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JP3028129B2 - Coaxial vacuum heating device - Google Patents
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JP3028129B2 - Coaxial vacuum heating device - Google Patents

Coaxial vacuum heating device

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JP3028129B2
JP3028129B2 JP25897098A JP25897098A JP3028129B2 JP 3028129 B2 JP3028129 B2 JP 3028129B2 JP 25897098 A JP25897098 A JP 25897098A JP 25897098 A JP25897098 A JP 25897098A JP 3028129 B2 JP3028129 B2 JP 3028129B2
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JP
Japan
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substrate
chamber
vacuum
heating
coaxial
Prior art date
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秀臣 鯉沼
雅司 川崎
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Japan Science and Technology Corp
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、薄膜形成装置の
搬送系に配設する電気配線及び水冷配管等がねじれない
ようにして基板又はウエハーの加熱温度を維持したまま
搬送するための同軸型真空加熱装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a coaxial vacuum for conveying a substrate or a wafer while maintaining a heating temperature of the substrate or wafer without twisting an electric wiring and a water cooling pipe provided in a conveying system of a thin film forming apparatus. It relates to a heating device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の真空装置内で回転中の加熱された
基板又はウエハーを移動する基板加熱装置は、基板加熱
装置への電力供給、温度モニターの信号伝送及び冷却水
などの供給ラインが真空外とのフィールドスルーから基
板加熱装置へ直接配線又は配管されることにより供給さ
れていた。
2. Description of the Related Art In a conventional substrate heating apparatus for moving a heated substrate or wafer rotating in a vacuum apparatus, power supply to the substrate heating apparatus, signal transmission of a temperature monitor, and a supply line for cooling water or the like are performed under vacuum. It was supplied by wiring or piping directly from the field through to the outside to the substrate heating device.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、基板加
熱装置を真空チャンバー内で移動させるときには、電気
配線や水冷配管など長さの制限やねじれがあるため、基
板ホルダーとヒーターとを分離させて搬送させる必要が
あり、このため搬送中に基板温度が低下してしまってい
た。したがって、電気配線や水冷配管がフレキシブルに
変形すればこれらを一体で搬送できるが、常にホームポ
ジションに帰還し電気配線や水冷配管のねじれなどを解
消する必要があり、非効率的であった。
However, when the substrate heating apparatus is moved in the vacuum chamber, the length of the electric wiring and the water-cooled pipe is limited or twisted, so that the substrate holder and the heater are separated and conveyed. Therefore, the temperature of the substrate has dropped during the transfer. Therefore, if the electric wiring and the water cooling pipe are flexibly deformed, they can be integrally transported. However, it is necessary to always return to the home position to eliminate the twist of the electric wiring and the water cooling pipe, which is inefficient.

【0004】そこで、本発明では、以上の課題にかんが
み、搬送系に配設する電気配線及び水冷配管等がねじれ
ないようにして、基板又はウエハーの加熱温度を維持し
たまま搬送することのできる同軸型真空加熱装置を提供
することを目的とする。
In view of the above problems, the present invention is directed to a coaxial cable capable of carrying a substrate or wafer while maintaining the heating temperature of the substrate or wafer by keeping the electric wiring and the water-cooled piping provided in the carrying system from being twisted. It is an object of the present invention to provide a vacuum heating device.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明の同軸型真空加熱装置は、圧力
制御可能な共通室と、共通室の真空を保持したまま回転
及び上下移動するとともに共通室外部の電気配線及び水
道配管と連結した円筒状の公転移動シャフトと、公転移
動シャフトの回転軸と同一軸で固定した搬送プレート
と、搬送プレートの回転軸を中心とする位置に配設した
一以上の基板加熱部と、基板加熱部に対応して共通室と
隔壁の開口部を介して設けた一以上の圧力制御可能なプ
ロセス処理室とを備え、基板加熱部が水冷のために配設
した水冷配管を有する加熱手段と、この加熱手段で加熱
する基板を保持した基板ホルダーとを有していることを
特徴とする。また請求項2記載の発明は上記構成に加
え、公転移動シャフトが上端を真空シールして電気配線
と接続するスリップリングと、水道配管と連結した水冷
シールユニットと、水冷シールユニットと水密的に連結
して摺動する同軸水冷配管とを有することを特徴とする
ものである。さらに請求項3記載の発明は、基板加熱部
が基板温度を維持しまま、搬送プレートにより隔壁の開
口部に向けて回転して下降し、該基板加熱部が開口部に
当接して真空シールし、基板加熱部とプロセス処理室と
で独立して圧力制御可能な真空チャンバーを形成するよ
うにしたことを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a coaxial vacuum heating apparatus comprising: a common chamber capable of controlling a pressure; A cylindrical revolving moving shaft that moves and is connected to electric wiring and water pipes outside the common room, a transport plate fixed on the same axis as the rotating shaft of the revolving moving shaft, and a position centered on the rotating axis of the transport plate. One or more substrate heating units provided, and one or more pressure-controllable process processing chambers provided through a common chamber and an opening of a partition wall corresponding to the substrate heating unit, wherein the substrate heating unit is water-cooled. And a substrate holder holding a substrate to be heated by the heating means. Further, in addition to the above configuration, the invention according to claim 2 further comprises a slip ring in which the orbital moving shaft is vacuum-sealed at the upper end and connected to the electric wiring, a water-cooled seal unit connected to a water pipe, and a water-tightly connected water-cooled seal unit. And a coaxial water cooling pipe that slides. Further, according to the third aspect of the present invention, while the substrate heating unit maintains the substrate temperature, the transport plate rotates and descends toward the opening of the partition wall, and the substrate heating unit comes into contact with the opening to perform vacuum sealing. A vacuum chamber capable of independently controlling the pressure in the substrate heating section and the process processing chamber is formed.

