JP3136320B2 - 光応答性測定装置 - Google Patents
光応答性測定装置Info
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- JP3136320B2 JP3136320B2 JP02146747A JP14674790A JP3136320B2 JP 3136320 B2 JP3136320 B2 JP 3136320B2 JP 02146747 A JP02146747 A JP 02146747A JP 14674790 A JP14674790 A JP 14674790A JP 3136320 B2 JP3136320 B2 JP 3136320B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、光に反応する物体にパルス化した光を照射
し、動作指令信号に応じてその光応答性を計測する装置
に関するものである。
し、動作指令信号に応じてその光応答性を計測する装置
に関するものである。
［従来の技術］ 従来より、例えば電子写真に使用される感光体の特性
を評価する時、光応答性を測定する場合がある。これ
は、光をシャッター等によりパルス化して帯電した感光
体に照射し、その応答性すなわち感光体の表面電位の経
時的変化を計測することで得られる。第３図は従来の光
応答性測定装置の概略を示す図である。第３図において
10はランプを内蔵し光を発するランプハウス、11は集光
レンズ、12は光を遮断できるように光路上に配置された
開閉可能なシャッター、13は測定開始の指令信号に応じ
てシャッター12を一定時間開状態とするシャッタードラ
イバー、14は光を伝達する光ファイバー、20は帯電した
感光体21に光を照射する照射部、22は感光体21の表面電
荷を検知する測定用の透明プローブ、23は表面電位計、
24は動作指令信号を受けてクロックを発生させ入力され
る表面電位計のモニター出力をデジタル化して記憶する
トランジェントメモリーである。尚、光ファイバー14の
一端14aは集光レンズ11の集光点に配置され、他端14bは
照射部21内の感光体21を照射する位置に配置されてい
る。また、Ｘは測定開始の指令信号、Ｙはシャッターの
開閉信号である。第４図は各部の信号波形を示す図であ
る。第４図においてａはシャッター12の開閉信号Ｙの波
形を示す図、ｂはシャッター12の開閉によって感光体21
に照射される光信号を示す図、ｃはトランジェントメモ
リー24に記憶される信号波形を示す図である。
を評価する時、光応答性を測定する場合がある。これ
は、光をシャッター等によりパルス化して帯電した感光
体に照射し、その応答性すなわち感光体の表面電位の経
時的変化を計測することで得られる。第３図は従来の光
応答性測定装置の概略を示す図である。第３図において
10はランプを内蔵し光を発するランプハウス、11は集光
レンズ、12は光を遮断できるように光路上に配置された
開閉可能なシャッター、13は測定開始の指令信号に応じ
てシャッター12を一定時間開状態とするシャッタードラ
イバー、14は光を伝達する光ファイバー、20は帯電した
感光体21に光を照射する照射部、22は感光体21の表面電
荷を検知する測定用の透明プローブ、23は表面電位計、
24は動作指令信号を受けてクロックを発生させ入力され
る表面電位計のモニター出力をデジタル化して記憶する
トランジェントメモリーである。尚、光ファイバー14の
一端14aは集光レンズ11の集光点に配置され、他端14bは
照射部21内の感光体21を照射する位置に配置されてい
る。また、Ｘは測定開始の指令信号、Ｙはシャッターの
開閉信号である。第４図は各部の信号波形を示す図であ
る。第４図においてａはシャッター12の開閉信号Ｙの波
形を示す図、ｂはシャッター12の開閉によって感光体21
に照射される光信号を示す図、ｃはトランジェントメモ
リー24に記憶される信号波形を示す図である。
感光体の光応答性を測定するには、予め帯電した感光
体21を照射部20の所定の位置に配置し、ランプハウス10
のランプを点灯後、図示しない測定開始のスタート釦を
押すことにより、図示しない制御回路から測定開始の指
令信号が送出される。このとき、ランプハウス10から放
射された光は集光レンズ11により集光されているが、そ
の光路は常時閉状態となっているシャッター12により遮
断されている。尚、この指令信号はシャッター12を開状
態とするための指令信号であるとともに、トランジェン
トメモリー24が書込動作を開始するための動作指令信号
でもある。シャッタードライバー13はこの指令信号を受
けると常時閉状態であるシャッター12に第４図ａで示す
ような開閉信号Ｙを送出して一定時間、シャッター12を
開状態にする。すると、集光レンズ11により集光された
光は光ファイバー14の一端14aに集光し、集光した光は
光ファイバー14の他端14bから放射され、透明プローブ2
2を介して帯電した感光体21に第４図ｂで示すような光
が照射される。これにより、感光体21の表面電位は徐々
に減衰していく。表面電位計23はこの表面電位の経時的
変化を透明プローブ22により読み取り、そのモニター出
力をトランジェントメモリー24に送出する。一方、トラ
ンジェントメモリー24は測定開始の指令信号すなわち、
動作指令信号を受けると第４図ｃで示すように書込動作
を開始し、表面電位計23から送られるモニター出力をデ
ジタル化して記憶する。この記憶されたメモリーは図示
しないが読み出し開始の指令信号により読み出され、そ
の出力Ｕは例えば図示しないデーター処理用のコンピュ
ータに供給される。このような、一連の動作により帯電
した感光体の表面電位を経時的に計測し、その光応答性
を計測することができる。
体21を照射部20の所定の位置に配置し、ランプハウス10
のランプを点灯後、図示しない測定開始のスタート釦を
押すことにより、図示しない制御回路から測定開始の指
令信号が送出される。このとき、ランプハウス10から放
射された光は集光レンズ11により集光されているが、そ
の光路は常時閉状態となっているシャッター12により遮
断されている。尚、この指令信号はシャッター12を開状
態とするための指令信号であるとともに、トランジェン
トメモリー24が書込動作を開始するための動作指令信号
でもある。シャッタードライバー13はこの指令信号を受
けると常時閉状態であるシャッター12に第４図ａで示す
ような開閉信号Ｙを送出して一定時間、シャッター12を
開状態にする。すると、集光レンズ11により集光された
光は光ファイバー14の一端14aに集光し、集光した光は
光ファイバー14の他端14bから放射され、透明プローブ2
2を介して帯電した感光体21に第４図ｂで示すような光
が照射される。これにより、感光体21の表面電位は徐々
に減衰していく。表面電位計23はこの表面電位の経時的
変化を透明プローブ22により読み取り、そのモニター出
力をトランジェントメモリー24に送出する。一方、トラ
ンジェントメモリー24は測定開始の指令信号すなわち、
動作指令信号を受けると第４図ｃで示すように書込動作
を開始し、表面電位計23から送られるモニター出力をデ
ジタル化して記憶する。この記憶されたメモリーは図示
しないが読み出し開始の指令信号により読み出され、そ
の出力Ｕは例えば図示しないデーター処理用のコンピュ
ータに供給される。このような、一連の動作により帯電
した感光体の表面電位を経時的に計測し、その光応答性
を計測することができる。
［本発明が解決しようとする課題］ しかしながら、従来の光応答性測定装置では、測定開
始の指令信号を受けてシャッター12を開状態とし所定の
光量を感光体21に照射しているので、第４図ｂで示すよ
うにシャッター12の開閉に要する時間遅れto分だけ感光
体21の照射開始時点が遅れる。このため、第４図ｃで示
すように計測する感光体21の光応答性に時間遅れが生じ
ていた。この場合、感光体の応答速度が比較的遅いもの
であって、シャッター12の開閉のための時間遅れが無視
できるものであれば問題ないが、シャッター12に機械的
なものを使用している場合には、この遅れは約1msec〜5
msecにもなる。このため、光応答速度の速い感光体の特
性を計測する場合には、この遅れが無視できなくなる。
このように、従来の光応答性測定装置では、測定開始の
指令信号を受けてから実際に感光体に光を照射する照射
開始時点までに時間的遅れが生じていたため、動作指令
信号に応じてトランジェントメモリー24に記憶される現
象の遅れは、感光体自体の応答の遅れなのか、照射開始
時点までの時間的遅れなのかを判断することができず、
感光体の表面電位の経時的変化を正確に測定することが
できないという欠点があった。
始の指令信号を受けてシャッター12を開状態とし所定の
光量を感光体21に照射しているので、第４図ｂで示すよ
うにシャッター12の開閉に要する時間遅れto分だけ感光
体21の照射開始時点が遅れる。このため、第４図ｃで示
すように計測する感光体21の光応答性に時間遅れが生じ
ていた。この場合、感光体の応答速度が比較的遅いもの
であって、シャッター12の開閉のための時間遅れが無視
できるものであれば問題ないが、シャッター12に機械的
なものを使用している場合には、この遅れは約1msec〜5
msecにもなる。このため、光応答速度の速い感光体の特
性を計測する場合には、この遅れが無視できなくなる。
このように、従来の光応答性測定装置では、測定開始の
指令信号を受けてから実際に感光体に光を照射する照射
開始時点までに時間的遅れが生じていたため、動作指令
信号に応じてトランジェントメモリー24に記憶される現
象の遅れは、感光体自体の応答の遅れなのか、照射開始
時点までの時間的遅れなのかを判断することができず、
感光体の表面電位の経時的変化を正確に測定することが
できないという欠点があった。
本発明は上記欠点を除去するために考えだされたもの
であり、測定開始の指令信号を送出してから感光体に所
定の光量が照射されるまでの時間的遅れを補正して、所
定の光量が感光体に照射された後の光応答性を正確に計
測することのできる光応答性測定装置を提供することを
目的とするものである。
であり、測定開始の指令信号を送出してから感光体に所
定の光量が照射されるまでの時間的遅れを補正して、所
定の光量が感光体に照射された後の光応答性を正確に計
測することのできる光応答性測定装置を提供することを
目的とするものである。
［課題を解決するための手段］ 本発明は、光に反応する物体にパルス化した光を照射
し、動作指令信号に応じてその光応答性を計測する装置
において、照射する光の一部を分岐する光ファイバー
と、分岐された光を受光する受光素子と、該受光素子か
らの信号を増幅する前段増幅器と、該前段増幅器の出力
が基準値を越えると出力信号を送出するコンパレータ
と、該コンパレータの基準値を調整する可変抵抗器と、
コンパレータの出力信号と測定開始の指令信号が入力さ
れて動作指令信号を出力するANDゲートとからなり、受
光素子で検出される光量が所定の値を越えるまで計測動
作を開始しない計測動作阻止手段を設けたことを特徴と
する光応答性測定装置である。
し、動作指令信号に応じてその光応答性を計測する装置
において、照射する光の一部を分岐する光ファイバー
と、分岐された光を受光する受光素子と、該受光素子か
らの信号を増幅する前段増幅器と、該前段増幅器の出力
が基準値を越えると出力信号を送出するコンパレータ
と、該コンパレータの基準値を調整する可変抵抗器と、
コンパレータの出力信号と測定開始の指令信号が入力さ
れて動作指令信号を出力するANDゲートとからなり、受
光素子で検出される光量が所定の値を越えるまで計測動
作を開始しない計測動作阻止手段を設けたことを特徴と
する光応答性測定装置である。
［作用］ 本発明は上記の構成により光に反応する物体に光を照
射すると、前記計測動作阻止手段は前記物体に照射され
る光量を検出し、該照射光量が所定値を越えた時に、前
記動作指令信号を送出する。そして、該動作指令信号に
応じて前記物体の光応答性を測定する。
射すると、前記計測動作阻止手段は前記物体に照射され
る光量を検出し、該照射光量が所定値を越えた時に、前
記動作指令信号を送出する。そして、該動作指令信号に
応じて前記物体の光応答性を測定する。
［実 施 例］ 本発明の一実施例を以下第１図及び第２図を参照して
詳細に説明する。第１図は本発明の一実施例である光応
答性測定装置の概略構成図である。第１図において、１
は光信号を電気信号に変換する受光素子、２は光量に応
じた電圧レベルを出力する前段増幅器であり、OP−AMP
及び抵抗素子Ｒ等により構成されている。３は前段増幅
器の出力が一定値を越えると出力信号を送出するコンパ
レータ、４はコンパレータ３の基準値を調整する可変抵
抗器、５はANDゲートである。15は２分岐光ファイバー
であり、入力端15aは集光レンズ11の集光点に配置さ
れ、一方の出力端15bは照射部に、他方の出力端15cは受
光素子１を照射する位置に配置されている。尚、ランプ
ハウス10、集光レンズ11、シャッター12、シャッタード
ライバー13、照射部20、帯電した感光体21、透明プロー
ブ22、表面電位計23及びトランジェントメモリー24は従
来例で示したものと同様であるので、同一の符号を付す
ことによりその詳細な説明を省略する。また、Ｅはコン
パレータ３の基準電圧設定用の直流電源、Ｕはトランジ
ェントメモリー24の読み出し信号、Ｘは測定開始の指令
信号、Ｙはシャッター12の開閉信号、Ｚはトランジェン
トメモリー24の動作指令信号である。測定開始の指令信
号Ｘと動作指令信号ＺとはANDゲート５により中継され
ている。第２図は各部の信号波形を示す図である。第２
図において、ａはシャッター開閉信号Ｙの波形を示す
図、ｂはシャッター開閉によって感光体21に照射される
光信号波形を示す図、ｃは表面電位計23が読み取る感光
体表面の電位変化を示す図、ｄは前段増幅器２の出力波
形を示す図、ｅは動作指令信号Ｚの波形を示す図、ｆは
トランジェントメモリー24に記憶される信号波形を示す
図である。
詳細に説明する。第１図は本発明の一実施例である光応
答性測定装置の概略構成図である。第１図において、１
は光信号を電気信号に変換する受光素子、２は光量に応
じた電圧レベルを出力する前段増幅器であり、OP−AMP
及び抵抗素子Ｒ等により構成されている。３は前段増幅
器の出力が一定値を越えると出力信号を送出するコンパ
レータ、４はコンパレータ３の基準値を調整する可変抵
抗器、５はANDゲートである。15は２分岐光ファイバー
であり、入力端15aは集光レンズ11の集光点に配置さ
れ、一方の出力端15bは照射部に、他方の出力端15cは受
光素子１を照射する位置に配置されている。尚、ランプ
ハウス10、集光レンズ11、シャッター12、シャッタード
ライバー13、照射部20、帯電した感光体21、透明プロー
ブ22、表面電位計23及びトランジェントメモリー24は従
来例で示したものと同様であるので、同一の符号を付す
ことによりその詳細な説明を省略する。また、Ｅはコン
パレータ３の基準電圧設定用の直流電源、Ｕはトランジ
ェントメモリー24の読み出し信号、Ｘは測定開始の指令
信号、Ｙはシャッター12の開閉信号、Ｚはトランジェン
トメモリー24の動作指令信号である。測定開始の指令信
号Ｘと動作指令信号ＺとはANDゲート５により中継され
ている。第２図は各部の信号波形を示す図である。第２
図において、ａはシャッター開閉信号Ｙの波形を示す
図、ｂはシャッター開閉によって感光体21に照射される
光信号波形を示す図、ｃは表面電位計23が読み取る感光
体表面の電位変化を示す図、ｄは前段増幅器２の出力波
形を示す図、ｅは動作指令信号Ｚの波形を示す図、ｆは
トランジェントメモリー24に記憶される信号波形を示す
図である。
帯電した感光体に所定の光量を照射して感光体表面の
電位変化を測定するには、予め帯電した感光体21を照射
部20の所定の位置に配置し、ランプハウス10のランプを
点灯後、図示しない測定開始のスタート釦を押す。する
と、図示しない制御回路から測定開始の指令信号Ｘが送
出される。この時点において、ランプハウス10から放射
された光は集光レンズ11により集光されているが、その
光路は常時閉状態となっているシャッター12により遮断
されている。シャッタードライバー13はこの指令信号Ｘ
を受けると常時閉状態であるシャッター12に、第２図ａ
に示すような開閉信号Ｙを送出し、シャッター12は一定
時間、開状態となる。すると、集光レンズ11により集光
された光は光ファイバー15の入力端15aに集光し、集光
した光は２方向に分岐される。そして、一方は光ファイ
バー15の出力端15bから放射され透明プローブ22を介し
て帯電した感光体21に照射される。他方は光ファイバー
15の出力端15cから放射され受光素子１に照射される。
尚、感光体21及び受光素子１に照射される光信号は、第
２図ｂで示すようにシャッター12の応答遅れtoによって
一定時間遅れた後、ある程度の傾斜をもって立ち上がる
波形となる。感光体21に光が照射されると、感光体22の
表面電位は徐々に減衰していく。表面電位計23は第２図
ｃで示すように、この表面電位の経時的変化を透明プロ
ーブ22により読み取り、そのモニター出力をトランジェ
ントメモリー24に送出する。一方、光ファイバー15の出
力端15cから放射された光が受光素子１に照射される
と、受光素子１はこの光信号を電気信号に変換する。前
段増幅器２はこの電気信号を受けると第２図ｄで示すよ
うに、照射光量に応じた電圧レベルを出力する。コンパ
レータ３はこの信号を受け、可変抵抗４で予め設定され
た基準電圧値と比較し、前段増幅器２の出力電圧レベル
がこの基準電圧値を越えたとき、出力信号を送出する。
この出力信号はANDゲート４に入力され、ANDゲート４は
この出力信号と測定開始の指令信号Ｘを受けて、第２図
ｅで示すような出力信号を出力する。トランジェントメ
モリー24はこの出力信号すなわち、動作指令信号を受け
ると第２図ｆで示すように書込動作を開始し、表面電位
計23から送られるモニター出力をデジタル化して記憶す
る。この記憶されたメモリーは図示しないが読み出し開
始の指令信号により読み出され、その出力Ｕは例えば図
示しないデーター処理用のコンピュータに供給される。
電位変化を測定するには、予め帯電した感光体21を照射
部20の所定の位置に配置し、ランプハウス10のランプを
点灯後、図示しない測定開始のスタート釦を押す。する
と、図示しない制御回路から測定開始の指令信号Ｘが送
出される。この時点において、ランプハウス10から放射
された光は集光レンズ11により集光されているが、その
光路は常時閉状態となっているシャッター12により遮断
されている。シャッタードライバー13はこの指令信号Ｘ
を受けると常時閉状態であるシャッター12に、第２図ａ
に示すような開閉信号Ｙを送出し、シャッター12は一定
時間、開状態となる。すると、集光レンズ11により集光
された光は光ファイバー15の入力端15aに集光し、集光
した光は２方向に分岐される。そして、一方は光ファイ
バー15の出力端15bから放射され透明プローブ22を介し
て帯電した感光体21に照射される。他方は光ファイバー
15の出力端15cから放射され受光素子１に照射される。
尚、感光体21及び受光素子１に照射される光信号は、第
２図ｂで示すようにシャッター12の応答遅れtoによって
一定時間遅れた後、ある程度の傾斜をもって立ち上がる
波形となる。感光体21に光が照射されると、感光体22の
表面電位は徐々に減衰していく。表面電位計23は第２図
ｃで示すように、この表面電位の経時的変化を透明プロ
ーブ22により読み取り、そのモニター出力をトランジェ
ントメモリー24に送出する。一方、光ファイバー15の出
力端15cから放射された光が受光素子１に照射される
と、受光素子１はこの光信号を電気信号に変換する。前
段増幅器２はこの電気信号を受けると第２図ｄで示すよ
うに、照射光量に応じた電圧レベルを出力する。コンパ
レータ３はこの信号を受け、可変抵抗４で予め設定され
た基準電圧値と比較し、前段増幅器２の出力電圧レベル
がこの基準電圧値を越えたとき、出力信号を送出する。
この出力信号はANDゲート４に入力され、ANDゲート４は
この出力信号と測定開始の指令信号Ｘを受けて、第２図
ｅで示すような出力信号を出力する。トランジェントメ
モリー24はこの出力信号すなわち、動作指令信号を受け
ると第２図ｆで示すように書込動作を開始し、表面電位
計23から送られるモニター出力をデジタル化して記憶す
る。この記憶されたメモリーは図示しないが読み出し開
始の指令信号により読み出され、その出力Ｕは例えば図
示しないデーター処理用のコンピュータに供給される。
このように、本実施例によれば、トランジェントメモ
リー24は所定の照射光量が感光体21に照射されたときか
ら書込動作を開始し、表面電位計23が読み取る感光体21
の表面電位を記憶するので、照射開始時点からの感光体
21表面の電位変化を経時的に計測することができる。し
たがって、感光体21の光応答特性を正確に測定すること
ができる。
リー24は所定の照射光量が感光体21に照射されたときか
ら書込動作を開始し、表面電位計23が読み取る感光体21
の表面電位を記憶するので、照射開始時点からの感光体
21表面の電位変化を経時的に計測することができる。し
たがって、感光体21の光応答特性を正確に測定すること
ができる。
また、本実施例によれば、測定開始の指令信号が発せ
られたときから、感光体21に所定の光量が照射されるま
での時間的遅れを補正することができるので、データ処
理をする際の前処理操作が不要となる。
られたときから、感光体21に所定の光量が照射されるま
での時間的遅れを補正することができるので、データ処
理をする際の前処理操作が不要となる。
尚、上記実施例において、光信号を受光素子１に照射
する手段として光ファイバーを使用した場合について説
明したが、照射手段はこれに限定されるものではなく、
他の照射手段たとえばミラーにより光信号を反射させ、
この反射光を受光素子１に照射するものであってもよ
い。
する手段として光ファイバーを使用した場合について説
明したが、照射手段はこれに限定されるものではなく、
他の照射手段たとえばミラーにより光信号を反射させ、
この反射光を受光素子１に照射するものであってもよ
い。
また、上記実施例において、照射部20は照射光路上に
透明プローブ22を配置して感光体21表面を照射し、感光
体21の表面電位変化を検出するようにした場合について
説明したが、検出方法は、たとえば感光体21の背面から
光を照射して表面電位変化を反対側に配置した透明プロ
ーブ22により検出するものであってもよい。
透明プローブ22を配置して感光体21表面を照射し、感光
体21の表面電位変化を検出するようにした場合について
説明したが、検出方法は、たとえば感光体21の背面から
光を照射して表面電位変化を反対側に配置した透明プロ
ーブ22により検出するものであってもよい。
更に本発明は、光に反応する物体に、シャッターやフ
ラッシュランプ等を介してパルス化した光を照射し、動
作指令信号に応じてその光応答性を計測する装置であれ
ばよく、上記実施例のように感光体の表面電位変化を計
測するものに限定するものではない。
ラッシュランプ等を介してパルス化した光を照射し、動
作指令信号に応じてその光応答性を計測する装置であれ
ばよく、上記実施例のように感光体の表面電位変化を計
測するものに限定するものではない。
［効果］ 以上説明したように本発明によれば、所定の光量が光
に反応する物体に照射されるまで、計測動作を開始しな
いように構成されているので、前記物体の光応答性を照
射開始時点から経時的に正確に測定することができ、デ
ータ処理をする際の前処理操作が不要となる光応答性測
定装置を提供することができる。
に反応する物体に照射されるまで、計測動作を開始しな
いように構成されているので、前記物体の光応答性を照
射開始時点から経時的に正確に測定することができ、デ
ータ処理をする際の前処理操作が不要となる光応答性測
定装置を提供することができる。
第１図は本発明の一実施例である光応答性測定装置を示
す概略構成図、第２図は本発明の実施例を説明するため
の各部の信号波形図、第３図は従来の光応答性測定装置
を示す概略構成図、第４図は従来例を説明するための各
部の信号波形図である。 １……受光素子、２……前段増幅器、３……コンパレー
タ、４……可変抵抗器、５……ANDゲート、10……ラン
プハウス、11……集光レンズ、12……シャッター、13…
…シャッタードライバー、15……光ファイバー、20……
照射部、21……感光体、22……透明プローブ、23……表
面電位計、24……トランジェントメモリー。
す概略構成図、第２図は本発明の実施例を説明するため
の各部の信号波形図、第３図は従来の光応答性測定装置
を示す概略構成図、第４図は従来例を説明するための各
部の信号波形図である。 １……受光素子、２……前段増幅器、３……コンパレー
タ、４……可変抵抗器、５……ANDゲート、10……ラン
プハウス、11……集光レンズ、12……シャッター、13…
…シャッタードライバー、15……光ファイバー、20……
照射部、21……感光体、22……透明プローブ、23……表
面電位計、24……トランジェントメモリー。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野崎 年功 東京都豊島区高田３―７―14 ジェンテ ック株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−237344（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−76919（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−135452（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−32048（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 27/60 G03G 5/00 - 5/16 G01N 21/62 - 21/74 G01J 1/00 - 1/60
Claims (1)
- 【請求項１】光に反応する物体にパルス化した光を照射
し、動作指令信号に応じてその光応答性を計測する装置
において、照射する光の一部を分岐する光ファイバー
と、分岐された光を受光する受光素子と、該受光素子か
らの信号を増幅する前段増幅器と、該前段増幅器の出力
が基準値を越えると出力信号を送出するコンパレータ
と、該コンパレータの基準値を調整する可変抵抗器と、
コンパレータの出力信号と測定開始の指令信号が入力さ
れて動作指令信号を出力するANDゲートとからなり、受
光素子で検出される光量が所定の値を越えるまで計測動
作を開始しない計測動作阻止手段を設けたことを特徴と
する光応答性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02146747A JP3136320B2 (ja) | 1990-06-05 | 1990-06-05 | 光応答性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02146747A JP3136320B2 (ja) | 1990-06-05 | 1990-06-05 | 光応答性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0440335A JPH0440335A (ja) | 1992-02-10 |
| JP3136320B2 true JP3136320B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=15414682
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02146747A Expired - Fee Related JP3136320B2 (ja) | 1990-06-05 | 1990-06-05 | 光応答性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3136320B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4922067B2 (ja) * | 2007-05-23 | 2012-04-25 | 株式会社リコー | 電子写真感光体の特性評価装置 |
-
1990
- 1990-06-05 JP JP02146747A patent/JP3136320B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0440335A (ja) | 1992-02-10 |
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