JP3176045B2 - Touch signal probe - Google Patents
Touch signal probeInfo
- Publication number
- JP3176045B2 JP3176045B2 JP21401098A JP21401098A JP3176045B2 JP 3176045 B2 JP3176045 B2 JP 3176045B2 JP 21401098 A JP21401098 A JP 21401098A JP 21401098 A JP21401098 A JP 21401098A JP 3176045 B2 JP3176045 B2 JP 3176045B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection
- contact
- stylus
- signal
- touch signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 43
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 120
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 claims description 57
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、三次元測定機ある
いは工作機械等の形状測定に好適なタッチ信号プローブ
に関するもので、より詳しくは、低測定力、高感度の加
振式タッチ信号プローブに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a touch signal probe suitable for measuring a shape of a three-dimensional measuring machine or a machine tool, and more particularly to a vibrating touch signal probe having a low measuring force and a high sensitivity. Things.
【0002】[0002]
【背景技術】被測定物の形状、寸法等の測定を行う測定
機としてハイトゲージ(一次元測定機)、三次元測定
機、輪郭測定機等が知られている。その場合の座標検出
や位置検出を行うために、測定機には、被測定物との接
触を検出するタッチ信号プローブが用いられる。このタ
ッチ信号プローブの検出原理として、先端に被測定物と
接触する接触部を有する略円柱状のスタイラスと、この
スタイラスを加振する加振手段と、接触部が被測定物に
接触する際の接触に伴う振動状態の変化を検出する検出
手段とを備え、この検出手段で検出した振動が検出トリ
ガレベルまで減衰した時に接触トリガ信号を発信し、そ
の時の座標値を読み込む構造がある。2. Description of the Related Art A height gauge (one-dimensional measuring machine), a three-dimensional measuring machine, a contour measuring machine and the like are known as measuring machines for measuring the shape and dimensions of an object to be measured. In order to perform coordinate detection and position detection in that case, a touch signal probe that detects contact with an object to be measured is used for the measuring device. As a detection principle of the touch signal probe, a substantially cylindrical stylus having a contact portion at its tip that comes into contact with an object to be measured, a vibrating means for vibrating the stylus, and a stylus when the contact portion comes into contact with the object to be measured. Detecting means for detecting a change in a vibration state due to contact is provided, and when the vibration detected by the detecting means attenuates to a detection trigger level, a contact trigger signal is transmitted, and a coordinate value at that time is read.
【0003】この加振型タッチ信号プローブの応用範囲
を広げるためにスタースタイラス化を図ることが望まれ
ており、そのため、本件出願人は、図5に示された通
り、スタイラスを十字に配置した加振型タッチ信号プロ
ーブを開発している。図5で示されるタッチ信号プロー
ブは、プローブ支持体50にブロック状のスタイラス支
持体51を取り付け、このスタイラス支持体51の上下
面の四隅に突設された設置用突起部52にそれぞれ加振
手段及び検出手段である圧電素子53を配置し、各側面
中心位置にそれぞれX軸、Y軸方向に一致する互いに対
称な第1,第2のスタイラス54を配置した構造であ
る。この構造のタッチ信号プローブでは、スタイラス支
持体51と複数本のスタイラス54とを含めた全体が一
つの振動系をなす振動子とされており、シンプルで組み
立てやすく安定した共振特性が得られる。[0003] It is desired to use a stylus in order to widen the application range of the vibrating touch signal probe. Therefore, as shown in FIG. 5, the applicant has arranged the stylus in a cross shape. We are developing an excitation type touch signal probe. In the touch signal probe shown in FIG. 5, a block-shaped stylus support 51 is attached to a probe support 50, and vibrating means are respectively provided on installation protrusions 52 projecting from four corners of the upper and lower surfaces of the stylus support 51. And a piezo-electric element 53 serving as a detecting means, and symmetrical first and second styluses 54, which coincide with each other in the X-axis and Y-axis directions, are disposed at the center positions of the respective side surfaces. In the touch signal probe having this structure, the entire vibrator including the stylus support body 51 and the plurality of styluses 54 constitutes a single vibrating system, so that simple, easy to assemble and stable resonance characteristics can be obtained.
【0004】図5で示される十字型タッチ信号プローブ
では、圧電素子53は、従来の真っ直ぐな超音波タッチ
センサの配線パターンが利用されている。つまり、1枚
の圧電素子53の一部を加振用電極53Aとして利用
し、残りの一部を検出用電極53Bとして利用し、これ
らの電極53A,53Bを互いに対向するスタイラス5
4の長手方向と一致させて配置している。さらに、圧電
素子53は図6に示される加振回路及び制御回路に接続
される。図6において、加振回路は加振用電極53Aに
加振用電流を付与する駆動回路55と、この駆動回路5
5に接続される電源56とから構成される。制御回路
は、検出用電極53Bで検出された検出信号の振幅を直
流レベルに変換する振幅−直流レベル変換回路57と、
この振幅−直流レベル変換回路57で出力された信号か
らタッチトリガ信号を発生するタッチトリガ信号発生回
路58とから構成される。In the cross-shaped touch signal probe shown in FIG. 5, the piezoelectric element 53 uses a wiring pattern of a conventional straight ultrasonic touch sensor. In other words, a part of one piezoelectric element 53 is used as a vibration electrode 53A, and the remaining part is used as a detection electrode 53B, and these electrodes 53A and 53B are used as stylus 5 facing each other.
4 are aligned with the longitudinal direction. Further, the piezoelectric element 53 is connected to a vibration circuit and a control circuit shown in FIG. In FIG. 6, a vibration circuit includes a drive circuit 55 for applying a vibration current to the vibration electrode 53A,
5 connected to a power supply 56. The control circuit includes an amplitude-DC level conversion circuit 57 that converts the amplitude of the detection signal detected by the detection electrode 53B into a DC level,
And a touch trigger signal generation circuit 58 for generating a touch trigger signal from the signal output from the amplitude-DC level conversion circuit 57.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】図5で示されるタッチ
信号プローブでは、1枚の圧電素子53に加振用電極5
3Aと検出用電極53Bとの双方があるため、振動子の
加振検出方向が一軸方向だけとなり、この方向では、十
分な検出性能を確保できるものの、この方向と交差する
方向では、検出性能が不十分となってスタイラス毎に検
出性能がばらついてしまうという問題点がある。また、
2枚の圧電素子53から検出される複数の検出信号は振
幅−直流レベル変換回路57に送られることになり、図
7で示される通り、一の圧電素子53で検出される検出
信号S1と他の圧電素子53で検出される検出信号S2とは
アナログ加算されて検出信号Sとなる。In the touch signal probe shown in FIG. 5, the vibration electrode 5
Since there are both 3A and the detection electrode 53B, the vibration detection direction of the vibrator is only one axis direction. In this direction, sufficient detection performance can be ensured, but in the direction intersecting this direction, the detection performance is low. There is a problem that the detection performance becomes insufficient and the detection performance varies for each stylus. Also,
A plurality of detection signals detected from the two piezoelectric elements 53 are sent to the amplitude-to-DC level conversion circuit 57, and as shown in FIG. Is analog-added to the detection signal S2 detected by the piezoelectric element 53 of FIG.
【0006】この検出信号Sは、図8で示される通り、
各検出信号S1,S2がアナログ加算されるので、加算され
た検出信号Sは、挙動が平準化されて接触直後の波形が
鈍ってしまう。図8において、個別の検出信号S1だけを
振幅−直流レベル変換した場合、この信号S1が接触開始
から最初にタッチトリガ信号の検出トリガレベルまで減
衰するまでの検出遅れ時間はt1かかり、個別の検出信号
S2だけを振幅−直流レベル変換した場合、この信号S2が
接触開始から最初にタッチトリガ信号の検出トリガレベ
ルまで減衰するまでの検出遅れ時間がt2かかる。これに
対して、これらの検出信号S1,S2を加算した検出信号S
を振幅−直流レベル変換した場合、この信号Sが接触開
始から最初にタッチトリガ信号の検出トリガレベルまで
減衰するまでの検出遅れ時間tは、検出信号Sが異なる
系統の検出信号S1,S2を加算することで接触直後の波形
が鈍ってしまうため、t1,t2より長くかかってしまう。The detection signal S is, as shown in FIG.
Since the detection signals S1 and S2 are added in an analog manner, the behavior of the added detection signal S is leveled and the waveform immediately after the contact is dull. In FIG. 8, when only the individual detection signal S1 is subjected to amplitude-to-DC level conversion, the detection delay time from when the signal S1 starts to be attenuated to the detection trigger level of the touch trigger signal for the first time is t1. signal
When only S2 is subjected to amplitude-DC level conversion, it takes a detection delay time t2 from when the signal S2 is first attenuated to the detection trigger level of the touch trigger signal from the start of contact. On the other hand, the detection signal S obtained by adding these detection signals S1 and S2 is
When the signal S is subjected to amplitude-to-DC level conversion, the detection delay time t from when the signal S first attenuates to the detection trigger level of the touch trigger signal after the start of contact is the sum of the detection signals S1 and S2 of the systems where the detection signal S is different. As a result, the waveform immediately after the contact becomes dull, and it takes longer than t1 and t2.
【0007】加えて、検出処理される信号Sが一系統で
あるから、図9で示される通り、信号波形の挙動が変化
した場合、検出トリガレベルに最初の挙動で到達しなく
なり、その後の挙動で到達するまで大きく応答時間をロ
スすることになる。図9は繰り返し測定を行う場合の誤
差要因を示すもので、最も遅れが少ない検出信号Sは、
接触開始から最初にタッチトリガ信号の検出トリガレベ
ルまで減衰するまでの検出遅れ時間がtとなるが、同じ
系統の信号であっても、繰り返し測定時においては、そ
の波形が変動することがあり、その波形が振動した検出
信号S'は検出遅れ時間がt'となる。この時間の差(t'−
t)が検出遅れ時間のバラツキ誤差となる。In addition, since the signal S to be detected is one system, when the behavior of the signal waveform changes as shown in FIG. 9, the detection trigger level does not reach the initial behavior, and the subsequent The response time is greatly reduced until the time is reached. FIG. 9 shows an error factor in the case where the measurement is repeatedly performed.
Although the detection delay time from the start of contact to the first decay to the detection trigger level of the touch trigger signal is t, even if the signal is of the same system, its waveform may fluctuate during repeated measurement, The detection signal S 'whose waveform oscillates has a detection delay time t'. This time difference (t'-
t) becomes a variation error of the detection delay time.
【0008】本発明の目的は、検出遅れ時間を短縮する
とともにスタイラス間での検出能力のバラツキを改善し
て測定誤差を解消するタッチ信号プローブを提供するも
のである。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a touch signal probe capable of shortening a detection delay time, improving a variation in detection capability between styluses, and eliminating a measurement error.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】そのため、本発明は、検
出手段を複数本のスタイラスにそれぞれ対応して複数配
置し、これらの検出手段によりそれぞれ得られる複数の
検出信号を相互に組み合わせることなく独立して用いる
ことにより前記目的を達成しようとするものである。具
体的には、本発明のタッチ信号プローブは、プローブ支
持体に設けられたスタイラス支持体と、このスタイラス
支持体にそれぞれ放射状に突出形成されるとともに先端
に被接触部に接触する接触部を有する複数本のスタイラ
スとが含んで構成される振動子と、前記スタイラス支持
体に配置されるとともに前記振動子の固有振動数と略一
致した振動数で前記スタイラスを加振する加振手段と、
前記スタイラス支持体に配置されるとともに前記接触部
が被測定物と接触する際に接触に伴って変化する振動の
状態を検出する検出手段と、この検出手段で検出された
検出信号を演算処理して接触トリガ信号を発生する制御
手段とを備えたタッチ信号プローブであって、前記検出
手段は前記複数本のスタイラスにそれぞれ対応するよう
に前記スタイラス支持体に複数配置され、前記制御手段
は前記複数の検出手段によりそれぞれ得られる複数の検
出信号を相互に組み合わせることなく独立して用いるこ
とにより前記接触部の被接触部への接触に伴う振動状態
の変化の検出が前記複数のスタイラスのいずれへも依存
することがなく、かつ、前記接触部が被接触部にどの方
向から接触しても依存することがないことを特徴とす
る。Therefore, according to the present invention, a plurality of detecting means are arranged corresponding to a plurality of styluses, respectively, and a plurality of detection signals respectively obtained by these detecting means are independently combined without being combined with each other. It is intended to achieve the above-mentioned object by being used. Specifically, the touch signal probe of the present invention has a stylus support provided on the probe support, and a contact portion which is formed to project radially from the stylus support and which comes into contact with the contacted portion at the tip. A vibrator configured to include a plurality of styluses, and vibrating means disposed on the stylus support and vibrating the stylus at a frequency substantially equal to a natural frequency of the vibrator;
A detecting unit that is disposed on the stylus support and detects a state of vibration that changes with the contact when the contact unit comes into contact with the object to be measured, and performs an arithmetic processing on a detection signal detected by the detecting unit. And a control means for generating a contact trigger signal by means of a stylus support, wherein the plurality of the detecting means are arranged on the stylus support so as to respectively correspond to the plurality of styluses, and the control means comprises the plurality of styluses. The detection of a change in the vibration state caused by the contact of the contact portion with the contacted portion can be performed on any of the plurality of styluses by independently using the plurality of detection signals obtained by the detection means without being combined with each other. And the contact portion does not depend on the contacted portion from any direction.
【0010】この構成の本発明では、測定のため、タッ
チ信号プローブを移動させて被測定物に接触部を接触さ
せるが、この際、加振手段で振動子を加振して共振状態
を構成する。振動子が共振した状態でスタイラスの接触
部が被接触部に接触すると、検出手段で検出される検出
信号が変化し、この検出信号が制御手段で演算処理され
て接触トリガ信号が発生される。本発明では、スタイラ
ス全ての方向に加振及び検出を同時に行うことになり、
複数のスタイラスの接触部のいずれに対して被接触部が
接触しても、同じ条件で検出が行える。そのため、スタ
イラス毎の検出性能のバラツキをキャンセルすることが
できる。その上、各検出手段で検出される検出信号を加
算することなく別個に処理するため、各検出手段からの
検出信号が相互に影響し合うことがない。これにより、
鋭敏に変化する信号を鈍らせることなく検出することが
でき、検出遅れ時間を短縮することができる。In the present invention having this configuration, for the purpose of measurement, the touch signal probe is moved to bring the contact portion into contact with the object to be measured. At this time, the vibrator is vibrated by vibrating means to form a resonance state. I do. When the contact portion of the stylus comes into contact with the contacted portion in a state where the vibrator resonates, the detection signal detected by the detection unit changes, and the detection signal is arithmetically processed by the control unit to generate a contact trigger signal. In the present invention, vibration and detection are performed simultaneously in all directions of the stylus,
Even if the contacted part comes into contact with any of the contact parts of the plurality of styluses, detection can be performed under the same conditions. Therefore, it is possible to cancel the variation in the detection performance for each stylus. In addition, since the detection signals detected by the respective detection units are separately processed without being added, the detection signals from the respective detection units do not influence each other. This allows
A sharply changing signal can be detected without dulling, and the detection delay time can be reduced.
【0011】ここで、本発明では、前記制御手段を、前
記複数の検出手段により独立に得られた複数の検出信号
に対してそれぞれ個別に信号処理を行って各処理系統毎
に個別の接触トリガ信号を発生させ、全ての処理系統か
ら発生する前記個別の接触トリガ信号のうち先着信号を
取り出して総合の接触トリガ信号とすることにより、前
記接触部の被接触部への接触を開始してから前記総合の
接触トリガ信号が発生するまでの検出遅れ時間が前記複
数のスタイラスのいずれへも依存することがなく、か
つ、前記接触部が被接触部にどの方向から接触しても依
存することがない構成としてもよい。Here, in the present invention, the control means individually performs signal processing on a plurality of detection signals independently obtained by the plurality of detection means, and performs a separate contact trigger for each processing system. A signal is generated, and the first contact signal among the individual contact trigger signals generated from all processing systems is taken out and used as a total contact trigger signal, so that the contact of the contact portion with the contacted portion is started. The detection delay time until the generation of the total contact trigger signal does not depend on any of the plurality of styluses, and may depend on the contact portion coming into contact with the contacted portion from any direction. There may be no configuration.
【0012】この構成では、それぞれの信号系統で独立
に信号処理して発生させた複数の接触トリガ信号のう
ち、最も速く発生した接触トリガ信号をもって最終的な
一つの接触トリガ信号とするため、繰り返し測定に際し
て系統毎の検出信号の波形が変化しても、常にセンサの
検出遅れ時間が最小となるようにされ、検出遅れ時間の
短縮を図ることができる。つまり、繰り返し測定を行う
と、接触トリガ信号を発するのに最も短い系統の検出信
号が定まるが、その系統の信号波形が仮に変化しても、
その次に到達時間の短い系統の検出信号が直ちに接触ト
リガ信号を発生させることになるので、センサの検出遅
れ時間が常に最小となる。In this configuration, of the plurality of contact trigger signals generated by independently processing signals in the respective signal systems, the contact trigger signal generated fastest is used as the final one contact trigger signal. Even when the waveform of the detection signal for each system changes during measurement, the detection delay time of the sensor is always minimized, and the detection delay time can be reduced. In other words, if the measurement is repeated, the detection signal of the shortest system for generating the contact trigger signal is determined, but even if the signal waveform of that system changes,
Then, the detection signal of the system with the shortest arrival time immediately generates the contact trigger signal, so that the detection delay time of the sensor is always minimized.
【0013】さらに、前記複数の検出手段を前記スタイ
ラス支持体の一面に独立して配置し、前記加振手段を、
前記スタイラス支持体の前記一面と前記スタイラスを挟
んで対向する他面に前記検出手段と対応して複数配置し
た構成としてもよい。この構成では、それぞれ検出手段
と加振手段とがスタイラスの基端部を挟んで対向配置さ
れることになるため、検出手段と加振手段とがスタイラ
スの基端部を挟んで近接配置することができ、スタイラ
スの近傍でスタイラスを加振手段で確実に加振すること
ができるとともに、その振動状態の変化を検出手段で確
実に検出することができる。Further, the plurality of detecting means are independently arranged on one surface of the stylus support, and the vibrating means is
A plurality of stylus supports may be arranged on the other surface opposing the stylus with the stylus interposed therebetween in correspondence with the detection means. In this configuration, the detecting means and the vibrating means are respectively opposed to each other with the base end of the stylus interposed therebetween. Therefore, the detecting means and the vibrating means are arranged close to each other with the base end of the stylus interposed therebetween. Thus, the stylus can be reliably vibrated by the vibrating means in the vicinity of the stylus, and the change in the vibration state can be reliably detected by the detecting means.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】以下、本発明に好適な実施の形態
について、添付図面を参照して詳細に説明する。図1か
ら図4には本発明の一実施形態が示されている。図1は
本実施形態にかかるタッチ信号プローブの分解斜視図で
あり、図2はタッチ信号プローブの斜視図である。これ
らの図において、タッチ信号プローブ1は、プローブ支
持体2の円柱状先端部2Aが中心に貫通した略ブロック
状のスタイラス支持体3と、このスタイラス支持体3の
X軸及びY軸にそれぞれ放射状に突出形成される4本の
スタイラス4とが含んで構成される振動子5と、スタイ
ラス支持体3の上面に配置された加振用圧電素子6と、
スタイラス支持体3の下面に配置された検出用圧電素子
7と、加振用圧電素子6と接続された加振回路8と、検
出用圧電素子7と接続された制御手段9とを備えて構成
されている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. 1 to 4 show one embodiment of the present invention. FIG. 1 is an exploded perspective view of the touch signal probe according to the present embodiment, and FIG. 2 is a perspective view of the touch signal probe. In these figures, a touch signal probe 1 has a substantially block-shaped stylus support 3 through which a columnar tip 2A of a probe support 2 penetrates at the center, and radially extend along the X-axis and the Y-axis of the stylus support 3, respectively. A vibrator 5 including four styluses 4 protruding from the vibrator; a vibrating piezoelectric element 6 disposed on an upper surface of the stylus support 3;
A configuration including a piezoelectric element for detection 7 arranged on the lower surface of the stylus support 3, a vibration circuit 8 connected to the piezoelectric element 6 for vibration, and control means 9 connected to the piezoelectric element 7 for detection Have been.
【0015】スタイラス支持体3は、その中心がX,
Y,Z軸の原点に一致し、かつ、Z軸と垂直な平面の形
状が正方形の略直方体状のブロックであり、そのZ軸と
垂直な上下の2平面の四隅に突設された設置用突起部3
Aに圧電素子6,7が接着配置されている。スタイラス
4は、略柱状に形成される本体4Aと、その本体4Aの
先端に設けられた略球状の接触部4Bとを備えて構成さ
れ、この接触部4Bは、図示しない被接触部に接触可能
である。スタイラス4の本体4Aは、その基端がスタイ
ラス支持体3に接着、溶接等で固定された構造である。The center of the stylus support 3 is X,
A substantially rectangular parallelepiped block having a plane that is coincident with the origin of the Y and Z axes and that is perpendicular to the Z axis and has a square shape, and is installed at four corners of two upper and lower planes perpendicular to the Z axis. Projection 3
The piezoelectric elements 6 and 7 are bonded to A. The stylus 4 includes a main body 4A formed in a substantially columnar shape, and a substantially spherical contact portion 4B provided at the tip of the main body 4A. The contact portion 4B can contact a contacted portion (not shown). It is. The main body 4A of the stylus 4 has a structure in which the base end is fixed to the stylus support 3 by bonding, welding, or the like.
【0016】加振用圧電素子6は、平面形が正方形の扁
平状な板状に形成されるとともに、Z軸と直交する平面
内に配置されている。この圧電素子6には4個の加振手
段としての加振用電極6Aが分割形成されており、これ
らの加振用電極6Aは4本のスタイラス4の基端側に対
応する位置に配置されている。圧電素子6の中心部に
は、プローブ支持体2の円柱状先端部2Aと干渉しない
ようにするために、円形の切欠6Bが形成されている。
検出用圧電素子7は、平面形が正方形の扁平状な板状に
形成されるとともに、Z軸と直交する平面内に配置され
ている。この圧電素子7には4個の検出手段としての検
出用電極7Aが分割形成されており、これらの検出用電
極7Aは、4本のスタイラス4の基端側に対応する位置
に配置されている。圧電素子7の中心部には、プローブ
支持体2の円柱状先端部2Aと干渉しないようにするた
めに、円形の切欠7Bが形成されている。The vibrating piezoelectric element 6 is formed in a flat plate shape having a square planar shape, and is arranged in a plane orthogonal to the Z axis. The piezoelectric element 6 is formed with four vibrating electrodes 6A as vibrating means, and these vibrating electrodes 6A are arranged at positions corresponding to the base ends of the four styluses 4. ing. A circular notch 6B is formed at the center of the piezoelectric element 6 so as not to interfere with the columnar tip 2A of the probe support 2.
The detecting piezoelectric element 7 is formed in a flat plate shape having a square planar shape, and is disposed in a plane orthogonal to the Z axis. On the piezoelectric element 7, four detection electrodes 7A as detection means are formed separately, and these detection electrodes 7A are arranged at positions corresponding to the base ends of the four styluses 4. . A circular notch 7B is formed at the center of the piezoelectric element 7 so as not to interfere with the columnar tip 2A of the probe support 2.
【0017】即ち、4個の検出用電極7Aは、スタイラ
ス支持体3の上面に独立して配置され、加振用電極6A
は、スタイラス支持体3の上面とスタイラス4の基端部
を挟んで対向する下面に検出用電極7Aと対応して4個
独立して配置されている。加振回路8及び制御手段9の
具体的な構成が図3に示されている。図3において、加
振回路8は、振動子5の固有振動数と略一致した振動数
でスタイラス4を加振するもので、加振用圧電素子6の
4個の加振用電極6Aにそれぞれ加振用電流を付与する
駆動回路10と、この駆動回路10を駆動する電源11
とから構成されている。That is, the four detection electrodes 7A are independently arranged on the upper surface of the stylus support 3, and the excitation electrodes 6A
Are independently arranged on the lower surface facing the upper surface of the stylus support 3 and the base end of the stylus 4 in correspondence with the detection electrodes 7A. FIG. 3 shows a specific configuration of the excitation circuit 8 and the control means 9. In FIG. 3, a vibrating circuit 8 vibrates the stylus 4 at a frequency substantially coincident with the natural frequency of the vibrator 5, and the vibrating circuit 8 applies vibration to the four vibrating electrodes 6 A of the vibrating piezoelectric element 6 respectively. A drive circuit 10 for applying an exciting current, and a power supply 11 for driving the drive circuit 10
It is composed of
【0018】制御手段9は、4個の検出用電極7Aによ
りそれぞれ得られる複数の検出信号を相互に組み合わせ
ることなく独立して用いて接触トリガ信号Sを発生する
もので、4個の検出用電極7Aからそれぞれ検出される
検出信号の振幅を直流レベルにそれぞれ変換する4個の
振幅−直流レベル変換回路12と、これらの振幅−直流
レベル変換回路12からそれぞれ出力された信号から接
触トリガ信号SA,SB,SC,SDを発生する4個の接触トリガ
信号発生回路13と、これらの接触トリガ信号発生回路
13の全ての処理系統から発生する個別の接触トリガ信
号SA,SB,SC,SDのうち先着信号を取り出して総合の接触
トリガ信号Sとする論理演算回路14とから構成され
る。The control means 9 generates the contact trigger signal S by independently using a plurality of detection signals obtained by the four detection electrodes 7A without combining them with each other. 7A, four amplitude-to-DC level conversion circuits 12 for converting the amplitudes of the detection signals respectively detected to DC levels, and contact trigger signals SA, Four contact trigger signal generating circuits 13 that generate SB, SC, and SD, and individual contact trigger signals SA, SB, SC, and SD generated from all processing systems of these contact trigger signal generating circuits 13 A logical operation circuit 14 which takes out a signal and makes it a total contact trigger signal S.
【0019】この論理演算回路14は、接触トリガ信号
発生回路13から送られる接触トリガ信号SA,SB,SC,SD
のうち被測定部への測定部の接触開始から検出トリガレ
ベル到達までの時間が最も短い信号を選択し、最終的な
接触トリガ信号Sを発するものである、即ち、図4に示
される通り、繰り返し測定を行った際に、各接触トリガ
信号SA,SB,SC,SDのうち検出時間が最も短い信号をSAと
すると、この検出信号SAの接触開始から検出トリガレベ
ルまで達する時間はtAである。この検出信号SAの波形の
挙動が変化して信号SA'に変化した場合、接触開始から
検出トリガレベルまで達する時間はtAより長いtA'とな
る。これに対して、各接触トリガ信号SA,SB,SC,SDのう
ち2番目に検出時間が短い信号をSBとすると、この検出
信号SBの接触開始から検出トリガレベルまで達する時間
はtB(tA<tB<tA')となり、最も検出時間が速いtAに
比べて(tB−tA)だけ検出時間が遅れるだけで済む。つ
まり、信号波形の挙動が変化して検出トリガレベルに到
達するタイミングが遅れても、その次、あるいは、さら
にその次に速い系統の検出信号が総合の接触トリガ信号
Sを発することになる。The logic operation circuit 14 generates the contact trigger signals SA, SB, SC, and SD sent from the contact trigger signal generation circuit 13.
Among these, a signal having the shortest time from the start of contact of the measurement unit to the measurement target to the arrival of the detection trigger level is selected, and a final contact trigger signal S is issued, that is, as shown in FIG. When repeatedly measuring, assuming that the signal having the shortest detection time among the contact trigger signals SA, SB, SC, and SD is SA, the time from the start of contact of the detection signal SA to the detection trigger level is tA. . When the behavior of the waveform of the detection signal SA changes to the signal SA ′, the time from the start of contact to the detection trigger level is tA ′ longer than tA. On the other hand, if the signal having the second shortest detection time among the contact trigger signals SA, SB, SC, and SD is SB, the time from the start of contact of the detection signal SB to the detection trigger level is tB (tA <tA < tB <tA ′), and the detection time only needs to be delayed by (tB−tA) compared to tA, which has the fastest detection time. That is, even if the behavior of the signal waveform changes and the timing of reaching the detection trigger level is delayed, the detection signal of the next or the next fastest system will generate the total contact trigger signal S.
【0020】従って、本実施形態では、スタイラス支
持体3と、このスタイラス支持体3にそれぞれ放射状に
突出形成されるとともに先端に接触部4Bを有する4本
のスタイラス4とが含んで構成される振動子5と、スタ
イラス支持体3に配置されるとともに振動子5の固有振
動数と略一致した振動数でスタイラス4を加振する加振
手段6Aと、スタイラス支持体3に配置されるとともに
接触部4Bが被測定物と接触する際に接触に伴って変化
する振動の状態を検出する検出手段7Aと、この検出手
段7Aで検出された検出信号を演算処理して接触トリガ
信号を発生する制御手段9とを備え、検出手段7Aは4
本のスタイラス4にそれぞれ対応するようにスタイラス
支持体3に4個配置されたから、スタイラス4の全ての
長手方向(X軸方向とY軸方向)に加振と検出とを同時
に行えることになり、4本のスタイラス4の接触部4B
のいずれに対して被接触部が接触しても、同じ条件で検
出が行える。そのため、スタイラス4毎の検出性能のバ
ラツキをキャンセルすることができる。Therefore, in the present embodiment, the vibration constituted by including the stylus support 3 and the four styluses 4 which are formed to project radially from the stylus support 3 and have the contact portions 4B at the tips, respectively. Vibrator 5, vibrating means 6 </ b> A disposed on stylus support 3 and vibrating stylus 4 at a frequency substantially equal to the natural frequency of vibrator 5, and a contact portion disposed on stylus support 3 and Detecting means 7A for detecting a state of vibration which changes with the contact when the object 4B comes into contact with an object to be measured, and control means for arithmetically processing a detection signal detected by the detecting means 7A to generate a contact trigger signal 9 and the detecting means 7A is 4
Since four stylus supports 3 are arranged on the stylus support 3 so as to correspond to the respective styluses 4, vibration and detection can be simultaneously performed in all longitudinal directions (X-axis direction and Y-axis direction) of the stylus 4, Contact portion 4B of four styluses 4
No matter which one of the contacted parts comes into contact, detection can be performed under the same conditions. Therefore, it is possible to cancel the variation in the detection performance for each stylus 4.
【0021】しかも、制御手段9は4個の検出手段7
Aによりそれぞれ得られる複数の検出信号を相互に組み
合わせることなく独立して用いることにより接触部4B
の被接触部への接触に伴う振動状態の変化の検出が4本
のスタイラス4のいずれへも依存することがなく、か
つ、接触部4Bが被接触部にどの方向から接触しても依
存することがない構成とされているので、各検出手段7
Aで検出される検出信号を加算することなく別個に処理
するため、各検出手段7Aからの検出信号が相互に影響
し合うことがない。これにより、鋭敏に変化する信号を
鈍らせることなく検出することができ、検出遅れ時間を
短縮化することができる。Further, the control means 9 comprises four detection means 7
A is used independently of the plurality of detection signals obtained by each of the contact portions 4A without being combined with each other.
The detection of the change in the vibration state due to the contact with the contacted portion does not depend on any of the four styluses 4, and depends on the contact portion 4B coming into contact with the contacted portion from any direction. Each detection means 7
Since the detection signals detected by A are separately processed without being added, the detection signals from the respective detection means 7A do not influence each other. As a result, a sharply changing signal can be detected without dulling, and the detection delay time can be reduced.
【0022】さらに、本実施形態では、制御手段9
は、4個の検出手段7Aにより独立に得られた4つの検
出信号に対してそれぞれ個別に信号処理を行って各処理
系統毎に個別の接触トリガ信号SA,SB,SC,SDを発生さ
せ、全ての処理系統から発生する個別の接触トリガ信号
SA,SB,SC,SDのうち先着信号を取り出して総合の接触ト
リガ信号とすることにより、接触部の被接触部への接触
を開始してから総合の接触トリガ信号Sが発生するまで
の検出遅れ時間が4本のスタイラス4のいずれへも依存
することがなく、かつ、接触部4Bが被接触部にどの方
向から接触しても依存することがない構成とされている
ので、それぞれの信号系統で独立に信号処理して発生さ
せた複数の接触トリガ信号SA,SB,SC,SDのうち、最も速
く発生した接触トリガ信号SBをもって最終的な一つの接
触トリガ信号Sとするため、繰り返し測定に際して系統
毎の検出信号が変化しても、常にセンサの検出遅れ時間
が最小となり、検出遅れ時間の短縮を図ることができ
る。Further, in this embodiment, the control means 9
Performs signal processing individually on the four detection signals independently obtained by the four detection means 7A to generate individual contact trigger signals SA, SB, SC, SD for each processing system, Individual touch trigger signals generated from all processing systems
By detecting the first-arrival signal from SA, SB, SC, and SD and using it as a total contact trigger signal, detection from the start of contact of the contact portion to the contacted part until the generation of the total contact trigger signal S The delay time does not depend on any of the four styluses 4, and the contact portion 4B does not depend on the contacted portion from any direction. Of the plurality of contact trigger signals SA, SB, SC, and SD generated by signal processing independently in the system, repeat measurement is performed so that the contact trigger signal SB that occurs the fastest is the final contact trigger signal S. In this case, even if the detection signal for each system changes, the detection delay time of the sensor is always minimized, and the detection delay time can be reduced.
【0023】さらに、4個の検出手段7Aは、ブロッ
ク状のスタイラス支持体3の下面に独立して配置され、
加振手段6Aは、スタイラス支持体3の下面とスタイラ
ス4を挟んで対向する上面に検出手段7Aと対応して4
個配置されているから、それぞれ検出手段7Aと加振手
段6Aとがスタイラス4の基端部を挟んで対向配置され
ることになる。そのため、検出手段7Aと加振手段6A
とがスタイラス4の基端部を挟んで近接配置することが
でき、スタイラス4の近傍でスタイラス4を加振手段6
Aで確実に加振することができるとともに、その振動状
態の変化を検出手段7Aで確実に検出することができ
る。Further, the four detecting means 7A are independently disposed on the lower surface of the block-shaped stylus support 3,
The vibrating means 6A is provided on the upper surface opposed to the lower surface of the stylus support 3 with the stylus 4 interposed therebetween in correspondence with the detecting means 7A.
Since the individual parts are arranged, the detecting means 7A and the vibrating means 6A are respectively opposed to each other with the base end of the stylus 4 interposed therebetween. Therefore, the detecting means 7A and the vibrating means 6A
And the stylus 4 can be disposed close to each other with the base end of the stylus 4 interposed therebetween.
A can reliably apply the vibration, and the change in the vibration state can be reliably detected by the detection means 7A.
【0024】また、検出手段7Aは1枚の検出用圧電
素子7を4個に分割して形成されているため、検出手段
7Aのスタイラス支持体3への取り付けは1枚の圧電素
子7を接着等すればよいから、検出手段7Aの取付作業
を簡単に行うことができる。同様に、加振手段6Aは1
枚の検出用圧電素子7を4個に分割して形成されている
ため、加振手段6Aのスタイラス支持体3への取り付け
は1枚の圧電素子6を接着等すればよいから、加振手段
6Aの取付作業を簡単に行うことができる。Since the detecting means 7A is formed by dividing one detecting piezoelectric element 7 into four pieces, the detecting means 7A is attached to the stylus support 3 by bonding one piezoelectric element 7 thereto. Since it is only necessary to perform the same operation, the attaching work of the detecting means 7A can be easily performed. Similarly, the vibration means 6A is 1
Since the detection piezoelectric elements 7 are divided into four parts, the vibration means 6A can be attached to the stylus support 3 by bonding one piezoelectric element 6 or the like. 6A can be easily attached.
【0025】さらに、スタイラス支持体3はZ軸と直
交する平面が正方形とされた直方体に形成されているか
ら、スタイラス支持体3の中心位置をX,Y,Z軸の原
点に容易に一致させることができるので、タッチ信号プ
ローブの組立作業を容易に行える。また、スタイラス
4は、X軸に沿って固定され原点を挟んで対称配置され
た第1のスタイラスの対と、Y軸に沿って固定され原点
を挟んで対称配置された第2のスタイラスの対とを備え
て構成されているので、スタイラス支持体3の4側面か
らX軸及びY軸にそれぞれスタイラス4が延びた十字型
のスタイラスとすることができる。Further, since the stylus support 3 is formed in a rectangular parallelepiped in which a plane orthogonal to the Z axis is a square, the center position of the stylus support 3 is easily matched with the origin of the X, Y, Z axes. Therefore, the assembling work of the touch signal probe can be easily performed. Further, the stylus 4 is a pair of a first stylus fixed along the X-axis and symmetrically arranged with respect to the origin, and a pair of a second stylus fixed along the Y-axis and symmetrically arranged with respect to the origin. Thus, a cross-shaped stylus in which the stylus 4 extends from the four side surfaces of the stylus support 3 in the X axis and the Y axis, respectively, can be provided.
【0026】なお、本発明は前述の前記各実施形態に限
定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲
であれば次に示す変形例を含むものである。例えば、前
記実施形態では、1枚の圧電素子6を4分割して加振手
段6Aを構成したが、本発明では、4個の加振手段をそ
れぞれ1枚の圧電素子から構成してもよく、あるいは、
圧電素子に代えて他のアクチュエータを用いてもよい。
同様に、1枚の圧電素子7を4分割して検出手段7Aを
構成したが、本発明では、4個の検出手段をそれぞれ1
枚の圧電素子から構成してもよく、あるいは、圧電素子
に代えて他のアクチュエータを用いてもよい。The present invention is not limited to the above embodiments, but includes the following modifications as long as the object of the present invention can be achieved. For example, in the above-described embodiment, the vibrating unit 6A is configured by dividing one piezoelectric element 6 into four parts. However, in the present invention, each of the four vibrating units may be configured by one piezoelectric element. Or
Another actuator may be used instead of the piezoelectric element.
Similarly, the detection means 7A is configured by dividing one piezoelectric element 7 into four parts.
It may be composed of a single piezoelectric element, or another actuator may be used instead of the piezoelectric element.
【0027】さらに、スタイラス4は、X軸及びY軸に
沿った4本としたが、X軸及びY軸に沿って1本ずつ配
置してもよく、あるいは、Z軸方向に沿って設けてもよ
い。X軸及びY軸に沿って1本ずつスタイラス4を設け
る場合にあっては、スタイラス4が設けられていない側
にスタイラス4と振動上の釣り合いを保つためのバラン
サを設けることが好ましい。また、スタイラス支持体3
及び圧電素子6,7は、平面円形形状であってもよい。Further, although the four styluses 4 are provided along the X axis and the Y axis, one stylus may be provided along the X axis and the Y axis, or the stylus 4 may be provided along the Z axis direction. Is also good. When one stylus 4 is provided along each of the X axis and the Y axis, it is preferable to provide a balancer on the side where the stylus 4 is not provided so as to keep the stylus 4 in vibration balance. Also, stylus support 3
The piezoelectric elements 6 and 7 may have a planar circular shape.
【0028】[0028]
【発明の効果】従って、本発明のタッチ信号プローブに
よれば、検出遅れ時間を短縮するとともにスタイラス間
での検出能力のバラツキを改善して測定誤差を解消する
という効果を奏することができる。As described above, according to the touch signal probe of the present invention, it is possible to shorten the detection delay time, improve the variation in the detection capability between styluses, and eliminate the measurement error.
【図1】本発明の一実施形態にかかるタッチ信号プロー
ブの分解斜視図である。FIG. 1 is an exploded perspective view of a touch signal probe according to an embodiment of the present invention.
【図2】前記タッチ信号プローブの斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of the touch signal probe.
【図3】前記タッチ信号プローブの加振手段及び制御手
段の構成を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of a vibration unit and a control unit of the touch signal probe.
【図4】前記実施形態における時間と直流レベル変換さ
れた振幅量との関係を示すグラフである。FIG. 4 is a graph showing a relationship between time and a DC level converted amplitude amount in the embodiment.
【図5】背景技術として説明したタッチ信号プローブの
分解斜視図である。FIG. 5 is an exploded perspective view of a touch signal probe described as a background art.
【図6】背景技術として説明したタッチ信号プローブの
加振回路及び検出回路の構成を示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration of a vibration circuit and a detection circuit of a touch signal probe described as a background art.
【図7】背景技術として説明したタッチ信号プローブの
検出回路の概略構成を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a schematic configuration of a detection circuit of a touch signal probe described as a background art.
【図8】背景技術として説明したタッチ信号プローブに
おける時間と直流レベル変換された振幅量との関係を示
すグラフである。FIG. 8 is a graph showing a relationship between time and a DC level-converted amplitude in a touch signal probe described as a background art.
【図9】背景技術として説明したタッチ信号プローブに
おいて、繰り返し測定を行った場合の時間と直流レベル
変換された振幅量との関係を示すグラフである。FIG. 9 is a graph showing the relationship between time and the DC level-converted amplitude when repeated measurement is performed in the touch signal probe described as the background art.
1 タッチ信号プローブ 2 プローブ支持体 3 スタイラス支持体 4 スタイラス 4B 接触部 5 振動子 6A 加振手段(加振用電極) 7A 検出手段(検出用電極) 9 制御手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Touch signal probe 2 Probe support 3 Stylus support 4 Stylus 4B Contact part 5 Vibrator 6A Vibration means (vibration electrode) 7A Detection means (detection electrode) 9 Control means
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 7/00 - 7/34 102 G01B 5/00 - 5/30 G01B 21/00 - 21/32 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G01B 7 /00-7/34 102 G01B 5/00-5/30 G01B 21/00-21/32
Claims (3)
持体と、このスタイラス支持体にそれぞれ放射状に突出
形成されるとともに先端に被接触部と接触する接触部を
有する複数本のスタイラスとが含んで構成される振動子
と、前記スタイラス支持体に配置されるとともに前記振
動子の固有振動数と略一致した振動数で前記スタイラス
を加振する加振手段と、前記スタイラス支持体に配置さ
れるとともに前記接触部が被測定物と接触する際に接触
に伴って変化する振動の状態を検出する検出手段と、こ
の検出手段で検出された検出信号を演算処理して接触ト
リガ信号を発生する制御手段とを備えたタッチ信号プロ
ーブであって、 前記検出手段は前記複数本のスタイラスにそれぞれ対応
するように前記スタイラス支持体に複数配置され、 前記制御手段は前記複数の検出手段によりそれぞれ得ら
れる複数の検出信号を相互に組み合わせることなく独立
して用いることにより前記接触部の被接触部への接触に
伴う振動状態の変化の検出が前記複数のスタイラスのい
ずれへも依存することがなく、かつ、前記接触部が被接
触部にどの方向から接触しても依存することがないこと
を特徴とするタッチ信号プローブ。1. A stylus support provided on a probe support, and a plurality of styluses each protruding radially from the stylus support and having a contact portion at a tip end for contacting a contacted portion. A vibrator configured, vibrating means disposed on the stylus support and vibrating means for vibrating the stylus at a frequency substantially equal to a natural frequency of the vibrator; and vibrating means disposed on the stylus support Detecting means for detecting a state of vibration that changes with the contact when the contact portion makes contact with an object to be measured, and control means for performing arithmetic processing on a detection signal detected by the detecting means to generate a contact trigger signal A touch signal probe comprising: a plurality of the detecting means arranged on the stylus support so as to respectively correspond to the plurality of styluses; The control means uses the plurality of detection signals respectively obtained by the plurality of detection means independently without combining with each other, thereby detecting the change in the vibration state caused by the contact of the contact portion with the contacted portion. A touch signal probe which does not depend on any of the styluses, and does not depend on which direction the contact portion contacts the contacted portion from any direction.
いて、前記制御手段は、前記複数の検出手段により独立
に得られた複数の検出信号に対してそれぞれ個別に信号
処理を行って各処理系統毎に個別の接触トリガ信号を発
生させ、全ての処理系統から発生する前記個別の接触ト
リガ信号のうち先着信号を取り出して総合の接触トリガ
信号とすることにより、前記接触部の被接触部への接触
を開始してから前記総合の接触トリガ信号が発生するま
での検出遅れ時間が前記複数のスタイラスのいずれへも
依存することがなく、かつ、前記接触部が被接触部にど
の方向から接触しても依存することがないことを特徴と
するタッチ信号プローブ。2. The touch signal probe according to claim 1, wherein said control means individually performs signal processing on a plurality of detection signals independently obtained by said plurality of detection means, respectively, to process each processing system. By generating an individual contact trigger signal for each of the individual contact trigger signals generated from all the processing systems, by taking out the first-arrived signal and forming a total contact trigger signal, The detection delay time from the start of contact to the generation of the total contact trigger signal does not depend on any of the plurality of styluses, and the contact portion contacts the contacted portion from any direction. A touch signal probe characterized in that it does not depend on the touch signal probe.
ブにおいて、前記複数の検出手段は、前記スタイラス支
持体の一面に独立して配置され、前記加振手段は、前記
スタイラス支持体の前記一面と前記スタイラスを挟んで
対向する他面に前記検出手段と対応して複数配置されて
いることを特徴とするタッチ信号プローブ。3. The touch signal probe according to claim 1, wherein the plurality of detecting means are independently arranged on one surface of the stylus support, and the vibrating means is provided on the stylus support. A touch signal probe, wherein a plurality of touch signal probes are arranged corresponding to the detection means on one surface and the other surface facing the stylus.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21401098A JP3176045B2 (en) | 1998-07-29 | 1998-07-29 | Touch signal probe |
| GB9907661A GB2336433B (en) | 1998-04-14 | 1999-04-01 | Touch signal probe |
| US09/290,610 US6360176B1 (en) | 1998-04-14 | 1999-04-13 | Touch signal probe |
| DE19916576A DE19916576A1 (en) | 1998-04-14 | 1999-04-13 | Touch signal probe for detecting contact with a workpiece |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21401098A JP3176045B2 (en) | 1998-07-29 | 1998-07-29 | Touch signal probe |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000046507A JP2000046507A (en) | 2000-02-18 |
| JP3176045B2 true JP3176045B2 (en) | 2001-06-11 |
Family
ID=16648782
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21401098A Expired - Fee Related JP3176045B2 (en) | 1998-04-14 | 1998-07-29 | Touch signal probe |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3176045B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5693978B2 (en) * | 2011-01-11 | 2015-04-01 | 株式会社ミツトヨ | Image probe calibration method |
-
1998
- 1998-07-29 JP JP21401098A patent/JP3176045B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000046507A (en) | 2000-02-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6360176B1 (en) | Touch signal probe | |
| JPH0243121B2 (en) | ||
| US6516669B2 (en) | Vibration-type contact detection sensor | |
| JP2625364B2 (en) | Touch signal probe | |
| JP3176045B2 (en) | Touch signal probe | |
| JP2000055643A (en) | Touch signal probe | |
| JP3197860B2 (en) | Touch signal probe | |
| JPH09503857A (en) | Coordinate measuring instrument with a contact in the form of a solid oscillator | |
| JP3650555B2 (en) | Touch sensor | |
| JP3650496B2 (en) | Touch signal probe | |
| JP3130286B2 (en) | Touch signal probe | |
| JP2000338128A (en) | Sensitivity evaluation method of acceleration sensor element | |
| JP3650556B2 (en) | Touch sensor | |
| JP2002267451A (en) | Angular velocity sensor | |
| JPH07324924A (en) | Touch signal probe | |
| EP0309963A2 (en) | Vibration gyro having an H-shaped vibrator | |
| JPH1073430A (en) | Touch signal probe | |
| JPH0723689Y2 (en) | Piezoelectric gyro oscillator | |
| JPH1047941A (en) | Touch signal probe | |
| JP4399052B2 (en) | Operation control structure of touch signal probe | |
| JPH11101603A (en) | Contact sensor and its mounting structure | |
| JPH0238917A (en) | Vibration gyro | |
| JP2000292145A (en) | Operation control structure of touch signal probe | |
| JPH0540040A (en) | Gyro device | |
| JPS62250309A (en) | Manufacturing method of angular velocity sensor |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20010321 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130406 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160406 Year of fee payment: 15 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |