reason, the state of each analog switch is as shown in FIG.
The following operations are performed in each unit.
【0040】入力スイッチドキャパシタ部11〜14
においては、入力アナログ信号Ain1P、Ain2
P、Ain1NおよびAin2Nのサンプリングが行わ
れ、各アナログ信号のレベルに応じた電荷がキャパシタ
C1、C11、C5およびC15に各々保持される。Input switched capacitor units 11 to 14
, The input analog signals Ain1P, Ain2
P, Ain1N, and Ain2N are sampled, and electric charges corresponding to the levels of the respective analog signals are held in the capacitors C1, C11, C5, and C15, respectively.
【0041】積分部40においてはキャパシタC4お
よびC8の各々の両端が初期化用アナログスイッチによ
って短絡され、積分部40の積分値は0となる。In the integration section 40, both ends of each of the capacitors C4 and C8 are short-circuited by the analog switch for initialization, and the integration value of the integration section 40 becomes zero.
【0042】1ビットADC部50においては、キャ
パシタC18およびC19の各々の保持電圧が比較器5
1の反転入力端および正転入力端に各々入力され、各入
力電圧の比較が行われる。これらの各キャパシタの保持
電圧は、サンプリング周期TSi-1において積分部40
から与えられたものであり、第2チャネルに対応した積
分値に相当するものである。そして、クロックacが出
力されることにより、上記比較の結果を表すデジタル信
号OUTが出力される。In 1-bit ADC section 50, the holding voltage of each of capacitors C18 and C19 is applied to comparator 5
1 are input to the inverting input terminal and the non-inverting input terminal, respectively, and each input voltage is compared. The holding voltage of each of these capacitors is determined by the integration unit 40 in the sampling period TS i-1 .
, And corresponds to the integral value corresponding to the second channel. When the clock ac is output, a digital signal OUT representing the result of the comparison is output.
【0043】ここで、サンプリング周期TSi-1におい
て積分部40から得られた第2チャネルの積分値が正で
あり、キャパシタC18に正の電圧、キャパシタC19
に負の電圧が保持されていた場合には、比較器51の反
転入力端に対する入力電圧が正転入力端に対する入力電
圧よりも低くなる。この結果、比較器51からデジタル
信号OUTとして“1”(ハイレベル)が出力される。
一方、1サンプリング周期前に積分部40から得られた
第1チャネルに対応した積分値が負である場合には、比
較器51の反転入力端に対する入力電圧が正転入力端に
対する入力電圧よりも高くなるため、デジタル信号OU
Tとして“0”(ローレベル)が出力される。このよう
にして比較器51から出力されたデジタル信号は、2タ
イムスロットだけ後のタイムスロットSL3において、
クロックacにより帰還クロック生成部60内に取り込
まれることとなる。Here, the integration value of the second channel obtained from the integration section 40 in the sampling period TS i-1 is positive, a positive voltage is applied to the capacitor C18, and the capacitor C19
When the negative voltage is held in the comparator 51, the input voltage to the inverting input terminal of the comparator 51 becomes lower than the input voltage to the non-inverting input terminal. As a result, “1” (high level) is output from the comparator 51 as the digital signal OUT.
On the other hand, if the integration value corresponding to the first channel obtained from the integration unit 40 one sampling cycle before is negative, the input voltage to the inverting input terminal of the comparator 51 is higher than the input voltage to the non-inverting input terminal. Digital signal OU
“0” (low level) is output as T. The digital signal output from the comparator 51 in this manner is transmitted in a time slot SL3 two time slots later.
The clock ac is taken into the feedback clock generator 60.
【0044】上記第2チャネルのデジタル信号が出力
する前は第1チャネルのデジタル信号が出力されるが、
この第1チャネルのデジタル信号は、タイムスロットS
L1においてクロックacにより帰還クロック生成部6
0内に取り込まれる。Before the digital signal of the second channel is output, the digital signal of the first channel is output.
This digital signal of the first channel is represented by a time slot S
In L1, the feedback clock generator 6 is operated by the clock ac.
It is taken in 0.
【0045】1ビットDAC部70においては、キャ
パシタC9により電圧0Vが保持され、キャパシタC1
0により電圧Vrefが保持される。In 1-bit DAC unit 70, a voltage of 0 V is held by capacitor C9, and
The voltage Vref is held by 0.
【0046】(2)タイムスロットSL2 このタイムスロットSL2においては、クロックb、b
dおよびb1のみが出力され、他のクロックは出力され
ない。このため、クロックの出力によって各アナログス
イッチの状態は図7に示すものとなり、各部では次の動
作が行われる。(2) Time slot SL2 In this time slot SL2, clocks b and b
Only d and b1 are output, and no other clocks are output. Therefore, the state of each analog switch is as shown in FIG. 7 by the output of the clock, and the following operations are performed in each unit.
【0047】第1チャネルに対応した入力スイッチド
キャパシタ部11および13においては、キャパシタC
1およびC5に保持された電荷が各々極性が反転された
状態で正相入力線LPおよび逆相入力線LNに各々供給
される。In input switched capacitor sections 11 and 13 corresponding to the first channel, capacitors C
The charges held at 1 and C5 are supplied to the positive-phase input line LP and the negative-phase input line LN, respectively, in a state where the polarities are inverted.
【0048】帰還クロック生成部60においては、ク
ロックbdに同期したタイミングでクロックHbdまた
はLbdのいずれかが出力される。いずれのクロックが
出力されるかはタイムスロットSL1において帰還クロ
ック生成部60内に取り込まれた第1チャネルに対応し
たデジタル信号OUTの値により決定されるものであ
り、OUT=“0”である場合にはクロックHbdが、
OUT=“1”である場合にはクロックLbdが出力さ
れる。The feedback clock generator 60 outputs one of the clocks Hbd and Lbd at a timing synchronized with the clock bd. Which clock is output is determined by the value of the digital signal OUT corresponding to the first channel captured in the feedback clock generator 60 in the time slot SL1, and when OUT = "0" Has a clock Hbd,
When OUT = "1", the clock Lbd is output.
【0049】1ビットDAC部70においては、キャ
パシタC9からアナログスイッチS707およびS70
9に対して電圧0Vが出力され、キャパシタC10から
アナログスイッチS708およびS710に対して電圧
2Vrefが出力される。そして、サンプリング周期T
Si-1において第1チャネルのデジタル信号OUTとし
て“0”が出力された場合には、このタイムスロットS
L2においてクロックHbdが出力される。従って、電
圧0VがアナログスイッチS707を介して正相入力線
LPに与えられ、電圧2VrefがアナログスイッチS
710を介して逆相入力線LNに与えられる。一方、サ
ンプリング周期TSi-1において第1チャネルのデジタ
ル信号として“1”が出力された場合にはクロックLb
dが出力される。従って、アナログスイッチS708お
よびS709が導通状態となり、正相入力線LPに対し
ては電圧2Vrefが、逆相入力線LNに対しては電圧
0Vが与えられることとなる。In 1-bit DAC unit 70, analog switches S707 and S70 are output from capacitor C9.
9, a voltage of 0 V is output, and a voltage of 2 Vref is output from the capacitor C10 to the analog switches S708 and S710. And the sampling period T
If “0” is output as the digital signal OUT of the first channel in S i−1 , the time slot S
The clock Hbd is output at L2. Therefore, the voltage 0V is applied to the positive-phase input line LP via the analog switch S707, and the voltage 2Vref is applied to the analog switch S707.
710 to the negative-phase input line LN. On the other hand, when “1” is output as the digital signal of the first channel in the sampling cycle TS i−1 , the clock Lb
d is output. Accordingly, the analog switches S708 and S709 are turned on, and a voltage of 2 Vref is applied to the positive-phase input line LP and a voltage of 0 V is applied to the negative-phase input line LN.
【0050】第1積分値記憶部21および23におい
ては、キャパシタC2およびC6に保持された電荷が正
相入力線LPおよび逆相入力線LNに供給される。これ
らの各キャパシタの保持電荷は、サンプリング周期TS
i-1において積分部40から与えられたものであり、第
1チャネルに対応した積分値に相当するものである。In the first integrated value storage units 21 and 23, the electric charges held in the capacitors C2 and C6 are supplied to the positive-phase input line LP and the negative-phase input line LN. The charge held by each of these capacitors is determined by the sampling period TS
The value i-1 is given from the integration unit 40, and corresponds to the integration value corresponding to the first channel.
【0051】積分部40においては、初期化用アナロ
グスイッチS401およびS402が開放状態とされる
ため、正相入力線LPおよび逆相入力線LNを介して供
給される上記、およびの各信号の積分が行われ
る。この結果、サンプリング周期TSi-1における第1
チャネルに対応した積分値とタイムスロットSL1にお
いて取り込んだ第1チャネルの入力アナログ信号とを加
算し、この加算結果から帰還アナログ信号を減算したも
のが今回のサンプリング周期TSiにおける第1チャネ
ルに対応した積分値として得られ、この積分値に相当す
る電圧が差動増幅器41から正相出力線MPおよび逆相
出力線MNに出力される。In the integrator 40, since the initialization analog switches S401 and S402 are open, the integration of the above-mentioned signals supplied through the positive-phase input line LP and the negative-phase input line LN is performed. Is performed. As a result, the first in the sampling cycle TS i- 1
Adds the input analog signal of the first channel taken in the integration value and the time slot SL1 corresponding to the channel, obtained by subtracting the feedback analog signal from the added result corresponding to the first channel in the current sampling period TS i A voltage corresponding to the integrated value is output from the differential amplifier 41 to the positive-phase output line MP and the negative-phase output line MN.
【0052】第2積分値記憶部31および33におい
ては、以上のようにして得られた第1チャネルに対応し
た積分値に相当する電圧を保持する動作が行われる。す
なわち、正相出力線MPからキャパシタC3を介して基
準電源Vrefに至る信号経路が形成されるため、この
信号経路を介すことにより積分値の正相成分に相当する
電荷がキャパシタC3に保持される。また、逆相出力線
MNからキャパシタC7を介して基準電源Vrefに至
る信号経路が形成されるため、この信号経路を介すこと
により積分値の逆相成分に相当する電荷がキャパシタC
7に保持されることとなる。In the second integrated value storage units 31 and 33, an operation of holding a voltage corresponding to the integrated value corresponding to the first channel obtained as described above is performed. That is, since a signal path from the positive-phase output line MP to the reference power supply Vref via the capacitor C3 is formed, the electric charge corresponding to the positive-phase component of the integrated value is held by the capacitor C3 via this signal path. You. Further, since a signal path from the negative-phase output line MN to the reference power supply Vref via the capacitor C7 is formed, electric charge corresponding to the negative-phase component of the integrated value is generated through the signal path.
7 will be held.
【0053】1ビットADC部50においては、正相
出力線MPからキャパシタC18を介して基準電源Vr
efに至る信号経路と、逆相出力線MNからキャパシタ
C19を介して基準電源Vrefに至る信号経路が形成
される。この結果、積分部40によって得られる積分値
の正相成分に相当する電圧がキャパシタC18に保持さ
れ、逆相成分に相当する電圧がキャパシタC19に保持
される。In the 1-bit ADC unit 50, the reference power supply Vr is supplied from the positive-phase output line MP via the capacitor C18.
A signal path extending from the negative-phase output line MN to the reference power supply Vref via the capacitor C19 is formed. As a result, a voltage corresponding to the positive-phase component of the integration value obtained by the integration section 40 is stored in the capacitor C18, and a voltage corresponding to the negative-phase component is stored in the capacitor C19.
【0054】(3)タイムスロットSL3 このタイムスロットSL3においては、クロックacの
みが出力され、他のクロックは出力されない。このた
め、クロックの出力によって各アナログスイッチの状態
は図8に示すものとなり、各部では次の動作が行われ
る。(3) Time Slot SL3 In this time slot SL3, only the clock ac is output, and no other clock is output. For this reason, the state of each analog switch is as shown in FIG. 8 by the output of the clock, and the following operations are performed in each unit.
【0055】1ビットADC部50においては、上述
したタイムスロットSL1と同様、キャパシタC18お
よびC19に保持された各電圧を比較器51の反転入力
端および正転入力端に供給する動作が行われる。この場
合、比較器51に対する各入力電圧は、上記タイムスロ
ットSL2において各キャパシタに保持された第1チャ
ネルの積分値に相当する各電圧の極性を反転させたもの
となる。従って、タイムスロットSL2において得られ
た第1チャネルの積分値が正である場合には、比較器5
1から1ビットのデジタル信号“1”(ハイレベル)が
出力され、負である場合にはデジタル信号“0”(ロー
レベル)が出力される。このようにして比較器51から
出力された第1チャネルのデジタル信号OUTは、タイ
ムスロットSL5において発生されるクロックacによ
り帰還クロック生成部60に取り込まれる。In the 1-bit ADC section 50, similarly to the above-described time slot SL1, the operation of supplying the respective voltages held in the capacitors C18 and C19 to the inverting input terminal and the non-inverting input terminal of the comparator 51 is performed. In this case, each input voltage to the comparator 51 is obtained by inverting the polarity of each voltage corresponding to the integrated value of the first channel held in each capacitor in the time slot SL2. Therefore, when the integral value of the first channel obtained in the time slot SL2 is positive, the comparator 5
A 1- to 1-bit digital signal "1" (high level) is output, and if negative, a digital signal "0" (low level) is output. The digital signal OUT of the first channel output from the comparator 51 in this manner is taken into the feedback clock generator 60 by the clock ac generated in the time slot SL5.
【0056】上記第1チャネルのデジタル信号が出力
される前に出力されていた第2チャネルのデジタル信号
は、クロックacによって帰還クロック生成部60内に
取り込まれる。The digital signal of the second channel, which was output before the digital signal of the first channel was output, is taken into the feedback clock generator 60 by the clock ac.
【0057】積分部40においては初期化用アナログ
スイッチS401およびS402が導通状態とされるた
め、積分値が0となる。In the integration section 40, the initialization analog switches S401 and S402 are turned on, so that the integration value becomes zero.
【0058】1ビットDAC部70においては、キャ
パシタC9の両端の電圧が0Vとされ、キャパシタC1
0の両端の電圧がVrefに設定される。 第2積分値記憶部31および33においては、すべて
のアナログスイッチが開放状態とされる。このため、キ
ャパシタC3およびC7は、タイムスロットSL2にお
いて与えられた電荷をそのまま維持することとなる。In the 1-bit DAC unit 70, the voltage across the capacitor C9 is set to 0 V, and
The voltage across zero is set to Vref. In the second integrated value storage units 31 and 33, all analog switches are opened. Therefore, the capacitors C3 and C7 maintain the charge given in the time slot SL2 as it is.
【0059】(4)タイムスロットSL4 このタイムスロットSL4においては、クロックd、b
dおよびd1のみが出力され、他のクロックは出力され
ない。このため、クロックの出力によって各アナログス
イッチの状態は図9に示すものとなり、各部では次の動
作が行われる。(4) Time slot SL4 In this time slot SL4, clocks d and b
Only d and d1 are output, and no other clocks are output. Therefore, the state of each analog switch is as shown in FIG. 9 by the output of the clock, and the following operations are performed in each unit.
【0060】第2チャネルに対応した入力スイッチド
キャパシタ部12および14においては、キャパシタC
11およびC15に保持された各電荷が各々極性が反転
された状態で正相入力線LPおよび逆相入力線LNに各
々供給される。In input switched capacitor sections 12 and 14 corresponding to the second channel, capacitors C
The charges held in C11 and C15 are supplied to the positive-phase input line LP and the negative-phase input line LN, respectively, with their polarities inverted.
【0061】帰還クロック生成部60においては、ク
ロックHbdまたはLbdのいずれかがクロックbdに
同期したタイミングで出力される。すなわち、直前のタ
イムスロットSL3において帰還クロック生成部60内
に取り込まれた第2チャネルに対応したデジタル信号が
“0”である場合にはクロックHbdが出力され、
“1”である場合にはクロックLbdが出力される。The feedback clock generator 60 outputs either the clock Hbd or Lbd at a timing synchronized with the clock bd. That is, when the digital signal corresponding to the second channel captured in the feedback clock generator 60 in the immediately preceding time slot SL3 is “0”, the clock Hbd is output,
When it is “1”, the clock Lbd is output.
【0062】1ビットDAC部70においては、上記
クロックHbdまたはLbdに基づき、第2チャネルの
デジタル信号に対応した帰還アナログ信号が発生され、
正相入力線LPおよび逆相入力線LNに与えられる。な
お、この動作の詳細は既にタイムスロットSL2におい
て説明した内容と同じであるので説明を省略する。The 1-bit DAC 70 generates a feedback analog signal corresponding to the digital signal of the second channel based on the clock Hbd or Lbd.
It is provided to the positive phase input line LP and the negative phase input line LN. Note that the details of this operation are the same as those already described for the time slot SL2, and a description thereof will be omitted.
【0063】第1積分値記憶部22および24におい
ては、キャパシタC12およびC16に保持された各電
荷が各々極性が反転された状態で正相入力線LPおよび
逆相入力線LNに供給される。これらの各キャパシタに
保持された電荷は、サンプリング周期TSi-1における
第2チャネルに対応した積分値に相当するものである。In the first integrated value storage sections 22 and 24, the electric charges held in the capacitors C12 and C16 are supplied to the positive-phase input line LP and the negative-phase input line LN, respectively, with their polarities inverted. The electric charge held in each of these capacitors corresponds to an integral value corresponding to the second channel in the sampling period TS i-1 .
【0064】積分部40においては、正相入力線LP
および逆相入力線LNを介して供給される各信号の積分
が行われる。この結果、サンプリング周期TSi-1にお
ける第2チャネルに対応した積分値と、タイムスロット
SL1において取り込んだ第2チャネルの入力アナログ
信号とを加算し、この加算結果から帰還アナログ信号を
減算したものがサンプリング周期TSiにおける第2チ
ャネルに対応した積分値として得られ、この積分値に相
当する電圧が差動増幅器41から正相出力線MPおよび
逆相出力線MNに出力される。In the integrator 40, the positive-phase input line LP
The integration of each signal supplied via the negative-phase input line LN is performed. As a result, the integrated value corresponding to the second channel in the sampling period TS i-1 is added to the input analog signal of the second channel captured in the time slot SL1, and the result obtained by subtracting the feedback analog signal from the addition result is obtained. obtained as an integral value corresponding to a second channel in the sampling period TS i, the voltage corresponding to the integrated value is output from the differential amplifier 41 to the positive-phase output lines MP and the negative phase output line MN.
【0065】第2積分値記憶部32および34におい
ては、以上のようにして得られた第2チャネルに対応し
た積分値に相当する電荷をキャパシタC13およびC1
7に保持する動作が行われる。In the second integrated value storage units 32 and 34, the electric charge corresponding to the integrated value corresponding to the second channel obtained as described above is stored in the capacitors C13 and C1.
7 is performed.
【0066】積分部40から1ビットADC部50に
対し、第2チャネルの積分値の正相成分に相当する電圧
および逆相成分に相当する電圧は供給される。これらの
各電圧は1ビットADC部50内のキャパシタC18お
よびC19に保持される。The voltage corresponding to the positive-phase component and the voltage corresponding to the negative-phase component of the integral value of the second channel are supplied from the integrator 40 to the 1-bit ADC 50. These voltages are held in capacitors C18 and C19 in 1-bit ADC unit 50.
【0067】(5)タイムスロットSL5 サンプリング周期TSi+1のタイムスロットSL5にお
いては、上述したタイムスロットSL1と同様、クロッ
クaおよびacのみが出力され、他のクロックは出力さ
れない。このため、クロックの出力によって各アナログ
スイッチの状態は図10に示すものとなり、各部では次
の動作が行われる。(5) Time slot SL5 In the time slot SL5 of the sampling period TS i + 1 , only the clocks a and ac are output and no other clocks are output, as in the time slot SL1 described above. Therefore, the state of each analog switch is as shown in FIG. 10 by the output of the clock, and the following operations are performed in each unit.
【0068】入力スイッチドキャパシタ部11〜14
においては、再び入力アナログ信号Ain1P、Ain
2P、Ain1NおよびAin2Nのサンプリングが行
われ、各アナログ信号のレベルに応じた電荷がキャパシ
タC1、C11、C5およびC15に各々保持される。Input switched capacitor sections 11 to 14
, The input analog signals Ain1P, Ain1
2P, Ain1N, and Ain2N are sampled, and charges corresponding to the levels of the respective analog signals are held in the capacitors C1, C11, C5, and C15, respectively.
【0069】積分部40においてはキャパシタC4お
よびC8の各々の両端が初期化用アナログスイッチによ
って短絡され、積分部40の積分値は0となる。In the integrating section 40, both ends of each of the capacitors C4 and C8 are short-circuited by the analog switch for initialization, and the integrated value of the integrating section 40 becomes zero.
【0070】1ビットADC部50においては、キャ
パシタC18およびC19に保持された各電圧が各々極
性が反転された状態で比較器51の反転入力端および正
転入力端に各々入力される。これらの各キャパシタに保
持された電圧は、サンプリング周期TSiのタイムスロ
ットSL4において積分部40から得られたものであ
り、第2チャネルに対応した積分値に相当する。そし
て、クロックacが出力されることにより、この比較の
結果を表す第2チャネルのデジタル信号OUTが比較器
51から出力される。In the 1-bit ADC section 50, the voltages held in the capacitors C18 and C19 are input to the inverting input terminal and the non-inverting input terminal of the comparator 51, respectively, with the polarities inverted. These voltage held in each capacitor has been obtained from the integrating portion 40 in the time slot SL4 of the sampling period TS i, which corresponds to the integral value corresponding to the second channel. Then, when the clock ac is output, the digital signal OUT of the second channel representing the result of the comparison is output from the comparator 51.
【0071】上記第2チャネルのデジタル信号が出力
される前に出力されていた第1チャネルのデジタル信号
は、クロックacにより帰還クロック生成部60内に取
り込まれる。The digital signal of the first channel, which was output before the digital signal of the second channel was output, is taken into the feedback clock generator 60 by the clock ac.
【0072】1ビットDAC部70においては、キャ
パシタC9により電圧0Vが保持され、キャパシタC1
0により電圧Vrefが保持される。In 1-bit DAC section 70, voltage 0V is held by capacitor C9, and capacitor C1
The voltage Vref is held by 0.
【0073】(6)タイムスロットSL6 このタイムスロットSL6においては、クロックb、b
dおよびb2のみが出力され、他のクロックは出力され
ない。このため、クロックの出力によって各アナログス
イッチの状態は図11に示すものとなり、各部では次の
動作が行われる。(6) Time Slot SL6 In this time slot SL6, clocks b and b
Only d and b2 are output, and no other clocks are output. Therefore, the state of each analog switch is as shown in FIG. 11 by the output of the clock, and the following operations are performed in each unit.
【0074】第1チャネルに対応した入力スイッチド
キャパシタ部11および13においては、キャパシタC
1およびC5に保持された各電荷が各々極性が反転され
た状態で出力され、正相入力線LPおよび逆相入力線L
Nに各々供給される。In input switched capacitor sections 11 and 13 corresponding to the first channel, capacitors C
1 and C5 are output with their polarities inverted, and the positive-phase input line LP and the negative-phase input line L
N.
【0075】帰還クロック生成部60においては、ク
ロックbdに同期したタイミングでクロックHbdまた
はLbdのいずれかが出力される。いずれのクロックが
出力されるかはタイムスロットSL5において取り込ま
れた第1チャネルに対応したデジタル信号OUTの値に
より決定されるものであり、OUT=“0”である場合
にはクロックHbdが、OUT=“1”である場合には
クロックLbdが出力される。The feedback clock generator 60 outputs one of the clocks Hbd and Lbd at a timing synchronized with the clock bd. Which clock is output is determined by the value of the digital signal OUT corresponding to the first channel captured in the time slot SL5. When OUT = "0", the clock Hbd is set to OUT If "1", the clock Lbd is output.
【0076】1ビットDAC部70においては、上記
クロックHbdまたはLbdに基づいて、サンプリング
周期TSiにおける第1チャネルのデジタル信号に対応
した帰還アナログ信号が発生され、正相入力線LPおよ
び逆相入力線LNに与えられる。[0076] In the 1-bit DAC portion 70, based on the clock Hbd or Lbd, a feedback analog signal corresponding to the digital signal of the first channel is generated in the sampling period TS i, the positive phase input line LP and the negative phase input Applied to line LN.
【0077】第2積分値記憶部31および33におい
ては、キャパシタC3およびC7に保持された電荷が各
々極性が反転されて正相入力線LPおよび逆相入力線L
Nに供給される。これらの各キャパシタに保持された電
荷は、サンプリング周期TSiにおいて積分部40から
与えられたものであり、サンプリング周期TSiにおけ
る第1チャネルに対応した積分値に相当するものであ
る。In the second integrated value storage units 31 and 33, the charges held in the capacitors C3 and C7 are inverted in polarity, respectively, so that the positive phase input line LP and the negative phase input line L
N. Electric charges held in each of these capacitors are those given from the integrating portion 40 in the sampling period TS i, which corresponds to the integral value corresponding to the first channel in the sampling period TS i.
【0078】積分部40においては、初期化用アナロ
グスイッチS401およびS402が開放状態とされる
ため、正相入力線LPおよび逆相入力線LNを介して供
給される上記各信号の積分が行われる。この結果、サン
プリング周期TSiにおける第1チャネルに対応した積
分値とタイムスロットSL5において取り込んだ第1チ
ャネルの入力アナログ信号とを加算し、この加算結果か
ら帰還アナログ信号を減算したものが今回のサンプリン
グ周期TSi+1における第1チャネルに対応した積分値
として得られ、この積分値に相当する電圧が差動増幅器
41から正相出力線MNおよび逆相出力線MNに出力さ
れる。In the integration section 40, since the initialization analog switches S401 and S402 are open, the signals supplied via the positive-phase input line LP and the negative-phase input line LN are integrated. . As a result, it adds the input analog signal of the first channel taken in the integration value and the time slot SL5 corresponding to the first channel in the sampling period TS i, obtained by subtracting the feedback analog signal from the added result is the current sampling An integrated value corresponding to the first channel in the cycle TS i + 1 is obtained, and a voltage corresponding to this integrated value is output from the differential amplifier 41 to the positive-phase output line MN and the negative-phase output line MN.
【0079】第1積分値記憶部21および23におい
ては、以上のようにして得られた第1チャネルに対応し
た積分値に相当する電圧を保持する動作が行われる。In the first integral value storage units 21 and 23, an operation of holding a voltage corresponding to the integral value corresponding to the first channel obtained as described above is performed.
【0080】1ビットADC部50においては、積分
部40によって得られる第1チャネルの積分値の正相成
分に相当する電圧がキャパシタC18に保持され、逆相
成分に相当する電圧がキャパシタC19に保持される。In 1-bit ADC section 50, the voltage corresponding to the positive phase component of the integrated value of the first channel obtained by integration section 40 is held in capacitor C18, and the voltage corresponding to the negative phase component is held in capacitor C19. Is done.
【0081】以上のようにタイムスロットSL6におけ
る処理内容は、サンプリング周期TSiのタイムスロッ
トSL2での処理内容と実質的に同じであり、第1積分
値記憶部21および23と第2積分値記憶部31および
33の果す役割が入れ替わっている点のみが相違してい
る。[0081] contents of processing in the time slot SL6 as described above, the sampling period TS i is a processing content and substantially the same in the time slot SL2, the first integration value storage unit 21 and a 23 second integration value storage The only difference is that the roles played by the parts 31 and 33 are interchanged.
【0082】(7)タイムスロットSL7 このタイムスロットSL7においては、上述したタイム
スロットSL3と同様、クロックacのみが出力され、
他のクロックは出力されない。このため、クロックの出
力によって各アナログスイッチの状態は図12に示すも
のとなり、各部では次の動作が行われる。(7) Time slot SL7 In this time slot SL7, only the clock ac is output, similarly to the time slot SL3 described above.
No other clock is output. Therefore, the state of each analog switch is as shown in FIG. 12 by the output of the clock, and the following operations are performed in each unit.
【0083】1ビットADC部50においては、キャ
パシタC18およびC19に保持された各電圧が各々極
性が反転されて比較器51の反転入力端および正転入力
端に入力され、これらの各入力電圧が比較される。これ
らの各キャパシタに保持された各電圧は、タイムスロッ
トSL6において積分部40から与えられたものであ
り、第1チャネルの積分値に相当する。そして、クロッ
クacが与えられることにより、上記比較の結果を表す
第1チャネルのデジタル信号が出力される。In the 1-bit ADC section 50, the voltages held in the capacitors C18 and C19 are inverted in polarity and input to the inverting input terminal and the non-inverting input terminal of the comparator 51. Be compared. Each voltage held in each of these capacitors is provided from the integrator 40 in the time slot SL6, and corresponds to an integrated value of the first channel. When the clock ac is supplied, a digital signal of the first channel representing the result of the comparison is output.
【0084】上記第1チャネルのデジタル信号が出力
される前に出力されていた第2チャネルのデジタル信号
は、クロックacによって帰還クロック生成部60内に
取り込まれる。The digital signal of the second channel output before the output of the digital signal of the first channel is taken into the feedback clock generator 60 by the clock ac.
【0085】積分部40においては初期化用アナログ
スイッチS401およびS402が導通状態とされるた
め、積分値が0となる。In the integrating section 40, since the analog switches for initialization S401 and S402 are turned on, the integrated value becomes zero.
【0086】1ビットDAC部70においては、キャ
パシタC9の両端の電圧が0Vとされ、キャパシタC1
0の両端の電圧がVrefに設定される。In the 1-bit DAC unit 70, the voltage across the capacitor C9 is set to 0 V,
The voltage across zero is set to Vref.
【0087】第1積分値記憶部21および23におい
ては、すべてのアナログスイッチが開放状態とされる。
このため、キャパシタC2およびC6は、タイムスロッ
トSL6において与えられた電荷をそのまま維持するこ
ととなる。In the first integrated value storage units 21 and 23, all analog switches are opened.
Therefore, the capacitors C2 and C6 maintain the charge given in the time slot SL6 as it is.
【0088】(8)タイムスロットSL8 このタイムスロットSL8においては、クロックd、b
dおよびd2のみが出力され、他のクロックは出力され
ない。このため、図13に示すように、クロックd、b
dまたはd2が与えられたアナログスイッチが導通状態
とされ、他のアナログスイッチは開放状態とされる。こ
の結果、各部では次の動作が行われる。(8) Time slot SL8 In this time slot SL8, clocks d and b
Only d and d2 are output, and no other clocks are output. For this reason, as shown in FIG.
The analog switch to which d or d2 is applied is made conductive, and the other analog switches are made open. As a result, the following operation is performed in each unit.
【0089】第2チャネルに対応した入力スイッチド
キャパシタ部12および14においては、キャパシタC
11およびC15に保持された各電荷が各々極性が反転
された状態で出力され、正相入力線LPおよび逆相入力
線LNに各々供給される。In input switched capacitor sections 12 and 14 corresponding to the second channel, capacitors C
The charges held in C11 and C15 are output with their polarities inverted, and supplied to the positive-phase input line LP and the negative-phase input line LN.
【0090】帰還クロック生成部60においては、ク
ロックHbdまたはLbdのいずれかがクロックbdに
同期したタイミングで出力される。すなわち、直前のタ
イムスロットSL7において帰還クロック生成部60内
に取り込まれた第2チャネルに対応したデジタル信号が
“0”である場合にはクロックHbdが出力され、
“1”である場合にはクロックLbdが出力される。In the feedback clock generator 60, either the clock Hbd or Lbd is output at a timing synchronized with the clock bd. That is, when the digital signal corresponding to the second channel captured in the feedback clock generation unit 60 in the immediately preceding time slot SL7 is “0”, the clock Hbd is output,
When it is “1”, the clock Lbd is output.
【0091】1ビットDAC部70においては、第2
チャネルのデジタル信号に対応した帰還アナログ信号が
発生され、正相入力線LPおよび逆相入力線LNに与え
られる。In the 1-bit DAC unit 70, the second
A feedback analog signal corresponding to the digital signal of the channel is generated and supplied to the positive-phase input line LP and the negative-phase input line LN.
【0092】第2積分値記憶部32および34におい
ては、キャパシタC13およびC17に保持された各電
荷が各々極性が反転された状態で正相入力線LPおよび
逆相入力線LNに供給される。これらの各キャパシタに
保持された電荷は、サンプリング周期TSiにおける第
2チャネルに対応した積分値に相当するものである。In the second integrated value storage units 32 and 34, the electric charges held in the capacitors C13 and C17 are supplied to the positive-phase input line LP and the negative-phase input line LN, respectively, with their polarities inverted. Electric charges held in each of these capacitors is equivalent to the integral value corresponding to a second channel in the sampling period TS i.
【0093】積分部40においては、初期化用アナロ
グスイッチS401およびS402が開放状態とされる
ため、正相入力線LPおよび逆相入力線LNを介して供
給される各信号の積分が行われる。この結果、サンプリ
ング周期TSiにおける第2チャネルに対応した積分値
と、タイムスロットSL5において取り込んだ第2チャ
ネルの入力アナログ信号とを加算し、この加算結果から
帰還アナログ信号を減算したものがサンプリング周期T
Si+1における第2チャネルに対応した積分値として得
られ、この積分値に相当する電圧が差動増幅器41から
正相出力線MPおよび逆相出力線MNに出力される。In the integration section 40, since the initialization analog switches S401 and S402 are open, the signals supplied via the positive-phase input line LP and the negative-phase input line LN are integrated. As a result, the integral value corresponding to a second channel in the sampling period TS i, adds the input analog signal of the second channel taken in the time slot SL5, the sampling period obtained by subtracting the feedback analog signal from the added result T
An integrated value corresponding to the second channel at S i + 1 is obtained, and a voltage corresponding to the integrated value is output from the differential amplifier 41 to the positive-phase output line MP and the negative-phase output line MN.
【0094】第1積分値記憶部22および24におい
ては、以上のようにして得られた第2チャネルに対応し
た積分値に相当する電荷をキャパシタC12およびC1
6に保持する動作が行われる。In the first integral value storage units 22 and 24, the electric charge corresponding to the integral value corresponding to the second channel obtained as described above is stored in the capacitors C12 and C1.
6 is performed.
【0095】積分部40から1ビットADC部50に
対し、第2チャネルの積分値の正相成分に相当する電圧
および逆相成分に相当する電圧は供給される。これらの
各電圧は1ビットADC部50内のキャパシタC18お
よびC19に保持される。サンプリング周期が切り換わ
り、再びタイムスロットSL1になると、この保持され
た電圧が比較器51に与えられ、第2チャネルのデジタ
ル信号が出力される訳である。The voltage corresponding to the positive-phase component and the voltage corresponding to the negative-phase component of the integral value of the second channel are supplied from the integrator 40 to the 1-bit ADC 50. These voltages are held in capacitors C18 and C19 in 1-bit ADC unit 50. When the sampling cycle is switched and the time slot SL1 is reached again, the held voltage is applied to the comparator 51, and the digital signal of the second channel is output.
【0096】このように、タイムスロットSL8におけ
る処理内容は、実質的にタイムスロットSL4での処理
内容と同じであり、第1積分値記憶部22および24と
第2積分値記憶部32および34の果す役割が入れ替わ
っているのみである。As described above, the processing content in the time slot SL8 is substantially the same as the processing content in the time slot SL4, and the first integrated value storage units 22 and 24 and the second integrated value storage units 32 and 34 Only the roles to be fulfilled have been interchanged.
【0097】以後、同様にタイムスロットSL1〜SL
8に対応した各処理が繰り返し実行され、第1チャネル
および第2チャネルの各入力アナログ信号のA/D変換
が進められる。Thereafter, similarly, time slots SL1 to SL
8 are repeatedly executed, and A / D conversion of each input analog signal of the first channel and the second channel is performed.
【0098】C.他の実施形態 本発明の実施形態には、以上説明したものの他、種々の
ものが考えられる。例えば次の通りである。C. Other Embodiments In addition to the above-described embodiments, various embodiments can be considered. For example:
【0099】(1)上記実施形態ではアナログ信号を平
衡信号とし、差動増幅器によって構成された積分部によ
りアナログ信号の積分を行うようにしたが、不平衡なア
ナログ信号を差動型でない通常の積分器で積分するよう
にしてもよい。(1) In the above embodiment, the analog signal is a balanced signal, and the integration of the analog signal is performed by the integrator constituted by the differential amplifier. You may make it integrate with an integrator.
【0100】(2)上記実施形態では第1チャネルおよ
び第2チャネルのアナログ信号を入力スイッチドキャパ
シタ部で同時にサンプリングするようにしたが、このサ
ンプリングタイミングをチャネル間でずらしてもよい。(2) In the above embodiment, the analog signals of the first and second channels are simultaneously sampled by the input switched capacitor unit. However, the sampling timing may be shifted between the channels.
【0101】(3)積分部が各々定められたタイムスロ
ットで第1チャネルに対応した積分処理および第2チャ
ネルに対応した積分処理をするように構成されていれば
よく、この動作が保証されている限り、第1チャネルお
よび第2チャネルのアナログ信号の入力形態は各種変更
可能である。(3) It is only necessary that the integrator is configured to perform the integration process corresponding to the first channel and the integration process corresponding to the second channel in the respective defined time slots, and this operation is guaranteed. As long as there is, the input forms of the analog signals of the first channel and the second channel can be variously changed.
【0102】(4)各チャネル毎に1個の積分値記憶部
のみを設け、この積分値記憶部の保持電荷を使用して積
分部による積分処理を終えた後、新たな積分値に相当す
る電荷を積分値記憶部に保持させるようにしてもよい。
積分処理を行うタイムスロットとは別に積分値に相当す
る電荷を保持するためのタイムスロットを設けなければ
ならないが、積分値記憶部の数を半減させることができ
るという利点がある。(4) Only one integrated value storage section is provided for each channel, and after the integration processing by the integration section is completed using the charge held in the integrated value storage section, the integrated value corresponds to a new integrated value. The charge may be held in the integrated value storage unit.
A time slot for holding the charge corresponding to the integral value must be provided separately from the time slot for performing the integration process, but there is an advantage that the number of integral value storage units can be reduced by half.
【0103】(5)上記実施形態では、2チャネルのア
ナログ信号を取り扱う例を示したが、これより多数のチ
ャネルのアナログ信号を取り扱う場合にはチャネル数に
対応した入力スイッチドキャパシタ部および積分値記憶
部を設け、タイムスロットも各チャネルの処理に必要な
だけ設ければよい。(5) In the above-described embodiment, an example in which analog signals of two channels are handled has been described. However, when analog signals of a greater number of channels are handled, an input switched capacitor unit and an integrated value corresponding to the number of channels are used. A storage unit may be provided, and time slots may be provided as needed for processing of each channel.
【0104】(6)上記実施形態では、外部から供給さ
れる2チャネルのアナログ信号を取り扱う例を示した
が、A/D変換器の内部で発生するアナログ信号を入力
スイッチドキャパシタ部を介して入力するようにしても
よい。例えば積分部40によって正相出力線MPおよび
逆相出力線MNに出力されたアナログ信号を入力スイッ
チドキャパシタ部を介して再入力するように構成し、入
力アナログ信号の積分を2回行い、2次のデルタシグマ
変調を行うようにしてもよい。3次以上のデルタシグマ
変調を行う場合も同様である。(6) In the above embodiment, an example in which two-channel analog signals supplied from the outside are handled has been described. However, an analog signal generated inside the A / D converter is input via the input switched capacitor unit. You may make it input. For example, the analog signal output to the positive-phase output line MP and the negative-phase output line MN by the integrator 40 is configured to be re-input via the input switched capacitor unit, and the input analog signal is integrated twice. The following delta-sigma modulation may be performed. The same applies to the case where third-order or higher delta-sigma modulation is performed.
【0105】[0105]
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、時分割制御の下、複数チャネルに対応した積分処理
を1個の積分手段によって順次実行することができるの
で、小規模な回路構成で、複数チャネルを処理可能なA
/D変換器を実現することができるという効果がある。As described above, according to the present invention, the integration processing corresponding to a plurality of channels can be sequentially executed by one integration means under the time division control. A that can process multiple channels
There is an effect that a / D converter can be realized.
【図1】 請求項1に係る発明の構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of the invention according to claim 1;
【図2】 請求項2に係る発明の構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a configuration of the invention according to claim 2;
【図3】 請求項3に係る発明の構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a configuration of the invention according to claim 3;
【図4】 この発明の一実施形態であるA/D変換器の
構成を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram illustrating a configuration of an A / D converter according to an embodiment of the present invention.
【図5】 同実施形態の動作を示すタイミングチャート
である。FIG. 5 is a timing chart showing the operation of the embodiment.
【図6】 同実施例の動作状態を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an operation state of the embodiment.
【図7】 同実施例の動作状態を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing an operation state of the embodiment.
【図8】 同実施例の動作状態を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an operation state of the embodiment.
【図9】 同実施例の動作状態を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing an operation state of the embodiment.
【図10】 同実施例の動作状態を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an operation state of the embodiment.
【図11】 同実施例の動作状態を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing an operation state of the embodiment.
【図12】 同実施例の動作状態を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing an operation state of the embodiment.
【図13】 同実施例の動作状態を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing an operation state of the embodiment.
【図14】 従来のデルタシグマ変調型A/D変換器の
構成を示すブロック図である。FIG. 14 is a block diagram showing a configuration of a conventional delta-sigma modulation A / D converter.
【図15】 従来のデルタシグマ変調型A/D変換器の
構成を示すブロック図である。FIG. 15 is a block diagram showing a configuration of a conventional delta-sigma modulation type A / D converter.
【図16】 従来のデルタシグマ変調型A/D変換器の
構成を示すブロック図である。FIG. 16 is a block diagram showing a configuration of a conventional delta-sigma modulation type A / D converter.
11……積分手段、12,12,〜……積分値記憶手
段、13……量子化手段、14……逆量子化手段、15
……スイッチ手段。11 integration means, 12, 12, ... integration value storage means, 13 quantization means, 14 inverse quantization means, 15
...... Switch means.
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−13906(JP,A) 特開 昭49−79452(JP,A) 特開 平6−209266(JP,A) 特開 平3−60527(JP,A) 「オーバーサンプリングA−D変換技 術」、湯川著、1990.12日経BP社発行 p52 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03M 3/02 Continuation of the front page (56) References JP-A-6-13906 (JP, A) JP-A-49-79452 (JP, A) JP-A-6-209266 (JP, A) JP-A-3-60527 (JP) , A) “Oversampling A / D conversion technology”, Yukawa, 1990.12, published by Nikkei BP p. 52 (58) Fields studied (Int. Cl. 7 , DB name) H03M 3/02
Claims (5)
割制御によりデジタル信号に順次変換するアナログ/デ
ジタル変換器であって、入力されるアナログ信号をキャパシタに蓄積することに
より、 各チャネルに対応した積分処理を順次実行する積
分手段と、 前記各チャネルに対応した積分処理の結果を示す積分値
信号を各チャネル毎に記憶する複数の積分値記憶手段
と、 前記各チャネルに対応した積分処理の結果を量子化する
ことにより各チャネルに対応したデジタル信号を順次出
力する量子化手段と、 前記デジタル信号を帰還アナログ信号に変換する逆量子
化手段と、前記各チャネルの入力アナログ信号のデジタル信号への
変換を行うサンプリング周期毎に、前記各チャネルにつ
いて、 a.当該チャネルに対応した積分処理に先立って前記積
分手段のキャパシタに蓄積された積分処理結果を初期化
するスイッチ処理と、 b.当該チャネルに対応した前記積分値記憶手段に記憶
された前サンプリング周期における当該チャネルの積分
値信号と、現サンプリング周期における当該チャネルの
入力アナログ信号と、前記逆量子化手段から得られる当
該チャネルの帰還アナログ信号とを前記積分手段に供給
するスイッチ処理と、 c.前記積分手段から得られる現サンプリング周期にお
ける積分値信号を当該チャネルに対応した前記積分値記
憶手段に供給するスイッチ処理と を実行する スイッチ手
段とを具備することを特徴とするアナログ/デジタル変
換器。1. An analog / digital converter for sequentially converting input analog signals of a plurality of channels into digital signals by time division control, wherein the input analog signals are stored in a capacitor.
More, an integrating means for sequentially executing the integration process corresponding to each channel, and a plurality of integral value storage means for storing the integrated value signal indicative of the result of the integration process corresponding to each channel for each channel, each channel Quantizing means for sequentially outputting digital signals corresponding to the respective channels by quantizing the result of the integration processing corresponding to the following; dequantizing means for converting the digital signals into feedback analog signals; and an input for each of the channels. Analog signal to digital signal
For each sampling cycle for conversion,
And a. Prior to the integration process corresponding to the channel,
Initialize the integration processing result stored in the capacitor of the dividing means
Switch processing, and b. Stored in the integrated value storage means corresponding to the channel
Of the channel in the previous sampling period
Value signal and the current channel
An input analog signal and a signal obtained from the inverse quantization means.
Supplying the feedback analog signal of the channel to the integration means
Switch processing to perform c. In the current sampling period obtained from the integrating means,
The integrated signal corresponding to the channel.
And a switch unit for executing a switch process for supplying to the storage unit .
記憶するためのキャパシタを少なくとも2個有し、 前記スイッチ手段は、各チャネル毎に、当該チャネルに
対応した積分値信号を当該チャネルに対応した積分値記
憶手段の一のキャパシタから前記積分手段に供給する処
理と、前記積分手段から得られる当該チャネルに対応し
た積分値信号を当該チャネルに対応した積分値記憶手段
の他の一のキャパシタに供給する処理とを同時に実行す
ることを特徴とする請求項1記載のアナログ/デジタル
変換器。2. The integrated value storage means has at least two capacitors for storing the integrated value signal, and the switch means stores, for each channel, an integrated value signal corresponding to the channel in the channel. A process of supplying from the one capacitor of the corresponding integration value storage means to the integration means, and a processing of supplying the integration value signal corresponding to the channel obtained from the integration means to the other capacitor of the integration value storage means corresponding to the channel; 2. The analog-to-digital converter according to claim 1, wherein the processing for supplying to the analog / digital converter is performed simultaneously.
サンプリングする入力スイッチドキャパシタ手段を有
し、各入力スイッチドキャパシタ手段によって同一タイ
ミングでサンプリングされた入力アナログ信号を各チャ
ネル毎に前記積分手段に順次供給するようにしたことを
特徴とする請求項1記載のアナログ/デジタル変換器。3. An input switched capacitor means for sampling an input analog signal for each channel, wherein the input analog signal sampled at the same timing by each input switched capacitor means is supplied to the integration means for each channel. 2. The analog / digital converter according to claim 1, wherein the analog / digital converter is supplied sequentially.
ログ信号を時分割制御によりデジタル信号に順次変換す
る請求項1に記載のデジタル/アナログ変換器であっ
て、 前記第1および第2のチャネルの各入力アナログ信号を
保持する入力スイッチドキャパシタ手段を有し、 前記量子化手段および前記逆量子化手段は、各々に対す
る入力信号を保持する手段を有し、 前記入力スイッチドキャパシタ手段、前記スイッチ手
段、前記量子化手段および前記逆量子化手段は、前記第
1および第2のチャネルの各入力アナログ信号のデジタ
ル信号への変換を行うサンプリング周期を4分割した第
1〜第4のタイムスロットに同期して動作するものであ
り、 a.第1のタイムスロットにおいて、 前記入力スイッチドキャパシタ手段は、第1および第
2のチャネルの各入力アナログ信号を保持し、 前記スイッチ手段は、前記積分手段のキャパシタに蓄
積された積分処理結果を初期化し、 前記量子化手段は、その時点において保持している前
サンプリング周期の第2チャネルの積分値を量子化して
第2チャネルのデジタル信号を出力し、 前記逆量子化手段は、その時点までに前記量子化手段
から出力されていた前サンプリング周期における第1チ
ャネルのデジタル信号を保持し、 b.第2のタイムスロットにおいて、 前記逆量子化手段は、前記第1のタイムスロットにお
いて保持した前サンプリング周期における第1チャネル
のデジタル信号を逆量子化し、第1チャネルの帰還アナ
ログ信号を出力し、 前記スイッチ手段は、前記入力スイッチドキャパシタ
手段に保持された第1のチャネルの入力アナログ信号
と、第1のチャネルに対応した前記積分値記憶手段に記
憶された前サンプリング周期における第1チャネルの積
分値と、前記逆量子化手段から出力される第1のチャネ
ルの帰還アナログ信号を前記積分手段に供給し、この結
果、該積分手段から得られる第1のチャネルの積分値信
号を第1のチャネルに対応した前記積分値記憶手段に供
給し、 前記量子化手段は、前記積分手段から出力された第1
のチャネルの積分値信号を保持し、 c.第3のタイムスロットにおいて、 前記量子化手段は、前記第2のタイムスロットにおい
て保持した第1のチャネルの積分値信号を量子化し、現
サンプリング周期における第1のチャネルのデジタル信
号を出力し、 前記逆量子化手段は、その時点まで前記量子化手段か
ら出力されていた前サンプリング周期における第2のチ
ャネルのデジタル信号を保持し、 前記スイッチ手段は前記積分手段のキャパシタに蓄積
された積分処理結果を初期化し、 d.第4のタイムスロットにおいては、 前記逆量子化手段は、前記第3のタイムスロットにお
いて保持した前サンプリング周期における第2のチャネ
ルのデジタル信号を逆量子化し、第2のチャネルの帰還
アナログ信号を出力し、 前記スイッチ手段は、前記入力スイッチドキャパシタ
手段に保持された第2のチャネルの入力アナログ信号
と、第2のチャネルに対応した前記積分値記憶手段に記
憶された前サンプリング周期における第2のチャネルの
積分値信号と、前記逆量子化手段から出力される第2の
チャネルの帰還アナログ信号とを前記積分手段に供給
し、この結果、前記積分手段から得られる現サンプリン
グ周期における第2のチャネルの積分値信号を第2のチ
ャネルに対応した前記積分値記憶手段に供給し、 前記量子化手段は、前記積分手段から出力される第2
のチャネルの積分値信号を保持する ことを特徴とするア
ナログ/デジタル変換器。 4. An input analyzer for each of first and second channels.
Log signals are sequentially converted to digital signals by time division control
2. The digital / analog converter according to claim 1,
The input analog signals of the first and second channels
Holding the input switched capacitor means, wherein the quantizing means and the inverse quantizing means correspond to each other.
Means for holding an input signal, the input switched capacitor means,
Stage, the quantization means and the inverse quantization means,
Digital input analog signal of each of first and second channels
Divided into four sampling periods for converting
It operates in synchronization with the first to fourth time slots.
Ri, a. In a first time slot, the input switched capacitor means comprises first and second
Holding the input analog signals of the two channels, and the switch means stores the analog signals in a capacitor of the integration means.
Initialize the accumulated integration processing result, and the quantization means performs
Quantizing the integral value of the second channel of the sampling period
Outputting a digital signal of the second channel, wherein the inverse quantizing means has provided the quantizing means by that time.
The first channel in the previous sampling cycle output from
Holding the digital signal of the channel; b. In the second time slot, the inverse quantization means may perform the processing in the first time slot.
1st channel in previous sampling cycle
Inversely quantizes the digital signal of
Outputting a log signal, wherein said switch means comprises said input switched capacitor.
Input analog signal of the first channel held by the means
In the integrated value storage means corresponding to the first channel.
The product of the first channel in the remembered previous sampling period
And a first channel output from the inverse quantization means.
The feedback analog signal of the
As a result, the integrated value signal of the first channel obtained from the integrating means is obtained.
Signal to the integral value storage means corresponding to the first channel.
And the quantization means outputs the first signal output from the integration means.
Holding the integral signal of the channel of c. In a third time slot, the quantizing means may determine that the second time slot
The integrated value signal of the first channel held and quantized is
Digital signal of the first channel in the sampling period
Signal, and the inverse quantization means determines whether the quantization means
The second channel in the previous sampling cycle
Holding the digital signal of the channel, and the switch means accumulates in a capacitor of the integrating means.
Initializes the integration result obtained, d. In the fourth time slot, the dequantizing means performs the processing in the third time slot.
The second channel in the previous sampling cycle
Dequantizes the digital signal of the
Outputting an analog signal, wherein the switch means includes the input switched capacitor;
Input analog signal of the second channel held by the means
In the integrated value storage means corresponding to the second channel.
Of the second channel in the remembered previous sampling period
An integrated value signal and a second signal output from the inverse quantization means.
Supply the feedback analog signal of the channel to the integration means
As a result, the current sampling rate obtained from the integrating means is obtained.
The integration value signal of the second channel in the
The integrated value is supplied to the integrated value storage means corresponding to the channel .
Characterized by holding the integral signal of the channel
Analog / digital converter.
ログ信号を時分割制御によりデジタル信号に順次変換す
る請求項1に記載のデジタル/アナログ変換器であっ
て、 前記第1および第2のチャネルの各入力アナログ信号を
保持する入力スイッチドキャパシタ手段を有し、 第1および第2のチャネルに対応した前記各積分値記憶
手段は、各々前記積分値信号を記憶するためのキャパシ
タを少なくとも2個有し、 前記量子化手段および前記逆量子化手段は、各々に対す
る入力信号を保持する手段を有し、 前記入力スイッチドキャパシタ手段、前記スイッチ手
段、前記量子化手段および前記逆量子化手段は、前記第
1および第2のチャネルの各入力アナログ信号のデジタ
ル信号への変換を行うサンプリング周期を4分割した第
1〜第4のタイムスロットに同期して動作するものであ
り、 a.第1のタイムスロットにおいて、 前記入力スイッチドキャパシタ手段は、第1および第
2のチャネルの各入力アナログ信号を保持し、 前記スイッチ手段は、前記積分手段のキャパシタに蓄
積された積分処理結果を初期化し、 前記量子化手段は、その時点において保持している前
サンプリング周期の第2チャネルの積分値を量子化して
第2チャネルのデジタル信号を出力し、 前記逆量子化手段は、その時点までに前記量子化手段
から出力されていた前サンプリング周期における第1チ
ャネルのデジタル信号を保持し、 b.第2のタイムスロットにおいて、 前記逆量子化手段は、前記第1のタイムスロットにお
いて保持した前サンプリング周期における第1チャネル
のデジタル信号を逆量子化し、第1チャネルの帰還アナ
ログ信号を出力し、 前記スイッチ手段は、前記入力スイッチドキャパシタ
手段に保持された第1のチャネルの入力アナログ信号
と、第1のチャネルに対応した前記積分値記憶手段 にお
ける各キャパシタのうち一のキャパシタに記憶された前
サンプリング周期における第1チャネルの積分値と、前
記逆量子化手段から出力される第1のチャネルの帰還ア
ナログ信号を前記積分手段に供給し、この結果、該積分
手段から得られる第1のチャネルの積分値信号を第1の
チャネルに対応した前記積分値記憶手段における各キャ
パシタのうち前記前サンプリング周期における第1のチ
ャネルの積分値が記憶されていなかったキャパシタに供
給し、 前記量子化手段は、前記積分手段から出力された第1
のチャネルの積分値信号を保持し、 c.第3のタイムスロットにおいて、 前記量子化手段は、前記第2のタイムスロットにおい
て保持した第1のチャネルの積分値信号を量子化し、現
サンプリング周期における第1のチャネルのデジタル信
号を出力し、 前記逆量子化手段は、その時点まで前記量子化手段か
ら出力されていた前サンプリング周期における第2のチ
ャネルのデジタル信号を保持し、 前記スイッチ手段は前記積分手段のキャパシタに蓄積
された積分処理結果を初期化し、 d.第4のタイムスロットにおいては、 前記逆量子化手段は、前記第3のタイムスロットにお
いて保持した前サンプリング周期における第2のチャネ
ルのデジタル信号を逆量子化し、第2のチャネルの帰還
アナログ信号を出力し、 前記スイッチ手段は、前記入力スイッチドキャパシタ
手段に保持された第2のチャネルの入力アナログ信号
と、第2のチャネルに対応した前記積分値記憶手段にお
ける各キャパシタのうち一のキャパシタに記憶された前
サンプリング周期における第2のチャネルの積分値信号
と、前記逆量子化手段から出力される第2のチャネルの
帰還アナログ信号とを前記積分手段に供給し、この結
果、前記積分手段から得られる現サンプリング周期にお
ける第2のチャネルの積分値信号を第2のチャネルに対
応した前記積分値記憶手段における各キャパシタのうち
前記前サンプリング周期における第2のチャネルの積分
値が記憶されていなかったキャパシタに供給し、 前記量子化手段は、前記積分手段から出力される第2
のチャネルの積分値信号を保持する ことを特徴とするア
ナログ/デジタル変換器。 5. An input analyzer for each of first and second channels.
Log signals are sequentially converted to digital signals by time division control
2. The digital / analog converter according to claim 1,
The input analog signals of the first and second channels
Having an input switched capacitor means for holding, and storing the respective integral values corresponding to the first and second channels
Means each include a capacity for storing the integrated value signal.
And at least two of the quantization means and the inverse quantization means
Means for holding an input signal, the input switched capacitor means,
Stage, the quantization means and the inverse quantization means,
Digital input analog signal of each of first and second channels
Divided into four sampling periods for converting
It operates in synchronization with the first to fourth time slots.
Ri, a. In a first time slot, the input switched capacitor means comprises first and second
Holding the input analog signals of the two channels, and the switch means stores the analog signals in a capacitor of the integration means.
Initialize the accumulated integration processing result, and the quantization means performs
Quantizing the integral value of the second channel of the sampling period
Outputting a digital signal of the second channel, wherein the inverse quantizing means has provided the quantizing means by that time.
The first channel in the previous sampling cycle output from
Holding the digital signal of the channel; b. In the second time slot, the inverse quantization means may perform the processing in the first time slot.
1st channel in previous sampling cycle
Inversely quantizes the digital signal of
Outputting a log signal, wherein said switch means comprises said input switched capacitor.
Input analog signal of the first channel held by the means
And the integrated value storage means corresponding to the first channel .
Before being stored in one of the capacitors
The integrated value of the first channel in the sampling cycle
The feedback channel of the first channel output from the inverse quantization means
Supplying the analog signal to the integrating means, and
Means for obtaining a first channel integrated value signal obtained from the first means.
Each capacitor in the integral value storage means corresponding to the channel
The first channel in the previous sampling cycle
To the capacitor for which the integrated value of the channel was not stored.
And the quantization means outputs the first signal output from the integration means.
Holding the integral signal of the channel of c. In a third time slot, the quantizing means may determine that the second time slot
The integrated value signal of the first channel held and quantized is
Digital signal of the first channel in the sampling period
Signal, and the inverse quantization means determines whether the quantization means
The second channel in the previous sampling cycle
Holding the digital signal of the channel, and the switch means accumulates in a capacitor of the integrating means.
Initializes the integration result obtained, d. In the fourth time slot, the dequantizing means performs the processing in the third time slot.
The second channel in the previous sampling cycle
Dequantizes the digital signal of the
Outputting an analog signal, wherein the switch means includes the input switched capacitor;
Input analog signal of the second channel held by the means
And the integrated value storage means corresponding to the second channel.
Before being stored in one of the capacitors
Integrated value signal of second channel in sampling period
And the second channel output from the inverse quantization means.
The feedback analog signal is supplied to the integration means, and the
As a result, in the current sampling period obtained from the integrating means,
The integrated signal of the second channel to the second channel.
Corresponding one of the capacitors in the integrated value storage means.
Integration of the second channel in the previous sampling period
The value is supplied to the capacitor whose value has not been stored .
Characterized by holding the integral signal of the channel
Analog / digital converter.
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| JP2014225922A (en) * | 2014-08-08 | 2014-12-04 | 住友電気工業株式会社 | Δς modulator and communication device |
| JP6383272B2 (en) * | 2014-12-05 | 2018-08-29 | アズビル株式会社 | Multi-input integrating circuit, multi-input ΔΣ modulator, and A / D converter |
| CN111787249B (en) * | 2020-07-15 | 2024-01-09 | 江苏尚飞光电科技股份有限公司 | 32-channel charge acquisition and readout circuit and control method thereof |
-
1995
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Non-Patent Citations (1)
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| 「オーバーサンプリングA−D変換技術」、湯川著、1990.12日経BP社発行p52 |
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