JP3029040B2 - X-ray microscope - Google Patents
X-ray microscopeInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、X線顕微鏡に関する。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an X-ray microscope.
近年、生物試料を前処理することなく生きた状態のま
ま高解像度で観察できることから、軟X線を用いるX線
顕微鏡の開発が行われるようになってきている。2. Description of the Related Art In recent years, an X-ray microscope using soft X-rays has been developed since a biological sample can be observed at a high resolution in a living state without pretreatment.
この種従来のX線顕微鏡は、基本的には、X線光源と
コンデンサーレンズとからなる照明系と、対物レンズと
X線検出器とから成る結像系とが空気による軟X線の吸
収をできるだけ避けるために夫々真空容器中に置かれて
いて、両真空容器に夫々設けられた窓を介して軟X線が
出入りするようになっていると共に、両窓の間(空気
中)に試料を配置して該試料の観察を行うようになって
いた。そして、上記コンデンサーレンズや対物レンズと
しては、反射面に特定の波長の軟X線に対して高い反射
率を有する多層膜を積層して成るシュヴァルツシルド光
学系や全反射を利用したウォルター光学系や回折を利用
したゾーンプレートなどが用いられている。In this type of conventional X-ray microscope, an illumination system composed of an X-ray light source and a condenser lens and an imaging system composed of an objective lens and an X-ray detector basically absorb soft X-rays by air. In order to avoid as much as possible, each sample is placed in a vacuum container, and soft X-rays enter and exit through windows provided in both vacuum containers, and a sample is placed between the windows (in air). It was arranged to observe the sample. As the condenser lens or the objective lens, a Schwarzschild optical system in which a multilayer film having a high reflectance for soft X-rays of a specific wavelength is laminated on a reflecting surface, a Walter optical system using total reflection, A zone plate utilizing diffraction is used.
ところが、観察対象物に対するアライメントやフォー
カシングを軟X線を用いて行うと、ズレやボケが大きい
場合何度も真空破りと真空引きを行なわなければなら
ず、操作性が悪く且つ膨大な時間がかかるという不都合
があった。又、同一の試料を可視光と軟X線の両方で観
察したいという要求もあった。However, when alignment and focusing with respect to an observation target are performed using soft X-rays, if the displacement or blurring is large, vacuum breaking and evacuation must be performed many times, resulting in poor operability and enormous time. There was an inconvenience. There is also a demand for observing the same sample with both visible light and soft X-rays.
そこで、これらの問題を解決するものとして、例えば
特開昭64−3600号公報では、軟X線用フレネルゾーンプ
レートと可視光用フレネルゾーンプレートを同心状に配
置し、始めに大気中で可視光によりアライメントやフォ
ーカシングを行うと共に観察も行うことができ、次に真
空を引いて軟X線による観察を行うようにしたX線顕微
鏡が提案されている。In order to solve these problems, for example, Japanese Patent Laid-Open Publication No. 64-3600 discloses that a Fresnel zone plate for soft X-rays and a Fresnel zone plate for visible light are arranged concentrically, An X-ray microscope has been proposed in which an alignment and focusing can be performed and observation can be performed by using the method, and then a vacuum is applied to perform observation using soft X-rays.
しかしながら、上述の如くフレネルゾーンプレートを
対物レンズとして用いると、開口数をあまり大きくとれ
ないことの他に、不要回折次数の光によるノイズの発生
があるため、必ずしも十分な結像性能が得られないこと
があった。However, when the Fresnel zone plate is used as an objective lens as described above, in addition to the fact that the numerical aperture cannot be made too large, noise due to light of an unnecessary diffraction order is generated, so that sufficient imaging performance cannot always be obtained. There was something.
本発明は、上記問題点に鑑み、操作性が向上し且つ可
視光と軟X線の両方による観察が可能であると共に十分
な結像性能も得られるX線顕微鏡を提供することを目的
としている。In view of the above problems, an object of the present invention is to provide an X-ray microscope that has improved operability, enables observation using both visible light and soft X-rays, and has sufficient imaging performance. .
