JP3034576B2 - Discharge charge calibration method - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、電力ケーブル、電子部品等の電気機器の部
分放電試験(コロナ試験)の際に、標準電荷を注入して
放電の大きさを定量評価するために用いる校正用パルス
発生器による放電電荷の校正方法に関し、特に、供試体
となる電気機器に高電圧が印加されている状態でも、部
分放電の電荷校正を行い得るようにする校正用パルス発
生器による放電電荷の校正方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a method of injecting a standard charge and measuring a magnitude of discharge in a partial discharge test (corona test) of an electric device such as a power cable or an electronic component. Regarding the method of calibrating discharge charge using a calibration pulse generator used for quantitative evaluation, in particular, calibration so that charge calibration of partial discharge can be performed even when high voltage is applied to the electrical equipment to be tested The present invention relates to a method of calibrating a discharge charge by a pulse generator for use in a computer.
[従来の技術] 電気機器の絶縁体中に、ボイド,傷や電界集中部など
絶縁弱点部が存在する場合には、該機器の運転状態で、
該ボイド内部等で部分放電(コロナ)が発生し、該機器
の絶縁劣化等を引き起し、最終的には絶縁破壊に至る等
の問題点が発生することがある。[Prior art] In a case where an insulating weakness portion such as a void, a flaw, or an electric field concentration portion exists in an insulator of an electric device, the operation state of the device is as follows.
A partial discharge (corona) may be generated inside the void or the like, which may cause a problem such as deterioration of the insulation of the device and ultimately dielectric breakdown.
前述したような絶縁破壊事故を防止するために、該電
気機器の絶縁劣化を予見し、且つ、機器を合理的,経済
的に製造するためには、絶縁弱点部の存在を能率良く検
知することが必要となる。In order to foresee the insulation deterioration of the electrical equipment in order to prevent the above-mentioned dielectric breakdown accident and to manufacture the equipment reasonably and economically, it is necessary to efficiently detect the presence of the insulation weak point. Is required.
そこで、前記絶縁弱点部等を検知するために、コロナ
測定装置が用いられている。前記コロナ測定器は、電気
機器等のような供試体に試験電圧を印加した際に、絶縁
体中に発生するコロナ放電を測定し、その測定情報を表
示部に直接表示することができるように構成されてい
る。Therefore, a corona measuring device is used to detect the insulation weak point and the like. The corona measuring device, when a test voltage is applied to a test piece such as an electrical device or the like, measures a corona discharge generated in the insulator, so that the measurement information can be directly displayed on a display unit. It is configured.
例えば、特公昭63−31056号公報等に示されている従
来の部分放電電荷表示装置においては、コロナ測定器か
ら出力される測定値dB(デジベル)から、部分放電電荷
量(pC)に変換し、その変換された値を、表示部にデジ
タル信号として表示できるように構成している。For example, in a conventional partial discharge charge display device disclosed in Japanese Patent Publication No. 63-31056, etc., a measured value dB (Digibel) output from a corona measuring device is converted into a partial discharge charge amount (pC). The converted value can be displayed on the display unit as a digital signal.
そして、表示部にデジタル信号として表示することに
よって、供試体に対する部分放電試験の能率を向上させ
得るとともに、試験作業の省力化を図り得るようにして
いる。By displaying the digital signal on the display unit, the efficiency of the partial discharge test on the specimen can be improved, and the labor of the test operation can be reduced.
従来より用いられている部分放電測定器は、第10図に
示すような回路構成であって、供試体12に高電圧を印加
することにより行われる。前記第10図に示される回路に
おいて、校正用パルス発生回路1のパルス発生器2から
の電荷を注入する回路と、結合コンデンサ11とコロナ測
定器10との回路とを、供試体12に対して並列に設け、さ
らに、高圧トランス18からの高電圧印加回路を配置す
る。The conventional partial discharge measuring device has a circuit configuration as shown in FIG. 10, and is performed by applying a high voltage to the specimen 12. In the circuit shown in FIG. 10, the circuit for injecting the charge from the pulse generator 2 of the calibration pulse generation circuit 1 and the circuit of the coupling capacitor 11 and the corona measuring device 10 are connected to the specimen 12. They are provided in parallel, and a high-voltage application circuit from the high-voltage transformer 18 is provided.
前記高電圧印加回路は、電源15,スイッチ16,摺動電圧
調整器17および高圧トランス18と、ブロッキングコイル
19とから構成され、電源15の電圧を所定の値の高電圧に
昇圧し、供試体12に印加するように構成している。さら
に、前記パルス発生器2は、第11図に示されるような回
路構成のもので、電池による電源(直角波電圧)3,充電
用抵抗器4,パルス電圧値決定用コンデンサ5による回路
と、該回路に並列配置される水銀チョッパー6、および
出力側の回路の直列配置されるパルス信号取出用コンデ
ンサ7とから構成される。The high voltage application circuit includes a power supply 15, a switch 16, a sliding voltage regulator 17, a high voltage transformer 18, and a blocking coil.
19, the voltage of the power supply 15 is boosted to a high voltage of a predetermined value, and the voltage is applied to the specimen 12. Further, the pulse generator 2 has a circuit configuration as shown in FIG. 11, and includes a circuit including a battery-based power supply (quadrature wave voltage) 3, a charging resistor 4, and a pulse voltage value determining capacitor 5. The circuit comprises a mercury chopper 6 arranged in parallel with the circuit, and a pulse signal extracting capacitor 7 arranged in series on the output side circuit.
前記パルス発生器2を用いて供試体へ標準電荷を注入
する目的は、試験(コロナ放電試験)に際して、検出さ
れる部分放電信号は、供試体の静電容量値に支配され、
電圧値が直接放電の大きさを表さない。そこで、定量評
価のために、標準電荷として部分放電に近似した波形を
繰り返し注入して放電の大きさを定量評価するために電
荷校正を行うことにある。The purpose of injecting the standard charge into the specimen using the pulse generator 2 is that, during a test (corona discharge test), the detected partial discharge signal is governed by the capacitance value of the specimen,
The voltage value does not directly indicate the magnitude of the discharge. Therefore, for quantitative evaluation, charge calibration is performed in order to repeatedly inject a waveform approximating partial discharge as a standard charge and quantitatively evaluate the magnitude of discharge.
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、前述したような従来の部分放電試験装
置は、供試体に電圧が印加されている状態、つまり、電
気機器(電力ケーブル)の活線状態の下では、使用する
ことができないという問題がある。すなわち、供試体に
高電圧が印加されている場合には、校正用パルス発生器
1に高電圧が印加されてしまい、前記校正用パルス発生
器1が破壊されるという問題が発生する。[Problems to be Solved by the Invention] However, in the conventional partial discharge test apparatus as described above, in a state where a voltage is applied to a test piece, that is, under a live state of an electric device (power cable), There is a problem that it cannot be used. That is, when a high voltage is applied to the specimen, a high voltage is applied to the calibration pulse generator 1 and the calibration pulse generator 1 is destroyed.
そこで、従来の部分放電試験を行う場合には、供試体
に電圧を印加していない状態で、高電圧の印加される部
分に、校正用パルス発生器1から既知の電荷を注入して
測定系の校正を行い、校正用パルス発生器1を供試体か
ら取外した後で、供試体に対して高電圧を印加すること
により、両者の測定値を比較し、コロナ放電の発生状態
の検知を行うようにしている。すなわち、従来の装置で
は、高電圧が印加されている状態(課電状態)での放電
電荷の校正は不可能であった。Therefore, when a conventional partial discharge test is performed, a known charge is injected from the calibration pulse generator 1 into a portion to which a high voltage is applied in a state where no voltage is applied to the test piece, and a measurement system is applied. After the calibration pulse generator 1 is removed from the specimen, a high voltage is applied to the specimen to compare the measured values of the two and detect the corona discharge occurrence state. Like that. That is, in the conventional apparatus, it is impossible to calibrate the discharge charge in a state where a high voltage is applied (charged state).
[発明の目的] 本発明は、上記したような従来より用いられている装
置の欠点を解消するもので、供試体に高電圧が印加され
ている状態でも、校正用パルス発生器の回路に高電圧が
加わることを防止できるような手段を設け、部分放電測
定による絶縁試験の能率を向上させ得るようにする放電
電荷の校正方法を提供することにある。[Purpose of the Invention] The present invention solves the above-mentioned drawbacks of the conventionally used apparatus. Even when a high voltage is applied to the test piece, the circuit of the calibration pulse generator has a high voltage. It is an object of the present invention to provide a method of calibrating a discharge charge, which is provided with means for preventing the application of a voltage and improves the efficiency of an insulation test based on partial discharge measurement.
[課題を解決するための手段および作用] 本発明は、電気機器の部分放電試験時に、部分放電の
定量評価の校正用として、標準電荷を注入するための校
正用パルス発生器を用いた放電電荷の校正方法であっ
て、前記校正用パルス発生器の出力部を形成する回路部
分に、高電圧バイパス用チョークコイルと高電圧用コン
デンサとを、それぞれ出力回路に対しチョークコイルが
並列配置となりコンデンサが直列配置となるように接続
して設け、これら高電圧バイパス用チョークコイルおよ
び高電圧用コンデンサにより前記電気機器に印加される
高電圧が校正用パルス発生器内へ加わらないように構成
した状態でもって校正用パルス発生器より供試体となる
電気機器へ標準電荷を注入することを特徴とする。Means and Action for Solving the Problems The present invention provides a discharge charge using a calibration pulse generator for injecting a standard charge as a calibration for quantitative evaluation of a partial discharge during a partial discharge test of an electric device. In the calibration method, a choke coil for high voltage bypass and a capacitor for high voltage are provided in a circuit portion forming an output section of the calibration pulse generator, and a choke coil is arranged in parallel with the output circuit, and the capacitor is provided. The high voltage bypass choke coil and the high voltage capacitor are provided so as to be connected in series so that the high voltage applied to the electric device is not applied to the calibration pulse generator. It is characterized in that a standard charge is injected from a calibration pulse generator into an electrical device to be a test sample.
したがって、本発明の放電電荷の校正方法において
は、供試体に高電圧が印加されている状態でも、校正用
パルス発生器の出力部の回路部分に配置した高電圧バイ
パス用チョークコイルと高電圧用コンデンサとにより、
供試体に印加されている高電圧が校正用パルス発生器内
の回路には入り込まない構成にしてあるために、校正用
パルス発生器が供試体に印加される高電圧により破壊さ
れたりすることがなくなる。そして、本発明の放電電荷
の校正方法を用いることにより、供試体に高電圧を印加
した状態での部分放電試験を随時行うことができ、例え
ば、高電圧トランス,電力ケーブル等の活線状態での絶
縁試験等を容易に行うことができるものとなる。Therefore, in the discharge charge calibration method of the present invention, even when a high voltage is applied to the specimen, the high-voltage bypass choke coil and the high-voltage bypass choke coil disposed in the circuit portion of the output section of the calibration pulse generator are used. With the capacitor
The configuration is such that the high voltage applied to the specimen does not enter the circuit inside the calibration pulse generator, so that the calibration pulse generator may be destroyed by the high voltage applied to the specimen. Disappears. Then, by using the method for calibrating the discharge charge of the present invention, a partial discharge test can be performed at any time while a high voltage is applied to the specimen, and for example, in a live state of a high-voltage transformer, a power cable, or the like. Can be easily performed.
[実施例] 以下、図示する実施例に基づいて本発明の放電電荷の
校正方法を詳細に説明する。EXAMPLES Hereinafter, a method of calibrating a discharge charge according to the present invention will be described in detail with reference to the illustrated examples.
第1図は本発明の放電電荷の校正方法に用いる校正用
パルス発生器の構成を示す回路図であり、この校正用パ
ルス発生器の回路は、電池による電源(直角波電圧)3,
充電用抵抗器4,パルス電圧値決定用コンデンサ5による
回路と、該回路に並列配置される水銀チョッパー6、お
よび出力側の回路に直列配置されるパルス信号取出用コ
ンデンサ7とから構成される回路、すなわち前記第11図
に示した従来例のパルス発生器と同様構成の回路に、さ
らに、その出力部を形成する回路部分に、高電圧バイパ
ス用チョークコイル20と高電圧用コンデンサ22とを、そ
れぞれ出力回路に対しチョークコイル20が並列配置とな
りコンデンサ22が直列配置となるように付加接続した構
成にされている。FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of a calibration pulse generator used in the method for calibrating the discharge charge according to the present invention. The circuit of the calibration pulse generator includes a battery-based power supply (quadrature wave voltage) 3,
A circuit comprising a circuit including a charging resistor 4 and a pulse voltage value determining capacitor 5, a mercury chopper 6 arranged in parallel with the circuit, and a pulse signal extracting capacitor 7 arranged in series with the output side circuit. That is, in the circuit having the same configuration as the pulse generator of the conventional example shown in FIG. 11, further, in the circuit portion forming the output portion, a high-voltage bypass choke coil 20 and a high-voltage capacitor 22, Each output circuit has a configuration in which the choke coil 20 is additionally connected so as to be arranged in parallel and the capacitor 22 is arranged in series.
前記高電圧用コンデンサ22とパルス信号取出用コンデ
ンサ7との関係は、パルス信号取出用コンデンサ7のCb
1が0.01μF,高電圧用コンデンサ22Cb2が10pF程度のもの
とし、高電圧用コンデンサ22の容量が非常に小さいもの
を用いる。The relationship between the high-voltage capacitor 22 and the pulse signal extracting capacitor 7 is expressed by Cb of the pulse signal extracting capacitor 7.
1 is 0.01 μF, the high-voltage capacitor 22Cb2 is about 10 pF, and the capacitor of the high-voltage capacitor 22 is very small.
なお、以下の説明においては、パルス信号取出用コン
デンサ,高電圧用コンデンサ,高電圧バイパス用チョー
クコイル,直角波電圧,充電用抵抗器,・・・を使用せ
ずに、Cb1,Cb2,L,E,R,・・・として説明を行う。In the following description, Cb1, Cb2, L, Cb1, Cb2, L,... Are used without using a pulse signal extraction capacitor, a high-voltage capacitor, a high-voltage bypass choke coil, a rectangular wave voltage, a charging resistor,. The description will be made as E, R,.
後述する符号において、 E:直角波電圧、 R:充電用抵抗器、 Cb1:パルス信号取出用コンデンサ(従来の標準コンデ
ンサ)、 Cb2:高電圧用コンデンサ、 L:高電圧バイパス用チョークコイル、 をそれぞれ表すものとする。In the following symbols, E: square wave voltage, R: charging resistor, Cb1: pulse signal extraction capacitor (conventional standard capacitor), Cb2: high voltage capacitor, L: high voltage bypass choke coil, respectively Shall be represented.
前記第1図に示した回路は、第2図に示すような回路
構成に簡略化して表すことができる。The circuit shown in FIG. 1 can be simplified to a circuit configuration as shown in FIG.
つまり、本発明の回路は、第2図に示すように、直角
波電圧Eを出力する手段と、二つのコンデンサCb1,Cb2
および、二つのコンデンサの間で、Eに直列に接続され
る高電圧バイパス用チョークコイルLとから構成される
ものである。That is, as shown in FIG. 2, the circuit of the present invention comprises a means for outputting a quadrature wave voltage E and two capacitors Cb1 and Cb2.
And a high-voltage bypass choke coil L connected in series with E between the two capacitors.
そこで、第3図に示しているように、二つのコンデン
サCb1,Cb2の容量が、Cb1≫Cb2であり、Cb1≫CL…(CL
は、高電圧バイパス用チョークコイルLの浮遊静電容量
を示す)…の関係にあると、E=Cb1/(Cb1+CL)=1
の関係から、CLによるEの分圧は無視できるので、第
4図に示すような回路として示すことができる。Therefore, as shown in FIG. 3, the capacitances of the two capacitors Cb1 and Cb2 are Cb1≫Cb2, and Cb1≫CL (CL
Represents the stray capacitance of the choke coil L for high-voltage bypass). If E = Cb1 / (Cb1 + CL) = 1
Since the partial pressure of E by CL is negligible from the relationship, it can be shown as a circuit as shown in FIG.
また、第4図に示した回路は、第5図および第6図に
示すように簡略化して示すことができる。Further, the circuit shown in FIG. 4 can be simplified as shown in FIGS. 5 and 6.
Cb=(Cb1・Cb2)/(Cb1+Cb2)であり、 Cb≒Cb2 Q=Cb・E(発生電荷)となる。 Cb = (Cb1 · Cb2) / (Cb1 + Cb2), and Cb ≒ Cb2 Q = Cb · E (generated charge).
前記第5図に示すように、Eからの出力電流I1が流れ
ることになり、それは、第6図に示されるように、従来
の装置の場合と同様なものとなる。これに対して、第7
図に示されるように、供試体に印加される高電圧HVによ
る電流I2は、高電圧用コンデンサCb2と高電圧バイパス
用チョークコイルLとにる回路を流れることになる。As shown in FIG. 5, the output current I1 from E flows, which is the same as that of the conventional device, as shown in FIG. In contrast, the seventh
As shown in the figure, the current I2 due to the high voltage HV applied to the specimen flows through the circuit including the high voltage capacitor Cb2 and the high voltage bypass choke coil L.
前記第7図に示される電流の流れる経路を、商用電源
による交流回路に置き換えて見ると、第8図に示すよう
な回路構成となる。When the current flow path shown in FIG. 7 is replaced with an AC circuit using a commercial power supply, a circuit configuration as shown in FIG. 8 is obtained.
つまり、Z1≫Z2のとき、 VZ1=(Z1/(Z1+Z2)×HV 前記した式から、Z1端子電圧を小さくすることが容易
にでき、Cb1および直角波回路に、全く影響を与えない
値にまで低下させることができる。In other words, when Z1≫Z2, VZ1 = (Z1 / (Z1 + Z2) × HV) From the above equation, it is easy to reduce the Z1 terminal voltage, and to a value that does not affect Cb1 and the quadrature wave circuit at all. Can be reduced.
前記式について、分圧計算を行って見ると、 例えば、Cb1:100μF、L:2.5mH、f=50Hz、HV:10kV
とすると、 VZ1≒2.5×10-8 よって、VZ1=0.25mVとなる。When the partial pressure is calculated for the above formula, for example, Cb1: 100 μF, L: 2.5 mH, f = 50 Hz, HV: 10 kV
Then, since VZ1 ≒ 2.5 × 10 −8 , VZ1 = 0.25 mV.
前述したように、本発明において使用する校正用パル
ス発生器においては、校正用パルス発生器の出力部を形
成する回路部分に、高電圧バイパス用チョークコイル20
と高電圧用コンデンサ22とを、それぞれ出力回路に対し
チョークコイル20が並列配置となりコンデンサ22が直列
配置となるように接続して設けることによつて、該パル
ス発生器からの校正用パルスは供試体に向けて出力され
るが、供試体に印加される高電圧はパルス発生器内の回
路中に入ることはなく、該パルス発生器の回路は活線中
で部分放電測定試験を行う場合でも、安全に保持される
ものとなる。As described above, in the calibration pulse generator used in the present invention, the choke coil 20 for the high-voltage bypass is added to the circuit forming the output section of the calibration pulse generator.
And the high-voltage capacitor 22 are connected to the output circuit such that the choke coil 20 is arranged in parallel and the capacitor 22 is arranged in series, whereby the calibration pulse from the pulse generator is supplied. It is output to the specimen, but the high voltage applied to the specimen does not enter the circuit in the pulse generator, and the circuit of the pulse generator is used even when performing the partial discharge measurement test in the live line. , And will be kept safe.
前述した本発明の放電電荷の校正方法は、実際には、
第9図に示すような放電電荷校正装置を用いて校正する
ことができる。The method of calibrating the discharge charge of the present invention described above is actually
Calibration can be performed using a discharge charge calibration device as shown in FIG.
第9図において、放電電荷校正装置24は、透明なアク
リル樹脂等からなる本体25に対して任意の絶縁部材から
なるハンドル29を設けており、前記本体25の両側の部分
に、供試体12の端子に接触させる端子部分27,28を設け
ている。また、前記本体25の内部には高電圧用コンデン
サ22を設け、該高電圧用コンデンサ22の回路に校正用パ
ルス発生器2を接続すると共に、高電圧バイパス用チョ
ークコイル20を設けている。In FIG. 9, a discharge charge calibrating device 24 is provided with a handle 29 made of an arbitrary insulating member with respect to a main body 25 made of a transparent acrylic resin or the like. Terminal portions 27 and 28 to be brought into contact with the terminals are provided. Further, a high-voltage capacitor 22 is provided inside the main body 25, a calibration pulse generator 2 is connected to the circuit of the high-voltage capacitor 22, and a high-voltage bypass choke coil 20 is provided.
そして、コロナ測定器10の回路に接続してある供試体
12の両側の端子に、本体25の両側の端子27,28を接触さ
せることによって、該コロナ測定器による検知回路に校
正用パルス発生器2が接続される。したがって、本発明
の校正用パルス発生器2は、供試体2に対して高電圧が
印加されている状態の下でも、校正用パルスを注入する
ことができるものとなる。Then, the specimen connected to the circuit of the corona measuring instrument 10
By bringing the terminals 27 and 28 on both sides of the main body 25 into contact with the terminals on both sides of 12, the calibration pulse generator 2 is connected to a detection circuit using the corona measuring device. Therefore, the calibration pulse generator 2 of the present invention can inject a calibration pulse even in a state where a high voltage is applied to the specimen 2.
なお、前記放電電荷校正装置24は、前述した構成の他
に、任意の機構のものを用いることができ、該装置に設
ける高電圧バイパス用チョークコイル20や高電圧用コン
デンサ22の容量値は、対象物である供試体に印加される
電圧等に応じて任意に設定することができる。Note that, in addition to the above-described configuration, the discharge charge calibration device 24 may have any mechanism, and the capacitance values of the high-voltage bypass choke coil 20 and the high-voltage capacitor 22 provided in the device are as follows. It can be set arbitrarily according to the voltage applied to the specimen as the object.
[発明の効果] 以上詳述したとおり、本発明の放電電荷の校正方法
は、電気機器の部分放電試験時に校正用パルス発生器を
用いて部分放電定量評価用の標準電荷を注入するにあた
り、前記校正用パルス発生器の出力部を形成する回路部
分に、高電圧バイパス用チョークコイルと高電圧用コン
デンサとを、それぞれ出力回路に対しチョークコイルが
並列配置となりコンデンサが直列配置となるように接続
して設け、これら高電圧バイパス用チョークコイルおよ
び高電圧用コンデンサにより前記電気機器に印加される
高電圧が校正用パルス発生器内へ加わらないように構成
した状態でもって校正用パルス発生器より供試体となる
電気機器へ標準電荷を注入するようにしたから、供試体
となるる電気機器が高電圧下すなわち運転状態や電気試
験用高電圧の課電状態にあっても、校正用パルス発生器
を損傷させることなく良好に標準電荷を供試体へ注入す
ることもでき、回路構成も従来の校正用パルス発生器に
高電圧バイパス用チョークコイルと高電圧用コンデンサ
とを組み込むだけのコンパクトな構成で済み、取扱いも
簡便になし得る。[Effects of the Invention] As described in detail above, the method of calibrating the discharge charge of the present invention is characterized in that, when a standard charge for partial discharge quantitative evaluation is injected using a calibration pulse generator during a partial discharge test of electrical equipment, A high-voltage bypass choke coil and a high-voltage capacitor are connected to the circuit part forming the output part of the calibration pulse generator so that the choke coil is arranged in parallel with the output circuit and the capacitor is arranged in series. The calibration pulse generator has a configuration in which the high-voltage bypass choke coil and the high-voltage capacitor are configured so that the high voltage applied to the electric device is not applied to the calibration pulse generator. The standard electric charge is injected into the electrical equipment to be tested. Even when the voltage is applied, the standard charge can be injected into the specimen without damage to the calibration pulse generator, and the circuit configuration is the same as that of the conventional calibration pulse generator. It requires only a compact configuration in which the coil and the high-voltage capacitor are incorporated, and can be handled easily.
本発明の放電電荷の校正方法を用いることにより、供
試体に高電圧を印加した状態での部分放電試験を随時行
うことができ、例えば、高電圧トランス,電力ケーブル
等の活線状態での絶縁試験等を容易に行うことができ
る。By using the discharge charge calibration method of the present invention, a partial discharge test in a state where a high voltage is applied to a specimen can be performed at any time. For example, insulation in a live state of a high-voltage transformer, a power cable, or the like can be performed. Testing and the like can be easily performed.
殊に、本発明の校正方法は、部分放電測定中に、供試
体から発生している部分放電とレベル比較しながら校正
することができるため、測定作業が一段と高能率化さ
れ、供試体となる電気機器を運転停止(停電)させる必
要もないという時間的ロスの一掃化と相俟って、部分放
電試験を頗る経済的になし得るという格別の効果を奏す
る。In particular, since the calibration method of the present invention can perform calibration while comparing the level with the partial discharge generated from the specimen during the measurement of the partial discharge, the measurement operation is further improved, and the specimen becomes the specimen. Along with the elimination of the time loss that there is no need to stop the operation of the electric equipment (power failure), there is an exceptional effect that the partial discharge test can be performed very economically.
第1図は本発明の放電電荷の校正方法に用いる校正用パ
ルス発生器の構成を示す回路図、第2図乃至第8図はそ
れぞれ本発明の回路の説明図、第9図は本発明の放電電
荷校正装置の構成を示す説明図、第10図は一般的な部分
放電測定における校正用パルス発生器の説明図であり、
第11図は従来の校正用パルス発生器の構成を示す回路図
である。 図中の符号 1……校正用パルス発生回路、2……パルス発生器、4
……充電用抵抗器、5……パルス電圧値決定用コンデン
サ、6……水銀チョッパー、7……パルス信号取出用コ
ンデンサ、10……コロナ測定器、11……結合コンデン
サ、12……供試体、20……高電圧バイパス用チョークコ
イル、22……高電圧用コンデンサ、24……放電電荷校正
装置、25……本体、27,28……端子、29……ハンドル。FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of a calibration pulse generator used in the method for calibrating discharge charge of the present invention, FIGS. 2 to 8 are explanatory diagrams of the circuit of the present invention, and FIG. Explanatory diagram showing the configuration of the discharge charge calibration device, FIG. 10 is an explanatory diagram of a calibration pulse generator in a general partial discharge measurement,
FIG. 11 is a circuit diagram showing a configuration of a conventional calibration pulse generator. Reference numeral 1 in the figure: a pulse generator for calibration; 2, a pulse generator;
...... Charging resistor, 5 ... Pulse voltage value determination capacitor, 6 ... Mercury chopper, 7 ... Pulse signal extraction capacitor, 10 ... Corona measuring instrument, 11 ... Coupling capacitor, 12 ... Test specimen , 20 ... High voltage bypass choke coil, 22 ... High voltage capacitor, 24 ... Discharge charge calibration device, 25 ... Main body, 27, 28 ... Terminal, 29 ... Handle.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 阿戸 威 埼玉県熊谷市新堀1008番地 三菱電線工 業株式会社熊谷製作所内 (56)参考文献 特開 平2−167483(JP,A) 特開 昭63−233381(JP,A) 特公 昭63−31056(JP,B2) 特公 昭46−38207(JP,B1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/12 - 31/20 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Takeshi Ado 1008 Shinbori, Kumagaya-shi, Saitama Mitsubishi Cable Industry Co., Ltd. Kumagaya Works (56) References JP-A-2-167483 (JP, A) JP-A-63 -233381 (JP, A) JP-B 63-31056 (JP, B2) JP-B 46-38207 (JP, B1) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01R 31/12- 31/20
Claims (1)
定量評価の校正用として、標準電荷を注入するための校
正用パルス発生器を用いた放電電荷の校正方法であっ
て、前記校正用パルス発生器の出力部を形成する回路部
分に、高電圧バイパス用チョークコイルと高電圧用コン
デンサとを、それぞれ出力回路に対しチョークコイルが
並列配置となりコンデンサが直列配置となるように接続
して設け、これら高電圧バイパス用チョークコイルおよ
び高電圧用コンデンサにより前記電気機器に印加される
高電圧が校正用パルス発生器内へ加わらないように構成
した状態でもって校正用パルス発生器より供試体となる
電気機器へ標準電荷を注入することを特徴とする放電電
荷の校正方法。1. A method for calibrating a discharge charge using a calibration pulse generator for injecting a standard charge for use in calibrating quantitative evaluation of a partial discharge during a partial discharge test of an electric device. A choke coil for high voltage bypass and a capacitor for high voltage are connected to the circuit part forming the output part of the pulse generator by connecting the choke coil in parallel to the output circuit and the capacitor in series. The high-voltage bypass choke coil and the high-voltage capacitor serve as a specimen from the calibration pulse generator in a state in which the high voltage applied to the electric device is not applied to the calibration pulse generator. A method of calibrating a discharge charge, which comprises injecting a standard charge into an electric device.
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| JP2240629A JP3034576B2 (en) | 1990-09-11 | 1990-09-11 | Discharge charge calibration method |
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| JP2240629A JP3034576B2 (en) | 1990-09-11 | 1990-09-11 | Discharge charge calibration method |
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|---|---|
| JPH04120480A JPH04120480A (en) | 1992-04-21 |
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