JP3145647B2 - Inspection signal recording device - Google Patents
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、各種プラント等の
チューブ状の構造物が内側からの非破壊検査に用いられ
る検査信号記録装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection signal recording apparatus in which a tubular structure such as various plants is used for nondestructive inspection from inside.
【0002】[0002]
【従来の技術】各種プラント等のチューブ状の検査対象
に対し、内側からの非破壊検査を行なう検査装置におい
て、検査結果を記録する従来の検査信号記録装置は、図
3に示すように構成されている。上記検査装置は、チュ
ーブ状の被検査対象1に対し、通常はセンサを一定の速
度で螺旋状に走査しながら、予め設定した旋回方向につ
いての計測ピッチで計測し、検査を行なっていく。2. Description of the Related Art A conventional inspection signal recording apparatus for recording an inspection result in a non-destructive inspection from the inside of a tubular inspection object of various plants or the like is configured as shown in FIG. ing. The above-described inspection apparatus performs an inspection on a tubular inspection target 1 while measuring the sensor at a predetermined measurement pitch in the turning direction while scanning the sensor spirally at a constant speed.
【0003】すなわち、チューブ状の被検査対象1に対
し、その内側から検査を行なうため、旋回及び軸方向の
移動が可能な検査用のセンサ3を含む走査治具2を挿入
し、走査治具駆動装置21より走査治具2に駆動信号を
出力する。走査治具2は、走査治具駆動装置21からの
駆動信号に従ってセンサ3を移動すると共に、センサ3
の位置を走査治具駆動装置21に出力する。走査治具駆
動装置21は、センサ3の位置を走査治具制御装置22
に伝えると共に、この走査治具制御装置22からの制御
信号によって、移動速度の制御や移動の停止・再開を行
なう。走査治具制御装置22は、予め設定された走査ピ
ッチに基づき、走査治具駆動装置21からの位置信号に
より計測トリガ信号を出力すると共に、検査信号記録装
置部6内の記録終了監視装置23からの終了信号によ
り、走査治具駆動装置21へセンサ3の移動の停止を含
め、移動速度の制御信号を出力する。上記検査信号記録
装置部6には、記録終了監視装置23の他、A/D(ア
ナログ/デジタル)変換装置8、バッファメモリ9及び
記録装置10が設けられている。That is, a scanning jig 2 including an inspection sensor 3 that can rotate and move in the axial direction is inserted into a tube-shaped inspection target 1 to perform an inspection from the inside thereof. A driving signal is output from the driving device 21 to the scanning jig 2. The scanning jig 2 moves the sensor 3 according to a driving signal from the scanning jig driving device 21 and
Is output to the scanning jig driving device 21. The scanning jig driving device 21 determines the position of the sensor 3 by using the scanning jig controlling device 22.
And the control signal from the scanning jig controller 22 controls the moving speed and stops and restarts the moving. The scanning jig control device 22 outputs a measurement trigger signal based on a position signal from the scanning jig driving device 21 based on a preset scanning pitch, and outputs the measurement trigger signal from the recording end monitoring device 23 in the inspection signal recording device unit 6. , The control signal of the movement speed is outputted to the scanning jig driving device 21 including the stop of the movement of the sensor 3. The inspection signal recording device section 6 includes an A / D (analog / digital) conversion device 8, a buffer memory 9, and a recording device 10 in addition to the recording end monitoring device 23.
【0004】上記走査治具制御装置22は、センサ3が
移動して計測すべき位置に達しても、検査信号の記録が
終了していなければ、センサ3をその位置に停止させた
まま、検査信号の記録終了を待つこととなる。通常は、
検査信号の測定時間より検査記録時間の方が長いため、
これらの時間を考慮してセンサ3の移動速度を充分に落
として検査を行なっている。[0004] Even if the sensor 3 moves and reaches the position to be measured, if the recording of the inspection signal is not completed, the scanning jig controller 22 keeps the sensor 3 stopped at that position and performs the inspection. It will wait for the end of signal recording. Normally,
Since the test recording time is longer than the test signal measurement time,
In consideration of these times, the inspection is performed by sufficiently lowering the moving speed of the sensor 3.
