JP3020680B2 - Pattern recognition classification method - Google Patents
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、光学的な情報処理の分
野において利用されるパターン認識分類方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pattern recognition and classification method used in the field of optical information processing.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、光学的に相関演算を行なう方法と
して、マッチドフィルター法とジョイントトランスフォ
ーム法があった。マッチドフィルター法では、2次元的
な参照パターンをフーリエ変換した後に、参照波を照射
し、所謂、フーリエ変換ホログラムを作成し、これをフ
ィルタとして、これに対して、被検パターンのフーリエ
変換像を重畳することにより、相関演算を行なうもので
あった。また、ジョイントトランスフォーム法は、被検
パターンと参照パターンの合同フーリエ変換像を強度パ
ターンとして記録し、これを平面波で照射することによ
り、相関演算を行なうものであった。然し乍ら、両方法
とも、参照パターン群は、認識したいパターンの数だけ
用意されており、被検パターンの提示に対して、最大の
相関出力を得たパターン、即ち、自己相関出力に基づい
て得られた結果を検出結果とする方法であるので、参照
パターン数の増大とともにメモリーすべき参照パターン
が増大し、2次元的或いは3次元的な空間光変調器の負
担が大きくなるとともに、認識装置としての能力も空間
光変調器の能力に支配されることが大きく、実質的に優
れた光学的認識連想装置として使用することが出来なか
った。2. Description of the Related Art Conventionally, there are a matched filter method and a joint transform method as optically performing a correlation operation. In the matched filter method, after performing a Fourier transform on a two-dimensional reference pattern, a reference wave is radiated, a so-called Fourier transform hologram is created, and a Fourier transform image of the test pattern is generated by using the hologram as a filter. Correlation calculation is performed by superimposing. In the joint transform method, a joint Fourier transform image of a test pattern and a reference pattern is recorded as an intensity pattern, and this is irradiated with a plane wave to perform a correlation operation. However, in both methods, the reference pattern group is prepared by the number of patterns to be recognized, and the pattern having the largest correlation output for the presentation of the test pattern, that is, the reference pattern group is obtained based on the autocorrelation output. In this method, the number of reference patterns to be stored increases as the number of reference patterns increases, so that the load on the two-dimensional or three-dimensional spatial light modulator increases, and the recognition device has The ability is also largely governed by the ability of the spatial light modulator and could not be used as a substantially better optical recognition associative device.
【0003】そこで、本出願人は、認識分類したいクラ
スに属するパターンと複数の参照パターンとの相関出力
を複数回取り、得られた相関度の集合の代表値とバラツ
キを示す諸量を基準にしたパターン認識分類方法を提供
した。(特願平3−41516号参照)。このような先
願のパターン認識分類方法により、従来、認識したいパ
ターン数と同じ数だけ必要とされていた参照パターン数
を大幅に減らすことができるようになり、少ない参照パ
ターンで数多くの被検パターンの認識方法が可能になっ
た。Therefore, the present applicant takes a correlation output of a pattern belonging to a class to be recognized and classified and a plurality of reference patterns a plurality of times, and based on a representative value of the obtained set of correlation degrees and various quantities indicating variations. The proposed pattern recognition classification method was provided. (See Japanese Patent Application No. 3-41516). With the pattern recognition and classification method of the prior application, the number of reference patterns, which was conventionally required by the same number as the number of patterns to be recognized, can be greatly reduced. Recognition method became possible.
【0004】前記パターン認識分類方法において、参照
パターンの決定方法は、認識分類したいクラスに属する
パターンと参照パターンの候補として予め用意されたパ
ターン群とで、予め相関出力を取り、その出力同志が最
も接近しない。換言すれば、バラバラになるパターンを
選んで参照パターンのセットを作り使用した。この方法
では、参照パターンを決定するために一度すべての認識
分類したいパターンと参照パターンの候補として予め用
意されたパターン群とで、相関出力をとらなければなら
ず、その結果を基にして参照パターンを決定するため時
間がかかった。また、認識分類したいパターンが増え、
参照パターンの追加の必要が生じた場合の参照パターン
の選び方が、特に決められていなかった。In the pattern recognition / classification method, a reference pattern is determined by obtaining a correlation output in advance between a pattern belonging to a class to be recognized and classified and a pattern group prepared in advance as a reference pattern candidate. Do not approach. In other words, a set of reference patterns was created by selecting patterns that would fall apart. In this method, a correlation output must be obtained between all the patterns to be recognized and classified once and a group of patterns prepared in advance as reference pattern candidates in order to determine a reference pattern. It took time to decide. In addition, the number of patterns to be recognized and classified has increased,
How to select a reference pattern when it becomes necessary to add a reference pattern has not been particularly determined.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の問題
点を解決するためになされたもので、適切な参照パター
ンの作成手段と、追加手段による合理的なパターン認識
分類方法を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide an appropriate reference pattern creating means and a reasonable pattern recognition / classification method using an additional means. With the goal.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の技術的
な課題の解決のために為されたもので、認識分類したい
第1のクラスに属するパターンと複数の参照パターンと
の相関出力を複数回取り、得られた相関度の集合の第1
の代表値を少なくとも基準にし、又は、認識分類したい
第2のクラスに属するパターンと前記複数の参照パター
ンとの相関出力を複数回取り、得られた相関度の集合の
第2の代表値と前記第1の代表値との距離、即ち、前記
複数の参照パターンの各々が有する座標軸が作る特徴空
間内の距離、に対応する量を少なくとも基準にしたパタ
ーン認識分類する方法において、或いは、認識分類した
いクラスに属するパターンと前記複数の参照パターンと
の相関出力を前記複数の参照パターンに対応する入力ニ
ューロンを持つニューラルネットワークの入力値とする
パターン認識分類方法において、参照パターンの候補と
して予め用意されたパターン群同志の全ての組合わせで
得られる相関出力が最も小さいパターン同志を、参照パ
ターンのセットとし、前記参照パターンのセット全てに
対して相関出力の低いパターンを、前記参照パターンの
セットに加えて行き、前記参照パターン数が認識分類し
たいクラスに属するパターンを認識するのに十分な数に
なるまで繰り返す参照パターンの作成手段により、前記
複数の参照パターンを作成することを特徴とするパター
ン認識分類方法を提供する。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned technical problem, and provides a correlation output between a pattern belonging to a first class to be recognized and classified and a plurality of reference patterns. The first of a set of correlations obtained multiple times
The correlation value between a pattern belonging to a second class to be recognized and classified and the plurality of reference patterns is taken a plurality of times, and a second representative value of a set of obtained correlation degrees and the In a method of performing pattern recognition and classification based at least on an amount corresponding to a distance from a first representative value, that is, a distance in a feature space formed by coordinate axes of each of the plurality of reference patterns, or to perform recognition and classification In a pattern recognition and classification method in which a correlation output between a pattern belonging to a class and the plurality of reference patterns is an input value of a neural network having input neurons corresponding to the plurality of reference patterns, a pattern prepared in advance as a reference pattern candidate The pattern with the smallest correlation output obtained from all combinations of groups is identified as the reference pattern set. And adding a pattern having a low correlation output to the set of reference patterns to the set of reference patterns until the number of reference patterns becomes sufficient to recognize patterns belonging to the class to be recognized and classified. A pattern recognition / classification method is provided, wherein the plurality of reference patterns are created by means for creating a repeated reference pattern.
【0007】更に、認識分類したい第1のクラスに属す
るパターンと複数の参照パターンとの相関出力を複数回
取り、得られた相関度の集合の第1の代表値を少なくと
も基準にし、又は、認識分類したい第2のクラスに属す
るパターンと前記複数の参照パターンとの相関出力を複
数回取り、得られた相関度の集合の第2の代表値と前記
第1の代表値との距離、即ち、前記複数の参照パターン
の各々が有する座標軸が作る特徴空間内の距離、に対応
する量を少なくとも基準にしたパターン認識分類する方
法において、或いは、認識分類したいクラスに属するパ
ターンと前記複数の参照パターンとの相関出力を前記複
数の参照パターンに対応する入力ニューロンを持つニュ
ーラルネットワークの入力値とするパターン認識分類方
法において、認識分類したいクラスに属するパターンが
追加され、前記複数の参照パターンでは、認識分類が困
難であるとき、参照パターンの候補として、予め用意さ
れたパターン群から新たな参照パターンを、前記の参照
パターンの作成手段により選び、複数の参照パターンに
新たな参照パターンを追加し、新たに複数の参照パター
ンを作成し、前記追加された認識分類したいクラスに属
するパターンと前記新たな複数の参照パターンとの相関
出力を取る参照パターンの追加手段を用いて、前記複数
の参照パターンを作成することを特徴とするパターン認
識分類方法を提供する。Further, a correlation output between a pattern belonging to a first class to be recognized and classified and a plurality of reference patterns is obtained a plurality of times, and at least a first representative value of the obtained set of correlation degrees is used as a reference, or The correlation output between the pattern belonging to the second class to be classified and the plurality of reference patterns is taken a plurality of times, and the distance between the second representative value of the obtained set of correlation degrees and the first representative value, that is, The distance in the feature space created by the coordinate axes of each of the plurality of reference patterns, in a method for pattern recognition and classification based on at least an amount corresponding to, or a pattern belonging to a class to be recognized and classified and the plurality of reference patterns, A correlation output of a neural network having input neurons corresponding to the plurality of reference patterns as input values. When a pattern belonging to a class to be classified is added, and recognition and classification are difficult with the plurality of reference patterns, a new reference pattern is prepared from a group of patterns prepared in advance as a reference pattern candidate. select by means adds a new reference pattern into a plurality of reference patterns, newly create a plurality of reference patterns, the correlation output between the added belongs to the class to be recognized classification pattern and the plurality of new reference pattern A pattern recognition and classification method is provided, wherein the plurality of reference patterns are created by using a reference pattern adding unit that takes a reference pattern.
【0008】また、前記参照パターンのセット全てに対
して最も相関出力の低いパターンの選び方は、前記の候
補から用意されたパターン群と、前記参照パターンのセ
ットとの相関出力の総和を比べ、その最も低い値を持つ
パターンを選ぶことが好適である。また、前記参照パタ
ーンのセット全てに対して最も相関出力の低いパターン
の選び方は、前記参照パターンのセットとの相関出力の
自乗和を比べ、その最も低い値を持つパターンを選ぶこ
とが好適である。そして、参照パターンのセット全てに
対して最も相関出力の低いパターンの選び方は、前記参
照パターンのセットと前記参照パターンの候補として予
め用意されたパターン群各々との相関出力の総和と自乗
和を比べ、そのどちらも低い値を持つパターンを選ぶこ
とが好適である。また、複数の参照パターンと被検パタ
ーンとの相関出力は、被検パターンと前記複数の各参照
パターンとの自己相関出力或いは相互相関出力のピーク
値とすることが好適である。The method of selecting a pattern having the lowest correlation output with respect to all of the reference pattern sets is to compare a pattern group prepared from the candidates with a total sum of correlation outputs of the reference pattern sets, It is preferred to choose the pattern with the lowest value. As for the method of selecting a pattern having the lowest correlation output with respect to all the sets of the reference patterns, it is preferable to compare the sum of squares of the correlation output with the set of the reference patterns and select a pattern having the lowest value. . Then, a method of selecting a pattern having the lowest correlation output with respect to all of the reference pattern sets is to compare the sum and square sum of the correlation outputs of the reference pattern set and each of the pattern groups prepared in advance as the reference pattern candidates. , It is preferable to select a pattern having a low value for both. The correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is preferably a peak value of an autocorrelation output or a cross-correlation output between the test pattern and each of the plurality of reference patterns.
【0009】複数の参照パターンと被検パターンとの相
関出力は、被検パターンと前記複数の各参照パターンと
の自己相関出力或いは相互相関出力の広がりに応じた受
光範囲の全光量或いは平均光量であることが好適であ
る。また、前記複数の参照パターンと被検パターンとの
相関出力は、被検パターンと前記複数の各参照パターン
との自己相関出力或いは相互相関出力のピーク値と、相
関出力の広がりに応じた受光範囲の全光量或いは平均光
量であることが好適である。前記複数の参照パターンと
被検パターンとの相関出力は、2次元受光素子からの出
力値を、被検パターン若しくは被検パターンと前記の複
数の参照パターンからの透過光量又は反射光量で規格化
した量とすることが好適である。前記の複数の参照パタ
ーンと被検パターンとの相関出力は、2次元受光素子の
線形範囲若しくは該相関出力の一部が、2次元光電変換
素子の最大受光量を超える範囲で得られたものが好適で
ある。The correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is the total light amount or the average light amount in the light receiving range according to the spread of the autocorrelation output or the cross-correlation output between the test pattern and each of the plurality of reference patterns. It is preferred that there be. Further, the correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is a light receiving range corresponding to the peak value of the autocorrelation output or the cross-correlation output between the test pattern and each of the plurality of reference patterns, and the spread of the correlation output. Is preferably the total light amount or the average light amount. The correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is obtained by standardizing the output value from the two-dimensional light receiving element by the transmitted light amount or the reflected light amount from the test pattern or the test pattern and the plurality of reference patterns. It is preferred to be an amount. The correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is obtained when the linear range of the two-dimensional light receiving element or a part of the correlation output is obtained in a range exceeding the maximum light receiving amount of the two-dimensional photoelectric conversion element. It is suitable.
【0010】前記複数の参照パターンと被検パターンと
の相関出力は、フーリエ変換ホログラムを用いて作成し
たフィルタを用いて得られる前記の参照パターンの作成
手段と前記の参照パターンの追加手段を用いるが好適で
ある。前記複数の参照パターンと被検パターンとの相関
出力は、被検パターンと前記の各参照パターンとの合同
フーリエ変換を個別に行なうことにより得られた強度パ
ターンを、再び、光学的に個別にフーリエ変換するか、
或いは、被検パターンと各参照パターンとの合同フーリ
エ変換をフーリエ変換レンズアレイにより一括して行な
うことにより得られた強度パターンを、再びフーリエ変
換レンズアレイにより光学的に一括してフーリエ変換す
ることが好適である。前記複数の参照パターンと被検パ
ターンとの相関出力は、光透過率分布或いは光編者率分
布で表された被検パターンと各参照パターンを重ね、イ
ンコヒーレント光で照射し、反射或いは透過してきた光
量を取ることが好適である。The correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is obtained by using the above-mentioned reference pattern creation means and the above-mentioned reference pattern addition means obtained by using a filter created by using a Fourier transform hologram. It is suitable. The correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is obtained by optically individually Fourier transforming the intensity pattern obtained by individually performing the joint Fourier transform of the test pattern and each of the reference patterns. Convert or
Alternatively, the intensity pattern obtained by performing joint Fourier transform of the test pattern and each reference pattern collectively by the Fourier transform lens array may be optically collectively Fourier transformed again by the Fourier transform lens array. It is suitable. The correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is obtained by superimposing the test pattern represented by the light transmittance distribution or the light knitting rate distribution and each reference pattern, irradiating with incoherent light, and reflecting or transmitting the light. It is preferable to take a light amount.
【0011】複数の参照パターンと被検パターンとの相
関出力は、参照パターン若しくは参照パターンのフーリ
エ変換の強度パターンを、被検パターンのフーリエ変換
面に、透過率分布又は反射率分布を表すマスク、又は空
間光変調器として配置し、それを透過或いは反射してき
た被検パターンの光量を取ることにより得るか、或い
は、被検パターンのフーリエ変換の強度パターンを、参
照パターンのフーリエ変換面に、透過率分布又は反射率
分布を表すマスク、又は、空間光変調器として配置し、
それを透過或いは反射してきた1つ或いは複数の参照パ
ターンの光量を同時に取ることが好適である。認識分類
したいクラスに属するパターンと、前記複数の参照パタ
ーンとの相関出力を複数回取り、得られた相関度の集合
度の集合の代表値とバラツキを示す諸量を基準にして、
認識したいクラス毎に前記複数の参照パターンに対応し
たメンバーシップ関数を作成した後、被検パターンと前
記複数の参照パターンとの相関出力と認識分類したいク
ラス毎に割り当てられている前記メンバーシップ関数と
のメンバーシップ値を取り、該メンバーシップ値の最も
小さいメンバーシップ値、又は該メンバーシップ値の平
均値を、被検パターンの前記認識分類したいクラスに属
する程度とすることが好適である。The correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern includes a reference pattern or a Fourier transform intensity pattern of the reference pattern, and a Fourier transform surface of the test pattern, a mask representing a transmittance distribution or a reflectance distribution. Or, it is arranged as a spatial light modulator, and it is obtained by taking the amount of light of the test pattern transmitted or reflected, or the intensity pattern of the Fourier transform of the test pattern is transmitted to the Fourier transform surface of the reference pattern. A mask representing a rate distribution or a reflectance distribution, or arranged as a spatial light modulator,
It is preferable to simultaneously measure the amount of light of one or a plurality of reference patterns that have transmitted or reflected it. The pattern belonging to the class to be recognized and classified, and the correlation output of the plurality of reference patterns are taken a plurality of times, based on various amounts indicating the representative value and the variation of the set of the obtained degree of correlation,
After creating a membership function corresponding to the plurality of reference patterns for each class to be recognized, a correlation output between the test pattern and the plurality of reference patterns, and the membership function assigned to each class to be recognized and classified. It is preferable that the membership value of the test pattern is the smallest, or the average value of the membership values is the degree to which the test pattern belongs to the class to be recognized and classified.
【0012】認識分類したいクラスに属するパターン
と、前記複数の参照パターンとの相関出力を、入力ニュ
ーロンの入力値として用い、前記複数の参照パターンと
認識分類したい第1のクラスに属するパターンとの第1
の相関出力値と、前記第1の相関出力値と前記複数の参
照パターンと認識分類したい第2のクラスに属するパタ
ーンとの第2の相関出力値との距離に対応した量に重み
付けを行なうようなニューラルネットワークによる前記
の参照パターンの作成手段と前記の参照パターンの追加
手段を用いることが好適である。また、認識分類したい
クラスに属するパターンと、前記複数の参照パターンと
の相関出力値を入力ニューロンの入力値として用い、特
徴空間内での距離に準じた量を、評価関数として、特徴
空間内において、認識分類したいクラスが、そのクラス
毎に超球面で囲まれた識別領域を作るニューラルネット
ワークによる前記の参照パターンの作成手段と前記の参
照パターンの追加手段を用いることが好適である。A correlation output between a pattern belonging to a class to be recognized and classified and the plurality of reference patterns is used as an input value of an input neuron, and a correlation between the plurality of reference patterns and a pattern belonging to a first class to be recognized and classified is used. 1
And a weight corresponding to the distance between the first correlation output value and the second correlation output value between the first correlation output value, the plurality of reference patterns, and the pattern belonging to the second class to be recognized and classified. It is preferable to use the means for creating the reference pattern and the means for adding the reference pattern using a simple neural network. Further, a correlation output value between a pattern belonging to a class to be recognized and classified and the plurality of reference patterns is used as an input value of an input neuron, and an amount according to a distance in the feature space is used as an evaluation function in the feature space. It is preferable to use a means for creating the reference pattern and a means for adding the reference pattern by a neural network in which a class to be recognized and classified is formed by a neural network for forming an identification area surrounded by a hypersphere for each class.
【0013】また、前記パターン認識分類法は、前記複
数の参照パターンと認識分類したいクラスに属するパタ
ーンとの相関出力値を、入力ニューロンの入力値として
用い、特徴空間内での距離に準じた量を評価関数とし
て、認識分類したいクラスが、そのクラス毎に超球面に
より囲まれた識別領域を作るニューラルネットワークに
よるパターン認識分類方法であることが好適である。ま
た、前記パターン認識分類法は、認識分類したい第1の
クラスに属するパターンと、前記複数の参照パターンと
の第1の相関出力値と、前記第1の相関出力値と認識分
類したい第2のクラスに属するパターンと、前記複数の
参照パターンとの第2の相関出力値との距離に対応する
量を基準にして、特徴空間内で、あるクラスの相関出力
値に最も距離が近い別のクラスの相関出力値との距離の
中点までの距離を、半径とした超球面で囲まれた閉領域
をクラス毎の識別領域とするパターン認識法であること
が好適である。The pattern recognition and classification method uses a correlation output value between the plurality of reference patterns and a pattern belonging to a class to be recognized and classified as an input value of an input neuron, and calculates a quantity according to a distance in a feature space. It is preferable that the class to be recognized and classified is a pattern recognition and classification method using a neural network that forms a recognition area surrounded by a hypersphere for each class, using as an evaluation function. Further, the pattern recognition and classification method includes a first correlation output value between a pattern belonging to a first class to be recognized and classified, the plurality of reference patterns, and a second correlation output value to be recognized and classified with the first correlation output value. Based on the amount corresponding to the distance between the pattern belonging to the class and the second correlation output value of the plurality of reference patterns, another class whose distance is closest to the correlation output value of a certain class in the feature space. It is preferable to use a pattern recognition method in which a closed area surrounded by a hypersphere whose radius is the distance to the midpoint of the distance to the correlation output value is an identification area for each class.
【0014】[0014]
【作用】本発明のパターン認識分類方法によると、参照
パターンのセットは、なるべく互いの空間周波数成分が
異なるように選ばれているために、参照パターンと被検
パターンとの相関出力である相関出力値は、参照パター
ンと被検パターンによって大きく異なった値をとり、認
識分類がし易くなる。即ち、参照パターンと被検パター
ンとで相関出力を取るとき、被検パターンと参照パター
ンとの相関出力値は、数回の測定の結果、特徴空間内に
プロットされ、ある領域を各々の被検パターンが持つこ
とになり、その識別領域が、各々、互いを認識分類する
のに充分離れているということである。According to the pattern recognition / classification method of the present invention, since the set of reference patterns is selected so that the spatial frequency components are different from each other as much as possible, the correlation output which is the correlation output between the reference pattern and the test pattern is used. The value varies greatly depending on the reference pattern and the test pattern, which facilitates recognition and classification. That is, when the correlation output between the reference pattern and the test pattern is obtained, the correlation output value between the test pattern and the reference pattern is plotted in the feature space as a result of several measurements, and a certain region is subjected to each test. The patterns will have, and their identification regions are each far enough apart to recognize and classify each other.
【0015】次に、本発明の参照パターンの作成手段及
び追加手段によるパターン認識分類方法を具体的に実施
例により、説明するが、本発明がそれらによって、制限
されるものではない。Next, the method of pattern recognition and classification by the reference pattern creation means and the addition means of the present invention will be described in detail with reference to examples, but the present invention is not limited thereto.
【0016】[0016]
【実施例1】図1は、本発明による、参照パターンの作
成手段及び追加手段によるパターン認識分類方法の1例
を示すための、光学的相関処理装置の機能を示す模式的
構成図である。図1の光学的配置において、光学的相関
処理装置は、画像出力手段1、光学的フーリエ変換手段
2、画像出力手段3、光学的フーリエ変換手段4、光検
出手段5から本質的に構成される既知の合同フーリエ変
換光学系であるので、その構成について、簡単に説明す
る。Embodiment 1 FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing the function of an optical correlation processing apparatus for showing an example of a pattern recognition / classification method by a reference pattern creating unit and an adding unit according to the present invention. In the optical arrangement shown in FIG. 1, the optical correlation processing device essentially comprises an image output unit 1, an optical Fourier transform unit 2, an image output unit 3, an optical Fourier transform unit 4, and a light detection unit 5. Since this is a known joint Fourier transform optical system, its configuration will be briefly described.
【0017】画像表示装置16に描かれた認識分類した
いパターン1つと、参照パターン群とをレーザ11から
出射されたコヒーレント光束12で読み出し、フーリエ
変換レンズ21によりスクリーン31上に合同フーリエ
変換パターンを作成する。この合同フーリエ変換パター
ンを、2次元光電変換素子32で読み込み、画像処理装
置33により、電気アドレス型の液晶ディスプレイ(以
下、CTVと略称する)35上に描き、光束37で読み
出し、フーリエ変換レンズ41により再びフーリエ変換
し、スクリーン51上の相関強度を、2次元光電変換素
子53により検出する。また、フーリエ変換レンズ2
1、41をアレイ化して、画像表示装置16に被検パタ
ーンと複数の参照パターンを同時に描かせることによ
り、被検パターンと複数の参照パターンとの相関強度を
同時に並列的に検出することもできる。ここで、以後、
参照パターン、被検パターンとしてアルファベットを用
いて説明するが、当然、参照パターン、被検パターン
は、アルファベットの限りでなく、2次元画像パターン
全般を指すものである。One pattern to be recognized and classified and a reference pattern group drawn on the image display device 16 are read out by a coherent light beam 12 emitted from a laser 11, and a joint Fourier transform pattern is created on a screen 31 by a Fourier transform lens 21. I do. The combined Fourier transform pattern is read by the two-dimensional photoelectric conversion element 32, drawn on an electric address type liquid crystal display (hereinafter abbreviated as CTV) 35 by the image processing device 33, read out by the light beam 37, and read by the Fourier transform lens 41. And the correlation intensity on the screen 51 is detected by the two-dimensional photoelectric conversion element 53. Also, Fourier transform lens 2
By arraying 1, 41 and making the image display device 16 simultaneously draw the test pattern and the plurality of reference patterns, the correlation strength between the test pattern and the plurality of reference patterns can be simultaneously detected in parallel. . Here,
The description will be made using the alphabet as the reference pattern and the test pattern. However, the reference pattern and the test pattern naturally indicate not only the alphabet but also the entire two-dimensional image pattern.
【0018】以下、前記の光学的相関処理装置を用いた
参照パターンセットの作成方法について述べる。先ず、
参照パターンの候補として、いくつかのなるべく、単純
な、参照パターンとなり得るパターン群を予め用意す
る。そして、そのパターン同志のすべての組合わせの相
関出力値をとる。その組合わせにおいて、相関出力値
が、最低の値をとるもの同志を参照パターンのセットと
して選ぶ。次に、この2つの参照パターンのどちらに対
しても、相関出力値が、低い画像パターンを新たに参照
パターンとして、セットに加える。これを繰り返して、
認識分類したいクラスに属するパターンを認識するに十
分な数だけ、参照パターンのセットを、作成する。Hereinafter, a method of creating a reference pattern set using the optical correlation processing apparatus will be described. First,
As a reference pattern candidate, a group of patterns that can be a simple and possible reference pattern are prepared in advance. Then, correlation output values of all combinations of the patterns are obtained. In the combination, those having the lowest correlation output value are selected as a set of reference patterns. Next, an image pattern having a low correlation output value for both of these two reference patterns is added to the set as a new reference pattern. Repeat this,
A set of reference patterns is created in a number sufficient to recognize patterns belonging to the class to be recognized and classified.
【0019】以下、具体的に、本発明に従って、参照パ
ターンの作成手段及び追加手段によりパターン認識分類
する方法を示す。例えば、E、K.V、Y、M、Oを参
照パターンの候補であるパターンとして考えると、各々
のパターンすべての組合わせについて、相関出力値を取
る。例えば、EとK、EとV、KとYなどのパターンを
画像表示装置16に表示し、スクリーン51上に現れる
相関出力値を、2次元光電変換素子によって、検出し、
その値が最も低い組合わせを、最初の参照パターンのセ
ットとする。ここでは、E、K、V、Y、M、Oのすべ
ての組合わせ中で最も相関出力値が低いのは、EとVの
組合わせであるため、先ず、参照パターンとして、Eと
Vが選ばれる。次に、更に、参照パターンを選ぶには、
先に選ばれたEとVのどちらに対しても相関出力値が低
い画像パターンを選ぶ。ここでは、K、Mは、E、Vど
ちらに対しても相関出力値は大きく、YはEに対する相
関出力値は小さいもののVに対しては、大きい。それに
対して、OはEとVどちらに対しても低い相関出力値を
有するため、3番目の参照パターンとして、Oを選ぶ。Hereinafter, a method of performing pattern recognition and classification by reference pattern creating means and adding means according to the present invention will be specifically described. For example, E, K. When V, Y, M, and O are considered as reference pattern candidates, correlation output values are obtained for all combinations of the respective patterns. For example, patterns such as E and K, E and V, and K and Y are displayed on the image display device 16, and a correlation output value appearing on the screen 51 is detected by a two-dimensional photoelectric conversion element.
The combination having the lowest value is set as the first reference pattern set. Here, since the lowest correlation output value among all combinations of E, K, V, Y, M, and O is the combination of E and V, first, E and V are used as reference patterns. To be elected. Next, to further select a reference pattern,
An image pattern having a low correlation output value for both E and V previously selected is selected. Here, K and M have large correlation output values for both E and V, and Y has a small correlation output value for E but large for V. On the other hand, since O has a low correlation output value for both E and V, O is selected as the third reference pattern.
【0020】以上のように、得られた参照パターンのう
ち、EとVを使って、認識分類する方法を以下説明す
る。参照パターンセットとして、2つの文字パターン
E、Vとし、認識分類したい文字パターンを、Hとし
て、図2に示すように、EとH、VとHのように配置
し、画像表示装置16上に、次々に、時系列的に描いた
とする。この場合、スクリーン51で言えば、文字パタ
ーンHと参照文字パターンEの相関出力は、図3に示す
ような、光強度パターンとなる。図3における、EとH
との相関出力強度は、例えば、EとHが完全に重なると
き、図の中心にあるピーク値を表し、EとHの縦棒が重
なるとき、図の左にある縦線になり、横棒が重なると
き、図3のピーク値の上下にある横線になり、全体で、
EとHとの相関パターンとして、図3のように、表され
る。A method of performing recognition and classification using E and V among the obtained reference patterns will be described below. As a reference pattern set, two character patterns E and V, and a character pattern to be recognized and classified as H are arranged as E and H, V and H as shown in FIG. , One after another in chronological order. In this case, on the screen 51, the correlation output between the character pattern H and the reference character pattern E is a light intensity pattern as shown in FIG. E and H in FIG.
For example, when E and H completely overlap with each other, the correlation output intensity indicates a peak value at the center of the figure. When the vertical bars of E and H overlap, a vertical line on the left of the figure becomes Overlap, horizontal lines above and below the peak value in FIG.
The correlation pattern between E and H is represented as shown in FIG.
【0021】尚、図3において、光軸上に現れる自己相
関パターンは、ここでは関係ないので省略してある。さ
て、このようにして得た相関出力強度のピーク値を、コ
ンピュータ52に送り、メモリーし、同様に認識分類し
たいパターンを次々に画像表示装置16上に提示して、
得られた相関強度のピーク値を、コンピュータ52に次
々とメモリーしていく。In FIG. 3, the autocorrelation pattern appearing on the optical axis is omitted here because it is not relevant here. Now, the peak value of the correlation output intensity obtained in this way is sent to the computer 52, stored, and similarly, the patterns to be recognized and classified are presented on the image display device 16 one after another.
The obtained peak value of the correlation strength is stored in the computer 52 one after another.
【0022】更に、これらの動作を認識分類したいパタ
ーンについて、複数回行なうことが望ましい。これは、
コヒーレント光によるスペックルノイズや、画像表示装
置16及びLCTV35の時間的な不安定性や2次元光
電変換素子32の信号の入力タイミングなどの影響によ
り、相関出力強度のピーク値が揺らぐので、唯1回の相
関出力値を用いて認識分類を行なうと正確な認識分類を
行なうことができないためである。そこで、複数回のデ
ータから各クラスに属するパターンに対する、ピーク値
の平均値と標準偏差量を計算し、例えば、平均値から標
準偏差の大きさの範囲までを第1の相関出力値として、
標準偏差の大きさの3倍を、相関出力値0として、台形
の斜辺に相当する部分を標準偏差の大きさの等倍から3
倍までとする。図4は、このようにして得た認識分類し
たいパターンを、Hとした場合のEとVに対する相関出
力のピーク値をメンバーシップ関数として表現したグラ
フである。このようにして、すべての認識分類したいク
ラスに対してメンバーシップ関数を作成し、コンピュー
タ52内に認識分類したいクラスの情報と共に蓄えてお
く。但し、標準偏差量が、複数回の試行において、たま
たま非常に小さいという場合もあるので、若干の補正を
加えることも必要である。Further, it is desirable to perform these operations a plurality of times for a pattern to be recognized and classified. this is,
The peak value of the correlation output intensity fluctuates due to speckle noise due to coherent light, the temporal instability of the image display device 16 and the LCTV 35, and the input timing of the signal of the two-dimensional photoelectric conversion element 32. This is because accurate recognition classification cannot be performed if the recognition classification is performed using the correlation output value of Therefore, the average value and the standard deviation amount of the peak value for the pattern belonging to each class are calculated from the data of a plurality of times, and, for example, the range from the average value to the standard deviation is defined as a first correlation output value.
A correlation output value of three times the magnitude of the standard deviation is defined as 0, and a portion corresponding to the hypotenuse of the trapezoid is 3 times the magnitude of the standard deviation.
Up to double. FIG. 4 is a graph expressing the peak value of the correlation output with respect to E and V when the pattern to be recognized and classified obtained as described above is H, as a membership function. In this way, membership functions are created for all the classes to be recognized and classified and stored in the computer 52 together with information on the classes to be recognized and classified. However, since the standard deviation amount happens to be extremely small in a plurality of trials, it is necessary to add a slight correction.
【0023】未知のパターンについての認識分類は、前
記の方法によって得られた各参照パターンに対するメン
バーシップ関数と未知のパターンの相関度との相関出力
値を取り、この相関出力値の最も小さい相関出力値或い
は平均値を、認識分類したいクラスに属する程度とする
もので、参照パターンは、できるだけ少なく且つ認識分
類能力のある組合わせにした方が、誤認識の確率を下げ
ることができると共に、認識時間の削減につながる。The recognition classification of the unknown pattern is performed by taking the correlation output value between the membership function for each reference pattern obtained by the above-described method and the degree of correlation of the unknown pattern, and obtaining the smallest correlation output value of the correlation output value. The value or the average value is of a degree belonging to the class to be recognized and classified. The combination of the reference patterns as small as possible and having the recognition and classification ability can reduce the probability of erroneous recognition and reduce the recognition time. Leads to a reduction in
【0024】図2において、文字パターンHの替わりに
未知の文字パターンを提示し、各参照パターンに対する
相関出力強度のピーク値を、コンピュータ52に取り込
み、上記各認識分類したいパターンH、W、Nに対する
メンバーシップ関数が、各々図4、図5、図6に示され
たものであるとする。このとき、未知の文字パターンの
相関出力強度のピーク値が、パターンEに対して、a
点、パターンVに対してb点の出力を得たとする。図7
は、このa点、b点が各認識分類したいパターンに対し
て、どの程度のメンバーシップ値を有するかを示したグ
ラフである。上記の実施例では、1、0しか有さなかっ
たが、台形の斜辺に相当する部分に値を有する場合もあ
り、一般的には、メンバーシップ値は、アナログ値を有
する。図7に示すメンバーシップ値から、ファジー論理
的に、AND演算を行なうと、各認識分類したいパター
ンのメンバーシップ値の最小値を取ることとなる。未知
のパターンに対して、パターンH、W、Nは、各々、
1、0、0となる。従って、未知のパターンは、100
%パターンHであるということができる。一方、メンバ
ーシップ値の最小値が、0ではないパターンがいくつも
あった場合には、その最小値の値を持って、あるパター
ンである度合いを推し量ることができる。In FIG. 2, an unknown character pattern is presented in place of the character pattern H, and the peak value of the correlation output intensity for each reference pattern is fetched into the computer 52, and for each of the above-mentioned patterns H, W, N to be recognized and classified. Assume that the membership functions are as shown in FIGS. 4, 5 and 6, respectively. At this time, the peak value of the correlation output intensity of the unknown character pattern is
Assume that an output at point b is obtained for the point and the pattern V. FIG.
Is a graph showing how much the point a and the point b have a membership value for each pattern to be recognized and classified. In the above embodiment, only 1 and 0 were included, but there may be a value in a portion corresponding to the hypotenuse of the trapezoid. Generally, the membership value has an analog value. When the AND operation is performed fuzzy logic based on the membership values shown in FIG. 7, the minimum value of the membership values of the patterns to be recognized and classified is obtained. For unknown patterns, patterns H, W, and N are:
1, 0, 0. Therefore, the unknown pattern is 100
% Pattern H. On the other hand, when there are a number of patterns in which the minimum value of the membership value is not 0, the degree of being a certain pattern can be estimated with the value of the minimum value.
【0025】図8は、上記合同フーリエ変換法を用いて
実際に実験したときに得た上記相関出力の広がりに応じ
た受光範囲の平均光量を基にして作成した参照パターン
EとVに対する認識分類したいパターン(アルファベッ
ト15パターン)のメンバーシップ関数を表している。
相関出力の広がりに応じた受光範囲の平均光量は、後に
詳述するが、例えば、図3によると、ピーク値を含めた
相関パターン全体の光量の平均光量である。FIG. 8 shows recognition classification for reference patterns E and V created based on the average light amount in the light receiving range according to the spread of the correlation output obtained when an experiment was actually performed using the above-described joint Fourier transform method. The membership function of the desired pattern (15 patterns of the alphabet) is shown.
The average light amount in the light receiving range according to the spread of the correlation output will be described in detail later. For example, according to FIG. 3, it is the average light amount of the entire correlation pattern including the peak value.
【0026】図8において、実線は、パターンEに対す
るメンバーシップ関数、破線は、パターンVに対するメ
ンバーシップ関数を表し、横軸を相関出力の平均光量で
表したものである。但し、1つしかないメンバーシップ
関数の無いものがあるが、これは、もう1つのメンバー
シップ関数が横軸のスケール内に納まらなかったので、
省略されたものである。図9は、実際に前記の合同フー
リエ変換法を用いて、実験して得られた結果を示し、未
知のパターンをアルファベット15パターンとして、各
々3回提示したときに得られた上記のファジー論理的A
ND演算結果により導いた各パターンの認識分類の程度
の表したものである。左側のアルファベットが入力パタ
ーンで、第1番目、第2番目の括弧内の数値は、各々参
照パターンE、Vに対する測定された相関の平均光量を
表わしている。また、右側のアルファベットが、図7の
メンバーシップ値のファジー論理的AND演算を行なっ
て得た認識文字で、数値は、AND演算結果を、100
倍したものである。In FIG. 8, the solid line represents the membership function for the pattern E, the broken line represents the membership function for the pattern V, and the horizontal axis represents the average light amount of the correlation output. However, there is one without one membership function, but this is because the other membership function did not fit within the horizontal scale,
It has been omitted. FIG. 9 shows the results obtained by experiments using the above-described joint Fourier transform method. The above-mentioned fuzzy logic obtained when the unknown pattern was presented three times each as 15 alphabetic patterns. A
It is a representation of the degree of recognition classification of each pattern derived from the ND operation result. The alphabet on the left is the input pattern, and the numbers in the first and second parentheses indicate the average light amounts of the measured correlations with respect to the reference patterns E and V, respectively. Further, the alphabet on the right side is a recognition character obtained by performing a fuzzy logical AND operation of the membership values shown in FIG.
It is doubled.
【0027】このように、紛らわしいものが幾つかある
が、程度の最も高いものを選択すれば、すべてのパター
ンをたった2つの参照パターンで識別したことになる。
これは、一般的な自己相関を用いた従来の相関処理には
見られない大きな特徴である。As described above, there are some confusing ones, but if the highest one is selected, all the patterns are identified by only two reference patterns.
This is a great feature not found in conventional correlation processing using general autocorrelation.
【0028】ここで、図9より分かることは、パターン
T、L、Iの組と、パターンK、Mの組が特に紛らわし
いが、これは、各パターンの特徴が類似しているため
で、Eは、縦と横の線、Vは斜めの線という大きな特徴
を持つ参照パターンだけでは分離が困難であるというこ
とである。このままでも、程度の高いものを取ることに
より、認識を行なったり、分類には使用することができ
るが、この影響を完全に取り除き、完全な認識を行なう
ような用途に用いようとした場合でも、非常に簡単な処
理で実現することができる。即ち、紛らわしいパターン
間のメンバーシップ関数が重ならないようなパターンを
1つ取り入れることにより、これを実現することができ
る。これは、ファジー論理的なAND演算を行なってい
るために、1つでもメンバーシップ値が0であれば違う
パターンと認識するからである。ここで新しく追加する
参照パターンは、先に述べたように、Oを使用すれば良
い。これは、E、Vでは分離できなかったT、L、I、
L、Mの特徴が、Oと相関を取ることにより分離するこ
とができるからである。そして、この参照パターンOと
すべての被検パターンで相関出力を取り、今までのメン
バーシップ関数に加えれば、未知のパターンを認識分類
するときは、今までの参照パターンと新しく加えられた
参照パターンで相関出力を取り、メンバーシップ関数を
作ってやれば、上記したファジー論理的AND演算によ
り認識分類できる。Here, it can be seen from FIG. 9 that the set of patterns T, L and I and the set of patterns K and M are particularly confusing, because the characteristics of each pattern are similar. Means that it is difficult to separate only by a reference pattern having a great feature of vertical and horizontal lines and V is an oblique line. Even if it is as it is, it can be used for recognition or classification by taking a high degree, but even if it is intended to remove this effect completely and use it for a complete recognition, It can be realized with very simple processing. That is, this can be realized by introducing one pattern in which membership functions between confusing patterns do not overlap. This is because since a fuzzy logical AND operation is performed, if at least one of the membership values is 0, it is recognized as a different pattern. Here, O may be used as a newly added reference pattern as described above. This is because T, L, I, which could not be separated by E and V
This is because the features of L and M can be separated by taking a correlation with O. If the correlation output is obtained from the reference pattern O and all the test patterns and added to the existing membership functions, when recognizing and classifying the unknown pattern, the existing reference pattern and the newly added reference pattern are used. If a correlation output is obtained and a membership function is created, recognition and classification can be performed by the above-described fuzzy logical AND operation.
【0029】尚、上記の実施例において、紛らわしい被
検パターンが最初からあった時だけでなく、被検パター
ンが増え、参照パターンの追加が必要になったときも、
同じように参照パターンOを用いて参照パターンを追加
し、増えた被検パターンに対して、従来の参照パターン
と新しい追加された参照パターンで作られる新しい参照
パターンセットを使って、メンバーシップ回路を作成し
てゆくだけで良い。今までの被検パターンと参照パター
ンOとのメンバーシップ関数を新たに作れば、未知の被
検パターンは、新しい参照パターンセットとの相関出力
を、用いたメンバーシップ関数により、上記のファジー
論理的AND演算により認識分類することができる。In the above embodiment, not only when there is a confusing test pattern from the beginning but also when the number of test patterns increases and a reference pattern needs to be added,
Similarly, a reference pattern is added using the reference pattern O, and a membership circuit is formed for the increased test pattern by using a new reference pattern set formed by the conventional reference pattern and the newly added reference pattern. Just create it. If a membership function between the conventional test pattern and the reference pattern O is newly created, the unknown test pattern can be obtained by calculating the correlation output with the new reference pattern set by the membership function using the above fuzzy logic. Recognition classification can be performed by an AND operation.
【0030】尚、上記の実施例において、メンバーシッ
プ関数を台形型にしたが、メンバーシップ関数に凹みが
ない、所謂、凸のファジー集合となるものであれば、ど
のようなものであっても、構わないことは、言うまでも
ないことである。また、本実施例における、メンバーシ
ップ関数の作成の基準を、標準偏差を取り、この3倍程
度をメンバーシップ関数の広がりの尺度としたが、この
広がりをどのように決めても良いことは言うまでもない
ことである。In the above-described embodiment, the membership function is trapezoidal. However, the membership function may be any fuzzy fuzzy set having no depression. It doesn't matter, of course. In addition, in the present embodiment, the standard for creating the membership function is the standard deviation, and about three times the standard deviation is used as a measure of the spread of the membership function. However, it is needless to say that this spread may be determined. That is.
【0031】例えば、メンバーシップ値が1になる領域
を標準偏差量の2倍に取れば、統計的には、検出される
相関度の約97%が、この領域に入るので、認識分類し
たいクラスをほぼ100%の割合で検出することができ
る。然し乍ら、メンバーシップ関数が広がるために、そ
の分他のクラスとの分離がしずらくはなる。さて、焼成
出力強度の取り方は色々ある。相関出力は、一般的に、
2つのパターンを、A(x,y)、B(x,y)としたとき、以下の
式で表示される。I(x’,y’)=∬A(x,y)B*(x’-x,y’-
y)dxdyここで、*は複素共役量を表わす。For example, if the area where the membership value becomes 1 is set to twice the standard deviation amount, approximately 97% of the detected degree of correlation falls into this area statistically. Can be detected at a rate of almost 100%. However, the spread of the membership function makes it difficult to separate from other classes. Now, there are various ways of obtaining the firing output intensity. The correlation output is generally
When the two patterns are A (x, y) and B (x, y), they are represented by the following equations. I (x ', y') = ∬A (x, y) B * (x'-x, y'-
y) dxdy where * represents the complex conjugate quantity.
【0032】この式から明らかに、相関出力は、パター
ンの大きさの2倍の広がりを有する。また、この相関出
力の分布は、A(x,y)、B(x,y)に応じて異なっているた
め、ピーク位置からこの広がりを考慮したエリア内の全
光量或いはその平均光量を取ることは、ピーク光量には
見られない各パターンの特徴がより良く反映された情報
を得ることとなる。また、相関出力のピーク値と相関パ
ターンの広がりに応じた受光領域の平均光量の両方を、
メンバーシップ関数として用いると、1つの参照パター
ンにつき2つの性質の異なる情報を取ることになるの
で、更に、参照パターン数を削減することができるし、
多くの情報からより確実な認識分類ができることとな
る。It is clear from this equation that the correlation output has twice the size of the pattern. Also, since the distribution of the correlation output is different depending on A (x, y) and B (x, y), it is necessary to take the total light amount or the average light amount in the area considering the spread from the peak position. Means that information that better reflects the characteristics of each pattern not seen in the peak light amount is obtained. Also, both the peak value of the correlation output and the average light amount of the light receiving region according to the spread of the correlation pattern
When used as a membership function, two pieces of information having different properties are obtained for one reference pattern, so that the number of reference patterns can be further reduced.
Recognition classification can be performed more reliably from a lot of information.
【0033】また、相関出力を検出する2次元受光素子
のダイナミックレンジに制限があるために、相関光量す
べてを受光することは実質上不可能である。そこで、相
関光量の最大値、即ち、相関出力のピーク値を、2次元
受光素子の最大の感度に合わせれば、相関光量をピーク
出力で検出する場合においては、最大の効果を上げるこ
とができる。ところが、相関出力の広がりに応じた受光
範囲の全光量或いは平均光量を取る場合においては、相
関出力のピーク出力が大きいので、相関出力のピーク以
外の出力を検出しても、あまり大きな値を得ることがで
きない場合がある。Further, since the dynamic range of the two-dimensional light receiving element for detecting the correlation output is limited, it is practically impossible to receive the entire correlation light amount. Therefore, when the maximum value of the correlation light amount, that is, the peak value of the correlation output is adjusted to the maximum sensitivity of the two-dimensional light receiving element, the maximum effect can be improved when the correlation light amount is detected by the peak output. However, in the case where the total light amount or the average light amount in the light receiving range according to the spread of the correlation output is taken, the peak output of the correlation output is large, so that even if an output other than the peak of the correlation output is detected, a very large value is obtained. May not be possible.
【0034】このような場合には、2次元受光素子の最
大の感度を、相関光量のピーク値より低いところに設定
し、相関出力のピーク値付近の光量に対しては、飽和さ
せるようにして、周辺のパターンの特徴を、より良く反
映させる部分の光量については、線形的な反応を示すよ
うに設定することにより、有効に2次元受光素子のダイ
ナミックレンジを使用することができるようになる。従
って、相関出力の広がりに応じた受光範囲の全光量或い
は平均光量を取る場合には、非常に有効になる。In such a case, the maximum sensitivity of the two-dimensional light receiving element is set at a position lower than the peak value of the correlation light amount, and the light amount near the peak value of the correlation output is saturated. The dynamic range of the two-dimensional light receiving element can be effectively used by setting the light amount of the portion where the characteristics of the peripheral pattern is better reflected so as to exhibit a linear response. Therefore, it is very effective to obtain the total light amount or the average light amount in the light receiving range according to the spread of the correlation output.
【0035】また、ここでは、相関出力よりメンバーシ
ップ関数を作成し、認識分類する方法について説明した
が、この他の方法として、ニューラルネットワークを用
いる方法もある。一般的にニューラルネットワークにお
って2次元画像パターンを認識分類するには、従来、パ
ターンの画素数の数だけ、入力ニューロンが必要とさ
れ、それによって構成されるニューラルネットワーク
は、非常複雑で膨大な結線や中間ニューロンを必要とす
るため数多くの画像パターンを認識分類するのは、困難
であった。ここで、前記光学的相関処理により被検パタ
ーンと参照パターンとの相関を取り、これを被検パター
ンの情報として参照パターンの数に対応した入力ニュー
ロンを持つニューラルネットワークに入力値として入れ
てやることにより、非常に少ない入力ニューロン数のニ
ューラルネットワークで数多くのパターンを認識分類す
ることができる。ここで、述べたニューラルネットワー
クは、入力ニューロンに相関出力を入力するものであれ
ば、どのようなものであっても良い。Although a method of creating a membership function from correlation outputs and performing recognition and classification has been described here, there is another method using a neural network. In general, in order to recognize and classify a two-dimensional image pattern in a neural network, conventionally, input neurons are required by the number of pixels of the pattern, and a neural network formed by the input neuron is very complicated and huge. Recognizing and classifying a large number of image patterns was difficult because of the need for connections and intermediate neurons. Here, a correlation between the test pattern and the reference pattern is obtained by the optical correlation process, and the correlation is input as information of the test pattern to a neural network having input neurons corresponding to the number of reference patterns as input values. Thus, a large number of patterns can be recognized and classified with a neural network having a very small number of input neurons. Here, the neural network described above may be of any type as long as a correlation output is input to an input neuron.
【0036】即ち、一般的な3層構造のニューラルネッ
トワークや、前記複数の参照パターンと認識分類したい
第1のクラスに属するパターンとの第1の相関出力値
と、前記第1の相関出力ちと前記複数の参照パターンと
認識分類したい第2のクラスに属するパターンの第2の
相関出力値との距離に対応した量を基準に重み付けを行
なうようなニューラルネットワークや、距離に準ずる量
を評価関数として、特徴空間において、認識分類したい
クラスが、そのクラス毎に超球面で囲まれた識別領域を
作るニューラルネットワークなどでも良い。That is, a first three-layer structure neural network, a first correlation output value between the plurality of reference patterns and a pattern belonging to a first class to be recognized and classified, and the first correlation output and the first correlation output A neural network that performs weighting based on an amount corresponding to a distance between a plurality of reference patterns and a second correlation output value of a pattern belonging to a second class to be recognized and classified, or an amount based on distance as an evaluation function, In the feature space, the class to be recognized and classified may be a neural network or the like that forms an identification area surrounded by a hypersphere for each class.
【0037】また、ニューラルネットワークとは別に前
記光学的相関処理装置により得られた前記認識分類した
い第1のクラスに属するパターンと前記複数の参照パタ
ーンとの第1の相関出力値、前記第1の相関出力値と前
記複数の参照パターンと認識分類したい第2のクラスに
属するパターンとの第2の相関出力値との距離に対応す
る量を示す諸量を基準にして、特徴空間内で、あるクラ
スの相関出力値に最も距離が近い別のクラスの相関出力
値の距離の中点までの距離を半径とした超球面で囲まれ
る閉領域をクラス毎の識別領域とするパターン認識分類
方法であっても構わない。Further, a first correlation output value between a pattern belonging to the first class to be recognized and classified and obtained by the optical correlation processing device and the plurality of reference patterns separately from the neural network; In a feature space, the correlation output value and the plurality of reference patterns and a pattern belonging to the second class to be recognized and classified are based on various quantities indicating a distance corresponding to a distance between the second correlation output value. A pattern recognition and classification method in which a closed area surrounded by a hypersphere having a radius equal to the distance to the midpoint of the distance of the correlation output value of another class closest to the correlation output value of the class is used as an identification area for each class. It does not matter.
【0038】尚、本実施例における、相関光学系は、ど
のようなものであっても構わない。また、合同フーリエ
変換光学系においても、種々の光学系が提案されている
が、図1のスクリーン31、2次元光電変換素子32、
画像表示装置33、電気アドレス型液晶ライトバルブ3
5の代わりに光アドレス型の液晶ライトバルブを用いて
も、どうようなことが可能であることはいうまでもな
い。尚、本発明において、空間光変調器の働きをしてい
る部分については、使用上の差異があるが、原理的に
は、すべて同様な電気アドレス型のもの及び光アドレス
型のものが使用可能である。また、アナログ的なものや
デジタル的なものでも、使用可能である。In this embodiment, the correlation optical system may be of any type. Various optical systems have also been proposed for the joint Fourier transform optical system, but the screen 31, the two-dimensional photoelectric conversion element 32,
Image display device 33, electric address type liquid crystal light valve 3
It goes without saying that what can be done by using an optical address type liquid crystal light valve instead of 5 is also possible. In the present invention, there is a difference in the use of the portion functioning as a spatial light modulator, but in principle, the same electrical address type and optical address type can all be used. It is. In addition, an analog type or a digital type can be used.
【0039】さて、上記実施例においては、相関出力を
得るための光学系として、合同フーリエ変換器を用いた
が、この場合には、参照パターンの追加や書替が容易で
あるという長所を有する。また、画像表示装置16に、
複数の参照パターンと1つの被検パターンを同時に提示
することにより、同時並列的に複数の参照パターンと被
検パターンの相関出力を取ることができる。然し乍ら、
複数の参照パターンを同時に提示する場合、図1のスク
リーン31上の多重干渉縞パターンのコントラスト比が
参照パターンの増加と共に低下するために、得られる相
関出力が低下することにより、メンバーシップ関数の割
り当てられるダイナミックレンジが低くなり、実質上の
パターン識別能力を低下させることになる。本実施例で
は、画像表示装置16には、図2に示すように、参照パ
ターン1個と被検パターン1個を表示した時系列的に処
理する方法を説明したが、相関出力の低下を避け、複数
の参照パターンと被検パターンの相関出力を同時に検出
できるような相関処理方法を用いた実施例を以下に説明
する。In the above embodiment, the joint Fourier transformer is used as the optical system for obtaining the correlation output. In this case, however, there is an advantage that the reference pattern can be easily added or rewritten. . Also, the image display device 16
By simultaneously presenting a plurality of reference patterns and one test pattern, a correlation output of the plurality of reference patterns and the test pattern can be obtained simultaneously and in parallel. However,
When presenting a plurality of reference patterns at the same time, the contrast ratio of the multiple interference fringe patterns on the screen 31 of FIG. 1 decreases with the increase in the number of reference patterns. Resulting in a reduced dynamic range, which effectively reduces the pattern discrimination ability. In the present embodiment, as shown in FIG. 2, the image display device 16 has described a method of processing one reference pattern and one test pattern in chronological order. An embodiment using a correlation processing method that can simultaneously detect correlation outputs of a plurality of reference patterns and a test pattern will be described below.
【0040】[0040]
【実施例2】図10は、既知のマッチドフィルタを再生
する光学系を示す。マッチドフィルタ61は、予め複数
の参照パターンを光学的にフーリエ変換したパターン
を、各参照パターン毎に平面波の照射方向を変えなが
ら、多重記録したものを用いる。Embodiment 2 FIG. 10 shows an optical system for reproducing a known matched filter. As the matched filter 61, a pattern obtained by optically Fourier transforming a plurality of reference patterns in advance and multiplex-recording them while changing the irradiation direction of the plane wave for each reference pattern is used.
【0041】図10に示すように、レーザ11より出射
された光束12は、ビームエキスパンダ13により適当
な光束系に広げられ、画像表示装置16に描かれた認識
分類したいパターンを照射する。次に、パターンの複素
振幅分布を有する光束は、フーリエ変換レンズ21によ
りフーリエ変換され、マッチドフィルタ上に描かれた多
重干渉縞パターンを照射する。このとき、認識分類した
いパターンと同じ空間周波数スペクトラムを有する参照
パターンから、その参照パターンを作成したときに用い
た平面波の方向に回折光が出射される。この回折光を集
光レンズ22によりスクリーン31上に集光すれば、一
方の回折光は、参照パターンと認識分類したいパターン
との相互相関パターンとなり、他方は、コンボリューシ
ョンとなる。そこで、各参照パターンによる相互相関出
力が現れる位置は、予め判っているので、その位置の相
関出力強度のピーク値或いは全光量を測定することがで
きる。As shown in FIG. 10, a light beam 12 emitted from a laser 11 is spread by a beam expander 13 into an appropriate light beam system, and irradiates a pattern to be recognized and classified drawn on an image display device 16. Next, the luminous flux having the complex amplitude distribution of the pattern is Fourier-transformed by the Fourier transform lens 21, and irradiates a multiple interference fringe pattern drawn on the matched filter. At this time, diffracted light is emitted from the reference pattern having the same spatial frequency spectrum as the pattern to be recognized and classified in the direction of the plane wave used when creating the reference pattern. When this diffracted light is condensed on the screen 31 by the condenser lens 22, one of the diffracted lights becomes a cross-correlation pattern between the reference pattern and the pattern to be recognized and classified, and the other becomes a convolution. Therefore, since the position where the cross-correlation output by each reference pattern appears is known in advance, the peak value of the correlation output intensity at that position or the total light amount can be measured.
【0042】以下、他の認識分類したいパターンについ
て、同様に相関出力強度を測定し、パターン認識分類法
及び参照パターンセットの作成手段及び追加手段は、上
記の実施例と同様であるので、省略する。次に、簡単
に、集積化が比較的に簡単な光学系の1例で説明する。Hereinafter, the correlation output intensity is similarly measured for other patterns to be recognized and classified, and the pattern recognition and classification method and the means for creating and adding the reference pattern set are the same as those in the above-described embodiment, and therefore will not be described. . Next, an example of an optical system whose integration is relatively simple will be simply described.
【0043】[0043]
【実施例3】図11に示す例は、既知のインコヒーレン
ト相関光学系である。光学系としては、画像表示装置1
6と参照パターンマスク62とを近接して並べ、画像表
示装置16上に描かれたパターンと参照パターンとの積
の出力を、集光レンズアレイ71を用いて、スクリーン
31上に集光し、2次元光電変換素子53で、集光され
た各参照パターンからの出力を検出するものである。本
実施例では、画像表示装置16上には、参照パターンマ
スク62に対応した画素に認識分類したいパターンを、
アレイ状に並べて表示することになる。この場合、各参
照パターンと認識分類したいパターンとの相互相関ピー
クが検出されることになる。Embodiment 3 An example shown in FIG. 11 is a known incoherent correlation optical system. The image display device 1 is used as an optical system.
6 and the reference pattern mask 62 are arranged close to each other, and the output of the product of the pattern drawn on the image display device 16 and the reference pattern is condensed on the screen 31 using the condensing lens array 71, The two-dimensional photoelectric conversion element 53 detects the output from each of the collected reference patterns. In the present embodiment, a pattern to be recognized and classified into pixels corresponding to the reference pattern mask 62 is displayed on the image display device 16.
They will be displayed in an array. In this case, a cross-correlation peak between each reference pattern and a pattern to be recognized and classified is detected.
【0044】以下の動作は、画像表示装置上に認識分類
したいパターンを次々に表示し、それらの相関出力を用
いて、実施例1と同様なことが可能である。このため、
参照パターンの作成手段と追加手段及びパターン認識分
類方法は、省略する。この場合には、入力パターンの並
進ズレに対する許容度は、全くなくなってしまうが、非
常に簡単な構成で、しかも、集積化し易いという特徴を
有する。次に、被検パターンのパターン表示面での並進
ズレに完全に対応できるシフトインバリアントな相関光
学系の1例で説明する。The following operation can be performed in the same manner as in the first embodiment by displaying patterns to be recognized and classified one after another on the image display device and using their correlation outputs. For this reason,
A reference pattern creating unit, an adding unit, and a pattern recognition / classification method are omitted. In this case, there is no tolerance for the translational deviation of the input pattern, but the input pattern has a very simple configuration and is easily integrated. Next, an example of a shift-invariant correlation optical system that can completely cope with a translational deviation of a test pattern on a pattern display surface will be described.
【0045】[0045]
【実施例4】図12は、被検パターンのパターン表示面
での並進ズレに完全に対応できるシルトインバリアント
な相関光学系の構成を示す。この光学系では、画像表示
装置16上に描かれる参照パターンを、レーザ11によ
り出力された光束21により読み出し、フーリエ変換レ
ンズ21によりスクリーン31上に参照パターンのフー
リエ変換パターンを表示させ、そのフーリエ変換パター
ン強度を画像表示装置63に透過率分布或いは反射率分
布として表し、フィルタとするか、又は、参照パターン
を画像表示装置63に透過率分布或いは反射率分布とし
て、表し、フィルタとする。画像表示装置64に描かれ
た被検パターンが、フーリエ変換レンズにより画像表示
装置63を透過或いは反射するとき、前記フィルタによ
り透過或いは反射してきた光量は、参照パターンのフー
リエ変換パターン或いは参照パターンと被検パターンの
フーリエ変換パターンとの疑似的な相関出力となる。Embodiment 4 FIG. 12 shows a configuration of a silt invariant correlation optical system which can completely cope with a translational deviation of a pattern to be detected on a pattern display surface. In this optical system, a reference pattern drawn on an image display device 16 is read out by a light beam 21 output by a laser 11, a Fourier transform lens 21 is used to display a Fourier transform pattern of the reference pattern on a screen 31, and its Fourier transform is performed. The pattern intensity is expressed as a transmittance distribution or a reflectance distribution on the image display device 63 and used as a filter, or the reference pattern is expressed as a transmittance distribution or a reflectance distribution on the image display device 63 and used as a filter. When the test pattern drawn on the image display device 64 is transmitted or reflected by the Fourier transform lens through the image display device 63, the amount of light transmitted or reflected by the filter is equal to the Fourier transform pattern of the reference pattern or the light intensity of the reference pattern. It becomes a pseudo correlation output between the detection pattern and the Fourier transform pattern.
【0046】また、次のようにしても良い。即ち、画像
表示装置16上に描かれた被検パターンをレーザ11に
より出力された光束21により読み出し、フーリエ変換
レンズ21によりスクリーン31上に被検パターンのフ
ーリエ変換パターンを表示させ、そのフーリエ変換パタ
ーン強度を、画像表示装置63に透過率分布或いは反射
率分布として、表し、フィルタとし、画像表示装置34
に描かれた1つ或いは複数の参照パターンがフーリエ変
換レンズにより画像表示装置63を透過或いは反射する
とき、前記フィルタにより、透過或いは反射してきた光
量は、1つ或いは複数の参照パターンのフーリエ変換パ
ターンと被検パターンのフーリエ変換パターンとの疑似
的な相関出力となる。特に、複数の参照パターンを同時
に提示した場合は、完全に同時並列的に各参照パターン
のフーリエ変換パターンと被検パターンのフーリエ変換
パターンの疑似的な相関強度を取ることができるので、
非常に高速でシフトインバリアントなパターン認識分類
方法の光学系として使用することができる。Further, the following may be performed. That is, the test pattern drawn on the image display device 16 is read out by the light beam 21 output by the laser 11, and the Fourier transform lens 21 displays the Fourier transform pattern of the test pattern on the screen 31. The intensity is expressed as a transmittance distribution or a reflectance distribution on the image display device 63, and is used as a filter.
When one or a plurality of reference patterns drawn in the above are transmitted or reflected by the Fourier transform lens through the image display device 63, the amount of light transmitted or reflected by the filter becomes the Fourier transform pattern of the one or more reference patterns. And a Fourier transform pattern of the test pattern. In particular, when a plurality of reference patterns are presented at the same time, a pseudo-correlation strength between the Fourier transform pattern of each reference pattern and the Fourier transform pattern of the test pattern can be obtained in a completely simultaneous and parallel manner.
It can be used as an optical system for a very fast and shift-invariant pattern recognition and classification method.
【0047】以下、同様に、被検パターンを次々に画像
表示装置16又は64に描いて、参照パターンと疑似的
な相関出力を取り、それらの相関出力を用いて実施例1
と同様に、認識分類することができる。このために、参
照パターンの作成手段と追加手段及びパターン認識分類
方法は、省略することができる。In the same manner, similarly, the test patterns are drawn one after another on the image display device 16 or 64, a pseudo correlation output with the reference pattern is obtained, and the first embodiment is used by using those correlation outputs.
In the same manner as in, recognition and classification can be performed. For this reason, the reference pattern creation unit and the addition unit, and the pattern recognition and classification method can be omitted.
【0048】[0048]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の参照パタ
ーンの作成手段と追加手段によるパターン認識分類方法
により、前記のような効果が得られた。それらをまとめ
ると、次のような顕著な技術的効果となる。即ち、第1
に、参照パターンの候補であるパターンのすべての組合
わせの相関出力値を取り、該相関出力値の最も低い組を
先ず最初の参照パターンのセットとして、次に、その2
組の参照パターンのどちらにも相関出力が低いパターン
を新しい参照パターンとしていき、この繰り返しで次々
に所望の数まで参照パターンのセットを決めていくこと
により、参照パターンの作成時間を大幅に短縮すること
ができ、且つ、合理的な参照パターンの作成手段を用い
たパターン認識分類方法を提供することができた。As described above, the above-described effects are obtained by the pattern recognition and classification method according to the reference pattern creating means and the adding means of the present invention. Summarizing them has the following remarkable technical effects. That is, the first
Next, the correlation output values of all combinations of patterns that are candidates for reference patterns are taken, the lowest set of the correlation output values is first set as the first reference pattern set, and
A pattern having a low correlation output is set as a new reference pattern for any of the reference patterns in the set, and a set of reference patterns is determined to a desired number one after another by this repetition, thereby greatly reducing the time required to create the reference pattern. Thus, a pattern recognition / classification method using a reasonable reference pattern creation unit can be provided.
【0049】第2に、被検パターンの数や種類に全く関
係なく、参照パターンの候補として予め用意されたパタ
ーンから参照パターンを選ぶために、選ばれた参照パタ
ーンに一般性があることにより、異なる種類の被検パタ
ーンのセットに対しても新たに参照パターンを選び出す
必要のない参照パターンの作成手段を用いたパターン認
識分類方法を提供することができた。第3に、参照パタ
ーン同志がなるべく異なった特徴を持つように選ばれる
ため、認識分類したいパターンの相関出力は、各参照パ
ターンについて、バラツキが多くなり、特徴空間が広く
取れることにより、実質的に参照パターンの数が少なく
ても認識分類したいパターンをより多く取ることができ
る参照パターンの作成手段を用いたパターン認識分類方
法を提供することができた。Second, in order to select a reference pattern from patterns prepared in advance as reference pattern candidates irrespective of the number and type of test patterns, the selected reference pattern has generality. It is possible to provide a pattern recognition and classification method using a reference pattern creating unit that does not need to newly select a reference pattern for a set of test patterns of different types. Third, since the reference patterns are selected so as to have different characteristics as much as possible, the correlation output of the pattern to be recognized and classified has a large variation for each reference pattern, and a wide feature space is obtained. A pattern recognition / classification method using a reference pattern creating unit capable of obtaining more patterns to be recognized / classified even when the number of reference patterns is small can be provided.
【0050】第4に、被検パターンの追加などで参照パ
ターンの追加が必要とされるとき、前記参照パターンの
候補として、予め用意されたパターンから前記参照パタ
ーンの作成手段と同様にして、新たな参照パターンを追
加し、いままで使用していた参照パターンのセットと新
しい参照パターンにより、新しく追加された被検パター
ンについて、相関出力を取ることにより時間も短く、合
理的な参照パターンの追加手段を用いたパターン認識分
類方法を提供することができた。Fourthly, when it is necessary to add a reference pattern due to the addition of a test pattern or the like, a new reference pattern candidate is prepared from the previously prepared pattern in the same manner as the reference pattern creation means. By adding a new reference pattern and using a set of reference patterns that have been used up to now and a new reference pattern, it is possible to obtain a correlation output for newly added test patterns, shorten the time, and add reasonable reference patterns. Could provide a pattern recognition and classification method using.
【図1】本発明のパターン認識分類方法において、光学
的相関処理装置として用いる1例としての合同フーリエ
変換光学系を示す模式的構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a joint Fourier transform optical system as an example used as an optical correlation processing device in a pattern recognition / classification method of the present invention.
【図2】本発明のパターン認識分類方法において、光学
的相関処理装置として合同フーリエ変換光学系を用いら
場合の認識したいパターンと参照パターンとを表示した
様子を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a state in which a pattern to be recognized and a reference pattern are displayed when a joint Fourier transform optical system is used as an optical correlation processing device in the pattern recognition / classification method of the present invention.
【図3】本発明のパターン認識分類方法において、光学
的相関処理装置として合同フーリエ変換光学系を用いた
場合の相関出力の状態を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a state of a correlation output when a joint Fourier transform optical system is used as an optical correlation processing device in the pattern recognition / classification method of the present invention.
【図4】本発明のパターン認識分類方法において、1つ
の認識分類したいパターンに対する各参照パターンの相
関度を基に作成されたメンバーシップ関数を表した図で
ある。FIG. 4 is a diagram showing a membership function created based on the degree of correlation of each reference pattern with respect to one pattern to be recognized and classified in the pattern recognition and classification method of the present invention.
【図5】本発明のパターン認識分類方法において、別の
1つの認識分類したいパターンに対する各参照パターン
の相関度を基に作成されたメンバーシップ関数を表した
図である。FIG. 5 is a diagram showing a membership function created based on the degree of correlation of each reference pattern with another pattern to be recognized and classified in the pattern recognition and classification method of the present invention.
【図6】本発明のパターン認識分類方法において、更に
別の1つの認識分類したいパターンに対する各参照パタ
ーンの相関度を基に作成されたメンバーシップ関数を表
した図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a membership function created based on the degree of correlation of each reference pattern with another pattern to be recognized and classified in the pattern recognition and classification method of the present invention.
【図7】本発明のパターン認識分類方法において、未知
のパターンに対する各参照パターンの相関度が認識分類
されるべきパターンに対して有したメンバーシップ値を
表した表である。FIG. 7 is a table showing a membership value of a reference pattern with respect to an unknown pattern in a pattern recognition / classification method of the present invention, the membership value having a pattern to be recognized / classified.
【図8】本発明のパターン認識分類方法において、実験
的に得られた2つの参照パターンに対する認識分類させ
たい15パターンのメンバーシップ関数を表した図であ
る。FIG. 8 is a diagram showing membership functions of 15 patterns to be recognized and classified for two experimentally obtained reference patterns in the pattern recognition and classification method of the present invention.
【図9】本発明のパターン認識分類方法において、実験
的に得られたファジー的AND演算を用いた未知のパタ
ーンに対する認識結果と認識結果の確度を表した図であ
る。FIG. 9 is a diagram illustrating a recognition result for an unknown pattern using an experimentally obtained fuzzy AND operation and the accuracy of the recognition result in the pattern recognition and classification method of the present invention.
【図10】本発明のパターン認識分類方法において、光
学的相関処理装置として用いた別の1例としてのマッチ
ドフィルタを用いた光学系の模式的構成図である。FIG. 10 is a schematic configuration diagram of an optical system using a matched filter as another example used as an optical correlation processing device in the pattern recognition / classification method of the present invention.
【図11】本発明のパターン認識分類方法において、光
学的相関処理装置として用いた更に別の1例としての光
学系の模式的構成図である。FIG. 11 is a schematic configuration diagram of an optical system as still another example used as an optical correlation processing device in the pattern recognition / classification method of the present invention.
【図12】本発明のパターン認識分類方法において、光
学的相関処理装置として用いた更に別の1例としての光
学系の模式的構成図である。。FIG. 12 is a schematic configuration diagram of an optical system as still another example used as an optical correlation processing device in the pattern recognition / classification method of the present invention. .
1、3 画像出力手段 2、4 光学的フーリエ変換
手段 5 光検出手段 11 レーザ 12、37 光束 13 ビームエキスパンダ 14、17 ビームスプリッター 16、63、64 画像表示装置 21、41 フーリエ変換レンズ 22、54 集光レンズ 31、51 スクリーン 32、53 2次元光電変換素子 33 画像処理装置 34 ミラー 35 液晶ライトバルブ 52 コンピュータ 61 マッチドフィルタ 62 参照パターンマスク 71 集光レンズアレイ1, 3 Image output means 2, 4 Optical Fourier transform means 5 Light detection means 11 Laser 12, 37 Light flux 13 Beam expander 14, 17 Beam splitter 16, 63, 64 Image display device 21, 41 Fourier transform lens 22, 54 Condensing lens 31, 51 Screen 32, 53 Two-dimensional photoelectric conversion element 33 Image processing device 34 Mirror 35 Liquid crystal light valve 52 Computer 61 Matched filter 62 Reference pattern mask 71 Condensing lens array
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 15/18 G02F 3/00 502 G06T 7/00 JICSTファイル(JOIS)──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) G06F 15/18 G02F 3/00 502 G06T 7/00 JICST file (JOIS)
Claims (18)
ターンと複数の参照パターンとの相関出力を複数回取
り、得られた相関度の集合の第1の代表値を少なくとも
基準にし、又は、認識分類したい第2のクラスに属する
パターンと前記複数の参照パターンとの相関出力を複数
回取り、得られた相関度の集合の第2の代表値と前記第
1の代表値との距離、即ち、前記複数の参照パターンの
各々が有する座標軸が作る特徴空間内の距離、に対応す
る量を少なくとも基準にしたパターン認識分類する方法
において、或いは、認識分類したいクラスに属するパタ
ーンと前記複数の参照パターンとの相関出力を前記複数
の参照パターンに対応する入力ニューロンを持つニュー
ラルネットワークの入力値とするパターン認識分類方法
において、 参照パターンの候補として予め用意されたパターン群同
志の全ての組合わせで得られる相関出力が最も小さいパ
ターン同志を、参照パターンのセットとし、前記参照パ
ターンのセット全てに対して相関出力の低いパターン
を、前記参照パターンのセットに加えて行き、前記参照
パターン数が認識分類したいクラスに属するパターンを
認識するのに十分な数になるまで繰り返す参照パターン
の作成手段により、前記複数の参照パターンを作成する
ことを特徴とするパターン認識分類方法。1. A correlation output between a pattern belonging to a first class to be recognized and classified and a plurality of reference patterns is taken a plurality of times, and at least a first representative value of a set of obtained correlations is used as a reference or a recognition is performed. The correlation output between the pattern belonging to the second class to be classified and the plurality of reference patterns is taken a plurality of times, and the distance between the second representative value of the obtained set of correlation degrees and the first representative value, that is, The distance in the feature space created by the coordinate axes of each of the plurality of reference patterns, in a method for pattern recognition and classification based on at least an amount corresponding to, or a pattern belonging to a class to be recognized and classified and the plurality of reference patterns, A pattern recognition and classification method in which the correlation output of the above is used as an input value of a neural network having input neurons corresponding to the plurality of reference patterns. The pattern outputs having the smallest correlation output obtained from all combinations of the pattern groups prepared in advance as candidates for the pattern are set as a reference pattern set, and a pattern having a low correlation output for all of the reference pattern sets is set as a reference pattern set. Creating the plurality of reference patterns by means of a reference pattern creating unit that goes in addition to the set of reference patterns and repeats until the number of the reference patterns becomes a sufficient number to recognize a pattern belonging to a class to be recognized and classified. A pattern recognition classification method characterized by the following.
ーンと複数の参照パターンとの相関出力を複数回取り、
得られた相関度の集合の第1の代表値を少なくとも基準
にし、又は、認識分類したい第2のクラスに属するパタ
ーンと前記複数の参照パターンとの相関出力を複数回取
り、得られた相関度の集合の第2の代表値と前記第1の
代表値との距離、即ち、前記複数の参照パターンの各々
が有する座標軸が作る特徴空間内の距離、に対応する量
を少なくとも基準にしたパターン認識分類する方法にお
いて、或いは、認識分類したいクラスに属するパターン
と前記複数の参照パターンとの相関出力を前記複数の参
照パターンに対応する入力ニューロンを持つニューラル
ネットワークの入力値とするパターン認識分類方法にお
いて、認識分類したいクラスに属するパターンが追加さ
れ、前記複数の参照パターンでは、認識分類が困難であ
るとき、参照パターンの候補として、予め用意されたパ
ターン群から新たな参照パターンを、請求項1に記載の
参照パターンの作成手段により選び、複数の参照パター
ンに新たな参照パターンを追加し、新たに複数の参照パ
ターンを作成し、前記追加された認識分類したいクラス
に属するパターンと前記新たな複数の参照パターンとの
相関出力を取る参照パターンの追加手段を用いて、前記
複数の参照パターンを作成することを特徴とするパター
ン認識分類方法。2. A correlation output between a pattern belonging to a first class to be recognized and classified and a plurality of reference patterns is obtained a plurality of times.
A correlation output between a pattern belonging to a second class to be recognized and classified and the plurality of reference patterns is obtained a plurality of times with at least a first representative value of the obtained set of correlations as a reference. Pattern recognition based on at least a quantity corresponding to a distance between a second representative value of the set of the reference patterns and the first representative value, that is, a distance in a feature space formed by coordinate axes of each of the plurality of reference patterns. In a classifying method, or in a pattern recognition / classifying method in which a correlation output between a pattern belonging to a class to be recognized and classified and the plurality of reference patterns is an input value of a neural network having input neurons corresponding to the plurality of reference patterns, When a pattern belonging to a class to be recognized and classified is added, and the plurality of reference patterns make recognition and classification difficult, a reference pattern A new reference pattern is selected from a group of patterns prepared in advance by the reference pattern creating means according to claim 1, and a new reference pattern is added to the plurality of reference patterns, and a plurality of new reference patterns are newly added. Generating a plurality of reference patterns by using a reference pattern adding unit that obtains a correlation output between a pattern belonging to the added class to be recognized and classified and the new plurality of reference patterns. Pattern recognition classification method.
も相関出力の低いパターンの選び方は、前記参照パター
ンの候補として予め用意されたパターン群各々と、前記
参照パターンのセットとの相関出力の総和を比べ、その
最も低い値を持つパターンを選ぶことを特徴とする請求
項1に記載のパターン認識分類方法。3. A method of selecting a pattern having the lowest correlation output with respect to the entire set of reference patterns is performed by selecting a total of correlation outputs between each of a group of patterns prepared in advance as candidates for the reference pattern and the set of reference patterns. And selecting a pattern having the lowest value.
も相関出力の低いパターンの選び方は、前記参照パター
ンの候補として予め用意されたパターン群各々と前記参
照パターンのセットとの相関出力の自乗和を比べ、その
最も低い値を持つパターンを選ぶことを特徴とする請求
項1に記載のパターン認識分類方法。4. A method of selecting a pattern having the lowest correlation output with respect to all of the reference pattern sets is performed by selecting a pattern group prepared in advance as a reference pattern candidate and a sum of squares of correlation outputs of the reference pattern sets. And selecting a pattern having the lowest value.
も相関出力の低いパターンの選び方は、前記参照パター
ンの候補として予め用意されたパターン群各々と前記参
照パターンのセットとの相関出力の総和と自乗和を比
べ、そのどちらも低い値を持つパターンを選ぶことを特
徴とする請求項1に記載のパターン認識分類方法。5. A method of selecting a pattern having the lowest correlation output with respect to all of the sets of reference patterns is performed by selecting a total of correlation outputs between each of a group of patterns prepared in advance as candidates for the reference pattern and the set of reference patterns. 2. The pattern recognition and classification method according to claim 1, wherein the sum of squares is compared, and a pattern having a lower value in each of the sums is selected.
の相関出力は、被検パターンと前記複数の各参照パター
ンとの自己相関出力或いは相互相関出力のピーク値とす
る前記の参照パターンの作成手段と前記の参照パターン
の追加手段を用いることを特徴とする請求項1或いは2
に記載のパターン認識分類方法。6. The generation of the reference pattern, wherein the correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is a peak value of an autocorrelation output or a cross-correlation output between the test pattern and each of the plurality of reference patterns. And means for adding the reference pattern.
The pattern recognition classification method described in 1.
の相関出力は、被検パターンと前記複数の各参照パター
ンとの自己相関出力或いは相互相関出力の広がりに応じ
た受光範囲の全光量或いは平均光量である前記の参照パ
ターンの作成手段と前記の参照パターンの追加手段を用
いることを特徴とする請求項1或いは2に記載のパター
ン認識分類方法。7. A correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern, the total light amount in a light receiving range corresponding to the spread of the auto-correlation output or the cross-correlation output between the test pattern and each of the plurality of reference patterns, or 3. The pattern recognition / classification method according to claim 1, wherein a means for creating the reference pattern having an average light amount and an means for adding the reference pattern are used.
の相関出力は、被検パターンと前記複数の各参照パター
ンとの自己相関出力或いは相互相関出力のピーク値と、
相関出力の広がりに応じた受光範囲の全光量或いは平均
光量である前記の参照パターンの作成手段と前記の参照
パターンの追加手段を用いることを特徴とする請求項1
或いは2に記載のパターン認識分類方法。8. A correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern, a peak value of an autocorrelation output or a cross-correlation output of the test pattern and each of the plurality of reference patterns,
2. The apparatus according to claim 1, wherein said reference pattern creation means and said reference pattern addition means, which are the total light amount or the average light amount in the light receiving range according to the spread of the correlation output, are used.
Alternatively, the pattern recognition / classification method described in 2.
の相関出力は、2次元受光素子からの出力値を、被検パ
ターン若しくは被検パターンと複数の参照パターンから
の透過光量又は反射光量で規格化した量とする前記の参
照パターンの作成手段と前記の参照パターンの追加手段
を用いることを特徴とする請求項1或いは2に記載のパ
ターン認識分類方法。9. A correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is obtained by converting an output value from a two-dimensional light receiving element into a test pattern or the amount of light transmitted or reflected from the test pattern and the plurality of reference patterns. 3. The pattern recognition and classification method according to claim 1, wherein said reference pattern creating means and said reference pattern adding means are used as a standardized amount.
との相関出力は、2次元受光素子の線形範囲若しくは該
相関出力の一部が、2次元光電変換素子の最大受光量を
超える範囲で得られたものであるとする前記の参照パタ
ーンの作成手段と前記の参照パターンの追加手段を用い
ることを特徴とする請求項1或いは2に記載のパターン
認識分類方法。10. A correlation output between the plurality of reference patterns and a test pattern is obtained in a linear range of a two-dimensional light receiving element or in a range where a part of the correlation output exceeds a maximum light receiving amount of a two-dimensional photoelectric conversion element. 3. The pattern recognition and classification method according to claim 1, wherein said reference pattern creating means and said reference pattern adding means are used.
との相関出力は、フーリエ変換ホログラムを用いて作成
したフィルタを用いて得られる前記の参照パターンの作
成手段と前記の参照パターンの追加手段を用いることを
特徴とする請求項1或いは2に記載のパターン認識分類
方法。11. A correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern, the reference pattern creating means and the reference pattern adding means obtained by using a filter created by using a Fourier transform hologram. 3. The pattern recognition and classification method according to claim 1, wherein the method is used.
との相関出力は、被検パターンと前記の各参照パターン
との合同フーリエ変換を個別に行なうことにより得られ
た強度パターンを、再び、光学的に個別にフーリエ変換
するか、或いは、被検パターンと各参照パターンとの合
同フーリエ変換をフーリエ変換レンズアレイにより一括
して行なうことにより得られた強度パターンを、再びフ
ーリエ変換レンズアレイにより光学的に一括してフーリ
エ変換することによる前記の参照パターンの作成手段と
前記の追加手段を有することを特徴とする請求項1或い
は2に記載のパターン認識分類方法。12. A correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is obtained by converting an intensity pattern obtained by individually performing a joint Fourier transform of the test pattern and each of the reference patterns into an optical pattern. The intensity pattern obtained by performing the Fourier transform individually or collectively performing the joint Fourier transform of the test pattern and each reference pattern by the Fourier transform lens array is optically transformed again by the Fourier transform lens array. 3. The pattern recognition and classification method according to claim 1, further comprising a unit for creating the reference pattern by performing a Fourier transform at a time and a unit for adding the reference pattern.
との相関出力は、光透過率分布或いは光編者率分布で表
された被検パターンと各参照パターンを重ね、インコヒ
ーレント光で照射し、反射或いは透過してきた光量を取
ることによる前記の参照パターンの作成手段と前記の追
加手段を有することを特徴とする請求項1或いは2に記
載のパターン認識分類方法。13. A correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern is obtained by superimposing a test pattern represented by a light transmittance distribution or a light knitting rate distribution on each reference pattern and irradiating the test pattern with incoherent light. 3. The pattern recognition / classification method according to claim 1, further comprising a means for creating the reference pattern by taking an amount of reflected or transmitted light, and the additional means.
との相関出力は、参照パターン若しくは参照パターンの
フーリエ変換の強度パターンを、被検パターンのフーリ
エ変換面に、透過率分布又は反射率分布を表すマスク、
又は空間光変調器として配置し、それを透過或いは反射
してきた被検パターンの光量を取ることにより得るか、
或いは、被検パターンのフーリエ変換の強度パターン
を、参照パターンのフーリエ変換面に、透過率分布又は
反射率分布を表すマスク、又は、空間光変調器として配
置し、それを透過或いは反射してきた1つ或いは複数の
参照パターンの光量を同時に取る前記の参照パターンの
作成手段と前記の参照パターンの追加手段を用いること
を特徴とする請求項1或いは2に記載のパターン認識分
類方法。14. A correlation output between the plurality of reference patterns and the test pattern, the reference pattern or the intensity pattern of the Fourier transform of the reference pattern, the transmission pattern or the reflectance distribution on the Fourier transform plane of the test pattern. Mask to represent,
Or it is arranged as a spatial light modulator, and it is obtained by taking the amount of light of the test pattern that has transmitted or reflected it,
Alternatively, the intensity pattern of the Fourier transform of the test pattern is arranged on the Fourier transform surface of the reference pattern as a mask or a spatial light modulator representing a transmittance distribution or a reflectance distribution and transmitted or reflected. 3. The pattern recognition / classification method according to claim 1, wherein said reference pattern creating means and said reference pattern adding means for simultaneously obtaining light amounts of one or a plurality of reference patterns are used.
と、前記複数の参照パターンとの相関出力を複数回取
り、得られた相関度の集合度の集合の代表値とバラツキ
を示す諸量を基準にして、認識したいクラス毎に前記複
数の参照パターンに対応したメンバーシップ関数を作成
した後、被検パターンと前記複数の参照パターンとの相
関出力と認識分類したいクラス毎に割り当てられている
前記メンバーシップ関数とのメンバーシップ値を取り、
該メンバーシップ値の最も小さいメンバーシップ値、又
は該メンバーシップ値の平均値を、被検パターンの前記
認識分類したいクラスに属する程度とする前記の参照パ
ターンの作成手段と前記の参照パターンの追加手段を用
いることを特徴とする請求項1或いは2に記載のパター
ン認識分類方法。15. A correlation output between a pattern belonging to a class to be recognized and classified and the plurality of reference patterns is obtained a plurality of times, and a representative value of a set of a set of correlation degrees obtained and a quantity indicating a variation are set as a reference. After creating a membership function corresponding to the plurality of reference patterns for each class to be recognized, the correlation output between the test pattern and the plurality of reference patterns and the membership assigned to each class to be recognized and classified. Take the membership value with the function,
Means for creating the reference pattern and means for adding the reference pattern such that the membership value having the smallest membership value or the average value of the membership values is such that the test pattern belongs to the class to be recognized and classified. 3. The pattern recognition and classification method according to claim 1, wherein
と、前記複数の参照パターンとの相関出力を、入力ニュ
ーロンの入力値として用い、前記複数の参照パターンと
認識分類したい第1のクラスに属するパターンとの第1
の相関出力値と、前記第1の相関出力値と前記複数の参
照パターンと認識分類したい第2のクラスに属するパタ
ーンとの第2の相関出力値との距離に対応した量に重み
付けを行なうようなニューラルネットワークによる前記
の参照パターンの作成手段と前記の参照パターンの追加
手段を用いることを特徴とする請求項1或いは2に記載
のパターン認識分類方法。16. A pattern belonging to a class to be recognized and classified and a pattern belonging to a first class to be recognized and classified by using a correlation output of the plurality of reference patterns as an input value of an input neuron. First
And a weight corresponding to the distance between the first correlation output value and the second correlation output value between the first correlation output value, the plurality of reference patterns, and the pattern belonging to the second class to be recognized and classified. 3. The pattern recognition and classification method according to claim 1, wherein said reference pattern creating means and said reference pattern adding means by a simple neural network are used.
と、前記複数の参照パターンとの相関出力値を入力ニュ
ーロンの入力値として用い、特徴空間内での距離に準じ
た量を、評価関数として、特徴空間内において、認識分
類したいクラスが、そのクラス毎に超球面で囲まれた識
別領域を作るニューラルネットワークによる前記の参照
パターンの作成手段と前記の参照パターンの追加手段を
用いることを特徴とする請求項1或いは2に記載のパタ
ーン認識分類方法。17. A method according to claim 1, wherein a correlation output value between a pattern belonging to a class to be recognized and classified and said plurality of reference patterns is used as an input value of an input neuron, and a quantity corresponding to a distance in a feature space is used as an evaluation function. In the space, the class to be recognized and classified uses the means for creating the reference pattern and the means for adding the reference pattern by a neural network for forming an identification area surrounded by a hypersphere for each class. Item 3. The pattern recognition classification method according to item 1 or 2.
ターンと、前記複数の参照パターンとの第1の相関出力
値と、前記第1の相関出力値と前記複数の参照パターン
と認識分類したい第2のクラスに属するパターンとの第
2の相関出力値との距離に対応する量を基準にして、特
徴空間内で、あるクラスの相関出力値に最も距離が近い
別のクラスの相関出力値との距離の中点までの距離を半
径とした超球面で囲まれる閉領域を、クラス毎の識別領
域とする前記の参照パターンの作成手段と前記の参照パ
ターンの追加手段を用いることを特徴とする請求項1或
いは2に記載のパターン認識分類方法。18. A pattern belonging to a first class to be recognized and classified, a first correlation output value between the plurality of reference patterns, and a first correlation output value and the first correlation output value and the plurality of reference patterns to be recognized and classified. In a feature space, a correlation output value of another class closest to a correlation output value of a certain class in a feature space based on an amount corresponding to a distance between a pattern belonging to the second class and a second correlation output value. Using the reference pattern creating means and the reference pattern adding means as a closed area surrounded by a hypersphere having a radius of the distance to the midpoint of the distance as an identification area for each class. The pattern recognition classification method according to claim 1.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3260695A JP3020680B2 (en) | 1991-10-08 | 1991-10-08 | Pattern recognition classification method |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP3260695A JP3020680B2 (en) | 1991-10-08 | 1991-10-08 | Pattern recognition classification method |
Publications (2)
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| JPH05101030A JPH05101030A (en) | 1993-04-23 |
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