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JP3044735B2 - Sputtering equipment - Google Patents
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JP3044735B2 - Sputtering equipment - Google Patents

Sputtering equipment

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JP3044735B2
JP3044735B2 JP2083795A JP8379590A JP3044735B2 JP 3044735 B2 JP3044735 B2 JP 3044735B2 JP 2083795 A JP2083795 A JP 2083795A JP 8379590 A JP8379590 A JP 8379590A JP 3044735 B2 JP3044735 B2 JP 3044735B2
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Description

【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本発明は、例えば光ディスク等を製造するにあたっ
て、光ディスク基板へのスパッタリング処理を連続的に
行うスパッタリング装置に関するものである。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sputtering apparatus that continuously performs a sputtering process on an optical disk substrate when manufacturing an optical disk or the like, for example.

B.発明の概要 本発明は、例えば光ディスク等を製造する際に用いら
れるスパッタリング装置において、被スパッタリング処
理部材を保持する保持手段が設けられた複数の閉塞面を
有してなる蓋体を用い、これを回動操作して被スパッタ
リング処理部材を出し入れする供給口に対対する閉塞面
を順次切り換えることにより、被スパッタリング処理部
材の真空槽内への出し入れを瞬時に行おうとするもので
ある。
B. Summary of the Invention The present invention is, for example, in a sputtering apparatus used when manufacturing an optical disk or the like, using a lid having a plurality of closed surfaces provided with holding means for holding a member to be sputtered, By rotating this so as to sequentially switch the closed surface to the supply port for taking in and out the member to be sputtered, the member to be sputtered is taken in and out of the vacuum chamber instantaneously.

C.従来の技術 従来より、音響信号や画像信号等の所定の情報信号が
記録再生できるように構成された光ディスクが提案され
ている。光ディスクは、例えばポリカーボネートやアク
リル等の材料からなりピットやグルーブ等が形成された
ディスク基板上にアルミニウム等の金属材料が反射膜と
して被着されることにより構成されている。
C. Prior Art Conventionally, an optical disk configured to record and reproduce a predetermined information signal such as an audio signal and an image signal has been proposed. The optical disk is formed by depositing a metal material such as aluminum as a reflection film on a disk substrate made of a material such as polycarbonate or acrylic and having pits and grooves formed thereon.

ところで、金属材料をディスク基板上に被着させる手
法としては、蒸着法やイオンプレーティング法、あるい
はスパッタリング法等が挙げられる。
By the way, as a method of depositing a metal material on a disk substrate, there are a vapor deposition method, an ion plating method, a sputtering method and the like.

蒸着法とイオンプレーティング法は、真空槽中で金属
材料(蒸発源)を加熱して該金属を蒸発せしめ、金属蒸
気中にディスク基板を配置することにより、該金属材料
を基板上に被着させるものである。これらの手法で光デ
ィスクを大量に生産しようとすると、複数枚のディスク
基板を一括して収容できる大きな真空槽を用いて上記金
属材料の一度の蒸発によって複数枚の光ディスクを製造
する,いわゆるバッチ方式に頼らざるを得ない。このた
め、装置構成が複雑化し大型になるばかりか、真空槽内
の場所によってはムラが発生する。
In the vapor deposition method and the ion plating method, a metal material (evaporation source) is heated in a vacuum chamber to evaporate the metal, and a disk substrate is placed in a metal vapor to deposit the metal material on the substrate. It is to let. In order to mass-produce optical disks by these methods, a so-called batch method is used in which a plurality of optical disks are manufactured by evaporating the metal material once using a large vacuum chamber capable of accommodating a plurality of disk substrates at once. I have to rely on it. For this reason, not only is the device configuration complicated and large, but also unevenness occurs depending on the location in the vacuum chamber.

これに対してスパッタリング法は、短時間で処理が完
了し連続処理が可能でしかも個々のディスク基板に対し
て同一条件で成膜することができるという利点を有して
いる。したがって、この手法を採用すれば、ムラのない
均一な膜とすることができるとともに、大量生産や多品
種生産等にも十分対応できる。
On the other hand, the sputtering method has an advantage that processing can be completed in a short time, continuous processing can be performed, and a film can be formed on each disk substrate under the same conditions. Therefore, if this method is adopted, a uniform film without unevenness can be obtained, and it is possible to cope with mass production, multi-product production, and the like.

上記スパッタリング処理は、ディスク基板と例えばア
ルミニウム等の金属材料(ターゲット)が収納された真
空槽中に、例えばアルゴン等の放電用ガスを低圧状態に
封入し、当該真空槽中に電界を印加することにより放電
用ガスをイオン化し、イオン化された上記放電用ガスで
金属材料の原子・分子を叩き出すというものである。す
なわち、真空槽中においては、上記放電用ガスがイオン
化されて上記金属材料に衝突し該金属材料が飛散され、
この金属材料が上記ディスク基板に被着されて薄膜を形
成する。
In the sputtering process, a discharge gas such as argon is sealed in a low pressure state in a vacuum chamber containing a disk substrate and a metal material (target) such as aluminum, and an electric field is applied to the vacuum chamber. Accordingly, the discharge gas is ionized, and atoms and molecules of the metal material are beaten out by the ionized discharge gas. That is, in the vacuum chamber, the discharge gas is ionized, collides with the metal material, and the metal material is scattered,
The metal material is applied to the disk substrate to form a thin film.

このスパッタリング処理を行うスパッタリング装置と
しては、例えば第12図に示すように、複数枚のディスク
基板を円周方向に配列させた円盤状の搬送テーブルを回
転操作させることにより、これらディスク基板に対して
連続的にスパッタリング処理を行うように構成されたも
のが提案されている。
As a sputtering apparatus for performing this sputtering process, for example, as shown in FIG. 12, by rotating a disk-shaped transfer table in which a plurality of disk substrates are arranged in the circumferential direction, these disk substrates An apparatus configured to perform a sputtering process continuously has been proposed.

このスパッタリング装置は、内部が所定の真空度に保
持されるように構成されるとともに、ディスク基板Daの
出し入れを行うディスク入出口101とスパッタリング処
理を行うスパッタリング処理部102が形成された真空槽1
03を有している。上記ディスク入出口101には、上記真
空槽103内の真空度を保持するための蓋体104が当該真空
槽103に対して接離操作されるように支持されて設けら
れている。
This sputtering apparatus is configured such that the inside thereof is maintained at a predetermined vacuum degree, and a vacuum chamber 1 in which a disk inlet / outlet 101 for taking in / out the disk substrate Da and a sputtering processing unit 102 for performing a sputtering process are formed.
It has 03. A cover 104 for maintaining the degree of vacuum in the vacuum chamber 103 is provided at the disk inlet / outlet 101 so as to be supported so as to be brought into and out of contact with the vacuum chamber 103.

一方、スパッタリング処理部102は、上記ディスク入
出口101と同様に形成されたディスク処理口105を有する
とともに、このディスク処理口105の上方を覆うように
前記真空槽103に取付けられる円筒状の処理部106を有し
てなっている。この処理部106には、上記ディスク基板D
aに対してスパッタリングを行う金属材料(ターゲッ
ト)107が収容されるとともに、アルゴンガス等が低圧
状態で封入されている。
On the other hand, the sputtering unit 102 has a disk processing port 105 formed in the same manner as the disk inlet / outlet 101, and a cylindrical processing unit attached to the vacuum chamber 103 so as to cover above the disk processing port 105. It has 106. The processing unit 106 includes the disk substrate D
A metal material (target) 107 for performing sputtering on a is accommodated, and argon gas or the like is sealed at a low pressure.

そして、上記真空槽103内には、複数枚のディスク基
板Daを順次前記ディスク入出口101よりスパッタリング
処理部102に亘り搬送させる円盤状の搬送テーブル108が
配設されている。この搬送テーブル108は、真空槽103内
に突出して設けられる回動軸108aに支持され、図示しな
い駆動手段により軸回り方向に回動操作されるようにな
されている。また、この搬送テーブル108には、ディス
ク基板Daを載置させるための円形状の位置決め凹部108b
が形成され、該凹部108bにディスク基板Daのセンター孔
を固定することで当該ディスク基板Daを位置決めする受
皿109が嵌合載置されている。この受皿109は、ディスク
基板Daの外形寸法より若干大径の円盤状として形成さ
れ、その略中央部に上記ディスク基板Daのチャッキング
用のセンター孔を挿通させる突起109aを突設してなって
いる。また、上記搬送テーブル108の位置決め凹部108b
の略中央部には、上記受皿109を突き上げるための突き
上げ軸110,111が挿通する挿通孔108cが穿設されてい
る。
In the vacuum chamber 103, a disk-shaped transfer table 108 for transferring a plurality of disk substrates Da sequentially from the disk inlet / outlet 101 to the sputtering unit 102 is provided. The transfer table 108 is supported by a rotation shaft 108a provided to protrude into the vacuum chamber 103, and is rotated around the axis by a driving unit (not shown). The transfer table 108 has a circular positioning recess 108b for mounting the disk substrate Da.
A receiving tray 109 for positioning the disk substrate Da by fixing the center hole of the disk substrate Da in the recess 108b is fitted and mounted. The receiving tray 109 is formed as a disk having a diameter slightly larger than the outer dimensions of the disk substrate Da, and has a projection 109a protruding at a substantially central portion thereof to insert a center hole for chucking of the disk substrate Da. I have. Further, the positioning recess 108b of the transfer table 108
An insertion hole 108c through which push-up shafts 110 and 111 for pushing up the tray 109 are inserted is formed substantially in the center of the tray.

上記突き上げ軸110,111は、前記ディスク入出口101と
スパッタリング処理部102にそれぞれ対向する真空槽103
の底面部に穿設される透口を介して該真空槽103内に臨
まされ、図示しない駆動装置により上下方向に進退操作
されるように構成されている。すなわち、搬送テーブル
108により搬送されてきたディスク基板Daが、それぞれ
ディスク入出口101及びスパッタリング処理部102に対向
した位置にきたときに、それぞれの突き上げ軸110,111
が突出し、前記受皿109,109をディスク入出口101及びデ
ィスク処理口105の開口周縁部に圧接支持させて真空槽1
03と外部(大気)とをシールする。そして、ディスク入
出口101側でディスク基板Daの取り出し及びスパッタリ
ング処理部102でスパッタリング処理が終了したとき
に、それぞれの突き上げ軸110,111が真空槽103の底部へ
没入するようになっている。
The push-up shafts 110 and 111 are provided in the vacuum chamber 103 facing the disk entrance / exit 101 and the sputtering unit 102, respectively.
The vacuum chamber 103 is exposed to the inside of the vacuum chamber 103 through an opening formed in the bottom surface of the vacuum chamber, and is configured to be operated in a vertical direction by a driving device (not shown). That is, the transport table
When the disk substrate Da conveyed by 108 comes to a position facing the disk entrance / exit 101 and the sputtering processing unit 102, respectively, the respective push-up shafts 110, 111
Protrudes, and presses and supports the receiving trays 109, 109 to the opening / closing edge of the disk inlet / outlet 101 and the disk processing port 105, and
03 and the outside (atmosphere) are sealed. Then, when the disk substrate Da is taken out on the disk entrance / exit 101 side and the sputtering processing is completed in the sputtering processing unit 102, the respective push-up shafts 110 and 111 are immersed in the bottom of the vacuum chamber 103.

このように構成されたスパッタリング装置において
は、前記ディスク入出口101より供給された複数枚のデ
ィスク基板Daが搬送テーブル108の回動操作により順次
スパッタリング処理部102に搬送され、ここで連続的に
スパッタリング処理が行われると同時に、ディスク入出
口101ではスパッタリング処理されたディスク基板Daの
取り出しと新たなディスク基板Dbの搬送テーブル108へ
の供給が行われる。
In the sputtering apparatus configured as described above, a plurality of disk substrates Da supplied from the disk inlet / outlet 101 are sequentially transferred to the sputtering processing unit 102 by rotating the transfer table 108, where the sputtering is continuously performed. At the same time as the processing is performed, at the disk entrance / exit 101, the disk substrate Da subjected to the sputtering processing is taken out and a new disk substrate Db is supplied to the transfer table.

D.発明が解決しようとする課題 ところで、スパッタリング処理されたディスク基板Da
の取り出しと新たなディスク基板Dbの搬送テーブル108
への供給は、蓋体104を真空槽103に対して接離操作する
被スパッタリング処理部材取り出し機構によって行われ
ている。
D. Problems to be solved by the invention By the way, the disk substrate Da subjected to the sputtering process
Take-out and transfer table 108 for new disk substrate Db
Is supplied by a sputtered member take-out mechanism for operating the lid 104 toward and away from the vacuum chamber 103.

この取り出し機構は、第12図に示すように、両端が垂
下する如く略直角に折り曲げ形成された回転アーム112
と、この回動アーム112の略中央部を支持し、該回転ア
ーム112を水平方向に回転させるとともに、該蓋体104を
ディスク入出口101に対して上下動させる回転軸113を有
した駆動装置114とからなり、上記回動アーム112の両端
に取付けられた一対の蓋体104,104をディスク入出口101
に対して接離操作するとともに、回転軸113を中心とし
て水平方向に回転操作するようになっている。
As shown in FIG. 12, the take-out mechanism includes a rotating arm 112 which is bent at substantially right angles so that both ends are suspended.
And a driving device having a rotating shaft 113 that supports a substantially central portion of the rotating arm 112, rotates the rotating arm 112 in the horizontal direction, and moves the lid 104 up and down with respect to the disk entrance / exit 101. 114, and a pair of lids 104, 104 attached to both ends of
, And a horizontal rotation operation about the rotation shaft 113.

この取り出し機構によるスパッタリング処理されたデ
ィスク基板Daの取り出しと新たなディスク基板Dbの搬送
テーブル108への供給は、次のようにして行われる。先
ず、ディスク入出口101を閉塞している受皿109上に載置
されているスパッタリングされたディスク基板Daを一方
の蓋体104に設けられた吸着パッド104aにて吸着し、前
記回転軸113を上昇させてディスク基板D1を真空槽103
より取り出す。次いで、前記回転軸113を軸回り方向に
回転させて回転アーム112を180度回転させ、他方の蓋体
104の吸着パッド104aに吸着されている新たなディスク
基板Dbをディスク入出口101上に位置させる。そして、
上記回転軸113を下降させて当該ディスク基板Dbを受皿1
09の上に載置する。
The removal of the sputtering-processed disk substrate Da by this removal mechanism and the supply of a new disk substrate Db to the transfer table 108 are performed as follows. First, the sputtered disk substrate Da placed on the tray 109 closing the disk entrance 101 is sucked by the suction pad 104a provided on one lid 104, and the rotating shaft 113 is raised. vacuum chamber 103 to the disk substrate D 1 by
Take out from. Next, the rotation shaft 113 is rotated around the axis to rotate the rotation arm 112 by 180 degrees, and the other lid
The new disk substrate Db sucked by the suction pad 104a of the disk 104 is positioned on the disk inlet / outlet 101. And
By lowering the rotating shaft 113, the disc substrate Db is
Place on top of 09.

ところが上述の機構では、処理後のディスク基板Daと
処理前のディスク基板Dbの入れ換えを行うのに、回転ア
ーム112を水平方向に180度回転させる必要があるため、
この回転操作にかなりの時間を要する。例えば、この機
構でスパッタリング処理後のディスク基板Daの取り出し
から新たなディスク基板Dbの受皿109へのセットまでに
要する時間は約1.5秒程度である。また、蓋体104を回転
させるのには、大きな回転トルクが必要とされるため、
どうしても駆動装置114を大きくせざを得ない。したが
って、装置が高価なものとなる他、設置スペースに問題
が生ずる。
However, in the above-described mechanism, it is necessary to rotate the rotary arm 112 in the horizontal direction by 180 degrees in order to exchange the disk substrate Da after the processing with the disk substrate Db before the processing.
This rotation operation takes a considerable amount of time. For example, the time required for taking out the disk substrate Da after the sputtering process by this mechanism and setting the new disk substrate Db in the tray 109 is about 1.5 seconds. In addition, since a large rotation torque is required to rotate the lid 104,
Inevitably, the driving device 114 must be enlarged. Therefore, the apparatus becomes expensive and a problem occurs in the installation space.

そこで本発明は、かかる従来の実情に鑑みて提案され
たものであり、被スパッタリング処理部材の真空槽内へ
の出し入れを瞬時に行うことが可能なスパッタリング装
置を提供することを目的とし、さらには小型で安価なス
パッタリング装置を提供することを目的とするものであ
る。
Therefore, the present invention has been proposed in view of such a conventional situation, and an object of the present invention is to provide a sputtering apparatus capable of instantaneously taking a member to be processed into and out of a vacuum chamber. It is an object of the present invention to provide a small and inexpensive sputtering apparatus.

E.課題を解決するための手段 上述の目的を達成するため、本発明に係るスパッタリ
ング装置は、被スパッタリング処理部材が出し入れされ
る供給口と上記被スパッタリング処理部材に対してスパ
ッタリングを行うスパッタリング処理部とを有してなる
真空槽と、上記被スパッタリング処理部材を保持する保
持手段が設けられた複数の閉塞面を有し、これら閉塞面
のうちの何れかの面で上記供給口を閉塞する位置と上記
供給口を開放する上昇位置との間に亘って上下動可能に
支持されるとともに、上記供給口に対向する閉塞面を切
り換え可能に回動可能に支持された蓋体と、上記真空槽
内に配設され上記被スパッタリング処理部材を上記供給
口と上記スパッタリング処理部との間で移送する移送手
段とを備え、上記蓋体が、上記供給口を閉塞した位置と
上記供給口を開放する上昇位置との間に亘って移動操作
されるときに回動操作されることにより、上記供給口に
対向する閉塞面が切り換えることによって上記真空槽に
供給される被スパッタリング部材の入れ換えを行うよう
にしたものである。
E. Means for Solving the Problems In order to achieve the above-mentioned object, a sputtering apparatus according to the present invention includes a sputter processing unit for performing sputtering on a supply port through which a member to be sputtered is taken in and out and the member to be sputtered. And a plurality of closed surfaces provided with holding means for holding the member to be sputtered, and a position at which the supply port is closed by any of the closed surfaces. And a lid that is vertically movably supported between the supply port and an ascending position that opens the supply port, and that is rotatably supported so as to be able to switch a closing surface facing the supply port, and the vacuum tank. And a transfer means for transferring the member to be sputtered between the supply port and the sputtering unit, the cover being configured to close the supply port. By being rotated when being moved between the position and the ascending position for opening the supply port, the closed surface opposed to the supply port is switched to be supplied to the vacuum chamber by switching. The replacement of the sputtering member is performed.

F.作用 本発明のスパッタリング装置において、スパッタリン
グが終了すると、スパッタリング処理された被スパッタ
リング処理部材は、供給口を閉塞する蓋体の閉塞面に設
けられた保持手段によって保持される。一方、前記蓋体
の他の閉塞面(真空槽の外方に露呈している閉塞面)に
は、前記被スパッタリング処理部材をスパッタリング処
理している間に新たな被スパッタリング処理部材が供給
され、該閉塞面に設けられた保持手段によって保持され
る。
F. Function In the sputtering apparatus of the present invention, when the sputtering is completed, the sputtered member to be sputtered is held by the holding means provided on the closing surface of the lid closing the supply port. On the other hand, on the other closed surface of the lid (the closed surface exposed outside the vacuum chamber), a new sputtering target member is supplied while the sputtering target member is being sputtered, It is held by holding means provided on the closed surface.

この状態で上記蓋体を供給口より上昇させるとともに
該蓋体を回動操作して前記閉塞面を反転すると、これま
で真空槽の供給口を閉塞し、該供給口において真空槽の
内部に向かっていた閉塞面が外方に露呈され、該閉塞面
に保持されるスパッタリング処理後の被スパッタリング
処理部材が真空槽から取り出される。そして、上記蓋体
を供給口に下降させると、新たな被スパッタリング処理
部材が保持された閉塞面が前記供給口を閉塞するかたち
となり、前記新たな被スパッタリング処理部材は真空槽
内へと供給される。
In this state, when the lid is raised from the supply port and the lid is rotated to invert the closed surface, the supply port of the vacuum tank is closed and the supply port faces the inside of the vacuum tank. The closed surface that has been exposed is exposed to the outside, and the member to be sputtered that has been subjected to the sputtering process and held on the closed surface is removed from the vacuum chamber. When the lid is lowered to the supply port, the closed surface holding the new member to be sputtered closes the supply port, and the new member to be sputtered is supplied into the vacuum chamber. You.

G.実施例 以下、本発明を適用した具体的な実施例について図面
を参照しながら説明する。なお本実施例は、本発明に係
るスパッタリング装置を、ポリカーボネートやアクリル
の如き合成樹脂により形成されたディスク基板にアルミ
ニウムの如き金属材料からなる薄膜をスパッタリングに
より形成して光ディスクを製造する光ディスク製造装置
に適用した例である。
G. Examples Hereinafter, specific examples to which the present invention is applied will be described with reference to the drawings. In this embodiment, the sputtering apparatus according to the present invention is applied to an optical disk manufacturing apparatus for manufacturing an optical disk by forming a thin film made of a metal material such as aluminum on a disk substrate formed of a synthetic resin such as polycarbonate or acrylic by sputtering. This is an example of application.

本実施例の光ディスク製造装置は、方形状の筐体(図
示は省略する。)内に真空槽と、該真空槽の下に設けら
れる真空ポンプ等を備えてなる排気系とを収容してなっ
ている。
The optical disk manufacturing apparatus of the present embodiment accommodates a vacuum chamber and an exhaust system provided with a vacuum pump and the like provided below the vacuum chamber in a rectangular housing (not shown). ing.

上記真空槽1は、第1図及び第2図に示すように、真
空ポンプにより内部が所定の真空度に維持されるように
構成されてなり、その略中央部に該真空ポンプに接続さ
れるダクト1aを有している。この真空槽1には、上面部
に被スパッタリング処理部材となるディスク基板が出し
入れされるディスク入出口2と、上記ディスク基板に対
してスパッタリング処理を行うスパッタリング処理部3
とが並列配置されている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the vacuum chamber 1 is configured such that the inside thereof is maintained at a predetermined degree of vacuum by a vacuum pump, and is connected to the vacuum pump at a substantially central portion thereof. It has a duct 1a. The vacuum chamber 1 has a disk inlet / outlet 2 through which a disk substrate serving as a member to be sputtered is put in / out, and a sputtering unit 3 for performing a sputtering process on the disk substrate.
And are arranged in parallel.

上記ディスク入出口2は、スパッタリング処理後のデ
ィスク基板とスパッタリング処理前のディスク基板を前
記真空槽1内へ出し入れするための供給口として形成さ
れるものであり、上記ディスク基板の形状に対応して該
ディスク基板の外形寸法よりやや大径の略円形状に形成
されている。このディスク入出口2の上方側には、該デ
ィスク入出口2を開閉自在となす蓋体4が設けられてい
る。
The disk inlet / outlet 2 is formed as a supply port for taking the disk substrate after the sputtering process and the disk substrate before the sputtering process into and out of the vacuum chamber 1, and corresponds to the shape of the disk substrate. The disk substrate is formed in a substantially circular shape slightly larger in diameter than the external dimensions of the disk substrate. A lid 4 is provided above the disk entrance 2 so as to open and close the disk entrance 2.

上記蓋体4は、上記ディスク入出口2を閉塞すること
のできる大きさに形成され、その両面に当該ディスク入
出口2を閉塞する閉塞面4a,4bを有している。これら閉
塞面4a,4bは、上記ディスク入出口2を閉塞し得るに足
る円形の面であって、当該閉塞面4aあるいは閉塞面4bの
外周縁部がディスク入出口2の開口周縁部に当接するこ
とによって、前記ディスク入出口2を閉塞する。なお、
上記蓋体4の各閉塞面4a,4bの外周縁寄りには、上記デ
ィスク入出口2の開口周縁部と当接して前記真空槽1内
の気密状態を保持するためのO−リング等の密閉部材5,
6が設けられている。
The lid 4 is formed to have a size capable of closing the disk inlet / outlet 2, and has closing surfaces 4a and 4b on both sides thereof for closing the disk inlet / outlet 2. The closing surfaces 4a and 4b are circular surfaces enough to close the disk inlet / outlet 2, and the outer peripheral edge of the closing surface 4a or the closing surface 4b abuts on the peripheral edge of the opening of the disk inlet / outlet 2. As a result, the disk entrance 2 is closed. In addition,
Close to the outer peripheral edge of each of the closing surfaces 4a and 4b of the lid 4, an O-ring or the like for keeping an airtight state in the vacuum chamber 1 by contacting the peripheral edge of the opening of the disk inlet / outlet 2. Member 5,
6 are provided.

また、上記蓋体4の閉塞面4a,4bの略中央部には、上
記ディスク入出口2内に臨むことのできる大きさの円形
の段差面7,8が形成され、その上にディスク基板を真空
吸着する吸着パッド7a,8a等からなる保持手段が設けら
れている。なお、これら段差面7,8は、前記吸着パッド7
a,8aと後述の受皿18との距離を小さなものとし、この受
皿18上のディスク基板を吸着パッド7a,8aで確実に真空
吸着するために設けられるものである。
At substantially the center of the closing surfaces 4a, 4b of the lid 4, circular step surfaces 7, 8 having a size that can reach the inside of the disk entrance 2 are formed, on which the disk substrate is mounted. A holding means including suction pads 7a and 8a for vacuum suction is provided. Note that these step surfaces 7, 8 are
The distance between a, 8a and a receiving tray 18, which will be described later, is set to be small, and the disk substrate on the receiving tray 18 is provided to surely suck the disk substrate with the suction pads 7a, 8a under vacuum.

このように構成された蓋体4は、モータ等からなる駆
動部9の回転軸10に取付けられ、第1図中矢印Aで示す
方向に表裏反転されるようになっている。すなわち、上
記蓋体4は、当該蓋体4の板厚の略中央部に直径方向に
亘り貫通して設けられる挿通孔(図示は省略する。)に
上記回転軸10が挿通され、その先端側でボルトにて固定
されることにより、当該回転軸10と共に回転するように
なっている。したがって、上記蓋体4は、上記駆動部9
の操作によりその両面に設けられる各閉塞面4a,4bが180
度毎回転させられて表裏反転する。
The lid 4 configured as described above is attached to a rotating shaft 10 of a driving unit 9 composed of a motor or the like, and is turned upside down in a direction indicated by an arrow A in FIG. In other words, the rotary shaft 10 is inserted through an insertion hole (not shown) provided through the cover 4 in a diametrical direction at a substantially central portion of a thickness of the cover 4, and a tip end side thereof. , And rotates together with the rotary shaft 10. Therefore, the lid 4 is connected to the drive unit 9.
The closing surfaces 4a and 4b provided on both sides of the
It is rotated every time and turned upside down.

また、上記蓋体4は、上記ディスク入出口2に対して
上下動自在となるように支持されている。すなわち、上
記蓋体4は、真空槽1の下部より上方に向かって突出す
るエアシリンダ等の駆動部(図示は省略する。)の支軸
11の先端に上記回転軸10の駆動部9近傍を覆って取付け
られる連結部材12を介して取付けられることにより、図
中矢印B方向に上下動自在とされている。上記駆動部
は、上記真空槽1の下に設けられるとともに、その支軸
11がディスク入出口2近傍に設けられる該真空槽1を厚
み方向に貫通する貫通孔に臨むようになっている。した
がって、装置の小型化が望める。なお、上記支軸11を挿
通させる貫通孔には、当該支軸11の摺動を容易なものと
するため、例えばベアリング13等が圧入されている。
The lid 4 is supported so as to be vertically movable with respect to the disk entrance 2. That is, the lid 4 is supported by a drive unit (not shown) such as an air cylinder that projects upward from a lower portion of the vacuum chamber 1.
By being attached to the tip of 11 via a connecting member 12 which is attached so as to cover the vicinity of the drive section 9 of the rotary shaft 10, it can be moved up and down in the direction of arrow B in the figure. The drive unit is provided below the vacuum chamber 1 and has a support shaft.
Reference numeral 11 faces a through hole penetrating the vacuum chamber 1 provided in the vicinity of the disk inlet / outlet 2 in the thickness direction. Therefore, miniaturization of the device can be expected. In order to facilitate sliding of the support shaft 11, for example, a bearing 13 or the like is press-fitted into a through hole through which the support shaft 11 is inserted.

上記のように支持された蓋体4は、上記真空槽1側に
移動されて上記ディスク入出口2の開口周縁部を圧接支
持することにより、一方の閉塞面4aで該ディスク入出口
2を閉塞するとともに、吸着パッド7aで受皿18に載置さ
れているスパッタリング処理後のディスク基板を吸着す
る。そして、上記真空槽1より離間されて処理後のディ
スク基板を真空槽1外へ取り出すとともに、該ディスク
入出口2を開放する。このとき、蓋体4が上昇する間に
当該蓋体4が反転され、他方の閉塞面4b側に吸着される
スパッタリング処理前のディスク基板がディスク入出口
2に対向して設けられる。
The lid 4 supported as described above is moved toward the vacuum chamber 1 and presses and supports the opening edge of the disk inlet / outlet 2 so that the disk inlet / outlet 2 is closed by one of the closing surfaces 4a. At the same time, the disk substrate after the sputtering process placed on the tray 18 is sucked by the suction pad 7a. Then, the disk substrate that has been separated from the vacuum chamber 1 and processed is taken out of the vacuum chamber 1 and the disk inlet / outlet 2 is opened. At this time, the lid 4 is turned upside down while the lid 4 is raised, and the disk substrate before the sputtering process, which is attracted to the other closed surface 4b side, is provided facing the disk inlet / outlet 2.

一方、スパッタリング処理部3は、上記ディスク入出
口2と同様に形成されたディスク処理口14と、このディ
スク処理口14の上方側を覆うように上記真空槽1に取付
けられて当該真空槽1内を気密状態に保つ処理部15を有
してなっている。この処理部15は、上端が閉塞された円
筒状として形成され、内部にはスパッタリング処理に用
いられる金属材料(ターゲット)16とスパッタリング処
理に必要なアルゴン等の放電用のガスが低圧状態で封入
されるとともに、所定の電界が印加されるようになされ
ている。
On the other hand, the sputtering unit 3 is attached to the vacuum chamber 1 so as to cover the upper side of the disk processing port 14 formed in the same manner as the disk inlet / outlet 2 and the disk processing port 14. And a processing unit 15 for keeping the airtight state. The processing section 15 is formed in a cylindrical shape whose upper end is closed, and a metal material (target) 16 used for the sputtering process and a discharge gas such as argon necessary for the sputtering process are sealed therein in a low pressure state. At the same time, a predetermined electric field is applied.

上記真空槽1内には、ディスク基板をディスク入出口
2よりスパッタリング処理部3とに亘り移送操作させる
移送手段を構成する回動アーム17が設けられている。こ
の回動アーム17は、ディスク基板を載置する自由端側の
先端部分のみが円盤状とされ、基端側が先細り形状とさ
れている。そして、この回動アーム17は、基端部が真空
槽1内に突出して設けられる回動軸18の先端部にボルト
止めされ、図示しない駆動装置により第2図中矢印L1
及び矢印L2で示す軸回り方向に回動自在となされてい
る。例えば、この回動アーム17は、第2図中矢印θで示
す90°程度の角度で回動操作され、上記ディスク入出口
2の下方の位置と上記スパッタリング処理部3の下方の
位置とに亘り移送操作されるようになっている。なお、
上記回動軸18を真空槽1内に臨ませる該真空槽1の底面
部に穿設される透口(図示は省略する。)には、当該真
空槽1内の気密状態を維持するためのO−リングが設け
られている。
In the vacuum chamber 1, there is provided a rotating arm 17 which constitutes transfer means for transferring the disk substrate from the disk inlet / outlet 2 to the sputtering unit 3. The rotating arm 17 has a disk shape only at the free end side on which the disk substrate is mounted, and has a tapered shape at the base end side. The pivot arm 17 is bolted to the distal end of a pivot shaft 18 whose base end protrudes into the vacuum chamber 1 and is driven by a drive unit (not shown) to indicate an arrow L 1 in FIG.
And are made rotatable around the axis indicated by the arrow L 2. For example, the rotating arm 17 is rotated at an angle of about 90 ° indicated by an arrow θ in FIG. 2, and extends between a position below the disk entrance 2 and a position below the sputtering unit 3. The transfer operation is performed. In addition,
A through-hole (not shown) formed in the bottom of the vacuum chamber 1 for allowing the rotating shaft 18 to face the inside of the vacuum chamber 1 is used to maintain an airtight state in the vacuum chamber 1. An O-ring is provided.

また、上記回動アーム17の自由端側となる先端側の上
面部には、ディスク基板を載置させるための円形状の位
置決め凹部17aが形成されるとともに、該凹部17aの中央
部には後述の突き上げ軸19,20が挿通される突き上げ軸
挿通孔17bが穿設されている。この凹部17aには、ディス
ク基板を載せる受皿18が嵌合して載置されるようになさ
れている。上記受皿18は、ディスク基板の外形寸法より
やや大径の円盤として形成され、その中央部に上記ディ
スク基板のチッキング用のセンター孔を挿通させること
で該ディスク基板を位置決めする突起18aが突設されて
いる。したがって、上記ディスク基板は、上記受皿18に
固定された状態で上記位置決め凹部17aに嵌合し、上記
回動アーム17に対して位置決めされて載置される。な
お、上記受皿18の周縁部には、該受皿18の周縁部が上記
ディスク入出口2の開口周縁部に下方から圧接支持され
たときに前記真空槽1内が気密状態に保たれるように、
O−リング等の密閉部材18bが取付けられている。
A circular positioning concave portion 17a for mounting a disk substrate is formed on the upper surface portion on the distal end side which is the free end side of the rotating arm 17, and a central portion of the concave portion 17a is described later. Push-up shaft insertion holes 17b into which the push-up shafts 19, 20 are inserted. The receiving tray 18 on which the disk substrate is placed is fitted and placed in the recess 17a. The receiving tray 18 is formed as a disk having a diameter slightly larger than the outer dimension of the disk substrate, and a projection 18a for positioning the disk substrate by projecting a center hole for chucking of the disk substrate into the center thereof is provided. ing. Therefore, the disk substrate is fitted to the positioning recess 17a while being fixed to the tray 18, and is positioned and mounted on the rotating arm 17. The peripheral portion of the receiving tray 18 is arranged so that the inside of the vacuum chamber 1 is kept airtight when the peripheral portion of the receiving tray 18 is pressed against the opening peripheral portion of the disk inlet / outlet 2 from below. ,
A sealing member 18b such as an O-ring is attached.

上記真空槽1の底面部には、図示しない制御手段を備
えた駆動装置により、上記ディスク入出口2と上記ディ
スク処理口14とにそれぞれ向かって第1図中矢印Cで示
す方向に上下動自在とされる突き上げ軸19,20が設けら
れている。これら突き上げ軸12,13は、上記ディスク入
出口2と上記ディスク処理口14にそれぞれ対向する真空
槽1の底面部に穿設される透口(図示は省略する。)を
介して該真空槽1内に臨まされている。なお、これら透
口には、該真空槽1内の気密状態を保持するためのO−
リング等の密閉部材(図示は省略する。)が設けられて
いる。また、これら突き上げ軸19,20の先端部分には、
前記回動アーム17に穿設された突き上げ軸挿通孔17bを
介して前記受皿18を安定な状態で押し上げるための円盤
状の押上部材19a,20aが取付けられている。
The bottom of the vacuum chamber 1 can be moved up and down in the direction shown by arrow C in FIG. Push-up shafts 19 and 20 are provided. The push-up shafts 12 and 13 are provided through openings (not shown) formed in the bottom surface of the vacuum chamber 1 facing the disk inlet / outlet 2 and the disk processing port 14, respectively. It is facing inside. In addition, O-holes for maintaining the airtight state in the vacuum chamber 1 are provided in these openings.
A sealing member (not shown) such as a ring is provided. Also, at the tip of these push-up shafts 19 and 20,
Disc-shaped push-up members 19a and 20a for pushing up the receiving tray 18 in a stable state through a push-up shaft insertion hole 17b formed in the rotary arm 17 are attached.

これら突き上げ軸19,20は、前記回動アーム17の先端
側がそれぞれディスク入出口2とディスク処理口14に対
向する位置となされているときに突出操作されるように
なっている。すなわち、ディスク入出口2及びディスク
処理口14では、回動アーム17に設けられた突き上げ軸挿
通孔17bを介して該回動アーム17に載置されている受皿1
8が各突き上げ軸19,20によって持ち上げられ、上記ディ
スク入出口2及びディスク処理口14の開口周縁部に圧接
支持される。このとき、上記受皿18の周縁部にはO−リ
ング等の密閉部材18bが設けられているので、当該真空
槽1と外部とのシールが確実なものとされる。
These push-up shafts 19 and 20 are designed to be operated when the distal ends of the rotary arms 17 are located at positions facing the disk inlet / outlet 2 and the disk processing port 14, respectively. That is, in the disk inlet / outlet 2 and the disk processing port 14, the tray 1 placed on the rotating arm 17 through the push-up shaft insertion hole 17 b provided in the rotating arm 17.
The disk 8 is lifted by the push-up shafts 19 and 20 and is pressed against the disk inlet / outlet 2 and the peripheral edge of the disk processing port 14. At this time, since a sealing member 18b such as an O-ring is provided on the peripheral portion of the tray 18, the seal between the vacuum chamber 1 and the outside is ensured.

このように構成された光ディスク製造装置において
は、ディスク基板の真空槽1内への出し入れを、該ディ
スク基板を保持する吸着パッド7a,8aが設けられた蓋体
4と、この蓋体4をディスク入出口2に対して上下動自
在とし且つ該蓋体4の両面に設けられる各閉塞面4a,4b
を表裏反転する機構により行うようにしているので、ス
パッタリング処理後のディスク基板とスパッタリング処
理前のディスク基板の入れ換えが瞬時に行える。また、
特に本実施例の装置では、ディスク基板の前記ディスク
入出口2とスパッタリング処理部3とに亘る移送操作を
1本の回動アーム17によりその振り角を小さなものとし
て行うように構成されているため、真空槽1の小型化が
図れるとともに、該真空槽1内の容積を極めて小さなも
のとすることができる。したがって、排気を行う真空ポ
ンプを小型化することができるとともに、その排気時間
も短縮することができる。
In the optical disk manufacturing apparatus thus configured, the disk substrate is taken in and out of the vacuum chamber 1 by the lid 4 provided with the suction pads 7a and 8a for holding the disk substrate, and Closing surfaces 4a, 4b provided on both sides of the lid 4 so as to be movable up and down with respect to the entrance 2
Is performed by a mechanism for inverting the disk substrate, the disk substrate after the sputtering process and the disk substrate before the sputtering process can be instantaneously exchanged. Also,
In particular, the apparatus of the present embodiment is configured so that the transfer operation of the disk substrate between the disk inlet / outlet 2 and the sputtering unit 3 is performed with a single swing arm 17 with a small swing angle. The size of the vacuum chamber 1 can be reduced, and the volume in the vacuum chamber 1 can be made extremely small. Therefore, it is possible to reduce the size of the vacuum pump that exhausts gas, and to shorten the exhaust time.

上記光ディスク製造装置により、光ディスクを製造す
るには、次のようにして行う。
An optical disk is manufactured by the above-described optical disk manufacturing apparatus in the following manner.

先ず、第3図に示すように、ディスク入出口2に対応
して設けられる突き上げ軸20を、同図中矢印Dで示すデ
ィスク入出口2に向かう方向に突出させ、前記回動アー
ム17上に載置される受皿18を上方に移動させて当該受皿
18の周縁部を上記ディスク入出口2の開口周縁部に圧接
支持させる。
First, as shown in FIG. 3, a push-up shaft 20 provided corresponding to the disk inlet / outlet 2 is made to protrude in a direction toward the disk inlet / outlet 2 indicated by an arrow D in FIG. The tray 18 to be placed is moved upward to
The periphery of the disk 18 is pressed against the periphery of the opening of the disk inlet / outlet 2.

すると、上記ディスク入出口2は、上記受皿18によっ
て閉塞される。またこのとき、上記受皿18の周縁部には
密閉部材18bが設けられているので、前記真空槽1内部
と外部がシールされ、当該真空槽1内への大気の侵入が
防止される。
Then, the disk entrance 2 is closed by the tray 18. At this time, since the sealing member 18b is provided at the peripheral edge of the receiving tray 18, the inside and the outside of the vacuum chamber 1 are sealed, and the invasion of the atmosphere into the vacuum chamber 1 is prevented.

そして、上記蓋体4を上下動させる支軸11を同図中矢
印Eで示す方向に突出させて上記蓋体4を真空槽1より
離間させ、前記受皿18の上面を上記ディスク入出口2を
通して上方に臨ませる。
Then, a support shaft 11 for vertically moving the lid 4 is protruded in a direction indicated by an arrow E in FIG. Face up.

次いで、上記蓋体4の両面に設けられた各吸着パッド
7a,8aにスパッタリング処理前のディスク基板D1,D2
それぞれ吸着させる。
Next, the suction pads provided on both sides of the lid 4
Disk substrates D 1 and D 2 before the sputtering process are respectively adsorbed to 7a and 8a.

そして、前記支軸11を第4図中矢印Fで示す真空槽1
の底部へ没入させて上記蓋体4をディスク入出口2側に
下降させ、当該蓋体4に設けられる一方の閉塞面4aでデ
ィスク入出口2を閉塞する。
Then, the support shaft 11 is indicated by an arrow F in FIG.
The lid 4 is lowered to the disk inlet / outlet 2 side by being immersed in the bottom of the disk, and the disk inlet / outlet 2 is closed by one of the closing surfaces 4 a provided on the lid 4.

この結果、上記真空槽1内部と外部とがシールされ
る。なお、図面上は蓋体4に設けられる密閉部材5のみ
によりシールがされているように誇張して描かれている
が、実際には上記閉塞面4aとディスク入出口2の開口周
縁部とが密着する。
As a result, the inside and the outside of the vacuum chamber 1 are sealed. Although the drawing is exaggerated so as to be sealed only by the sealing member 5 provided on the lid 4, the closing surface 4 a and the peripheral edge of the opening of the disk entrance 2 are actually exaggerated. In close contact.

そしてこの状態のときに、上記蓋体4の一方の閉塞面
4a側に吸着されているディスク基板D1を上記受皿18上
に載置させる。
In this state, one closed surface of the lid 4
The disk substrate D 1 which is adsorbed to 4a side is placed on the receiving tray 18.

なおこのとき、上記ディスク基板D1は、受皿18の略
中央部に設けられる突起18aにより位置決めされる。
At this time, the disc substrate D 1 is positioned by the projection 18a provided at a substantially central portion of the receiving tray 18.

次に、第5図に示すように、上記蓋体4でディスク入
出口2を閉蓋した状態で真空ポンプを作動させ、前記デ
ィスク入出口2の開閉操作で損なわれた真空度を回復さ
せる。同時に、前記突き上げ軸20を、同図中矢印Gで示
すように、真空ポンプ等が設けられる側に没入させて前
記受皿18を下方に移動せしめ、当該受皿18を上記回動ア
ーム17の凹部17aに載置させる。
Next, as shown in FIG. 5, a vacuum pump is operated in a state where the disk inlet / outlet 2 is closed by the lid 4, and the degree of vacuum damaged by the opening / closing operation of the disk inlet / outlet 2 is restored. At the same time, as shown by the arrow G in the figure, the push-up shaft 20 is immersed in the side where the vacuum pump or the like is provided, and the tray 18 is moved downward. To be placed.

このとき、本例の真空槽1においては、回動アーム17
が1本であることから、排気に際し邪魔になるものがな
く瞬時に所定の真空度とすることができる。例えば、そ
の時間は僅か1秒足らずである。
At this time, in the vacuum chamber 1 of this example, the rotating arm 17
Is a single line, so that there is no obstacle in evacuation and a predetermined degree of vacuum can be instantaneously achieved. For example, the time is less than one second.

上記受皿18が上記回動アーム17の先端側に載置された
ならば、回動アーム17を、第2図中矢印L2で示すスパ
ッタリング処理部3へ回動させ、第6図に示すように、
上記受皿18に載置されたディスク基板D1を上記ディス
ク処理口14の下方に位置させる。
When the tray 18 is placed on the tip side of the rotating arm 17, the rotating arm 17 is rotated to the sputtering unit 3 indicated by an arrow L2 in FIG. 2 , and as shown in FIG. To
The disk substrate D 1 placed on the tray 18 is positioned below the disk processing port 14.

上記受皿18が位置決めされたならば、第7図に示すよ
うに、この受皿18の下方に設けられる突き上げ軸19を、
同図中矢印Hで示すディスク処理口14側へ突出させ、該
受皿18の周縁部を上記ディスク処理口14の開口周縁部に
圧接支持させる。
Once the tray 18 is positioned, as shown in FIG. 7, the push-up shaft 19 provided below the tray 18 is
In the figure, the tray 18 is protruded toward the disc processing port 14 indicated by an arrow H, and the peripheral edge of the tray 18 is pressed against and supported by the peripheral edge of the opening of the disc processing port 14.

この結果、上記ディスク処理口14が上記受皿18によっ
て閉塞される。そしてこの状態でディスク基板D1に対
するスパッタリング処理を開始する。
As a result, the disk processing port 14 is closed by the tray 18. Then start the sputtering process on the disk substrate D 1 in this state.

スパッタリング処理が終了したならば、第8図に示す
ように、上記突き上げ軸19を、同図中矢印Iで示すよう
に、真空ポンプ等が設けられる側に没入させ、前記ディ
スク基板D1が載置された受皿18を回動アーム17上に載
置させる。
If sputtering process is completed, as shown in FIG. 8, the push-up shaft 19, as shown in the figure arrows I, immerses the side where the vacuum pump or the like is provided, the disk substrate D 1 is the placement The placed tray 18 is placed on the rotating arm 17.

上記ディスク基板D1が回動アーム17上に載置された
ならば、該回動アーム17を第2図中矢印L1で示すディ
スク入出口2方向へ回動させ、第9図に示すように、ア
ルミニウムよりなる薄膜が形成されたディスク基板D1
を載置した受皿18を上記ディスク入出口2の下方に位置
させる。
If the disc substrate D 1 is placed on the rotating arm 17, the the pivoting arm 17 is rotated to the disk inlet and outlet 2 the direction indicated by the second arrow in the figure L 1, as shown in FIG. 9 A disk substrate D 1 on which a thin film made of aluminum is formed
Is placed below the disk entrance 2.

上記受皿18が所定の位置に位置決めされたならば、第
10図に示すように、上記突き上げ軸20を同図中矢印Jで
示すように、ディスク入出口2側に突出させて上記受皿
18を上方に移動せしめ、当該受皿18によって上記ディス
ク入出口2を閉塞する。
If the pan 18 is positioned at a predetermined position,
As shown in FIG. 10, the push-up shaft 20 is projected toward the disc inlet / outlet 2 side as indicated by an arrow J in FIG.
The disk 18 is moved upward, and the disc inlet / outlet 2 is closed by the tray 18.

そして、上記ディスク入出口2を閉塞していた蓋体4
に設けられる吸着パッド7aで上記スパッタリング処理さ
れたディスク基板D1を吸着する。
The lid 4 closing the disk entrance 2
Adsorbing the disk substrate D 1 which is the sputtering treatment with suction pads 7a provided.

次いで、上記蓋体4を上下動自在に支持する支軸11を
第11図中矢印Kで示すように突出させて該蓋体4を上記
真空槽1より離間させるとともに、この支軸11を上昇さ
せる間に、上記蓋体4を同図中矢印Lで示すように表裏
反転し、前記ディスク入出口2に対向する閉塞面4bを切
り換える。すなわち、スパッタリング処理前のディスク
基板D2をディスク入出口2と対向させ、スパッタリン
グ処理後のディスク基板D1をこれと反対側に反転させ
る。
Next, a support shaft 11 for supporting the lid 4 so as to be vertically movable is protruded as shown by an arrow K in FIG. 11 to separate the cover 4 from the vacuum tank 1 and raise the support shaft 11. During this operation, the cover 4 is turned upside down as shown by the arrow L in the figure, and the closing surface 4b facing the disk entrance 2 is switched. That is, the disk substrates D 2 prior to sputtering to face the disk inlet and outlet 2, to reverse the disk substrate D 1 of the post-sputtering on the opposite side thereto.

次に、前述したように前記支軸11を第4図に示すよう
に真空槽1側に没入させ、前記蓋体4にてディスク入出
口2を閉塞する。そして、上記新たなディスク基板D2
に対して前述した工程を順次経てスパッタリングを行
う。
Next, as described above, the support shaft 11 is immersed in the vacuum chamber 1 as shown in FIG. 4, and the disk inlet / outlet 2 is closed by the lid 4. Then, the new disk substrate D 2
Is performed sequentially through the above-described steps.

このとき、新たなディスク基板D2がスパッタリング
されている間に、ディスク入出口2と反対側の閉塞面4a
に吸着されているスパッタリング処理後のディスク基板
1を取り出すとともに、次なる新たなディスク基板を
上記閉塞面4aに設けられる吸着パッド7aに吸着させる。
この操作は、スパッタリング処理の間に行うことができ
るため、時間的に余裕がある。したがって、スパッタリ
ング処理を自動化する上で非常に有利である。
At this time, while the new disk substrate D 2 is being sputtered, the closing surface 4 a opposite to the disk entrance 2
It takes out the disk substrate D 1 of the post-sputtering process being adsorbed on to adsorb a new disk substrate next to the suction pads 7a provided on the closing surface 4a.
Since this operation can be performed during the sputtering process, there is a margin in time. Therefore, it is very advantageous in automating the sputtering process.

このように、本実施例の光ディスク製造装置を用いて
光ディスクを製造すれば、スパッタリング処理後のディ
スク基板とスパッタリング処理前のディスク基板の真空
槽1内への出し入れが瞬時に行われ、大幅な生産性の向
上が期待できる。例えば、本装置で光ディスクを製造す
るに要する時間は6秒程度であるが、このうちディスク
基板の真空槽1内への出し入れは、わずか0.5秒で完了
する。したがって、大幅な時間の短縮が望めるとととも
に、残りの5.5秒で別の処理を十分余裕を持って行うこ
とができる。
As described above, when an optical disk is manufactured using the optical disk manufacturing apparatus of the present embodiment, the disk substrate after the sputtering process and the disk substrate before the sputtering process can be instantaneously put into and taken out of the vacuum chamber 1, resulting in significant production. The improvement of the property can be expected. For example, the time required to manufacture an optical disk with the present apparatus is about 6 seconds, and taking the disk substrate in and out of the vacuum chamber 1 is completed in only 0.5 seconds. Therefore, a significant reduction in time can be expected, and another process can be performed with a sufficient margin in the remaining 5.5 seconds.

以上、本発明を適用した光ディスク製造装置において
は、被スパッタリング処理部材を保持する蓋体4を閉塞
面4a,4bが2つ備わる二面体としているが、例えばこれ
は二面体に限らず、三面体、四面体、五面体あるいはそ
れ以上の多面体とすることも可能である。
As described above, in the optical disk manufacturing apparatus to which the present invention is applied, the lid 4 for holding the member to be sputtered is a dihedron having two closed surfaces 4a and 4b. For example, this is not limited to the dihedron but may be a trihedron. , Tetrahedron, pentahedron or more polyhedrons are also possible.

H.発明の効果 以上の説明からも明らかなように、本発明に係るスパ
ッタリング装置においては、被スパッタリング処理部材
が出し入れされる供給口を閉蓋する蓋体に当該被スパッ
タリング処理部材を保持する保持手段が設けられた複数
の閉塞面が設けられているので、各閉塞面の保持手段に
は被スパッタリング処理部材をそれぞれ保持させること
ができる。
H. Effects of the Invention As is clear from the above description, in the sputtering apparatus according to the present invention, the holding that holds the target member to be sputtered on the lid that closes the supply port through which the target member to be sputtered is taken in and out. Since a plurality of closed surfaces provided with the means are provided, the members to be sputtered can be respectively held by the holding means of each closed surface.

また、本発明に係るスパッタリング装置においては、
上記蓋体が上記供給口に対して上下動自在とされるとと
もに、該蓋体の回動操作により上記供給口と対向する閉
塞面が切り換えられるようになされているので、該蓋体
の一方の閉塞面側に設けられる保持手段でスパッタリン
グ処理後の被スパッタリング処理部材を真空槽より取り
出すと同時に、他方の閉塞面側に保持されるスパッタリ
ング処理前の被スパッタリング処理部材を上記供給口に
対向して設けることができる。
Further, in the sputtering apparatus according to the present invention,
The lid is vertically movable with respect to the supply port, and the closing surface facing the supply port can be switched by rotating the lid, so that one of the lids At the same time that the member to be sputtered after the sputtering process is taken out of the vacuum chamber by the holding means provided on the closed surface side, the member to be sputtered before the sputtering process held on the other closed surface side is opposed to the supply port. Can be provided.

このように、本発明に係るスパッタリング装置は、被
スパッタリング部材を保持する保持手段を設けた複数の
閉塞面を有する蓋体を真空槽の供給口を閉塞した位置と
この供給口を開放する上昇位置との間に亘って移動操作
するときに、この蓋体が回動操作されることにより供給
口に対向する閉塞面の切り換えが行われることによって
真空槽に供給される被スパッタリング部材の入れ換えが
行われるので、被スパッタリング部材の真空槽への入れ
換え時間を短縮し、スパッタリングの処理時間の短縮を
図り生産性の向上を図ることができる。
As described above, the sputtering apparatus according to the present invention is configured such that a lid having a plurality of closed surfaces provided with holding means for holding a member to be sputtered is provided at a position where the supply port of the vacuum chamber is closed and a position where the supply port is opened. When the lid is rotated, the closed surface facing the supply port is switched by rotating the lid, whereby the member to be sputtered supplied to the vacuum chamber is exchanged. Therefore, the time for replacing the member to be sputtered with the vacuum chamber can be reduced, the processing time for sputtering can be reduced, and the productivity can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本実施例の光ディスク製造装置の真空槽を示す
縦断面図であり、第2図はその真空槽の横断面図であ
る。 第3図ないし第11図は本実施例の光ディスク製造装置に
よりスパッタリング処理を行う手順を順次示す真空槽の
縦断面図であり、第3図は受皿でディスク入出口を閉塞
した状態を示し、第4図はディスク基板を投入する状態
を示し、第5図はディスク基板の投入の完了状態を示
し、第6図はディスク基板のスパッタリング処理部への
搬送が完了した状態を示し、第7図はディスク基板のス
パッタリング処理中の状態を示し、第8図はスパッタリ
ング処理の完了時の状態を示し、第9図はディスク基板
のディスク入出口への搬送が完了した状態を示し、第10
図はディスク基板を取出す状態を示し、第11図は蓋体の
閉塞面を切り換える状態を示す。 第12図は従来のスパッタリング装置の一例を示す縦断面
図である。 1……真空槽 2……ディスク入出口 3……スパッタリング処理部 4……蓋体 4a,4b……閉塞面 10……回転軸 11……支軸 17……回動アーム 18……受皿 19,20……突き上げ軸
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a vacuum chamber of the optical disk manufacturing apparatus of the present embodiment, and FIG. 2 is a transverse sectional view of the vacuum chamber. 3 to 11 are longitudinal sectional views of a vacuum chamber sequentially showing a procedure for performing a sputtering process by the optical disk manufacturing apparatus of the present embodiment. FIG. 3 shows a state in which the disk entrance and exit are closed by a receiving tray. 4 shows a state in which the disk substrate is loaded, FIG. 5 shows a state in which the disk substrate has been loaded, FIG. 6 shows a state in which the disk substrate has been transported to the sputtering section, and FIG. FIG. 8 shows a state in which the disk substrate is being sputtered, FIG. 8 shows a state in which the sputtering process is completed, FIG. 9 shows a state in which the disk substrate has been conveyed to the disk entrance and exit, and FIG.
The figure shows a state in which the disk substrate is taken out, and FIG. 11 shows a state in which the closing surface of the lid is switched. FIG. 12 is a longitudinal sectional view showing an example of a conventional sputtering apparatus. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Vacuum tank 2 ... Disc entrance / exit 3 ... Sputtering processing part 4 ... Lid 4a, 4b ... Closed surface 10 ... Rotating shaft 11 ... Support shaft 17 ... Rotating arm 18 ... Receiving tray 19 , 20 …… Push-up axis

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C23C 14/00 - 14/58 G11B 7/26 H01L 21/31 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) C23C 14/00-14/58 G11B 7/26 H01L 21/31

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】被スパッタリング処理部材が出し入れされ
る供給口と上記被スパッタリング処理部材に対してスパ
ッタリングを行うスパッタリング処理部とを有してなる
真空槽と、 上記被スパッタリング処理部材を保持する保持手段が設
けられた複数の閉塞面を有し、これら閉塞面のうちの何
れかの面で上記供給口を閉塞する位置と上記供給口を開
放する上昇位置との間に亘って上下動可能に支持される
とともに、上記供給口に対向する閉塞面を切り換え可能
に回動可能に支持された蓋体と、 上記真空槽内に配設され上記被スパッタリング処理部材
を上記供給口と上記スパッタリング処理部との間で移送
する移送手段とを備え、 上記蓋体は、上記供給口を閉塞した位置と上記供給口を
開放する上昇位置との間に亘って移動操作されるときに
回動操作されることにより、上記供給口に対向する閉塞
面が切り換えることによって上記真空槽に供給される被
スパッタリング部材の入れ換えを行ってなるスパッタリ
ング装置。
1. A vacuum chamber having a supply port through which a member to be sputtered is put in and out, and a sputtering part for performing sputtering on the member to be sputtered, and holding means for holding the member to be sputtered. Is provided, and is vertically movably supported between a position for closing the supply port and an ascending position for opening the supply port on any one of the closed surfaces. And a lid body rotatably supported so as to be able to switch a closed surface facing the supply port, and the member to be sputtered disposed in the vacuum chamber and supplying the sputtered member with the supply port and the sputtering processing section. Transfer means for transferring between the cover and the cover when the cover is moved between a position where the supply port is closed and an ascending position where the supply port is opened. By being operated, replacement sputtering apparatus comprising performing of the sputtering members supplied to the vacuum chamber by closing surface is switched opposite to the supply port.
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