JP3039636B2 - Object outline recognition device - Google Patents
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は被測定物又は障害物
の外形形状を認識するための物体外形認識装置に関し、
特に、移動体等に搭載される物体外形認識装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an object shape recognizing device for recognizing the shape of an object to be measured or an obstacle.
In particular, the present invention relates to an object outline recognition device mounted on a moving body or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、この種の物体外形認識装置とし
て、光を媒体として用いたものが知られており、例え
ば、カメラを用いて物体等を撮像して画像処理によって
物体外形を認識する手法及び3角測量法の原理を用いた
手法が知られている。2. Description of the Related Art In general, a device using light as a medium has been known as this type of object outline recognition device. For example, a method of recognizing an object outline by image processing using a camera to image an object or the like. And a method using the principle of triangulation is known.
【0003】これらの物体外形認識装置のうち、3角測
量法を用いた手法が、例えば、特開平5−332737
号公報に開示されている(以下従来技術1という)。こ
の従来技術1では、被測定物に対してスリットを通過し
た光(スリット光)を点滅させて偏向照射しつつ、被測
定物の表面に生じる光学像をCCDカメラにより撮影し
て、画像処理によって被測定物の形状認識を行ってい
る。[0003] Among these object outline recognizing devices, a method using a triangulation method is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-332737.
(Hereinafter referred to as “prior art 1”). In the prior art 1, while the light (slit light) passing through the slit is blinked and illuminated on the object to be measured, an optical image generated on the surface of the object is photographed by a CCD camera, and image processing is performed. Recognizes the shape of the measured object.
【0004】さらに、物体外形認識装置として、レーザ
測距器とスキャナとを組み合わせて被測定物の形状認識
を行う3次元計測手法を用いた装置が知られており、こ
のような物体外形認識装置が、例えば、特開平7−20
8946号公報に開示されている(以下従来技術2とい
う)。従来技術2では、被測定物に対して、レーザ光の
出射角度を検出可能なスキャナからレーザ光を出射し
て、スキャナから被測定物までの距離をレーザ光出射角
度毎に測定するして、この測定結果に基づいて被測定物
の形状認識を行っている。Further, as an object outline recognition apparatus, an apparatus using a three-dimensional measurement method for recognizing the shape of an object to be measured by combining a laser range finder and a scanner is known. However, for example, JP-A-7-20
No. 8946 (hereinafter referred to as “prior art 2”). In the prior art 2, a laser beam is emitted from a scanner capable of detecting an emission angle of a laser beam to an object to be measured, and a distance from the scanner to the object is measured for each laser beam emission angle. The shape of the measured object is recognized based on the measurement result.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の従来
技術1では、3角測量法の原理を用いて被測定物の形状
認識を行っている関係上、被測定物の形状を精度良く測
定するには、原理的に物体形状認識装置の送信側及び受
信側の距離を離して光学系を設定する必要がある。この
ように、送信側及び受信側の距離を離して光学系を設定
した場合、光学系が大きくなるばかりでなく、装置自体
が重くなってしまい、移動体搭載用センサとして適切で
ないという問題点がある。つまり、3角測量法を用いた
物体形状認識装置では、光学系が大きく、かつ重くなっ
て、高価になってしまうという問題点がある。In the prior art 1 described above, the shape of the measured object is accurately measured because the shape of the measured object is recognized using the principle of the triangulation. In principle, it is necessary to set the optical system with a distance between the transmitting side and the receiving side of the object shape recognition apparatus in principle. As described above, when the optical system is set apart from the transmitting side and the receiving side, not only the optical system becomes large, but also the device itself becomes heavy, which is not suitable as a sensor for mounting on a moving body. is there. That is, in the object shape recognition device using the triangulation method, there is a problem that the optical system is large, heavy, and expensive.
【0006】一方、上述の従来技術2では、機械的スキ
ャナを用いて予め定められたスキャンパターンでレーザ
光をスキャンしている関係上、スキャンパターンを高速
に変化させることができず、スキャンに時間がかかって
しまうという問題点がある。加えて、従来技術2では、
所定の視野全体をスキャンしており、このため、被測定
物が存在しない不必要な部分もスキャンすることにな
り、さらに、スキャン時間がかってしまうという問題点
がある。On the other hand, in the above-mentioned prior art 2, the scan pattern cannot be changed at a high speed because the laser beam is scanned with a predetermined scan pattern using a mechanical scanner. Is a problem. In addition, in the prior art 2,
Since the entire predetermined field of view is scanned, unnecessary portions where the object to be measured does not exist are also scanned, and furthermore, there is a problem that a scan time is required.
【0007】本発明の目的は、レーザを用いた3次元計
測を用いて目標測定物の外形認識時間を短縮化して高速
移動体等に搭載可能な物体外形認識装置を提供すること
にある。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an object outline recognizing apparatus which can be mounted on a high-speed moving body or the like by shortening an outline recognizing time of a target object by using three-dimensional measurement using laser.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明によれば、レーザ
光を用いて被測定物の外形を3次元的に計測して認識す
る際に用いられる3次元計測装置であって、レーザ光を
スキャンして発信レーザ光として発信するスキャン手段
と、前記発信レーザ光に応じた反射レーザ光を受け受信
信号として検出する検出手段と、前記レーザ光の発信か
ら前記受信信号を受けるまでの時間に基づいて前記被測
定物の有無及び前記被測定物まで距離を測距値として求
める距離演算手段と、前記被測定物の有無に応じて前記
スキャン手段を制御して前記レーザ光をスキャンさせて
前記測距値に基づいて前記被測定物の外形を認識する処
理手段とを有することを特徴とする物体外形認識装置が
得られる。According to the present invention, there is provided a three-dimensional measuring apparatus which is used for three-dimensionally measuring and recognizing an outer shape of an object to be measured by using a laser beam. Scanning means for scanning and transmitting as a transmitting laser light, detecting means for receiving a reflected laser light according to the transmitting laser light and detecting it as a reception signal, and based on a time from transmission of the laser light to reception of the reception signal. Distance calculating means for determining the presence or absence of the object to be measured and the distance to the object as a distance measurement value, and controlling the scanning means in accordance with the presence or absence of the object to scan the laser light to perform the measurement. Processing means for recognizing the outer shape of the object to be measured based on the distance value.
【0009】前記スキャン手段は、X−Y座標系におい
て前記レーザ光を±X軸方向に偏向する第1の偏向素子
と、前記レーザ光を±Y軸方向に偏向する第2の偏向素
子とを有しており、前記処理手段は、前記被測定物の有
無に応じて前記第1及び前記第2の偏向素子の偏向角を
電気的に制御して前記発信レーザ光を発信させる。The scanning means includes a first deflecting element for deflecting the laser light in the ± X-axis direction in the XY coordinate system, and a second deflecting element for deflecting the laser light in the ± Y-axis direction. The processing means has a function of electrically controlling the deflection angles of the first and second deflecting elements in accordance with the presence or absence of the device under test to emit the transmitted laser light.
【0010】前記スキャン手段及び前記検出手段をジン
バルに搭載するよにしてもよく、この際には、レーザ光
を発振するレーザ発振器と前記スキャン手段とは光ファ
イバー系で結合される。また、反射レーザ光から画像を
生成して処理手段に画像を与える画像センサを備えるよ
うにしてもよく、この際、画像センサは前記ジンバルに
搭載される。[0010] The scanning means and the detecting means may be mounted on a gimbal. In this case, a laser oscillator for oscillating laser light and the scanning means are connected by an optical fiber system. Further, an image sensor for generating an image from the reflected laser light and providing the image to the processing unit may be provided. In this case, the image sensor is mounted on the gimbal.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】以下本発明について図面を参照し
て説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings.
【0012】図1を参照して、図示の物体外形認識装置
は、レーザ発振器1、電子スキャン装置2、受光系3、
光検出器4、距離演算部5、及び信号処理部6を備えて
おり、レーザ発振器1、距離演算部5、及び信号処理部
6には電源部9から電力が供給される(なお、図1にお
いて、電源供給線は図示されていない)。そして、レー
ザ発振器1でパルスレーザ光を発振させて、このパルス
レーザ光は電子スキャン装置2に導かれる。Referring to FIG. 1, the illustrated object outline recognition apparatus includes a laser oscillator 1, an electronic scanning device 2, a light receiving system 3,
The laser oscillator 1, the distance calculation unit 5, and the signal processing unit 6 are provided with power from a power supply unit 9 (see FIG. 1). , The power supply line is not shown). Then, pulse laser light is oscillated by the laser oscillator 1, and the pulse laser light is guided to the electronic scanning device 2.
【0013】電子スキャン装置2は高速応答性を有する
偏向素子を備えており、具体的には、図2に示すよう
に、電子スキャン装置2は、レーザ光をX軸方向に偏向
されるためのX軸用偏向素子21及びレーザ光をY軸方
向に偏向させるためのY軸用偏向素子22を備えてい
る。なお、X軸用偏向素子21及びY軸用偏向素子22
としては、例えば、音響光学素子又は電気光学素子が用
いられる。The electronic scanning device 2 is provided with a deflecting element having a high-speed response. Specifically, as shown in FIG. 2, the electronic scanning device 2 is used to deflect a laser beam in the X-axis direction. An X-axis deflecting element 21 and a Y-axis deflecting element 22 for deflecting laser light in the Y-axis direction are provided. The X-axis deflection element 21 and the Y-axis deflection element 22
For example, an acousto-optic element or an electro-optic element is used.
【0014】信号処理部6からは、まず、第1のステッ
プの偏向角を示す第1の偏向角指定信号が送出されてお
り、電子スキャン装置2は第1のステップの偏向角に応
じた偏向角でパルスレーザ光を偏向する。つまり、X軸
用偏向素子21及びY軸用偏向素子22は第1の偏向角
指定信号に応じてその偏向角を変化させる。これによっ
て、パルスレーザ光はX軸用偏向素子21及びY軸用偏
向素子22によって第1のステップの偏向角で規定され
る量だけそれぞれX軸方向及びY軸方向に偏向され、偏
向レーザ光として被測定物(図示せず)に対して発信さ
れる。偏向レーザ光は被測定物で反射され、そのレーザ
反射光は受光系3によって受信レーザ光として受光さ
れ、光検知器4に導かれ、ここで受信信号に変換され
る。そして、この受信信号は距離演算部5に与えられ
る。First, a first deflection angle designating signal indicating the deflection angle of the first step is transmitted from the signal processing unit 6, and the electronic scanning device 2 performs the deflection according to the deflection angle of the first step. The pulse laser beam is deflected at an angle. That is, the X-axis deflection element 21 and the Y-axis deflection element 22 change their deflection angles according to the first deflection angle designation signal. As a result, the pulse laser light is deflected in the X-axis direction and the Y-axis direction by the X-axis deflection element 21 and the Y-axis deflection element 22 by an amount defined by the deflection angle in the first step, respectively. It is transmitted to a device under test (not shown). The deflected laser light is reflected by the object to be measured, and the laser reflected light is received by the light receiving system 3 as received laser light, guided to the photodetector 4, and converted into a received signal. Then, the received signal is provided to the distance calculation unit 5.
【0015】レーザ発振器1からはパルスレーザ出力と
同期して発信信号が距離演算部5に与えられ、これによ
って、距離演算部5は計時を開始する。そして、距離演
算部5は、受信信号を受けるまでの時間を計測する。つ
まり、距離演算部5は、発信信号を受けてから光検知器
4から出力される受信信号を受けるまでの時間を計測時
間として計測する。そして、距離演算部5は計測時間に
応じて被測定物までの距離を測距値として求める。A transmission signal is supplied from the laser oscillator 1 to the distance calculation unit 5 in synchronization with the pulse laser output, whereby the distance calculation unit 5 starts measuring time. Then, distance calculating section 5 measures the time until the received signal is received. That is, the distance calculation unit 5 measures the time from receiving the transmission signal to receiving the reception signal output from the photodetector 4 as the measurement time. Then, the distance calculation unit 5 obtains the distance to the measured object as a distance measurement value according to the measurement time.
【0016】なお、スキャンレーザ光が被測定物に当た
らなかった場合には、当然のことながら、受信信号はな
く、この際、測距値は無効となる。つまり、発信信号を
受けた後、予め設定された時間(十分に長い距離)経過
しても受信信号を受けない場合には、距離演算部5は測
距値を無効とする。When the scanning laser beam does not hit the object to be measured, naturally, there is no received signal, and at this time, the distance measurement value becomes invalid. That is, if the reception signal is not received even after a preset time (a sufficiently long distance) has elapsed after receiving the transmission signal, the distance calculation unit 5 invalidates the distance measurement value.
【0017】信号処理部6は測距値を受けると、次のス
テップの偏向角(第2のステップの偏向角)を指定して
第2の偏向角指定信号を電子スキャン装置2に出力す
る。そして、電子スキャン装置2では第2のステップの
偏向角に応じて偏向角を変化させて偏向レーザ光として
出力する。Upon receiving the distance measurement value, the signal processing unit 6 specifies the deflection angle of the next step (the deflection angle of the second step) and outputs a second deflection angle specifying signal to the electronic scanning device 2. Then, the electronic scanning device 2 changes the deflection angle in accordance with the deflection angle in the second step and outputs the deflection laser light.
【0018】このようにして、信号処理部6では順次偏
向角を変化させて、つまり、レーザ光をスキャンさせ
て、被測定物までの距離を測定して、偏向角及び測距値
に応じて被測定物の外形を認識する。As described above, the signal processing unit 6 sequentially changes the deflection angle, that is, scans the laser beam to measure the distance to the object to be measured, and determines the distance to the object according to the deflection angle and the distance measurement value. Recognize the external shape of the device under test.
【0019】ここで、図3を参照して、図3は電子スキ
ャン装置2から発振されるレーザ光のスキャン例を示す
ものであり、図3において、各升目は、XY平面を示し
ている。そして、図3においては、レーザ光を連続的に
スキャンする際の角度変化が離散的にしかも模写されて
おり、例えば、升目毎にレーザ光が発信される。Here, referring to FIG. 3, FIG. 3 shows a scanning example of the laser beam oscillated from the electronic scanning device 2, and in FIG. 3, each cell shows an XY plane. In FIG. 3, a change in the angle when the laser beam is continuously scanned is discretely and simulated. For example, the laser beam is transmitted for each cell.
【0020】図3において、太線で示す楕円は楕円状の
被測定物が空中に位置することを示しており、○印は距
離演算部5の出力として得られる測距値が有効であるこ
とを示している。一方、×印は測距値が無効の場合、つ
まり、被測定物にレーザ光が当たらずに遠方の距離を示
しているか、被測定物にレーザ光の一部しか当たらずそ
の結果、レーザ反射光が弱く測距できない場合を示して
いる。In FIG. 3, an ellipse indicated by a thick line indicates that the elliptical object to be measured is located in the air, and a circle indicates that the distance measurement value obtained as an output of the distance calculation unit 5 is valid. Is shown. On the other hand, the x mark indicates that the distance measurement value is invalid, that is, indicates a distant distance without irradiating the object to be measured with the laser beam, or that only a part of the laser beam hits the object to be measured, and as a result, the laser reflection The case where the distance cannot be measured due to weak light is shown.
【0021】ここで、図1及び図3に加えて図4乃至図
7を参照して、まず、図3に示すように目標となる被測
定物を捜索して(ステップS1)、被測定物を見つけ
る。つまり、前述のように、測距値が有効となるまで、
レーザ光をスキャンして、測距値が有効になったか否か
を調べる(ステップS2)。そして、測距値が有効とな
った段階で、被測定物が発見されたと判断する。Here, referring to FIGS. 4 to 7 in addition to FIGS. 1 and 3, first, as shown in FIG. 3, a target object to be measured is searched (step S1). Find out. In other words, as described above, until the distance measurement value is valid,
The laser beam is scanned to check whether or not the distance measurement value has become valid (step S2). Then, when the distance measurement value becomes valid, it is determined that the measured object has been found.
【0022】まず、図4を参照して、いま、被測定物の
中央付近にレーザ光が当たった結果、距離値が有効とな
ったとすると、信号処理部6は、図3に示す+Y方向に
1ステップ偏向角を変化させる。そして、再び測距値が
有効であるか否かを調べる(ステップS3)。測距値が
有効であると、信号処理部6は、さらに+Y方向に1ス
テップ偏向角を変化させて測距値が有効であるか否かを
調べる。このように、信号処理部6は図3に示す+Y方
向に1ステップずつ偏向角を変化させて、つまり、偏向
角を+Y方向に1ステップずつ順次変化させて前述のよ
うにして測距を行うことになる。First, referring to FIG. 4, assuming that the distance value becomes effective as a result of the laser light being applied to the vicinity of the center of the object to be measured, the signal processing section 6 moves in the + Y direction shown in FIG. The deflection angle is changed by one step. Then, it is checked again whether the distance measurement value is valid (step S3). If the distance measurement value is valid, the signal processing unit 6 further changes the one-step deflection angle in the + Y direction to check whether the distance measurement value is valid. As described above, the signal processing section 6 changes the deflection angle by one step in the + Y direction shown in FIG. 3, that is, sequentially changes the deflection angle by one step in the + Y direction, and performs the distance measurement as described above. Will be.
【0023】このようにして、偏向角を+Y方向に1ス
テップずつ順次変化させて測距を行った際、測距値が無
効であると判断すると、つまり、測距値が有効から無効
となると、信号処理部6では、被測定物の+Y方向の外
れ位置を検知する。In this way, when the distance measurement is performed by sequentially changing the deflection angle in the + Y direction one step at a time, when it is determined that the distance measurement value is invalid, that is, when the distance measurement value changes from valid to invalid. , The signal processing unit 6 detects the position of the object to be measured in the + Y direction.
【0024】このようにして、+Y方向の外れ位置を検
出すると、信号処理部6はこの位置から偏向角を+X方
向に1ステップ変化させて測距を行い(ステップS
5)、測距値が有効であるか否かを調べる(ステップS
6)。測距値が無効であると、+X方向に1ステップ変
化させた位置から、信号処理部6は偏向角を−Y方向に
1ステップ変化させて測距を行い(ステップS7)、測
距値が有効であるか否かを調べる(ステップS8)。再
び測距値が無効であると、信号処理部6は再び偏向角を
−Y方向に1ステップ変化させて測距を行い(ステップ
S9)、測距値が有効であるか否かを調べる(ステップ
S10)。そして、測距値が無効であると、図5に示す
Bに移行する。As described above, when the deviated position in the + Y direction is detected, the signal processing unit 6 measures the distance by changing the deflection angle by one step in the + X direction from this position (step S).
5) Check whether or not the distance measurement value is valid (step S)
6). If the distance measurement value is invalid, the signal processing unit 6 changes the deflection angle by one step in the -Y direction from the position changed by one step in the + X direction to perform the distance measurement (step S7). It is checked whether or not it is valid (step S8). If the distance measurement value is invalid again, the signal processing unit 6 again measures the distance by changing the deflection angle by one step in the −Y direction (step S9), and checks whether the distance measurement value is valid (step S9). Step S10). If the distance measurement value is invalid, the process shifts to B shown in FIG.
【0025】一方、ステップS6において、測距値が有
効であると、信号処理部6は、今度は偏向角を+Y方向
に変化させて測距を行い(ステップS11)、測距値が
有効であるか否かを調べる(ステップS12)。測距値
が有効であると、ステップS11に戻って再び偏向角を
+Y方向に1ステップ変化させて測距を行う。ステップ
S12において、測距値が無効であると、ステップS5
に戻って、偏向角を+X方向に1ステップ変化させて測
距を行う。On the other hand, if the distance measurement value is valid in step S6, the signal processing unit 6 measures the distance by changing the deflection angle in the + Y direction (step S11). It is checked whether or not there is (step S12). If the distance measurement value is valid, the flow returns to step S11 to change the deflection angle by one step in the + Y direction again to perform distance measurement. If the distance measurement value is invalid in step S12, step S5
The distance measurement is performed by changing the deflection angle by one step in the + X direction.
【0026】同様にして、ステップS8及びS10の各
々において、測距値が有効であると、ステップS5に戻
って、偏向角を+X方向に1ステップ変化させて測距を
行う。Similarly, in each of steps S8 and S10, if the distance measurement value is valid, the process returns to step S5, and distance measurement is performed by changing the deflection angle by one step in the + X direction.
【0027】このようにして、偏向角を+X方向に変化
させつつ、測距値が無効であると、偏向角を−Y方向に
変化させ、測距値が有効であると、偏向角を+Y方向に
変化させて、測距値が3回連続して無効になるまで繰り
返して偏向角を変化させる。そして、偏向角を−Y方向
に変化させて測距値が3回連続して無効になった際、図
5に示すBに移行する。In this way, while changing the deflection angle in the + X direction, if the distance measurement value is invalid, the deflection angle is changed in the -Y direction. If the distance measurement value is valid, the deflection angle is changed in + Y direction. The deflection angle is repeatedly changed until the distance measurement value becomes invalid three consecutive times. Then, when the deflection angle is changed in the -Y direction and the distance measurement value becomes invalid three consecutive times, the flow shifts to B shown in FIG.
【0028】図5を参照して、図4に示すステップS1
0において、測距値が無効であると、信号処理部6は、
偏向角を−X方向に1ステップ変化させて測距を行い
(ステップS13)、測距値が有効であるか否かを調べ
る(ステップS14)。測距値が無効であると、信号処
理部6は再び偏向角を−X方向に1ステップ変化させて
測距を行い(ステップS15)、測距値が有効であるか
否かを調べる(ステップS16)。そして、測距値が再
び無効であると、信号処理部6では、さらに偏向角を−
X方向に1ステップ変化させて測距を行い(ステップS
17)、測距値が有効であるか否かを調べる(ステップ
S18)。この測距値が無効であると、図6に示すCに
移行する。Referring to FIG. 5, step S1 shown in FIG.
At 0, if the distance measurement value is invalid, the signal processing unit 6
The distance is measured by changing the deflection angle by one step in the -X direction (step S13), and it is checked whether or not the measured distance is valid (step S14). If the distance measurement value is invalid, the signal processing section 6 changes the deflection angle by one step in the -X direction again to perform distance measurement (step S15), and checks whether the distance measurement value is valid (step S15). S16). If the distance measurement value is invalid again, the signal processing unit 6 further reduces the deflection angle by-
Distance measurement is performed by changing one step in the X direction (step S
17), it is checked whether or not the distance measurement value is valid (step S18). If the distance measurement value is invalid, the flow shifts to C shown in FIG.
【0029】ステップS14において、測距値が有効で
あると、信号処理部6は、偏向角を−Y方向に1ステッ
プ変化させて測距を行い(ステップS19)、測距値が
有効であるか否かを調べる(ステップS20)。そし
て、測距値が無効であると、ステップS15に進んで、
偏向角を−X方向に1ステップ変化させて、測距を行
う。If the measured distance value is valid in step S14, the signal processing section 6 measures the distance by changing the deflection angle by one step in the -Y direction (step S19), and the measured distance value is valid. It is checked whether it is (Step S20). If the distance measurement value is invalid, the process proceeds to step S15,
Distance measurement is performed by changing the deflection angle by one step in the -X direction.
【0030】ステップS20において、測距値が有効で
あると、信号処理部6は偏向角を+X方向に1ステップ
変化させて測距を行い(ステップS21)、測距値が有
効であるか否かを調べる(ステップS22)。そして、
測距値が無効であると、ステップS19に戻って偏向角
を−Y方向に1ステップ変化させて測距を行う。一方、
ステップS22において、測距値が有効であると、ステ
ップS21に戻って偏向角を+X方向に1ステップ変化
させて測距を行う。If the distance measurement value is valid in step S20, the signal processing unit 6 measures the distance by changing the deflection angle by one step in the + X direction (step S21), and determines whether the distance measurement value is valid. Is checked (step S22). And
If the distance measurement value is invalid, the process returns to step S19 to change the deflection angle by one step in the -Y direction to perform distance measurement. on the other hand,
In step S22, if the distance measurement value is valid, the process returns to step S21 to change the deflection angle by one step in the + X direction to perform distance measurement.
【0031】このようにして、偏向角を−Y方向に変化
させつつ、測距値が無効であると、偏向角を−X方向に
変化させ、測距値が有効であると、偏向角を+X方向に
変化させて、測距値が3回連続して無効になるまで繰り
返して偏向角を変化させる。そして、偏向角を−X方向
に変化させて測距値が3回連続して無効になった際、図
6に示すCに移行する。In this manner, while the deflection angle is changed in the -Y direction, if the distance measurement value is invalid, the deflection angle is changed in the -X direction. If the distance measurement value is valid, the deflection angle is changed. The deflection angle is changed repeatedly in the + X direction until the distance measurement value becomes invalid three consecutive times. Then, when the deflection angle is changed in the −X direction and the distance measurement value becomes invalid three consecutive times, the flow shifts to C shown in FIG.
【0032】図6を参照して、図5に示すステップS1
8において、測距値が無効であると、信号処理部6は偏
向角を+Y方向へ1ステップ変化させて測距を行い(ス
テップS24)、測距値が有効であるか否かを調べる
(ステップS25)。測距値が無効であると、信号処理
部6は再び偏向角を+Y方向に1ステップ変化させて測
距を行い(ステップS26)、測距値が有効であるか否
かを調べる(ステップS27)。そして、測距値が再び
無効であると、信号処理部6では、さらに偏向角を+Y
方向に1ステップ変化させて測距を行い(ステップS2
8)、測距値が有効であるか否かを調べる(ステップS
29)。この測距値が無効であると、図7に示すDに移
行する。Referring to FIG. 6, step S1 shown in FIG.
If the measured distance value is invalid in step 8, the signal processing unit 6 measures the distance by changing the deflection angle by one step in the + Y direction (step S24), and checks whether the measured distance value is valid (step S24). Step S25). If the distance measurement value is invalid, the signal processor 6 changes the deflection angle by one step in the + Y direction again to perform distance measurement (step S26), and checks whether the distance measurement value is valid (step S27). ). If the distance measurement value is invalid again, the signal processor 6 further sets the deflection angle to + Y
The distance is measured by changing the direction by one step (step S2).
8) Check whether the measured distance value is valid or not (step S)
29). If the distance measurement value is invalid, the process shifts to D shown in FIG.
【0033】ステップS25において、測距値が有効で
あると、信号処理部6は、偏向角を−X方向に1ステッ
プ変化させて測距を行い(ステップS30)、測距値が
有効であるか否かを調べる(ステップS31)。そし
て、測距値が無効であると、ステップS26に進んで、
偏向角を+Y方向に1ステップ変化させて、測距を行
う。If the measured distance value is valid in step S25, the signal processing unit 6 measures the distance by changing the deflection angle by one step in the -X direction (step S30), and the measured distance value is valid. It is checked whether it is (step S31). If the distance measurement value is invalid, the process proceeds to step S26,
The distance is measured by changing the deflection angle by one step in the + Y direction.
【0034】ステップS31において、測距値が有効で
あると、信号処理部6は偏向角を−Y方向に1ステップ
変化させて測距を行い(ステップS32)、測距値が有
効であるか否かを調べる(ステップS33)。そして、
測距値が無効であると、ステップS30に戻って偏向角
を−X方向に1ステップ変化させて測距を行う。一方、
ステップS33において、測距値が有効であると、ステ
ップS32に戻って偏向角を−Y方向に1ステップ変化
させて測距を行う。If the distance measurement value is valid in step S31, the signal processing unit 6 measures the distance by changing the deflection angle by one step in the -Y direction (step S32), and determines whether the distance measurement value is valid. It is checked whether or not it is (step S33). And
If the distance measurement value is invalid, the process returns to step S30 to change the deflection angle by one step in the -X direction to perform distance measurement. on the other hand,
If the distance measurement value is valid in step S33, the process returns to step S32 to change the deflection angle by one step in the -Y direction to perform distance measurement.
【0035】このようにして、偏向角を−X方向に変化
させつつ、測距値が無効であると、偏向角を+Y方向に
変化させ、測距値が有効であると、偏向角を−Y方向に
変化させて、測距値が3回連続して無効になるまで繰り
返して偏向角を変化させる。そして、偏向角を+Y方向
に変化させて測距値が3回連続して無効になった際、図
7に示すDに移行する。As described above, while the deflection angle is changed in the -X direction, if the distance measurement value is invalid, the deflection angle is changed in the + Y direction. If the distance measurement value is valid, the deflection angle is changed to-. By changing the deflection angle in the Y direction, the deflection angle is repeatedly changed until the distance measurement value becomes invalid three consecutive times. Then, when the deflection angle is changed in the + Y direction and the distance measurement value becomes invalid three consecutive times, the flow shifts to D shown in FIG.
【0036】図7を参照して、図6に示すステップS2
9において、測距値が無効であると、信号処理部6は偏
向角を+X方向へ1ステップ変化させて測距を行い(ス
テップS34)、測距値が有効であるか否かを調べる
(ステップS35)。測距値が無効であると、信号処理
部6は再び偏向角を+X方向に1ステップ変化させて測
距を行い(ステップS36)、測距値が有効であるか否
かを調べる(ステップS37)。そして、測距値が再び
無効であると、信号処理部6では、さらに偏向角を+X
方向に1ステップ変化させて測距を行い(ステップS3
8)、測距値が有効であるか否かを調べる(ステップS
39)。そして、この測距値が無効であると、図4に示
すAに移行する。Referring to FIG. 7, step S2 shown in FIG.
In step 9, if the distance measurement value is invalid, the signal processing unit 6 measures the distance by changing the deflection angle by one step in the + X direction (step S34), and checks whether the distance measurement value is valid (step S34). Step S35). If the distance measurement value is invalid, the signal processing unit 6 measures the distance again by changing the deflection angle by one step in the + X direction (step S36), and checks whether the distance measurement value is valid (step S37). ). If the distance measurement value is invalid again, the signal processor 6 further sets the deflection angle to + X
The distance is measured by changing the direction by one step (step S3).
8) Check whether the measured distance value is valid or not (step S)
39). If the distance measurement value is invalid, the flow shifts to A shown in FIG.
【0037】ステップS35において、測距値が有効で
あると、信号処理部6は、偏向角を+Y方向に1ステッ
プ変化させて測距を行い(ステップS40)、測距値が
有効であるか否かを調べる(ステップS41)。そし
て、測距値が無効であると、ステップS36に進んで、
偏向角を+X方向に1ステップ変化させて、測距を行
う。If the distance measurement value is valid in step S35, the signal processing section 6 measures the distance by changing the deflection angle by one step in the + Y direction (step S40), and determines whether the distance measurement value is valid. It is checked whether or not it is (step S41). If the distance measurement value is invalid, the process proceeds to step S36,
Distance measurement is performed by changing the deflection angle by one step in the + X direction.
【0038】ステップS41において、測距値が有効で
あると、信号処理部6は偏向角を−X方向に1ステップ
変化させて測距を行い(ステップS42)、測距値が有
効であるか否かを調べる(ステップS43)。そして、
測距値が無効であると、ステップS40に戻って偏向角
を+Y方向に1ステップ変化させて測距を行う。一方、
ステップS43において、測距値が有効であると、ステ
ップS42に戻って偏向角を−X方向に1ステップ変化
させて測距を行う。If the measured distance value is valid in step S41, the signal processing section 6 measures the distance by changing the deflection angle by one step in the -X direction (step S42), and determines whether the measured distance value is valid. It is checked whether or not it is (step S43). And
If the distance measurement value is invalid, the process returns to step S40 to change the deflection angle by one step in the + Y direction to perform distance measurement. on the other hand,
In step S43, if the distance measurement value is valid, the process returns to step S42 to change the deflection angle by one step in the -X direction to perform distance measurement.
【0039】このようにして、偏向角を+Y方向に変化
させつつ、測距値が無効であると、偏向角を+X方向に
変化させ、測距値が有効であると、偏向角を−X方向に
変化させて、測距値が3回連続して無効になるまで繰り
返して偏向角を変化させる。そして、偏向角を+X方向
に変化させて測距値が3回連続して無効になった際、図
4に示すAに移行する。As described above, while the deflection angle is changed in the + Y direction, if the distance measurement value is invalid, the deflection angle is changed in the + X direction. If the distance measurement value is valid, the deflection angle is changed to -X. The deflection angle is repeatedly changed until the distance measurement value becomes invalid three consecutive times. Then, when the deflection angle is changed in the + X direction and the distance measurement value becomes invalid three consecutive times, the flow shifts to A shown in FIG.
【0040】図4乃至図7に示す動作の結果得られた偏
向角と測距値とを用いて、信号処理部6では、祖測定物
の外形を認識する。なお、上述の例では、測距値が連続
して3回無効となると、処理動作を移行するようにした
が、この回数は3回に限らず、被測定物の外形に応じて
無効回数を変更することができる。Using the deflection angle and the distance measurement value obtained as a result of the operations shown in FIGS. 4 to 7, the signal processing section 6 recognizes the outer shape of the object to be measured. In the above example, when the distance measurement value is invalidated three times consecutively, the processing operation is shifted. However, the number of times is not limited to three, and the number of invalidations is set according to the outer shape of the measured object. Can be changed.
【0041】以上のように、図1に示す例では、被測定
物の全面に亘ってスキャンを行って測距値を得る必要が
なく、被測定物の外形の近傍をスキャンして測距値を得
るようにしたから、測距回数が少なくて済み、その結
果、スキャンを高速化することができて、被測定物の外
形認識時間を短縮できる。As described above, in the example shown in FIG. 1, it is not necessary to scan over the entire surface of the object to obtain a distance measurement value. Is obtained, the number of times of distance measurement can be reduced, and as a result, scanning can be speeded up and the outer shape recognition time of the measured object can be shortened.
【0042】さらに、電子スキャン装置2における1ス
テップ当たりの偏向角は、電気的に設定可能であり、こ
のため、被測定物の見込み角に合わせて1ステップ当た
りの偏向角を設定することができる。この結果、被測定
物が大きくても測距回数が少なくなるように1ステップ
当たりの偏向角を設定してスキャン速度を高速のまま一
定に保つことが可能である。Further, the deflection angle per step in the electronic scanning device 2 can be set electrically, and therefore, the deflection angle per step can be set according to the expected angle of the object to be measured. . As a result, it is possible to set the deflection angle per step so that the number of times of distance measurement is reduced even if the object to be measured is large, and to keep the scan speed constant at a high speed.
【0043】次に、図8を参照して、本発明の他の例に
ついて説明する。なお、図8において、図1と同一の構
成要素については、同一の参照番号を付す。Next, another example of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 8, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.
【0044】一般に、電子スキャン装置2では、スキャ
ン可能な偏向角に制限がある。このため、図示の例で
は、電子スキャン装置2、受光系3、及び光検知器4を
ジンバル8に搭載する。さらに、このジンバル8には、
画像を撮影するための画像センサ7が搭載されており、
電子スキャン装置2、受光系3、光検知器4、及び画像
センサ7で形成される系はジンバル8によってその偏向
方向が増大する。図示の例では、光ファイバー系10に
よって電子スキャン装置2とレーザ発振器1を結合して
おり、これによって、ジンバル8が可動しても電子スキ
ャン装置2にレーザ光を導くことができる。なお、レー
ザ光は、光ファイバー系10の出射部においてその広が
り角が光学的に最小化されて電子スキャン装置2に導か
れる。Generally, in the electronic scanning device 2, there is a limit on the deflection angle that can be scanned. For this reason, in the illustrated example, the electronic scanning device 2, the light receiving system 3, and the photodetector 4 are mounted on the gimbal 8. In addition, this gimbal 8
An image sensor 7 for taking an image is mounted,
The gimbal 8 increases the deflection direction of the system formed by the electronic scanning device 2, the light receiving system 3, the light detector 4, and the image sensor 7. In the illustrated example, the electronic scanning device 2 and the laser oscillator 1 are connected by the optical fiber system 10, so that the laser beam can be guided to the electronic scanning device 2 even if the gimbal 8 moves. The laser beam is guided to the electronic scanning device 2 with its divergence angle optically minimized at the emission section of the optical fiber system 10.
【0045】受光系3と光検出器4との間にはビームス
プリッタ7aが配置されており、受信レーザ光はビーム
スプリッタ7aによって分岐されて、光検出器4及び画
像センサ8に与えられる。そして、画像センサ8で撮影
された画像は信号処理部6に与えられる。A beam splitter 7 a is arranged between the light receiving system 3 and the photodetector 4, and the received laser light is split by the beam splitter 7 a and applied to the photodetector 4 and the image sensor 8. The image captured by the image sensor 8 is provided to the signal processing unit 6.
【0046】画像センサ7は電子スキャン装置2の画角
によりも大きな画角を有しており、これによって、ジン
バル8の偏向方向を変えながら、目標となる被測定物を
捜索する。信号処理部6では画像センサ7の中心に目標
被測定物を捕らえると、電子スキャン装置2を前述のよ
うにして高速スキャンして、被測定物の外形を認識す
る。The image sensor 7 has an angle of view larger than the angle of view of the electronic scanning device 2, thereby searching for a target object to be measured while changing the deflection direction of the gimbal 8. When the signal processing unit 6 captures the target DUT at the center of the image sensor 7, the electronic scanning device 2 performs high-speed scanning as described above to recognize the outer shape of the DUT.
【0047】[0047]
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、被測
定物に対して全面的スキャンを行って測距値を得る必要
がなく、被測定物の外形の近傍をスキャンし測距値を得
るようにしたから、測距回数を低減でき、この結果、ス
キャンを高速化することができて、被測定物の形状を短
時間で認識できるという効果がある。As described above, according to the present invention, it is not necessary to perform a full scan on the object to be measured to obtain a distance measurement value. As a result, the number of times of distance measurement can be reduced, and as a result, scanning can be speeded up, and the shape of the measured object can be recognized in a short time.
【0048】さらに、本発明では、電子スキャン装置の
1ステップ当たりの偏向角を被測定物の見込み角に適し
た偏向角に設定すれば、被測定物が大きくなっても測距
回数の増加を防ぐことができ、この結果、被測定物が大
きくなってもスキャン速度を高速のまま一定に保つこと
ができるという効果がある。Further, according to the present invention, if the deflection angle per step of the electronic scanning device is set to a deflection angle suitable for the expected angle of the measured object, the number of times of distance measurement can be increased even when the measured object becomes large. As a result, there is an effect that the scanning speed can be kept high and constant even when the object to be measured becomes large.
【0049】加えて、本発明では、電子スキャン装置、
受光系、光検知器、及び画像センサをジンバルに搭載す
るようにしたから、レーザ光の偏向方向を増大でき、こ
の結果、スキャン方向を増大できるという効果がある。In addition, according to the present invention, an electronic scanning device,
Since the light receiving system, the light detector, and the image sensor are mounted on the gimbal, the deflection direction of the laser beam can be increased, and as a result, the scanning direction can be increased.
【図1】本発明による物体外形認識装置の一例を示すブ
ロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an example of an object outline recognition device according to the present invention.
【図2】図1に示す電子スキャン装置の一例を示す図で
ある。FIG. 2 is a diagram showing an example of the electronic scanning device shown in FIG.
【図3】図1に示す物体外形認識装置におけるスキャン
の一例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of a scan in the object outline recognition device shown in FIG. 1;
【図4】図1に示す物体外形認識装置のスキャン動作の
一例を説明するためのフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart illustrating an example of a scanning operation of the object outline recognition device shown in FIG. 1;
【図5】図1に示す物体外形認識装置のスキャン動作の
一例を説明するためのフローチャートである。FIG. 5 is a flowchart for explaining an example of a scanning operation of the object outline recognition device shown in FIG. 1;
【図6】図1に示す物体外形認識装置のスキャン動作の
一例を説明するためのフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart illustrating an example of a scanning operation of the object outline recognition device shown in FIG. 1;
【図7】図1に示す物体外形認識装置のスキャン動作の
一例を説明するためのフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart illustrating an example of a scanning operation of the object outline recognition device shown in FIG. 1;
【図8】本発明による物体外形認識装置の他の例を示す
ブロック図である。FIG. 8 is a block diagram showing another example of the object outline recognition device according to the present invention.
1 レーザ発振器 2 電子スキャン装置 3 受光系 4 光検知器 5 距離演算部 6 信号処理部 7 画像センサ 8 ジンバル 9 電源部 10 光ファイバー系 REFERENCE SIGNS LIST 1 laser oscillator 2 electronic scanning device 3 light receiving system 4 light detector 5 distance calculation unit 6 signal processing unit 7 image sensor 8 gimbal 9 power supply unit 10 optical fiber system
Claims (8)
元的に計測して認識する際に用いられる3次元計測装置
であって、レーザ光をスキャンして発信レーザ光として
発信するスキャン手段と、前記発信レーザ光に応じた反
射レーザ光を受け受信信号として検出する検出手段と、
前記レーザ光の発信から前記受信信号を受けるまでの時
間に基づいて前記被測定物の有無及び前記被測定物まで
距離を測距値として求める距離演算手段と、前記被測定
物の有無に応じて前記スキャン手段を制御して前記レー
ザ光をスキャンさせて前記測距値に基づいて前記被測定
物の外形を認識する処理手段とを有することを特徴とす
る物体外形認識装置。1. A three-dimensional measuring device used for three-dimensionally measuring and recognizing an outer shape of an object to be measured using a laser beam, wherein the scanning device scans a laser beam and transmits the laser beam as a transmitted laser beam. Means, and detecting means for receiving a reflected laser beam according to the transmitted laser beam and detecting the reflected laser beam as a received signal,
Distance calculation means for determining the presence or absence of the object to be measured and the distance to the object as a distance measurement value based on the time from transmission of the laser light to reception of the reception signal, and according to the presence or absence of the object to be measured Processing means for controlling the scanning means to scan the laser beam and recognize the outer shape of the object to be measured based on the distance measurement value.
において、前記スキャン手段は、X−Y座標系において
前記レーザ光を±X軸方向に偏向する第1の偏向素子
と、前記レーザ光を±Y軸方向に偏向する第2の偏向素
子とを有することを特徴とする物体外形認識装置。2. The object outline recognizing device according to claim 1, wherein said scanning means deflects said laser light in ± X-axis directions in an XY coordinate system, and said laser light. And a second deflecting element for deflecting in the ± Y-axis direction.
において、前記レーザ光を発振するレーザ発振器を備え
ており、該レーザ発振器は前記レーザ光に同期した発信
信号を前記距離演算手段に与えるようにしたことを特徴
とする物体外形認識装置。3. The object outline recognizing device according to claim 2, further comprising: a laser oscillator that oscillates the laser light, wherein the laser oscillator supplies a transmission signal synchronized with the laser light to the distance calculation unit. An object shape recognizing device characterized in that:
において、前記処理手段は、前記被測定物の有無に応じ
て前記第1及び前記第2の偏向素子の偏向角を電気的に
制御して前記発信レーザ光を発信させるようにしたこと
を特徴とする物体外形認識装置。4. The apparatus for recognizing an object outline according to claim 2, wherein the processing unit electrically controls deflection angles of the first and second deflection elements according to the presence or absence of the object to be measured. And transmitting the transmission laser light.
において、前記スキャン手段及び前記検出手段はジンバ
ルに搭載されていることを特徴とする物体外形認識装
置。5. An object outline recognition apparatus according to claim 1, wherein said scanning means and said detection means are mounted on a gimbal.
において、前記レーザ光を発振するレーザ発振器を備え
ており、前記スキャン手段は前記レーザ発振器と光ファ
イバー系で結合されていることを特徴とする物体外形認
識装置。6. The object outline recognizing device according to claim 5, further comprising: a laser oscillator that oscillates the laser light, wherein the scanning unit is coupled to the laser oscillator by an optical fiber system. Object outline recognition device.
において、前記検出手段は、前記反射レーザ光を受信レ
ーザ光として受ける受光系と、前記受信レーザ光に応じ
て前記受信信号を検出する光検出器とを有することを特
徴とする物体外形認識装置。7. The object outline recognizing device according to claim 5, wherein the detection unit detects the reception signal in accordance with the light receiving system that receives the reflected laser light as the reception laser light and the reception laser light. An object shape recognizing device, comprising: a light detector.
において、前記受信レーザ光を受け該受信レーザ光から
画像を生成して前記処理手段に前記画像を与える画像セ
ンサを有し、該画像センサは前記ジンバルに搭載されて
いることを特徴とする物体外形認識装置。8. The object outline recognition device according to claim 7, further comprising: an image sensor that receives the reception laser light, generates an image from the reception laser light, and provides the processing unit with the image. An object shape recognizing device, wherein a sensor is mounted on the gimbal.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP10177766A JP3039636B2 (en) | 1998-06-24 | 1998-06-24 | Object outline recognition device |
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