JP3211206B2 - Laser processing apparatus and processing method - Google Patents
Laser processing apparatus and processing methodInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、不均一なレーザ強度分
布を有するレーザ光により被加工物を加工するレーザ加
工装置及び加工方法に係り、特にエネルギ損失が少なく
均質で高精度の加工を行うことができるレーザ加工装置
及び加工方法に関する。The present invention relates to relates to a laser pressurized <br/> machining apparatus and machining method for machining a workpiece by a laser beam having a non-uniform laser intensity distribution, high in particular energy loss is small homogeneous The present invention relates to a laser processing apparatus and a processing method capable of performing precision processing.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、エキシマレーザにより図6
(a)に示すようにマスク1を介して被加工物2の孔加
工を行う場合、(b)に示すようにレーザ光のビーム強
度は中心で大きく両端側で小さい不均一の分布となって
いる。従って(a)及び(c)に示すようなマスク1を
通過したレーザ光のビーム強度3も、(d)に示すよう
に同様の強度分布となる。一方、エキシマレーザの加工
特性は図7に示すようにビーム強度により加工速度が変
化するため、図6(a)に示すように、被加工物2に加
工された孔4の加工深さが不均一となる。2. Description of the Related Art Generally, an excimer laser is used as shown in FIG.
When drilling a hole in the workpiece 2 through the mask 1 as shown in FIG. 1A, the beam intensity of the laser beam has a non-uniform distribution that is large at the center and small at both ends as shown in FIG. I have. Therefore, the beam intensity 3 of the laser beam passing through the mask 1 as shown in FIGS. 3A and 3C also has the same intensity distribution as shown in FIG. On the other hand, the processing speed of the excimer laser varies depending on the beam intensity as shown in FIG. 7. Therefore, as shown in FIG. Become uniform.
【0003】この加工特性を改善するため、従来はエキ
シマレーザのレーザ光の強度分布の差の少ない部分のみ
を使用するか、ホモジェナイザと呼ばれる光学素子を用
いて、レーザ光の形状そのものを均一にする手法が取ら
れていた。この手法には様々な構成が実施されている
が、基本的にはレーザ光をいくつかのビームに分割し、
これらのビームを一箇所に集光することでビームの強度
分布の差を少くするものである。Conventionally, in order to improve the processing characteristics, only a portion having a small difference in the intensity distribution of the laser light of the excimer laser is used, or the shape of the laser light itself is made uniform using an optical element called a homogenizer. The technique was being taken. Although various configurations have been implemented for this method, basically the laser beam is split into several beams,
By concentrating these beams at one place, the difference in the intensity distribution of the beams is reduced.
【0004】また上記加工特性を改善する他の方法とし
て、特開平4−242644号公報に記載された方法が
公知である。この方法は図8に示すように、マスクに対
してレーザ光の強度分布が不均一な方向に移動するミラ
ーを介して走査し、レーザ光の重畳効果により均質加工
を行うようにしたものである。この方法によると、図9
で示すように固定された被加工物1に対して、3つの位
置E1 、E2 、E3 に走査されたレーザ光により加工を
行うことにより、均一な深さの孔加工を行うことができ
る。[0004] As another method for improving the above processing characteristics, a method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-242644 is known. In this method, as shown in FIG. 8, the mask is scanned through a mirror that moves in a direction in which the intensity distribution of the laser beam is non-uniform, and the laser beam is superimposed to perform uniform processing. . According to this method, FIG.
By processing the fixed workpiece 1 with laser light scanned at three positions E 1 , E 2 , and E 3 as shown in FIG. it can.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
方法のうちレーザ光の強度分布の差の少ない部分のみ使
用する場合は、エネルギ効率が悪くなり高出力のレーザ
が必要になる。またホモジェナイザを用いる場合にはエ
ネルギ損失は少ないが、調整が困難であり、しかもビー
ムのNA値が大きくなって加工精度が悪くなるなどの欠
点があった。However, when only the portion having a small difference in the intensity distribution of the laser beam is used in the above method, the energy efficiency is deteriorated and a high-output laser is required. In addition, when a homogenizer is used, energy loss is small, but adjustment is difficult, and there is a disadvantage that the NA value of the beam is increased and processing accuracy is deteriorated.
【0006】一方、前記公報に記載された方法による
と、マスクに対してレーザ光の出射面積を十分大きくす
る必要があり、エネルギ効率が低下するという問題があ
った。On the other hand, according to the method described in the above-mentioned publication, it is necessary to sufficiently increase the emission area of the laser beam with respect to the mask, and there is a problem that the energy efficiency is reduced.
【0007】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
もので、レーザ光のエネルギ損失が少なく、かつ均一で
高精度の加工を行うことのできるレーザ加工装置及び加
工装置を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such circumstances, and has as its object to provide a laser processing apparatus and a processing apparatus capable of performing uniform and high-precision processing with a small energy loss of laser light. And
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に記載の本発明のレーザ加工装置は、マス
クと被加工物とをレーザ光に対して相対的に駆動させる
駆動手段と、ビーム縮小、または、拡大率に応じて、マ
スクと被加工物とが連動して駆動されるように駆動手段
を制御する制御手段とを備えることを特徴とする。 To achieve the above object, according to the solution to ## laser machining apparatus of the present invention according to claim 1, trout
The workpiece and the workpiece relative to the laser beam
Depending on the driving means and beam reduction or magnification,
Drive means for driving the disk and the workpiece in conjunction with each other
And control means for controlling
【0009】前記レーザ光の強度分布を監視する監視手
段をさらに設けるようにすることができ、制御手段に
は、ビーム縮小、または、拡大率に加えて、監視手段が
測定したレーザ光の強度分布に応じて、マスクと被加工
物とが連動して駆動されるように制御させることができ
る。 A monitoring means for monitoring the intensity distribution of the laser light
Further steps can be provided, and the control means
Means that, in addition to beam reduction or magnification,
Depending on the measured laser light intensity distribution,
It can be controlled to be driven in conjunction with the object
You.
【0010】請求項3に記載の本発明のレーザ加工方法
は、マスクと被加工物とをレーザ光に対して相対的に駆
動させ、ビーム縮小、または、拡大率に応じて、マスク
と被加工物とが連動して駆動されるように制御すること
を特徴とする。[0010] A laser processing method according to the present invention as set forth in claim 3.
Drives the mask and the workpiece relatively to the laser beam.
Move, mask according to beam reduction or magnification
And the workpiece to be driven in conjunction with each other
It is characterized by .
【0011】[0011]
【0012】[0012]
【作用】請求項1に記載の本発明のレーザ加工装置にお
いては、マスクと被加工物とがレーザ光に対して相対的
に駆動され、ビーム縮小、または、拡大率に応じて、マ
スクと被加工物とが連動して駆動されるように制御され
る。 According to the present invention , there is provided a laser processing apparatus according to the present invention .
In its, relative to the mask and the workpiece and the laser beam
The beam is driven by
The disk and the workpiece are controlled so as to be driven in conjunction with each other.
You.
【0013】ビーム縮小、または、拡大率に加えて、レ
ーザ光の強度分布に応じて、マスクと被加工物とが連動
して駆動されるように制御される。 [0013] In addition to beam reduction or magnification,
The mask and the workpiece are linked according to the intensity distribution of the laser light
It is controlled to be driven.
【0014】請求項3に記載の本発明のレーザ加工方法
においては、マスクと被加工物とがレーザ光に対して相
対的に駆動され、ビーム縮小、または、拡大率に応じ
て、マスクと被加工物とが連動して駆動されるように制
御される。 A laser processing method according to the present invention as set forth in claim 3.
In this case, the mask and the workpiece
Driven oppositely, depending on beam reduction or magnification
Control so that the mask and the work
Is controlled .
【0015】[0015]
【0016】[0016]
【実施例】以下、本発明のエキシマレーザ加工装置の一
実施例を図面を参照して説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of an excimer laser processing apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0017】図1に本発明の第1の実施例の構成を示
す。レーザ発振機11から発したレーザ光12は、マス
クとしての投影マスク13に規則正しく配置された開口
パターン13aを通って投影光学系14に入射する。投
影光学系14に入射したレーザ光12は投影光学系14
によりビーム縮小され、加工ステージ15に載置固定さ
れた被加工物16を照射する。被加工物16の上部には
加工範囲外のレーザ光12を遮断するトリミングマスク
17が設けられている。FIG. 1 shows the configuration of the first embodiment of the present invention. A laser beam 12 emitted from a laser oscillator 11 enters a projection optical system 14 through an aperture pattern 13a regularly arranged on a projection mask 13 as a mask. The laser beam 12 incident on the projection optical system 14 is
The beam is reduced, and the workpiece 16 mounted and fixed on the processing stage 15 is irradiated. A trimming mask 17 that blocks the laser beam 12 outside the processing range is provided above the workpiece 16.
【0018】加工ステージ15は制御装置18によりレ
ーザ発振機11と同期して矢印A−A方向に駆動制御さ
れる。制御装置18にはメモリ19が内蔵されており、
メモリ19には加工ステージ15を所定の位置に移動さ
せる駆動パターンが記憶されている。そして図2に示す
ようにマスク13に対して加工ステージ15を所定の駆
動パターンに従って移動させレーザ光12をマスク13
を介して被加工物15に重複照射することにより、図9
に示す従来例と同様に重畳効果により均一な深さの孔加
工を行うことができる。The processing stage 15 is driven and controlled in the direction of arrows AA by the control device 18 in synchronization with the laser oscillator 11. The control device 18 has a built-in memory 19,
The memory 19 stores a driving pattern for moving the processing stage 15 to a predetermined position. Then, as shown in FIG. 2, the processing stage 15 is moved with respect to the mask 13 according to a predetermined driving pattern, and the laser light 12 is
9 is overlapped with the work piece 15 through
In the same manner as in the conventional example shown in FIG. 1, a hole with a uniform depth can be formed by the superposition effect.
【0019】本実施例によれば、投影光学系14は固定
されて簡単な構成とすることができ、エネルギ効率よく
均質な深さの孔加工を行うことができる。またレーザ光
12のNA値を大きくする必要がなく高精度の加工を維
持することができる。According to the present embodiment, the projection optical system 14 can be fixed and can have a simple structure, and it is possible to perform hole drilling of a uniform depth with good energy efficiency. In addition, it is not necessary to increase the NA value of the laser beam 12, and high-accuracy processing can be maintained.
【0020】上記実施例では投影光学系14がレーザ光
12のビームを縮小する場合を示しているが、図3に示
すように投影光学系14によりレーザ光12のビームを
拡大してもよい。In the above embodiment, the case where the projection optical system 14 reduces the beam of the laser beam 12 is shown. However, the beam of the laser beam 12 may be expanded by the projection optical system 14 as shown in FIG.
【0021】図4に本発明のエキシマレーザ加工装置の
第2の実施例の構成を示す。図4において、図1に示す
第1の実施例の部分と対応する部分には同一の符号を付
してあり、その説明は適宜省略する。本実施例の特徴は
加工ステージ15の移動と連動してマスク13を駆動す
るマスク駆動装置2と、レーザ発振機11から発するレ
ーザ光12の強度分布を監視する監視手段とを設けた点
にある。FIG. 4 shows a configuration of an excimer laser processing apparatus according to a second embodiment of the present invention. In FIG. 4, parts corresponding to those of the first embodiment shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate. This embodiment is characterized in that a mask driving device 2 for driving the mask 13 in conjunction with the movement of the processing stage 15 and monitoring means for monitoring the intensity distribution of the laser light 12 emitted from the laser oscillator 11 are provided. .
【0022】マスク駆動装置21は制御装置18により
加工ステージ15と連動して、図5に示すように矢印A
−A方向に移動する。この場合、マスク13の移動量は
投影光学系14のビーム縮小または拡大率を加工ステー
ジ15の移動量に乗じた量とする。また監視手段はビー
ム分岐素子22、結像光学系23及び撮像素子24が構
成されている。ビーム分岐素子22はレーザ発振器11
から発したレーザ光12を直角方向に分岐反射し、結像
光学系23を介して撮像素子24上に結像させる。撮像
素子24が受光したレーザ光12の像は制御装置18に
入力されレーザ光12の強度分布が測定される。この測
定結果に応じてメモリ19に記憶された駆動パターンを
選択し、最適なレーザ重複パターンを求め、この駆動パ
ターンに従って加工ステージ15及びマスク13を駆動
する。The mask driving device 21 is linked with the processing stage 15 by the control device 18 and moves along the arrow A as shown in FIG.
-Move in the A direction. In this case, the moving amount of the mask 13 is an amount obtained by multiplying the moving amount of the processing stage 15 by the beam reduction or enlargement ratio of the projection optical system 14. The monitoring means includes a beam splitter 22, an imaging optical system 23, and an image sensor 24. The beam splitter 22 is a laser oscillator 11
The laser light 12 emitted from the light source is branched and reflected in a right angle direction, and forms an image on an image sensor 24 via an image forming optical system 23. The image of the laser beam 12 received by the image sensor 24 is input to the control device 18 and the intensity distribution of the laser beam 12 is measured. The drive pattern stored in the memory 19 is selected according to the measurement result, an optimum laser overlap pattern is obtained, and the processing stage 15 and the mask 13 are driven according to the drive pattern.
【0023】本実施例によりマスク13を加工ステージ
15に連動させて移動させることにより、マスク13に
形成された開口パターン13aが規則正しく配置されて
いなくても、第1の実施例の場合と同様の効果を得るこ
とができる。By moving the mask 13 in conjunction with the processing stage 15 according to the present embodiment, even if the opening patterns 13a formed in the mask 13 are not regularly arranged, the same as in the first embodiment. The effect can be obtained.
【0024】またレーザ光12の強度分布を監視する手
段を設けることにより、レーザ光12の強度分布に応じ
た最適な重畳パターンをメモリ19から選択することが
できる。またこの強度分布に従って制御装置18により
重畳パターンを新しく生成することも可能である。By providing a means for monitoring the intensity distribution of the laser beam 12, an optimum superimposition pattern corresponding to the intensity distribution of the laser beam 12 can be selected from the memory 19. Further, a new superimposed pattern can be generated by the control device 18 according to the intensity distribution.
【0025】[0025]
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
レーザ加工装置によれば、マスクと被加工物とがレーザ
光に対して相対的に駆動され、ビーム縮小、または、拡
大率に応じて、マスクと被加工物とが連動して駆動され
るように制御するようにしたので、簡単な構成の投影光
学系によりエネルギ効率よく均質な深さの加工を、マス
クに形成された開口パターンが規則正しく配置されてい
なくても、高精度で行うことができる。As described above, according to the first aspect,
According to the laser processing device, the mask and the workpiece are
Driven relative to the light, the beam contracts or expands.
The mask and the workpiece are driven in conjunction with each other
Since so as to control the so that the machining energy efficient homogeneous depth by the projection optical system of a simple structure, mass
Make sure that the opening patterns formed in the
It can be performed with high accuracy even without it .
【0026】請求項2に記載のレーザ加工装置によれ
ば、ビーム縮小、または、拡大率に加えて、レーザ光の
強度分布に応じて、マスクと被加工物とが連動して駆動
されるように制御するようにしたので、最適なレーザ光
の重畳パターンをレーザ光の強度分布に応じて選択し、
また生成することができる。According to the laser processing apparatus of the second aspect, in addition to the beam reduction or the magnification, the laser beam
The mask and workpiece are driven in conjunction with each other according to the intensity distribution
So that the optimal superposition pattern of the laser light is selected according to the intensity distribution of the laser light,
It can also be generated.
【0027】請求項3に記載の本発明のレーザ加工方法
によれば、マスクと被加工物とがレーザ光に対して相対
的に駆動され、ビーム縮小、または、拡大率に応じて、
マスクと被加工物とが連動して駆動されるように制御す
るようにしたので、前記各項に記載の効果を得ることが
できる。 The laser processing method of the present invention according to claim 3
According to the above, the mask and the workpiece are
Driven according to the beam reduction or expansion ratio,
Control so that the mask and the workpiece are driven in conjunction.
As a result, the effects described in the above sections can be obtained.
【0028】[0028]
【図1】本発明のエキシマレーザ加工装置の第1の実施
例の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a first embodiment of an excimer laser processing apparatus according to the present invention.
【図2】図1のレーザ光に対する被加工物の駆動方法を
示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a method of driving a workpiece with respect to the laser beam of FIG.
【図3】図1の投影光学系の他の例によるビーム光学系
を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a beam optical system according to another example of the projection optical system of FIG. 1;
【図4】本発明のエキシマレーザ加工装置の第2の実施
例の構成を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a second embodiment of the excimer laser processing apparatus according to the present invention.
【図5】図4のレーザ光に対する被加工物及びマスクの
駆動方法を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a method of driving a workpiece and a mask with respect to the laser beam of FIG. 4;
【図6】従来のエキシマレーザ加工方法による加工例を
示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory view showing a processing example by a conventional excimer laser processing method.
【図7】レーザビームの強度と加工速度との関係を示す
線図である。FIG. 7 is a diagram showing the relationship between laser beam intensity and processing speed.
【図8】従来の被加工物を固定しレーザ光を移動させ
て、レーザ光の重畳によるビーム均質化を図った場合の
原理説明図である。FIG. 8 is an explanatory view of the principle in the case where a conventional workpiece is fixed and laser light is moved to achieve beam homogenization by superposition of laser light.
【図9】図8に示す原理によりマスクを用いて被加工物
の加工を行った場合の加工形状を示す断面図である。9 is a cross-sectional view showing a processed shape when a workpiece is processed using a mask according to the principle shown in FIG. 8;
12 レーザ光 13 マスク 15 加工ステージ(駆動手段) 16 被加工物 18 制御装置(制御手段) 19 メモリ(記憶手段) 21 マスク駆動装置(駆動手段) 24 撮像素子(監視手段) REFERENCE SIGNS LIST 12 laser beam 13 mask 15 processing stage (drive means) 16 workpiece 18 control device (control means) 19 memory (storage means) 21 mask drive device (drive means) 24 image sensor (monitoring means)
Claims (3)
光を、部分的な開口パターンを持ち、加工範囲を限定す
るマスクに照射し、前記開口パターンに従って被加工物
を加工するレーザ加工装置において、前記マスクと 前記被加工物とを前記レーザ光に対して相
対的に駆動させる駆動手段と、ビーム縮小、または、拡大率に応じて、前記マスクと 前
記被加工物とが連動して駆動されるように前記駆動手段
を制御する制御手段とを備えることを特徴とするレーザ
加工装置。1. A laser having a non-uniform laser intensity distribution.
Light has a partial aperture pattern to limit the processing range
In a laser processing apparatus that irradiates a mask and processes a workpiece according to the opening pattern, a driving unit that relatively drives the mask and the workpiece with respect to the laser light ; Laser processing , comprising: control means for controlling the driving means so that the mask and the workpiece are driven in conjunction with each other in accordance with a beam reduction or magnification ratio. apparatus.
手段を有し、前記制御手段は、ビーム縮小、または、拡
大率に加えて、前記監視手段が測定した前記レーザ光の
強度分布に応じて、前記マスクと前記被加工物とが連動
して駆動されるように前記駆動手段を制御することを特
徴とする請求項1記載のレーザ加工装置。And a monitoring means for monitoring an intensity distribution of the laser beam, wherein the control means reduces or expands the beam.
In addition to the large ratio, the mask and the workpiece are interlocked according to the intensity distribution of the laser light measured by the monitoring unit.
2. The laser processing apparatus according to claim 1 , wherein the driving unit is controlled so as to be driven .
光を、部分的な開口パターンを持ち、加工範囲を限定す
るマスクに照射し、前記開口パターンに従って被加工物
を加工するレーザ加工装置のレーザ加工方法において、前記マスクと 前記被加工物とを前記レーザ光に対して相
対的に駆動させ、ビーム縮小、または、拡大率に応じ
て、前記マスクと前記被加工物とが連動して駆動される
ように制御することを特徴とするレーザ加工方法。3. A laser having a non-uniform laser intensity distribution.
Light has a partial aperture pattern to limit the processing range
That is irradiated to the mask, in the laser processing method of the laser processing apparatus for processing a workpiece according to the opening pattern, the phase <br/> pair to thereby drive the said mask and said workpiece relative to the laser beam , Depending on beam reduction or magnification
The mask and the workpiece are driven in conjunction with each other.
Laser processing method according to claim and control child as.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28797393A JP3211206B2 (en) | 1993-11-17 | 1993-11-17 | Laser processing apparatus and processing method |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28797393A JP3211206B2 (en) | 1993-11-17 | 1993-11-17 | Laser processing apparatus and processing method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07136783A JPH07136783A (en) | 1995-05-30 |
| JP3211206B2 true JP3211206B2 (en) | 2001-09-25 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP28797393A Expired - Fee Related JP3211206B2 (en) | 1993-11-17 | 1993-11-17 | Laser processing apparatus and processing method |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3211206B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE112006001394B4 (en) * | 2005-06-01 | 2010-04-08 | Phoeton Corp., Atsugi | Laser processing device and laser processing method |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005144487A (en) | 2003-11-13 | 2005-06-09 | Seiko Epson Corp | Laser processing apparatus and laser processing method |
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1993
- 1993-11-17 JP JP28797393A patent/JP3211206B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE112006001394B4 (en) * | 2005-06-01 | 2010-04-08 | Phoeton Corp., Atsugi | Laser processing device and laser processing method |
| US8389894B2 (en) | 2005-06-01 | 2013-03-05 | Phoeton Corp. | Laser processing apparatus and laser processing method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07136783A (en) | 1995-05-30 |
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