JP3112866B2 - Ｍｒイメージング方法およびｍｒｉ装置 - Google Patents
Ｍｒイメージング方法およびｍｒｉ装置Info
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- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＭＲ（Ｍagnetic
Ｒesonance）イメージング方法およびＭＲＩ（Ｍagneti
c Ｒesonance Imaging）装置に関し、さらに詳しくは、
ＭＴＣ（Ｍagnetization Ｔransfer Ｃontrast）を損な
わずに短い繰り返し時間ＴＲとすることが出来るＭＲイ
メージング方法およびＭＲＩ装置に関する。
Ｒesonance）イメージング方法およびＭＲＩ（Ｍagneti
c Ｒesonance Imaging）装置に関し、さらに詳しくは、
ＭＴＣ（Ｍagnetization Ｔransfer Ｃontrast）を損な
わずに短い繰り返し時間ＴＲとすることが出来るＭＲイ
メージング方法およびＭＲＩ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】本発明に関連する従来例としては、例え
ば特開平９−１０８１９６号公報に記載のＭＲイメージ
ング方法およびＭＲＩ装置がある。このＭＲイメージン
グ方法およびＭＲＩ装置では、データ収集したい目的の
核種（例えば自由水プロトン）以外の核種（例えば結合
水のプロトン）のＮＭＲ（Nuclear Magnetic Resonanc
e）信号を抑制するため、目的外の核種をＲＦ飽和させ
るＭＴ（Ｍagnetization Ｔransfer）パルスを印加し、
その後、目的の核種からデータを収集するための撮像シ
ーケンスを実行している。
ば特開平９−１０８１９６号公報に記載のＭＲイメージ
ング方法およびＭＲＩ装置がある。このＭＲイメージン
グ方法およびＭＲＩ装置では、データ収集したい目的の
核種（例えば自由水プロトン）以外の核種（例えば結合
水のプロトン）のＮＭＲ（Nuclear Magnetic Resonanc
e）信号を抑制するため、目的外の核種をＲＦ飽和させ
るＭＴ（Ｍagnetization Ｔransfer）パルスを印加し、
その後、目的の核種からデータを収集するための撮像シ
ーケンスを実行している。
【０００３】前記ＭＴパルスの振幅，パルス幅，フリッ
プ角，オフセット周波数は予め決定されており、操作者
が繰り返し時間ＴＲを入力すると、その操作者が入力し
た繰り返し時間ＴＲでも前記既定のＭＴパルスがコイル
の発熱などのハードウエア制約を満足させるか否かをチ
ェックし、満足させる場合は前記繰り返し時間ＴＲを許
容し、満足させない場合は前記ハードウエア制約を満足
させるように繰り返し時間を延長していた。図５は、上
記繰り返し時間ＴＲのチェック処理のフロー図である。
ステップＪ１では、操作者が繰り返し時間ＴＲを入力す
る。ステップＪ２では、既定のＭＴパルスで、被検体の
電磁波吸収（Specific Absorption Rate）や送信コイル
や受信コイルの発熱などのハードウエア制約を満足する
最小繰り返し時間min_ＴＲを計算する。ステップＪ３で
は、操作者が入力した繰り返し時間ＴＲと前記最小繰り
返し時間min_ＴＲを比較し、前者が後者以上なら処理を
終了し、前者が後者より短いならステップＪ４へ進む。
ステップＪ４では、前記最小繰り返し時間min_ＴＲを強
制的に繰り返し時間ＴＲとし、処理を終了する。
プ角，オフセット周波数は予め決定されており、操作者
が繰り返し時間ＴＲを入力すると、その操作者が入力し
た繰り返し時間ＴＲでも前記既定のＭＴパルスがコイル
の発熱などのハードウエア制約を満足させるか否かをチ
ェックし、満足させる場合は前記繰り返し時間ＴＲを許
容し、満足させない場合は前記ハードウエア制約を満足
させるように繰り返し時間を延長していた。図５は、上
記繰り返し時間ＴＲのチェック処理のフロー図である。
ステップＪ１では、操作者が繰り返し時間ＴＲを入力す
る。ステップＪ２では、既定のＭＴパルスで、被検体の
電磁波吸収（Specific Absorption Rate）や送信コイル
や受信コイルの発熱などのハードウエア制約を満足する
最小繰り返し時間min_ＴＲを計算する。ステップＪ３で
は、操作者が入力した繰り返し時間ＴＲと前記最小繰り
返し時間min_ＴＲを比較し、前者が後者以上なら処理を
終了し、前者が後者より短いならステップＪ４へ進む。
ステップＪ４では、前記最小繰り返し時間min_ＴＲを強
制的に繰り返し時間ＴＲとし、処理を終了する。
【０００４】つまり、図６の（ａ）に示すように操作者
が入力した繰り返し時間ＴＲが最小繰り返し時間min_Ｔ
Ｒ以上なら、図６の（ｂ）に示すように操作者が入力し
た繰り返し時間ＴＲをそのまま採用する。一方、図７の
（ａ）に示すように操作者が入力した繰り返し時間ＴＲ
が最小繰り返し時間min_ＴＲより短いなら、図７の
（ｂ）に示すように前記最小繰り返し時間min_ＴＲを強
制的に繰り返し時間ＴＲとする。
が入力した繰り返し時間ＴＲが最小繰り返し時間min_Ｔ
Ｒ以上なら、図６の（ｂ）に示すように操作者が入力し
た繰り返し時間ＴＲをそのまま採用する。一方、図７の
（ａ）に示すように操作者が入力した繰り返し時間ＴＲ
が最小繰り返し時間min_ＴＲより短いなら、図７の
（ｂ）に示すように前記最小繰り返し時間min_ＴＲを強
制的に繰り返し時間ＴＲとする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、必
要なＭＴＣを得られるように振幅，パルス幅，フリップ
角，オフセット周波数を予め定めた既定のＭＴパルスを
印加している。しかし、既定のＭＴパルスでハードウエ
ア制約を満足する最小繰り返し時間min_ＴＲより短い繰
り返し時間ＴＲを設定することが出来ない問題点があ
る。なお、ＭＴパルスの振幅・パルス幅の積を小さくす
るようにＭＴパルスを変更すれば、最小繰り返し時間mi
n_ＴＲを短くできるから、短い繰り返し時間ＴＲを設定
することが出来るようになるが、必要なＭＴＣが得られ
なくなる別の問題点を生じる。そこで、本発明の目的
は、ＭＴＣを損なわずに短い繰り返し時間とすることが
出来るＭＲイメージング方法およびＭＲＩ装置を提供す
ることにある。
要なＭＴＣを得られるように振幅，パルス幅，フリップ
角，オフセット周波数を予め定めた既定のＭＴパルスを
印加している。しかし、既定のＭＴパルスでハードウエ
ア制約を満足する最小繰り返し時間min_ＴＲより短い繰
り返し時間ＴＲを設定することが出来ない問題点があ
る。なお、ＭＴパルスの振幅・パルス幅の積を小さくす
るようにＭＴパルスを変更すれば、最小繰り返し時間mi
n_ＴＲを短くできるから、短い繰り返し時間ＴＲを設定
することが出来るようになるが、必要なＭＴＣが得られ
なくなる別の問題点を生じる。そこで、本発明の目的
は、ＭＴＣを損なわずに短い繰り返し時間とすることが
出来るＭＲイメージング方法およびＭＲＩ装置を提供す
ることにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、ＭＴパルスを印加して目的外の核種を選択的にＲＦ
飽和させるＭＲイメージング方法であって、操作者が入
力した繰り返し時間に合わせてＭＴパルスのフリップ角
およびオフセット周波数を最適化することを特徴とする
ＭＲイメージング方法を提供する。あるＭＴパルスでハ
ードウエア制約を満足する最小繰り返し時間min_ＴＲと
自由水寄生振動とＭＴＣとに対するＭＴパルスのフリッ
プ角の影響を調べると、ＭＴパルスのフリップ角を小さ
くしたとき、最小繰り返し時間min_ＴＲを短縮でき、自
由水寄生振動を少なくすることが出来る。しかし、ＭＴ
Ｃは低下してしまう。次に、最小繰り返し時間min_ＴＲ
と自由水寄生振動とＭＴＣとに対するＭＴパルスのオフ
セット周波数の影響を調べると、ＭＴパルスのオフセッ
ト周波数を小さくしたとき、最小繰り返し時間min_ＴＲ
には影響せず、自由水寄生振動は多くなってしまう。し
かし、ＭＴＣを向上させることが出来る。そこで、上記
第１の観点によるＭＲイメージング方法では、操作者が
入力した繰り返し時間ＴＲより短い最小繰り返し時間mi
n_ＴＲになるように、ＭＴパルスのフリップ角を最適化
する。これにより、操作者が入力した繰り返し時間ＴＲ
をそのままパルスシーケンスの繰り返し時間にできる。
このとき、ＭＴＣが低下することがある。そこで、その
ＭＴＣの低下を補償するようにＭＴＣを向上させるべ
く、オフセット周波数を最適化する。以上により、ＭＴ
Ｃを損なわずに短い繰り返し時間とすることが出来る。
なお、自由水寄生振動への影響は、フリップ角を最適化
することによる影響とオフセット周波数を最適化するこ
とによる影響とが相殺するため、小さくなる。
は、ＭＴパルスを印加して目的外の核種を選択的にＲＦ
飽和させるＭＲイメージング方法であって、操作者が入
力した繰り返し時間に合わせてＭＴパルスのフリップ角
およびオフセット周波数を最適化することを特徴とする
ＭＲイメージング方法を提供する。あるＭＴパルスでハ
ードウエア制約を満足する最小繰り返し時間min_ＴＲと
自由水寄生振動とＭＴＣとに対するＭＴパルスのフリッ
プ角の影響を調べると、ＭＴパルスのフリップ角を小さ
くしたとき、最小繰り返し時間min_ＴＲを短縮でき、自
由水寄生振動を少なくすることが出来る。しかし、ＭＴ
Ｃは低下してしまう。次に、最小繰り返し時間min_ＴＲ
と自由水寄生振動とＭＴＣとに対するＭＴパルスのオフ
セット周波数の影響を調べると、ＭＴパルスのオフセッ
ト周波数を小さくしたとき、最小繰り返し時間min_ＴＲ
には影響せず、自由水寄生振動は多くなってしまう。し
かし、ＭＴＣを向上させることが出来る。そこで、上記
第１の観点によるＭＲイメージング方法では、操作者が
入力した繰り返し時間ＴＲより短い最小繰り返し時間mi
n_ＴＲになるように、ＭＴパルスのフリップ角を最適化
する。これにより、操作者が入力した繰り返し時間ＴＲ
をそのままパルスシーケンスの繰り返し時間にできる。
このとき、ＭＴＣが低下することがある。そこで、その
ＭＴＣの低下を補償するようにＭＴＣを向上させるべ
く、オフセット周波数を最適化する。以上により、ＭＴ
Ｃを損なわずに短い繰り返し時間とすることが出来る。
なお、自由水寄生振動への影響は、フリップ角を最適化
することによる影響とオフセット周波数を最適化するこ
とによる影響とが相殺するため、小さくなる。
【０００７】第２の観点では、本発明は、目的外の核種
を選択的にＲＦ飽和させるためにＭＴパルスを印加する
ＭＴパルス印加手段を具備したＭＲＩ装置であって、操
作者が入力した繰り返し時間ＴＲに合わせてＭＴパルス
のフリップ角およびオフセット周波数を最適化するＭＴ
パルス最適化手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装
置を提供する。上記第２の観点によるＭＲＩ装置では、
上記第１の観点によるＭＲイメージング方法を好適に実
施できる。
を選択的にＲＦ飽和させるためにＭＴパルスを印加する
ＭＴパルス印加手段を具備したＭＲＩ装置であって、操
作者が入力した繰り返し時間ＴＲに合わせてＭＴパルス
のフリップ角およびオフセット周波数を最適化するＭＴ
パルス最適化手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装
置を提供する。上記第２の観点によるＭＲＩ装置では、
上記第１の観点によるＭＲイメージング方法を好適に実
施できる。
【０００８】第３の観点では、本発明は、上記構成のＭ
ＲＩ装置において、前記ＭＴパルス最適化手段は、操作
者が入力した繰り返し時間でもコイルの発熱などのハー
ドウエア制約を満足させうる最大のフリップ角を求め、
その最大のフリップ角をＭＴパルスのフリップ角と決定
し、次にそのフリップ角から適切なオフセット周波数を
求め、その適切なオフセット周波数をＭＴパルスのオフ
セット周波数と決定することを特徴とするＭＲＩ装置を
提供する。上記第３の観点によるＭＲＩ装置では、ＭＴ
パルスのフリップ角を、操作者が入力した繰り返し時間
ＴＲより短い最小繰り返し時間min_ＴＲになるような最
大のフリップ角とする。これにより、操作者が入力した
繰り返し時間ＴＲをそのままパルスシーケンスの繰り返
し時間にできる。このとき、ＭＴＣが低下する。そこ
で、そのＭＴＣの低下を補償するようにＭＴＣを向上さ
せるべく、フリップ角に適したオフセット周波数を選
ぶ。以上により、ＭＴＣを損なわずに短い繰り返し時間
とすることが出来る。なお、自由水寄生振動への影響
は、フリップ角による影響とオフセット周波数による影
響とが相殺するため、小さくなる。
ＲＩ装置において、前記ＭＴパルス最適化手段は、操作
者が入力した繰り返し時間でもコイルの発熱などのハー
ドウエア制約を満足させうる最大のフリップ角を求め、
その最大のフリップ角をＭＴパルスのフリップ角と決定
し、次にそのフリップ角から適切なオフセット周波数を
求め、その適切なオフセット周波数をＭＴパルスのオフ
セット周波数と決定することを特徴とするＭＲＩ装置を
提供する。上記第３の観点によるＭＲＩ装置では、ＭＴ
パルスのフリップ角を、操作者が入力した繰り返し時間
ＴＲより短い最小繰り返し時間min_ＴＲになるような最
大のフリップ角とする。これにより、操作者が入力した
繰り返し時間ＴＲをそのままパルスシーケンスの繰り返
し時間にできる。このとき、ＭＴＣが低下する。そこ
で、そのＭＴＣの低下を補償するようにＭＴＣを向上さ
せるべく、フリップ角に適したオフセット周波数を選
ぶ。以上により、ＭＴＣを損なわずに短い繰り返し時間
とすることが出来る。なお、自由水寄生振動への影響
は、フリップ角による影響とオフセット周波数による影
響とが相殺するため、小さくなる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、図に示す実施形態により本
発明をさらに詳しく説明する。なお、これにより本発明
が限定されるものではない。
発明をさらに詳しく説明する。なお、これにより本発明
が限定されるものではない。
【００１０】−第１の実施形態− 図１は、本発明の第１の実施形態のＭＲＩ装置を示すブ
ロック図である。このＭＲＩ装置１００において、マグ
ネットアセンブリ１は、内部に被検体を挿入するための
空間部分（孔）を有し、この空間部分を取りまくように
して、被検体に一定の静磁場を印加する静磁場コイル１
ｐと、勾配磁場を発生するための勾配磁場コイル１ｇ
（勾配磁場コイルは、Ｘ，Ｙ，Ｚの各軸のコイルを備え
ている）と、被検体にＭＴパルスや励起パルスを印加す
るための送信コイル１ｔと、被検体からのＮＭＲ信号を
検出する受信コイル１ｒとが配置されている。静磁場コ
イル１ｐは静磁場電源２に接続され、勾配磁場コイル１
ｇは勾配磁場駆動回路３に接続され、送信コイル１ｔは
ＲＦ電力増幅器４に接続され、受信コイル１ｒは前置増
幅器５に接続されている。
ロック図である。このＭＲＩ装置１００において、マグ
ネットアセンブリ１は、内部に被検体を挿入するための
空間部分（孔）を有し、この空間部分を取りまくように
して、被検体に一定の静磁場を印加する静磁場コイル１
ｐと、勾配磁場を発生するための勾配磁場コイル１ｇ
（勾配磁場コイルは、Ｘ，Ｙ，Ｚの各軸のコイルを備え
ている）と、被検体にＭＴパルスや励起パルスを印加す
るための送信コイル１ｔと、被検体からのＮＭＲ信号を
検出する受信コイル１ｒとが配置されている。静磁場コ
イル１ｐは静磁場電源２に接続され、勾配磁場コイル１
ｇは勾配磁場駆動回路３に接続され、送信コイル１ｔは
ＲＦ電力増幅器４に接続され、受信コイル１ｒは前置増
幅器５に接続されている。
【００１１】シーケンス記憶回路６は、計算機７からの
指令に従い、グラディエントエコー法やスピンエコー法
等のパルスシーケンスに基づいて、勾配磁場駆動回路３
を操作し、前記マグネットアセンブリ１の勾配磁場コイ
ル１ｇから勾配磁場を発生させると共に、ゲート変調回
路８を操作し、ＲＦ発振回路９からの高周波出力信号を
所定タイミング・所定包絡線のパルス状信号に変調し、
それをＭＴパルスや励起パルス等としてＲＦ電力増幅器
４に加え、ＲＦ電力増幅器４でパワー増幅した後、前記
マグネットアセンブリ１の送信コイル１ｔに印加し、Ｒ
Ｆパルスを送信する。
指令に従い、グラディエントエコー法やスピンエコー法
等のパルスシーケンスに基づいて、勾配磁場駆動回路３
を操作し、前記マグネットアセンブリ１の勾配磁場コイ
ル１ｇから勾配磁場を発生させると共に、ゲート変調回
路８を操作し、ＲＦ発振回路９からの高周波出力信号を
所定タイミング・所定包絡線のパルス状信号に変調し、
それをＭＴパルスや励起パルス等としてＲＦ電力増幅器
４に加え、ＲＦ電力増幅器４でパワー増幅した後、前記
マグネットアセンブリ１の送信コイル１ｔに印加し、Ｒ
Ｆパルスを送信する。
【００１２】前置増幅器５は、マグネットアセンブリ１
の受信コイル１ｒで検出された被検体からのＮＭＲ信号
を増幅し、位相検波器１０に入力する。位相検波器１０
は、ＲＦ発振回路９の出力を参照信号とし、前置増幅器
５からのＮＭＲ信号を位相検波して、Ａ／Ｄ変換器１１
に与える。Ａ／Ｄ変換器１１は、位相検波後のアナログ
信号をデジタル信号に変換して、計算機７に入力する。
の受信コイル１ｒで検出された被検体からのＮＭＲ信号
を増幅し、位相検波器１０に入力する。位相検波器１０
は、ＲＦ発振回路９の出力を参照信号とし、前置増幅器
５からのＮＭＲ信号を位相検波して、Ａ／Ｄ変換器１１
に与える。Ａ／Ｄ変換器１１は、位相検波後のアナログ
信号をデジタル信号に変換して、計算機７に入力する。
【００１３】計算機７は、Ａ／Ｄ変換器１１からのデジ
タル信号に対する画像再構成演算を行い、目的の励起領
域のイメージ（プロトン密度像）を生成する。このイメ
ージは、表示装置１３にて表示される。また、計算機７
は、操作卓１２から入力された情報を受け取るなどの全
体的な制御を受け持つ。さらに、計算機７は、操作者が
入力した繰り返し時間ＴＲに基づいてＭＴパルスのフリ
ップ角とオフセット周波数を最適化し（最適ＭＴパルス
フリップ角・オフセット周波数決定処理）、そのＭＴパ
ルスを印加するパルスシーケンスを設計し、シーケンス
記憶回路６に渡す。
タル信号に対する画像再構成演算を行い、目的の励起領
域のイメージ（プロトン密度像）を生成する。このイメ
ージは、表示装置１３にて表示される。また、計算機７
は、操作卓１２から入力された情報を受け取るなどの全
体的な制御を受け持つ。さらに、計算機７は、操作者が
入力した繰り返し時間ＴＲに基づいてＭＴパルスのフリ
ップ角とオフセット周波数を最適化し（最適ＭＴパルス
フリップ角・オフセット周波数決定処理）、そのＭＴパ
ルスを印加するパルスシーケンスを設計し、シーケンス
記憶回路６に渡す。
【００１４】図２は、本発明の一実施形態にかかる最適
ＭＴパルスフリップ角・オフセット周波数決定処理を示
すフロー図である。ステップＳ１では、操作者は、繰り
返し時間ＴＲを入力する。ステップＳ２では、操作者が
入力する可能性のある繰り返し時間ＴＲの最小値より小
さい最小繰り返し時間min_ＴＲを与えるようなフリップ
角ｘ＝ｘｏ，オフセット周波数ｆ＝ｆｏのＭＴパルスを
仮定する（波形は固定とする）。ステップＳ３では、仮
定したＭＴパルスで、被検体の電磁波吸収や送信コイル
や受信コイルの発熱などのハードウエア制約を満足する
最小繰り返し時間min_ＴＲを計算する。ステップＳ４で
は、操作者が入力した繰り返し時間ＴＲと前記最小繰り
返し時間min_ＴＲを比較し、図３の（ａ）に示すように
ＴＲがmin_ＴＲより大きいならステップＳ５へ進む。ｘ
ｏの値を小さくしてあるため、最初は必ずステップＳ５
へ進む。ステップＳ５では、図３の（ｂ）に示すように
フリップ角ｘを所定角度θだけ増加させる。そして、前
記ステップＳ３へ戻る。戻ったステップＳ３で計算され
るmin_ＴＲは、所定角度θに対応する時間だけ長くな
る。そして、ステップＳ３〜Ｓ５を反復し、図３の
（ｃ）に示すようにＴＲをmin_ＴＲが越えたらステップ
Ｓ６へ進む。ステップＳ６では、図３の（ｄ）に示すよ
うにフリップ角ｘを所定角度θだけ減少させる。減少さ
せた後のフリップ角は、操作者が入力した繰り返し時間
ＴＲより短い最小繰り返し時間min_ＴＲを与える最大の
フリップ角である。
ＭＴパルスフリップ角・オフセット周波数決定処理を示
すフロー図である。ステップＳ１では、操作者は、繰り
返し時間ＴＲを入力する。ステップＳ２では、操作者が
入力する可能性のある繰り返し時間ＴＲの最小値より小
さい最小繰り返し時間min_ＴＲを与えるようなフリップ
角ｘ＝ｘｏ，オフセット周波数ｆ＝ｆｏのＭＴパルスを
仮定する（波形は固定とする）。ステップＳ３では、仮
定したＭＴパルスで、被検体の電磁波吸収や送信コイル
や受信コイルの発熱などのハードウエア制約を満足する
最小繰り返し時間min_ＴＲを計算する。ステップＳ４で
は、操作者が入力した繰り返し時間ＴＲと前記最小繰り
返し時間min_ＴＲを比較し、図３の（ａ）に示すように
ＴＲがmin_ＴＲより大きいならステップＳ５へ進む。ｘ
ｏの値を小さくしてあるため、最初は必ずステップＳ５
へ進む。ステップＳ５では、図３の（ｂ）に示すように
フリップ角ｘを所定角度θだけ増加させる。そして、前
記ステップＳ３へ戻る。戻ったステップＳ３で計算され
るmin_ＴＲは、所定角度θに対応する時間だけ長くな
る。そして、ステップＳ３〜Ｓ５を反復し、図３の
（ｃ）に示すようにＴＲをmin_ＴＲが越えたらステップ
Ｓ６へ進む。ステップＳ６では、図３の（ｄ）に示すよ
うにフリップ角ｘを所定角度θだけ減少させる。減少さ
せた後のフリップ角は、操作者が入力した繰り返し時間
ＴＲより短い最小繰り返し時間min_ＴＲを与える最大の
フリップ角である。
【００１５】ステップＳ７では、前記フリップ角ｘに対
応する最適オフセット周波数を演算またはテーブルによ
り求める。そして、処理を終了する。なお、フリップ角
ｘに対応する最適オフセット周波数を求めるために、実
験やシミュレーションにより予め演算式やテーブルを作
成しておく必要がある。例えば、実質に近いＴ１，Ｔ２
を想定し、これらを考慮したｂｌｏｃｈの方程式に基づ
き、異なる大きさのフリップ角のＭＴパルスによる信号
減衰が一定値以下となる最小オフセット周波数をそれぞ
れ算出し、フリップ角とオフセット周波数の関係をテー
ブル化しておく。または、そのテーブルから例えば最小
二乗近似により演算式を求めておく。
応する最適オフセット周波数を演算またはテーブルによ
り求める。そして、処理を終了する。なお、フリップ角
ｘに対応する最適オフセット周波数を求めるために、実
験やシミュレーションにより予め演算式やテーブルを作
成しておく必要がある。例えば、実質に近いＴ１，Ｔ２
を想定し、これらを考慮したｂｌｏｃｈの方程式に基づ
き、異なる大きさのフリップ角のＭＴパルスによる信号
減衰が一定値以下となる最小オフセット周波数をそれぞ
れ算出し、フリップ角とオフセット周波数の関係をテー
ブル化しておく。または、そのテーブルから例えば最小
二乗近似により演算式を求めておく。
【００１６】以上のＭＲＩ装置１００によれば、図４に
示すように操作者が入力した短い繰り返し時間ＴＲのパ
ルスシーケンスでＭＲイメージングを行うことが出来
る。そして、ＭＴＣも損なわれないようになる。
示すように操作者が入力した短い繰り返し時間ＴＲのパ
ルスシーケンスでＭＲイメージングを行うことが出来
る。そして、ＭＴＣも損なわれないようになる。
【００１７】なお、上記実施形態では、操作者が入力し
た繰り返し時間ＴＲより短い最小繰り返し時間min_ＴＲ
を与える最大のフリップ角をループ計算で求めたが、演
算式により求めてもよい。また、上記実施形態では、グ
ラジエントエコー法のパルスシーケンスを例にとって説
明したが、スピンエコー法のパルスシーケンスに対して
本発明を適用してもよい。
た繰り返し時間ＴＲより短い最小繰り返し時間min_ＴＲ
を与える最大のフリップ角をループ計算で求めたが、演
算式により求めてもよい。また、上記実施形態では、グ
ラジエントエコー法のパルスシーケンスを例にとって説
明したが、スピンエコー法のパルスシーケンスに対して
本発明を適用してもよい。
【００１８】
【発明の効果】本発明のＭＲイメージング方法およびＭ
ＲＩ装置によれば、操作者が入力した繰り返し時間に合
わせてＭＴパルスのフリップ角およびオフセット周波数
を最適化するため、ＭＴＣを損なわずに短い繰り返し時
間とすることが出来る。
ＲＩ装置によれば、操作者が入力した繰り返し時間に合
わせてＭＴパルスのフリップ角およびオフセット周波数
を最適化するため、ＭＴＣを損なわずに短い繰り返し時
間とすることが出来る。
【図１】本発明の一実施形態にかかるＭＲＩ装置を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態にかかる最適ＭＴパルスフ
リップ角・オフセット周波数決定処理を示すフロー図で
ある。
リップ角・オフセット周波数決定処理を示すフロー図で
ある。
【図３】フリップ角の最適化過程の説明図である。
【図４】本発明によるグラジエントエコー法の撮像シー
ケンスの説明図である。
ケンスの説明図である。
【図５】従来のＴＲチェック処理を示すフロー図であ
る。
る。
【図６】操作者が入力した繰り返し時間ＴＲをそのまま
採用できた場合のグラジエントエコー法の撮像シーケン
スの説明図である。
採用できた場合のグラジエントエコー法の撮像シーケン
スの説明図である。
【図７】操作者が入力した繰り返し時間ＴＲを延長した
場合のグラジエントエコー法の撮像シーケンスの説明図
である。
場合のグラジエントエコー法の撮像シーケンスの説明図
である。
１００ ＭＲＩ装置 １ マグネットアセンブリ ２ 静磁場電源 ３ 勾配磁場駆動回路 ４ ＲＦ電力増幅器 ５ 前置増幅器 ６ シーケンス記憶回路 ７ 計算機 ８ ゲート変調回路 ９ ＲＦ発振回路 １０ 位相検波器 １１ ＡＤ変換器 １２ 操作卓 １３ 表示装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平10−33498（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−108196（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−170937（ＪＰ，Ａ) 奥村歩 他，「Ｍａｇｎｅｔｉｚａｔ ｉｏｎ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｃｏｎｔｒ ａｓｔによる脳浮腫研究（第１報）」, 脳浮腫研究会報告集（1996），Ｖｏｌ. 19ｔｈ，ｐ89−ｐ97 (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) A61B 5/055 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (3)
- 【請求項１】 目的外の核種を選択的にＲＦ飽和させる
ためにＭＴパルスを印加するＭＴパルス印加手段を具備
したＭＲＩ装置であって、 操作者が入力した繰り返し時間ＴＲに合わせてＭＴパル
スのフリップ角およびオフセット周波数を最適化するＭ
Ｔパルス最適化手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ
装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載のＭＲＩ装置において、
前記ＭＴパルス最適化手段は、操作者が入力した繰り返
し時間でもコイルの発熱などのハードウエア制約を満足
させうる最大のフリップ角を求め、その最大のフリップ
角をＭＴパルスのフリップ角と決定し、次にそのフリッ
プ角から適切なオフセット周波数を求め、その適切なオ
フセット周波数をＭＴパルスのオフセット周波数と決定
することを特徴とするＭＲＩ装置。 - 【請求項３】 請求項２に記載のＭＲＩ装置において、
前記ＭＴパルス最適化手段は、決定したＭＴパルスのフ
リップ角に対応する最適オフセット周波数を求める演算
式またはテーブルを有することを特徴とするＭＲＩ装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09218415A JP3112866B2 (ja) | 1997-08-13 | 1997-08-13 | Ｍｒイメージング方法およびｍｒｉ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09218415A JP3112866B2 (ja) | 1997-08-13 | 1997-08-13 | Ｍｒイメージング方法およびｍｒｉ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1156805A JPH1156805A (ja) | 1999-03-02 |
| JP3112866B2 true JP3112866B2 (ja) | 2000-11-27 |
Family
ID=16719563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09218415A Expired - Fee Related JP3112866B2 (ja) | 1997-08-13 | 1997-08-13 | Ｍｒイメージング方法およびｍｒｉ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3112866B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7785168B2 (en) | 2006-02-20 | 2010-08-31 | Spin Master Ltd. | Transformable toy |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6265875B1 (en) * | 1999-05-17 | 2001-07-24 | General Electric Company | Method and apparatus for efficient MRI tissue differentiation |
| JP5460264B2 (ja) * | 2009-11-24 | 2014-04-02 | 株式会社日立メディコ | 磁気共鳴イメージング装置および磁気共鳴イメージング装置の動作制御方法 |
-
1997
- 1997-08-13 JP JP09218415A patent/JP3112866B2/ja not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 奥村歩 他，「Ｍａｇｎｅｔｉｚａｔｉｏｎ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｃｏｎｔｒａｓｔによる脳浮腫研究（第１報）」，脳浮腫研究会報告集（１９９６），Ｖｏｌ．１９ｔｈ，ｐ８９−ｐ９７ |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7785168B2 (en) | 2006-02-20 | 2010-08-31 | Spin Master Ltd. | Transformable toy |
| US8500508B2 (en) | 2006-02-20 | 2013-08-06 | Spin Master Ltd. | Transformable toy |
| US9308461B2 (en) | 2006-02-20 | 2016-04-12 | Spin Master Ltd. | Transformable toy |
| US12343652B2 (en) | 2006-02-20 | 2025-07-01 | Spin Master Ltd. | Transformable toy |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1156805A (ja) | 1999-03-02 |
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