【0005】また、上記走査治具制御装置22から検査
計測装置11へトリガ信号が送られる。この検査計測装
置11は、走査治具制御装置22からのトリガ信号を受
けてセンサ3を駆動し、得られた検査信号(アナログデ
ータ)と、センサ3の駆動に同期したトリガ信号をA/
D変換装置8へ出力する。このA/D変換装置8は、検
査計測装置11からのアナログ検査信号をデジタル信号
に変換し、そのままバッファメモリ9に記録する。通
常、検査信号は、一般の記録装置の記録速度に比べて、
より速い速度でデータを採取することから、高速で記録
可能なバッファメモリ9に一時記録させる。バッファメ
モリ9では、記録されたデジタル信号を、改めて磁気記
録媒体等の記録装置10に出力する。この記録装置10
は、バッファメモリ9からのデジタル信号を、持運びや
保存可能な記録媒体に記録し直すと共に、検査データの
記録終了信号を記録終了監視装置23に出力する。この
記録終了監視装置23は、上記走査治具制御装置22か
らの計測開始トリガ信号を受け、検査の開始を認識する
と共に、記録装置10からの記録終了信号を受け、一連
の検査計測記録動作が終了したことを判断し、走査治具
制御装置22に検査−記録の終了信号を出力する。A trigger signal is sent from the scanning jig controller 22 to the inspection and measurement device 11. The inspection and measurement device 11 drives the sensor 3 in response to a trigger signal from the scanning jig control device 22, and outputs an obtained inspection signal (analog data) and a trigger signal synchronized with the driving of the sensor 3 to A / A.
Output to the D conversion device 8. The A / D converter 8 converts an analog test signal from the test and measurement device 11 into a digital signal, and records the digital signal in the buffer memory 9 as it is. Usually, the inspection signal is compared with the recording speed of a general recording device,
Since data is collected at a higher speed, the data is temporarily recorded in the buffer memory 9 capable of recording at a higher speed. The buffer memory 9 outputs the recorded digital signal to a recording device 10 such as a magnetic recording medium. This recording device 10
Re-records the digital signal from the buffer memory 9 on a portable or storable recording medium, and outputs a recording end signal of the inspection data to the recording end monitoring device 23. The recording end monitoring device 23 receives the measurement start trigger signal from the scanning jig control device 22, recognizes the start of the inspection, receives the recording end signal from the recording device 10, and performs a series of inspection measurement recording operations. It is determined that the inspection has been completed, and an inspection-recording end signal is output to the scanning jig controller 22.
【0006】このように、検査計測する各計測ポイント
毎に、検査・計測・記録を行ない、記録終了を確認しな
がら次の計測ポイントへ移動することを、検査範囲全体
に亘って行なっている。従って、通常は、1計測ポイン
ト当たりの検査時間の最大値に合わせたセンサの移動速
度で検査計測を行なっている。In this manner, inspection, measurement, and recording are performed for each measurement point to be inspected and measured, and moving to the next measurement point is performed over the entire inspection range while confirming the end of recording. Therefore, normally, the inspection measurement is performed at the moving speed of the sensor corresponding to the maximum value of the inspection time per one measurement point.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】従来の検査信号記録装
置においては、検査のための計測時間と検査データの記
録時間を合わせた検査時間によって、旋回及び周方向の
移動速度が決められる。従って、超音波探傷等のよう
に、1計測ポイントで時間による変化を検査信号データ
として取込む場合、データ量の増加に伴い計測時間もさ
ることながら、検査データの記録時間が増大する。ここ
で計測時間は、計測対象が短時間内での信号変化である
ため、計測データ量が増えてもそれほど大きくはならな
いが、記録時間については、少なくともデータ量に比例
して増大し、1計測ポイント当たりの記録時間は、同じ
く1計測ポイント当たりの計測時間の10〜20倍にも
なる場合がある。In the conventional inspection signal recording apparatus, the moving speed in the turning and circumferential directions is determined by the inspection time obtained by adding the measurement time for the inspection and the recording time of the inspection data. Therefore, when a change due to time at one measurement point is taken in as inspection signal data as in the case of ultrasonic flaw detection or the like, the recording time of inspection data increases as the data amount increases, in addition to the measurement time. Here, since the measurement time is a signal change within a short time for the measurement object, the measurement time does not increase so much even if the measurement data amount increases, but the recording time increases at least in proportion to the data amount, and one measurement The recording time per point may be 10 to 20 times the measurement time per measurement point.
【0008】このように、1計測ポイントでの計測デー
タ増大に伴い、1計測ポイント当たりの記録時間が長く
なることから、センサの移動速度より遅くなることとな
る。そのため、移動の停止を含めたセンサ移動速度の低
速での制御が必要となっている。また、センサを低速で
移動させる場合、センサと被検体との接触状態による摩
擦の変動によっては、検査時間の制約からだけでなく、
センサが停止することもある。As described above, as the measurement data at one measurement point increases, the recording time per one measurement point increases, so that the recording speed becomes slower than the moving speed of the sensor. Therefore, it is necessary to control the sensor movement speed at a low speed including the stop of the movement. In addition, when the sensor is moved at a low speed, depending on the change in friction due to the contact state between the sensor and the subject, not only from the restriction of the inspection time,
The sensor may stop.
【0009】しかしながら、センサを停止状態から移動
する場合に必要な力は、一般的にセンサをある程度の低
速で一定の速度で移動させるのに必要な力より大きく、
その値の差も大きいため、停止状態から移動状態への移
行等の制御でスムーズに移動させるためには、複雑な制
御機構を必要とし、高精度な駆動装置や制御装置が必要
であった。また、センサ移動速度での低速制御の限界値
より、計測ピッチをあまり細かくとることができなかっ
た。However, the force required to move the sensor from the stopped state is generally larger than the force required to move the sensor at a certain speed at a certain low speed.
Since the difference between the values is large, a complicated control mechanism is required and a highly accurate driving device or control device is required for smooth movement by control such as transition from a stopped state to a moving state. Further, the measurement pitch could not be made much smaller than the limit value of the low-speed control at the sensor moving speed.
【0010】本発明は上記の課題を解決するためになさ
れたもので、検査におけるセンサの移動速度を少なくと
も従来の2倍以上として全体の検査時間を短縮でき、且
つ、旋回方向の計測ピッチをより細かく設定し得る検査
信号記録装置を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and can reduce the entire inspection time by making the moving speed of the sensor in the inspection at least twice or more than that of the conventional one, and further increase the measurement pitch in the turning direction. It is an object of the present invention to provide an inspection signal recording device that can be set finely.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】本発明に係る検査信号記
録装置は、チューブ状の検査対象に対し、内側からセン
サにより検査する検査装置において、前記センサを旋回
及び軸方向に移動させ、かつ、軸方向の走査ピッチに対
し2回転させる走査治具と、前記走査治具を駆動する走
査治具駆動装置と、前記走査治具からのセンサの位置信
号を監視し計測タイミングを制御する位置監視装置と、
前記位置監視装置からの計測タイミングで前記センサを
駆動し、計測を行なう検査計測装置と、前記検査計測装
置からの計測信号をデジタル信号に変換するアナログ/
デジタル変換装置と、前記アナログ−デジタル変換装置
で変換された1回転分のデジタル信号を一時記録するバ
ッファメモリと、前記バッファメモリに記録されたデジ
タル信号を最終的に記録する記録装置と、前記計測タイ
ミングに応じて前記バッファメモリをアナログ/デジタ
ル変換装置側並びに記録装置側に接続切替えを行なうモ
ード切替装置とを具備し、前記センサの旋回方向の1回
転毎に検査信号の計測と計測結果の記録を切替えながら
連続して検査計測信号の記録を行なうことを特徴とす
る。An inspection signal recording apparatus according to the present invention is an inspection apparatus for inspecting a tubular inspection object by a sensor from the inside, wherein the sensor is turned and axially moved, and A scanning jig that makes two rotations with respect to an axial scanning pitch, a scanning jig driving device that drives the scanning jig, and a position monitoring device that monitors a position signal of a sensor from the scanning jig and controls measurement timing. When,
An inspection / measurement device that drives the sensor at the measurement timing from the position monitoring device to perform measurement, and an analog / digital converter that converts a measurement signal from the inspection / measurement device into a digital signal.
A digital conversion device, a buffer memory for temporarily recording the digital signal of one rotation converted by the analog-digital conversion device, a recording device for finally recording the digital signal recorded in the buffer memory, A mode switching device for switching connection of the buffer memory to the analog / digital conversion device side and the recording device side according to timing; measurement of an inspection signal and recording of a measurement result for each rotation of the sensor in the turning direction The recording of the inspection measurement signal is continuously performed while switching the switching.
【0012】(作用)検査計測装置は、センサの最初の
1回転において、設定された旋回方向の検査計測ピッチ
で1回転分まとめて計測を行ない、その結果の検査信号
をA/D(アナログ/デジタル)変換装置でデジタル信
号に変換した後、バッファメモリに一時的に蓄える。(Operation) In the first rotation of the sensor, the inspection and measurement device collectively performs measurement for one rotation at the inspection measurement pitch in the set turning direction, and outputs the inspection signal as an A / D (analog / analog) signal. After being converted into a digital signal by a (digital) conversion device, it is temporarily stored in a buffer memory.
【0013】次の1回転では、計測は行なわずに、モー
ド切替装置によりバッファメモリを記録装置側に切替
え、蓄えた1回転分の検査計測データを記録装置に記録
する。この結果、検査計測データを1回転分のまとまり
として一度に記録装置へ記録できるようになり、記録装
置への記録のための準備動作やそのための時間は一度で
済むことから、1検査計測データ毎に行なう場合に比較
して短縮することが可能となり、全体として検査時間を
短縮することができる。同様に、1回転分の単位でまと
めて動作を行なうことで、計測時においてもA/D変換
装置の設定やバッファメモリの設定についても一部省略
することができる。In the next one rotation, the buffer memory is switched to the recording device by the mode switching device without performing measurement, and the stored inspection measurement data for one rotation is recorded in the recording device. As a result, the inspection measurement data can be recorded to the recording device at a time as a unit for one rotation, and the preparation operation for recording on the recording device and the time for the recording can be performed only once. The inspection time can be shortened as compared with the case where the inspection is performed at the same time, and the inspection time can be shortened as a whole. Similarly, by performing the operation collectively in units of one rotation, it is possible to partially omit the setting of the A / D converter and the setting of the buffer memory even at the time of measurement.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態を説明する。図1は、本発明の一実施形態に係
る検査信号記録装置の全体構成を示すブロック図であ
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the entire configuration of a test signal recording device according to one embodiment of the present invention.
【0015】図1に示すようにチューブ状の被検査対象
1に対し、その内側から検査を行なうため、旋回及び軸
方向の移動が可能な検査用のセンサ3を含む走査治具2
を挿入し、走査治具駆動装置4から走査治具2に駆動信
号を出力する。走査治具2は、走査治具駆動装置4から
の駆動信号によってセンサ3を一定の速度で螺旋状に移
動して走査すると共に、センサ3の位置を走査治具駆動
装置4に出力する。この走査治具駆動装置4は、センサ
3の位置を位置監視装置5に伝えると共に、設定される
軸方向の走査ピッチに対して2回転するようにセンサ3
を移動させる。位置監視装置5は、走査治具2からの位
置信号を走査治具駆動装置4を介して受け、予め設定さ
れた走査ピッチに基づき、計測トリガ信号を検査計測装
置11に出力すると共に、検査信号記録装置部6内のモ
ード切替装置7に切替え信号を出力する。すなわち、位
置監視装置5は、軸方向走査ピッチに対し、最初の1回
転で検査計測を行なう検査計測モード、次の1回転で検
査計測データの記録を行なうデータ記録モードとなるよ
うにモード切替装置7に切替え信号を出力する。As shown in FIG. 1, a scanning jig 2 including an inspection sensor 3 capable of turning and moving in an axial direction for performing an inspection on a tube-shaped inspection object 1 from the inside thereof.
And a driving signal is output from the scanning jig driving device 4 to the scanning jig 2. The scanning jig 2 scans the sensor 3 by moving it spirally at a constant speed according to a driving signal from the scanning jig driving device 4 and outputs the position of the sensor 3 to the scanning jig driving device 4. The scanning jig driving device 4 transmits the position of the sensor 3 to the position monitoring device 5 and also makes the sensor 3 rotate twice with respect to the set scanning pitch in the axial direction.
To move. The position monitoring device 5 receives a position signal from the scanning jig 2 via the scanning jig driving device 4, outputs a measurement trigger signal to the inspection and measurement device 11 based on a preset scanning pitch, and outputs the inspection signal. A switching signal is output to a mode switching device 7 in the recording device unit 6. That is, the position monitoring device 5 switches the mode switching device so as to be in an inspection measurement mode in which inspection measurement is performed in the first rotation with respect to the axial scanning pitch, and in a data recording mode in which inspection measurement data is recorded in the next one rotation. 7, a switching signal is output.
【0016】上記検査信号記録装置部6には、A/D変
換装置8、バッファメモリ9及び記録装置10が設けら
れており、モード切替装置7は位置監視装置5からの切
替え信号によりバッファメモリ9をA/D変換装置8あ
るいは記録装置10に切替え接続する。すなわち、モー
ド切替装置7は、検査計測モードではバッファメモリ9
をA/D変換装置8に接続し、データ記録モードではバ
ッファメモリ9を記録装置10に切替え接続する。The inspection signal recording device section 6 is provided with an A / D converter 8, a buffer memory 9, and a recording device 10. The mode switching device 7 operates in response to a switching signal from the position monitoring device 5 so that the buffer memory 9 is operated. Is connected to the A / D conversion device 8 or the recording device 10 by switching. That is, the mode switching device 7 controls the buffer memory 9 in the inspection measurement mode.
Is connected to the A / D converter 8, and in the data recording mode, the buffer memory 9 is switched and connected to the recording device 10.
【0017】上記位置監視装置5は、最初の1回転では
旋回方向の走査ピッチに基づき計測トリガ信号を検査計
測装置11に出力する。検査計測装置11は、この計測
トリガ信号を受けてセンサ3を駆動し、得られた検査信
号(アナログデータ)と、センサ3の駆動に同期したト
リガ信号をA/D変換装置8に出力する。このときA/
D変換装置8は、モード切替装置7によってバッファメ
モリ9と接続されており、検査計測装置11からのアナ
ログ検査信号をデジタル信号に変換し、そのままバッフ
ァメモリ9に1回転分の検査計測データを順次記録して
いく。通常、検査信号は、一般の記録装置の記録速度に
比べて、より速い速度でデータを採取することから、高
速で記録可能なバッファメモリ9に一時記録させる。In the first rotation, the position monitoring device 5 outputs a measurement trigger signal to the inspection and measurement device 11 based on the scanning pitch in the turning direction. The inspection and measurement device 11 drives the sensor 3 in response to the measurement trigger signal, and outputs the obtained inspection signal (analog data) and a trigger signal synchronized with the driving of the sensor 3 to the A / D conversion device 8. At this time, A /
The D conversion device 8 is connected to the buffer memory 9 by the mode switching device 7, converts the analog inspection signal from the inspection measurement device 11 into a digital signal, and sequentially stores the inspection measurement data for one rotation in the buffer memory 9 as it is. Record. Normally, the inspection signal is recorded at a higher speed than the recording speed of a general recording device, so that it is temporarily recorded in a buffer memory 9 capable of recording at a high speed.
【0018】そして、センサ3の次の1回転では、位置
監視装置5はモード切替え信号をモード切替装置7に出
力し、データ記録モードを指定してバッファメモリ9を
記録装置10側に切替え接続する。In the next rotation of the sensor 3, the position monitoring device 5 outputs a mode switching signal to the mode switching device 7, designates a data recording mode, and switches and connects the buffer memory 9 to the recording device 10. .
【0019】バッファメモリ9は、記録された1回転分
のデジタルの検査信号を、改めて磁気記録媒体等の記録
装置10に出力する。記録装置10は、バッファメモリ
9からのデジタル信号を、持ち運びや保存可能な記録媒
体に記録し直す。The buffer memory 9 outputs the recorded digital inspection signal for one rotation to the recording device 10 such as a magnetic recording medium. The recording device 10 re-records the digital signal from the buffer memory 9 on a portable or storable recording medium.
【0020】以上の処理を磁気方向走査ピッチ毎に繰り
返し、連続して検査計測データの記録行なっていく。な
お、センサ3の1回転当たりの時間は、モード切替え時
間の2倍と1回転分の検査計測データをバッファメモリ
9から記録装置10に移す時間の和の時間以上となる。The above-described processing is repeated for each scanning pitch in the magnetic direction, and the inspection measurement data is recorded continuously. The time per rotation of the sensor 3 is equal to or longer than the sum of twice the mode switching time and the time required to transfer the inspection measurement data for one rotation from the buffer memory 9 to the recording device 10.
【0021】また、位置監視装置5の検査計測データの
記録モードから検査計測モードへの切替え信号は、旋回
方向の位置信号を監視し、切替え時間分早めに出力す
る。上記の構成とすることにより、軸方向については、
設定された検査計測ピッチの半分のピッチで移動させる
こととし、軸方向の検査測定ピッチに対し旋回方向は2
回転するようにセンサ3の走査移動を行なうことが可能
となる。The switching signal from the inspection measurement data recording mode to the inspection measurement mode of the position monitoring device 5 monitors the turning direction position signal and outputs it earlier by the switching time. With the above configuration, regarding the axial direction,
It is to be moved at a half pitch of the set inspection measurement pitch, and the turning direction is 2 with respect to the axial inspection measurement pitch.
The scanning movement of the sensor 3 can be performed so as to rotate.
【0022】そして、最初の1回転において、検査計測
装置11は設定された旋回方向の検査計測ピッチで1回
転分まとめて計測を行ない、その結果の検査信号データ
をA/D変換装置8でデジタル信号に変換した後、バッ
ファメモリ9に一時的に蓄える。In the first rotation, the inspection / measurement device 11 collectively performs measurement for one rotation at the set inspection measurement pitch in the turning direction, and the resulting inspection signal data is digitally converted by the A / D converter 8. After conversion into a signal, the signal is temporarily stored in the buffer memory 9.
【0023】次の1回転では、計測は行なわずに、モー
ド切替装置7によりバッファメモリ9を記録装置10側
に切替え、蓄えた1回転分の検査計測データを記録装置
10に記録する。In the next one revolution, the buffer memory 9 is switched to the recording device 10 by the mode switching device 7 without measuring, and the stored inspection measurement data for one revolution is recorded in the recording device 10.
【0024】この結果、検査計測データを1回転分のま
とまりとして一度に記録装置へ記録できるようになるた
め、記録装置10への記録のための準備動作やそのため
の時間は一度で済むことから、1検査計測データ毎に行
なう場合に比較して短縮することが可能となり、全体と
して検査時間を短縮することができる。同様に、1回転
分の単位でまとめて動作を行なうことで、計測時におい
てもA/D変換装置8の設定やバッファメモリ9の設定
についても一部省略することができる。これについて
は、図2に1検査信号ずつ取込み記録を行なう場合と、
1回転分(nヶ)の検査信号単位で取込み記録を行なう
場合の処理時間の比較を示す。図2(a)は1検査信号
ずつ取込み記録を行なう場合の処理を示し、Taは検査
信号取込み時間、Tbは検査信号記録時間である。図2
(b)は1回転分(nヶ)の検査信号単位で取込み記録
を行なう場合の処理を示し、Tcは検査信号取込み時
間、Tdは検査信号記録時間である。図2(a),
(b)において、 Tc≦Ta×n Td≦Tb×n である。すなわち、検査信号の取込み時間には、検査計
測装置11の内部設定やバッファメモリ9の初期化等の
処理時間も含むため、nヶの検査信号をまとめて処理す
る場合には、単純にn倍とはならず、それより短い時間
となる。同様に検査信号の記録についても、記録装置1
0及びバッファメモリ9のデータ転送のための内部設定
の処理時間は、1検査計測データのみの場合のn倍と比
較して、nヶの検査計測データをまとめた場合の方が短
い値となる。As a result, the inspection measurement data can be recorded as a unit for one rotation at a time in the recording device, so that the preparation operation for recording in the recording device 10 and the time for the operation can be performed only once. This makes it possible to shorten the inspection time as compared with the case where the inspection measurement data is performed for each inspection measurement data, so that the inspection time can be shortened as a whole. Similarly, by performing the operation collectively in units of one rotation, it is possible to partially omit the setting of the A / D converter 8 and the setting of the buffer memory 9 even at the time of measurement. FIG. 2 shows the case where the recording is performed by one inspection signal at a time.
The comparison of the processing time in the case where the capture recording is performed in the unit of the inspection signal for one rotation (n) is shown. FIG. 2A shows a process in the case where the acquisition and recording are performed one inspection signal at a time, where Ta is the inspection signal acquisition time and Tb is the inspection signal recording time. FIG.
(B) shows the processing when the recording is performed in units of the inspection signal for one rotation (n), where Tc is the inspection signal acquisition time and Td is the inspection signal recording time. FIG. 2 (a),
In (b), Tc ≦ Ta × n Td ≦ Tb × n. In other words, the test signal acquisition time includes the processing time for the internal setting of the test measurement device 11 and the initialization of the buffer memory 9, so that when processing n test signals collectively, it is simply multiplied by n. But shorter time. Similarly, for the recording of the inspection signal, the recording device 1
The processing time of internal setting for data transfer of 0 and the buffer memory 9 is shorter when n pieces of test measurement data are combined than when n pieces of test measurement data are used alone. .
【0025】また、センサ3の移動量は、軸方向につい
ては従来と同じであるが、旋回方向については従来の2
倍の距離となり、記録時間や検査時間を短縮できること
から、同じ計測に対し旋回方向については2倍以上の移
動速度とすることができ、移動速度の低速制御による負
担を少なくすることができる。The amount of movement of the sensor 3 is the same in the axial direction as in the prior art, but the amount of movement in the turning direction is the same as in the prior art.
Since the distance becomes twice as long and the recording time and the inspection time can be shortened, the moving speed in the turning direction can be twice or more for the same measurement, and the burden due to the low speed control of the moving speed can be reduced.
【0026】更には、バッファメモリ9を充分なメモリ
容量とし、1回転分の検査計測データ量に余裕を持たせ
ておくことで、センサの移動速度をより速くすることが
できることから、旋回方向の検査計測ピッチをより細か
く採ることが可能となる。Further, by making the buffer memory 9 a sufficient memory capacity and providing a sufficient amount of inspection measurement data for one rotation, the moving speed of the sensor can be further increased. It is possible to take the inspection measurement pitch more finely.
【0027】[0027]
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、検
査におけるセンサの移動速度を少なくとも2倍以上とす
ることができ、全体の検査時間を短縮できると共に移動
制御が容易となる。また、センサの移動速度を速く設定
できることから、旋回方向の検査計測ピッチをより細か
く設定することができる。As described above in detail, according to the present invention, the moving speed of the sensor in the inspection can be at least twice or more, so that the entire inspection time can be shortened and the movement control becomes easy. Further, since the moving speed of the sensor can be set faster, the inspection measurement pitch in the turning direction can be set more finely.
【図1】本発明の一実施形態に係る検査信号記録装置の
全体構成を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing an overall configuration of a test signal recording device according to an embodiment of the present invention.
【図2】同実施形態における計測及び記録時間の関係を
示した図。FIG. 2 is a diagram showing a relationship between measurement and recording time in the embodiment.
【図3】従来の検査信号記録装置の全体構成を示すブロ
ック図。FIG. 3 is a block diagram showing the entire configuration of a conventional test signal recording device.
1 被検査対象 2 走査治具 3 センサ 4 走査治具駆動装置 5 位置監視装置 6 検査信号記録装置部 7 モード切替装置 8 A/D変換装置 9 バッファメモリ 10 記録装置 11 検査計測装置 REFERENCE SIGNS LIST 1 inspection target 2 scanning jig 3 sensor 4 scanning jig driving device 5 position monitoring device 6 inspection signal recording device section 7 mode switching device 8 A / D conversion device 9 buffer memory 10 recording device 11 inspection measurement device
Claims (1)
センサにより検査する検査装置において、 前記センサを旋回及び軸方向に移動させ、かつ、軸方向
の走査ピッチに対し2回転させる走査治具と、 前記走査治具を駆動する走査治具駆動装置と、 前記走査治具からのセンサの位置信号を監視し計測タイ
ミングを制御する位置監視装置と、 前記位置監視装置からの計測タイミングで前記センサを
駆動し、計測を行なう検査計測装置と、 前記検査計測装置からの計測信号をデジタル信号に変換
するアナログ/デジタル変換装置と、 前記アナログ−デジタル変換装置で変換された1回転分
のデジタル信号を一時記録するバッファメモリと、 前記バッファメモリに記録されたデジタル信号を最終的
に記録する記録装置と、 前記計測タイミングに応じて前記バッファメモリをアナ
ログ/デジタル変換装置側並びに記録装置側に接続切替
えを行なうモード切替装置とを具備し、前記センサの旋
回方向の1回転毎に検査信号の計測と計測結果の記録を
切替えながら連続して検査計測信号の記録を行なうこと
を特徴とする検査信号記録装置。1. An inspection apparatus for inspecting a tubular inspection object from the inside with a sensor, comprising: a scanning jig for rotating and moving the sensor in an axial direction and rotating twice with respect to a scanning pitch in an axial direction. A scanning jig driving device that drives the scanning jig, a position monitoring device that monitors a position signal of a sensor from the scanning jig and controls measurement timing, and that the sensor is controlled by the measurement timing from the position monitoring device. An inspection and measurement device for driving and measuring; an analog / digital conversion device for converting a measurement signal from the inspection and measurement device into a digital signal; and a digital signal for one rotation converted by the analog-to-digital conversion device. A buffer memory for recording; a recording device for finally recording the digital signal recorded in the buffer memory; A mode switching device for switching the connection of the buffer memory to the analog / digital conversion device side and the recording device side, and switches between the measurement of the inspection signal and the recording of the measurement result for each rotation of the sensor in the turning direction. An inspection signal recording device which continuously records an inspection measurement signal while recording.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP00377897A JP3145647B2 (en) | 1997-01-13 | 1997-01-13 | Inspection signal recording device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00377897A JP3145647B2 (en) | 1997-01-13 | 1997-01-13 | Inspection signal recording device |
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| JPH10197500A JPH10197500A (en) | 1998-07-31 |
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Family Applications (1)
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1997
- 1997-01-13 JP JP00377897A patent/JP3145647B2/en not_active Expired - Fee Related
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