JP3136657B2 - 熱電素子の製造方法 - Google Patents
熱電素子の製造方法Info
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、熱電素子の製造方法に
関するものである。
関するものである。
【0002】
【従来の技術】熱電素子は、熱エネルギーを電気エネル
ギーに変換する素子であり、図5に示すように、p型半
導体1とn型半導体2とをU字形に接合させ、その先端
のp−n接合部3を高温にさらして、発電させるもので
ある。
ギーに変換する素子であり、図5に示すように、p型半
導体1とn型半導体2とをU字形に接合させ、その先端
のp−n接合部3を高温にさらして、発電させるもので
ある。
【0003】そしてこの半導体の材料は、表1に示すよ
うに種々開発されており、製造するに際してはこれらの
粉末を加圧焼結して成形するのが一般的である。
うに種々開発されており、製造するに際してはこれらの
粉末を加圧焼結して成形するのが一般的である。
【0004】
【表1】
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで熱電素子にお
いては、熱感応速度を速くするために、p−n接合部3
を細くする(断面積を小さく)ことが要求される。しか
しながら、細くすることはp−n接合部3に集中荷重が
加わることとなり、強度的に厳しい状態となる。
いては、熱感応速度を速くするために、p−n接合部3
を細くする(断面積を小さく)ことが要求される。しか
しながら、細くすることはp−n接合部3に集中荷重が
加わることとなり、強度的に厳しい状態となる。
【0006】そこで本発明は、上記事情に鑑み、強固な
p−n接合部を有する熱電素子を製造する方法を提供す
べく創案されたものである。
p−n接合部を有する熱電素子を製造する方法を提供す
べく創案されたものである。
【0007】なお本発明に対比すべき従来技術として、
「熱電素子の製造法」(特公昭54−41315号公
報)がある。ただしこの方法は、単にp型或いはn型の
化合物粉末を混合した圧粉体を加圧焼結してp−n接合
部とする、としただけであり、実際には均一な圧粉体と
するのは難しく、強度等の信頼性に課題があると考えら
れる。
「熱電素子の製造法」(特公昭54−41315号公
報)がある。ただしこの方法は、単にp型或いはn型の
化合物粉末を混合した圧粉体を加圧焼結してp−n接合
部とする、としただけであり、実際には均一な圧粉体と
するのは難しく、強度等の信頼性に課題があると考えら
れる。
【0008】また「電熱変換素子」(特開平2−106
079号公報)では、低熱伝導材料から成る粒子の周り
に半導体を構成する材料から成る被覆層をメッキまたは
融着で形成し、これを焼結する手段が開示されている
が、この方法では湿式の特別な工程を必要し、製造工程
が複雑化するおそれがある。
079号公報)では、低熱伝導材料から成る粒子の周り
に半導体を構成する材料から成る被覆層をメッキまたは
融着で形成し、これを焼結する手段が開示されている
が、この方法では湿式の特別な工程を必要し、製造工程
が複雑化するおそれがある。
【0009】さらに「熱電気変換素子とその製造方法」
(特開昭61−203687号公報)は、半導体薄膜を
耐熱性絶縁薄板の両面に積層して、これを半導体粉末の
焼結板で挟んで、熱拡散により接合させるものである
が、これも数回の焼結と成膜工程が必要なために、工程
の複雑化、高コスト化が避け難い。
(特開昭61−203687号公報)は、半導体薄膜を
耐熱性絶縁薄板の両面に積層して、これを半導体粉末の
焼結板で挟んで、熱拡散により接合させるものである
が、これも数回の焼結と成膜工程が必要なために、工程
の複雑化、高コスト化が避け難い。
【0010】本発明は、このような従来提案が有してい
る懸念がないものとして為されたものである。
る懸念がないものとして為されたものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、p型半導体と
n型半導体とを適宜接合させた熱電素子を製造するに際
して、その両半導体の成分のうち電導性の低い物質を核
粒子とし、電導性の高い物質を被覆粒子としてカプセル
粒子を形成した後、このカプセル粒子の粉末をプラズマ
焼結してp−n接合部を成形するものである。
n型半導体とを適宜接合させた熱電素子を製造するに際
して、その両半導体の成分のうち電導性の低い物質を核
粒子とし、電導性の高い物質を被覆粒子としてカプセル
粒子を形成した後、このカプセル粒子の粉末をプラズマ
焼結してp−n接合部を成形するものである。
【0012】
【作用】上記方法によって、p−n接合部の成分はp型
半導体及びn型半導体に共通であるため焼結反応が促進
されると共に、粒子が均一に分散される。
半導体及びn型半導体に共通であるため焼結反応が促進
されると共に、粒子が均一に分散される。
【0013】
【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に従って説
明する。
明する。
【0014】図1及び図2は、本発明に係わる熱電素子
の製造方法第一の実施例を示したものであり、p型半導
体11としてFeSi2 を、n型半導体12としてCo
Siを用いる場合において示したものである。
の製造方法第一の実施例を示したものであり、p型半導
体11としてFeSi2 を、n型半導体12としてCo
Siを用いる場合において示したものである。
【0015】まず半導体11,12の成分のうち、電導
性の低い(電気抵抗の大きい)物質としてFeを、電導
性の高い(電気抵抗の小さい)物質としてCoを選択
し、図1に示したように、Fe粒子13を核粒子14と
し、Co粒子15を被覆粒子16としたカプセル粒子1
7を製造する。この製造工程では、Fe粒子13の径は
およそ40μmとし、Co粒子15の径は約1 μmとし
て、Fe粒子13にCo粒子15を付着させる。この付
着する力は、公知のファンデルワールス力によるもので
ある。このようにCo粒子15で囲まれたFe粒子13
を、2,000 〜7,000rpmの回転翼を備えた容器(図示せ
ず)に入れ、1 〜5 分間遠心転動させて、気流による衝
撃力を与える。この衝撃作用により、付着したCo粒子
15は、Fe粒子13の表面に強固に密着して、所望の
カプセル粒子17が得られる。
性の低い(電気抵抗の大きい)物質としてFeを、電導
性の高い(電気抵抗の小さい)物質としてCoを選択
し、図1に示したように、Fe粒子13を核粒子14と
し、Co粒子15を被覆粒子16としたカプセル粒子1
7を製造する。この製造工程では、Fe粒子13の径は
およそ40μmとし、Co粒子15の径は約1 μmとし
て、Fe粒子13にCo粒子15を付着させる。この付
着する力は、公知のファンデルワールス力によるもので
ある。このようにCo粒子15で囲まれたFe粒子13
を、2,000 〜7,000rpmの回転翼を備えた容器(図示せ
ず)に入れ、1 〜5 分間遠心転動させて、気流による衝
撃力を与える。この衝撃作用により、付着したCo粒子
15は、Fe粒子13の表面に強固に密着して、所望の
カプセル粒子17が得られる。
【0016】次に熱電素子の本体部18,19を、それ
ぞれFeSi2 及びCoSiの粉末で焼結する。そして
その焼結体の間に、カプセル粒子17の粉末でp−n接
合部20の形状とした圧粉体を挿入し、プラズマ焼結法
を行う焼結装置(図示せず)にセットして、プラズマ焼
結する。この工程は、FeSi2 粉末、カプセル粉末、
CoSi粉末を順次所定の形枠に詰めて、同時に一体的
にプラズマ焼結してもよい。
ぞれFeSi2 及びCoSiの粉末で焼結する。そして
その焼結体の間に、カプセル粒子17の粉末でp−n接
合部20の形状とした圧粉体を挿入し、プラズマ焼結法
を行う焼結装置(図示せず)にセットして、プラズマ焼
結する。この工程は、FeSi2 粉末、カプセル粉末、
CoSi粉末を順次所定の形枠に詰めて、同時に一体的
にプラズマ焼結してもよい。
【0017】これでp−n接合部20がカプセル粒子1
7で焼結成形された熱電素子が得られ、p−n接合部2
0の成分が本体部18,19に共通であるため、焼結反
応が促進されて界面強度が高められる。そしてFe粒子
13及びCo粒子15が均一に分散された状態でプラズ
マ焼結されるので、強固な焼結品とすることができる。
また導電性の高いCo粒子15を被覆粒子としたので、
電子が流れ易く、性能のよい熱電素子が得られる。
7で焼結成形された熱電素子が得られ、p−n接合部2
0の成分が本体部18,19に共通であるため、焼結反
応が促進されて界面強度が高められる。そしてFe粒子
13及びCo粒子15が均一に分散された状態でプラズ
マ焼結されるので、強固な焼結品とすることができる。
また導電性の高いCo粒子15を被覆粒子としたので、
電子が流れ易く、性能のよい熱電素子が得られる。
【0018】なおこの実施例ではカプセル粒子17をF
e粒子13とCo粒子15とで製造するものとしたが、
被覆粒子をSi粒子としてもよい。このようにすれば、
p−n接合部の接合面はSiとなり、双方の本体部のS
i成分に必ず接することとなって、さらに接合強度が向
上する。
e粒子13とCo粒子15とで製造するものとしたが、
被覆粒子をSi粒子としてもよい。このようにすれば、
p−n接合部の接合面はSiとなり、双方の本体部のS
i成分に必ず接することとなって、さらに接合強度が向
上する。
【0019】また上記したFe/Co及びFe/Siの
組み合わせのカプセル粒子を両方使用して、p−n接合
部20を成形するようにしてもよい。
組み合わせのカプセル粒子を両方使用して、p−n接合
部20を成形するようにしてもよい。
【0020】次に図3によって本発明の第二の実施例を
説明する。この製造方法は、前記第一の実施例のカプセ
ル粒子17で成るp−n接合部20に、高熱伝導高電気
伝導性セラミック粒子31を、また本体部18,19の
下端部32に低熱伝導高電気伝導性セラミック粒子33
