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JP3205320B2 - 半導体装置の樹脂封止方法、樹脂封止装置 - Google Patents
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JP3205320B2 - 半導体装置の樹脂封止方法、樹脂封止装置 - Google Patents

半導体装置の樹脂封止方法、樹脂封止装置

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JP3205320B2
JP3205320B2 JP31170799A JP31170799A JP3205320B2 JP 3205320 B2 JP3205320 B2 JP 3205320B2 JP 31170799 A JP31170799 A JP 31170799A JP 31170799 A JP31170799 A JP 31170799A JP 3205320 B2 JP3205320 B2 JP 3205320B2
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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置の樹脂封
止方法、樹脂封止装置に関する。
【0002】
【従来の技術】フリップチップ法によって半導体チップ
を搭載する半導体装置は、図10に示すように基板10
に半導体チップ12をフリップチップ接続した後、半導
体チップ12と基板10との接合部分に封止用樹脂14
を充填して接合部分を樹脂封止して成るものである。封
止用樹脂14は半導体チップ12と基板10との接合部
を保護するとともに、基板10と半導体チップ12の熱
膨張係数が相違することによって生じる熱応力を緩和す
る作用を有する。
【0003】基板10と半導体チップ12との接合部に
封止用樹脂14を充填する方法としては、図11に示す
ように基板10を傾けて支持し、基板10と半導体チッ
プ12との接合部に封止用樹脂14を流し込む方法が一
般的である。基板10と半導体チップ12との接合部に
は多数個のバンプ16が配置されているから、これらの
バンプ16の間をぬって封止用樹脂14を充填するた
め、基板10を傾けて封止用樹脂14を流し込むことに
より、接合部内のエアを押し出すようにしながら封止用
樹脂14を充填するようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、フリッ
プチップ接続した半導体チップの接合部を封止する場合
に、上記のように単に封止用樹脂14を流し込む方法に
よると半導体チップ12と基板10との接合部に完全に
封止用樹脂14が充填されず、隙間部分の内部に気泡が
残ったりするという問題があった。実際、半導体チップ
12と基板10との接合部の隙間は0.1mmから最近
では0.02mm、0.03mm程度と非常に狭いこと
と、隙間部分には多数個のバンプ16が配置されていて
封止用樹脂14の流れ性が抑えられること、またフィラ
ー入りの封止用樹脂14ではさらに流れ性が悪くなるか
ら、単に封止用樹脂14を流し込む方法では確実な封止
は不可能である。また、作業効率の点においても、ポッ
ティング法は樹脂の硬化時間がトランスファ法よりもか
かることから封止用樹脂14を流し込んで封止する方法
は有効ではない。
【0005】また、フリップチップ接続した半導体チッ
プをトランスファ成形によって樹脂封止しようとする場
合、被成形品によってバンプの高さや半導体チップの厚
さが微妙に異なるため、半導体チップの外面に樹脂が薄
ばり状に形成されたり、逆に被成形品を強く押さえ込み
過ぎて半導体チップを破壊したりするおそれがあった。
アンダーフィル部の隙間がきわめて狭いため、樹脂材に
はきわめて小さなシリカを含むもの、もしくはシリカを
含有しないものを使用しなければならない。このような
樹脂材は隙間部分に入り込みやすく、被成形品のクラン
プが適切になされないと隙間に樹脂が入り込んで樹脂ば
りが生じやすくなる。また、基板に対する半導体チップ
の平面位置が微妙にずれた場合でも同様な問題が生じ
る。そのため、従来のトランスファ成形方法でフリップ
チップ接続によるアンダーフィル部を樹脂封止すること
はほとんど不可能であった。
【0006】本発明は半導体チップをフリップチップ接
続した半導体装置等のアンダーフィル構造を有する半導
体装置の製造にあたって、トランスファ成形法を適用す
ることにより、気泡が残ったりすることのない確実なア
ンダーフィルを可能にして信頼性の高い半導体装置を得
ることができ、また、効率的なアンダーフィルを可能に
する半導体装置の樹脂封止方法、樹脂封止装置を提供す
ることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため次の構成を備える。すなわち、基板に半導体チ
ップを搭載した被成形品のアンダーフィル部に封止用樹
脂を圧送して前記半導体チップと基板との接合部を封止
する半導体装置の樹脂封止方法であって、前記被成形品
を金型によりクランプする際に、前記アンダーフィル部
の周囲をアンダーフィル部に通じるゲートが接続する部
位を除いてリリースフィルムにより閉止し、リリースフ
ィルムによりアンダーフィル部の周囲を閉止した状態
で、前記アンダーフィル部に封止用樹脂を圧送して前記
接合部を封止することを特徴とする。また、前記アンダ
ーフィル部を前記リリースフィルムにより閉止する際
に、前記半導体チップの側面にリリースフィルムを押接
して、アンダーフィル部の内部にのみ前記封止用樹脂を
充填することを特徴とする。
【0008】また、前記アンダーフィル部をリリースフ
ィルムにより閉止する際に、被成形品をクランプするク
ランプ力によって弾性変形する弾性体を介して前記リリ
ースフィルムを半導体チップの側面に押接することを特
徴とする。また、前記アンダーフィル部を前記リリース
フィルムにより閉止する際に、前記半導体チップの側面
とリリースフィルムとの間に設けられた側面封止部及び
前記アンダーフィル部に前記封止用樹脂を充填すること
を特徴とする。また、前記アンダーフィル部に前記封止
用樹脂を充填する際に、前記ゲートが接続する前記半導
体チップの一方の側面とこれに平行な他方の側面を除い
た2つの側面を閉止して樹脂封止することを特徴とす
る。また、前記アンダーフィル部に前記封止用樹脂を充
填する際に、該封止用樹脂に脈動を作用させて充填する
ことを特徴とする。
【0009】また、基板に半導体チップを搭載した被成
形品を上型と下型でクランプし、前記被成形品のアンダ
ーフィル部に封止用樹脂を圧送して充填することにより
前記半導体チップと基板との接合部を封止する半導体装
置の樹脂封止装置であって、前記上型と下型の一方に、
前記半導体チップを収容し、リリースフィルムを介して
前記半導体チップの背面及び側面を前記アンダーフィル
部に通じるゲートの端部を除いて閉止するキャビティ凹
部を設けたことを特徴とする。また、前記キャビティ凹
部の側面に、被成形品をクランプする際のクランプ力に
より弾性変形して前記半導体チップの側面に前記リリー
スフィルムを押接する弾性体を設けたことを特徴とす
る。また、前記アンダーフィル部に封止用樹脂を圧送す
る際に封止用樹脂を脈動させる脈動手段を設けたことを
特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る樹脂封止装置
の好適な実施形態について、添付図面とともに詳細に説
明する。本実施形態の樹脂封止装置はフリップチップ法
により半導体チップ12を基板10に搭載した被成形品
40を、リリースフィルムを用いたトランスファモール
ド方法を利用して基板10と半導体チップ12の接合部
の隙間部分(アンダーフィル部)に封止用樹脂を充填す
るものである。
【0011】リリースフィルムとはモールド金型の加熱
温度に耐えることができ、金型および樹脂材と容易に剥
離する耐熱性および剥離性と、キャビティ凹部等が設け
られた金型面の形状にならって容易に伸縮変形する柔軟
性等の要件を備えたフィルムであって、樹脂封止時にリ
リースフィルムにより金型面を被覆して樹脂封止する方
法をリリースフィルムを用いた樹脂封止方法という。リ
リースフィルムにはETFE、PTFE、PET、FE
P、ポリ塩化ビリニジン、フッ素含浸ガラスクロスなど
が用いられる。
【0012】リリースフィルムを用いるトランスファモ
ールド方法によれば、金型面がリリースフィルムによっ
て被覆されることから、樹脂封止時に樹脂がじかに金型
面に接触することがなく、成形品の離型が容易にできて
モールド金型の構成を簡素化することができ、また成形
品の離型等を考慮することなく製品に最も適した樹脂が
使用することが可能である。
【0013】図1は被成形品40を樹脂封止する樹脂封
止装置でのモールド金型の構成と、樹脂封止方法を示し
ている。同図で中心線CLの左半部は被成形品40をリ
リースフィルム20を介して上型26と下型28とでク
ランプした状態を示し、中心線CLの右半部は半導体チ
ップ12と基板10の接合部の隙間部分(アンダーフィ
ル部)に封止用樹脂を充填した状態を示す。
【0014】このモールド金型ではポット42を挟む両
側に被成形品40が1枚ずつ配置され、ポット42内で
溶融した封止用樹脂をプランジャ44で圧送することに
より被成形品40のアンダーフィル部に封止用樹脂が充
填される。46は下型28で被成形品40を所定位置に
セットするセット凹部である。48は金型カル、50は
ポット42に連通する金型ランナーである。52は下型
28を加熱するヒータ、54は下型28上にセットした
リリースフィルム20を下型28のパーティング面にエ
ア吸着して支持するためのエア吸着穴である。
【0015】上型26では、ポット42に対向してカル
インサート60を設け、被成形品40をクランプする部
位に合わせてキャビティインサート62を配置する。キ
ャビティインサート62のパーティング面には基板10
に搭載された半導体チップ12を収容するためのキャビ
ティ凹部62aが設けられ、被成形品40をクランプし
た際にリリースフィルム20を介して半導体チップ12
の側面が閉止されるように構成されている。
【0016】キャビティインサート62は上型26に設
けたセット穴内に上型26の背面側から挿入するように
してセットする。セット穴の内壁面とキャビティインサ
ート62の側面との間にはエア流路64となる隙間を設
ける。このエア流路64は上型26のパーティング面に
セットしたリリースフィルム20をエア吸引してパーテ
ィング面に吸着支持するためのものである。66はカル
部分でリリースフィルム20をエア吸着するためカルイ
ンサート60の側面に設けたエア流路である。62bは
キャビティ凹部62aの内面にリリースフィルム20を
エア吸着するための吸引孔である。
【0017】上型26のパーティング面はほぼ全面にわ
たりリリースフィルム20によって被覆され、キャビテ
ィインサート62に設けたキャビティ凹部62aの内面
もリリースフィルム20によって被覆される。したがっ
て、キャビティ凹部62aの内面寸法はリリースフィル
ム20によってキャビティ凹部62aを被覆した状態で
半導体チップ12が収容されるように設定する。
【0018】68は上型26に装着した超音波振動部で
ある。超音波振動部68は上型26でのゲート70の設
置位置に合わせて配置する。この超音波振動部68はゲ
ート70を通過する樹脂を脈動させ、アンダーフィル部
に確実に樹脂が充填されるようにするためのものであ
る。フィラーを含有する樹脂を封止用樹脂とするような
場合は超音波振動部68を作動させることは樹脂の充填
性を高めるうえで有効である。超音波振動部68はリリ
ースフィルム20を介して設置しているから超音波振動
部68に樹脂が入り込むことはなく、超音波振動部68
は安定して動作する。なお、ゲート70等の樹脂路部分
の内面がリリースフィルム20によって被覆されている
からアンダーフィル時における樹脂路部分での樹脂の流
れ性を向上させることができ、これによっても樹脂の充
填性を向上させることができる。74は上型ベース72
に設けたヒータである。
【0019】上記のモールド金型を装着した樹脂封止装
置による樹脂封止操作は次のようにして行われる。ま
ず、型開きした状態で、下型28のセット凹部46に被
成形品40を供給する。次に、リリースフィルムの供給
機構により、上型26と下型28のパーティング面にリ
リースフィルム20を供給する。リリースフィルム20
を供給する際は金型のパーティング面から若干離間さ
せ、所定位置まで搬入したところでパーティング面に近
づけ、エア機構に連絡するエア吸着穴54およびエア流
路64、66からエア吸引してパーティング面に吸着し
て支持する。
【0020】本実施形態で下型28に供給するリリース
フィルム20はポット42とその両側にセットした被成
形品40のゲート端位置までを覆う幅寸法のものを使用
する。被成形品40を下型28にセットした後、下型2
8にリリースフィルム20をセットすることにより、ポ
ット42の開口部がリリースフィルム20によって塞が
れるとともに、被成形品40の基板10上のゲート端位
置までリリースフィルム20によって被覆される。
【0021】このように、基板10上でゲート70が通
過する部位をリリースフィルム20で被覆すると、ゲー
ト70を通過する樹脂が基板10の表面に接触しないか
ら、樹脂を充填して硬化した後に樹脂を除去する際に基
板10の表面を傷めることがない。基板10の表面にア
ンダーフィル用の樹脂が付着してもかまわない場合は、
もちろんこのように基板10上までリリースフィルム2
0を延出してリリースフィルム20によって被覆する必
要はない。基板10の表面に封止用樹脂を付着させてア
ンダーフィルする場合には、基板10上でゲート70が
通過する部位に封止用樹脂との剥離性の良い、たとえば
金めっき部などを設けるのがよい。
【0022】リリースフィルム20を下型28と上型2
6のパーティング面にセットした後、下型28のポット
42にアンダーフィル用の樹脂タブレット80を供給
し、上型26と下型28とで被成形品40をクランプす
る。ポット42に樹脂タブレット80を供給する際には
ポット42の開口部はリリースフィルム20によって塞
がれているが、被成形品40をクランプする際に樹脂タ
ブレット80がポット42内に押入される。リリースフ
ィルム20は十分な伸縮性と柔軟性を有するから樹脂タ
ブレット80は簡単にポット42内に押入される。樹脂
タブレット80は横置きの方がフィルムの伸縮に対して
は有利である。ポット42に供給した樹脂タブレット8
0が溶融した後、プランジャ44で溶融樹脂を押し上
げ、金型ランナー50、ゲート70を介して被成形品4
0のアンダーフィル部に封止用樹脂を充填する。
【0023】なお、ポット42に供給する封止用樹脂は
上記のようなタブレット状に成形した樹脂に限るもので
はなく、顆粒状、粉体状、液体状の樹脂であってもよ
く、ラッピング樹脂を使用することも可能である。顆粒
状、粉体状あるいは液体状の樹脂を使用する場合には、
ポット42の開口面をリリースフィルム20で覆った状
態でポット42内からエア吸引し、ポット42の内面お
よびプランジャ44の上面に沿ってリリースフィルム2
0を吸着して封止用樹脂を収容する凹部を形成する。液
体状の樹脂を使用する場合はプランジャ44とポット4
2の内面との間に樹脂が入りやすいからリリースフィル
ム20を使用する方法はとくに有効である。
【0024】ラッピング樹脂とは所定量の樹脂をラッピ
ングフィルムで密封して成るもので、ポット42に収納
可能な形状に形成した樹脂の収納部分と、この収納部分
から両側に延出する延出片部とから成る。延出片部はラ
ッピングフィルムを2枚重ねにしてシールした部分で、
樹脂圧が加わるとシール部分が押し広げられてラッピン
グフィルムの間を通過して樹脂が押し出されるようにな
っている。このラッピング樹脂をポット42にセットし
た際に延出片の端縁が被成形品40のゲート端位置に位
置するようにすれば、下型28にリリースフィルム20
をセットすることなくラッピング樹脂をセットするだけ
で本実施形態と同様なアンダーフィルが可能である。ラ
ッピング樹脂であるから液体状の樹脂を使用することも
可能である。
【0025】図2に被成形品40のアンダーフィル部に
封止用樹脂を充填した状態を拡大して示す。金型ランナ
ー50とゲート70部分ではポット42から圧送される
封止用樹脂14の樹脂圧により金型の内壁面にリリース
フィルム20が押接され、封止用樹脂14の充填時に金
型の内壁面に封止用樹脂14が接触することがない。そ
して、ゲート70の端部は半導体チップ12と基板10
との隙間部分の開口端に接続しゲート70からアンダー
フィル部に封止用樹脂14が充填される。
【0026】半導体チップ12の上面および側面、半導
体チップ12と基板10とが接合されている接合部(ア
ンダーフィル部)の周囲はゲート70に接続する部分を
除いてリリースフィルム20によって閉止されているか
ら、ゲート70からアンダーフィル部に封止用樹脂14
を注入することにより、アンダーフィル部に封止用樹脂
14が充填される。本実施形態のように被成形品40を
モールド金型でクランプし、プランジャ44により樹脂
圧をかけて封止用樹脂14を充填する方法は、アンダー
フィル部に強制的に封止用樹脂が充填できることから、
単に封止用樹脂を隙間部分に流し込む従来方法にくらべ
て確実にアンダーフィル部を封止することができる。
【0027】プランジャ44により樹脂圧をかけて封止
用樹脂を充填する場合は、樹脂圧を加えることによって
アンダーフィル部内のエアを排出しやすくなり、残留エ
アを押しつぶすように作用して内部にボイド等のない信
頼性の高い樹脂封止が可能となる。また、半導体チップ
12と基板10との隙間部分の間隔がさらに狭まったよ
うな場合でも、樹脂圧を加えて樹脂を充填する方法であ
れば、確実に樹脂封止することが可能である。
【0028】また、リリースフィルム20を用いてアン
ダーフィルする方法によれば、図1に示すように、リリ
ースフィルム20を介して被成形品40をクランプする
から、半導体チップ12の外面がリリースフィルム20
によって保護され、クランプ力によって半導体チップ1
2が破壊されたりすることを防止することができる。ま
た、リリースフィルム20を介してクランプすることに
より、封止性が向上し、半導体チップ12の外面にアン
ダーフィル材のばりが生じたりすることを防止すること
ができる。また、半導体チップ12を搭載する基板10
に対しても、リリースフィルム20を介してクランプす
ることによりアンダーフィル部の封止性が良好となり、
基板10上にアンダーフィル材のばりが生じるといった
ことを防止することができる。
【0029】なお、アンダーフィル部にゲート70を接
続する方法としては、アンダーフィル部でゲート70が
接続される側の一辺上の任意の位置にゲートを接続する
方法、アンダーフィル部でゲート70が接続される一辺
全体をゲート端として一辺全体から封止用樹脂14を充
填する方法がある。一辺の全幅で封止用樹脂14を注入
する方法はアンダーフィル部に効率的に封止用樹脂を注
入できるという利点がある。
【0030】アンダーフィル部への封止用樹脂の充填が
完了し、封止用樹脂が硬化した後、型開きし、モールド
金型内からリリースフィルム20とともに樹脂封止した
製品を取り出す。リリースフィルム20を介してアンダ
ーフィルすることにより、製品の離型は容易であり、リ
リースフィルム20を成形品から剥離して簡単に製品の
みを取り出すことができる。次回のアンダーフィル操作
は、型開きした状態で下型28に被成形品40をセット
し、上型26と下型28のパーティング面に新たにリリ
ースフィルム20をセットして行う。こうして、リリー
スフィルムを用いるトランスファモールド方法によって
順次、樹脂封止することができる。
【0031】上記実施形態の樹脂封止装置では被成形品
40のアンダーフィル部に樹脂圧を加えて封止用樹脂を
充填するため、上型26に設けたキャビティインサート
62のパーティング面にキャビティ凹部62aを設け、
アンダーフィル部の周囲をリリースフィルム20で閉止
するようにしている。図3はアンダーフィル部の周囲を
リリースフィルム20を介して閉止する他の実施形態を
示す。図3で中心線CLの左半部には被成形品40をク
ランプする前の状態、中心線CLの右半部には被成形品
40をクランプした状態を示す。
【0032】図3で示す実施形態においても半導体チッ
プ12を収容するキャビティ凹部62aを設けることは
上記例と同様であるが、本実施形態では半導体チップ1
2の側面が当接する部位にシリコンゴム等の弾性体90
を付設したことを特徴とする。弾性体90は被成形品4
0をクランプした際に、クランプ力によって弾性体90
が内側に圧縮され、半導体チップ12の側面に向けてリ
リースフィルム20を押接すると同時にリリースフィル
ム20を基板10の上面に押接するように作用する。
【0033】図3で中心線CLの右半部は、弾性体90
を介してリリースフィルム20によりアンダーフィル部
の周囲を閉止した様子を示す。アンダーフィル部の隙間
がきわめて狭い製品を樹脂封止する場合はアンダーフィ
ル部を確実に閉止できることが重要な要件となるが、弾
性体90を用いることによって確実な閉止が可能とな
る。また、弾性体90の内側面とキャビティインサート
62の側面との間にエア流路92を設け、被成形品40
をクランプした際にエア流路92から弾性体90にエア
圧を加えることによって弾性体90による押接力を補強
してさらに確実にアンダーフィル部を閉止することがで
きる。
【0034】図4は弾性体90を用いてアンダーフィル
部を閉止するさらに他の実施形態を示す。中心線CLの
左半部は型開き時、中心線CLの右半部はクランプ時を
示す。この実施形態ではキャビティインサート62に設
けるキャビティ凹部62aの側面部分を金属押接部94
とシリコンゴム等の弾性体90によって構成している。
金属押接部94は被成形品40をクランプした際にとく
にアンダーフィル部の側面部分に押接力が集中するよう
に作用するものであり、弾性体90は金属押接部94が
アンダーフィル部を側方から押さえる作用を補強し、基
板10の上面にリリースフィルム20を押接させる作用
をなす。
【0035】この実施形態もアンダーフィル部の隙間が
非常に狭い製品を樹脂封止する際の樹脂漏れをなくし、
かつ確実な樹脂の充填を可能として信頼性の高い樹脂封
止を可能にする。この場合もエア流路92からエア圧を
加えることによってリリースフィルム20を半導体チッ
プ12の側面に確実に押接させることができ、アンダー
フィル部の閉止性を高めることができる。
【0036】なお、アンダーフィル部の周囲を閉止する
他の手段としてはエアシリンダ等の駆動手段により機械
的にブロックを移動させてアンダーフィル部の周囲を閉
止させる方法、吸引孔62bからエアを吹き込んで閉止
するといった方法がある。また、アンダーフィル部の周
囲を閉止する場合に半導体チップ12の4つの側面すべ
てを閉止してもよいし、ゲート70が接続する側面とこ
れに平行な他方の側面を除いた2つの側面を閉止してア
ンダーフィルしてもよい。
【0037】以上説明したように、本発明に係る樹脂封
止方法及び樹脂封止装置は被成形品40のアンダーフィ
ル部の周囲をリリースフィルム20によって閉止し、ト
ランスファモールド方法により樹脂圧を加えて封止用樹
脂を充填することを特徴とする。トランスファモールド
方法を利用する方法は、前述した超音波振動を利用する
といった方法によって確実なアンダーフィルを可能とす
るものであるが、プランジャ44で封止用樹脂を押し出
す際の樹脂圧を制御することによっても確実な樹脂封止
が可能となる。
【0038】すなわち、プランジャ44は樹脂に圧力を
加えてアンダーフィル部に押し出すようにするものであ
るが、その際のプランジャ44の動作を図5に示すよう
に非連続的なパルス的に樹脂を押し出すよう制御するこ
とで、樹脂を脈動させるようにして押し出すことができ
る。このように樹脂を脈動させるようにして充填する作
用は前述した超音波振動による作用と同様で、フィラー
入りの封止用樹脂を使用したような場合でもアンダーフ
ィル部へ確実に樹脂を充填することが可能となる。
【0039】通常のトランスファモールド方法ではプラ
ンジャ44は下位置から所定の高さ位置まで連続的に押
し上げられるのに対し、このようにパルス的にプランジ
ャ44を動作させると、樹脂が強制的に脈動するからバ
ンプ16等の障害物がある部位にも確実に樹脂が充填さ
れ、アンダーフィル部の間隔が非常に狭くなって樹脂が
充填しにくくなった場合でも確実な樹脂封止が可能とな
る。また、樹脂を脈動させて充填する場合は樹脂が流動
する際の速度が速くなるから、フィラーを加えた封止用
樹脂を使用した場合にフィラーと樹脂が分離することを
防止して均一にフィラーを分布させることができ、ま
た、大径フィラーと小径フィラーの分布も均一にするこ
とができるという利点もある。
【0040】アンダーフィル部での樹脂の流れ速度を1
mm/秒とすると、プランジャ44の上昇速度は5μm
/秒程度である。図5は1秒間で5段階程度プランジャ
44をパルス的に上動させて5μm程度上昇させること
を示している。もちろん、プランジャ44の制御内容は
適宜設定することができ、プランジャ44の動作制御は
プランジャの駆動系、たとえばサーボモータ駆動による
プランジャ44の場合にはサーボモータの駆動をあらか
じめ制御しておけばよい。
【0041】なお、上記のようなプランジャ44による
樹脂の充填操作を制御する方法は前述した超音波振動を
利用する方法と併用してもよいし、どちらか一方のみ使
用してもよい。また、プランジャ44を上記のようにパ
ルス的に移動させる制御をする場合、ポット42からゲ
ート端まで封止用樹脂14を押し出すまでは通常のプラ
ンジャ44による押し出し操作とし、ゲート端からアン
ダーフィル部に封止用樹脂14を注入開始するときから
上記のような脈動動作をするようプランジャ44を制御
してもよい。
【0042】以上説明した樹脂封止装置により樹脂封止
して成る半導体装置は図16に示すように半導体チップ
12の側面に封止用樹脂14が付着せず、半導体チップ
12と基板10との接合部にのみ封止用樹脂14が充填
されたものである。半導体装置で半導体チップ12と基
板10との接合部以外も封止するものとしては半導体チ
ップ12の側面に封止用樹脂14がわずかにかかるよう
にしたものから、半導体チップ12の側面の全周にわた
って全面的に封止用樹脂14で封止したもの(図18)
など種々のものがある。
【0043】このように、半導体チップ12の側面を封
止用樹脂14で封止する製品を上記実施形態のような樹
脂封止装置を用いて樹脂封止すると、アンダーフィル部
よりも半導体チップ12の側面部分に先に樹脂が流れて
しまい、アンダーフィル部を含めて半導体装置全体を的
確に樹脂封止することができない。以下の実施形態で
は、このように半導体チップ12の側面部分も封止用樹
脂14で樹脂封止して成る製品を樹脂封止する場合につ
いて説明する。
【0044】図6は図12に示すような半導体装置を製
造する樹脂封止装置でのモールド金型の構成を示す断面
図である。本実施形態の樹脂封止装置は半導体チップ1
2の側面についても封止用樹脂で封止するためキャビテ
ィインサート62に設けるキャビティ凹部62aの側面
に段差62cを形成し、半導体チップ12の4つの側面
の各々について側面封止部63a、63b、63c、6
3dを設けたことを特徴とする。
【0045】なお、本実施形態のように半導体チップ1
2の周囲に側面封止部63a〜63dを設けて樹脂封止
する場合は、単にゲート70を側面封止部63aに連通
させて樹脂を充填する方法では側面封止部63a〜63
dに先に樹脂が充填されてしまい、半導体チップ12と
基板10との隙間部分(アンダーフィル部)での樹脂の
充填が確実になされないことがあり得るという問題が生
じる。
【0046】アンダーフィル部の間隔は0.1mm程度
しかなく、単に側面封止部63aにゲート70を接続し
ただけでは、より樹脂が流れやすい半導体チップ12の
周囲の側面封止部63a〜63dから先に樹脂が充填さ
れ、アンダーフィル部への充填が最後になるからであ
る。したがって、アンダーフィル部へも確実に封止用樹
脂が充填されるようにするため、本実施形態の樹脂モー
ルド装置では図7に示すように、ゲート70が接続する
辺に隣接する半導体チップ12の2つの側面を封止する
サイドブロック100a、100bを設けて樹脂封止す
るようにしている。
【0047】図7は上型26をパーティング面側から見
た状態を示す。ポット42から被成形品側に向けてゲー
ト70が配置され、ゲート70の端部が側面封止部63
aに接続する。サイドブロック100a、100bは半
導体チップ12の辺部分を全長にわたって閉止するか
ら、ゲート70から圧送される封止用樹脂14は強制的
に半導体チップ12と基板10との隙間部分に注入され
る。
【0048】図8にゲート70方向から見たモールド金
型でのサイドブロック100a、100bの配置及び支
持構造を示す。図で中心線CLの左半部は半導体チップ
12の側面をサイドブロック100bで閉止して半導体
チップ12と基板10との隙間部分に封止用樹脂14を
充填している状態を示し、中心線CLの右半部は側面封
止部63cに封止用樹脂14を注入して半導体チップ1
2の側面を封止用樹脂14によって封止している状態を
示す。
【0049】サイドブロック100a、100bは可動
プレート102に支持されており、エアシリンダ等の駆
動機構により可動プレート102が上下動することによ
ってサイドブロック100a、100bが上下動する。
樹脂封止操作では、まず下型28に被成形品40をセッ
トし、リリースフィルム20を介して被成形品40をク
ランプする際に半導体チップ12の両側のサイドブロッ
ク100a、100bを下げてアンダーフィル部の両側
部分を閉止し、この状態でゲート70から封止用樹脂を
注入する。
【0050】図9(a) はサイドブロック100a、10
0bで半導体チップ12の側面を閉止した状態で封止用
樹脂14を充填している状態を示す。前方の側面封止部
63aを充填した封止用樹脂14は半導体チップ12と
基板10との隙間部分を通過し、後方の側面封止部63
bを充填する。図7に示すように、上型26のパーティ
ング面にエアベント部104を設けておくことにより、
後方の側面封止部63bを充填した封止用樹脂14はエ
アベント部104から側面封止部63a、63bとアン
ダーフィル部の残留エアを排出することができ、ボイド
をなくしてアンダーフィルすることができる。
【0051】アンダーフィル部への樹脂の充填が完了し
たところで下位置に下げておいたサイドブロック100
a、100bを上昇させ、ゲート70から側面封止部6
3c、63dに封止用樹脂14を注入させる。図9(b)
に側面封止部63c、63dに封止用樹脂14が充填さ
れる様子を示す。このように、サイドブロック100
a、100bを有する樹脂封止装置を用いることによ
り、半導体チップ12と基板10との隙間部分と半導体
チップ12の側面を封止用樹脂14により樹脂封止した
半導体装置を得ることができる。
【0052】上記の樹脂封止装置は、ゲート70からキ
ャビティ等に樹脂を充填する際に被成形品の部位によっ
て樹脂が充填されやすい部分と樹脂が充填されにくい部
分がある場合、樹脂が充填される部位での樹脂の流れを
制御することにより全体として的確な樹脂封止を行える
ようにしたものである。このような樹脂封止方法は被成
形品で樹脂の流れ性の良い部分と流れ性の悪い部分があ
る場合に確実に樹脂封止する方法の一例である。
【0053】なお、上記の樹脂封止装置においても前述
したように、封止用樹脂14を充填する際に超音波振動
を加えたりプランジャ44をパルス的に作動させたりす
ることによって封止用樹脂14に脈動を加えて樹脂封止
することができる。図6に示すモールド金型はカルイン
サート60を型開閉方向に可動に設け、弾発スプリング
61によって端面がパーティング面から突出するように
支持した例である。このモールド金型ではアンダーフィ
ル用の樹脂タブレット80をポット42に供給して型締
めすると、弾発スプリング61の弾発力に抗してカルイ
ンサート60が押し上げられ(図6で示す状態)、樹脂
タブレット80が溶融するとともに弾発スプリング61
の弾発力によってカルインサート60が押し下げられて
アンダーフィル部への樹脂の充填が完了する。樹脂封止
の際における成形圧力は弾発スプリング61の付勢力に
よるが、下型に設けたプランジャ44は樹脂量を調節す
る機能、圧力を調整する機能を有している。弾発スプリ
ング61のスプリングは5kg程度、プランジャ44の
プランジャ圧は30kgでよく、この程度に設定してお
けば樹脂タブレットを溶融しながら注入することができ
る。
【0054】なお、より速く樹脂を注入したい場合に
は、たとえば、カルインサート60とプランジャ44と
で樹脂タブレット80をクランプした後、プランジャ4
4を上昇させて溶融樹脂を送り出し、アンダーフィル部
に樹脂が満たされる直前でプランジャ44の移動を停止
させ、その状態でカルインサート60の付勢力によりア
ンダーフィル部を充填する方法がある。この方法の場合
は、サージングを防止し、フラッシュを小さくすること
ができるという利点がある。
【0055】カルインサート60が押し下げられたとこ
ろで、ちょうどゲート端まで封止用樹脂14が押し出さ
れるように設定しておき、アンダーフィル部と側面封止
部63a、63b、63c、63dに封止用樹脂14を
充填する際にプランジャ44を前述したようにパルス的
に作動させることにより封止用樹脂14に脈動を加える
ようにして樹脂封止することができる。この樹脂封止方
法はいわばプランジャ44を速度制御して樹脂封止する
方法に相当する。
【0056】なお、上記各実施例ではいずれも半導体チ
ップ12を上型側とし基板10を下型側としたが、必ず
そも半導体チップ12を上型側にしなければならないも
のではなく、半導体チップ12を下型側として樹脂封止
することも可能である。また、上記実施形態ではポット
42を下型28に配置しているが、ポット42を上型2
6に設置する構成とすることも可能である。
【0057】
【発明の効果】本発明に係る半導体装置の樹脂封止方法
及び樹脂封止装置によれば、リリースフィルムにより被
成形品のアンダーフィル部の周囲を閉止し、トランスフ
ァモールド方法によってアンダーフィル部に封止用樹脂
を充填する構成としたことにより、半導体チップを基板
に接合した接合部を樹脂の未充填を生じさせたりボイド
を発生させたりすることなく確実に封止用樹脂を充填し
て封止することができる。また、トランスファモールド
方法によって樹脂封止することからアンダーフィル部の
間隔がきわめて狭い製品の場合や、フィラーを入れた封
止用樹脂を使用して樹脂封止する場合でも確実な樹脂封
止が可能となり、品質のばらつきをなくして信頼性の高
い樹脂封止ができるとともに、効率的な樹脂封止が可能
になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】樹脂封止装置のモールド金型の構成を示す断面
図である。
【図2】アンダーフィル部に樹脂を充填する状態を示す
説明図である。
【図3】アンダーフィル部の周囲を閉止する金型の構成
を示す説明図である。
【図4】アンダーフィル部の周囲を閉止する金型の他の
構成を示す説明図である。
【図5】樹脂の充填を制御するプランジャの動作を示す
グラフである。
【図6】側面封止部を設けて樹脂封止する方法を示す説
明図である。
【図7】サイドブロックを設けた上型をパーティング面
側から見た説明図である。
【図8】金型でのサイドブロックの支持構造をゲート側
から見た断面図である。
【図9】サイドブロックを用いてアンダーフィルする方
法を示す説明図である。
【図10】アンダーフィルにより封止した半導体装置の
構成を示す断面図である。
【図11】半導体チップと基板との隙間部分に封止用樹
脂を充填する従来方法を示す説明図である。
【図12】アンダーフィルにより封止した半導体装置の
他の構成を示す断面図である。
【符号の説明】
10 基板 12 半導体チップ 14 封止用樹脂 16 バンプ 20 リリースフィルム 26 上型 28 下型 28a 下型ブロック 40 被成形品 42 ポット 44 プランジャ 50 金型ランナー 60 カルインサート 61 弾発スプリング 62 キャビティインサート 62a キャビティ凹部 62b キャビティインサート 63a、63b、63c、63d 側面封止部 66 エア流路 68 超音波振動部 70 ゲート 80 樹脂タブレット 90 弾性体 92 エア流路 94 金属押接部 100a、100b サイドブロック
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮島 文夫 長野県埴科郡戸倉町大字上徳間90番地 アピックヤマダ株式会社内 (56)参考文献 特開 平7−74194(JP,A) 特開 平6−334106(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/56

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に半導体チップを搭載した被成形品
    のアンダーフィル部に封止用樹脂を圧送して前記半導体
    チップと基板との接合部を封止する半導体装置の樹脂封
    止方法であって、 前記被成形品を金型によりクランプする際に、前記アン
    ダーフィル部の周囲をアンダーフィル部に通じるゲート
    が接続する部位を除いてリリースフィルムにより閉止
    し、 リリースフィルムによりアンダーフィル部の周囲を閉止
    した状態で、前記アンダーフィル部に封止用樹脂を圧送
    して前記接合部を封止することを特徴とする半導体装置
    の樹脂封止方法。
  2. 【請求項2】 前記アンダーフィル部を前記リリースフ
    ィルムにより閉止する際に、前記半導体チップの側面に
    リリースフィルムを押接して、アンダーフィル部の内部
    にのみ前記封止用樹脂を充填することを特徴とする請求
    項1記載の半導体装置の樹脂封止方法。
  3. 【請求項3】 前記アンダーフィル部をリリースフィル
    ムにより閉止する際に、被成形品をクランプするクラン
    プ力によって弾性変形する弾性体を介して前記リリース
    フィルムを半導体チップの側面に押接することを特徴と
    する請求項1または2記載の半導体装置の樹脂封止方
    法。
  4. 【請求項4】 前記アンダーフィル部を前記リリースフ
    ィルムにより閉止する際に、前記半導体チップの側面と
    リリースフィルムとの間に設けられた側面封止部及び前
    記アンダーフィル部に前記封止用樹脂を充填することを
    特徴とする請求項1記載の半導体装置の樹脂封止方法。
  5. 【請求項5】 前記アンダーフィル部に前記封止用樹脂
    を充填する際に、前記ゲートが接続する前記半導体チッ
    プの一方の側面とこれに平行な他方の側面を除いた2つ
    の側面を閉止して樹脂封止することを特徴とする請求項
    4記載の半導体装置の樹脂封止方法。
  6. 【請求項6】 前記アンダーフィル部に前記封止用樹脂
    を充填する際に、該封止用樹脂に脈動を作用させて充填
    することを特徴とする請求項1、2、3、4または5記
    載の半導体装置の樹脂封止方法。
  7. 【請求項7】 基板に半導体チップを搭載した被成形品
    を上型と下型でクランプし、前記被成形品のアンダーフ
    ィル部に封止用樹脂を圧送して充填することにより前記
    半導体チップと基板との接合部を封止する半導体装置の
    樹脂封止装置であって、 前記上型と下型の一方に、前記半導体チップを収容し、
    リリースフィルムを介して前記半導体チップの背面及び
    側面を前記アンダーフィル部に通じるゲートの端部を除
    いて閉止するキャビティ凹部を設けたことを特徴とする
    樹脂封止装置。
  8. 【請求項8】 前記キャビティ凹部の側面に、被成形品
    をクランプする際のクランプ力により弾性変形して前記
    半導体チップの側面に前記リリースフィルムを押接する
    弾性体を設けたことを特徴とする請求項7記載の樹脂封
    止装置。
  9. 【請求項9】 前記アンダーフィル部に封止用樹脂を圧
    送する際に封止用樹脂を脈動させる脈動手段を設けたこ
    とを特徴とする請求項7または8記載の樹脂封止装置。
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