JP3036240B2 - 情報の記録再生制御方法 - Google Patents
情報の記録再生制御方法Info
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- JP3036240B2 JP3036240B2 JP4186586A JP18658692A JP3036240B2 JP 3036240 B2 JP3036240 B2 JP 3036240B2 JP 4186586 A JP4186586 A JP 4186586A JP 18658692 A JP18658692 A JP 18658692A JP 3036240 B2 JP3036240 B2 JP 3036240B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】 本発明は、記録媒体上に記録再
生を行なう情報の記録再生制御方法に係り、特に光ディ
スク装置の如くレーザにて熱的に記録マークの符号列を
記録する情報記録再生制御方法に関する。
生を行なう情報の記録再生制御方法に係り、特に光ディ
スク装置の如くレーザにて熱的に記録マークの符号列を
記録する情報記録再生制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】 従来、この様な光学的記録再生方法と
しては、特開平３−２２２２３号公報に記載のように、
記録マークの記録符号列をパルス化して記録符号列の長
さに対応する一連のパルス列を形成し、パルス列の長
さ、振幅を記録符号列の直前にある記録符号列の逆相の
長さに応じて制御し、パルス列を３つの部分に分け、各
パルスのパルス幅を変化させて記録を行なうものがあ
る。
しては、特開平３−２２２２３号公報に記載のように、
記録マークの記録符号列をパルス化して記録符号列の長
さに対応する一連のパルス列を形成し、パルス列の長
さ、振幅を記録符号列の直前にある記録符号列の逆相の
長さに応じて制御し、パルス列を３つの部分に分け、各
パルスのパルス幅を変化させて記録を行なうものがあ
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】 上記従来技術は、記
録媒体の膜厚変動や環境温度変動による記録媒体に対す
る記録感度変動が発生する点について考慮されておら
ず、高精度に記録マークを制御できないために記録容量
の低下を引き起こす問題がある。
録媒体の膜厚変動や環境温度変動による記録媒体に対す
る記録感度変動が発生する点について考慮されておら
ず、高精度に記録マークを制御できないために記録容量
の低下を引き起こす問題がある。
【０００４】本発明の目的は、前記記録感度変動による
記録マークの変動を極力抑制し、高精度な記録マーク制
御をすることにある。
記録マークの変動を極力抑制し、高精度な記録マーク制
御をすることにある。
【０００５】本発明の他の目的は、記録再生装置と記録
媒体との相性を向上させるとともに、記録再生装置によ
る記録感度変動さらに記録パワ−変動も抑圧することに
ある。
媒体との相性を向上させるとともに、記録再生装置によ
る記録感度変動さらに記録パワ−変動も抑圧することに
ある。
【０００６】本発明の他の目的は、記録再生装置の信頼
性及び記憶容量や情報の転送レ−トを向上させることに
ある。
性及び記憶容量や情報の転送レ−トを向上させることに
ある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】 上記目的を達成するた
めに、記録媒体と記録を行なう装置との適合性を向上さ
せるために、あらかじめ記録媒体の所定の位置に試し書
きを行い、試し書きによって得られる再生信号から最適
記録パワ−を見つけだし、その後に正規の情報の記録を
開始するものである。
めに、記録媒体と記録を行なう装置との適合性を向上さ
せるために、あらかじめ記録媒体の所定の位置に試し書
きを行い、試し書きによって得られる再生信号から最適
記録パワ−を見つけだし、その後に正規の情報の記録を
開始するものである。
【０００８】また、試し書きデータならびに正規の情報
の入力データビット列を、記録を行う装置の変調方式に
対応する符号列にするとともに、前記符号列を記録媒体
に記録するためのデータ列を生成し、レーザ光源を駆動
して記録媒体に記録領域を形成することによって、正確
な記録を行なうものである。
の入力データビット列を、記録を行う装置の変調方式に
対応する符号列にするとともに、前記符号列を記録媒体
に記録するためのデータ列を生成し、レーザ光源を駆動
して記録媒体に記録領域を形成することによって、正確
な記録を行なうものである。
【０００９】上記他の目的を達成するために、試し書き
データならびに正規の情報の入力データビット列の記録
マークに応じた記録パルス列と記録補助パルスを発生さ
せ、記録パルス列と記録補助パルスに対する２つの光強
度または、２つのエネルギーレベルを用いて記録媒体に
記録したものである。
データならびに正規の情報の入力データビット列の記録
マークに応じた記録パルス列と記録補助パルスを発生さ
せ、記録パルス列と記録補助パルスに対する２つの光強
度または、２つのエネルギーレベルを用いて記録媒体に
記録したものである。
【００１０】上記他の目的を達成するために、記録パル
ス列と記録補助パルスの光強度を変調することによっ
て、情報の重ね書きを可能とする記録媒体において、記
録パワーと消去パワーに適用させたものである。
ス列と記録補助パルスの光強度を変調することによっ
て、情報の重ね書きを可能とする記録媒体において、記
録パワーと消去パワーに適用させたものである。
【００１１】また、あらかじめ記録媒体の所定の位置に
試し書きを行い、試し書きによって得られる最適記録パ
ワ−に基づいて正規の情報の記録を開始するにあたっ
て、試し書きデータならびに正規の情報の入力データビ
ット列を、記録を行う装置の符号列にするとともに、前
記符号列を記録媒体に記録するためのデータ列を生成
し、レーザ光源を駆動して記録媒体に記録領域を形成す
る記録波形において、記録マ−クに応じた記録パルス列
と記録補助パルスに対する光強度またエネルギ−レベル
を制御するものである。
試し書きを行い、試し書きによって得られる最適記録パ
ワ−に基づいて正規の情報の記録を開始するにあたっ
て、試し書きデータならびに正規の情報の入力データビ
ット列を、記録を行う装置の符号列にするとともに、前
記符号列を記録媒体に記録するためのデータ列を生成
し、レーザ光源を駆動して記録媒体に記録領域を形成す
る記録波形において、記録マ−クに応じた記録パルス列
と記録補助パルスに対する光強度またエネルギ−レベル
を制御するものである。
【００１２】
【作用】 試し書きは記録媒体と記録を行なう装置との
適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所定
