JP3166147B2 - 試験信号発生装置 - Google Patents
試験信号発生装置Info
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Description
象(IC,LSIなど)に各種試験信号を与えて試験を
行うICテスタに用いられる試験信号発生装置に関し、
各種試験信号を出力することができると共に、設定時間
が短く、メモリ容量が小さい試験信号発生装置に関する
ものである。
器やAM復調器の試験を行う場合、正弦波発生器から出
力される信号を変調器によりFM変調やAM変調を行
い、FM復調器やAM復調器に試験信号として与えて試
験を行っていた。しかし、FM復調器やAM復調器の試
験を行う場合、このような正弦波を変調した試験信号だ
けでは足りず、2つの周波数の信号を合成したツートン
信号を変調した信号や三角波を変調した信号も試験信号
として必要とする。また、TV音声受信器やFMステレ
オ受信器等の試験を行うためには、TV音声多重信号や
FMステレオ信号を必要とするが、上記の構成では出力
することができなかった。そこで、このような試験信号
を発生する場合は、メモリに試験信号を記憶し、このメ
モリからデータを読み出して、D/A変換し、FM復調
器,AM復調器,TV音声受信器,FMステレオ受信器
等の試験を行っていた。
復調器の試験は、試験信号成分に高周波の搬送波が含ま
れるため、多くのメモリ容量が必要になる。これによ
り、一般的にメモリは高価なため、装置のコストが上昇
してしまう。また、変調演算や試験信号をメモリに格納
する設定時間が多く必要になってしまう。
信号は、多重信号のため、合成する信号の周波数の最小
公倍数のメモリ容量を必要とするため、信号が多くなる
と、メモリ容量も多くなってしまう。また、多重信号の
変調成分の変調演算、つまり、設定時間が多く必要にな
ってしまう。そこで、本発明の目的は、各種の試験信号
を発生することができると共に、設定時間が短く、メモ
リ容量が小さい試験信号発生装置を実現することにあ
る。
憶するメモリと、試験信号の基本となる正弦波信号を発
生する正弦波発生器と、前記メモリからの任意波形と正
弦波発生器からの正弦波信号とを選択し出力する第1、
第2のセレクタからなる切換部と、この切換部の第2の
セレクタからの出力を入力し、この信号を変調信号とし
て変調を行う変調器と、前記切換部の第1のセレクタか
らの出力と前記変調器からの出力とを加算し、試験信号
として出力する加算器と、を有し、前記メモリに任意波
形を設定し、前記第1、第2のセレクタにより、任意波
形、正弦波信号を選択し、試験信号として各種多重信号
が出力できることを特徴とするものである。
正弦波は、正弦波発生器により発生する。複雑な信号
(任意波形)はメモリに記憶させて発生する。切換部は
これらの出力を切り換えて変調器あるいは加算器に与え
る。そして、加算器は、切換部からの出力と変調器から
の出力とを加算し、試験信号として出力する。
る。図1は本発明の一実施例を示した構成図である。図
において、1はメモリで、任意波形を記憶する。2は正
弦波発生器(例えば、ダイレクト・デジタル・シンセサ
イザ)で、正弦波信号を発生する。3は切換部で、メモ
リ1からの出力と正弦波発生器2からの正弦波信号とを
入力し、制御部(図示せず)の制御により切り換える。
そして、切換部3は、セレクタ31,32で構成され、
それぞれ、メモリ1,正弦波発生器2,無入力を選択し
出力する。4は変調器で、切換部3(セレクタ32)か
らの出力を入力し、例えば、FM変調,AM変調等の変
調を行う。5は加算器で、切換部3(セレクタ31)か
らの出力と変調器4からの出力とを加算し、試験信号と
して出力する。
験する場合,TV音声受信器を試験する場合について以
下で説明する。 FM復調器を試験する場合。 ここでは、試験信号として、正弦波を変調した信号と、
ツートン信号を変調した信号とを出力する例を説明す
る。メモリ1には任意波形としてツートン信号を記憶さ
せる。
力する例を説明する。制御部が、セレクタ31に無信号
を選択させ、セレクタ32に正弦波発生器2を選択させ
る。これにより、メモリ1のデータは利用されない。変
調器4は、正弦波発生器2が出力する正弦波信号をセレ
クタ32を介して入力し、FM変調を行う。そして、加
算器5は、セレクタ31からの無信号と変調器4からの
信号とを加算し、試験信号として出力する。この試験信
号をD/A変換し、FM復調器(被試験対象)に与え
て、ICテスタは試験を行う。
する場合は、制御部はセレクタ31に無信号を選択さ
せ、セレクタ32にメモリ1を選択させる。これによ
り、正弦波発生器2は利用されない。変調器4は、メモ
リ1からのデータをセレクタ32を介して入力し、FM
変調を行う。そして、加算器5は、セレクタ31からの
無信号と変調器4からの信号とを加算し、試験信号とし
て出力する。この試験信号をD/A変換し、FM復調器
(被試験対象)に与えて、ICテスタは試験を行う。
である。ここで、メモリ1には、L+R信号とパイロッ
ト信号との合成信号を記憶させる。制御部が、セレクタ
31にメモリ1を選択させ、セレクタ32に正弦波発生
器2を選択させる。ここで、正弦波発生器2が出力する
正弦波が、L−R信号である。変調器4は、正弦波発生
器2が出力する正弦波信号をセレクタ32を介して入力
し、FM変調を行う。そして、加算器5は、セレクタ3
1を介したメモリ1からのデータと、変調器4からの信
号とを加算し、試験信号として出力する。この試験信号
をD/A変換し、TV音声受信器(被試験対象)に与え
て、ICテスタは試験を行う。
は、正弦波発生器2により発生し、複雑な信号はメモリ
1に記憶させ、これらを切換部3により切り換え、変調
器4により変調を行い、加算器5により加算しているの
で、各種の試験信号を発生することができると共に、メ
モリ容量を小さくすることができる。
調演算を必要としないため、設定時間を短くすることが
できる。そして、復調器の試験においては、変調器4に
より変調を行うので、搬送波成分をメモリ1に格納する
必要がないため、メモリ1にデータを格納する時間、つ
まり、設定時間を短くすることができる。
なく、実施例において、デジタル回路で構成された例を
示したが、アナログ回路で構成してもよい。その場合、
メモリ1の後段にD/A変換器が必要になる。また、切
換部3が無信号を選択する構成を示したが、切換部3
は、メモリ1と正弦波発生器2との切り換えだけを行
い、スイッチ手段を信号経路に設け、信号を後段に伝達
させない構成にしてもよい。そして、切換部3は、制御
部により制御される構成を示したが、手動で切り換える
構成でもよい。
る。試験信号の基本となる正弦波は、正弦波発生器によ
り発生し、複雑な信号はメモリに記憶させ、これらを切
換部により切り換え、変調器により、変調を行い、加算
器により加算を行っているので、各種の試験信号を発生
することができると共に、メモリ容量を小さくすること
ができる。
演算を必要としないため、設定時間を短くすることがで
きる。そして、復調器の試験においては、変調器により
変調を行うので、搬送波成分をメモリに格納する必要が
ないため、メモリにデータを格納する時間、つまり、設
定時間を短くすることができる。
図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 任意波形を記憶するメモリと、 試験信号の基本となる正弦波信号を発生する正弦波発生
器と、 前記メモリからの任意波形と正弦波発生器からの正弦波
信号とを選択し出力する第1、第2のセレクタからなる
切換部と、 この切換部の第2のセレクタからの出力を入力し、この
信号を変調信号として変調を行う変調器と、 前記切換部の第1のセレクタからの出力と前記変調器か
らの出力とを加算し、試験信号として出力する加算器
と、 を有し、前記メモリに任意波形を設定し、前記第1、第
2のセレクタにより、任意波形、正弦波信号を選択し、
試験信号として各種多重信号が出力できることを特徴と
する試験信号発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33881395A JP3166147B2 (ja) | 1995-12-26 | 1995-12-26 | 試験信号発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33881395A JP3166147B2 (ja) | 1995-12-26 | 1995-12-26 | 試験信号発生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09178826A JPH09178826A (ja) | 1997-07-11 |
| JP3166147B2 true JP3166147B2 (ja) | 2001-05-14 |
Family
ID=18321703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33881395A Expired - Lifetime JP3166147B2 (ja) | 1995-12-26 | 1995-12-26 | 試験信号発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3166147B2 (ja) |
-
1995
- 1995-12-26 JP JP33881395A patent/JP3166147B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09178826A (ja) | 1997-07-11 |
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