JP3176355B2 - Multi spark generator - Google Patents
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はマルチスパーク発生
装置に関し、特に制御、再現可能で実用性のある静電気
放電を発生させ、コンピュータ及びマイクロチップを基
本とする電子設備における感度を検出するマルチスパー
ク発生装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-spark generator, and more particularly to a multi-spark generator for generating a controllable, reproducible and practical electrostatic discharge and detecting sensitivity in electronic equipment based on computers and microchips. Related to the device.
【0002】[0002]
【従来の技術】コンピュータ及びマイクロチップを基本
とする電子設備における故障の主因の一つは静電気放電
によるものであり、日常の仕事や生活においては、様々
な材料を使用するため摩擦による静電気が発生し易く、
合成材料がその典型的なものの一つである。2. Description of the Related Art One of the main causes of failure in electronic equipment based on computers and microchips is due to electrostatic discharge. In everyday work and daily life, various materials use static electricity due to friction. Easy to do,
Synthetic materials are one of the typical ones.
【0003】材質の異なる二つのものが接触すると、摩
擦や瞬間的な離れなどによりその一方から他方に電子が
吸引され、その結果、個々のものに異なる電荷電圧レベ
ルが発生する。これが静電気である。ある材質の組み合
わせによっては摩擦や瞬間的な離れなどにより数千Vの
静電気が発生する。When two materials of different materials come into contact with each other, electrons are attracted from one to the other due to friction, instantaneous separation or the like, and as a result, different charge voltage levels are generated in the individual materials. This is static electricity. Depending on the combination of certain materials, static electricity of several thousand volts is generated due to friction or instantaneous separation.
【0004】また、寒冷かつ乾燥した気候において、合
成材質のカーペット上を歩いた場合、数千Vの静電気が
発生し、導電体に触れると痛みを感じたり、スパークが
見えたりする。また、寒冷かつ乾燥した気候において
は、合成材質の椅子に座って左右に動いただけでも数千
Vの静電気が発生し、素早く立ち上がり導電体に触れる
と、上記と同じように、痛みを感じたり、スパークが見
えたりする。これが、いわゆる静電気放電(ESD:Effec
t of Static Discharge)である。When walking on a carpet made of synthetic material in a cold and dry climate, static electricity of several thousand volts is generated, and when touching a conductor, pain is felt or sparks are seen. Also, in a cold and dry climate, sitting on a chair made of synthetic material and moving left and right can generate thousands of volts of static electricity. You can see sparks. This is the so-called electrostatic discharge (ESD: Effec
t of Static Discharge).
【0005】ESDは日常生活においても頻繁に多発する
ことであり、特に寒冷かつ乾燥した気候では、室内の湿
度が低いため、オフィスや家において頻繁に発生し、今
日のような情報デジタル化社会では、コンピュータ及び
マイクロチップを基本とする電子製品が人々の仕事や生
活に深く関係している。従って、製品の品質及び信頼度
を向上させるため、コンピュータ及びマイクロチップを
基本とする電子設備に対して静電気放電(ESD)及びESD
によって発生する磁場干渉テストを行う必要がある。[0005] ESD frequently occurs in daily life, especially in cold and dry climates, where it occurs frequently in offices and homes due to low indoor humidity. Electronic products based on computers and microchips are closely related to people's work and life. Therefore, in order to improve the quality and reliability of products, electrostatic discharge (ESD) and ESD are required for computers and microchip-based electronic equipment.
It is necessary to perform a magnetic field interference test caused by the above.
【0006】現在、国際電気技術委員会では1000-4-2静
電気放電シミュレータ(IEC1000-4-2 ESD Simulato
r)に接触放電及び空気放電の二つのパターンを使用し
て静電気放電(ESD)テストを行っているが、IEC1000-4
-2の書類によれば、接触テストがより好ましい方法であ
る。前記接触テストでは、使用者が静電気シミュレータ
(ESD Simulator)をテストすべき設備(EUT:Equipme
nt Under Test)に接触させ、コンデンサの放電電流が
継電器接触によって直接接触ポイントを経由して被テス
ト設備に流れ込む。そして、テストポイントが金属であ
る場合は、接触放電テストを行うようメーカーに対して
要求している。前記接触放電テストを行うことができな
い場合は、空気放電テストを用いる。At present, the International Electrotechnical Commission has established a 1000-4-2 ESD simulator (IEC1000-4-2 ESD Simulato).
r) The electrostatic discharge (ESD) test is performed using two patterns of contact discharge and air discharge.
According to the -2 document, contact testing is the preferred method. In the contact test, equipment (EUT: Equipme) where the user should test an electrostatic simulator (ESD Simulator)
nt under test), and the discharge current of the capacitor flows into the equipment under test via the contact point directly by the relay contact. If the test point is a metal, the manufacturer is required to perform a contact discharge test. If the contact discharge test cannot be performed, an air discharge test is used.
【0007】また、前記接触放電テストは再現できる
が、実用性のあるESD 電流を発生させることはできな
い。空気放電テストでは、IEC1000-4-2における静電気
放電シミュレレータを、まず、充電させてからテストす
べき設備(EUT)に隣接させて被テスト設備にエアーギ
ャップ放電する。しかしながら、様々な環境による影響
があるため、前記空気放電テストは制御不能であって再
現できない。Although the contact discharge test can be reproduced, a practical ESD current cannot be generated. In the air discharge test, an electrostatic discharge simulator according to IEC1000-4-2 is first charged and then discharged to the equipment under test adjacent to the equipment to be tested (EUT). However, due to various environmental influences, the air discharge test is out of control and cannot be reproduced.
【0008】更に、前記接触放電テスト及び空気放電テ
ストは、いずれも被テスト設備と発生装置とを接続する
アース線が必要であり、テストの結果は明確なものでは
ない。Furthermore, the contact discharge test and the air discharge test both require a ground wire connecting the equipment under test and the generator, and the test results are not clear.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、前述の課題
に鑑みてなされたものであり、操作し易く、付加AC或
いはDC電源を必要とせず、被テスト設備と発生装置と
を接続するアース線が不必要であって、使用者の人体に
よる影響のないマルチスパーク発生装置を提供する。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, is easy to operate, does not require an additional AC or DC power supply, and has a ground connecting the equipment under test and the generator. Provided is a multi-spark generator that does not require wires and is not affected by the human body of a user.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】以上のような課題を解決
するために、請求項1の発明は、制御可能であると共
に、再現可能で実用性のある放電電流を発生させ、コン
ピュータ及びマイクロチップを基本とする電子設備をテ
ストするためのマルチスパーク発生装置であって、電気
絶縁ケーシング(12,13,14,15,16,1
7,18)と、該電気絶縁ケーシング(12〜18)に
配設される金属操作手段(23)と金属枢支フレーム
(20)と第1、第2、第3のスパーク管(32,3
8,43)とインピータンス素子(35)とネオンラン
プ(41)と金属テスト先端(45)とを備え、前記金
属操作手段(23)は一対の圧電結晶からなる高電圧発
生器(24)及び該高電圧発生器(24)の両端に取り
付けられる第1、第2円盤(22,25)を備え、前記
金属操作手段(23)は前記第1金属円盤 (22)に
接続されている金属双枢軸(21)によって前記金属枢
支フレーム(20)に枢支され、前記金属操作手段(2
3)の第2の金属円盤(25)に金属調整ねじ(26)
が接続され、前記第1スパーク管(32)は、第1電極
(31)及び第2電極(33)を有し、前記第2スパー
ク管(38)は、第1電極(37)及び第2電極(3
9)を有し、前記第3スパーク管(43)は、第1電極
(42)及び第2電極(44)を有し、前記高電圧発生
器(24)と前記第1スパーク管(32)の第1電極
(31)とは第1高電圧ケーブル(30)によって接続
され、前記第1スパーク管(32)の第2電極(33)
と前記インピータンス素子(35)とは第2高電圧ケー
ブル(34)によって接続され、前記インピータンス素
子(35)と前記第2スパーク管(38)の第1電極
(37)とは第3高電圧ケーブル(36)によって接続
され、前記第2スパーク管(38)の第2電極(39)
と前記ネオンランプ(41)とは第4高電圧ケーブル
(401)によって接続され、前記ネオンランプ(4
1)と前記第3スパーク管(43)の第1電極(42)
とは第5高電圧ケーブル(402)によって接続され、
前記第3スパーク管(43)の第2電極(44)と前記
金属接触テスト先端(45)とは一体に形成されてい
る、ことを特徴とする。SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, a first aspect of the present invention is to generate a controllable, reproducible and practical discharge current, a computer and a microchip. A multi-spark generator for testing electronic equipment on the basis of an electrical insulation casing (12,13,14,15,16,1).
7, 18), metal operating means (23) disposed on the electrically insulating casing (12 to 18), metal pivot frame (20), and first, second, and third spark tubes (32, 3).
8, 43), an impedance element (35), a neon lamp (41) and a metal test tip (45), wherein the metal operating means (23) comprises a high voltage generator (24) comprising a pair of piezoelectric crystals and First and second disks (22, 25) are provided at both ends of the high voltage generator (24), and the metal operating means (23) is connected to the first metal disk (22). A pivot (21) is pivotally supported on the metal pivot frame (20), and the metal operation means (2
3) Metal adjusting screw (26) on the second metal disk (25)
The first spark tube (32) has a first electrode (31) and a second electrode (33), and the second spark tube (38) has a first electrode (37) and a second electrode (37). Electrodes (3
9), the third spark tube (43) has a first electrode (42) and a second electrode (44), and the high voltage generator (24) and the first spark tube (32). The second electrode (33) of the first spark tube (32) is connected to the first electrode (31) by a first high-voltage cable (30).
And the impedance element (35) are connected by a second high-voltage cable (34), and the impedance element (35) and the first electrode (37) of the second spark tube (38) are connected to a third high voltage. A second electrode (39) of the second spark tube (38), connected by a voltage cable (36);
And the neon lamp (41) are connected by a fourth high-voltage cable (401), and the neon lamp (4) is connected.
1) and the first electrode (42) of the third spark tube (43)
Is connected by a fifth high-voltage cable (402),
The second electrode (44) of the third spark tube (43) and the metal contact test tip (45) are integrally formed.
【0011】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
において、前記スパーク管(32,38,43)には耐
高電圧且つ耐高温の絶縁ガス又は絶縁液が1ATM〜5ATM
の圧力で充填されていることを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the spark tube (32, 38, 43) is provided with an insulating gas or an insulating liquid having a high voltage resistance and a high temperature resistance of 1 ATM to 5 ATM.
Characterized by being filled at a pressure of
【0012】また、請求項3の発明は、請求項1又は2
の発明において、前記第1スパーク管(32)と前記イ
ンピータンス素子(35)との間に更に1〜100個の
スパーク管を付加することができることを特徴とする。Further, the invention of claim 3 provides the invention according to claim 1 or 2
The invention according to the fifth aspect, characterized in that 1 to 100 spark tubes can be added between the first spark tube (32) and the impedance element (35).
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の好適な実施の形態を詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.
【0014】図1のマルチスパーク発生装置(1)は、
電気絶縁ケーシング(12、13、14、15、16、
17、18)を備え、該電気絶縁ケーシング(12〜1
8)には金属枢支フレーム(20)に支持され特殊な双
枢軸(21)を有する金属操作手段(23)が配置され
ている。この金属操作手段(23)には高電圧発生器と
して一対の圧電結晶(24)が配置されている。そし
て、前記金属操作手段(23)の一端部に第1の金属円
盤(22)が配置され、その他端部に第2の金属円盤
(25)及び前記圧電結晶(24)に印加する圧力を調
整するための金属調整ねじ(26)が配置されている。
なお、前記第1、第2の金属円盤(22,25)は均一
に圧電結晶(24)に力を加えるもので、電気絶縁性を
持つ前記ケーシグ(13)は、使用者と前記金属調整ね
じ(26)とを絶縁させるためのものである。The multi-spark generator (1) shown in FIG.
Electrically insulating casing (12, 13, 14, 15, 16,
17, 18), and the electrically insulating casing (12 to 1) is provided.
In 8), a metal operating means (23) supported by a metal pivot frame (20) and having a special double pivot (21) is arranged. A pair of piezoelectric crystals (24) are arranged in the metal operating means (23) as a high voltage generator. A first metal disk (22) is arranged at one end of the metal operation means (23), and the pressure applied to the second metal disk (25) and the piezoelectric crystal (24) is adjusted at the other end. A metal adjusting screw (26) is provided for the adjustment.
The first and second metal disks (22, 25) uniformly apply a force to the piezoelectric crystal (24), and the casing (13) having electrical insulation properties is provided by a user and the metal adjusting screw. (26) is insulated therefrom.
【0015】前記電気絶縁ケーシング(12、13、1
4、15、16、17、18)には、高電圧ケーブル
(30)によって前記圧電結晶(24)とスパーク管
(32)の電極(31)とが、高電圧ケーブル(34)
によって該スパーク管(32)の電極(33)とインピ
ータンス素子(35)とが、高電圧ケーブル(36)に
よって該インピータンス素子(35)とスパーク管(3
8)の電極(37)とがそれぞれ接続され、更に、高電
圧ケーブル(401)によって該スパーク管(38)の
電極(39)とネオンランプ(41)の一端部とが接続
され、該ネオンランプ(41)の他端部も高電圧ケーブ
ル(402)によってスパーク管(43)の電極(4
2)に接続され、該スパーク管(43)の電極(44)
と金属接触テスト先端(45)とが一体に形成され、ケ
ーシングの一端部より突出している。The electric insulating casing (12, 13, 1)
4, 15, 16, 17, 18), the piezoelectric crystal (24) and the electrode (31) of the spark tube (32) are connected to the high-voltage cable (34) by a high-voltage cable (30).
The electrode (33) of the spark tube (32) and the impedance element (35) are connected by the high-voltage cable (36) to the impedance element (35) and the spark tube (3).
8), and the high-voltage cable (401) connects the electrode (39) of the spark tube (38) to one end of the neon lamp (41). The other end of (41) is also connected to the electrode (4) of the spark tube (43) by the high-voltage cable (402).
2) connected to the electrode (44) of the spark tube (43)
And a metal contact test tip (45) are integrally formed and protrude from one end of the casing.
【0016】前記電極(42)及び電極(44)を含む
スパーク管(43)は、透明な絶縁材により構成され、
該スーパク管(43)には、耐高電圧及び耐高温の絶縁
ガスが充填され、その絶縁ガスの圧力範囲は1ATM〜5A
TMである。或いは、前記スーパク管(43)には、耐高
電圧及び耐高温の絶縁液が充填され、その絶縁液の圧力
範囲は1ATM〜5ATMである。或いは、前記スーパク管
(43)には空気が充填され、その空気の圧力範囲は
0.1ATM〜10ATMである。以上のような構成によっ
て、スパークは前記電極(42)と電極(44)との間
(間隙範囲は0.001mm〜3mmである)において発生
し、前記ネオンランプ(41)には約100Vの電圧が
印加される。The spark tube (43) including the electrode (42) and the electrode (44) is made of a transparent insulating material,
The super tube (43) is filled with an insulating gas having a high voltage resistance and a high temperature resistance, and the pressure range of the insulating gas is 1 ATM to 5 A.
TM. Alternatively, the super tube (43) is filled with an insulating liquid having a high voltage resistance and a high temperature resistance, and the pressure range of the insulating liquid is 1 ATM to 5 ATM. Alternatively, the superpipe (43) is filled with air, and the pressure range of the air is 0.1 ATM to 10 ATM. With the above configuration, a spark is generated between the electrode (42) and the electrode (44) (the gap range is 0.001 mm to 3 mm), and a voltage of about 100 V is applied to the neon lamp (41). Is applied.
【0017】前記電極(37)及び電極(39)を含む
スパーク管(38)は、透明な絶縁材により構成され、
前記スーパク管(38)には、耐高電圧及び耐高温の絶
縁ガスが充填され、その絶縁ガスの圧力範囲は1ATM〜
5ATMである。或いは、前記スーパク管(38)には、
耐高電圧及び耐高温の絶縁液が充填され、その絶縁液の
圧力範囲は1ATM〜5ATMである。或いは、前記スーパク
管(38)には空気が充填され、その空気の圧力範囲は
0.1ATM〜10ATMである。以上のような構成によっ
て、スパークは前記電極(37)と電極(39)との間
(間隙範囲は0.001mm〜3mmである)において発生
し、前記インピータンス素子(35)の抵抗値範囲は
0.1Ω〜20000Ωである。The spark tube (38) including the electrode (37) and the electrode (39) is made of a transparent insulating material.
The super tube (38) is filled with an insulating gas having a high voltage resistance and a high temperature resistance, and the pressure range of the insulating gas is 1 ATM or more.
5 ATM. Alternatively, in the super tube (38),
The insulating liquid having high voltage resistance and high temperature resistance is filled, and the pressure range of the insulating liquid is 1 ATM to 5 ATM. Alternatively, the super tube (38) is filled with air, and the pressure range of the air is 0.1 ATM to 10 ATM. With the above configuration, a spark is generated between the electrode (37) and the electrode (39) (the gap range is 0.001 mm to 3 mm), and the resistance value range of the impedance element (35) is It is 0.1Ω to 20000Ω.
【0018】前記電極(31)及び電極(33)を含む
スパーク管(32)は、透明な絶縁材により構成され、
前記スーパク管(32)には、耐高電圧及び耐高温の絶
縁ガスが充填され、その絶縁ガスの圧力範囲は1ATM〜
5ATMである。或いは、前記スーパク管(32)には、
耐高電圧及び耐高温の絶縁液が充填され、その絶縁液の
圧力範囲は1ATM〜5ATMである。或いは、前記スーパク
管(32)には空気が充填され、その空気の圧力範囲は
0.1ATM〜10ATMである。以上のような構成によっ
て、スパークは前記電極(31)と電極(33)との間
(間隙範囲は0.001mm〜3mmである)において発生
する。The spark tube (32) including the electrode (31) and the electrode (33) is made of a transparent insulating material.
The super tube (32) is filled with an insulating gas having a high voltage resistance and a high temperature resistance, and the pressure range of the insulating gas is 1 ATM to
5 ATM. Alternatively, in the super tube (32),
The insulating liquid having high voltage resistance and high temperature resistance is filled, and the pressure range of the insulating liquid is 1 ATM to 5 ATM. Alternatively, the super tube (32) is filled with air, and the pressure range of the air is 0.1 ATM to 10 ATM. With the above configuration, a spark is generated between the electrode (31) and the electrode (33) (the gap range is 0.001 mm to 3 mm).
【0019】図1及び図2に示すように、前記マルチス
パーク発生装置(1)の金属調整ねじ(26)を適当位
置に調整し、使用者が前記電気絶縁ケーシング(23)
及び操作手段(12)を押すと、前記金属双枢軸(2
1)を経由して機械的な圧力が前記圧電結晶(24)に
かかり、この圧力に比例する電圧が発生し、該電圧が所
定の破壊レベルに達すると、スパークが発生し、それと
同時にスパーク電流が前記金属接触テスト先端(45)
を通過してコンピュータの金属ケーシング(60)に流
れ込む。また、電圧破壊レベルは、各前記スパーク管
(32、38、43)それぞれの電極間の総間隙によっ
て決められる。なお、前記の圧力が解除されると、前記
極性と異なる極性のスパークが発生する。これにより、
連続的に正極性及び負極性のスパーク電流が発生するよ
うになり、透明な前記電気絶縁ケーシング(15)を用
いることによりスパークの発生と同時に、使用者は前記
ネオンランプの点滅を視認することができる。As shown in FIGS. 1 and 2, the metal adjusting screw (26) of the multi-spark generator (1) is adjusted to an appropriate position, and the user sets the electric insulating casing (23).
And pressing the operating means (12), the metal biaxial shaft (2
A mechanical pressure is applied to the piezoelectric crystal (24) via 1), and a voltage proportional to this pressure is generated. When the voltage reaches a predetermined breakdown level, a spark is generated, and at the same time, a spark current is generated. Is the metal contact test tip (45)
And flows into the metal casing (60) of the computer. The voltage breakdown level is determined by the total gap between the electrodes of each of the spark tubes (32, 38, 43). When the pressure is released, a spark having a polarity different from the polarity is generated. This allows
The positive and negative spark currents are continuously generated, and by using the transparent electrically insulating casing (15), the user can visually recognize the flashing of the neon lamp at the same time as the spark is generated. it can.
【0020】また、異なる被テスト設備の必要なエネル
ギーに応じて、前記スパーク管(32)と前記インピー
タンス素子(35)との間に更にスパーク管を接続する
ことができる。この付加スパーク管は前記スパーク管
(32)と同じような特性を有し、1個〜100個まで
付加することができる。上述のように、前記インピータ
ンス素子(35)の抵抗値及び付加スパーク管の数を適
宜選択することによって、コンピュータ及びマイクロチ
ップを基本とする電子製品をテストするための制御、再
現を行うことができかつ実用性のあるエネルギーが得ら
れる。Further, a spark tube can be further connected between the spark tube (32) and the impedance element (35) according to the required energy of different equipment under test. This additional spark tube has the same characteristics as the spark tube (32), and one to 100 additional spark tubes can be added. As described above, by appropriately selecting the resistance value of the impedance element (35) and the number of additional spark tubes, control and reproduction for testing an electronic product based on a computer and a microchip can be performed. Energy that can be obtained and is practical.
【0021】更に、前記高電圧発生手段(24)は21
000Vもの電荷電圧を発生するので、静電気放電テス
ト(ESD testing)の人体に対する影響及び人体による
静電気放電テスト(ESD testing)の精確度の低下を無
くすため、使用者の身体とマルチスパーク発生装置1と
を絶縁させる必要がある。この役目を担い使用者の身体
と前記マルチスパーク発生装置1の電気回路とを絶縁さ
せるのが前記マルチスパーク発生装置1の前記電気絶縁
ケーシング(12、13、14、15、16、17、1
8)である。Further, the high voltage generating means (24)
Since a charge voltage of as much as 000 V is generated, the user's body and the multi-spark generator 1 are used to eliminate the influence of the electrostatic discharge test (ESD testing) on the human body and the decrease in the accuracy of the electrostatic discharge test (ESD testing) by the human body. Must be insulated. It is the electric insulating casing (12, 13, 14, 15, 15, 16, 17, 1) of the multi-spark generator 1 that plays this role and insulates the user's body from the electric circuit of the multi-spark generator 1.
8).
【0022】なお、本発明に係わるマルチスパーク発生
装置(1)に、コイル部(47)を接続することができ
る。図3に示すように、電気絶縁材(48)に覆われる
該コイル部(47)の一端部は高電圧ケーブル(46)
によって前記電極(44)に接続され、該コイル部(4
7)の他端部は高電圧ケーブル(49)によって前記金
属枢支フレーム(20)に接続されている。以上によっ
て、本発明は、プラスチック製ケーシングを有するコン
ピュータやマイクロチップを基本とする電子製品及び印
刷回路板をテストするための閉回路を持つ磁場探知器と
なり、また、該磁場強度の大きさは前記コイル部(4
7)の巻き回数と直径によって決められる。The coil unit (47) can be connected to the multi-spark generator (1) according to the present invention. As shown in FIG. 3, one end of the coil portion (47) covered with the electrical insulation material (48) is connected to a high-voltage cable (46).
Connected to the electrode (44) by the coil part (4).
The other end of 7) is connected to the metal pivot frame (20) by a high voltage cable (49). As described above, the present invention provides a magnetic field detector having a closed circuit for testing a computer or a microchip-based electronic product and a printed circuit board having a plastic casing, and the magnitude of the magnetic field strength is as described above. Coil (4
It is determined by the number of turns and the diameter of 7).
【0023】更に、本発明に係わるマルチスパーク発生
装置(1)に、銅板(51)を接続することができる。
図4に示すように、電気絶縁材(52)に覆われる該銅
板(51)の中心部は高電圧ケーブル(50)によって
前記電極(44)に接続され、該銅板(51)の一端部
が高電圧ケーブル(53)によって前記金属枢支フレー
ム(20)に接続されている。以上によって、本発明
は、プラスチック製ケーシングを有するコンピュータや
マイクロチップを基本とする電子製品及び印刷回路板を
テストするための閉回路を持つ電場探知器となり、ま
た、該電場強度の大きさは前記銅板(51)の面積によ
って決められる。Further, a copper plate (51) can be connected to the multi-spark generator (1) according to the present invention.
As shown in FIG. 4, the central part of the copper plate (51) covered with the electrical insulating material (52) is connected to the electrode (44) by a high-voltage cable (50), and one end of the copper plate (51) is It is connected to the metal pivot frame (20) by a high voltage cable (53). As described above, the present invention provides an electric field detector having a closed circuit for testing a computer or a microchip-based electronic product and a printed circuit board having a plastic casing, and the magnitude of the electric field intensity is as described above. It is determined by the area of the copper plate (51).
【0024】[0024]
【発明の効果】以上説明したように、本発明は操作し易
く、付加AC或いはDC電源を必要とせず、被テスト設
備と発生装置とを接続するアース線も不必要であり、使
用者の人体による影響のないマルチスパーク発生装置で
ある。このマルチスパーク発生装置によれば、制御、再
現可能で実用性のあるESD電流が発生でき、かつ制御、
再現可能で実用性のある磁場源をも発生させることがで
きるので、電子製品や印刷回路板等に対してESD及びESD
による磁場干渉等のテストを効率よく行うことができ
る。As described above, the present invention is easy to operate, does not require an additional AC or DC power supply, does not require a ground wire for connecting the equipment under test and the generator, and has a human body. It is a multi-spark generator that is not affected by the influence. According to this multi-spark generator, a controllable, reproducible and practical ESD current can be generated,
It can generate a reproducible and practical magnetic field source, so it can be used for electronic products and printed circuit boards.
Test for magnetic field interference and the like can be performed efficiently.
【図1】本発明の実施例に係わるマルチスパーク発生装
置の構成を概略的に示す側面図。FIG. 1 is a side view schematically showing a configuration of a multi-spark generator according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の実施例に係わるマルチスパーク発生装
置を用いてコンピュータに接触放電を行う際の斜視図。FIG. 2 is a perspective view when performing a contact discharge on a computer using the multi-spark generator according to the embodiment of the present invention.
【図3】本発明のマルチスパーク発生装置を接続した磁
場探知器の構成を概略的に示す側面図。FIG. 3 is a side view schematically showing a configuration of a magnetic field detector to which the multi-spark generator according to the present invention is connected.
【図4】本発明のマルチスパーク発生装置を接続した電
場探知器の構成を概略的に示す側面図。FIG. 4 is a side view schematically showing a configuration of an electric field detector to which the multi-spark generator according to the present invention is connected.
1 マルチスパーク発生装置 12、13、14、15、16、17、18 電気絶縁
ケーシング 20 金属枢支フレーム 21 双枢軸 22、25 金属円盤 23 金属操作手段 24 圧電結晶 26 金属調整ねじ 30、34、36、401、402、46、49、5
0、53 高電圧ケーブル 31、33、37、39、42、44 電極 32、38、43 スパーク管 35 インピータンス素子 41 ネオンランプ 45 金属接触テスト先端 47 コイル部 48、52 電気絶縁材 51 銅板 60 コンピュータDESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Multi-spark generator 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18 Electrically insulating casing 20 Metal support frame 21 Biaxial shaft 22, 25 Metal disk 23 Metal operation means 24 Piezoelectric crystal 26 Metal adjustment screw 30, 34, 36 , 401, 402, 46, 49, 5
0, 53 High-voltage cable 31, 33, 37, 39, 42, 44 Electrode 32, 38, 43 Spark tube 35 Impedance element 41 Neon lamp 45 Metal contact test tip 47 Coil 48, 52 Electrical insulation 51 Copper plate 60 Computer
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 11/22 - 11/277 G01R 31/28 - 31/30 Continuation of the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G06F 11/22-11/277 G01R 31/28-31/30
Claims (3)
性のある放電電流を発生させ、コンピュータ及びマイク
ロチップを基本とする電子設備をテストするためのマル
チスパーク発生装置であって、 電気絶縁ケーシング(12,13,14,15,16,
17,18)と、該電気絶縁ケーシング(12〜18)
に配設される金属操作手段(23)と金属枢支フレーム
(20)と第1、第2、第3のスパーク管(32,3
8,43)とインピータンス素子(35)とネオンラン
プ(41)と金属テスト先端(45)とを備え、 前記金属操作手段(23)は一対の圧電結晶からなる高
電圧発生器(24)及び該高電圧発生器(24)の両端
に取り付けられる第1、第2円盤(22,25)を備
え、 前記金属操作手段(23)は前記第1金属円盤 (2
2)に接続されている金属双枢軸(21)によって前記
金属枢支フレーム(20)に枢支され、 前記金属操作手段(23)の第2の金属円盤(25)に
金属調整ねじ(26)が接続され、 前記第1スパーク管(32)は、第1電極(31)及び
第2電極(33)を有し、 前記第2スパーク管(38)は、第1電極(37)及び
第2電極(39)を有し、 前記第3スパーク管(43)は、第1電極(42)及び
第2電極(44)を有し、 前記高電圧発生器(24)と前記第1スパーク管(3
2)の第1電極(31)とは第1高電圧ケーブル(3
0)によって接続され、 前記第1スパーク管(32)の第2電極(33)と前記
インピータンス素子(35)とは第2高電圧ケーブル
(34)によって接続され、 前記インピータンス素子(35)と前記第2スパーク管
(38)の第1電極(37)とは第3高電圧ケーブル
(36)によって接続され、 前記第2スパーク管(38)の第2電極(39)と前記
ネオンランプ(41)とは第4高電圧ケーブル(40
1)によって接続され、 前記ネオンランプ(41)と前記第3スパーク管(4
3)の第1電極(42)とは第5高電圧ケーブル(40
2)によって接続され、 前記第3スパーク管(43)の第2電極(44)と前記
金属接触テスト先端(45)とは一体に形成されてい
る、 ことを特徴とするマルチスパーク発生装置。A multi-spark generator for generating a controllable, reproducible and practicable discharge current for testing computer and microchip based electronic equipment, comprising: an electrically insulating casing. (12,13,14,15,16,
17, 18) and the electrically insulating casing (12 to 18)
Operating means (23), a metal pivot frame (20) and first, second and third spark tubes (32, 3)
8, 43), an impedance element (35), a neon lamp (41), and a metal test tip (45), wherein the metal operating means (23) includes a high voltage generator (24) comprising a pair of piezoelectric crystals and First and second disks (22, 25) attached to both ends of the high-voltage generator (24); and the metal operating means (23) includes the first metal disk (2).
2) a metal pivot (21) connected to the metal pivot frame (20) by a metal pivot (21), and a metal adjusting screw (26) on a second metal disc (25) of the metal operating means (23). The first spark tube (32) has a first electrode (31) and a second electrode (33), and the second spark tube (38) has a first electrode (37) and a second electrode (37). An electrode (39); the third spark tube (43) has a first electrode (42) and a second electrode (44); and the high voltage generator (24) and the first spark tube (43). 3
The first electrode (31) of the second high voltage cable (3)
0), the second electrode (33) of the first spark tube (32) and the impedance element (35) are connected by a second high-voltage cable (34), and the impedance element (35) And the first electrode (37) of the second spark tube (38) are connected by a third high-voltage cable (36), and the second electrode (39) of the second spark tube (38) and the neon lamp ( 41) is the fourth high-voltage cable (40
1), the neon lamp (41) and the third spark tube (4)
3) The first electrode (42) is connected to the fifth high-voltage cable (40).
2) wherein the second electrode (44) of the third spark tube (43) and the metal contact test tip (45) are formed integrally with each other.
は耐高電圧且つ耐高温の絶縁ガス又は絶縁液が1ATM〜
5ATMの圧力で充填されていることを特徴とする請求項
1に記載のマルチスパーク発生装置。2. An insulating gas or insulating liquid having a high voltage resistance and a high temperature resistance is applied to the spark pipe (32, 38, 43) in an amount of 1 ATM or more.
2. The multi-spark generator according to claim 1, wherein the multi-spark generator is filled at a pressure of 5 ATM.
ピータンス素子(35)との間に更に1〜100個のス
パーク管を付加することができることを特徴とする請求
項1又は2に記載のマルチスパーク発生装置。3. The method according to claim 1, further comprising adding one to 100 spark tubes between the first spark tube and the impedance element. Multi-spark generator.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW87214083U TW378753U (en) | 1998-08-27 | 1998-08-27 | Multi-electric-spark generator |
| TW87214083 | 1998-08-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000076092A JP2000076092A (en) | 2000-03-14 |
| JP3176355B2 true JP3176355B2 (en) | 2001-06-18 |
Family
ID=21635745
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23987099A Expired - Fee Related JP3176355B2 (en) | 1998-08-27 | 1999-08-26 | Multi spark generator |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3176355B2 (en) |
| TW (1) | TW378753U (en) |
-
1998
- 1998-08-27 TW TW87214083U patent/TW378753U/en not_active IP Right Cessation
-
1999
- 1999-08-26 JP JP23987099A patent/JP3176355B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000076092A (en) | 2000-03-14 |
| TW378753U (en) | 2000-01-01 |
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