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JP3146922B2 - Substrate transfer device - Google Patents
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JP3146922B2 - Substrate transfer device - Google Patents

Substrate transfer device

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JP3146922B2
JP3146922B2 JP10335295A JP10335295A JP3146922B2 JP 3146922 B2 JP3146922 B2 JP 3146922B2 JP 10335295 A JP10335295 A JP 10335295A JP 10335295 A JP10335295 A JP 10335295A JP 3146922 B2 JP3146922 B2 JP 3146922B2
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out table
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、マガジンから基板を1
枚ずつ取り出す基板搬送装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for removing a substrate from a magazine.
The present invention relates to a substrate transfer device that takes out sheets one by one.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶パネルのような基板を複数段収納す
るマガジンと、このマガジンに収納された基板を1枚ず
つ取り出す取り出しテーブルを備えた基板搬送装置が知
られている。このような基板搬送装置は、基板はマガジ
ンの正しい位置に収納されることを前提とするものであ
る。基板の収納位置が誤っている場合には、取り出しを
行う前に異常を検知できるようにしておく必要がある。
ところが、従来の基板搬送装置では、基板が誤った位置
に収納されていても、異常を検出できないことがあっ
た。
2. Description of the Related Art There has been known a substrate transport apparatus provided with a magazine for accommodating a plurality of substrates such as a liquid crystal panel and a take-out table for taking out the substrates accommodated in the magazine one by one. Such a substrate transfer device is based on the premise that the substrate is stored in a correct position in the magazine. If the storage position of the substrate is incorrect, it is necessary to detect an abnormality before taking out the substrate.
However, in the conventional substrate transfer device, an abnormality may not be detected even if the substrate is stored in an incorrect position.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】図8は、従来の基板搬
送装置のマガジンを示す拡大図である。図8において、
1は基板2を収納するマガジンである。図8に示すよう
に、本来基板2はマガジン1の各段に水平に収納されて
いなければならないのであるが、図8に示すように、基
板2が段違いの状態で斜めに収納されていることがあ
る。このような場合、従来の基板搬送装置では、異常を
検出することができなかった。
FIG. 8 is an enlarged view showing a magazine of a conventional substrate transfer apparatus. In FIG.
1 is a magazine for accommodating the substrate 2. As shown in FIG. 8, the substrate 2 should originally be stored horizontally in each stage of the magazine 1, but as shown in FIG. 8, the substrate 2 is stored diagonally in a different level. There is. In such a case, the conventional substrate transfer device cannot detect an abnormality.

【0004】そこで本発明は、基板が段違いで収納され
ている場合でも異常を事前に検出することができる基板
搬送装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a substrate transfer apparatus capable of detecting an abnormality in advance even when a substrate is stored at a different level.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明の基板搬送装置
は、基板を保持するマガジンと、マガジンに収納された
基板の下面を下受けしてマガジンから基板を取り出す取
り出しテーブルと、取り出しテーブルを移動させる移動
手段と、取り出しテーブルに設けられ、基板に接触する
接触子とを備え、接触子は、取り出しテーブルに対して
3次元方向に変位可能に支持されており、かつ接触子の
変位を検出するセンサを備える。
According to the present invention, there is provided a substrate transport apparatus comprising: a magazine for holding a substrate; a take-out table for receiving a lower surface of a substrate housed in the magazine to take out the substrate from the magazine; And a contact provided on the take-out table and in contact with the substrate. The contact is supported so as to be displaceable in the three-dimensional direction with respect to the take-out table, and detects a displacement of the contact. It has a sensor.

【0006】[0006]

【作用】上記構成により、基板がマガジンの中で段違い
に収納されている場合には、接触子が3次元方向のいず
れかに変位し、この変位をセンサが検出することによ
り、異常を基板の取り出し前に知ることができる。
According to the above construction, when the substrate is stowed in the magazine in a stepped manner, the contact is displaced in one of the three-dimensional directions. You can know before taking out.

【0007】[0007]

【実施例】次に図面を参照しながら、本発明の実施例を
説明する。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0008】図1は、本発明の一実施例における基板搬
送装置の斜視図である。図中、従来の構成を示す図8と
同様の構成要素については、同一符号を付すことにより
説明を省略する。図1において、3は基板2の下面を下
受けするマガジン1から基板2を取り出す取り出しテー
ブルである。4は取り出しテーブル3をY方向に移動さ
せるYテーブル、5はYテーブル4をZ方向に移動させ
るZテーブルである。15はZテーブル5を水平方向へ
回転させるθテーブルである。これらYテーブル4、Z
テーブル5,θテーブル15は、取り出しテーブル3の
移動手段に対応する。6はマガジン1から取り出された
基板2を載置する載置台である。
FIG. 1 is a perspective view of a substrate transfer apparatus according to one embodiment of the present invention. In the figure, the same components as those in FIG. 8 showing the conventional configuration are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In FIG. 1, reference numeral 3 denotes a take-out table for taking out the substrate 2 from a magazine 1 which receives the lower surface of the substrate 2. Reference numeral 4 denotes a Y table for moving the take-out table 3 in the Y direction, and reference numeral 5 denotes a Z table for moving the Y table 4 in the Z direction. Reference numeral 15 denotes a θ table for rotating the Z table 5 in the horizontal direction. These Y tables 4, Z
The table 5 and the θ table 15 correspond to moving means of the take-out table 3. Reference numeral 6 denotes a mounting table on which the substrate 2 taken out of the magazine 1 is mounted.

【0009】次に図2から図7を参照しながら、取り出
しテーブル3などの構成を詳細に説明する。図2におい
て、7は取り出しテーブル3の前面と平行な(X方向を
向く)第1辺7aと、この第1辺7aに対してほぼ直角
に連設される第2辺7bとを有する接触子である。接触
子7の第1辺7aは角柱状のゴム材からなる連結部8に
よって取り出しテーブル3の前面に、3次元方向に弾性
変位可能に支持されている。
Next, the structure of the take-out table 3 and the like will be described in detail with reference to FIGS. In FIG. 2, reference numeral 7 denotes a contact having a first side 7a parallel to the front surface of the take-out table 3 (facing in the X direction) and a second side 7b provided substantially at right angles to the first side 7a. It is. The first side 7a of the contact 7 is supported on the front surface of the take-out table 3 by a connecting portion 8 made of a rubber material in the form of a prism so as to be elastically displaceable in a three-dimensional direction.

【0010】図3、図4にも示すように、第1辺7aの
上部には、それぞれ等しい高さを有する第1垂直突起
9、第2垂直突起10が設けられている。これらの第1
垂直突起9、第2垂直突起10は、ゴム材からなり、基
板2の下面に接触するように構成されており、しかもそ
の上面の高さは、取り出しテーブル3の上面の高さと面
一になるようにしてある。11は第1辺7aの先端部の
みに前方に突設された水平突起である。この水平突起1
1も、基板2に接触する際の損傷を防ぐため、第1垂直
突起9、第2垂直突起10と同様にゴム材から構成され
ている。
As shown in FIGS. 3 and 4, a first vertical projection 9 and a second vertical projection 10 having the same height are provided on the first side 7a. These first
The vertical projections 9 and the second vertical projections 10 are made of a rubber material and are configured to contact the lower surface of the substrate 2, and the height of the upper surface is flush with the height of the upper surface of the take-out table 3. It is like that. Reference numeral 11 denotes a horizontal projection protruding forward only at the tip of the first side 7a. This horizontal projection 1
1 is also made of a rubber material like the first vertical projection 9 and the second vertical projection 10 in order to prevent damage when coming into contact with the substrate 2.

【0011】また第2辺7bの先端部には、小さな透孔
7cが厚み方向に開設されている。そして、取り出しテ
ーブル3の側部に、センサ12(門型の光透過型のセン
サ)が設けられている。接触子7が変位をしない状態に
おいて、第2辺7bに開設された透孔7cを介して光路
Nが形成され、センサ12の光は遮光されないようにな
っている。
At the tip of the second side 7b, a small through hole 7c is formed in the thickness direction. A sensor 12 (gate-type light transmission type sensor) is provided on the side of the take-out table 3. In a state where the contact 7 is not displaced, an optical path N is formed through a through hole 7c formed in the second side 7b, so that light from the sensor 12 is not blocked.

【0012】一方、接触子7が何らかの理由により、3
次元方向のいずれかに無視できない程度変位した際、透
孔7cの位置が光路Nからずれて、第2辺7bの透孔7
c以外の部分が光路Nを閉じ、センサ12の光が遮光さ
れることにより、この変位を検出できるようになってい
る。
On the other hand, for some reason, the contact 7
When displaced in any of the dimensional directions to the extent that it cannot be ignored, the position of the through hole 7c is shifted from the optical path N, and the
The portion other than c closes the optical path N and the displacement of the sensor 12 is detected by blocking the light from the sensor 12.

【0013】次に、図5から図7を参照しながら、接触
子7の変位を検出する過程を具体的に説明する。図5を
参照しながら、基板2が段違いの状態で斜めにマガジン
1に収納されている場合の検出動作を説明する。
Next, the process of detecting the displacement of the contact 7 will be described in detail with reference to FIGS. With reference to FIG. 5, a detection operation in a case where the substrate 2 is stored in the magazine 1 diagonally in a stepped state will be described.

【0014】まず、Yテーブル4及びZテーブル5を駆
動することにより、取り出しテーブル3を斜めになった
基板2のやや下方に挿入する。次に、Zテーブル5を駆
動して、わずかに取り出しテーブル3及び接触子7を上
昇させ、斜めになった基板2の下面に接触させる。
First, by driving the Y table 4 and the Z table 5, the take-out table 3 is inserted slightly below the slanted substrate 2. Next, the Z table 5 is driven to slightly raise the take-out table 3 and the contact 7 to make contact with the inclined lower surface of the substrate 2.

【0015】このようにすると、図5に示すように、第
1辺7aの上面に設けられた第1垂直突起9、第2垂直
突起10が、斜めになった基板2の下面に接触すること
になる。図示しているように、基板2は斜めになってい
るので、第1垂直突起9、第2垂直突起10も、斜めに
基板2の下面に当接する。これにより、連結部8はねじ
れる状態になる。このとき、図6に示しているように、
連結部8がねじれて、第2辺7bがやや上方に移動する
ことにより、第2辺7bの先端部に開設された透孔7c
が光路Nからずれてしまい、センサ12の光は、第2辺
7bの透孔7でない部分によって遮光される。その結
果、センサ12は、接触子7の異常な変位を検出するの
である。
In this way, as shown in FIG. 5, the first vertical projections 9 and the second vertical projections 10 provided on the upper surface of the first side 7a come into contact with the lower surface of the oblique substrate 2. become. As shown in the figure, the substrate 2 is inclined, so that the first vertical projections 9 and the second vertical projections 10 also abut on the lower surface of the substrate 2 obliquely. Thereby, the connecting portion 8 is in a twisted state. At this time, as shown in FIG.
When the connecting portion 8 is twisted and the second side 7b moves slightly upward, the through-hole 7c opened at the tip of the second side 7b.
Deviates from the optical path N, and the light of the sensor 12 is blocked by a portion other than the through hole 7 on the second side 7b. As a result, the sensor 12 detects an abnormal displacement of the contact 7.

【0016】以上の動作により、従来検出できなかった
異常(マガジン1に基板2が斜めに収納されているこ
と)を検出できる。また、取り出しテーブル3をマガジ
ン1に挿入する際に、接触子7が基板2の端面に当接し
てしまい、そのまま取り出しテーブル3をマガジン1側
に押し込むと、基板2が破損する場合がある。このよう
な異常を検出する過程を図7を参照しながら説明する。
With the above operation, it is possible to detect an abnormality that cannot be detected conventionally (the substrate 2 is stored in the magazine 1 at an angle). Further, when the take-out table 3 is inserted into the magazine 1, the contact 7 comes into contact with the end surface of the substrate 2, and if the take-out table 3 is pushed into the magazine 1 as it is, the substrate 2 may be damaged. The process of detecting such an abnormality will be described with reference to FIG.

【0017】図7は、取り出しテーブル3をマガジン1
内へ挿入する際に、接触子7の第1辺7aが基板2の端
面に当接した状態を示す。さて上述したように、第1辺
7aには片側のみ水平突起11が突設されている。この
とき、図7に示すように、この水平突起11と、水平突
起11が設けられていない側の第1辺7aの前面とが、
基板2の端面に当接することになる。このとき連結部8
は、斜めにやや曲がり、これに応じて第2辺7bも同方
向に変位する。この変位によって、光路Nから透孔7c
がずれてしまい、上述と同様に、センサ12の光が遮光
され、このような異常を検出することができる。
FIG. 7 shows a state in which the take-out table 3 is placed in the magazine 1
This shows a state where the first side 7 a of the contact 7 is in contact with the end face of the substrate 2 when inserted into the inside. As described above, the first side 7a is provided with the horizontal projection 11 on only one side. At this time, as shown in FIG. 7, the horizontal projection 11 and the front surface of the first side 7a on the side where the horizontal projection 11 is not provided are
It comes into contact with the end face of the substrate 2. At this time, the connecting portion 8
Is slightly bent obliquely, and the second side 7b is accordingly displaced in the same direction. This displacement causes the light path N to pass through the through hole 7c.
As described above, the light of the sensor 12 is blocked, and such an abnormality can be detected.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明の基板搬送装置は、基板を保持す
るマガジンと、マガジンに収納された基板の下面を下受
けしてマガジンから基板を取り出す取り出しテーブル
と、取り出しテーブルを移動させる移動手段と、取り出
しテーブルに設けられ、基板に接触する接触子とを備
え、接触子は、取り出しテーブルに対して3次元方向に
変位可能に支持されており、かつ接触子の変位を検出す
るセンサを備えるので、マガジンに基板が斜めに収納さ
れている場合など、種々の異常を検出することができ、
誤動作による基板の破損を事前に回避することができ
る。
According to the present invention, there is provided a substrate transport apparatus comprising: a magazine for holding a substrate; a take-out table for receiving the lower surface of the substrate housed in the magazine to take out the substrate from the magazine; and a moving means for moving the take-out table. A contact provided on the take-out table and in contact with the substrate. The contact is supported so as to be displaceable in the three-dimensional direction with respect to the take-out table, and includes a sensor for detecting the displacement of the contact. , Various abnormalities can be detected, such as when the substrate is stored diagonally in the magazine,
Breakage of the substrate due to malfunction can be avoided in advance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例における基板搬送装置の斜視
FIG. 1 is a perspective view of a substrate transfer device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例における取り出しテーブルの
拡大斜視図
FIG. 2 is an enlarged perspective view of a take-out table according to one embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例における取り出しテーブルの
平面図
FIG. 3 is a plan view of a take-out table according to one embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例における基板搬送装置の動作
説明図
FIG. 4 is an explanatory diagram of an operation of the substrate transfer apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施例における基板搬送装置の動作
説明図
FIG. 5 is an explanatory diagram of an operation of the substrate transfer device according to one embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例における基板搬送装置の動作
説明図
FIG. 6 is a diagram illustrating the operation of the substrate transfer apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図7】本発明の一実施例における基板搬送装置の動作
説明図
FIG. 7 is an explanatory diagram of the operation of the substrate transfer apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図8】従来の基板搬送装置のマガジンを示す拡大図FIG. 8 is an enlarged view showing a magazine of a conventional substrate transfer apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 マガジン 2 基板 3 取り出しテーブル 4 Yテーブル 5 Zテーブル 7 接触子 7a 第1辺 7b 第2辺 12 センサ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Magazine 2 Substrate 3 Take-out table 4 Y table 5 Z table 7 Contact 7a 1st side 7b 2nd side 12 Sensor

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】基板を保持するマガジンと、前記マガジン
に収納された基板の下面を下受けして前記マガジンから
基板を取り出す取り出しテーブルと、前記取り出しテー
ブルを移動させる移動手段と、前記取り出しテーブルに
設けられ、基板に接触する接触子とを備え、 前記接触子は、前記取り出しテーブルに対して3次元方
向に変位可能に支持されており、かつ前記接触子の変位
を検出するセンサを備えたことを特徴とする基板搬送装
置。
1. A magazine for holding a substrate, a take-out table for receiving a lower surface of a substrate housed in the magazine to take out a substrate from the magazine, a moving means for moving the take-out table, And a contact that comes into contact with the substrate. The contact is supported so as to be displaceable in a three-dimensional direction with respect to the take-out table, and includes a sensor that detects displacement of the contact. A substrate transfer device characterized by the above-mentioned.
【請求項2】前記接触子は、前記取り出しテーブルの前
面に3次元方向について変位可能に支持される第1辺
と、この第1辺に対してほぼ直角に連設された第2辺と
を有し、前記センサは、前記第2辺により遮光されるこ
とにより前記接触子の変位を検出するものであることを
特徴とする請求項1記載の基板搬送装置。
2. The contact device comprises: a first side supported on a front surface of the take-out table so as to be displaceable in a three-dimensional direction; and a second side connected to the first side at a substantially right angle. 2. The substrate transfer device according to claim 1, wherein the sensor detects displacement of the contact by being shielded by the second side. 3.
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