JP3102472B2 - Ion implantation simulation method - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 33
- 238000004088 simulation Methods 0.000 title claims description 19
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 title claims description 16
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 97
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 27
- 238000004904 shortening Methods 0.000 claims description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001803 electron scattering Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造工程の
シミュレーション方法に関し、特にイオン注入シミュレ
ーション方法に関する。The present invention relates to a method for simulating a semiconductor manufacturing process, and more particularly to a method for simulating ion implantation.
【0002】[0002]
【従来の技術】モンテカルロイオン注入シミュレーショ
ン方法は、檀良著,“プロセス・デバイス・シミュレー
ション技術”,p60,1990年に記述されている。
その方法では、基板中で運動しているイオンが次に衝突
する原子(核)の種類と相対位置を乱数によって決定
し、図2に示されるインパクトパラメータPから散乱後
のイオンの進行方向と運動エネルギーを計算するもので
ある。また、電子の散乱によるエネルギーの損失は、L
SS理論等により計算する。LSS理論で計算する場合
は、電子散乱によるエネルギーは、イオンの移動距離と
速度に比例した量になる。2. Description of the Related Art A Monte Carlo ion implantation simulation method is described in Ryo Dan, "Process Device Simulation Technique", p60, 1990.
In this method, the type and relative position of the atom (nucleus) that the ion moving next in the substrate collides with are determined by random numbers, and the traveling direction and the motion of the ion after scattering are determined from the impact parameter P shown in FIG. It calculates energy. The energy loss due to electron scattering is L
It is calculated by SS theory or the like. When calculating by LSS theory, the energy due to electron scattering is an amount proportional to the moving distance and velocity of the ions.
【0003】上記のシミュレーション方法は、イオンが
次に衝突する原子(核)の位置を乱数で決定しているた
め、アモルファス基板に対する計算方法に相当する。結
晶構造を持つ基板に対するモンテカルロイオン注入シミ
ュレーション方法は、M.Posselt,“Comp
uter simulation of ion im
plantation into crystalli
ne targets”,Nuclear Instr
uments and Methods inPhys
ics Research B64(1992)pp7
06−710に記述されている。それによると、結晶構
造を持つ基板に対するイオン注入シミュレーションで
は、次にイオンが衝突する原子核を、基板中に存在する
結晶格子の中から探すことにより決定する必要がある
が、その方法としてまず、図3(a)に示すダイアモン
ド構造の単位格子(ユニットセル)を分割して図3
(b)、(c)の2つのタイプのセルに分類し、次にイ
オンが図3(b)、(c)の内のどちらのタイプのセル
内に存在しているかを判断し、存在しているタイプのセ
ルからイオンが次に衝突する原子核を探し出している。
M.Posselt等の文献では、イオンが原子に衝突
する時のインパクトパラメータの最大値Pmax を、単位
体積当たりの原子密度Nを用いてThe above-described simulation method corresponds to a calculation method for an amorphous substrate because the position of an atom (nucleus) to which ions collide next is determined by random numbers. A Monte Carlo ion implantation simulation method for a substrate having a crystal structure is described in M.S. Posselt, “Comp
outer simulation of ion im
plantation into crystalli
ne targets ”, Nuclear Instrument
Uments and Methods in Physs
ics Research B64 (1992) pp7
06-710. According to this, in ion implantation simulation for a substrate having a crystal structure, it is necessary to determine the nucleus to which ions will collide next by searching from the crystal lattice existing in the substrate. 3A is divided into unit cells (unit cells) having a diamond structure as shown in FIG.
The cells are classified into two types of cells, (b) and (c), and then it is determined which type of cell is present in FIGS. 3 (b) and (c). They are looking for the next nucleus that the ion will bombard from one type of cell.
M. In the literature of Posselt et al., The maximum value P max of the impact parameter when an ion collides with an atom is calculated using the atomic density N per unit volume.
【0004】πP2 max =N-2/3 (1)[0004] πP 2 max = N -2/3 (1 )
【0005】から求めているため、Pmax は原子1個が
占める体積と同程度の体積の球の半径となり、図3
(b)、(c)のセルの大きさより小さくなる。そのた
め、イオンが衝突する原子核を探す範囲は、図3
(b)、(c)のセルの持っている範囲でもよいことに
なる。しかし、Pmax を大きくとる方が現実の条件に近
くなり、計算精度が向上する。実際、文献によっては、
Pmax を格子定数に近い5オングストロームにしている
ものもある。そのようにした場合には、イオンと衝突す
る原子核を探す際に、探す対象をイオン(又はイオンに
一番近い原子)を中心とした半径がPmax 以上の球の内
部にある原子にする必要がある(図4)。[0005] Pmax is the radius of a sphere having the same volume as the volume occupied by one atom.
It becomes smaller than the cell size of (b) and (c). Therefore, the range of searching for the nucleus where the ions collide is as shown in FIG.
The range of the cells (b) and (c) may be used. However, increasing P max is closer to the actual condition, and the calculation accuracy is improved. In fact, depending on the literature,
In some cases, Pmax is set to 5 Å, which is close to the lattice constant. In such a case, when searching for a nucleus that collides with the ion, it is necessary to search for an atom inside the sphere having a radius of P max or more around the ion (or the atom closest to the ion). (FIG. 4).
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】問題点は、図4に示す
ように、衝突する原子核を探す際の対象となる原子の数
が多い場合に、探すための計算時間が多くなり、そのた
めイオン注入シミュレーションにかかる時間が多くなっ
てしまう。その理由は、次に衝突する原子核を探すため
には、対象となる全ての原子について衝突までの距離を
計算する必要があるためである。The problem is that, as shown in FIG. 4, when the number of atoms to be searched for colliding nuclei is large, the calculation time for the search becomes long, so that ion implantation is difficult. The time required for the simulation increases. The reason is that in order to find the next nucleus to collide with, it is necessary to calculate the distance to the collision for all target atoms.
