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JP3120100B2 - Semiconductor light emitting device - Google Patents
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JP3120100B2 - Semiconductor light emitting device - Google Patents

Semiconductor light emitting device

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JP3120100B2
JP3120100B2 JP24954990A JP24954990A JP3120100B2 JP 3120100 B2 JP3120100 B2 JP 3120100B2 JP 24954990 A JP24954990 A JP 24954990A JP 24954990 A JP24954990 A JP 24954990A JP 3120100 B2 JP3120100 B2 JP 3120100B2
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crystal layer
light
semiconductor
incoherent
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悦男 野口
洋 八坂
修 三上
克明 曲
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、インコヒーレント光とレーザ光とを選択的
に得ることができる半導体発光装置に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a semiconductor light emitting device capable of selectively obtaining incoherent light and laser light.

[従来の技術] 従来、インコヒーレント光を得ることができるインコ
ヒーレント光用半導体発光素子と、レーザ光を得ること
ができるレーザ光用半導体発光素子とを各別に用意し、
そして、それらインコヒーレント光用半導体発光素子と
レーザ光用半導体発光素子とを選択することによって、
インコヒーレント光とレーザ光とを選択的に得るように
した半導体発光装置が、測定用光源装置に用いられてい
る。
[Prior art] Conventionally, a semiconductor light emitting element for incoherent light capable of obtaining incoherent light and a semiconductor light emitting element for laser light capable of obtaining laser light are separately prepared,
Then, by selecting the semiconductor light emitting element for incoherent light and the semiconductor light emitting element for laser light,
A semiconductor light emitting device that selectively obtains incoherent light and laser light is used for a measurement light source device.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述した従来の半導体発光装置の場
合、インコヒーレント光を得ることができるインコヒー
レント光用半導体発光素子と、レーザ光を得ることがで
きるレーザ光用半導体発光素子との2つの半導体発光素
子を各別に用意する必要があり、このため、半導体発光
装置が大型化する、という欠点を有していた。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the case of the above-described conventional semiconductor light emitting device, a semiconductor light emitting element for incoherent light capable of obtaining incoherent light and a semiconductor light emitting device for laser light capable of obtaining laser light It is necessary to prepare two semiconductor light-emitting elements separately from each other, and this has the disadvantage that the semiconductor light-emitting device becomes large.

また、上述した従来の半導体発光装置の場合、インコ
ヒーレント光とレーザ光とをそれらに共通の光学系に供
給する場合、インコヒーレント光用半導体発光素子と光
学系との間に延長しているインコヒーレント光用伝送路
と、レーザ光用半導体発光素子と光学系との間に延長し
ているレーザ光用伝送路との2つの伝送路を各別に用意
しなければ、インコヒーレント光とレーザ光とを、それ
らに共通の光学系に、選択的に供給させることができ
ず、従って、インコヒーレント光とレーザ光とをそれら
に共通の光学系に供給する場合、その供給手段が、複数
大型化する、という欠点を有していた。
In the case of the conventional semiconductor light emitting device described above, when incoherent light and laser light are supplied to an optical system common to them, an incoherent light semiconductor light emitting element and an optical system extending between the optical system are provided. Unless two transmission paths are provided, one each for the coherent light transmission path and the laser light transmission path extending between the semiconductor light emitting element for laser light and the optical system, the incoherent light and the laser light must be provided separately. Cannot be selectively supplied to an optical system common to them, and therefore, when incoherent light and laser light are supplied to an optical system common to them, a plurality of supply units are enlarged. , Had the drawback.

[本発明の目的] よって、本発明は、上述した欠点のない、新規な半導
体発光装置を提案せんとするものである。
[Object of the present invention] Accordingly, an object of the present invention is to propose a novel semiconductor light emitting device that does not have the above-mentioned disadvantages.

[課題を解決するための手段] 本発明による半導体発光装置は、(i)第1の導電
型を与える不純物または第1の導電型とは逆の第2の導
電型を与える不純物のいずれも意図的に導入させていな
いか導入させているとしても十分低い濃度でしか導入さ
せていない複数n個の第1、第2………第nのインコヒ
ーレント光用半導体結晶層と、第1の導電型を与える不
純物または第1の導電型とは逆の第2の導電型を与える
不純物のいずれも意図的に導入させていないか導入させ
ているとしても十分低い濃度でしか導入させていないレ
ーザ光用半導体結晶層とを有し、(ii)上記第1のイン
コヒーレント光用半導体結晶層が、第1の半導体結晶層
上にそれと接して積層して形成され、(iii)上記第
2、第3………第nのインコヒーレント光用半導体結晶
層が、上記第1、第2………第(n−1)のインコヒー
レント光用半導体結晶層上に、それらの一部を上方から
みて順次配列されている第1、第2………第(n−1)
の半導体結晶層部としてそれぞれ残している状態に、第
2、第3………第nの半導体結晶層をそれぞれ介して積
層して形成され、(iv)上記レーザ光用半導体結晶層
が、上記第nのインコヒーレント光用半導体結晶層上
に、その一部を第nの半導体結晶層部として残している
状態に、第(n+1)の半導体結晶層を介して積層して
形成され、(v)上記第1、第2………第nの半導体結
晶層部及び上記レーザ光用半導体結晶層上に、第(n+
2)の半導体結晶層が連続延長して形成されている構成
を有し、(vi)且つ相対向しているファブリペローの反
射面でなり且つ上記第1のインコヒーレント光用半導体
結晶層の第1の半導体結晶層部側の端面及びそれとは反
対側の端面をそれぞれ形成している第1及び第2の端面
を有する半導体積層体を有し、そして、上記半導体積
層体の相対向する第1及び第2の主面上に、第1及び第
2の電極層が相対向してそれぞれ配され、また、上記
第1、第2………第nのインコヒーレント光用半導体結
晶層がそれらの順に順次小さな第1、第2………第nの
エネルギバンドギャップをそれぞれ有し、さらに、上
記レーザ光用半導体結晶層が、上記第nのインコヒーレ
ント光用半導体結晶層に比し小さなエネルギバンドギャ
ップを有し、また、(i)上記第1の半導体結晶層
が、上記第1のインコヒーレント光用半導体結晶層に比
し広いエネルギバンドギャップと低い屈折率とを有する
とともに第1の導電型を有し、(ii)上記第2、第3…
……第nの半導体結晶層が、上記第1及び第2、上記第
2及び第3………上記第(n−1)及び第nのインコヒ
ーレント光用半導体結晶層に比し広いエネルギバンドギ
ャップと低い屈折率とをそれぞれ有するとともに第1の
導電型を与える不純物または第1の導電型とは逆の第2
の導電型を与える不純物のいずれも意図的に導入させて
いないか第1の導電型を有し、(iii)上記第(n+
1)の半導体結晶層が、上記第nのインコヒーレント光
用半導体結晶層及びレーザ光用半導体結晶層に比し広い
エネルギバンドギャップと低い屈折率とを有するととも
に、第1の導電型を与える不純物または第1の導電型と
は逆の第2の導電型を与える不純物のいずれも意図的に
導入させていないか第1の導電型を有し、(iv)上記第
(n+2)の半導体結晶層が、上記第1〜第nのインコ
ヒーレント光用半導体結晶層及び上記レーザ光用半導体
結晶層に比し広いエネルギバンドギャップと低い屈折率
とを有するとともに第2の導電型を有し、さらに、上
記第1の電極層が、上記第1〜第nのインコヒーレント
光用半導体結晶層と対向しているインコヒーレント光用
電極層と、上記レーザ光用半導体結晶層と対向している
レーザ光用電極層とを有し、また、上記半導体積層体
の上記第1の端面をインコヒーレント光用及びレーザ光
用光放射面としている。
[Means for Solving the Problems] The semiconductor light emitting device according to the present invention is intended for (i) either an impurity imparting a first conductivity type or an impurity imparting a second conductivity type opposite to the first conductivity type. A plurality of n first, second,..., Nth incoherent light semiconductor crystal layers which are not introduced or are introduced only at a sufficiently low concentration even if they are introduced, A laser beam in which either the impurity giving the mold or the impurity giving the second conductivity type opposite to the first conductivity type is not intentionally introduced, or is introduced only at a sufficiently low concentration, even if introduced. (Ii) the first incoherent light semiconductor crystal layer is formed on and in contact with the first semiconductor crystal layer, and (iii) the second, 3... N-th semiconductor for incoherent light ,... Are arranged on the first, second... (N-1) -th semiconductor crystal layer for incoherent light in order with a part thereof viewed from above. ... (n-1)
Are formed by laminating through the second, third,..., N-th semiconductor crystal layers, respectively, in a state where they are left as the semiconductor crystal layer portions of (a). (V) a layer formed on the n-th incoherent light semiconductor crystal layer, with a part thereof left as an n-th semiconductor crystal layer portion, with an (n + 1) -th semiconductor crystal layer interposed therebetween; ) On the first, second... N-th semiconductor crystal layer portion and the laser light semiconductor crystal layer, the (n +
(Vi) a reflective surface of the Fabry-Perot that is opposed to the semiconductor crystal layer of (2), and the semiconductor crystal layer of the first incoherent light semiconductor crystal layer has a structure of (vi). And a semiconductor laminate having first and second end faces respectively forming an end face on the semiconductor crystal layer portion side and an end face on the opposite side of the first semiconductor crystal layer portion. The first and second electrode layers are disposed opposite to each other on the second main surface, and the first, second,..., Nth incoherent light semiconductor crystal layers are .. Have the first, second,..., N-th energy band gaps in that order, and the laser light semiconductor crystal layer is smaller in energy band than the n-th incoherent light semiconductor crystal layer. With a gap and (i The first semiconductor crystal layer has a wider energy band gap and a lower refractive index than the first semiconductor crystal layer for incoherent light, has the first conductivity type, and (ii) has the second conductivity type. , Third ...
... The n-th semiconductor crystal layer has a wider energy band than the first and second, the second and third,..., The (n−1) -th and n-th semiconductor crystal layers for incoherent light. An impurity having a gap and a low refractive index, respectively, and providing a first conductivity type or a second impurity opposite to the first conductivity type;
(Iii) the impurity having the first conductivity type is not intentionally introduced or has the first conductivity type.
The semiconductor crystal layer of 1) has a wider energy band gap and a lower refractive index than those of the n-th incoherent light semiconductor crystal layer and the laser light semiconductor crystal layer, and has an impurity that gives the first conductivity type. Alternatively, any of the impurities imparting the second conductivity type opposite to the first conductivity type is not intentionally introduced or has the first conductivity type, and (iv) the (n + 2) -th semiconductor crystal layer Has a wider energy band gap and a lower refractive index than the first to n-th incoherent light semiconductor crystal layers and the laser light semiconductor crystal layer, and has a second conductivity type, An incoherent light electrode layer in which the first electrode layer faces the first to n-th incoherent light semiconductor crystal layers, and a laser light in which the laser beam faces the laser light semiconductor crystal layer. Electrode layer Has, also the first end surface of the semiconductor stacked body and for incoherent light and laser light the light emitting surface.

この場合、上記第1の電極層のインコヒーレント光用
電極層を、上記第1、第2………第nのインコヒーレン
ト光用半導体結晶層の第1、第2………第nの半導体結
晶層部にそれぞれ対向している第1、第2………第nの
電極層部を有するものとし得る。
In this case, the incoherent light electrode layer of the first electrode layer is replaced with the first, second... Nth semiconductor of the first, second... N-th incoherent light semiconductor crystal layer. It is possible to have first, second,..., N-th electrode layers facing the crystal layer.

また、上記第1、第2………第nのインコヒーレント
光用半導体結晶層の第1、第2………第nのエネルギバ
ンドギャップに、第1及び第2の半導体結晶層部でそれ
ぞれ発光する光の帯域、第2及び第3の半導体結晶層部
でそれぞれ発光する光の帯域………第(n−1)及び第
nの半導体結晶層部でそれぞれ発光する光帯域がそれぞ
れ互に一部重複して得られる値をそれぞれ有せしめ得
る。
The first and second... N-th energy band gaps of the first and second... N-th semiconductor crystal layers for incoherent light respectively correspond to the first and second semiconductor crystal layer portions. The band of light emitted, the band of light emitted in the second and third semiconductor crystal layers, and the light bands emitted in the (n-1) and n-th semiconductor crystal layers are mutually opposite. Each of the values can be partially overlapped.

[作用・効果] 本発明による半導体発光装置によれば、第1の電極層
のインコヒーレント光用電極層と第2の電極層との間に
所要のインコヒーレント光用電源を接続すれば、そのイ
ンコヒーレント光用電源から、電流が、半導体積層体
に、第1のインコヒーレント光用半導体結晶層の第1の
半導体結晶層部、及び第1の半導体結晶層の第1の半導
体結晶層部、第2のインコヒーレント光用半導体結晶層
の第2の半導体結晶層部、及び第1のインコヒーレント
光用半導体結晶層及び第2、第1の半導体結晶層の第2
の半導体結晶層部下の領域、第3のインコヒーレント光
用半導体結晶層の第3の半導体結晶層部及び第2、第1
のインコヒーレント光用半導体結晶層及び第3、第2、
第1の半導体結晶層の第3の半導体結晶層部下の領域、
………第nのインコヒーレント光用半導体結晶層の第n
の半導体結晶層部及び第(n−1)、第(n−2)……
…第1のインコヒーレント光用半導体結晶層及び第n、
第(n−1)………第2、第1の半導体結晶層の第nの
半導体結晶層部下の領域を通って流れ、そして、この場
合、第1、第2………第nのインコヒーレント光用半導
体結晶層のエネルギバンドギャップがそれらの順に小さ
いエネルギバンドギャップを有し且つ第1、第2、第3
………第nの半導体結晶層が第1及び第2、第2及び第
3………第(n−1)及び第nのインコヒーレント光用
半導体結晶層に比し広いエネルギバンドギャップを有し
ていることから、実質的に、第1、第2………第nのイ
ンコヒーレント光用半導体結晶層の第1、第2………第
nの半導体結晶層部において、それら第1、第2………
第nのインコヒーレント光用半導体結晶層のエネルギバ
ンドギャップに応じた波長をそれぞれ中心とする帯域を
有する光がそれぞれ発生する。
[Operation / Effect] According to the semiconductor light emitting device of the present invention, if a required power supply for incoherent light is connected between the electrode layer for incoherent light of the first electrode layer and the second electrode layer, then A current is supplied from the power supply for incoherent light to the semiconductor laminate, the first semiconductor crystal layer portion of the first semiconductor crystal layer for incoherent light, and the first semiconductor crystal layer portion of the first semiconductor crystal layer; The second semiconductor crystal layer portion of the second semiconductor crystal layer for incoherent light, and the second semiconductor crystal layer of the first semiconductor crystal layer for incoherent light and the second semiconductor crystal layer of the second and first semiconductor crystal layers.
A region under the semiconductor crystal layer portion of the third, the third semiconductor crystal layer portion of the third semiconductor crystal layer for incoherent light, and the second and first regions.
Semiconductor crystal layer for incoherent light and third, second,
A region of the first semiconductor crystal layer below the third semiconductor crystal layer,
... N-th of the n-th incoherent light semiconductor crystal layer
Of the semiconductor crystal layer portion and the (n-1) -th and (n-2) -th
... the first incoherent light semiconductor crystal layer and the n-th semiconductor crystal layer
(N-1)... Flows through a region of the second and first semiconductor crystal layers below the n-th semiconductor crystal layer portion, and in this case, the first, second. The energy band gap of the coherent light semiconductor crystal layer has an energy band gap smaller in that order, and the first, second, and third
... The n-th semiconductor crystal layer has a wider energy band gap than the first and second, second and third... (N-1) and n-th semiconductor crystal layers for incoherent light. In the first, second,..., N-th semiconductor crystal layers for incoherent light, the first, second,. Second ………
Light having a band centered on a wavelength corresponding to the energy band gap of the n-th incoherent light semiconductor crystal layer is generated.

そして、第1のインコヒーレント光用半導体結晶層の
第1の半導体結晶層部で発生した光は、第1、第2……
…第nのインコヒーレント光用半導体結晶層の第1、第
2………第nの半導体結晶層部がそれらの順にインコヒ
ーレント光用及びレーザ光用光放射面を形成している半
導体積層体の第1の端面側から順次配列され且つその配
列順に順次小さな第1、第2………第nのエネルギバン
ドギャップを有し、また、レーザ光用半導体結晶層が、
第nのインコヒーレント光用半導体結晶層の第nの半導
体結晶層部よりも半導体積層体の第2の端面側に配され
且つ第nのインコヒーレント光用半導体結晶層の第nの
半導体結晶層部に比し小さなエネルギバンドギャップを
有し、さらに、第1、第2………第(n−1)のインコ
ヒーレント光用半導体結晶層が第2、第3………第nの
半導体結晶層を介して第2、第3………第nのインコヒ
ーレント光用半導体結晶層に光学的にそれぞれ結合し、
また、第nのインコヒーレント光用半導体結晶層が第
(n+1)の半導体結晶層を介してレーザ光用半導体結
晶層に光学的に結合しているので、半導体積層体の第2
の端面側に向う光分については、第1のインコヒーレン
ト光用半導体結晶層を、第1及び第2の半導体結晶層に
よって閉じ込められて半導体積層体の第2の端面側に伝
播せんとするが、第2〜第nのインコヒーレント光用半
導体結晶層及びレーザ光用半導体結晶層内でほとんど吸
収され、第2の端面にほとんど達しない。
The light generated in the first semiconductor crystal layer portion of the first semiconductor crystal layer for incoherent light is the first, second,...
.. A semiconductor laminate in which the first and second n.sup.th semiconductor crystal layer portions of the n.sup.th incoherent light semiconductor crystal layer form light emitting surfaces for incoherent light and laser light in that order. Have the first, second,..., N-th energy band gaps which are sequentially arranged from the first end face side of the semiconductor laser device in the order of arrangement, and the semiconductor crystal layer for laser light is
The n-th semiconductor crystal layer of the n-th incoherent light semiconductor crystal layer, which is disposed closer to the second end face of the semiconductor laminate than the n-th semiconductor crystal layer portion of the n-th incoherent light semiconductor crystal layer The first, second,..., (N−1) -th semiconductor crystal layers for incoherent light have second, third,..., N-th semiconductor crystals. Optically coupled to the second, third,..., Nth incoherent light semiconductor crystal layers via the layers,
In addition, since the n-th incoherent light semiconductor crystal layer is optically coupled to the laser light semiconductor crystal layer via the (n + 1) -th semiconductor crystal layer, the second semiconductor crystal layer
Although the light component traveling toward the end face side is confined by the first and second semiconductor crystal layers for the first incoherent light semiconductor crystal layer, the light component propagates to the second end face side of the semiconductor laminate. , Are almost absorbed in the second to n-th semiconductor crystal layers for incoherent light and laser light, and hardly reach the second end face.

しかしながら、第1のインコヒーレント光用半導体結
晶層の第1の半導体結晶層部で発生した光の、半導体積
層体の第1の端面側に向う光分については、第1の半導
体結晶層部を、そこにおいてほとんど吸収されずに、第
1及び第(n+2)の半導体結晶層によって閉じ込めら
れて伝播し、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放
射面に達する。
However, for the light generated in the first semiconductor crystal layer portion of the first semiconductor crystal layer for incoherent light, which is directed toward the first end face of the semiconductor laminate, the first semiconductor crystal layer portion is not used. The light is hardly absorbed therein, propagates by being confined by the first and (n + 2) th semiconductor crystal layers, and reaches the light emitting surfaces for incoherent light and laser light.

また、第2、第3、第4………第nのインコヒーレン
ト光用半導体結晶層の第2、第3………第nの半導体結
晶層部で発生した光は、半導体積層体の第2の端面側に
向う分について、上述したのに準じた理由から、上述し
たのに準じて、第3〜第nのインコヒーレント光用半導
体結晶層及びレーザ光用半導体結晶層、第4〜第nのイ
ンコヒーレント光用半導体結晶層及びレーザ光用半導体
結晶層………レーザ光用半導体結晶層内でそれぞれほと
んど吸収され、第2の端面にはほとんど達しない。
The light generated in the second, third,..., N-th semiconductor crystal layer portions of the n-th incoherent light semiconductor crystal layer is the second, third, fourth,. 2 to the end face side, for the same reason as described above, the third to n-th semiconductor crystal layers for incoherent light and the semiconductor crystal layer for laser light, n Incoherent light semiconductor crystal layer and laser light semiconductor crystal layer... are hardly absorbed in the laser light semiconductor crystal layer, and hardly reach the second end face.

しかしながら、第1の端面側に向う光分については、
第1のインコヒーレント光用半導体結晶層、第1及び第
2のインコヒーレント光用半導体結晶層、第1〜第3の
インコヒーレント光用半導体結晶層………第1〜第(n
−1)のインコヒーレント光用半導体結晶層をそれぞれ
通って、ほとんど吸収されずに、第1及び第(n+2)
の半導体結晶層によって閉じ込められて伝播し、インコ
ヒーレント光用及びレーザ光用光放射面に達する。
However, for the light component directed to the first end face side,
First semiconductor crystal layer for incoherent light, first and second semiconductor crystal layers for incoherent light, first to third semiconductor crystal layers for incoherent light... First to (n
-1) through the incoherent light semiconductor crystal layer, the first and (n + 2)
Are propagated by being confined by the semiconductor crystal layer of the semiconductor device, and reach a light emitting surface for incoherent light and laser light.

このため、第1、第2………第nのインコヒーレント
光用半導体結晶層の第1、第2………第nの半導体結晶
層部でそれぞれ発生する光が、インコヒーレント光とし
て、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面か
ら、外部に放射して得られる。
For this reason, light generated in the first, second... N-th semiconductor crystal layer portions of the n-th incoherent light semiconductor crystal layer, respectively, is converted into incoherent light as incoherent light. It is obtained by radiating outside from the light emitting surface for coherent light and laser light.

また、この場合、半導体積層体に、インコヒーレント
光用電源からの電流を継続して流せば、インコヒーレン
ト光用及びレーザ光用光放射面から外部に放射されるイ
ンコヒーレント光が、第1、第2………第nのインコヒ
ーレント光用半導体結晶層の第1、第2………第nの半
導体結晶層部に流れる電流に応じて、比較的高い輝度で
得られる。
In this case, if the current from the power supply for incoherent light is continuously supplied to the semiconductor laminate, the incoherent light radiated to the outside from the light emitting surface for incoherent light and laser light is first and second. The second,...,... Relatively high luminance can be obtained according to the current flowing in the first, second..., The n-th semiconductor crystal layer portions of the n-th incoherent light semiconductor crystal layer.

さらに、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射
面から外部に放射して得られるインコヒーレント光が、
インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面上におけ
る第1のインコヒーレント光用半導体結晶層の第1の半
導体結晶層部の端面という局部的な領域から外部に放射
される光であるので、インコヒーレント光用及びレーザ
光用光放射面から外部に放射して得られるインコヒーレ
ント光が、第1のインコヒーレント光用半導体結晶層の
第1の半導体結晶層部の厚さに応じて、比較的狭い放射
角で放射される。
Furthermore, incoherent light obtained by radiating from the light emitting surface for incoherent light and laser light to the outside,
Since the light is radiated outside from a local region of an end face of the first semiconductor crystal layer portion of the first semiconductor crystal layer for incoherent light on the light emission surface for incoherent light and laser light, The incoherent light obtained by radiating the light from the light emitting surface for coherent light and the light for laser light to the outside is relatively large depending on the thickness of the first semiconductor crystal layer portion of the first semiconductor crystal layer for incoherent light. Emitted at a narrow emission angle.

よって、本発明による半導体発光装置による場合、イ
ンコヒーレント光を、インコヒーレント光用及びレーザ
光用光放射面から、外部に、比較的高い強度で且つ比較
的狭い放射角で得ることができる。
Therefore, in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention, incoherent light can be obtained outside from the light emitting surfaces for incoherent light and laser light at a relatively high intensity and a relatively narrow radiation angle.

また、この場合、インコヒーレント光用電極層を、第
1、第2………第nのインコヒーレント光用半導体結晶
層の第1、第2………第nの半導体結晶層部にそれぞれ
対向している第1、第2………第nの電極層部を有する
ものとすれば、それら第1、第2………第nの電極層部
のそれぞれと第2の電極層との間に第1、第2………第
nのインコヒーレント光用電源を接続することができる
ので、第1、第2………第nの半導体結晶層部でそれぞ
れ発光する光の強度を各別に調整することができ、よっ
て、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面から
放射するインコヒーレント光の波長に対する強度分布を
調整することができる。
In this case, the incoherent light electrode layer is opposed to the first, second,..., Nth incoherent light semiconductor crystal layer first, second,. ... N-th electrode layer portion between the first, second,..., N-th electrode layer portions and the second electrode layer. ,... N-th incoherent light power supply can be connected to the first and second... N-th semiconductor crystal layer portions. It is possible to adjust the intensity, and thereby adjust the intensity distribution of the incoherent light with respect to the wavelength of the incoherent light emitted from the incoherent light and laser light emission surfaces.

さらに、第1、第2………第nの半導体結晶層部をそ
れぞれ有する第1、第2………第nのインコヒーレント
光用半導体結晶層の第1、第2………第nのエネルギバ
ンドギャップを、第1及び第2の半導体結晶層部でそれ
ぞれ発生する光の帯域、第2及び第3の半導体結晶層部
でそれぞれ発生する光の帯域、………第(n−1)及び
第nの半導体結晶層部でそれぞれ発生する光の帯域がそ
れぞれ互に一部重複して得られる範囲で、第1及び第2
のエネルギバンドギャップ間、第2及び第3のエネルギ
バンドギャップ間、………第(n−1)及び第nのエネ
ルギバンドギャップ間にそれぞれ大きな差が得られる値
に予め選定しておけば、インコヒーレント光用及びレー
ザ光用光放射面から外部に放射して得られるインコヒー
レント光を、広い帯域幅を有する1つの帯域を有するも
のとして得ることができる。
Further, the first and second... N-th n-th semiconductor crystal layers for incoherent light having the first, second... N-th semiconductor crystal layer portions, respectively. The energy band gap is defined as the band of light generated in each of the first and second semiconductor crystal layers, the band of light generated in each of the second and third semiconductor crystal layers,... (N-1) The first and second light sources are generated within a range in which light bands respectively generated in the n-th semiconductor crystal layer portion and the light bands respectively partially overlap each other.
, Between the second and third energy band gaps,..., Are selected in advance so that a large difference is obtained between the (n-1) th and n-th energy band gaps. The incoherent light obtained by radiating the incoherent light and the laser light to the outside from the light emitting surface can be obtained as having one band having a wide bandwidth.

また、本発明による半導体発光装置による場合、第1
の電極層のレーザ光用電極層と第2の電極層との間に、
所要のレーザ光用電源を接続すれば、そのレーザ光用電
源から、電流が、半導体積層体に、レーザ光用半導体結
晶層、第(n+1)の半導体結晶層、第n、第(n−
1)………第2の半導体結晶層及び第n、第(n−1)
………第1のインコヒーレント光用半導体結晶層のレー
ザ光用半導体結晶層下の領域を通って流れ、そして、こ
の場合、レーザ光用半導体結晶層が、第1〜第nのイン
コヒーレント光用半導体結晶層及び第2〜第(n+1)
の半導体結晶層に比し小さいエネルギバンドギャップを
有していることから、実質的に、レーザ光用半導体結晶
層において、そのエネルギバンドギャップに応じた波長
を中心とする帯域を有する光が発生する。
In the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention, the first
Between the laser light electrode layer of the electrode layer and the second electrode layer,
When a required laser light power supply is connected, the current is supplied from the laser light power supply to the semiconductor laminate, the laser light semiconductor crystal layer, the (n + 1) th semiconductor crystal layer, the nth and (n−
1) The second semiconductor crystal layer and the n-th and (n−1) -th semiconductor crystal layers
... Flows through a region of the first incoherent light semiconductor crystal layer below the laser light semiconductor crystal layer, and in this case, the laser light semiconductor crystal layer forms the first to n-th incoherent light. Semiconductor crystal layer and second to (n + 1) th
Has an energy band gap smaller than that of the semiconductor crystal layer, substantially, light having a band centered on a wavelength corresponding to the energy band gap is generated in the semiconductor crystal layer for laser light. .

そして、そのレーザ光用半導体結晶層で発生した光
は、第1、第2………第nのインコヒーレント光用半導
体結晶層が、レーザ光用半導体結晶層に比し広いエネル
ギバンドギャップを有し且つそれらの順に広いエネルギ
バンドギャップを有し、また、上述したように、第1、
第2………第(n−1)のインコヒーレント光用半導体
結晶層が第2、第3………第nの半導体結晶層を介して
第2、第3………第nのインコヒーレント光用半導体結
晶層に光学的にそれぞれ結合し、また、第nのインコヒ
ーレント光用半導体結晶層が第(n+1)の半導体結晶
層を介してレーザ光用半導体結晶層に光学的に結合して
いるので、半導体積層体の第1の端面側に向う光分につ
いて、レーザ光用半導体結晶層及び第1〜第nのインコ
ヒーレント光用半導体結晶層を、ほとんど吸収されず
に、第1及び第(n+2)の半導体結晶層によって閉じ
込められて、最終的に、第1のインコヒーレント光用半
導体結晶層を通って半導体積層体の第1の端面側に伝播
し、次で、その第1の端面で反射して、第2の端面側
に、第1のインコヒーレント光用半導体結晶層を通って
向い、また、半導体積層体の第2の端面側に向う光分に
ついて、上述したのに準じた理由で、上述したのに準じ
て、レーザ光用半導体結晶層及び第1〜第nのインコヒ
ーレント光用半導体結晶層を、ほとんど吸収されずに、
第1及び第(n+2)の半導体結晶層によって閉じ込め
られて、最終的に、第1のインコヒーレント光用半導体
結晶層を通って半導体積層体の第2の端面側に伝播し、
次で、その第2の端面で反射して、第1の端面側に、第
1のインコヒーレント光用半導体結晶層を通って向う。
The light generated in the semiconductor crystal layer for laser light is such that the first, second,..., N-th semiconductor crystal layers for incoherent light have a wider energy band gap than the semiconductor crystal layer for laser light. And in that order have a wide energy bandgap, and, as described above,
Second to third (n−1) th incoherent light semiconductor crystal layers via the second and third... Nth semiconductor crystal layers, second and third... Nth incoherent light The n-th incoherent light semiconductor crystal layer is optically coupled to the laser light semiconductor crystal layer via the (n + 1) -th semiconductor crystal layer. Therefore, the first and nth incoherent light semiconductor crystal layers are hardly absorbed by the laser light semiconductor crystal layer and the first to n-th incoherent light semiconductor crystal layers for the light component directed to the first end face side of the semiconductor laminate. The semiconductor layer is confined by the (n + 2) semiconductor crystal layer and finally propagates through the first semiconductor crystal layer for incoherent light to the first end face side of the semiconductor laminate, and then the first end face And reflected on the second end face side by the first incoherent For the light component that passes through the semiconductor crystal layer for semiconductor light and that is directed to the second end face side of the semiconductor laminate, the semiconductor crystal layer for laser light is used for the same reason as described above. And the first to n-th semiconductor crystal layers for incoherent light are hardly absorbed,
Being confined by the first and (n + 2) th semiconductor crystal layers and finally propagating to the second end face side of the semiconductor laminate through the first incoherent light semiconductor crystal layer;
Next, the light is reflected at the second end face, and is directed to the first end face side through the first incoherent light semiconductor crystal layer.

このため、半導体積層体に、レーザ光用電源からの電
流を継続して流せば、レーザ発振が生じ、そして、それ
にもとずくレーザ光が、インコヒーレント光用及びレー
ザ光用光放射面から外部に放射される。
Therefore, if a current from the laser light power supply is continuously applied to the semiconductor laminate, laser oscillation occurs, and the laser light is externally transmitted from the incoherent light and laser light emission surfaces. Is radiated.

よって、本発明による半導体発光装置による場合、レ
ーザ光を、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射
面から、外部に得ることができる。
Therefore, in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention, laser light can be obtained outside from the light emitting surfaces for incoherent light and laser light.

以上のことから、本発明による半導体発光装置による
場合、1つの素子構成で、インコヒーレント光とレーザ
光とを、同じインコヒーレント光用及びレーザ光用光放
射面から外部に得ることができる。
As described above, in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention, the incoherent light and the laser light can be externally obtained from the same incoherent light and laser light emission surfaces with one element configuration.

このため、半導体発光装置を前述した従来の半導体発
光装置の場合に比し、格段的に小型化することができ
る。
Therefore, the size of the semiconductor light emitting device can be significantly reduced as compared with the above-described conventional semiconductor light emitting device.

また、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに共
通の光学系に供給する場合、それらインコヒーレント光
及びレーザ光に対して共通の伝送路を用いることができ
るので、インコヒーレント光とレーザ光とをそれに共通
の光学系に供給する手段を、前述した従来の半導体発光
装置の場合に比し格段的に簡易、小型化させることがで
きる。
Further, when the incoherent light and the laser light are supplied to a common optical system, a common transmission path can be used for the incoherent light and the laser light. Means for supplying a common optical system can be significantly simplified and downsized as compared with the conventional semiconductor light emitting device described above.

[実施例1] 次に、第1図〜第4図を伴って本発明による半導体発
光装置の第1の実施例を述べよう。
Embodiment 1 Next, a first embodiment of a semiconductor light emitting device according to the present invention will be described with reference to FIGS.

第1図〜第4図に示す本発明による半導体発光装置
は、次に述べる構成を有する。
The semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4 has the following configuration.

すなわち、例えばn型を有する半導体結晶基板1と、
半導体結晶基板1上にそれと接して形成され且つ半導体
結晶基板1と同じn型を有する、半導体結晶層2と、半
導体結晶層2上にそれと接して形成され且つn型を与え
る不純物またはp型を与える不純物のいずれも意図的に
導入させていないか導入させているとしても十分低い濃
度でしか導入させていない、インコヒーレント光用半導
体結晶層3Aとを有する。この場合、半導体結晶層2は、
インコヒーレント光用半導体結晶層3Aに比し広いエネル
ギバンドギャップと低い屈折率とを有する。
That is, for example, a semiconductor crystal substrate 1 having an n-type,
A semiconductor crystal layer 2 formed on and in contact with semiconductor crystal substrate 1 and having the same n-type as semiconductor crystal substrate 1; and an impurity or p-type formed on semiconductor crystal layer 2 and in contact with and providing n-type. It has an incoherent light semiconductor crystal layer 3A in which none of the impurities is intentionally introduced or is introduced only at a sufficiently low concentration even if it is introduced. In this case, the semiconductor crystal layer 2
It has a wider energy band gap and a lower refractive index than the incoherent light semiconductor crystal layer 3A.

また、半導体結晶層3A上に形成されている、半導体結
晶層2に対応している半導体結晶層2′を有する。この
場合、半導体結晶層2′は、インコヒーレント光用半導
体結晶層3A及び次に述べるレーザ光用半導体結晶層3Bに
比し広いエネルギバンドギャップと低い屈折率とを有し
且つ比較的薄い厚さを有し、また、レーザ光用半導体結
晶層3B下の領域における、n型を与える不純物またはp
型を与える不純物のいずれも意図的に導入させていない
かn型を有する半導体結晶層2C′と、それ以外の領域に
おけるn型を与える不純物またはp型を与える不純物の
いずれも意図的に導入させていないかp型を有する半導
体結晶層2D′とを有する。なお、図においては半導体結
晶層2C′がn型を有し、また、半導体結晶層2D′がp型
を有するものとして示されている。
Further, it has a semiconductor crystal layer 2 'corresponding to the semiconductor crystal layer 2 formed on the semiconductor crystal layer 3A. In this case, the semiconductor crystal layer 2 'has a wider energy band gap and a lower refractive index than the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light and the semiconductor crystal layer 3B for laser light described below, and has a relatively small thickness. And an n-type impurity or p in a region below the semiconductor crystal layer 3B for laser light.
No type-imparting impurity is intentionally introduced or the n-type semiconductor crystal layer 2C 'is intentionally introduced, and in the other region, either the n-type impurity or the p-type impurity is intentionally introduced. Or a semiconductor crystal layer 2D 'having a p-type. In the figure, the semiconductor crystal layer 2C 'is shown as having n-type, and the semiconductor crystal layer 2D' is shown as having p-type.

さらに、インコヒーレント光用半導体結晶層3A上に、
半導体結晶層部M1を後述する半導体積層体10の端面11a
側の半導体結晶層部M1として残している状態に、上述し
た半導体結晶層部2′の半導体結晶層2C′を介して積層
して形成されている、レーザ光用半導体結晶層3Bを有す
る。この場合、レーザ光用半導体結晶層3Bは、インコヒ
ーレント光用半導体結晶層3Aに比し小さなエネルギバン
ドギャップを有する。
Furthermore, on the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light,
The end face 11a of the semiconductor stack 10 to be described later semiconductor crystal layer portion M 1
The state in which the left as the semiconductor crystal layer portion M 1 side, is formed by laminating via the 'semiconductor crystal layer 2C' of the semiconductor crystal layer 2 as described above, having a semiconductor crystal layer 3B laser beam. In this case, the semiconductor crystal layer for laser light 3B has a smaller energy band gap than the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A.

また、レーザ光用半導体結晶層3B上に形成されてい
る、上述した半導体結晶層3Aに比し広いエネルギバンド
ギャップを有し且つp型を有する半導体結晶層20を有す
る。
The semiconductor crystal layer 20 has a wider energy band gap and a p-type than the semiconductor crystal layer 3A described above, and is formed on the semiconductor crystal layer 3B for laser light.

さらに、半導体結晶基板1と、半導体結晶層2と、イ
ンコヒーレント光用半導体結晶層3Aと、半導体結晶層
2′と、レーザ光用半導体結晶層3Bと、半導体結晶層20
とを有する半導体積層体に、第3図及び第4図を参照し
て明らかなように、上方から、後述する半導体積層体10
の端面11a及び11b間に延長し且つ半導体結晶層2内また
は半導体結晶基板1内に終絡する(図においては半導体
結晶層2内に終絡する)深さを有する溝21L及び21Rが形
成されている。
Further, the semiconductor crystal substrate 1, the semiconductor crystal layer 2, the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light, the semiconductor crystal layer 2 ', the semiconductor crystal layer 3B for laser light, and the semiconductor crystal layer 20
As apparent from FIGS. 3 and 4, a semiconductor laminated body having a
Grooves 21L and 21R are formed extending between the end faces 11a and 11b and having a depth that terminates in the semiconductor crystal layer 2 or the semiconductor crystal substrate 1 (terminates in the semiconductor crystal layer 2 in the figure). ing.

また、溝21L内、及び半導体結晶層20の溝21Lからみて
溝21R側とは反対側の面上に延長して形成されているp
型を有する半導体結晶層6Lと、溝21R内、及び半導体結
晶層20の溝21Rからみて溝21L側とは反対側の面上に延長
して形成されているp型を有する半導体結晶層6Rと、半
導体結晶層6L及び6R上にそれぞれ延長して形成されてい
るn型を有する半導体結晶層7L及び7Rとを有する。
Further, the p is formed so as to extend in the groove 21L and on the surface opposite to the groove 21R side when viewed from the groove 21L of the semiconductor crystal layer 20.
A semiconductor crystal layer 6L having a p-type, and a semiconductor crystal layer 6R having a p-type which is formed in the groove 21R, and extending on a surface opposite to the groove 21L side as viewed from the groove 21R of the semiconductor crystal layer 20. , And n-type semiconductor crystal layers 7L and 7R formed to extend on semiconductor crystal layers 6L and 6R, respectively.

また、半導体結晶層20の溝21L及び21R間の領域上にお
いて、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導体結
晶層部M1上、及びレーザ光用半導体結晶層3B上に、半導
体結晶層2D′及び20をそれぞれ介して連続延長し且つ上
述した半導体結晶層7L及び7R上にも連続延長して形成さ
れている、半導体結晶層4を有する。この場合、半導体
結晶層4は、インコヒーレント光用半導体結晶層3A及び
レーザ光用半導体結晶層3Bに比し広いエネルギバンドギ
ャップと低い屈折率とを有するとともに、p型を有す
る。
Also, in the regions between the grooves 21L and 21R of the semiconductor crystal layer 20, in on the semiconductor crystal layer portion M 1 of the coherent light for semiconductor crystal layer 3A, and the laser light for semiconductor crystal layer 3B, the semiconductor crystal layer 2D ' , 20 and the semiconductor crystal layer 4 continuously formed on the semiconductor crystal layers 7L and 7R described above. In this case, the semiconductor crystal layer 4 has a wider energy band gap and a lower refractive index than the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light and the semiconductor crystal layer 3B for laser light, and has a p-type.

さらに、半導体結晶層4上に、インコヒーレント光用
半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1及びレーザ光用半導
体結晶層3Bにそれぞれ対向して形成されている、半導体
結晶層6のインコヒーレント光用半導体結晶層6A及びレ
ーザ光用半導体結晶層6Bを有する。
Further, on the semiconductor crystal layer 4 are formed to face the semiconductor crystal layer unit M 1 and the semiconductor crystal layer 3B laser beam incoherent light semiconductor crystal layer 3A, incoherent light from the semiconductor crystal layer 6 And a semiconductor crystal layer for laser light 6B.

また、インコヒーレント光用半導体結晶層部6A及びレ
ーザ光用半導体結晶層部6B上にそれぞれ形成されてい
る、電極層15のインコヒーレント光用電極層15A及びレ
ーザ光用電極層15Bを有する。
Further, it has an incoherent light electrode layer 15A and a laser light electrode layer 15B of the electrode layer 15 formed on the incoherent light semiconductor crystal layer part 6A and the laser light semiconductor crystal layer part 6B, respectively.

さらに、半導体結晶基板1の半導体結晶層2側とは反
対側の面上に形成されている電極層16を有する。
Further, it has an electrode layer 16 formed on a surface of the semiconductor crystal substrate 1 opposite to the semiconductor crystal layer 2 side.

また、上述した半導体結晶基板1、半導体結晶層2、
インコヒーレント光用半導体結晶層3A、レーザ光用半導
体結晶層3B、半導体結晶層6L、6R、7L及び7R、及び半導
体結晶層4、6A及び6Bを有する半導体積層体10が、端面
11a及び11bを有し、そして、端面11a上に、それをイン
コヒーレント光用及びレーザ光用放射面12とすべく、反
射防止膜13が形成されている。
Further, the above-described semiconductor crystal substrate 1, semiconductor crystal layer 2,
The semiconductor laminated body 10 having the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light, the semiconductor crystal layer 3B for laser light, the semiconductor crystal layers 6L, 6R, 7L and 7R, and the semiconductor crystal layers 4, 6A and 6B has an end face.
An anti-reflection film 13 is formed on the end face 11a so as to make it an emission surface 12 for incoherent light and laser light.

以上が、本発明による半導体発光装置の第1の実施例
の構成である。
The above is the configuration of the first embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention.

このような構成を有する本発明による半導体発光装置
は、第5図〜第24図を伴って次に述べるように製造する
ことができる。
The semiconductor light emitting device according to the present invention having such a configuration can be manufactured as described below with reference to FIGS. 5 to 24.

すなわち、第5図〜第8図に示すように、上述した半
導体結晶基板1上に、上述した半導体結晶層2と、上述
したインコヒーレント光用半導体結晶層3Aと、上述した
半導体結晶層2になる半導体結晶層2X′と、上述したレ
ーザ光用半導体結晶層3Bになる半導体結晶層3BXと、上
述した半導体結晶層20になる半導体結晶層20Xとをそれ
らの順にエピタキシャル成長法によって積層して形成す
る。
That is, as shown in FIGS. 5 to 8, the above-described semiconductor crystal layer 2, the above-described semiconductor crystal layer 3A for incoherent light, and the above-mentioned semiconductor crystal layer 2 are formed on the above-mentioned semiconductor crystal substrate 1. The semiconductor crystal layer 2X ′, the semiconductor crystal layer 3BX to be the above-described semiconductor crystal layer 3B for laser light, and the semiconductor crystal layer 20X to be the above-described semiconductor crystal layer 20 are formed by stacking them in this order by epitaxial growth. .

次に、半導体結晶層20X及び3BXに対するマスクを用い
たそれ自体は公知のエッチング処理によって、第9図〜
第12図に示すように、半導体結晶層20X及び3BXから、上
述した半導体結晶層20及びレーザ光用半導体結晶層3Bを
それぞれ形成する。
Next, a known etching process using a mask for the semiconductor crystal layers 20X and 3BX is performed by a known etching process.
As shown in FIG. 12, the above-described semiconductor crystal layer 20 and laser light semiconductor crystal layer 3B are formed from the semiconductor crystal layers 20X and 3BX, respectively.

次に、半導体結晶基板1と、半導体結晶層2と、イン
コヒーレント光用半導体結晶層3Aと、半導体結晶層2X′
と、レーザ光用半導体結晶層3Bと、半導体結晶層20とを
有する半導体積層体に対し、その上面側から、第13図〜
第16図に示すように、互に平行に延長している溝21L及
び21Rを形成する。
Next, a semiconductor crystal substrate 1, a semiconductor crystal layer 2, a semiconductor crystal layer 3A for incoherent light, and a semiconductor crystal layer 2X '
And a semiconductor laminated body having the semiconductor crystal layer 3B for laser light and the semiconductor crystal layer 20, from the upper surface side thereof, FIGS.
As shown in FIG. 16, grooves 21L and 21R extending parallel to each other are formed.

次に、半導体結晶基板1と、半導体結晶層2と、イン
コヒーレント光用半導体結晶層3Aと、半導体結晶層2X′
と、レーザ光用半導体結晶層3Bと、半導体結晶層20とを
有する半導体積層体上に、溝21L及び21Rを埋めるよう
に、半導体結晶層6L及び6Rと、半導体結晶層7L及び7Rと
を、それらの順にエピタキシャル成長法によって形成さ
せる工程をとらせる。しかるときは、半導体結晶層6L及
び6R、及び7L及び7Rは、半導体結晶層2X′及び20の溝21
L及び21R間の領域上にはそれらの面積が狭いことによっ
て成長しないが、半導体結晶層2X′及び20の溝21Lから
みて溝21R側とは反対側の領域及び溝21Rからみて溝21R
側とは反対側の領域上にはそれらの面積が広いことによ
って成長することから、半導体結晶層6L及び6R、及び7L
及び7Rを、溝21L及び21R内と半導体結晶層2X′及び20の
溝21Lからみて21R側とは反対側の領域上述及び溝21Rか
らみて溝21L側とは反対側の領域上に延長しているもの
として形成される。
Next, a semiconductor crystal substrate 1, a semiconductor crystal layer 2, a semiconductor crystal layer 3A for incoherent light, and a semiconductor crystal layer 2X '
On the semiconductor laminated body having the semiconductor crystal layer 3B for laser light and the semiconductor crystal layer 20, the semiconductor crystal layers 6L and 6R, and the semiconductor crystal layers 7L and 7R, so as to fill the grooves 21L and 21R, The steps of forming the layers by the epitaxial growth method are performed in that order. At this time, the semiconductor crystal layers 6L and 6R, and 7L and 7R are
Although they do not grow on the region between L and 21R due to their small area, they do not grow on the region of the semiconductor crystal layers 2X 'and 20 on the side opposite to the groove 21R when viewed from the groove 21L and on the groove 21R when viewed from the groove 21R.
The semiconductor crystal layers 6L and 6R, and 7L are grown on the region on the side opposite to the side due to their large area.
And 7R are extended in the grooves 21L and 21R and in the region opposite to the 21R side when viewed from the groove 21L of the semiconductor crystal layer 2X ′ and 20 and on the region opposite to the groove 21L side when viewed from the groove 21R. Is formed.

続いて、第17図〜第20図に示すように、半導体結晶層
7L及び7R、及び半導体結晶層20X及び20の溝21L及び21R
間の領域上に、上述した半導体結晶層4と、上述した半
導体結晶層6A及び6Bを有する半導体結晶層6になる半導
体結晶層6Xとを、それらの順にエピタキシャル成長法に
よって積層して形成する。この場合、半導体結晶層2X′
の半導体結晶層4と接している領域が、その中に半導体
結晶層4からのp型不純物が導入されることによってp
型化し、よって、半導体結晶層2X′から上述した半導体
結晶層2C′及び2D′を有する半導体結晶層2′が形成さ
れる。
Subsequently, as shown in FIGS. 17 to 20, the semiconductor crystal layer
7L and 7R, and grooves 21L and 21R of semiconductor crystal layers 20X and 20
The semiconductor crystal layer 4 described above and the semiconductor crystal layer 6X that becomes the semiconductor crystal layer 6 having the semiconductor crystal layers 6A and 6B are stacked and formed in that order by an epitaxial growth method on the region between them. In this case, the semiconductor crystal layer 2X '
The region in contact with the semiconductor crystal layer 4 is formed by introducing p-type impurities from the semiconductor crystal layer 4 into the region.
Thus, the semiconductor crystal layer 2X 'having the above-described semiconductor crystal layers 2C' and 2D 'is formed from the semiconductor crystal layer 2X'.

次に、第21図及び第22図に示すように、半導体結晶層
6X上に、上述したインコヒーレント光用電極層15A及び
レーザ光用電極層15Bを形成し、次にまたはその前に、
第23図及び第24図に示すように、半導体結晶層6Xに対す
るエッチング処理によって、半導体結晶層6Xから、上述
した半導体結晶層6A及び6Bを形成する。
Next, as shown in FIGS. 21 and 22, the semiconductor crystal layer
On 6X, the above-described incoherent light electrode layer 15A and laser light electrode layer 15B are formed, and then or before,
As shown in FIGS. 23 and 24, the above-described semiconductor crystal layers 6A and 6B are formed from the semiconductor crystal layer 6X by an etching process on the semiconductor crystal layer 6X.

次に、図示しないが、半導体結晶基板1の半導体結晶
層2側とは反対側の面上に電極層16を形成し、次で、半
導体結晶基板1と半導体結晶層2と、インコヒーレント
光用半導体結晶層3Aと、半導体結晶層4と、レーザ光用
半導体結晶層3Bと、半導体結晶層20、4、6A及び6Bと、
インコヒーレント光用電極層15A及びレーザ光用電極層1
5B、及び電極層16とを有する積層体をへき開して、相対
向する端面11a及び11bを形成し、その一方の端面11a上
に反射防止膜13を形成する。
Next, although not shown, an electrode layer 16 is formed on a surface of the semiconductor crystal substrate 1 opposite to the semiconductor crystal layer 2 side. Next, the semiconductor crystal substrate 1 and the semiconductor crystal layer 2 A semiconductor crystal layer 3A, a semiconductor crystal layer 4, a laser light semiconductor crystal layer 3B, and semiconductor crystal layers 20, 4, 6A and 6B;
Incoherent light electrode layer 15A and laser light electrode layer 1
The laminate having 5B and the electrode layer 16 is cleaved to form opposed end faces 11a and 11b, and the antireflection film 13 is formed on one of the end faces 11a.

以上が、第1図〜第4図で上述した本発明による半導
体発光装置の製法の実施例である。
The above is the embodiment of the method for manufacturing the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIGS.

以上で、第1図〜第4図に示す本発明による半導体発
光装置の構成が明らかとなった。
The configuration of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4 has been clarified.

このような構成を有する第1図〜第4図に示す本発明
による半導体発光装置の第1の実施例によれば、[作用
・効果]の項で述べたところから明らかなように、電極
層15のインコヒーレント光用電極層15Aと電極層16との
間に、所要のインコヒーレント光用電源を接続すれば、
そのインコヒーレント光用電源から、電流が、半導体積
層体10に、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導
体結晶層部M1及び半導体結晶層2の半導体結晶層部M1
の領域を通って流れ、そして、この場合、半導体結晶層
2がインコヒーレント光用半導体結晶層3Aに比し広いエ
ネルギバンドギャップを有することから、実質的に、イ
ンコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1
において、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aのエネ
ルギバンドギャップEgM1に応じた波長を中心とする帯域
を有する光が発生する。
According to the first embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4 having such a configuration, as is clear from the section described in the section of [Action and Effect], the electrode layer If a required power supply for incoherent light is connected between the 15 incoherent light electrode layers 15A and the electrode layer 16,
From the incoherent light power, current, to the semiconductor stack 10, through a region of the semiconductor crystal layer of the semiconductor crystal layer unit M 1 and the semiconductor crystal layer 2 M 1 under the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light In this case, since the semiconductor crystal layer 2 has a wider energy band gap than the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light, the semiconductor crystal layer portion M of the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light is substantially formed. 1
In this case, light having a band centered on a wavelength corresponding to the energy band gap E gM1 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A is generated.

そして、そのインコヒーレント光用半導体結晶層3Aの
半導体結晶層部M1で発生した光は、インコヒーレント光
用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1がインコヒーレン
ト光用及びレーザ光用光放射面12を形成している半導体
積層体10の端面11b側に配され、また、レーザ光用半導
体結晶層3Bが、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの
半導体結晶層部M1よりも半導体積層体10の端面11b側に
配され且つインコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導
体結晶層部M1に比し小さなエネルギバンドギャップを有
し、さらに、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aが、
半導体結晶層2′の半導体結晶層2C′を介してレーザ光
用半導体結晶層3Bに光学的に結合しているので、半導体
積層体10の端面11b側に向う光分については、インコヒ
ーレント光用半導体結晶層3Aを、半導体結晶層2、2′
及び4によって閉じ込められて半導体積層体10の端面11
b側に伝播せんとするが、レーザ光用半導体結晶層3B内
でほとんど吸収され、端面11bにほとんど達しない。
Then, the light generated in the semiconductor crystal layer portion M 1 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A, a semiconductor crystal layer portion M 1 of the semiconductor crystal layer 3A for the incoherent light is incoherent light and for laser Hikari Mitsumochi radiation arranged on the end face 11b of the semiconductor laminated body 10 forming the surface 12, the laser beam semiconductor crystal layer 3B is a semiconductor laminated body than the semiconductor crystal layer portion M 1 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A has a smaller energy band gap and compared to the semiconductor crystal layer portion M 1 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A disposed on the 10 end face 11b side of the further semiconductor crystal layer 3A is for incoherent light,
Since the semiconductor crystal layer 2 'is optically coupled to the semiconductor crystal layer 3B for laser light via the semiconductor crystal layer 2C' of the semiconductor crystal layer 2 ', the light component directed toward the end face 11b of the semiconductor laminate 10 is incoherent light. The semiconductor crystal layer 3A is divided into the semiconductor crystal layers 2, 2 '.
End face 11 of semiconductor laminate 10 confined by
Although it propagates to the b side, it is almost absorbed in the semiconductor crystal layer 3B for laser light and hardly reaches the end face 11b.

しかしながら、インコヒーレント光用半導体結晶層3A
の半導体結晶層部M1で発生した光の、半導体積層体10の
端面11a側に向う光分については、インコヒーレント光
用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1を、そこにおいて
ほとんど吸収されずに、半導体結晶層2、2′及び4に
よって閉じ込められて伝播し、インコヒーレント光用及
びレーザ光用光放射面12に達する。
However, the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A
The semiconductor light generated in the crystal layer unit M 1, for the light fraction toward the end face 11a of the semiconductor stack 10, the semiconductor crystal layer portion M 1 for the incoherent light semiconductor crystal layer 3A, is hardly absorbed in which Instead, it is confined and propagated by the semiconductor crystal layers 2, 2 'and 4, and reaches the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light.

このため、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半
導体結晶層部M1で発生する光が、図25に示すような波長
に対する強度を有するインコヒーレント光として、イン
コヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12から、外部
に放射して得られる。
Therefore, light generated in the semiconductor crystal layer portion M 1 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A is as incoherent light having an intensity versus wavelength as shown in FIG. 25, for incoherent light and laser Hikari Mitsumochi radiation Obtained by radiating from the surface 12 to the outside.

そして、この場合、半導体積層体10に、インコヒーレ
ント光用電源からの電流を継続して流せば、インコヒー
レント光用及びレーザ光用光放射面12から外部に放射さ
れるインコヒーレント光が、インコヒーレント光用半導
体結晶層3Aの半導体結晶層部M1に流れる電流に応じて、
比較的高い輝度で得られる。
In this case, if a current from the power supply for incoherent light is continuously supplied to the semiconductor laminate 10, the incoherent light radiated from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light to the outside is incoherent. depending on the current flowing in the semiconductor crystal layer portion M 1 of the coherent light for semiconductor crystal layer 3A,
Obtained with relatively high brightness.

さらに、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射
面12から外部に放射して得られるインコヒーレント光
が、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12上
におけるインコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導体
結晶層部M1の端面という局部的な領域から外部に放射さ
れる光であるので、インコヒーレント光用及びレーザ光
用光放射面12から外部に放射して得られるインコヒーレ
ント光が、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導
体結晶層部M1の厚さに応じて、比較的狭い放射角で放射
される。
Furthermore, the incoherent light obtained by radiating the incoherent light and the laser light from the light emitting surface 12 to the outside is formed of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A on the incoherent light and the laser light emitting surface 12. because it is light emitted to the outside from the local area of the end face of the semiconductor crystal layer unit M 1, incoherent light obtained by radiating the incoherent-light and laser light the light emitting surface 12 to the outside, in depending on the semiconductor thickness of the crystal layer portion M 1 of the coherent light for semiconductor crystal layer 3A, it is emitted in a relatively narrow radiation angle.

よって、第1図〜第4図に示す本発明による半導体発
光装置によれば、インコヒーレント光を、インコヒーレ
ント光用及びレーザ光用光放射面12から、外部に、比較
的高い強度で且つ比較的狭い放射角で得ることができ
る。
Therefore, according to the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4, the incoherent light is emitted from the light emitting surface 12 for incoherent light and the laser light to the outside with relatively high intensity and comparison. It can be obtained with a narrow radiation angle.

また、第1図〜第4図に示す本発明による半導体発光
装置によれば、電極層15のレーザ光用電極層15Bと電極
層16との間に所要のレーザ光用電源を接続すれば、その
レーザ光用電源から、電流が、半導体積層体10に、レー
ザ光用半導体結晶層3B、半導体結晶層2′のレーザ光用
半導体結晶層3B下の半導体結晶層2C′、及びインコヒー
レント光用半導体結晶層3Aのレーザ光用半導体結晶層3B
下の領域を通って流れ、そして、この場合、レーザ光用
半導体結晶層3Bが、インコヒーレント光用半導体結晶層
3A及び半導体結晶層2′に比し小さいエネルギバンドギ
ャップを有していることから、実質的に、レーザ光用半
導体結晶層3Bにおいて、そのエネルギバンドギャップに
応じた波長を中心とする帯域を有する光が発生する。
According to the semiconductor light emitting device of the present invention shown in FIGS. 1 to 4, if a required laser light power source is connected between the laser light electrode layer 15B of the electrode layer 15 and the electrode layer 16, From the laser power supply, current is applied to the semiconductor laminate 10 to the semiconductor crystal layer 3B for laser light, the semiconductor crystal layer 2C 'under the semiconductor crystal layer 3B for laser light of the semiconductor crystal layer 2', and the Semiconductor crystal layer 3B for laser light of semiconductor crystal layer 3A
It flows through the lower region, and in this case, the semiconductor crystal layer for laser light 3B is the semiconductor crystal layer for incoherent light.
Since it has an energy band gap smaller than that of the semiconductor crystal layer 3A and the semiconductor crystal layer 2 ', the semiconductor crystal layer 3B for laser light substantially has a band centered on a wavelength corresponding to the energy band gap. Light is generated.

そして、そのレーザ光用半導体結晶層3Bで発生した光
は、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aが、レーザ光
用半導体結晶層3Bに比し広いエネルギバンドギャップを
有し且つ半導体結晶層2′の半導体結晶層2C′を介して
レーザ光用半導体結晶層3Bに結合しているので、インコ
ヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12を形成してい
る半導体積層体10の端面11a側に向う光分については、
レーザ光用半導体結晶層3B及びインコヒーレント光用半
導体結晶層3Aを、ほとんど吸収されずに、半導体結晶層
2、2′及び4によって閉じ込められて、最終的に、イ
ンコヒーレント光用半導体結晶層3Aを通って半導体積層
体10の端面11a側に伝播し、次で、その端面11aで反射し
て、端面11b側に、インコヒーレント光用半導体結晶層3
Aを通って向い、また、半導体積層体10の端面11b側に向
う光分については、上述したのに準じた理由で、上述し
たのに準じて、レーザ光用半導体結晶層3B及びインコヒ
ーレント光用半導体結晶層3Aを、ほとんど吸収されず
に、半導体結晶層2、2′及び4によって閉じ込められ
て、最終的にインコヒーレント光用半導体結晶層3Aを通
って半導体積層体10の端面11b側に伝播し、次で、その
端面11bで反射して、端面11a側に、インコヒーレント光
用半導体結晶層3Aを通って向う。
The light generated in the semiconductor crystal layer for laser light 3B is such that the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A has a wider energy band gap than the semiconductor crystal layer for laser light 3B and Since light is coupled to the semiconductor crystal layer 3B for laser light via the semiconductor crystal layer 2C ', light traveling toward the end face 11a of the semiconductor laminate 10 forming the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. For minutes,
The semiconductor crystal layer for laser light 3B and the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A are confined by the semiconductor crystal layers 2, 2 'and 4 with little absorption, and finally, the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A And propagates to the end face 11a side of the semiconductor laminated body 10 and then reflects on the end face 11a, and on the end face 11b side, the semiconductor crystal layer 3 for incoherent light.
The light component traveling through A and traveling toward the end face 11b of the semiconductor multilayer body 10 is irradiated with the laser light semiconductor crystal layer 3B and the incoherent light beam for the same reason as described above. Semiconductor crystal layer 3A is hardly absorbed and confined by semiconductor crystal layers 2, 2 'and 4, and finally passes through incoherent light semiconductor crystal layer 3A to end face 11b side of semiconductor laminate 10. The light propagates, and then is reflected by the end face 11b and travels toward the end face 11a through the incoherent light semiconductor crystal layer 3A.

このため、半導体積層体10に、レーザ光用電源からの
電流を継続して流せば、レーザ発振が生じ、そして、そ
れにもとずく、第26図に示すような波長に対する強度を
有するレーザ光が、インコヒーレント光用及びレーザ光
用光放射面12から外部に放射される。
For this reason, if a current from a laser light power supply is continuously applied to the semiconductor laminate 10, laser oscillation occurs, and based on that, laser light having an intensity with respect to a wavelength as shown in FIG. 26 is generated. , And is radiated outside from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light.

よって、第1図〜第4図に示す本発明による半導体発
光装置によれば、レーザ光を、インコヒーレント光用及
びレーザ光用光放射面12から、外部に得ることができ
る。
Therefore, according to the semiconductor light emitting device of the present invention shown in FIGS. 1 to 4, laser light can be obtained from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light to the outside.

以上のことから、第1図〜第4図に示す本発明による
半導体発光装置によれば、1つの素子構成で、インコヒ
ーレント光とレーザ光とを、同じインコヒーレント光用
及びレーザ光用光放射面12から外部に得ることができ
る。
As described above, according to the semiconductor light emitting device of the present invention shown in FIGS. 1 to 4, with one element configuration, the incoherent light and the laser light emit the same incoherent light and laser light. It can be obtained from the surface 12 to the outside.

このため、半導体発光装置を前述した従来の半導体発
光装置の場合に比し、格段的に小型化することができ
る。
Therefore, the size of the semiconductor light emitting device can be significantly reduced as compared with the above-described conventional semiconductor light emitting device.

また、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに共
通の光学系に供給する場合、それらインコヒーレント光
及びレーザ光に対して共通の伝送路を用いることができ
るので、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに共
通の光学系に供給する手段を、前述した従来の半導体発
光装置の場合に比し格段的に簡易、小型化させることが
できる。
Further, when the incoherent light and the laser light are supplied to a common optical system, a common transmission path can be used for the incoherent light and the laser light. The means for supplying an optical system common to them can be significantly simplified and downsized as compared with the conventional semiconductor light emitting device described above.

[実施例2] 次に、第27図及び第28図を伴って、本発明による半導
体発光装置の第2の実施例を述べよう。
Second Embodiment Next, a second embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention will be described with reference to FIGS. 27 and 28.

第27図及び第28図において、第1図〜第4図との対応
部分には同一符号を付し詳細説明を省略する。
27 and 28, parts corresponding to those in FIGS. 1 to 4 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

第27図及び第28図に示す本発明による半導体発光装置
は、次の事項を除いて、第1図〜第4図に示す本発明に
よる半導体発光装置の場合と同様の構成を有する。
The semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 27 and 28 has the same configuration as the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4, except for the following.

すなわち、半導体結晶層2′とレーザ光用半導体結晶
層3Bとの間に、インコヒーレント光用半導体結晶層3A′
と、半導体結晶層2′と同様の半導体結晶層2″とが、
それらの順に積層されて介挿されている。
That is, the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A 'is provided between the semiconductor crystal layer 2' and the semiconductor crystal layer for laser light 3B.
And a semiconductor crystal layer 2 ″ similar to the semiconductor crystal layer 2 ′,
They are stacked and interposed in that order.

この場合、インコヒーレント光用半導体結晶層3A′
は、インコヒーレント光用半導体結晶層3A上に、その端
面11a側の部を半導体結晶層部M1として残している状態
に、半導体結晶層2′の半導体結晶層2C′を介して形成
され、また、レーザ光用半導体結晶層3Bは、インコヒー
レント光用半導体結晶層3A′上に、その端面11a側の部
を半導体結晶層部M1として残している状態に、半導体結
晶層2′に対応している半導体結晶層2″の半導体結晶
層2C″を介して、形成されている。この場合、半導体結
晶層2″は、いま述べたように、半導体結晶層2′と対
応しており、従って、レーザ光用半導体結晶層3B下の領
域における、n型を与える不純物またはp型を与える不
純物のいずれも意図的に導入させていないかn型を有す
る半導体結晶層2C″と、それ以外の領域におけるn型を
与える不純物またはp型を与える不純物のいずれも意図
的に導入させていないかp型を有する半導体結晶層2D″
とを有する。なお、図においては半導体結晶層2C″がn
型を有し、また、半導体結晶層2D″がp型を有するもの
として示されている。
In this case, the incoherent light semiconductor crystal layer 3A '
Is the incoherent light semiconductor crystal layer 3A, in a state of leaving Department of the end face 11a side as the semiconductor crystal layer unit M 1, is formed through a 'semiconductor crystal layer 2C' of the semiconductor crystal layer 2, Further, the semiconductor crystal layer 3B laser beam is a semiconductor crystal layer 3A for incoherent light 'on the part of the end surface 11a side in a state of leaving as a semiconductor crystal layer unit M 1, the semiconductor crystal layer 2' corresponding to The semiconductor crystal layer 2 ″ is formed via the semiconductor crystal layer 2C ″. In this case, the semiconductor crystal layer 2 ″ corresponds to the semiconductor crystal layer 2 ′, as described above, and therefore, the impurity or the p-type that gives n-type in the region below the semiconductor crystal layer 3 </ b> B for laser light. No impurity is intentionally introduced or the n-type semiconductor crystal layer 2C "is not intentionally introduced, and neither an impurity imparting n-type nor an impurity imparting p-type is intentionally introduced in other regions. Or semiconductor crystal layer 2D ″ having p-type
And In the figure, the semiconductor crystal layer 2C ″ is n
And the semiconductor crystal layer 2D ″ is shown as having p-type.

また、半導体結晶層6のインコヒーレント光用半導体
結晶層6Aが、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半
導体結晶層部M1及びインコヒーレント光用半導体結晶層
3A′の半導体結晶層部M2にそれぞれ対向している、互に
分離された半導体結晶層部Q1及びQ2を有するものとなさ
れ、さらに、電極層15のインコヒーレント光用電極層15
Aが、インコヒーレント光用半導体結晶層6Aの半導体結
晶層部Q1及びQ2上に配されている互に分離された電極層
部E1及びE2を有するものとなされている。
Further, the incoherent light semiconductor crystal layer 6A of the semiconductor crystal layer 6, the semiconductor crystal layer unit M 1 and the incoherent light semiconductor crystal layer of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A
Are respectively opposed to the semiconductor crystal layer portion M 2 of 3A ', made shall mutually with the separated semiconductor crystal layer portion Q 1 and Q 2, further incoherent light electrode layer 15 of the electrode layer 15
A have been made to have a mutually separated electrode layer portions E 1 and E 2 are arranged on the semiconductor crystal layer portion Q 1 and Q 2 of the incoherent light semiconductor crystal layer 6A.

さらに、インコヒーレント光用半導体結晶層3A及び3
A′、従ってそれらのそれぞれの半導体結晶層部M1及びM
2が、ともにレーザ光用半導体結晶層3Bに比し大きなエ
ネルギバンドギャップを有するが、それらの順に小さな
エネルギバンドギャップEgM1及びEgM2を有する。
Further, the semiconductor crystal layers for incoherent light 3A and 3A
A ′, and thus their respective semiconductor crystal layer portions M 1 and M
2 both have a larger energy band gap than the semiconductor crystal layer for laser light 3B, but have smaller energy band gaps E gM1 and E gM2 in that order.

以上が、本発明による半導体発光装置の第2の実施例
の構成である。
The above is the configuration of the second embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention.

このような構成を有する本発明による半導体発光装置
によれば、第1図〜第4図で上述した本発明による半導
体発光装置について上述したところ、及び[作用・効
果]の項で述べたところから明らかなように、第1図〜
第4図で前述した本発明による半導体発光装置の場合に
準じて、電極層15のインコヒーレント光用電極層15Aの
電極層部E1(またはE2)と電極層16との間に所要のイン
コヒーレント光用電源を接続すれば、そのインコヒーレ
ント光用電源から、電流が、半導体積層体10に、インコ
ヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1及び
半導体結晶層2の半導体結晶層部M1下の領域(またはイ
ンコヒーレント光用半導体結晶層3A′の半導体結晶層部
M2、及びインコヒーレント光用半導体結晶層3A及び半導
体結晶層2′及び2の、インコヒーレント光用半導体結
晶層3A′の半導体結晶層部M2下の領域)を通って流れ、
そして、この場合、インコヒーレント光用半導体結晶層
3A及び3A′がそれらの順に小さいエネルギバンドギャッ
プを有し且つ半導体結晶層2及び2′がインコヒーレン
ト光用半導体結晶層3A及び3A′に比し広いエネルギバン
ドギャップを有していることから、実質的に、インコヒ
ーレント光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1(また
はインコヒーレント光用半導体結晶層3A′の半導体結晶
層部M2)において、そのインコヒーレント光用半導体結
晶層3Aの半導体結晶層部M1のエネルギバンドギャップE
gM1(またはインコヒーレント光用半導体結晶層3A′の
半導体結晶層部M2のエネルギバンドギャップEgM2)に応
じた波長を中心とする帯域を有する光が発生する。
According to the semiconductor light emitting device according to the present invention having such a configuration, the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIGS. As is clear, FIG.
According to the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIG. 4, a required space between the electrode layer portion E 1 (or E 2 ) of the electrode layer 15A for the incoherent light and the electrode layer 16 is provided. by connecting the power supply incoherent light from its incoherent light power, current, to the semiconductor stack 10, the semiconductor crystal layer 3A for the incoherent light semiconductor crystal layer unit M 1 and the semiconductor crystal layer 2 semiconductor crystal semiconductor crystal layer of the layer unit M 1 under the region (or incoherent light semiconductor crystal layer 3A '
M 2 , and the region of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A and the semiconductor crystal layers 2 ′ and 2 below the semiconductor crystal layer portion M2 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A ′).
In this case, the semiconductor crystal layer for incoherent light is used.
3A and 3A 'have a smaller energy band gap in that order, and the semiconductor crystal layers 2 and 2' have a wider energy band gap than the semiconductor crystal layers 3A and 3A 'for incoherent light. Substantially, in the semiconductor crystal layer portion M 1 of the semiconductor crystal layer for incoherent light 3 A (or the semiconductor crystal layer portion M 2 of the semiconductor crystal layer for incoherent light 3 A ′ M 2 ), Energy band gap E of semiconductor crystal layer M 1
light is generated with a band centered at a wavelength corresponding to GM1 (or energy band gap E GM2 semiconductor crystal layer portion M 2 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A ').

そして、そのインコヒーレント光用半導体結晶層3Aの
半導体結晶層部M1(またはインコヒーレント光用半導体
結晶層3A′の半導体結晶層部M2)で発生した光は、イン
コヒーレント光用半導体結晶層3A及び3A′の半導体結晶
層部M1及びM2がそれらの順にインコヒーレント光用及び
レーザ光用光放射面12を形成している半導体積層体10の
端面11b側から順次配列され且つその配列順に順次小さ
なエネルギバンドギャップを有し、また、レーザ光用半
導体結晶層3Bが、インコヒーレント光用半導体結晶層3
A′の半導体結晶層部M2よりも半導体積層体10の側面1b
側に配され且つインコヒーレント光用半導体結晶層3A′
の半導体結晶層部M2に比し小さなエネルギバンドギャッ
プを有し、さらに、インコヒーレント光用半導体結晶層
3Aが半導体結晶層2′の半導体結晶層2C′を介してイン
コヒーレント光用半導体結晶層3A′に光学的に結合し、
また、インコヒーレント光用半導体結晶層3A′が半導体
結晶層2″を介してレーザ光用半導体結晶層3Bに光学的
に結合しているので、半導体積層体10の端面11b側に向
う光分については、インコヒーレント光用半導体結晶層
3Aを、半導体結晶層2及び2′によって閉じ込められて
半導体積層体10の端面11b側に伝播せんとするが、イン
コヒーレント光用半導体結晶層3A′及びレーザ光用半導
体結晶層3B内でほとんど吸収され、端面11bにほとんど
達しない。
The light generated in the semiconductor crystal layer portion M 1 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A (or the semiconductor crystal layer portion M 2 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A ′) is 3A and 3A are semiconductor crystal layer unit M 1 and M 2 of 'are sequentially arranged from the end face 11b of the semiconductor laminated body 10 forming the incoherent-light and laser light the light emitting surface 12 on their order and the sequence It has a sequentially smaller energy band gap in order, and the semiconductor crystal layer 3B for laser light is the semiconductor crystal layer 3 for incoherent light.
Side surface 1b of the semiconductor stack 10 than the semiconductor crystal layer portion M 2 of the A '
Side semiconductor crystal layer 3A 'for incoherent light
It has a smaller energy band gap than the a semiconductor crystal layer unit M 2, further for incoherent light semiconductor crystal layer
3A is optically coupled to the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A 'via the semiconductor crystal layer 2C' of the semiconductor crystal layer 2 ',
Further, since the semiconductor crystal layer 3A 'for incoherent light is optically coupled to the semiconductor crystal layer 3B for laser light via the semiconductor crystal layer 2 ", the light component traveling toward the end face 11b of the semiconductor laminate 10 is reduced. Is a semiconductor crystal layer for incoherent light
3A is confined by the semiconductor crystal layers 2 and 2 ′ and propagates to the end face 11 b side of the semiconductor laminated body 10, but is almost absorbed in the incoherent light semiconductor crystal layer 3 A ′ and the laser light semiconductor crystal layer 3 B. And hardly reaches the end face 11b.

しかしながら、インコヒーレント光用半導体結晶層3A
の半導体結晶層部M1(またはインコヒーレント光用半導
体結晶層3A′の半導体結晶層部M2)で発生した光の、半
導体積層体10の端面11a側に向う光分については、イン
コヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M
1を、そこにおいてほとんど吸収されずに、半導体結晶
層2、2′及び4によって閉じ込められて伝播し、イン
コヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12に達する。
However, the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A
Of the light generated in the semiconductor crystal layer portion M 1 of the semiconductor laminated body 10 (or the semiconductor crystal layer portion M 2 of the semiconductor crystal layer 3A ′ for incoherent light) toward the end face 11a side of the semiconductor laminate 10 is incoherent light Semiconductor crystal layer part M of semiconductor crystal layer 3A for semiconductor
1 is confined and propagated by the semiconductor crystal layers 2, 2 'and 4 while being hardly absorbed therein, and reaches the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light.

このため、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半
導体結晶層部M1(またはインコヒーレント光用半導体結
晶層3A′の半導体結晶層部M2)で発生する光が、インコ
ヒーレント光として、インコヒーレント光用及びレーザ
光用光放射面12から、外部に放射して得られる。
For this reason, light generated in the semiconductor crystal layer portion M 1 of the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light (or the semiconductor crystal layer portion M 2 of the semiconductor crystal layer 3A ′ for incoherent light) is converted into incoherent light as incoherent light. It is obtained by radiating outside from the light emitting surface 12 for light and laser light.

そして、この場合、半導体積層体10に、インコヒーレ
ント光用電源からの電流を継続して流せば、インコヒー
レント光用及びレーザ光用光放射面12から外部に放射さ
れるインコヒーレント光が、インコヒーレント光用半導
体結晶層3Aの半導体結晶層部M1に流れる電流に応じて、
比較的高い輝度で得られる。
In this case, if a current from the power supply for incoherent light is continuously supplied to the semiconductor laminate 10, the incoherent light radiated from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light to the outside is incoherent. depending on the current flowing in the semiconductor crystal layer portion M 1 of the coherent light for semiconductor crystal layer 3A,
Obtained with relatively high brightness.

さらに、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射
面12から外部に放射して得られるインコヒーレント光
が、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12上
におけるインコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導体
結晶層部M1の端面という局部的な領域から外部に放射さ
れる光であるので、インコヒーレント光用及びレーザ光
用光放射面12から外部に放射して得られるインコヒーレ
ント光が、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導
体結晶層部M1の厚さに応じて、比較的狭い放射角で放射
される。
Furthermore, the incoherent light obtained by radiating the incoherent light and the laser light from the light emitting surface 12 to the outside is formed of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A on the incoherent light and the laser light emitting surface 12. because it is light emitted to the outside from the local area of the end face of the semiconductor crystal layer unit M 1, incoherent light obtained by radiating the incoherent-light and laser light the light emitting surface 12 to the outside, in depending on the semiconductor thickness of the crystal layer portion M 1 of the coherent light for semiconductor crystal layer 3A, it is emitted in a relatively narrow radiation angle.

よって、第27図及び第28図に示す本発明による半導体
発光装置による場合も、インコヒーレント光を、インコ
ヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12から、外部
に、比較的高い強度で且つ比較的狭い放射角で得ること
ができる。
Therefore, even in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 27 and 28, the incoherent light is emitted from the light emitting surface 12 for incoherent light and the laser light to the outside with relatively high intensity and comparison. It can be obtained with a narrow radiation angle.

また、第27図及び第28図に示す本発明による半導体発
光装置によれば、電極層15のレーザ光用電極層15Bと電
極層16との間に所要のレーザ光用電源を接続すれば、そ
のレーザ光用電源から、電流が、半導体積層体10に、レ
ーザ光用半導体結晶層3B、半導体結晶層2″及び2′の
レーザ光用半導体結晶層3B下の半導体結晶層2C″及び2
C′、及びインコヒーレント光用半導体結晶層3A′及び3
Aのレーザ光用半導体結晶層3B下の領域を通って流れ、
そして、この場合、レーザ光用半導体結晶層3Bが、イン
コヒーレント光用半導体結晶層3A及び3A′及び半導体結
晶層2′及び2″に比し小さいエネルギバンドギャップ
を有していることから、実質的に、レーザ光用半導体結
晶層3Bにおいて、そのエネルギバンドギャップに応じた
波長を中心とする帯域を有する光が発生する。
According to the semiconductor light emitting device of the present invention shown in FIGS. 27 and 28, if a required laser light power source is connected between the electrode layer 15B for the laser light of the electrode layer 15 and the electrode layer 16, A current is supplied from the laser light power supply to the semiconductor laminated body 10 into the semiconductor crystal layer 3B for the laser light, the semiconductor crystal layers 2C "and 2C under the semiconductor crystal layers 3B for the laser light of the semiconductor crystal layers 2" and 2 '.
C ′, and semiconductor crystal layers 3A ′ and 3 for incoherent light
A flows through the region under the semiconductor crystal layer 3B for laser light of A,
In this case, since the semiconductor crystal layer 3B for laser light has a smaller energy band gap than the semiconductor crystal layers 3A and 3A 'for incoherent light and the semiconductor crystal layers 2' and 2 ", Specifically, light having a band centered on a wavelength corresponding to the energy band gap is generated in semiconductor crystal layer 3B for laser light.

そして、そのレーザ光用半導体結晶層3Bで発生した光
は、インコヒーレント光用半導体結晶層3A及び3A′が、
レーザ光用半導体結晶層3Bに比し広いエネルギバンドギ
ャップを有し且つそれらの順に広いエネルギバンドギャ
ップを有し、また、上述したように、インコヒーレント
光用半導体結晶層3Aが半導体結晶層2′の半導体結晶層
2C′を介してインコヒーレント光用半導体結晶層3A′に
光学的に結合し、また、インコヒーレント光用半導体結
晶層3A′が半導体結晶層2″の半導体結晶層2C″を介し
てレーザ光用半導体結晶層3Bに光学的に結合しているの
で、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12を
形成している半導体積層体10の端面11a側に向う光分に
ついて、レーザ光用半導体結晶層3B及びインコヒーレン
ト光用半導体結晶層3A及び3A′を、ほとんど吸収されず
に、半導体結晶層2、2′及び4によって閉じ込められ
て、最終的に、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aを
通って半導体積層体10の端面11a側に伝播し、次で、そ
の端面11aで反射して、端面11b側に、インコヒーレント
光用半導体結晶層3Aを通って向い、また、半導体積層体
10の端面11b側に向う光分について、上述したのに準じ
た理由で、上述したのに準じて、レーザ光用半導体結晶
層3B及びインコヒーレント光用半導体結晶層3A及び3A′
を、ほとんど吸収されずに、半導体結晶層2、2′及び
4によって閉じ込められて、最終的に、インコヒーレン
ト光用半導体結晶層3Aを通って半導体積層体10の端面11
b側に伝播し、次で、その端面11bで反射して、端面11a
側に、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aを通って向
う。
Then, the light generated in the semiconductor crystal layer for laser light 3B, the semiconductor crystal layers for incoherent light 3A and 3A ',
The semiconductor crystal layer 3A for the incoherent light has a wider energy band gap than the semiconductor crystal layer 3B for the laser beam and has a wider energy band gap in that order. Semiconductor crystal layer
Optically coupled to the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A 'via the semiconductor crystal layer 2C' for the laser light via the semiconductor crystal layer 2C 'of the semiconductor crystal layer 2 ". Since the optical component is optically coupled to the semiconductor crystal layer 3B, the light component directed toward the end face 11a of the semiconductor laminate 10 forming the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light, The layer 3B and the incoherent light semiconductor crystal layers 3A and 3A 'are confined by the semiconductor crystal layers 2, 2' and 4 with little absorption, and finally pass through the incoherent light semiconductor crystal layer 3A. Propagates to the end face 11a side of the semiconductor laminated body 10 and then reflects at the end face 11a, and faces the end face 11b side through the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light.
For the light component directed to the end face 11b side of 10, the laser light semiconductor crystal layer 3B and the incoherent light semiconductor crystal layers 3A and 3A '
Is almost not absorbed and is confined by the semiconductor crystal layers 2, 2 'and 4, and finally passes through the incoherent light semiconductor crystal layer 3A and the end face 11 of the semiconductor laminated body 10.
Propagation to the b side, then reflected at its end face 11b, end face 11a
To the side through the incoherent light semiconductor crystal layer 3A.

このため、半導体積層体10に、レーザ光用電源からの
電流を継続して流せば、レーザ発振が生じ、そして、そ
れにもとずくレーザ光が、インコヒーレント光用及びレ
ーザ光用光放射面12から外部に放射される。
For this reason, if a current from a laser light power supply is continuously applied to the semiconductor laminate 10, laser oscillation occurs, and the laser light based on the laser light is emitted to the incoherent light and laser light emission surfaces 12 Radiated to the outside.

よって、第27図〜第28図に示す本発明による半導体発
光装置の場合も、第1図〜第4図で前述した本発明によ
る半導体発光装置の場合と同様に、レーザ光を、インコ
ヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12から、外部に
得ることができる。
Therefore, in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 27 to 28, similarly to the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIGS. From the light emitting surface 12 for laser light and laser light.

以上のことから、第27図〜第28図に示す本発明による
半導体発光装置の場合も、第1図〜第4図で前述した本
発明による半導体発光装置の場合と同様に、1つの素子
構成で、インコヒーレント光とレーザ光とを、同じイン
コヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12から外部に
得ることができる。
From the above, in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 27 to 28, as in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIGS. Thus, the incoherent light and the laser light can be obtained from the same incoherent light and laser light emission surface 12 to the outside.

このため、半導体発光装置を前述した従来の半導体発
光装置の場合に比し、格段的に小型化することができ
る。
Therefore, the size of the semiconductor light emitting device can be significantly reduced as compared with the above-described conventional semiconductor light emitting device.

また、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに共
通の光学系に供給する場合、それらインコヒーレント光
及びレーザ光に対して共通の伝送路を用いることができ
るので、インコヒーレント光とレーザ光とをそれに共通
の光学系に供給する手段を、前述した従来の半導体発光
装置の場合に比し格段的に簡易、小型化させることがで
きる。
Further, when the incoherent light and the laser light are supplied to a common optical system, a common transmission path can be used for the incoherent light and the laser light. Means for supplying a common optical system can be significantly simplified and downsized as compared with the conventional semiconductor light emitting device described above.

また、第27図〜第28図に示す本発明による半導体発光
装置によれば、インコヒーレント光用電極層15Aの電極
層部E1及びE2のそれぞれと電極層16との間に各別のイン
コヒーレント光用電源を接続することによって、インコ
ヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1及び
インコヒーレント光用半導体結晶層3A′の半導体結晶層
部M2でそれぞれ発光する光を得ることができ、よって、
インコヒーレント光用及びレーザ光用放射面12から互に
異なる波長中心を有する2つのインコヒーレント光を外
部に同時に放射して得ることができるとともに、半導体
結晶層部M1及びM2でそれぞれ発光する光の強度を各別に
調整することができ、よって、インコヒーレント光用及
びレーザ光用光放射面から放射するインコヒーレント光
の波長に対する強度分布を調整することができる。
Further, according to the semiconductor light-emitting device according to the present invention shown in FIG. 27-FIG. 28, between the respective electrode layers 16 of the electrode layer portions E 1 and E 2 of the incoherent light electrode layer 15A of each other by connecting the power supply incoherent light, to obtain a light emitting respectively the semiconductor crystal layer portion M 2 of the semiconductor crystal layer unit M 1 and the incoherent light semiconductor crystal layer 3A of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A ' Can do, so
Together we can be obtained by radiating two incoherent light having mutually different wavelengths from central incoherent light and for laser-light emitting surface 12 to the outside at the same time, emitting respectively the semiconductor crystal layer unit M 1 and M 2 The light intensity can be individually adjusted, and therefore, the intensity distribution with respect to the wavelength of the incoherent light emitted from the incoherent light and laser light emission surfaces can be adjusted.

さらに、インコヒーレント光用半導体結晶層3A及び3
A′の半導体結晶層部M1及びM2のそれぞれのエネルギバ
ンドギャップEgM1及びEgM2を、半導体結晶層部M1及びM2
でそれぞれ発生する光の帯域が互に一部重複して得られ
る範囲で、エネルギバンドギャップEgM1及びEgM2間に大
きな差が得られる値に予め選定しておけば、インコヒー
レント光用及びレーザ光用光放射面12から外部に放射し
て得られるインコヒーレント光を、第29図に示すよう
に、広い帯域幅を有する1つの帯域を有するものとして
得ることができる。
Further, the semiconductor crystal layers for incoherent light 3A and 3A
Each energy band gap E GM1 and E GM2 semiconductor crystal layer unit M 1 and M 2 of A ', the semiconductor crystal layer unit M 1 and M 2
In the range in which the light bands generated respectively partially overlap each other, if the energy band gaps E gM1 and E gM2 are selected in advance so that a large difference is obtained, the incoherent light and the laser Incoherent light obtained by radiating light from the light emitting surface 12 to the outside can be obtained as one having a wide band as shown in FIG.

なお、第1図〜第28図で上述した本発明による半導体
発光装置の実施例においては、インコヒーレント光用半
導体結晶層が1つである場合と2つである場合とを述べ
たが、[課題を解決するための手段]の項で述べている
ところからも明らかなように、3以上のインコヒーレン
ト光用半導体結晶層を設け、3以上のインコヒーレント
光を得るようにすることもできる。
In the embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIGS. 1 to 28, the case where the number of the semiconductor crystal layers for incoherent light is one and the case where the number is two are described. Means for Solving the Problems], three or more semiconductor crystal layers for incoherent light can be provided to obtain three or more incoherent lights.

また、インコヒーレント光用半導体結晶層が第1、第
2………のインコヒーレント光用半導体結晶層と複数で
ある場合、第1のインコヒーレント光用半導体結晶層に
ついては、その両端面を端面11a及び11b上にそれぞれあ
らしめるが、他の第2、第3………のインコヒーレント
光用半導体結晶層については、それらの両端面とも端面
11a及び11b上にあらしめなくてもよく、また、インコヒ
ーレント光用電極層15Aをそれら複数のインコヒーレン
ト光用半導体結晶層に対し共通の1つの電極層部を有す
るものとすることもできる。
When the semiconductor crystal layer for incoherent light has a plurality of first, second,... Semiconductor crystal layers for incoherent light, both end faces of the first semiconductor crystal layer for incoherent light are end faces. The second and third... Incoherent light semiconductor crystal layers are shown on 11a and 11b, respectively.
The incoherent light electrode layer 15A may not have to be formed on 11a and 11b, and may have one electrode layer portion common to the plurality of incoherent light semiconductor crystal layers.

さらに半導体結晶層2′及び2″の半導体結晶層2D′
及び2D″を省略した構成とすることもできる。
Further, the semiconductor crystal layers 2D and 2D 'of the semiconductor crystal layers 2' and 2 "
And 2D ″ may be omitted.

また、上述した本発明による半導体発光装置の実施例
において、「n型」を「p型」、「p型」を「n型」に
読み代えた構成とすることもでき、その他、本発明の精
神を脱することなしに、種々の変型、変更をなし得るで
あろう。
Further, in the above-described embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention, “n-type” may be replaced with “p-type”, and “p-type” may be replaced with “n-type”. Various changes and modifications could be made without departing from the spirit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図、第2図、第3図及び第4図は、本発明による半
導体発光装置の第1の実施例を示す略線的平面図、その
2−2線上の断面図、3−3線上の断面図及び4−4線
上の断面図である。 第5図、第6図、第7図及び第8図は、第1図〜第4図
に示す本発明による半導体発光装置の製法の実施例を示
す、第1番目の工程における略線的平面図、その6−6
線上の断面図、7−7線上の断面図及び8−8線上の断
面図である。 第9図、第10図、第11図及び第12図は、第1図〜第4図
に示す本発明による半導体発光装置の製法の実施例を示
す、第2番目の工程における略線的平面図、その10−10
線上の断面図、11−11線上の断面図及び12−12線上の断
面図である。 第13図、第14図、第15図及び第16図は、第1図〜第4図
に示す本発明による半導体発光装置の製法の実施例を示
す、第3番目の工程における略線的平面図、その14−14
線上の断面図、15−15線上の断面図及び16−16線上の断
面図である。 第17図、第18図、第19図及び第20図は、第1図〜第4図
に示す本発明による半導体発光装置の製法の実施例を示
す、第4番目の工程における略線的平面図、その18−18
線上の断面図、19−19線上の断面図及び20−20線上の断
面図である。 第21図及び第22図は、第1図〜第4図に示す本発明によ
る半導体発光装置の製法の実施例を示す、第5番目の工
程における略線的平面図及びその22−22線上の断面図で
ある。 第23図及び第24図は、第1図〜第4図に示す本発明によ
る半導体発光装置の製法の実施例を示す、第6番目の工
程における略線的平面図、その24−24線上の断面図であ
る。 第25図は、第1図〜第4図に示す本発明による半導体発
光装置の第1の実施例の説明に供する、インコヒーレン
ト光用及びレーザ光用光放射面から外部に放射して得ら
れるインコヒーレント光の波長に対する強度の関係を示
す図である。 第26図は、第1図〜第4図に示す本発明による半導体発
光装置の第1の実施例の説明に供する、インコヒーレン
ト光用及びレーザ光用光放射面から外部に放射して得ら
れるレーザ光の波長に対する強度の関係を示す図であ
る。 第27図及び第28図は、本発明による半導体発光装置の第
2の実施例を示す略線的平面図及びその28−28線上の断
面図である。 第29図は、第27図及び第28図に示す本発明による半導体
発光装置の第2の実施例の説明に供する、インコヒーレ
ント光用及びレーザ光用光放射面から外部に放射して得
られるインコヒーレント光の波長に対する強度の関係を
示す図である。 1……半導体結晶基板 2、2′、2″、3、4、6……半導体結晶層 3A……インコヒーレント用光用半導体結晶層 3B……レーザ光用半導体結晶層 4A、4B……半導体結晶層 6A、6B……半導体結晶層 6L、6R、7L、7R……半導体結晶層 10……半導体積層体 11a、11b……端面 12……インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面 13……反射防止膜 15、16……電極層 15A……インコヒーレント光用電極層 15B……レーザ光用電極層 21L、21R……溝 M1〜M2……インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導
体結晶層部 E1〜E2……電極層15Aの電極層部 Q1、Q2……半導体結晶層6Aの半導体結晶層部
FIGS. 1, 2, 3 and 4 are schematic plan views showing a first embodiment of a semiconductor light emitting device according to the present invention, a sectional view taken along line 2-2, and a line taken along line 3-3. 4A and 4B are sectional views taken along line 4-4. FIGS. 5, 6, 7, and 8 show an embodiment of the method of manufacturing the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4, and are substantially linear planes in the first step. Figure 6-6
FIG. 8 is a cross-sectional view taken along line 7-7, a cross-sectional view taken along line 7-7, and a cross-sectional view taken along line 8-8. 9, 10, 11 and 12 show an embodiment of the method for manufacturing the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4. Figure 10-10
It is sectional drawing on the line, sectional drawing on the line 11-11, and sectional drawing on the line 12-12. 13, 14, 15 and 16 show an embodiment of the method for manufacturing the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4. Figure 14-14
It is sectional drawing on the line, sectional drawing on the line 15-15, and sectional drawing on the line 16-16. FIGS. 17, 18, 19 and 20 show an embodiment of the method for manufacturing the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4, and are substantially linear planes in the fourth step. Figure, 18-18
21 is a sectional view taken along a line, a sectional view taken along a line 19-19, and a sectional view taken along a line 20-20. FIGS. 21 and 22 are schematic plan views showing a fifth embodiment of the method for manufacturing the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4, and FIGS. It is sectional drawing. FIGS. 23 and 24 are schematic plan views showing the embodiment of the method for manufacturing the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4 in the sixth step, taken along line 24-24. It is sectional drawing. FIG. 25 is provided for explaining the first embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4 and is obtained by radiating the light from the light emitting surface for incoherent light and laser light to the outside. FIG. 5 is a diagram illustrating a relationship between the wavelength of incoherent light and the intensity. FIG. 26 is provided for explaining the first embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4 and is obtained by radiating outside from the light emitting surface for incoherent light and laser light. FIG. 4 is a diagram illustrating a relationship between the intensity of laser light and the wavelength. 27 and 28 are a schematic plan view and a cross-sectional view taken along line 28-28 showing a second embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention. FIG. 29 is provided for explaining the second embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIG. 27 and FIG. 28, and is obtained by radiating outside from the light emitting surface for incoherent light and laser light. FIG. 5 is a diagram illustrating a relationship between the wavelength of incoherent light and the intensity. 1. Semiconductor crystal substrate 2, 2 ′, 2 ″, 3, 4, 6 Semiconductor crystal layer 3A Semiconductor crystal layer for incoherent light 3B Semiconductor crystal layer for laser light 4A, 4B Semiconductor Crystal layers 6A, 6B ... Semiconductor crystal layers 6L, 6R, 7L, 7R ... Semiconductor crystal layers 10 ... Semiconductor laminates 11a, 11b ... End faces 12 ... Light emitting surfaces for incoherent light and laser light 13 ... … Anti-reflection film 15, 16… Electrode layer 15A… Incoherent light electrode layer 15B… Laser light electrode layer 21L, 21R… Groove M 1 -M 2 …… Incoherent light semiconductor crystal layer 3A Semiconductor crystal layer portions E 1 to E 2 … Electrode layer portions Q 1 and Q 2 of electrode layer 15A… Semiconductor crystal layer portions of semiconductor crystal layer 6A

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 曲 克明 東京都千代田区内幸町1丁目1番6号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平2−7581(JP,A) 特開 昭54−27786(JP,A) 特開 平2−266549(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 27/15 H01L 33/00 H01S 5/00 - 5/50 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Katsuaki Song 1-6, Uchisaiwaicho, Chiyoda-ku, Tokyo Nippon Telegraph and Telephone Corporation (56) References JP-A-2-7581 (JP, A) JP-A Sho 54-27786 (JP, A) JP-A-2-266549 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 27/15 H01L 33/00 H01S 5/00-5 / 50

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】(i)第1の導電型を与える不純物または
第1の導電型とは逆の第2の導電型を与える不純物のい
ずれも意図的に導入させていないか導入させているとし
ても十分低い濃度でしか導入させていない複数n個の第
1、第2………第nのインコヒーレント光用半導体結晶
層と、第1の導電型を与える不純物または第1の導電型
とは逆の第2の導電型を与える不純物のいずれも意図的
に導入させていないか導入させているとしても十分低い
濃度でしか導入させていないレーザ光用半導体結晶層と
を有し、(ii)上記第1のインコヒーレント光用半導体
結晶層が、第1の半導体結晶層上にそれと接して積層し
て形成され、(iii)上記第2、第3………第nのイン
コヒーレント光用半導体結晶層が、上記第1、第2……
…第(n−1)のインコヒーレント光用半導体結晶層上
に、それらの一部を上方からみて順次配列されている第
1、第2………第(n−1)の半導体結晶層部としてそ
れぞれ残している状態に、第2、第3………第nの半導
体結晶層をそれぞれ介して積層して形成され、(iv)上
記レーザ光用半導体結晶層が、上記第nのインコヒーレ
ント光用半導体結晶層上に、その一部を第nの半導体結
晶層部として残している状態に、第(n+1)の半導体
結晶層を介して積層して形成され、(v)上記第1、第
2………第nの半導体結晶層部及び上記レーザ光用半導
体結晶層上に、第(n+2)の半導体結晶層が連続延長
して形成されている構成を有し、(vi)且つ相対向して
いるファブリペローの反射面でなり且つ上記第1のイン
コヒーレント光用半導体結晶層の第1の半導体結晶層部
側の端面及びそれとは反対側の端面をそれぞれ形成して
いる第1及び第2の端面を有する半導体積層体を有し、 上記半導体積層体の相対向する第1及び第2の主面上
に、第1及び第2の電極層が相対向してそれぞれ配さ
れ、 上記第1、第2………第nのインコヒーレント光用半導
体結晶層がそれらの順に順次小さな第1、第2………第
nのエネルギバンドギャップをそれぞれ有し、 上記レーザ光用半導体結晶層が、上記第nのインコヒー
レント光用半導体結晶層に比し小さなエネルギバンドギ
ャップを有し、 (i)上記第1の半導体結晶層が、上記第1のインコヒ
ーレント光用半導体結晶層に比し広いエネルギバンドギ
ャップと低い屈折率とを有するとともに第1の導電型を
有し、(ii)上記第2、第3………第nの半導体結晶層
が、上記第1及び第2、上記第2及び第3………上記第
(n−1)及び第nのインコヒーレント光用半導体結晶
層に比し広いエネルギバンドギャップと低い屈折率とを
それぞれ有するとともに、第1の導電型を与える不純物
または第1の導電型とは逆の第2の導電型を与える不純
物のいずれも意図的に導入させていないか第1の導電型
を有し、(iii)上記第(n+1)の半導体結晶層が、
上記第nのインコヒーレント光用半導体結晶層及びレー
ザ光用半導体結晶層に比し広いエネルギバンドギャップ
と低い屈折率とを有するとともに、第1の導電型を与え
る不純物または第1の導電型とは逆の第2の導電型を与
える不純物のいずれも意図的に導入させていないか第1
の導電型を有し、(iv)上記第(n+2)の半導体結晶
層が、上記第1〜第nのインコヒーレント光用半導体結
晶層及び上記レーザ光用半導体結晶層に比し広いエネル
ギバンドギャップと低い屈折率とを有するとともに、第
2の導電型を有し、 上記第1の電極層が、上記第1〜第nのインコヒーレン
ト光用半導体結晶層と対向しているインコヒーレント光
用電極層と、上記レーザ光用半導体結晶層と対向してい
るレーザ光用電極層とを有し、 上記半導体積層体の上記第1の端面をインコヒーレント
光用及びレーザ光用光放射面としていることを特徴とす
る半導体発光装置。
(I) It is assumed that neither an impurity imparting a first conductivity type nor an impurity imparting a second conductivity type opposite to the first conductivity type is intentionally introduced or introduced. ... N and the n-type incoherent light semiconductor crystal layer, which is introduced only at a sufficiently low concentration, and an impurity or a first conductivity type that gives the first conductivity type. And (ii) a laser light semiconductor crystal layer in which any of the impurities imparting the opposite second conductivity type is not intentionally introduced, or is introduced only at a sufficiently low concentration even if it is introduced. The first semiconductor crystal layer for incoherent light is formed on and in contact with the first semiconductor crystal layer, and (iii) the second, third,..., Nth semiconductor for incoherent light. The crystal layer has the first, second,...
... First and second... (N−1) th semiconductor crystal layer portions which are sequentially arranged on the (n−1) th semiconductor crystal layer for incoherent light when a part thereof is viewed from above. ., N.sup.th and n.sup.th semiconductor crystal layers, respectively; and (iv) forming the laser light semiconductor crystal layer with the n.sup.th incoherent On the optical semiconductor crystal layer, a part thereof is left as an n-th semiconductor crystal layer portion, and is formed by laminating via an (n + 1) -th semiconductor crystal layer. (2) a structure in which an (n + 2) -th semiconductor crystal layer is continuously formed on the n-th semiconductor crystal layer portion and the semiconductor crystal layer for laser light; And the first incoherent light half. A semiconductor laminate having first and second end faces respectively forming an end face of the conductor crystal layer on the first semiconductor crystal layer portion side and an end face opposite to the first semiconductor crystal layer portion; The first and second electrode layers are disposed opposite to each other on the first and second main surfaces, respectively, and the first, second,..., Nth incoherent light semiconductor crystal layers are .. Having the first, second,..., N-th energy band gaps in that order, wherein the semiconductor crystal layer for laser light has an energy band gap smaller than that of the semiconductor crystal layer for incoherent light. (I) the first semiconductor crystal layer has a wider energy band gap and a lower refractive index than the first incoherent light semiconductor crystal layer, and has a first conductivity type. , (Ii) the second and third above ... The n-th semiconductor crystal layer has a wider energy band than the first and second, the second and third,..., The (n−1) -th and n-th semiconductor crystal layers for incoherent light. Whether the impurity having a gap and a low refractive index respectively and giving the first conductivity type or the impurity giving the second conductivity type opposite to the first conductivity type is not intentionally introduced. (Iii) the (n + 1) th semiconductor crystal layer has the following conductivity type:
The impurity or the first conductivity type, which has a wider energy band gap and a lower refractive index than the n-th incoherent light semiconductor crystal layer and the laser light semiconductor crystal layer, and gives the first conductivity type. Whether any impurity imparting the opposite second conductivity type is intentionally introduced or not.
(Iv) the (n + 2) -th semiconductor crystal layer has a wider energy band gap than the first to n-th semiconductor crystal layers for incoherent light and the laser light semiconductor crystal layer. And a second conductive type, wherein the first electrode layer is opposed to the first to n-th incoherent light semiconductor crystal layers. And a laser light electrode layer facing the laser light semiconductor crystal layer, wherein the first end face of the semiconductor laminate is an incoherent light and laser light emission surface. A semiconductor light emitting device characterized by the above-mentioned.
【請求項2】[請求項1]記載の半導体発光装置におい
て、上記第1の電極層のインコヒーレント光用電極層
が、上記第1、第2………第nのインコヒーレント光用
半導体結晶層の第1、第2………第nの半導体結晶層部
にそれぞれ対向している第1、第2………第nの電極層
部を有することを特徴とする半導体発光装置。
2. The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein the incoherent light electrode layer of the first electrode layer is formed of the first, second,..., Nth incoherent light semiconductor crystal. A semiconductor light-emitting device having first, second,..., N-th electrode layer portions facing the first, second,..., N-th semiconductor crystal layer portions, respectively.
【請求項3】[請求項1]記載の半導体発光装置におい
て、上記第1、第2………第nのインコヒーレント光用
半導体結晶層の第1、第2………第nのエネルギバンド
ギャップが、第1及び第2のインコヒーレント光用半導
体結晶層でそれぞれ発光する光の帯域、第2及び第3の
インコヒーレント光用半導体結晶層でそれぞれ発光する
光の帯域………第(n−1)及び第nのインコヒーレン
ト光用半導体結晶層でそれぞれ発光する光帯域がそれぞ
れ互に一部重複して得られる値をそれぞれ有しているこ
とを特徴とする半導体発光装置。
3. The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein the first, second,..., N-th energy bands of the first, second,..., N-th incoherent light semiconductor crystal layers. The gap is a band of light emitted from the first and second semiconductor crystal layers for incoherent light, a band of light emitted from the second and third semiconductor crystal layers for incoherent light,... (N -1) The semiconductor light emitting device, wherein light bands respectively emitting light in the n-th incoherent light semiconductor crystal layer have values obtained by partially overlapping each other.
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