JP3129596B2 - プリント配線板のめっきレジストの除去方法 - Google Patents
プリント配線板のめっきレジストの除去方法Info
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Description
きレジストの除去方法に関する。
ターンは、例えば以下のようなプロセスによって形成さ
れている。
を透設した後、無電解銅めっきを行う(パネルめっ
き)。次に、感光性ドライフィルムの圧着及び露光・現
像を行うことによって、めっきレジストを形成する。次
に、めっきレジスト非形成部分に対する電解銅めっきを
行う(パターンめっき)。次に、電解銅めっき上にはん
だめっきを行うことによって、金属エッチングレジスト
を形成する。次に、例えばトリクレン等のような有機系
溶剤を用いて、めっきレジストを剥離する。次に、不要
な銅をエッチングによって除去した後、さらに金属エッ
チングレジストをエッチングする。この後、オーバーコ
ーティングや端子めっき等を行うことによって、所望の
配線板が得られる結果となる。
ては、ノーフロン化対策の一環として、上記のような有
機系溶剤の使用に対する規制が厳しくなってきている。
このため、有機系溶剤に可溶な従来のドライフィルムか
ら、アルカリ性水溶液に可溶なドライフィルムへの転換
が望まれている。
ドライフィルムを使用した場合、次のような問題が生じ
る。即ち、ドライフィルムの除去を行うためにアルカリ
性水溶液を処理すると、金属エッチングレジスト中の錫
が溶解してしまうため、続く銅のエッチング工程のとき
に配線パターンが断線しやすくなる。ゆえに、従来にお
いては、インヒビターをアルカリ性水溶液に添加すると
いう対策が採られている。
加したとしても、錫の溶解を完全に抑制することはでき
ないという問題がある。また、インヒビターを添加した
場合、剥離コストが高くなったり、廃水処理が面倒にな
るなどの問題も生じる。
であり、その目的は、インヒビターを使用することなく
金属エッチングレジストの溶解を抑制し、もって配線パ
ターンの断線を防止することができるプリント配線板の
めっきレジストの除去方法を提供することにある。
めに、請求項1に記載の発明では、少なくとも錫を含む
金属エッチングレジストをめっきによって形成するとき
のめっきレジストをアルカリ性水溶液を用いて除去する
プリント配線板のめっきレジストの除去方法において、
前記アルカリ水溶液の処理温度は30℃〜60℃であ
り、アノードをプリント配線板の両面側に、かつ同プリ
ント配線板からほぼ等しい距離を隔てるようにして配置
すると共に、前記金属エッチングレジストに微弱なカソ
ード電流を流しながら前記めっきレジストを除去するこ
とを特徴としたプリント配線板のめっきレジストの除去
方法をその要旨としている。請求項2に記載の発明で
は、請求項1に記載の発明において、配線板電位を−
1.60V〜−1.20V〔SCE=Saturatedcalomelelec
trode,飽和カロメル参照電極(以下同じ)〕にするこ
とをその要旨としている。請求項3に記載の発明では、
請求項1または2に記載の発明において、前記金属エッ
チングレジストは、はんだめっき膜であることをその要
旨としている。
を除去した際の配線板電位が錫あるいは鉛の活性溶解電
位域から卑な電位方向へシフトする。このため、アルカ
リ性水溶液による錫あるいは鉛の活性溶解を引き起こす
ことなく、めっきレジストのみを除去することができ
る。請求項2,3に記載の発明によると、配線板電位が
前記範囲であるため、水素発生や消費電力を抑え、かつ
確実な錫あるいは鉛の溶解抑制を達成することができ
る。
おけるめっきレジストの除去方法に具体化した実施例1
を図1〜図6に基づき詳細に説明する。
導体層を有するプリント配線板(以下、6層配線板とい
う)1に、スルーホール形成用孔2を透設する。次に、
この6層配線板1に無電解銅めっきの析出するときのコ
アとなるPd触媒核を付与した後、その触媒核を活性さ
せる。
所定時間浸漬する。そして、図2に示されるように、6
層配線板1の両面の銅箔3及びスルーホール形成用孔2
の内壁面に無電解銅めっき膜4を形成する(パネルめっ
き)。次に、6層配線板1の両面に感光性ドライフィル
ム(日立化成株式会社製,商品名:Photec)を圧着した
後、露光・現像を行う。この工程によって、図3に示さ
れるように、6層配線板1にめっきレジスト5を形成す
る。
めっきを行う。まず、6層配線板1を電解硫酸銅めっき
浴に浸漬することによって、めっきレジスト5の非形成
部分に厚さ20μmの電解銅めっき膜6を形成する。次
に、水洗を行った後、6層配線板1を電解ほうふっ酸は
んだ浴に浸漬する。そして、図4に示されるように、電
解銅めっき膜6上に金属エッチングレジストとしての厚
さ3μmの電解はんだめっき膜7を形成する。
ジスト5の除去を行う。図6に示されるように、剥離槽
8にはめっきレジスト5を剥離するためのアルカリ性水
溶液9が満たされている。アルカリ性水溶液9として
は、例えば10g/l 〜40g/lのNaOH水溶液が用い
られる。この濃度が10g/l よりも低いと、めっきレジ
スト5を充分に除去することができなくなる。また、こ
の濃度が40g/l よりも高いと、コスト的に高くなる。
なお、NaOH水溶液中にインヒビターは添加されてい
ない。
保持された状態で剥離槽8内のほぼ中央部に浸漬され
る。この状態のとき、固定用治具10側と6層配線板1
側の導体部分とが電気的に接続されるようになってい
る。また、前記浸漬槽8には、アノードとしての一対の
ステンレス板(本実施例ではSUS304ステンレス
板)11が浸漬される。これらのステンレス板11は、
6層配線板1の両面からほぼ等しい距離を隔てるように
して配置される。そして、6層配線板1には微弱なカソ
ード電流が流される。
A/dm2 〜0.5A/dm2 、さらには0.01A/
dm2 〜0.3A/dm2 、特には0.02A/dm2
〜0.1A/dm2 であることが好ましい。カソード電
流密度が0.005A/dm 2 よりも小さいと、配線板
電位を卑な電位方向へ充分にシフトさせることができ
ず、溶解抑制効果が小さくなるおそれがある。一方、カ
ソード電流密度が0.5A/dm2 よりも大きいと、配
線板電位が卑な電位方向へシフトしすぎてしまう。その
結果、水素ガスの発生量が多くなり、作業環境が悪化す
るおそれがある。また、消費する電気量が多くなり不経
済になる。
1.20V、さらには−1.50V〜−1.30V、特
には−1.45V〜−1.35Vであることが好まし
い。配線板電位が−1.20Vよりも高いと、溶解抑制
効果が著しく低下する。一方、配線板電位が−1.60
Vよりも低いと、水素ガスの発生量が多くなり、作業環
境が悪化するおそれがある。また、消費する電気量が多
くなり不経済になる。
℃、処理時間は1分〜10分であることが好ましい。処
理温度が30℃未満であると、短時間ではめっきレジス
ト5を完全に剥離することができなくなるおそれがあ
る。処理温度が60℃を越えると、エネルギーの無駄が
多くなる。また、処理時間が1分未満であると、低い液
温ではめっきレジスト5を完全に剥離することができな
くなるおそれがある。処理時間が10分を越えると、工
程の時間短縮化に不利になる。
℃に調節された30g/l のNaOH水溶液中に、6層配
線板1を2分間浸漬した。そして、その際に6層配線板
1に0.05A/dm2 のカソード電流密度で電流を流
した。すると、図5に示されるように、めっきレジスト
5がNaOH水溶液9に溶解することになり、結果とし
てめっきレジスト5のみが除去された状態となる。
て不要な銅箔3及び無電解銅めっき膜4をエッチング
し、さらにはんだを溶解し得るエッチャントを用いて金
属エッチングレジストである電解はんだめっき膜7をエ
ッチングする。この後、従来公知の方法に従って、オー
バーコーティングや端子めっき等を行う。以上の一連の
工程を経ると、両面に所望の配線パターンが形成された
6層配線板1が得られる。
方法の作用効果について説明する。この方法では、電解
はんだめっき膜7に微弱なカソード電流を流しながらめ
っきレジスト5を剥離することを特徴としている。この
場合、電解はんだめっき膜7の電位の値がその活性溶解
電位域(−1.15V〜−0.6Vの範囲)から卑な電
位域へ、即ちより低い電位域へとシフトする。そのた
め、NaOH水溶液9に6層配線板1を浸漬したときで
も、はんだの活性溶解を引き起こすことなく、めっきレ
ジスト5のみを溶解させることができる。ゆえに、金属
エッチングレジストである電解はんだめっき膜7の溶解
に起因する配線パターンの断線が確実に防止される。
液9中に特にインヒビターを添加する必要がない。それ
ゆえ、従来に比べて剥離コストが安くなり、廃水処理も
容易になる。さらに、この実施例では配線板電位を−
1.60V〜−1.20Vの範囲内に設定しているた
め、水素発生や消費電力を抑え、かつ確実な錫あるいは
鉛の溶解抑制を達成することができる。従って、従来と
は異なり、剥離作業に伴って作業環境が悪化することも
なく、コスト高になるということもない。
き膜7が溶解しなくなることから、電解はんだめっき膜
7を従来の半分以下の厚さにすることが可能になる。そ
れゆえ、電解はんだめっき膜7の形成コストの低減、形
成時間の短縮化にもつながる。なお、めっきレジスト5
の剥離後に検査を行ったところ、電解はんだめっき膜7
に変色や膜厚変化等は認められなかった。そして、銅箔
3、無電解銅めっき膜4、電解はんだめっき膜7のエッ
チング後に検査を行ったところ、配線パターンの断線等
の不良も全く生じていなかった。 〔実施例2〕次に、実施例2のプリント配線板のめっき
レジストの除去方法を説明する。ここでは実施例1の方
法と相違する点を中心に述べる。
るプリント配線板(以下、4層配線板という)が使用さ
れる。そして、前記実施例に準じてスルーホール形成用
孔の透設、Pd触媒核の付与及びその活性化、無電解銅
めっき膜の形成(パネルめっき)、めっきレジストの形
成を行う。
めっきを行う。まず4層配線板を電解硫酸銅めっき浴に
浸漬することによって、めっきレジストの非形成部分に
厚さ30μmの電解銅めっき膜を形成する。次に、水洗
を行った後、4層配線板を電解錫めっき浴に浸漬するこ
とによって、金属エッチングレジストとしての厚さ5μ
mの電解錫めっき膜を形成する。
いアルカリ性水溶液(30g/l のNaOH水溶液)をス
プレーすることによって、めっきレジストの剥離を行
う。この実施例では処理温度を50℃、スプレー圧を
1.4kg/mm2、スプレー時間を1.5分に設定し、かつ
カソード電流を0.10A/dm2 に設定している。勿
論、実施例1と同じくNaOH水溶液中にインヒビター
は添加されていない。すると、めっきレジストがNaO
H水溶液によって剥離されることになり、結果としてめ
っきレジストのみが除去された状態となる。
無電解銅めっき膜及び電解錫めっき膜をエッチングし、
さらにオーバーコーティングや端子めっき等を行う。以
上の一連の工程を経ると、両面に所望の配線パターンが
形成された4層配線板が得られる。
除去方法であっても、実施例1のときと同様の作用効果
を得ることができる。そして、めっきレジストの剥離後
に検査を行ったところ、電解錫めっき膜に変色や膜厚変
化等は認められなかった。そして、銅箔、電解銅めっき
膜及び電解錫めっき膜のエッチング後に検査を行ったと
ころ、配線パターンの断線等の不良も全く生じていなか
った。
定されることはなく、次のように変更することが可能で
ある。例えば、 (a) アルカリ性水溶液9によって剥離されるめっき
レジスト5は、感光性ドライフィルムに限定されない。
例えば、感光性または熱硬化性を有する液状のレジスト
であってもよい。
を使用した実施例1,2に代え、例えばチタン板やカー
ボン板等を使用してもよい。即ち、アルカリ性水溶液に
対して不溶な良導体であればどのようなものでもよい。
ただし、実施例1,2のようなステンレス板11を用い
ることは、コスト性や加工性等の点から好ましい。
っき浴によって形成されたものに限られず、無電解めっ
き浴によって形成されたものでもよい。 (d) アルカリ性水溶液は実施例1,2において使用
したNaOH水溶液のほか、例えばKOH,Na2 CO
3 ,NH4 OH等の水溶液や有機アルカリ水溶液等でも
よい。
的思想のほかに、前述した実施例及び別例によって把握
される技術的思想をその効果とともに以下に列挙する。 (1) 請求項1〜3のいずれかにおいて、アノードの
材料はステンレス板であること。このようにすると低コ
スト化に好都合である。
れかにおいて、アルカリ性水溶液は10g/l〜40g/lの
NaOH水溶液であり、処理温度は30℃〜60℃、処
理時間は1分〜10分であること。このようにすると、
確実にかつ低コストにめっきレジストを剥離することが
できる。
語を次のように定義する。 「錫を含む金属エッチングレジスト: 電解めっきま
たは無電解めっきによって形成される各種金属めっき膜
であって、例えば錫めっき膜、はんだ(錫−鉛合金)め
っき膜、錫−ニッケル合金めっき膜、錫−コバルト合金
めっき膜、銅−錫−亜鉛合金めっき膜、錫−ニッケル−
銅合金めっき膜、錫−亜鉛合金めっき膜等をいう。」
載のプリント配線板のめっきレジストの除去方法によれ
ば、金属エッチングレジスト中の錫あるいははんだの溶
解が抑制されるため、配線パターンの断線を防止するこ
とができる。請求項2,3に記載の発明によれば、確実
な錫あるいははんだの溶解抑制が達成されかつ水素発生
や消費電力を抑えられるため、コスト性や作業環境を向
上させることができる。
設した状態を示す部分概略断面図である。
膜を形成した状態を示す部分概略断面図である。
部分概略断面図である。
膜及び電解はんだめっき膜を形成した状態を示す部分概
略断面図である。
部分概略断面図である。
浸漬するための剥離槽を示す概略図である。
ジスト、7…金属エッチングレジストとしての電解はん
だめっき膜。
Claims (3)
- 【請求項1】少なくとも錫を含む金属エッチングレジス
トをめっきによって形成するときのめっきレジストをア
ルカリ性水溶液を用いて除去するプリント配線板のめっ
きレジストの除去方法において、前記アルカリ水溶液の処理温度は30℃〜60℃であ
り、アノードをプリント配線板の両面側に、かつ同プリ
ント配線板からほぼ等しい距離を隔てるようにして配置
すると共に、 前記金属エッチングレジストに微弱なカソ
ード電流を流しながら前記めっきレジストを除去するプ
リント配線板のめっきレジストの除去方法。 - 【請求項2】配線板電位を−1.60V〜−1.20V
(SCE,飽和カロメル参照電極)にする請求項1に記
載のプリント配線板のめっきレジストの除去方法。 - 【請求項3】前記金属エッチングレジストは、はんだめ
っき膜である請求項1または2に記載のプリント配線板
のめっきレジストの除去方法。
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| JP5447949B2 (ja) * | 2009-11-27 | 2014-03-19 | 京セラSlcテクノロジー株式会社 | 配線基板の製造方法 |
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