JP3100174B2 - Method of extracting test Dp channel data - Google Patents
Method of extracting test Dp channel dataInfo
- Publication number
- JP3100174B2 JP3100174B2 JP03051862A JP5186291A JP3100174B2 JP 3100174 B2 JP3100174 B2 JP 3100174B2 JP 03051862 A JP03051862 A JP 03051862A JP 5186291 A JP5186291 A JP 5186291A JP 3100174 B2 JP3100174 B2 JP 3100174B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- channel
- data
- test
- channel data
- time slot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は試験用Ｄｐチャネルデー
タの取り出し方法に係わり、特にＤｐチャネルの試験時
に指定されたＤｐチャネルデータを容易に取り出せるＤ
ｐチャネルデータの取り出し方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for extracting Dp channel data for a test, and more particularly to a method for easily extracting Dp channel data designated at the time of a Dp channel test.
The present invention relates to a method for extracting p-channel data.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来のＩＳＤＮ一次群インタフェ−ス
（ＰＲＩ）専用線を収容する装置、例えばＰＲＩ専用線
トランク装置においては、送信フレ−ムの第２４番目の
タイムスロットにＤｐチャネルを固定し、該Ｄｐチャネ
ルに制御データ（Ｄｐチャネルデータ）を多重化して送
信する。2. Description of the Related Art In a conventional device for accommodating a dedicated line of an ISDN primary rate interface (PRI), for example, a PRI dedicated line trunk device, a Dp channel is fixed to the 24th time slot of a transmission frame. Control data (Dp channel data) is multiplexed on the Dp channel and transmitted.
【０００３】このため、ＰＲＩ専用線装置の送信部にプ
ロトコルアナライザ等の試験装置を接続し、Ｄｐチャネ
ルデータの内容やプロトコル上のシ−ケンスの解析を行
う場合、試験装置は送信部出力から第２４番目のタイム
スロットのデータを取り出すことにより容易にＤｐチャ
ンネルデータを得ることができる。For this reason, when a test device such as a protocol analyzer is connected to the transmission unit of the PRI dedicated line device and the contents of the Dp channel data and the sequence on the protocol are analyzed, the test device outputs the data from the output of the transmission unit. By extracting data of the 24th time slot, Dp channel data can be easily obtained.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】最近、送信フレ−ムを
構成する２４タイムスロットの内、任意の複数のタイム
スロットにそれぞれＤｐチャネルデータを多重化して送
信するサ−ビスが可能になっている。Recently, it has become possible to provide a service for multiplexing and transmitting Dp channel data to arbitrary plural time slots among 24 time slots constituting a transmission frame. .
【０００５】しかし、かかる機能を備えたＰＲＩ専用線
装置においてはＤｐチャネルの位置が任意であるため、
２４番目のデータをＤｐチャネルデータとして取り出す
従来の試験装置を利用できない問題がある。However, in a PRI dedicated line device having such a function, the position of the Dp channel is arbitrary.
There is a problem that a conventional test apparatus that extracts the 24th data as Dp channel data cannot be used.
