Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP3198265B2 - 磁気抵抗効果素子 - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP3198265B2 - 磁気抵抗効果素子 - Google Patents

磁気抵抗効果素子

Info

Publication number
JP3198265B2
JP3198265B2 JP09256597A JP9256597A JP3198265B2 JP 3198265 B2 JP3198265 B2 JP 3198265B2 JP 09256597 A JP09256597 A JP 09256597A JP 9256597 A JP9256597 A JP 9256597A JP 3198265 B2 JP3198265 B2 JP 3198265B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
ferromagnetic layer
magnetization reversal
pinned
magnetic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP09256597A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH10284768A (ja
Inventor
英治 梅津
直也 長谷川
彰宏 牧野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Alps Electric Co Ltd filed Critical Alps Electric Co Ltd
Priority to JP09256597A priority Critical patent/JP3198265B2/ja
Priority to EP98302429A priority patent/EP0871231A3/en
Priority to KR1019980012614A priority patent/KR100306312B1/ko
Publication of JPH10284768A publication Critical patent/JPH10284768A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3198265B2 publication Critical patent/JP3198265B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y25/00Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N50/00Galvanomagnetic devices
    • H10N50/10Magnetoresistive devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • G01R33/093Magnetoresistive devices using multilayer structures, e.g. giant magnetoresistance sensors
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B5/3903Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
    • G11B5/3906Details related to the use of magnetic thin film layers or to their effects
    • G11B5/3929Disposition of magnetic thin films not used for directly coupling magnetic flux from the track to the MR film or for shielding
    • G11B5/3932Magnetic biasing films
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F10/00Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
    • H01F10/32Spin-exchange-coupled multilayers, e.g. nanostructured superlattices
    • H01F10/324Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer
    • H01F10/3268Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer the exchange coupling being asymmetric, e.g. by use of additional pinning, by using antiferromagnetic or ferromagnetic coupling interface, i.e. so-called spin-valve [SV] structure, e.g. NiFe/Cu/NiFe/FeMn
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N50/00Galvanomagnetic devices
    • H10N50/80Constructional details
    • H10N50/85Materials of the active region

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)
  • Thin Magnetic Films (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ヘッド、位置
センサ、回転センサ等に適用される磁気抵抗効果素子を
構成する磁気抵抗効果素子に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、磁気抵抗効果型読み取りヘッド
(MRヘッド)として、異方性磁気抵抗効果現象を用い
たAMR(Anisotropic Magnetoresistance)ヘッド
と、伝導電子のスピン依存散乱現象を用いたGMR(Gi
ant Magnetoresistance:巨大磁気抵抗効果)ヘッドと
が知られており、GMRヘッドの1つの具体例として、
低外部磁界で高磁気抵抗効果を示すスピンバルブ(Spin
-Valve)ヘッドが米国特許第5159513号明細書に
示されている。
【0003】図8は従来知られているスピンバルブ構造
の一例を示すもので、この例の構造は、フリー強磁性層
1と非磁性中間層2とピン止め強磁性層3と反強磁性層
4を基板上に積層し、この積層体の両側に積層体を挟む
ようにCo-Pt等からなる磁石層5、5を設け、その
上に電極層6、6を設けて構成されている。また、図8
に示す従来構造においてピン止め強磁性層3の磁化方向
を図8のZ方向に固定させるためには、比較的大きなバ
イアス磁界が必要であり、このバイアス磁界は大きけれ
ば大きいほど良いことになる。図8のZ方向の反磁界に
打ち勝ち、磁気媒体からの磁束により磁化方向が揺れな
いためには、少なくとも100 Oeのバイアス磁界が
必要である。このバイアス磁界を得るために図8に示す
従来構造にあっては、ピン止め強磁性層3に交換結合層
4を接触させて設けることにより生じる交換異方性磁界
を利用している。
【0004】図8に示す構造であると、フリー強磁性層
1には磁石層5、5によって膜面に対して平行(図4の
X方向:トラック方向)の縦バイアスを印加し単磁区化
した状態でトラック方向に磁化を向けさせるとともに、
ピン止め強磁性層3の磁化方向を図8中のZ方向、即
ち、フリー強磁性層1の磁化方向と直交する方向にバイ
アスを印加して単磁区化した状態で図中Z方向に向けさ
せておく必要がある。前記の縦バイアス印加の目的はフ
リー強磁性層1が多数の磁区を形成することによって生
じるバルクハウゼンノイズを抑制すること、即ち、磁気
媒体からこの磁束に対してノイズの少ないスムーズな抵
抗変化にするためである。また、磁気媒体からの磁束
(図8のZ方向)により、前記ピン止め強磁性層3の磁
化方向は変化してはならず、フリー強磁性層1の方向が
ピン止め強磁性層3の磁化方向に対して90±θ゜の範
囲で変化することにより磁気抵抗効果の線形応答性が得
られる。以上のように、スピンバルブヘッドの際のピン
止め強磁性層のバイアス、フリー強磁性層の縦バイアス
に反強磁性層との接触界面で生じる交換異方性磁界を利
用することにより、線形応答性が良く、バルクハウゼン
ノイズを抑制した磁気抵抗効果型ヘッドが実現される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記交換異
方性磁界は、強磁性層と交換結合層の接触界面における
双方の磁気モーメント間の交換相互作用に起因する現象
であり、強磁性層、例えば、NiFe層との交換異方性
磁界を生じる反強磁性層としては、FeMn層が良く知
られている。しかしながら、FeMn層は、耐食性が著
しく悪く、磁気ヘッドの製造工程および磁気ヘッド作動
中に腐食が進行し、交換異方性磁界が大きく劣化してし
まう問題がある。また、磁気ヘッド作動中のFeMn層
近傍の温度は、定常検出電流による発熱で120℃程度
まで容易に上昇することが知られているが、FeMn層
による交換異方性磁界は温度変化に対して極めて敏感で
あって、約150℃の温度で消失(ブロッキング温度:
Tb)するまで、温度に対してほぼ直線的に交換異方性
磁界が減少してしまうために、安定した交換異方性磁界
が得られない問題がある。
【0006】そこで本願発明者らは先に、平成7年4月
3日付けで特許出願を行った特願平7―78022号明
細書において、巨大磁気抵抗効果を得ることができる上
に、前述のFeMnよりも耐食性と温度特性に優れたも
のであり、隣接する強磁性層の保磁力を増大させること
で磁化の回転のピン止めを行うことができる機構を利用
した磁気抵抗効果素子として、α-Fe23の保磁力増
大層を設けた構造の磁気抵抗効果素子を特許出願してい
る。この特許出願によれば、非磁性層を介して積層され
る2つの強磁性層の一方にα-Fe23の保磁力増大層
を隣接配置してその強磁性層の磁化の回転をピン止めし
てピン止め強磁性層とし、他方の強磁性層の磁化の回転
を自由にしてフリー磁性層として構成し、外部磁界の印
加によりフリー強磁性層の磁化の回転を行わせるように
して抵抗変化が起こるようにした構造である。なお、α
-Fe23のブロッキング温度はFeMnに比べて遥か
に高い温度であるので、前記構造の磁気抵抗効果素子は
温度変化によって磁気特性が劣化し難い利点を有し、α
-Fe23はそれ自体が酸化物であるので耐食性の面で
は全く問題がないという特徴を有している。
【0007】ところで、前述のFeMnを用いたスピン
バルブ構造の磁気抵抗効果素子、あるいは、α-Fe2
3の保磁力増大層を設けた磁気抵抗効果素子にあって
は、非磁性層2を挟んで設けられるフリー強磁性層1と
ピン止め強磁性層3のうち、フリー強磁性層1の磁化の
向きは、外部磁場に応じて敏感に反応して回転する必要
があるので、フリー強磁性層1の保磁力は小さい方が好
ましく、逆に、ピン止め強磁性層3の磁化の向きは外部
磁場によって動いてはならない。ところが、フリー強磁
性層1とピン止め強磁性層3を非磁性層2を介して積層
した構造であると、ピン止め強磁性層3の生成させる磁
場の影響によってフリー強磁性層1の保磁力が材料本来
の値よりも上昇してしまい、フリー強磁性層1の磁化の
円滑な回転がなされにくくなり、磁気抵抗効果素子とし
てのR-Hカーブの特性が劣化するおそれがあった。
【0008】本発明は前記事情に鑑みてなされたもの
で、補助磁化反転層を設けることでフリー強磁性層の保
磁力を低くして磁化反転を容易にすることができ、外部
磁場に敏感に反応して磁気抵抗効果を示すとともに、補
助磁化反転層を高比抵抗な材料から構成することで補助
磁化反転層に分流しようとする電流を抑えて磁気抵抗効
果の減少を防止できる磁気抵抗効果素子を提供すること
を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は前記課題を解決
するために、磁化反転がピン止めされた少なくとも一層
のピン止め強磁性層と、磁化が外部の磁界に対して自在
に反転する少なくとも一層のフリー強磁性層と、フリー
強磁性層に隣接もしくは近傍に位置してフリー強磁性層
の磁化反転を補助し、軟磁気特性を有する補助磁化反転
層とを有することを特徴とする。本発明において前記補
助磁化反転層として、bccFeを主成分とする微細結
晶相と、更に、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、
W、希土類元素のうちから選択される1種又は2種以上
の元素からなる元素MとO(酸素)を含んだ非晶質相と
を主体としてなるものが好ましい。本発明において前記
補助磁化反転層として、bccFeを主成分とする微細
結晶相と、更に、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、
W、希土類元素のうちから選択される1種又は2種以上
の元素からなる元素M'の炭化物、窒化物を含む結晶相
とを主体としてなるものが好ましい。
【0010】更に本発明において、前記ピン止め強磁性
層を交換結合層に隣接して設け、ピン止め強磁性層の磁
化反転を前記交換結合層による磁気的交換結合を受けて
ピン止めしてなる構造とすることができる。更に、前記
交換結合層をα-Fe23を主体として構成しても良
く、前記交換結合層をX-Mn合金を主体として構成し
ても良い。ただし、組成式X-MnにおいてXは白金族
元素から選択される1種又は2種以上の元素を示す。
【0011】次に、前記の各構造の補助磁化反転層の層
厚は50〜300Åの範囲、前記各構造の補助磁化反転
層の比抵抗は200〜2×105μΩcmの範囲とする
ことが好ましい。
【0012】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の一形
態について説明する。図1は本発明に係る磁気抵抗効果
素子に設けられる磁気抵抗効果多層膜の一形態を示すも
のであり、この形態の磁気抵抗効果多層膜Aは、非磁性
体の基板10とその上に順次積層されたピン止め用薄膜
層11とピン止め強磁性層12と非磁性層13とフリー
強磁性層14と補助磁化反転層15と保護層16とを主
体として構成されている。なお、図1においては、図8
に示すような構造で使用される電極層と磁石層は省略し
て記載したが、縦バイアスを印加することでバルクハウ
ゼンノイズを無くしてスムーズな抵抗変化にするために
は、図1の構造を図8の構造に適用することが好ましい
のは勿論である。
【0013】前記基板10は、ガラス、Si、Al
23、TiC、SiC、Al23とTiCとの燒結体、
フェライトなどに代表される非磁性材料から構成されて
いる。なお、基板10の上面には、基板上面の凹凸やう
ねりを除去する目的であるいはその上に積層される層の
結晶整合性を良好にするなどの目的で被覆層やバッファ
層が適宜設けられていても良い。交換結合層11は、そ
の上に形成されるピン止め強磁性層12に磁気的交換結
合力を作用させてピン止め強磁性層12の保磁力を増大
させるものであり、この交換結合層11は、反強磁性
体、特に酸化物反強磁性体から構成されることが好まし
く、1つの具体例としては、α-Fe23から形成され
る。なお、この交換結合層11 として、硬質磁性材料
を用いることもでき、具体的にはCo-Pt合金等から
構成することもできる。
【0014】なお、α-Fe23からなる交換結合層1
1であるならば、α-Fe23自体のモーリン点が高
く、ブロッキング温度が高いので、線形応答性に優れた
上で温度変化に強く、バルクハウゼンノイズを確実に抑
制できる磁気抵抗効果多層膜を提供できる。また、交換
結合層11をX-Mn(ただしXは、Pt,Pd,Ir,R
u,Rh等の白金族元素のうちの1種または2種以上を
示す。)系合金薄膜から構成することもできる。
【0015】前記ピン止め強磁性層12、フリー強磁性
層14は、いずれも強磁性体の薄膜からなるが、具体的
にはNiFe合金、NiCo合金、Co、NiFeCo
合金などからなる。また、フリー強磁性層14をNiF
e合金層から、ピン止め強磁性層12をNiFe合金層
から、あるいは、フリー強磁性層14をCo層とNiF
e合金層の積層構造、CoFe合金層とNiFe合金層
の積層構造から構成することもできる。なお、フリー強
磁性層14を積層構造とする場合、図2に示す構造の如
く非磁性層13側に薄いCo層あるいはCoFe合金
(Co90Fe10)層などの金属層17を配置した磁気抵
抗効果多層膜Bとすることが好ましい。
【0016】これは、非磁性層13を強磁性層12、1
4で挟む構造の巨大磁気抵抗効果発生機構にあっては、
強磁性層12、14を同種の材料から構成する方が、異
種の材料から構成するよりも、伝導電子のスピン依存錯
乱以外の因子が生じる可能性が低く、より高い磁気抵抗
効果を得られることに起因している。このようなことか
ら、ピン止め強磁性層12をCoから構成した場合は、
強磁性層14の非磁性層13側を所定の厚さでCo層に
置換した図2に示す構造が好ましい。また、Co層を特
に区別して設けなくとも、フリー強磁性層14の非磁性
層13側にCoを多く含ませた合金状態とし、補助磁化
反転層15側に向かうにつれて徐々にCo濃度が薄くな
るような濃度勾配層としても良い。
【0017】前記非磁性層13は、Cu、Cr、Au、
Agなどに代表される非磁性体からなり、20〜40Å
の厚さに形成されている。ここで非磁性膜13の厚さが
20Åより薄いと、ピン止め強磁性層12とフリー強磁
性層14との間で磁気的結合が起こりやすくなる。ま
た、非磁性材料膜13が40Åより厚いと磁気抵抗効果
を生じる要因である非磁性層13と強磁性層12、14
の界面を通過する伝導電子の効率が低下し、即ち、電流
の分流効果により磁気抵抗効果が低減されてしまうので
好ましくない。
【0018】前記補助磁化反転層15は、保磁力が小さ
く、飽和磁化が大きく、透磁率が大きく、比抵抗も大き
な軟磁性材料からなり、厚さ100〜300Å程度のも
のが好ましく、より具体的には以下の各組成例に示すも
のが用いられる。本発明において補助磁化反転層として
は、bccFeを主成分とする微細結晶相と、更に、T
i、Zr、Hf、V、Nb、Ta、W、希土類元素のう
ちから選択される1種又は2種以上の元素からなる元素
MとO(酸素)を含んだ非晶質相とを主体としてなるも
のを用いることが好ましい。また、前記補助磁化反転層
として、bccFeを主成分とする微細結晶相と、更
に、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、W、希土類元
素のうちから選択される1種又は2種以上の元素からな
る元素M'の炭化物、窒化物を含む結晶相とを主体とし
てなるものを用いることが好ましい。次に、これらの補
助磁化反転層15の具体的な組成例は以下の通りであ
る。
【0019】組成例1 組成式としてFeabcで示され、Mは希土類元素
(周期表の3A族に属するSc、Y、あるいはLa、C
e、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Td、D
y、Ho、Er、Tm、Yb、Luなどのランタノイ
ド)のうち少なくとも一種の元素またはそれらの混合物
を表し、組成比a、b、cは、好ましくは原子%で、5
0≦a≦70、5≦b≦30、10≦c≦30、a+b
+c=100なる関係を満足することを特徴とする軟磁
性合金を適用することができる。なお、この組成の軟磁
性合金ならば、先に本発明者らが特開平06−3167
48号明細書で開示した如く比抵抗として400〜10
00μΩ・cm程度の高比抵抗を示すので本願発明の目的
達成のために使用することができる。
【0020】組成例2 組成式としてFedM’efで示され、M’は、Ti、
Zr、Hf、V、Nb、Ta、Wの群から選ばれた少な
くとも一種の元素またはそれらの混合物を表し、組成比
d、e、fは好ましくは原子%で、45≦d≦70、5
≦e≦30、10≦f≦40、d+e+f=100なる
関係を満足することを特徴とする軟磁性合金を適用する
ことができる。なお、この組成の軟磁性合金ならば、先
に本発明者らが特開平06−316748号明細書で開
示した如く比抵抗として、400〜2.0×105μΩ・
cm程度の高比抵抗を示すので本願発明の目的達成のため
に使用することができる。
【0021】組成例3 組成式として、T100-a'-b'-c'-d'−Xa'−M'b'−Zc'
−Qd'で示され、TはFeとCoのいずれか又は両方、
XはSiとAlのいずれか又は両方、M’は、Ti、Z
r、Hf、V、Nb、Ta、Mo、Wの金属元素群から
選ばれる少なくとも1種の元素、ZはCとNのいずれか
又は両方、QはCr、Re、Ru、Rh、Ni、Pd、
Pt、Auの金属元素群から選ばれる少なくとも1種の
元素を表わす。また、前記の組成において、下記の組成
比(原子%)を満足することが好ましい。0≦a'≦2
5、1≦b'≦7、0.5≦c'≦10、0≦d'≦10こ
の例の組成であるならば、1Tを越える高い飽和磁束密
度を示すので本願発明の目的達成のために使用すること
ができる。
【0022】組成例4 組成式として、T100-e'-f'-b'-c'-d'−Sie'−Alf'
−M'b'−Zc'−Qd'で示され、但し、TはFeとCo
のいずれか又は両方、M'はTi、Zr、Hf、V、N
b、Ta、Mo、Wの金属元素群から選ばれる少なくと
も1種の元素、ZはCとNのいずれか又は両方、QはC
r、Re、Ru、Rh、Ni、Pd、Pt、Auの金属
元素群から選ばれる少なくとも1種の元素を表わす。ま
た、下記の組成比(原子%)を満足することが好まし
い。8≦e'≦15、0.5≦f'≦10、1≦b'≦7、
0.5≦c'≦10、0≦d'≦10。この例の組成であ
るならば、1Tを越える高い飽和磁束密度を示すので本
願発明の目的達成のために使用することができる。
【0023】組成例5 組成式として、(Co1-ggxyzwsで示さ
れ、但し、Tは、Fe,Ni,Pd,Mn,Alから選
ばれた1種または2種以上の元素であり、Mは、Ti,
Zr,Hf,Nb,Ta,Mo,W,Yと希土類元素か
ら選ばれた1種または2種以上の元素であり、QはO,
N,C,Bから選ばれた1種または2種以上の元素であ
り、XはSiもしくはCrのうちの1種または2種の元
素、YはAu,Agと白金族の元素のうちの1種または
2種以上の元素であり、組成比を示すgは、0.05≦
g≦0.5、y,z,w,aはat%で、3≦y≦30、7≦
z≦40、0≦w≦20、0≦s≦20の関係を満足し、
残部は不可避不純物である。
【0024】前記保護層16は、補助磁化反転層15を
保護するために設ける層であるが、省略することもでき
る。また、この保護層16の上に更に絶縁性のオーバー
コート層を設けることもできる。この場合に設けるオー
バーコート層は、Al23、石英などの絶縁材料から構
成することが好ましい。
【0025】図1に示す構造において定常電流は、磁気
抵抗効果多層膜Aに与えられる。図1に示す構造である
ならば、ピン止め強磁性層12の磁化の向きがピン止め
され、フリー強磁性層14の磁化の方向がトラック幅に
相当する領域において自由にされる結果、強磁性層12
と14の間に保磁力差が生じ、これに起因して巨大磁気
抵抗効果が得られる。即ち、磁化の回転が自由にされた
フリー強磁性層14に、磁気記録媒体からの漏れ磁界な
どのような外部磁界が作用すると、フリー強磁性層14
の磁化の向きが容易に回転するので、回転に伴って磁気
抵抗効果多層膜に抵抗変化が生じ、この抵抗変化を測定
することで磁気記録媒体の磁気情報を読み取ることがで
きる。
【0026】更に前記の構造においては、フリー強磁性
層14上に飽和磁化と比抵抗の大きな保磁力の小さな補
助磁化反転層15を設けているので、フリー強磁性層1
4と補助磁化反転層15を強磁性結合させることがで
き、これによりフリー強磁性層14の保磁力を下げるこ
とができる。また、補助磁化反転層15は、保磁力が小
さいので外部磁場に対して感度良く反応し、また、飽和
磁化が大きいために補助磁化反転層15に接するフリー
強磁性層14の磁化も容易に回転する結果、高い線形性
で磁気抵抗効果が発揮される。また、補助磁化反転層1
5はそれ自身高比抵抗であるので、補助磁化反転層15
に流れようとする電流の分流分を少なくできるので、磁
気抵抗効果を発揮する非磁性層13と強磁性層12、1
4の界面部分に流れる電流分を大きくすることができ、
磁気抵抗効果の減少分を少なくすることができる。
【0027】なお、Cuの非磁性層13上にNi-Fe
合金(パーマロイ)のフリー強磁性層14を直に積層し
た構造においては、熱処理などにより界面においてCu
とNi-Fe合金が元素拡散し易いので、図2に示すよ
うにCoあるいはCoFeの金属層17を設けること
で、耐熱性を向上できる。また、Cuの非磁性層を強磁
性層でサンドイッチする磁気抵抗効果発生機構において
Coを非磁性層に接した構造が大きな磁気抵抗効果を奏
するので、図2に示す構造が好ましいが、図2に示す構
造では金属層17がフリー強磁性層14の保磁力を増加
させようとするので、フリー強磁性層14上に設けた補
助磁化反転層15がフリー強磁性層14の保磁力上昇を
抑制するので有効である。従って図2に示す構造なら
ば、耐熱性に優れ、磁気抵抗効果が大きく、外部磁界に
敏感に反応して抵抗が変化する磁気抵抗効果多層膜を得
ることができる。
【0028】また、図1に示す構造において交換結合層
11をα-Fe23から構成すると、α-Fe23は元々
酸化物であり、従来のスピンバルブ構造において用いら
れているFeMnに比べて耐食性に優れ、しかもネール
温度が高いので、温度変動に強い特徴がある。
【0029】次に、図1に示す磁気抵抗効果多層膜Aに
おいて基板上に、厚さ1000Åのα-Fe23の保磁
力増大層と厚さ58ÅのNiFe合金のピン止め強磁性
層と厚さ22ÅのCuの非磁性層と厚さ87ÅのNiF
e合金のフリー強磁性層を積層し、その上に厚さ50Å
と100Åと200Åのそれぞれの膜厚のFeHfO膜
を形成した構造を想定し、この磁気抵抗効果多層膜の補
助磁化反転層に流れる電流の分流分、即ち、センス電流
を計算した結果を以下に示す。磁気抵抗効果多層膜全体
に電流iを流す場合に、ピン止め強磁性層と非磁性層と
フリー強磁性層からなるスピンバルブ構造部分の抵抗を
sv、そこに流れる電流をisv、補助磁化反転層の抵抗
をROL、そこに流れる電流をiOLと仮定し、補助磁化反
転層をFe Hf O なる組成の膜(飽和磁化Is=
1.4T、比抵抗ρ=380μΩcm、保磁力Hc=0.
4 Oe、100MHzの透磁率μ'=1500)を用い
ると、補助磁化反転層の層厚が50Åの場合、iOL
0.0089i、補助磁化反転層の層厚が100Åの場
合、iOL=0.0177i、補助磁化反転層の層厚が2
00Åの場合、iOL=0.0348i、補助磁化反転層
の層厚が300Åの場合、iOL=0.0514iと計算
することができる。
【0030】図3は、図示略の磁気ヘッド等を構成する
基板の上に形成されたピン止め用薄膜層31上に、ピン
止め強磁性層32と非磁性層33とフリー強磁性層34
と補助磁化反転層35と保護層36とが順次積層されて
例えば断面台形状の磁気抵抗効果多層膜Cが形成され、
磁気抵抗効果多層膜Cの両端部側に、トラック幅TWに
相当する間隔を相互の間にあけて磁気抵抗効果多層膜C
をその両側から挟む電極層39、39とフリー強磁性層
の磁化(図3の矢印方向)をX方向に単磁区化する磁石
層40、40が設けられている。前記の構造において
は、フリー強磁性層34の磁化の向きを図3の矢印a方
向に向け、ピン止め強磁性層32の磁化の向きをZ方向
に向けることで両者をほぼ90゜で直交させて揃えるこ
とができる。
【0031】次に、図3に示す構造の磁気抵抗効果多層
膜Cを得るには、例えばAl23-TiC(アルチッ
ク)などの非磁性のセラミックス基板を高周波マグネト
ロンスパッタ装置あるいはイオンビームスパッタ装置の
チャンバ内に設置し、チャンバ内をArガスなどの不活
性ガス雰囲気としてから順次必要な層を成膜することに
より作成することができる。成膜に必要なターゲット
は、例えばα-Fe23ターゲット、Ni-Fe合金ター
ゲット、Cuターゲットなどである。
【0032】図3に示す磁気抵抗効果多層膜Aを製造す
るには、Arガス圧3mTorr以下などの減圧雰囲気中に
おいて図1のZ方向に磁界を印加しながら、スパッタに
より基板上にα-Fe23からなるピン止め用薄膜層3
1を形成し、このピン止め用薄膜層31上に、非磁性層
33を挟んで2層の強磁性層32、34を形成し、続い
て補助磁化反転層35と保護層36とを順次積層する。
続いて、フォトリソグラフィプロセスとイオンミリング
によりトラック幅に相当する部分を残して他の部分を除
去して磁気抵抗効果多層膜Cとする。磁気抵抗効果多層
膜Cを形成したならば積層体の両側を挟むように磁石層
40、40と電極層39、39とを形成する。
【0033】次いで、図3の紙面垂直方向に磁界を印加
してピン止め用薄膜層31を着磁して磁化の向きを固定
することでピン止め強磁性層32の磁化の向きをピン止
めする。以上の処理によってピン止め強磁性層32の磁
化の向きとフリー強磁性層34の磁化の向きが90゜直
交した図3に示す構造の磁気抵抗効果型センサを得るこ
とができる。なお、ピン止め用薄膜層31をFe-M
n、Pt-Mn、Ir-Mnなどの反強磁性体で製造する
際には上述のような着磁は不要であり、この場合は交換
結合によりピン止め強磁性層32の磁化方向をピン止め
する。
【0034】図4(A)(B)は、図1に示す構造の補
助磁化反転層としてFe60Hf10 30なる組成の軟磁性
膜を用いたM-Hカーブを示す。この補助磁化反転層は
Si基板上にAl23の保護膜を形成した基板上に厚さ
300Åの膜厚に形成したものについて測定した結果を
示す。図4(A)は、磁化困難軸方向におけるM-Hカ
ーブを示し、図4(B)は磁化容易軸方向におけるM-
Hカーブを示す。この組成の軟磁性膜は、軟磁性膜とし
て優れたM-Hカーブを示している。
【0035】図5(A)は、Si基板/Al23層の基
板上に、α-Fe23層(保磁力増大層、厚さ1000
Å)/NiFe層(ピン止め強磁性層、厚さ58Å)/
Cu層(非磁性層、厚さ22Å)/NiFe層(フリー
強磁性層、厚さ87Å)/Fe60Hf1030(補助磁化
反転層、厚さ300Å)の積層構造とした試料のフリー
強磁性層のR-Hカーブを示し、図5(B)は前記の積
層構造において補助磁化反転層を省略した構造のフリー
強磁性層のR-Hカーブを示す。
【0036】図6(A)は、Si基板/Al23層の基
板上に、α-Fe23層(1000Å)/NiFe層
(48Å)/Co層(10Å)/Cu層(22Å)/C
o層(10Å)/NiFe層(77Å)/Fe60Hf10
30層(300Å)の積層構造とした試料のフリー強磁
性層のR-Hカーブを示し、図6(B)は前記の積層構
造において補助磁化反転層を省略した構造のフリー強磁
性層のR-Hカーブを示す。
【0037】図7(A)は、Si基板/Al23層の基
板上に、α-Fe23層(1000Å)/NiFe層
(48Å)/CoFe層(10Å)/Cu層(22Å)
/CoFe層(10Å)/NiFe層(77Å)/Fe
60Hf1030層(300Å)の積層構造とした試料のフ
リー強磁性層のR-Hカーブを示し、図7(B)は前記
の積層構造において補助磁化反転層を省略した構造のフ
リー強磁性層のR-Hカーブを示す。図5と図6と図7
に示す結果から、いずれの積層構造の試料であっても補
助磁化反転層を設けた試料の方がフリー強磁性層の保磁
力が小さいことが明らかである。従って、補助磁化反転
層を設けた磁気抵抗効果多層膜においては小さな外部磁
場で磁化反転を容易にすることができ、外部磁場に敏感
に反応できる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、フリー強
磁性層に補助磁化反転層を近接させて設け、補助磁化反
転層からフリー強磁性層に磁気的交換結合を作用させて
フリー強磁性層の保磁力を低くすることで、感度の良い
抵抗変化を示す磁気抵抗効果素子を得ることができる。
従って前記構造の磁気抵抗効果多層膜を磁気ヘッドに用
いるならば、磁気記録媒体からの微小な磁界に線形応答
して抵抗変化を起こし、これにより検出感度良く磁気情
報の読出を行い得る磁気ヘッドを提供することができ
る。
【0039】また、補助磁化反転層として高比抵抗のも
のを用いるならば、補助磁化反転層への電流の分流を抑
えることができ、非磁性層とピン止め強磁性層の界面あ
るいは非磁性層とフリー強磁性層との界面に流れる電流
を確保でき、これらの界面に流れる伝導電子の減少を抑
制できるので、磁気抵抗効果の減少を防ぐことができ
る。更に、交換結合層としてα-Fe23を用いるなら
ば、α-Fe23は元々酸化物であり、従来のスピンバ
ルブ構造において用いられているFeMnに比べて耐食
性に優れ、しかもネール温度が高いので、温度変動に強
い特徴がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る磁気抵抗効果多層膜の第1の形
態を示す断面図。
【図2】 本発明に係る磁気抵抗効果多層膜の第2の形
態を示す断面図。
【図3】 本発明に係る磁気抵抗効果多層膜の第3の形
態を示す断面図。
【図4】 Al23層を被覆したSi基板上に設けたF
60Hf1030層なる軟磁性層試料のM-Hカーブを示
す図。
【図5】 Si基板/Al23層/α-Fe23層/N
iFe層/Cu層/NiFe層/Fe60Hf1030層な
る積層構造と、該積層構造からFe60Hf1030層を省
略した構造のそれぞれの磁気抵抗効果多層膜のフリー強
磁性層のM-Hカーブを示す図。
【図6】 Si基板/Al23層/α-Fe23層/N
iFe層/Co層/Cu層/Co層/NiFe層/Fe
60Hf1030層なる積層構造と、該積層構造からFe60
Hf1030層を省略した構造のそれぞれの磁気抵抗効果
多層膜のフリー強磁性層のM-Hカーブを示す図。
【図7】 Si基板/Al23層/α-Fe23層/N
iFe層/CoFe層/Cu層/CoFe層/NiFe
層/Fe60Hf1030層なる積層構造と、該積層構造か
らFe60Hf1030層を省略した構造のそれぞれの磁気
抵抗効果多層膜のフリー強磁性層のM-Hカーブを示す
図。
【図8】 従来の磁気抵抗効果型センサの第1の例を示
す断面図。
【符号の説明】
A、B、C 磁気抵抗効果多層膜 10 基板 11、31 ピン止め用薄膜層 12、32 ピン止め強磁性層 13、33 非磁性層 14、34 フリー強磁性層 15、35 補助磁化反転層
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平9−92904(JP,A) 特開 平9−73611(JP,A) 特開 平8−279117(JP,A) 特開 平6−316748(JP,A) 特開 平7−268610(JP,A) 特開 平7−244813(JP,A) 特開 平10−270246(JP,A) 特開 平10−55514(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 43/08 G01R 33/09 G11B 5/39 H01F 10/32 JICSTファイル(JOIS)

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁化反転がピン止めされた少なくとも一
    層のピン止め強磁性層と、磁化が外部の磁界に対して自
    在に反転する少なくとも一層のフリー強磁性層と、フリ
    ー強磁性層に隣接もしくは近傍に位置してフリー強磁性
    層の磁化反転を補助し、軟磁気特性を有する補助磁化反
    転層とを有することを特徴とする磁気抵抗効果素子。
  2. 【請求項2】 前記補助磁化反転層が、bccFeを主
    成分とする微細結晶相と、更に、Ti、Zr、Hf、
    V、Nb、Ta、W、希土類元素のうちから選択される
    1種又は2種以上の元素からなる元素MとO(酸素)を
    含んだ非晶質相とを主体としてなることを特徴とする請
    求項1に記載の磁気抵抗効果素子。
  3. 【請求項3】 前記補助磁化反転層が、bccFeを主
    成分とする微細結晶相と、更に、Ti、Zr、Hf、
    V、Nb、Ta、W、希土類元素のうちから選択される
    1種又は2種以上の元素からなる元素M'の炭化物、窒
    化物を含む結晶相とを主体としてなることを特徴とする
    請求項1に記載の磁気抵抗効果素子。
  4. 【請求項4】 前記ピン止め強磁性層が交換結合層に隣
    接して設けられ、ピン止め強磁性層の磁化反転が前記交
    換結合層による磁気的交換結合を受けてピン止めされて
    なることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の
    磁気抵抗効果素子。
  5. 【請求項5】 前記交換結合層が、α-Fe23を主体
    として構成されてなることを特徴とする請求項4に記載
    の磁気抵抗効果素子。
  6. 【請求項6】 前記交換結合層が、X-Mn合金を主体
    として構成されてなることを特徴とする請求項4に記載
    の磁気抵抗効果素子。ただし、組成式X-Mnにおいて
    Xは白金族元素から選択される1種又は2種以上の元素
    を示す。
  7. 【請求項7】 前記補助磁化反転層の層厚が50〜30
    0Åの範囲とされてなることを特徴とする請求項1〜6
    のいずれかに記載の磁気抵抗効果素子。
  8. 【請求項8】 前記補助磁化反転層の比抵抗が200〜
    2×105μΩcmの範囲であることを特徴とする請求
    項1〜6のいずれかに記載の磁気抵抗効果素子。
JP09256597A 1997-04-10 1997-04-10 磁気抵抗効果素子 Expired - Fee Related JP3198265B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP09256597A JP3198265B2 (ja) 1997-04-10 1997-04-10 磁気抵抗効果素子
EP98302429A EP0871231A3 (en) 1997-04-10 1998-03-30 Magnetoresistive element
KR1019980012614A KR100306312B1 (ko) 1997-04-10 1998-04-09 자기저항효과소자

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP09256597A JP3198265B2 (ja) 1997-04-10 1997-04-10 磁気抵抗効果素子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10284768A JPH10284768A (ja) 1998-10-23
JP3198265B2 true JP3198265B2 (ja) 2001-08-13

Family

ID=14057955

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP09256597A Expired - Fee Related JP3198265B2 (ja) 1997-04-10 1997-04-10 磁気抵抗効果素子

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0871231A3 (ja)
JP (1) JP3198265B2 (ja)
KR (1) KR100306312B1 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69932701T2 (de) * 1999-03-19 2007-09-13 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Pinning-Lage für magnetische Anordnungen
DE19949714A1 (de) * 1999-10-15 2001-04-26 Bosch Gmbh Robert Magnetisch sensitives Bauteil, insbesondere Sensorelement, mit magnetoresistiven Schichtsystemen in Brückenschaltung
US6407890B1 (en) 2000-02-08 2002-06-18 International Business Machines Corporation Dual spin valve sensor read head with a specular reflector film embedded in each antiparallel (AP) pinned layer next to a spacer layer
US6686071B2 (en) 2000-06-06 2004-02-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Magnetic recording medium and magnetic recording apparatus using the same
US6767655B2 (en) * 2000-08-21 2004-07-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Magneto-resistive element
TWI222630B (en) 2001-04-24 2004-10-21 Matsushita Electric Industrial Co Ltd Magnetoresistive element and magnetoresistive memory device using the same
JP2002367124A (ja) 2001-06-13 2002-12-20 Hitachi Ltd スピンバルブ型磁気ヘッド
US6636389B2 (en) 2001-08-03 2003-10-21 International Business Machines Corporation GMR magnetic transducer with nano-oxide exchange coupled free layers
WO2003092084A1 (en) 2002-04-23 2003-11-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Magnetoresistive element, manufacturing method thereof, magnetic head, magnetic memory, and magnetic recording device using the same
KR100465600B1 (ko) * 2002-05-20 2005-01-13 주식회사 하이닉스반도체 엠.티.제이. 셀 및 그 제조방법
KR100513722B1 (ko) * 2002-11-15 2005-09-08 삼성전자주식회사 자기터널접합소자 및 그 제조방법
JP2006128410A (ja) * 2004-10-28 2006-05-18 Alps Electric Co Ltd 磁気検出素子及びその製造方法
US7333304B2 (en) 2004-11-04 2008-02-19 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. CPP sensor having hard bias stabilization placed at back edge of the stripe
KR100706806B1 (ko) 2006-01-27 2007-04-12 삼성전자주식회사 자기 메모리 소자 및 그 제조 방법
WO2014119345A1 (ja) * 2013-02-04 2014-08-07 アルプス電気株式会社 巨大磁気抵抗効果素子およびそれを用いた電流センサ

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5028280A (en) * 1988-12-15 1991-07-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Soft magnetic alloy films having a modulated nitrogen content
US5304975A (en) * 1991-10-23 1994-04-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetoresistance effect element and magnetoresistance effect sensor
JP3291099B2 (ja) * 1993-03-05 2002-06-10 アルプス電気株式会社 軟磁性合金および平面型磁気素子
JP2785678B2 (ja) * 1994-03-24 1998-08-13 日本電気株式会社 スピンバルブ膜およびこれを用いた再生ヘッド

Also Published As

Publication number Publication date
EP0871231A3 (en) 1999-05-26
EP0871231A2 (en) 1998-10-14
KR19980081243A (ko) 1998-11-25
JPH10284768A (ja) 1998-10-23
KR100306312B1 (ko) 2001-11-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3291208B2 (ja) 磁気抵抗効果型センサおよびその製造方法とそのセンサを備えた磁気ヘッド
US7160572B2 (en) Spin tunnel magnetoresistive effect film and element, magnetoresistive sensor using same, magnetic apparatus, and method for manufacturing same
US7106561B2 (en) Current-perpendicular-to-plane magnetoresistive sensor with free layer stabilized by in-stack orthogonal magnetic coupling to an antiparallel pinned biasing layer
US6387550B1 (en) Giant magnetoresistive material film, method of producing the same and magnetic head using the same
US7265948B2 (en) Magnetoresistive element with oxide magnetic layers and metal magnetic films deposited thereon
US5968676A (en) Magnetoresistance effect film and magnetoresistance effect type head
JP3198265B2 (ja) 磁気抵抗効果素子
JP2925542B1 (ja) 磁気抵抗効果膜および磁気抵抗効果型ヘッド
JP3869557B2 (ja) 磁気抵抗効果膜および磁気抵抗効果型ヘッド
JP3177184B2 (ja) 磁気抵抗効果素子とそれを用いた磁気ヘッドおよび磁気記録再生装置
JP3831514B2 (ja) 磁気抵抗効果膜および磁気抵抗効果型ヘッド
JP3710324B2 (ja) スピンバルブ型薄膜磁気素子及び薄膜磁気ヘッド及びスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法
JPH09205234A (ja) 磁気抵抗効果素子及び磁気抵抗効果センサ
JP3323098B2 (ja) 磁気抵抗効果多層膜
JP3137598B2 (ja) 磁気抵抗効果素子、磁気変換素子および反強磁性膜
JP2001052315A (ja) スピンバルブ型薄膜磁気素子及び薄膜磁気ヘッド及びスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法
JP2000215422A (ja) スピンバルブ型磁気抵抗効果素子およびその製造方法とその素子を備えた薄膜磁気ヘッド
JPH06325329A (ja) 薄膜磁気ヘッド
JP3048571B2 (ja) 交換結合膜と、この交換結合膜を用いた磁気抵抗効果素子、ならびに、前記磁気抵抗効果素子を用いた薄膜磁気ヘッド
JP3048572B2 (ja) 磁気抵抗効果素子、ならびに、前記磁気抵抗効果素子を用いた薄膜磁気ヘッド
JP2003051629A (ja) スピンバルブ型薄膜磁気素子及び薄膜磁気ヘッドとスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20010529

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080608

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090608

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090608

Year of fee payment: 8

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090608

Year of fee payment: 8

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090608

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090608

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090608

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100608

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110608

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120608

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120608

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130608

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140608

Year of fee payment: 13

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees