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JP3167280B2 - Delay circuit - Google Patents
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JP3167280B2 - Delay circuit - Google Patents

Delay circuit

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JP3167280B2
JP3167280B2 JP27123696A JP27123696A JP3167280B2 JP 3167280 B2 JP3167280 B2 JP 3167280B2 JP 27123696 A JP27123696 A JP 27123696A JP 27123696 A JP27123696 A JP 27123696A JP 3167280 B2 JP3167280 B2 JP 3167280B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体素子により
構成されたアナログ信号を遅延する遅延回路に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a delay circuit for delaying an analog signal formed by a semiconductor device.

【0002】[0002]

【従来の技術】アナログ信号を遅延することができ、半
導体素子により構成されLSI化が容易で、しかも低電
源電圧に対応できる遅延回路の例として、特開平5−3
08247号公報に開示されたもので図5に示すような
回路が知られている。
2. Description of the Related Art An example of a delay circuit which can delay an analog signal, is composed of semiconductor elements, is easy to be integrated into a LSI, and can cope with a low power supply voltage is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 5-3 / 1993.
A circuit as shown in FIG. 5 which is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 08-247 is known.

【0003】図5で、電流源I501の電流値をIO1
し、トランジスタQ501のエミッタ抵抗をreとする
とreは(式1)で示される。
In FIG. 5, if the current value of the current source I501 is I O1 and the emitter resistance of the transistor Q501 is re, re is given by (Equation 1).

【0004】[0004]

【数1】 (Equation 1)

【0005】(式1)より、reは電流源I501の電
流値IO1によって制御が可能であることがわかる。次
に、トランジスタQ501の電流増幅率hfeが十分大
きく、かつ、回路の浮遊容量が十分に小さいとすると、
入力端子501から出力端子502までの伝達関数H
(ω)は(式2)で示される。
[0005] than (Equation 1), re is understood that it is possible to control the current value I O1 of the current source I 501. Next, assuming that the current amplification factor hfe of the transistor Q501 is sufficiently large and the stray capacitance of the circuit is sufficiently small,
Transfer function H from input terminal 501 to output terminal 502
(Ω) is represented by (Equation 2).

【0006】[0006]

【数2】 (Equation 2)

【0007】また、第1の抵抗R501の抵抗値と第2
の抵抗R502の抵抗値とが等しく、第1の容量C50
1の容量値と第2の容量C502の容量値とが等しい
時、(式2)は約分することができるので、簡単にな
る。
Further, the resistance value of the first resistor R501 and the resistance value of the second resistor
The resistance value of the resistor R502 is equal to that of the first capacitor C50.
When the capacitance value of the first capacitor C502 is equal to the capacitance value of the second capacitor C502, the expression (2) can be reduced, which simplifies the operation.

【0008】R2 =R1 =R,C1 =C2 =Cとする
と、入力端子501から出力端子502までの伝達関数
H(jω)は(式3)となる。
Assuming that R 2 = R 1 = R and C 1 = C 2 = C, the transfer function H (jω) from the input terminal 501 to the output terminal 502 is given by (Equation 3).

【0009】[0009]

【数3】 (Equation 3)

【0010】図6(a),(b)は(式3)の周波数特
性を説明したものである。(式3)は(式2)の特殊な
場合であるが、本従来例の特徴をよく表している。(式
3)の振幅特性G(ω)は(式4)となる。
FIGS. 6 (a) and 6 (b) explain the frequency characteristics of (Equation 3). (Equation 3) is a special case of (Equation 2), but well represents the features of the conventional example. The amplitude characteristic G (ω) of (Equation 3) is (Equation 4).

【0011】[0011]

【数4】 (Equation 4)

【0012】また、群遅延特性Td(ω)は(式5)と
なる。
The group delay characteristic Td (ω) is given by (Equation 5).

【0013】[0013]

【数5】 (Equation 5)

【0014】なお、低域での遅延時間Tdoは、(式
6)で示される。
Note that the delay time Tdo in the low band is represented by (Equation 6).

【0015】[0015]

【数6】 (Equation 6)

【0016】図6(a)は、振幅特性G(ω)を、縦横
軸共対数表示で折れ線近似して図示したものである。
図6(b)は、群遅延特性Td(ω)を横軸のみ対数表
示で図示したものである。図6(a),(b)におい
て、横軸(周波数軸)は正規化していて、数値はωRC
の値である。そして、それぞれの特性は、re=R/2
の場合と、reを2倍及び半分にした場合である。
FIG. 6 (a) shows the amplitude characteristic G (ω) obtained by approximating the amplitude characteristic G (ω) by a polygonal line using a logarithmic representation in the vertical and horizontal axes.
FIG. 6B illustrates the group delay characteristic Td (ω) in logarithmic representation only on the horizontal axis. 6A and 6B, the horizontal axis (frequency axis) is normalized, and the numerical value is ωRC
Is the value of And each characteristic is re = R / 2
And the case where re is doubled and halved.

【0017】図6(a)から、振幅特性は、re=R/
2のとき高域までフラット、re<R/2のとき高域が
持ち上がり、re>R/2のとき高域が減衰することが
分かる。また、図6(b)から、低域遅延時間は、re
=R/2のとき2RC、re<R/2のとき減少、re
>R/2のとき増加することが分かり、周波数特性は、
ω=0.1/RCまでほぼフラット、reが大きくなっ
て遅延時間が増加するとフラットな帯域が狭まることが
分かる。
From FIG. 6A, the amplitude characteristic is represented by re = R /
It can be seen that when the value is 2, the high region is flat, when re <R / 2, the high region is lifted, and when re> R / 2, the high region is attenuated. Also, from FIG. 6B, the low-band delay time is re
= R / 2, 2RC, re <R / 2, decrease, re
> R / 2, the frequency characteristic is
It can be seen that the flat band narrows when ω = 0.1 / RC, and when re increases and the delay time increases, the flat band narrows.

【0018】図6(a),(b)を比べた場合、reの
変化に対し、振幅特性のフラットな領域は遅延時間のフ
ラットな領域より十分広いので、図5の回路は遅延特性
の帯域だけを注意すればよい。
6 (a) and 6 (b), since the flat region of the amplitude characteristic is sufficiently wider than the flat region of the delay time with respect to the change of re, the circuit of FIG. Just pay attention.

【0019】次に、図7は、図5で示したNPN型トラ
ンジスタを用いて構成したNPN型遅延回路721とそ
の逆導電型のPNP型トランジスタを用いて構成したP
NP型遅延回路722とを直列に接続し、単位回路とし
て構成した遅延回路を示すものである。
FIG. 7 shows an NPN delay circuit 721 constructed using the NPN transistors shown in FIG. 5 and a PPN transistor constructed using PNP transistors of the opposite conductivity type.
This shows a delay circuit in which an NP-type delay circuit 722 is connected in series and configured as a unit circuit.

【0020】図7のように、NPN型とPNP型トラン
ジスタを用いたNPN型遅延回路721とPNP型遅延
回路722とを直列に接続する理由は、入力端子501
と出力端子502との直流電位を等しくなるように構成
し、電源電圧のダイナミックレンジを有効活用するため
である。
As shown in FIG. 7, the reason why an NPN type delay circuit 721 and a PNP type delay circuit 722 using NPN type and PNP type transistors are connected in series is that the input terminal 501
This is to make the DC potentials of the power supply and the output terminal 502 equal to each other, and to effectively utilize the dynamic range of the power supply voltage.

【0021】図7で、電流源I701とI702の電流
値がそれぞれIO1,IO2で、IO1とIO2が等しいとする
と、トランジスタQ701とQ702のエミッタ抵抗r
eは等しくなり、これらreは(式1)で示されるよう
に、電流源I701とI702の電流値IO1,IO2によ
って制御が可能である。
In FIG. 7, if the current values of the current sources I701 and I702 are I O1 and I O2 , respectively, and I O1 and I O2 are equal, the emitter resistance r of the transistors Q701 and Q702 is
e become equal, and these re can be controlled by the current values I O1 and I O2 of the current sources I701 and I702 as shown by (Equation 1).

【0022】次に、図5と同様に、トランジスタQ70
1とQ702の電流増幅率hfeが十分大きく、かつ、
回路の浮遊容量は十分に小さいとし、さらに、抵抗R7
01,R702,R704,R705の抵抗値が等し
く、容量C701,C702,C703,C704の容
量値が等しいとすると、入力端子701から出力端子7
02までの伝達関数H(ω)は(式7)で示される。
Next, as in FIG.
1 and Q702 have sufficiently large current amplification factors hfe, and
The stray capacitance of the circuit is assumed to be sufficiently small, and the resistance R7
01, R702, R704, and R705 have the same resistance value and the capacitors C701, C702, C703, and C704 have the same capacitance value, the input terminal 701 to the output terminal 7
The transfer function H (ω) up to 02 is represented by (Equation 7).

【0023】[0023]

【数7】 (Equation 7)

【0024】また、(式7)より遅延時間Td(ω)を
求めると(式8)になる。
Further, when the delay time Td (ω) is obtained from (Equation 7), it becomes (Equation 8).

【0025】[0025]

【数8】 (Equation 8)

【0026】また低域での遅延時間Tdoは、(式9)
で示される。
The delay time Tdo in the low frequency band is given by (Equation 9)
Indicated by

【0027】[0027]

【数9】 (Equation 9)

【0028】電流源I701とI702の電流値IO1
O2を制御することでreが変化するので、図7の回路
は遅延時間TdとTdoの制御が可能である。また、図
5と同様に、図7は、re=R/2のとき全域通過特性
となる。
The current values I O1 and I O1 of the current sources I701 and I702,
Since re changes by controlling I O2 , the circuit of FIG. 7 can control the delay times Td and Tdo. Also, as in FIG. 5, FIG. 7 has an all-pass characteristic when re = R / 2.

【0029】図7で、トランジスタQ701とQ702
のベース−エミッタ間電圧が等しければ、入力端子70
1と出力端子702の直流電位が等しくなり、低電源電
圧で多段接続を行ってもダイナミックレンジの確保が可
能になり、大きな遅延を得ることができる。
In FIG. 7, transistors Q701 and Q702
If the base-emitter voltages are equal, the input terminal 70
1 and the DC potential of the output terminal 702 become equal, so that a dynamic range can be ensured even when multiple stages are connected with a low power supply voltage, and a large delay can be obtained.

【0030】なお、この回路をICに内蔵する場合、N
PN型とPNP型のトランジスタの特性の違い、個々の
トランジスタのばらつきにより、単位遅延回路の入出力
電圧に差が生じ、ダイナミックレンジを制限する。そし
て、この出力電圧のばらつきは、段数を多くするほど大
きくなる。しかし、これはNPN型遅延回路721の電
流源I701の電流値IO1とPNP型遅延回路722の
電流源I702の電流値IO2との比を制御する回路を追
加することで、補正することができる。
When this circuit is built in an IC, N
The difference between the characteristics of the PN-type and PNP-type transistors and the variation of each transistor causes a difference in the input / output voltage of the unit delay circuit, thereby limiting the dynamic range. The variation in the output voltage increases as the number of stages increases. However, this can be corrected by adding a circuit that controls the ratio between the current value I O1 of the current source I 701 of the NPN delay circuit 721 and the current value I O2 of the current source I 702 of the PNP delay circuit 722. it can.

【0031】[0031]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな従来の遅延回路においては、図6(a),(b)か
らもわかるとおり、回路の帯域はRCの積で決定され、
振幅特性および群遅延特性が共に、re=R/2で最も
フラットになるため、reの値を決定する電流源の電流
値IO1,IO2もある範囲で制限を受けることになる。こ
れに対して、実際の回路には浮遊容量等の様々な負荷が
加わるので、入力信号の振幅や周波数によっては、電流
源の電流値の制限のために、回路に駆動能力不足が生
じ、特に高域の特性の劣化の原因となる。
However, in the conventional delay circuit as described above, as can be seen from FIGS. 6A and 6B, the band of the circuit is determined by the product of RC.
Since both the amplitude characteristic and the group delay characteristic become the flattest at re = R / 2, the current values I O1 and I O2 of the current sources that determine the value of re are also limited in a certain range. On the other hand, since various loads such as stray capacitances are applied to the actual circuit, depending on the amplitude and frequency of the input signal, the drive capacity of the circuit is insufficient due to the limitation of the current value of the current source. This may cause deterioration of high frequency characteristics.

【0032】また、特に図7に示す単位遅延回路の場合
には、入出力の電位差の補正のために、電流源電流IO1
と電流源電流IO2の比を制御することで、NPN型トラ
ンジスタとPNP型トランジスタのベース−エミッタ間
電圧差の補正を行っているが、現実の問題として、両ベ
ース−エミッタ間電位差のバラツキの補正のために、各
電流源電流IO1とIO2とがかなりのバラツキを持ち、N
PN型遅延回路721とPNP型遅延回路722の周波
数特性や遅延量が使用に影響するほどのバラツキや2次
歪みを持ったり、電流源電流不足により駆動能力不足を
生じることの原因となってしまう。
In particular, in the case of the unit delay circuit shown in FIG. 7, the current source current I O1
The base-emitter voltage difference between the NPN transistor and the PNP transistor is corrected by controlling the ratio between the current and the current source current I O2 . Due to the correction, the respective current source currents I O1 and I O2 have considerable variation, and N
The frequency characteristics and the delay amount of the PN delay circuit 721 and the PNP delay circuit 722 may have variations and secondary distortions that affect the use, and may cause insufficient driving capability due to insufficient current source current. .

【0033】本発明は、上記の問題点を解決するもの
で、各素子のバラツキに対するNPN型遅延回路とPN
P型遅延回路間の特性のバラツキや直流伝送性のバラツ
キを防ぐことができ、かつ、遅延回路としての特性に影
響を与えることなく駆動能力を強化することができる遅
延回路を提供する。
The present invention solves the above-mentioned problems. An NPN-type delay circuit and a PN
Provided is a delay circuit that can prevent variations in characteristics between P-type delay circuits and variations in DC transmission characteristics, and can enhance driving capability without affecting characteristics as a delay circuit.

【0034】[0034]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め本発明の遅延回路は、NPN型トランジスタとPNP
型トランジスタのベース−エミッタ間電圧がばらついた
ときの入出力電圧のバラツキを、NPN型遅延回路の回
路電流とPNP型遅延回路の回路電流の相対値を変化さ
せて補正する際に、ベース−エミッタ間電圧のバラツキ
に対する回路電流のバラツキをなるべく少なくすること
を特徴とする。
To solve the above problems, a delay circuit according to the present invention comprises an NPN transistor and a PNP transistor.
When correcting the variation of the input / output voltage when the base-emitter voltage of the transistor varies, the relative current between the circuit current of the NPN delay circuit and the circuit current of the PNP delay circuit is corrected. It is characterized in that the variation of the circuit current with respect to the variation of the inter-voltage is reduced as much as possible.

【0035】以上により、各素子のバラツキに対するN
PN型遅延回路とPNP型遅延回路間の特性のバラツキ
や直流伝送性のバラツキを防ぐことができ、かつ、遅延
回路としての特性に影響を与えることなく駆動能力を強
化することができる。
As described above, N for the variation of each element
Variations in characteristics between the PN-type delay circuit and the PNP-type delay circuit and variations in DC transmission characteristics can be prevented, and the driving capability can be enhanced without affecting the characteristics of the delay circuit.

【0036】[0036]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の遅延回
路は、ベースを入力端子に、エミッタを第3の抵抗の一
端に、コレクタを第2の抵抗を介して第2の基準電位点
と第2の容量の一端に接続した一導電型の第1のトラン
ジスタと、ベースを第1の抵抗の一端と第2の容量の一
端に、エミッタを第6の抵抗の一端に、コレクタを第5
の抵抗を介して第1の基準電位点と第4の容量の一端に
接続した逆導電型の第2のトランジスタとを設け、第3
の抵抗の一端を、第1の電流源を介して第1の基準電位
点と第1の抵抗の一端と第1の容量を介して第1もしく
は第2の基準電位点とに接続し、第6の抵抗の一端を、
第2の電流源を介して第2の基準電位点と第4の抵抗の
一端と第3の容量を介して第1もしくは第2の基準電位
点とに接続し、第4の抵抗の一端と第4の容量の一端を
接続して出力端子とし、上記各素子を、第1の電流源の
電流値と第2の電流源の電流値の相対値を制御して、第
1のトランジスタのベース−エミッタ間電圧と第1の電
流源の電流による第3の抵抗での電圧降下との和と、第
2のトランジスタのベース−エミッタ間電圧と第2の電
流源の電流による第6の抵抗での電圧降下の和とを等し
くし、入力端と出力端の直流電位差を補償するよう構成
する。
A delay circuit according to a first embodiment of the present invention has a base connected to an input terminal, an emitter connected to one end of a third resistor, and a collector connected to a second reference potential via a second resistor. A first transistor of one conductivity type connected to the point and one end of the second capacitor; a base connected to one end of the first resistor and one end of the second capacitor; an emitter connected to one end of the sixth resistor; Fifth
A first reference potential point and a second transistor of the opposite conductivity type connected to one end of the fourth capacitor via the third resistor.
One end of the resistor is connected to a first reference potential point via a first current source, one end of the first resistor and a first or second reference potential point via a first capacitor, One end of the resistor of 6,
The second reference potential point is connected to one end of the fourth resistor via the second current source and the first or second reference potential point via the third capacitor. One end of the fourth capacitor is connected to serve as an output terminal, and each of the above elements is controlled by controlling the relative value of the current value of the first current source and the current value of the second current source to form the base of the first transistor. The sum of the emitter-to-emitter voltage and the voltage drop at the third resistor due to the current of the first current source and the sixth resistor due to the base-emitter voltage of the second transistor and the current of the second current source; Are equalized to compensate for the DC potential difference between the input terminal and the output terminal.

【0037】請求項2に記載の遅延回路は、請求項1に
記載の構成を基本遅延回路とし、前記基本遅延回路をn
段(nは1以上の正の整数)直列に接続して構成する。
請求項3に記載の遅延回路は、ベースを入力端子に、エ
ミッタを第3の抵抗の一端に、コレクタを第2の抵抗を
介して第2の基準電位点と第2の容量の一端に接続した
一導電型の第1のトランジスタと、ベースを第1の抵抗
の一端と第2の容量の一端に、エミッタを第6の抵抗の
一端に、コレクタを第5の抵抗を介して第1の基準電位
点と第4の容量の一端に接続した逆導電型の第2のトラ
ンジスタとを設け、第3の抵抗の一端を、第7の抵抗の
一端と第1の容量を介して第1もしくは第2の基準電位
点とに接続し、第7の抵抗の一端を、第1の電流源を介
して第1の基準電位点と第1の抵抗の一端とに接続し、
第6の抵抗の一端を、第8の抵抗の一端と第3の容量を
介して第1もしくは第2の基準電位点とに接続し、第8
の抵抗の一端を、第2の電流源を介して第2の基準電位
点電位と第4の抵抗一端とに接続し、第4の抵抗の一端
と第4の容量の一端を接続して出力端子とし、上記各素
子を、第1の電流源の電流値と第2の電流源の電流値の
相対値を制御して、第1のトランジスタのベース−エミ
ッタ間電圧と第1の電流源の電流による第3の抵抗と第
7の抵抗での電圧降下との和と、第2のトランジスタの
ベース−エミッタ間電圧と第2の電流源の電流による第
6の抵抗と第8の抵抗での電圧降下との和を等しくし、
入力端と出力端の直流電位差を補償するよう構成する。
A delay circuit according to a second aspect uses the configuration according to the first aspect as a basic delay circuit, and the basic delay circuit includes n
The stages are connected in series (n is a positive integer of 1 or more).
The delay circuit according to claim 3, wherein the base is connected to the input terminal, the emitter is connected to one end of the third resistor, and the collector is connected to the second reference potential point and one end of the second capacitor via the second resistor. A first transistor of one conductivity type, a base connected to one end of a first resistor and one end of a second capacitor, an emitter connected to one end of a sixth resistor, and a collector connected to the first resistor via a fifth resistor. A second transistor of a reverse conductivity type connected to a reference potential point and one end of a fourth capacitor is provided, and one end of a third resistor is connected to one end of a first resistor via one end of a seventh resistor and the first capacitor. Connected to a second reference potential point, one end of a seventh resistor is connected to the first reference potential point and one end of the first resistor via a first current source,
One end of the sixth resistor is connected to one end of the eighth resistor and the first or second reference potential point via the third capacitor,
Is connected to a second reference potential point potential and one end of a fourth resistor via a second current source, and one end of the fourth resistor is connected to one end of a fourth capacitor to output. Terminal, and controls each element by controlling the relative value between the current value of the first current source and the current value of the second current source, thereby setting the base-emitter voltage of the first transistor and the current value of the first current source. The sum of the voltage drop at the third resistor and the seventh resistor due to the current, the base-emitter voltage of the second transistor and the current at the sixth resistor and the eighth resistor due to the current of the second current source. Equalize the sum with the voltage drop,
The DC potential difference between the input terminal and the output terminal is configured to be compensated.

【0038】請求項4に記載の遅延回路は、請求項3に
記載の構成を基本遅延回路とし、前記基本遅延回路をn
段(nは1以上の正の整数)直列に接続して構成する。
これらの構成によると、NPN型トランジスタとPNP
型トランジスタのベース−エミッタ間電圧がばらついた
ときの入出力電圧のバラツキを、NPN型遅延回路の回
路電流とPNP型遅延回路の回路電流の相対値を変化さ
せて補正する際に、ベース−エミッタ間電圧のバラツキ
に対する回路電流のバラツキをなるべく少なくする。
According to a fourth aspect of the present invention, the delay circuit according to the third aspect is a basic delay circuit, and the basic delay circuit is n
The stages are connected in series (n is a positive integer of 1 or more).
According to these configurations, the NPN transistor and the PNP
When correcting the variation of the input / output voltage when the base-emitter voltage of the transistor varies, the relative current between the circuit current of the NPN delay circuit and the circuit current of the PNP delay circuit is corrected. The variation of the circuit current with respect to the variation of the inter-voltage is reduced as much as possible.

【0039】以下、本発明の実施の形態を示す遅延回路
について、図面を参照しながら具体的に説明する。 (実施の形態1)本発明の実施の形態1の遅延回路を説
明する。
Hereinafter, a delay circuit according to an embodiment of the present invention will be specifically described with reference to the drawings. (Embodiment 1) A delay circuit according to Embodiment 1 of the present invention will be described.

【0040】図1は本実施の形態の遅延回路の構成を示
す回路図である。本実施の形態の遅延回路は、図1の回
路図で示すと、ベースが入力端子101に、エミッタが
第3の抵抗R103の一端に、コレクタが第2の抵抗R
102を介して第2の基準電位点である電源端103と
第2の容量C102の一端に接続された一導電型の第1
のトランジスタ(例えば、NPN型トランジスタ)Q1
01と、第3の抵抗R103の一端が、第1の電流源I
101を介して第1の基準電位点である接地と第1の抵
抗R101の一端と第1の容量C101を介して電源端
103とに接続され、ベースが第1の抵抗R101の一
端と第2の容量C102の一端に、エミッタが第6の抵
抗R106の一端に、コレクタが第5の抵抗R105を
介して接地と第4の容量C104の一端に接続された逆
導電型の第2のトランジスタ(例えば、PNP型トラン
ジスタ)Q102とを備え、第6の抵抗R106の一端
が、第2の電流源I102を介して電源端3と第4の抵
抗R104の一端と第3の容量C103を介して接地に
接続され、第4の抵抗R104の一端と第4の容量C1
04の一端とを接続してこれを出力端子102とした構
成を有している。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of the delay circuit according to the present embodiment. In the delay circuit of the present embodiment, as shown in the circuit diagram of FIG. 1, the base is at the input terminal 101, the emitter is at one end of the third resistor R103, and the collector is at the second resistor R103.
A first terminal of one conductivity type connected to a power supply terminal 103 serving as a second reference potential point and one end of a second capacitor C102 via the second reference potential point
Transistor (for example, NPN transistor) Q1
01 and one end of the third resistor R103 are connected to the first current source I
101, a first reference potential point, ground, one end of a first resistor R101, and a power supply end 103 via a first capacitor C101. A base is connected to one end of the first resistor R101 and a second end of the first resistor R101. A second transistor of an opposite conductivity type, having an emitter connected to one end of a sixth resistor R106, an emitter connected to one end of a sixth resistor R106, and a collector connected to the ground and one end of a fourth capacitor C104 via a fifth resistor R105. For example, a PNP transistor Q102), one end of a sixth resistor R106 is connected to the power supply terminal 3 via a second current source I102, one end of a fourth resistor R104, and a ground via a third capacitor C103. Is connected to one end of the fourth resistor R104 and the fourth capacitor C1.
04 is connected to one end and used as an output terminal 102.

【0041】この回路は、NPN型トランジスタを用い
た構成とその逆導電型のPNP型トランジスタを用いた
構成を直列に接続し、それを一対とした遅延回路の単位
回路を示すものである。
This circuit shows a unit circuit of a delay circuit in which a configuration using an NPN transistor and a configuration using a PNP transistor of the opposite conductivity type are connected in series, and a pair of the configuration is used.

【0042】このように、NPN型トランジスタを用い
た遅延回路(以下、NPN型遅延回路と記す)121と
PNP型トランジスタを用いた遅延回路(以下、PNP
型遅延回路と記す)122を直列に接続する理由は、入
力端子101と出力端子102との直流電位を等しくな
るように構成し、電源電圧のダイナミックレンジを有効
活用するためである。
As described above, the delay circuit 121 using an NPN transistor (hereinafter referred to as an NPN delay circuit) 121 and the delay circuit using a PNP transistor (hereinafter referred to as a PNP transistor)
The reason for connecting the series delay circuits 122 in series is to make the DC potentials of the input terminal 101 and the output terminal 102 equal so as to effectively utilize the dynamic range of the power supply voltage.

【0043】以上のように構成された遅延回路につい
て、その動作を以下に説明する。まず、図1のNPN型
遅延回路121を用いて説明する。電源端子103に直
流電圧Vccが加えられており、入力端子101には、
トランジスタQ101とQ102が動作可能な直流バイ
アス電圧V1が加えられているとする。電流源I101
の電流値がIO1とし、トランジスタQ101のエミッタ
抵抗をreとするとreは(式10)で示される。
The operation of the delay circuit configured as described above will be described below. First, a description will be given using the NPN delay circuit 121 of FIG. A DC voltage Vcc is applied to the power supply terminal 103, and the input terminal 101
It is assumed that a DC bias voltage V1 at which the transistors Q101 and Q102 can operate is applied. Current source I101
Is expressed as I O1 and the emitter resistance of the transistor Q101 is expressed as re.

【0044】[0044]

【数10】 (Equation 10)

【0045】(式10)より、reは電流源I101の
電流値IO1によって制御が可能であることがわかる。こ
こで、Re=re+R3 (R3 は抵抗R103の抵抗
値)とし、トランジスタQ101の電流増幅率hfeが
十分大きく、かつ、回路の浮遊容量が十分に小さいとす
ると、入力端子101からトランジスタQ102のベー
スまでの伝達関数H(ω)(=NPN型遅延回路121
の伝達関数)は(式11)で示される。
(Equation 10) shows that re can be controlled by the current value I O1 of the current source I 101. Here, assuming that Re = re + R 3 (R 3 is the resistance value of the resistor R103), the current amplification factor hfe of the transistor Q101 is sufficiently large, and the stray capacitance of the circuit is sufficiently small, the input terminal 101 and the transistor Q102 Transfer function H (ω) to base (= NPN delay circuit 121)
Is represented by (Equation 11).

【0046】[0046]

【数11】 [Equation 11]

【0047】(式11)が全域通過特性を示す条件は、
分子が、{1−jω√(R12 12 )}×{1+
jω√(R1212 )}であるので、分母が、
{1+jω√(R1212 )}2 である場合であ
る。すなわち、R2 =2Re,R12 +ReC1 +R
eC2 =2√(R1212 )の時、(式11)は
全域通過特性を示す。
The condition that (Equation 11) indicates the all-pass characteristic is as follows.
The numerator is {1-jω} (R1 RTwo C 1 CTwo )} × {1+
jω√ (R1 RTwo C1 CTwo )}, So the denominator is
{1 + jω} (R1 RTwo C1 CTwo )}Two If
You. That is, RTwo = 2Re, R1 CTwo + ReC1 + R
eCTwo = 2√ (R1 RTwo C1 CTwo ), (Equation 11) is
Shows all-pass characteristics.

【0048】ここで、R2 ,R1 の比をa、C1 ,C2
の比をb、すなわち、R2 =aR1,C1 =bC2 とす
ると、(式12)となる。
Here, the ratio of R 2 and R 1 is a, C 1 , C 2
Where b is the ratio of R, ie, R 2 = aR 1 and C 1 = bC 2 , the following equation is obtained.

【0049】[0049]

【数12】 (Equation 12)

【0050】以上から、a,bが一定の条件を満たし、
Re=R2 /2の時、(式11)は全域通過特性を示す
ことがわかる。特に、a=1,b=1の時、すなわち、
第1の抵抗R101の抵抗値と第2の抵抗R102の抵
抗値とが等しく、第1の容量C101の容量値と第2の
容量C102の容量値とが等しい時、(式11)は約分
することができ、簡単になる。
From the above, a and b satisfy a certain condition,
When Re = R 2/2, (Formula 11) is found to exhibit all-pass characteristics. In particular, when a = 1 and b = 1, that is,
When the resistance value of the first resistor R101 is equal to the resistance value of the second resistor R102, and the capacitance value of the first capacitor C101 is equal to the capacitance value of the second capacitor C102, (Equation 11) is approximately Can be easy.

【0051】R2 =R1 =R,C1 =C2 =Cとする
と、入力端子101から出力端子102までの伝達関数
H(jω)は(式13)となる。
Assuming that R 2 = R 1 = R and C 1 = C 2 = C, the transfer function H (jω) from the input terminal 101 to the output terminal 102 becomes (Equation 13).

【0052】[0052]

【数13】 (Equation 13)

【0053】図2(a),(b)は(式13)の周波数
特性を説明したものである。(式13)は(式11)の
特殊な場合であるが、本実施の形態の遅延回路の特徴を
よく表している。
FIGS. 2A and 2B illustrate the frequency characteristics of (Equation 13). (Equation 13) is a special case of (Equation 11), but well illustrates the characteristics of the delay circuit of the present embodiment.

【0054】(式13)の振幅特性G(ω)は(式1
4)となる。
The amplitude characteristic G (ω) of (Equation 13) is expressed by (Equation 1)
4).

【0055】[0055]

【数14】 [Equation 14]

【0056】また、群遅延特性Td(ω)は(式15)
となる。
The group delay characteristic Td (ω) is given by (Equation 15)
Becomes

【0057】[0057]

【数15】 (Equation 15)

【0058】なお、低域での遅延時間Tdoは、(式1
6)で示される。
Note that the delay time Tdo in the low frequency band is given by (Equation 1)
6).

【0059】[0059]

【数16】 (Equation 16)

【0060】図2(a)は、振幅特性G(ω)を、縦横
軸共対数表示で折れ線近似して図示したものである。図
2(b)は、群遅延特性Td(ω)を横軸のみ対数表示
で図示したものである。図2(a),(b)において、
横軸(周波数軸)は正規化していて数値はωRCの値で
ある。そして、それぞれの特性はRe=R/2の場合
と、Reを2倍及び半分にした場合である。
FIG. 2A illustrates the amplitude characteristic G (ω) by polygonal approximation in the vertical and horizontal axis co-logarithmic representation. FIG. 2B shows the group delay characteristic Td (ω) in logarithmic representation only on the horizontal axis. In FIGS. 2A and 2B,
The horizontal axis (frequency axis) is normalized and the numerical value is the value of ωRC. The respective characteristics are obtained when Re = R / 2 and when Re is doubled and halved.

【0061】図2(a)から、振幅特性はRe=R/2
のとき高域までフラット、Re<R/2のとき高域が持
ち上がり、Re>R/2のとき高域が減衰することが分
かる。また、図2(b)から、低域遅延時間はRe=R
/2のとき2RC、Re<R/2のとき減少、Re>R
/2のとき増加することが分かり、周波数特性は、ω=
0.1/RCまでほぼフラット、Reが大きくなって遅
延時間が増加するとフラットな帯域が狭まることが分か
る。
From FIG. 2A, the amplitude characteristic is expressed as Re = R / 2.
It can be seen that when is higher, the higher region is flat, when Re <R / 2, the higher region is lifted, and when Re> R / 2, the higher region is attenuated. From FIG. 2B, the low-frequency delay time is expressed as Re = R
/ 2, 2RC, Re <R / 2, decrease, Re> R
/ 2, the frequency characteristic increases.
It can be seen that the flat band is narrowed to 0.1 / RC, and when Re becomes large and the delay time increases, the flat band becomes narrow.

【0062】図2(a),(b)を比べた場合、Reの
変化に対し、振幅特性のフラットな領域は遅延時間のフ
ラットな領域より十分広いので、図1のNPN型遅延回
路は遅延特性の帯域だけを注意すればよい。
When comparing FIGS. 2A and 2B, the flat region of the amplitude characteristic is sufficiently wider than the flat region of the delay time with respect to the change of Re. It is only necessary to pay attention to the characteristic band.

【0063】なお、より一般的な(式11)の特性も
(式12)の条件を実質的に満たしていれば、Reの値
がR/2の近傍で、図2(a),(b)で示した特性に
ほぼ等しくなる。
Note that if the more general characteristic of (Equation 11) substantially satisfies the condition of (Equation 12), the value of Re is close to R / 2 and the values of FIGS. ) Is almost equal to the characteristic shown in FIG.

【0064】以上より、図1のNPN型遅延回路121
は遅延回路の特性を有しており、かつ、電流値IO1によ
りReの制御が可能である。従って、伝達関数H(ω)
の制御が可能となり、遅延時間Td(ω)とTdoの制
御が可能となる。
As described above, the NPN delay circuit 121 shown in FIG.
Has the characteristics of a delay circuit, and the Re can be controlled by the current value IO1 . Therefore, the transfer function H (ω)
Can be controlled, and the delay time Td (ω) and Tdo can be controlled.

【0065】さらに、Re=R/2近傍でreの可変範
囲を設定すれば、図1のNPN型遅延回路121の振幅
特性は、高帯域まで一定な特性を得ることが可能であ
る。また、Re=re+R3 であるので、従来の回路に
対して、電流IO1によるReの可変範囲(=遅延時間の
可変範囲)は小さくなっているが、従来の回路と同様の
特性を維持したままreの値をR3 の分だけ小さくする
ことが可能であり、その分、電流源電流IO1を多く流す
ことができる。これにより、入力信号の振幅が大きく、
周波数も高い場合の駆動能力不足の解消が可能になる。
Further, if the variable range of re is set near Re = R / 2, the amplitude characteristic of the NPN type delay circuit 121 in FIG. 1 can obtain a constant characteristic up to a high band. Further, since it is Re = re + R 3, relative to the conventional circuit, the variable range of Re by current I O1 (= variable range of the delay time) has become smaller, maintaining the same characteristics as the conventional circuit Mom the value of re it is possible to reduce by the amount of R 3, correspondingly, can flow a large amount of current source current I O1. As a result, the amplitude of the input signal is large,
It is possible to eliminate the drive capacity shortage when the frequency is high.

【0066】同様に、NPN型遅延回路121とPNP
型遅延回路122を直列に接続した単位遅延回路につい
ても、電流源I101とI102の電流値IO1,IO2
等しいとすると、トランジスタQ101とQ102のエ
ミッタ抵抗reは等しくなり、これらreは、(式1
0)で示されるように、電流源I101とI102の電
流値IO1,IO2によって制御が可能である。
Similarly, the NPN delay circuit 121 and the PNP
Also in the unit delay circuit in which the type delay circuits 122 are connected in series, if the current values I O1 and I O2 of the current sources I101 and I102 are equal, the emitter resistances re of the transistors Q101 and Q102 become equal, and these re are ( Equation 1
As shown by 0), control can be performed by the current values I O1 and I O2 of the current sources I101 and I102.

【0067】トランジスタQ101とQ102の電流増
幅率hfeが十分大きく、かつ、回路の浮遊容量は十分
に小さいとし、また、R103,R106の抵抗値が等
しくRe=re+R3 (reはトランジスタQ101と
Q102のエミッタ抵抗、R 3 はR103とR106の
抵抗値)とし、さらに、抵抗R101,R102,R1
03,R104の抵抗値が等しく、容量C101,C1
02,C103,C104の容量値が等しいとすると、
入力端子101から出力端子102までの伝達関数H
(ω)は(式17)で示される。
Current increase of transistors Q101 and Q102
The width ratio hfe is sufficiently large and the stray capacitance of the circuit is sufficient
And the resistance values of R103 and R106 are equal.
Re = re + RThree (Re is the transistor Q101
The emitter resistance of Q102, R Three Is for R103 and R106
Resistance value), and furthermore, resistors R101, R102, R1
03 and R104 have the same resistance value, and the capacitances C101 and C1
Assuming that the capacitance values of 02, C103, and C104 are equal,
Transfer function H from input terminal 101 to output terminal 102
(Ω) is represented by (Equation 17).

【0068】[0068]

【数17】 [Equation 17]

【0069】また、(式17)より遅延時間Td(ω)
を求めると(式18)になる。
From equation (17), the delay time Td (ω)
Is obtained as (Equation 18).

【0070】[0070]

【数18】 (Equation 18)

【0071】また、低域での遅延時間Tdoは(式1
9)で示される。
Further, the delay time Tdo in the low frequency band is given by (Equation 1)
9).

【0072】[0072]

【数19】 [Equation 19]

【0073】電流源I101とI102の電流値IO1
O2を制御することでReが変化するので、図1の回路
は遅延時間TdとTdoの制御が可能である。また、R
e=R/2のとき全域通過特性となる。
The current values I O1 and I O1 of the current sources I101 and I102,
Since Re changes by controlling I O2 , the circuit of FIG. 1 can control the delay times Td and Tdo. Also, R
When e = R / 2, all-pass characteristics are obtained.

【0074】なお、容量C101と容量C103を接続
する電位点は、接地もしくは電源端子103のどちらで
もよい。次に、大きな遅延を得るために図1の単位遅延
回路を多段に接続することを考えた場合、この多段接続
の回路は基本回路の繰り返しとなるため、マスク設計が
容易で集積度を向上させることができ、IC化に適した
構成となる。
The potential point connecting the capacitors C101 and C103 may be either the ground or the power supply terminal 103. Next, when the unit delay circuits of FIG. 1 are connected in multiple stages in order to obtain a large delay, the multi-stage connection circuit is a repetition of the basic circuit, so that the mask design is easy and the degree of integration is improved. Thus, a configuration suitable for IC integration can be obtained.

【0075】さらに、PNP形とNPN形のトランジス
タを基本とした簡単な回路で遅延回路を構成しているた
め、素子数が比較的少なく電流をそれほど使わずに遅延
回路を実現でき、低電源電圧で動作させてもダイナミッ
クレンジを広くとることができる。
Further, since the delay circuit is composed of a simple circuit based on PNP and NPN transistors, the number of elements is relatively small, and the delay circuit can be realized without using much current. , The dynamic range can be widened.

【0076】なお、本実施の形態の遅延回路をICに内
蔵する場合、NPN型とPNP型のトランジスタの特性
の違い、個々のトランジスタのばらつきにより、単位遅
延回路の入出力電圧に差が生じ、ダイナミックレンジを
制限する。そして、この出力電圧のばらつきは、段数を
多くするほど大きくなる。しかし、これはNPN型遅延
回路121の電流源I101の電流値IO1とPNP型遅
延回路122の電流源I102の電流値IO2の比を、
(式20)の関係を満たすような制御を行う回路により
制御することで補正することができる。
When the delay circuit of this embodiment is built in an IC, a difference occurs in the input / output voltage of the unit delay circuit due to a difference in characteristics between the NPN type transistor and the PNP type transistor and a variation in each transistor. Limit the dynamic range. The variation in the output voltage increases as the number of stages increases. However, this means that the ratio of the current value I O1 of the current source I 101 of the NPN delay circuit 121 to the current value I O2 of the current source I 102 of the PNP delay circuit 122 is
The correction can be made by performing control using a circuit that performs control so as to satisfy the relationship of (Equation 20).

【0077】[0077]

【数20】 (Equation 20)

【0078】また、VBE1 とIO1,VBE2 とIO2には、
それぞれ式(式21),(式22)のような関係があ
る。
Further, V BE1 and I O1 and V BE2 and I O2 have
There is a relationship as shown in equations (Equation 21) and (Equation 22).

【0079】[0079]

【数21】 (Equation 21)

【0080】[0080]

【数22】 (Equation 22)

【0081】仮に、IS1,IS2がバラツキ、VBE1 +R
3 ・IO1対してVBE2 +R6 ・IO2が大きい場合、V
BE2 を小さくするためIO2が小さくなる。すると同様に
6 ・IO2も同時に小さくなるので、結果としてV
BE1 ,VBE2 のみで遅延回路の入出力電位差の補正を行
っていた従来の方式に対して、IO1とIO2のバラツキは
ちいさくなる。
Assuming that I S1 and I S2 vary, V BE1 + R
If V BE2 + R 6 · I O2 is larger than 3 · I O1 , then V
I O2 is reduced in order to reduce the BE2. Then, similarly, R 6 · I O2 also decreases at the same time, and as a result, V
BE1, the conventional method had done V BE2 only correction of the dropout voltage of the delay circuit, the variation of I O1 and I O2 is smaller.

【0082】(式20),(式21),(式22)よ
り、IS1,IS2とIO1,IO2のバラツキの関係は、(式
23)のようになる。
From (Equation 20), (Equation 21), and (Equation 22), the relationship between I S1 and I S2 and the variation between I O1 and I O2 is as shown in (Equation 23).

【0083】[0083]

【数23】 (Equation 23)

【0084】図3は、(式23)を図示したものであ
る。図3において、横軸はNPNトランジスタとPNP
トランジスタのVBEのバラツキ(IS2/IS1)、縦軸は
BEのバラツキを補正するための電流源の電流値のバラ
ツキ(IO2/IO1)である。従って、図示された(式2
3)の線の傾斜がきつければきついほどVBE1 ,VBE2
のバラツキに対するIO1,IO2のバラツキは大きいとい
うことになる。
FIG. 3 illustrates (Equation 23). In FIG. 3, the horizontal axis is an NPN transistor and a PNP.
The variance of the V BE of the transistor (I S2 / I S1 ) and the vertical axis represent the variance of the current value of the current source (I O2 / I O1 ) for correcting the variation of the V BE . Therefore, the illustrated (Equation 2)
3) The more steep the slope of the line, the more V BE1 and V BE2
That is, the variation of I O1 and I O2 with respect to the variation of the above is large.

【0085】また、図3ではkT/q(25℃で約26
mV)に対するR3 ・IO1の電圧降下の大きさの比
(H)を変動要素としている。H=0の時(R3 がない
とき)、IS1とIS2のバラツキに対するIO1とIO2のバ
ラツキを示す傾きは1となり、最大になっている。Hが
大きくなるに従って、IO1とIO2のバラツキを示す傾き
は緩くなっている。
In FIG. 3, kT / q (approximately 26
The ratio (H) of the magnitude of the voltage drop of R 3 · I O1 to mV) is used as a variable factor. (When there is no R 3) when H = 0, the slope indicating the variation of I O1 and I O2 for variations of I S1 and I S2 is 1, which is the maximum. As H increases, the slope indicating the variation between I O1 and I O2 decreases.

【0086】よって、Rに対するReの大きさや遅延回
路の可変範囲の大きさの許す範囲で、R3 ・IO1の電圧
降下を大きくとれば、トランジスタの特性の違いや個々
のバラツキに対するNPN型の遅延回路とPNP型の遅
延回路の性能のバラツキを抑えることができ、かつ、回
路の駆動能力不足を解消することが可能になる。 (実施の形態2)本発明の実施の形態2の遅延回路を説
明する。
Therefore, if the voltage drop of R 3 · I O1 is made large within the range of the size of Re with respect to R and the size of the variable range of the delay circuit, the NPN-type transistor can be used to compensate for differences in transistor characteristics and individual variations. Variations in performance between the delay circuit and the PNP-type delay circuit can be suppressed, and insufficient driving capability of the circuit can be eliminated. (Embodiment 2) A delay circuit according to Embodiment 2 of the present invention will be described.

【0087】図4は本実施の形態の遅延回路の構成を示
す回路図である。本実施の形態の遅延回路は、図4の回
路図で示すと、ベースが入力端子401に、エミッタが
第3の抵抗R403の一端に、コレクタが第2の抵抗R
402を介して第2の基準電位点である電源端403と
第2の容量C402の一端とに接続された一導電型の第
1のトランジスタ(例えば、NPN型トランジスタ)Q
401と、第3の抵抗R403の一端が、第7の抵抗R
407の一端と第1の容量C401を介して電源端40
3に接続され、第7の抵抗R407の一端が、第1の抵
抗R408の一端と第1の電流源I401を介して第1
の基準電位点である接地とに接続され、ベースが第1の
抵抗R408の一端と第2の容量C402の一端に、エ
ミッタが第6の抵抗R406の一端に、コレクタが第5
の抵抗R405を介して接地と第4の容量C404の一
端に接続された逆導電型の第2のトランジスタ(例え
ば、PNP型トランジスタ)Q402とを備え、第6の
抵抗R406の一端が、第8の抵抗R409の一端と第
3の容量C403を介して接地に接続され、第8の抵抗
R409の一端が第2の電流源I402を介して電源端
403と第4の抵抗R410の一端に接続され、第4の
抵抗R410の一端と第4の容量C404の一端とを接
続してこれを出力端子402とした構成を有している。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of the delay circuit according to the present embodiment. In the delay circuit of this embodiment, as shown in the circuit diagram of FIG. 4, the base is connected to the input terminal 401, the emitter is connected to one end of the third resistor R403, and the collector is connected to the second resistor R403.
A first transistor of one conductivity type (for example, an NPN transistor) Q connected to a power supply terminal 403 serving as a second reference potential point and one end of a second capacitor C402 via a second reference potential point 402
401 and one end of the third resistor R403 are connected to the seventh resistor R403.
407 and the power supply terminal 40 via the first capacitor C401.
3 and one end of a seventh resistor R407 is connected to one end of a first resistor R408 via a first current source I401.
, The base is connected to one end of the first resistor R408 and one end of the second capacitor C402, the emitter is connected to one end of the sixth resistor R406, and the collector is connected to the fifth terminal.
A second transistor (for example, a PNP transistor) Q402 connected to the ground and one end of the fourth capacitor C404 via the resistor R405, and one end of the sixth resistor R406 is connected to the eighth resistor R406. Is connected to ground via a third capacitor C403 and one end of an eighth resistor R409 is connected to a power supply terminal 403 and one end of a fourth resistor R410 via a second current source I402. , One end of the fourth resistor R410 and one end of the fourth capacitor C404 are connected to form an output terminal 402.

【0088】図1と同様に、この遅延回路は、NPN型
トランジスタを用いて構成したNPN型遅延回路421
とその逆導電型のPNP型トランジスタを用いて構成し
たPNP型遅延回路422とを直列に接続し、それを一
対とした遅延回路の単位回路を示すものである。
As in FIG. 1, this delay circuit is an NPN-type delay circuit 421 constructed using NPN-type transistors.
And a PNP-type delay circuit 422 composed of PNP-type transistors of the opposite conductivity type connected in series to form a unit circuit of a pair of delay circuits.

【0089】以上のように構成された遅延回路につい
て、その動作を以下に説明する。まず、図4のNPN型
遅延回路421を用いて説明する。実施の形態1のNP
N型遅延回路121と同様に、reは電流源I401の
電流値IO1によって可変が可能であることがわかる。
The operation of the delay circuit configured as described above will be described below. First, a description will be given using the NPN delay circuit 421 in FIG. NP of Embodiment 1
Similarly to the N-type delay circuit 121, it can be seen that re can be varied by the current value I O1 of the current source I401.

【0090】ここで、Re=re+R3 (R3 は抵抗R
403の抵抗値),R=R7 +R8(R7 ,R8 はR4
07,R408の抵抗値)とし、トランジスタQ401
の電流増幅率hfeが十分大きく、かつ、回路の浮遊容
量が十分に小さいとすると、入力端子401からトラン
ジスタQ402のベースまでの伝達関数H(ω)(=N
PN型遅延回路の伝達関数)は(式24)で示される。
Here, Re = re + R 3 (R 3 is a resistance R
Resistance of 403), R = R 7 + R 8 (R 7, R 8 is R4
07, R408) and the transistor Q401
Is sufficiently large and the stray capacitance of the circuit is sufficiently small, the transfer function H (ω) (= N) from the input terminal 401 to the base of the transistor Q402 is assumed.
The transfer function of the PN delay circuit is expressed by (Equation 24).

【0091】[0091]

【数24】 (Equation 24)

【0092】ここで、(式11)と(式24)を比較し
てみると、R407及びR408の抵抗値を、R(=R
7 +R8 )=R1 となるように選択すれば、図4の回路
は、図1の回路と同様の振幅特性および群遅延特性を示
し、遅延回路として図1の遅延回路と同等に機能するこ
とがわかる。
Here, when comparing (Equation 11) and (Equation 24), the resistance values of R407 and R408 are expressed as R (= R
7 + R 8 ) = R 1 , the circuit of FIG. 4 exhibits the same amplitude characteristics and group delay characteristics as the circuit of FIG. 1, and functions as a delay circuit equivalent to the delay circuit of FIG. You can see that.

【0093】また、PNP型遅延回路422について
も、R4 =R9 +R10(但し、R4 :図1におけるR1
04の抵抗値,R9 :R409の抵抗値,R10:R41
0の抵抗値である。)であれば、図4の回路は、図1の
遅延回路と同様の振幅特性および群遅延特性を示す。
Also, for the PNP delay circuit 422, R 4 = R 9 + R 10 (where R 4 is R1 in FIG. 1).
04, R 9 : R409 resistance, R 10 : R41
The resistance value is 0. ), The circuit of FIG. 4 shows the same amplitude characteristics and group delay characteristics as the delay circuit of FIG.

【0094】なお、本実施の形態の遅延回路をICに内
蔵する場合、図1の回路と同様に、NPN型とPNP型
のトランジスタの特性の違い、個々のトランジスタのば
らつきにより、単位遅延回路の入出力電圧に差が生じ、
ダイナミックレンジを制限する。そして、この出力電圧
のばらつきは、段数を多くするほど大きくなる。しか
し、これは電流源I401の電流値IO1と電流源I40
2の電流値IO2の比を、(式25)の関係を満たすよう
な制御を行う回路により制御することで補正することが
できる。
When the delay circuit of this embodiment is incorporated in an IC, similar to the circuit of FIG. 1, the difference in characteristics between the NPN type and PNP type transistors and the variation of each transistor cause the unit delay circuit There is a difference in input / output voltage,
Limit the dynamic range. The variation in the output voltage increases as the number of stages increases. However, this is the current value of the current source I 401 I O1 and the current source I40
The ratio of the two current values I O2 can be corrected by controlling the ratio so as to satisfy the relationship of (Equation 25).

【0095】[0095]

【数25】 (Equation 25)

【0096】また、VBE1 とIO1,VBE2 とIO2にはそ
れぞれ(式26),(式27)のような関係がある。
Further, V BE1 and I O1 , and V BE2 and I O2 have the relations as shown in (Equation 26) and (Equation 27), respectively.

【0097】[0097]

【数26】 (Equation 26)

【0098】[0098]

【数27】 [Equation 27]

【0099】実施の形態1と同様に、(式25),(式
26),(式27)より、IS1,I S2とIO1,IO2のバ
ラツキの関係は、(式28)のようになる。
As in the first embodiment, (Equation 25) and (Equation 25)
26) and (Equation 27), IS1, I S2And IO1, IO2No ba
The variation relationship is as shown in (Equation 28).

【0100】[0100]

【数28】 [Equation 28]

【0101】(式23)と(式28)と図3より、図4
の構成では、図1の構成に対して、振幅特性や群遅延特
性を同様に保ったままにHを大きく選択することができ
るため、IS1とIS2のバラツキに対するIO1とIO2のバ
ラツキ具合を、さらに軽減することが可能となってい
る。
From (Equation 23) and (Equation 28) and FIG. 3, FIG.
In the configuration of FIG. 1, since H can be selected to be large while maintaining the amplitude characteristic and the group delay characteristic similarly to the configuration of FIG. 1, the variation of I O1 and I O2 with respect to the variation of I S1 and I S2. The condition can be further reduced.

【0102】よって、Rに対するReの大きさや遅延回
路の可変範囲の大きさの許す範囲で、(R3 +R7 )・
O1の電圧降下を大きくとれば、トランジスタの特性の
違いや個々のバラツキに対するNPN型の遅延回路とP
NP型の遅延回路の性能のバラツキを抑えることがで
き、かつ、回路の駆動能力不足を解消することが可能に
なる。
Therefore, (R 3 + R 7 ) · R (R 3 + R 7 ) ・
If the voltage drop of I O1 is increased, an NPN-type delay circuit and P
Variations in performance of the NP-type delay circuit can be suppressed, and insufficient driving capability of the circuit can be eliminated.

【0103】[0103]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、NPN型
トランジスタとPNP型トランジスタのベース−エミッ
タ間電圧がばらついたときの入出力電圧のバラツキを、
NPN型遅延回路の回路電流とPNP型遅延回路の回路
電流の相対値を変化させて補正する際に、ベース−エミ
ッタ間電圧のバラツキに対する回路電流のバラツキをな
るべく少なくすることができる。
As described above, according to the present invention, the variation in the input / output voltage when the base-emitter voltage of the NPN transistor and the PNP transistor varies is described.
When correcting by changing the relative value of the circuit current of the NPN-type delay circuit and the circuit current of the PNP-type delay circuit, the variation of the circuit current with respect to the variation of the base-emitter voltage can be reduced as much as possible.

【0104】そのため、各素子のバラツキに対するNP
N型遅延回路とPNP型遅延回路間の特性のバラツキや
直流伝送性のバラツキを防ぐことができ、かつ、遅延回
路としての特性に影響を与えることなく駆動能力を強化
することができる。
Therefore, the NP with respect to the variation of each element
Variations in characteristics between the N-type delay circuit and the PNP-type delay circuit and variations in DC transmission characteristics can be prevented, and the driving capability can be enhanced without affecting the characteristics of the delay circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態1の遅延回路の構成を示す
回路図
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a delay circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同実施の形態1の周波数特性の説明図FIG. 2 is an explanatory diagram of a frequency characteristic according to the first embodiment;

【図3】同実施の形態1の改善効果の説明図FIG. 3 is an explanatory diagram of an improvement effect of the first embodiment.

【図4】本発明の実施の形態2の遅延回路の構成を示す
回路図
FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of a delay circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図5】従来のNPN型遅延回路の構成を示す回路図FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration of a conventional NPN type delay circuit.

【図6】同従来例の周波数特性の説明図FIG. 6 is an explanatory diagram of frequency characteristics of the conventional example.

【図7】同従来例の遅延回路を用いた単位回路図FIG. 7 is a unit circuit diagram using the conventional delay circuit.

【符号の説明】 Q101,Q401 NPNトランジスタ Q102,Q402 PNPトランジスタ I101,I102,I401,I402 電流源 R101〜R106,R402〜R410 抵抗 C101〜C104,C401〜C404 コンデン
サ 101,401 入力端子 102,402 出力端子 103,403 電源端子 121,421 NPN型遅延回路 122,422 PNP型遅延回路
[Description of References] Q101, Q401 NPN transistor Q102, Q402 PNP transistor I101, I102, I401, I402 Current source R101-R106, R402-R410 Resistance C101-C104, C401-C404 Capacitor 101, 401 Input terminal 102, 402 Output terminal 103, 403 Power supply terminal 121, 421 NPN type delay circuit 122, 422 PNP type delay circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03H 11/26 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H03H 11/26

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ベースを入力端子に、エミッタを第3の
抵抗の一端に、コレクタを第2の抵抗を介して第2の基
準電位点と第2の容量の一端に接続した一導電型の第1
のトランジスタと、ベースを第1の抵抗の一端と第2の
容量の一端に、エミッタを第6の抵抗の一端に、コレク
タを第5の抵抗を介して第1の基準電位点と第4の容量
の一端に接続した逆導電型の第2のトランジスタとを設
け、第3の抵抗の一端を、第1の電流源を介して第1の
基準電位点と第1の抵抗の一端と第1の容量を介して第
1もしくは第2の基準電位点とに接続し、第6の抵抗の
一端を、第2の電流源を介して第2の基準電位点と第4
の抵抗の一端と第3の容量を介して第1もしくは第2の
基準電位点とに接続し、第4の抵抗の一端と第4の容量
の一端を接続して出力端子とし、上記各素子を、第1の
電流源の電流値と第2の電流源の電流値の相対値を制御
して、第1のトランジスタのベース−エミッタ間電圧と
第1の電流源の電流による第3の抵抗での電圧降下との
和と、第2のトランジスタのベース−エミッタ間電圧と
第2の電流源の電流による第6の抵抗での電圧降下の和
とを等しくし、入力端と出力端の直流電位差を補償する
よう構成した遅延回路。
1. A one-conductivity-type one in which a base is connected to an input terminal, an emitter is connected to one end of a third resistor, and a collector is connected to a second reference potential point and one end of a second capacitor via a second resistor. First
, A base at one end of the first resistor and one end of the second capacitor, an emitter at one end of the sixth resistor, and a collector at the first reference potential point and the fourth resistor via the fifth resistor. A second transistor of the opposite conductivity type connected to one end of the capacitor is provided, and one end of the third resistor is connected to the first reference potential point, one end of the first resistor, and the first resistor via the first current source. And one end of the sixth resistor is connected to the second reference potential point and the fourth reference potential point via the second current source.
And one end of the fourth resistor and one end of the fourth capacitor are connected to one end of the fourth resistor and the first or second reference potential point via the third capacitor to form an output terminal. Is controlled by controlling the relative value of the current value of the first current source and the current value of the second current source, and the third resistance by the base-emitter voltage of the first transistor and the current of the first current source. , And the sum of the voltage between the base and the emitter of the second transistor and the voltage drop at the sixth resistor due to the current of the second current source are equalized. A delay circuit configured to compensate for a potential difference.
【請求項2】 請求項1に記載の構成を基本遅延回路と
し、前記基本遅延回路をn段(nは1以上の正の整数)
直列に接続して構成した遅延回路。
2. The basic delay circuit according to claim 1, wherein said basic delay circuit has n stages (n is a positive integer of 1 or more).
A delay circuit connected in series.
【請求項3】 ベースを入力端子に、エミッタを第3の
抵抗の一端に、コレクタを第2の抵抗を介して第2の基
準電位点と第2の容量の一端に接続した一導電型の第1
のトランジスタと、ベースを第1の抵抗の一端と第2の
容量の一端に、エミッタを第6の抵抗の一端に、コレク
タを第5の抵抗を介して第1の基準電位点と第4の容量
の一端に接続した逆導電型の第2のトランジスタとを設
け、第3の抵抗の一端を、第7の抵抗の一端と第1の容
量を介して第1もしくは第2の基準電位点とに接続し、
第7の抵抗の一端を、第1の電流源を介して第1の基準
電位点と第1の抵抗の一端とに接続し、第6の抵抗の一
端を、第8の抵抗の一端と第3の容量を介して第1もし
くは第2の基準電位点とに接続し、第8の抵抗の一端
を、第2の電流源を介して第2の基準電位点電位と第4
の抵抗一端とに接続し、第4の抵抗の一端と第4の容量
の一端を接続して出力端子とし、上記各素子を、第1の
電流源の電流値と第2の電流源の電流値の相対値を制御
して、第1のトランジスタのベース−エミッタ間電圧と
第1の電流源の電流による第3の抵抗と第7の抵抗での
電圧降下との和と、第2のトランジスタのベース−エミ
ッタ間電圧と第2の電流源の電流による第6の抵抗と第
8の抵抗での電圧降下との和を等しくし、入力端と出力
端の直流電位差を補償するよう構成した遅延回路。
3. A one-conductivity type having a base connected to an input terminal, an emitter connected to one end of a third resistor, and a collector connected to a second reference potential point and one end of a second capacitor via a second resistor. First
, A base at one end of the first resistor and one end of the second capacitor, an emitter at one end of the sixth resistor, and a collector at the first reference potential point and the fourth resistor via the fifth resistor. A second transistor of the opposite conductivity type connected to one end of the capacitor, and one end of the third resistor connected to one end of the seventh resistor and the first or second reference potential point via the first capacitor; Connect to
One end of the seventh resistor is connected to the first reference potential point and one end of the first resistor via the first current source, and one end of the sixth resistor is connected to one end of the eighth resistor and the first resistor. 3 is connected to the first or second reference potential point via the third capacitor, and one end of the eighth resistor is connected to the second reference potential point potential via the second current source.
And one end of a fourth resistor is connected to one end of a fourth capacitor to serve as an output terminal, and each of the elements is connected to a current value of a first current source and a current value of a second current source. Controlling the relative value of the first transistor, the sum of the base-emitter voltage of the first transistor, the voltage drop at the third and seventh resistors due to the current of the first current source, and the second transistor Configured to equalize the sum of the base-emitter voltage and the voltage drop at the sixth resistor and the eighth resistor due to the current of the second current source to compensate for the DC potential difference between the input terminal and the output terminal. circuit.
【請求項4】 請求項3に記載の構成を基本遅延回路と
し、前記基本遅延回路をn段(nは1以上の正の整数)
直列に接続して構成した遅延回路。
4. The basic delay circuit according to claim 3, wherein said basic delay circuit has n stages (n is a positive integer of 1 or more).
A delay circuit connected in series.
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