をそれぞれ混合添加して、焼結させるものである。
説明する。この製造方法は、前記第一の実施例のカプセ
ル粒子17で成るp−n接合部20に、高熱伝導高電気
伝導性セラミック粒子31を、また本体部18,19の
下端部32に低熱伝導高電気伝導性セラミック粒子33
をそれぞれ混合添加して、焼結させるものである。
【0021】この第二の実施例の背景としては、次のよ
うな事情がある。熱電素子においては、高温側であるp
−n接合部20はできるだけ高温であること(高熱感応
性であること)、低温側の下端部32はできるだけ低温
であること(低熱感応性であること)が必要である。す
なわち温度勾配が大きいものであることが望ましい。こ
の第二の実施例によれば、強固なp−n接合部20とし
た上で、大きい温度勾配が得られるものである。なおセ
ラミック粒子31,33の添加の際は、一定の濃度で添
加しても、適宜な濃度勾配を付けて混合させても構わな
い。また高熱伝導高電気伝導性セラミック粒子31とし
てはTiB2 、ZrB2 などがあり、低熱伝導高電気伝
導性セラミック粒子33としてはZnC、SiC、Zr
O2 などがある。
うな事情がある。熱電素子においては、高温側であるp
−n接合部20はできるだけ高温であること(高熱感応
性であること)、低温側の下端部32はできるだけ低温
であること(低熱感応性であること)が必要である。す
なわち温度勾配が大きいものであることが望ましい。こ
の第二の実施例によれば、強固なp−n接合部20とし
た上で、大きい温度勾配が得られるものである。なおセ
ラミック粒子31,33の添加の際は、一定の濃度で添
加しても、適宜な濃度勾配を付けて混合させても構わな
い。また高熱伝導高電気伝導性セラミック粒子31とし
てはTiB2 、ZrB2 などがあり、低熱伝導高電気伝
導性セラミック粒子33としてはZnC、SiC、Zr
O2 などがある。
【0022】次に図4によって本発明の第三の実施例を
説明する。この製造方法は、前記第一の実施例で示した
本体部にも、カプセル粒子を使用するものである。すな
わちp型半導体の本体部41を形成するに際して、Fe
粒子を核粒子とし、それより小径のSi粒子を被覆粒子
としたカプセル粒子を、前記第一の実施例と同様にして
製造し、この粉末を所定形状に成形してプラズマ焼結す
る。この際これらFe粒子及びSi粒子のモル比を1:2
としておく。この焼結に伴う化学反応で半導体化合物た
るFeSi2 が生成される。またn型半導体の本体部4
2を、Co粒子を核粒子とし、これと同モルのSi粒子
を被覆粒子としたカプセル粒子で焼結成形し、CoSi
を得る。そしてこれら焼結体の間にp−n接合部20と
なるFe/Co或いはFe/Siのカプセル粒子の圧粉
体を挿入してプラズマ焼結し、熱電素子を製造する。
説明する。この製造方法は、前記第一の実施例で示した
本体部にも、カプセル粒子を使用するものである。すな
わちp型半導体の本体部41を形成するに際して、Fe
粒子を核粒子とし、それより小径のSi粒子を被覆粒子
としたカプセル粒子を、前記第一の実施例と同様にして
製造し、この粉末を所定形状に成形してプラズマ焼結す
る。この際これらFe粒子及びSi粒子のモル比を1:2
としておく。この焼結に伴う化学反応で半導体化合物た
るFeSi2 が生成される。またn型半導体の本体部4
2を、Co粒子を核粒子とし、これと同モルのSi粒子
を被覆粒子としたカプセル粒子で焼結成形し、CoSi
を得る。そしてこれら焼結体の間にp−n接合部20と
なるFe/Co或いはFe/Siのカプセル粒子の圧粉
体を挿入してプラズマ焼結し、熱電素子を製造する。
【0023】この第三の実施例によれば、本体部41,
42の成分粒子であるFe粒子、Si粒子及びCo粒子
が均一に分散していることにより、電子の易動性及び熱
の伝導特性が断面方向ならびに長手方向において安定す
る。また核粒子/被覆粒子の組み合わせにおいて、電気
抵抗の小さい物質或いは熱伝導度の低い物質を被覆粒子
とすることにより、電子の通り道を作る、もしくは格子
振動による電子の散乱を少なくすることができる。すな
わち、従来より電子が流れ易く、かつ温度勾配が大きい
熱電素子とすることができ、熱電特性を向上させること
ができる。
42の成分粒子であるFe粒子、Si粒子及びCo粒子
が均一に分散していることにより、電子の易動性及び熱
の伝導特性が断面方向ならびに長手方向において安定す
る。また核粒子/被覆粒子の組み合わせにおいて、電気
抵抗の小さい物質或いは熱伝導度の低い物質を被覆粒子
とすることにより、電子の通り道を作る、もしくは格子
振動による電子の散乱を少なくすることができる。すな
わち、従来より電子が流れ易く、かつ温度勾配が大きい
熱電素子とすることができ、熱電特性を向上させること
ができる。
【0024】なお以上の実施例では、p型半導体の材料
としてFeSi2 を、n型半導体としてCoSiを用い
た場合において示したが、本発明はこれに限るものでは
なく、表2に示すように他のあらゆる組み合わせにおい
て適用できる。そしてp−n接合部のカプセル粒子の核
粒子及び被覆粒子の組み合わせは、同表に付記したよう
に選択することができる。
としてFeSi2 を、n型半導体としてCoSiを用い
た場合において示したが、本発明はこれに限るものでは
なく、表2に示すように他のあらゆる組み合わせにおい
て適用できる。そしてp−n接合部のカプセル粒子の核
粒子及び被覆粒子の組み合わせは、同表に付記したよう
に選択することができる。
【0025】
【表2】
【0026】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果を発揮する。
な優れた効果を発揮する。
【0027】p型半導体及びn型半導体の成分のうち電
導性の低い物質を核粒子とし、電導性の高い物質を被覆
粒子としてカプセル粒子を形成し、その粉末をプラズマ
焼結してp−n接合部を成形するようにしたので、焼結
反応が促進されると共に、成分粒子が均一に分散され
て、強固なp−n接合部を有した熱電素子を得ることが
できる。
導性の低い物質を核粒子とし、電導性の高い物質を被覆
粒子としてカプセル粒子を形成し、その粉末をプラズマ
焼結してp−n接合部を成形するようにしたので、焼結
反応が促進されると共に、成分粒子が均一に分散され
て、強固なp−n接合部を有した熱電素子を得ることが
できる。
【図1】本発明に係わる熱電素子の製造方法の第一の実
施例を説明するためのカプセル粒子の断面図である。
施例を説明するためのカプセル粒子の断面図である。
【図2】図1のカプセル粒子により製造されたp−n接
合部を含む熱電素子の側面図である。
合部を含む熱電素子の側面図である。
【図3】本発明の第二の実施例を説明するための熱電素
子の側面図である。
子の側面図である。
【図4】本発明の第三の実施例を説明するための熱電素
子の側面図である。
子の側面図である。
【図5】従来の熱電素子を示した側面図である。
11 p型半導体 12 n型半導体 14 核粒子 16 被覆粒子 17 カプセル粒子 20 p−n接合部
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭50−115077(JP,A) 特開 平2−27779(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 35/32 G01K 7/02
Claims (1)
- 【請求項1】 p型半導体とn型半導体とを適宜接合さ
せた熱電素子を製造するに際して、上記両半導体の成分
のうち電導性の低い物質を核粒子とし、電導性の高い物
質を被覆粒子としてカプセル粒子を形成した後、該カプ
セル粒子の粉末をプラズマ焼結してp−n接合部を成形
することを特徴とする熱電素子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03171084A JP3136657B2 (ja) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | 熱電素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03171084A JP3136657B2 (ja) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | 熱電素子の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0521851A JPH0521851A (ja) | 1993-01-29 |
| JP3136657B2 true JP3136657B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=15916710
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03171084A Expired - Fee Related JP3136657B2 (ja) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | 熱電素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3136657B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001135715A (ja) * | 1999-08-24 | 2001-05-18 | Ibiden Co Ltd | 測温素子および半導体製造装置用セラミック基材 |
-
1991
- 1991-07-11 JP JP03171084A patent/JP3136657B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0521851A (ja) | 1993-01-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |