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JP3143027B2 - Method for manufacturing light receiving member - Google Patents
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JP3143027B2 - Method for manufacturing light receiving member - Google Patents

Method for manufacturing light receiving member

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JP3143027B2
JP3143027B2 JP06270206A JP27020694A JP3143027B2 JP 3143027 B2 JP3143027 B2 JP 3143027B2 JP 06270206 A JP06270206 A JP 06270206A JP 27020694 A JP27020694 A JP 27020694A JP 3143027 B2 JP3143027 B2 JP 3143027B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は光(ここでは広義の光で
あって、紫外線、可視光線、赤外線、x線、γ線などを
意味する。)のような電磁波に対して感受性のある光受
容部材を製造する方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to light which is sensitive to electromagnetic waves such as light (here, light in a broad sense, meaning ultraviolet light, visible light, infrared light, x-rays, .gamma.-rays, etc.). The present invention relates to a method for manufacturing a receiving member.

【0002】[0002]

【従来技術の説明】像形成分野において、光受容部材に
おける光受容層を形成する光導電材料としては、高感度
で、SN比[光電流(Ip)/暗電流(Id)]が高
く、照射する電磁波のスペクトル特性に適合した吸収ス
ペクトルを有すること、光応答性が早く、所望の暗抵抗
値を有すること、使用時において人体に対して無害であ
ること、等の特性が要求される。特に、事務機としてオ
フィスで使用される電子写真装置内に組み込まれる電子
写真用光受容部材の場合には、上記の使用時における無
公害性は重要な点である。この様な点において優れた性
質を示す光導電材料として、水素アモルファスシリコン
(以下、「a−Si:H」と表記する)があり、例え
ば、特公昭60−35059号公報には電子写真用光受
容部材としての応用が記載されている。そして、その電
子写真用光受容部材は、一般的には基体を50℃〜40
0℃に加熱し、該基体上に真空蒸着法、スパッタリング
法、イオンプレーティング法、熱CVD法、光CVD
法、プラズマCVD法等の成膜法によりa−Siからな
る光導電層を形成する。なかでもプラズマCVD法、す
なわち、原料ガスを直流または高周波あるいはマイクロ
波グロー放電によって分解し、基体上にa−Si堆積膜
を形成する方法が好適なものとして実用に付されてい
る。また、特開昭54−83746号公報においては、
基体と、ハロゲン原子を構成要素として含むa−Si
(以下、「a−Si:X」と表記する)光導電層からな
る電子写真用光受容部材が提案されており、該公報に
は、a−Siにハロゲン原子を1乃至40原子%含有さ
せた、耐熱性が高く、電気的光学的特性の優れた電子写
真用光受容部材に関する技術が開示されている。
2. Description of the Related Art In the field of image formation, a photoconductive material for forming a light receiving layer in a light receiving member has high sensitivity, a high SN ratio [photocurrent (Ip) / dark current (Id)], and irradiation. Characteristics such as having an absorption spectrum suitable for the spectral characteristics of the electromagnetic waves to be emitted, having a fast light response, having a desired dark resistance value, and being harmless to the human body during use. In particular, in the case of an electrophotographic light-receiving member incorporated in an electrophotographic apparatus used in an office as an office machine, the above-described non-polluting property at the time of use is important. Hydrogen amorphous silicon (hereinafter abbreviated as "a-Si: H") is a photoconductive material exhibiting excellent properties in this respect. For example, Japanese Patent Publication No. 60-35059 discloses an electrophotographic light-emitting material. Application as a receiving member is described. The light receiving member for electrophotography generally has a substrate at 50 ° C to 40 ° C.
Heated to 0 ° C., and deposited on the substrate by vacuum evaporation, sputtering, ion plating, thermal CVD, photo CVD
A photoconductive layer made of a-Si is formed by a film forming method such as a plasma CVD method or a plasma CVD method. Among them, a plasma CVD method, that is, a method in which a source gas is decomposed by direct current, high frequency, or microwave glow discharge to form an a-Si deposited film on a substrate has been put to practical use as a suitable method. Also, in JP-A-54-83746,
A-Si containing a substrate and a halogen atom as a constituent element
An electrophotographic light-receiving member comprising a photoconductive layer (hereinafter referred to as "a-Si: X") has been proposed. In this publication, a-Si contains 1 to 40 atom% of a halogen atom. In addition, a technique relating to a light receiving member for electrophotography having high heat resistance and excellent electrical and optical characteristics is disclosed.

【0003】しかしながら、このような従来のa−Si
系材料で構成された光導電層を有する電子写真用光受容
部材では、暗抵抗値、光感度、光応答性等の電気的、光
学的、光導電特性、及び使用環境特性、さらには経時安
定性および耐久性等において、個々の特性向上は一応図
られてはいるものの、近年における総合的な特性向上の
要請には対応できなくなってきているのが実情である。
特に、電子写真装置の高画質化、高速化、高耐久化は急
速に伸展しており、電子写真用光受容部材においても、
電気的特性や光導電特性の更なる向上とともに、帯電
能、感度を維持しつつあらゆる環境下で大幅に性能を延
ばすことが求められてきているばかりでなく、その層構
成、各層の化学的組成など総合的な観点からの改良を図
るとともに、a−Si材料そのものの一段の特性改良を
図ることが必要とされてきている。このような点を考慮
したものとして例えば、特開昭54−86341号公報
には、a−Siを光導電層に用いた、耐湿性、耐久性、
電気特性に優れた電子写真用光受容部材に関する技術が
記載されている。また、特開昭62−168161号公
報には、表面層として、シリコン原子と炭素原子と41
〜70atomic%の水素原子を構成要素として含む
非晶質材料で構成された材料を用いる技術が記載されて
いる。そして、このようなアモルファス電子写真光受容
部材の形成方法として、グロー放電によるプラズマCV
D法(以下、単にプラズマCVD法と表記する)が挙げ
られる。例えば、特開昭60−186849号公報に
は、原料ガスの分解源として、周波数2.45GHzの
マイクロ波を用いたマイクロ波プラズマCVD法による
堆積膜の形成方法が開示されている。該公報によれば、
デポジションチャンバ内に複数の円筒部材を配置するこ
とによって、内部チャンバを形成し、その内部に原料ガ
スを導入することで、ガスの利用効率を高めると同時
に、生産性を向上させる堆積膜の形成方法が開示されて
いる。また、特開平3−219081号公報には、プラ
ズマ空間に直流電界を掛け、プラズマ電位を制御するこ
とにより、さらに高品質の堆積膜形成方法が開示されて
いる。このような技術により、良好な電気特性を有する
電子写真用光受容部材を供給することが一応可能となっ
た。
However, such conventional a-Si
For electrophotographic light-receiving members having a photoconductive layer composed of a series material, electrical, optical, photoconductive properties such as dark resistance value, photosensitivity, photoresponsiveness, and use environment properties, as well as stability over time, In terms of properties and durability, individual characteristics have been improved for some time, but in recent years it has become impossible to respond to recent demands for comprehensive characteristics improvement.
In particular, high image quality, high speed, and high durability of electrophotographic devices are rapidly expanding, and even in light receiving members for electrophotography,
In addition to the need to further improve electrical and photoconductive properties, it is not only required to significantly extend the performance in all environments while maintaining the charging ability and sensitivity, as well as the layer composition and chemical composition of each layer. For example, it is necessary to improve the characteristics of the a-Si material itself while improving the characteristics from a comprehensive viewpoint. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 54-86341 discloses a method using a-Si for a photoconductive layer.
A technique relating to an electrophotographic light-receiving member having excellent electrical properties is described. Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-168161 discloses that a silicon layer and a carbon atom are used as a surface layer.
A technique using a material composed of an amorphous material containing a hydrogen atom of 7070 atomic% as a constituent element is described. As a method for forming such an amorphous electrophotographic light-receiving member, plasma CV by glow discharge is used.
D method (hereinafter simply referred to as plasma CVD method). For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-186849 discloses a method for forming a deposited film by a microwave plasma CVD method using a microwave having a frequency of 2.45 GHz as a decomposition source of a source gas. According to the publication,
By forming a plurality of cylindrical members in the deposition chamber, an inner chamber is formed, and a raw material gas is introduced into the inner chamber, thereby increasing the gas use efficiency and forming a deposited film that improves productivity. A method is disclosed. Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 3-219081 discloses a method of forming a deposited film of higher quality by applying a DC electric field to a plasma space and controlling a plasma potential. With such a technique, it has become possible to supply a light receiving member for electrophotography having good electric characteristics.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、今日で
は、複写機本体の高性能化が更に進み、デジタル機や、
カラー機の普及にともない、電子写真用光受容部材は、
これまで以上の高画質化、高品質化が求められるように
なってきた。特に、これらの複写機は従来の主として文
字だけのコピー画像ではなく、ハーフトーン調の画像が
主となる為、より鮮明なハーフトーン調の画像形成が不
可欠となってきた。また、高帯電能、高耐久といった観
点からは、光導電層に炭素原子を含有させたa−SiC
系材料が用いられる。a−SiC系材料ではシリコン原
子に対する炭素原子の含有量が増加するに従い、光導電
層中を電荷が走りにくくなる。そこで、ボロン等の荷電
子制御剤を多く入れることにより、残電が出ないように
している。しかしながら、炭素原子を膜厚方向で分布を
もたらしたような層設計においては、含有されるボロン
量を各領域において試行錯誤により決定せざるをえず、
過大なる実験回数を必要としていた。こうした試行錯誤
の必要なく、また、特性向上のためにも、簡単な方法で
層設計が行えることが必要とされてきている。
However, today, the performance of copying machines has been further improved, and digital machines,
With the spread of color machines, light-receiving members for electrophotography
Higher image quality and higher quality than ever have been demanded. In particular, since these copying machines mainly use a halftone image instead of a conventional copy image mainly composed of only characters, it has become indispensable to form a clearer halftone image. Further, from the viewpoints of high charging ability and high durability, a-SiC containing carbon atoms in the photoconductive layer is used.
A system material is used. In the a-SiC-based material, as the content of carbon atoms with respect to silicon atoms increases, electric charges hardly run in the photoconductive layer. Therefore, the remaining charge is prevented from being generated by adding a large amount of a charge controlling agent such as boron. However, in a layer design in which carbon atoms are distributed in the thickness direction, the amount of boron contained in each region must be determined by trial and error.
An excessive number of experiments was required. It is necessary to be able to design a layer by a simple method without the need for trial and error and to improve the characteristics.

【0005】そこで本発明は、上述のごときa−Siで
構成された従来の光受容層を有する電子写真用光受容部
材に於ける諸問題を解決した光受容部材の製造方法の提
供を目的とするものである。即ち、本発明の主たる目的
は近年の複写機本体の高性能化デジタル機や、カラー機
の普及にともなう電子写真用光受容部材の、これまで以
上の高画質化、特により鮮明なハーフトーン調の画像形
成が可能な光受容部材及びその製造方法を提供すること
にある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a light receiving member which has solved the above-mentioned problems in the conventional electrophotographic light receiving member having a light receiving layer made of a-Si. Is what you do. In other words, the main object of the present invention is to improve the image quality of a light-receiving member for electrophotography with the spread of color machines and the high-performance digital copying machines in recent years. It is an object of the present invention to provide a light receiving member capable of forming an image and a method for manufacturing the same.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、シリコン原子を含む原料ガスと周期律表第
III族又は第V族に属する元素を含む原料ガスを反応
空間に導入して基体上にシリコン原子と周期律表第II
I族又は第V族に属する元素を含有する非晶質材料で構
成された光導電層を形成する工程を有する光受容部材の
製造方法において、前記周期律表第III族又は第V族
に属する元素を含む原料ガスをスプライン関数を用いて
連続的に変化させながら導入させるようにしたものであ
る。
According to the present invention, in order to achieve the above object, a source gas containing silicon atoms and a source gas containing an element belonging to Group III or V of the periodic table are introduced into a reaction space. Atoms on the substrate and periodic table II
A method for manufacturing a light-receiving member, comprising the step of forming a photoconductive layer made of an amorphous material containing an element belonging to Group I or Group V, wherein the member belongs to Group III or Group V of the periodic table A source gas containing an element is introduced while being continuously changed using a spline function.

【0007】本発明は、前記工程において、更に炭素原
子、酸素原子及び窒素原子からなる群から選択された元
素を含む原料ガスが導入するようにするのが好ましい。
[0007] In the present invention, it is preferable that a source gas containing an element selected from the group consisting of a carbon atom, an oxygen atom and a nitrogen atom is further introduced in the step.

【0008】つぎに図面により本発明を詳細に説明す
る。図1(a)は、本発明の電子写真用光受容部材の層
構成を説明するための模式的構成図である。図1(a)
に示す電子写真用光受容部材100は、光受容部材用と
しての基体101の上に、光受容層102が設けられて
いる。該光受容層102はa−Si:Hまたはa−Si
C:Hからなり光導電性を有する光導電層103と、電
荷の注入を阻止する働きを行う電荷注入阻止層104と
アモルファスシリコン系表面層105とから構成されて
いる。図1(b)は、本発明の電子写真用光受容部材の
他の層構成を説明するための模式的構成図である。図1
(b)に示す電子写真用光受容部材100は、光受容部
材用としての基体101の上に、光受容層102が設け
られている。該光受容層102は光導電層103を、ア
モルファスシリコン系表面層105とから構成されてい
る。光導電層103はa−SiC:Hからなる電荷輸送
を働きとする第1の領域106とa−Si:Hまたはa
−SiC:Hからなる電荷発生を働きとする第2領域1
07から構成されている。
Next, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1A is a schematic configuration diagram illustrating a layer configuration of the electrophotographic light-receiving member of the present invention. FIG. 1 (a)
The light receiving member for electrophotography 100 shown in FIG. 1 has a light receiving layer 102 provided on a substrate 101 for a light receiving member. The light receiving layer 102 is made of a-Si: H or a-Si.
It comprises a photoconductive layer 103 made of C: H and having photoconductivity, a charge injection blocking layer 104 that functions to block charge injection, and an amorphous silicon-based surface layer 105. FIG. 1B is a schematic configuration diagram for explaining another layer configuration of the electrophotographic light-receiving member of the present invention. FIG.
In the electrophotographic light receiving member 100 shown in FIG. 1B, a light receiving layer 102 is provided on a base 101 for a light receiving member. The light receiving layer 102 includes a photoconductive layer 103 and an amorphous silicon-based surface layer 105. The photoconductive layer 103 includes a first region 106 serving as a charge transporting layer made of a-SiC: H and a-Si: H or a.
-Second region 1 serving to generate electric charge composed of -SiC: H
07.

【0009】このような光導電層103は真空堆積膜形
成方法によって、所望特性が得られるように適宜成膜パ
ラメーターの数値条件が設定されて作成される。具体的
には、例えばグロー放電法(低周波CVD法、高周波C
VD法またはマイクロ波CVD法等の交流放電CVD
法、あるいは直流放電CVD法等)、スパッタリング
法、真空蒸着法、イオンプレーティング法、光CVD
法、熱CVD法などの数々の薄膜堆積法によって形成す
ることができる。これらの薄膜堆積法は、製造条件、設
備資本投資下の負荷程度、製造規模、作成される電子写
真用光受容部材に所望される特性等の要因によって適宜
選択されて採用されるが、所望の特性を有する電子写真
用光受容部材を製造するにあたっての条件の制御が比較
的容易であることから、本発明においてはグロー放電
法、特に、周波数2.45GHzを用いたマイクロ波プ
ラズマCVD法、周波数13.56MHzを用いたRF
プラズマCVD法が有効である。グロー放電法による光
導電層103の形成は、基本的にはシリコン原子(S
i)を供給し得るSi供給用の原料ガスと、炭素原子
(C)を供給し得るC供給の原料ガス、周期律表の第I
II族又は第V族に属する元素を含有する原料ガス、水
素原子(H)を供給し得るH供給用の原料ガスを、内部
が減圧にし得る反応容器内に所望のガス状態で導入し
て、該反応容器内にグロー放電を生起させ、あらかじめ
所定の位置に設置されてある所定の基体101上にa−
Si:H、a−SiC:Hからなる層を形成することに
よって行われるのであるが、本発明は、上記周期律表の
第III族又は第V族に属する元素を含有する原料ガス
をスプライン関数を用いて連続的に変化させながら導入
させるところに特徴を有するものである。
[0009] Such a photoconductive layer 103 is formed by a vacuum deposition film forming method by appropriately setting numerical conditions of film forming parameters so as to obtain desired characteristics. Specifically, for example, a glow discharge method (low-frequency CVD method, high-frequency C
AC discharge CVD such as VD method or microwave CVD method
Method, DC discharge CVD method, etc.), sputtering method, vacuum deposition method, ion plating method, optical CVD
And a thin film deposition method such as a thermal CVD method. These thin film deposition methods are appropriately selected and adopted depending on factors such as manufacturing conditions, the degree of load under capital investment, the manufacturing scale, and the characteristics desired for the electrophotographic light-receiving member to be produced. In the present invention, the glow discharge method, particularly the microwave plasma CVD method using a frequency of 2.45 GHz, the frequency, RF using 13.56 MHz
The plasma CVD method is effective. The formation of the photoconductive layer 103 by the glow discharge method is basically performed using silicon atoms (S
source gas for supplying Si capable of supplying i), source gas for supplying C capable of supplying carbon atoms (C), and I-th of the periodic table
A source gas containing an element belonging to Group II or Group V, and a source gas for supplying H that can supply hydrogen atoms (H) are introduced in a desired gas state into a reaction vessel in which the inside can be reduced in pressure, A glow discharge is generated in the reaction vessel, and a-glow discharge is generated on a predetermined substrate 101 which is previously set at a predetermined position.
The method is performed by forming a layer composed of Si: H and a-SiC: H. The present invention relates to a method in which a source gas containing an element belonging to Group III or Group V of the periodic table is converted to a spline function. It is characterized in that it is introduced while being continuously changed by using.

【0010】すなわち、光導電層を形成する工程におい
て、周期律表の第III族または第V族に属する元素を含
有する原料ガスをドーピングとして連続的にガス流量を
変化させながら導入するに当たり、従来の場合には5、
7、9、11図に示すように時間軸に対して、何点かの
点を直線的に結び、流量を変化させていたが、このよう
な導入方法では適切なドーピング量が得られず、特に、
電子写真用光受容部材の光導電層の様な厚膜半導体膜に
おいては、キャリアの走行性及び高品質の堆積膜を得る
ことにつき、先に述べた近時の要請に応える上で十分で
はなかった。本発明では、それを、4、6、8、10図
で示すように各点をスプライン関数を用い、連続的に変
化させて適切なドーピング量が得られるようにすること
によって、そのキャリアの走行性を向上させると共に、
高品質の堆積膜を得ることを可能としたもである。特
に、電子写真用光受容部材の光導電層のような厚膜半導
体においては、前述したようなより鮮明なハーフトーン
調の画像形成を行うためには、低電界においてのキャリ
アの走行性をより向上させることと、さらには光導電層
中での電界をより均一に形成することが、とりわけ重要
であるが、本発明によれば導電層形成時における周期律
表第III族または、第V族に属する元素をよりなめらか
にドーピングすることにより、光導電層中により均一な
電界を形成することが可能となる。
That is, in the step of forming the photoconductive layer, when introducing a source gas containing an element belonging to Group III or Group V of the periodic table as doping while continuously changing the gas flow rate, In the case of 5,
As shown in FIGS. 7, 9 and 11, several points were linearly connected to the time axis to change the flow rate. However, with such an introduction method, an appropriate doping amount could not be obtained. In particular,
In the case of a thick semiconductor film such as a photoconductive layer of a photoreceptor for electrophotography, it is not sufficient to meet the recent demands described above for obtaining a high-quality deposited film with carrier mobility. Was. In the present invention, as shown in FIGS. 4, 6, 8, and 10, each point is continuously changed using a spline function so that an appropriate doping amount can be obtained, so that the traveling of the carrier can be obtained. While improving the
It is also possible to obtain a high quality deposited film. In particular, in the case of a thick-film semiconductor such as a photoconductive layer of an electrophotographic light-receiving member, in order to form a clearer halftone image as described above, the carrier mobility in a low electric field must be improved. It is particularly important to improve the electric field in the photoconductive layer and to form the electric field in the photoconductive layer more uniformly. According to the present invention, the group III or V in the periodic table at the time of forming the conductive layer is used. By more smoothly doping the element belonging to the above, it becomes possible to form a more uniform electric field in the photoconductive layer.

【0011】つぎに、その作業手順を図2、図3によっ
て説明する。図2は、2.45GHzの周波数を用いた
マイクロ波プラズマCVD法(以後「MW−PCVD」
と略記する)による電子写真用光受容部材の製造装置の
一例を示す概略説明図であり、図2(A)はその横断面
図、図2(B)はその縦断面図である。まず、反応容器
201内にあらかじめ脱脂洗浄された円筒状の基体20
2を設置し、駆動装置203によって基体202を回転
し、不図示の排気装置(例えば真空ポンプ)により反応
容器201内を排気管204を介して排気し、反応容器
201内の圧力を1×10-6Torr以下に調整する。
続いて、基体加熱用ヒーター205により基体202の
温度を20℃〜500℃の所定の温度に過熱保持する。
光受容部材形成用の原料ガスを反応容器201に流入さ
せるには、ガスボンベのバルブ及び、各種バルブの操作
を行い、マスフローコントローラー(不図示)を介して
原料ガス導入管206より放電空間207内に導入す
る。以上のようにして成膜の準備が完了した後、円筒状
の基体202上に光導電層、表面層の各層の形成を行
う。円筒状の基体202が所定の温度になったところで
各流出バルブのうち必要なものを徐々に開き、原料ガス
を導入管206を介して反応容器201内の放電空間2
07に導入する。次にマスフローコントローラー(不図
示)によって各原料ガスが所定の流量になるように調整
する。その際、放電空間207内の圧力が1Torr以
下の所定の圧力になるように真空計(不図示)を見なが
らメインバルブ(不図示)の開口を調整する。圧力が安
定した後、バイアス電極(本図では原料ガス導入管と兼
用)206にバイアス電源208より所定の電圧を印加
すると同時並行的に、マイクロ波電源(不図示)より
2.45GHzのマイクロ波を発生させ所望の電力に設
定し、導波管209、マイクロ波導入窓210を介して
放電空間207にマイクロ波エネルギーを導入して、グ
ロー放電を生起させる。こうして原料ガスは、マイクロ
波のエネルギーにより励起されて解離し、基体202上
に所定の光受容部材が形成される。この時、層形成の均
一化を図るため駆動手段203によって、所望の回転速
度で回転させる。所望の膜厚の形成が行われた後、バイ
アス電圧及びマイクロ波電力の供給を止め、流出バルブ
を閉じて反応容器へのガスの流入を止め、堆積膜の形成
を終える。同様の操作を複数回繰り返すことによって、
所望の多層構造の光受容層が形成される。光導電層の形
成手順は上記のとおりであるが、本発明においては上記
各原料ガスを導入管206を介して反応容器201内の
放電空間207に導入するに際して、上記各原料ガスの
内、周期律表の第III族又は第V族に属する元素を含
有する原料ガスを、スプライン関数を用いて連続的に変
化させながら導入させるものである。
Next, the operation procedure will be described with reference to FIGS. FIG. 2 shows a microwave plasma CVD method (hereinafter referred to as “MW-PCVD”) using a frequency of 2.45 GHz.
FIG. 2A is a schematic cross-sectional view, and FIG. 2B is a vertical cross-sectional view of one example of an apparatus for manufacturing an electrophotographic light-receiving member according to the present invention. First, a cylindrical substrate 20 previously degreased and washed is placed in a reaction vessel 201.
2, the base 202 is rotated by the driving device 203, and the inside of the reaction vessel 201 is evacuated through the exhaust pipe 204 by an exhaust device (for example, a vacuum pump) (not shown). Adjust to -6 Torr or less.
Subsequently, the temperature of the substrate 202 is maintained at a predetermined temperature of 20 ° C. to 500 ° C. by the substrate heating heater 205.
In order to allow the source gas for forming the light receiving member to flow into the reaction vessel 201, the valves of the gas cylinder and various valves are operated, and the source gas is introduced into the discharge space 207 from the source gas introduction pipe 206 via a mass flow controller (not shown). Introduce. After the preparation for film formation is completed as described above, the photoconductive layer and the surface layer are formed on the cylindrical substrate 202. When the temperature of the cylindrical base 202 reaches a predetermined temperature, necessary ones of the outflow valves are gradually opened, and the raw material gas is discharged through the introduction pipe 206 into the discharge space 2 in the reaction vessel 201.
07. Next, each raw material gas is adjusted to a predetermined flow rate by a mass flow controller (not shown). At this time, the opening of the main valve (not shown) is adjusted while watching the vacuum gauge (not shown) so that the pressure in the discharge space 207 becomes a predetermined pressure of 1 Torr or less. After the pressure is stabilized, when a predetermined voltage is applied from a bias power source 208 to a bias electrode 206 (also used as a source gas introduction tube in this figure) 206, a microwave power source (not shown) simultaneously applies a microwave of 2.45 GHz. Is generated and set to a desired power, and microwave energy is introduced into the discharge space 207 through the waveguide 209 and the microwave introduction window 210 to generate a glow discharge. In this way, the source gas is excited and dissociated by microwave energy, and a predetermined light receiving member is formed on the base 202. At this time, the layer is rotated at a desired rotation speed by the driving means 203 in order to achieve uniform layer formation. After the formation of the desired film thickness, the supply of the bias voltage and the microwave power is stopped, the outflow valve is closed to stop the gas from flowing into the reaction vessel, and the formation of the deposited film is completed. By repeating the same operation several times,
A light-receiving layer having a desired multilayer structure is formed. The procedure for forming the photoconductive layer is as described above. In the present invention, when each of the raw material gases is introduced into the discharge space 207 in the reaction vessel 201 through the introduction pipe 206, the periodicity A source gas containing an element belonging to Group III or Group V of the table is introduced while continuously changing using a spline function.

【0012】また、図3はRF帯の周波数を用いた高周
波プラズマCVD法(以後「RF−PCVD」と略記す
る)による電子写真用光受容部材の製造装置の一例を示
す概略説明図である。この装置は大別すると、堆積装置
(3100)、原料ガスの供給装置(3200)、反応
容器(3111)内を減圧にするための排気装置(図示
せず)から構成されている。堆積装置(3100)中の
反応容器(3111)内には円筒状基体(3112)、
基体加熱用ヒーター(3113)、原料ガス導入管(3
114)が設置され、更に高周波マッチングボックス
(3115)が接続されている。原料ガス供給装置(3
200)は、SiH4、GeH4、H2、CH4、B2
H6、PH3等の原料ガスのボンベ(3221〜322
6)とバルブ(3231〜3236,3241〜324
6,3251〜3256)およびマスフローコントロー
ラー(3221〜3216)から構成され、各原料ガス
のボンベはバルブ(3260)を介して反応容器(31
11)内のガス導入管(3114)に接続されている。
この装置を用いた堆積膜の形成は、例えば以下のように
行うことができる。まず、反応容器(3111)内に基
体(3112)を設置し、不図示の排気装置(例えば真
空ポンプ)により反応容器(3111)内を排気する。
続いて、基体加熱用ヒーター(3113)により基体
(3112)の温度を200℃乃至350℃の所定の温
度に制御する。堆積膜形成用の原料ガスを反応容器(3
111)に流入させるには、ガスボンベのバルブ(32
31〜3237)、反応容器のリークバルブ(311
7)が閉じられていることを確認し、又、流入バルブ
(3241〜3246)、流出バルブ(3251〜32
56)、補助バルブ(3260)が開かれていることを
確認して、まずメインバルブ(3118)を開いて反応
容器(3111)及びガス配管内(3116)を排気す
る。次に真空計(3119)の読みが約5×10-6To
rrになった時点で補助バルブ(3260)流出バルブ
(3251〜3256)を閉じる。その後、ガスボンベ
(3221〜3226)より各ガスをバルブ(3231
〜3236)を開いて導入し、圧力調整器(3261〜
3266)により各ガス圧を2Kg/cm2に調整す
る。次に、流入バルブ(3241〜3246)を徐々に
開けて、各ガスをマスフローコントローラー(3211
〜3216)内に導入する。以上のようにして成膜の準
備が完了した後、以下の手順で各層の形成を行う。基体
(3112)が所定の温度になったところで流出バルブ
(3251〜3256)のうち必要なもの及び補助バル
ブ(3260)を徐々に開き、ガスボンベ(3221〜
3226)から所定のガスをガス導入管(3114)を
介して反応容器(3111)内に導入する。次にマスフ
ローコントローラー(3211〜3216)によって各
原料ガスが所定の流量になるように調整する。その際、
反応容器(3111)内の圧力が1Torr以下の所定
の圧力になるように真空計(3119)を見ながらメイ
ンバルブ(3118)の開口を調整する。内圧が安定し
たところで、周波数13.56MHzのRF電源(不図
示)を所望の電力に設定して、高周波マッチングボック
ス(3115)を通じて反応容器(3111)内にRF
電力を導入し、グロー放電を生起させる。この放電エネ
ルギーによって反応容器内に導入された原料ガスが分解
され、基体(3112)上に所定のシリコンを主成分と
する堆積膜が形成されるところとなる。所望の膜厚の形
成が行われた後、RF電力の供給を止め、流出バルブを
閉じて反応容器へのガスの流入を止め、堆積膜の形成を
終える。そして、本発明においては各原料ガスを導入管
を介して反応容器内の放電空間に導入するに際して、上
記各原料ガスの内、周期律表の第III族又は第V族に
属する元素を含有する原料ガスを、スプライン関数を用
いて連続的に変化させながら導入させるものであること
については前記MV−PCVDの場合と同様であること
は言うまでもないことである。同様の操作を複数回繰り
返すことによって、所望の多層構造の光受容層が形成さ
れる。それぞれの層を形成する際には必要なガス以外の
流出バルブはすべて閉じられていることは言うまでもな
く、また、それぞれのガスが反応容器(3111)内、
流出バルブ(3251〜3256)から反応容器(31
11)に至る配管内に残留することを避けるために、流
出バルブ(3251〜3256)を閉じ、補助バルブ
(3260)を開き、さらにメインバルブ(3118)
を全開にして系内を一旦高真空に排気する操作を必要に
応じて行う。また、膜形成の均一化を図るために、層形
成を行っている間は、基体(3112)を駆動装置(不
図示)によって所定の速度で回転させることも有効であ
る。さらに、上述のガス種及びバルブ操作は各々の層作
成条件にしたがって変更が加えられることは言うまでも
ない。
FIG. 3 is a schematic explanatory view showing an example of an apparatus for manufacturing an electrophotographic light-receiving member by a high-frequency plasma CVD method using RF frequencies (hereinafter abbreviated as "RF-PCVD"). This device is roughly composed of a deposition device (3100), a source gas supply device (3200), and an exhaust device (not shown) for reducing the pressure inside the reaction vessel (3111). A cylindrical substrate (3112) is provided in a reaction vessel (3111) in the deposition apparatus (3100).
Substrate heating heater (3113), source gas inlet pipe (3
114), and a high-frequency matching box (3115) is further connected. Source gas supply device (3
200) is SiH4, GeH4, H2, CH4, B2
Cylinders (3221-322) of source gases such as H6 and PH3
6) and valves (3231-336, 3241-324)
6, 3251 to 256) and a mass flow controller (3221 to 216), and a cylinder for each source gas is supplied to the reaction vessel (31) via a valve (3260).
11) is connected to the gas inlet pipe (3114).
The formation of a deposited film using this apparatus can be performed, for example, as follows. First, the base (3112) is set in the reaction vessel (3111), and the inside of the reaction vessel (3111) is evacuated by an exhaust device (not shown) (for example, a vacuum pump).
Subsequently, the temperature of the substrate (3112) is controlled to a predetermined temperature of 200 ° C. to 350 ° C. by the substrate heating heater (3113). The source gas for forming the deposited film is supplied to the reaction vessel (3
111), the gas cylinder valve (32
31 to 2237), a leak valve of the reaction vessel (311).
7) is closed, and the inflow valves (3241 to 246) and the outflow valves (3251 to 32)
56) After confirming that the auxiliary valve (3260) is open, first open the main valve (3118) and exhaust the reaction vessel (3111) and the inside of the gas pipe (3116). Next, the gauge (3119) reads about 5 × 10 -6 To.
When rr is reached, the auxiliary valve (3260) and the outflow valves (3251 to 256) are closed. Thereafter, each gas is supplied from a gas cylinder (3221 to 226) to a valve (3231).
~ 3236) to open and introduce the pressure regulator (3261-
3266), each gas pressure is adjusted to 2 kg / cm 2 . Next, the inflow valves (3241 to 246) are gradually opened to allow each gas to flow through the mass flow controller (3211).
~ 3216). After the preparation for film formation is completed as described above, each layer is formed by the following procedure. When the temperature of the base (3112) reaches a predetermined temperature, necessary ones of the outflow valves (3251 to 256) and the auxiliary valve (3260) are gradually opened, and the gas cylinder (3221 to 3211) is opened.
From 3226), a predetermined gas is introduced into the reaction vessel (3111) via the gas introduction pipe (3114). Next, each raw material gas is adjusted by a mass flow controller (3211 to 3216) so as to have a predetermined flow rate. that time,
The opening of the main valve (3118) is adjusted while watching the vacuum gauge (3119) so that the pressure in the reaction vessel (3111) becomes a predetermined pressure of 1 Torr or less. When the internal pressure becomes stable, an RF power source (not shown) having a frequency of 13.56 MHz is set to a desired power, and RF power is supplied into the reaction vessel (3111) through the high-frequency matching box (3115).
Power is introduced to cause glow discharge. The source gas introduced into the reaction vessel is decomposed by this discharge energy, and a deposited film mainly containing silicon is formed on the base (3112). After the formation of the desired film thickness, the supply of the RF power is stopped, the outflow valve is closed to stop the gas from flowing into the reaction vessel, and the formation of the deposited film is completed. In the present invention, when each source gas is introduced into the discharge space in the reaction vessel through the introduction pipe, the source gas contains an element belonging to Group III or Group V of the periodic table. It goes without saying that the source gas is introduced while being continuously changed using the spline function, as in the case of the MV-PCVD. By repeating the same operation a plurality of times, a light receiving layer having a desired multilayer structure is formed. When forming each layer, it goes without saying that all the outflow valves other than the necessary gas are closed, and each gas is placed in the reaction vessel (3111).
From the outflow valve (3251 to 256), the reaction vessel (31)
In order to avoid remaining in the piping to 11), the outflow valves (3251 to 256) are closed, the auxiliary valve (3260) is opened, and the main valve (3118) is opened.
Is fully opened and the system is once evacuated to a high vacuum as required. It is also effective to rotate the base (3112) at a predetermined speed by a driving device (not shown) during the layer formation in order to make the film formation uniform. Further, it goes without saying that the above-described gas types and valve operations are changed according to the respective layer forming conditions.

【0013】本発明において使用されるSi供給用ガス
となり得る物質としては、SiH4、Si2H6、Si
3H8、Si4H10等のガス状態の、またはガス化し
得る水素化珪素(シラン類)が有効に使用されるものと
して挙げられ、更に層作成時の取扱い易さ、Si供給効
率の良さ等の点でSiH4、Si2H6が好ましいもの
として挙げられる。本発明において、スプライン関数を
用いて、光導電層103に導入する伝導性を制御する原
子は、半導体分野における、いわゆる不純物を挙げるこ
とができ、p型伝導特性を与える周期律表第III.b族に
属する原子(以後「『第III.b族原子」と略記する)ま
たはn型伝導特性を与える周期律表第V.b族に属する原
子(以後「第V.b族原子」と略記する)を用いることが
できる。第III.b族原子としては、具体的には、硼素
(B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、イ
ンジウム(In)、タリウム(Tl)等があり、特に
B、Al、Gaが好適である。第V.b族原子としては、
具体的には燐(P)、砒素(As)、アンチモン(S
b)、ビスマス(Bi)等があり、特にP、Asが好適
である。伝導性を制御する原子、例えば、第III.b族原
子あるいは第V.b族原子を構造的に導入するには、層形
成の際に、第III.b族原子導入用の原子物質あるい
は第Vb族原子導入用の原料物質をガス状態で反応容器
中に、光導電層103を形成するための他のガスととも
に導入してやればよい。第III.b族原子導入用の原
料物質あるいは第Vb族原子導入用の原料物質となり得
るものとしては、常温常圧でガス状のまたは、少なくと
も層形成条件下で容易にガス化し得るものが採用される
のが望ましい。そのような第III.b族原子導入用の
原料物質として具体的には、硼素原子導入用としては、
B2H6、B4H10、B5H9、B5H11、B6H
10、B6H12、B6H14等の水素化硼素、BF
3、BCl3、BBr3等のハロゲン化硼素等が挙げら
れる。この他、AlCl3、GaCl3、Ga(CH
3)3、InCl3、TlCl3等も挙げることができ
る。第V.b族原子導入用の原料物質として有効に使用
されるのは、燐原子導入用としては、PH3、P2H4
等の水素化燐、PH4I、PF3、PF5、PCl3、
PCl5、PBr3、PBr5、PI3等のハロゲン化
燐が挙げられる。この他、AsH3、AsF3、AsC
l3、AsBr3、AsF5、SbH3、SbF3、S
bF5、SbCl3、SbCl5、BiH3、BiCl
3、BiBr3等も第V.b族原子導入用の出発物質の
有効なものとして挙げることができる。また、これらの
伝導性を制御する原子導入用の原料物質を必要に応じて
H2および/またはHeにより希釈して使用してもよ
い。さらに本発明においては、光導電層103は、炭素
原子、酸素原子、窒素原子のうち少なくともいずれかを
光導電層中に万遍なく均一に含有させても良いし、光導
電層の層厚方向に含有量が変化するような不均一な分布
をもたせて含有させても良い。
The substances that can be used as the Si supply gas used in the present invention include SiH4, Si2H6 and SiH4.
Silicon hydrides (silanes) in a gas state such as 3H8, Si4H10, or the like, which can be gasified, are effectively used. Further, SiH4 is used in terms of easy handling at the time of forming a layer, good Si supply efficiency, and the like. , Si2H6 are preferred. In the present invention, the atoms for controlling the conductivity introduced into the photoconductive layer 103 by using a spline function include so-called impurities in the semiconductor field, and the periodic table III.b which gives p-type conduction characteristics can be given. Group (hereinafter abbreviated as "group III.b atom") or an atom belonging to group V.b group of the periodic table giving n-type conduction properties (hereinafter abbreviated as "group V.b atom") ) Can be used. Specific examples of Group III.b atoms include boron (B), aluminum (Al), gallium (Ga), indium (In), and thallium (Tl), with B, Al, and Ga being particularly preferred. It is. Group V.b atoms include:
Specifically, phosphorus (P), arsenic (As), antimony (S
b), bismuth (Bi) and the like, and P and As are particularly preferable. In order to structurally introduce an atom for controlling conductivity, for example, a group III.b atom or a group V.b atom, it is necessary to form a layer III.b. An atomic substance for introducing a group b atom or a raw material for introducing a group Vb atom may be introduced into the reaction vessel in a gas state together with another gas for forming the photoconductive layer 103. III. As a source material for introducing a group b atom or a source material for introducing a group Vb atom, a material which is gaseous at ordinary temperature and normal pressure or which can be easily gasified at least under layer forming conditions is employed. Is desirable. Such III. As a raw material for introducing a group b atom, specifically, for introducing a boron atom,
B2H6, B4H10, B5H9, B5H11, B6H
10, borohydride such as B6H12 and B6H14, BF
3, boron halides such as BCl3 and BBr3. In addition, AlCl3, GaCl3, Ga (CH
3) 3, InCl3, TlCl3, and the like. Section V. Effectively used as a raw material for introducing a group b atom are PH3 and P2H4 for introducing a phosphorus atom.
Such as phosphorus hydride, PH4I, PF3, PF5, PCl3,
Phosphorus halides such as PCl5, PBr3, PBr5, PI3 and the like. In addition, AsH3, AsF3, AsC
l3, AsBr3, AsF5, SbH3, SbF3, S
bF5, SbCl3, SbCl5, BiH3, BiCl
3, BiBr3, etc. It can be mentioned as an effective starting material for introducing a group b atom. In addition, these raw materials for introducing atoms for controlling the conductivity may be used after being diluted with H2 and / or He as necessary. Further, in the present invention, the photoconductive layer 103 may contain at least one of carbon atoms, oxygen atoms, and nitrogen atoms uniformly in the photoconductive layer, or may be formed in the thickness direction of the photoconductive layer. May be provided with a non-uniform distribution such that the content changes.

【0014】炭素供給用ガスとなり得る物質としては、
CH4、C2H6、C3H8、C4H10等のガス状態
の、またはガス化し得る炭化水素が有効に使用されるも
のとして挙げられ、更に層形成時の取り扱い易さ、Si
供給効率の良さ等の点でCH4、C2H6が好ましいも
のとして挙げられる。また、これらのC供給用の原料ガ
スを必要に応じてH2、He、Ar、Ne等のガスによ
り希釈して使用してもよい。また、酸素原子(O)導入
用の原料ガスになり得るものとして有効に使用される出
発物質は、例えば酸素(O2)、オゾン(O3)、二酸
化炭素(CO2)などが挙げられる。同様に窒素原子
(N)導入用の原料ガスになり得るものとして有効に使
用される出発物質は、Nを構成原子とするか、或はNと
Hを構成原子とする、例えば窒素ガス(N2)、アンモ
ニア(NH3)、ヒドラジン(H2NNH2)、アジ化
水素(HN3)、アジ化アンモニウム(NH4N3)等
のガス状またはガス化し得る窒素、窒化物及びアジ化物
等の窒素化合物を挙げることができる。また、酸素原子
(O)と窒素原子(N)を同時に導入できる原料ガスと
なり得るものとして、一酸化窒素(NO)、二酸化窒素
(NO2)、一酸化二窒素(N2O)、三酸化二窒素
(N2O3)、四酸化二窒素(N2O4)、五酸化二窒
素(N2O5)、三酸化窒素(NO3)等が挙げられ
る。また、これらの原子導入用の原料物質を必要に応じ
てH2および/またはHeにより希釈して使用してもよ
い。
Substances that can serve as a carbon supply gas include:
The gaseous hydrocarbons such as CH4, C2H6, C3H8, and C4H10 or hydrocarbons that can be gasified are used effectively.
CH4 and C2H6 are preferred in terms of good supply efficiency and the like. Further, these raw material gases for supplying C may be diluted with a gas such as H2, He, Ar, Ne or the like as necessary. In addition, examples of a starting material that can be effectively used as a source gas for introducing oxygen atoms (O) include oxygen (O2), ozone (O3), and carbon dioxide (CO2). Similarly, a starting material that is effectively used as a source gas for introducing a nitrogen atom (N) is one that has N as a constituent atom, or N and H as constituent atoms, for example, nitrogen gas (N2 ), Ammonia (NH 3), hydrazine (H 2 NNH 2), hydrogen azide (HN 3), ammonium azide (NH 4 N 3), and other gaseous or gasifiable nitrogen, and nitrides such as nitrides and azides. In addition, as a source gas into which oxygen atoms (O) and nitrogen atoms (N) can be introduced simultaneously, nitrogen monoxide (NO), nitrogen dioxide (NO2), nitrous oxide (N2O), nitrous oxide (N2O) N2O3), nitrous oxide (N2O4), nitrous oxide (N2O5), nitric oxide (NO3) and the like. Further, these raw materials for introducing atoms may be used after being diluted with H2 and / or He as necessary.

【0015】本発明において、光導電層103の層厚は
所望の電子写真特性が得られること及び経済的効果等の
点から適宜所望にしたがって決定され、好ましくは15
〜50μm、より好ましくは20〜45μm、最適には
25〜40μmとされるのが望ましい。本発明の目的を
達成し、所望の膜特性を有する光導電層103を形成す
るには、Si供給用ガスと希釈ガスとの混合比、反応容
器内のガス圧、放電電力ならびに基体温度を適宜設定す
ることが必要である。希釈ガスとして使用するH2の流
量は、層設計にしたがって適宜最適範囲が選択される
が、Si供給用ガスに対しH2を、通常の場合1〜20
倍、好ましくは2〜15倍、最適には3〜10倍の範囲
で変化させる制御をすることが望ましい。反応容器内の
ガス圧も同様に層設計や、堆積方法に依存して適宜最適
範囲が選択されるが、通常の場合1×10-4〜10To
rr、好ましくは5×10-4〜5Torr、最適には1
×10-3〜1Torrとするのが好ましい。放電電力も
また同様に層設計や、堆積方法に依存して適宜最適範囲
が選択されるが、Si供給用のガスの流量に対する放電
電力を、通常の場合2〜7倍、好ましくは2.5〜6
倍、最適には3〜5倍の範囲に設定することが望まし
い。さらに、基体101の温度は、層設計にしたがって
適宜最適範囲が選択されるが、通常の場合、好ましくは
200〜350℃、より好ましくは230〜330℃、
最適には250〜310℃とするのが望ましい。本発明
においては、光導電層を形成するための基体温度、ガス
圧の望ましい数値範囲として前記した範囲が挙げられる
が、条件は通常は独立的に別々に決められるものではな
く、所望の特性を有する光受容部材を形成すべく相互的
且つ有機的関連性に基づいて最適値を決めるのが望まし
い。
In the present invention, the thickness of the photoconductive layer 103 is determined as desired from the viewpoint of obtaining desired electrophotographic characteristics and economic effects, and is preferably 15
The thickness is desirably about 50 μm, more preferably about 20 to 45 μm, and most preferably about 25 to 40 μm. In order to achieve the object of the present invention and to form the photoconductive layer 103 having desired film properties, the mixing ratio of the Si supply gas and the dilution gas, the gas pressure in the reaction vessel, the discharge power, and the substrate temperature are appropriately adjusted. It is necessary to set. The flow rate of H2 used as the diluent gas is appropriately selected in an optimum range according to the layer design.
It is desirable to control to change in a range of 2 times, preferably 2 to 15 times, and optimally 3 to 10 times. Similarly, the optimum range of the gas pressure in the reaction vessel is appropriately selected depending on the layer design and the deposition method, but usually 1 × 10 −4 to 10 To.
rr, preferably 5 × 10 −4 to 5 Torr, optimally 1
It is preferable to set it to 10-3 to 1 Torr. Similarly, the discharge power is also appropriately selected in an optimum range depending on the layer design and the deposition method. The discharge power with respect to the flow rate of the gas for supplying Si is usually 2 to 7 times, preferably 2.5 times. ~ 6
It is desirable to set it in the range of 2 times, optimally 3 to 5 times. Further, the temperature of the base 101 is appropriately selected in an optimum range according to the layer design. In a normal case, the temperature is preferably 200 to 350 ° C., more preferably 230 to 330 ° C.
Most preferably, the temperature is set to 250 to 310 ° C. In the present invention, the above-mentioned range is mentioned as a desirable numerical range of the substrate temperature and the gas pressure for forming the photoconductive layer, but the conditions are not usually independently determined separately, and the desired characteristics are not usually determined. It is desirable to determine the optimum value based on mutual and organic relationships to form a light receiving member having the same.

【0016】本発明において使用される基体としては、
導電性でも電気絶縁性であってもよい。基体としては、
Al、Cr、Mo、Au、In、Nb、Te、V、T
i、Pt、Pd、Fe等の金属、及びこれらの合金、例
えばステンレス等が挙げられる。また、ポリエステル、
ポリエチレン、ポリカーボネート、セルロースアセテー
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、
ポリアミド等の合成樹脂のフィルムまたはシート、ガラ
ス、セラミック等の電気絶縁性基体の少なくとも光受容
層を形成する側の表面を導電処理した基体も用いること
が出来る。本発明において使用される基体101の形状
は平滑表面あるいは凹凸表面の円筒状または板状無端ベ
ルト状であることができ、その厚さは、所望通りの電子
写真用光受容部材100を形成し得るように適宜決定す
るが、電子写真用光受容部材100としての可撓性が要
求される場合には、基体101としての機能が充分発揮
できる範囲内で可能な限り薄くすることができる。しか
しながら、基体101は製造上及び取扱上、機械的強度
等の点から通常は10μm以上とされる。特にレーザー
光などの可干渉性光を用いて像記録を行う場合には、可
視画像において現れる、いわゆる干渉縞模様による画像
不良をより効果的に解消するために、基体101の表面
に凹凸を設けてもよい。基体101の表面に設けられる
凹凸は、特開昭60−168156号公報、同60−1
78457号公報、同60−225854号公報等に記
載された公知の方法により作成される。
The substrate used in the present invention includes:
It may be conductive or electrically insulating. As a substrate,
Al, Cr, Mo, Au, In, Nb, Te, V, T
Metals such as i, Pt, Pd, and Fe, and alloys thereof, such as stainless steel. Also, polyester,
Polyethylene, polycarbonate, cellulose acetate, polypropylene, polyvinyl chloride, polystyrene,
It is also possible to use an electrically insulating substrate such as a film or sheet of a synthetic resin such as polyamide, glass, ceramic, or the like, on which at least the surface on the side on which the light receiving layer is formed is subjected to a conductive treatment. The shape of the substrate 101 used in the present invention may be a cylindrical or plate-like endless belt having a smooth surface or an uneven surface, and the thickness thereof may form the electrophotographic light-receiving member 100 as desired. In this case, when the flexibility as the electrophotographic light receiving member 100 is required, the thickness can be made as thin as possible within a range where the function as the base 101 can be sufficiently exhibited. However, the substrate 101 is usually set to 10 μm or more in terms of production, handling, mechanical strength and the like. In particular, when performing image recording using coherent light such as laser light, in order to more effectively eliminate image defects due to a so-called interference fringe pattern appearing in a visible image, irregularities are provided on the surface of the substrate 101. You may. The irregularities provided on the surface of the base 101 are described in JP-A-60-168156 and JP-A-60-168156.
It is prepared by a known method described in JP-A-78457, JP-A-60-225854 and the like.

【0017】また、レーザー光などの可干渉光を用いた
場合の干渉縞模様による画像不良をより効果的に解消す
る別の方法として、基体101の表面に複数の球状痕跡
窪みによる凹凸形状を設けてもよい。即ち、基体101
の表面が電子写真用光受容部材100に要求される解像
力よりも微少な凹凸を有し、しかも該凹凸は、複数の球
状痕跡窪みによるものである。基体101の表面に設け
られる複数の球状痕跡窪みによる凹凸は、特開昭61−
231561号公報に記載された公知の方法により作成
される。
As another method for more effectively eliminating image defects due to interference fringe patterns when coherent light such as laser light is used, a concave and convex shape formed by a plurality of spherical trace depressions is provided on the surface of the substrate 101. You may. That is, the base 101
Has fine irregularities smaller than the resolution required for the electrophotographic light receiving member 100, and the irregularities are caused by a plurality of spherical trace depressions. Unevenness due to a plurality of spherical trace depressions provided on the surface of the base 101 is disclosed in
It is prepared by a known method described in JP-A-231561.

【0018】本発明の電子写真用光受容部材において
は、基体と光導電層との間に、基体光受容部材側からの
電荷の注入を阻止する働きのある電荷注入阻止層を設け
るのがいっそう効果的である。すなわち、電荷注入阻止
層は光受容層が一定極性の帯電処理をその自由表面に受
けた際、基体側より光導電層側に電荷が注入されるのを
阻止する機能を有し、逆の極性の帯電処理を受けた際に
はそのような機能は発揮されない、いわゆる極性依存性
を有している。そのような機能を付与するために、電荷
注入阻止層には伝導性を制御する原子を光導電層に比べ
比較的多く含有させる。該層に含有される伝導性を制御
する原子は、該層中に万偏なく均一に分布されても良い
し、あるいは層厚方向には万偏なく含有されてはいる
が、不均一に分布する状態で含有している部分があって
もよい。分布濃度が不均一な場合には、基体側に多く分
布するように含有させるのが好適である。しかしなが
ら、いずれの場合にも基体の表面と平行面内方向におい
ては、均一な分布で万偏なく含有されることが面内方向
における特性の均一化をはかる点からも必要である。
In the electrophotographic light-receiving member of the present invention, it is more preferable to provide a charge injection blocking layer between the substrate and the photoconductive layer, which has a function of preventing charge injection from the side of the substrate light-receiving member. It is effective. That is, the charge injection blocking layer has a function of preventing charge from being injected from the substrate side to the photoconductive layer side when the photoreceptive layer receives a charge treatment of a fixed polarity on its free surface. Such a function is not exerted when it is subjected to a charging treatment of, for example, has a so-called polarity dependency. In order to provide such a function, the charge injection blocking layer contains a relatively large number of atoms for controlling conductivity as compared with the photoconductive layer. The atoms that control the conductivity contained in the layer may be uniformly distributed throughout the layer, or may be uniformly distributed in the layer thickness direction, but may be unevenly distributed. There may be a part contained in the state where it does. When the distribution concentration is non-uniform, it is preferable that the compound be contained so as to be distributed more on the substrate side. However, in any case, it is necessary to uniformly contain the particles in a direction in a plane parallel to the surface of the substrate in order to make the characteristics uniform in the direction in the plane.

【0019】また、電荷注入阻止層においても本発明の
スプライン関数を用いて伝導性の制御原子を含有する原
料ガスを変化させて導入させることはなんら問題はな
い。電荷注入阻止層に含有される伝導性を制御する原子
としては、半導体分野における、いわゆる不純物を挙げ
ることができ、p型伝導特性を与える周期律表第IIIb
族に属する原子 (以後「第IIIb族原子」と略記する)
またはn型伝導特性を与える周期律表Vb族に属 する
原子(以後「第Vb族原子」と略記する)を用いること
ができる。第IIIb族原子としては、具体的には、B
(ほう素)、Al(アルミニウム)、Ga(ガ リウ
ム)、In(インジウム)、Ta(タリウム)等があ
り、特にB、Al、Gaが好適である。第Vb族原子と
しては、具体的にはP(リン)、As(砒素)、Sb
(アンチモン)、Bi(ビスマス)等があり、特にP、
Asが好適である。本発明において電荷注入阻止層中に
含有される伝導性を制御する原子の含有量としては、本
発明の目的が効果的に達成できるように所望にしたがっ
て適宜決定されるが、好ましくは10〜1×104原子
ppm、より好適には50〜5×103原子ppm、最
適には1×102〜1×103ppmとされるのが望まし
い。さらに、電荷注入阻止層には、炭素原子の他に、窒
素原子及び酸素原子の少なくとも一種を含有させること
によって、該電荷注入阻止層に直接接触して設けられる
他の層との間の密着性の向上をよりいっそう図ることが
できる。該層に含有される炭素原子または窒素原子また
は酸素原子は該層中に万偏なく均一に分布されても良い
し、あるいは層厚方向には万偏なく含有されてはいる
が、不均一に分布する状態で含有している部分があって
もよい。しかしながら、いずれの場合にも基体の表面と
平行面内方向においては、均一な分布で万偏なく含有さ
れることが面内方向における特性の均一化をはかる点か
らも必要である。また、本発明における電荷注入阻止層
に含有される水素原子は層内に存在する末結合手を補償
し膜質の向上に効果を奏する。本発明において、電荷注
入阻止層の層厚は所望の電子写真特性が得られること、
及び経済的効果の点から好ましくは0.1〜5μm、よ
り好ましくは0.3〜4μm、最適には0.5〜3μm
とされるのが望ましい。
Also, there is no problem in changing and introducing the source gas containing the conductive control atoms using the spline function of the present invention in the charge injection blocking layer. As the atoms for controlling conductivity contained in the charge injection blocking layer, there can be mentioned so-called impurities in the field of semiconductors.
Atom belonging to group (hereinafter abbreviated as "Group IIIb atom")
Alternatively, an atom belonging to Group Vb of the Periodic Table that gives n-type conduction characteristics (hereinafter abbreviated as “Vb Group atom”) can be used. As the Group IIIb atom, specifically, B
(Boron), Al (aluminum), Ga (gallium), In (indium), Ta (thallium), and the like, and B, Al, and Ga are particularly preferable. Specific examples of group Vb atoms include P (phosphorus), As (arsenic), and Sb.
(Antimony), Bi (bismuth) and the like.
As is preferred. In the present invention, the content of atoms for controlling conductivity contained in the charge injection blocking layer is appropriately determined as desired so that the object of the present invention can be effectively achieved, but is preferably from 10 to 1 It is desirable that the concentration is set to × 10 4 atomic ppm, more preferably 50 to 5 × 10 3 atomic ppm, and most preferably 1 × 10 2 to 1 × 10 3 ppm. Furthermore, by including at least one of a nitrogen atom and an oxygen atom in addition to carbon atoms in the charge injection blocking layer, adhesion between the charge injection blocking layer and another layer provided in direct contact with the charge injection blocking layer is improved. Can be further improved. The carbon atoms, nitrogen atoms, or oxygen atoms contained in the layer may be uniformly distributed throughout the layer, or may be uniformly distributed in the layer thickness direction, but may be unevenly distributed. There may be a portion contained in a distributed state. However, in any case, it is necessary to uniformly contain the particles in a direction in a plane parallel to the surface of the substrate in order to make the characteristics uniform in the direction in the plane. Further, the hydrogen atoms contained in the charge injection blocking layer in the present invention are effective in improving the film quality by compensating the terminal bonds existing in the layer. In the present invention, the thickness of the charge injection blocking layer is such that desired electrophotographic characteristics can be obtained,
And 0.1 to 5 μm, more preferably 0.3 to 4 μm, and most preferably 0.5 to 3 μm from the viewpoint of economic effect.
It is desirable to be.

【0020】本発明において電荷注入阻止層を形成する
には、前述の光導電層を形成する方法と同様の真空堆積
法が採用される。本発明の目的を達成し得る特性を有す
る電荷注入阻止層104を形成するには、光導電層10
3と同様に、Si供給用のガスと希釈ガスとの混合比、
反応容器内のガス圧、放電電力ならびに基体101の温
度を適宜設定することが必要である。希釈ガスであるH
2および/またはHeの流量は、層設計にしたがって適
宜最適範囲が選択されるが、Si供給用ガスに対しH2
および/またはHeを、通常の場合1〜20倍、好まし
くは3〜15倍、最適には5〜10倍の範囲に制御する
ことが望ましい。反応容器内のガス圧も同様に層設計に
したがって適宜最適範囲が選択されるが、通常の場合1
×10-4〜10Torr、好ましくは5×10-4〜5T
orr、最適には1×10-3〜1Torrとするのが好
ましい。放電電力もまた同様に層設計にしたがって適宜
最適範囲が選択されるが、Si供給用のガスの流量に対
する放電電力を、通常の場合1〜7倍、好ましくは2〜
6倍、最適には3〜5倍の範囲設定することが望まし
い。さらに、基体101の温度は、層設計にしたがって
適宜最適範囲が選択されるが、通常の場合、好ましくは
200〜350℃、より好ましくは230〜330℃、
最適には250〜310℃とするのが望ましい。本発明
においては、電荷注入阻止層を作成するための希釈ガス
の混合比、ガス圧、放電電力、基体温度の望ましい数値
範囲として前記した範囲が挙げられるが、これらの層形
成ファクターは通常は独立的に別々に決められるもので
はなく、所望の特性を有する表面層を形成すべく相互的
且つ有機的関連性に基づいて各層作成ファクターの最適
値を決めるのが望ましい。また、本発明の電子写真用光
受容部材に於ては、基体101と光導電層103あるい
は電荷注入阻止層105との間の密着性の一層の向上を
図る目的で、例えば、Si3N4、SiO2、SiO、あ
るいはシリコン原子を母体とし、水素原子及び/または
ハロゲン原子と 、炭素原子及び/または酸素原子及び
/または窒素原子とを含む非晶質材料等で構成される密
着層を設けても良い。更に、基体からの反射光による干
渉模様の発生を防止するための光吸収層を設けてもよ
い。
In the present invention, to form the charge injection blocking layer, a vacuum deposition method similar to the above-described method of forming the photoconductive layer is employed. To form the charge injection blocking layer 104 having characteristics capable of achieving the object of the present invention, the photoconductive layer 10
3, the mixing ratio between the gas for supplying Si and the diluting gas,
It is necessary to appropriately set the gas pressure in the reaction vessel, the discharge power, and the temperature of the substrate 101. H as a dilution gas
The optimum range of the flow rate of 2 and / or He is appropriately selected according to the layer design.
It is desirable to control He and / or He in a range of usually 1 to 20 times, preferably 3 to 15 times, and most preferably 5 to 10 times. Similarly, the optimum range of the gas pressure in the reaction vessel is appropriately selected according to the layer design.
× 10 −4 to 10 Torr, preferably 5 × 10 −4 to 5 T
orr, optimally 1 × 10 −3 to 1 Torr. Similarly, the optimum range of the discharge power is appropriately selected according to the layer design, but the discharge power with respect to the flow rate of the gas for supplying Si is usually 1 to 7 times, preferably 2 to 7 times.
It is desirable to set the range to 6 times, optimally 3 to 5 times. Further, the temperature of the base 101 is appropriately selected in an optimum range according to the layer design. In a normal case, the temperature is preferably 200 to 350 ° C., more preferably 230 to 330 ° C.
Most preferably, the temperature is set to 250 to 310 ° C. In the present invention, the above-mentioned ranges are mentioned as desirable numerical ranges of the mixing ratio of the diluent gas, the gas pressure, the discharge power, and the substrate temperature for forming the charge injection blocking layer, but these layer forming factors are usually independent. However, it is desirable that the optimum value of each layer forming factor be determined based on mutual and organic relationships in order to form a surface layer having desired properties. In the electrophotographic light-receiving member of the present invention, for the purpose of further improving the adhesion between the substrate 101 and the photoconductive layer 103 or the charge injection blocking layer 105, for example, Si3N4, SiO2, An adhesion layer made of an amorphous material or the like containing SiO or silicon atoms as a base and containing hydrogen atoms and / or halogen atoms, and carbon atoms and / or oxygen atoms and / or nitrogen atoms may be provided. Further, a light absorbing layer for preventing an interference pattern from being generated by light reflected from the base may be provided.

【0021】本発明においては、上述のようにして基対
101上に形成された光導電層103の上に、更にアモ
ルファスシリコン系の表面層105を形成することが好
ましい。表面層105は、アモルファスシリコン系の材
料であればいずれの材質でも可能であるが、例えば、水
素原子(H)及び/またはハロゲン原子(X)を含有
し、更に炭素原子を含有するアモルファスシリコン(以
下「a−SiC:H、X」と表記する)、水素原子
(H)及び/またはハロゲン原子(X)を含有し、更に
酸素原子を含有するアモルファスシリコン(以下「a−
SiO:H、X」と表記する)、水素原子(H)及び/
またはハロゲン原子(X)を含有し、更に窒素原子を含
有するアモルファスシリコン(以下「a−SiN:H、
X」と表記する)、水素原子(H)及び/またはハロゲ
ン原子(X)を含有し、更に炭素原子、酸素原子、窒素
原子の少なくとも一つを含有するアモルファスシリコン
(以下「a−SiCON:H、X」と表記する)等の材
料が好適に用いられる。
In the present invention, it is preferable to further form an amorphous silicon-based surface layer 105 on the photoconductive layer 103 formed on the base 101 as described above. The surface layer 105 may be made of any material as long as it is an amorphous silicon-based material. For example, amorphous silicon (H) and / or halogen atom (X) and further containing carbon atoms Amorphous silicon containing a hydrogen atom (H) and / or a halogen atom (X) and further containing an oxygen atom (hereinafter referred to as “a-SiC: H, X”).
SiO: H, X "), a hydrogen atom (H) and / or
Alternatively, amorphous silicon containing a halogen atom (X) and further containing a nitrogen atom (hereinafter referred to as “a-SiN: H,
X), amorphous silicon containing a hydrogen atom (H) and / or a halogen atom (X) and further containing at least one of a carbon atom, an oxygen atom and a nitrogen atom (hereinafter referred to as “a-SiCON: H , X ") are suitably used.

【0022】本発明に於て、その目的を効果的に達成す
るために、表面層105は真空堆積膜形成方法によっ
て、所望特性が得られるように適宜成膜パラメーターの
数値条件が設置されて作成される。その具体的形成方法
は、前記した光導電層と同様の数々の薄膜堆積法によっ
て形成することができる。これらの薄膜堆積法は、製造
条件、設備資本投資下の負荷程度、製造規模、作成され
る電子写真用受容部材に所望される特性等の要因によっ
て適宜選択されて採用されるが、光受容部材の生産性か
ら光導電層と同等の堆積法によることが好ましい。本発
明に於て用いる表面層の材質としてはシリコンを含有す
るアモルファス材料ならば何れでも良いが、炭素、窒
素、酸素より選ばれた元素を少なくとも1つ含むシリコ
ン原子との化合物が好ましく、特にa−SiCを主成分
としたものが好ましい。本発明の表面層の形成において
使用されるシリコン(Si)供給用ガスとなり得る物質
としては、SiH4、Si2H6、Si3H8、Si4
H10等のガス状態の、またはガス 化し得る水素化珪
素(シラン類)が有効に使用されるものとして挙げら
れ、更に層作成時の取扱易さ、Si供給効率の良さ等の
点でSiH4、Si2H6が好ましいものとして挙げら
れる。また、これらのSi供給用の原料ガスを必要に応
じてH2、He、Ar、Ne等のガスにより希釈して使
用してもよい。炭素供給用ガスとなり得る物質として
は、CH4、C2H6、C3H8、C4H10等のガス
状態の、またはガス化し得る炭化水素が有効に使用され
るものとして挙げられ、更に層形成時の取扱易さ、Si
供給率の良さの点でCH4、C2H6が好ましいものと
して挙げられる。また、これらのC供給用の原料ガスを
必要に応じてH2、He、Ar、Ne等のガスにより希
釈して使用してもよい。本発明における表面層104の
層厚としては、通常0.01〜3μm、好適には0.0
5〜2μm、最適には0.1〜1μmとされるのが望ま
しいものである。層厚が0.01μmよりも薄いと光受
容部材を使用中に摩耗等の理由により表面層が失われて
しまい、3μmを越えると残留電位の増加等の電子写真
特性の低下がみられる。
In the present invention, in order to effectively achieve the object, the surface layer 105 is formed by a vacuum deposition film forming method by appropriately setting numerical conditions of film forming parameters so as to obtain desired characteristics. Is done. The specific formation method can be formed by a number of thin film deposition methods similar to those of the photoconductive layer described above. These thin film deposition methods are appropriately selected and adopted depending on factors such as manufacturing conditions, the degree of load under capital investment, the manufacturing scale, and the characteristics desired for the electrophotographic receiving member to be produced. It is preferable to use the same deposition method as that for the photoconductive layer from the viewpoint of productivity. The material of the surface layer used in the present invention may be any amorphous material containing silicon, but is preferably a compound with a silicon atom containing at least one element selected from carbon, nitrogen and oxygen. Those containing -SiC as a main component are preferable. Substances that can serve as a silicon (Si) supply gas used in forming the surface layer of the present invention include SiH4, Si2H6, Si3H8, and Si4.
Silicon hydrides (silanes) in a gas state such as H10 or the like can be effectively used. In addition, SiH4, Si2H6 can be used in terms of ease of handling at the time of forming a layer, and high Si supply efficiency. Are preferred. Further, these source gases for supplying Si may be diluted with a gas such as H2, He, Ar, Ne or the like, if necessary. As a substance that can be a carbon supply gas, a gaseous hydrocarbon such as CH 4, C 2 H 6, C 3 H 8, C 4 H 10 or a gasifiable hydrocarbon can be effectively used.
CH4 and C2H6 are preferred in terms of good supply rate. Further, these raw material gases for supplying C may be diluted with a gas such as H2, He, Ar, Ne or the like as necessary. The layer thickness of the surface layer 104 in the present invention is usually 0.01 to 3 μm, preferably 0.03 μm.
It is desirable that the thickness be 5 to 2 μm, most preferably 0.1 to 1 μm. If the layer thickness is less than 0.01 μm, the surface layer is lost due to abrasion or the like during use of the light receiving member, and if it exceeds 3 μm, the electrophotographic characteristics such as an increase in residual potential are reduced.

【0023】[0023]

【実施例】以下、実施例に基づき本発明の具体例を詳細
に説明するが、本発明はこれらによってなんら限定され
るものではない。 [実施例1]外径108mm、長さ358mm、肉厚5
mmのアルミニウムシリンダーを鏡面加工を施し、脱脂
洗浄したものを基体として使用し、図2に示す装置を用
いて、表1に示す条件にて、先に示した手順に従い、阻
止型の電子写真用光受容部材を作成した。なお、B2H
6ガスは、スプライン関数を用い図4に示すような流量
変化で導入した。
EXAMPLES The present invention will be described in detail below with reference to examples, but the present invention is not limited thereto. [Example 1] Outer diameter 108 mm, length 358 mm, wall thickness 5
2 mm aluminum cylinder is mirror-finished, degreased and washed, and used as a substrate. The apparatus shown in FIG. A light receiving member was created. Note that B2H
The six gases were introduced using a spline function with a change in flow rate as shown in FIG.

【0024】[0024]

【表1】 このドラムを電子写真装置(キヤノン社製NP606
0)を本テスト用に改造したもの)にセットして、以下
の電子写真特性及び画像成の評価を以下の方法で行っ
た。 感度…電子写真用光受容部材を、一定の暗部表面電位に
帯電させる。そして直ちに光像を照射する。光像はハロ
ゲンランプ光源を用い、フィルターを用いて550nm
以下の波長域の光りを除いた光を照射する。この時表面
電位計により電子写真光受容部材の明部表面電位を測定
する。明部表面電位が所定の電位になるよう露光量を調
整し、この時の露光量をもつて感度とし、評価した。 感度について ◎は「特に良好」 ○は「良好」 △は「実用上問題なし」 ×は「実用上問題あり」 を表している。 残留電位…ドラムを一定の暗部表面電位に帯電させる。
そして直ちに一定光量の比較的強い光りを照射す。光像
はハロゲンランプ光源を用い、フィルターを用いて55
0nm以下の波長域の光を除いた光を照射した。この時
表面電位計により電子写真用光受容部材の明部表面電位
を測定する。 残留電位について ◎は「特に良好」 ○は「良好」 △は「実用上問題なし」 ×は「実用上問題あり」 を表している。 EV直線性…ドラムを一定の暗部表面電位に帯電させ
る。そして光量を変化させながら照射する。光像はハロ
ゲンランプ光源を用い、フィルターを用いて550nm
以下の波長域の光を除いた光を照射した。この時表面電
位計により電子写真用光受容部材の明部表面電位を測定
し、明部表面電位と光量の関係を測定する。 EV直線性について ◎は「特に良好」 ○は「良好」 △は「実用上問題なし」 ×は「実用上問題有り」 を表している。 ハーフトーンがさつき…キヤノン社製中間チャート(部
品番号:FY9−9042)を原稿台に置きコピーした
ときに得られた画像のがさつきを目視により評価した。 がさつきについて ◎は「特に良好」 ○は「良好」 △は「実用上問題なし」 ×は「実用上問題有り」 を表している。 (比較例1)実施例1と同様に、表1に示した条件によ
り、阻止型の電子写真用光受容部材を作成し、実施例1
と同様の評価を行った。なお、B2H6ガスは、図5に
示すような直線で各点を結んだ流量変化で導入した。以
下、実施例1及び比較例1の結果を合わせて表3に示
す。表2に示されるように、本発明はすべての項目にお
いて良好な結果が得られた。
[Table 1] This drum is mounted on an electrophotographic apparatus (NP606, manufactured by Canon Inc.).
0) was modified for this test), and the following electrophotographic characteristics and image quality were evaluated by the following methods. Sensitivity: The electrophotographic light-receiving member is charged to a constant dark-area surface potential. Then, the light image is immediately emitted. The light image is 550 nm using a halogen lamp light source and a filter.
Irradiate light excluding light in the following wavelength ranges. At this time, the surface potential of the bright portion of the electrophotographic light-receiving member is measured by a surface electrometer. The exposure amount was adjusted so that the bright portion surface potential became a predetermined potential, and the exposure amount at this time was used as sensitivity to evaluate. Regarding the sensitivity ◎ indicates “particularly good” ○ indicates “good” Δ indicates “no problem in practical use” x indicates “problem in practical use” Residual potential: The drum is charged to a constant dark area surface potential.
Then, a relatively intense light of a constant light amount is immediately applied. The light image was obtained using a halogen lamp light source and a filter.
Light excluding light in a wavelength range of 0 nm or less was applied. At this time, the surface potential of the light portion of the electrophotographic light-receiving member is measured by a surface electrometer. Regarding residual potential indicates “especially good” ○ indicates “good” Δ indicates “no problem in practical use” x indicates “problem in practical use” EV linearity: The drum is charged to a constant dark area surface potential. Irradiation is performed while changing the amount of light. The light image is 550 nm using a halogen lamp light source and a filter.
Irradiation was performed except for light in the following wavelength ranges. At this time, the surface potential of the light portion of the electrophotographic light-receiving member is measured with a surface electrometer, and the relationship between the light portion surface potential and the amount of light is measured. Regarding EV linearity ◎ indicates “particularly good” ○ indicates “good” 「indicates“ no problem in practical use ”X indicates“ problem in practical use ” Halftone roughness: The roughness of an image obtained when an intermediate chart (part number: FY9-9042) manufactured by Canon Inc. was placed on a platen and copied was visually evaluated. Regarding the roughness, は indicates “particularly good”, は indicates “good”, Δ indicates “no problem in practical use”, and x indicates “problem in practical use”. Comparative Example 1 A blocking type electrophotographic light-receiving member was prepared in the same manner as in Example 1 under the conditions shown in Table 1.
The same evaluation was performed. Note that the B2H6 gas was introduced at a flow rate change connecting each point with a straight line as shown in FIG. The results of Example 1 and Comparative Example 1 are shown in Table 3 below. As shown in Table 2, in the present invention, good results were obtained in all items.

【0025】[0025]

【表2】 [実施例2]実施例1と同様のアルミシリンダーを使用
し、図2に示す装置を用いて、表3に示す条件にて、先
に示した手順に従い、機能分離型の電子写真用光受容部
材を作成した。なお、第1の領域のB2H6ガスは、ス
プライン関数を用い図6に示すような流量変化で導入し
た。
[Table 2] Example 2 Using the same aluminum cylinder as in Example 1, using the apparatus shown in FIG. 2, and under the conditions shown in Table 3, according to the procedure shown above, a function-separated type electrophotographic photoreceptor was used. Created a member. The B2H6 gas in the first region was introduced using a spline function with a change in flow rate as shown in FIG.

【0026】[0026]

【表3】 (比較例2)実施例2と同様に、表3に示した条件によ
り、機能分離型の電子写真用光受容部材を作成し、実施
例1と同様の評価を行った。なお、B2H6ガスは、図
7に示すような直線で各点を結んだ流量変化で導入し
た。以下、実施例2及び比較例2の結果を合わせて表4
に示す。表4に示されるように、本発明はすべての項目
において良好な結果が得られた。
[Table 3] Comparative Example 2 In the same manner as in Example 2, a function-separated electrophotographic light-receiving member was prepared under the conditions shown in Table 3, and the same evaluation as in Example 1 was performed. Note that the B2H6 gas was introduced at a flow rate change connecting each point with a straight line as shown in FIG. Table 4 below shows the results of Example 2 and Comparative Example 2 together.
Shown in As shown in Table 4, the present invention obtained good results in all items.

【0027】[0027]

【表4】 (実施例3)外径108mm、長さ358mm、肉厚5
mmのアルミニウムシリンダーを鏡面加工を施し、脱脂
洗浄したものを基体として使用し、図3に示す装置を用
いて、表5に示す条件にて、先に示した手順に従い、阻
止型の電子写真用光受容部材を作成した。なお、B2H
6ガスは、スプライン関数を用い図8に示すような流量
変化で導入した。
[Table 4] (Example 3) Outer diameter 108 mm, length 358 mm, wall thickness 5
3 mm aluminum cylinder is mirror-finished, degreased and washed, and used as a base. The apparatus shown in FIG. A light receiving member was created. Note that B2H
The six gases were introduced at a flow rate change as shown in FIG. 8 using a spline function.

【0028】[0028]

【表5】 (比較例3)実施例3と同様に、図3に示す装置を用い
て、表5に示した条件により、阻止型の電子写真用光受
容部材を作成し、実施例1と同様の評価を行った。な
お、B2H6ガスは、図9に示すような直線で各点を結
んだ流量変化で導入した。以下、実施例3及び比較例3
の結果を合わせて表6に示す。表4に示されるように、
本発明は全ての項目において良好な結果が得られた。
[Table 5] (Comparative Example 3) A blocking type electrophotographic light-receiving member was prepared in the same manner as in Example 3 using the apparatus shown in FIG. 3 under the conditions shown in Table 5, and evaluated in the same manner as in Example 1. went. Note that the B2H6 gas was introduced at a flow rate change connecting each point with a straight line as shown in FIG. Hereinafter, Example 3 and Comparative Example 3
Table 6 also shows the results. As shown in Table 4,
In the present invention, good results were obtained in all items.

【0029】[0029]

【表6】 [実施例4]実施例1と同様のアルミシリンダーを使用
し、図3に示す装置を用いて、表7に示す条件にて、先
に示した手順に従い、機能分離型の電子写真用光受容部
材を作成した。なお、第1の領域のB2H6ガスは、ス
プライン関数を用い図10に示すような流量変化で導入
した。
[Table 6] Example 4 Using the same aluminum cylinder as in Example 1 and using the apparatus shown in FIG. 3 under the conditions shown in Table 7 and according to the procedure described above, a function-separated type electrophotographic photoreceptor was used. Created a member. The B2H6 gas in the first region was introduced using a spline function with a change in flow rate as shown in FIG.

【0030】[0030]

【表7】 (比較例4)実施例4と同様に、表7に示した条件によ
り、機能分離型の電子写真用光受容部材を作成し、実施
例1と同様の評価を行った。なお、B2H6ガスは、図
11に示すような直線で各点を結んだ流量変化で導入し
た。以下、実施例4及び比較例4の結果を合わせて表8
に示す。表8に示されるように、本発明は全ての項目に
おいて良好な結果が得られた。
[Table 7] Comparative Example 4 In the same manner as in Example 4, a function-separated electrophotographic light-receiving member was prepared under the conditions shown in Table 7 and evaluated in the same manner as in Example 1. Note that the B2H6 gas was introduced at a flow rate change connecting each point with a straight line as shown in FIG. Table 8 below shows the results of Example 4 and Comparative Example 4 together.
Shown in As shown in Table 8, in the present invention, good results were obtained in all items.

【0031】[0031]

【表8】 [実施例5]実施例1と同様のアルミシリンダーを使用
し、図2に示す装置を用いて、表9に示す条件にて、先
に示した手順に従い、阻止型の電子写真用光受容部材を
作成した。なお、光導電層のB2H6ガスは、スプライ
ン関数を用い図6に示すような流量変化で導入した。
[Table 8] Example 5 Using the same aluminum cylinder as in Example 1, using the apparatus shown in FIG. 2, and under the conditions shown in Table 9, the blocking type electrophotographic light-receiving member according to the above-described procedure. It was created. The B2H6 gas in the photoconductive layer was introduced at a flow rate change as shown in FIG. 6 using a spline function.

【0032】[0032]

【表9】 [実施例6]実施例1と同様のアルミシリンダーを使用
し、図2に示す装置を用いて、表10に示す条件にて、
先に示した手順に従い、阻止型の電子写真用光受容部材
を作成した。なお、光導電層のB2H6ガスは、スプラ
イン関数を用い図6に示すような流量変化で導入した。
[Table 9] Example 6 Using the same aluminum cylinder as in Example 1, using the apparatus shown in FIG.
According to the procedure described above, a blocking type electrophotographic light-receiving member was prepared. The B2H6 gas in the photoconductive layer was introduced at a flow rate change as shown in FIG. 6 using a spline function.

【0033】[0033]

【表10】 実施例5及び6で作成した電子写真光受容部材を実施例
1と同様の評価を行った。加えて、画像欠陥及び耐久性
の評価も行った。 画像欠陥…キヤノン製中間調チャート(部品番号:FY
9−9042)を原稿台に置き、コピーしたときに得ら
れたコピー画像の同一面積内にある直径0.5mm以下
の白点について、その数を数えた。 画像欠陥について ◎は「0〜2個で、まつたく気にならない」 ○は「3〜5個で、気にならない」 △は「6〜10個で、多少気になる」 ×は「11個以上で、気になる」 を表している。 耐久性…種々の電子写真特性を測定の後、10万枚相当
の加速耐久試験を行いその後の各電子写真特性の変化を
測定した。 耐久性について ◎は「初期特性とほとんど変化無い」 ○は「変化は有るがまったく問題ない」 △は「多少変化有る」 ×は「著しく変化が有る」 を表している。以下、実施例5及び実施例6の結果を合
わせて表11に示す。また、本実施例との比較の意味で
実施例1で作成した電子写真光受容部材を合わせて評価
を行い合わせて表11に示す。表11に示されるよう
に、本発明は全ての項目において良好な結果が得られ
た。
[Table 10] The electrophotographic light-receiving members prepared in Examples 5 and 6 were evaluated in the same manner as in Example 1. In addition, image defects and durability were also evaluated. Image defect: Canon halftone chart (part number: FY
9-9042) was placed on a platen, and the number of white spots having a diameter of 0.5 mm or less within the same area of the copied image obtained when copying was counted. Regarding Image Defects は: “0 to 2 pieces, not bothersome” ○: “3 to 5 pieces, not bothersome” △: “6 to 10 pieces, slightly anxious” ×: “11 pieces Above, I am worried. " Durability: After measuring various electrophotographic characteristics, an accelerated durability test corresponding to 100,000 sheets was performed, and a change in each electrophotographic characteristic was measured thereafter. Regarding the durability ◎ indicates that there is little change from the initial characteristics. ○ indicates that there is a change but no problem at all. △ indicates that there is some change. X indicates that there is a significant change. The results of Example 5 and Example 6 are shown in Table 11 below. Table 11 also shows the evaluation of the electrophotographic light-receiving member prepared in Example 1 for comparison with the present example. As shown in Table 11, in the present invention, good results were obtained in all items.

【0034】[0034]

【表11】 [Table 11]

【0035】[0035]

【本発明の効果】本発明によれば、導電層形成時におけ
る周期律表第III族または、第V族に属する元素をより
なめらかにドーピングすることにより、光導電層中によ
り均一な電界の形成が可能となり、またキャリア走行性
の向上した光受容部材が得られるから、これにより鮮明
なハーフトーン調の画像を形成することが可能となる。
とりわけ、これを電子写真用光受容部材に用いた場合に
は最近における複写機本体の高性能化デジタル機や、カ
ラー機の普及に伴う電子写真用光受容部材の、これまで
以上の高画質化、特により鮮明なハーフトーン調画像の
提供により有効に寄与することができるものである。ま
た、本発明により得られた光受容部材は、電子写真特
性、特に感度、残留電位、EV直線性等に優れ、その光
導電層に炭素原子、酸素原子、窒素原子を含有させるこ
とにより、画像欠陥を低減させると共に、その耐久性を
一層向上させることができるものである。
According to the present invention, a more uniform electric field can be formed in the photoconductive layer by doping the element belonging to Group III or V of the periodic table more smoothly during the formation of the conductive layer. And a light receiving member with improved carrier running properties can be obtained, whereby a clear halftone image can be formed.
In particular, when this is used for a light receiving member for electrophotography, the performance of a copying machine body has recently been improved. In particular, it can contribute more effectively to providing a clearer halftone image. Further, the light receiving member obtained according to the present invention is excellent in electrophotographic properties, particularly, sensitivity, residual potential, EV linearity, etc., and contains carbon, oxygen, and nitrogen atoms in the photoconductive layer. The defect can be reduced and the durability can be further improved.

【0036】[0036]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

図1は、本発明の光受容部材の好適な実施形態例の層構
成を説明するための模式的層構成図である。 図2は、本発明の光受容部材の光受容層を形成する為の
装置の一例で、マイクロ波を用いたグロー放電法による
光受容部材の製造装置の概略説明図である。 図3は、本発明の光受容部材の光受容層を形成するため
の装置の一例で、RF帯の高周波を用いたグロー放電法
による光受容部材の製造装置の概略説明図であり、図2
(A)はその横断面図、図2(B)はその縦断面図であ
る。 図4、及び図6、図8、図10は、本発明の光受容層を
形成するためのスプライン関数を用いた周期律表の第I
II族または第V族に属する元素を含有する原料ガスの
流量変化の一例を示したグラフである。 図5及び図7、図9、図11は、従来の光受容層を形成
する周期律表の第III族または第V族に属する元素を
含有する原料ガスの流量変化の一例を示したグラフであ
る。 100 光受容部材 101 基体 102 光受容層 103 光導電層 104 電荷注入阻止層 105 表面層 106 光導電層第1の領域 107 光導電層第2の領域 201 反応容器 202 基体 203 回転機構 204 排気孔 205 加熱用ヒーター 206 原料ガス供給管兼電極 207 内部チャンバ 208 電源 209 導波管 210 誘電体窓 3100 堆積装置 3111 反応容器 3112 基体 3113 基体加熱用ヒーター 3114 原料ガス導入管 3115 マッチングボックス 3116 原料ガス配管 3117 反応容器リークバルブ 3118 メイン排気バルブ 3119 真空計 3200 原料ガス供給装置 3211〜3216 マスフローコントローラー 3221〜3226 原料ガスボンベ 3231〜3236 原料ガスボンベバルブ 3241〜3246 ガス流入バルブ 3251〜3256 ガス流出バルブ 3261〜3266 圧力調整器
FIG. 1 is a schematic layer configuration diagram for explaining the layer configuration of a preferred embodiment of the light receiving member of the present invention. FIG. 2 is an example of an apparatus for forming a light receiving layer of the light receiving member of the present invention, and is a schematic explanatory view of a light receiving member manufacturing apparatus by a glow discharge method using a microwave. FIG. 3 is an example of an apparatus for forming a light receiving layer of the light receiving member of the present invention, and is a schematic explanatory view of a device for manufacturing a light receiving member by a glow discharge method using a high frequency in an RF band.
2A is a cross-sectional view thereof, and FIG. 2B is a longitudinal cross-sectional view thereof. FIGS. 4, 6, 8, and 10 show the I-th part of the periodic table using a spline function for forming the light-receiving layer of the present invention.
5 is a graph showing an example of a change in flow rate of a source gas containing an element belonging to Group II or Group V. 5, 7, 9, and 11 are graphs showing an example of a change in the flow rate of a source gas containing an element belonging to Group III or Group V of the periodic table that forms the conventional light receiving layer. is there. REFERENCE SIGNS LIST 100 light receiving member 101 base 102 light receiving layer 103 photoconductive layer 104 charge injection blocking layer 105 surface layer 106 photoconductive layer first area 107 photoconductive layer second area 201 reaction vessel 202 base 203 rotating mechanism 204 exhaust hole 205 Heating heater 206 Source gas supply tube / electrode 207 Internal chamber 208 Power supply 209 Waveguide 210 Dielectric window 3100 Deposition device 3111 Reaction vessel 3112 Base 3113 Base heating heater 3114 Source gas introduction pipe 3115 Matching box 3116 Source gas pipe 3117 Reaction Vessel leak valve 3118 Main exhaust valve 3119 Vacuum gauge 3200 Source gas supply device 3211-216 Mass flow controller 3221-226 Source gas cylinder 3231-236 Source gas cylinder valve 3241-3246 Gas inflow valve 3251-3256 Gas outflow valve 3261-3266 Pressure regulator

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/205 C23C 16/50 C23C 16/52 G03G 5/08 360 H01L 31/0248 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/205 C23C 16/50 C23C 16/52 G03G 5/08 360 H01L 31/0248

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】シリコン原子を含む原料ガスと周期律表第
III族又は第V族に属する元素を含む原料ガスを反応
空間に導入して基体上にシリコン原子と周期律表第II
I族又は第V族に属する元素を含有する非晶質材料で構
成された光導電層を形成する工程を有する光受容部材の
製造方法において、前記周期律表第III族又は第V族
に属する元素を含む原料ガスをスプライン関数を用いて
連続的に変化させながら導入することを特徴とする光受
容部材の製造方法。
A raw material gas containing silicon atoms and a raw material gas containing an element belonging to Group III or Group V of the periodic table are introduced into a reaction space, and silicon atoms and a compound of the periodic table II are placed on a substrate.
A method for manufacturing a light-receiving member, comprising the step of forming a photoconductive layer made of an amorphous material containing an element belonging to Group I or Group V, wherein the member belongs to Group III or Group V of the periodic table A method for producing a light receiving member, wherein a source gas containing an element is introduced while being continuously changed using a spline function.
【請求項2】前記工程において、更に炭素原子、酸素原
子及び窒素原子からなる群から選択された元素を含む原
料ガスが導入されることを特徴とする請求項1に記載の
光受容部材の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein a source gas further containing an element selected from the group consisting of carbon atoms, oxygen atoms and nitrogen atoms is introduced in said step. Method.
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