【0007】[0007]
【発明の目的】本発明の目的は、結晶構造基板に対する
モンテカルロイオン注入シミュレーションの計算時間
を、短縮させることである。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to reduce the calculation time of the Monte Carlo ion implantation simulation for a crystal structure substrate.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明のイオン注入シミ
ュレーション方法は、計算時間短縮のためのデータが登
録されているかどうかを判定する手段(図1、S1)
(図9、P1)と、単位格子を取り出し小さいセルに分
割する手段(図1、S2)(図9、P2)と、分割され
たセルの一つからイオンがθi 〜θi+1 、φj 〜φj+1
の任意の方向に飛んだ場合にイオンが通る軌跡を表す図
形を求める手段(図7(b))と、分割されたセルの周
りに適当な範囲の空間を設定し、設定した空間からP
max以内にある原子核を求めて配置する手段(図8)
と、上記手段で配置した全ての原子核の内、原子核から
半径Pmax の球がイオンの軌跡を表す図形と交わるもの
を対象となるセルと角度範囲の組合せに対して登録する
手段(図1、S5)と、分割された全てのセルと角度範
囲の組合せに対して、セルから飛び出るイオンの通る軌
跡を求める処理と、セルの周りに原子核を配置する処理
と、配置された原子核の内、核を中心とした球がイオン
の軌跡と交わるものを登録する処理を行う手段(図1、
S6)と、散乱計算を行おうとするイオンが分割された
セルの内のどのセル内に存在するかを計算する手段(図
1、S7)と、計算を行おうとするイオンの方向が分割
された方向の内どの角度範囲に存在しているかを計算す
る手段(図1、S8)と、イオンの存在するセルとイオ
ンの進む方向が含まれる角度範囲に登録されている原子
核を取り出し、これらの内のどの原子核にイオンが衝突
するかを計算する手段(図1、S9)と、上記手段で計
算された原子核にイオンが衝突した時の散乱計算を行う
手段(図1、S10)と、イオンが衝突する原子核を求
め散乱計算を行う処理を、イオンが静止するまで行う手
段(図1、S11)と、注入されたイオンが静止するま
での処理を、予め指定されたイオン数について行う手段
(図1、S12)とを有する。According to the ion implantation simulation method of the present invention, means for judging whether data for shortening the calculation time is registered (FIG. 1, S1).
(FIG. 9, P1), means for taking out the unit cell and dividing it into small cells (FIG. 1, S2) (FIG. 9, P2), ions from one of the divided cells θ i to θ i + 1 , φ j to φ j + 1
Means (FIG. 7 (b)) for obtaining a figure representing the trajectory of the ion when it flies in an arbitrary direction, and setting an appropriate range of space around the divided cells.
Means for finding and placing nuclei within max (Fig. 8)
Means for registering, among all the nuclei arranged by the above means, those in which a sphere having a radius P max from the nucleus intersects with the figure representing the ion trajectory, for the combination of the target cell and the angular range (FIG. S5), for all combinations of the divided cells and the angular range, a process of obtaining a trajectory of ions emerging from the cell, a process of arranging nuclei around the cell, and a nucleus among the arranged nuclei Means for registering the one where the sphere centering on the trajectory of the ion intersects (Fig. 1,
S6), means (FIG. 1, S7) for calculating in which of the divided cells the ions to be subjected to the scattering calculation are present, and the directions of the ions to be calculated are divided. Means (S8 in FIG. 1) for calculating in which angular range the directions are present, and the nuclei registered in the angular range including the cell where the ions are present and the direction in which the ions are traveling are taken out, and A means (FIG. 1, S9) for calculating which nucleus of the ion collides with the ion, a means (FIG. 1, S10) for performing a scattering calculation when the ion collides with the nucleus calculated by the above means, Means for calculating the nuclei that collide and performing the scattering calculation until the ions are stopped (FIG. 1, S11), and means for performing the processing until the implanted ions are stopped for a predetermined number of ions (FIG. 1, S12) Having.
【0009】また、本発明のイオン注入シミュレーショ
ン方法は、単位格子をセルに分割した後、分割されたセ
ルを単位格子の対称性からデータ登録する必要のあるも
のと無いものに分類する手段(図9、P3)と、一つの
セルからイオンがθi 〜θi+1 、φj 〜φj+1 の任意の
方向に飛んだ場合にイオンが通る軌跡を表す図形を求め
る処理をデータ登録する必要のあるセルのみに対して行
う手段(図9、P4)と、セルの周りに適当な範囲の空
間を設定し、設定した空間からPmax 以内にある原子核
を求めて配置する処理をデータ登録する必要のあるセル
のみに対して行う手段(図9、P5)と、セルと角度範
囲の組合せに対して、セルから飛び出るイオンの通る軌
跡を求める手段と、セルの周りに原子核を配置する手段
と、配置された原子核の内、核を中心とした球がイオン
の軌跡と交わるものを登録する処理をデータ登録する必
要のあるセルのみに対して行う手段(図9、P7)と、
散乱計算を行おうとするイオンが分割されたセルの内の
どのセル内に存在するかを計算した後、計算されたセル
がデータ登録する必要の無いセルと分類されている場
合、対称性からこのセルの代わりとなるセルを求め、イ
オンの位置と方向を、対称性を利用してデータ登録の必
要があると分類されているセルに移動させる手段(図
9、P9)と、イオンの存在するセルとイオンの進む方
向が含まれる角度範囲に登録されている原子核を取り出
し、これらの内のどの原子核にイオンが衝突するかを計
算した後、もし上記手段でイオンの位置と方向を対称移
動している場合には、計算された原子核の位置を、上記
手段で行なったのと逆の方向に対称移動させる手段(図
9、P12)とを有する。Further, according to the ion implantation simulation method of the present invention, after dividing a unit cell into cells, means for classifying the divided cells into those requiring data registration and those requiring no data registration based on the symmetry of the unit cell (see FIG. 9, P3) and data registration processing for obtaining a figure representing a locus of ions when ions fly from one cell in any direction of θ i to θ i + 1 and φ j to φ j + 1. Data registration means (P4 in FIG. 9) for only necessary cells and processing for setting an appropriate range of space around the cell and finding and arranging nuclei within Pmax from the set space Means (P5 in FIG. 9) for only the cells that need to be performed, means for determining the trajectory of ions emerging from the cell for a combination of the cell and the angle range, and means for arranging nuclei around the cell. And of the placed nucleus And means for performing only for cells in the treatment of a sphere centered on the nucleus to register what intersects the trajectory of the ions must be data registration (Fig. 9, P7),
After calculating in which of the divided cells the ion to be subjected to the scattering calculation is located, if the calculated cell is classified as a cell that does not require data registration, Means (P9 in FIG. 9, P9) for finding a cell that substitutes for the cell and moving the position and direction of the ion to a cell classified as requiring data registration by using symmetry (FIG. 9, P9); After taking out the nuclei registered in the angular range that includes the cell and the direction in which the ions travel, and calculating which of these nuclei will collide with the ions, if the above means, the position and direction of the ions are symmetrically moved. In this case, there is provided means (FIG. 9, P12) for symmetrically moving the calculated position of the nucleus in the direction opposite to that performed by the above means.
【0010】本発明では、イオンが存在している範囲
と、イオンの進む方向が存在している範囲が決まると、
イオンが衝突するかどうかを判定する対象となる原子核
の数が限定されるため、衝突する原子核を決定するため
の計算時間が短くなる。In the present invention, when the range in which ions exist and the range in which the direction in which ions travel exist are determined,
Since the number of nuclei to be determined as to whether or not ions collide is limited, the calculation time for determining the nuclei to collide is reduced.
【0011】また、請求項2記載の発明では、結晶の単
位格子の対称性を考慮して登録する必要のあるデータ量
を少なくしている。According to the second aspect of the present invention, the amount of data that needs to be registered is reduced in consideration of the symmetry of the unit cell of the crystal.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】次に、本発明の第1実施形態につ
いて図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発明の
第1実施形態のフローである。Next, a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a flowchart of the first embodiment of the present invention.
【0013】まずS1で、シミュレーションの計算時間
を短縮するためのデータが登録されているかどうかを判
定する。登録されていない場合は、S2〜S6の処理を
行なってデータの登録を行なう。既に登録されていれ
ば、S7〜S12によりイオン注入シミュレーションの
計算を行なう。続いて、S1でデータが登録されていな
かった場合は、S2で結晶の構造に対して決まる単位格
子(ユニットセル(基本単位格子を含む))を取り出
し、図5に示すように取り出した単位格子をセルに分割
する。単位格子の分割は、図5(a)に示すように各辺
をそれぞれ等間隔に分割することで行なう(Δr1 、Δ
r2 、Δr3 はそれぞれの辺を分割した時の間隔)。ま
たここで、単位格子を立方体で書いてあるが、単位格子
は必ずしも立方体や方体である必要はなく図6に示され
る角度α、β、γが90゜以外で、辺a、b、cが等し
くないものでもよい。First, in S1, it is determined whether data for shortening the calculation time of the simulation is registered. If not registered, data is registered by performing steps S2 to S6. If it has already been registered, the calculation of the ion implantation simulation is performed in S7 to S12. Subsequently, if no data is registered in S1, a unit cell (including a unit cell (including a basic unit cell)) determined for the crystal structure in S2 is taken out, and the unit cell taken out as shown in FIG. Is divided into cells. The division of the unit cell is performed by dividing each side at equal intervals as shown in FIG. 5A (Δr 1 , Δ
r 2 and Δr 3 are intervals when each side is divided). Here, the unit cell is written as a cube, but the unit cell does not necessarily need to be a cube or a box, and the angles α, β, and γ shown in FIG. May not be equal.
【0014】続いて、S3で、図5(b)に示すように
方位角のθとφを等間隔に分割し、それぞれ分割された
角度を0、θ、…、θi 、…、π及び0、φ1 、…、φ
j 、…、2πとする。その後、S2で分割されたセルの
内の一つについて、このセル内に存在するイオンが方位
角θi 〜θi+1 、φj 〜φj+1 の範囲内の任意の方向に
飛んだ場合イオンが通る軌跡を表す図形を求める。この
軌跡を表す図形は、以下の方法から求まる。まず、図7
(a)に示すように、方位角がθ=θi 、φ=φj とな
るときの半直線hlを、θを固定したままφをφj から
φj+1 まで変化させたときにできる面lhiを求める。
また、同様な方法で図7(a)に示される他の3つの面
khj、lhk、ihjを求める。続いて、上記で求め
た4つの面で囲まれる立体図形hlkjiを求める。続
いて、対象としているセル上の全ての辺に対して、頂点
hが辺上を移動するように立体図形を動かした時に立体
図形が通過する空間(図7(b)斜線)をイオンが通る
軌跡を表す図形とする。Subsequently, in S3, the azimuths θ and φ are divided at equal intervals as shown in FIG. 5B, and the divided angles are respectively 0, θ,..., Θ i ,. 0, φ 1 , ..., φ
j ,..., 2π. Thereafter, for one of the cells divided in S2, ions existing in this cell flew in any direction within the range of azimuth angles θ i to θ i + 1 and φ j to φ j + 1 . In this case, a figure representing a locus through which ions pass is obtained. The figure representing this trajectory is obtained by the following method. First, FIG.
(A), the semi-straight line hl when the azimuth angle is θ = θ i, φ = φ j, can when the phi while fixing the theta is changed from phi j to phi j + 1 Find the surface lhi.
In addition, the other three surfaces khj, lhk, and ihj shown in FIG. Subsequently, a three-dimensional figure hlkji surrounded by the four surfaces obtained above is obtained. Subsequently, for all the sides on the target cell, the ions pass through the space (the oblique line in FIG. 7B) through which the three-dimensional figure passes when the three-dimensional figure moves so that the vertex h moves on the side. Let it be a figure representing a trajectory.
【0015】続いて、S4でセルの周りに適当な範囲の
空間(図8ではセルから距離d離れた面で囲まれた空間
としている。)を設定し、図8に示すように設定した空
間から衝突係数の最大値Pmax 以内にある原子核を全て
求め配置する。Subsequently, in S4, a space of an appropriate range is set around the cell (in FIG. 8, a space surrounded by a plane separated by a distance d from the cell), and a space set as shown in FIG. , All the nuclei within the maximum value Pmax of the collision coefficient are obtained and arranged.
【0016】続いて、S5で、S4で配置した全ての原
子核の内、原子核を中心とした半径Pmax の球が、S3
で求めた軌跡を表す図形と交わるもの、又は原子核自身
が軌跡の図形に含まれるものを探して、その原子核を、
現在対象としているセルと角度範囲の組合せに対して登
録する。但し、例えば図7(b)に示されるように、セ
ル内から移動してくるイオン全てが、原子bに衝突する
前に他の原子(ここでは原子a)に衝突してしまう場合
には、原子bの登録は行わない。Subsequently, in S5, of all the nuclei arranged in S4, a sphere having a radius P max centered on the nucleus is formed in S3.
Search for a thing that intersects with the figure representing the trajectory obtained in or the thing that the nucleus itself is included in the figure of the trajectory.
Register for the combination of the current target cell and angle range. However, for example, as shown in FIG. 7 (b), when all ions moving from inside the cell collide with another atom (here, atom a) before colliding with atom b, Do not register atom b.
【0017】続いて、S6で、S3、S4、S5を繰り
返し行ない、単位格子内の全ての分割されたセルと角度
範囲の組合せに対して該当する原子核を登録し、S7へ
進む。Subsequently, in S6, S3, S4, and S5 are repeated, and the corresponding nucleus is registered with respect to all the combinations of the divided cells and the angle range in the unit cell, and the flow proceeds to S7.
【0018】続いて、S1の処理で、計算時間短縮のた
めのデータが登録されている場合、又はS6の処理が終
了した後、S7を実行し計算を行なおうとしているイオ
ンがS2で分割されたセルの内のどのセル内に存在して
いるかを計算する。この場合、単位格子の各辺は等間隔
に分割されているため、イオンが何番目のセルに存在し
ているかは、イオンの座標を分割した時の間隔で割り算
することにより求まる。Subsequently, in the processing of S1, if data for shortening the calculation time is registered, or after the processing of S6 is completed, the ions to be calculated by executing S7 are divided by S2. Calculates in which of the cells are located. In this case, since each side of the unit cell is divided at equal intervals, the number of the cell in which the ion exists can be determined by dividing the coordinate of the ion by the interval at the time of division.
【0019】続いて、S8で、計算を行なおうとしてい
るイオンの方向が分割された方向の内のどの角度範囲に
存在しているかを計算する。この際、角度は等間隔に分
割されているため、イオンの進行方向を表す角度θ、φ
が分割された角度θi (i=1,2,3,…)、φ
j (j=1,2,3,…)の内のどの角度の間に存在し
ているかは、イオンの進行方向を表す角度θ、φをそれ
ぞれを分割した時の角度θi+1 −θi 、φj+1 −φj で
割り算することで求まる。Subsequently, in S8, it is calculated in which angular range the direction of the ion to be calculated exists in the divided directions. At this time, since the angles are divided at equal intervals, the angles θ and φ representing the traveling directions of the ions are used.
Are divided angles θ i (i = 1, 2, 3,...), Φ
j (j = 1, 2, 3,...), the angle θ i + 1 −θ is obtained by dividing the angles θ and φ representing the traveling direction of the ions. i , φ j + 1 −φ j to obtain the value.
【0020】続いて、S9で、S7、S8で計算された
セルと角度範囲の組合せに対して登録されている原子核
の座標位置を取り出し、これらの内のどの原子核に最初
にイオンが衝突するかを計算する。Subsequently, in S9, the coordinate positions of the nuclei registered with respect to the combination of the cell and the angle range calculated in S7 and S8 are taken out, and which of these nuclei the ion first collides with is selected. Is calculated.
【0021】続いて、S10で、S9で計算された原子
核にイオンが衝突した時の散乱計算を行う。Subsequently, in S10, the scattering calculation when the ions collide with the nuclei calculated in S9 is performed.
【0022】続いて、S11で、S7、S8、S9、S
10をイオンが静止するまで繰り返し行なう。Subsequently, in S11, S7, S8, S9, S
Step 10 is repeated until the ions come to rest.
【0023】続いて、S12で、S7〜S11を繰り返
し行って予め指定されているイオン数についての注入計
算を行う。Subsequently, in S12, S7 to S11 are repeated to perform an implantation calculation for a predetermined number of ions.
【0024】次に、本発明の第2実施形態について図面
を参照して詳細に説明する。図9は、本発明の第2実施
形態のフローを表したものである。Next, a second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 9 shows a flow of the second embodiment of the present invention.
【0025】まず、P1で、計算時間短縮のためのデー
タが登録されているかどうかを判断する。登録されてい
なければP2へ進む。登録されていればP8へ進む。続
いて、P1からP2に進んだ場合には、実施例1のS2
と同様、単位格子を取り出し小さいセルに分割する。First, at P1, it is determined whether data for shortening the calculation time is registered. If not registered, proceed to P2. If registered, proceed to P8. Subsequently, when the process proceeds from P1 to P2, S2 of the first embodiment is performed.
Similarly to the above, the unit cell is taken out and divided into small cells.
【0026】続いて、P3で、単位格子の対称性を考慮
して、P2で分割されたセルをデータ登録する必要のあ
るものと無いものに分類する。例えば、シリコン場合の
例を示すと、以下のようになる。図10(a)に示す立
方体をシリコンの単位格子とすると、シリコンの単位格
子は面opqrで面対称となるので、単位格子はこの面
を境とした立体の片方から対称性を利用して復元でき
る。また、片方の立体に存在する速度を持ったイオンが
衝突する原子核は、面opqrで面対称な位置と速度ベ
クトルとを持つイオンが衝突する原子核と、面対称の位
置にある。そのため、データを登録する必要のあるセル
は、図10(a)の斜線の部分と重なるセルとなる。シ
リコン結晶の単位格子は、図10(a)の面opqrの
他に、いくつかの面対称となる面を持っているので、こ
れらを利用して図10(a)の斜線の部分を単位格子に
復元できる更に小さい領域に変えることができる。その
様子を図10(b)〜(f)に示す。データを登録する
必要のあるセルを、図10(a)の斜線の領域から求め
た場合、セルの数は対称性を利用しない場合と比べて約
1/2となる。また、図10(f)の斜線の領域から求
めた場合は1/24となる。Subsequently, in P3, the cells divided in P2 are classified into those requiring data registration and those not requiring data registration in consideration of the symmetry of the unit cell. For example, an example in the case of silicon is as follows. Assuming that the cube shown in FIG. 10A is a silicon unit cell, the silicon unit cell is plane-symmetric with respect to the plane opqr. Therefore, the unit cell is restored from one of the solids bounded by this plane using symmetry. it can. Further, the atomic nucleus that collides with the ion having the velocity existing in one of the three-dimensional bodies is at the plane symmetric position with the atomic nucleus that collides with the ion having the plane symmetric position and the velocity vector in the plane opqr. Therefore, the cells for which data needs to be registered are cells that overlap with the hatched portions in FIG. Since the unit lattice of the silicon crystal has several planes symmetrical in addition to the plane opqr in FIG. 10A, the shaded portion in FIG. Can be changed to a smaller area that can be restored to This is shown in FIGS. 10 (b) to 10 (f). When the cells for which data needs to be registered are obtained from the shaded area in FIG. 10A, the number of cells is about 比 べ as compared with the case where no symmetry is used. Further, when it is obtained from the shaded area in FIG. 10F, it is 1/24.
【0027】続いて、P4で、P3でデータを登録する
必要があると分類されたセルの内の一つについて、セル
内に存在するイオンが角度範囲θi 〜θi+1 、φj 〜φ
j+1の任意の方向に進んだ場合のイオンの通る軌跡を表
す図形を、第1実施形態のS3と同様の方法で求める。Subsequently, at P4, for one of the cells classified as having to register data at P3, ions existing in the cell are in the angular range θ i to θ i + 1 , φ j to φ
A figure representing the trajectory of ions when traveling in an arbitrary direction of j + 1 is obtained by the same method as in S3 of the first embodiment.
【0028】続いて、P5で、第1実施形態のS4と同
様に、P4で扱ったセルの周りに適当な範囲の空間を設
定し、設定した空間からPmax 以内にある原子核を求め
て配置する。Subsequently, in P5, a space within an appropriate range is set around the cell handled in P4, and the nuclei within Pmax from the set space are determined and arranged, similarly to S4 of the first embodiment. I do.
【0029】続いて、P6で、第1実施形態のS5と同
様に、P5で配置した全ての原子核の内、原子核を中心
とした半径Pmax の球がP4で求めた軌跡を表す図形と
交わるもの、又は原子核自身が軌跡の図形に含まれるも
のを探して、その原子核を、現在対象としているセルと
角度範囲の組合せに対して登録する。Subsequently, at P6, as in S5 of the first embodiment, of all the nuclei arranged at P5, a sphere having a radius Pmax centered on the nucleus intersects with the figure representing the trajectory obtained at P4. The object or the nucleus itself is searched for in the trajectory figure, and the nucleus is registered with respect to the combination of the cell and the angle range which are currently targeted.
【0030】続いて、P7で、P4,P5,P6を繰り
返し行ない、P3で分類されたデータ登録の必要のある
組合せに対して、該当する原子核を登録しP8へ進む。Subsequently, at P7, P4, P5, and P6 are repeated, and the corresponding nucleus is registered for the combination that requires data registration classified at P3, and the program proceeds to P8.
【0031】続いて、P1でP8へ進んだ場合か又はP
7の処理後、P8で第1実施形態のS7と同様、計算を
行おうとするイオンがP2で分割したセルの内のどのセ
ル内に存在しているかを計算する。Subsequently, the process proceeds to P8 at P1 or
After the process of 7, in P8, as in S7 of the first embodiment, it is calculated in which of the cells divided in P2 the ions to be calculated are present.
【0032】続いて、P9で、P8で計算したセルがP
3でデータを登録する必要のないセルと分類されている
場合、対称性からこのセルの代わりとなるセルを求め
る。また、イオンの位置と方向を対称性を利用してデー
タ登録の必要があると分類されるセルに移動させる。登
録する必要のないセルの代わりとなるセルを求める方法
について、ここでは登録する必要のあるセルを図10
(b)から求め、且つP2の図5(a)のΔr1 、Δr
2 、Δr3 をΔr1 =Δr2 =Δr3 とした場合を例に
とり説明する。図11は図10(b)を上から見た図で
ある。イオンが図11の領域bの(2)に存在している
場合は、イオンの位置と方向ベクトルを単位格子が面対
称となる面vxの鏡面対称の位置に移動させることで、
データが登録されているセル(1)に移動させる。イオ
ンが領域dの(3)に存在している場合は、始めにイオ
ンの位置と方向ベクトルを面wyに対して対称移動さ
せ、続いて面vxに対して対称移動させることで、上記
と同様に(1)の位置に移動させることができる。ま
た、イオンが領域dの(4)に存在している場合は、イ
オンの位置と方向ベクトルを面wyに対して対称移動さ
せることで同様にデータが登録されている(1)の位置
に移動させることができる。Subsequently, at P9, the cell calculated at P8 is P
If the cell is classified as a cell that does not require data registration in step 3, a cell that substitutes for this cell is determined based on symmetry. In addition, the position and direction of the ions are moved to cells classified as requiring data registration by utilizing symmetry. Regarding a method of finding a cell that substitutes for a cell that does not need to be registered, here, the cell that needs to be registered is shown in FIG.
(R), Δr 1 , Δr in FIG.
2 and Δr 3 will be described by taking as an example a case where Δr 1 = Δr 2 = Δr 3 . FIG. 11 is a diagram of FIG. 10B as viewed from above. When the ion exists in the region b (2) in FIG. 11, the position and the direction vector of the ion are moved to a mirror-symmetric position of a plane vx where the unit cell is plane-symmetric,
Move to cell (1) where data is registered. When the ions are present in the region (3) of the region d, the position and the direction vector of the ions are first symmetrically moved with respect to the plane wy and then symmetrically moved with respect to the plane vx. Can be moved to the position (1). When the ion exists in the region d (4), the position and the direction vector of the ion are symmetrically moved with respect to the plane wy to move to the position (1) in which data is similarly registered. Can be done.
【0033】続いて、P10で、計算を行おうとするイ
オン、又はP9で移動したイオンの方向が、分割された
方向のどの角度範囲に存在しているかを、第1実施形態
のS8と同様の方法で計算する。Subsequently, in P10, it is determined in the same angular range as that of S8 in the first embodiment that the direction of the ion to be calculated or the direction of the ion moved in P9 exists in which angular range of the divided directions. Calculate by method.
【0034】続いて、P11で、P8(又はP9)、P
10で計算されたセルと角度範囲に登録されている原子
核を取り出し、イオンがこれらの原子核の内のどの原子
核に衝突するかを計算する。Subsequently, at P11, P8 (or P9), P8
The nuclei registered in the cell and the angular range calculated in 10 are taken out, and it is calculated which of these nuclei the ion collides with.
【0035】続いて、P12で、P9でイオンの位置と
方向を対称移動している場合は、P11で計算された原
子核の位置をP9で行なった対称移動と逆の操作で移動
させる。Subsequently, in P12, when the position and direction of the ion are symmetrically moved in P9, the position of the nucleus calculated in P11 is moved by the operation opposite to the symmetric movement performed in P9.
【0036】続いて、P13で、P11(又はP12)
で計算された原子核に、計算を行おうとしているイオン
が衝突した時の散乱計算を行う。Subsequently, at P13, P11 (or P12)
The scattering calculation is performed when the ion to be calculated collides with the nucleus calculated in.
【0037】続いて、P14で、P8〜P13をイオン
が静止するまで繰り返し行う。Subsequently, at P14, P8 to P13 are repeated until the ions come to rest.
【0038】続いて、P15で、P8〜P14を繰り返
し行って予め指定されているイオン数についての注入計
算を行う。Subsequently, in P15, P8 to P14 are repeatedly performed to perform an injection calculation for a predetermined number of ions.
【0039】[0039]
【発明の効果】本発明によれば、イオンが存在している
範囲と、イオンの進む方向が存在している範囲とが決ま
ると、イオンが衝突するかどうかを判定する対象となる
原子核の数が限定されるため、衝突する原子核を決定す
るための計算時間が短くなり、シミュレーションにかか
る時間を短縮できる。According to the present invention, when the range in which the ions are present and the range in which the direction in which the ions travel are determined, the number of nuclei to be determined whether or not the ions collide is determined. Is limited, the calculation time for determining the nucleus to collide is reduced, and the time required for the simulation can be reduced.
【0040】また、請求項2記載の発明によれば、結晶
の単位格子の対称性を考慮することで登録する必要のあ
るデータ量を削減しているので、計算機で必要となるメ
モリーの量を減らすことができる。According to the second aspect of the present invention, the amount of data that needs to be registered is reduced by considering the symmetry of the unit cell of the crystal, so that the amount of memory required by the computer is reduced. Can be reduced.
【図1】本発明に係るイオン注入シミュレーション方法
の第1実施形態を示すフローチャートである。FIG. 1 is a flowchart showing a first embodiment of an ion implantation simulation method according to the present invention.
【図2】イオンが原子核に衝突する様子を示す説明図で
ある。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a state where ions collide with an atomic nucleus.
【図3】従来技術において、イオンが衝突する原子核を
探すために、単位格子を分割する様子を示す斜視図であ
り、図3(a)を図3(b)及び図3(c)に分割する
例である。FIG. 3 is a perspective view showing a state in which a unit cell is divided in order to search for an atomic nucleus that collides with ions in the related art, and FIG. 3 (a) is divided into FIGS. 3 (b) and 3 (c). Here is an example.
【図4】イオンが衝突する原子核を探す様子を示す説明
図である。FIG. 4 is an explanatory view showing a state of searching for an atomic nucleus that collides with ions.
【図5】単位格子及び方向を表す角度を分割する様子を
示す斜視図であり、図5(a)を図5(b)及び図5
(c)に分割する例である。5A and 5B are perspective views showing how a unit lattice and an angle representing a direction are divided, and FIGS. 5A and 5B are FIGS.
It is an example of dividing into (c).
【図6】立方体(又は直方体)でない単位格子を示す斜
視図である。FIG. 6 is a perspective view showing a unit lattice that is not a cube (or a rectangular parallelepiped).
【図7】セルからイオンが飛び出したときの軌跡を表す
図形を示す斜視図であり、図7(a)、図7(b)の順
に当該図形を求める。FIG. 7 is a perspective view showing a figure representing a trajectory when ions jump out of a cell, and the figure is obtained in the order of FIGS. 7 (a) and 7 (b).
【図8】セルの周りに原子核を配置した様子を示す説明
図である。FIG. 8 is an explanatory view showing a state where nuclei are arranged around a cell.
【図9】本発明に係るイオン注入シミュレーション方法
の第2実施形態を示すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart showing a second embodiment of the ion implantation simulation method according to the present invention.
【図10】シリコンの単位格子を面対称となる面で切
り、領域を縮小して行く様子を示す斜視図であり、図1
0(a)〜図10(f)の順に領域を縮小して行く。FIG. 10 is a perspective view showing a state in which a silicon unit cell is cut along a plane that is plane-symmetric and a region is reduced.
The area is reduced in the order of 0 (a) to FIG. 10 (f).
【図11】シリコンの単位格子の対称性を利用してイオ
ンの位置と方向を移動させる様子を示す説明図である。FIG. 11 is an explanatory view showing a state in which the position and direction of ions are moved by utilizing the symmetry of a silicon unit cell.
Claims (4)
るステップS2と、 ステップS2で分割されたセルの一つから方位角θi 〜
θi+1 、φj 〜φj+1の範囲内の任意の方向へイオンが
飛んだ場合に、このイオンが通る軌跡を表す図形を求め
るステップS3と、 ステップS3で扱ったセルの周りに適当な範囲の空間を
設定し、設定した空間からインパクトパラメータの最大
値Pmax 以内にある原子核を求めて配置するステップS
4と、 ステップS4で配置した全ての原子核の内、原子核から
半径Pmax の球がステップS3で求めた図形と交わるも
のを対象となるセルと角度範囲の組合せに対して登録す
るステップS5と、 分割された全てのセルと角度範囲の組合せに対して、ス
テップS3,S4及びS5の処理を行うステップS6
と、 ステップS2で分割されたセルの内のどのセルに、散乱
計算を行おうとするイオンが存在するかを計算するステ
ップS7と、 散乱計算を行おうとするイオンの方向が分割された方向
の内どの角度範囲に存在しているかを計算するステップ
S8と、 ステップS7及びステップS8で計算されたセルと角度
範囲に登録されている原子核とを取り出し、これらの内
のどの原子核にイオンが衝突するかを計算するステップ
S9と、 ステップS9で計算された原子核にイオンが衝突した時
の散乱計算を行うステップS10と、 ステップS7,S8,S9及びS10の処理を、イオン
が静止するまで行うステップS11と、 ステップS7,S8,S9,S10及びS11の処理
を、予め指定されたイオン数について行うステップS1
2と、 を含むことを特徴とするイオン注入シミュレーション方
法。1. Step S2 of taking out a unit cell and dividing it into small cells; and azimuth angles θ i to から from one of the cells divided in step S2.
theta i + 1, if the flew ionic any direction within a range of φ j ~φ j + 1, and step S3 to determine a graphic representing a locus ion passes, around the cells treated in step S3 Set an appropriate range of space and set the maximum impact parameter from the set space.
Step S for finding and arranging nuclei within the value Pmax
And step S5 of registering, among all the nuclei arranged in step S4, a sphere having a radius P max from the nucleus that intersects the figure obtained in step S3 for the combination of the target cell and the angle range; Step S6 for performing the processing of steps S3, S4 and S5 for all the combinations of the divided cells and the angle range.
Step S7 of calculating in which cell among the cells divided in step S2 the ion for which the scattering calculation is to be performed is present, and step S7 for calculating the direction of the ion for which the scattering calculation is to be performed. Step S8 for calculating in which angular range the cell exists, and the cells calculated in steps S7 and S8 and the nuclei registered in the angular range are taken out, and which of these nuclei the ions collide with is extracted. Step S9 for calculating the following equation; Step S10 for performing scattering calculation when ions collide with the nucleus calculated in Step S9; and Step S11 for performing the processing of Steps S7, S8, S9 and S10 until the ions come to rest. Step S1 in which the processes of steps S7, S8, S9, S10 and S11 are performed for a predetermined number of ions.
2. An ion implantation simulation method, comprising:
るステップP2と、 ステップP2で分割されたセルを単位格子の対称性から
データ登録する必要のあるものと無いものとに分類する
ステップP3と、 ステップP3で分類されたデータ登録の必要のあるセル
の一つから方位角θi〜θi+1 、φj 〜φj+1 の範囲内
の任意の方向へイオンが飛んだ場合に、このイオンが通
る軌跡を表す図形を求めるステップP4と、 ステップP4で扱ったセルの周りに適当な範囲の空間を
設定し、設定した空間からインパクトパラメータの最大
値Pmax 以内にある原子核を求めて配置するステップP
5と、 ステップP5で配置した全ての原子核の内、原子核から
半径Pmax の球がステップP4で求めた図形と交わるも
のを対象となるセルと角度範囲の組合せに対して登録す
るステップP6と、 ステップP3で分類されたデータ登録の必要のある全て
のセルと角度範囲の組合せに対して、ステップP4,P
5及びP6の処理を行うステップP7と、 ステップP2で分割されたセルの内のどのセルに、散乱
計算を行おうとするイオンが存在するかを計算するステ
ップP8と、 ステップP8で計算されたセルがステップP3でデータ
登録する必要の無いセルと分類されている場合、対称性
からこのセルの代わりとなるセルを求め、イオンの位置
と方向を、対称性を利用してステップP3でデータ登録
の必要があると分類されているセルに対称移動させるス
テップP9と、 散乱計算を行おうとするイオン又はステップP9で移動
したイオンの方向が分割された方向の内どの角度範囲に
存在しているかを計算するステップP10と、 ステップP8又はステップP9、及びステップP10で
計算されたセルと角度範囲に登録されている原子核を取
り出し、これらの内のどの原子核にイオンが衝突するか
を計算するステップP11と、 ステップP9でイオンの位置と方向を対称移動している
場合には、計算された原子核の位置を、ステップP11
で行なったのと逆の方向に対称移動させるステップP1
2と、 ステップP11又はP12で計算された原子核にイオン
が衝突した時の散乱計算を行うステップP13と、 ステップP8,P9,P10,P11,P12及びP1
3の処理を、イオンが静止するまで行うステップP14
と、 ステップP8,P9,P10,P11,P12,P13
及びP14の処理を、予め指定されたイオン数について
行うステップP15と、 を含むことを特徴とするイオン注入シミュレーション方
法。2. A step P2 of taking out the unit cell and dividing it into small cells, and a step P3 of classifying the cells divided in step P2 into those that need to be registered and those that do not need to register data based on the symmetry of the unit cell. azimuth θ i ~θ i + 1 from one need a certain cell of the classified data registered in step P3, if the flew ionic any direction within a range of φ j ~φ j + 1, this Step P4 for obtaining a figure representing the trajectory through which ions pass, and setting an appropriate range of space around the cell treated in Step P4, and setting the maximum impact parameter from the set space.
Step P for finding and placing nuclei within the value Pmax
5 and, among all the nuclei arranged in Step P5, a step in which a sphere having a radius P max from the nucleus intersects with the figure obtained in Step P4 is registered for the combination of the target cell and the angle range, Steps P4 and P4 are performed on all combinations of cells and angle ranges that need to be registered in step P3.
Step P7 for performing the processes of Steps 5 and P6, Step P8 for calculating which of the cells divided in Step P2 contains an ion to be subjected to the scattering calculation, and Cell calculated for Step P8 Is classified as a cell that does not require data registration in step P3, a cell that substitutes for this cell is obtained from the symmetry, and the position and direction of the ion are determined using the symmetry in step P3. Step P9 of symmetrically moving the cells classified as necessary, and calculating in which angular range of the divided directions the ions to be subjected to the scattering calculation or the ions moved in step P9 Step P10, and taking out the nuclei registered in the cell and the angle range calculated in Step P8 or Step P9 and Step P10, Step P11 for calculating which of these nuclei the ions will collide with. If the position and direction of the ions are symmetrically moved in Step P9, the calculated positions of the nuclei are converted to Step P11.
Step P1 of symmetrically moving in the opposite direction to that performed in
2, step P13 for performing scattering calculation when ions collide with the nucleus calculated in step P11 or P12, and steps P8, P9, P10, P11, P12 and P1.
Step P14 of performing the processing of Step 3 until the ions stop.
Steps P8, P9, P10, P11, P12, P13
A step P15 of performing the processes of P14 and P14 for a predetermined number of ions.
ているかどうかを判定するステップS1が前記ステップ
S2の前に付け加えられ、 当該データが登録されていなければ前記ステップS2へ
進み、当該データが既に登録されていれば前記ステップ
S7へ進む、 請求項1記載のイオン注入シミュレーション方法。3. A step S1 for determining whether or not data for shortening the calculation time is registered is added before the step S2. If the data is not registered, the process proceeds to the step S2. 2. The ion implantation simulation method according to claim 1, wherein the process proceeds to step S7 if the information is already registered.
ているかどうかを判定するステップP1が前記ステップ
P2の前に付け加えられ、 当該データが登録されていなければ前記ステップP2へ
進み、当該データが既に登録されていれば前記ステップ
P8へ進む、 請求項2記載のイオン注入シミュレーション方法。4. A step P1 for judging whether data for shortening calculation time is registered is added before the step P2, and if the data is not registered, the process proceeds to the step P2, and the data is 3. The ion implantation simulation method according to claim 2, wherein the process proceeds to step P8 when the ion implantation has already been registered.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09206421A JP3102472B2 (en) | 1997-07-31 | 1997-07-31 | Ion implantation simulation method |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09206421A JP3102472B2 (en) | 1997-07-31 | 1997-07-31 | Ion implantation simulation method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1154449A JPH1154449A (en) | 1999-02-26 |
| JP3102472B2 true JP3102472B2 (en) | 2000-10-23 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09206421A Expired - Fee Related JP3102472B2 (en) | 1997-07-31 | 1997-07-31 | Ion implantation simulation method |
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-
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