の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚変
動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特性変化
による記録媒体に対する記録感度変動等を検知するため
に、記録すべき厳しい記録マ−クを正規の情報の記録を
行なう前に記録媒体上に書き込む動作をする。さらに、
記録した試し書きデ−タから得られる再生信号から最適
記録パワ−を見つけだすために、記録するための記録波
形の光強度またはエネルギ−を変化させて記録動作を実
行する。それによって、常に記録媒体に対する最適な記
録条件を得ることが出来るので、上述した記録感度変動
にともなう情報の記録誤動作がなくなるとともに信頼性
のある記録再生が出来る。
適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所定
の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚変
動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特性変化
による記録媒体に対する記録感度変動等を検知するため
に、記録すべき厳しい記録マ−クを正規の情報の記録を
行なう前に記録媒体上に書き込む動作をする。さらに、
記録した試し書きデ−タから得られる再生信号から最適
記録パワ−を見つけだすために、記録するための記録波
形の光強度またはエネルギ−を変化させて記録動作を実
行する。それによって、常に記録媒体に対する最適な記
録条件を得ることが出来るので、上述した記録感度変動
にともなう情報の記録誤動作がなくなるとともに信頼性
のある記録再生が出来る。
【００１３】さらに、正規の情報の記録直後またはある
周期での記録再生によって行なわれる試し書きを極力低
減するために、記録マークに応じた記録パルス列と記録
補助パルスを発生させ、記録パルス列と記録補助パルス
に対する２つの光強度または、２つのエネルギーレベル
を用いて記録媒体の温度をほぼ一定にして記録マークの
長さや幅を制御した記録である。
周期での記録再生によって行なわれる試し書きを極力低
減するために、記録マークに応じた記録パルス列と記録
補助パルスを発生させ、記録パルス列と記録補助パルス
に対する２つの光強度または、２つのエネルギーレベル
を用いて記録媒体の温度をほぼ一定にして記録マークの
長さや幅を制御した記録である。
【００１４】
【実施例】 以下、本発明の実施例を説明する。図１
は、本発明の装置構成の一実施例を示す。情報記録再生
装置は、レ−ザ１を中心とする光ヘッドと情報を記憶さ
せるための記録媒体５と記録パルス生成回路１２を中心
とする記録処理系と光ヘッドから得られた再生信号を情
報に変換する再生回路１６を中心とした再生処理系から
構成される。記録媒体５は、記録膜とそれを保持する基
板から構成される。
は、本発明の装置構成の一実施例を示す。情報記録再生
装置は、レ−ザ１を中心とする光ヘッドと情報を記憶さ
せるための記録媒体５と記録パルス生成回路１２を中心
とする記録処理系と光ヘッドから得られた再生信号を情
報に変換する再生回路１６を中心とした再生処理系から
構成される。記録媒体５は、記録膜とそれを保持する基
板から構成される。
【００１５】上位ホストからの命令や情報デ−タはコン
トロ−ラ８において命令の解読や記録デ−タの変調が行
われ、変調方式に対応する符号列に変換される。シンセ
サイザ９は装置全体の基準クロックを発生させる発振器
であり、大容量化の手法としてゾ−ンごとに基準クロッ
クを変えて内外周での記録密度を略一定とするＺＣＡＶ
（Ｚｏｎｅｄ Ｃｏｎｓｔａｎｔ Ａｎｇｕｌａｒ Ｖ
ｅｌｏｃｉｔｙ）と呼ばれる記録方法を採用した場合に
は、シンセサイザ９の発振周波数もゾ−ンに応じて変え
ていく必要がある。
トロ−ラ８において命令の解読や記録デ−タの変調が行
われ、変調方式に対応する符号列に変換される。シンセ
サイザ９は装置全体の基準クロックを発生させる発振器
であり、大容量化の手法としてゾ−ンごとに基準クロッ
クを変えて内外周での記録密度を略一定とするＺＣＡＶ
（Ｚｏｎｅｄ Ｃｏｎｓｔａｎｔ Ａｎｇｕｌａｒ Ｖ
ｅｌｏｃｉｔｙ）と呼ばれる記録方法を採用した場合に
は、シンセサイザ９の発振周波数もゾ−ンに応じて変え
ていく必要がある。
【００１６】試し書きは記録媒体と記録を行なう装置と
の適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所
定の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚
変動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特性変
化による記録媒体に対する記録感度変動等を検知するた
めの試し書きパタ−ンを正規の情報の記録を行なう前に
記録媒体上に書き込む動作をする。この試し書きパタ−
ンは変調方式に対応する符号列に変換されており、試し
書きパタ−ン発生回路１０において生成する。
の適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所
定の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚
変動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特性変
化による記録媒体に対する記録感度変動等を検知するた
めの試し書きパタ−ンを正規の情報の記録を行なう前に
記録媒体上に書き込む動作をする。この試し書きパタ−
ンは変調方式に対応する符号列に変換されており、試し
書きパタ−ン発生回路１０において生成する。
【００１７】コントロ−ラ８からの正規の情報デ−タに
応じて変調された符号列と試し書きパタ−ン発生回路１
０からの符号列はセレクタ１１に入力され、コントロ−
ラ８の制御信号により試し書き処理あるいは通常の記録
処理に対応して切り換えられる。セレクタ１１からの符
号列は記録パルス生成回路１２に入り、記録マークの長
さや幅を制御するための記録パルス列に変換される。こ
れら記録パルス列はレ−ザドライバ１３に入力され、レ
−ザドライバ１３からの記録電流によりレ−ザ１を高出
力発振させ、レ−ザ１から出た光はレンズ１ ２で平行
光となってプリズム３を通り、レンズ２ ４により記録
媒体５上に収束して符号列に応じた記録マークを記録す
る。高周波重畳回路１４はレ−ザ１に起因するレ−ザ雑
音を低減するために設けてあり、記録／消去時にはレ−
ザの寿命の関点から高周波重畳を休止することもある。
応じて変調された符号列と試し書きパタ−ン発生回路１
０からの符号列はセレクタ１１に入力され、コントロ−
ラ８の制御信号により試し書き処理あるいは通常の記録
処理に対応して切り換えられる。セレクタ１１からの符
号列は記録パルス生成回路１２に入り、記録マークの長
さや幅を制御するための記録パルス列に変換される。こ
れら記録パルス列はレ−ザドライバ１３に入力され、レ
−ザドライバ１３からの記録電流によりレ−ザ１を高出
力発振させ、レ−ザ１から出た光はレンズ１ ２で平行
光となってプリズム３を通り、レンズ２ ４により記録
媒体５上に収束して符号列に応じた記録マークを記録す
る。高周波重畳回路１４はレ−ザ１に起因するレ−ザ雑
音を低減するために設けてあり、記録／消去時にはレ−
ザの寿命の関点から高周波重畳を休止することもある。
【００１８】再生時はレ−ザ１を低出力発振させ、記録
媒体５に入射させる。記録媒体５からの反射光はプリズ
ム３で光路を分離して光検出器７に入射させる。光検出
器７で光電変換した後、プリアンプ１５で増幅し、再生
回路１６に入力する。再生回路１６は波形等化回路、自
動利得制御回路、二値化回路などから構成されており、
入力された再生信号を二値化信号とする。再生回路１６
からの二値化信号はセルフクロッキングのためにＰＬＬ
（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ）回路１７に入
力される。ＰＬＬ１７で得られる、二値化信号に同期し
た再生クロックと二値化信号はデ−タ弁別のために弁別
回路１８に入力され、その結果としてのデ−タ弁別信号
はコントロ−ラ８に入力され、デ−タが復調される。外
部印加磁界を用いて情報の記録、再生、消去を行う光磁
気ディスク装置においては、外部磁場発生器６を設けて
記録／消去時に磁界の向きを切り換えて記録／消去パワ
−を照射することにより実施する。また、再生時は光検
出器７の前に配置した波長板（図示せず）により反射光
をｐ偏光、ｓ偏光に分離して光検出器（２分割）７でそ
れぞれを差動することにより光磁気信号を得ることがで
きる。
媒体５に入射させる。記録媒体５からの反射光はプリズ
ム３で光路を分離して光検出器７に入射させる。光検出
器７で光電変換した後、プリアンプ１５で増幅し、再生
回路１６に入力する。再生回路１６は波形等化回路、自
動利得制御回路、二値化回路などから構成されており、
入力された再生信号を二値化信号とする。再生回路１６
からの二値化信号はセルフクロッキングのためにＰＬＬ
（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ）回路１７に入
力される。ＰＬＬ１７で得られる、二値化信号に同期し
た再生クロックと二値化信号はデ−タ弁別のために弁別
回路１８に入力され、その結果としてのデ−タ弁別信号
はコントロ−ラ８に入力され、デ−タが復調される。外
部印加磁界を用いて情報の記録、再生、消去を行う光磁
気ディスク装置においては、外部磁場発生器６を設けて
記録／消去時に磁界の向きを切り換えて記録／消去パワ
−を照射することにより実施する。また、再生時は光検
出器７の前に配置した波長板（図示せず）により反射光
をｐ偏光、ｓ偏光に分離して光検出器（２分割）７でそ
れぞれを差動することにより光磁気信号を得ることがで
きる。
【００１９】試し書き処理時は再生回路１６の中からア
ナログ信号状態の再生信号を試し書きパタ−ン中心レベ
ル検出回路１９に導く。試し書き処理時に使用する記録
パタ−ンとして当該装置における最高周波数の最密パタ
−ンと最低周波数の最疎パタ−ンの組合せパタ−ンを用
い、その再生信号において最密パタ−ンの中心レベルと
最疎パタ−ンの中心レベルを試し書きパタ−ン中心レベ
ル検出回路１９で検出して、その中心レベルの差をＡ／
Ｄ変換器２０によってコントロ−ラ８に取り込み、その
差が０となる時の記録パワ−が最適記録パワ−と判定し
て正規の記録を実施する。この様に試し書きにより、常
に最適パワ−を設定することで高精度な記録マ−クを記
録することが可能となる。
ナログ信号状態の再生信号を試し書きパタ−ン中心レベ
ル検出回路１９に導く。試し書き処理時に使用する記録
パタ−ンとして当該装置における最高周波数の最密パタ
−ンと最低周波数の最疎パタ−ンの組合せパタ−ンを用
い、その再生信号において最密パタ−ンの中心レベルと
最疎パタ−ンの中心レベルを試し書きパタ−ン中心レベ
ル検出回路１９で検出して、その中心レベルの差をＡ／
Ｄ変換器２０によってコントロ−ラ８に取り込み、その
差が０となる時の記録パワ−が最適記録パワ−と判定し
て正規の記録を実施する。この様に試し書きにより、常
に最適パワ−を設定することで高精度な記録マ−クを記
録することが可能となる。
【００２０】図２に、本発明の記録媒体上に記録する記
録方式の一実施例を示す。ここでは変調方式として
（１，７）ＲＬＬコ−ドを採用した場合について説明す
る。図１で説明したコントロ−ラ８からの正規の情報デ
−タに応じて変調された符号列と試し書きパタ−ン発生
回路１０からの符号列で、セレクタ１１からの出力が記
録符号列である。この記録符号列は、（１，７）ＲＬＬ
コ−ドの場合２ＴW〜８ＴWの７通りあり、マ−クエッジ
記録のために変調コ−ドの”１”で極性を反転するＮＲ
ＺＩ（Ｎｏｎ Ｒｅｔｕｒｎ Ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖ
ｅｒｓｅ）信号となっている。ここでＴWは窓幅を表わ
し、シンセサイザ９で発振する基準クロック周期はＴW
に等しい。５インチ光ディスクを回転数３０００ｒｐｍ
で記録再生する場合、記録ピット長を０．７５μｍとす
れば（１，７）ＲＬＬコ−ドでは内周２ＭＢ／ｓ、外周
４ＭＢ／ｓの転送速度を実現することができ、この時の
ＴWは内周で４０ｎｓ、外周で２０ｎｓの時間となる。
記録パルス生成回路１２によって、記録符号列のパルス
部に対応した記録パルス列を発生させる。記録パルス列
は、先頭パルスと２番目以降のパルスの長さが異なり、
先頭パルスは最短パルス幅２ＴWに対して３／２ＴWのパ
ルス幅と、１／２ＴW分短くする。３ＴW以降のパルス幅
は先頭パルス３／２ＴWと２番目以降のパルス幅１／２
ＴWとギャップ幅１／２ＴWの組合せ（基準クロック波形
と同じ）を加算していくことにより得られる。これらの
パルスは基準クロックに同期して発生させる。これによ
り、パルス幅およびパルス間隔の制御が向上する。
録方式の一実施例を示す。ここでは変調方式として
（１，７）ＲＬＬコ−ドを採用した場合について説明す
る。図１で説明したコントロ−ラ８からの正規の情報デ
−タに応じて変調された符号列と試し書きパタ−ン発生
回路１０からの符号列で、セレクタ１１からの出力が記
録符号列である。この記録符号列は、（１，７）ＲＬＬ
コ−ドの場合２ＴW〜８ＴWの７通りあり、マ−クエッジ
記録のために変調コ−ドの”１”で極性を反転するＮＲ
ＺＩ（Ｎｏｎ Ｒｅｔｕｒｎ Ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖ
ｅｒｓｅ）信号となっている。ここでＴWは窓幅を表わ
し、シンセサイザ９で発振する基準クロック周期はＴW
に等しい。５インチ光ディスクを回転数３０００ｒｐｍ
で記録再生する場合、記録ピット長を０．７５μｍとす
れば（１，７）ＲＬＬコ−ドでは内周２ＭＢ／ｓ、外周
４ＭＢ／ｓの転送速度を実現することができ、この時の
ＴWは内周で４０ｎｓ、外周で２０ｎｓの時間となる。
記録パルス生成回路１２によって、記録符号列のパルス
部に対応した記録パルス列を発生させる。記録パルス列
は、先頭パルスと２番目以降のパルスの長さが異なり、
先頭パルスは最短パルス幅２ＴWに対して３／２ＴWのパ
ルス幅と、１／２ＴW分短くする。３ＴW以降のパルス幅
は先頭パルス３／２ＴWと２番目以降のパルス幅１／２
ＴWとギャップ幅１／２ＴWの組合せ（基準クロック波形
と同じ）を加算していくことにより得られる。これらの
パルスは基準クロックに同期して発生させる。これによ
り、パルス幅およびパルス間隔の制御が向上する。
【００２１】図３に記録マ−ク形状、レ−ザの記録電流
波形および制御信号を示す。レ−ザの記録電流波形は記
録パルス列とギャップの組合せにより構成され、それぞ
れの記録パルス列の後縁には記録補助パルスによって時
間幅の休止期間を設ける。記録補助パルスは、記録符号
列の立ち下がり位置からある時間幅（例えばＴW）のギ
ャップ部を設けることによって、記録パルス列最終立ち
下がり位置からの熱が次の記録パルス列の先頭立ち上が
り位置の温度をほとんど変化させないようにする。レー
ザパワーは５つのパワ−レベルに設定されている。再生
時の再生パワーＰｒ、記録時に高周波重畳を休止するた
めに再生パワーが変調度分低下した時の再生パワ−Ｐ
ｒ’、記録補助パルスによる記録パワ−がＰｐｈ、先頭
パルスの記録パワ−がＰｗ１、２番目以降の後方パルス
の記録パワ−がＰｗ２である。このパワ−を実現するた
めに電流源として再生パワ−を一定に保つＡＰＣ（Ａｕ
ｔｏＰｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）からの電流源Ｉ
ｒ’、Ｉｒ’に重畳する記録補助パルス用電流源Ｉｐ
ｈ、さらに重畳する先頭パルス用電流源Ｉｗ１、後方パ
ルスを生成するのに必要な電流源Ｉｗｒを設けて、記録
補助パルスパワ−Ｐｐｈは電流をＩｒ’＋Ｉｐｈとし、
先頭パルスパワ−Ｐｗ１はＩｒ’＋Ｉｐｈ＋Ｉｗ１と
し、後方パルスパワ−Ｐｗ２はＩｒ’＋Ｉｐｈ＋Ｉｗ１
＋Ｉｗ２としてレ−ザを発光させることにより目的の記
録波形を得ることができる。再生時はＩｒ’と高周波重
畳回路からの電流Ｉｈｆの加算により、再生電流Ｉｒを
実現する。次に記録時の制御信号の説明を行う。ＷＲＧ
ＡＴＥ−Ｎは記録状態を表わすゲ−ト信号であって、通
常のセクタ内の記録デ−タ領域においてイネ−ブルとな
る。また、高周波重畳回路のＯＮ／ＯＦＦ制御信号とし
て用い、再生中はＯＮし、記録中はＯＦＦするように動
作する。ＷＲＰＬＳ−Ｐは記録パルス列に対応し、ＰＨ
ＰＬＳ−Ｐは記録補助パルスを生成する信号であり、各
記録パルス列の後端において熱遮断のためにＴWの休止
期間を有している。ＰＥＡＫＰＬＳ−Ｐは後方パルスを
先頭パルスよりもパワ−を上げるために用いる制御信号
である。これらの制御信号は次の図４に示すレ−ザドラ
イバ内の演算回路２１に入力される。重ね書きができな
い光磁気ディスク装置における消去時の制御信号は、Ｗ
ＲＰＬＳ−Ｐ、ＰＨＰＬＳ−Ｐ、ＰＥＡＫＰＬＳ−Ｐは
ＷＲＧＡＴＥ−Ｐ（ＷＲＧＡＴＥ−Ｎ信号の逆極性信
号）と同じ波形にすることによりデ−タの消去が可能に
なる。この記録波形では先頭パルスのパワ−を後方パル
スのパワ−より低く設定している。こうすることによ
り、先頭パルスによる記録マ−ク幅と後方パルスによる
記録マ−ク幅を等しくし、記録マ−ク長も高精度に制御
することができる。これは先頭パルスによる記録媒体上
の温度と後方パルスによる温度を一定にすることにほか
ならず、記録マ−ク幅が一定となるので記録媒体を再生
して得られるデ−タ部の再生信号振幅を一定とすること
ができる。再生信号の中心またはあるレベルで直接スラ
イスすることによって、二値化信号を生成することがで
きる。また、この記録パルス列と記録補助パルスの組合
せを用いて、特開昭６２−１７５９４８記載の交換結合
膜による重ね書き可能な光磁気ディスクにおいて記録補
助パルスのパワ−レベルを消去パワ−に、記録パルスの
パワ−を記録パワ−とすることにより重ね書きが実現で
きる。
波形および制御信号を示す。レ−ザの記録電流波形は記
録パルス列とギャップの組合せにより構成され、それぞ
れの記録パルス列の後縁には記録補助パルスによって時
間幅の休止期間を設ける。記録補助パルスは、記録符号
列の立ち下がり位置からある時間幅（例えばＴW）のギ
ャップ部を設けることによって、記録パルス列最終立ち
下がり位置からの熱が次の記録パルス列の先頭立ち上が
り位置の温度をほとんど変化させないようにする。レー
ザパワーは５つのパワ−レベルに設定されている。再生
時の再生パワーＰｒ、記録時に高周波重畳を休止するた
めに再生パワーが変調度分低下した時の再生パワ−Ｐ
ｒ’、記録補助パルスによる記録パワ−がＰｐｈ、先頭
パルスの記録パワ−がＰｗ１、２番目以降の後方パルス
の記録パワ−がＰｗ２である。このパワ−を実現するた
めに電流源として再生パワ−を一定に保つＡＰＣ（Ａｕ
ｔｏＰｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）からの電流源Ｉ
ｒ’、Ｉｒ’に重畳する記録補助パルス用電流源Ｉｐ
ｈ、さらに重畳する先頭パルス用電流源Ｉｗ１、後方パ
ルスを生成するのに必要な電流源Ｉｗｒを設けて、記録
補助パルスパワ−Ｐｐｈは電流をＩｒ’＋Ｉｐｈとし、
先頭パルスパワ−Ｐｗ１はＩｒ’＋Ｉｐｈ＋Ｉｗ１と
し、後方パルスパワ−Ｐｗ２はＩｒ’＋Ｉｐｈ＋Ｉｗ１
＋Ｉｗ２としてレ−ザを発光させることにより目的の記
録波形を得ることができる。再生時はＩｒ’と高周波重
畳回路からの電流Ｉｈｆの加算により、再生電流Ｉｒを
実現する。次に記録時の制御信号の説明を行う。ＷＲＧ
ＡＴＥ−Ｎは記録状態を表わすゲ−ト信号であって、通
常のセクタ内の記録デ−タ領域においてイネ−ブルとな
る。また、高周波重畳回路のＯＮ／ＯＦＦ制御信号とし
て用い、再生中はＯＮし、記録中はＯＦＦするように動
作する。ＷＲＰＬＳ−Ｐは記録パルス列に対応し、ＰＨ
ＰＬＳ−Ｐは記録補助パルスを生成する信号であり、各
記録パルス列の後端において熱遮断のためにＴWの休止
期間を有している。ＰＥＡＫＰＬＳ−Ｐは後方パルスを
先頭パルスよりもパワ−を上げるために用いる制御信号
である。これらの制御信号は次の図４に示すレ−ザドラ
イバ内の演算回路２１に入力される。重ね書きができな
い光磁気ディスク装置における消去時の制御信号は、Ｗ
ＲＰＬＳ−Ｐ、ＰＨＰＬＳ−Ｐ、ＰＥＡＫＰＬＳ−Ｐは
ＷＲＧＡＴＥ−Ｐ（ＷＲＧＡＴＥ−Ｎ信号の逆極性信
号）と同じ波形にすることによりデ−タの消去が可能に
なる。この記録波形では先頭パルスのパワ−を後方パル
スのパワ−より低く設定している。こうすることによ
り、先頭パルスによる記録マ−ク幅と後方パルスによる
記録マ−ク幅を等しくし、記録マ−ク長も高精度に制御
することができる。これは先頭パルスによる記録媒体上
の温度と後方パルスによる温度を一定にすることにほか
ならず、記録マ−ク幅が一定となるので記録媒体を再生
して得られるデ−タ部の再生信号振幅を一定とすること
ができる。再生信号の中心またはあるレベルで直接スラ
イスすることによって、二値化信号を生成することがで
きる。また、この記録パルス列と記録補助パルスの組合
せを用いて、特開昭６２−１７５９４８記載の交換結合
膜による重ね書き可能な光磁気ディスクにおいて記録補
助パルスのパワ−レベルを消去パワ−に、記録パルスの
パワ−を記録パワ−とすることにより重ね書きが実現で
きる。
【００２２】図４にレ−ザの記録波形を生成するレ−ザ
ドライバの一実施例を示す。記録電流波形に対してそれ
ぞれ電流源Ｉｗ１，Ｉｗ２，Ｉｐｈおよび再生パワ−を
一定に保つＡＰＣ（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒ
ｏｌ）からの電流源Ｉｒ’を設ける。電流源Ｉｗ１，Ｉ
ｗ２，ＩｐｈはＺＣＡＶに対応して各ゾ−ンにおいて可
変可能としておく必要があり、コントロ−ラ８からのゾ
−ンデ−タをデ−タバスＤＢＵＳ０〜７−Ｐ経由で各電
流源に設けたＤ／Ａ変換器にセットすることにより実現
できる。また、Ｄ／Ａ変換器はレ−ザの発光効率、光ヘ
ッドの利用効率を考慮して所定のパワ−になるように出
力ゲインを調整する。その調整デ−タは、それぞれのＤ
／Ａ変換器に対して例えばＥＥＰＲＯＭに内蔵しておく
ことにより実現できる。各電流源は高速スィッチング可
能なカレントスィッチＣＳ１、ＣＳ２、ＣＳ３に接続さ
れており、図３の示す記録パルス制御信号により高速ス
ィッチングを実行し、所望の記録電流波形を得ることが
できる。この回路では＋駆動レ−ザの高速スィッチング
に対応するためにｐｎｐ形トランジスタの代わりに、高
速スィッチング可能なｎｐｎ形トランジスタを使用す
る。電流源Ｉには各電流源に設けたＤ／Ａ変換器の合計
電流をカレントミラ−回路（図示せず）により合計電流
を流しておき、各カレントスィッチによってカレントス
ィッチ側に電流を吸い込み、レ−ザに流れる電流を制御
する形をとる。−駆動レ−ザの場合はそれぞれの電流源
からの電流を加算することで実現できる。高周波重畳回
路は制御信号ＷＲＧＡＴＥ−Ｐによって再生中はＯＮ
し、記録中はＯＦＦするように動作する。ここで使用す
るスィッチとしては特開昭６３−９００３７号記載のＰ
ＩＮダイオ−ドが好適である。
ドライバの一実施例を示す。記録電流波形に対してそれ
ぞれ電流源Ｉｗ１，Ｉｗ２，Ｉｐｈおよび再生パワ−を
一定に保つＡＰＣ（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒ
ｏｌ）からの電流源Ｉｒ’を設ける。電流源Ｉｗ１，Ｉ
ｗ２，ＩｐｈはＺＣＡＶに対応して各ゾ−ンにおいて可
変可能としておく必要があり、コントロ−ラ８からのゾ
−ンデ−タをデ−タバスＤＢＵＳ０〜７−Ｐ経由で各電
流源に設けたＤ／Ａ変換器にセットすることにより実現
できる。また、Ｄ／Ａ変換器はレ−ザの発光効率、光ヘ
ッドの利用効率を考慮して所定のパワ−になるように出
力ゲインを調整する。その調整デ−タは、それぞれのＤ
／Ａ変換器に対して例えばＥＥＰＲＯＭに内蔵しておく
ことにより実現できる。各電流源は高速スィッチング可
能なカレントスィッチＣＳ１、ＣＳ２、ＣＳ３に接続さ
れており、図３の示す記録パルス制御信号により高速ス
ィッチングを実行し、所望の記録電流波形を得ることが
できる。この回路では＋駆動レ−ザの高速スィッチング
に対応するためにｐｎｐ形トランジスタの代わりに、高
速スィッチング可能なｎｐｎ形トランジスタを使用す
る。電流源Ｉには各電流源に設けたＤ／Ａ変換器の合計
電流をカレントミラ−回路（図示せず）により合計電流
を流しておき、各カレントスィッチによってカレントス
ィッチ側に電流を吸い込み、レ−ザに流れる電流を制御
する形をとる。−駆動レ−ザの場合はそれぞれの電流源
からの電流を加算することで実現できる。高周波重畳回
路は制御信号ＷＲＧＡＴＥ−Ｐによって再生中はＯＮ
し、記録中はＯＦＦするように動作する。ここで使用す
るスィッチとしては特開昭６３−９００３７号記載のＰ
ＩＮダイオ−ドが好適である。
【００２３】試し書き処理は記録媒体と記録を行なう装
置との適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体
の所定の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の
膜厚変動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特
性変化による記録媒体に対する記録感度変動等を検知
し、常に最適条件下で記録を実行することを目的として
正規の情報の記録を行なう前に記録媒体上に書き込む動
作をする。図５に試し書き処理手順のフロ−チャ−トの
一例を示す。試し書き用のトラックはＺＣＡＶの場合、
各ゾ−ンにおいて数トラック設置されており、たとえば
内、中、外周３ゾ−ンでの試し書き結果を基に全ゾ−ン
の記録条件を設定する方法をとる。まず最初に内周の試
し書きトラックへ光ヘッドを位置付ける。ここでは所定
の試し書きトラックをまず消去し、試し書きに備える。
この時の消去パワ−としてはあらゆる環境温度を想定し
て高く設定しておく必要がある（たとえば、０℃におけ
る消去パワ−）。次に試し書きの記録開始パワ−を設定
する。この時の設定パワ−は低くする必要があり、たと
えば５０℃時の記録パワ−とする。当該トラックにおい
て試し書き先頭セクタが検出されたならば試し書きパタ
−ンを記録し始める。
置との適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体
の所定の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の
膜厚変動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特
性変化による記録媒体に対する記録感度変動等を検知
し、常に最適条件下で記録を実行することを目的として
正規の情報の記録を行なう前に記録媒体上に書き込む動
作をする。図５に試し書き処理手順のフロ−チャ−トの
一例を示す。試し書き用のトラックはＺＣＡＶの場合、
各ゾ−ンにおいて数トラック設置されており、たとえば
内、中、外周３ゾ−ンでの試し書き結果を基に全ゾ−ン
の記録条件を設定する方法をとる。まず最初に内周の試
し書きトラックへ光ヘッドを位置付ける。ここでは所定
の試し書きトラックをまず消去し、試し書きに備える。
この時の消去パワ−としてはあらゆる環境温度を想定し
て高く設定しておく必要がある（たとえば、０℃におけ
る消去パワ−）。次に試し書きの記録開始パワ−を設定
する。この時の設定パワ−は低くする必要があり、たと
えば５０℃時の記録パワ−とする。当該トラックにおい
て試し書き先頭セクタが検出されたならば試し書きパタ
−ンを記録し始める。
【００２４】図６に試し書きパタ−ンの１例と記録パワ
−の設定方法について示す。試し書きパタ−ンとして当
該装置での最高周波数である最密パタ−ン（（１，７）
ＲＬＬコ−ドの場合、２ＴW）と最低周波数である最疎
パタ−ン（８ＴW）の繰り返しパタ−ンを使用する。マ
−クエッジ記録の場合、記録マ−クの時間軸制御が重要
であり、最密パタ−ンと最疎パタ−ンの再生信号の中心
レベルが等しいときに各パタ−ンの時間軸が制御された
ことになり、この時の記録パワ−を最適パワ−とする。
このように本実施例では時間軸変動を振幅レベル変動で
検出することになる。記録パワ−は１セクタあたり１条
件として、順次セクタを更新しながら記録パワ−を更新
していく。ＺＣＡＶの場合、記録条件はコントロ−ラか
らデ−タバスＤＢＵＳ０〜７−Ｐを経由してレ−ザドラ
イバに設定する必要があり、その設定時間を考慮すると
記録するセクタは最低１セクタおきとなる（図６）。１
処理あたりの記録条件数は５〜１０程度で十分あり、ピ
ット長を０．７５μｍとすると５インチ円板の最内周で
は１０２４Ｂ／セクタフォ−マットの場合、セクタ数は
３０程度となるので１トラック以内で記録処理は終了す
る。この時の最密パタ−ンと最疎パタ−ンを１組とした
時の１セクタ内の繰り返し周期は、再生時の信号変動よ
りも高く選択すれば試し書きパタ−ン信号と信号変動を
分離することが可能となり、検出精度を高くすることが
できる。再生時の信号変動成分としてはディスク基板自
身が持つリタ−デ−ションによる周波数成分が主流であ
り、試し書きパタ−ンの繰り返し周期としてリタ−デ−
ションの主周期の２倍以上の周期を選択するとよい。
−の設定方法について示す。試し書きパタ−ンとして当
該装置での最高周波数である最密パタ−ン（（１，７）
ＲＬＬコ−ドの場合、２ＴW）と最低周波数である最疎
パタ−ン（８ＴW）の繰り返しパタ−ンを使用する。マ
−クエッジ記録の場合、記録マ−クの時間軸制御が重要
であり、最密パタ−ンと最疎パタ−ンの再生信号の中心
レベルが等しいときに各パタ−ンの時間軸が制御された
ことになり、この時の記録パワ−を最適パワ−とする。
このように本実施例では時間軸変動を振幅レベル変動で
検出することになる。記録パワ−は１セクタあたり１条
件として、順次セクタを更新しながら記録パワ−を更新
していく。ＺＣＡＶの場合、記録条件はコントロ−ラか
らデ−タバスＤＢＵＳ０〜７−Ｐを経由してレ−ザドラ
イバに設定する必要があり、その設定時間を考慮すると
記録するセクタは最低１セクタおきとなる（図６）。１
処理あたりの記録条件数は５〜１０程度で十分あり、ピ
ット長を０．７５μｍとすると５インチ円板の最内周で
は１０２４Ｂ／セクタフォ−マットの場合、セクタ数は
３０程度となるので１トラック以内で記録処理は終了す
る。この時の最密パタ−ンと最疎パタ−ンを１組とした
時の１セクタ内の繰り返し周期は、再生時の信号変動よ
りも高く選択すれば試し書きパタ−ン信号と信号変動を
分離することが可能となり、検出精度を高くすることが
できる。再生時の信号変動成分としてはディスク基板自
身が持つリタ−デ−ションによる周波数成分が主流であ
り、試し書きパタ−ンの繰り返し周期としてリタ−デ−
ションの主周期の２倍以上の周期を選択するとよい。
【００２５】試し書き処理の再生動作は光ヘッドを試し
書きトラックに位置付けることから始まる。上述した記
録動作にてパワ−を変えながら記録したセクタを選択的
に順次よく読みだしていく。図１の試し書きパタ−ン中
心レベル検出回路１９において各セクタの再生信号の中
から最密パタ−ンの中心レベル（Ｖ1）と最疎パタ−ン
の中心レベル（Ｖ2）を検出し、その電圧差ΔＶ＝Ｖ1−
Ｖ2を求める。ΔＶはＡ／Ｄ変換器２０でディジタルデ
−タとしてコントロ−ラ８に取り込み、その中から最適
記録パワ−の判定条件であるΔＶ＝０となるセクタの記
録条件を見つけだす。この一連の処理において、ΔＶ＝
０となるセクタがない場合にはΔＶの正負極性から記録
条件の大小を判定してそれに応じて再度記録開始パワ−
を設定し、試し書き処理を実行する。同一トラックにお
いて２回以上の試し書き処理を実行してもΔＶ＝０とな
るセクタがない場合は装置異常として処理を終了する。
ΔＶ＝０となるセクタを見つけだした後は、このセクタ
に対する設定パワ−を最適パワ−としてコントロ−ラ内
のメモリに保管しておく。こうして試し書きにより最適
パワ−が決定した試し書きトラックは次の試し書き処理
に備えるために消去しておく。この時の消去パワ−は当
該試し書き処理に使用した最大記録パワ−に設定するこ
とにより消し残りなく消去することができる。内周での
試し書き処理が終了した後に中周での試し書き処理を実
行する。同様にして中周でのΔＶ＝０となるセクタを見
つけだした後は、このセクタに対する設定パワ−を最適
パワ−としてコントロ−ラ内のメモリに保管しておく。
最後に外周においても同様の試し書き処理を実行してΔ
Ｖ＝０となるセクタを見つけだした後は、このセクタに
対する設定パワ−を最適パワ−としてコントロ−ラ内の
メモリに保管しておく。内、中、外周での最適パワ−か
ら内挿計算によって各ゾ−ンの最適パワ−を計算してメ
モリ内に記憶することにより、試し書き処理が終了し、
正規の情報の記録再生を開始する。上述の実施例におけ
る試し書き開始時の試し書きトラック消去動作におい
て、消去動作の代わりに未記録セクタ検出動作を実行し
て、検出した未記録セクタに順次記録パワ−を代えなが
ら記録動作を実行してもよい。ただし、記録するセクタ
は最低１セクタおきとなる。以上の実施例では内、中、
外周において試し書き処理を実行することにしている
が、記録媒体の記録感度があらかじめ明らかになってい
る場合にはディスク内のある１ゾ−ンの試し書きトラッ
クでの試し書き処理を実行するだけでも同様の効果を得
ることができる。
書きトラックに位置付けることから始まる。上述した記
録動作にてパワ−を変えながら記録したセクタを選択的
に順次よく読みだしていく。図１の試し書きパタ−ン中
心レベル検出回路１９において各セクタの再生信号の中
から最密パタ−ンの中心レベル（Ｖ1）と最疎パタ−ン
の中心レベル（Ｖ2）を検出し、その電圧差ΔＶ＝Ｖ1−
Ｖ2を求める。ΔＶはＡ／Ｄ変換器２０でディジタルデ
−タとしてコントロ−ラ８に取り込み、その中から最適
記録パワ−の判定条件であるΔＶ＝０となるセクタの記
録条件を見つけだす。この一連の処理において、ΔＶ＝
０となるセクタがない場合にはΔＶの正負極性から記録
条件の大小を判定してそれに応じて再度記録開始パワ−
を設定し、試し書き処理を実行する。同一トラックにお
いて２回以上の試し書き処理を実行してもΔＶ＝０とな
るセクタがない場合は装置異常として処理を終了する。
ΔＶ＝０となるセクタを見つけだした後は、このセクタ
に対する設定パワ−を最適パワ−としてコントロ−ラ内
のメモリに保管しておく。こうして試し書きにより最適
パワ−が決定した試し書きトラックは次の試し書き処理
に備えるために消去しておく。この時の消去パワ−は当
該試し書き処理に使用した最大記録パワ−に設定するこ
とにより消し残りなく消去することができる。内周での
試し書き処理が終了した後に中周での試し書き処理を実
行する。同様にして中周でのΔＶ＝０となるセクタを見
つけだした後は、このセクタに対する設定パワ−を最適
パワ−としてコントロ−ラ内のメモリに保管しておく。
最後に外周においても同様の試し書き処理を実行してΔ
Ｖ＝０となるセクタを見つけだした後は、このセクタに
対する設定パワ−を最適パワ−としてコントロ−ラ内の
メモリに保管しておく。内、中、外周での最適パワ−か
ら内挿計算によって各ゾ−ンの最適パワ−を計算してメ
モリ内に記憶することにより、試し書き処理が終了し、
正規の情報の記録再生を開始する。上述の実施例におけ
る試し書き開始時の試し書きトラック消去動作におい
て、消去動作の代わりに未記録セクタ検出動作を実行し
て、検出した未記録セクタに順次記録パワ−を代えなが
ら記録動作を実行してもよい。ただし、記録するセクタ
は最低１セクタおきとなる。以上の実施例では内、中、
外周において試し書き処理を実行することにしている
が、記録媒体の記録感度があらかじめ明らかになってい
る場合にはディスク内のある１ゾ−ンの試し書きトラッ
クでの試し書き処理を実行するだけでも同様の効果を得
ることができる。
【００２６】図７に試し書き処理において得られた再生
信号と実測例の１例を示す。再生信号において、記録パ
ワ−の大きさによって最密パタ−ンと最疎パタ−ンの再
生信号の中心レベルの差ΔＶが変化する。最密パタ−ン
と最疎パタ−ンの周期に合わせて２種類のサンプリング
パルスＳＡＭＰＬＥ１−Ｐ、ＳＡＭＰＬＥ２−Ｐをコン
トロ−ラ８より発行し、それぞれのパタ−ンから中心レ
ベルとしてＶ1、Ｖ2を検出する。（３）．に試し書き処
理において得られた記録パワ−条件に対するΔＶ＝Ｖ1
−Ｖ2の１実測例を示す。記録パワ−とΔＶはほぼ比例
関係にあることがわかる。ΔＶ＝０となる記録条件がな
い場合には０に最も近い負極性の記録条件と正極性の記
録条件からΔＶ＝０となる記録条件を算出することが可
能である。図８に試し書きパタ−ン中心レベル検出回路
１９の第１の実施例を示す。ここでは再生回路１６から
の再生信号に対してピ−クホ−ルド回路２２とボトムホ
−ルド回路２３によりエンベロ−プを検出し、それぞれ
を抵抗分割により中心レベルを検出する。その後、２個
のサンプルホ−ルド回路２４、２５によってそれぞれの
パタ−ンに対応する中心レベルとしてＶ1、Ｖ2を検出
し、さらに差動アンプ２６によりΔＶを求めてその結果
をＡ／Ｄ変換器２０へ入力する。Ａ／Ｄ変換器２０では
ΔＶをディジタルデ−タとしてコントロ−ラ８に送出す
る。
信号と実測例の１例を示す。再生信号において、記録パ
ワ−の大きさによって最密パタ−ンと最疎パタ−ンの再
生信号の中心レベルの差ΔＶが変化する。最密パタ−ン
と最疎パタ−ンの周期に合わせて２種類のサンプリング
パルスＳＡＭＰＬＥ１−Ｐ、ＳＡＭＰＬＥ２−Ｐをコン
トロ−ラ８より発行し、それぞれのパタ−ンから中心レ
ベルとしてＶ1、Ｖ2を検出する。（３）．に試し書き処
理において得られた記録パワ−条件に対するΔＶ＝Ｖ1
−Ｖ2の１実測例を示す。記録パワ−とΔＶはほぼ比例
関係にあることがわかる。ΔＶ＝０となる記録条件がな
い場合には０に最も近い負極性の記録条件と正極性の記
録条件からΔＶ＝０となる記録条件を算出することが可
能である。図８に試し書きパタ−ン中心レベル検出回路
１９の第１の実施例を示す。ここでは再生回路１６から
の再生信号に対してピ−クホ−ルド回路２２とボトムホ
−ルド回路２３によりエンベロ−プを検出し、それぞれ
を抵抗分割により中心レベルを検出する。その後、２個
のサンプルホ−ルド回路２４、２５によってそれぞれの
パタ−ンに対応する中心レベルとしてＶ1、Ｖ2を検出
し、さらに差動アンプ２６によりΔＶを求めてその結果
をＡ／Ｄ変換器２０へ入力する。Ａ／Ｄ変換器２０では
ΔＶをディジタルデ−タとしてコントロ−ラ８に送出す
る。
【００２７】図９に試し書きパタ−ン中心レベル検出回
路１９の第２の実施例を示す。ここでは再生回路１６か
らの再生信号に対して低域周波数遮断回路（ＬＰＦ）２
７を設け、これにより再生信号の平均レベルを検出し、
その後は第１の実施例と同様に２個のサンプルホ−ルド
回路２４、２５によってそれぞれのパタ−ンに対する平
均レベルとしてＶ1、Ｖ2を検出し、さらに差動アンプ２
６によりΔＶを求めてその結果をＡ／Ｄ変換器２０へ入
力する。
路１９の第２の実施例を示す。ここでは再生回路１６か
らの再生信号に対して低域周波数遮断回路（ＬＰＦ）２
７を設け、これにより再生信号の平均レベルを検出し、
その後は第１の実施例と同様に２個のサンプルホ−ルド
回路２４、２５によってそれぞれのパタ−ンに対する平
均レベルとしてＶ1、Ｖ2を検出し、さらに差動アンプ２
６によりΔＶを求めてその結果をＡ／Ｄ変換器２０へ入
力する。
【００２８】
【発明の効果】 本発明によれば、記録媒体の膜厚変動
や環境温度変動による記録媒体に対する記録感度変動お
よび記録再生装置による記録感度変動も抑圧し、記録再
生装置と記録媒体との適合性を向上させるとともに、高
精度に記録マ−クを制御できるので、記録再生装置の信
頼性および記録容量や情報の転送レ−トを向上させる効
果がある。
や環境温度変動による記録媒体に対する記録感度変動お
よび記録再生装置による記録感度変動も抑圧し、記録再
生装置と記録媒体との適合性を向上させるとともに、高
精度に記録マ−クを制御できるので、記録再生装置の信
頼性および記録容量や情報の転送レ−トを向上させる効
果がある。
【図１】本発明の第１の実施例を説明するためのブロッ
ク図
ク図
【図２】使用する記録符号列、記録パルス列の説明図
【図３】記録電流波形を示す説明図
【図４】レ−ザドライバのブロック図
【図５】試し書き処理手順のフロ−チャ−トの一例
【図６】試し書きパタ−ンの一例と記録パワ−設定法の
説明図
説明図
【図７】試し書き処理において得られた再生信号と１実
測例
測例
【図８】試し書きパタ−ン中心レベル検出回路１９の第
１の実施例
１の実施例
【図９】試し書きパタ−ン中心レベル検出回路１９の第
２の実施例
２の実施例
８……コントロ−ラ、１０……試し書きパタ−ン発生回
路、１２……記録パルス生成回路、１３……レ−ザドラ
イバ、１６……再生回路、１７……ＰＬＬ、１８……弁
別回路、１９……試し書きパタ−ン中心レベル検出回
路、２０……Ａ／Ｄ変換器、２２……ピ−クホ−ルド回
路、２３……ボトムホ−ルド回路、２４、２５……サン
プルホ−ルド回路、２６……差動アンプ、２７……低域
周波数遮断回路（ＬＰＦ）
路、１２……記録パルス生成回路、１３……レ−ザドラ
イバ、１６……再生回路、１７……ＰＬＬ、１８……弁
別回路、１９……試し書きパタ−ン中心レベル検出回
路、２０……Ａ／Ｄ変換器、２２……ピ−クホ−ルド回
路、２３……ボトムホ−ルド回路、２４、２５……サン
プルホ−ルド回路、２６……差動アンプ、２７……低域
周波数遮断回路（ＬＰＦ）
フロントページの続き (72)発明者 井手 浩 東京都国分寺市東恋ヶ窪１丁目280番地 株式会社日立製作所 中央研究所内 (72)発明者 戸田 剛 東京都国分寺市東恋ヶ窪１丁目280番地 株式会社日立製作所 中央研究所内 (56)参考文献 特開 平３−91124（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−95734（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−171437（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/013 G11B 7/12 - 7/22 G11B 11/10 - 13/06
Claims (9)
- 【請求項１】 記録媒体の所定の位置に光学的記録パワ
−を可変しながら試し書き処理時に使用する記録パター
ンを記録し、この記録された試し書き処理時に使用する
記録パターンを再生し、この再生信号から得られる最適
記録パワ−の情報をもとに記録媒体に正規の情報を記録
するために、光源からの光で記録媒体の所定の領域に光
スポットを照射し、記録媒体上に未記録部分とは物理的
に異なる記録領域を形成することにより情報の記録を行
う記録再生制御方法であって、上記試し書き処理時に使
用する記録パターンを正規の情報の入力データビット列
を記録を行う際の変調方式に基づく符号列のパターンに
し、該試し書き処理時に使用する記録パターンに応じた
記録パルス列と記録補助パルスを発生させ、前記記録パ
ルス列の先頭パルスと２番目以降のパルスの長さを異な
らせるとともに、各記録パルス列の後側に休止期間を持
つ前記記録補助パルスを設け、記録に関して少なくても
２つの光強度または、２つのエネルギーレベルを設ける
ように光源を駆動することを特徴とする情報の記録再生
制御方法。 - 【請求項２】 前記記録パルス列と前記記録補助パルス
の光強度を変調して情報の重ね書きを可能とする記録媒
体に対して試し書き処理時に使用する記録パターンの記
録を行い、該処理時に使用する記録パターンを再生して
記録パワーと消去パワーを設定することを特徴とする請
求項１記載の情報の記録再生制御方法。 - 【請求項３】 請求項１において、試し書きの処理の際
に試し書き処理時に使用する記録パターンを記録する記
録波形の記録パルス列のレベルと記録補助パルスのレベ
ルの両方あるいはそのうちの少なくとも１つのレベルを
制御することを特徴とする情報の記録再生制御方法。 - 【請求項４】 請求項１において、試し書き処理時に使
用する記録パタ−ンとして、正規の情報の入力データビ
ット列を記録を行う際の変調方式における最高周波数の
最密パタ−ンと最低周波数の最疎パタ−ンを用い、その
再生信号において最密パタ−ンの中心レベルと最疎パタ
−ンの中心レベルを検出して、それぞれの中心レベルが
等しくなるような記録パワ−に設定して正規の記録を実
施することを特徴とする情報の記録再生制御方法。 - 【請求項５】 請求項３において、試し書き処理時に使
用する記録パターンを記録する記録動作ではセクタ毎に
記録パワ−を順次可変しながら記録し、再生動作では当
該セクタを順次再生しながら最密パタ−ンと最疎パタ−
ンの中心レベルを検出して、それぞれのレベルが等しく
なる、すなわち差が０となるセクタにおいて設定した記
録パワ−を最適パワ−として正規の記録を実施すること
を特徴とする情報の記録再生制御方法。 - 【請求項６】 請求項４において、試し書き処理時に使
用する記録パターンの再生信号の中心レベルの検出にピ
−クホ−ルド回路とボトムホ−ルド回路を用いることを
特徴とする情報の記録再生制御方法。 - 【請求項７】 請求項４において、試し書きの記録パタ
−ンの再生信号の中心レベルの検出に低域周波数遮断回
路を用いることを特徴とする情報の記録再生制御方法。 - 【請求項８】 請求項４において、試し書き処理時の記
録パタ−ンである最密パタ−ンと最疎パタ−ンの組合せ
の繰り返し周期をディスク基板自身が持つリタ−デ−シ
ョンが変化する周期に対して２倍以上とすることを特徴
とする情報の記録再生制御方法。 - 【請求項９】 請求項５において、試し書き処理時に使
用する記録パターンを記録したトラックに対して、処理
終了時には試し書き処理時に使用する記録パターンを記
録した最大パワ−によって当該トラックを消去しておく
ことを特徴とする情報の記録再生制御方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4186586A JP3036240B2 (ja) | 1992-07-14 | 1992-07-14 | 情報の記録再生制御方法 |
| US08/091,003 US5590111A (en) | 1990-06-29 | 1993-07-13 | Method of controlling recording of optical records |
| US08/731,243 US5732061A (en) | 1990-06-29 | 1996-10-11 | Recording method using trial write test pattern |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4186586A JP3036240B2 (ja) | 1992-07-14 | 1992-07-14 | 情報の記録再生制御方法 |
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Family
ID=16191144
Family Applications (1)
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Country Status (1)
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| JP (1) | JP3036240B2 (ja) |
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