本発明によるX線顕微鏡は、 X線源から発したX線を観察対象物に照射するコンデ
ンサーレンズと、前記観察対象物からのX線を所定の位
置に集束させる反射型対物レンズとを備えたX線顕微鏡
において、 可視光源と、該可視光源からの光を前記X線と実質的
に同じ光軸に沿って導き前記観察対象物に照射する照明
手段と、前記観察対象物からの光を所定の位置に集束さ
せる可視光用対物レンズとを備えていることにより、 可視光によるアライメントやフォーカシングを行うこ
とができ、可視光と軟X線の両方に対応する顕微鏡光学
系を有し、軟X線用の対物レンズとして結像性能の良い
反射型のものを用いるようにしたものである。An X-ray microscope according to the present invention includes: a condenser lens that irradiates an X-ray emitted from an X-ray source onto an observation target; and a reflective objective lens that focuses the X-ray from the observation target at a predetermined position. In an X-ray microscope, a visible light source, illumination means for guiding light from the visible light source along substantially the same optical axis as the X-rays and irradiating the observation object, and applying light from the observation object to a predetermined position The objective lens for visible light that focuses at the position of, alignment and focusing with visible light can be performed, and a microscope optical system for both visible light and soft X-rays is provided. The objective lens for the line is a reflection type lens having good imaging performance.
尚、可視光用対物レンズが軟X線用の反射型対物レン
ズであっても良いし、両者が別の光学系であっても良
い。又、可視光用対物レンズが軟X線用の反射型対物レ
ンズである場合は、観察対象物からそれを発した光が集
束する所定の位置に至る光路中に挿脱自在な可視光用の
補正レンズを設ければ、可視光による観察の場合の収差
補正が可能となる。The visible light objective lens may be a soft X-ray reflective objective lens, or both may be separate optical systems. In the case where the visible light objective lens is a soft X-ray reflective objective lens, the visible light objective lens can be inserted into and removed from the observation target object in an optical path to a predetermined position where light emitted from the observation object is focused. If a correction lens is provided, it becomes possible to correct aberrations in the case of observation using visible light.
以下、図示した実施例に基づき本発明を詳細に説明す
る。Hereinafter, the present invention will be described in detail based on illustrated embodiments.
第1図は本発明によるX線顕微鏡の第1実施例の断面
図である。1はX線源、2はシュヴァルツシルド光学系
から成るコンデンサーレンズであって、これらはX線用
の照明系を構成していると共に、空気による軟X線の吸
収をできるだけ避けるために真空容器3中に置かれてい
る。そして、コンデンサーレンズ2により集束される軟
X線は、真空容器3に設けられたSi3N4の薄膜製の窓4
から出射して空気中に置かれた試料5を照射するように
なっている。6はコンデンサーレンズ2と同じ構造のシ
ュヴァルツシルド光学系から成る対物レンズ、7は図示
しないディスプレイ等に接続されたX線検出器、8は軟
X線検出器7の前面に配置された長波長帯域カット手段
としての軟X線フィルターであって、これらはX線用の
拡大結像系を構成していると共に、空気による軟X線の
吸収をできるだけ避けるために真空容器9中に置かれて
いる。そして、試料5を透過・回折した軟X線は、真空
容器9に設けられたSi3N4の薄膜製の窓10から入射して
対物レンズ6により軟X線検出器7上に集束されるよう
になっている。尚、コンデンサーレンズ2及び対物レン
ズ6を構成するシュヴァルツシルド光学系は、所定の波
長域の軟X線に対して反射率分布を持つ多層膜を被覆し
て成るものであるが、これは可視光に対しても大きな反
射率を有するため、可視光用レンズとしても使用でき
る。FIG. 1 is a sectional view of a first embodiment of the X-ray microscope according to the present invention. 1 is an X-ray source, 2 is a condenser lens composed of a Schwarzschild optical system, which constitutes an illumination system for X-rays, and a vacuum vessel 3 for minimizing absorption of soft X-rays by air. Is placed inside. The soft X-rays focused by the condenser lens 2 are applied to a window 4 made of a thin film of Si 3 N 4 provided in the vacuum vessel 3.
And irradiates the sample 5 placed in the air. Reference numeral 6 denotes an objective lens composed of a Schwarzschild optical system having the same structure as that of the condenser lens 2, reference numeral 7 denotes an X-ray detector connected to a display or the like (not shown), reference numeral 8 denotes a long wavelength band disposed on the front surface of the soft X-ray detector 7. Soft X-ray filters as cutting means constitute an enlarged imaging system for X-rays, and are placed in a vacuum vessel 9 in order to minimize absorption of soft X-rays by air. . Then, the soft X-ray transmitted and diffracted through the sample 5 enters through a window 10 made of a thin film of Si 3 N 4 provided in the vacuum vessel 9 and is focused on the soft X-ray detector 7 by the objective lens 6. It has become. The Schwarzschild optical system constituting the condenser lens 2 and the objective lens 6 is formed by coating a multilayer film having a reflectance distribution with respect to soft X-rays in a predetermined wavelength range. It also has a large reflectivity, and can be used as a visible light lens.
11は可視光源、12は真空容器3の側壁に設けられてい
てシャッター13により開閉される窓、14はX線源1とコ
ンデンサーレンズ2との間の光路に挿脱自在に配置され
ていて可視光源11を発し窓12から真空容器3内に入射し
た可視光を反射して上記軟X線と実質的に同じ光軸に沿
って導き対物レンズ2に入射せしめるプリズムであっ
て、これらが対物レンズ2と共に可視光用の照明系を構
成している。15は対物レンズ6と軟X線検出器7との間
の光路に挿脱自在に配置されていて対物レンズ6からの
可視光を反射して上記軟X線の光軸から分離せしめ、軟
X線検出器7の受光面と共役な位置に結像せしめるプリ
ズムであって、これが対物レンズ8と共に可視光用の拡
大結像系を構成している。16は真空容器9の側壁に設け
られていてプリズム15により分離された光路上の可視光
像を真空容器の外側から観察し得るようにする接眼レン
ズであって、この接眼レンズ16への入射光はシャッター
17により遮ることが可能となっている。Reference numeral 11 denotes a visible light source, 12 denotes a window provided on the side wall of the vacuum vessel 3 and is opened and closed by a shutter 13, and 14 denotes a visible light source which is detachably disposed in an optical path between the X-ray source 1 and the condenser lens 2. A prism which emits a light source 11, reflects visible light that has entered the vacuum chamber 3 from the window 12 and guides it along the substantially same optical axis as the soft X-rays, and makes the objective lens 2 enter the objective lens 2. 2 together with the illumination system for visible light. Numeral 15 is disposed in the optical path between the objective lens 6 and the soft X-ray detector 7 so as to be freely inserted and removed, reflects visible light from the objective lens 6 and separates the visible light from the optical axis of the soft X-ray. A prism that forms an image at a position conjugate with the light receiving surface of the line detector 7 and constitutes an enlarged imaging system for visible light together with the objective lens 8. Reference numeral 16 denotes an eyepiece provided on the side wall of the vacuum vessel 9 so that a visible light image on an optical path separated by the prism 15 can be observed from outside the vacuum vessel. Is the shutter
17 makes it possible to block.
本実施例は上述の如く構成されているから、まず真空
容器3,9内を真空に引かず且つX線源1が消灯した状態
で可視光源11を点灯すると共にプリズム14及び15を光路
中に挿入し、更にシャッター13及び17を開くと、可視光
源11を発した可視光は窓12を介して真空容器3内に入射
し、プリズム14によってその光路が曲げられてコンデン
サーレンズ2に導かれる。コンデンサーレンズ2に導か
れた可視光はコンデンサーレンズ2により集束され、窓
4を通って試料5を照明する。試料5を透過した可視光
は窓10を通って対物レンズ6に導かれ、対物レンズ6に
導かれた可視光は対物レンズ6による集束作用を受け、
プリズム15でその光路が曲げられた後軟X線検出器7の
受光面と共役な位置に試料像として拡大結像せしめられ
る。そして、この試料像が接眼レンズ16を通して肉眼で
観察される。従って、操作者は可視光による試料5の像
の観察が可能になると共に、この可視光による観察を行
ないながらアライメントやフォーカシングを行うことが
でき、従来例のように何度も真空破りと真空引きを行う
必要がないので操作性が大幅に向上する。Since the present embodiment is configured as described above, first, the vacuum sources 3 and 9 are not evacuated and the visible light source 11 is turned on while the X-ray source 1 is turned off, and the prisms 14 and 15 are placed in the optical path. When the shutter is inserted and the shutters 13 and 17 are further opened, the visible light emitted from the visible light source 11 enters the vacuum vessel 3 through the window 12, and its optical path is bent by the prism 14 and guided to the condenser lens 2. The visible light guided to the condenser lens 2 is focused by the condenser lens 2 and illuminates the sample 5 through the window 4. The visible light transmitted through the sample 5 is guided to the objective lens 6 through the window 10, and the visible light guided to the objective lens 6 is converged by the objective lens 6,
After the optical path is bent by the prism 15, it is enlarged and formed as a sample image at a position conjugate with the light receiving surface of the soft X-ray detector 7. Then, this sample image is visually observed through the eyepiece lens 16. Therefore, the operator can observe the image of the sample 5 with visible light, and can perform alignment and focusing while observing with the visible light. Therefore, operability is greatly improved.
次に、プリズム14及び15を光路外に退避させ、更にシ
ャッター13及び17を閉じ、可視光源11を消灯すると共に
真空容器3,9を真空に引いてからX線源1を点灯する
と、X線源1から放射された軟X線はコンデンサーレン
ズ2により集束され、窓4を通って試料5を照明する。
試料5を透過・回折した軟X線は窓10を通って対物レン
ズ6に導かれて対物レンズ6の集束作用を受け、軟X線
フィルター8を透過した後軟X線検出器7の受光面に試
料像として拡大結像せしめられる。従って、操作者は図
示しないディスプレイを介して軟X線による試料5の像
の観察が可能になる。又、対物レンズ6が反射型なの
で、ゾーンプレートのような回折型のものに比べて十分
良好な結像性能が得られる。ここで、真空容器3,9内を
真空に引いたままの状態でX線源1を消灯し、可視光源
11を点灯すると共にプリズム14及び15を光路中に挿入
し、シャッター13及び17を開くと、再び可視光によって
試料5を観察することができ、同時に試料5の位置の微
調整を行うことができる。Next, the prisms 14 and 15 are retracted out of the optical path, the shutters 13 and 17 are closed, the visible light source 11 is turned off, the vacuum containers 3 and 9 are evacuated, and the X-ray source 1 is turned on. Soft X-rays emitted from a source 1 are focused by a condenser lens 2 and illuminate a sample 5 through a window 4.
The soft X-ray transmitted and diffracted through the sample 5 is guided to the objective lens 6 through the window 10 and receives the focusing action of the objective lens 6, passes through the soft X-ray filter 8, and then receives the light receiving surface of the soft X-ray detector 7. The image is magnified as a sample image. Therefore, the operator can observe the image of the sample 5 with soft X-rays through a display (not shown). Further, since the objective lens 6 is of a reflection type, a sufficiently good imaging performance can be obtained as compared with a diffraction type such as a zone plate. Here, the X-ray source 1 is turned off while the vacuum chambers 3 and 9 are kept evacuated, and the visible light source is turned off.
By turning on the prism 11, inserting the prisms 14 and 15 into the optical path, and opening the shutters 13 and 17, the sample 5 can be observed again by visible light, and at the same time, the position of the sample 5 can be finely adjusted. .
尚、本実施例ではコンデンサーレンズ2と対物レンズ
6が同じ構造なので、可視光源11の位置と眼の位置を交
換し且つ窓12の位置と接眼レンズ16の位置を交換して
も、対物レンズ6及びコンデンサーレンズ2が夫々コン
デンサーレンズ及び対物レンズとして作用し、その結果
同じ効果が得られる。In this embodiment, since the condenser lens 2 and the objective lens 6 have the same structure, even if the position of the visible light source 11 and the position of the eye are exchanged and the position of the window 12 and the position of the eyepiece 16 are exchanged, the objective lens 6 And the condenser lens 2 act as a condenser lens and an objective lens, respectively, so that the same effect is obtained.
又、コンデンサーレンズ2は、対物レンズ6程結像性
能が良くなくても構わないので、第2図に示したような
ウォルター光学系18(但し、F1,F2は回転双曲面の焦点
位置、F2,F3は回転楕円面の焦点位置である。)や、第
3図に示したような回転楕円体の一部で構成した輪帯状
の光学系19を用いても良い。これらの場合、光量を有効
に利用するため、試料側開口数を対物レンズ6と等しく
するのが一般的である。Also, since the condenser lens 2 does not have to have the imaging performance as good as the objective lens 6, the Walter optical system 18 as shown in FIG. 2 (where F 1 and F 2 are the focal positions of the rotating hyperboloid) , F 2 and F 3 are the focal positions of the spheroid.) Alternatively, an annular optical system 19 constituted by a part of the spheroid as shown in FIG. 3 may be used. In these cases, the sample side numerical aperture is generally made equal to that of the objective lens 6 in order to effectively use the light amount.
又、接眼レンズ16を保持する鏡筒にCCDカメラを取付
け、CCDにより像を検出するようにしても良い。Further, a CCD camera may be attached to a lens barrel holding the eyepiece 16, and an image may be detected by the CCD.
又、プリズム14,15の代りに、第4図(A)に示した
ように支点を中心に回動可能な鏡20や、第4図(B)に
示したように矢印方向に移動可能な鏡21を用いて可視光
の光路を変えるようにしても良い。Also, instead of the prisms 14 and 15, a mirror 20 that can rotate around a fulcrum as shown in FIG. 4A or a mirror 20 that can be moved in the direction of an arrow as shown in FIG. The optical path of visible light may be changed using the mirror 21.
更に、窓4,10の材料は、軟X線,可視光が共に透過し
且つ真空容器の隔壁となり得る物質であれば良いので、
ポリイミド薄膜なども用いることができる。Further, the material of the windows 4 and 10 may be any material that can transmit both soft X-rays and visible light and can be a partition of a vacuum vessel.
A polyimide thin film or the like can also be used.
第5図は第2実施例の要部を示しており、これは、シ
ュヴァルツシルド光学系からなる対物レンズ6だけだと
可視光の場合収差補正が不十分になるので、第1実施例
において試料5から対物レンズ6による結像位置に至る
光路中に挿脱自在な可視光用の補正レンズ22を設けて成
るものである。FIG. 5 shows a main part of the second embodiment. This is because the objective lens 6 composed of a Schwarzschild optical system alone has insufficient aberration correction in the case of visible light. In the optical path from 5 to the image formation position of the objective lens 6, a visible light correction lens 22 which can be inserted and removed is provided.
第6図は第3実施例の要部を示しており、これは、第
1実施例におけるコンデンサーレンズ2及び対物レンズ
6が何れも、別の光学系である軟X線用レンズ23と可視
光用レンジ24とから構成され、軟X線用レンズ23が所定
の帯域の波長の軟X線を反射結像するシュヴァルツシル
ド光学系であってそれが可視光用レンズ24の中央開口に
組み込まれて成るものである。但し、軟X線用レンズ23
と可視光用レンズ24の焦点位置は等しくなっている。FIG. 6 shows a main part of the third embodiment, in which both the condenser lens 2 and the objective lens 6 in the first embodiment are different from the optical X-ray lens 23, which is another optical system, and the visible light. The soft X-ray lens 23 is a Schwarzschild optical system for reflecting and imaging soft X-rays having a wavelength in a predetermined band, and is incorporated in the central opening of the visible light lens 24. It consists of However, the soft X-ray lens 23
And the focal position of the visible light lens 24 are equal.
第7図(A)及び(B)は夫々第4実施例の要部及び
その可視光用レンズを示しており、これは、第1実施例
におけるコンデンサーレンズ2及び対物レンズ6が何れ
も、別の光学系である軟X線用レンズ25と可視光用レン
ズ26とから構成され、軟X線用レンズ25が所定の帯域の
波長の軟X線を反射結像するウォルター光学系であって
その中心に第7図(B)に示した如き所定の波長の可視
光を拡大結像するフレネルゾーンプレートから成る可視
光用レンズ26を配置して成るものであり、可視光用レン
ズ26が軟X線用レンズ25の軟X線遮光板としての役割も
果たしている。但し、軟X線用レンズ25と可視光用レン
ズ26の焦点位置は等しくなっている。FIGS. 7 (A) and 7 (B) show a main part of the fourth embodiment and a visible light lens thereof, respectively, in which the condenser lens 2 and the objective lens 6 in the first embodiment are both different. A soft X-ray lens 25 and a visible light lens 26, each of which is a Walter optical system for reflecting and imaging soft X-rays having a wavelength in a predetermined band. A visible light lens 26 composed of a Fresnel zone plate for enlarging and forming an image of visible light of a predetermined wavelength as shown in FIG. 7B is disposed at the center. The line lens 25 also serves as a soft X-ray shielding plate. However, the focal positions of the soft X-ray lens 25 and the visible light lens 26 are equal.
第8図は第5実施例の要部を示しており、これは、第
1実施例におけるコンデンサーレンズ2及び対物レンズ
6が何れも、別の光学系である軟X線用レンズ2と可視
光用レンズ28とから構成され、軟X線用レンズ27が所定
の帯域の波長の軟X線を反射結像するウォルター光学系
であってそれと同心的に所定の波長の可視光を反射結像
するシュヴァルツシルド光学系から成る可視光用レンズ
28を配置して成るものであり、可視光用レンズ28の凸面
鏡が軟X線用レンズ27の軟X線遮光板としての役割も果
たしている。但し、軟X線用レンズ27と可視光用レンズ
28の焦点位置は等しくなっている。FIG. 8 shows a main part of the fifth embodiment, in which both the condenser lens 2 and the objective lens 6 in the first embodiment are different from the soft X-ray lens 2 which is another optical system and the visible light. A soft X-ray lens 27 is a Walter optical system for reflecting and imaging soft X-rays having a wavelength in a predetermined band, and concentrically reflecting and imaging visible light having a predetermined wavelength. Visible light lens with Schwarzschild optical system
The convex mirror of the visible light lens 28 also plays a role as a soft X-ray shielding plate of the soft X-ray lens 27. However, soft X-ray lens 27 and visible light lens
28 focal positions are equal.
尚、上記第1乃至第5実施例では何れも、可視光によ
る観察と軟X線による観察を別々に行う方式となってい
るが、以下のような構成にすれば可視光と軟X線による
同時観察も可能である。即ち、第1図においてプリズム
14及び15の代りに、Be薄膜等軟X線は透過するが可視光
は反射するような軟X線フィルターを光路上に斜交配置
してやれば良い。すると、可視光はこれらの軟X線フィ
ルターにより光路を曲げられ、例えば接眼レンズ16を保
持する鏡筒に取付けられたCCDカメラ等の可視光用検出
器の受光面に像を結ぶ。又、軟X線はこれらの軟X線フ
ィルターを透過して軟X線検出器7の受光面に像を結
ぶ。但し、この場合軟X線フィルター8を設ける必要は
無い。In each of the first to fifth embodiments, observation using visible light and observation using soft X-ray are performed separately. However, if the following configuration is used, observation using visible light and soft X-ray is performed. Simultaneous observation is also possible. That is, in FIG.
Instead of 14 and 15, a soft X-ray filter that transmits soft X-rays such as a Be thin film but reflects visible light may be obliquely arranged on the optical path. Then, the optical path of the visible light is bent by these soft X-ray filters, and an image is formed on a light receiving surface of a visible light detector such as a CCD camera attached to a lens barrel holding the eyepiece 16, for example. The soft X-rays pass through these soft X-ray filters and form an image on the light receiving surface of the soft X-ray detector 7. However, in this case, there is no need to provide the soft X-ray filter 8.
上述の如く、本発明によるX線顕微鏡は、操作性が向
上し且つ可視光と軟X線の両方による観察が可能である
と共に十分な結像性能も得られるという実用上重要な利
点を有している。As described above, the X-ray microscope according to the present invention has a practically important advantage that operability is improved, observation by both visible light and soft X-ray is possible, and sufficient imaging performance is obtained. ing.
第1図は本発明によるX線顕微鏡の第1実施例の断面
図、第2図乃至第4図は第1実施例の各変形例の要部を
示す図、第5図乃至第8図は夫々第2乃至第5実施例の
要部を示す図である。 1……X線源、2……コンデンサーレンズ、3,9……真
空容器、4,10,12……窓、5……試料、6……対物レン
ズ、7……軟X線検出器、8……軟X線フィルター、11
……可視光源、13,17……シャッター、14,15……プリズ
ム、16……接眼レンズ、18……ウォルター光学系、19…
…光学系、20,21……鏡、22……補正レンズ、23,25,27
……軟X線用レンズ、24,26,28……可視光用レンズ。FIG. 1 is a cross-sectional view of a first embodiment of the X-ray microscope according to the present invention, FIGS. 2 to 4 are views showing a main part of each modification of the first embodiment, and FIGS. It is a figure which shows the principal part of 2nd thru | or 5th Example, respectively. 1 X-ray source, 2 condenser lens, 3, 9 vacuum container, 4, 10, 12 window, 5 sample, 6 objective lens, 7 soft X-ray detector, 8 Soft X-ray filter, 11
… Visible light source, 13,17 …… Shutter, 14,15 …… Prism, 16 …… Eyepiece, 18 …… Walter optical system, 19…
... Optical system, 20,21 ... Mirror, 22 ... Correction lens, 23,25,27
…… Soft X-ray lens, 24,26,28 …… Visible light lens.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀川 嘉明 東京都渋谷区幡ケ谷2―43―2 オリン パス光学工業株式会社内 (56)参考文献 特開 平2−16498(JP,A) 特開 平2−22600(JP,A) 特開 平3−207000(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G21K 7/00 G21K 5/00 B02B 21/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Yoshiaki Horikawa 2-43-2 Hatagaya, Shibuya-ku, Tokyo Inside Olympus Optical Co., Ltd. (56) References JP-A-2-16498 (JP, A) JP-A 2-22600 (JP, A) JP-A-3-207000 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G21K 7/00 G21K 5/00 B02B 21/00
Claims (2)
するコンデンサーレンズと、前記観察対象物からのX線
を所定の位置に集束させる反射型対物レンズとを備えた
X線顕微鏡において、 可視光源と、該可視光源からの光を前記X線と実質的に
同じ光軸に沿って導き前記観察対象物に照射する照明手
段と、前記観察対象物からの光を所定の位置に集束させ
る可視光用対物レンズとを備え、 前記可視光用対物レンズが前記反射型対物レンズである
と共に、 前記観察対象物から前記所定の位置に至る光路中に挿脱
自在な可視光用の補正レンズを設けたことを特徴とする
X線顕微鏡。1. An X-ray microscope comprising: a condenser lens for irradiating an X-ray emitted from an X-ray source onto an observation target; and a reflection type objective lens for focusing X-rays from the observation target at a predetermined position. In, a visible light source, illumination means for guiding light from the visible light source along substantially the same optical axis as the X-rays and irradiating the observation target, and light from the observation target at a predetermined position An objective lens for visible light to be focused, wherein the objective lens for visible light is the reflective objective lens, and a correction for visible light that can be inserted into and removed from an optical path from the object to be observed to the predetermined position. An X-ray microscope comprising a lens.
するコンデンサーレンズと、前記観察対象物からのX線
を所定の位置に集束させる反射型対物レンズとを備えた
X線顕微鏡において、 可視光源と、該可視光源からの光を前記X線と実質的に
同じ光軸に沿って導き前記観察対象物に照射する照明手
段と、前記観察対象物からの光を所定の位置に集束させ
る可視光用対物レンズとを備え、 前記可視光用対物レンズと前記反射型対物レンズとが別
の光学系であることを特徴とするX線顕微鏡。2. An X-ray microscope comprising: a condenser lens for irradiating an X-ray emitted from an X-ray source onto an observation target; and a reflective objective lens for converging the X-ray from the observation target to a predetermined position. In, a visible light source, illumination means for guiding light from the visible light source along substantially the same optical axis as the X-rays and irradiating the observation target, and light from the observation target at a predetermined position An X-ray microscope comprising: a visible light objective lens to be focused; and wherein the visible light objective lens and the reflective objective lens are different optical systems.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2080667A JP3029040B2 (en) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | X-ray microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2080667A JP3029040B2 (en) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | X-ray microscope |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPH03282300A JPH03282300A (en) | 1991-12-12 |
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ID=13724714
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|---|---|---|---|
| JP2080667A Expired - Fee Related JP3029040B2 (en) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | X-ray microscope |
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| JP (1) | JP3029040B2 (en) |
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|---|---|---|---|---|
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| CN115389538B (en) * | 2022-08-09 | 2023-12-29 | 深圳市埃芯半导体科技有限公司 | X-ray analysis device and method |
-
1990
- 1990-03-30 JP JP2080667A patent/JP3029040B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03282300A (en) | 1991-12-12 |
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