【０００６】以上から本発明の目的は、Ｄｐチャネル固
定用の試験装置であっても、任意のタイムスロットのＤ
Ｐｐチャネルデータを取り出すことができるＤｐチャネ
ルデータ取り出し方法を提供することである。[0006] From the above, it is an object of the present invention to provide a test apparatus for fixing a Dp channel, in which D
An object of the present invention is to provide a Dp channel data extracting method capable of extracting Pp channel data.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理図で
ある。１１はＩＳＤＮ一次群インタフェ−ス専用線装置
における送信Ｂチャネルデータ発生部、１２は複数のＤ
ｐチャネルデータＤｐ０〜Ｄｐ７を発生する送信Ｄｐチ
ャネルデータ発生部、１３はどのＤｐチャネルをどのタ
イムスロットに割り付けるかを示す割り付けデータＣＡ
Ｄと試験するＤｐチャネルを特定する試験チャネル特定
データＴＣＤを設定する設定部、１４は割り付けデータ
に基づいて所定のタイムスロットで所定のＤｐチャンネ
ルデータを出力するＤｐチャネル割り付け部、１５は送
信ＢチャネルデータとＤｐチャネル割り付け部１４から
出力されるＤｐチャネルデータを合成して所定タイムス
ロットに所定のＤｐチャネルデータを多重するＤｐチャ
ネルデータ多重化部、１６は予め定められたタイムスロ
ット（例えば第２４タイムスロット）において、試験す
るＤｐチャネルデータを発生する試験用Ｄｐチャネルデ
ータ発生部、１７はＤｐチャネルデータ多重化部１５か
ら発生する送信フレ−ムデータＦＬＤと試験用Ｄｐチャ
ネルデータ発生部１６から発生する試験Ｄｐチャネルデ
ータを合成して、予め定められたタイムスロット（第２
４タイムスロット）に試験用Ｄｐチャネルデータを多重
化する試験用Ｄｐチャネルデータ多重化部、１８は回線
にデータを送り出す送信部、１９は試験装置である。FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention. 11 is a transmission B channel data generation unit in the ISDN primary line interface dedicated line device, and 12 is a plurality of D
The transmission Dp channel data generator 13 for generating the p channel data Dp0 to Dp7 has allocation data CA indicating which Dp channel is allocated to which time slot.
A setting unit for setting test channel specifying data TCD for specifying D and a Dp channel to be tested; 14 a Dp channel allocating unit for outputting predetermined Dp channel data in a predetermined time slot based on allocation data; 15 a transmission B channel A Dp channel data multiplexing unit that combines the data with the Dp channel data output from the Dp channel allocating unit 14 and multiplexes the predetermined Dp channel data in a predetermined time slot. A test Dp channel data generator 17 for generating Dp channel data to be tested in the slot), a transmission frame data FLD generated from the Dp channel data multiplexer 15 and a test generated from the test Dp channel data generator 16. By combining the Dp channel data, Because a defined time slot (second
A test Dp channel data multiplexing unit for multiplexing test Dp channel data in four time slots), a transmitting unit 18 for transmitting data to a line, and a testing device 19.
【０００８】[0008]
【作用】Ｄｐチャネル割り付け部１４は、設定部１３か
らの割り付けデータＣＡＤに基づいて、指定タイムスロ
ット（Ｔ３，Ｔ５，Ｔ２１，Ｔ２４）で指定Ｄｐチャン
ネル（Ｄｐ０，Ｄｐ１，Ｄｐ６，Ｄｐ７）のデータを出
力し、Ｄｐチャネルデータ多重化部１５は送信Ｂチャネ
ルデータとＤｐチャネル割り付け部１４から出力される
Ｄｐチャネルデータを合成して指定タイムスロット（Ｔ
３，Ｔ５，Ｔ２１，Ｔ２４）にＤｐチャネルデータ（Ｄ
ｐ０′，Ｄｐ１′，Ｄｐ６′，Ｄｐ７′）を多重する。
試験用Ｄｐチャネルデータ発生部１６は、設定部１３か
ら入力される試験チャネル特定データＴＣＤに基づい
て、予め定められたタイムスロット（第２４タイムスロ
ット）において試験Ｄｐチャネルデータ（Ｄｐ０′）を
出力し、試験用Ｄｐチャネルデータ多重化部１７は送信
フレ−ムデータＦＬＤの予め定められたタイムスロット
（第２４タイムスロット）に試験Ｄｐチャネルデータ
（Ｄｐ０′）を多重化して送信部１８より出力し、試験
装置１９は第２４タイムスロットよりデータを取り出し
て試験用Ｄｐチャネルデータ（Ｄｐ０′）とする。The Dp channel allocating section 14 converts the data of the specified Dp channel (Dp0, Dp1, Dp6, Dp7) in the specified time slot (T3, T5, T21, T24) based on the allocation data CAD from the setting section 13. The Dp channel data multiplexing section 15 combines the transmission B channel data and the Dp channel data output from the Dp channel allocating section 14 to specify a designated time slot (T
3, T5, T21, T24) with Dp channel data (D
p0 ', Dp1', Dp6 ', Dp7').
The test Dp channel data generator 16 outputs test Dp channel data (Dp0 ') in a predetermined time slot (24th time slot) based on the test channel identification data TCD input from the setting unit 13. The test Dp channel data multiplexing unit 17 multiplexes the test Dp channel data (Dp0 ') in a predetermined time slot (24th time slot) of the transmission frame data FLD, outputs the multiplexed data from the transmission unit 18, and The device 19 extracts data from the 24th time slot and sets it as test Dp channel data (Dp0 ').
【０００９】このように、試験時、試験装置がＤｐチャ
ネルデータを取り出せるタイムスロットに、試験すべき
Ｄｐチャネルデータを多重化するようにしたから、任意
のタイムスロットのＤｐチャネルデータを取り出して試
験することができる。As described above, at the time of the test, since the Dp channel data to be tested is multiplexed into the time slot from which the test apparatus can take out the Dp channel data, the Dp channel data of an arbitrary time slot is taken out and tested. be able to.
【００１０】[0010]
【実施例】全体の構成 図２は本発明に係わるＩＳＤＮ一時群インタフェ−ス専
用線装置の構成図であり、図１と同一部分には同一符号
を付している。図中、１１は音声等のＢチャネルデータ
を発生する送信Ｂチャネルデータ発生部、１２は複数の
ＤｐチャネルＤｐ０〜Ｄｐ７のデータをそれぞれ６４Ｋ
ｂｐｓで発生する送信Ｄｐチャネルデータ発生部、１３
はＤｐチャネルをどのタイムスロットに割り付けるかを
示す割り付けデータＣＡＤと試験するＤｐチャネルを特
定する試験チャネル特定データＴＣＤを設定するマイコ
ン等の設定部で、これらデータはマイコンによりソフト
的に設定される。FIG. 2 is a block diagram of an ISDN temporary group interface dedicated line device according to the present invention, and the same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. In the figure, reference numeral 11 denotes a transmission B-channel data generation unit for generating B-channel data such as voice, and 12 denotes data of a plurality of Dp channels Dp0 to Dp7 each of 64K.
transmission Dp channel data generation unit that generates at bps, 13
Is a setting unit such as a microcomputer that sets allocation data CAD indicating which time slot the Dp channel is to be allocated and test channel specifying data TCD that specifies the Dp channel to be tested. These data are set by the microcomputer in software.
【００１１】１４は割り付けデータＣＡＤに基づいて所
定のタイムスロットで所定のＤｐチャンネルデータを出
力するＤｐチャネル割り付け部であり、タイムスロット
とＤｐチャネルの対応を記憶するＤｐチャネル割り付け
レジスタ１４ａと、タイミング発生部１４ｂと、指定さ
れたタイムスロットにおいて、指定されたＤｐチャネル
データを出力するセレクタ１４ｃを備えている。Reference numeral 14 denotes a Dp channel allocating unit which outputs predetermined Dp channel data in predetermined time slots based on the allocation data CAD, a Dp channel allocation register 14a for storing the correspondence between the time slots and the Dp channels, and a timing generator 14a. A section 14b and a selector 14c for outputting designated Dp channel data in a designated time slot.
【００１２】タイミング発生部１４ｂは、割り付けデー
タＣＡＤにより指定されたＤｐチャネルを特定するため
の３ビットのＤｐチャネル選択信号ＣＳＬを順次出力す
ると共に、指定されたタイムスロットでハイレベルとな
るタイミング信号ＣＴＳと第２４タイムスロットでハイ
レベルとなるタイムスロット信号ＴＳ２４を出力する。
セレクタ１４ｃは、３ビットのＤｐチャネル選択信号Ｃ
ＳＬが指示するＤｐチャネルデータを選択出力する。The timing generator 14b sequentially outputs a 3-bit Dp channel selection signal CSL for specifying the Dp channel specified by the allocation data CAD, and outputs a high-level timing signal CTS in the specified time slot. And a time slot signal TS24 which becomes a high level in the 24th time slot.
The selector 14c outputs a 3-bit Dp channel selection signal C
Selectively outputs Dp channel data specified by SL.
【００１３】１５はセレクタで構成されたＤｐチャネル
データ多重化部であり、送信Ｂチャネルデータ発生部１
１から出力される送信ＢチャネルデータとＤｐチャネル
割り付け部１４から出力されるＤｐチャネルデータを合
成して所定タイムスロットに所定のＤｐチャネルデータ
を多重する。すなわち、タイミング信号ＣＴＳがロ−レ
ベルのタイムスロットでは送信Ｂチャネルデータを出力
し、タイミング信号ＣＴＳがハイレベルのタイムスロッ
トではＤｐチャネルデータを出力する。Reference numeral 15 denotes a Dp channel data multiplexing unit composed of a selector, and a transmission B channel data generating unit 1
1 and the Dp channel data output from the Dp channel allocating unit 14, and multiplexes predetermined Dp channel data in a predetermined time slot. That is, in the time slot in which the timing signal CTS is at a low level, transmission B channel data is output, and in the time slot in which the timing signal CTS is at a high level, Dp channel data is output.
【００１４】１６は試験用Ｄｐチャネルデータ発生部で
あり、試験チャネル特定データＴＣＤにより特定された
試験用Ｄｐチャネルを記憶するモニタレジスタ１６ａ
と、試験用Ｄｐチャネルに応じたＤｐチャネルデータを
出力するセレクタ１６ｂを有している。モニタレジスタ
１６ａは、３ビットの試験用Ｄｐチャネル選択信号ＴＣ
Ｓを出力すると共に、Ｄｐチャネル試験時にハイレベル
となる試験信号ＴＥＳＴを出力する。Reference numeral 16 denotes a test Dp channel data generator, which is a monitor register 16a for storing the test Dp channel specified by the test channel specifying data TCD.
And a selector 16b for outputting Dp channel data corresponding to the test Dp channel. The monitor register 16a has a 3-bit test Dp channel selection signal TC.
In addition to outputting S, a test signal TEST which becomes a high level during a Dp channel test is output.
【００１５】１７は試験用Ｄｐチャネルデータ多重化部
であり、Ｄｐチャネルデータ多重化部１５から発生する
送信フレ−ムデータＦＬＤと試験用Ｄｐチャネルデータ
発生部１６から発生する試験用Ｄｐチャネルデータを合
成して、予め定められたタイムスロット（第２４タイム
スロット）に該試験用Ｄｐチャネルデータを多重化す
る。この試験用Ｄｐチャネルデータ多重化部１７は、試
験時に第２４タイムスロットにおいてハイレベルとなる
セレクト信号ＳＬを出力するアンドゲ−ト１７ａと、セ
レクト信号ＳＬがロ−レベルの時、Ｄｐチャネルデータ
多重化部１５から発生する送信フレ−ムデータＦＬＤを
出力し、セレクト信号ＳＬがハイレベルの時、試験用Ｄ
ｐチャネルデータ発生部１６から発生する試験用Ｄｐチ
ャネルデータを出力する。Reference numeral 17 denotes a test Dp channel data multiplexing unit which combines the transmission frame data FLD generated from the Dp channel data multiplexing unit 15 and the test Dp channel data generated from the test Dp channel data generating unit 16. Then, the test Dp channel data is multiplexed in a predetermined time slot (24th time slot). The test Dp channel data multiplexing unit 17 outputs an AND gate 17a that outputs a select signal SL that goes high in the 24th time slot during a test, and a Dp channel data multiplexing unit that outputs the select signal SL when it is low. The transmission frame data FLD generated from the section 15 is output, and when the select signal SL is at a high level, the test D
The test Dp channel data generated from the p-channel data generator 16 is output.
【００１６】１８は回線にデータを送り出す送信部、１
９は第２４タイムスロットから試験用Ｄｐチャネルデー
タを取り出しその内容やプロトコル上のシ−ケンスの解
析を行う試験装置である。Reference numeral 18 denotes a transmission unit for transmitting data to a line,
Reference numeral 9 denotes a test apparatus that extracts test Dp channel data from the 24th time slot and analyzes the contents and the sequence on the protocol.
【００１７】全体の動作 以下、試験用ＤｐチャネルがＤｐ０であり、試験装置１
９が第２４タイムスロットからＤｐチャネルデータを取
り出す場合について図２の全体の動作を説明する。尚、
第３、第５、第２１、第２４タイムスロット（Ｔ３，Ｔ
５，Ｔ２１，Ｔ２４）に、ＤｐチャネルＤｐ０，Ｄｐ
１，Ｄｐ６，Ｄｐ７がそれぞれ指定されるものとする。 Overall operation Hereinafter, the test Dp channel is Dp0, and the test apparatus 1
9 will be described with reference to FIG. 2 in which Dp channel data is extracted from the 24th time slot. still,
The third, fifth, twenty-first, and twenty-fourth time slots (T3, T
5, T21, T24), Dp channels Dp0, Dp
1, Dp6 and Dp7 are designated respectively.
【００１８】マイコン等の設定部１３によりソフト的に
図３(a)に示す割り付けデータＣＡＤをＤｐチャネル割
り付けレジスタ１４ａに設定すると共に、試験時、試験
用ＤｐチャネルとしてＤｐ０をモニタレジスタ１６ａに
設定する。The setting unit 13 such as a microcomputer sets the allocation data CAD shown in FIG. 3A in the Dp channel allocation register 14a by software, and sets Dp0 in the monitor register 16a as a test Dp channel during a test. .
【００１９】割り付けデータＣＡＤが図３(a)に示すよ
うに、Ｔ３ ，Ｄｐ０，Ｔ５ ，Ｄｐ１，Ｔ２１，Ｄｐ
６，Ｔ２４，Ｄｐ７）とすれば、タイミング発生部１４
ｂは、(1) 第３タイムスロットでＤｐチャネル選択信号
ＣＳＬを「０００」にし、(2) 第５タイムスロットでＤ
ｐチャネル選択信号ＣＳＬを「００１」にし、(3) 第２
１タイムスロットでＤｐチャネル選択信号ＣＳＬを「１
１０」にし、(4) 第２４タイムスロットでＤｐチャネル
選択信号ＣＳＬを「１１１」にする。As shown in FIG. 3 (a), the allocation data CAD is T3, Dp0, T5, Dp1, T21, Dp.
6, T24, Dp7), the timing generator 14
b, (1) the Dp channel selection signal CSL is set to “000” in the third time slot, and (2) Dp channel selection signal CSL is set in the fifth time slot.
Set the p-channel selection signal CSL to “001”, and (3) the second
In one time slot, the Dp channel selection signal CSL is set to “1”.
(4) The Dp channel selection signal CSL is set to "111" in the 24th time slot.
【００２０】又、タイミング発生部１４ｂは、(5) 第
３、第５、第２１、第２４タイムスロットでハイレベル
となるタイミング信号ＣＴＳを、第２４タイムスロット
でハイレベルとなるタイムスロット信号ＴＳ２４をそれ
ぞれ出力する。The timing generator 14b (5) converts the timing signal CTS which goes high in the third, fifth, twenty-first and twenty-fourth time slots into the time slot signal TS24 which goes high in the twenty-fourth time slot. Are output.
【００２１】セレクタ１４ｃは上記タイミングでＤｐチ
ャネル選択信号ＣＳＬが入力されると、(1) 第３タイム
スロットにおいてＤｐチャネルＤｐ０のデータを出力
し、(2) 第５タイムスロットにおいてＤｐチャネルＤｐ
１のデータを出力し、(3) 第２１タイムスロットにおい
てＤｐチャネルＤｐ６のデータを出力し、(4) 第２４タ
イムスロットにおいてＤｐチャネルＤｐ７のデータを出
力する。Ｄｐチャネルデータ多重化部１５は、タイミン
グ信号ＣＴＳがロ−レベルのタイムスロットでは送信Ｂ
チャネルデータを出力し、タイミング信号ＣＴＳがハイ
レベルのタイムスロットではＤｐチャネルデータを出力
する。従って、Ｄｐチャネルデータ多重化部１５から
は、図３(b)に示すように第３、第５、第２１、第２４
タイムスロット（Ｔ３，Ｔ５，Ｔ２１，Ｔ２４）に、Ｄ
ｐチャネルデータＤｐ０′，Ｄｐ１′，Ｄｐ６′，Ｄｐ
７′が多重された送信フレ−ムデータＦＬＤが出力され
る。When the Dp channel selection signal CSL is input at the above timing, the selector 14c (1) outputs data of the Dp channel Dp0 in the third time slot, and (2) outputs the Dp channel Dp0 in the fifth time slot.
1 is output, (3) data of the Dp channel Dp6 is output in the 21st time slot, and (4) data of the Dp channel Dp7 is output in the 24th time slot. The Dp channel data multiplexing unit 15 transmits the transmission signal B in the time slot where the timing signal CTS is low.
Channel data is output, and Dp channel data is output in a time slot in which the timing signal CTS is at a high level. Accordingly, the Dp channel data multiplexing unit 15 outputs the third, fifth, twenty-first, and twenty-fourth data as shown in FIG.
In the time slot (T3, T5, T21, T24), D
p channel data Dp0 ', Dp1', Dp6 ', Dp
The transmission frame data FLD multiplexed with 7 'is output.
【００２２】一方、モニタレジスタ１６ａは、設定され
たＤｐチャネルＤｐ０を特定する３ビットの試験用Ｄｐ
チャネル選択信号ＴＣＳを出力すると共に、ハイレベル
の試験信号ＴＥＳＴを出力する。On the other hand, the monitor register 16a stores a 3-bit test Dp for specifying the set Dp channel Dp0.
It outputs the channel selection signal TCS and the high-level test signal TEST.
【００２３】この結果、セレクタ１６ｂはＤｐチャネル
Ｄｐ０のＤｐチャネルデータ（Ｄｐ０′）を選択して出
力し、又試験用Ｄｐチャネルデータ多重化部１７のアン
ドゲ−ト１７ａは第２４タイムスロットでハイレベルと
なるセレクト信号ＳＬを出力する。As a result, the selector 16b selects and outputs the Dp channel data (Dp0 ') of the Dp channel Dp0, and the AND gate 17a of the test Dp channel data multiplexing unit 17 has the high level in the 24th time slot. Is output.
【００２４】セレクタ１７ｂは、セレクト信号ＳＬがロ
−レベルの時、Ｄｐチャネルデータ多重化部１５から発
生する送信フレ−ムデータＦＬＤを出力し、セレクト信
号ＳＬがハイレベルの時、試験用Ｄｐチャネルデータ発
生部１６のセレクタ１６ｂから発生する試験用Ｄｐチャ
ネルデータＤｐ０′を出力する。このため、Ｄｐチャネ
ルデータＤｐ０′は図３(c)に示すようにタイムスロッ
トＴ３に加えてタイムスロットＴ２４にも多重化されて
送信部１８に入力される。The selector 17b outputs the transmission frame data FLD generated from the Dp channel data multiplexing unit 15 when the select signal SL is at a low level, and outputs the test Dp channel data when the select signal SL is at a high level. The test Dp channel data Dp0 'generated from the selector 16b of the generator 16 is output. Therefore, the Dp channel data Dp0 'is multiplexed not only in the time slot T3 but also in the time slot T24 as shown in FIG.
【００２５】送信部１８から出力される送信フレ−ムデ
ータＦＬＤ′は試験装置１９に入力され、試験装置１９
は第２４タイムスロットよりデータを取り出し、該デー
タを試験用ＤｐチャネルデータＤｐ０′とみなして所定
の試験を行う。The transmission frame data FLD 'output from the transmission unit 18 is input to a test device 19,
Takes out data from the 24th time slot and performs a predetermined test by regarding the data as test Dp channel data Dp0 '.
【００２６】尚、以上では、試験装置が第２４タイムス
ロットからＤｐチャネルデータを取り出す場合について
説明したが、他のタイムスロットから取り出す場合にも
適用できることは勿論である。以上、本発明を実施例に
より説明したが、本発明は請求の範囲に記載した本発明
の主旨に従い種々の変形が可能であり、本発明はこれら
を排除するものではない。In the above description, the case where the test apparatus extracts the Dp channel data from the 24th time slot has been described. However, it is needless to say that the present invention can be applied to the case where the test apparatus extracts the Dp channel data from another time slot. As described above, the present invention has been described with reference to the embodiments. However, the present invention can be variously modified in accordance with the gist of the present invention described in the claims, and the present invention does not exclude these.
【００２７】[0027]
【発明の効果】以上本発明によれば、試験装置がＤｐチ
ャネルデータを取り出せるタイムスロットに、試験すべ
きＤｐチャネルデータを多重化するように構成したか
ら、任意のタイムスロットのＤｐチャネルデータを取り
出して試験することができる。As described above, according to the present invention, since the Dp channel data to be tested is multiplexed into the time slot from which the test apparatus can extract the Dp channel data, the Dp channel data of an arbitrary time slot is extracted. Can be tested.
【図１】本発明の原理図である。FIG. 1 is a principle diagram of the present invention.
【図２】本発明の一実施例構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention.
【図３】本発明のＤｐチャネルデータ取り出し制御の説
明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of Dp channel data extraction control of the present invention.
１１・・送信Ｄｐチャネルデータ発生部 １２・・送信Ｄｐチャネルデータ発生部 １３・・設定部 １４・・Ｄｐチャネル割り付け部 １５・・Ｄｐチャネルデータ多重化部 １６・・試験用Ｄｐチャネルデータ発生部 １７・・試験Ｄｐチャネルデータ多重化部 １８・・送信部 １９・・試験装置 11, transmission Dp channel data generation unit 12, transmission Dp channel data generation unit 13, setting unit 14, Dp channel allocation unit 15, Dp channel data multiplexing unit 16, test Dp channel data generation unit 17 ..Test Dp channel data multiplexing section 18.Transmission section 19.Test apparatus
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡部 吉伸 愛知県名古屋市中区錦一丁目19番24号 富士通名古屋通信システム株式会社内 (72)発明者 橋戸 茂幸 愛知県名古屋市中区錦一丁目19番24号 富士通名古屋通信システム株式会社内 (56)参考文献 特開 平６−132926（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−162147（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−104334（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−237693（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04J 3/14 H04Q 11/04 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Yoshinobu Okabe 1-19-24 Nishiki, Naka-ku, Nagoya City, Aichi Prefecture Inside Fujitsu Nagoya Communication Systems Co., Ltd. No. 19-24 Fujitsu Nagoya Communication System Co., Ltd. (56) Reference JP-A-6-132926 (JP, A) JP-A-3-162147 (JP, A) JP-A-3-104334 (JP, A) 63-237693 (JP, A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H04J 3/14 H04Q 11/04
Claims (1)
収容し、送信フレ−ムの複数のタイムスロットにＤｐチ
ャネルを指定して複数のＤｐチャネルデータを多重化し
て送信する装置の試験用Ｄｐチャネルデータ取り出し方
法において、 試験するＤｐチャネルが特定された時、該Ｄｐチャネル
のデータを前記タイムスロットに加えて予め定められた
タイムスロットに多重化して送信し、 試験装置は送信出力から前記予め定められているタイム
スロットに多重化されているＤｐチャネルデータを取り
出すことを特徴とする試験用Ｄｐチャネルデータ取り出
し方法。1. A test Dp channel for an apparatus which accommodates a dedicated line for an ISDN primary interface and designates a Dp channel in a plurality of time slots of a transmission frame to multiplex and transmit a plurality of Dp channel data. How to retrieve data
In the method , when a Dp channel to be tested is specified, data of the Dp channel is multiplexed and transmitted in a predetermined time slot in addition to the time slot, and a test apparatus transmits the data from the transmission output to the predetermined time slot. A test Dp channel data extracting method for extracting Dp channel data multiplexed in a time slot.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03051862A JP3100174B2 (en) | 1991-03-18 | 1991-03-18 | Method of extracting test Dp channel data |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03051862A JP3100174B2 (en) | 1991-03-18 | 1991-03-18 | Method of extracting test Dp channel data |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0795172A JPH0795172A (en) | 1995-04-07 |
| JP3100174B2 true JP3100174B2 (en) | 2000-10-16 |
Family
ID=12898682
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03051862A Expired - Fee Related JP3100174B2 (en) | 1991-03-18 | 1991-03-18 | Method of extracting test Dp channel data |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3100174B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113688080A (en) * | 2021-10-26 | 2021-11-23 | 长芯盛（武汉）科技有限公司 | DP signal transmission device and method for improving transmission link compatibility |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002040490A (en) | 2000-07-25 | 2002-02-06 | Fuji Xerox Co Ltd | Optical device, composition for optical device, and method for controlling stimulation responding polymer gel |
| JP4635586B2 (en) | 2004-12-02 | 2011-02-23 | 富士ゼロックス株式会社 | Optical material and optical element using the same |
-
1991
- 1991-03-18 JP JP03051862A patent/JP3100174B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113688080A (en) * | 2021-10-26 | 2021-11-23 | 长芯盛（武汉）科技有限公司 | DP signal transmission device and method for improving transmission link compatibility |
| CN113688080B (en) * | 2021-10-26 | 2022-01-21 | 长芯盛（武汉）科技有限公司 | DP signal transmission device and method for improving transmission link compatibility |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0795172A (en) | 1995-04-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4891805A (en) | Multiplexer with dynamic bandwidth allocation | |
| US3985962A (en) | Method of information transmission with priority scheme in a time-division multiplex communication system comprising a loop line | |
| EP0068595B1 (en) | A bit-interleaved time division multiplexer | |
| EP0218597B1 (en) | Frame arrangement for multiplexing a plurality of subchannels onto a fixed rate channel | |
| JPH0714162B2 (en) | Digital multi-customer data interface | |
| KR850700204A (en) | Data communication interface and its operation method | |
| CA1310437C (en) | Digital loop carrier system having programmable timeslot and bandwidth allocation circuit | |
| JP3100174B2 (en) | Method of extracting test Dp channel data | |
| US4639909A (en) | Digital signal distributor | |
| US5778008A (en) | Fault diagnosis method of television camera apparatus | |
| US5323383A (en) | Control information transmission apparatus for use in time division multiplex communication systems | |
| EP0180179A2 (en) | Arrangement for detecting bursts in a TDMA communications system | |
| JP2800710B2 (en) | Remote maintenance test method and system | |
| JP2868026B2 (en) | Multiplexer for asynchronous transfer mode and test apparatus therefor | |
| JP2856522B2 (en) | Time division multiplex transmission equipment | |
| JPH06252870A (en) | Data multiplexing transmission system | |
| JP2784089B2 (en) | Multiplexing operation diagnosis method | |
| JP3160694B2 (en) | Error detection method | |
| JP2937878B2 (en) | Terminal state monitoring apparatus and terminal state monitoring method for multi-way multiplex communication system | |
| JP2985181B2 (en) | Multiplex converter | |
| JPS63177246A (en) | Control equipment for high-speed data transfer | |
| JPH0653927A (en) | Dsi device | |
| KR100195056B1 (en) | Voice grade channel test device | |
| JP2001358734A (en) | Data transmission equipment | |
| JPS63227196A (en) | Signal converting system for time division multiplex signal |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000801 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |