JP3207844B2 - Method for manufacturing semiconductor device - Google Patents
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- JP3207844B2 JP3207844B2 JP2000255360A JP2000255360A JP3207844B2 JP 3207844 B2 JP3207844 B2 JP 3207844B2 JP 2000255360 A JP2000255360 A JP 2000255360A JP 2000255360 A JP2000255360 A JP 2000255360A JP 3207844 B2 JP3207844 B2 JP 3207844B2
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Landscapes
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は生産効率、製品品質の向
上に好適な半導体装置の製造方法に関するものである。The present invention relates to a production efficiency, a manufacturing method suitable semiconductors devices on the product quality.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来技術は、特開昭62−78836号
公報に記載のように、成型機にモータを用い、そのモー
タを速度制御して樹脂封止するものがある。 2. Description of the Related Art The prior art is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-78836.
As described in the official gazette, a motor is used for the molding machine,
There is a type in which the resin is sealed by controlling the speed.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、速度制御による樹脂封止については開示す
るが、さらなる生産効率の向上、もしくは製品品質の向
上については十分に検討されていない。 The object of the invention is to be Solved However, the above-mentioned slave
In the next technology, disclosure of resin encapsulation by speed control will be disclosed
However, further improvement in production efficiency or product quality
The above has not been fully considered.
【0004】[0004]
【0005】[0005]
【0006】本発明の目的は、上記技術課題を解決する
ことにあり、生産効率もしくは製品の品質向上を図るこ
とができる半導体装置の製造方法を提供することにあ
る。An object of the present invention is to solve the above technical problems and to provide a method of manufacturing a semiconductor device capable of improving production efficiency or product quality .
【0007】[0007]
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、樹脂を供給する複数個のポットと、その
樹脂の供給を受ける複数個のキャビティを配置した複数
個のキャビティ列と、該ポットに対応して配置されたプ
ランジャと、該プランジャを駆動するモータとを用い、
該モータを速度制御することで該プランジャを移動させ
てポットからの樹脂をキャビティへ供給する半導体装置
の製造方法であって、該プランジャが所定の位置に移動
するまでは該モータを第一の速度となるように速度制御
し、その所定の位置に移動した後は該モータを第一の速
度よりも低速の第二の速度となるように速度制御し、そ
の後にトルク制御に移行させることを特徴とするもので
ある。また、キャビティを樹脂で充填完了する前に該モ
ータを速度制御からトルク制御へ移行させるように制御
することを特徴とするものである。次に、該プランジャ
が移動してポットに供給された樹脂に到達するまでの該
プランジャの速度を該キャビティへ樹脂が供給される際
の該プランジャの速度よりも高速にしたことを特徴とす
るものである。 また、上記において、前記キャビティを
樹脂で充填完了する前に前記モータを速度制御からトル
ク制御へ移行させるように制御することを特徴とするも
のである。また、本発明は、フィラを混合した樹脂を供
給する複数個のポットと、その樹脂の供給を受ける複数
個のキャビティを配置した複数個のキャビティ列と、該
ポットに対応して配置されたプランジャと、該プランジ
ャを電動駆動するモータとを用い、該モータの回転が予
め設定した回転数となるようにクローズドループ制御す
ることで該プランジャを移動させてポットからの樹脂を
キャビティへ供給する半導体装置の製造方法であって、
該プランジャが所定の位置に移動するまでは該モータを
第一の回転数となるようにクローズドループ制御し、そ
の所定の位置に移動した後は該モータを第一の回転数よ
りも遅い第二の回転数となるようにクローズドループ制
御し、該モータを第二の回転数となるようにクローズド
ループ制御した後にトルク制御することを特徴とする。
また、フィラを混合した樹脂を供給する複数個のポット
と、その樹脂の供給を受ける複数個のキャビティを配置
した複数個のキャビティ列と、該ポットに対応して配置
されたプランジャと、該プランジャを電動駆動するモー
タとを用い、該モータの回転が予め設定した回転数とな
るようにクローズドループ制御することで該プランジャ
を移動させてポットからの樹脂をキャビティへ供給する
半導体装置の製造方法であって、キャビティを樹脂で充
填完了する前に該モータをトルク制御へ移行させるよう
に制御することを特徴とする。そして、該プランジャが
移動してポットに供給された樹脂に到達するまでの回転
数を該キャビティへ樹脂が供給される際の回転数よりも
速くしたことを特徴とし、さらに、前記キャビティを樹
脂で充填完了する前の位置で前記モータをトルク制御へ
移行させることを特徴とするものである。SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention comprises a plurality of pots for supplying a resin, and a plurality of cavity rows in which a plurality of cavities receiving the resin are arranged. Using a plunger arranged corresponding to the pot and a motor for driving the plunger,
A method of manufacturing a semiconductor device for supplying resin from a pot to a cavity by moving the plunger by controlling the speed of the motor, wherein the motor is driven at a first speed until the plunger moves to a predetermined position. After moving to the predetermined position, the speed of the motor is controlled to a second speed lower than the first speed, and thereafter, the process is shifted to torque control. It is assumed that. In addition, the motor is controlled so as to shift from speed control to torque control before filling the cavity with resin. Next, the to reach the resin in which the plunger is supplied to the pot to move
The plunger speed of to, characterized in that the faster than the speed of the plunger when the resin into the cavity is supplied
Things. In the above, it is characterized in that the motor is controlled to shift from speed control to torque control before filling the cavity with resin. The present invention also provides a plurality of pots for supplying a resin mixed with a filler, a plurality of cavity rows in which a plurality of cavities receiving the supply of the resin are arranged, and a plunger arranged corresponding to the pot. And a motor for electrically driving the plunger, and performing closed-loop control so that the rotation of the motor becomes a preset number of revolutions, thereby moving the plunger to supply resin from the pot to the cavity. The method of manufacturing
Until the plunger moves to a predetermined position, the motor is closed-loop controlled so as to have the first rotation speed, and after moving to the predetermined position, the motor is slower than the first rotation speed. It is characterized in that closed-loop control is performed so that the number of revolutions of the motor becomes the same, closed-loop control is performed on the motor so that the number of revolutions becomes the second, and then torque control is performed.
A plurality of pots for supplying a resin mixed with a filler, a plurality of cavity rows in which a plurality of cavities receiving the supply of the resin are arranged, a plunger arranged corresponding to the pot, and the plunger. And a motor that drives the motor electrically, and performs closed-loop control so that the rotation of the motor becomes a preset number of revolutions, thereby moving the plunger to supply the resin from the pot to the cavity. The motor is controlled to shift to torque control before the cavity is completely filled with resin. The rotation speed until the plunger moves and reaches the resin supplied to the pot is set to be higher than the rotation speed when the resin is supplied to the cavity, and further, the cavity is formed of resin. The motor is shifted to torque control at a position before filling is completed.
【0009】[0009]
【0010】[0010]
【0011】[0011]
【作用】本発明によれば、例えば、細かな速度制御をし
た後、トルク制御に移行させたり、キャビティを樹脂で
充填完了する前にモータを速度制御からトルク制御へ移
行させるように制御することで、例えば、キャビティ内
に高圧が加わることによるバリの発生やインサート変形
を抑制して、製品品質を向上させることができる。ま
た、プランジャがポットに供給された樹脂に到達するま
での速度をキャビティへ樹脂が供給される際の速度より
も高速にすることで、実際にキャビティへ樹脂が注入さ
れるまでの時間、すなわち、成型品質に関係のない時間
を短縮でき、生産効率を向上させることができる。According to the present invention, for example, fine speed control is performed.
After that, shift to torque control or fill the cavity with resin.
Move the motor from speed control to torque control before filling is complete.
By controlling to move, for example, in the cavity
Burr and insert deformation due to high pressure
And product quality can be improved. Ma
Also, until the plunger reaches the resin supplied to the pot,
Speed at which the resin is fed into the cavity
High speed, the resin is actually injected into the cavity.
Time, i.e. time not related to molding quality
Can be shortened, and the production efficiency can be improved .
【0012】[0012]
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1〜図22は前述の樹脂の供給方法が適用可能
な金型などの一例であり、図23〜図25は前述の樹脂
の供給方法についての一例である。 EXAMPLES Hereinafter, an embodiment of the present invention based on the drawings. 1 to 22 are applicable to the resin supply method described above.
FIGS. 23 to 25 show examples of the above-described resin.
This is an example of the method of supplying the slag.
【0013】まず、図1は、本発明の一実施例に係る装
置の構成を示す。図1(a)はモールド金型の下平面図で
あり、1はモールド金型の下型、2は、モールド樹脂に
係るレジンを押圧供給するための複数個のポット(図1
(a)の範囲では3個)、3は、これら各ポット2に設け
たランナである。ランナ3の先端には第1ゲート4が設
けられており、この第1ゲート4に接続して第1キャビ
ティ5が配置されている。第1キャビティ5の後、すな
わちレジン供給時の下流側には、第2ゲート6が設けら
れており、この第2ゲート6に接続して第2キャビティ
7が配置されている。さらに、第2キャビティ7の下流
側には、第3ゲート8を介して第3キャビティが配置さ
れている。また、各ポット2はポット連結流路10により
お互いに連結されている。FIG. 1 shows the configuration of an apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 (a) is a bottom plan view of a mold, wherein 1 is a lower mold of the mold, and 2 is a plurality of pots (FIG. 1) for pressing and supplying resin relating to the mold resin.
(Three in the range of (a)), 3 are runners provided in each of the pots 2. A first gate 4 is provided at the tip of the runner 3, and a first cavity 5 is arranged so as to be connected to the first gate 4. A second gate 6 is provided after the first cavity 5, that is, on the downstream side during resin supply, and a second cavity 7 is connected to the second gate 6. Further, a third cavity is disposed downstream of the second cavity 7 via a third gate 8. The pots 2 are connected to each other by a pot connection flow path 10.
【0014】図1(b)は、リードフレーム11を上型
12と下型1との間に挿設した状態における図1(a)
のA−A断面を示している。リードフレーム11には、
第1キャビティ5、第2キャビティ7、第3キャビティ
9の各キャビティ内に相当する位置で、チップ13が搭
載され、金線14によりチップ13とリードフレーム1
1が接続され、モールドすべき電気部品を構成してい
る。FIG. 1B shows a state in which the lead frame 11 is inserted between the upper die 12 and the lower die 1.
A-A section is shown. In the lead frame 11,
A chip 13 is mounted at a position corresponding to each of the first cavity 5, the second cavity 7, and the third cavity 9, and the chip 13 and the lead frame 1 are connected by a gold wire 14.
1 are connected to form an electric component to be molded.
【0015】図1(c)は上型12と下型1とを閉じ、
成形機(図示せず)のロッド15に剛体接続板16を介
してプランジャ17を取りつけた状態における図1
(a)のB−B断面を示している。FIG. 1C shows the upper mold 12 and the lower mold 1 closed,
FIG. 1 shows a state in which a plunger 17 is attached to a rod 15 of a molding machine (not shown) via a rigid connecting plate 16.
4A shows a BB cross section.
【0016】図1(a)〜(c)の各ポット2にレジン
(図示せず)を投入し、成形機のロッド15を下降させ
ることにより、剛体接続板16を介して各プランジャ1
7もロッド15に連動してポット2内を下降する。そし
て各プランジャ17はレジンをポット連結流路10と各
ランナ3を移送し、さらにレジンは各ランナ3の先に設
けられた各ゲート、キャビティを充填する。1 (a) to 1 (c), a resin (not shown) is put into each pot 2 and the rod 15 of the molding machine is lowered, whereby each plunger 1
7 also moves down in the pot 2 in conjunction with the rod 15. Then, each plunger 17 transfers the resin to the pot connection flow path 10 and each runner 3, and the resin fills each gate and cavity provided at the tip of each runner 3.
【0017】図2は、図1のモールド金型に用いるリー
ドフレームの平面図、図3はそれらを用いてレジンを充
填した後の下型の平面図である。FIG. 2 is a plan view of a lead frame used in the mold shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a plan view of a lower mold after the resin is filled using the lead frame.
【0018】図2において、チップ(図示せず)はタブ
18の上にダイボンディングされ、内部リード19の先
端部と金線(図示せず)でワイヤボンディングされ、半
導体部品を構成する。このように1枚のリードフレーム
には半導体部品が縦、横2方向に並べられている。In FIG. 2, a chip (not shown) is die-bonded on a tab 18 and wire-bonded to the tip of an internal lead 19 with a gold wire (not shown) to constitute a semiconductor component. As described above, semiconductor components are arranged in two vertical and horizontal directions on one lead frame.
【0019】図3は図2に示したリードフレーム11を
図1(a)に示した下型1と上型12との間に挿設して
レジン20の押圧供給を終った状態の下型1の平面図で
ある。レジン20は所定時間経過後、硬化し、成形品2
1が得られる。そして、所定の工程を経てレジンモール
ド半導体部品が得られる。なお、本実施例では、レジン
モールド半導体部品の外部端子となる外部リード22の
パターンに対して、キャビティ内のレジンが連続して直
交方向に流動する。FIG. 3 shows the lower mold in a state where the lead frame 11 shown in FIG. 2 is inserted between the lower mold 1 and the upper mold 12 shown in FIG. 1 is a plan view of FIG. After a lapse of a predetermined time, the resin 20 cures and the molded product 2
1 is obtained. Then, through a predetermined process, a resin mold semiconductor component is obtained. In this embodiment, the resin in the cavity continuously flows in a direction orthogonal to the pattern of the external leads 22 serving as the external terminals of the resin-molded semiconductor component.
【0020】図1〜3の実施例ではプランジャ17をポッ
ト2の上方に設けた場合の例を示したが、プランジャ1
7をポット2の下方に設けた場合においても、同等の生
産性で同等の品質を有したレジンモールド半導体部品が
得られる。Although the embodiment shown in FIGS. 1 to 3 shows an example in which the plunger 17 is provided above the pot 2, the plunger 1
Even when 7 is provided below pot 2, resin molded semiconductor parts having the same quality and the same productivity can be obtained.
【0021】図4は本発明の第2の実施例に係るモール
ド金型の下型の平面図、図5は図4のモールド金型に用
いるリードフレームの平面図、図6はそれらを用いてレ
ジンを充填したのちの下型の平面図である。FIG. 4 is a plan view of a lower mold of a mold according to a second embodiment of the present invention, FIG. 5 is a plan view of a lead frame used in the mold of FIG. 4, and FIG. FIG. 4 is a plan view of a lower mold after filling with resin.
【0022】図4と図1(a)との違いは、第2ゲート、
第3ゲートの加工はされておらず、第2キャビティ7、
第3キャビティ9が独立して配置されていることであ
る。The difference between FIG. 4 and FIG. 1A is that the second gate,
The third gate is not processed, and the second cavity 7,
That is, the third cavities 9 are independently arranged.
【0023】一方、図5に示すように図4のモールド金
型に用いるリードフレーム11には、第2、第3ゲートに
相当する位置に、下流側の第2キャビティ7、第3キャ
ビティ9にレジンを下流に移送するためのスリット23
が形設されている。On the other hand, as shown in FIG. 5, the lead frame 11 used in the mold of FIG. 4 has the downstream second cavity 7 and the third cavity 9 at positions corresponding to the second and third gates. Slit 23 for transferring resin downstream
Is formed.
【0024】図6は図5に示したリードフレーム11を
図4に示した下型1と図示しない上型との間に挿設し
て、レジンの押圧供給を終った状態の下型1の平面図で
ある。レジン20はポット連結流路10で重量ばらつき補正
した後、ポット2からランナ3、第1ゲート4を通って
第1キャビティ5を充填し、スリット23を通って第3
キャビティ9内に供給され、成形品21が得られる。そ
の後、所定の工程を経てレジンモール半導体部品が完成
する。FIG. 6 shows a state in which the lead frame 11 shown in FIG. 5 is inserted between the lower die 1 shown in FIG. It is a top view. After correcting the weight variation in the pot connecting flow path 10, the resin 20 fills the first cavity 5 from the pot 2 through the runner 3 and the first gate 4, and fills the third cavity through the slit 23.
It is supplied into the cavity 9 and a molded product 21 is obtained. Thereafter, a resin molding semiconductor component is completed through a predetermined process.
【0025】本実施例では第1の実施例に比べて金型の
ゲート加工費を低減できるという効果がある。In this embodiment, there is an effect that the gate processing cost of the mold can be reduced as compared with the first embodiment.
【0026】図7は本発明の第3の実施例に係るモール
ド金型の下型の平面図、図8は図7のモールド金型に用
いるリードフレーム平面図、図9はそれらを用いてレジ
ンを充填したのちの下型の平面図である。FIG. 7 is a plan view of a lower mold of a mold according to a third embodiment of the present invention, FIG. 8 is a plan view of a lead frame used in the mold of FIG. 7, and FIG. FIG. 4 is a plan view of a lower mold after filling with.
【0027】図7と図1(a)との違いは、ランナ3の
ポット2からではなくポット連結流路10から分岐し、
第1ゲート4と直線状に接続されることである。これに
より金型加工が容易になり、加工費を低減できるという
効果がある。The difference between FIG. 7 and FIG. 1 (a) is that the branching not from the pot 2 of the runner 3 but from the pot connecting flow path 10,
That is, it is connected to the first gate 4 linearly. This has the effect of facilitating die processing and reducing processing costs.
【0028】一方、図8と図5のリードフレームとの違
いは、スリット23の中にブリッジ24が設けられてい
ることである。これにより、成形中のレジンの流動圧力
によりスリット23が広げられリードフレーム11が変
形することを防いでいる。なお、図7に示したように金
型のキャビティ間にはゲートが設けられており、ブリッ
ジ24があってもレジンは下流側へ流動することができ
る。On the other hand, the difference between the lead frame shown in FIGS. 8 and 5 is that a bridge 24 is provided in the slit 23. This prevents the slit 23 from being widened by the flow pressure of the resin being molded, and preventing the lead frame 11 from being deformed. As shown in FIG. 7, a gate is provided between the cavities of the mold, and the resin can flow downstream even if there is a bridge 24.
【0029】図9は図8に示したリードフレーム11を
図7に示した下型1と図示しない上型との間に挿設し
て、レジンの押圧供給を終った状態の下型1の平面図で
ある。レジン20はポット連結流路10で重量ばらつき
を補正するとともに、ポット連結流路10からランナ
3、第1ゲート4を通って第1キャビティ5を充填し、
スリット23およびその下の第2ゲート6(図示せず)
を通って第2キャビティ7、さらにスリット23および
その下の第3ゲート8(図示せず)を通って第3キャビ
ティ9に供給され、成形品21が得られる。この方式で
はスリット23と各ゲートの両方を流路とすることがで
き、レジンの流動抵抗を低減できる。しかもブリッジ2
4によりスリット23の部分からのリードフレーム21
の変形を防止できる。FIG. 9 shows a state in which the lead frame 11 shown in FIG. 8 is inserted between the lower die 1 shown in FIG. It is a top view. The resin 20 corrects the weight variation in the pot connection flow path 10 and fills the first cavity 5 from the pot connection flow path 10 through the runner 3 and the first gate 4.
The slit 23 and the second gate 6 thereunder (not shown)
Through the second cavity 7, the slit 23 and the third gate 8 (not shown) thereunder, to the third cavity 9, and the molded article 21 is obtained. In this method, both the slit 23 and each gate can be used as a flow path, and the flow resistance of the resin can be reduced. And Bridge 2
4, the lead frame 21 from the slit 23
Deformation can be prevented.
【0030】また、キャビティ間隔とポット間隔、ポッ
ト径の関係から、図10に示すようにランナとポットが
直接接する配置にもできる。Further, due to the relationship between the cavity interval, the pot interval, and the pot diameter, the runner and the pot can be arranged in direct contact as shown in FIG.
【0031】なお、図7、図10の金型には、図2や図
5、図8、および後で述べる図18のようなリードフレ
ームも用いることができるのはいうまでもない。It is needless to say that lead frames such as those shown in FIGS. 2, 5, 8 and 18, which will be described later, can be used for the dies shown in FIGS.
【0032】図11は、本発明の第4の実施例に係るモ
ールド金型の下型の平面図、図12は、図2に示すリー
ドフレームを用いてレジンを充填したのちの下型の平面
図である。FIG. 11 is a plan view of a lower mold of a mold according to a fourth embodiment of the present invention. FIG. 12 is a plan view of a lower mold after filling a resin using the lead frame shown in FIG. FIG.
【0033】図11と図7及び図10との違いは、ポッ
ト連通10、第2ゲート6、第3ゲート8に接し、金型
外部へと通じるエアベント(図中斜線部分)25を設け
たことである。このエアベント25は、深さ10μm〜
40μm程度の範囲の深さのものである。一方、連絡路
10やランナ3の深さは数mm程度である。このエアベン
ト25により、ポット連通路10の中央部付近でレジン
が衝突する際にレジン中に混入する空気ならびにゲート
を通過するときにレジン中に含まれる空気は金型外部へ
排出される効果がある。The difference between FIG. 11 and FIGS. 7 and 10 is that an air vent (hatched portion in the figure) 25 that contacts the pot communication 10, the second gate 6, and the third gate 8 and communicates with the outside of the mold is provided. It is. This air vent 25 has a depth of 10 μm
It has a depth of about 40 μm. On the other hand, the depth of the connection path 10 and the runner 3 is about several mm. The air vent 25 has an effect that air mixed in the resin when the resin collides near the center of the pot communication path 10 and air contained in the resin when passing through the gate are discharged to the outside of the mold. .
【0034】ところで、図1(a)、若しくは図4の形
状の下金型において、連通路やゲートと接続したエアベ
ントを設けることが可能である。By the way, in the lower mold of FIG. 1A or FIG. 4, an air vent connected to a communication passage or a gate can be provided.
【0035】図12は、図2に示したリードフレームを
図11に示した下型1と上型(図示せず)との間に挿入
して、レジンの充填が終わった状態の下型1の平面図で
ある。この方式により、成形品21内に残存するボイド
は大幅に低減でき、品質の向上が図れる。FIG. 12 shows a state in which the lead frame shown in FIG. 2 is inserted between the lower die 1 and the upper die (not shown) shown in FIG. FIG. With this method, voids remaining in the molded product 21 can be significantly reduced, and quality can be improved.
【0036】なお、図11の金型構造の中で第2ゲート
6、第3ゲート8を図10のような位置に配置すれば、
図2、図5、図8、図11に示すリードフレームを用い
ることができるのはいうまでもない。If the second gate 6 and the third gate 8 are arranged at positions as shown in FIG. 10 in the mold structure of FIG.
Needless to say, the lead frames shown in FIGS. 2, 5, 8, and 11 can be used.
【0037】図13の下型の平面図、図14は、図2に
示すリードフレームを用いてレジンを充填したのちの下
型の平面図である。FIG. 13 is a plan view of the lower mold, and FIG. 14 is a plan view of the lower mold after resin is filled using the lead frame shown in FIG.
【0038】図13と図11の違いは、先に述べたエア
ベント25とともに第3キャビティ9に接続して半導体
部品とならないダミーキャビティ25を設け、エアベン
ト25だけでなく、レジン流動中に流動先端部へ巻き込ま
れた空気をダミーキャビティ26へ流し出し、成形品の
ボイドの一層の低減ができ、品質の向上が図れる。The difference between FIG. 13 and FIG. 11 is that a dummy cavity 25 which is not connected to the third cavity 9 and is not used as a semiconductor component is provided together with the air vent 25 described above. The air entrapped in the mold cavity flows out into the dummy cavity 26, thereby further reducing the voids in the molded product and improving the quality.
【0039】ところで、図1(a)や図4の形状の下金
型において、ダミーキャビティを設けることは可能であ
る。Incidentally, it is possible to provide a dummy cavity in the lower mold having the shape shown in FIG. 1A or FIG.
【0040】なお、図13の金型も図10のようなゲー
ト位置に配置すれば、第2、5、8、11図に示すリー
ドフレームを用いることができるのはいうまでもない。It is needless to say that the lead frame shown in FIGS. 2, 5, 8, and 11 can be used if the mold shown in FIG. 13 is also arranged at the gate position as shown in FIG.
【0041】図15は、本発明の第6の実施例に係るモ
ールド金型の下型の平面図、図16は、図2に示すリー
ドフレームを用いてレジンを充填したのちの下型の平面
図である。FIG. 15 is a plan view of a lower mold of a mold according to a sixth embodiment of the present invention, and FIG. 16 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the lead frame shown in FIG. FIG.
【0042】図15と図11との違いは、ポット2から
出たレジンはポット連通路10より狭い断面積のポット
流出ゲート27を通ってからポット連通路10とランナ
3へ導かれることである。これにより、レジン内部のボ
イドを一度圧縮し、キャビティ内へ流出するボイドの大
きさを小さくすることができる。さらに先に述べたよう
にエアベント25を通じて金型外部へとレジン中に含ま
れる空気は排出される。これにより成形品中のボイドの
低減が図れる。The difference between FIG. 15 and FIG. 11 is that the resin discharged from the pot 2 passes through the pot outflow gate 27 having a smaller sectional area than the pot communication path 10 and is then guided to the pot communication path 10 and the runner 3. . Thereby, the void inside the resin can be compressed once, and the size of the void flowing into the cavity can be reduced. Further, as described above, the air contained in the resin is discharged to the outside of the mold through the air vent 25. This can reduce the voids in the molded product.
【0043】なお、図15の金型も図10のようにゲー
ト位置に配置すれば、第2、3、8、11図に示すリー
ドフレームを用いることができるのはいうまでもない。It is needless to say that the lead frame shown in FIGS. 2, 3, 8, and 11 can be used if the mold shown in FIG. 15 is also arranged at the gate position as shown in FIG.
【0044】図17は本発明の第7の実施例に係るモー
ルド金型の下型の平面、図18は、図17のモールド金
型に用いるリードフレームの平面図、図19はそれらを
用いてレジンを充填したのちの下型の平面図である。FIG. 17 is a plan view of a lower mold of a mold according to a seventh embodiment of the present invention, FIG. 18 is a plan view of a lead frame used in the mold of FIG. 17, and FIG. FIG. 4 is a plan view of a lower mold after filling with resin.
【0045】図17と図15との違いは、ポット流出ゲ
ート25を有し、さらに第3キャビテイ9に接続してダ
ミーキャビテイ26を設けて、キャビティ内を流動した
レジン中に含まれる空気は最後にここでトラップされ
る。これにより、成形品中のボイドが低減できる。The difference between FIG. 17 and FIG. 15 is that it has a pot outflow gate 25, and is further connected to the third cavity 9 to provide a dummy cavity 26, so that the air contained in the resin flowing in the cavity is finally discharged. Is trapped here. As a result, voids in the molded product can be reduced.
【0046】そして、図13、14と図17、19の違
いは、図17、19の実施例では、リードフレーム11
からはみ出さない場所の下型1内にダミーキャビティ2
6を設け、しかもダミーキャビティ26と対応する位置
にリードフレーム11内にもレジン流出スリット28を
つけており、モールド後に不用となるレンジ充填物であ
るポット2、ランナ3、第1ゲート4、第2ゲート6、
第3ゲート8、ダミーキャビティ26を同時にしかも簡
単に打ち抜いて削除できるという効果もあり、生産工程
の自動化が図りやすく生産性向上を大幅に向上させる機
能も併せもっている。The difference between FIGS. 13 and 14 and FIGS. 17 and 19 is that in the embodiment of FIGS.
Dummy cavity 2 in lower mold 1 where it does not protrude
6, and a resin outflow slit 28 is also provided in the lead frame 11 at a position corresponding to the dummy cavity 26, so that the pot 2, the runner 3, the first gate 4, and the 2 gate 6,
There is also an effect that the third gate 8 and the dummy cavity 26 can be punched out at the same time and easily, and can be deleted, and it is also easy to automate a production process, and also has a function of greatly improving productivity.
【0047】図20は本発明の第8の実施例に係るモー
ルド金型の下型の平面図、図21は図20のモールド金
型に用いるリードフレームの平面図、図22はそれらを
用いてレジンを充填したのちの下型の平面図である。FIG. 20 is a plan view of a lower mold of a mold according to an eighth embodiment of the present invention, FIG. 21 is a plan view of a lead frame used in the mold of FIG. 20, and FIG. FIG. 4 is a plan view of a lower mold after filling with resin.
【0048】図20は図7とポット連通路10およびラ
ンナ3の分岐のさせ方は同じであるが、キャビティを斜
め配置し、平面図でのキャビティの頂点から隣接するキ
ャビティの頂点へレジンを流動させることが異なってい
る。また、隣り合うランナの長さが異なる2種類の仕様
になっている。FIG. 20 is the same as FIG. 7 except that the pot communication path 10 and the runner 3 are branched in the same manner, but the cavities are arranged obliquely, and the resin flows from the top of the cavity in the plan view to the top of the adjacent cavity. It is different to let. Also, there are two types of specifications in which the lengths of adjacent runners are different.
【0049】図21のリードフレームは外部リード22
が4方向に出されたタイプのものであり、図2、5、
8、18に示した外部リード22が2方向に出されるタ
イプとは形状が異なっている。さらに、図2、5、8、
18の外部リード22はリードフレームの外枠の一方と
平行に配置されているのに対し、図21ではリードフレ
ームの外枠と外部リード22とは所定の角度を成してい
る。The lead frame shown in FIG.
Is a type projected in four directions, and FIGS.
The shape is different from the type in which the external leads 22 shown in 8 and 18 are exposed in two directions. In addition, FIGS.
The external lead 22 of 18 is arranged in parallel with one of the outer frames of the lead frame, while in FIG. 21, the outer frame of the lead frame and the external lead 22 form a predetermined angle.
【0050】図22は図21に示したリードフレーム1
1を図20に示した下型1と図示しない上型との間に挿
設して、レジンの供給を終わった状態の下型1の平面図
である。この方式により、外部リード22を4方向に有
した半導体部品を高い生産効率で成形できる。FIG. 22 shows the lead frame 1 shown in FIG.
FIG. 21 is a plan view of the lower mold 1 in a state where resin supply is completed by inserting the lower mold 1 between the lower mold 1 shown in FIG. 20 and an upper mold (not shown). According to this method, a semiconductor component having the external leads 22 in four directions can be molded with high production efficiency.
【0051】本実施例では、1つの金型構造と1つのリ
ードフレーム構造との組み合わせ例のみ示したが、第7
の実施例までのところで述べたのと同様の種々の組み合
わせができることは言うまでもない。In this embodiment, only an example of a combination of one mold structure and one lead frame structure is shown.
It goes without saying that various combinations similar to those described above up to the embodiment can be made.
【0052】なお、前述の実施例では、1本のランナで
3個のキャビティを直列に配置し、3個の成形品を取り
出す例を説明したが、本発明はこれに限定されるもので
はなく、成形品の取り数については、成形品の大きさ
は、レジンの流れやすさなどから適切に設定すればよい
ことは言うまでもない。In the above-described embodiment, an example in which three cavities are arranged in series with one runner and three molded products are taken out has been described. However, the present invention is not limited to this. Needless to say, regarding the number of molded products, the size of the molded product may be appropriately set in consideration of the ease of resin flow.
【0053】図23は本発明の第9の実施例に係る装置
の全体構成、図24はこの装置での成形プロファイル、
図25はその効果を示した図である。FIG. 23 is an overall configuration of an apparatus according to a ninth embodiment of the present invention, and FIG. 24 is a molding profile of this apparatus.
FIG. 25 shows the effect.
【0054】図23は上型12と下型1とを閉じ、金型
を成形機29に取りつけた状態における図1(c)と本
発明に係るレジンモールド半導体製造装置全体の構成を
示したものである。各プランジャ17は剛体接続板16
に固定され、さらに剛体接続板16に成形機のロッド1
5がプランジャ17と逆方向に接続されている。また、
各ポット2に投入されたレジン20はポット連結流路1
0を通して互いにつながっている。次にロッド15の駆
動用装置構成について概要を説明する。この装置は、ロ
ッド下降用スイッチ(図示せず)をONにすると、剛体
接続板16を介してロッド15に接続されているプラン
ジャ17が下降してポット2内のレジン20を金型内へ
注入することができるようにした駆動回路を備えたもの
であってこの駆動回路を、電動機に係るサーボモータ3
0とこのサーボモータ30の走行距離を検出することが
できる走行距離計に係るパルスジェネレータ31と、予
め、前記サーボモータに与えるべきモータ最高電流とし
ての1次電流imax1,2次電流imax2(ただし
imax1>imax2)、および所定の走行距離を設
定しておき、前記プランジャ下降スイッチがONになっ
たとき、前記サーボモータ30を速度制御にするととも
に、モータ最高電流を前記1次電流に設定し、走行距離
が前記設定走行距離になったとき、モータ最高電流を前
記2次電流に切替えて設定し、モータ電流がこの2次電
流になったとき、前記サーボモータ30をトルク制御に
することができる駆動制御部32とを有する電気回路に
し、前記サーボモータ30の回転を減速しこれを直線運
動に変換してロッド15に伝達し、このロッド15を下
降させることができる減速・直線運動変換機構に係るボ
ールスクリュジャッキ33を前記サーボモータ30に接
続して設けた成形装置である。FIG. 23 shows the configuration of the entire resin mold semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention, with FIG. 1 (c) showing a state in which the upper mold 12 and the lower mold 1 are closed and the mold is mounted on the molding machine 29. It is. Each plunger 17 is a rigid connection plate 16
To the rigid connecting plate 16 and the rod 1 of the molding machine.
5 is connected to the plunger 17 in the opposite direction. Also,
The resin 20 charged in each pot 2 is connected to the pot connection flow path 1
They are connected to each other through 0. Next, an outline of a driving device configuration of the rod 15 will be described. In this apparatus, when a rod lowering switch (not shown) is turned on, the plunger 17 connected to the rod 15 via the rigid connecting plate 16 is lowered to inject the resin 20 in the pot 2 into the mold. And a driving circuit for driving the servo motor 3 according to the electric motor.
0, a pulse generator 31 relating to an odometer capable of detecting the traveling distance of the servomotor 30, a primary current imax1, a secondary current imax2 (where imax1 > Imax2) and a predetermined traveling distance are set, and when the plunger lowering switch is turned on, the servo motor 30 is set to the speed control, and the motor maximum current is set to the primary current. When the distance has reached the set traveling distance, the motor maximum current is switched to the secondary current and set, and when the motor current has reached this secondary current, the servo motor 30 can be driven under torque control. And an electric circuit having a control unit 32, which decelerates the rotation of the servo motor 30 and converts it into linear motion to 5 to transmit a molding apparatus a ball screw jack 33 is provided connected to the servo motor 30 according to the deceleration and linear motion converting mechanism can be lowered the rod 15.
【0055】以下、詳細に説明する。30は、タコジネ
レータ34およびパルスジェネレータ31と連結したサ
ーボモータ、35は、前記タコジェネレータ34からの
回転信号数を取込み、速度制御を行う領域では前記サー
ボモータ30の回転数がマイコンユニット36(詳細後
述)に設定された回転数になるように、クローズドルー
ブ制御をすることができるモータドライバ、31はサー
ボモータの走行距離、すなわちプランジャ変位を検出す
ることができるパルスジェネレータ、36は、このパル
スジェネレータ31からの変位信号を取込み、プランジ
ャ17の動作を制御できるマイコンユニット、37は、
このマイコンユニット36へ、モータ最高電流,サーボ
モータ30の回転数,プランジャ変位を設定することが
できるコンソールである。The details will be described below. Reference numeral 30 denotes a servomotor connected to the tachogenerator 34 and the pulse generator 31. Reference numeral 35 denotes the number of rotation signals from the tachogenerator 34. ), A motor driver capable of performing closed drove control, a pulse generator 31 capable of detecting the travel distance of the servo motor, that is, a plunger displacement, and a pulse generator 36, The microcomputer unit 37 which can take in the displacement signal from the
This console allows the microcomputer unit 36 to set the maximum motor current, the number of rotations of the servomotor 30, and the plunger displacement.
【0056】このように構成した成形装置の動作を、図
23、図24を用いて説明する。この実施例は、流動性
の悪いレジン(フィラを多量に混合した粘度の高いレジ
ンなど)を使用した場合である。The operation of the molding apparatus configured as described above will be described with reference to FIGS. In this example, a resin having poor fluidity (a high-viscosity resin mixed with a large amount of filler) is used.
【0057】コンソール37により、マイコンユニット
36に1次電流imax1,2次電流imax2,第1
のプランジャ変位d1(プランジャ17の下端がポット
2内のレジンタブレット(図示せず)上端よりもやや上
方へ来る所定位置),第2のプランジャ変位d2(プラ
ンジャ17の下端が前記第1のプランジャ変位d1より
も下方へ来る所定位置、すなわち、プランジャ17がレ
ジン充填完了前の位置),第1の回転数N1,第2の回
転数N2(ただし、N1>N2)を設定する。The primary current imax1, the secondary current imax2, the first
Plunger displacement d1 (a predetermined position where the lower end of plunger 17 is slightly higher than the upper end of a resin tablet (not shown) in pot 2), and second plunger displacement d2 (the lower end of plunger 17 is the first plunger displacement). A predetermined position below d1, that is, a position before the plunger 17 is filled with the resin, a first rotation speed N1, and a second rotation speed N2 (where N1> N2) are set.
【0058】ここで、レジンタブレット(図示せず)を
ポット2内に投入し、装置のプランジャ下降スイッチ
(図示せず)をONにすると、マイコンユニット36か
らモータドライバ35へ、速度制御指令と第1の回転数
N1とが出力され、モータ最高電流が1次電流imax
1に設定され、サーボモータ30が第1の回転数N1で
回転する。この回転は、ボールスクリュジャッキ33に
伝えられる、ここで減速されるとともに、ロッド15お
よび各プランジャ17の下降運動に変えられる。Here, when a resin tablet (not shown) is put into the pot 2 and a plunger lowering switch (not shown) of the apparatus is turned on, the microcomputer unit 36 sends a speed control command to the motor driver 35 and a speed control command. 1 is output, and the motor maximum current becomes the primary current imax.
1 and the servo motor 30 rotates at the first rotation speed N1. This rotation is transmitted to the ball screw jack 33, where it is decelerated and converted into a downward movement of the rod 15 and each plunger 17.
【0059】サーボモータ30の回転数は、タコジェネ
レータ34によってカウントされ、このタコジェネレー
ション34からの回転信号がモータドライバ35へ取込
まれ、サーボモータ30の回転が、常に前記第1の回転
数N1になるようにクローズドロープ制御される。パル
スジェネレータ31からの信号がマイコンユニット36
に入り、前記第1のプランジャ変位d1と比較される。
ブランジャ17は、前記第1の回転数N1に対応して、
ポット2内を高速で下降し、パルスジェネレータ31に
よって検出したプランジャ変位が第1のプランジャ変位
d1になったとき、(図24のa点)マイコンユニット
36からの指令によってサーボモータ30の回転数が、
第1の回転数N1から第2の回転数N2へ落ち、プラン
ジャ17が低速で下降する。The number of revolutions of the servomotor 30 is counted by the tachogenerator 34, and a rotation signal from the tachogenerator 34 is taken into the motor driver 35, and the rotation of the servomotor 30 is always kept at the first rotation speed N1. Closed rope control is performed so that The signal from the pulse generator 31 is transmitted to the microcomputer unit 36.
And is compared with the first plunger displacement d1.
The plunger 17 corresponds to the first rotation speed N1.
When the inside of the pot 2 descends at a high speed and the plunger displacement detected by the pulse generator 31 becomes the first plunger displacement d1, the rotation speed of the servo motor 30 is reduced by a command from the microcomputer unit 36 (point a in FIG. 24). ,
The plunger 17 descends at a low speed from the first rotational speed N1 to the second rotational speed N2.
【0060】下型1,上型12のヒータ(図示せず)に
よって加熱され溶融したレジン20はプランジャ17の
下降によりポット連結流路10を充填するとともに、図
1(a)及び図1(b)のランナ3,第1ゲート4を通
り、下流側へ順次運ばれる。そして、レジンが最下流の
第3キャビティ9内へ充填完了する直前まで来たとき、
すなわちプランジャ17の変位が第2のプランジャ変位
d2になったとき(図24のt1)マイコンユニット3
6が指令を出し、モータ最高電流が、1次電流imax
1からimax2へ切り替わる。サーボモータ30は、
そのまま第2の回転数N2を維持する。そしてレジン2
0が全てのキャビティへ充填完了し、プランジャ17が
停止したとき(図24のt2)、モータ電流iが2次側
の設定値imax2の値を保持し、トルク制御に移り、
imax2に対応する樹脂圧力Pがレジン20に所定時
間負荷されて成形を終了し、成形装置がOFFになる。The resin 20 heated and melted by the heaters (not shown) of the lower mold 1 and the upper mold 12 fills the pot connecting flow path 10 by lowering the plunger 17, and at the same time, as shown in FIGS. ), And are sequentially transported downstream through the first gate 4. Then, when the resin comes to just before the filling in the third cavity 9 at the most downstream,
That is, when the displacement of the plunger 17 becomes the second plunger displacement d2 (t1 in FIG. 24), the microcomputer unit 3
6 issues a command and the motor maximum current is the primary current imax
Switching from 1 to imax2. The servo motor 30
The second rotation speed N2 is maintained as it is. And resin 2
When 0 has been filled into all the cavities and the plunger 17 has stopped (t2 in FIG. 24), the motor current i holds the value of the secondary-side set value imax2, and the process proceeds to torque control.
The resin pressure P corresponding to imax2 is applied to the resin 20 for a predetermined time to complete the molding, and the molding apparatus is turned off.
【0061】このような制御を行わせるので、成形性の
悪いレジンでの充填完了直前までプランジャ17は設定
速度通りに下降する。また、充填完了直前に荷重を下げ
るのでキャビティ内に高圧が加わることによるバリの発
生やインサート変形の問題がない。Since such control is performed, the plunger 17 descends at the set speed until just before the filling with the resin having poor moldability is completed. In addition, since the load is reduced immediately before the completion of filling, there is no problem of generation of burrs and insert deformation due to application of high pressure in the cavity.
【0062】図25は、本発明に係る装置によって成形
した樹脂封止品のボイド発生率,未充填不良発生率の一
例を、第1図における金型の従来の油圧オープンループ
方式の成形機で成形したものと比較して示す欠陥発生図
である。この図25において、Aは従来の油圧オープン
ループ方式の回路を備えて成形した樹脂封止品の欠陥
を、Bは本発明に係る装置によって成形した樹脂封止品
の欠陥を、それぞれ示すものであり、本発明の方が、欠
陥が著しく低減していることがわかる。FIG. 25 shows an example of a void generation rate and an unfilled defect generation rate of a resin-encapsulated product molded by the apparatus according to the present invention using a conventional hydraulic open-loop molding machine for a mold shown in FIG. FIG. 4 is a defect generation diagram shown in comparison with a molded product. In FIG. 25, A shows a defect of a resin-sealed product molded by using a conventional hydraulic open loop type circuit, and B shows a defect of a resin-sealed product molded by the apparatus according to the present invention. It can be seen that defects are significantly reduced in the present invention.
【0063】なお、本実施例では電動駆動のクローズド
ループ制御例を示したが油圧駆動のクローズドループ制
御を用いてもよい。In this embodiment, an example of closed loop control of electric drive is shown, but closed loop control of hydraulic drive may be used.
【0064】[0064]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
レジンモールド半導体の製品品質を向上させることがで
きる。また、生産効率を向上させることができる。 As described above, according to the present invention,
Improve product quality of resin mold semiconductor
Wear. Further, production efficiency can be improved.
【図1】 本発明の第1の実施例であり、(a)は下型
平面図、(b)は上、下型を閉じた状態での(a)のA
−A断面図、(c)はB−B断面図。FIG. 1 is a first embodiment of the present invention, in which (a) is a plan view of a lower mold, and (b) is A of (a) in a state where an upper mold and a lower mold are closed.
-A sectional drawing, (c) is BB sectional drawing.
【図2】 図1のモールド金型に用いるリードフレーム
の正面図。FIG. 2 is a front view of a lead frame used in the mold of FIG. 1;
【図3】 第1の実施例に係るレジンモールド半導体装
置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。FIG. 3 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the first embodiment.
【図4】 第2の実施例の下型平面図。FIG. 4 is a plan view of a lower die of the second embodiment.
【図5】 図4のモールド金型に用いるリードフレーム
の正面図。FIG. 5 is a front view of a lead frame used in the mold shown in FIG. 4;
【図6】 図2の実施例に係るレジンモールド半導体装
置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。FIG. 6 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the embodiment of FIG. 2;
【図7】 第3の実施例の下型平面図。FIG. 7 is a plan view of a lower die according to the third embodiment.
【図8】 図7のモールド金型に用いるリードフレーム
の正面図。FIG. 8 is a front view of a lead frame used in the mold shown in FIG. 7;
【図9】 第3の実施例に係るレジンモールド半導体装
置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。FIG. 9 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the third embodiment.
【図10】 第3の実施例の下型平面図。FIG. 10 is a plan view of a lower die of the third embodiment.
【図11】 第4の実施例の下型平面図。FIG. 11 is a plan view of the lower die of the fourth embodiment.
【図12】 第4の実施例に係るレジンモールド半導体
装置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。FIG. 12 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the fourth embodiment.
【図13】 第5の実施例の下型平面図。FIG. 13 is a plan view of a lower die of the fifth embodiment.
【図14】 第5の実施例に係るレジンモールド半導体
装置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。FIG. 14 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the fifth embodiment.
【図15】 第6の実施例の下型平面図。FIG. 15 is a plan view of a lower die of the sixth embodiment.
【図16】 第6の実施例に係るレジンモールド半導体
装置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。FIG. 16 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the sixth embodiment.
【図17】 第7の実施例の下型平面図。FIG. 17 is a plan view of a lower die of the seventh embodiment.
【図18】 図17のモールド金型に用いるリードフレ
ームの正面図。FIG. 18 is a front view of a lead frame used in the mold shown in FIG. 17;
【図19】 第7の実施例に係るレジンモールド半導体
装置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。FIG. 19 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the seventh embodiment.
【図20】 第8の実施例の下型平面図。FIG. 20 is a bottom plan view of the eighth embodiment.
【図21】 図20のモールド金型に用いるリードフレ
ームの正面図。FIG. 21 is a front view of a lead frame used for the mold of FIG. 20;
【図22】 第8の実施例に係るレジンモールド半導体
装置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。FIG. 22 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the eighth embodiment.
【図23】 第9の実施例の半導体樹脂封止装置全体構
成図。FIG. 23 is an overall configuration diagram of a semiconductor resin sealing device according to a ninth embodiment.
【図24】 第9の実施例に係る半導体樹脂封止装置に
より成形した成形プロファイル図。FIG. 24 is a molding profile diagram formed by the semiconductor resin sealing device according to the ninth embodiment.
【図25】 従来の成形法のものと比較して示す欠陥発
生図。FIG. 25 is a defect generation diagram shown in comparison with that of a conventional molding method.
1 下型 2 ポット 3 ランナ 4 第1ゲート 5 第1キャビティ 6 第2ゲート 7 第2キャビティ 8 第3ゲート 9 第3キャビティ 10 ポット連結流路 11 リードフレーム 12 上型 15 シリンダロッド 16 剛体接続板 17 プランジャ 23 スリット 24 ブリッジ 25 エアベント 26 ダミーキャビティ 27 ポット流出ゲート 28 レジン流出スリット 30 サーボモータ 31 パルスジェネレータ 32 駆動制御部 34 タコジェネレータ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Lower mold 2 Pot 3 Runner 4 1st gate 5 1st cavity 6 2nd gate 7 2nd cavity 8 3rd gate 9 3rd cavity 10 Pot connection flow path 11 Lead frame 12 Upper mold 15 Cylinder rod 16 Rigid connection plate 17 Plunger 23 Slit 24 Bridge 25 Air vent 26 Dummy cavity 27 Pot outflow gate 28 Resin outflow slit 30 Servo motor 31 Pulse generator 32 Drive control unit 34 Tachogenerator
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉田 勇 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株式会社日立製作所 生産技術研究所内 (72)発明者 西 邦彦 東京都小平市上水本町1450番地 株式会 社日立製作所 武蔵野工場内 (56)参考文献 特開 昭62−78836(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/56 B29C 45/00 - 45/84 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing from the front page (72) Inventor Isamu Yoshida 292, Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Pref.Hitachi Manufacturing Co., Ltd. (72) Inventor Kunihiko Nishi (56) References JP-A-62-78836 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/56 B29C 45/00-45/84
Claims (7)
樹脂の供給を受ける複数個のキャビティを配置した複数
個のキャビティ列と、該ポットに対応して配置されたプ
ランジャと、該プランジャを駆動するモータとを用い、
該モータを速度制御することで該プランジャを移動させ
てポットからの樹脂をキャビティへ供給する半導体装置
の製造方法であって、 該プランジャが所定の位置に移動するまでは該モータを
第一の速度となるように速度制御し、その所定の位置に
移動した後は該モータを第一の速度よりも低速の第二の
速度となるように速度制御し、その後にトルク制御に移
行させることを特徴とする半導体装置の製造方法。1. A plurality of pots for supplying a resin, a plurality of cavity rows in which a plurality of cavities receiving the supply of the resin are arranged, a plunger arranged corresponding to the pot, and the plunger. Using a driving motor,
A method of manufacturing a semiconductor device for supplying resin from a pot to a cavity by moving the plunger by controlling the speed of the motor, wherein the motor is driven at a first speed until the plunger moves to a predetermined position. After moving to the predetermined position, the speed of the motor is controlled to a second speed lower than the first speed, and thereafter, the process is shifted to torque control. Manufacturing method of a semiconductor device.
樹脂の供給を受ける複数個のキャビティを配置した複数
個のキャビティ列と、該ポットに対応して配置されたプ
ランジャと、該プランジャを駆動するモータとを用い、
該モータを速度制御することで該プランジャを移動させ
てポットからの樹脂をキャビティへ供給する半導体装置
の製造方法であって、該プランジャが移動してポットに供給された樹脂に到達
するまでの該プランジャの速度を該キャビティへ樹脂が
供給される際の該プランジャの速度よりも高速にしたこ
とを 特徴とする半導体装置の製造方法。2. A plurality of pots for supplying a resin, a plurality of rows of cavities in which a plurality of cavities receiving the supply of the resin are arranged, a plunger arranged corresponding to the pot, and a plunger. Using a driving motor,
A method of manufacturing a semiconductor device for supplying resin from a pot to a cavity by controlling the speed of the motor to move the plunger , wherein the plunger moves to reach the resin supplied to the pot.
Resin into the cavity until the plunger speeds
The plunger speed when supplied
And a method of manufacturing a semiconductor device.
に前記モータを速度制御からトルク制御へ移行させるよ
うに制御することを特徴とする請求項1または2記載の
半導体装置の製造方法。3. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 1, wherein the motor is controlled to shift from speed control to torque control before filling the cavity with resin.
のポットと、その樹脂の供給を受ける複数個のキャビテ
ィを配置した複数個のキャビティ列と、該ポットに対応
して配置されたプランジャと、該プランジャを電動駆動
するモータとを用い、該モータの回転が予め設定した回
転数となるようにクローズドループ制御することで該プ
ランジャを移動させてポットからの樹脂をキャビティへ
供給する半導体装置の製造方法であって、 該プランジャが所定の位置に移動するまでは該モータを
第一の回転数となるようにクローズドループ制御し、そ
の所定の位置に移動した後は該モータを第一の回転数よ
りも遅い第二の回転数となるようにクローズドループ制
御し、該モータを第二の回転数となるようにクローズド
ループ制御した後にトルク制御することを特徴とする半
導体装置の製造方法。4. A plurality of pots for supplying a resin mixed with a filler, a plurality of cavity rows in which a plurality of cavities receiving the supply of the resin are arranged, and a plunger arranged corresponding to the pot. A motor for electrically driving the plunger, and performing closed-loop control so that the rotation of the motor becomes a preset number of revolutions, thereby moving the plunger to supply the resin from the pot to the cavity. A manufacturing method, wherein the motor is closed-loop controlled so as to reach a first rotation speed until the plunger moves to a predetermined position, and after the plunger is moved to the predetermined position, the motor is rotated in the first rotation. Closed loop control to a second rotation speed slower than the motor speed, closed loop control to the motor to a second rotation speed, and then torque control The method of manufacturing a semiconductor device according to claim Rukoto.
のポットと、その樹脂の供給を受ける複数個のキャビテ
ィを配置した複数個のキャビティ列と、該ポットに対応
して配置されたプランジャと、該プランジャを電動駆動
するモータとを用い、該モータの回転が予め設定した回
転数となるようにクローズドループ制御することで該プ
ランジャを移動させてポットからの樹脂をキャビティへ
供給する半導体装置の製造方法であって、 キャビティを樹脂で充填完了する前に該モータをトルク
制御へ移行させるように制御することを特徴とする半導
体装置の製造方法。5. A plurality of pots for supplying a resin mixed with a filler, a plurality of cavity rows in which a plurality of cavities receiving the supply of the resin are arranged, and a plunger arranged corresponding to the pot. A motor for electrically driving the plunger, and performing closed-loop control so that the rotation of the motor becomes a preset number of revolutions, thereby moving the plunger to supply the resin from the pot to the cavity. A method for manufacturing a semiconductor device, comprising controlling the motor to shift to torque control before filling the cavity with resin.
のポットと、その樹脂の供給を受ける複数個のキャビテ
ィを配置した複数個のキャビティ列と、該ポットに対応
して配置されたプランジャと、該プランジャを電動駆動
するモータとを用い、該モータの回転が予め設定した回
転数となるようにクローズドループ制御することで該プ
ランジャを移動させてポットからの樹脂をキャビティへ
供給する半導体装置の製造方法であって、 該プランジャが移動してポットに供給された樹脂に到達
するまでの回転数を該キャビティへ樹脂が供給される際
の回転数よりも速くしたことを特徴とする半導体装置の
製造方法。6. A plurality of pots for supplying a resin mixed with a filler, a plurality of cavity rows in which a plurality of cavities receiving the supply of the resin are arranged, and a plunger arranged corresponding to the pot. A motor for electrically driving the plunger, and performing closed-loop control so that the rotation of the motor becomes a preset number of revolutions, thereby moving the plunger to supply the resin from the pot to the cavity. A method of manufacturing a semiconductor device, wherein the rotation speed until the plunger moves and reaches the resin supplied to the pot is higher than the rotation speed when the resin is supplied to the cavity. Production method.
の位置で前記モータをトルク制御へ移行させるように制
御することを特徴とする請求項5または6記載の半導体
装置の製造方法。7. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 5, wherein the motor is controlled to shift to torque control at a position before the cavity is completely filled with the resin.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000255360A JP3207844B2 (en) | 1988-04-25 | 2000-08-25 | Method for manufacturing semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000255360A JP3207844B2 (en) | 1988-04-25 | 2000-08-25 | Method for manufacturing semiconductor device |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18105599A Division JP3149409B2 (en) | 1999-06-28 | 1999-06-28 | Method for manufacturing semiconductor device |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001157251A Division JP2002028947A (en) | 2001-05-25 | 2001-05-25 | Method for manufacturing semiconductor device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001118867A JP2001118867A (en) | 2001-04-27 |
| JP3207844B2 true JP3207844B2 (en) | 2001-09-10 |
Family
ID=18744162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000255360A Expired - Lifetime JP3207844B2 (en) | 1988-04-25 | 2000-08-25 | Method for manufacturing semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3207844B2 (en) |
-
2000
- 2000-08-25 JP JP2000255360A patent/JP3207844B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001118867A (en) | 2001-04-27 |
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