JP3202426B2

JP3202426B2 - 光ディスク欠陥検査装置

Info

Publication number: JP3202426B2
Application number: JP20985993A
Authority: JP
Inventors: 弘幸宮田
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1993-08-02
Filing date: 1993-08-02
Publication date: 2001-08-27
Anticipated expiration: 2016-08-27
Also published as: JPH0744866A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクに記憶され
た情報の読み取り検査を行う光ディスク欠陥検査装置に
関する。

【従来の技術】従来、この種の光ディスク欠陥検査装置
としては、アドレスの入った光ディスクのデータ部の欠
陥検出を行う装置として提案されており、光ディスクに
レーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を光ピック
アップ部で検出し、その検出した信号からアドレスを解
読し、欠陥検査部に動作命令を与えて、データ部の欠陥
検査を行うものであった。

【０００２】このような光ディスク欠陥検査装置では、
アドレスを解読した時点でデータ部の欠陥検査を行うだ
けであり、そのアドレス自体の連続性をチェックするも
のではなかった。アドレスが連続していないことは、ト
ラッキング外れを起こしていることを意味し、トラッキ
ング外れの有無をチェックしていないことになる。この
ように欠陥検査中に上述したようなトラッキング外れが
発生すると、２重に欠陥検査を行う可能性があり、加え
て未検査部が発生し、あるいは欠陥データ中に誤った値
が混入する虞れがあった。

【０００３】そこで、上述した不都合を解消するため
に、例えば特開平４−３６８６２８号公報に記載された
光ディスク欠陥検査装置が提案されている。図１０は、
上記公報に記載された光ディスク欠陥検査装置の構成を
示すブロック図である。この図１０において、光ディス
ク欠陥検査装置は、例えば光ディスク１０２から情報を
読み取る光ピックアップ部１０１、信号処理部１０３、
アドレス解読部１０４、アドレス更新保持部１０５、ア
ドレス比較部１０６、欠陥検査部１０７からなる。ま
た、アドレス更新保持部１０５は、次アドレスレジスタ
１０５ａと、リセット部１０５ｂとからなる。

【０００４】このような光ディスク欠陥検査装置によれ
ば、光ディスク１０２に光ピックアップ部１０１からレ
ーザ光を照射し、その反射光を光ピックアップ部１０１
で検出する。光ピックアップ部１０１からの出力信号Ｓ
ａは、信号処理部１０３で光電変換される。信号処理部
１０３の出力信号は、アドレス解読部１０４及び欠陥検
査部１０７に入力される。アドレス解読部１０４で解読
されたアドレスＡ₂の値は、アドレス比較部１０６と欠
陥検査部１０７に供給される。また、アドレス更新保持
部１０５の次アドレスレジスタ１０５ａには、次にくる
更新アドレスＡ₁を保持しており、その保持された更新
アドレスＡ₁をアドレス比較部１０６に与える。なお、
次アドレスレジスタ１０５ａの値は、検査開始時にリセ
ット部１０５ｂによって検査開始アドレスに設定され
る。欠陥検査部１０７はアドレス比較部１０６からの動
作指令により光ディスク１０２のデータ部の欠陥検査を
実行する。

【０００５】データの欠陥検査中に、アドレス比較部１
０６は、アドレス解読部１０４によって解読された解読
アドレスＡ₂と、次アドレスレジスタ１０５ａに格納さ
れている更新アドレスＡ₁とを比較する。このとき、Ａ
₁＝Ａ₂の場合には、欠陥検査部１０７に動作指令Ｓｂ
を与えると共に、次アドレスレジスタ１０５ａに更新指
令Ｓｃを与えてＡ₁の値を変化させる。これにより、実
際に解読した解読アドレスＡ₂の連続性をチェックしな
がら欠陥検査を行うことができる。また、Ａ₁≠Ａ₂の
場合には、図１１に示すように、Ａ₂→Ａ₀となって、
解読された解読アドレスＡ₂の連続性がなくなるのでト
ラッキングが外れたと判断する。

【０００６】図１２は、上記公報に記載された光ディス
ク欠陥検査装置の他の例を示すブロック図である。この
光ディスク欠陥検査装置では、図１０の装置にアドレス
メモリ１０８を付加したものであり、アドレス比較部１
０６で更新アドレスＡ₁と解読アドレスＡ₂とを比較し
た結果に応じて、更新アドレスＡ₁または解読アドレス
Ａ₂から演算して得られたアドレスＡ₃を前記アドレス
メモリ１０８に記憶させるようにしたものである。これ
は、更新アドレスＡ₁と解読アドレスＡ₂の値を比較し
た結果、Ａ₁＝Ａ₂のときには図１０の装置と同様に欠
陥検査を行う。しかし、Ａ₁≠Ａ₂のときにはアドレス
比較部１０６は更新アドレスＡ₁または解読アドレスＡ
₂に対して演算を行い、その結果のアドレスＡ₃の値を
トラッキングが外れたアドレスとしてアドレスメモリ１
０８に記憶させている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た光ディスク欠陥検査装置にあっては、トラッキング外
れの発生していることを検出できる利点を有しているも
のの、トラッキング外れの発生が外側か、内側かを判定
することができないという欠点があった。また、欠陥デ
ータがトラッキング外れの影響を受けるという欠点があ
った。本発明は、上述した欠点を解消し、トラッキング
外れの発生部を特定でき、かつ欠陥データに対するトラ
ッキング外れの影響をなくした光ディスク欠陥検査装置
を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１記載の発明は、光ディスクから光ピックア
ップ部で読み出した情報を信号処理部で電気信号にし、
かつ信号処理部からの電気信号を基に解読アドレスを得
るとともに、この解読アドレスとアドレス更新保持部の
更新アドレスとをアドレス比較部で比較し、両者が等し
いときに欠陥検査部に動作指令を出す光ディスク欠陥検
査装置において、二つの異なる領域を有する記憶手段を
設け、前記アドレス比較部を、更新アドレスと解読アド
レスとを比較して等しくないとき、更新アドレスと解読
アドレスの大小関係によって更新アドレスまたは解読ア
ドレスから演算して得られたアドレスを前記記憶手段の
異なる領域に格納できるようにしたことを特徴とする。

【０００９】上記目的を達成するために、請求項２記載
の発明は、光ディスクから光ピックアップ部で読み出し
た情報を信号処理部で電気信号にし、かつ信号処理部か
らの電気信号を基に解読アドレスを得るとともに、この
解読アドレスとアドレス更新保持部の更新アドレスとを
アドレス比較部で比較し、両者が等しいときに欠陥検査
部に動作指令を出す光ディスク欠陥検査装置において、
記憶手段を設け、前記アドレス比較部を、更新アドレス
と解読アドレスとを比較して等しくないとき、更新アド
レスと解読アドレスの大小によって異なる識別フラッグ
を、更新アドレスまたは解読アドレスから演算して得ら
れたアドレスの値に付加して前記記憶手段に記憶させる
ようにしたことを特徴とする。

【００１０】上記目的を達成するために、請求項３記載
の発明は、光ディスクから光ピックアップ部で読み出し
た情報を信号処理部で電気信号にし、かつ信号処理部か
らの電気信号を基に解読アドレスを得るとともに、この
解読アドレスとアドレス更新保持部の更新アドレスとを
アドレス比較部で比較し、両者が等しいときに欠陥検査
部に動作指令を出す光ディスク欠陥検査装置において、
二つの異なる領域を有する記憶手段を設けるとともに、
データ削除手段を設け、前記データ削除手段を、欠陥検
査部のデータ及び記憶手段の異なる領域内のデータとを
相互に参照可能であり、かつ記憶手段の異なる領域内に
記憶されているアドレスもしくは領域に対応する欠陥デ
ータを欠陥検査部内のデータから削除できる構成とした
ことを特徴とする。

【００１１】上記目的を達成するために、請求項４記載
の発明は、光ディスクから光ピックアップ部で読み出し
た情報を信号処理部で電気信号にし、かつ信号処理部か
らの電気信号を基に解読アドレスを得るとともに、この
解読アドレスとアドレス更新保持部の更新アドレスとを
アドレス比較部で比較し、両者が等しいときに欠陥検査
部に動作指令を出す光ディスク欠陥検査装置において、
記憶手段を設けるとともに、データ削除手段を設け、前
記データ削除手段を、記憶手段内のデータと欠陥検査部
内のデータとを識別子を基に相互に参照でき、かつ記憶
手段に記憶されているアドレスもしくは領域に対応する
欠陥データを欠陥検査部の内部から削除できるうように
構成したこと特徴とする。

【００１２】

【作用】請求項１記載の発明では、光ディスクから光ピ
ックアップ部で読み出した情報を信号処理部で電気信号
にし、かつ信号処理部からの電気信号を基に解読アドレ
スを得るとともに、この解読アドレスとアドレス更新保
持部の更新アドレスとをアドレス比較部で比較し、両者
が等しいときに欠陥検査部に動作指令を出す。また、前
記アドレス比較部は、更新アドレスと解読アドレスとを
比較して等しくないとき、更新アドレスと解読アドレス
の大小関係によって更新アドレスまたは解読アドレスか
ら演算して得られたアドレスを記憶手段の異なる領域に
それぞれ格納できる。これらデータにより、外側か内側
のトラッキング外れかが直ちに分かる。

【００１３】請求項２記載の発明では、アドレス比較部
は、更新アドレスと解読アドレスとを比較して等しくな
いとき、更新アドレスと解読アドレスの大小によって異
なる識別フラッグを、更新アドレスまたは解読アドレス
から得られたアドレスの値に付加して記憶手段に記憶さ
せている。これらフラッグを基に外側か内側のトラッキ
ングエラーかが直ちに分かる。請求項３記載の発明で
は、データ削除手段は、欠陥検査部のデータ及び記憶手
段の異なる領域内のデータとを相互に参照可能であり、
かつ記憶手段の異なる領域内に記憶されているアドレス
もしくは領域に対応する欠陥データを欠陥検査部内のデ
ータから削除できることになる。

【００１４】請求項４記載の発明では、データ削除手段
は、記憶手段内のデータと欠陥検査部内のデータとを識
別子を基に相互に参照でき、かつ記憶手段に記憶されて
いるアドレスもしくは領域に対応する欠陥データを欠陥
検査部の内部から削除できることになる。

【００１５】

【実施例】以下、本発明について図示の実施例を参照し
て説明する。図１は、本発明の光ディスク欠陥検査装置
の第１の実施例を示すブロック図である。図１におい
て、光ディスク欠陥検査装置は、大別すると、光ピック
アップ部１と、信号処理部３と、アドレス解読部４と、
アドレス更新保持部５と、アドレス比較部６と、欠陥検
査部７と、外側トラッキング外れ領域記憶手段８ａと、
内側トラッキング外れアドレス記憶手段８ｂとを備えて
いる。アドレス更新保持部５は、次アドレスレジスタ５
ａと、リセット部５ｂとからなる。さらに、詳細に説明
すると、光ピックアップ部１は、信号処理部３に接続さ
れていて、光ピックアップ部１から光ディスク２の情報
が入力されるようになっている。信号処理部３は、その
情報を光電変換するように回路構成されている。前記信
号処理部３の出力部は、アドレス解読部４と欠陥検査部
７に接続されている。

【００１６】アドレス更新保持部５は、次にくるアドレ
ス値を更新保持できる回路である。このアドレス更新保
持部５の出力はアドレス比較部６に接続されている。ア
ドレス比較部６の他の入力部には、アドレス解読部４の
出力部が接続されている。このアドレス比較部６は、更
新アドレスＡ₁と解読アドレスＡ₂とを比較する回路で
ある。アドレス比較部６の各出力は、欠陥検査部７と、
外側トラッキング外れ領域記憶手段８ａ，内側トラッキ
ング外れアドレス記憶手段８ｂと、アドレス更新保持部
５の次アドレスレジスタ５ａ，リセット部５ｂとに接続
されている。これにより、アドレス比較部６からの出力
信号Ｓｂは欠陥検査部７に、その演算アドレスＡ₃は外
側トラッキング外れ領域記憶手段８ａ，内側トラッキン
グ外れアドレス記憶手段８ｂに、更新指令Ｓｃは次アド
レスレジスタ５ａに、リセットアドレス出力信号Ｓｄは
リセット部５ｂに、それぞれ供給されるようになってい
る。

【００１７】このように構成された第１の実施例の動作
を図１を基に説明する。光ディスク２に光ピックアップ
部１からレーザ光を照射し、その反射光を光ピックアッ
プ部１で検出する。光ピックアップ部１からの出力信号
Ｓａは、信号処理部３で光電変換される。信号処理部３
の出力信号は、アドレス解読部４及び欠陥検査部７に入
力される。アドレス解読部４で解読されたアドレスＡ₂
の値は、アドレス比較部６と欠陥検査部７に供給され
る。また、アドレス更新保持部５の次アドレスレジスタ
５ａには、次にくる更新アドレスＡ₁を保持しており、
その保持された更新アドレスＡ₁をアドレス比較部６に
与える。なお、次アドレスレジスタ５ａの値は、検査開
始時にリセット部５ｂによって検査開始アドレスに設定
される。欠陥検査部７はアドレス比較部６からの動作指
令Ｓｂにより光ディスク２のデータ部の欠陥検査を実行
する。

【００１８】データ部の欠陥検査中に、アドレス比較部
６は、アドレス解読部４によって解読された解読アドレ
スＡ₂と、次アドレスレジスタ５ａに格納されている更
新アドレスＡ₁とを比較する。このとき、Ａ₁＝Ａ₂の
場合には、欠陥検査部７に動作指令Ｓｂを与えると共に
次アドレスレジスタ５ａに更新指令Ｓｃを与える。これ
により、実際に解読した解読アドレスＡ₂の連続性をチ
ェックしながら欠陥検査を行うことができる。ここで、
アドレス比較部６においてＡ₁≠Ａ₂と判定された場合
に、アドレス比較部６は更新アドレスＡ₁と解読アドレ
スＡ₂との大小を調べ、Ａ₁＜Ａ₂の場合、これらを基
に得た演算アドレスＡ₃（（Ａ₁−１），（Ａ₂−
１））をトラッキング外れ領域として、外側トラッキン
グ外れ領域記憶手段８ａに格納する。

【００１９】一方、アドレス比較部６においてＡ₁≠Ａ
₂と判定された場合に、アドレス比較部６は更新アドレ
スＡ₁と解読アドレスＡ₂との大小を調べ、Ａ₁＞Ａ₂
の場合、これらを基に得た演算アドレスＡ₃（（Ａ₁−
１））をトラッキング外れアドレスとして、内側トラッ
キング外れアドレス記憶手段８ｂに格納する。図２は、
本発明の第２の実施例を示すブロック図である。第２の
実施例では、第１の実施例のアドレス比較部６を修正す
るとともに、外側トラッキング外れ領域記憶手段８ａ及
び内側トラッキング外れアドレス記憶手段８ｂに変えて
記憶手段８を設けている。すなわち、アドレス比較部６
は、更新アドレスＡ₁と解読アドレスＡ₂とを比較し、
Ａ₁≠Ａ₂と判定されたときに、フラッグＦを演算アド
レスＡ₃に付加できるようにしたものである。また、記
憶手段８は、フラッグＦを付加した演算アドレスＡ₃を
格納できるようにしたものである。

【００２０】このような第２の実施例の動作を説明す
る。図３は、第２の実施例が動作して得た演算アドレス
Ａ₃を記憶手段８に格納した状態を示す説明図である。
上述した第２の実施例において、アドレス比較部６でＡ
₁≠Ａ₂と判定された場合に、アドレス比較部６は更新
アドレスＡ₁と解読アドレスＡ₂との大小を調べ、Ａ₁
＜Ａ₂の場合、図３に示すように、これらアドレスを基
に得た演算アドレスＡ₃（（Ａ₁−１），（Ａ₂−
１））に対してフラッグＦ₁を付加し、第１の格納デー
タとして、記憶手段８に格納している。次に、アドレス
比較部６においてＡ₁≠Ａ₂と判定された場合に、アド
レス比較部６は更新アドレスＡ₁と解読アドレスＡ₂と
の大小を調べ、Ａ₁＞Ａ₂の場合、図３に示すように、
これらアドレスを基に得た演算アドレスＡ₃（（Ａ₁′
−１））にフラッグＦ₂を付加し、第２の格納データと
して、記憶手段８に格納する。

【００２１】さらにまた、アドレス比較部６でＡ₁≠Ａ
₂と判定された場合に、アドレス比較部６は更新アドレ
スＡ₁と解読アドレスＡ₂との大小を調べ、Ａ₁＜Ａ₂
の場合、図３に示すように、これらアドレスを基に得た
演算アドレスＡ₃（（Ａ₁″−１），（Ａ₂″−１））
に対してフラッグＦ₁を付加し、第３の格納データとし
て、記憶手段８に格納している。欠陥検査中は順次上記
動作を繰り返していく。

【００２２】図４は、第３の実施例を示すブロック図で
ある。第３の実施例は、第１の実施例にデータ削除手段
９を付加したものである。すなわち、この第３の実施例
では、データ削除手段９は、外側トラッキング外れ領域
記憶手段８ａ、内側トラッキング外れアドレス記憶手段
８ｂ及び欠陥検査部７の内容を相互に参照可能になって
おり、外側トラッキング外れ領域記憶手段８ａ、内側ト
ラッキング外れアドレス記憶手段８ｂ内と共通な領域も
しくはアドレスを有する欠陥データがあれば、欠陥検査
部７内から当該データを削除できるうようになってい
る。なお、他の構成には変化がないので、同一符号を付
して構成の説明を省略する。

【００２３】このような第３の実施例の動作を図４，図
５を参照しながら説明する。図５は第３の実施例の動作
を説明するための説明図であり、図５（ａ）に欠陥検査
部７内に格納されている欠陥発生アドレス、欠陥情報を
示し、図５（ｂ）に外側トラッキング外れ領域記憶手段
８ａ内に格納されるデータ型式を示し、図５（ｃ）に内
側トラッキング外れアドレス記憶手段８ｂ内に格納され
るデータ型式を示す。図６は、第３の実施例を説明する
ためのフローチャートである。上述した第３の実施例に
おいて、欠陥検査手段７には、図５（ａ）に示すよう
に、欠陥発生アドレスＤＡ，ＤＡ′，…と欠陥情報Ｄ，
Ｄ′，…からなる欠陥データが順次可能される。また、
外側トラッキング外れ領域記憶手段８ａには、図５
（ｂ）に示すように、外側トラッキング外れ発生領域
（ＯＡ₁−１，ＯＡ₂−１），（ＯＡ₁′−１，Ｏ
Ａ₂′−１），…が格納される。同様に、内側トラッキ
ング外れアドレス記憶手段８ｂには、図５（ｃ）に示す
ように内側トラッキング外れ発生アドレス（ＩＡ−
１），（ＩＡ′−１），…が格納される。

【００２４】欠陥検査（ステップ２００）が終了する
と、データ削除手段９は、外側トラッキング外れ領域記
憶手段８ａ、内側トラッキング外れアドレス記憶手段８
ｂ、及び欠陥検査部７の格納データを相互に参照する。
ここで、データ削除手段９は、外側トラッキング外れ領
域記憶手段８ａの中にデータ（例えば、ＯＡ₁−１から
ＯＡ₂−１）が格納されているときに（ステップ２０
１；Ｙ）、その格納データで示される外側トラッキング
外れ領域のアドレス（アドレスＯＡ₁−１からＯＡ₂−
１）を欠陥発生アドレスとして有する欠陥データを欠陥
検査部７の内部から削除して（ステップ２０２）、次の
ステップに移行する。

【００２５】また、データ削除手段９は、外側トラッキ
ング外れ領域記憶手段８ａにデータがなければ（ステッ
プ２０１；Ｎ）、何もせずにステップ２０３に移行す
る。次に、データ削除手段９は、内側トラッキング外れ
アドレス記憶手段８ｂにデータがあるかを判定して（ス
テップ２０３）、データがあれば（ステップ２０３；
Ｙ）、欠陥検査部７の内部から当該データ（例えば（Ｉ
Ａ−１）を欠陥発生アドレスとして有する欠陥データ）
を削除して（ステップ２０４）、次のステップに移行す
る。また、データがなければ（ステップ２０３；Ｎ）、
ステップ２０５に移行する。これらの作業が完了した後
に、欠陥検査部７に残っているものがトラッキング外れ
の影響がない正しい欠陥データである。（ステップ２０
５）。

【００２６】図７は、第４の実施例を示すブロック図で
ある。第４の実施例は、第２の実施例にデータ削除手段
９を付加したものである。この第３の実施例では、デー
タ削除手段９は、記憶手段８及び欠陥検査部７の内容を
相互に参照可能になっており、欠陥検査部７内に記憶手
段８内と共通な領域もしくはアドレスを有する欠陥デー
タがあれば、この欠陥検査部７内から当該データを削除
できるうようになっている。なお、他の構成には変化が
ないので、同一符号を付して構成の説明を省略する。

【００２７】このような第４の実施例の動作を図７を基
に、図８，図９を参照して説明する。図８（ａ）は、欠
陥検査部７内に格納されたデータの例を示す説明図であ
る。図８（ｂ）は、記憶手段８内に格納されてデータを
例を示す説明図である。図９は、第４の実施例の動作を
説明するためのフローチャートである。この第４の実施
例において、欠陥検査手段７には、図８（ａ）示すよう
に、欠陥発生アドレスＤＡ，ＤＡ′，…と欠陥情報Ｄ，
Ｄ′，…からなる欠陥データが順次格納される。また、
記憶手段８には、図８（ｂ）に示すように、フラッグＦ
₁とアドレスＯＡ₁−１，ＯＡ₂−１、Ｆ₂とアドレス
ＩＡ₁−１、…とが順次格納される。

【００２８】欠陥検査（ステップ３００）が終了すると
データ削除手段９は、記憶手段８と欠陥検査部７との格
納データを相互に参照する。データ削除手段９は、記憶
手段８内に識別フラッグＦ₁があったときに（ステップ
３０１；Ｙ）、識別フラッグＦ₁に続く外側トラッキン
グ外れ領域データ（例えば、ＯＡ₁−１，ＯＡ₂−１）
で示されるアドレス（例えばＯＡ₁−１からＯＡ₂−
１）を欠陥発生アドレスとして有する欠陥データを欠陥
検査部７の中から削除して（ステップ３０２）、次のス
テップに進む。また、識別フラッグＦ₁がないときには
（ステップ３０１；Ｎ）、何も処理を行うことなくステ
ップ３０３に進む。

【００２９】次に、データ削除手段９は、記憶手段８内
に識別フラッグＦ₂があったときに（ステップ３０３；
Ｙ）、記憶手段８中のフラッグＦ₂に続く内側トラッキ
ング外れアドレス（例えば、ＩＡ−１）を欠陥発生アド
レスとして有する欠陥データを欠陥検査部７から削除し
て（ステップ３０４）、次のステップに進む。また、記
憶手段８内に識別フラッグＦ₁がないときには（ステッ
プ３０３；Ｎ）、何も処理を行うことなくステップ３０
５に進む。このようにこの第４の実施例では、記憶手段
８の中にデータが格納されている場合は、その格納デー
タの識別フラッグＦによってトラッキング外れ領域また
はアドレスを示し、その格納データで示される領域また
はアドレスと共通な欠陥発生アドレスを有する格納デー
タを７から削除する。これらの作業後に欠陥検査部７に
残っているものが正しい欠陥データである（ステップ３
０５）。

【００３０】

【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、外側トラ
ッキング外れ領域と内側トラッキング外れアドレスを別
々の記憶手段に格納しているので、格納されたデータか
ら外側・内側のトラッキング外れの場所を示すデータを
容易にかつ確実に区別抽出することができる。請求項２
記載の発明では、演算アドレスに対し外側トラッキング
外れ領域と、内側トラッキング外れとで異なる識別フラ
ッグを付加して記憶手段に格納しているので、格納され
たデータから外側・内側のトラッキング外れの場所を示
すデータを容易に区別することが可能となる。

【００３１】請求項３に記載の発明によれば、データ削
除手段によって欠陥データからトラッキング外れによる
誤ったデータを削除するので、欠陥データからトラッキ
ング外れの影響を排除することができる。請求項４に記
載の発明によれば、データ削除手段によって欠陥データ
からトラッキング外れによる誤ったデータを削除するの
で、欠陥データからトラッキング外れの影響を排除する
ことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ディスク欠陥検査装置の第１の実施
例を示すブロック図である。

【図２】同第２の実施例を示すブロック図である。

【図３】同第２の実施例を説明するための図である。

【図４】同第３の実施例を示すブロック図である。

【図５】同第３の実施例の記憶状態を説明するための図
である。

【図６】同第３の実施例の動作を説明するためのフロー
チャートである。

【図７】同第４の実施例を示すブロック図である。

【図８】同第４の実施例の動作を説明するための説明図
である。

【図９】同第４の実施例の動作を説明するためのフロー
チャートである。

【図１０】従来の光ディスク欠陥検査装置を示すブロッ
ク図である。

【図１１】同動作を説明するための説明図である。

【図１２】従来の他の光ディスク欠陥検査装置を示すブ
ロック図である。

【符号の説明】

１光ピックアップ部２光ディスク３信号処理部４アドレス解読部５アドレス更新保持部６アドレス比較部７欠陥検査部８記憶手段８ａ外側トラッキング外れ領域記憶手段８ｂ内側トラッキング外れアドレス記憶手段９データ削除手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/013

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスクから光ピックアップ部で読み
出した情報を信号処理部で電気信号にし、かつ信号処理
部からの電気信号を基に解読アドレスを得るとともに、
この解読アドレスとアドレス更新保持部の更新アドレス
とをアドレス比較部で比較し、両者が等しいときに欠陥
検査部に動作指令を出す光ディスク欠陥検査装置におい
て、二つの異なる領域を有する記憶手段を設け、前記アドレス比較部は、更新アドレスと解読アドレスと
を比較して等しくないとき、更新アドレスと解読アドレ
スの大小関係によって更新アドレスまたは解読アドレス
から得られたアドレスを前記記憶手段の異なる領域に格
納できるようにしたことを特徴とする光ディスク欠陥検
査装置。
【請求項２】光ディスクから光ピックアップ部で読み
出した情報を信号処理部で電気信号にし、かつ信号処理
部からの電気信号を基に解読アドレスを得るとともに、
この解読アドレスとアドレス更新保持部の更新アドレス
とをアドレス比較部で比較し、両者が等しいときに欠陥
検査部に動作指令を出す光ディスク欠陥検査装置におい
て、記憶手段を設け、前記アドレス比較部は、更新アドレスと解読アドレスと
を比較して等しくないとき、更新アドレスと解読アドレ
スの大小によって異なる識別フラッグを、更新アドレス
または解読アドレスから得られたアドレスの値に付加し
て前記記憶手段に記憶させるようにしたことを特徴とす
る光ディスク欠陥検査装置。
【請求項３】光ディスクから光ピックアップ部で読み
出した情報を信号処理部で電気信号にし、かつ信号処理
部からの電気信号を基に解読アドレスを得るとともに、
この解読アドレスとアドレス更新保持部の更新アドレス
とをアドレス比較部で比較し、両者が等しいときに欠陥
検査部に動作指令を出す光ディスク欠陥検査装置におい
て、二つの異なる領域を有する記憶手段を設けるとともに、データ削除手段を設け、前記データ削除手段は、欠陥検査部のデータ及び記憶手
段の異なる領域内のデータとを相互に参照可能であり、
かつ記憶手段の異なる領域内に記憶されているアドレス
もしくは領域に対応する欠陥データを欠陥検査部内のデ
ータから削除できる構成としたことを特徴とする光ディ
スク欠陥検査装置。
【請求項４】光ディスクから光ピックアップ部で読み
出した情報を信号処理部で電気信号にし、かつ信号処理
部からの電気信号を基に解読アドレスを得るとともに、
この解読アドレスとアドレス更新保持部の更新アドレス
とをアドレス比較部で比較し、両者が等しいときに欠陥
検査部に動作指令を出す光ディスク欠陥検査装置におい
て、記憶手段を設けるとともに、データ削除手段を設け、前記データ削除手段は、記憶手段内のデータと欠陥検査
部内のデータとを識別子を基に相互に参照でき、かつ記
憶手段に記憶されているアドレスもしくは領域に対応す
る欠陥データを欠陥検査部の内部から削除できるように
構成したこと特徴とする光ディスク欠陥検査装置。