【0006】また請求項4記載の発明は上記構成に加
え、同軸水冷配管が前記公転移動シャフトと同軸に設け
た内側水冷配管と外側水冷配管とで一水道路を形成した
ことを特徴とする。さらに請求項5記載の発明は、基板
加熱部が基板ホルダーを回転させる基板回転機構を備え
ていることを特徴とするものである。また請求項6記載
の発明は、基板加熱部が基板回転機構を有しており、基
板回転機構の回転と前記搬送プレートの回転とが同一の
駆動力に基づいて回転することを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in addition to the above-described structure, the coaxial water cooling pipe forms a one-water road with an inner water cooling pipe and an outer water cooling pipe provided coaxially with the revolving movement shaft. Further, the invention according to claim 5 is characterized in that the substrate heating section includes a substrate rotating mechanism for rotating the substrate holder. The invention according to claim 6 is characterized in that the substrate heating section has a substrate rotating mechanism, and the rotation of the substrate rotating mechanism and the rotation of the transport plate rotate based on the same driving force.

【0007】さらに請求項7記載の発明は、基板加熱部
が基板回転機構を有し、この基板回転機構により真空チ
ャンバー内で基板ホルダーが回転することを特徴とす
る。また請求項8記載の発明は、プロセス処理室が、基
板ホルダーに保持した基板をアニールするためのアニー
ル室、前記基板ホルダーに保持した基板を高真空かつ所
定温度で加熱しておく余熱加熱室、前記基板ホルダーに
保持した基板に薄膜を形成する成長室及び前記基板ホル
ダーに保持した基板に薄膜成長後エッチング処理をする
ためのエッチング室であることを特徴とするものであ
る。
The invention according to claim 7 is characterized in that the substrate heating section has a substrate rotating mechanism, and the substrate rotating mechanism rotates the substrate holder in the vacuum chamber. The invention according to claim 8 is characterized in that the process processing chamber is an annealing chamber for annealing the substrate held in the substrate holder, a preheating heating chamber for heating the substrate held in the substrate holder at a high vacuum and a predetermined temperature, A growth chamber for forming a thin film on the substrate held by the substrate holder and an etching chamber for performing an etching process after growing the thin film on the substrate held by the substrate holder.

【0008】このような構成の請求項1〜4記載の同軸
型真空加熱装置では、回転軸を中心として連続的に回転
して連続プロセスを並列的に処理することができる。さ
らに真空を保持したまま搬送プレートを連続回転させて
も、基板加熱部の加熱手段への冷却水の供給のための水
冷配管及び電力供給や、例えば温度モニター用の熱電対
などの電気配線がねじれることがない。
[0008] In the coaxial vacuum heating apparatus according to the first to fourth aspects of the present invention, a continuous process can be performed in parallel by continuously rotating around a rotation axis. Further, even if the transfer plate is continuously rotated while maintaining the vacuum, the water cooling pipe and the power supply for supplying the cooling water to the heating means of the substrate heating unit and the electric wiring such as a thermocouple for temperature monitoring are twisted. Nothing.

【0009】さらに請求項5〜7記載の発明では、基板
ホルダーを回転できるので、温度均一性が向上し、また
例えばプロセス処理室がコンビナトリアルレーザー分子
線エピタキシー装置の場合、複数の各基板に対して成長
位置に基板をもたらしレーザー分子線エピタキシー成長
が行える。また請求項8記載の発明では、複数のプロセ
スを並列して連続的に実行することができる。
Further, in the invention according to claims 5 to 7, since the substrate holder can be rotated, the temperature uniformity is improved, and, for example, when the processing chamber is a combinatorial laser molecular beam epitaxy apparatus, a plurality of substrates can be used. By bringing the substrate to the growth position, laser molecular beam epitaxy can be performed. In the invention according to claim 8, a plurality of processes can be executed in parallel and continuously.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、図面に示した実施形態に基
づいて本発明を詳細に説明する。図1は本発明の実施形
態にかかる同軸型真空加熱装置の外観図である。本実施
形態の同軸型真空加熱装置20は、円柱状の共通室22
内で、成長室24、アニール室26及び余熱加熱室28
に基板加熱部36を公転移動シャフト43に設けた搬送
プレート38で搬送してロックすることにより、これら
の各室が真空シールドされ独立して高真空に排気される
真空チャンバーとなっている。成長室24は基板に薄膜
成長をさせる領域であり、アニール室26は成長基板を
アニールする領域であり、余熱加熱室28は基板を高真
空雰囲気下でクリーニングし、かつ、余熱しておく領域
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail based on embodiments shown in the drawings. FIG. 1 is an external view of a coaxial vacuum heating apparatus according to an embodiment of the present invention. The coaxial vacuum heating device 20 of the present embodiment has a cylindrical common chamber 22.
Inside, a growth chamber 24, an annealing chamber 26 and a preheating heating chamber 28
When the substrate heating unit 36 is transported and locked by the transport plate 38 provided on the revolving movement shaft 43, these chambers are vacuum shielded and are vacuum chambers that are independently evacuated to a high vacuum. The growth chamber 24 is an area for growing a thin film on the substrate, the annealing chamber 26 is an area for annealing the growth substrate, and the preheating heating chamber 28 is an area for cleaning the substrate under a high vacuum atmosphere and preheating the substrate. is there.

【0011】本実施形態では3つのプロセスを行う例を
示しているが、薄膜成長させた基板の所定領域をエッチ
ングするエッチング室やドーピングを行うドーピング室
などを設けてもよく、この場合5つの真空チャンバーを
有することになる。なお、図1中のTMPはターボ分子
ポンプの略称を示すが、図示しないゲートバルブを介し
て超高真空ポンプにより排気されるようになっており、
補助ポンプとしてロータリポンプを使用している。
Although this embodiment shows an example in which three processes are performed, an etching chamber for etching a predetermined region of a substrate on which a thin film is grown or a doping chamber for doping may be provided. It will have a chamber. Although TMP in FIG. 1 is an abbreviation of a turbo molecular pump, it is evacuated by an ultra-high vacuum pump via a gate valve (not shown).
A rotary pump is used as an auxiliary pump.

【0012】また各真空チャンバーは図示しないバルブ
の開閉度を調節して圧力調整でき、さらに図示しないバ
ルブ及び質量流量計が所定個所に設けられて、酸素及び
ドライ窒素などを流量調整して導入できるようになって
いる。
In each vacuum chamber, the pressure can be adjusted by adjusting the opening / closing degree of a valve (not shown). Further, a valve and a mass flow meter (not shown) are provided at predetermined positions, and oxygen and dry nitrogen can be introduced at a controlled flow rate. It has become.

【0013】共通室22は、成長室24、アニール室2
6及び余熱加熱室28と隔壁39に設けられた開口部4
2,42,42を介して連結され、この開口部42の周
囲の溝にOリング41が埋め込まれている。さらに成長
室24、アニール室26及び余熱加熱室28は隔壁39
に対してそれぞれ真空シールドされて固定保持されてい
る。
The common chamber 22 includes a growth chamber 24 and an annealing chamber 2
6 and opening 4 provided in preheating heating chamber 28 and partition 39
The O-ring 41 is embedded in a groove around the opening 42. Further, the growth chamber 24, the annealing chamber 26, and the preheating heating chamber 28
Are vacuum-shielded and fixedly held.

【0014】共通室22には基板ホルダー48、基板ホ
ルダー48のチャッカー45及びランプヒーター8(図
2を参照)とを円筒状のハウジング35内に格納した基
板加熱部36が搬送プレート38の同心円周上に図1で
は3つ設けられている。これらの基板加熱部36は、同
軸型真空加熱装置20の中心を通る公転移動シャフト4
3によって回転搬送及び上下方向に移動する搬送プレー
ト38にハウジング35のフランジ部31で真空シール
ドされ、かつ、保持されている。
In the common chamber 22, a substrate heating unit 36 in which a substrate holder 48, a chucker 45 of the substrate holder 48, and the lamp heater 8 (see FIG. 2) are housed in a cylindrical housing 35 has a concentric circumference of a transfer plate 38. In FIG. 1, three are provided above. These substrate heating units 36 are provided on the revolving movement shaft 4 passing through the center of the coaxial vacuum heating device 20.
The vacuum plate 3 is vacuum-shielded and held by the flange portion 31 of the housing 35 on the transport plate 38 which is rotated and transported in the vertical direction.

【0015】ランプヒータ8の水冷配管は公転移動シャ
フト43に同軸に設けられた内外水冷配管と接続されて
いる。また温度制御用の熱電対の配線や電力供給配線等
は公転移動シャフト43の内部を通って配線されてい
る。このようにして、電気配線や水冷配管は公転移動シ
ャフト43の回転及び上下移動に伴って動くようになっ
ている。公転移動シャフト43は共通室22を真空シー
ルドしたまま回転機構60により回転し、移動機構70
により上下方向に移動する。
The water cooling pipe of the lamp heater 8 is connected to inner and outer water cooling pipes provided coaxially with the revolving shaft 43. Further, wiring of a thermocouple for temperature control, power supply wiring, and the like are wired through the inside of the revolving movement shaft 43. In this way, the electric wiring and the water-cooled pipe move according to the rotation and the vertical movement of the revolving shaft 43. The revolving movement shaft 43 is rotated by the rotation mechanism 60 while the common chamber 22 is vacuum-shielded, and
To move up and down.

【0016】ハウジング35の他端のフランジ部33
は、搬送プレート38が下方の終点に移動したとき隔壁
39の開口部42の周囲の溝に埋め込まれたOリング4
1に当接し、共通室22と隔離して真空シールドされて
いる。このとき、各基板加熱部36,36,36と、成
長室24、アニール室26及び余熱加熱室28とで形成
される各真空チャンバーは独立して真空排気及び圧力制
御され、かつ、所定温度に加熱されるようになってい
る。
The flange portion 33 at the other end of the housing 35
The O-ring 4 embedded in the groove around the opening 42 of the partition 39 when the transport plate 38 moves to the lower end point.
1 and is vacuum-shielded separately from the common chamber 22. At this time, the vacuum chambers formed by the substrate heating units 36, 36, and 36, the growth chamber 24, the annealing chamber 26, and the preheating heating chamber 28 are independently evacuated and pressure-controlled, and set to a predetermined temperature. It is designed to be heated.

【0017】次に、基板加熱部について詳細に説明す
る。図2は基板加熱部の詳細断面図であり、搬送プレー
トが下方の終点に移動して基板加熱部が隔壁に当接して
いる状態を示す図である。図2を参照して、基板加熱部
36は、フランジ31,33を両端に有する円筒状のハ
ウジング35と、このハウジング35の中心線上に設け
られたランプホルダー82と、このランプホルダー82
に設置されたランプヒーター8とを有し、基板ホルダー
48を回転させる基板回転機構を備えている。
Next, the substrate heating section will be described in detail. FIG. 2 is a detailed cross-sectional view of the substrate heating unit, showing a state in which the transport plate has moved to a lower end point and the substrate heating unit is in contact with the partition. Referring to FIG. 2, substrate heating section 36 includes a cylindrical housing 35 having flanges 31 and 33 at both ends, a lamp holder 82 provided on the center line of housing 35, and a lamp holder 82.
And a substrate heating mechanism for rotating the substrate holder 48.

【0018】ランプヒーター8は安全性と温度制御の安
定性のために水冷されており、搬送プレート38に真空
シールドされて設けられているバルクヘッドユニオン2
03を介して、基板加熱部内からのランプヒーター8の
水冷配管201と公転移動シャフト43に同軸に設けら
れている同軸水冷配管200とがイン及びアウト用の水
冷配管202,202で接続されている。ランプヒータ
ー用の電極プラグ101は、搬送プレート38に真空シ
ールドされて設けられている。このランプヒーター8の
電力供給配線及び温度制御用熱電対(図示せず)の信号
線等は円筒状の公転移動シャフト43の内側を這って真
空シールドされて外部に引き出され、電源に接続されて
いる。詳細は後述する。
The lamp heater 8 is water-cooled for safety and stability of temperature control. The bulkhead union 2 provided with a vacuum shield on the transfer plate 38 is provided.
The water cooling pipe 201 of the lamp heater 8 from the inside of the substrate heating unit and the coaxial water cooling pipe 200 provided coaxially with the revolving movement shaft 43 are connected to each other via water cooling pipes 202 for in and out via the substrate heating unit 03. . The electrode plug 101 for the lamp heater is provided on the transfer plate 38 in a vacuum shielded manner. The power supply wiring of the lamp heater 8 and the signal line of the thermocouple for temperature control (not shown) are crawled inside the cylindrical revolving shaft 43 and vacuum-shielded, pulled out to the outside, and connected to the power supply. I have. Details will be described later.

【0019】基板回転機構は、ランプホルダー82の外
側に配設された基板ホルダー回転部84と、この回転部
84に設けられていて基板ホルダー48をランプヒータ
ー8の焦点位置に配置するチャッカー45とを備えてい
る。基板ホルダー回転部84の上部には回転用ギヤ83
が設けられ、自転シャフト86のギヤ85と噛み合って
おり、またこの自転シャフト86の他端に設けられた自
転用ギヤ88は公転用ギヤ65と噛み合っている。さら
に基板ホルダー回転部の下部には、ベアリング87が設
けられている。
The substrate rotating mechanism includes a substrate holder rotating portion 84 provided outside the lamp holder 82, a chucker 45 provided on the rotating portion 84 and positioning the substrate holder 48 at a focal position of the lamp heater 8. It has. A rotating gear 83 is provided above the substrate holder rotating section 84.
Is provided, and meshes with the gear 85 of the rotation shaft 86, and the rotation gear 88 provided at the other end of the rotation shaft 86 meshes with the revolution gear 65. Further, a bearing 87 is provided below the rotating portion of the substrate holder.

【0020】次に、搬送プレートを回転搬送する回転機
構と上下方向に移動する移動機構とを説明する。図1を
参照して、搬送プレート38を回転させる回転機構60
は、円板状の移動プレート72に設けられたモーター6
1と、このモーター61の回転駆動力を伝達するシャフ
ト62と、このシャフト62の端部に設けられた駆動ギ
ヤ64とを備え、この駆動ギヤ64が公転移動シャフト
に設けられた公転用ギヤ65に噛み合って回転機動力を
伝達するようになっている。なお、回転シャフト62
は、移動プレート72と成長室22との間に真空シール
ドするために設けられたフレキシブルチューブ82の内
部を通っている。
Next, a description will be given of a rotating mechanism for rotating and transporting the transport plate and a moving mechanism for vertically moving the transport plate. Referring to FIG. 1, a rotation mechanism 60 for rotating the transport plate 38
Is a motor 6 provided on a disk-shaped moving plate 72.
1, a shaft 62 for transmitting the rotational driving force of the motor 61, and a drive gear 64 provided at an end of the shaft 62. The drive gear 64 is provided with a revolving gear 65 provided on a revolving shaft. And transmit the power of the rotating machine. The rotating shaft 62
Passes through the inside of a flexible tube 82 provided for vacuum shielding between the moving plate 72 and the growth chamber 22.

【0021】図2を参照して、公転移動シャフト43の
端部には搬送プレート38を複数の固定用シャフト91
を介して固定する支持部92が固定されて設けられてお
り、この支持部92に対してベアリング93を介して所
定トルクで回転するように、公転用ギヤ65が設けられ
ている。
Referring to FIG. 2, a transport plate 38 is attached to a plurality of fixing shafts 91 at the end of the revolving movement shaft 43.
A support gear 92 is fixedly provided via a bearing 93, and a revolving gear 65 is provided so as to rotate at a predetermined torque with respect to the support 92 via a bearing 93.

【0022】図1を参照して、移動機構70は、共通室
22の上蓋71に固定されたブラケット73と、このブ
ラケットに設けられたモーター73により回転駆動する
回転シャフト75と、この回転シャフト75の回転によ
り上下移動する移動プレート72とを備え、公転移動シ
ャフト43は移動プレート72と成長室22との間に真
空シールドするために設けられたフレキシブルチューブ
83の内部を通り、移動プレート72上に固定された磁
気シールドユニット77により磁気シールドされ、か
つ、回転可能に保持されている。なお、この磁気シール
ドユニット77は磁性流体により公転移動シャフト43
を真空シールドしている。
Referring to FIG. 1, moving mechanism 70 includes a bracket 73 fixed to upper cover 71 of common chamber 22, a rotating shaft 75 driven to rotate by a motor 73 provided on the bracket, and a rotating shaft 75. A revolving moving shaft 43 passes through the inside of a flexible tube 83 provided for vacuum shielding between the moving plate 72 and the growth chamber 22, and moves on the moving plate 72. It is magnetically shielded by a fixed magnetic shield unit 77 and is rotatably held. The magnetic shield unit 77 is driven by a magnetic fluid to revolve around the revolving shaft 43.
Is vacuum shielded.

【0023】先ず、移動機構の動作を説明する。移動プ
レート72が上始点にあるとき、モーター74により回
転シャフト75が回転し、移動プレート72が下降す
る。このとき移動プレート72と成長室22の上蓋71
間のフレキシブルチューブ82,83が縮んでいく。移
動プレート72が下降するにつれて公転移動シャフト4
3が下降し、この公転移動シャフト43の下降につれて
搬送プレート38に設けられた基板加熱部36のフラン
ジ33がOリング41に当接し、Oリング41を圧縮し
て停止する。したがって、各真空チャンバーは基板加熱
部36で真空シールドされ、さらに独立して真空排気及
び圧力制御され、かつ、所定温度に加熱できる。
First, the operation of the moving mechanism will be described. When the moving plate 72 is at the upper starting point, the rotating shaft 75 is rotated by the motor 74, and the moving plate 72 is lowered. At this time, the moving plate 72 and the upper lid 71 of the growth chamber 22
The flexible tubes 82 and 83 between them shrink. As the moving plate 72 descends, the revolving moving shaft 4
As the revolving shaft 43 descends, the flange 33 of the substrate heating unit 36 provided on the transport plate 38 comes into contact with the O-ring 41, compresses the O-ring 41 and stops. Therefore, each vacuum chamber is vacuum-shielded by the substrate heating unit 36, and can be independently evacuated and pressure-controlled, and can be heated to a predetermined temperature.

【0024】次に、搬送プレート及び基板回転機構の動
作について説明する。移動プレート72が上始点にある
とき、モーター61により回転駆動力がシャフト62に
伝達し、駆動ギヤ64が回転する。この駆動ギヤ64に
より公転用ギヤ65とともに公転移動シャフト43が回
転し、この回転につれて搬送プレートが回転し、基板加
熱部36が公転する。このとき自転用ギヤ88も回転す
るため、自転シャフト86により回転駆動力を回転ギヤ
83に伝達し、基板ホルダー回転部85が回転し、基板
ホルダー48が回転する。なお、公転移動シャフト4
3、回転シャフト62及び自転シャフト86は各真空チ
ャンバーにおいて真空シールドされたまま回転する。し
たがって、搬送プレートに設けられた基板加熱部を各真
空チャンバーまで搬送することができるとともに、基板
ホルダー48を回転することができる。
Next, the operation of the transport plate and the substrate rotating mechanism will be described. When the moving plate 72 is at the upper starting point, the rotational driving force is transmitted to the shaft 62 by the motor 61, and the driving gear 64 rotates. The drive gear 64 rotates the revolving movement shaft 43 together with the revolving gear 65, and the transport plate rotates with this rotation, so that the substrate heating unit 36 revolves. At this time, since the rotation gear 88 also rotates, the rotation driving force is transmitted to the rotation gear 83 by the rotation shaft 86, and the substrate holder rotating unit 85 rotates, and the substrate holder 48 rotates. In addition, the revolving moving shaft 4
3. The rotating shaft 62 and the rotating shaft 86 rotate while being vacuum shielded in each vacuum chamber. Therefore, the substrate heating unit provided on the transport plate can be transported to each vacuum chamber, and the substrate holder 48 can be rotated.

【0025】搬送プレート38が下方の終点に移動して
基板加熱部が共通室と隔離して真空シールドされている
とき、回転シャフト62の回転駆動力を公転用ギヤ65
に伝達するが、基板加熱部はOリングに当接してロック
状態にあるため、公転用ギヤ65だけがベアリング93
に沿って回転し、この回転につれて自転用ギヤ88が回
転して基板ホルダー回転部85が回転し、基板ホルダー
48が回転する。したがって、各真空チャンバー内で基
板ホルダーを回転することができる。
When the transfer plate 38 moves to the lower end point and the substrate heating section is vacuum shielded separately from the common chamber, the rotational driving force of the rotary shaft 62 is transmitted to the revolving gear 65.
However, since the substrate heating section abuts on the O-ring and is in a locked state, only the revolving gear 65 is mounted on the bearing 93.
, The rotation gear 88 rotates with this rotation, the substrate holder rotating unit 85 rotates, and the substrate holder 48 rotates. Therefore, the substrate holder can be rotated in each vacuum chamber.

【0026】次に、公転移動シャフトについて説明す
る。図3は同軸型真空加熱装置と公転移動シャフトの断
面図である。図3を参照して、公転移動シャフト43は
同軸型真空加熱装置20の中心を通り、真空室である共
通室と大気圧下の外部とに渡って配設されている。公転
移動シャフト43の上端部はスリップリング301で真
空シールド用に密閉されており、公転移動シャフト側に
固定されているスリップリング301の接続部に、公転
移動シャフトの内側を這ってきた電気配線が接続されて
いる。このスリップリング301の接続部が公転移動シ
ャフトとともに回転し、このスリップリングの接続部が
スリップリングの固定されている上部取り出し部と摺動
して電気的に接続されている。
Next, the orbital moving shaft will be described. FIG. 3 is a sectional view of a coaxial vacuum heating device and a revolving moving shaft. Referring to FIG. 3, revolving movement shaft 43 passes through the center of coaxial vacuum heating device 20 and is disposed over a common chamber, which is a vacuum chamber, and the outside under atmospheric pressure. The upper end of the orbital movement shaft 43 is hermetically sealed by a slip ring 301 for vacuum shielding, and electric wires crawling inside the orbital movement shaft are connected to a connection portion of the slip ring 301 fixed to the orbital movement shaft. It is connected. The connection portion of the slip ring 301 rotates together with the revolving shaft, and the connection portion of the slip ring slides and is electrically connected to the upper take-out portion to which the slip ring is fixed.

【0027】このようにスリップリングを使用している
ので、公転移動シャフトの内部に這って配線されている
電気配線は、公転移動シャフトとともに回転しかつ移動
しても、外部との電気的接続はスリップリングにて摺動
して電気的に接続する。したがって、公転移動シャフト
のように回転移動するものであっても電気配線等がねじ
れるようなことがない。
Since the slip ring is used as described above, the electric wiring routed inside the revolving movement shaft rotates and moves together with the revolving movement shaft. Slide and electrically connect with the slip ring. Therefore, even if the electric wire or the like moves rotationally like a revolving shaft, the electric wiring or the like does not twist.

【0028】図4は公転移動シャフトの水冷配管詳細図
である。図4を参照して、公転移動シャフト43には内
側水冷配管401と外側水冷配管403とが同軸に設け
られている。冷却水は水冷シールユニット405の冷却
水導入口402から内側水冷配管401に導入され、公
転移動シャフト43の端部にある水出口404からラン
プヒーターの水冷配管201,202(図2)を通り、
さらに水入口406から外側水冷配管403を通って水
冷シールユニット407の冷却水排出口408から排出
されるようになっている。なお、水冷シールユニット4
05,407は連結されてブラケット(図3)に固定さ
れている。水冷シールユニット405,407はOリン
グ409で水密的にシールされている。したがって、ラ
ンプヒーター8の水冷配管とともに公転移動シャフト4
3が回転及び移動しても水冷配管がねじれるようなこと
はない。
FIG. 4 is a detailed view of a water cooling pipe of the revolving moving shaft. Referring to FIG. 4, an inner water cooling pipe 401 and an outer water cooling pipe 403 are coaxially provided on the revolving movement shaft 43. The cooling water is introduced from the cooling water inlet 402 of the water cooling seal unit 405 to the inner water cooling pipe 401, passes through the water outlet 404 at the end of the revolving shaft 43, and passes through the water cooling pipes 201 and 202 (FIG. 2) of the lamp heater.
Further, the cooling water is discharged from the cooling water discharge port 408 of the water cooling seal unit 407 from the water inlet 406 through the outer water cooling pipe 403. The water-cooled seal unit 4
05 and 407 are connected and fixed to a bracket (FIG. 3). The water-cooled seal units 405 and 407 are water-tightly sealed by an O-ring 409. Therefore, together with the water cooling pipe of the lamp heater 8, the revolving moving shaft 4
Even if 3 rotates and moves, the water cooling pipe will not be twisted.

【0029】つぎに本実施形態のプロセス処理における
動作について説明する。なお、成長室はレーザー分子線
エピタキシーを適用した場合であり、さらに具体的な条
件は例示である。所定圧力の室温下、搬送プレート38
が上始点のホームポジションにあるとき第1基板ホルダ
ー48を余熱加熱室に対応する基板加熱部のチャッカー
45に装填後、搬送プレート38が下降し、各基板加熱
部36が隔壁のOリング41に当接して圧縮して停止す
る。余熱加熱室28を高真空の例えば10-6Torrに
維持し、クリーニングを行うとともに昇温レート10℃
/分で950℃まで温度を上げていく。
Next, the operation in the process of the present embodiment will be described. The growth chamber is a case where laser molecular beam epitaxy is applied, and more specific conditions are examples. At room temperature under a predetermined pressure, the transport plate 38
When the first substrate holder 48 is at the home position of the upper starting point, the transfer plate 38 is lowered after the first substrate holder 48 is loaded on the chucker 45 of the substrate heating unit corresponding to the preheating heating chamber, and each substrate heating unit 36 is placed on the O-ring 41 of the partition wall. Stop by compressing in contact. The preheating chamber 28 is maintained at a high vacuum of, for example, 10 -6 Torr to perform cleaning and to raise the temperature at a rate of 10 ° C.
The temperature is increased to 950 ° C./min.

【0030】所定時間経過後、各基板加熱部の温度を維
持したまま各真空チャンバー及び共通室が所定圧力に戻
され、搬送プレート38が上始点まで移動する。この搬
送プレート38が回転し、余熱加熱室28に対応して第
1基板ホルダーを装填している基板加熱部を成長室24
まで搬送する。このとき室温の下、つまりランプヒータ
ー8をOFFにした基板加熱部に、次の処理をする第2
基板ホルダー48を余熱加熱室に対応する基板加熱部3
6のチャッカー45に装填しておく。
After a lapse of a predetermined time, each vacuum chamber and the common chamber are returned to a predetermined pressure while maintaining the temperature of each substrate heating unit, and the transfer plate 38 moves to the upper starting point. The transfer plate 38 is rotated, and the substrate heating section loaded with the first substrate holder corresponding to the preheating heating chamber 28 is moved to the growth chamber 24.
Transport to At this time, a second process for performing the next process is performed at room temperature, that is, in the substrate heating unit where the lamp heater 8 is turned off.
The substrate holder 48 corresponding to the preheating chamber is used for the substrate holder 48.
6 is loaded in the chucker 45.

【0031】搬送プレート38が下降して各真空チャン
バーを隔離し、成長室24を高真空の例えば10-4To
rrに維持し、950℃に加熱したまま所定時間、例え
ばレーザー分子線エピタキシー成長を行う。このとき余
熱加熱室28では10-6Torrに維持され、昇温レー
ト10℃/分で950℃まで昇温中である。
The transport plate 38 is lowered to isolate each vacuum chamber, and the growth chamber 24 is kept at a high vacuum of, for example, 10 -4 To.
While maintaining the temperature at rr and heating at 950 ° C., laser molecular beam epitaxy growth is performed for a predetermined time. At this time, the temperature in the preheating heating chamber 28 is maintained at 10 −6 Torr, and the temperature is being raised to 950 ° C. at a rate of 10 ° C./min.

【0032】成長室24において、単分子層ごとの分子
層エピタキシャル成長で超格子構造などを基板ホルダー
を回転して各基板に形成後、設定温度の950℃を維持
したまま各真空チャンバー及び共通室を所定圧力に戻
し、搬送プレート38が上始点まで移動する。この搬送
プレート38が回転し、成長室24に対応して第1基板
ホルダーを装填している基板加熱部をアニール室26ま
で搬送する。このとき、余熱加熱室28に対応する基板
加熱部36のチャッカー45に第3基板ホルダー48を
装填しておく。
In the growth chamber 24, a superlattice structure or the like is formed on each substrate by rotating the substrate holder by molecular layer epitaxial growth for each monolayer, and then, while maintaining the set temperature of 950.degree. After returning to the predetermined pressure, the transport plate 38 moves to the upper starting point. The transfer plate 38 rotates to transfer the substrate heating unit loaded with the first substrate holder corresponding to the growth chamber 24 to the annealing chamber 26. At this time, the third substrate holder 48 is loaded in the chucker 45 of the substrate heating unit 36 corresponding to the preheating chamber 28.

【0033】搬送プレート38が下降して各真空チャン
バーを隔離し、アニール室28を例えば1Torrに維
持したまま、例えば950℃から降温レート10℃/分
で所定時間アニールを行う。このアニール室28では、
酸素分圧を最適に制御している。ランプヒーター8をO
FFにしてアニール室28が室温になったら、他の基板
加熱部は950℃に維持したまま、各真空チャンバー及
び共通室を所定圧力に戻し、搬送プレート38が上始点
まで移動して、この搬送プレート38が回転してホーム
ポジションに帰る。そして、エピタキシャル成長後の基
板ホルダーを取り出して新たな第4基板ホルダーを基板
加熱部36のチャッカー45に装填し、逐次処理してい
く。
The transfer plate 38 is lowered to isolate the vacuum chambers, and annealing is performed at a rate of 10 ° C./min from 950 ° C. for a predetermined time while the annealing chamber 28 is maintained at 1 Torr, for example. In this annealing chamber 28,
The oxygen partial pressure is controlled optimally. Turn on the lamp heater 8
When the annealing chamber 28 is cooled to room temperature, the vacuum chamber and the common chamber are returned to a predetermined pressure while the other substrate heating units are maintained at 950 ° C., and the transfer plate 38 is moved to the upper starting point. The plate 38 rotates and returns to the home position. Then, the substrate holder after the epitaxial growth is taken out, a new fourth substrate holder is loaded in the chucker 45 of the substrate heating unit 36, and the substrate is sequentially processed.

【0034】このようにして本実施形態では、基板に例
えば単分子層エピタキシャル成長層を形成する成長室2
4、薄膜成長させた基板をアニールするアニール室28
及び基板をクリーニングしつつ加熱する余熱加熱室28
を、各対応した基板加熱部36,36,36とともに独
立して圧力制御及び温度制御しているので、基板温度を
下げることなく搬送でき、異なる基板温度及び圧力での
プロセスを連続的に行うことができる。
As described above, in the present embodiment, the growth chamber 2 for forming, for example, a monolayer epitaxial growth layer on the substrate.
4. Annealing chamber 28 for annealing the substrate on which the thin film has been grown
And a residual heat heating chamber 28 for heating the substrate while cleaning it
Pressure control and temperature control are independently performed together with the corresponding substrate heating units 36, 36, 36, so that the substrate can be transported without lowering the substrate temperature, and the process at different substrate temperatures and pressures can be continuously performed. Can be.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上の説明から理解されるように、本発
明の同軸型真空加熱装置では、基板温度を保持したまま
回転軸を中心として連続的に回転して搬送できるととも
に、連続プロセスを並列的に処理することができるとい
う効果を有する。さらに真空を保持したまま搬送プレー
トを連続回転させても、基板加熱部の加熱手段への冷却
水の供給のための水冷配管及び電力供給や、例えば温度
モニター用の熱電対などの電気配線がねじれることがな
いという効果を有する。
As will be understood from the above description, the coaxial vacuum heating apparatus according to the present invention can continuously rotate and convey the substrate around the rotation axis while maintaining the substrate temperature, and perform the continuous process in parallel. This has the effect that it can be processed in a targeted manner. Further, even if the transfer plate is continuously rotated while maintaining the vacuum, the water cooling pipe and the power supply for supplying the cooling water to the heating means of the substrate heating unit and the electric wiring such as a thermocouple for temperature monitoring are twisted. There is an effect that there is no such thing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態にかかる同軸型真空加熱装置
の外観図である。
FIG. 1 is an external view of a coaxial vacuum heating device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本実施形態にかかる基板加熱部の詳細断面図で
あり、搬送プレートが下方の終点に移動して基板加熱部
が隔壁に当接している状態を示す図である。
FIG. 2 is a detailed cross-sectional view of the substrate heating unit according to the embodiment, showing a state in which the transport plate has moved to a lower end point and the substrate heating unit is in contact with a partition.

【図3】本実施形態の同軸型真空加熱装置と公転移動シ
ャフトの断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view of the coaxial vacuum heating device and the orbital movement shaft of the embodiment.

【図4】本実施形態にかかる公転移動シャフトの水冷配
管詳細図である。
FIG. 4 is a detailed view of a water cooling pipe of the revolving movement shaft according to the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

22 共通室 24 成長室 26 アニール室 28 余熱加熱室 34 基板ホルダーロードロック室 35 ハウジング 36 基板加熱部 38 搬送プレート 39 隔壁 41 Oリング 42 開口部 43 公転移動シャフト 45 チャッカー 48 基板ホルダー 52 クリップ 60 回転機構 62 シャフト 64 駆動ギヤ 65 公転用ギヤ 70 移動機構 71 上蓋 72 移動プレート 73 ブラケット 74 モーター 75 回転シャフト 77 磁気シールユニット 82 フレキシブルチューブ 83 回転用ギヤ 84 基板ホルダー回転部 85 ギヤ 86 自転シャフト 87 ベアリング 88 自転用ギヤ 91 固定用シャフト 92 支持部 93 ベアリング 101 電極プラグ 200 同軸水冷配管 201 水冷配管 202 水冷配管 301 スリップリング 401 内側水冷配管 402 冷却水導入口 403 外側水冷配管 404 水出口 405, 407 水冷シールユニット 406 水入口 408 冷却水排出口 409 Oリング 22 Common Room 24 Growth Room 26 Annealing Room 28 Preheat Heating Room 34 Substrate Holder Load Lock Room 35 Housing 36 Substrate Heating Unit 38 Transport Plate 39 Partition 41 O-ring 42 Opening 43 Revolving Movement Shaft 45 Chucker 48 Substrate Holder 52 Clip 60 Rotating Mechanism 62 Shaft 64 Drive gear 65 Revolution gear 70 Moving mechanism 71 Upper lid 72 Moving plate 73 Bracket 74 Motor 75 Rotation shaft 77 Magnetic seal unit 82 Flexible tube 83 Rotation gear 84 Substrate holder rotating part 85 Gear 86 Rotation shaft 87 Bearing 88 Rotation Gear 91 Fixing shaft 92 Support part 93 Bearing 101 Electrode plug 200 Coaxial water cooling pipe 201 Water cooling pipe 202 Water cooling pipe 301 Slip ring 401 Inside Cold pipe 402 cooling water inlet 403 outside the water cooling pipe 404 of water outlet 405, 407 water-cooled seal unit 406 Water inlet 408 cooling water discharge port 409 O-ring

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B01J 3/00 - 3/08 C23C 14/00 - 14/58 C23C 16/00 - 16/56 H01L 21/203 - 21/205 H01L 21/302 H01L 21/68 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) B01J 3/00-3/08 C23C 14/00-14/58 C23C 16/00-16/56 H01L 21 / 203-21/205 H01L 21/302 H01L 21/68

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 圧力制御可能な共通室と、この共通室の
真空を保持したまま回転及び上下移動をするとともに共
通室外部の電気配線及び水道配管と連結した円筒状の公
転移動シャフトと、この公転移動シャフトの回転軸と同
一軸で固定した搬送プレートと、この搬送プレートの回
転軸を中心とする位置に配設した一以上の基板加熱部
と、これらの基板加熱部に対応して上記共通室と隔壁の
開口部を介して設けた一以上の圧力制御可能なプロセス
処理室とを備え、 上記基板加熱部が、水冷のために配設した水冷配管を有
する加熱手段と、この加熱手段で加熱する基板を保持し
た基板ホルダーとを有している、同軸型真空加熱装置。
1. A common chamber capable of pressure control, a cylindrical revolving shaft that rotates and moves up and down while maintaining vacuum in the common chamber, and is connected to electric wiring and water pipes outside the common chamber. A transfer plate fixed on the same axis as the rotation axis of the revolving movement shaft, one or more substrate heating units disposed at a position centered on the rotation axis of the transfer plate, and the common substrate corresponding to these substrate heating units. A heating means having a water cooling pipe disposed for water cooling, comprising: a chamber and one or more pressure controllable process treatment chambers provided through openings of the partition walls. A coaxial vacuum heating device, comprising: a substrate holder holding a substrate to be heated.
【請求項2】 前記公転移動シャフトが、この上端を真
空シールして前記電気配線と接続するスリップリング
と、前記水道配管と連結した水冷シールユニットと、こ
の水冷シールユニットと水密的に連結して摺動する同軸
水冷配管とを有することを特徴とする、請求項1に記載
の同軸型真空加熱装置。
2. The revolving moving shaft is provided with a slip ring for vacuum-sealing an upper end thereof and connecting to the electric wiring, a water-cooled seal unit connected to the water pipe, and a water-tightly connected water-cooled seal unit. The coaxial vacuum heating apparatus according to claim 1, further comprising a sliding coaxial water cooling pipe.
【請求項3】 前記基板加熱部が、基板温度を維持しま
ま、前記搬送プレートにより前記隔壁の開口部に向けて
回転し下降し、該基板加熱部が該開口部に当接し真空シ
ールして、上記基板加熱部と前記プロセス処理室とで独
立して圧力制御可能な真空チャンバーを形成するように
したことを特徴とする、請求項1に記載の同軸型真空加
熱装置。
3. The substrate heating unit is rotated by the transfer plate toward the opening of the partition wall and lowered while maintaining the substrate temperature, and the substrate heating unit comes into contact with the opening and vacuum seals. 2. The coaxial vacuum heating apparatus according to claim 1, wherein a vacuum chamber capable of independently controlling the pressure is formed by said substrate heating section and said process chamber.
【請求項4】 前記同軸水冷配管が前記公転移動シャフ
トと同軸に設けた内側水冷配管と外側水冷配管とで一水
道路を形成したことを特徴とする、請求項2に記載の同
軸型真空加熱装置。
4. The coaxial vacuum heating according to claim 2, wherein the coaxial water cooling pipe is formed by an inner water cooling pipe and an outer water cooling pipe provided coaxially with the revolving movement shaft. apparatus.
【請求項5】 前記基板加熱部が前記基板ホルダーを回
転させる基板回転機構を備えることを特徴とする、請求
項1又は3に記載の同軸型真空加熱装置。
5. The coaxial vacuum heating apparatus according to claim 1, wherein the substrate heating unit includes a substrate rotating mechanism for rotating the substrate holder.
【請求項6】 前記基板加熱部が基板回転機構を有して
おり、この基板回転機構の回転と前記搬送プレートの回
転とが同一の駆動力に基づいて回転することを特徴とす
る、請求項1、3又は5に記載の同軸型真空加熱装置。
6. The apparatus according to claim 1, wherein the substrate heating unit has a substrate rotating mechanism, and the rotation of the substrate rotating mechanism and the rotation of the transfer plate rotate based on the same driving force. 6. The coaxial vacuum heating device according to 1, 3, or 5.
【請求項7】 前記基板加熱部が基板回転機構を有して
おり、この基板回転機構により前記真空チャンバー内で
前記基板ホルダーが回転することを特徴とする、請求項
1、3、5又は6に記載の同軸型真空加熱装置。
7. The substrate heating unit has a substrate rotating mechanism, and the substrate rotating mechanism rotates the substrate holder in the vacuum chamber. The coaxial vacuum heating device according to item 1.
【請求項8】 前記プロセス処理室が、前記基板ホルダ
ーに保持した基板をアニールするためのアニール室、前
記基板ホルダーに保持した基板を高真空かつ所定温度で
加熱しておく余熱加熱室、前記基板ホルダーに保持した
基板に薄膜を形成する成長室及び前記基板ホルダーに保
持した基板に薄膜成長後エッチング処理をするためのエ
ッチング室であることを特徴とする、請求項1又は3に
記載の同軸型真空加熱装置。
8. An annealing chamber for annealing a substrate held by the substrate holder, a preheating heating chamber for heating the substrate held by the substrate holder at a high vacuum and a predetermined temperature, and 4. The coaxial type as claimed in claim 1, wherein a growth chamber for forming a thin film on the substrate held by the holder and an etching chamber for performing an etching process after growing the thin film on the substrate held by the substrate holder. Vacuum heating device.
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